JP2011090745A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

【課題】
多層光ディスクにおける球面収差補正およびチルト調整の効率化による、調整時間の短縮、チルト調整の精度の向上。
【解決手段】
対物レンズの球面収差補正量計算手段と、再生情報信号生成手段と、球面収差補正手段を備えた光ディスク装置で、球面収差補正を行い、得られた球面収差補正量を基に、他の層に適した球面収差補正量を計算により求め、その補正量を球面収差補正の初期補正量とする。
チルト補正量計算手段と、再生情報信号生成手段と、チルト調整手段を備えた光ディスク装置で、チルト調整を行い、得られたチルト補正量を基に、他の層に適したチルト補正量を計算により求め、その補正量をチルト調整の初期補正量とする。
【選択図】図２

Description

本発明は、光ディスク装置に関する。その一例としては、光ディスク装置おける球面収差補正およびチルト補正方法に関する。

光ディスク装置における球面収差補正に関する文献として以下の文献がある。

例えば、特許文献１には、その要約に、「少なくとも第１の記録層と第２の記録層とを備える多層光ディスクに対して」、「第１の記録層から第２の記録層への移動が完了する前に、球面収差の補正量の、第１の記録層に適した値から所定の値への変更を開始する。」との記載がある。

また、例えば、引用文献２には、その要約に、「装着された光ディスクが未記録状態である場合、プッシュプル信号を基に球面収差補正量及び対物レンズのフォーカスオフセット量を調整して光ディスクに所定のデータを記録し、更に、それにより得られる再生信号を基に、光ピックアップの球面収差補正素子における球面収差補正量及び対物レンズのフォーカスオフセット量を調整する。」との記載がある。

また、例えば、引用文献３には、その要約に、「対物レンズ移動信号により対物レンズ２６を変位可能範囲内の下限位置から上限位置に向けて連続的に変位させ、同対物レンズ２６の変位時におけるフォーカスエラー信号を用いてカバー層の表面Ｌ０から各記録層Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３までの各距離Ｄ１，Ｄ２，Ｄ３を計算する。そして、各距離Ｄ１，Ｄ２，Ｄ３に応じた球面収差補正量Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３をそれぞれ記憶しておく。」と記載されている。

また、例えば、引用文献４には、その要約に、「ディスクがＣＤ／ＤＶＤ―ＲＯＭあるいは記録済みのＣＤ−Ｒ／ＲＷ、ＤＶＤ―Ｒ／ＲＷの場合には間欠的にジッタを計測して対物レンズの傾き補正を行う。また、未記録及び一部記録済みのＣＤ−Ｒ／ＲＷ、ＤＶＤ―Ｒ／ＲＷディスクの場合には、プッシュプル誤差信号及びウォブリング信号からディスクの反りを検出して対物レンズの傾き補正を行う。」と記載されている。

特開２００２−１５７７５０号公報 特開２００６−１３９８４１号公報 特開２００７−１６４９２７号公報 特開２００３−３４６３６９号公報

高密度化された光ディスクとして、一般に、ＤＶＤ、ＢＤ（Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ）、ＨＤ−ＤＶＤなど、複数の記録層を有する多層光ディスクが知られている。これらの多層光ディスクにおける各記録層は、透明部材からなる保護層によって各記録面が覆われており、レーザ光が照射されることによる同記録層の熱変形や酸化が防止されている。このような多層光ディスクの各記録層に対してレーザ光を照射する場合、レーザ光が透過する保護層の厚さが記録層ごとに異なるため、各記録層から反射される反射光には異なる球面収差が含まれる。この球面収差は対物レンズの開口数ＮＡの４乗に比例して大きくなる。そして、この球面収差が大きくなると対物レンズの各記録層に対する焦点制御（フォーカスサーボ制御）に悪影響を及ぼすため、同反射光から排除する必要がある。このため、開口数ＮＡが大きい対物レンズを介して多層光ディスクにレーザ光を照射して信号の記録または再生を行う光ディスク記録再生装置においては、各記録層から反射される反射光に含まれる球面収差を補正するための球面収差補正機構が備えられている。

光ディスクにおける高記録密度を実現するには、光ディスク媒体や光ディスク記録再生装置の個体ばらつきにたいして高い信号品質を実現する必要がある。光学ヘッドと光ディスク媒体との位置関係のばらつきは、特に、前記球面収差、デフォーカス、オフトラック（光スポットのトラック中心からのずれ）、タンジェンシャルチルト（記録トラック接線方向の傾き）、ラジアルチルト（ディスク半径方向の傾き）等による再生情報信号の特性変化として指摘されており、これらに起因するエラーレートの増加が小さい装置が望まれる。

ここで、例えば、未記録又は追記録可能な記録層（以下、未記録層Ｊとする）を少なくとも一つ有し、かつ、一部分でも既に記録された箇所のある記録層もしくは再生専用層（以下、既記録層Ｘとする）を少なくとも一つ有する複数層で構成される光ディスク（以下、光ディスクＡとする）へ記録する記録再生装置において球面収差を行う場合について検討する。

特許文献１に記載の技術では、未記録層Ｊにおいて球面収差を補正できない。

また、前記特許文献２に記載の装置では、光ディスク記録再生装置のように、各記録層からのプッシュプル振幅をそれぞれ評価して、補正量を検出する作業は、記録層の多層化が進むことで、層の積層分だけ長い時間を要する。ディスク挿入後、記録再生できるまでのセットアップ時間は短縮化が望まれるので、より効率的に球面収差を補正することが課題となる。

また、前記特許文献３に記載の技術によると、補正時間の短縮が可能となる。しかし、当該光ディスク記録再生装置で対物レンズを変位させるアクチュエータコイルは、アクチュエータコイルがもつ固有の共振周波数付近の周波数で振動をするため、連続変位時の対物レンズの位置は変位時間に対して単純に線形増化せず、共振分の誤差が含まれてしまうため、補正精度にばらつきが生じる。

また、一部分でも既に記録された箇所のある追記録可能な記録層（以下、未記録層Ｋとする）を少なくとも一つ有し、かつ再生専用層あるいは全面記録済みの記録層（以下、既記録層Ｙとする）を少なくとも一つ有する、複数層で構成される光ディスク（以下、光ディスクＢとする）に対するチルト調整について考慮すると、以下のような課題がある。

例えば、特許文献４に記載の技術によると、再生信号が得られない未記録のディスクでは、チルトの補正値を得られる。しかし、この方式で得られたチルト補正値は再生信号に則した値ではないため、補正の精度面で考えると、再生信号の品質を悪化させる可能性がある。そのため、再生品質を向上させる為には未記録層においても再生信号を基に得られたチルトの補正値が望まれる。

本発明の目的は、未記録又は追記録可能な記録層を少なくとも一つ有し、かつ、一部分でも既に記録された箇所のある記録層もしくは再生専用層を少なくとも一つ有する複数層で構成される光ディスクへ記録する記録再生装置において、未記録の記録層への球面収差補正の処理時間を短縮することが可能な光ディスク装置を提供することにある。

また、本発明の目的は、一部分でも既に記録された箇所のある追記録可能な記録層を少なくとも一つ有し、かつ再生専用層あるいは全面記録済みの記録層を少なくとも一つ有する、複数層で構成される光ディスクへ記録する際、追記録可能な記録層において再生品質の向上させるチルト調整が可能な光ディスク装置を提供することにある。

上述した目的は、特許請求の範囲に記載の発明によって解決される。また、上述した目的は、以下記載の手段によっても解決される。

例えば、本発明の特徴の一例は、複数の記録層からなる光ディスクＡに対して目的とする層に光スポットを形成し、反射光の受光量に応じて駆動するフォーカスアクチュエータを有する光ピックアップを備え、光スポットの反射光を受光し、再生情報信号を計算し、再生情報信号に応じた球面収差信号を生成する手段を備え、既記録層Ｘにおける球面収差補正量を基に補正目標とする未記録層Ｊにおける球面収差補正量を規格で定められた層間距離からそれぞれ第１の球面収差補正量として計算し、当該第１の球面収差補正量を用いて、試し書き領域に記録し、試し書き領域に記録した情報を再生し、当該再生情報信号に応じた第２の球面収差補正量を求めることにある。

望ましくは、光ディスク装置は、既記録層Ｘの球面収差補正量を基にした各未記録層ごとの第１の球面収差補正量計算時には、レーザ光の光軸方向における対物レンズの位置を検出する対物レンズ位置検出手段を有し、規格で定められた層間距離を基に、所定の計算方法により各未記録層までの距離を計算、その結果に基づいて球面収差補正量を計算する。

例えば、本発明の特徴の別の一例は、複数の記録層からなる光ディスクＢに対して、既記録層Ｙにおける半径方向の軸に対して内周、中周、外周それぞれの位置で再生情報信号の振幅、あるいはエラーレート等の再生性能指標に応じたチルト補正値と、各補正目標とする未記録層Ｋの記録済み領域において得られる、再生情報信号に応じて生成されたチルト補正値から、補正目標とする各記録層の、半径方向についてデータ記録済み領域以外の領域におけるチルト補正値を算出することにある。

例えば、本発明の特徴の別の一例は、光ディスク装置は、ディスク挿入時の調整シーケンスで、球面収差補正とチルト調整の両方を行う場合、球面収差補正とチルト調整のそれぞれの順番は、先に球面収差補正を行った後に、チルト調整を行うものとする。

本発明によると、未記録又は追記録可能な記録層を少なくとも一つ有し、かつ、一部分でも既に記録された箇所のある記録層もしくは再生専用層を少なくとも一つ有する複数層で構成される光ディスクへ記録する記録再生装置において、未記録の記録層への球面収差補正の処理時間を短縮することが可能な光ディスク装置を提供することが可能となる。

本発明によると、一部分でも既に記録された箇所のある追記録可能な記録層を少なくとも一つ有し、かつ再生専用層あるいは全面記録済みの記録層を少なくとも一つ有する、複数層で構成される光ディスクへ記録する際、追記録可能な記録層において再生品質の向上させるチルト調整が可能な光ディスク装置を提供することが可能となる。

光ディスク記録再生装置の概略構成を示すブロック図である。 図１に示す光ディスク記録再生装置における球面収差補正の調整処理アルゴリズムの一例を示すフローチャートである。 球面収差補正量とカバー層の表面からの距離との関係を示す関係図である。 図１に示す光ディスク記録再生装置におけるチルト調整の調整処理アルゴリズムの一例を示すフローチャートである。 図１に示す光ディスク記録再生装置での実施形態におけるシークポジション位置によるディスクの反りとチルト補正値説明図である。 上記図５に示す未記録層における中／外周のチルト補正値計算アルゴリズムのフローチャートである。 ＢＤ挿入時の初期調整処理アルゴリズムのフローチャートである。 第１の球面収差補正量の計算および中／外周を含めたチルト調整に使用可能な、再生専用層又は全面記録済みの記録層が複数層存在する光ディスクの一例を示す説明図である。 第１の球面収差補正量の計算および中／外周を含めたチルト調整に、複数の再生専用層あるいは全面記録済みの記録層を使用する場合における初期調整処理アルゴリズムのフローチャートである。 実施例１から実施例４までの各実施例における光ディスク１００の定義をまとめた表である。

以下、本発明の実施形態を、図面を参照しながら説明する。

図１は、実施例において、光ディスク１００に情報の記録又は再生を行う光ディスク記録再生装置の全体のブロック図である。

この光ディスク１００は、レーザ光の入射側表面が透明な保護層（以下、カバー層とする）によって覆われているとともに、各記録層間にも透明な保護層（以下、中間層とする）がそれぞれ設けられており、各記録層にレーザ光が照射されることにより生じる熱変形および酸化が防止されるようになっている。また、光ディスク１００の例としては、多層のブルーレイディスクがある。また、光ディスク１００の例としては、ハイブリッド型の光ディスクがある。

また、以下の説明において、未記録又は追記録可能な記録層を未記録層Ｊとする。また、以下の説明において、一部分でも既に記録された箇所のある記録層もしくは再生専用層を既記録層Ｘとする。また、以下の説明において、一部分でも既に記録された箇所のある追記録可能な記録層を未記録層Ｋとする。また、以下の説明において、再生専用層あるいは全面記録済みの記録層を以下、既記録層Ｙとする。

この光ディスク記録再生装置において、１０１は光ピックアップ、１０２はレーザ光源、１０４はコリメートレンズ、１０５は偏光ビームスプリッタ、１０６は１／４波長板、１０７は球面収差補正素子群、球面収差補正素子群１０７において１０７ａは凸レンズ、１０７ｂは凹レンズ、１０８は全反射ミラー、１０９は対物レンズ、１１０は対物レンズフォーカスアクチュエータ、１１１はシリンドリカルレンズ、１１２は検出レンズ、１１３は光検出ディテクタ、１１５は対物レンズチルトアクチュエータ、１２１はスピンドルモータ、１２２はスレッドモータ、１３０はシステム制御回路、１３１は球面収差誤差検出回路、１３２は再生信号生成回路、１３３はサーボ信号生成回路、１３４はプッシュプル信号生成回路、１３５は球面収差補正素子駆動回路、１３６はレーザ駆動回路、１３７はフォーカスアクチュエータ駆動回路、１３８はスレッド送りモータ駆動回路、１３９はスピンドルモータ駆動回路、１４０は光スポット、１４１はチルトアクチュエータ駆動回路、１５０はシステム制御回路に内蔵されているメモリである。

同図において、光ピックアップ１０１は、装着された光ディスク１００に対して情報信号の再生または記録再生を行うために、この光ディスク１００に対応した波長λのレーザ光の光束を放射するレーザ光源１０２を備える。また、光ピックアップ１０１は、レーザ光源１０２から放射された光束を平行光束に変換するコリメートレンズ１０４を備える。また、光ピックアップ１０１は、所定の直線偏光を略１００％透過し、この直線偏光と直交する直線偏光を略１００％反射する偏光ビームスプリッタ１０５を備える。また、光ピックアップ１０１は、直線偏光を円偏光に変換し、また、円偏光を直線偏光に変換する１／４波長板１０６を備える。また、光ピックアップ１０１は、全反射ミラー１０８と、この全反射ミラー１０８からの光束を光ディスク１００の所定の記録層に所定のＮＡで収差を合わせて光スポット１４０を形成するための対物レンズ１０９を備える。また、光ピックアップ１０１は、この対物レンズ１０９をフォーカシング方向及びトラッキング方向に変位させるための対物レンズアクチュエータ１１０と、対物レンズ１０９に入射する光束の球面収差を補正し、光ディスク１００の基板厚誤差などによって生じる光ディスク１００上での光スポット１４０の球面収差を補正するための球面収差補正素子１０７とを備える。

レーザ光源１０２から放射された直線偏光の光束は、コリメートレンズ１０４で平行光束に変換される。偏光ビームスプリッタ１０５は所定の直線偏光を略１００％透過し、この直線偏光と直交する直線偏光を略１００％反射する機能を備える。この実施形態では、レーザ光源１０２から射出される直線偏光の光束を略１００％透過し、一部を反射するように構成されている。偏光ビームスプリッタ１０５を透過した光束は、次に１／４波長板１０６で円偏光に変換される。次に、光束は、球面収差補正素子１０７で所定の球面収差が付与された後、全反射ミラー１０８で反射されて対物レンズ１０９に導かれる。対物レンズ１０９は、入射した光束に対応して、光ディスク１００の記録層に光スポット１４０を形成する。

光ディスク１００からの反射光束は再び対物レンズ１０９、全反射ミラー１０８、球面収差補正素子１０７を通り、１／４波長板１０６でレーザ光源１０２から射出される直線偏光と直交する直線偏光に変換される。このため、この反射光束は偏光ビームスプリッタ１０５で略１００％反射され、シリンドリカルレンズ１１１を通過する。その後、反射光束は、検出レンズ１１２で所定の収束光束に変換されて光検出ディテクタ１１３に導かれる。

この球面収差補正素子１０７は、レンズ間距離が可変の凸レンズ１０７ａおよび凹レンズ１０７ｂの２枚組み合わせレンズからなる。また、球面収差補正素子１０７は、組み合わせレンズのレンズ間距離を変化させることにより、透過光束の球面収差を補正可能なビームエキスパンダーを備える。具体的には、入射したレーザ光に対して光ディスク１００のカバー層および中間層によって生じる球面収差と反対符号の球面収差を生じさせて１／４波長板１０６に導く。この球面収差補正素子群１０７における凸レンズ１０７ａは、凹レンズ１０７ｂに対してレーザ光の光軸方向に変位可能な状態で組みつけられており、凸レンズ１０７ａの凹レンズ１０７ｂに対する相対位置により前記球面収差が補正される。この凸レンズ１０７ａにおけるレーザ光の光軸方向に対する変位は、球面収差補正素子駆動回路１３５により行われる。但し、球面収差補正素子は、これに限るものではなく、例えば、同心円状パターンを有し、光束の内部と外周部との間に位相差を与えることにより、球面収差を補正可能な液晶素子としてもよい。

光ピックアップ１０１は光検出ディテクタ１１３を備える。光検出ディテクタ１１３は、光ディスク１００からの反射光を受光して光ディスク１００からの反射光束の強度変化に応じた電気信号に変換する。光検出ディテクタ１１３から出力される電気信号は、再生信号生成回路１３２とサーボ信号生成回路１３３に供給される。再生信号生成回路１３２では、前記電気信号に基づいて、光ディスク１００に記録された再生情報信号が得られる。また、サーボ信号生成回路１３３では、前記電気信号に基づいて、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号などの各種サーボ信号が検出される。特に、トラッキングエラー信号は、サーボ信号生成回路１３３でのプッシュプル信号生成回路１３４により、プッシュプル法により検出が可能な構成としている。

このため、光検出ディテクタ１１３としては、例えば受光面が光ディスク１００の接線方向及び半径方向に平行な２つの分割線によって分割されてなる４個の受光領域を備えた４分割光検出ディテクタが用いられる。また、光検出ディテクタ１１３から、一般的には、この接線方向の分割線に関して一方側の２つの受光領域における受光量に応じた出力信号と他方側の２つの受光領域における受光量に応じた出力信号が得られる。かかる４分割光ディテクタを用いて、検出レンズ１１２と光検出ディテクタ１１３との間に設けられたシリンドリカルレンズ１１１により、非点収差法によってフォーカスエラー信号を検出することができる。

システム制御回路１３０は、この光ディスク記録再生装置全体を制御する機能を備えている。即ち、システム制御回路１３０は、スピンドルモータ駆動回路１３９を介してスピンドルモータ１２１に装着された光ディスク１００の回転制御を行う。また、システム制御回路１３０は、送りモータ駆動回路１３８を介して光ピックアップ１０１を光ディスク１００の半径方向に駆動してアクセス制御及び送り制御を行う。また、システム制御回路１３０は、アクチュエータ駆動回路１３７を介して対物レンズアクチュエータ１１０を駆動することにより、フォーカス制御、トラッキング制御を行う。さらに、システム制御回路１３０は、球面収差補正素子駆動回路１３５を介して光ピックアップ１０１の球面収差を検出し、補正する。球面収差の検出原理及びその補正手順については、後述する。また、システム制御回路が球面収差の補正量やチルトの補正量を取得する取得部として機能する。

また、システム制御回路１３０は、レーザ光源１０２の射出光量が所定の光量となるように、レーザ駆動回路１３６を介してこのレーザ光源１０２を駆動する。これにより、記録時には、システム制御回路１３０が記録情報信号を基にしてレーザ光源１０２を駆動するが、この記録情報信号に対応した光強度及びパルス幅（ストラテジ）でレーザ光源１０２がレーザ光束を発光する。

光ディスク１００からの反射光束は光検出ディテクタ１１３で受光されて電気信号に変換され、再生信号生成回路１３２及びサーボ信号生成回路１３３とに送られる。サーボ信号生成回路１３３では、装着された光ディスク１００に応じて最適な検出方法によって各種のサーボ信号を選択・生成し、システム制御回路１３０に供給する。システム制御回路１３０では、供給されたこれらサーボ信号に基づき、アクチュエータ駆動回路１３７を介して対物レンズアクチュエータ１１０を駆動し、フォーカスサーボ及びトラッキングサーボを動作させる。

ここで、図２のフローチャートを用いて、上記システム制御回路１３０により実行される球面収差補正ステップの基本的な手順を説明する。

ここで説明に用いる光ディスク１００は、未記録層Ｊを少なくとも一つ有し、かつ、既記録層Ｘを少なくとも一つ有する複数層で構成される光ディスクＡとする。

処理が開始すると、ステップ２００では、光ディスク装置は、まずフォーカスサーボの目標点をプリセット値にセットする。また、光ディスク装置は、装着された光ディスクＡの記録層に応じて球面収差補正素子１０７を駆動し、球面収差補正量をプリセット値に設定する。例えば、光ディスクＡにおいて記録層がＬ０層、Ｌ１層、Ｌ２層の３層からなる場合、光ディスク装置は、既記録層ＸがＬ０もしくは、Ｌ１、Ｌ２である場合に応じて異なる位置に球面収差補正素子１０７を設定する。以下、簡単のため、Ｌ０層が既記録層Ｘであり、Ｌ１、Ｌ２がともに未記録層Ｊである、全３層からなる光ディスクＡに記録する場合を想定して説明をする。なお、トラッキングサーボの目標点やレーザ記録パワー及び記録ストラテジなどについても、説明の簡略化のため、プリセット値に設定されているものとする。

また、プリセット値を設定する場合には、装着された光ディスクが光ディスクＡであることを判別する必要がある。また、プリセット値を設定する場合には、どの層が既記録層Ｘであるかを示す情報を取得する必要がある。これらについては、例えば、光ディスク装置にてフォーカス装置を行い、フォーカスエラー信号の振幅に基づいて判別してもよい。また、例えば、ＢＣＡ（Ｂｕｒｓｔ Ｃｕｔｔｉｎｇ Ａｒｅａ）や、ＤＩ（Ｄｉｓｃ Ｉｎｆｏｒｍａｔｉｏｎ）等の管理情報を光ディスク装置が再生することにより判別してもよい。また、例えば光ディスクのローディング処理時に、ホスト装置を介して、ユーザが光ディスクの種類を示す情報を入力できるよう構成してもよい。

上記、初期値のプリセットが完了すると、ステップ２０１では、光ディスク装置は、まず光スポットが既記録面１上に集光するようにフォーカスサーボをかけた状態にする。既記録層Ｘでは、既にデータの記録がなされているため、ステップ２０２では、光ディスク装置は、光スポットをデータが記録されているトラック領域へ移動する。その後、光ディスク装置は、ステップ２０３で、トラッキングサーボをかけた状態にし、その後、後述する再生信号の振幅による補正のステップ２０４に移行する。

ステップ２０４で、光ディスク装置は、再生信号の振幅情報による補正（以下、再生信号振幅補正とする）を行い、既記録層Ｘでの球面収差補正の調整学習を終了する。ステップ２０４での球面収差補正の結果、既記録層Ｘの球面収差補正結果はＬ０層の第２の球面収差補正量ＳＡＢ０としてメモリ１５０に記憶される。

ステップ２０５では、光ディスク装置は、メモリ１５０に記憶された既記録層Ｘの球面収差補正結果ＳＡＢ０と、規格で決められた層間隔から計算した各記録層Ｌ０とＬ１、Ｌ０とＬ２の各層間距離Ｄ１、Ｄ２を基に、各記録層Ｌ１、Ｌ２それぞれにおける第１の球面収差補正量ＳＡＡ１、ＳＡＡ２を所定の計算方法を基に計算する。次いで、ステップ２０６において計算結果であるＳＡＡ１、ＳＡＡ２は共にメモリ１５０に記憶される。

次に、ステップ２０７では、光ディスク装置は、未記録層Ｊの面上に光スポットが集光するよう、フォーカスサーボをかけた状態にする。なお、未記録層Ｊに対するフォーカス時の球面収差補正量にはステップ２０５で計算した第１の球面収差補正量を用いる。

ステップ２０８では、光ディスク装置は、上記ステップ２０７においてフォーカスサーボをかけた未記録層Ｊが未記録層又は一部でも記録済みの層のどちらであるか、を判別する。

ステップ２０８において、光ディスク装置は、未記録層Ｊが未記録層であると判別された場合、処理はステップ２０９に移行し、試し書き領域にトラッキングサーボをかけた状態にする。次に、光ディスク装置は、ステップ２１０においてデータ書き込みを行った後に、ステップ２１１で所定の再生信号の振幅による球面収差補正を行い、第２の球面収差補正量ＳＡＢを得る。今回の例の補正結果であるＳＡＢ１やＳＡＢ２は、共にメモリ１５０に記憶される。

ここで、上記のステップ２０８において、未記録層Ｊが一部記録済みの層であると判断された場合、処理はステップ２１２に移行し、当該記録済み領域にトラッキングサーボをかけた状態にする。次に、光ディスク装置は、ステップ２１３において所定の再生信号振幅による球面収差補正を行い、第２の球面収差補正量ＳＡＢを得る。なお、ステップ２１１と同様に、補正結果であるＳＡＢは、共にメモリ１５０に記憶される。

続くステップ２１４では、光ディスク装置は、直前に補正した記録層以外に未補正の記録層が存在するかどうかを判別する。

ここで、上記ステップ２１４において未補正の記録層があると判別された場合、残りの記録層についても球面収差補正を行う必要がある。従って、この場合、処理はステップ２０７に移行し、上述したステップ２０９からステップ２１１、あるいはステップ２１２からステップ２１３までの一連の球面収差補正を行う。このステップ２１４によって、全ての記録層における球面収差補正が完了するまで、補正処理が行われる。

一方、上記ステップ２１４において、全ての記録層において球面収差補正の調整学習が行われたと判別された場合、球面収差補正の補正処理を終了する。

なお上記ステップ２０３におけるトラッキングサーボは、もし既記録層Ｘが特に再生専用層あるいは全面記録のされた記録層であった場合は、必ずしもトラッキングサーボをＯＮにしなくてもよい。

また、上記ステップ２０４、ステップ２１１そしてステップ２１３における再生信号振幅補正は再生信号振幅に限らず、ジッターやエラーレートといった再生性能を評価する指標に変更してもよい。

更に、図２のフローチャートのステップ２０５で行う、既記録層Ｘでの球面収差の補正結果から各未記録層Ｊの第１の球面収差補正量を計算の詳細について、以下説明する。

システム制御回路１３０は、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ等によって構成されており、光ディスク記録再生装置全体を制御する機能を備えている。光ディスク検査プログラムを実行することにより光ディスクＡの検査を行うとともに、同検査の実行過程および実行結果を、外部ディスプレイ、プリンタ等からなる出力記録再生装置に適宜表示させることが可能である。この場合、システム制御回路１３０は、光ディスクＡの検査に先立って、図２のステップ２０５における球面収差補正量計算プログラムを実行する。そして、システム制御回路１３０は、球面収差補正量計算プログラムを実行することにより、光ディスクＡにおける記録層ごとの球面収差補正量を計算し、内蔵するメモリ１５０に記憶する。

球面収差補正量は、光ディスクＡのカバー層の表面から記録層までの各距離に応じた球面収差の補正量、すなわち凸レンズ１０７ａの凹レンズ１０７ｂに対する相対位置（距離）である。また、球面収差補正量は、システム制御回路１３０内で設計された球面収差補正量計算プログラム中で定義された補正量計算用の関数に基づいて計算される。球面収差補正量は、図３に示すように、光ディスクＡのカバー層の表面からの距離の増加に伴い線形的に増加するように計算される。ここでいう距離は、レーザ光が透過するカバー層および中間層からなる保護層の厚みに対応する。なお、計算用の関数の代わりに、凸レンズ１０７ａの凹レンズ１０７ｂに対する相対位置に対応した球面収差補正量を予め記憶させたテーブルを用いてもよい。

そして、ステップ２０５では、システム制御回路１３０が上記のように動作することによって、第１の球面収差補正量ＳＡＡ１、ＳＡＡ２をそれぞれ計算する。具体的には、システム制御回路１３０は、ステップ２０５において球面収差補正量計算プログラム中で定義された補正量計算用の関数に、各記録層Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２それぞれのＬ０との層間距離Ｄ１、Ｄ２を引数としてＳＡＡ１、ＳＡＡ２を計算する。この際、引数に使用する層間距離は、ディスク管理領域に記録されたディスク種類を基に、システム制御回路１３０に予め用意された層間距離テーブルに基づいて計算される。次に、システム制御回路１３０はステップ２０６において、前記のように計算したＳＡＡ１、ＳＡＡ２を各記録層Ｌ１、Ｌ２に対応させてメモリ１５０に記憶する。

また、本実施例では省略したが、通常の補正においては、球面収差補正と共にフォーカスオフセット調整も行う。

以上、本実施例にて述べた、多層光ディスク記録方法によれば、未記録層Ｊを少なくとも一つ有し、かつ、既記録層Ｘを少なくとも一つ有する複数層で構成される光ディスクＡにおいて、球面収差補正に要する時間を短縮することが可能になる。また、少なくとも１つ以上の面における正確な補正値と、規格で定められた層間隔に基づいて、他の層の値を算出することから、高い精度での球面収差補正が可能になる。

次に、図４のフローチャートを参照しながら最適チルト調整方法について説明する。

本実施例における光ディスク１００は、未記録層Ｋを少なくとも一つ有し、かつ、既記録層Ｙを少なくとも一つ有する複数層で構成される光ディスクＢとする。

以下、簡単のため、本実施例では、Ｌ０層のみが既記録層Ｙであり、Ｌ１とＬ２が共に未記録層Ｋである、全３層からなる光ディスクに記録する場合を想定して説明をする。なお、Ｌ１とＬ２の既に記録された箇所は半径方向に対して内周側に位置する、試し書き領域であるとする。

処理が開始すると、ステップ４００では、まずフォーカスサーボの駆動値をプリセット値にセットする。

次にステップ４０１では、光ディスク装置は、光スポットが目標の既記録層Ｙの記録面上に集光するようにフォーカスサーボをかけた状態にする。

また、プリセット値を設定する場合には、装着された光ディスクが光ディスクＢであることを判別する必要がある。また、プリセット値を設定する場合には、どの層が既記録層Ｙであるかを示す情報を取得する必要がある。これらについては、例えば、光ディスク装置にてフォーカス装置を行い、フォーカスエラー信号の振幅に基づいて判別してもよい。また、例えば、ＢＣＡ（Ｂｕｒｓｔ Ｃｕｔｔｉｎｇ Ａｒｅａ）や、ＤＩ（Ｄｉｓｃ Ｉｎｆｏｒｍａｔｉｏｎ）等の管理情報を光ディスク装置が再生することにより判別してもよい。また、例えば光ディスクのローディング処理時に、ホスト装置を介して、ユーザが光ディスクの種類を示す情報を入力できるよう構成してもよい。

更に、光ディスク装置は、ステップ４０２で、既記録層Ｙのデータ領域の内周側へ光スポットを移動させる。その後、ステップ４０３で、光ディスク装置は、トラッキングサーボをかけた状態にする。更に、光ディスク装置は、ステップ４０４で、所定の再生信号の振幅によるチルト調整を行い、既記録層Ｙの内周チルト調整結果ＩＮを、ＩＮ０としてメモリ１５０に記録する。

ステップ４０５では、光ディスク装置は、上記内周のチルト調整を行った既記録層Ｙにおけるデータ領域の中周側へ光スポットを移動させる。その後、ステップ４０６で、光ディスク装置は、トラッキングサーボをかけた状態にする。また、光ディスク装置は、ステップ４０７で、内周時と同様に再生信号の振幅によるチルト調整を行う。チルト調整の結果は、ＭＤとしてメモリ１５０に記録される。今回の例では、ＭＤ０の値が記録される。さらに、ステップ４０８では、光ディスク装置は、内／中周のチルト調整を行った既記録層におけるデータ領域の外周側へ光スポットを移動させる。その後、ステップ４０９で光ディスク装置は、トラッキングサーボをかけた状態にする。また、光ディスク装置は、ステップ４１０で、内／中周時と同様に再生信号振幅によるチルト調整を行う。このチルト調整の結果は、ＯＴとしてメモリ１５０に記録される。今回の例では、ＯＴ０が記録される。

次に、ステップ４１１では、光ディスク装置は、未調整の未記録層Ｋを目標層として、フォーカスサーボの駆動値をプリセット値にセットする。今回の例では、光ディスク装置は、共に内周側の領域が既に記録済みであるＬ１、Ｌ２に対してセットする。その後、光ディスク装置は、目標面上に光スポットが集光するよう、ステップ４１２でフォーカスサーボをかけた状態にする。更に、光ディスク装置は、ステップ４１３で、ディスクのデータが記録されている領域にスレッドモータ１２２で光スポットを移動させる。今回の例では、試し書き領域のある、内周側に移動させる。続いてステップ４１４で、トラッキングサーボをかけた状態にし、ステップ４１５において再生信号の振幅によるチルト調整法により、チルト調整を行う。結果、未記録層の内周のチルト補正値ＩＮを得る。今回の例ではＬ１とＬ２それぞれに対してＩＮ１とＩＮ２を得る。この補正結果であるＩＮは、メモリ１５０に記憶される。ステップ４１６では、光ディスク装置は、上記ステップ４１５で補正した半径方向に対して、データ記録済み領域以外の位置での補正結果を所定の計算方法により算出する。今回の例では、光ディスク装置は、内周のチルト補正値ＩＮから、中／外周の補正結果ＭＤ／ＯＴを算出する。

上記ステップ４１６が終了すると、ステップ４１７では、チルト調整が未補正の未記録層Ｋが存在するか否かを判別する。

上記ステップ４１７で未補正の未記録層Ｋが存在すると判別された場合、残りの記録層についてもチルト調整学習を行う必要がある。従って、この場合、処理はステップ４１１に移行し、上述したステップ４１１からステップ４１６までの一連のチルト調整学習を行う。このステップ４１７によって、全ての記録層におけるチルト調整が完了するまで、調整学習が行われる。

一方、上記ステップ４１７において、全ての記録層においてチルト調整が行われたと判別された場合、光ディスク装置は、チルト調整の初期調整を終了する。

以下、チルト調整を同一記録面において半径方向に対して複数点で行う理由を、図５を用いて詳細に説明する。

図５はディスクの半径方向に対して上図にディスクの反り、及び、下図に反りに対するチルト補正値を示したものである。ここで、Ｌは光ディスクの半径距離を示す。図５の上図に示したように、一般に、光ディスクの反りはディスクの半径方向に進むにつれて大きくなる。これに対し、本発明ではディスクの半径方向に対し、いくつかの点でチルト調整を行い、測定点の間のチルト補正値は関数により補間する。以下、簡単のためチルト調整は図５下図に示したように、内周１点、中周１点、外周１点の計３点で行うものとし、測定点間のチルト補正値は測定点を直線で結んだ線形補間の値を使用するものとして説明する。

前記、チルト調整における測定点は、３点に限らず、２点または4点以上の測定点で行ってもよい。例えば、一般にディスクの反りは、ディスク端で急激に増加するので、ＬとＬ／２の間における測定点を増やすことで、より精度の高いチルト調整結果を得ることも可能になる。また、測定点の補間についても、線形補間だけでなく、曲線補間を行ってもよい。

ところで、一般に、ディスクの基板厚が大きくなると、コマ収差の影響が大きくなる。コマ収差ＣＡは、ディスクの基板厚さを「Ｔ」とし、対物レンズの開口数を「ＮＡ」とすると、以下の式で表される。
（数１）
ＣＡ∝Ｔ・ＮＡ^３
すなわち、上記の式から、コマ収差は、対物レンズのＮＡの３乗とディスクの基板厚に比例することが分かる。

光ディスク１００のように、記録層が２層以上積層された構造の光ディスクは、記録層ごとにディスク基板厚が変化するため、コマ収差が生じる。そのため、かかる多層構造の光ディスクでは、基板厚を考慮して、コマ収差調整をすることが必要になる。

ここで、前記ステップ４１６における、既記録層Ｙでの内／中／外周におけるチルト補正値を利用した、チルト未調整の記録層でのチルト補正値の計算方法を図６のフローチャートを用いて詳細に説明する。具体的には、チルト未調整の未記録層Ｋにおいて、データ記録済み領域以外の半径位置におけるチルト補正値の計算方法について説明する。言い換えると、未記録層Ｋのデータ未記録領域でのチルト補正値の計算方法について説明する。

また、この説明においては、チルト未調整の記録層をＬ１とする。なお、説明を簡単にするため、既記録層Ｙの内／中／外周におけるチルト補正値をＩＮ０、ＭＤ０、ＯＴ０とし、Ｌ１の内周におけるチルト補正値ＩＮ１は既にメモリ１５０に記憶されているものとする。

図６において、まずステップ６００では、光ディスク装置は、メモリ１５０に記憶されている、既記録層Ｙの内／中／外周におけるチルト補正値、ＩＮ０、ＭＤ０、ＯＴ０から、ＤＦ１及びＤＦ２を算出する。ここで、ＤＦ１とＤＦ２とは、中／外周それぞれにおけるチルト補正値と内周におけるチルト補正値の差分を示す値である。そして、ＤＦ１及びＤＦ２は以下の式で計算される。
（数２）
ＤＦ１＝ＭＤ０−ＩＮ０
ＤＦ２＝ＯＴ０−ＩＮ０
次に、ステップ６０１において、光ディスク装置は、既記録層Ｙに対する未調整の未記録層Ｋの、ディスク基板厚の比率Ｐを算出する。ディスク基板厚の比率Ｐはコマ収差が前記のように、ディスク基板厚に比例するので、既記録層ＹがＬ０、未記録層ＫがＬ１とすると、Ｌ０に対するＬ１のディスク基板厚Ｐ１は以下の式で計算される。
（数３）
Ｐ１＝ＩＮ１／ＩＮ０
上記ステップ６０１でディスク基板厚の比率を求めた後、ステップ６０２において、光ディスク装置は、未記録層Ｋの中周チルト補正値ＭＤを計算する。中周チルト補正値ＭＤは、未記録層の内周チルト補正値ＩＮとチルト補正値の差分ＤＦとディスク基板厚の比率Ｐから計算される。既記録層ＹがＬ０、未記録層ＫがＬ１とすると、Ｌ１の中周チルト補正値ＭＤ１は以下の式で計算される。
（数４）
ＭＤ１＝ＩＮ１＋Ｐ１×ＤＦ１
次に、ステップ６０３において、光ディスク装置は、未記録層Ｋの外周チルト補正値ＯＴを計算する。外周チルト補正値は、未記録層Ｋの内周チルト補正値ＩＮとチルト補正値の差分ＤＦとディスク基板厚の比率Ｐから計算される。既記録層ＹがＬ０、未記録層ＫがＬ１とすると、Ｌ１の外周チルト補正値ＯＴ１は以下の式で表される。
（数５）
ＯＴ１＝ＩＮ１＋Ｐ１×ＤＦ２
以上の図１０のフローチャートに示したステップ６００からステップ６０３により、前記図７のステップ４１６に示した既記録層Ｙでの内／中／外周におけるチルト補正値を利用した、未記録層Ｋの中／外周のチルト補正値の計算が終了する。

前記で示した未記録層Ｋのチルト補正値の導出は、調整精度は下がるが、既記録層Ｙでの内／中／外周における調整結果をそのまま未記録層Ｋでの内／中／外周における調整結果として用いても良い。

また、前記で示した未記録層Ｋのチルト補正値の計算には、ステップ６０１におけるディスク基板厚の比率計算において、未記録層Ｋの内周におけるチルト補正結果を用いずに、規格で定められた層間距離からディスク基板厚の比率を計算しても良い。

また、本実施例にて述べた多層光ディスク記録方法によれば、未記録層Ｋを少なくとも一つ有し、既記録層Ｙを少なくとも一つ有する、複数層で構成される光ディスクＢにおいて、これまでプッシュプル信号やウォブル信号の振幅に応じた補正しか行うことができなかった未記録層でのチルト調整について、再生性能指標に応じた補正が可能になる。また、これまでのチルト調整方法と比較して、再生品質の向上が望める。

本実施例では、ディスク挿入時の調整シーケンスにおいて、実施例１に示した球面収差補正と実施例２のチルト補正の両方を行う場合について説明する。本実施例における光ディスク１００は、未記録層Ｊを少なくとも一つ有し、かつ既記録層Ｙを少なくとも一つ有する複数層で構成される光ディスクである（以下、光ディスクＣとする）。

本実施例では、ＢＤ挿入時の、上記調整シーケンスにおける球面収差補正、チルト調整のシーケンスにおける順番は球面収差補正を先に行うものとする。この理由について、以下説明する。

本実施例においては調整における指標は、再生性能に則した値を使用することが望ましい。その理由は、前記のように、再生品質の向上が望めるからである。また、再生に則した指標としては、例えば、再生信号振幅がある。そして、再生信号振幅を得るためには追記録可能な記録層に記録を行う必要がある。

ところで、球面収差補正量ＳＡはディスクの基板圧誤差ΔＴおよび対物レンズの開口数ＮＡを用いて以下の関係式で表される。
（数６）
ＳＡ∝ΔＴ・（ＮＡ）^４
すなわち、上記の式から、球面収差は、対物レンズのＮＡの４乗とディスクの基板厚誤差ΔＴに比例することが分かる。

ＢＤはＨＤ−ＤＶＤやＤＶＤ等の高密度光ディスクに比較して、開口数が大きい。また、ディスクの基板厚が薄いので、製造工程で生じる基板厚誤差ΔＴも大きい。そのため、他の光ディスクに比較してＢＤにおける球面収差補正量の記録／再生精度への寄与は大きい。

ところで、ＢＤにおいてチルト未調整層で再生信号振幅を得るには、記録層の少なくとも一部にデータが記録されている必要がある。またその際には、上記記録精度の理由から、記録時には球面収差補正が終了している必要がある。そのため、上記調整シーケンスにおける球面収差補正とチルト調整のシーケンスにおける順番は球面収差補正を先に行うものとする。

ここで、上記調整シーケンスにおける球面収差補正、チルト調整のシーケンスを、図７を用いて詳細に説明する。

図７において、まずステップ７０１では、光ディスク装置は、規格で定められた値から、光ディスクＣの、各層のＬ０からの層間距離Ｄを計算する。次に、ステップ７０２では、光ディスク装置は、上記のステップ７０１で計算した層間距離Ｄが最小である既記録層Ｙにフォーカスサーボをかけた状態にする。

続いてステップ７０３において、光ディスク装置は、上記ステップ７０２でフォーカスサーボをかけた既記録層Ｙの球面収差補正処理を行う。当該ステップ７０３における球面収差補正処理は、図２のフローチャートのステップ２０３からステップ２０６に等しい。

ステップ７０４では、光ディスク装置は、既記録層Ｙにおけるチルト調整処理を行う。当該ステップ７０４におけるチルト調整処理は、図４のフローチャートのステップ４０２からステップ４１０に等しい。

次に、ステップ７０５では、光ディスク装置は、上記ステップ７０１からステップ７０４まで調整を行った既記録層Ｙ以外の層において、未調整かつＬ０からの層間距離Ｄが最小の層にフォーカスサーボをかけた状態にする。続くステップ７０６では、光ディスク装置は、上記ステップ７０５でフォーカスサーボをかけた層が一部でも既に記録済みの層であるか否かを判別する。

上記ステップ７０６において、フォーカスサーボをかけている層が、完全な未記録層と判別された場合、ステップ７０７に移行する。ステップ７０７では、光ディスク装置は、完全な未記録層について、球面収差補正処理を行う。当該ステップ７０７における球面収差補正処理は、図２におけるステップ２０９からステップ２１１に等しい。

次に、ステップ７０８では、光ディスク装置はチルト調整処理を行う。当該ステップ７０８におけるチルト調整は、図４におけるステップ４１３からステップ４１６に等しい。

一方、前記ステップ７０６において、フォーカスサーボをかけている層が一部でも記録済みの層と判別された場合は、ステップ７０９に移行する。ステップ７０９では、光ディスク装置は、一部でも記録済みの層について、球面収差補正処理を行う。当該ステップ７０９における球面収差補正処理は、図２におけるステップ２１２からステップ２１３に等しい。

次に、ステップ７１０では、一部でも記録済みの層について、チルト調整処理を行う。当該ステップ７１０におけるチルト調整は図４におけるステップ４１３からステップ４１６に等しい。

上記ステップ７１０において、調整層が既記録層Ｙであった場合は内周において再生信号振幅によるチルト調整を行い、その結果を基に中／外周のチルト調整結果が計算する。

前記ステップ７０８又はステップ７１０が終了すると、ステップ７１１に移行する。ステップ７１１では、光ディスク装置は、球面収差およびチルト調整について未調整の層が存在するか否かを判別する。

上記ステップ７１１において、未調整の層が存在すると判別された場合、ステップ７０５に移行し、未調整の層について調整を行う。

一方、ステップ７１１において、全ての記録層においてディスク挿入時の初期調整シーケンスが行われたと判別された場合、光ディスク装置は、チルト調整の初期調整学習を終了する。

以上、ＢＤのディスク挿入時の初期調整シーケンスにおいて、球面収差補正処理の後にチルト調整処理を実施すると、チルト調整に再生信号の振幅を指標として用いることが可能になる。

ところで、図７における実施例では、調整シーケンスにおける未調整層へのフォーカスサーボを、各層における球面収差補正およびチルト調整の両方の調整処理が共に終了した後に行った。このフォーカスサーボのタイミングは、球面収差補正処理およびチルト調整処理のそれぞれの処理が各層で終了するごとに毎回行ってもよい。この場合、各調整終了の度に各層にフォーカスサーボをかけなくてはいけないため、図７に示した調整シーケンスに比較して、調整に要する時間は増加すると考えられる。

なお、上記実施例では調整シーケンスをＬ０からの層間距離が近い層から順に行ったが、調整する層の順番は必ずしも、Ｌ０からの距離が近い順に行わなくてもよい。

上記実施例では、第１の球面収差補正量の計算および中／外周を含めたチルト調整に用いる既記録層Ｙ以外の、既記録層Ｙのチルト調整では中／外周における調整値は計算により求める例について説明した。しかし、この例に限られず、光ディスク装置は、光ディスクＣが光ディスクＢに等しい場合は、この調整値は中／外周の記録済み領域において実際にチルト調整を行って求めてもよい。

上記実施例における、ディスク挿入時の初期調整処理の順番は挿入されたディスクの種類によって、変化させてもよい。例えば、挿入されたディスクがＨＤ−ＤＶＤであった場合、初期調整シーケンスにおける球面収差補正とチルト調整の順番はチルト調整を先に行うものとする。これは、ＨＤ−ＤＶＤがＢＤに比較して、基板厚Ｔが大きいため、数１で表されるコマ収差の影響が大きいためである。

このように、本実施例の光ディスク装置によると、球面収差補正及びチルト補正の両方を行う場合の処理速度を向上させることが可能となる。

実施例３の調整シーケンスでは、第１の球面収差補正量の計算および中／外周を含めたチルト調整時に使用可能な、再生専用層又は全面記録済みの記録層が複数層存在する場合、その内最もＬ０に近い、唯１層のみを使用する例にして説明した。本実施例は、ディスク挿入時の調整シーケンスにおいて、光ディスク１００の、第１の球面収差補正量の計算および中／外周を含めたチルト調整に、複数の再生専用層あるいは全面記録済みの記録層を使用する場合について考える。

本実施例における光ディスク１００は、例えば、図８に示す光ディスクのように、未記録層Ｊを少なくとも一つ有し、かつ既記録層Ｙを少なくとも二つ以上有する複数層で構成される光ディスク（以下、光ディスクＤとする）である。

以下、上記光ディスクＤ挿入時の調整シーケンスについて図９を用いて詳細に説明する。

図９において、光ディスク装置は、まずステップ９０１では規格で定められた値から、光ディスクＤの、各層のＬ０からの層間距離であるＤを計算する。

次に、ステップ９０２では、光ディスク装置は、まず、ステップ９０１において計算した層間距離Ｄが最小である未調整の未記録層ＪよりもＬ０側に既記録層Ｙが存在するか否かを判別する。層間距離Ｄが最小である未調整の未記録層ＪよりもＬ０側に既記録層Ｙが存在すると判別された場合、光ディスク装置は、層間距離Ｄが最大である既記録層Ｙにフォーカスサーボをかけた状態にする。一方、層間距離Ｄが最小である未調整の未記録層ＪよりもＬ０側に既記録層Ｙが存在しないと判別された場合、光ディスク装置は、層間距離Ｄが最小の既記録層Ｙにフォーカスサーボをかけた状態にする。

上記のステップ９０２が終了すると、続いてステップ９０３に移行する。ステップ９０３では、光ディスク装置は、フォーカスサーボをかけている既記録層Ｙについて、球面収差補正処理を行う。当該ステップ９０３における球面収差補正処理は、図２におけるステップ２０３からステップ２０６に等しい。

次に、ステップ９０４では、光ディスク装置はフォーカスサーボをかけている既記録層Ｙについてチルト調整処理を行う。当該ステップ９０４におけるチルト調整処理は、図４のフローチャートのステップ４０２からステップ４１０に等しい。

次に、ステップ９０５では、光ディスク装置は、層間距離Ｄが最小である未記録層Ｊにフォーカスサーボをかけた状態にする。

ステップ９０６では、光ディスク装置は、層間距離Ｄが最小である未記録層Ｊについて球面収差補正処理を行う。当該ステップ９０６における球面収差補正処理は、図２におけるステップ２０９からステップ２１１に等しい。

ステップ９０７では、光ディスク装置は、層間距離Ｄが最小である未記録層Ｊについて、チルト調整処理を行う。当該ステップ９０７におけるチルト調整は、図４におけるステップ４１３からステップ４１６に等しい。

ステップ９０８では、光ディスク装置は、未調整の既記録層Ｙが存在するか否かを判別する。ステップ９０８において、未調整の既記録層Ｙが存在すると判別された場合、ステップ９０９に移行する。ステップ９０９では、光ディスク装置は、未記録層Ｊが存在するか否かを判別する。

一方、上記ステップ９０８において、未調整の既記録層Ｙが存在しないと判別された場合、ステップ９１０に移行する。ステップ９１０では、光ディスク装置は、未調整の未記録層Ｊが存在するか否かを判別する。

上記ステップ９０９において、未調整の未記録層Ｊが存在すると判別された場合、ステップ９０２に移行し、既記録層Ｘから調整を行う。

一方、上記ステップ９０９で未調整の未記録層Ｊが存在しないと判別された場合、ステップ９１１に移行する。ステップ９１１では、光ディスク装置は、未調整の既記録層Ｙについて球面収差補正処理を行う。当該ステップ９１１における球面収差補正処理は図２におけるステップ２０３からステップ２０４に等しい。

上記ステップ９１０において、未調整の未記録層Ｊが存在すると判別された場合、光ディスク装置は、ステップ９０５に移行し、未調整の未記録層Ｊの調整を行う。

一方、上記ステップ９１０において未調整の未記録層Ｊが存在しないと判別された場合、光ディスク装置は、ディスク挿入時の初期調整シーケンスを終了する。

上記ステップ９１１が終了した後、ステップ９１２に移行する。ステップ９１２では、光ディスク装置は、内周において再生信号振幅によるチルト調整を行う。当該ステップ９１２におけるチルト調整処理は図７におけるステップ７０９からステップ７１０に等しい。

次に、ステップ９１３に移行する。ステップ９１３では、光ディスク装置は、未調整の既記録層Ｙが存在するか否かを判別する。

上記ステップ９１３において、未調整の既記録層Ｙが存在すると判別された場合、ステップ９１１に移行し、再び未調整の既記録層Ｙの球面収差補正が行われ、全ての既記録層Ｙの調整が終了するまで繰り返される。

一方、上記ステップ９１３において、未調整の既記録層Ｙが存在しないと判別された場合、光ディスク装置は、ディスク挿入時の初期調整学習を終了する。

以上、ディスク挿入時の初期調整シーケンスにおいて、第１の球面収差補正量の計算および中／外周を含めたチルト調整に、複数の既記録層Ｙを使用する場合について説明した。上記実施例に示した調整は、多層ディスクにおいて、調整対象により近い層における調整値に基づく計算結果を使用するので、計算で得られる調整値の精度が向上する。

また、多層ディスクは一般的に、Ｌ０側から積層させて作成される。これを鑑みるに、本実施例に示したように、調整対象層よりもＬ０側に存在する既記録層Ｙに基づく計算値を使用することで、ディスク作成過程における積層による層間隔のばらつきの影響を抑制する事ができる。

以上の、実施例１から実施例４までの各実施例における光ディスクの定義を図１０にまとめる。計算層が計算により補正値を求められる層を、基準層が計算の基準になる調整が行われる層をそれぞれ示す。

以上のように、各実施例の光ディスク装置は、球面収差補正とチルト調整は記録再生性能の向上に有効であり、多層ディスクにおいて両補正を行うことを考えた場合、本発明による時間短縮が可能である。この効果は、特に、一枚の光ディスク媒体に、再生専用層と記録層が混在するディスクにおける球面収差補正の時間短縮及びチルト調整の補正精度の向上に優れた効果を発揮する。

また、ディスク挿入時の調整シーケンスで、球面収差補正とチルト調整の両方を行う場合、球面収差補正とチルト調整の全体の調整時間を短縮できる。

なお、本発明は上記した実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、上記した実施例は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施例の構成の一部を他の実施例の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。また、各実施例の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることことが可能である。

また、上記の各構成は、それらの一部又は全部が、ハードウェアで構成されても、プロセッサでプログラムが実行されることにより実現されるように構成されてもよい。また、制御線や情報線は説明上必要と考えられるものを示しており、製品上必ずしも全ての制御線や情報線を示しているとは限らない。実際には殆ど全ての構成が相互に接続されていると考えてもよい。

１００ 光ディスク
１０１ 光ピックアップ
１０２ レーザ光源
１０４ コリメートレンズ
１０５ 偏光ビームスプリッタ
１０６ １／４波長板
１０７ 球面収差素子群
１０７ａ 凸レンズ
１０７ｂ 凹レンズ
１０８ 全反射ミラー
１０９ 対物レンズ
１１０ 対物レンズフォーカスアクチュエータ
１１１ シリンドリカルレンズ
１１２ 検出レンズ
１１３ 光検出ディテクタ
１１５ 対物レンズチルトアクチュエータ
１２１ スピンドルモータ
１２２ スレッドモータ
１３０ システム制御回路
１３１ 球面収差誤差検出回路
１３２ 再生信号生成回路
１３３ サーボ信号生成回路
１３４ プッシュプル信号生成回路
１３５ 球面収差補正素子駆動回路
１３６ レーザ駆動回路
１３７ フォーカスアクチュエータ駆動回路
１３８ スレッド送りモータ
１３９ スピンドルモータ駆動回路
１４０ 光スポット
１４１ チルトアクチュエータ駆動回路
１５０ システム制御回路内蔵メモリ

Claims (16)

1. 光ディスクに対して情報の記録または再生を行う光ディスク装置であって、
   レーザ光を集光するレンズ部と、
   前記対物レンズを駆動する駆動部と、
   前記光ディスクからの反射光を受光する受光部と、
   球面収差を補正する球面収差補正部と、
   前記球面収差の補正量を取得する取得部と、を備え、
   装着された光ディスクが、未記録又は追記録可能な記録層である第１の層を少なくとも１層備え、かつ、一部分でも既に記録された箇所のある記録層もしくは再生専用層である第２の層を少なくとも一層備える光ディスクである場合、前記取得部は、前記第２の層の球面収差補正量は、前記第２の層からの反射光に基づいて取得し、前記第１の層の球面収差補正量は前記第２の層の球面収差補正量に基づいて取得することを特徴とする光ディスク装置。
2. 請求項１に記載の光ディスク装置であって、
   前記第１の層の球面収差の補正量と前記第２の層の球面収差の補正量とを、球面収差補正の初期補正量とすることを特徴とする光ディスク装置。
3. 請求項１に記載の光ディスク装置であって、
   前記取得部は、前記第２の層における再生信号の振幅またはジッターまたはエラーレートのいずれか１以上の指標に基づいて、前記第２の層の球面収差補正量を取得することを特徴とする光ディスク装置。
4. 請求項１に記載の光ディスク装置であって、
   前記取得部は、前記第２の層で調整した球面収差補正量に対し、規格で定められた層間距離を基に前記前記第１の層の球面収差補正量を計算して取得することを特徴とする光ディスク装置。
5. 請求項１に記載の光ディスク装置であって、
   前記第２の層の球面収差補正量に基づいて得られる前記第１の層の球面収差補正量を初期補正量とし、
   前記取得部は、前記第１の層にデータが記録されている場合には、前記球面収差補正量を前記初期補正量として得られる前記第２の層からの反射光に基づいて、前記第１の層の球面収差補正量を取得することを特徴とする光ディスク装置。
6. 請求項１に記載の光ディスク装置であって、
   前記第２の層の球面収差補正量に基づいて得られる前記第１の層の球面収差補正量を初期補正量とし、
   前記取得部は、前記第１の層にデータが記録されていない場合には、前記第１の層に前記初期補正量を前記球面収差補正量として試し書き領域にデータを記録し、当該試し書き領域からの反射光に基づいて前記第１の球面収差補正量を取得することを特徴とする光ディスク装置。
7. 光ディスクに対して情報の記録または再生を行う光ディスク装置であって、
   レーザ光を集光する対物レンズと、
   前記対物レンズを駆動する駆動部と、
   前記光ディスクからの反射光を受光する受光部と、
   チルトを補正するチルト補正部と、
   前記チルトの補正量を取得する取得部と、を備え、
   前記光ディスクが一部分でも既に記録された箇所のある追記録可能な記録層である第１の層を少なくとも１層備え、かつ再生専用層あるいは全面記録済みの記録層である第２の層を少なくとも１層備える光ディスクである場合、前記取得部は、前記第２の層のチルト補正量は、前記第２の層からの反射光に基づいて取得し、前記第１の層のチルト補正量は、前記第２の層のチルト補正量に基づいて取得することを特徴とする光ディスク装置。
8. 請求項７に記載の光ディスク装置であって、
   前記取得部は、前記第１の層で情報が既に情報が記録された半径位置での反射光に基づいて取得されるチルト補正量と前記第２の層での当該半径位置での反射光に基づいて取得されるチルト補正量との比と、前記第２の層での他の半径位置におけるチルト補正量とに基づいて、前記第１の層のチルト補正量を取得することを特徴とする光ディスク装置。
9. 請求項７に記載の光ディスク装置であって、
   前記取得部は、前記反射光に基づいて得られる再生信号の振幅またはジッターまたはエラーレートのいずれか１以上の指標に基づいて前記第２の層のチルト補正量を取得することを特徴とする光ディスク装置。
10. 光ディスクに対して情報の記録または再生を行う光ディスク装置であって、
    レーザ光を集光するレンズ部と、
    前記対物レンズを駆動する駆動部と、
    前記光ディスクからの反射光を受光する受光部と、
    球面収差を補正する球面収差補正部と、
    チルトを補正するチルト補正部と、
    前記球面収差の補正量と前記チルトの補正量を取得する取得部と、を備え、
    前記光ディスクが未記録又は追記録可能な記録層である第１の層を少なくとも一層備え、かつ再生専用層あるいは全面記録済みの記録層である第２の記録層を少なくとも一層備える光ディスクである場合、
    前記取得部は、前記第２の層のチルト補正量及び球面収差補正量は、前記第２の層からの反射光に基づいて取得し、前記第１の層のチルト補正量は前記第２の層のチルト補正量に基づいて取得し、前記第１の層の球面収差補正量は、前記第２の層の球面収差補正量に基づいて取得することを特徴とする光ディスク装置。
11. 請求項１０に記載の光ディスク装置であって、
    前記取得部は、前記第２の層からの反射光から得られる再生信号の振幅またはジッターやエラーレートにいずれか１以上の指標に基づいて前記第２の層の再生データを最適化する球面収差補正量を取得することを特徴とする光ディスク装置。
12. 前記請求項１０に記載の光ディスク装置であって、
    前記第２の球面収差補正量に基づいて取得される前記第１の層の球面収差補正量を初期補正量とし、
    前記取得部は、前記第１の層にて記録されている領域がある場合は、前記初期補正量を前記球面収差補正部の補正量することによって前記第１の層から得られる反射光に基づいて前記第１の層の球面収差補正量を取得することを特徴とする光ディスク装置。
13. 前記請求項１０に記載の光ディスク装置であって、
    前記第２の球面収差補正量に基づいて取得される前記第１の層の球面収差補正量を初期補正量とし、
    前記取得部は、前記第１の層にて記録されている領域がない場合は、前記初期補正量を前記球面収差補正部の補正量し、前記第１の層の試し書き領域にデータ記録し、前記第１の試し書き領域から得られる反射光に基づいて前記第１の層の球面収差補正量を取得することを特徴とする光ディスク装置。
14. 前記請求項１０に記載の光ディスク装置であって、
    前記取得部は、前記第２の層における複数の半径位置にて反射光に基づいて取得されるチルト補正量と、前記第１の層における記録済み領域の反射光に基づいて得られるチルト補正量とから、前記第１の層における他の半径位置におけるチルト補正量を取得することを特徴とする光ディスク装置。
15. 前記請求項１０に記載の光ディスク装置であって、
    前記取得部は、それぞれの記録層において、先に球面収差補正量を取得した後に、チルト補正量を取得することを特徴とする光ディスク装置。
16. 前記請求項１０に記載の光ディスク装置であって、
    前記光ディスクが前記第２の層を複数備える場合には、ディスク挿入時の調整シーケンス時に、前記複数の層を基準層として設定し、
    前記取得部は、前記第１の層のチルト補正量を取得するときには、前記基準層のうち前記第１の層との層間距離が最も小さい基準層における球面収差補正量およびチルト補正量に基づいて、前記第１の層のチルト補正量を取得することを特徴とする光ディスク装置。

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