JP2011066685A - 固体撮像素子及びその駆動方法並びに撮像装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】信号読出を良好に行うことができる固体撮像素子等を提供する。
【解決手段】半導体基板に二次元アレイ状に配列形成された複数の画素42と、該画素42で構成される複数の画素列に沿って形成され2列の画素列毎に1本形成される電荷転送路52と、2本の電荷転送路52に挟まれる2列の前記画素列の2列の各画素間に各々設けられ電荷転送路52の転送電極54,55とは電気的に絶縁状態で設けられる孤立電極膜70とを備える。信号読出の対象画素に対して読出パルス電圧を印加するとき該対象画素に隣接する孤立電極膜70に該読出パルス電圧と逆極性の制御パルスを印加する。
【選択図】図3
【解決手段】半導体基板に二次元アレイ状に配列形成された複数の画素42と、該画素42で構成される複数の画素列に沿って形成され2列の画素列毎に1本形成される電荷転送路52と、2本の電荷転送路52に挟まれる2列の前記画素列の2列の各画素間に各々設けられ電荷転送路52の転送電極54,55とは電気的に絶縁状態で設けられる孤立電極膜70とを備える。信号読出の対象画素に対して読出パルス電圧を印加するとき該対象画素に隣接する孤立電極膜70に該読出パルス電圧と逆極性の制御パルスを印加する。
【選択図】図3
Description
本発明は、固体撮像素子及びその駆動方法並びに撮像装置に関する。
近年のCCD型固体撮像素子は多画素化が進展し、1千万画素以上を搭載するのが普通になってきている。この様な多画素化が進むと、1画素1画素の受光面積が小さくなるため、感度が低下してしまうという問題が生じる。
そこで、下記の特許文献1,2に記載されている様に、撮像素子チップ表面に占める画素(光電変換素子)の占有面積の割合を大きくし、垂直電荷転送路の占有面積を小さくするため、垂直電荷転送路を間引いて形成し、2本の画素列が1本の垂直電荷転送路を共有する様になってきている。
多画素化が進展したCCD型固体撮像素子では、感度を高めるために1画素1画素の開口面積を広くすると共に、垂直電荷転送路の本数を間引いて形成するのが有利である。しかし、微細な画素から垂直電荷転送路への信号読出が良好でないと、良好な被写体画像を得ることができない。
また、多画素化が進展した固体撮像素子では、例えば動画像データを読み出すときなど、画素加算した信号を読み出すことが多くなっているが、この画素加算を撮像素子チップ内で容易に行える構成にすることも重要になってくる。
本発明の目的は、各画素からの信号読出を良好に行うことができ、また、チップ内で画素加算を容易に行うことが可能な固体撮像素子及びその駆動方法並びに撮像装置を提供することにある。
本発明の固体撮像素子は、半導体基板に二次元アレイ状に配列形成された複数の画素と、該画素で構成される複数の画素列に沿って形成され2列の前記画素列毎に1本形成される電荷転送路と、2本の前記電荷転送路に挟まれる2列の前記画素列の2列の各画素間に各々設けられ前記電荷転送路の転送電極とは電気的に絶縁状態で設けられる孤立電極膜とを備えることを特徴とする。
本発明の固体撮像素子の駆動方法は、信号読出の対象画素に対して読出パルス電圧を印加するとき該対象画素に隣接する前記孤立電極膜に該読出パルス電圧と逆極性の制御パルスを印加することを特徴とする。
本発明の固体撮像素子の駆動方法は、前記孤立電極膜を挟む2つの前記画素の信号電荷を加算するとき該孤立電極膜に制御電圧を印加して該2つの画素の前記信号電荷を入れるポテンシャル井戸を1つにすることを特徴とする。
本発明の撮像装置は、上記記載の固体撮像素子と、該固体撮像素子を駆動制御する制御手段とを備えることを特徴とする。
本発明によれば、各画素からの信号読出を良好に行うことができ、また、チップ内で画素加算を容易に行うことが可能となる。
以下、本発明の一実施形態について、図面を参照して説明する。
図1は、本発明の一実施形態に係る撮像装置(この例ではデジタルスチルカメラ)20の機能構成図である。この撮像装置20は、撮像部21と、撮像部21から出力されるアナログの画像データを自動利得調整(AGC)や相関二重サンプリング処理等のアナログ処理するアナログ信号処理部22と、アナログ信号処理部22から出力されるアナログ画像データをデジタル画像データに変換するアナログデジタル変換部(A/D)23と、後述のシステム制御部(CPU)29からの指示によってA/D23,アナログ信号処理部22,撮像部21の駆動制御を行う撮像素子駆動部(タイミングジェネレータTGを含む)24と、CPU29からの指示によって発光するフラッシュライト25とを備える。
撮像部21は、被写界からの光を集光する光学レンズ系21aと、該光学レンズ系21aを通った光を絞る絞りやメカニカルシャッタ21bと、光学レンズ系21aによって集光され絞りによって絞られた光を受光し撮像画像信号(アナログ画像データ)を出力するCCD型固体撮像素子35とを備える。
本実施形態の撮像装置20は更に、A/D23から出力されるデジタル画像データを取り込み補間処理やホワイトバランス補正,RGB/YC変換処理等を行うデジタル信号処理部26と、画像データをJPEG形式などの画像データに圧縮したり逆に伸長したりする圧縮/伸長処理部27と、カメラ背面等に設けられメニュー画面やスルー画像,撮像画像を表示する液晶表示部28と、撮像装置全体を統括制御するシステム制御部(CPU)29と、フレームメモリ等の内部メモリ30と、JPEG画像データ等を格納する記録メディア32との間のインタフェース処理を行うメディアインタフェース(I/F)部31と、これらを相互に接続するバス34とを備え、また、システム制御部29には、ユーザからの指示入力を行う操作部33が接続されている。
図2は、図1に示すCCD型固体撮像素子35の表面模式図である。半導体基板41の表面部には、二次元アレイ状に、図示する例では正方格子状に、複数の画素(フォトダイオード:PD)42が配列形成されている。
ペアとなる隣接する2列の画素列(図2にXで示す画素列間領域の両側の画素列すなわち垂直電荷転送路を挟まない画素列)を挟むように垂直電荷転送路(VCCD)43が設けられており、垂直電荷転送路43の左右のペアの異なる2列の画素列がこの1本の垂直電荷転送路43を共用する構成となっている。
この共用の垂直電荷転送路43に同時に左右の画素列から信号電荷が読み出されないように、一方の画素列の読出電極44と他方の画素列の読出電極45とが垂直方向にずれるように設けられている。また、ペアをなす画素列の読出電極は、本実施形態では電極44又は電極45のいずれか一方となるように形成される。
この様に、本実施形態の固体撮像素子35は、2列の画素列が1本の垂直電荷転送路43を共用する構造のため、画素列毎に垂直電荷転送路を設けた固体撮像素子に比較して画素面積(フォトダイオードの受光面)の増大を図ることができ、撮像素子の高感度化を図ることが可能となる。
各垂直電荷転送路43の転送方向端部に沿って水平電荷転送路(HCCD)47が設けられ、水平電荷転送路47の出力端部に、転送されてきた信号電荷の電荷量に応じた電圧値信号を撮像画像信号として出力するアンプ48が設けられている。
なお、「垂直」「水平」という用語を用いて説明したが、これは半導体基板の表面に沿う「1方向」「この1方向に略直角の方向」という意味に過ぎない。
図3は、図2の要部拡大上面図であり、図4(a)は図3のIV―IV線断面模式図である。半導体基板41の表面pウェル層には、フォトダイオード(PD)42を構成するn領域51と垂直電荷転送路43の埋め込みチャネルを構成するn領域52とが形成されている。図2の領域X、即ち2つのn領域51間はpウェル層のままである。
半導体基板41の表面にはゲート絶縁膜53が形成され、このゲート絶縁膜53の上には、図3に示す様に、垂直方向に隣接するフォトダイオード(PD)間で水平方向に延びる垂直転送電極膜54,55(読出電極兼用の転送電極膜54,55が、夫々図2の読出電極44,45となる。)が垂直方向に交互に設けられている。図3に示す2枚の垂直転送電極膜54,55は、例えば特開2005―353684号公報に記載されている様な、単層膜構造になっている。
垂直転送電極膜54,55は、垂直方向に隣接するフォトダイオード(PD)間で細く、フォトダイオード(PD)が無い埋め込みチャネル52上では垂直方向に幅広に形成され、電極膜54,55間は極めて狭い絶縁領域を挟んで隣接する様に形成されている。
領域Xにおいて、垂直転送電極膜54,55は垂直方向に幅狭のままであるため、フォトダイオード(PD)を挟む上側の垂直転送電極膜55と下側の垂直転送電極膜54との間(左右のフォトダイオード(PD)42間)には空き領域が形成されることになる。ここに、本実施形態では、垂直転送電極膜54,55と電気的に絶縁された孤立電極膜70を、例えばポリシリコン膜で形成する。この孤立電極膜70は、転送電極膜54,55の形成時に同時に単層膜構造で形成される。
垂直電荷転送路54,55の垂直方向に幅広に形成された部分を覆うように、例えばタングステン膜でなるストライプ状の遮光膜56aが設けられ、垂直方向に点在するように設けられた孤立電極膜70の列上にもこれを覆うようにストライプ状の、例えばタングステン膜でなる遮光膜56bが設けられる。
これにより、本実施形態の遮光膜56(56a,56b)の開口は、フォトダイオード(PD)42の受光面列に沿ってストライプ状に開けられた状態となる。1本毎の各遮光膜56a,56bは夫々電気的に分離されている。
孤立電極膜70の列は、従来は垂直電荷転送路が設けられた部分に設けたものである。垂直電荷転送路の占有面積を削減するために垂直電荷転送路を間引いた箇所に孤立電極膜70を設けた関係で、孤立電極膜70の水平方向幅は狭く、これを覆う遮光膜56bの水平方向幅も、垂直電荷転送路を覆う遮光膜56aより幅狭になっている。
本実施形態では、遮光膜開口がストライプ状になっており、垂直方向に並ぶ各フォトダイオード(PD)の遮光膜開口が連続していても、各フォトダイオード(PD)42の受光面の上方には、それぞれ、図示省略のマイクロレンズが積層されているため、入射光はマイクロレンズによってフォトダイオード42の受光面内に集光される。
本実施形態のCCD型固体撮像素子35では、ストライプ状の各遮光膜56a,56bのうち、垂直電荷転送路上の遮光膜56aを所定電位たとえばアース電位に固定する。そして、孤立電極膜70とその上の遮光膜56bとを短絡部57で短絡し、遮光膜56bすなわち孤立電極膜70に、後述する様な制御パルスを印加して固体撮像素子35の駆動制御を行う。
短絡部57は、例えば次の様にして形成する。図4に示す様に、転送電極膜55(or54:図示の例では55)や孤立電極膜70を形成した後、その上に絶縁層58が積層されるが、孤立電極膜70上の絶縁層58の所定位置にエッチングにより穴を開けて孤立電極膜70を露出させる。その後、タングステン金属をスパッタリングする等してストライプ状の遮光膜56a,56bを絶縁層58上に積層すると、エッチング穴の周壁にもタングステン膜が形成され、遮光膜56bと孤立電極膜70とが短絡される。
この短絡部57の製造方法では、短絡部57を遮光膜56a,56bと一緒に製造しているため、短絡部57の膜厚が薄くなり電気抵抗が高くなる可能性がある。そこで、短絡部57を遮光膜とは別に製造することも可能である。この製造工程を図4(b)〜(e)に示す。
先ず、図4(b)に示す様に、半導体基板41に、フォトダイオード(n領域)51と、垂直電荷転送路の埋め込みチャネル(n領域)52とをイオン注入により製造すると共に半導体基板41の表面にゲート酸化膜53を形成する。
次に、図4(c)に示す様に、ゲート酸化膜53の上に、ポリシリコン膜やDASI(Doped Amorphous Silicon)膜で転送電極膜54,55や孤立電極膜70を形成する。そして、その上に絶縁層58を形成した後、所定位置にエッチングにより電極70に達する穴を開けて先ず穴内に金属膜をスパッタ又は蒸着によって短絡部57を形成し(図4(d))、その後に、遮光膜56a,56bを形成することで、遮光膜56bと短絡部57との電気接触を図り、図4(e)の構造(=図4(a))が得られる。
以上述べた構成の固体撮像素子35を搭載した撮像装置20では、システム制御部(CPU)29が、撮像素子駆動部24を介してCCD型固体撮像素子35に駆動パルス(読出パルス,垂直転送パルス,水平転送パルス,孤立電極膜制御パルス)を印加し、これにより、固体撮像素子35は、次の様に駆動される。
図5は、図3のIV―IV線断面(上段)に沿うポテンシャルを示す図(下段)である。固体撮像素子35の各画素の露光が進んでくると、各画素(フォトダイオード(PD))51毎に形成されているポテンシャル井戸71内に、受光量に応じた信号電荷72が蓄積されてくる。図示する符号75は、隣接する画素51間に形成され両ポテンシャル井戸71間を画成するポテンシャル壁である。
露光終了によってポテンシャル井戸71内の信号電荷72を隣接の垂直電荷転送路52に形成されているポテンシャル井戸73内に移動させるには、フォトダイオードのn領域51と垂直電荷転送路のn領域52との間のポテンシャル壁74を下げる必要がある。
そこで、図6に示す様に、読出電極兼用の転送電極55(or54)に、例えば+12Vの読出パルス電圧を印加する。これにより、ポテンシャル井戸73及びポテンシャル壁74が図示する様に押し下げられ、これによって形成された電位勾配に従って信号電荷72がポテンシャル井戸73に流れ込み、信号読出が行われる。
しかしながら、信号電荷72を垂直電荷転送路に移動させるための上記電位勾配が小さいと、信号電荷72の読み出しがスムースに進まず読出不良が生じる虞がある。画素の微細化に伴って飽和電荷量が小さくなっているため、少しの読出不良があっても、画質劣化に繋がってしまう。
信号電荷72の垂直電荷転送路への読み出しを確実に行うには、読出パルス電圧を高めに設定して、例えば+15Vにすれば良い。これにより、電位勾配が大きくなり、信号電荷72の移動は容易となる。
しかし、この様に使用電圧の絶対値を大きくすると、固体撮像素子35の駆動電源負荷が大きくなって消費電力が増大してしまい、近年の低電圧駆動化に逆行してしまう。
そこで、本実施形態の固体撮像素子35の駆動方法では、+12Vあるいはそれより低い読出パルス電圧の印加時に、同時に、遮光膜56bに、読出パルス電圧と逆位相の例えば−3Vの制御パルスを印加する。
これにより、隣接するペアとなる画素間の領域Xに形成されるポテンシャル壁75が、図7に示す様に高くなり、結果として、電位勾配が大きくなる。従って、ポテンシャル井戸71内の信号電荷72は、読出パルス電圧が低くても良好に垂直電荷転送路のポテンシャル井戸73内に流れ込み、読出特性が向上する。
本実施形態では、孤立電極膜70を挟んで隣接する2つの画素の読出電極が、図2に示す様に、同じ読出電極44同士(又は45同士)となるため、ペアとなる両画素から同時に信号電荷が夫々の垂直電荷転送路43に読み出される。
このような駆動方法を採用することで、画素が微細化された固体撮像素子であっても信号読出を良好に行うことができ、しかも、低消費電力化を図ることも可能となる。
図8は、本発明の別実施形態に係るCCD型固体撮像素子80の表面模式図である。本実施形態のCCD型固体撮像素子80は、図2で説明したCCD型固体撮像素子35と基本的な構成は同じであるが、ペアとなる2つの画素42の読出電極が異なる。
即ち、図2ではペアとなる2つの画素42の読出電極は、同じ読出電極44同士又は45同士であったが、本実施形態では、一方が読出電極44のときは他方は読出電極45となっており、垂直方向に1電極分ずれている。勿論、共用する垂直電荷転送路43を挟む左右の画素42の読出電極は、垂直方向に1電極分ずれている。
図9,図10は、図8のCCD型固体撮像素子80で画素加算読出を行う場合の説明図である。CCD型固体撮像素子80の各画素51のポテンシャル井戸71内に受光量に応じた信号電荷72が蓄積された後、或いは蓄積中から、図9に示す様に、孤立電極膜70を挟む2つの画素の各ポテンシャル井戸71間を仕切るポテンシャル壁75を、孤立電極膜70に+電位の制御電圧を印加して消失させる。これにより、2つの画素の各ポテンシャル井戸71が1つになって各信号電荷72も1つに加算される。
次に、読出電極44又は読出電極45の一方に読出パルス電圧を印加すると、図10に示す様に、電位勾配が形成され、この電位勾配に従って、一方の垂直電荷転送路下に形成されたポテンシャル井戸73内に、加算後の信号電荷72が移動される。他方の垂直電荷転送路は、スミア掃出などに使用する。
以上により、固体撮像素子80内で画素加算された信号電荷が垂直電荷転送路に読み出され、垂直電荷転送路,水平電荷転送路と転送され、撮像画像信号が出力される。
なお、図8,図9で説明した画素加算は、ペアとなる隣接2画素の信号電荷を画素加算する関係で、カラーフィルタを搭載した固体撮像素子にあっては、ペアとなる隣接2画素に同色カラーフィルタを搭載する必要がある。例えば隣接2画素単位で、原色系カラーフィルタをベイヤ配列するのが良い。
図11は、本発明の別実施形態の固体撮像素子の要部上面図である。図3の実施形態と比較すると分かり易いが、本実施形態では、遮光膜56aに、左右の遮光膜56b近傍まで延びる張出部56a’を設け、垂直方向に隣接するフォトダイオード間に敷設された転送電極膜54,55を張出部56a’で覆う様にしている。
これにより、遮光膜開口は、フォトダイオード(PD)42の受光面をほぼ囲む形状となり、受光面以外の遮光状態が向上して混色が抑制され、撮像画像の品質を向上させることが可能となる。張出部56a’と遮光膜56bとの間に若干の隙間(スリット)59が残るが、この程度の隙間であれば、マイクロレンズの集光効果によって混色の影響はない。
スリット59は、なるべく遮光膜56bに近い位置に設けられる。これは、スリット59からの漏洩光があっても、埋め込みチャネル52から遠い位置であればスミアの原因にならないからである。
そして、本実施形態のCCD型固体撮像素子では、更に、張出部56a’と、その下の垂直転送電極膜54(又は55)との間に短絡部81を設け、垂直転送パルスを遮光膜56aを介して転送電極に印加する構成としている。
近年の多画素化が進展した固体撮像素子では、垂直転送電極54,55が細くなり、電気抵抗が大きくなってきている。このため、垂直転送電極54,55の一端側から転送パルスを印加しても、転送パルスが撮像素子チップの中央付近まで伝搬するのに遅延が発生してしまう。読出パルスを印加するときも同様である。この結果、高速駆動ができなくなっている。
しかし、本実施形態の固体撮像素子では、遮光膜を利用して転送パルス等を転送電極膜に印加できるため、伝搬遅延が小さくなり、高速駆動が可能となる。しかも、本実施形態では、短絡部81を埋め込みチャネル52から離れた位置に設けるため、短絡部81から埋め込みチャネル52内に光が侵入してスミア電荷が発生してしまう虞が小さく、高品質な画像を撮影することが可能となる。この短絡部81は、遮光膜56bの短絡部57と同一工程で製造可能である。
以上述べた様に、本実施形態による固体撮像素子は、半導体基板に二次元アレイ状に配列形成された複数の画素と、該画素で構成される複数の画素列に沿って形成され2列の前記画素列毎に1本形成される電荷転送路と、2本の前記電荷転送路に挟まれる2列の前記画素列の2列の各画素間に各々設けられ前記電荷転送路の転送電極とは電気的に絶縁状態で設けられる孤立電極膜とを備えることを特徴とする。
また、実施形態の固体撮像素子は、前記電荷転送路を覆う第1遮光膜と、列状に形成される前記孤立電極膜を覆い前記第1遮光膜とは電気的に分離された第2遮光膜と、該第2遮光膜と前記孤立電極膜とを電気的に接続する短絡部とを備えることを特徴とする。
また、実施形態の固体撮像素子は、前記第1遮光膜から一体に前記第2遮光膜近傍まで突設され前記転送電極を覆う張出部と、該張出部と前記転送電極とを電気的に短絡する短絡部とを備えることを特徴とする。
更に実施形態の固体撮像素子の駆動方法は、信号読出の対象画素に対して読出パルス電圧を印加するとき該対象画素に隣接する前記孤立電極膜に該読出パルス電圧と逆極性の制御パルスを印加することを特徴とする。
また、実施形態の固体撮像素子の駆動方法は、前記孤立電極膜を挟む2つの前記画素の信号電荷を加算するとき該孤立電極膜に制御電圧を印加して該2つの画素の前記信号電荷を入れるポテンシャル井戸を1つにすることを特徴とする。
また、実施形態の固体撮像素子の駆動方法は、前記電荷転送路の転送駆動を行わせる転送パルス又は読出パルス電圧を印加するとき前記第1遮光膜及び前記張出部を通して印加することを特徴とする。
また、実施形態の撮像装置は、上記のいずれかに記載の固体撮像素子と、該固体撮像素子を駆動制御する制御手段とを備えることを特徴とする。
上述した各実施形態によれば、画素が微細化された固体撮像素子であっても各画素からの信号読出が良好に行うことができる構造とすることができ、また、画素加算を撮像素子内で容易に行うことができる構造にすることができる。
本発明に係る固体撮像素子は、低い読出パルス電圧で微細画素からの信号読出を良好にでき、また、画素加算を撮像素子チップ内で容易に行うことができるため、デジタルスチルカメラ,デジタルビデオカメラ,カメラ付携帯電話機,カメラ付電子装置,監視カメラ,内視鏡,車載カメラ等に適用すると有用である。
20 撮像装置
35,80 CCD型固体撮像素子
42 画素(フォトダイオード:光電変換素子)
43 垂直電荷転送路(VCCD)
44,45 読出電極
51 フォトダイオードのn領域
52 垂直電荷転送路の埋め込みチャネル(n領域)
53 ゲート絶縁膜
54,55 読出電極兼用の垂直転送電極
56a,56b 遮光膜
57,81 短絡部
70 孤立電極膜
71 フォトダイオードのポテンシャル井戸
72 信号電荷
73 垂直電荷転送路のポテンシャル井戸
74,75 ポテンシャル壁
35,80 CCD型固体撮像素子
42 画素(フォトダイオード:光電変換素子)
43 垂直電荷転送路(VCCD)
44,45 読出電極
51 フォトダイオードのn領域
52 垂直電荷転送路の埋め込みチャネル(n領域)
53 ゲート絶縁膜
54,55 読出電極兼用の垂直転送電極
56a,56b 遮光膜
57,81 短絡部
70 孤立電極膜
71 フォトダイオードのポテンシャル井戸
72 信号電荷
73 垂直電荷転送路のポテンシャル井戸
74,75 ポテンシャル壁
Claims (7)
- 半導体基板に二次元アレイ状に配列形成された複数の画素と、該画素で構成される複数の画素列に沿って形成され2列の前記画素列毎に1本形成される電荷転送路と、2本の前記電荷転送路に挟まれる2列の前記画素列の2列の各画素間に各々設けられ前記電荷転送路の転送電極とは電気的に絶縁状態で設けられる孤立電極膜とを備える固体撮像素子。
- 請求項1に記載の固体撮像素子であって、前記電荷転送路を覆う第1遮光膜と、列状に形成される前記孤立電極膜を覆い前記第1遮光膜とは電気的に分離された第2遮光膜と、該第2遮光膜と前記孤立電極膜とを電気的に接続する短絡部とを備える固体撮像素子。
- 請求項2に記載の固体撮像素子であって、前記第1遮光膜から一体に前記第2遮光膜近傍まで突設され前記転送電極を覆う張出部と、該張出部と前記転送電極とを電気的に短絡する短絡部とを備える固体撮像素子。
- 請求項1乃至請求項3のいずれかに記載の固体撮像素子の駆動方法であって、信号読出の対象画素に対して読出パルス電圧を印加するとき該対象画素に隣接する前記孤立電極膜に該読出パルス電圧と逆極性の制御パルスを印加する固体撮像素子の駆動方法。
- 請求項1乃至請求項3のいずれかに記載の固体撮像素子の駆動方法であって、前記孤立電極膜を挟む2つの前記画素の信号電荷を加算するとき該孤立電極膜に制御電圧を印加して該2つの画素の前記信号電荷を入れるポテンシャル井戸を1つにする固体撮像素子の駆動方法。
- 請求項3に記載の固体撮像素子の駆動方法であって、前記電荷転送路の転送駆動を行わせる転送パルス又は読出パルス電圧を印加するとき前記第1遮光膜及び前記張出部を通して印加する固体撮像素子の駆動方法。
- 請求項1乃至請求項3のいずれかに記載の固体撮像素子と、該固体撮像素子を駆動制御する制御手段とを備える撮像装置。
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2009215609A JP2011066685A (ja) | 2009-09-17 | 2009-09-17 | 固体撮像素子及びその駆動方法並びに撮像装置 |
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|---|---|---|---|---|
| WO2018105372A1 (ja) * | 2016-12-05 | 2018-06-14 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 固体撮像装置、駆動方法、および電子機器 |
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2009
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| WO2018105372A1 (ja) * | 2016-12-05 | 2018-06-14 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 固体撮像装置、駆動方法、および電子機器 |
| CN110024376A (zh) * | 2016-12-05 | 2019-07-16 | 索尼半导体解决方案公司 | 固态成像设备、驱动方法和电子设备 |
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