JP2011064484A - Sensor bias estimation device - Google Patents
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Abstract
【課題】バイアスベクトル推定値を高精度に算出可能なセンサバイアス推定装置を得る。
【解決手段】それぞれのセンサが、観測値と予測値とに基づいて相関観測値を算出するとともに、相関観測値に基づいてセンサ航跡を算出し、算出結果を出力する装置に適用され、複数のセンサ10、20のバイアスを推定するセンサバイアス推定装置であって、センサ航跡に基づいて、時刻同期および航跡相関を実行し、同一航跡と判定されたセンサ航跡の組を出力する同期処理部30と、同一航跡と判定されたセンサ航跡の組に対してバイアス格子点探索処理を実行し、バイアス推定値を算出するバイアス格子点探索処理部40と、相関観測値に基づいて、バイアス推定フィルタ処理を実行し、バイアスベクトル推定値を算出するバイアス推定フィルタ処理部60とを備え、バイアス推定フィルタ処理部60は、バイアス推定値をバイアスベクトル推定値の初期値として設定するものである。
【選択図】図1A sensor bias estimation apparatus capable of calculating a bias vector estimated value with high accuracy is obtained.
Each sensor calculates a correlation observation value based on an observation value and a predicted value, calculates a sensor wake based on the correlation observation value, and is applied to a device that outputs a calculation result. A sensor bias estimation device for estimating the bias of the sensors 10 and 20, which performs time synchronization and wake correlation based on the sensor wake and outputs a set of sensor wakes determined to be the same wake; , A bias grid point search process is performed on a set of sensor tracks determined to be the same track, and a bias grid point search processing unit 40 for calculating a bias estimated value and a bias estimation filter process based on the correlation observation value. A bias estimation filter processing unit 60 that executes and calculates a bias vector estimation value. It is set as the initial value of the vector estimate.
[Selection] Figure 1
Description
この発明は、例えば複数のセンサを有する追尾装置に適用され、それぞれのセンサのバイアス(バイアス誤差)を推定するセンサバイアス推定装置に関する。 The present invention relates to a sensor bias estimation device that is applied to, for example, a tracking device having a plurality of sensors and estimates the bias (bias error) of each sensor.
従来のセンサのバイアス誤差推定装置は、複数の目標に対して、それぞれ第1および第2のセンサからのデータ入力を観測する第1および第2の観測器の時間毎の出力に基づいて、観測行列を生成する観測行列生成器と、観測行列出力と観測雑音の共分散とからバイアス誤差推定値の共分散行列を算出する推定値評価器と、観測行列と推定値評価器出力とから仮のバイアス誤差値を算出する推定値算出器と、観測行列生成器と推定値評価器との間に設けられ、観測行列とその転置行列との積の最小固有値が所定の定数よりも大きい場合にのみ、観測行列を出力する階数判定器とを備え、累積演算結果からカルマンフィルタによりセンサのバイアス誤差を推定している(例えば、特許文献1参照)。 A conventional sensor bias error estimating apparatus observes a plurality of targets based on time-by-time outputs of first and second observers that observe data inputs from first and second sensors, respectively. An observation matrix generator that generates a matrix, an estimate evaluator that calculates a covariance matrix of the bias error estimate from the observation matrix output and the covariance of the observation noise, a temporary estimate from the observation matrix and the estimate evaluator output Estimated value calculator that calculates the bias error value, and is provided between the observation matrix generator and the estimated value evaluator, and only when the minimum eigenvalue of the product of the observed matrix and its transpose matrix is greater than a predetermined constant And a rank determining unit that outputs an observation matrix, and a bias error of the sensor is estimated by a Kalman filter from a cumulative calculation result (see, for example, Patent Document 1).
次に、図14を参照しながら、バイアス(バイアス誤差)の補正を実行する目的について説明する。なお、本明細書において、バイアスとバイアス誤差とは同義とする。
図14は、2つのセンサのバイアスをそれぞれ補正する様子を、PPI(Plan Position Indicator)表示で例示する説明図である。
図14において、2つのセンサを構成するセンサAおよびセンサBは、それぞれ方位角方向にバイアスを有しており、センサAおよびセンサBともに、目標1、2、3を同時に観測している(図中(a)の状態)。
Next, the purpose of executing bias (bias error) correction will be described with reference to FIG. In this specification, the bias and the bias error are synonymous.
FIG. 14 is an explanatory diagram illustrating how the biases of the two sensors are respectively corrected with a PPI (Plan Position Indicator) display.
In FIG. 14, the sensors A and B constituting the two sensors each have a bias in the azimuth direction, and both the sensor A and the sensor B are simultaneously observing the
このとき、センサAおよびBは、それぞれ方位角方向にバイアスを有しているので、センサAおよびBで同一の目標を観測していたとしても、センサAおよびBの観測結果を重ね合わせた場合、目標同士が重なり合わず、だぶって見えることとなる(図中(b)の状態)。そこで、このような状況を改善するために、センサAおよびBのバイアスを推定して、バイアスを補正することにより、センサAおよびBの観測結果を重ね合わせた場合に、目標同士を1つに重ね合わせることができる(図中(c)の状態)。
すなわち、センサAおよびBで観測した目標の位置、速度、加速度等からなる目標の状態量を一致させることが、バイアスの補正を実行する目的である。
At this time, since the sensors A and B have a bias in the azimuth direction, even if the same target is observed by the sensors A and B, the observation results of the sensors A and B are superimposed. , The targets do not overlap each other and appear to be full (state (b) in the figure). Therefore, in order to improve such a situation, when the biases of the sensors A and B are estimated and the biases are corrected so that the observation results of the sensors A and B are superimposed, the targets are combined into one. They can be overlaid (state (c) in the figure).
In other words, the purpose of correcting the bias is to make the target state quantities made up of the target position, velocity, acceleration, and the like observed by the sensors A and B coincide.
続いて、特許文献1に示したようなカルマンフィルタにより、距離、仰角、方位角の各成分からなるバイアスベクトルと、目標の位置、速度の各成分からなる状態ベクトルとを推定することを考える。
Next, it is considered that a bias vector composed of components of distance, elevation angle, and azimuth and a state vector composed of components of target position and velocity are estimated by a Kalman filter as shown in
ここで、バイアスベクトルは、距離、方位角の各成分で構成されてもよいし、仰角、方位角の各成分で構成されてもよいし、距離、仰角の各成分で構成されてもよいし、距離成分のみで構成されてもよいし、仰角成分のみで構成されてもよいし、方位角成分のみで構成されてもよい。すなわち、バイアスベクトルの次数およびその成分は、事前に任意に設定してカルマンフィルタを構成することができる。
また、バイアスベクトルは、X,Y,Zの各成分で構成されてもよいし、バイアス推定を実行する構成は、上記距離、仰角、方位角の各成分の組み合わせと同様に、様々な組み合わせによって実現することができる。
Here, the bias vector may be composed of distance and azimuth components, may be composed of elevation and azimuth components, or may be composed of distance and elevation components. It may be composed only of the distance component, may be composed only of the elevation angle component, or may be composed only of the azimuth angle component. That is, the Kalman filter can be configured by arbitrarily setting the order of the bias vector and its components in advance.
Further, the bias vector may be composed of X, Y, and Z components, and the configuration for executing bias estimation is based on various combinations, as in the case of the combinations of the distance, elevation angle, and azimuth components. Can be realized.
同様に、状態ベクトルは、それぞれ3次元のX,Y,Z成分からなる位置、速度の6次元の状態ベクトルとして構成されてもよいし、それぞれ3次元のX,Y,Z成分からなる位置、速度、加速度の9次元の状態ベクトルとして構成されてもよいし、それぞれ2次元のX,Y成分からなる位置、速度の4次元の状態ベクトルとして構成されてもよいし、それぞれ2次元のX,Y成分からなる位置、速度、加速度の6次元の状態ベクトルとして構成されてもよい。すなわち、状態ベクトルの次数およびその成分は、事前に任意に設定してカルマンフィルタを構成することができる。 Similarly, the state vector may be configured as a position consisting of a three-dimensional X, Y, Z component and a six-dimensional state vector of velocity, respectively, or a position consisting of a three-dimensional X, Y, Z component, It may be configured as a nine-dimensional state vector of velocity and acceleration, or may be configured as a four-dimensional state vector of position and velocity consisting of two-dimensional X and Y components, respectively. You may comprise as a 6-dimensional state vector of the position which consists of Y component, a speed, and an acceleration. That is, the order of the state vector and its components can be arbitrarily set in advance to form a Kalman filter.
しかしながら、従来技術には、以下のような課題がある。
カルマンフィルタおよび最小2乗フィルタによりバイアス推定を実行する場合には、バイアスベクトル推定値の初期値が必要になる。ここで、従来のセンサのバイアス誤差推定装置では、バイアスベクトル推定値の初期値の設定方法が明らかにされていない。
そのため、バイアスベクトル推定値の初期値が、バイアスベクトルの真値から大きく外れていた場合には、バイアスベクトル推定値の精度が低下したり、バイアスベクトル推定値の収束が遅くなったりするという問題がある。
However, the prior art has the following problems.
When the bias estimation is executed by the Kalman filter and the least square filter, an initial value of the bias vector estimated value is required. Here, in a conventional sensor bias error estimation apparatus, a method for setting an initial value of a bias vector estimated value is not clarified.
For this reason, when the initial value of the bias vector estimated value is significantly different from the true value of the bias vector, there is a problem that the accuracy of the bias vector estimated value is lowered or the convergence of the bias vector estimated value is delayed. is there.
この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、バイアスベクトル推定値を高精度に算出することができるセンサバイアス推定装置を得ることを目的とする。 The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to obtain a sensor bias estimation apparatus capable of calculating a bias vector estimated value with high accuracy.
この発明に係るセンサバイアス推定装置は、複数のセンサを有する装置であり、それぞれのセンサが、観測値と予測値とに基づいて相関処理を実行して相関観測値を算出するとともに、相関観測値に基づいてセンサ航跡を算出し、相関観測値およびセンサ航跡を出力する装置に適用され、複数のセンサのバイアスを推定するセンサバイアス推定装置であって、センサ航跡に基づいて、時刻同期および航跡相関を実行し、同一航跡と判定されたセンサ航跡の組を出力する同期処理手段と、同一航跡と判定されたセンサ航跡の組に対してバイアス格子点探索処理を実行し、バイアス推定値を算出するバイアス格子点探索処理手段と、相関観測値に基づいて、バイアス推定フィルタ処理を実行し、バイアスベクトル推定値を算出するバイアス推定フィルタ処理手段と、を備え、バイアス推定フィルタ処理手段は、バイアス推定値をバイアスベクトル推定値の初期値として設定するものである。 The sensor bias estimation apparatus according to the present invention is an apparatus having a plurality of sensors, and each sensor executes correlation processing based on the observed value and the predicted value to calculate the correlated observed value, and the correlated observed value Is a sensor bias estimation device that estimates the bias of a plurality of sensors and is applied to a device that calculates a sensor wake based on the output and outputs a correlation observation value and a sensor wake, and based on the sensor wake, time synchronization and wake correlation And a synchronization processing means for outputting a set of sensor tracks determined to be the same track and a bias grid point search process for the set of sensor tracks determined to be the same track to calculate a bias estimation value Based on the bias grid point search processing means and the correlation observation value, a bias estimation filter process is executed to calculate a bias vector estimated value. Comprising a filter processing unit, the bias estimation filter processing means is for setting the bias estimate as an initial value of the bias vector estimate.
この発明に係るセンサバイアス推定装置によれば、センサからの相関観測値に基づいてバイアス推定フィルタ処理を実行し、バイアスベクトル推定値を算出するバイアス推定フィルタ処理手段は、バイアス格子点探索処理手段によるバイアス格子点探索処理によって算出されるバイアス推定値をバイアスベクトル推定値の初期値として設定する。そのため、バイアスベクトル推定値の初期値を適切に設定することができ、バイアスベクトル推定値を高精度に算出することができるセンサバイアス推定装置を得ることができる。 According to the sensor bias estimation device of the present invention, the bias estimation filter processing means for executing the bias estimation filter processing based on the correlation observation value from the sensor and calculating the bias vector estimation value is based on the bias grid point search processing means. The bias estimated value calculated by the bias grid point search process is set as the initial value of the bias vector estimated value. Therefore, an initial value of the bias vector estimated value can be appropriately set, and a sensor bias estimating apparatus that can calculate the bias vector estimated value with high accuracy can be obtained.
以下、この発明のセンサバイアス推定装置の好適な実施の形態につき図面を用いて説明するが、各図において同一、または相当する部分については、同一符号を付して説明する。 Hereinafter, preferred embodiments of a sensor bias estimation apparatus according to the present invention will be described with reference to the drawings. In the drawings, the same or corresponding parts will be described with the same reference numerals.
実施の形態1.
図1は、この発明の実施の形態1に係るセンサバイアス推定装置を示すブロック構成図である。
図1において、このセンサバイアス推定装置は、第1センサ10、第2センサ20、同期処理部30、バイアス格子点探索処理部40、統合相関処理部50、バイアス推定フィルタ処理部60およびバイアスデータベース(バイアスDB)70とを備えている。
FIG. 1 is a block diagram showing a sensor bias estimation apparatus according to
1, the sensor bias estimation apparatus includes a
第1センサ10は、第1信号処理部11、第1相関処理部12、第1データ更新処理部13、第1予測処理部14および第1遅延処理部15を有している。また、第2センサ20は、第2信号処理部21、第2相関処理部22、第2データ更新処理部23、第2予測処理部24および第2遅延処理部25を有している。なお、第1センサ10における第1信号処理部11から第1遅延処理部15までの処理と、第2センサ20における第2信号処理部21から第2遅延処理部25までの処理とは、互いに同一の処理である。
The
第1センサ10および第2センサ20は、絶対座標に対してバイアスを有している。また、第1センサ10からバイアスDB70までの処理により、第1センサ10および第2センサ20の両方のバイアスを推定することもできるし、第1センサ10に対する第2センサ20のバイアスを推定することもできる。
The
ここで、絶対座標に対する第1センサ10および第2センサ20のバイアスを絶対バイアスと呼び、絶対座標に対する第1センサ10の絶対バイアスを0とした場合の第2センサ20の絶対バイアスを相対バイアスと呼ぶ。また、絶対座標を第1センサ10とすれば、第1センサ10の絶対バイアスが0でない場合でも、第1センサ10に対する第2センサ20のバイアスを相対バイアスと呼ぶことができる。
Here, the bias of the
また、第1センサ10および第2センサ20は、距離、仰角、方位角を観測するレーダのような3次元のセンサであってもよいし、仰角、方位角を観測するIR(Infra Red)センサ、またはESM(Electric Support Measures)センサのような2次元のセンサであってもよい。また、第1センサ10および第2センサ20は、距離、方位角を観測する2次元のセンサであってもよいし、距離のみを観測する1次元のセンサであってもよいし、方位角のみを観測する1次元のセンサであってもよいし、仰角のみを観測する1次元のセンサであってもよい。
The
以下、このセンサバイアス推定装置の各部位の機能について、第1センサ10に対する第2センサ20の相対バイアスを推定する場合を例に挙げて説明する。このとき、第1センサ10および第2センサ20は、代表的な例として、距離、仰角、方位角を観測する3次元センサとする。
Hereinafter, the function of each part of the sensor bias estimation apparatus will be described by taking as an example the case of estimating the relative bias of the
まず、第1センサ10の機能について説明する。
第1信号処理部11は、センサの受信器(図示せず)から時刻kにおける距離、仰角、方位角の観測値を得て、それらの観測値を第1相関処理部12に出力する。
First, the function of the
The first
第1相関処理部12は、第1信号処理部11から入力された時刻kにおける距離、仰角、方位角の観測値と、第1遅延処理部15から入力された時刻kにおける距離、仰角、方位角の予測値とに基づいて、相関処理を実行する。相関処理とは、観測値の誤差や予測値の誤差を勘案したゲート内において、複数の観測値と目標の予測値との対応づけを予測値と観測値との距離でとり、予測値に一番近い観測値1点または予測値に近い複数点を目標信号の候補として抽出したり、予測値からの距離に応じて重み付け平均した観測値を目標信号の候補として抽出したりする処理である。
The first
また、第1相関処理部12は、相関処理を実行して得られた時刻kにおける相関観測値を、第1データ更新処理部13および統合相関処理部50に出力する。ここで、相関観測値は、ゲート内の観測値である。
In addition, the first
第1データ更新処理部13は、第1相関処理部12から入力された時刻kにおける相関観測値のうち、例えば予測値に一番近い相関観測値を用いて、カルマンフィルタのデータ更新処理に基づいて、時刻kにおける平滑値を算出する。平滑値は、上述した段落で示した平滑値の状態ベクトルおよびその誤差共分散行列であり、状態ベクトルの次数は、事前に設定した3次元、6次元または9次元とする。以後、平滑値を航跡と呼ぶことがある。なお、誤差共分散行列は、その行および列が状態ベクトルの次数と等しいものとする。
また、第1データ更新処理部13は、時刻kにおける平滑値を、第1予測処理部14および同期処理部30に出力する。
Based on the Kalman filter data update processing, for example, the first data
Further, the first data
第1予測処理部14は、第1データ更新処理部13から入力された時刻kにおける平滑値の状態ベクトルおよびその誤差共分散行列を、事前に仮定した運動モデルに基づいて、1サンプリング分外挿し、時刻k+1における予測値を算出する。予測値は、上述した段落で示した予測値の状態ベクトルおよびその誤差共分散行列であり、状態ベクトルの次数は、事前に設定した3次元、6次元または9次元とする。
また、第1予測処理部14は、時刻k+1における予測値を、第1遅延処理部15に出力する。
The first
Further, the first
第1遅延処理部15は、第1予測処理部14から入力された時刻k+1における予測値を1サンプリング分遅延させて、時刻kにおける予測値を算出し、算出された予測値を第1相関処理部12に出力する。
The first
なお、第2センサ20における第2信号処理部21、第2相関処理部22、第2データ更新処理部23、第2予測処理部24および第2遅延処理部25の機能は、上述したように、第1センサ10における第1信号処理部11、第1相関処理部12、第1データ更新処理部13、第1予測処理部14および第1遅延処理部15の機能と同様なので、説明を省略する。
The functions of the second
続いて、同期処理部30は、第1センサ10から入力された平滑値と、第2センサ20から入力された平滑値とに基づいて、時刻同期および航跡相関を実行する。すなわち、同期処理部30は、第1センサ10から得られた航跡と、第2センサ20から得られた航跡とに基づいて、時刻同期および航跡相関を実行する。
Subsequently, the
以下、図2を参照しながら、同期処理部30による時刻同期について説明する。ここで、第1センサ10から得られた航跡を第1センサ航跡と呼び、第2センサ20から得られた航跡を第2センサ航跡と呼ぶ。
図2は、この発明の実施の形態1に係る同期処理部30による同期処理を説明するためのタイミングチャートである。
Hereinafter, the time synchronization by the
FIG. 2 is a timing chart for explaining the synchronization processing by the
図2において、横軸は、第1センサ航跡の同期処理への入力タイミングのタイムライン(A)、第2センサ航跡の同期処理への入力タイミングのタイムライン(B)、および同期処理での処理タイミングのタイムライン(C)を示している。また、タイムライン(A)において直交する太棒線は、各時刻における第1センサ航跡を表し、タイムライン(B)において直交する太棒線は、各時刻における第2センサ航跡を表している。 In FIG. 2, the horizontal axis represents the timeline (A) of the input timing to the synchronization process of the first sensor track, the timeline (B) of the input timing to the synchronization process of the second sensor track, and the process in the synchronization process. A timing timeline (C) is shown. Moreover, the thick bar line orthogonal in the timeline (A) represents the first sensor track at each time, and the thick bar line orthogonal in the timeline (B) represents the second sensor track at each time.
図2より、第1センサ航跡と第2センサ航跡とは、同期処理への入力タイミングが互いに異なることが分かる。そこで、同時刻の第1センサ航跡と第2センサ航跡とを比較するために、ある基準時刻に時刻合わせを行う必要がある。なお、基準時刻は、タイムライン(C)によって決まるものとする。 2 that the first sensor track and the second sensor track have different input timings for the synchronization process. Therefore, in order to compare the first sensor track and the second sensor track at the same time, it is necessary to set the time at a certain reference time. Note that the reference time is determined by the timeline (C).
このとき、タイムライン(B)で航跡が生成される時刻をt(i)とし、この時刻t(i)を基準時刻とすると(t(k)≦t(i)≦t(k+1))、第1センサ航跡が時刻t(i)で得られていないので、同期処理部30は、時刻t(i)以前に第1センサ航跡が得られた時刻t(k)における第1センサ航跡を時刻t(i)まで保持する。
At this time, when the time when the wake is generated in the timeline (B) is t (i) and this time t (i) is the reference time (t (k) ≦ t (i) ≦ t (k + 1)), Since the first sensor track is not obtained at time t (i), the
すなわち、時刻t(k)における第1センサ航跡を、時刻t(k)から時刻t(i)までのサンプリング間隔Δt(=t(i)−t(k))で保持して、時刻t(i)における第1センサ航跡を算出する。
つまり、同期処理部30は、タイムライン(C)における(10)の箇所で時刻同期をとることになる。
That is, the first sensor track at time t (k) is held at the sampling interval Δt (= t (i) −t (k)) from time t (k) to time t (i), and time t ( The first sensor track in i) is calculated.
That is, the
次に、図3を参照しながら、同期処理部30による航跡相関について説明する。
図3は、この発明の実施の形態1に係る同期処理部30による航跡相関を示す説明図である。
図3において、第1センサ10からは、第1センサ航跡101および第1センサ航跡102が得られているものとし、第2センサ20からは、第2センサ航跡201、第2センサ航跡202および第2センサ航跡203が得られているものとする。また、第1センサ航跡101を中心とした第1センサ航跡101のゲート、および第1センサ航跡102を中心とした第1センサ航跡102のゲートを点線で囲まれた範囲で示す。
Next, the wake correlation by the
FIG. 3 is an explanatory diagram showing the wake correlation by the
In FIG. 3, the first sensor wake 101 and the first sensor wake 102 are obtained from the
ここで、第1センサ航跡のゲート内に第2センサ航跡が入っている場合には、同期処理部30は、第1センサ航跡と第2センサ航跡とが同一航跡であると判定する。図3の場合では、第1センサ航跡101と第2センサ航跡201とが同一航跡であると判定され、第1センサ航跡102と第2センサ航跡203とが同一航跡であると判定される。
Here, when the second sensor track is in the gate of the first sensor track, the
このような、第1センサ航跡と第2センサ航跡との同一性を判定する処理を航跡相関と呼ぶ。
なお、航跡相関を実行する場合には、第1センサ10と第2センサ20との基準座標が互いに異なるので、第1センサ10または第2センサ20の何れかの基準座標に座標変換してから航跡相関を実行する。また、ここでは、第1センサ航跡を中心としたゲートを設定したが、これに限定されず、第2センサ航跡を中心としたゲートを設定し、第2センサ航跡を中心としたゲート内に第1センサ航跡が入るか否かで同一航跡を判定してもよい。
Such a process for determining the identity between the first sensor track and the second sensor track is referred to as track correlation.
Note that when the wake correlation is executed, the reference coordinates of the
同期処理部30は、まず、第1センサ10から得られた第1センサ航跡と、第2センサ20から得られた第2センサ航跡とに基づいて時刻同期を実行し、続いて、航跡相関を実行する。このとき、時刻同期は、各センサの速度を用いて、時刻同期を実行する時刻まで航跡位置を保持する。
The
そして、同期処理部30は、同一航跡と判定された第1センサ航跡と第2センサ航跡とのペアを、バイアス格子点探索処理部40に出力する。また、同期処理部30は、第1センサ航跡と第2センサ航跡とのペア情報を、統合相関処理部50に出力する。なお、ペア情報は、同一航跡と判定された第1センサ航跡と第2センサ航跡とのペアだけでなく、同一航跡と判定されなかった第1センサ航跡および第2センサ航跡も含むものとする。
Then, the
次に、バイアス格子点探索処理部40は、バイアス格子点探索処理により、第1センサ10に対する第2センサ20の相対バイアスを推定する。
以下、図4〜7を参照しながら、バイアス格子点探索処理部40によるバイアス格子点探索処理について説明する。
Next, the bias grid point
Hereinafter, the bias grid point search processing by the bias grid point
図4は、この発明の実施の形態1に係るバイアス格子点探索処理部40による、距離、仰角、方位角バイアスを持つ場合のバイアス格子点探索処理を示す説明図である。また、図5は、この発明の実施の形態1に係るバイアス格子点探索処理部40による、X,Y,Zバイアスを持つ場合のバイアス格子点探索処理を示す説明図である。なお、図4と図5とは、成分が異なるだけで処理内容は同様なので、図4を用いてバイアス格子点探索処理を説明する。
FIG. 4 is an explanatory diagram showing a bias grid point search process when the bias grid point
図4において、zk Y(アンダーバー)は、時刻kにおける第2センサ20の航跡を示し、zk−1 Y(アンダーバー)は、時刻k−1における第2センサ20の航跡を示し、zk−2 Y(アンダーバー)は、時刻k−2における第2センサ20の航跡を示す。また、zk X(アンダーバー)は、時刻kにおける第1センサ10の航跡を示し、zk−1 X(アンダーバー)は、時刻k−1における第1センサ10の航跡を示し、zk−2 X(アンダーバー)は、時刻k−2における第1センサ10の航跡を示す。
In FIG. 4, z k Y (under bar) indicates the track of the
また、ΔziR,iE,Az(アンダーバー)は、第1センサ10に対する第2センサ20のバイアス候補を示す。なお、このバイアス候補は複数存在し、複数のバイアス候補の中から、後述する図7の処理により1つを選択する。
ここで、バイアス候補のイメージは、図4の右側に示すとおりであり、バイアス候補の成分は、距離成分ΔRiR、仰角成分ΔEiE、方位角成分ΔAziAzからなり、iR、iE、iAzは、バイアス格子点の位置を示すインデックスである。また、このバイアス候補は、距離、仰角、方位角の各軸からなる格子内で値が変化する。
Further, Δz iR, iE, Az (underbar) indicate bias candidates of the
Here, an image of the bias candidate is as shown on the right side of FIG. 4, and the component of the bias candidate includes a distance component ΔR iR , an elevation angle component ΔE iE , and an azimuth angle component ΔAz iAz , and i R , i E , i Az is an index indicating the position of the bias grid point. Further, the value of this bias candidate changes within a lattice composed of axes of distance, elevation angle, and azimuth angle.
なお、バイアス格子点の探索範囲は、後述するバイアス推定フィルタ処理部60からのバイアスベクトル推定値およびその推定誤差共分散行列、または状態ベクトル推定値およびその推定誤差共分散行列に基づいて絞り込まれる。
The search range of the bias grid points is narrowed down based on a bias vector estimated value and its estimated error covariance matrix from a bias estimation
図6は、この発明の実施の形態1に係るバイアス推定フィルタ処理部60からのバイアスベクトル推定値およびその推定誤差共分散行列、または状態ベクトル推定値およびその推定誤差共分散行列に基づいて、バイアス格子点の探索範囲を絞り込む処理を示す説明図である。なお、図6では、2次元平面のイメージを示しているが、バイアス格子点は、推定すべきバイアスの数による。例えば、距離バイアス、仰角バイアス、方位角バイアスを推定する場合には、バイアス格子点は3次元空間となる。
FIG. 6 shows a bias vector estimation value and its estimation error covariance matrix from the bias estimation
このとき、図6のように、バイアス格子点の探索範囲を、バイアスベクトル推定値の推定誤差共分散行列から得られる誤差楕円体、または状態ベクトル推定値の推定誤差共分散行列から得られる誤差楕円体で設定することにより、バイアス格子点の探索範囲を絞り込むことができる。また、バイアス推定フィルタ処理部60からのバイアス推定値を格子点探索の始点に設定することより、格子点の端から探索する処理が不要となる。
At this time, as shown in FIG. 6, the search range of the bias grid point is set to an error ellipsoid obtained from the estimation error covariance matrix of the bias vector estimation value or an error ellipse obtained from the estimation error covariance matrix of the state vector estimation value. The search range of the bias grid points can be narrowed down by setting with a body. Further, by setting the estimated bias value from the bias estimation
続いて、図7のフローチャートを参照しながら、バイアス格子点探索処理部40によるバイアス格子点探索処理の手順について説明する。
図7は、この発明の実施の形態1に係るバイアス格子点探索処理部40によるバイアス格子点探索処理の手順を示すフローチャートである。なお、図8のフローチャートは、上述したバイアス格子点の探索範囲を絞り込む処理以外の処理を示している。
Next, the procedure of bias grid point search processing by the bias grid point
FIG. 7 is a flowchart showing a procedure of bias grid point search processing by the bias grid point
まず、バイアス格子点探索処理部40は、バイアス候補ΔziR,iE,Az(アンダーバー)を付加する前、すなわちバイアス候補ΔziR,iE,Az(アンダーバー)が未設定の第1センサ航跡zk X(アンダーバー)を設定する(ステップS1)。この第1センサ航跡をバイアス候補未設定第1センサ航跡と呼ぶ。
First, the bias grid point
続いて、バイアス格子点探索処理部40は、第1センサ航跡zk X(アンダーバー)と同一航跡であると判定された第2センサ航跡zk Y(アンダーバー)を設定する(ステップS2)。
Subsequently, the bias grid point
次に、バイアス格子点探索処理部40は、バイアス格子点の位置を表すインデックス(iR,iE,iAz)に対応する格子内の1点(図4の右側参照)を、バイアス候補ΔziR,iE,Az(アンダーバー)として設定する(ステップS3)。
Next, the bias grid point
続いて、バイアス格子点探索処理部40は、ステップS3で設定したバイアス候補ΔziR,iE,Az(アンダーバー)を、バイアス候補未設定第1センサ航跡zk X(アンダーバー)に付加して、バイアス候補設定第1センサ航跡zk X(アンダーバー)を設定する(ステップS4)。
Subsequently, the bias grid point
次に、バイアス格子点探索処理部40は、時刻k−L+1から時刻kまでの間のある一時刻(ここでは、時刻kとする)におけるバイアス候補設定第1センサ航跡zk X(アンダーバー)と第2センサ航跡zk Y(アンダーバー)との残差εk iR,iE,Azを、次式(1)を用いて算出する(ステップS5)。
Next, the bias grid point
なお、残差εk iR,iE,Azは、式(1)ではなく、次式(2)を用いて算出されてもよい。 The residuals ε k iR, iE, and Az may be calculated using the following equation (2) instead of the equation (1).
式(1)、(2)において、‖‖は、ノルムを示している。このノルムは、ユークリッドノルムであってもよいし、ベクトルの成分の最大値を取るノルムであってもよい。
以降の説明については、残差εk iR,iE,Azとして式(2)を用いて説明する。
In the expressions (1) and (2), ‖‖ represents a norm. The norm may be a Euclidean norm or a norm that takes the maximum value of vector components.
The following description will be made using equation (2) as residuals ε k iR, iE, Az .
続いて、バイアス格子点探索処理部40は、時刻k−L+1から時刻kまでのLサンプル分について、残差を算出したか否かを判定する(ステップS6)。
ステップS6において、Lサンプル分について残差を算出していない(すなわち、No)と判定された場合には、バイアス格子点探索処理部40は、カウンタiを1つ進めて(ステップS7)、ステップS5に移行し、次の時刻における航跡の残差を算出する。
Subsequently, the bias grid point
If it is determined in step S6 that no residual has been calculated for L samples (ie, No), the bias grid point
一方、ステップS6において、Lサンプル分について残差を算出した(すなわち、Yes)と判定された場合には、バイアス格子点探索処理部40は、Lサンプル分の航跡の残差和εiR,iE,Azを、次式(3)を用いて算出する(ステップS8)。
On the other hand, if it is determined in step S6 that the residual has been calculated for the L samples (that is, Yes), the bias grid point
次に、バイアス格子点探索処理部40は、他のバイアス候補が存在しないか否かを判定する(ステップS9)。ここで、バイアス格子点探索処理部40は、全てのバイアス格子点が既に使用されている場合には、他のバイアス候補は存在しないと判定し、未使用のバイアス格子点が残っている場合には、他のバイアス候補が存在すると判定する。
Next, the bias grid point
ステップS9において、他のバイアス候補が存在する(すなわち、No)と判定された場合には、バイアス格子点探索処理部40は、カウンタnを1つ進めて(ステップS10)、ステップS3に移行し、別のバイアス候補について残差和εiR,iE,Azを算出する。
If it is determined in step S9 that another bias candidate exists (that is, No), the bias grid point
一方、ステップS9において、他のバイアス候補が存在しない(すなわち、Yes)と判定された場合には、バイアス格子点探索処理部40は、全てのバイアス候補について算出した残差和に基づいて、残差和が最小となるときのバイアス候補を、バイアス推定値として決定し(ステップS11)、図7の処理を終了する。
On the other hand, if it is determined in step S9 that no other bias candidate exists (that is, Yes), the bias grid point
なお、上記ステップS9〜11の処理を言い換えると、バイアス格子点探索処理部40は、図4の右側に示すように、バイアス候補を格子内で移動させることにより、バイアス候補毎に、式(3)を用いて、Lサンプル分の航跡の残差和を算出する。そして、バイアス格子点探索処理部40は、Lサンプル分の航跡の残差和が最小となるときのバイアス候補を選択し、バイアス推定値とする。
In other words, in other words, the bias grid point
以上のように、バイアス格子点探索処理部40は、バイアス格子点探索処理により、バイアス推定値を決定する。また、バイアス格子点探索処理部40は、決定したバイアス推定値を、バイアス推定フィルタ処理部60に出力する。
As described above, the bias grid point
また、統合相関処理部50は、同期処理部30から得られたペア情報に基づいて、同一航跡と判定された第1センサ航跡と第2センサ航跡とのペアにおける第1センサ航跡に対応する相関観測値について、バイアス推定フィルタ処理部60で使用可能か否かを判定する。同様に、統合相関処理部50は、同期処理部30から得られたペア情報に基づいて、同一航跡と判定された第1センサ航跡と第2センサ航跡とのペアにおける第2センサ航跡に対応する相関観測値について、バイアス推定フィルタ処理部60で使用可能か否かを判定する。
また、統合相関処理部50は、相関観測値がバイアス推定フィルタ処理部60で使用可能と判定すると、判定毎に相関観測値をバイアス推定フィルタ処理部60に出力する。
In addition, the integrated
When the integrated
このとき、統合相関処理部50は、第1センサ航跡に対応する相関観測値および第2センサ航跡に対応する相関観測値が、所定の中心に対する所定のゲート範囲内にある場合に、その相関観測値がバイアス推定フィルタ処理部60で使用可能であると判定する。
なお、所定の中心は、同期処理部30で同一航跡と判定された第1センサ航跡と第2センサ航跡との統合航跡の中心であってもよいし、バイアス推定フィルタ処理部60で推定された目標の位置の中心であってもよい。また、所定のゲート範囲は、同期処理部30で同一航跡と判定された第1センサ航跡と第2センサ航跡との統合航跡のゲート範囲であってもよいし、任意に設定されるゲート範囲であってもよい。
At this time, when the correlation observation value corresponding to the first sensor wake and the correlation observation value corresponding to the second sensor wake are within a predetermined gate range with respect to a predetermined center, the integrated
The predetermined center may be the center of the integrated track of the first sensor track and the second sensor track determined to be the same track by the
ここで、相関処理部12から得られる第1センサ10に対応する相関観測値と、相関処理部22から得られる第2センサ20に対応する相関観測値とは、一般的に、統合相関処理部50に非同期で入力される。なお、もし、相関処理部12から得られる第1センサ10に対応する相関観測値と、相関処理部22から得られる第2センサ20に対応する相関観測値とが、統合相関処理部50に同期して入力される場合には、事前に設定されるセンサの優先順位、例えば、センサ番号の小さいものから順に処理する等の規則に従って、まず第1センサ10、次に第2センサ20といった順に処理する。
Here, the correlation observation value corresponding to the
続いて、バイアス推定フィルタ処理部60は、統合相関処理部50からの相関観測値を用いて、カルマンフィルタまたは最小2乗法に基づいて、バイアス推定フィルタ処理による状態推定およびバイアス推定を実行する。
Subsequently, the bias estimation
まず、状態推定について、バイアス推定フィルタ処理部60は、次式(4)に示すように、目標の位置、速度の各成分からなる状態ベクトル、または目標の位置、速度、加速度の各成分からなる状態ベクトルの推定値およびその推定誤差共分散行列を算出する。なお、目標の状態ベクトルの次数について、例えば、式(4)のような6次元の状態ベクトルを推定するか、次式(5)のような9次元の状態ベクトルを推定するかは、事前に設定しておく。
First, for state estimation, the bias estimation
式(4)において、(k)は時刻kを示し、x(k)(アンダーバー)は時刻kの状態ベクトルを示し、記号「´」は行列およびベクトルの転置を示し、状態ベクトルの右辺のx(k)はx成分の位置成分を示し、x(k)(ドット)はx成分の速度成分を示し、x(k)(ツードット)はx成分の加速度成分をそれぞれ示す。なお、y成分、z成分についても同様である。 In equation (4), (k) indicates time k, x (k) (underscore) indicates a state vector at time k, symbol “′” indicates a matrix and transpose of the vector, and x on the right side of the state vector (K) indicates the position component of the x component, x (k) (dot) indicates the velocity component of the x component, and x (k) (two dots) indicates the acceleration component of the x component. The same applies to the y component and the z component.
次に、バイアス推定について、バイアス推定フィルタ処理部60は、次式(6)に示すように、距離、仰角、方位角の各成分からなるバイアスベクトルの推定値およびその推定誤差共分散行列を算出する。
Next, with respect to bias estimation, the bias estimation
式(6)において、b(m)(k)(アンダーバー)は、時刻kにおけるセンサmのバイアスベクトルを示す。ここで、mはセンサを表す識別子であり、この識別子mは、m=1,2,・・・のように番号で設定されてもよいし、m=A,B,・・・X,Y,Z,・・・のように、記号で設定されてもよい。ここでは、識別子mは、第1センサ10または第2センサ20の何れかに対応する。
In Expression (6), b (m) (k) (underbar) indicates a bias vector of the sensor m at time k. Here, m is an identifier representing a sensor, and this identifier m may be set by a number such as m = 1, 2,..., Or m = A, B,. , Z,... May be set by symbols. Here, the identifier m corresponds to either the
また、式(6)において、ΔR(m)はセンサmの距離バイアスを示し、ΔE(m)はセンサmの仰角バイアスを示し、ΔAz(m)はセンサmの方位角バイアスをそれぞれ示す。
なお、目標のバイアスベクトルの種類については、式(6)のような3次元のバイアスベクトルであってもよいし、次式(7)、(8)、(9)のような1次元のバイアスベクトルであってもよいし、次式(10)、(11)、(12)のような2次元のバイアスベクトルであってもよく、推定すべきバイアスベクトルの種類は、センサ毎に事前に設定しておく。
In Equation (6), ΔR (m) represents the distance bias of the sensor m, ΔE (m) represents the elevation bias of the sensor m, and ΔAz (m) represents the azimuth bias of the sensor m.
The type of target bias vector may be a three-dimensional bias vector as shown in Equation (6), or a one-dimensional bias as shown in Equations (7), (8), and (9) below. It may be a vector or a two-dimensional bias vector such as the following equations (10), (11), and (12), and the type of bias vector to be estimated is set in advance for each sensor. Keep it.
ここで、バイアス推定フィルタ処理部60は、バイアス格子点探索処理部40から得られる、バイアス格子点探索処理によるバイアス推定値を、バイアス推定におけるバイアスベクトル推定値の初期値として設定する。バイアスベクトルの推定誤差共分散行列の初期値は、前の時刻の値をそのまま引き継いで計算してもよいし、改めて、事前に決めたある値をバイアスベクトルの推定誤差共分散行列初期値に設定してもよい。また、格子点探索処理によるバイアス推定値を1度しか使用しないで、バイアスベクトル推定値の初期値を計算してもよい。
Here, the bias estimation
このとき、バイアス推定フィルタ処理部60による状態推定は、前の時刻の値をそのまま引き継いで状態ベクトル推定値および推定誤差共分散行列を用いて算出してもよいし、現時刻を含む最新のLサンプルの相関観測値を用いて、現時刻で改めて、状態ベクトル推定値および推定誤差共分散行列を算出してもよい。
At this time, the state estimation by the bias estimation
最終的に、バイアス推定フィルタ処理部60は、バイアス推定結果として、カルマンフィルタまたは最小2乗法に基づいて算出したバイアスベクトル推定値を、バイアスDB70に出力する。また、バイアス推定フィルタ処理部60は、バイアス格子点探索処理部40から得られる、バイアス格子点探索処理によるバイアス推定値を、バイアスDB70に出力する。
さらに、バイアス推定フィルタ処理部60は、バイアスベクトルの推定値およびその推定誤差共分散行列と、状態ベクトルの推定値およびその推定誤差共分散行列とを、バイアス格子点探索処理部40に出力する。
Finally, the bias estimation
Further, the bias estimation
バイアスDB70は、カルマンフィルタまたは最小2乗法に基づいて、バイアス推定フィルタ処理部60で算出された各時刻のバイアスベクトル推定値と、バイアス格子点探索処理によるバイアス推定値とを、データベースに蓄積する。
また、バイアスDB70は、バイアスベクトル推定値の時刻による移動平均値と、バイアス推定値の時刻による移動平均値とを算出し、これらの移動平均値をデータベースに蓄積する。
Based on the Kalman filter or the least square method, the
Also, the
以上のように、実施の形態1によれば、バイアス推定フィルタ処理手段は、カルマンフィルタおよび最小2乗フィルタによるバイアス推定フィルタ処理を実行する場合に、バイアス格子点探索処理手段によるバイアス格子点探索処理によって算出されるバイアス推定値をバイアスベクトル推定値の初期値として設定する。これにより、バイアス推定フィルタ処理によるバイアスベクトル推定値の初期値を適切に設定することができる。そのため、バイアスベクトル推定値の精度を向上させることができるとともに、バイアスベクトル推定値の収束を早くすることができる。 As described above, according to the first embodiment, the bias estimation filter processing unit performs the bias grid point search processing by the bias grid point search processing unit when performing the bias estimation filter processing by the Kalman filter and the least square filter. The calculated bias estimated value is set as the initial value of the bias vector estimated value. Thereby, the initial value of the bias vector estimated value by the bias estimation filter process can be set appropriately. Therefore, the accuracy of the bias vector estimated value can be improved and the convergence of the bias vector estimated value can be accelerated.
なお、バイアス格子点探索処理のみでもバイアス推定値を算出することは可能であるが、バイアス格子点が粗い場合、本発明は、バイアス格子点探索処理によるバイアス格子よりも細かい精度でバイアス推定値を算出することができる。また、バイアス格子点を細かくした場合、バイアス推定値を高精度に算出できる可能性はあるものの、バイアス格子点探索処理にかかる演算の処理負荷が高くなる。 Although it is possible to calculate the bias estimated value only by the bias grid point search process, when the bias grid point is rough, the present invention calculates the bias estimated value with finer accuracy than the bias grid by the bias grid point search process. Can be calculated. Further, when the bias grid points are made fine, there is a possibility that the bias estimated value can be calculated with high accuracy, but the processing load of the calculation related to the bias grid point search process becomes high.
このとき、バイアス推定フィルタ処理手段から出力されるバイアスベクトル推定値およびその推定誤差共分散行列から得られる誤差楕円体、または状態ベクトル推定値およびその推定誤差共分散行列から得られる誤差楕円体をバイアス格子点の探索範囲として設定することにより、バイアス格子点探索処理の処理負荷を低減することができる。また、バイアス格子点探索処理の探索開始点を、バイアス推定フィルタ処理手段から出力されるバイアスベクトル推定値とすることにより、バイアス格子点探索処理において、バイアス格子点の端から探索することなく、ある程度バイアス真値に近い位置から、バイアス推定値を探索することができる。その結果、バイアス推定精度の早期収束、および高精度なバイアス推定値の算出を実現することができる。 At this time, bias the error ellipsoid obtained from the bias vector estimated value output from the bias estimation filter processing means and its estimated error covariance matrix, or the error ellipsoid obtained from the state vector estimated value and its estimated error covariance matrix. By setting the grid point search range, the processing load of the bias grid point search process can be reduced. Further, by setting the search start point of the bias grid point search process as the bias vector estimated value output from the bias estimation filter processing means, the bias grid point search process does not search from the end of the bias grid point to some extent. The estimated bias value can be searched from a position close to the true bias value. As a result, it is possible to realize early convergence of bias estimation accuracy and calculation of a highly accurate bias estimation value.
実施の形態2.
図8は、この発明の実施の形態2に係るセンサバイアス推定装置を示すブロック構成図である。
図8において、このセンサバイアス推定装置は、図1に示したセンサバイアス推定装置に加えて、バイアス格子間隔制御処理部80を備えている。
FIG. 8 is a block diagram showing a sensor bias estimation apparatus according to
In FIG. 8, the sensor bias estimation apparatus includes a bias grid interval
バイアス格子間隔制御処理部80は、以下に示す手順で、バイアス格子点探索処理部40におけるバイアス格子点を設定する。また、バイアス格子点探索処理部40からバイアス格子間隔制御処理部80には、現時刻でのバイアス候補、時刻および格子点探索終了フラグが入力される。
ここで、格子点探索終了フラグとは、例えば格子点探索終了フラグが0の場合に、格子点探索中であることを示し、格子点探索終了フラグが1の場合に、格子点の探索が終了していることを示す等、格子点探索中かあるいは格子点探索終了かが分かるようなフラグである。
The bias grid interval
Here, the lattice point search end flag indicates that a lattice point search is in progress when the lattice point search end flag is 0, for example. When the lattice point search end flag is 1, the search for the lattice point is completed. It is a flag that indicates whether the lattice point search is in progress or the lattice point search is completed, such as indicating that the search is in progress.
最初に、バイアス格子間隔制御処理部80は、バイアス格子点を粗く探索するような格子間隔を設定する制御信号を、バイアス格子点探索処理部40に出力する。バイアス格子点探索処理部40は、上記式(3)を用いて、Lサンプル分の航跡の残差和εiR,iE,Azを算出し、Lサンプル分の航跡の残差和εiR,iE,Azが最小となるバイアス候補ΔziR,iE,Az(アンダーバー)を、バイアス推定値として出力する。
First, the bias grid interval
次に、バイアス格子間隔制御処理部80は、このバイアス候補を中心として、格子間隔を細かく設定する制御信号を、バイアス格子点探索処理部40に出力する。バイアス格子点探索処理部40は、バイアス格子間隔を細かく設定して、再度上記式(3)を用いて、Lサンプル分の航跡の残差和εiR,iE,Azを算出する。
Next, the bias grid interval
続いて、バイアス格子間隔制御処理部80は、バイアス格子点を粗く探索するような格子間隔を設定する制御信号と、格子間隔を細かく設定する制御信号とを繰り返して出力する。また、バイアス格子間隔制御処理部80は、前回算出したLサンプル分の航跡の残差和と今回算出したLサンプル分の航跡の残差和との差が、事前に決めたしきい値以下である場合には、処理を終了する制御信号を、バイアス格子点探索処理部40に出力する。
Subsequently, the bias grid interval
なお、バイアス格子間隔制御処理部80は、バイアス格子点探索処理部40から得られる探索開始時刻と現時刻との差が、事前に決めた探索終了判定時刻しきい値よりも大きい場合、かつ格子点探索終了フラグが0の場合に、探索処理が事前に決めた時間内に終了しないと判定する。このとき、バイアス格子間隔制御処理部80は、現時刻においてLサンプル分の航跡の残差和が最小となるようなバイアス候補を出力させる制御信号を、バイアス格子点探索処理部40に出力する。バイアス格子点探索処理部40は、現時刻(現時点)においてLサンプル分の航跡の残差和が最小となるようなバイアス候補を、バイアス推定フィルタ処理部60に出力する。
The bias grid interval
以上のように、実施の形態2によれば、バイアス格子点探索処理が所定の時間内に終了しない場合であっても、現時刻で最良のバイアス推定値を算出することができる。 As described above, according to the second embodiment, it is possible to calculate the best bias estimated value at the current time even when the bias grid point search process does not end within a predetermined time.
実施の形態3.
図9は、この発明の実施の形態3に係るセンサバイアス推定装置を示すブロック構成図である。
図9において、このセンサバイアス推定装置は、図1に示したセンサバイアス推定装置に加えて、バイアス格子間隔再設定処理部90を備えている。
FIG. 9 is a block configuration diagram showing a sensor bias estimation apparatus according to
In FIG. 9, the sensor bias estimation apparatus includes a bias grid interval resetting
バイアス格子点探索処理部40は、現時刻でのバイアス候補、時刻および格子点探索終了フラグを、バイアス格子間隔再設定処理部90に出力する。
バイアス格子間隔再設定処理部90は、バイアス格子点探索処理部40から得られる探索開始時刻と現時刻との差が、事前に決めた格子間隔再設定時刻しきい値よりも大きい場合、かつ格子点探索終了フラグが0の場合に、次時刻のバイアス格子間隔を現時刻のバイアス格子間隔よりも粗く設定する制御信号を、バイアス格子点探索処理部40に出力する。
The bias grid point
The bias grid interval
以上のように、実施の形態3によれば、現時刻において、バイアス格子点探索処理が所定の時間内に終了する見込みがない場合であっても、現時刻よりもバイアス格子間隔を粗く設定することにより、次時刻以降のバイアス格子点探索処理を、所定の時間内に終了させることができる。すなわち、所定の時間内で、最良のバイアス推定値を算出することができる。
なお、この発明の実施の形態3に係るセンサバイアス推定装置は、実施の形態2と組み合わせることもできる。
As described above, according to the third embodiment, the bias grid interval is set to be coarser than the current time even when the bias grid point search process is not expected to end within a predetermined time at the current time. Thus, the bias grid point search process after the next time can be completed within a predetermined time. That is, the best bias estimation value can be calculated within a predetermined time.
The sensor bias estimation apparatus according to
実施の形態4.
図10は、この発明の実施の形態4に係るセンサバイアス推定装置を示すブロック構成図である。
図10において、このセンサバイアス推定装置は、図1に示したセンサバイアス推定装置に加えて、第1のバイアス格子点探索範囲再設定処理部100を備えている。
FIG. 10 is a block configuration diagram showing a sensor bias estimation apparatus according to
10, the sensor bias estimation apparatus includes a first bias grid point search range resetting
バイアス格子点探索処理部40は、現時刻でのバイアス候補、時刻および格子点探索終了フラグを、第1のバイアス格子点探索範囲再設定処理部100に出力する。
第1のバイアス格子点探索範囲再設定処理部100は、バイアス格子点探索処理部40から得られる探索開始時刻と現時刻との差が、事前に決めた探索範囲再設定時刻しきい値よりも大きい場合、かつ格子点探索終了フラグが0の場合に、探索処理が事前に決めた時間内に終了しないと判定する。
The bias grid point
In the first bias grid point search range
このとき、第1のバイアス格子点探索範囲再設定処理部100は、バイアス格子点の探索範囲を狭くする制御信号を、バイアス格子点探索処理部40に出力する。バイアス格子点探索処理部40は、現時刻よりも狭い固定のバイアス格子点探索範囲を設定する。
なお、第1のバイアス格子点探索範囲再設定処理部100は、図6で示したバイアスベクトル推定値の推定誤差共分散行列から得られる誤差楕円体、または状態ベクトル推定値の推定誤差共分散行列から得られる誤差楕円体に、半径を小さくする係数を掛けて、現時刻よりも狭い可変のバイアス格子点探索範囲を設定してもよい。
At this time, the first bias grid point search range resetting
Note that the first bias grid point search range resetting
以上のように、実施の形態4によれば、現時刻において、バイアス格子点探索処理が所定の時間内に終了する見込みがない場合であっても、次時刻以降のバイアス格子点の探索範囲を狭く設定することにより、次時刻以降のバイアス格子点探索処理を、所定の時間内に終了させることができる。すなわち、所定の時間内で、最良のバイアス推定値を算出することができる。
なお、この発明の実施の形態4に係るセンサバイアス推定装置は、実施の形態2または3と組み合わせることもできる。
As described above, according to the fourth embodiment, even if the bias grid point search process is not expected to end within a predetermined time at the current time, the search range of the bias grid points after the next time is set. By setting it narrowly, the bias grid point search process after the next time can be completed within a predetermined time. That is, the best bias estimation value can be calculated within a predetermined time.
The sensor bias estimation apparatus according to
実施の形態5.
図11は、この発明の実施の形態5に係るセンサバイアス推定装置を示すブロック構成図である。
図11において、このセンサバイアス推定装置は、図1に示したセンサバイアス推定装置に加えて、第2のバイアス格子点探索範囲再設定処理部110を備えている。
FIG. 11 is a block configuration diagram showing a sensor bias estimation apparatus according to
In FIG. 11, this sensor bias estimation apparatus includes a second bias grid point search range resetting
バイアス格子点探索処理部40は、現時刻でのバイアス候補、時刻および格子点探索終了フラグを、第2のバイアス格子点探索範囲再設定処理部110に出力する。
第2のバイアス格子点探索範囲再設定処理部110は、バイアス格子点探索処理部40から得られる探索開始時刻と現時刻との差が、事前に決めた探索範囲再設定時刻しきい値よりも大きい場合、かつ格子点探索終了フラグが1の場合に、探索処理が事前に決めた時間内に終了したと判定する。
The bias grid point
The second bias grid point search range
このとき、第2のバイアス格子点探索範囲再設定処理部110は、バイアス格子点の探索範囲を広くする制御信号を、バイアス格子点探索処理部40に出力する。バイアス格子点探索処理部40は、現時刻よりも広い固定のバイアス格子点探索範囲を設定する。
なお、第2のバイアス格子点探索範囲再設定処理部110は、図6で示したバイアスベクトル推定値の推定誤差共分散行列から得られる誤差楕円体、または状態ベクトル推定値の推定誤差共分散行列から得られる誤差楕円体に、半径を大きくする係数を掛けて、現時刻よりも広い可変のバイアス格子点探索範囲を設定してもよい。
At this time, the second bias grid point search range resetting
Note that the second bias grid point search range resetting
以上のように、実施の形態5によれば、現時刻において、バイアス格子点探索処理が所定の時間内に終了する見込みがある場合であって、かつ現時刻のバイアス格子点探索範囲内に、実際のバイアス真値がない場合に、次時刻以降のバイアス格子点探索範囲を広く設定することにより、バイアス格子点探索範囲外に存在する実際のバイアス真値を発見することができる。すなわち、バイアス推定精度を向上させることができる。
なお、この発明の実施の形態5に係るセンサバイアス推定装置は、実施の形態2または3と組み合わせることもできる。
As described above, according to the fifth embodiment, at the current time, the bias grid point search process is expected to end within a predetermined time, and within the bias grid point search range at the current time, When there is no actual true bias value, an actual true bias value existing outside the bias grid point search range can be found by setting a wide bias grid point search range after the next time. That is, the bias estimation accuracy can be improved.
The sensor bias estimation apparatus according to the fifth embodiment of the present invention can be combined with the second or third embodiment.
実施の形態6.
図12は、この発明の実施の形態6に係るセンサバイアス推定装置を示すブロック構成図である。
図12において、このセンサバイアス推定装置は、図1に示したセンサバイアス推定装置に加えて、バイアス成分推定順序設定処理部120を備えている。
FIG. 12 is a block configuration diagram showing a sensor bias estimation apparatus according to
12, this sensor bias estimation apparatus includes a bias component estimation order setting
バイアス成分推定順序設定処理部120は、バイアス格子点探索処理部40およびバイアス推定フィルタ処理部60に対して、ある成分についてバイアス推定値を算出した後に、残りの成分についてバイアス推定値を算出するように制御信号を出力する。
以下、バイアス成分推定順序設定処理部120が、バイアス格子点探索処理部40およびバイアス推定フィルタ処理部60に対して、仰角、方位角の各成分についてバイアス推定値を算出した後に、距離成分についてバイアス推定値を算出するように制御信号を出力した場合を例に挙げて説明する。
The bias component estimation order setting
Hereinafter, after the bias component estimation order setting
このとき、バイアス格子点探索処理部40は、バイアス格子点探索処理を、仰角、方位角からなる範囲と設定して、仰角、方位角バイアス推定値を算出し、算出結果をバイアス推定フィルタ処理部60に出力する。
At this time, the bias grid point
続いて、バイアス推定フィルタ処理部60は、バイアス格子点探索処理部40から得られる、仰角、方位角バイアス推定値を、バイアス推定におけるバイアスベクトル推定値の初期値として設定する。また、バイアス推定フィルタ処理部60は、この初期値に基づいて、上記式(10)で示した仰角、方位角の各成分からなるバイアスベクトル推定値およびその推定誤差共分散行列と、状態ベクトル推定値およびその推定誤差共分散行列を算出する。
Subsequently, the bias estimation
次に、バイアス格子点探索処理部40は、仰角、方位角のバイアス格子点探索処理とは別に、距離のバイアス格子点探索処理を実行する。
距離のバイアス格子点探索処理において、バイアス格子点探索処理部40は、バイアス推定フィルタ処理部60から得られる仰角、方位角の各成分からなるバイアスベクトル推定値を、バイアス格子点探索処理におけるバイアス候補ΔziR,iE,Az(アンダーバー)の仰角成分、方位角成分と設定する。
Next, the bias grid point
In the distance bias grid point search processing, the bias grid point
そして、バイアス格子点探索処理部40は、距離成分のみについて図7に示したバイアス格子点探索処理を実行して、距離バイアス推定値を算出し、算出結果をバイアス推定フィルタ処理部60に出力する。
また、バイアス格子点探索処理部40は、算出した距離バイアス推定値をバイアスDB70に出力する。
Then, the bias grid point
In addition, the bias grid point
特に遠距離の場合、角度誤差に起因するクロスレンジ誤差は、距離誤差、すなわちレンジ誤差に比べて悪くなる。その場合、距離バイアスに比べて、角度バイアスの影響が遠距離において支配的になり、バイアス推定フィルタ処理によって、距離バイアスを推定できない場合が考えられる。
そこで、この実施の形態6によれば、例えば仰角、方位角と距離とに分けてバイアス推定値を算出することにより、バイアス推定精度を向上させることができる。
Particularly in the case of a long distance, the cross range error caused by the angle error is worse than the distance error, that is, the range error. In this case, the influence of the angle bias becomes dominant at a long distance compared to the distance bias, and the distance bias cannot be estimated by the bias estimation filter processing.
Therefore, according to the sixth embodiment, the bias estimation accuracy can be improved by, for example, calculating the bias estimation value separately for the elevation angle, the azimuth angle, and the distance.
なお、上記実施の形態6では、バイアス成分の推定順序として、まず、仰角、方位角の各成分についてバイアス推定値を算出した後に、距離成分についてバイアス推定値を算出する場合を示した。この例は、仰角、方位角と距離とに分けてバイアス推定を実行する例である。
しかしながら、これに限定されず、距離、仰角と、方位角とに分けてバイアス推定を実行してもよいし、距離、方位角と仰角とに分けてバイアス推定を実行してもよいし、距離と仰角と方位角とにそれぞれ分けてバイアス推定を実行してもよい。
また、この発明の実施の形態6に係るセンサバイアス推定装置は、実施の形態2〜5と組み合わせることもできる。
In the sixth embodiment, as the bias component estimation order, first, the bias estimated value is calculated for each of the elevation angle and azimuth components, and then the bias estimated value is calculated for the distance component. In this example, bias estimation is executed separately for elevation angle, azimuth angle, and distance.
However, the present invention is not limited to this, and bias estimation may be executed separately for distance, elevation angle, and azimuth, or bias estimation may be executed separately for distance, azimuth and elevation, or distance. The bias estimation may be executed separately for the elevation angle and the azimuth angle.
The sensor bias estimation apparatus according to
実施の形態7.
図13は、この発明の実施の形態7に係るセンサバイアス推定装置を示すブロック構成図である。
図13において、このセンサバイアス推定装置は、図1に示したセンサバイアス推定装置に加えて、バイアス成分次数設定処理部130を備えている。
FIG. 13 is a block configuration diagram showing a sensor bias estimation apparatus according to
In FIG. 13, the sensor bias estimation apparatus includes a bias component order setting
この実施の形態7において、第1センサ10の処理は、上述した実施の形態1と同様とする。すなわち、第1センサ10は、センサの受信器から距離、仰角、方位角の観測値を得て、最終的に、第1データ更新処理部13から、上記式(4)または(5)に示した成分を有する平滑値の状態ベクトルおよびその誤差共分散行列を出力する。なお、この実施の形態7では、上記式(4)のような速度項までの状態ベクトルについて説明する。
In the seventh embodiment, the processing of the
また、この実施の形態7において、第2センサ20は、センサの受信器から仰角、方位角の観測値を得て、最終的に、第2データ更新処理部23から、次式(13)または(14)に示す成分を有する平滑値の状態ベクトルおよびその誤差共分散行列を出力する。
In the seventh embodiment, the
式(13)、(14)において、E(k)は時刻kの仰角を示し、Az(k)は時刻kの方位角を示し、E(k)(ドット)は時刻kの仰角速度を示し、Az(k)(ドット)は時刻kの方位角速度を示し、E(k)(ツードット)は時刻kの仰角加速度を示し、Az(k)(ツードット)は時刻kの方位角加速度をそれぞれ示す。なお、この実施の形態7では、上記式(13)のような速度項までの状態ベクトルについて説明する。 In equations (13) and (14), E (k) represents the elevation angle at time k, Az (k) represents the azimuth angle at time k, and E (k) (dot) represents the elevation angle velocity at time k. , Az (k) (dot) represents the azimuth angular velocity at time k, E (k) (two dots) represents the elevation acceleration at time k, and Az (k) (two dots) represents the azimuth angular acceleration at time k. . In the seventh embodiment, the state vector up to the velocity term as in the above equation (13) will be described.
バイアス成分次数設定処理部130は、同期処理部30、バイアス格子点探索処理部40、統合相関処理部50およびバイアス推定フィルタ処理部60に対して、推定すべきバイアス成分の次数を、観測される成分の次数に合わせるように制御信号を出力する。
The bias component order setting
このとき、同期処理部30は、第1センサ10から得られる式(4)に示した成分を有する平滑値の状態ベクトル、すなわちx,y,zの直交座標に関する6次元の航跡と、第2センサ20から得られる式(13)に示した成分を有する平滑値の状態ベクトル、すなわち仰角、方位角に関する4次元の航跡とに基づいて、時刻同期および航跡相関を実行する。
At this time, the
ここで、同期処理部30による航跡相関は、航跡の位置情報を用いて実行される。このとき、第1センサ10からのx,y,zの直交座標に関する6次元の航跡と、第2センサ20からの仰角、方位角に関する4次元の航跡とは、次元が互いに異なるので、次元が少ない方の基準座標に合わせる。
Here, the wake correlation by the
すなわち、同期処理部30は、第1センサ10からのx,y,zの直交座標に関する航跡を、第2センサ20を中心とした第2センサ基準座標に変換し、さらに、第2センサ基準座標において、直交座標から極座標への座標変換を行う。その後、同期処理部30は、第2センサ基準座標において、仰角、方位角の各成分の情報を用いて、第1センサ10から得られる航跡と第2センサ20から得られる航跡との航跡相関を実行する。
In other words, the
続いて、バイアス格子点探索処理部40は、同期処理部30による航跡相関によって得られた第1センサ10と第2センサ20との仰角、方位角を各成分とする航跡のペアを用いて、これらの仰角、方位角の各成分からなるバイアス格子点探索範囲を設定する。また、バイアス格子点探索処理部40は、バイアス格子点探索処理により、仰角、方位角バイアス推定値を算出し、算出結果をバイアス推定フィルタ処理部60に出力する。
Subsequently, the bias grid point
次に、バイアス推定フィルタ処理部60は、バイアス格子点探索処理部40から得られる、仰角、方位角バイアス推定値を、バイアス推定におけるバイアスベクトル推定値の初期値として設定する。また、バイアス推定フィルタ処理部60は、この初期値に基づいて、仰角、方位角の各成分からなるバイアスベクトル推定値およびその推定誤差共分散行列を算出する。バイアス推定フィルタ処理部60は、この初期値に基づいて、状態推定処理により、第1センサ10または第2センサ20を基準とする直交座標における平滑値の状態ベクトルおよびその誤差共分散行列を算出する。
Next, the bias estimation
なお、統合相関処理部50から得られる相関観測値は、第1センサ10からの相関観測値については、x,y,zの3次元の直交座標における観測位置であるが、第2センサ20からの相関観測値については、仰角、方位角の極座標における観測位置である。
The correlation observation value obtained from the integrated
したがって、バイアス推定フィルタ処理部60が、第2センサ20からの相関観測値を用いて状態推定処理を実行する場合、状態ベクトルがx,y,zの3次元の直交座標であるのに対して、第2センサ20の観測値が仰角、方位角であり、観測ベクトルの成分が仰角、方位角の2次元なので、状態ベクトルと観測ベクトルとの関係を表す観測モデルが非線形となる。そこで、バイアス推定フィルタ処理部60が、第2センサ20からの相関観測値を用いて状態推定処理を実行する場合には、拡張カルマンフィルタが用いられる。
Therefore, when the bias estimation
以上のように、実施の形態7によれば、センサが得る観測ベクトルの次数が異なっている場合であっても、バイアス推定精度を向上させることができる。 As described above, according to the seventh embodiment, it is possible to improve the bias estimation accuracy even when the orders of the observation vectors obtained by the sensors are different.
なお、上記実施の形態7では、バイアス成分次数設定処理部130が、第2センサ20で得られた仰角、方位角からなる2次元の観測ベクトルに対応した、2次元のバイアスベクトル推定値を算出する場合について説明した。しかしながら、これに限定されず、バイアス成分次数設定処理部130は、第2センサ20で得られた2次元の観測ベクトルよりも次数の低い1次元のバイアスベクトル推定値、例えば仰角成分のみあるいは方位角成分のみを算出するように制御信号を出力してもよい。また、何次元のバイアスベクトル推定値を算出するかについては、事前に設定される。
In the seventh embodiment, the bias component order setting
また、上記実施の形態7では、第2センサ20が、仰角、方位角を観測する場合について説明した。しかしながら、これに限定されず、第2センサ20が、距離のみを観測する場合、仰角のみを観測する場合、方位角のみを観測する場合、距離および仰角を観測する場合、距離および方位角を観測する場合にも、それぞれ適用することができる。
また、この発明の実施の形態7に係るセンサバイアス推定装置は、実施の形態2〜6と組み合わせることもできる。
Moreover, in the said
The sensor bias estimation apparatus according to
10 第1センサ、20 第2センサ、30 同期処理部(同期処理手段)、40 バイアス格子点探索処理部(バイアス格子点探索処理手段)、50 統合相関処理部(統合相関処理手段)、60 バイアス推定フィルタ処理部(バイアス推定フィルタ処理手段)、80 バイアス格子間隔制御処理部(バイアス格子間隔制御処理手段)、90 バイアス格子間隔再設定処理部(バイアス格子間隔再設定処理手段)、100 第1のバイアス格子点探索範囲再設定処理部(第1のバイアス格子点探索範囲再設定処理手段)、110 第2のバイアス格子点探索範囲再設定処理部(第2のバイアス格子点探索範囲再設定処理手段)、120 バイアス成分推定順序設定処理部(バイアス成分推定順序設定処理手段)、130 バイアス成分次数設定処理部(バイアス成分次数設定処理手段)。 10 first sensor, 20 second sensor, 30 synchronization processing unit (synchronization processing unit), 40 bias grid point search processing unit (bias grid point search processing unit), 50 integrated correlation processing unit (integrated correlation processing unit), 60 bias Estimation filter processing unit (bias estimation filter processing unit), 80 bias grid interval control processing unit (bias grid interval control processing unit), 90 bias grid interval resetting processing unit (bias grid interval resetting processing unit), 100 first Bias grid point search range reset processing unit (first bias grid point search range reset processing unit), 110 Second bias grid point search range reset processing unit (second bias grid point search range reset processing unit) ), 120 Bias component estimation order setting processing unit (bias component estimation order setting processing means), 130 Bias component order setting processing Part (bias component order setting processing means).
Claims (9)
前記センサ航跡に基づいて、時刻同期および航跡相関を実行し、同一航跡と判定されたセンサ航跡の組を出力する同期処理手段と、
前記同一航跡と判定されたセンサ航跡の組に対してバイアス格子点探索処理を実行し、バイアス推定値を算出するバイアス格子点探索処理手段と、
前記相関観測値に基づいて、バイアス推定フィルタ処理を実行し、バイアスベクトル推定値を算出するバイアス推定フィルタ処理手段と、を備え、
前記バイアス推定フィルタ処理手段は、前記バイアス推定値を前記バイアスベクトル推定値の初期値として設定する
ことを特徴とするセンサバイアス推定装置。 It is an apparatus having a plurality of sensors, and each sensor performs correlation processing based on the observed value and the predicted value to calculate a correlated observed value, and calculates a sensor wake based on the correlated observed value, A sensor bias estimation device that is applied to a device that outputs the correlation observation value and the sensor track, and estimates bias of the plurality of sensors,
Synchronization processing means for performing time synchronization and wake correlation based on the sensor wake, and outputting a set of sensor wakes determined to be the same wake,
Bias grid point search processing means for performing a bias grid point search process on a set of sensor tracks determined to be the same track, and calculating a bias estimated value;
Bias estimation filter processing means for executing bias estimation filter processing based on the correlation observation value and calculating a bias vector estimation value,
The bias estimation filter processing means sets the bias estimation value as an initial value of the bias vector estimation value.
前記バイアス格子点探索処理手段は、前記バイアスベクトル推定値およびその推定誤差共分散行列と、前記状態ベクトル推定値およびその推定誤差共分散行列とに基づいて、前記バイアス格子点探索処理の探索範囲を設定する
ことを特徴とする請求項1または請求項2に記載のセンサバイアス推定装置。 The bias estimation filter processing means outputs the bias vector estimated value and its estimated error covariance matrix, a state vector estimated value and its estimated error covariance matrix to the bias grid point search processing means,
The bias grid point search processing means determines a search range of the bias grid point search process based on the bias vector estimated value and its estimated error covariance matrix, and the state vector estimated value and its estimated error covariance matrix. The sensor bias estimation device according to claim 1, wherein the sensor bias estimation device is set.
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