[go: up one dir, main page]

JP2011049185A - Anisotropic conductive film, and manufacturing method for connection structure using the same - Google Patents

Anisotropic conductive film, and manufacturing method for connection structure using the same Download PDF

Info

Publication number
JP2011049185A
JP2011049185A JP2010260209A JP2010260209A JP2011049185A JP 2011049185 A JP2011049185 A JP 2011049185A JP 2010260209 A JP2010260209 A JP 2010260209A JP 2010260209 A JP2010260209 A JP 2010260209A JP 2011049185 A JP2011049185 A JP 2011049185A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin layer
anisotropic conductive
conductive film
resin
wiring board
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2010260209A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP5671313B2 (en
Inventor
Katsuhiko Komuro
勝彦 小室
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dexerials Corp
Original Assignee
Sony Chemical and Information Device Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Chemical and Information Device Corp filed Critical Sony Chemical and Information Device Corp
Priority to JP2010260209A priority Critical patent/JP5671313B2/en
Publication of JP2011049185A publication Critical patent/JP2011049185A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5671313B2 publication Critical patent/JP5671313B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Adhesive Tapes (AREA)
  • Adhesives Or Adhesive Processes (AREA)
  • Conductive Materials (AREA)
  • Non-Insulated Conductors (AREA)

Abstract

【課題】速硬化性による低温硬化を実現しつつ、保存安定性に優れた異方性導電フィルムを提供し、さらにはこの異方性導電フィルムを用いて導通信頼性の高い接続構造体を製造する接続構造体の製造方法を提供する。
【解決手段】異方性導電フィルム1は、オキセタン化合物を含有する第1の樹脂層1Aと、カチオン重合開始剤を含む第2の樹脂層1Bとが順次積層されてなる。異方性導電フィルム1は、第1の樹脂層1Aと第2の樹脂層1Bのうちの少なくとも一方が導電性粒子を含有し、第1の樹脂層1A又は第2の樹脂層1Bがホスフィンオキサイド化合物を含有する。
【選択図】図1
The present invention provides an anisotropic conductive film with excellent storage stability while realizing low-temperature curing by rapid curing, and further uses this anisotropic conductive film to produce a connection structure with high conduction reliability. A method for manufacturing a connection structure is provided.
An anisotropic conductive film 1 is formed by sequentially laminating a first resin layer 1A containing an oxetane compound and a second resin layer 1B containing a cationic polymerization initiator. In the anisotropic conductive film 1, at least one of the first resin layer 1A and the second resin layer 1B contains conductive particles, and the first resin layer 1A or the second resin layer 1B is a phosphine oxide. Contains compounds.
[Selection] Figure 1

Description

本発明は、フレキシブルプリント配線板や半導体素子等の電子部材を液晶パネル等の配線板に実装する際に使用する異方性導電フィルムに関するものであり、さらには、異方性導電フィルムを用いた接続構造体の製造方法に関する。   The present invention relates to an anisotropic conductive film used when an electronic member such as a flexible printed wiring board or a semiconductor element is mounted on a wiring board such as a liquid crystal panel. Furthermore, the anisotropic conductive film is used. The present invention relates to a method for manufacturing a connection structure.

異方性導電フィルムは、接着剤として機能する絶縁性の樹脂(熱可塑性物質や熱硬化性物質等の接着剤成分)中に導電性粒子を分散したものである。例えば電子部品と配線板との接続では、電子部品のバンプと配線板の電極部との間に異方性導電フィルムを挟み込み、押圧作業により加熱及び加圧する。これにより、導電性粒子が押し潰されて電気的な接続が図られる。バンプが無い部分では、導電性粒子は、絶縁性の樹脂中に分散した状態が維持され、電気的に絶縁された状態が保たれる。このため、バンプがある部分でのみ電気的導通が図られることになる。   The anisotropic conductive film is obtained by dispersing conductive particles in an insulating resin (adhesive component such as a thermoplastic material or a thermosetting material) that functions as an adhesive. For example, in the connection between the electronic component and the wiring board, an anisotropic conductive film is sandwiched between the bump of the electronic component and the electrode portion of the wiring board, and heated and pressed by a pressing operation. Thereby, electroconductive particle is crushed and electrical connection is achieved. In the portion where there is no bump, the conductive particles are kept dispersed in the insulating resin, and are kept electrically insulated. For this reason, electrical conduction is achieved only at the portion where the bump exists.

異方性導電フィルムの開発において、接着信頼性や導通信頼性等の異方性導電フィルムの性質に関する研究が各方面で進められており、例えば接着強度に基づく性質は、技術改良の成果により既に相当のレベルに到達している。一方で、速硬化性や保存安定性等においては、不十分な点が指摘されており、速硬化性や保存安定性等に基づく取り扱い性を高めること等が直近の課題となっている。   In the development of anisotropic conductive films, research on properties of anisotropic conductive films such as adhesion reliability and conduction reliability has been promoted in various fields. For example, properties based on adhesive strength have already been improved by technological improvements. A considerable level has been reached. On the other hand, in terms of fast curability, storage stability, etc., insufficient points have been pointed out, and improving handling properties based on fast curability, storage stability, etc. has become a recent issue.

このような状況において、例えば速硬化性の観点から、エポキシ樹脂の中で比較的反応性が高い成分を選択することや、硬化剤として活性の高い成分を選択することが検討されている(例えば、特許文献1〜3を参照)。   In such a situation, for example, from the viewpoint of fast curability, selection of a component having a relatively high reactivity in an epoxy resin and selection of a component having a high activity as a curing agent are being considered (for example, Patent Documents 1 to 3).

エポキシ樹脂の中で比較的反応性の高い成分を選択する例として、例えば特許文献1には、絶縁性樹脂と光重合開始剤とオキセタン化合物とを含有する接着剤組成物、さらには接着剤組成物に導電性粒子を含有させてなる異方導電性接着剤組成物が開示されている。オキセタン化合物は、カチオン硬化性が高いため、オキタセン化合物を配合した接着剤組成物は、硬化時間を大幅に短縮することが可能である。   For example, Patent Document 1 discloses an adhesive composition containing an insulating resin, a photopolymerization initiator, and an oxetane compound, as well as an adhesive composition. An anisotropic conductive adhesive composition is disclosed which contains conductive particles in a product. Since the oxetane compound has high cationic curability, the adhesive composition containing the oxacene compound can greatly shorten the curing time.

また、例えば特許文献2には、熱硬化性樹脂を含有するバインダに導電性粒子が分散されてなる異方導電性接着剤であって、バインダにシルセスキオキサンが含有された異方導電性接着剤が開示されている。シルセスキオキサンと熱硬化性樹脂との重合物は、疎水性が高く、腐食を防止する機能を有するという特徴を有し、導通信頼性の高い異方導電性接着剤を提供することが可能である。   Further, for example, Patent Document 2 discloses an anisotropic conductive adhesive in which conductive particles are dispersed in a binder containing a thermosetting resin, wherein the binder contains silsesquioxane. An adhesive is disclosed. A polymer of silsesquioxane and thermosetting resin is characterized by high hydrophobicity and a function of preventing corrosion, and can provide an anisotropic conductive adhesive with high conduction reliability. It is.

一方、硬化剤として活性の高い成分を選択する例として、例えば特許文献3には、有機バインダ成分中に導電性粒子を分散させてなる異方導電性フィルムにおいて、有機バインダ成分がカチオン重合性物質を含有し、スルホニウム塩等のカチオン発生剤やカチオン補足剤を配合した異方導電性フィルムが開示されている。特許文献3に記載される異方導電性フィルムは、低温短時間での接続が可能である。   On the other hand, as an example of selecting a highly active component as a curing agent, for example, in Patent Document 3, in an anisotropic conductive film in which conductive particles are dispersed in an organic binder component, the organic binder component is a cationic polymerizable substance. An anisotropic conductive film containing a cation generator such as a sulfonium salt and a cation scavenger is disclosed. The anisotropic conductive film described in Patent Document 3 can be connected at a low temperature in a short time.

特開2001−207150号公報JP 2001-207150 A 特開2008−179682号公報JP 2008-179682 A 特許第3589422号公報Japanese Patent No. 3589422

ところで、特許文献1〜3に記載の技術のように、比較的反応性の高い熱硬化樹脂や硬化剤を使用する技術を採用した場合、速硬化及び低温硬化は、期待されるものの、異方導電性接着剤又は異方導電性フィルムの保存安定性が低下するおそれがある。   By the way, when a technique using a thermosetting resin or a curing agent having a relatively high reactivity is employed as in the techniques described in Patent Documents 1 to 3, fast curing and low temperature curing are expected, but anisotropic. There exists a possibility that the storage stability of a conductive adhesive or an anisotropic conductive film may fall.

そこで、保存安定性を改善するための方法として、樹脂成分と硬化剤成分とを別々の層に分離して、使用前においては樹脂成分と硬化剤成分との反応を抑制することが考えられる。例えば、異方性導電フィルムを2層構成とし、一方に樹脂成分を、他方に硬化剤成分をそれぞれ含有させ、加熱圧着時に樹脂成分と硬化剤成分とを反応させるようにする。   Therefore, as a method for improving the storage stability, it is conceivable to separate the resin component and the curing agent component into separate layers and suppress the reaction between the resin component and the curing agent component before use. For example, the anisotropic conductive film has a two-layer structure, one containing a resin component and the other containing a curing agent component, and causing the resin component and the curing agent component to react during thermocompression bonding.

しかしながら、異方性導電フィルムを2層構成としたとしても、樹脂成分を含有する層と硬化剤成分を含有する層とが接しているため、界面での反応を完全に抑制できず、必ずしも十分な保存安定性が得られないという問題がある。また、2層構成の異方性導電フィルムの作製においては、層構造を形成するための積層作業や塗布作業等の際の加熱、加圧、溶剤添加等の影響により、結果的に両層の成分が混合されることになり、層全体が反応したり、反応物からなる混合層(混合領域)が形成されてしまう等の欠点もある。   However, even if the anisotropic conductive film has a two-layer structure, since the layer containing the resin component and the layer containing the curing agent component are in contact with each other, the reaction at the interface cannot be completely suppressed and is not always sufficient. There is a problem that it is not possible to obtain stable storage stability. Moreover, in the production of an anisotropic conductive film having a two-layer structure, due to the effects of heating, pressurization, solvent addition, etc. during laminating and coating operations to form a layer structure, both layers result The components are mixed, and there is a drawback that the entire layer reacts or a mixed layer (mixed region) made of the reaction product is formed.

本発明は、前述の従来技術が有する問題点を解消することを目的に提案されたものであり、樹脂成分と硬化剤成分とを別々の層に分離することで、速硬化性及び低温硬化を実現しつつ、2層の界面における反応を抑制して高い保存安定性を実現し、作製時に混合層を形成するといった問題をも解消し得る異方性導電フィルムを提供することを目的とする。また、このような異方性導電フィルムを使用することで、低温短時間で接続でき、信頼性の高い導通接続状態を得ることが可能な接続構造体の製造方法を提供することを目的とする。   The present invention has been proposed for the purpose of solving the problems of the prior art described above, and by separating the resin component and the curing agent component into separate layers, rapid curing and low temperature curing can be achieved. An object of the present invention is to provide an anisotropic conductive film that can realize the high storage stability by suppressing the reaction at the interface between the two layers, and can solve the problem of forming a mixed layer during production. Moreover, it aims at providing the manufacturing method of the connection structure which can be connected in low temperature for a short time by using such an anisotropic conductive film, and can obtain a reliable conductive connection state. .

本件発明者らは、オキセタン化合物とカチオン重合開始剤とを別々の樹脂層に含有させることで、両者が早期に反応することを防止するとともに、一方の樹脂層にホスフィンオキサイド化合物を含有させることにより、樹脂層の界面での反応や積層の際における両者の混合を抑制することが可能となることを見出した。   The inventors of the present invention, by containing the oxetane compound and the cationic polymerization initiator in separate resin layers, prevent both from reacting at an early stage, and by incorporating a phosphine oxide compound in one resin layer. It has been found that it is possible to suppress the reaction at the interface of the resin layer and the mixing of both at the time of lamination.

すなわち、前述の目的を達成するために、本発明の異方性導電フィルムは、オキセタン化合物を含有する第1の樹脂層と、カチオン重合開始剤を含有する第2の樹脂層とが積層されてなり、第1の樹脂層及び第2の樹脂層のうちの少なくとも一方が導電性粒子を含有する異方性導電フィルムであって、第1の樹脂層又は第2の樹脂層は、ホスフィンオキサイド化合物を含有することを特徴とする。   That is, in order to achieve the above-mentioned object, the anisotropic conductive film of the present invention is formed by laminating a first resin layer containing an oxetane compound and a second resin layer containing a cationic polymerization initiator. And at least one of the first resin layer and the second resin layer is an anisotropic conductive film containing conductive particles, wherein the first resin layer or the second resin layer is a phosphine oxide compound. It is characterized by containing.

また、本発明の接続構造体の製造方法は、異方性導電フィルムを介して配線板の電極と電子部材の電極とを接続してなる接続構造体の製造方法において、配線板と異方性導電フィルムと電子部材とを順次重ねて配置して熱加圧を行うことにより配線板の電極と電子部材の電極とを接続する接続工程を有し、異方性導電フィルムとして、オキセタン化合物を含有する第1の樹脂層と、カチオン重合開始剤を含有する第2の樹脂層とが積層されてなり、第1の樹脂層及び第2の樹脂層のうちの少なくとも一方が導電性粒子を含有し、第1の樹脂層又は第2の樹脂層が、ホスフィンオキサイド化合物を含有する異方性導電フィルムを用いることを特徴とする。   Moreover, the manufacturing method of the connection structure of the present invention is a method of manufacturing a connection structure in which an electrode of a wiring board and an electrode of an electronic member are connected via an anisotropic conductive film. It has a connection step of connecting the electrode of the wiring board and the electrode of the electronic member by placing the conductive film and the electronic member in order and performing thermal pressurization, and contains an oxetane compound as an anisotropic conductive film The first resin layer and the second resin layer containing the cationic polymerization initiator are laminated, and at least one of the first resin layer and the second resin layer contains conductive particles. The first resin layer or the second resin layer uses an anisotropic conductive film containing a phosphine oxide compound.

本発明の異方性導電フィルムは、2層構造を有し、第1の樹脂層に反応主剤となるオキセタン化合物を含有し、第2の樹脂層に硬化剤となるカチオン重合開始剤を含有する。オキセタン化合物は、反応性が高く、カチオン重合開始剤と組み合わせることで、速硬化性が得られ、低温硬化も可能である。一方、オキセタン化合物を含有する第1の樹脂層は、カチオン重合開始剤をしない。反応主剤であるオキセタン化合物と硬化剤であるカチオン重合開始剤とを2層に分離する(以下、単に「層分離」という。)ことで、オキセタン化合物が早期に反応することを防止することが可能となる。   The anisotropic conductive film of the present invention has a two-layer structure, contains an oxetane compound as a reaction main agent in the first resin layer, and contains a cationic polymerization initiator as a curing agent in the second resin layer. . Oxetane compounds have high reactivity, and when combined with a cationic polymerization initiator, fast curability is obtained and low temperature curing is also possible. On the other hand, the 1st resin layer containing an oxetane compound does not use a cationic polymerization initiator. By separating the oxetane compound as the main reaction agent and the cationic polymerization initiator as the curing agent into two layers (hereinafter simply referred to as “layer separation”), it is possible to prevent the oxetane compound from reacting at an early stage. It becomes.

さらに、本発明においては、第1の樹脂層又は第2の樹脂層にホスフィンオキサイド化合物を配合することで、第1の樹脂層と第2の樹脂層との界面、或いは、両者が積層混合された領域でのオキセタン化合物とカチオン重合開始剤との反応を抑制している。これにより、異方性導電フィルム全体において高い保存安定性を実現することが可能となる。   Furthermore, in the present invention, by blending a phosphine oxide compound into the first resin layer or the second resin layer, the interface between the first resin layer and the second resin layer, or both are laminated and mixed. The reaction between the oxetane compound and the cationic polymerization initiator is suppressed. Thereby, high storage stability can be realized in the entire anisotropic conductive film.

本発明によれば、速硬化性を有して低温且つ短時間での硬化が可能であり、且つ、十分な保存安定性を有する異方性導電フィルムを提供することが可能である。また、本発明の接続構造体の製造方法によれば、低温短時間での接続により信頼性の高い導通接続状態を得ることが可能である。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, it is possible to provide the anisotropic conductive film which has quick curing property, can be hardened | cured at low temperature for a short time, and has sufficient storage stability. Moreover, according to the manufacturing method of the connection structure of the present invention, it is possible to obtain a highly reliable conductive connection state by connection at a low temperature in a short time.

異方性導電フィルムの構成例を示す要部概略断面図である。It is a principal part schematic sectional drawing which shows the structural example of an anisotropic conductive film. 接続構造体の構成例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the structural example of a connection structure.

以下、本発明を適用した異方性導電フィルム及び接続構造体の製造方法の実施の形態(以下、「本実施の形態」という。)について、図面を参照して詳細に説明する。   Hereinafter, an embodiment of a method for producing an anisotropic conductive film and a connection structure to which the present invention is applied (hereinafter referred to as “this embodiment”) will be described in detail with reference to the drawings.

本実施の形態における異方性導電フィルムは、接着剤成分に導電性粒子を分散配合してなるが、反応性の高い樹脂(反応主剤)と硬化剤とを層分離して2層構成としている。これにより、反応主剤と硬化剤とが早期に反応することを防止している。図1は、本実施の形態の異方性導電フィルムの要部概略断面図である。図1に示すように、異方性導電フィルム1は、反応主剤を含有する第1の樹脂層1Aと、硬化剤を含有する第2の樹脂層1Bとが積層されてなる。   The anisotropic conductive film in the present embodiment is obtained by dispersing and blending conductive particles in an adhesive component, and has a two-layer structure in which a highly reactive resin (reactive agent) and a curing agent are separated into layers. . Thereby, the reaction main agent and the curing agent are prevented from reacting at an early stage. FIG. 1 is a schematic cross-sectional view of a main part of the anisotropic conductive film of the present embodiment. As shown in FIG. 1, the anisotropic conductive film 1 is formed by laminating a first resin layer 1A containing a reaction main agent and a second resin layer 1B containing a curing agent.

第1の樹脂層1Aは、反応主剤としてオキセタン化合物を含有する。オキセタン化合物は、式(1)に示すオキセタン環を有する化合物であり、接着剤組成物の反応性を高めるために、異方性導電フィルム1において特徴的に含有されるものである。   The first resin layer 1A contains an oxetane compound as a reaction main agent. The oxetane compound is a compound having an oxetane ring represented by the formula (1), and is characteristically contained in the anisotropic conductive film 1 in order to increase the reactivity of the adhesive composition.

Figure 2011049185
Figure 2011049185

オキセタン化合物におけるオキセタン環の数は、任意であり、1個であっても複数個であってもよい。オキセタン環を1個有するオキセタン化合物としては、例えば式(2)で示す化合物が挙げられる。式(2)中、Rは、水素原子又は低級アルキル基であり、中でもメチル又はエチル基が好ましい。R及びRは、例えば低級アルキル基であり、他の元素で置換されたものとしてはクロロメチル、3−クロロプロピル、3,3,3−トリフルオロプロピル等の炭素数1〜4のハロゲン化アルキル基、3−シアノプロピル等の炭素数2〜4のシアノアルキル基等が挙げられる。ここで、RとRとは、同種であっても異種であってもよい。Rはアリル基、アリール基、炭素数7〜10のアラアリル基、炭素数1〜18個の直鎖状或いは分岐状アルキル基、又は炭素数1〜10の水酸基を有する分岐を有していてもよいアルキル基等である。Xとしては、メチレン、酸素原子等が挙げられる。 The number of oxetane rings in the oxetane compound is arbitrary, and may be one or plural. Examples of the oxetane compound having one oxetane ring include a compound represented by the formula (2). In Formula (2), R 1 is a hydrogen atom or a lower alkyl group, and a methyl or ethyl group is particularly preferable. R 2 and R 3 are, for example, lower alkyl groups, and those substituted with other elements include halogens having 1 to 4 carbon atoms such as chloromethyl, 3-chloropropyl, 3,3,3-trifluoropropyl, etc. And a C2-C4 cyanoalkyl group such as 3-cyanopropyl. Here, R 2 and R 3 may be the same or different. R 4 has an allyl group, an aryl group, an araallyl group having 7 to 10 carbon atoms, a linear or branched alkyl group having 1 to 18 carbon atoms, or a branch having a hydroxyl group having 1 to 10 carbon atoms. Or a good alkyl group. Examples of X include methylene and oxygen atoms.

Figure 2011049185
Figure 2011049185

オキセタン環を2個有するオキセタン化合物としては、例えば式(3)に示す化合物が挙げられる。なお、式(3)中、R及びRは、水素原子、低級アルキル基又は置換炭化水素基を示し、RとRとは、同種であっても異種であってもよい。Rは、酸素原子又は式(4)で示される2価の官能基を示す。ここで、置換炭化水素基としては、例えば、クロロメチル、3−クロロプロピル、3,3,3−トリフルオロプロピル等の炭素数1〜4のハロゲン化アルキル基、3−シアノプロピル等の炭素数2〜4のシアノアルキル基等を挙げることができる。 Examples of the oxetane compound having two oxetane rings include a compound represented by the formula (3). In formula (3), R 5 and R 6 represent a hydrogen atom, a lower alkyl group or a substituted hydrocarbon group, and R 5 and R 6 may be the same or different. R 7 represents an oxygen atom or a divalent functional group represented by the formula (4). Here, examples of the substituted hydrocarbon group include halogenated alkyl groups having 1 to 4 carbon atoms such as chloromethyl, 3-chloropropyl and 3,3,3-trifluoropropyl, and carbon numbers such as 3-cyanopropyl. Examples thereof include 2 to 4 cyanoalkyl groups.

Figure 2011049185
Figure 2011049185

−O−(R−O)− (4)
式(4)中、kは1〜5の整数であり、Rは炭素数2〜12の直鎖状或いは分岐状の水酸基を有していてもよい炭化水素基を示し、好ましくはエチレン、プロピレン、ベンゼンジメチル等である。
-O- (R 8 -O) k - (4)
In the formula (4), k is an integer of 1 to 5, and R 8 represents a hydrocarbon group which may have a linear or branched hydroxyl group having 2 to 12 carbon atoms, preferably ethylene, Propylene, benzenedimethyl and the like.

多官能オキセタン化合物としては、例えば式(5)に示す化合物が挙げられる。式(5)中、Rは水素原子又は炭素数1〜6の分岐を有していてもよいアルキル基であり、R10は炭素数1〜6のアルキレン基、鎖状又は分岐状ポリ(アルキレン)基、キシリレン基等からなる群から選択されるm価基を示し、Zはエーテル基、チオエーテル基、メチレン基、エステル基等を示し、mは2、3又は4である。 As a polyfunctional oxetane compound, the compound shown, for example in Formula (5) is mentioned. In Formula (5), R 9 is a hydrogen atom or an alkyl group which may have 1 to 6 carbon atoms, and R 10 is an alkylene group having 1 to 6 carbon atoms, a chain or branched poly ( M) is an m-valent group selected from the group consisting of an alkylene group, a xylylene group, etc., Z is an ether group, a thioether group, a methylene group, an ester group or the like, and m is 2, 3 or 4.

Figure 2011049185
Figure 2011049185

オキセタン化合物の具体例としては、例えば、式(6)に示すキシリレンジオキセタン(XDO)、式(7)に示す3−エチル−3−(ヒドロキシメチル)オキセタン(EOXA)、式(8)に示す3−エチル−3−(ヘキシルオキシメチル)オキセタン(HOX)、式(9)に示す3−エチル−3−(フェノキシメチル)オキセタン(PHO)、式(10)に示すビス{[1−エチル(3−オキセタニル)]メチル}エーテル(DOX)等が挙げられる。中でも、反応性が高い点から2官能のXDOやDOX等が特に好ましい。さらに、後述のホスフィンオキサイド化合物に基づくカチオン重合開始剤との反応抑制効果が最も高いという観点から、XDOが最も好ましい。   Specific examples of the oxetane compound include, for example, xylylene oxetane (XDO) represented by formula (6), 3-ethyl-3- (hydroxymethyl) oxetane (EOXA) represented by formula (7), and formula (8). 3-ethyl-3- (hexyloxymethyl) oxetane (HOX), 3-ethyl-3- (phenoxymethyl) oxetane (PHO) represented by formula (9), bis {[1-ethyl ( 3-oxetanyl)] methyl} ether (DOX) and the like. Among them, bifunctional XDO and DOX are particularly preferable from the viewpoint of high reactivity. Furthermore, XDO is most preferable from the viewpoint that the reaction suppressing effect with the cationic polymerization initiator based on the phosphine oxide compound described later is the highest.

Figure 2011049185
Figure 2011049185

第1の樹脂層1Aは、成膜性を付与して機械的な結合強度を得るために、オキセタン化合物以外の熱硬化性樹脂成分を含有してもよい。熱硬化性樹脂成分としては、例えば、各種エポキシ樹脂、エポキシ基含有(メタ)アクリレート、ウレタン変性(メタ)アクリレート等の熱硬化性樹脂等が挙げられる。例えばエポキシ樹脂としては、ビスフェノールA(BPA)型エポキシ樹脂、ビスフェノールF(BPF)エポキシ樹脂、ノボラック型エポキシ樹脂等が挙げられる。中でも、ビスフェノールA(BPA)型エポキシ樹脂やビスフェノールF(BPF)エポキシ樹脂が好適であり、これらを使用することにより最適な流動性を得ることができる。なお、熱硬化性樹脂成分は、異方性導電フィルムの構成材料として使用する際には未硬化状態(液状)である。   1 A of 1st resin layers may contain thermosetting resin components other than an oxetane compound, in order to provide film formability and to obtain mechanical bond strength. Examples of the thermosetting resin component include various epoxy resins, thermosetting resins such as epoxy group-containing (meth) acrylate, urethane-modified (meth) acrylate, and the like. For example, examples of the epoxy resin include bisphenol A (BPA) type epoxy resin, bisphenol F (BPF) epoxy resin, and novolak type epoxy resin. Among these, bisphenol A (BPA) type epoxy resin and bisphenol F (BPF) epoxy resin are suitable, and optimum fluidity can be obtained by using these. In addition, when using as a constituent material of an anisotropic conductive film, a thermosetting resin component is a non-hardened state (liquid state).

さらに、第1の樹脂層1Aは、成膜性の観点から、熱可塑性樹脂を配合することも可能である。この場合、熱可塑性樹脂としては、任意の熱可塑性樹脂を使用することができる。例えば第2の樹脂層1Bの熱硬化性樹脂成分としてエポキシ樹脂を選択した場合、エポキシ樹脂と分離することなく相溶して膜としての性質を発揮し得る熱可塑性樹脂を選択して使用することが好ましい。熱可塑性樹脂としては、例えばフェノキシ樹脂等を挙げることができる。   Furthermore, the first resin layer 1A can be blended with a thermoplastic resin from the viewpoint of film formability. In this case, any thermoplastic resin can be used as the thermoplastic resin. For example, when an epoxy resin is selected as the thermosetting resin component of the second resin layer 1B, a thermoplastic resin that is compatible with the epoxy resin without being separated and can exhibit properties as a film is selected and used. Is preferred. Examples of the thermoplastic resin include phenoxy resin.

第1の樹脂層1Aにおいて、各成分の配合割合は任意であるが、例えばオキセタン化合物と熱可塑性樹脂の割合(オキセタン化合物:熱可塑性樹脂)は、20重量部:80重量部〜80重量部:20重量部とすることが好ましい。熱硬化性樹脂の割合は、オキセタン化合物及び熱可塑性樹脂の合計量100重量部に対し、0〜20重量部とすることが好ましい。   In the first resin layer 1A, the mixing ratio of each component is arbitrary. For example, the ratio of the oxetane compound and the thermoplastic resin (oxetane compound: thermoplastic resin) is 20 parts by weight: 80 parts by weight to 80 parts by weight: 20 parts by weight is preferable. The ratio of the thermosetting resin is preferably 0 to 20 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the total amount of the oxetane compound and the thermoplastic resin.

第1の樹脂層1Aの厚さは、後述の第2の樹脂層1Bの厚さを考慮して設定すればよいが、通常は10μm〜25μmに設定する。   The thickness of the first resin layer 1A may be set in consideration of the thickness of the second resin layer 1B described later, but is usually set to 10 μm to 25 μm.

一方、第2の樹脂層1Bは、硬化剤であるカチオン重合開始剤を含有することが必要である。カチオン重合開始剤は、光又は熱の適応により活性化されて酸成分を生成し、組成物中のカチオン重合性基の重合を誘発するように作用するものである。異方性導電フィルム1においては、第1の樹脂層1Aが含有するオキタセン化合物の重合を誘発させる必要がある。このため、例えば光潜在性を有するカチオン重合開始剤として、光が照射されて活性化されオキセタン化合物が有する開環重合性基の開環を誘発し得るオニウム塩類が好適である。   On the other hand, the second resin layer 1B needs to contain a cationic polymerization initiator that is a curing agent. The cationic polymerization initiator is activated by the application of light or heat to generate an acid component, and acts to induce polymerization of a cationic polymerizable group in the composition. In the anisotropic conductive film 1, it is necessary to induce polymerization of the octacene compound contained in the first resin layer 1A. For this reason, for example, an onium salt that is activated by irradiation with light and can induce ring-opening of a ring-opening polymerizable group of the oxetane compound is suitable as a cationic polymerization initiator having photolatency.

オニウム塩類としては、例えば、ジアゾニウム塩、スルホニウム塩、ヨードニウム塩等が挙げられる。例えば、商品名オプトマーSP−150(旭電化工業株式会社製)、商品名オプトマーSP−170(旭電化工業株式会社製)、商品名UVE−1014(ゼネラルエレクトロニクス株式会社製)、商品名ロードシル2074(ローディア株式会社製)、及び商品名CD−1012(サートマー株式会社製)等の市販品を使用することが可能である。   Examples of the onium salts include diazonium salts, sulfonium salts, iodonium salts, and the like. For example, trade name Optmer SP-150 (Asahi Denka Kogyo Co., Ltd.), trade name Optmer SP-170 (Asahi Denka Kogyo Co., Ltd.), trade name UVE-1014 (General Electronics Co., Ltd.), trade name Road Sill 2074 ( It is possible to use commercial products such as Rhodia Co., Ltd.) and trade name CD-1012 (Sartomer Co., Ltd.).

その他、熱潜在性を有するカチオン重合開始剤も使用可能である。熱潜在性を有するカチオン重合開始剤は、加熱により活性化されオキセタン化合物が有している開環重合性基の開環を誘発するものであり、例えば、第四級アンモニウム塩、ホスホニウム塩、スルホニウム塩等の各種オニウム塩類等を挙げることができる。このようなオニウム塩類としては、例えば、商品名アデカオプトンCP−66及び商品名アデカオプトンCP−77(旭電化工業株式会社製)、商品名サンエイドSI−60L、商品名サンエイドSI−80L、商品名サンエイドSI−100L(三新化学工業株式会社製)、CIシリーズ(日本曹達株式会社製)等の市販品を使用することが可能である。   In addition, a cationic polymerization initiator having thermal potential can also be used. Cationic polymerization initiators having thermal potential are those that are activated by heating and induce ring opening of the ring-opening polymerizable group of the oxetane compound, such as quaternary ammonium salts, phosphonium salts, sulfoniums. Examples thereof include various onium salts such as salts. As such onium salts, for example, trade name Adeka Opton CP-66 and trade name Adeka Opton CP-77 (Asahi Denka Kogyo Co., Ltd.), trade name Sun Aid SI-60L, trade name Sun Aid SI-80L, trade name Sun Aid SI Commercial products such as −100 L (manufactured by Sanshin Chemical Industry Co., Ltd.) and CI series (manufactured by Nippon Soda Co., Ltd.) can be used.

また、第2の樹脂層1Bにも、成膜性を付与するために熱可塑性樹脂や熱硬化性樹脂を含有させるようにしてもよい。第1の樹脂層1Aは、反応性の高い熱硬化性樹脂としてオキセタン化合物を含有するが、第2の樹脂層1Bは、オキセタン化合物よりも反応性の低い熱硬化性樹脂を含有させておき、異方性導電フィルム1全体を熱硬化性樹脂系接着剤として機能させることが好ましい。   In addition, the second resin layer 1B may contain a thermoplastic resin or a thermosetting resin in order to impart film forming properties. The first resin layer 1A contains an oxetane compound as a highly reactive thermosetting resin, but the second resin layer 1B contains a thermosetting resin that is less reactive than the oxetane compound, It is preferable to allow the entire anisotropic conductive film 1 to function as a thermosetting resin adhesive.

第2の樹脂層1Bの熱硬化性樹脂としては、第1の樹脂層1Aにおけるオキセタン化合物以外の熱硬化性樹脂と同様のものが使用可能であり、各種エポキシ樹脂やエポキシ基含有(メタ)アクリレート、ウレタン変性(メタ)アクリレート等の熱硬化性樹脂等を挙げることができる。中でも、オキセタン化合物よりも反応性が低いエポキシ樹脂が好ましい。   As the thermosetting resin of the second resin layer 1B, the same resin as the thermosetting resin other than the oxetane compound in the first resin layer 1A can be used, and various epoxy resins and epoxy group-containing (meth) acrylates can be used. And thermosetting resins such as urethane-modified (meth) acrylate. Among these, an epoxy resin having a lower reactivity than the oxetane compound is preferable.

熱可塑性樹脂としては、任意の熱可塑性樹脂を使用することができるが、例えば第1の樹脂層1A及び第2の樹脂層1Bの少なくとも一方における熱硬化性樹脂成分としてエポキシ樹脂を選択した場合、エポキシ樹脂と分離することなく相溶して膜としての性質を発揮し得るフェノキシ樹脂を選択して使用することが好ましい。   Although any thermoplastic resin can be used as the thermoplastic resin, for example, when an epoxy resin is selected as the thermosetting resin component in at least one of the first resin layer 1A and the second resin layer 1B, It is preferable to select and use a phenoxy resin that is compatible with the epoxy resin without separation and can exhibit properties as a film.

第2の樹脂層1Bにおいて、各成分の配合は、任意であるが、カチオン重合開始剤と、熱可塑性樹脂と、熱硬化性樹脂との配合割合を、カチオン重合開始剤1〜10重量部、熱可塑性樹脂20〜80重量部、熱硬化性樹脂80〜20重量部とすることが好ましい。   In the second resin layer 1B, the mixing of each component is arbitrary, but the mixing ratio of the cationic polymerization initiator, the thermoplastic resin, and the thermosetting resin is 1 to 10 parts by weight of the cationic polymerization initiator, It is preferable to use 20 to 80 parts by weight of the thermoplastic resin and 80 to 20 parts by weight of the thermosetting resin.

第2の樹脂層1Bの厚さは、第1の樹脂層1Aの厚さを考慮して設定すればよく、通常は10μm〜25μmとする。   The thickness of the second resin layer 1B may be set in consideration of the thickness of the first resin layer 1A, and is usually 10 μm to 25 μm.

第1の樹脂層1A及び第2の樹脂層1Bの少なくとも一方には、導電性粒子を分散させて含有させる。各樹脂層に含有させる導電性粒子としては、例えばニッケル、鉄、銅、アルミニウム、錫、鉛、クロム、コバルト、銀、金等の各種金属や金属合金の粒子、金属酸化物、カーボン、グラファイト、ガラスやセラミック、プラスチック等の粒子の表面に金属をコートしたもの、或いはこれらの粒子の表面に更に絶縁薄膜をコートしたもの等を使用することができる。樹脂粒子の表面に金属をコートしたものを用いる場合、樹脂粒子としては、例えばエポキシ樹脂、フェノール樹脂、アクリル樹脂、アクリロニトリル・スチレン(AS)樹脂、ベンゾグアナミン樹脂、ジビニルベンゼン系樹脂、スチレン系樹脂等の粒子を挙げることができる。   At least one of the first resin layer 1A and the second resin layer 1B contains conductive particles dispersed therein. Examples of conductive particles to be included in each resin layer include particles of various metals and metal alloys such as nickel, iron, copper, aluminum, tin, lead, chromium, cobalt, silver, and gold, metal oxides, carbon, graphite, The surface of particles such as glass, ceramic, plastic, etc. coated with metal, or the surface of these particles further coated with an insulating thin film can be used. When using a resin particle surface coated with metal, the resin particles include, for example, epoxy resin, phenol resin, acrylic resin, acrylonitrile / styrene (AS) resin, benzoguanamine resin, divinylbenzene resin, styrene resin, etc. Particles can be mentioned.

また、第1の樹脂層1A及び第2の樹脂層1Bの少なくとも一方には、その他の添加組成物として、無機フィラーを含有させることが好ましい。無機フィラーとしては、シリカ、タルク、酸化チタン、炭酸カルシウム、酸化マグネシウム等を挙げることができる。無機フィラーの含有量を制御することにより、流動性を制御し、粒子捕捉率を向上させることができる。   In addition, it is preferable that at least one of the first resin layer 1A and the second resin layer 1B contains an inorganic filler as another additive composition. Examples of the inorganic filler include silica, talc, titanium oxide, calcium carbonate, magnesium oxide and the like. By controlling the content of the inorganic filler, the fluidity can be controlled and the particle capture rate can be improved.

異方性導電フィルム1においては、オキセタン化合物を第1の樹脂層1Aに含有させ、カチオン重合開始剤を第2の樹脂層1Bに含有させることによって層分離する。これにより、速硬化性を確保するとともにオキセタン化合物とカチオン重合開始剤とが早期に反応することを防止する。ここで、第1の樹脂層1Aと第2の樹脂層1Bとは直接接しているため、界面においても、オキセタン化合物とカチオン重合開始剤との反応を抑制する必要がある。   In the anisotropic conductive film 1, the oxetane compound is contained in the first resin layer 1A, and the cationic polymerization initiator is contained in the second resin layer 1B to separate the layers. This ensures fast curability and prevents early reaction between the oxetane compound and the cationic polymerization initiator. Here, since the first resin layer 1A and the second resin layer 1B are in direct contact with each other, it is necessary to suppress the reaction between the oxetane compound and the cationic polymerization initiator even at the interface.

異方性導電フィルム1においては、第1の樹脂層1A又は第2の樹脂層1Bにホスフィンオキサイド化合物を含有させ、オキセタン化合物とカチオン重合開始剤との反応を抑制している。ホスフィンオキサイド化合物の効果により、第1の樹脂層1Aと第2の樹脂層1Bとの界面或いは第1の樹脂層1Aと第2の樹脂層1Bとが積層混合された領域においても、オキセタン化合物とカチオン重合開始剤との反応が抑制され、異方性導電フィルム1全体において高い保存安定性を実現することが可能となる。   In the anisotropic conductive film 1, the phosphine oxide compound is contained in the first resin layer 1A or the second resin layer 1B to suppress the reaction between the oxetane compound and the cationic polymerization initiator. Due to the effect of the phosphine oxide compound, even at the interface between the first resin layer 1A and the second resin layer 1B or in the region where the first resin layer 1A and the second resin layer 1B are laminated and mixed, The reaction with the cationic polymerization initiator is suppressed, and high storage stability can be realized in the entire anisotropic conductive film 1.

ホスフィンオキサイド化合物としては、例えば式(11)に示す化合物を挙げることができる。なお、式(11)において、R11〜R13はそれぞれ同一或いは異なる直鎖状又は分岐状炭化水素基、芳香族基等を示す。具体的には、炭素数1〜10のアルキル基、或いは水酸基、フッ素原子、塩素原子、臭素原子等を有し炭素数1〜10のアルキル基、炭素数4〜10のアルケニル基、フェニル基、フッ素原子、塩素原子、臭素原子等のハロゲン原子を有するフェニル基、アラアルキル基等であり、これらの基は分岐を有していてもよい。 Examples of the phosphine oxide compound include a compound represented by the formula (11). In the formula (11), R 11 to R 13 each represent the same or different linear or branched hydrocarbon group, aromatic group or the like. Specifically, an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, or an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms having a hydroxyl group, a fluorine atom, a chlorine atom, or a bromine atom, an alkenyl group having 4 to 10 carbon atoms, a phenyl group, A phenyl group having a halogen atom such as a fluorine atom, a chlorine atom, or a bromine atom, an araalkyl group, and the like, and these groups may have a branch.

Figure 2011049185
Figure 2011049185

具体的には、式(11)のR11〜R13が全てブチル基であるトリブチルホスフィンオキサイド、フェニル基であるトリフェニルホスフィンオキサイド、3−ヒドロキシプロピル基であるトリ(3−ヒドロキシプロピル)ホスフィンオキサイド、ブチル基と3−ヒドロキシプロピル基とからなるn−ブチル−ビス(3−ヒドロキシプロピル)ホスフィンオキサイド等が挙げられる。 Specifically, tributylphosphine oxide in which R 11 to R 13 in formula (11) are all butyl groups, triphenylphosphine oxide that is phenyl groups, and tri (3-hydroxypropyl) phosphine oxide that is 3-hydroxypropyl group. And n-butyl-bis (3-hydroxypropyl) phosphine oxide composed of a butyl group and a 3-hydroxypropyl group.

ホスフィンオキサイド化合物は、第1の樹脂層1A、第2の樹脂層1Bの何れに含有させても効果を得ることができるが、オキセタン化合物を含有する第1の樹脂層1Aに含有させることで、より効果が高いことが実験的に確かめられている。なお、ホスフィンオキサイド化合物を第1の樹脂層1A及び第2の樹脂層1Bの両層に含有させると、異方性導電フィルム1全体の反応性が低下してしまうので好ましくない。   The phosphine oxide compound can obtain the effect even if it is contained in either the first resin layer 1A or the second resin layer 1B, but by containing it in the first resin layer 1A containing the oxetane compound, It has been experimentally confirmed that it is more effective. In addition, when the phosphine oxide compound is contained in both the first resin layer 1A and the second resin layer 1B, the reactivity of the anisotropic conductive film 1 as a whole is lowered, which is not preferable.

ホスフィンオキサイド化合物の添加量は、反応抑制効果と加熱圧着時の異方性導電フィルム全体の反応性を考慮して設定すればよく、第1の樹脂層1A、第2の樹脂層1Bの何れに添加する場合にも、0.005質量%〜1.0質量%とすることが好ましく、0.001質量%〜0.1質量%とすることが特に好ましい。ホスフィンオキサイド化合物の添加量が0.005質量%未満であると、反応抑制効果を十分に得ることができなくなるおそれがある。逆に、1.0質量%を越えると、加熱圧着の際の反応が円滑に進まなくなり、速硬化性を得ることが難しくなるおそれがある。   The addition amount of the phosphine oxide compound may be set in consideration of the reaction suppressing effect and the reactivity of the entire anisotropic conductive film at the time of thermocompression bonding. Either the first resin layer 1A or the second resin layer 1B may be set. Also when adding, it is preferable to set it as 0.005 mass%-1.0 mass%, and it is especially preferable to set it as 0.001 mass%-0.1 mass%. If the addition amount of the phosphine oxide compound is less than 0.005% by mass, the reaction suppressing effect may not be sufficiently obtained. On the other hand, if it exceeds 1.0% by mass, the reaction during thermocompression bonding does not proceed smoothly, and it may be difficult to obtain fast curability.

次に、このような構成を備える異方性導電フィルム1の製造方法について説明する。先ず、第1の樹脂層1A、第2の樹脂層1Bの各層を形成する組成物をそれぞれトルエン、メチルエチルケトン等の有機溶剤に溶解して第1、第2の樹脂組成物溶液を調製する。そして、第1、第2の樹脂組成物溶液をそれぞれ第1、第2の剥離フィルム上にコンマコータ、ナイフコータ、グラビアコータ等の塗布装置を使って塗布する。その後、第1、第2の樹脂組成物溶液における有機溶剤を揮発させることにより、第1の剥離フィルム上に第1の樹脂層1Aを形成するとともに、第2の剥離フィルム上に第2の樹脂層1Bを形成する。次に、第1の樹脂層1Aと第2の樹脂層1Bとを重ね合わせ、必要に応じて70℃〜100℃程度に加熱して積層一体化する。これにより、第1の樹脂層1Aと第2の樹脂層1Bとが順次積層された異方性導電フィルム1が製造される。このように、異方性導電フィルム1は、剥離フィルム上に形成されることでフィルム積層体として提供される。なお、形成された第1の樹脂層1A上に第2の樹脂層1Bの組成物を塗布、乾燥させることにより、第1の樹脂層1A上に第2の樹脂層1Bが積層されてなる異方性導電フィルム1を製造するようにしてもよい。   Next, the manufacturing method of the anisotropic conductive film 1 provided with such a structure is demonstrated. First, a composition for forming each of the first resin layer 1A and the second resin layer 1B is dissolved in an organic solvent such as toluene and methyl ethyl ketone to prepare first and second resin composition solutions. Then, the first and second resin composition solutions are applied on the first and second release films, respectively, using an application device such as a comma coater, a knife coater, or a gravure coater. Then, the first resin layer 1A is formed on the first release film by volatilizing the organic solvent in the first and second resin composition solutions, and the second resin is formed on the second release film. Layer 1B is formed. Next, 1 A of 1st resin layers and 2nd resin layer 1B are piled up, and it heats to about 70 to 100 degreeC as needed, and laminates and integrates them. Thereby, the anisotropic conductive film 1 in which the first resin layer 1A and the second resin layer 1B are sequentially laminated is manufactured. Thus, the anisotropic conductive film 1 is provided as a film laminated body by being formed on a peeling film. The second resin layer 1B is laminated on the first resin layer 1A by applying and drying the composition of the second resin layer 1B on the formed first resin layer 1A. The anisotropic conductive film 1 may be manufactured.

第1の樹脂層1A、第2の樹脂層1Bをそれぞれ形成するための組成物溶液において、有機溶剤であるトルエンの沸点は、120℃付近である。ここで、オキセタン化合物とカチオン重合開始剤とが別々の樹脂層に含有されているので、有機溶剤を揮発させるために乾燥炉等で加熱したとしても、各樹脂層において反応が促進されることはない。また、第1の樹脂層1A上に第2の樹脂層1Bを積層した後に、加熱しても、ホスフィンオキサイド化合物の作用により、第1の樹脂層1Aと第2の樹脂層1Bとの界面で反応が促進されることもない。   In the composition solution for forming the first resin layer 1A and the second resin layer 1B, the boiling point of toluene, which is an organic solvent, is around 120 ° C. Here, since the oxetane compound and the cationic polymerization initiator are contained in separate resin layers, the reaction is promoted in each resin layer even when heated in a drying furnace or the like to volatilize the organic solvent. Absent. Moreover, even if it heats after laminating | stacking 2nd resin layer 1B on 1 A of 1st resin layers, it is the interface of 1st resin layer 1A and 2nd resin layer 1B by the effect | action of a phosphine oxide compound. The reaction is not accelerated.

次に、本実施の形態における異方性導電フィルム1を用いた接続構造体の製造方法について説明する。本実施の形態における接続構造体の製造方法は、ICチップ等の電子部品やフレキシブルプリント配線板等の電子部材と、リジッド配線板(リジッド基板)や液晶パネル等の配線板とを異方性導電フィルム1を介して電気的及び機械的に接続固定するものである。   Next, the manufacturing method of the connection structure using the anisotropic conductive film 1 in this Embodiment is demonstrated. The connection structure manufacturing method according to the present embodiment performs anisotropic conduction between an electronic component such as an IC chip or an electronic member such as a flexible printed wiring board and a wiring board such as a rigid wiring board (rigid board) or a liquid crystal panel. It is electrically and mechanically connected and fixed via the film 1.

ここでは、フレキシブルプリント配線板の電極(端子部)とリジッド配線板の電極(端子部)とを接続する例について述べる。   Here, an example in which an electrode (terminal part) of a flexible printed wiring board and an electrode (terminal part) of a rigid wiring board are connected will be described.

先ず、リジッド配線板上の所定の位置に異方性導電フィルム1が積層されるようにフィルム積層体を配置し、フィルム積層体における剥離フィルムを剥がし取る(第1の配置工程)。その後、リジッド配線板と異方性導電フィルム1との仮圧着を行う(仮圧着工程)。仮圧着工程では、熱加圧ヘッドにより、異方性導電フィルム1上面から僅かに加圧しながら異方性導電フィルム1に含まれる熱硬化樹脂成分が硬化しない70℃〜100℃程度の温度で加熱する。これにより、異方性導電フィルム1に含まれる熱可塑性樹脂成分が流動性を示し、熱可塑性樹脂成分の接着力により異方性導電フィルム1がリジッド配線板上に位置決め固定される。   First, a film laminated body is arrange | positioned so that the anisotropic conductive film 1 may be laminated | stacked on the predetermined position on a rigid wiring board, and the peeling film in a film laminated body is peeled off (1st arrangement | positioning process). Then, temporary crimping | bonding with a rigid wiring board and the anisotropic conductive film 1 is performed (temporary crimping process). In the temporary press-bonding process, the thermosetting resin component contained in the anisotropic conductive film 1 is heated at a temperature of about 70 ° C. to 100 ° C. while being slightly pressed from the upper surface of the anisotropic conductive film 1 by the heat and pressure head. To do. Thereby, the thermoplastic resin component contained in the anisotropic conductive film 1 exhibits fluidity, and the anisotropic conductive film 1 is positioned and fixed on the rigid wiring board by the adhesive force of the thermoplastic resin component.

仮圧着工程の後、異方性導電フィルム1の位置合わせ状態を確認し、位置ずれ等が生じていない場合には、電子部材を異方性導電フィルム1上の所定の位置に配置する(第2の配置工程)。その後、電子部材上から熱加圧ヘッドを押し当てることにより加圧しながら加熱する(本圧着工程)。本圧着における加熱温度は、異方性導電フィルム1に含まれる熱硬化樹脂成分の硬化温度以上の温度とする。また、本圧着における圧力は、異方性導電フィルム1に含まれる導電性粒子が押し潰されるような圧力とする。本圧着の際の温度及び圧力は、例えば温度120℃〜150℃程度、圧力3MPa〜12MPa程度とする。これにより、低温且つ短時間での硬化が可能である。   After the temporary press-bonding step, the alignment state of the anisotropic conductive film 1 is confirmed, and if there is no misalignment or the like, the electronic member is placed at a predetermined position on the anisotropic conductive film 1 (first 2 placement step). Thereafter, heating is performed while applying pressure by pressing a thermo-pressurizing head from above the electronic member (main pressure bonding step). The heating temperature in the main pressure bonding is set to a temperature equal to or higher than the curing temperature of the thermosetting resin component contained in the anisotropic conductive film 1. Moreover, the pressure in this press-fit is set to such a pressure that the conductive particles contained in the anisotropic conductive film 1 are crushed. The temperature and pressure at the time of the main pressure bonding are, for example, a temperature of about 120 ° C. to 150 ° C. and a pressure of about 3 MPa to 12 MPa. Thereby, curing at a low temperature and in a short time is possible.

本圧着の熱加圧処理により、電極パターンが互いに対向する部分において、異方性導電フィルム1が含有する導電性粒子が押し潰されて電気的な接続(導通)が図られる。このような方法により、リジッド配線板の電極とフレキシブルプリント配線板の電極とを接続してなる接続構造体が製造される。   The conductive particles contained in the anisotropic conductive film 1 are crushed at the portions where the electrode patterns face each other by the thermocompression treatment of the main pressure bonding, and electrical connection (conduction) is achieved. By such a method, a connection structure formed by connecting an electrode of a rigid wiring board and an electrode of a flexible printed wiring board is manufactured.

なお、仮圧着工程の後、異方性導電フィルム1の位置合わせ状態を確認し、位置ずれ等の不具合が生じている場合には、異方性導電フィルム1を剥離して第1の配置工程に戻すリペア処理を行うようにしてもよい(リペア工程)。   In addition, after the temporary press-bonding step, the alignment state of the anisotropic conductive film 1 is confirmed, and when there is a problem such as misalignment, the anisotropic conductive film 1 is peeled off and the first placement step A repair process for returning to (1) may be performed (repair process).

図2は、配線板と電子部材との接続構造体の構成例を示す概略断面図である。接続構造体は、配線板2と電子部材3との間に異方性導電フィルム1が介在され、配線板2の電極(導体)パターンと電子部材3の電極パターンとが互いに向かい合うように対向配置されている。これにより、配線板2と電子部材3とは、対応する電極の形成位置等に基づいて位置合わせがなされている。電子部材3側から、熱硬化性樹脂成分の硬化温度以上の温度で加熱加圧されることで、電極パターンが互いに対向する部分において、異方性導電フィルム1が含有する導電性粒子が押し潰され、電気的な接続(導通)が図られる。同時に、異方性導電フィルム1の第1の樹脂層1Aが含有するオキセタン化合物と第2の樹脂層1Bが含有するカチオン重合開始剤とが反応して硬化し、配線板2と電子部材3との機械的な接続も図られる。   FIG. 2 is a schematic cross-sectional view illustrating a configuration example of a connection structure of a wiring board and an electronic member. The connection structure is disposed so that the anisotropic conductive film 1 is interposed between the wiring board 2 and the electronic member 3 so that the electrode (conductor) pattern of the wiring board 2 and the electrode pattern of the electronic member 3 face each other. Has been. Thereby, the wiring board 2 and the electronic member 3 are aligned based on the formation position of a corresponding electrode. The conductive particles contained in the anisotropic conductive film 1 are crushed at the portions where the electrode patterns face each other by being heated and pressurized at a temperature equal to or higher than the curing temperature of the thermosetting resin component from the electronic member 3 side. Thus, electrical connection (conduction) is achieved. At the same time, the oxetane compound contained in the first resin layer 1A of the anisotropic conductive film 1 and the cationic polymerization initiator contained in the second resin layer 1B are reacted and cured, and the wiring board 2 and the electronic member 3 The mechanical connection is also achieved.

異方性導電フィルム1の第1の樹脂層1Aと第2の樹脂層1Bの何れの層を配線板2側或いは電子部材3側に配置してもよいが、本圧着工程における加熱加圧(加熱圧着)に際し、熱加圧ヘッドが電子部材3側から作用する場合には、反応性の低い第2の樹脂層1Bが電子部材3と対向するように配置し、熱加圧ヘッドによる熱加圧作業を行うことが好ましい。すなわち、第2の樹脂層1Bの第1の樹脂層1Aと接する面とは反対の面側から熱加圧ヘッドにより熱加圧を行う。これにより、硬化反応を早め、硬化時間をより短縮することが可能となる。   Any one of the first resin layer 1A and the second resin layer 1B of the anisotropic conductive film 1 may be arranged on the wiring board 2 side or the electronic member 3 side, When the thermocompression head is operated from the electronic member 3 side during thermocompression bonding, the second resin layer 1B having low reactivity is disposed so as to face the electronic member 3, and heat application by the thermocompression head is performed. It is preferable to perform pressure work. That is, heat pressing is performed by a heat pressing head from the surface opposite to the surface in contact with the first resin layer 1A of the second resin layer 1B. Thereby, it is possible to accelerate the curing reaction and further shorten the curing time.

このように、本実施の形態における異方性導電フィルム1は、速硬化性を有し、低温短時間硬化が可能であるとともに、十分な保存安定性を有する。また、異方性導電フィルム1を用いることで、導通信頼性の高い接続構造体を製造することが可能である。   Thus, the anisotropic conductive film 1 in the present embodiment has fast curability, can be cured at a low temperature for a short time, and has sufficient storage stability. Moreover, it is possible to manufacture a connection structure with high conduction reliability by using the anisotropic conductive film 1.

以上、本実施の形態における異方性導電フィルム1及び接続構造体の製造方法について説明してきたが、本発明が前述の実施形態に限定されるものでないことは言うまでもなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で様々な変更が可能である。   As mentioned above, although the anisotropic conductive film 1 in this Embodiment and the manufacturing method of a connection structure have been demonstrated, it cannot be overemphasized that this invention is not what is limited to the above-mentioned embodiment, and deviates from the summary of this invention. Various changes are possible without departing from the scope.

前述の接続構造体の製造方法では、配線板上の所定の位置に異方性導電フィルム1を配置した後、仮圧着を行うようにした。しかしながら、配線板と異方性導電フィルム1との仮圧着を行わずに接続構造体を製造するようにしてもよい。すなわち、配線板の電極パターンと電子部材の電極パターンとが互いに向かい合うように配線板と異方性導電フィルム1と電子部材とを順次重ねて配置した後に、仮圧着を行わずに本圧着を行うことで接続構造体を得るようにしてもよい。   In the manufacturing method of the above-mentioned connection structure, after the anisotropic conductive film 1 is disposed at a predetermined position on the wiring board, temporary bonding is performed. However, the connection structure may be manufactured without temporarily bonding the wiring board and the anisotropic conductive film 1. That is, after the wiring board, the anisotropic conductive film 1 and the electronic member are sequentially stacked so that the electrode pattern of the wiring board and the electrode pattern of the electronic member face each other, the main pressure bonding is performed without performing the temporary pressure bonding. Thus, a connection structure may be obtained.

次に、本発明の具体的な実施例について、実験結果に基づいて説明する。   Next, specific examples of the present invention will be described based on experimental results.

<異方性導電フィルムの作製>
下記に示す各材料を[表1]に示す割合([表1]中の数値は重量部)で配合して樹脂層A(オキセタン層)、樹脂層B(オキセタン層)、樹脂層C(硬化剤層)、樹脂層D(硬化剤層)をそれぞれ得た。
・フェノキシ樹脂:ビスフェノールA型フェノキシ樹脂(東都化成株式会社製、YP−50)
・オキセタン化合物:キシリレン型オキセタン樹脂(東亞合成株式会社製、XDO)
・エポキシ樹脂:BPA型エポキシ樹脂(ジャパンエポキシレジン社製、YL980)
・ホスフィンオキサイド化合物:トリフェニルホスフィンオキサイド(Aldrich株式会社製)
・シランカップリング剤:エポキシシランカップリング剤(モメンティブ・パフォーマンス・マテリアルズ株式会社製、A−187)
・カチオン重合開始剤:アンチモン系カチオン硬化剤(三新化学工業株式会社製、SI−60L)
・導電性粒子:樹脂コアAuメッキ粒子(積水化学工業株式会社製、AUL704)
<Production of anisotropic conductive film>
The following materials are blended in the proportions shown in [Table 1] (the numerical values in [Table 1] are parts by weight), and resin layer A (oxetane layer), resin layer B (oxetane layer), resin layer C (cured) Agent layer) and resin layer D (curing agent layer) were obtained.
・ Phenoxy resin: Bisphenol A type phenoxy resin (manufactured by Toto Kasei Co., Ltd., YP-50)
Oxetane compound: Xylylene oxetane resin (XDO, manufactured by Toagosei Co., Ltd.)
Epoxy resin: BPA type epoxy resin (YL980, manufactured by Japan Epoxy Resin Co., Ltd.)
-Phosphine oxide compound: Triphenylphosphine oxide (manufactured by Aldrich)
Silane coupling agent: Epoxy silane coupling agent (Momentive Performance Materials, A-187)
Cationic polymerization initiator: antimony cationic curing agent (manufactured by Sanshin Chemical Industry Co., Ltd., SI-60L)
Conductive particles: Resin core Au plated particles (Sekisui Chemical Co., Ltd., AUL704)

・樹脂層A(オキセタン層)
フェノキシ樹脂60重量部と、オキセタン化合物37.9重量部と、ホスフィンオキサイド化合物0.1重量部と、シランカップリング剤2重量部と、導電性粒子14重量部とを配合して樹脂組成物とした。そして、樹脂組成物をトルエン/酢酸エチル(重量比1:1)混合溶剤に溶解させた後、ミキサーにて均一に混合して組成物溶液を調製した。得られた組成物溶液を、剥離処理したポリエチレンテレフタレートフィルム上に塗布し、70℃で5分間乾燥を行い、厚さ10μmの樹脂層Aを得た。
・ Resin layer A (oxetane layer)
A resin composition comprising 60 parts by weight of a phenoxy resin, 37.9 parts by weight of an oxetane compound, 0.1 part by weight of a phosphine oxide compound, 2 parts by weight of a silane coupling agent, and 14 parts by weight of conductive particles, did. Then, the resin composition was dissolved in a mixed solvent of toluene / ethyl acetate (1: 1 by weight), and then uniformly mixed with a mixer to prepare a composition solution. The obtained composition solution was applied onto a peeled polyethylene terephthalate film and dried at 70 ° C. for 5 minutes to obtain a resin layer A having a thickness of 10 μm.

・樹脂層B(オキセタン層)
フェノキシ樹脂60重量部と、オキセタン化合物37.99重量部と、ホスフィンオキサイド化合物0.01重量部と、シランカップリング剤2重量部と、導電性粒子14重量部とを配合して樹脂組成物とした以外は、樹脂層Aの作製処理と同様にして樹脂層Bを得た。
・ Resin layer B (oxetane layer)
A resin composition comprising 60 parts by weight of a phenoxy resin, 37.99 parts by weight of an oxetane compound, 0.01 parts by weight of a phosphine oxide compound, 2 parts by weight of a silane coupling agent, and 14 parts by weight of conductive particles, Except for the above, a resin layer B was obtained in the same manner as in the production process of the resin layer A.

・樹脂層C(硬化剤層)
フェノキシ樹脂60重量部と、エポキシ樹脂34.8重量部と、シランカップリング剤2重量部と、カチオン重合開始剤3.2重量部と、導電性粒子14重量部とを配合して樹脂組成物とした以外は、樹脂層Aの作製処理と同様にして樹脂層Cを得た。
・ Resin layer C (curing agent layer)
A resin composition comprising 60 parts by weight of a phenoxy resin, 34.8 parts by weight of an epoxy resin, 2 parts by weight of a silane coupling agent, 3.2 parts by weight of a cationic polymerization initiator, and 14 parts by weight of conductive particles. Except for the above, a resin layer C was obtained in the same manner as in the resin layer A fabrication process.

・樹脂層D(硬化剤層)
フェノキシ樹脂60重量部と、オキセタン化合物34.8重量部と、シランカップリング剤2重量部と、カチオン重合開始剤3.2重量部と、導電性粒子14重量部とを配合して樹脂組成物とした以外は、樹脂層Aの作製処理と同様にして樹脂層Dを得た。
・ Resin layer D (hardener layer)
A resin composition comprising 60 parts by weight of a phenoxy resin, 34.8 parts by weight of an oxetane compound, 2 parts by weight of a silane coupling agent, 3.2 parts by weight of a cationic polymerization initiator, and 14 parts by weight of conductive particles. A resin layer D was obtained in the same manner as the production process of the resin layer A except that.

Figure 2011049185
Figure 2011049185

次に、作製した樹脂層A〜Dを[表2]に示すようにして組み合わせ、第1樹脂層上に第2樹脂層が積層された厚さ20μmの異方性導電フィルムを作製した(実施例1,2、比較例1〜3)。   Next, the produced resin layers A to D were combined as shown in [Table 2] to produce an anisotropic conductive film having a thickness of 20 μm in which the second resin layer was laminated on the first resin layer (implementation). Examples 1, 2 and Comparative Examples 1-3).

(実施例1)
第1樹脂層である樹脂層A上に第2樹脂層である樹脂層Cを積層して2層の異方性導電フィルムを作製した。
Example 1
A resin layer C as a second resin layer was laminated on the resin layer A as a first resin layer to produce a two-layer anisotropic conductive film.

(実施例2)
第1樹脂層である樹脂層B上に第2樹脂層である樹脂層Cを積層して2層の異方性導電フィルムを作製した。
(Example 2)
A resin layer C as a second resin layer was laminated on a resin layer B as a first resin layer to produce a two-layer anisotropic conductive film.

(比較例1)
第1樹脂層である樹脂層D上に第2樹脂層である樹脂層Dを積層して2層の異方性導電フィルムを作製した。すなわち、比較例1では、樹脂層Dのみにより異方性導電フィルムを構成した。
(Comparative Example 1)
A resin layer D as a second resin layer was laminated on the resin layer D as a first resin layer to produce a two-layer anisotropic conductive film. That is, in Comparative Example 1, an anisotropic conductive film was constituted only by the resin layer D.

(比較例2)
第1樹脂層である樹脂層A上に第2樹脂層である樹脂層Dを積層して2層の異方性導電フィルムを作製した。
(Comparative Example 2)
A two-layer anisotropic conductive film was produced by laminating a resin layer D as a second resin layer on a resin layer A as a first resin layer.

(比較例3)
第1樹脂層である樹脂層B上に第2樹脂層である樹脂層Dを積層して2層の異方性導電フィルムを作製した。
(Comparative Example 3)
A resin layer D as the second resin layer was laminated on the resin layer B as the first resin layer to produce a two-layer anisotropic conductive film.

Figure 2011049185
Figure 2011049185

<ライフ試験>
作製した異方性導電フィルム(実施例1、2及び比較例1〜3)について、ライフ試験を行い、保存安定性を調べた。ライフ試験では、実施例1、2及び比較例1〜3の異方性導電フィルムを55℃で24時間放置し、示差走査熱量測定(DSC)により反応率(%)を算出して保存安定性を評価した。結果を[表3]に示す。[表3]において、○は反応率が低く保存安定性が良好であること、△は反応率が少々高く保存安定性がやや不足すること、×は反応率が非常に高く保存安定性が不十分であることをそれぞれ示す。
<Life test>
About the produced anisotropic conductive film (Example 1, 2 and Comparative Examples 1-3), the life test was done and the storage stability was investigated. In the life test, the anisotropic conductive films of Examples 1 and 2 and Comparative Examples 1 to 3 were allowed to stand at 55 ° C. for 24 hours, the reaction rate (%) was calculated by differential scanning calorimetry (DSC), and the storage stability. Evaluated. The results are shown in [Table 3]. In [Table 3], ◯ indicates that the reaction rate is low and the storage stability is good, Δ indicates that the reaction rate is slightly high and storage stability is slightly insufficient, and × indicates that the reaction rate is very high and storage stability is poor. Show that each is enough.

Figure 2011049185
Figure 2011049185

[表3]より明らかなように、オキセタン化合物とカチオン重合開始剤を層分離し、オキセタン化合物が配合された樹脂層にホスフィンオキサイド化合物を添加した実施例1、2の異方性導電フィルムでは、ライフ試験における反応率が低く、良好な保存安定性が実現されていた。これに対し、1つの層にオキセタン化合物とカチオン重合開始剤を含ませた比較例1〜3の異方性導電フィルムでは、ライフ試験における反応率が高く、保存安定性が不十分であることが確認された。   As is clear from [Table 3], in the anisotropic conductive films of Examples 1 and 2, in which the oxetane compound and the cationic polymerization initiator were separated into layers, and the phosphine oxide compound was added to the resin layer containing the oxetane compound, The reaction rate in the life test was low, and good storage stability was realized. On the other hand, in the anisotropic conductive films of Comparative Examples 1 to 3 in which the oxetane compound and the cationic polymerization initiator are included in one layer, the reaction rate in the life test is high, and the storage stability may be insufficient. confirmed.

<接続試験>
作製した各異方性導電フィルム(実施例1、2及び比較例1〜3)を介し、評価用に作製したフレキシブルプリント配線板とリジッド配線板(基板)とをFOB(Film On Board)実装により接続した。接続後の接続構造体において、導通抵抗値(初期及びエージング後)及び接着強度をそれぞれ比較評価した。評価条件は下記の通りである。
・フレキシブルプリント配線板:3層タイプ(ポリイミド基材22μm厚/Cu配線 18μm厚/表面金メッキ)、0.2mmピッチ(L/S=1/1)
・リジッド配線板:(ガラスエポキシ基材FR−4 1.1mm厚/Cu配線 35μm厚/表面金メッキ)、0.2mmピッチ(L/S=1/1)
・接続条件:加熱温度140℃(15秒)、圧力3MPa
<Connection test>
Via each of the produced anisotropic conductive films (Examples 1 and 2 and Comparative Examples 1 to 3), the flexible printed wiring board and the rigid wiring board (substrate) produced for evaluation were mounted by FOB (Film On Board). Connected. In the connection structure after connection, the conduction resistance value (initial and after aging) and the adhesive strength were comparatively evaluated. The evaluation conditions are as follows.
Flexible printed wiring board: 3 layer type (polyimide substrate 22 μm thickness / Cu wiring 18 μm thickness / surface gold plating), 0.2 mm pitch (L / S = 1/1)
Rigid wiring board: (Glass epoxy substrate FR-4 1.1 mm thickness / Cu wiring 35 μm thickness / surface gold plating), 0.2 mm pitch (L / S = 1/1)
-Connection conditions: heating temperature 140 ° C. (15 seconds), pressure 3 MPa

<測定>
[導通抵抗(初期)]
FOB実装後の接続構造体において、初期抵抗値をデジタルマルチメータを用い4端子法にて測定した。接続抵抗の平均値が50mΩ未満のものを○、50mΩ以上のものを×とした。実施例1,2、比較例1〜3の異方性導電フィルムを使用した接続構造体における結果を[表4]に示す。
<Measurement>
[Conduction resistance (initial)]
In the connection structure after FOB mounting, the initial resistance value was measured by a four-terminal method using a digital multimeter. The average value of connection resistance was less than 50 mΩ, and the value of 50 mΩ or more was rated as x. The results for the connection structures using the anisotropic conductive films of Examples 1 and 2 and Comparative Examples 1 to 3 are shown in [Table 4].

[導通抵抗(エージング後)]
FOB実装後の接続構造体を85℃、85%RHの条件下に500時間放置した後(エージング後)、接続構造体の抵抗値を測定し、初期の導通抵抗値との比が2倍以下であるものを○、2倍を超えて導通抵抗値が上昇したものを×とした。実施例1,2、比較例1〜3の異方性導電フィルムを使用した接続構造体における結果を[表4]に示す。
[Conduction resistance (after aging)]
After the connection structure after mounting the FOB is left for 500 hours under 85 ° C. and 85% RH (after aging), the resistance value of the connection structure is measured, and the ratio with the initial conduction resistance value is less than twice. A case where the conduction resistance value increased by more than 2 times was evaluated as x. The results for the connection structures using the anisotropic conductive films of Examples 1 and 2 and Comparative Examples 1 to 3 are shown in [Table 4].

[接着強度]
リジッド配線板を固定し、フレキシブルプリント配線板を90°方向に50mm/分の速度で引き剥がした時のピール強度(N/cm)を異方性導電フィルムの接着強度(N/cm)として測定した。実施例1,2、比較例1〜3の異方性導電フィルムを使用した接続構造体における結果を[表4]に示す。
[Adhesive strength]
The peel strength (N / cm) when the rigid wiring board is fixed and the flexible printed wiring board is peeled off at a speed of 50 mm / min in the 90 ° direction is measured as the adhesive strength (N / cm) of the anisotropic conductive film. did. The results for the connection structures using the anisotropic conductive films of Examples 1 and 2 and Comparative Examples 1 to 3 are shown in [Table 4].

Figure 2011049185
Figure 2011049185

[表4]から明らかなように、実施例1、2の異方性導電フィルムにおいては、低温接続であっても、高い接着強度が得られた。また、初期、エージング後ともに導通抵抗は低く導通信頼性も良好であった。これは、反応主剤であるオキセタン化合物と硬化剤であるカチオン系重合開始剤とを別々の層に含有させたためと考えられる。このように、実施例1、2の異方性導電フィルムにおいては、接続構造体における異方性導電フィルムの接着信頼性、導通信頼性といった基本性能も十分であることが確認された。   As is clear from [Table 4], in the anisotropic conductive films of Examples 1 and 2, high adhesive strength was obtained even at low temperature connection. In addition, the conduction resistance was low both in the initial stage and after aging, and the conduction reliability was good. This is presumably because the oxetane compound as the main reaction agent and the cationic polymerization initiator as the curing agent were contained in separate layers. Thus, in the anisotropic conductive films of Examples 1 and 2, it was confirmed that the basic performances such as adhesion reliability and conduction reliability of the anisotropic conductive film in the connection structure were sufficient.

1 異方性導電フィルム、1A 第1の樹脂層、1B 第2の樹脂層、2 配線板、3 電子部材 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Anisotropic conductive film, 1A 1st resin layer, 1B 2nd resin layer, 2 Wiring board, 3 Electronic member

Claims (7)

オキセタン化合物を含有する第1の樹脂層と、
カチオン重合開始剤を含有する第2の樹脂層とが積層されてなり、
前記第1の樹脂層及び前記第2の樹脂層のうちの少なくとも一方が導電性粒子を含有する異方性導電フィルムであって、
前記第1の樹脂層又は前記第2の樹脂層は、ホスフィンオキサイド化合物を含有することを特徴とする異方性導電フィルム。
A first resin layer containing an oxetane compound;
A second resin layer containing a cationic polymerization initiator is laminated,
At least one of the first resin layer and the second resin layer is an anisotropic conductive film containing conductive particles,
The anisotropic conductive film, wherein the first resin layer or the second resin layer contains a phosphine oxide compound.
前記第1の樹脂層が前記ホスフィンオキサイド化合物を含有することを特徴とする請求項1記載の異方性導電フィルム。   The anisotropic conductive film according to claim 1, wherein the first resin layer contains the phosphine oxide compound. 前記第1の樹脂層は、熱可塑性樹脂とオキセタン化合物以外の熱硬化性樹脂とを含有することを特徴とする請求項1又は請求項2記載の異方性導電フィルム。   The anisotropic conductive film according to claim 1 or 2, wherein the first resin layer contains a thermoplastic resin and a thermosetting resin other than an oxetane compound. 前記第2の樹脂層は、熱可塑性樹脂と熱硬化性樹脂とを含有することを特徴とする請求項1乃至請求項3の何れか1項記載の異方性導電フィルム。   The anisotropic conductive film according to claim 1, wherein the second resin layer contains a thermoplastic resin and a thermosetting resin. 前記第2の樹脂層は、前記熱硬化性樹脂としてエポキシ樹脂を含有することを特徴とする請求項4記載の異方性導電フィルム。   The anisotropic conductive film according to claim 4, wherein the second resin layer contains an epoxy resin as the thermosetting resin. 異方性導電フィルムを介して配線板の電極と電子部材の電極とを接続してなる接続構造体の製造方法において、
配線板と異方性導電フィルムと電子部材とを順次重ねて配置して熱加圧を行うことにより該配線板の電極と該電子部材の電極とを接続する接続工程を有し、
前記異方性導電フィルムとして、オキセタン化合物を含有する第1の樹脂層と、カチオン重合開始剤を含有する第2の樹脂層とが積層されてなり、前記第1の樹脂層及び前記第2の樹脂層のうちの少なくとも一方が導電性粒子を含有し、前記第1の樹脂層又は前記第2の樹脂層が、ホスフィンオキサイド化合物を含有する異方性導電フィルムを用いることを特徴とする接続構造体の製造方法。
In the manufacturing method of the connection structure formed by connecting the electrode of the wiring board and the electrode of the electronic member through the anisotropic conductive film,
Having a connection step of connecting the electrode of the wiring board and the electrode of the electronic member by placing the wiring board, the anisotropic conductive film and the electronic member one after another and performing thermal pressing;
As the anisotropic conductive film, a first resin layer containing an oxetane compound and a second resin layer containing a cationic polymerization initiator are laminated, and the first resin layer and the second resin layer are laminated. At least one of the resin layers contains conductive particles, and the first resin layer or the second resin layer uses an anisotropic conductive film containing a phosphine oxide compound. Body manufacturing method.
前記接続工程では、前記第2の樹脂層の前記第1の樹脂層と接する面とは反対の面側から熱加圧ヘッドにより前記熱加圧を行うことを特徴とする請求項6記載の接続構造体の製造方法。   7. The connection according to claim 6, wherein, in the connecting step, the thermal pressurization is performed by a thermal pressurization head from a surface opposite to a surface in contact with the first resin layer of the second resin layer. Manufacturing method of structure.
JP2010260209A 2010-11-22 2010-11-22 Anisotropic conductive film and manufacturing method of connection structure using the same Active JP5671313B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010260209A JP5671313B2 (en) 2010-11-22 2010-11-22 Anisotropic conductive film and manufacturing method of connection structure using the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010260209A JP5671313B2 (en) 2010-11-22 2010-11-22 Anisotropic conductive film and manufacturing method of connection structure using the same

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011049185A true JP2011049185A (en) 2011-03-10
JP5671313B2 JP5671313B2 (en) 2015-02-18

Family

ID=43835283

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010260209A Active JP5671313B2 (en) 2010-11-22 2010-11-22 Anisotropic conductive film and manufacturing method of connection structure using the same

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5671313B2 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017082144A (en) * 2015-10-30 2017-05-18 京セラ株式会社 Thermosetting multilayer adhesive sheet and adhesive method
CN115847954A (en) * 2022-12-20 2023-03-28 宁波甬强科技有限公司 Preparation method of copper-clad plate

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005197032A (en) * 2004-01-05 2005-07-21 Asahi Kasei Electronics Co Ltd Anisotropic conductive film
JP2010206209A (en) * 2010-03-15 2010-09-16 Sony Chemical & Information Device Corp Connection structure
JP2010251789A (en) * 2010-06-22 2010-11-04 Sony Chemical & Information Device Corp Junction and method of manufacturing the same
JP2010248500A (en) * 2009-03-25 2010-11-04 Denki Kagaku Kogyo Kk Energy ray curable resin composition, adhesive and cured product using the same

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005197032A (en) * 2004-01-05 2005-07-21 Asahi Kasei Electronics Co Ltd Anisotropic conductive film
JP2010248500A (en) * 2009-03-25 2010-11-04 Denki Kagaku Kogyo Kk Energy ray curable resin composition, adhesive and cured product using the same
JP2010206209A (en) * 2010-03-15 2010-09-16 Sony Chemical & Information Device Corp Connection structure
JP2010251789A (en) * 2010-06-22 2010-11-04 Sony Chemical & Information Device Corp Junction and method of manufacturing the same

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017082144A (en) * 2015-10-30 2017-05-18 京セラ株式会社 Thermosetting multilayer adhesive sheet and adhesive method
CN115847954A (en) * 2022-12-20 2023-03-28 宁波甬强科技有限公司 Preparation method of copper-clad plate

Also Published As

Publication number Publication date
JP5671313B2 (en) 2015-02-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI445017B (en) Conductive particles, a method for producing conductive particles, a conductive material, and a connecting structure
KR100559153B1 (en) Method for connecting electrodes, surface-treated wiring board and adhesive film used in the method, and electrodes-connected structure
KR20110056555A (en) Adhesive film
JP5441954B2 (en) Adhesive film for circuit connection, circuit connection structure using the same, and circuit member connection method
JP2012021140A (en) Circuit connecting adhesive film, circuit connecting structure using the same, and connecting method of circuit member
JP2014084400A (en) Adhesive film
JP6496431B2 (en) Conductive material and connection structure
JP5883679B2 (en) Method for manufacturing connection structure, anisotropic conductive material, and connection structure
JP5671313B2 (en) Anisotropic conductive film and manufacturing method of connection structure using the same
JP5613220B2 (en) Electronic component connection material and connection structure
JP5485222B2 (en) Adhesive film for circuit connection, circuit connection structure using the same, and circuit member connection method
JP5206840B2 (en) Adhesive film for circuit connection, circuit connection structure using the same, and circuit member connection method
JP5482143B2 (en) Conductive connection material, connection method between terminals, and manufacturing method of connection terminals
KR102758192B1 (en) Adhesive composition
JP5581734B2 (en) Conductive connection sheet, connection method between terminals, formation method of connection terminal, semiconductor device and electronic device
JP5223946B2 (en) Adhesive film for circuit connection, circuit connection structure using the same, and circuit member connection method
JP2014067998A (en) Conductive connection sheet, inter-terminal connection method, method of forming connection and electronic apparatus
JP5381774B2 (en) Method for forming solder layer, method for connecting terminals, semiconductor device and electronic device
JP5263121B2 (en) Manufacturing method of semiconductor device and manufacturing method of electronic component
JP2011165954A (en) Conductive connection material, connection method between terminals, method of manufacturing connection terminal, electronic member, and electric and electronic component
CN107636772A (en) Conductive material and connection structure
JP6398416B2 (en) Connection structure manufacturing method and connection structure
JP5533041B2 (en) Method for manufacturing conductive connection material, semiconductor device, and electronic apparatus
JP5381783B2 (en) Conductive connection sheet, connection method between terminals, formation method of connection terminal, semiconductor device and electronic device
JP2011181703A (en) Method of manufacturing conductive connection sheet, method of connecting terminals, method of forming connection terminal, semiconductor device, and electronic equipment

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20131108

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20140717

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140729

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140929

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20141125

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20141219

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5671313

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250