JP2010519362A - シロキサンポリマーの製造方法 - Google Patents
シロキサンポリマーの製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2010519362A JP2010519362A JP2009550337A JP2009550337A JP2010519362A JP 2010519362 A JP2010519362 A JP 2010519362A JP 2009550337 A JP2009550337 A JP 2009550337A JP 2009550337 A JP2009550337 A JP 2009550337A JP 2010519362 A JP2010519362 A JP 2010519362A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- unsubstituted
- substituted
- polymer
- silicon
- alkyl
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09D—COATING COMPOSITIONS, e.g. PAINTS, VARNISHES OR LACQUERS; FILLING PASTES; CHEMICAL PAINT OR INK REMOVERS; INKS; CORRECTING FLUIDS; WOODSTAINS; PASTES OR SOLIDS FOR COLOURING OR PRINTING; USE OF MATERIALS THEREFOR
- C09D183/00—Coating compositions based on macromolecular compounds obtained by reactions forming in the main chain of the macromolecule a linkage containing silicon, with or without sulfur, nitrogen, oxygen, or carbon only; Coating compositions based on derivatives of such polymers
- C09D183/04—Polysiloxanes
- C09D183/06—Polysiloxanes containing silicon bound to oxygen-containing groups
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08G—MACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
- C08G77/00—Macromolecular compounds obtained by reactions forming a linkage containing silicon with or without sulfur, nitrogen, oxygen or carbon in the main chain of the macromolecule
- C08G77/04—Polysiloxanes
- C08G77/06—Preparatory processes
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08G—MACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
- C08G77/00—Macromolecular compounds obtained by reactions forming a linkage containing silicon with or without sulfur, nitrogen, oxygen or carbon in the main chain of the macromolecule
- C08G77/04—Polysiloxanes
- C08G77/32—Post-polymerisation treatment
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C08—ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
- C08L—COMPOSITIONS OF MACROMOLECULAR COMPOUNDS
- C08L83/00—Compositions of macromolecular compounds obtained by reactions forming in the main chain of the macromolecule a linkage containing silicon with or without sulfur, nitrogen, oxygen or carbon only; Compositions of derivatives of such polymers
- C08L83/04—Polysiloxanes
- C08L83/06—Polysiloxanes containing silicon bound to oxygen-containing groups
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/075—Silicon-containing compounds
- G03F7/0752—Silicon-containing compounds in non photosensitive layers or as additives, e.g. for dry lithography
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/09—Photosensitive materials characterised by structural details, e.g. supports, auxiliary layers
- G03F7/091—Photosensitive materials characterised by structural details, e.g. supports, auxiliary layers characterised by antireflection means or light filtering or absorbing means, e.g. anti-halation, contrast enhancement
-
- H10P14/6342—
-
- H10P14/6686—
-
- H10P14/6922—
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Polymers & Plastics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Wood Science & Technology (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Architecture (AREA)
- Structural Engineering (AREA)
- Silicon Polymers (AREA)
- Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
Description
該シランポリマーは、少なくとも一つのSi−OH基、少なくとも一つのSi−OR基(Rは水素以外の要素である)、好ましくは及び少なくとも一つの吸収性発色団、及び構造(1)及び構造(2)から選択される少なくとも一つの要素を含み:
該方法は、水/アルコール混合物中または一つまたはそれ以上のアルコール中のいずれかで、加水分解触媒の存在下に一つまたはそれ以上のシラン反応体を一緒に反応させてシロキサンポリマーを生成し、そして水/アルコール混合物または一つまたはそれ以上のアルコールからシロキサンポリマーを分離することを含む。
-(R1SiOh/2)-及び-(R2SiOh/2)- (i)(hは1、2または3である)
-(R'(R'')SiOx)- (ii)
前記式中、R1は、独立して、構造(1)及び構造(2)から選択される要素である。
-(A1R1SiOx)- (iii)、及び
-(A2R2SiOx)- (iv)
前記式中、R1は、構造(1)及び構造(2)から選択される要素である。
-(R3SiOh/2)- (v)
式中、hは1、2または3であり: そしてR3は、独立して、ヒドロキシル、水素、ハライド、アルキル、OR4、OC(O)R4、置換されていないかもしくは置換されているアルキルケトキシム、置換されていないかもしくは置換されているアリール、置換されていないかもしくは置換されているアルキルアリール、置換されていないかもしくは置換されているアルコキシ、置換されていないかもしくは置換されているアシル、及び置換されていないかもしくは置換されているアシルオキシであり、ここでR4は、置換されていないかもしくは置換されているアルキル、置換されていないアリール及び置換されているアリールから選択される;
-(SiO4/2)- (vi)
-((A1)A2SiOx)- (vii)
式中、X=1/2または1であり、A1及びA2は、独立して、ヒドロキシル、水素、ハライド、アルキル、OR4、OC(O)R4、置換されていないかもしくは置換されているアルキルケトキシム、置換されていないかもしくは置換されているアリール、置換されていないかもしくは置換されているアルコキシ、置換されていないかもしくは置換されているアルキルアリール、置換されていないかもしくは置換されているアシル、及び置換されていないかもしくは置換されているアシルオキシである; 並びにこれらの単位の混合物;
-(R5SiOh/2)- (viii)
式中、hは、1、2または3であり; そしてR5は、構造(1)もしくは構造(2)の自己架橋性基及び吸収性発色団を含む要素であり、
-(R1SiO3/2)a(R2SiO3/2)b(R3SiO3/2)c(SiO4/2)d-
式中、R1は、独立して、構造(1)及び構造(2)から選択される要素であり;
[発明の詳細な説明]
本発明は、水/アルコール混合物中または一つまたはそれ以上のアルコール中のいずれかで加水分解触媒の存在下に一つまたはそれ以上のシラン反応体を一緒に反応させてシロキサンポリマーを生成し、そして水/アルコール混合物または一つまたはそれ以上のアルコールからこのシロキサンポリマーを分離することを含む、少なくとも一つのSi−OH基及び少なくとも一つのSi−OR基を含むシロキサンポリマーを製造する方法に関する。ここで、Rは、水素以外の要素である。
該シランポリマーは、少なくとも一つのSi−OH基、少なくとも一つのSi−OR基(Rは水素以外の要素である)、少なくとも一つの吸収性発色団、及び構造(1)及び構造(2)から選択される少なくとも一つの要素を含み:
該方法は、水/アルコール混合物中または一つまたはそれ以上のアルコール中のいずれかで、加水分解触媒の存在下に一つまたはそれ以上のシラン反応体を一緒に反応させてシロキサンポリマーを生成し、そして水/アルコール混合物または一つまたはそれ以上のアルコールからシロキサンポリマーを分離することを含む、
前記方法が提供される。
-(R1SiOh/2)-及び-(R2SiOh/2)- (i)(hは1、2または3である)
-(R'(R'')SiOx)- (ii)
前記式中、R1は、独立して、構造(1)及び構造(2)から選択される要素である。
-(A1R1SiOx)- (iii)及び
-(A2R2SiOx)- (iv)
式中、R1は、構造(1)及び構造(2)から選択される要素であり、
-(R3SiOh/2)- (v)
式中、hは、1、2または3であり; そしてR3は、独立して、ヒドロキシル、水素、ハライド、アルキル、OR4、OC(O)R4、置換されていないかもしくは置換されているアルキルケトキシム、置換されていないかもしくは置換されているアリール、置換されていないかもしくは置換されているアルキルアリール、置換されていないかもしくは置換されているアルコキシ、置換されていないかもしくは置換されているアシル及び置換されていないかもしくは置換されているアシルオキシであり、ここでR4は、置換されていないかもしくは置換されているアルキル、置換されていないアリール及び置換されているアリールから選択される;
-(SiO4/2)- (vi)
-((A1)A2SiOx)- (vii)
式中、x=1/2または1であり、A1及びA2は、独立して、ヒドロキシル、水素、ハライド、アルキル、OR4、OC(O)R4、置換されていないかもしくは置換されているアルキルケトキシム、置換されていないかもしくは置換されているアリール、置換されていないかもしくは置換されているアルコキシ、置換されていないかもしくは置換されているアルキルアリール、置換されていないかもしくは置換されているアシル、及び置換されていないかもしくは置換されているアシルオキシである; 並びにこれらの単位の混合物;
-(R5SiOh/2)- (viii)
式中、hは、1、2または3であり; そしてR5は、構造(1)または構造(2)の自己架橋性基及び吸収性発色団を含む要素であり、
-(R1SiO3/2)a(R2SiO3/2)b(R3SiO3/2)c(SiO4/2)d-
式中、R1は、独立して、構造(1)及び構造(2)から選択される要素であり、
-(R1SiO3/2)a(R2SiO3/2)b(R3SiO3/2)c(SiO4/2)d-
式中、R1は、独立して、構造(1)及び構造(2)から選択される要素であり、
(a) ジメトキシシラン、ジエトキシシラン、ジプロポキシシラン、ジフェニルオキシシラン、メトキシエトキシシラン、メトキシプロポキシシラン、メトキシフェニルオキシシラン、エトキシプロポキシシラン、エトキシフェニルオキシシラン、メチルジメトキシシラン、メチルメトキシエトキシシラン、メチルジエトキシシラン、メチルメトキシプロポキシシラン、メチルメトキシフェニルオキシシラン、エチルジプロポキシシラン、エチルメトキシプロポキシシラン、エチルジフェニルオキシシラン、プロピルジメトキシシラン、プロピルメトキシエトキシシラン、プロピルエトキシプロポキシシラン、プロピルジエトキシシラン、プロピルジフェニルオキシシラン、ブチルジメトキシシラン、ブチルメトキシエトキシシラン、ブチルジエトキシシラン、ブチルエトキシプロポキシシラン、ブチルジプロポキシシラン、ブチルメチルフェニルオキシシラン、ジメチルジメトキシシラン、ジメチルメトキシエトキシシラン、ジメチルジエトキシシラン、ジメチルジフェニルオキシシラン、ジメチルエトキシプロポキシシラン、ジメチルジプロポキシシラン、ジエチルジメトキシシラン、ジエチルメトキシプロポキシシラン、ジエチルジエトキシシラン、ジエチルエトキシプロポキシシラン、ジプロピルジメトキシシラン、ジプロピルジエトキシシラン、ジプロピルジフェニルオキシシラン、ジブチルジメトキシシラン、ジブチルジエトキシシラン、ジブチルジプロポキシシラン、ジブチルメトキシフェニルオキシシラン、メチルエチルジメトキシシラン、メチルエチルジエトキシシラン、メチルエチルジプロポキシシラン、メチルエチルジフェニルオキシシラン、メチルプロピルジメトキシシラン、メチルプロピルジエトキシシラン、メチルブチルジメトキシシラン、メチルブチルジエトキシシラン、メチルブチルジプロポキシシラン、メチルエチルエトキシプロポキシシラン、エチルプロピルジメトキシシラン、エチルプロピルメトキシエトキシシラン、ジプロピルジメトキシシラン、ジプロピルメトキシエトキシシラン、プロピルブチルジメトキシシラン、プロピルブチルジエトキシシラン、ジブチルメトキシエトキシシラン、ジブチルメトキシプロポキシシラン、ジブチルエトキシプロポキシシラン、トリメトキシシラン、トリエトキシシラン、トリプロポキシシラン、トリフェニルオキシシラン、ジメトキシモノエトキシシラン、ジエトキシモノメトキシシラン、ジプロポキシモノメトキシシラン、ジプロポキシモノエトキシシラン、ジフェニルオキシモノメトキシシラン、ジフェニルオキシモノエトキシシラン、ジフェニルオキシモノプロポキシシラン、メトキシエトキシプロポキシシラン、モノプロポキシジメトキシシラン、モノプロポキシジエトキシシラン、モノブトキシジメトキシシラン、モノフェニルオキシジエトキシシラン、メチルトリメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、メチルトリプロポキシシラン、エチルトリメトキシシラン、エチルトリプロポキシシラン、エチルトリフェニルオキシシラン、プロピルトリメトキシシラン、プロピルトリエトキシシラン、プロピルトリフェニルオキシシラン、ブチルトリメトキシシラン、ブチルトリエトキシシラン、ブチルトリプロポキシシラン、ブチルトリフェニルオキシシラン、メチルモノメトキシジエトキシシラン、エチルモノメトキシジエトキシシラン、プロピルモノメトキシジエトキシシラン、ブチルモノメトキシジエトキシシラン、メチルモノメトキシジプロポキシシラン、メチルモノメトキシジフェニルオキシシラン、エチルモノメトキシジプロポキシシラン、エチルモノメトキシジフェニルオキシシラン、プロピルモノメトキシジプロポキシシラン、プロピルモノメトキシジフェニルオキシシラン、ブチルモノメトキシジプロポキシシラン、ブチルモノメトキシジフェニルオキシシラン、メチルメトキシエトキシプロポキシシラン、プロピルメトキシエトキシプロポキシシラン、ブチルメトキシエトキシプロポキシシラン、メチルモノメトキシモノエトキシブトキシシラン、エチルモノメトキシモノエトキシモノブトキシシラン、プロピルモノメトキシモノエトキシモノブトキシシラン、ブチルモノメトキシモノエトキシモノブトキシシラン、テトラメトキシシラン、テトラエトキシシラン、テトラプロポキシシラン、テトラブトキシシラン、テトラフェニルオキシシラン、トリメトキシモノエトキシシラン、ジメトキシジエトキシシラン、トリエトキシモノメトキシシラン、トリメトキシモノプロポキシシラン、モノメトキシトリブトキシシラン、モノメトキシトリフェニルオキシシラン、ジメトキシジプロポキシシラン、トリプロポキシモノメトキシシラン、トリメトキシモノブトキシシラン、ジメトキシジブトキシシラン、トリエトキシモノプロポキシシラン、ジエトキシジプロポキシシラン、トリブトキシモノプロポキシシラン、ジメトキシモノエトキシモノブトキシシラン、ジエトキシモノメトキシモノブトキシシラン、ジエトキシモノプロポキシモノブトキシシラン、ジプロポキシモノメトキシモノエトキシシラン、ジプロポキシモノメトキシモノブトキシシラン、ジプロポキシモノエトキシモノブトキシシラン、ジブトキシモノメトキシモノエトキシシラン、ジブトキシモノエトキシモノプロポキシシラン及びモノメトキシモノエトキシモノプロポキシモノブトキシシラン、及びこれらのオリゴマー。
(b) ハロシラン類、例えばクロロシラン類、例えばトリクロロシラン、メチルトリクロロシラン、エチルトリクロロシラン、フェニルトリクロロシラン、テトラクロロシラン、ジクロロシラン、メチルジクロロシラン、ジメチルジクロロシラン、クロロトリエトキシシラン、クロロトリメトキシシラン、クロロメチルトリエトキシシラン、クロロエチルトリエトキシシラン、クロロフェニルトリエトキシシラン、クロロメチルトリメトキシシラン、クロロエチルトリメトキシシラン、及びクロロフェニルトリメトキシシランもシラン反応体として使用される。加えて、加水分解及び縮合反応をし得るシラン類、例えばアシルオキシシラン類、またはアルキルケトキシムシラン類もシラン反応体として使用される。
(c) エポキシ官能基を有するシラン類には、2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチル−トリメトキシシラン、2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチル−トリエトキシシラン、2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチル−トリプロポキシシラン、2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチル−トリフェニルオキシシラン、2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチル−ジエトキシメトキシシラン、2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチル−ジメトキシエトキシシラン、2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチル−トリクロロシラン、2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチル−トリアセトキシシラン、(グリシジルオキシプロピル)−トリメトキシシラン、(グリシジルオキシプロピル)−トリエトキシシラン、(グリシジルオキシプロピル)−トリプロポキシシラン、(グリシジルオキシプロピル)−トリフェニルオキシシラン、(グリシジルオキシプロピル)−ジエトキシメトキシシラン、(グリシジルオキシプロピル)−ジメトキシエトキシシラン、(グリシジルオキシプロピル)−トリクロロシラン、及び(グリシジルオキシプロピル)−トリアセトキシシランなどが挙げられる。
(d)シラン含有発色団官能基には、フェニルジメトキシシラン、フェニルメトキシエトキシシラン、フェニルジエトキシシラン、フェニルメトキシプロポキシシラン、フェニルメトキシフェニルオキシシラン、フェニルジプロポキシシラン、アントラシルジメトキシシラン、アントラシルジエトキシシラン、メチルフェニルジメトキシシラン、メチルフェニルジエトキシシラン、メチルフェニルジプロポキシシラン、メチルフェニルジフェニルオキシシラン、エチルフェニルジメトキシシラン、エチルフェニルジエトキシシラン、メチルアントラシルジメトキシシラン、エチルアントラシルジエトキシシラン、プロピルアントラシルジプロポキシシラン、メチルフェニルエトキシプロポキシシラン、エチルフェニルメトキシエトキシシラン、ジフェニルジメトキシシラン、ジフェニルメトキシエトキシシラン、フェニルトリメトキシシラン、フェニルトリエトキシシラン、フェニルトリプロポキシシラン、アントラシルトリメトキシシラン、アントラシルトリプロポキシシラン、フェニルトリフェニルオキシシラン、フェニルモノメトキシジエトキシシラン、アントラシルモノメトキシジエトキシシラン、フェニルモノメトキシジプロポキシシラン、フェニルモノメトキシジフェニルオキシシラン、アントラシルモノメトキシジプロポキシシラン、アントラシルモノメトキシジフェニルオキシシラン、フェニルメトキシエトキシプロポキシシラン、アントラシルメトキシエトキシプロポキシシラン、フェニルモノメトキシモノエトキシモノブトキシシラン、及びアントラシルモノメトキシモノエトキシモノブトキシシラン、並びにこれらのオリゴマーなどが挙げられる。
磁気スターラー、温度計及び冷却器を備えた三首100mL丸底フラスコに、7.00gの2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチル−トリメトキシシラン(28mmol)、1.70gのフェニルトリメトキシシラン(9mmol)、及び0.9gのメチルトリメトキシシラン(7mmol)を仕込んだ。このフラスコに、1.18gの脱イオン水、0.40gの酢酸、及び3.54gのイソプロパノールからなる混合物を加えた。得られた混合物を還流温度に加熱しそしてその温度に3時間維持した。次いで、この混合物を室温に冷却した。溶剤を減圧下に除去して7.76gの無色の液状樹脂を得た。重量平均分子量は、ポリスチレン標準を用いてゲル透過クロマトグラフィによって測定して約13,450g/moであった。
磁気スターラー、温度計及び冷却器を備えた三首100mL丸底フラスコに、7.00gの2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチル−トリメトキシシラン(28mmol)、1.70gのフェニルトリメトキシシラン(9mmol)及び0.9gのメチルトリメトキシシラン(7mmol)を仕込んだ。このフラスコに、1.18gの脱イオン水、0.40gの酢酸及び3.54gのTHFからなる混合物を加えた。得られた混合物を還流温度に加熱しそしてその温度に3時間維持した。次いで、この混合物を室温に冷却した。溶剤を減圧下に除去して7.76gの無色の液状樹脂を得た。重量平均分子量は、ポリスチレン標準を用いてゲル透過クロマトグラフィによって測定して約131,610g/molであった。
磁気スターラー、温度計及び冷却器を備えた三首250mL丸底フラスコに、35.00gの2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチル−トリメトキシシラン(142mmol)、8.50gのフェニルトリメトキシシラン(43mmol)及び4.50gのメチルトリメトキシシラン(33mmol)を仕込んだ。このフラスコに、5.90gの脱イオン水、2.00gの酢酸及び17.7gのイソプロパノールからなる混合物を加えた。得られた混合物を還流温度に加熱しそしてその温度に3時間維持した。次いで、この混合物を室温に冷却した。溶剤を減圧下に除去して41.0gの無色の液状樹脂を得た。重量平均分子量は、ポリスチレン標準を用いてゲル透過クロマトグラフィによって測定して約9,570g/molであった。
磁気スターラー、温度計及び冷却器を備えた三首100mL丸底フラスコに、35.00gの2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチル−トリメトキシシラン(142mmol)、8.50gのフェニルトリメトキシシラン(43mmol)及び4.50gのメチルトリメトキシシラン(33mmol)を仕込んだ。このフラスコに、7.90gの脱イオン水、2.00gの酢酸及び23.70gのTHFからなる混合物を加えた。得られた混合物を還流温度に加熱しそしてその温度に3時間維持した。次いで、この混合物を室温に冷却した。このポリマーは、減圧下60℃で溶剤を除去する間にゲル化した。
磁気スターラー、温度計及び冷却器を備えた三首250mL丸底フラスコに、28.00gの3−(トリメトキシシリル)プロピルメタクリレート(113mmol)、6.50gのフェニルトリメトキシシラン(33mmol)及び2.00gのメチルトリメトキシシラン(15mmol)を仕込んだ。このフラスコに、4.40gの脱イオン水、1.50gの酢酸及び14.10gのイソプロパノールからなる混合物を加えた。得られた混合物を還流温度に加熱しそしてその温度に1.5時間維持した。次いで、この混合物を室温に冷却した。溶剤を減圧下に除去して28.86gの無色の液状樹脂を得た。重量平均分子量は、ポリスチレン標準を用いてゲル透過クロマトグラフィによって測定して約2,920g/molであった。
磁気スターラー、温度計及び冷却器を備えた三首250mL丸底フラスコに、9.00gの2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチル−トリメトキシシラン(37mmol)、7.20gのフェニルトリメトキシシラン(36mmol)、11.50gのアセトキシエチルトリメトキシシラン(55mmol)及び9.00gのトリエトキシシラン(55mmol)を仕込んだ。このフラスコに、5.00gの脱イオン水、1.60gの酢酸及び15gのイソプロパノールからなる混合物を加えた。得られた混合物を還流温度に加熱しそしてその温度に3時間維持した。次いで、この混合物を室温に冷却した。揮発分を減圧下に除去した。重量平均分子量は、ポリスチレン標準を用いてゲル透過クロマトグラフィによって測定して約18,950g/molであった。
磁気スターラー、温度計及び冷却器を備えた三首250mL丸底フラスコに、18.00gのアセトキシエチルトリメトキシシラン(86mmol)、9.00gのフェニルトリメトキシシラン(45mmol)及び16.00gのトリエトキシシラン(97mmol)を仕込んだ。このフラスコに、6.30gの脱イオン水、2.00gの酢酸及び19gのイソプロパノールからなる混合物を加えた。得られた混合物を還流温度に加熱しそしてその温度に3時間維持した。次いで、この混合物を室温に冷却した。溶剤を減圧下に除去して27.64gの無色の液状樹脂を得た。重量平均分子量は、ポリスチレン標準を用いてゲル透過クロマトグラフィによって測定して約3,070g/molであった。
磁気スターラー、温度計及び冷却器を備えた三首250mL丸底フラスコに、12.20gの2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチル−トリメトキシシラン(50mmol)及び10.00gのフェニルトリメトキシシラン(50mmol)を仕込んだ。このフラスコに、15.00gの脱イオン水、2.50gの酢酸及び53.70gのプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート(PGMEA)及びプロピレングリコールモノメチルエーテル(PGME)からなる混合物(PGMEA:PGME=70:30)を加えた。得られた混合物を還流温度に加熱した。30分後、31.50gのテトラエトキシシラン(151mmol)を滴下した。この混合物を還流温度に6時間維持した。次いで、この混合物を室温に冷却した。重量平均分子量は、ポリスチレン標準を用いてゲル透過クロマトグラフィによって測定して約55,330g/molであった。
例2で製造した3.0gのエポキシシロキサンポリマー及び0.03gのジフェニルヨードニウムシクロ(1,3−パーフルオロプロパンジスルホン)イミデートを、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート(PGMEA)とプロピレングリコールモノメチルエーテル(PGME)との混合物(70/30 PGMEA/PGME)中に溶解して全固形物含有率を5.5重量%とし、そして0.2μmメンブレンフィルタを用いて濾過して、均一な溶液を生成した。この均一溶液を1500rpmでケイ素ウェハ上にスピンコートした。この被覆されたウェハをホットプレートで240℃で60秒間ベーク処理した。次いで、J.A.Woollam Co.Inc.製のVASEエリプソメータを用いてn及びk値を測定した。193nm放射線の場合のこのSi含有フィルムの光学定数n及びkはそれぞれ1.72及び0.22であった。重量平均分子量は、ポリスチレン標準を用いてゲル透過クロマトグラフィによって測定して約4,140g/molであった。
磁気スターラー、温度計及び冷却器を備えた三首250mL丸底フラスコに、36.00gの2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチル−トリメトキシシラン(146mmol)、14.40gのフェニルトリメトキシシラン(73mmol)、5.00gのメチルトリメトキシシラン(37mmol)及び18.00gのトリエトキシシランを仕込んだ。このフラスコに、10.00gの脱イオン水、3.20gの酢酸及び30.00gのイソプロパノールからなる混合物を加えた。得られた混合物を還流温度に加熱しそしてその温度に3時間維持した。次いで、この混合物を室温に冷却した。溶剤を減圧下に除去して58.68gの無色の液状ポリマーを得た。
磁気スターラー、温度計及び冷却器を備えた三首500mL丸底フラスコに、136.1gの2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチル−トリメトキシシラン(552mmol)、68.0gのフェニルトリメトキシシラン(343mmol)及び136.0gのメチルトリメトキシシラン(1.0mol)を仕込んだ。このフラスコに、43.0gの脱イオン水、18.0gの酢酸及び127gのイソプロパノールからなる混合物を加えた。得られた混合物を還流温度に加熱しそしてその温度に3時間維持した。次いで、この混合物を室温に冷却した。溶剤を減圧下に除去して258.7gの無色の液状ポリマーを得た。重量平均分子量は、ポリスチレン標準を用いてゲル透過クロマトグラフィによって測定して約7,700g/molであった。
磁気スターラー、温度計及び冷却器を備えた三首250mL丸底フラスコに、35.0gの2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチル−トリメトキシシラン(142mmol)、8.5gのフェニルトリメトキシシラン(43mmol)及び4.5gのトリエトキシシラン(27mmol)を仕込んだ。このフラスコに、5.9gの脱イオン水、2.0gの酢酸及び17gのイソプロパノールからなる混合物を加えた。得られた混合物を還流温度に加熱しそしてその温度に3時間維持した。次いで、この混合物を室温に冷却した。溶剤を減圧下に除去して41.98gの無色の液状ポリマーを得た。重量平均分子量は、ポリスチレン標準を用いてゲル透過クロマトグラフィによって測定して約4,490g/molであった。
磁気スターラー、温度計及び冷却器を備えた三首100mL丸底フラスコに、7.56gの(3−グリシジルオキシプロピル)トリメトキシシラン(32mmol)及び1.89gのトリメトキシ(2−フェニルエチル)シラン(8mmol)を仕込んだ。このフラスコに、1.09gの脱イオン水、0.25gの酢酸及び2.50gのイソプロパノールからなる混合物を加えた。得られた混合物を還流温度に加熱し、そしてその温度に5時間維持した。次いで、この混合物を室温に冷却した。溶剤を減圧下に除去して4.21gの無色の液状ポリマーを得た。
Claims (12)
- 少なくとも一つのSi−OH基及び少なくとも一つのSi−OR基(式中、Rは水素以外の要素である)を含むシロキサンポリマーの製造方法であって、一つもしくはそれ以上のシラン反応体を、水/アルコール混合物中でまたは一つもしくはそれ以上のアルコール中のいずれかで加水分解触媒の存在下に一緒に反応させてシロキサンポリマーを生成し、そして水/アルコール混合物または一つもしくはそれ以上のアルコールからこのシロキサンポリマーを分離することを含む前記方法。
- シロキサンポリマーが、少なくとも一つの発色団と、構造(1)及び構造(2)から選択される少なくとも一つの要素を含む、請求項1の方法。
[式中、mは0または1であり; W及びW'は、独立して、環状エーテルをポリマーのケイ素に繋ぐ、原子価結合または接続基であり; Lは、水素、W'及びWから選択され、またはL及びW'は組み合わさって、環状エーテルをポリマーのケイ素に繋ぐ、環状脂肪族連結基を含み; Vは、Zをポリマーのケイ素に繋ぐ、原子価結合または接続基であり; Zは、O−C(=O)−R30、置換されていないかもしくは置換されているアルケニル、及び−N=C=Oから選択され; そしてR30は、置換されていないかもしくは置換されているアルキル、または置換されていないかもしくは置換されているアルケニルである] - シロキサンポリマーが、構造(i)及び/または(ii)の一つもしくはそれ以上の単位を含む、請求項1または2の方法。
-(R1SiOh/2)-及び-(R2SiOh/2)- (i)
-(R'(R'')SiOx)- (ii)
[式中、hは、1、2または3であり; そしてR1は、独立して、構造(1)及び構造(2)から選択される要素であり、
式中、mは0または1であり; W及びW'は、独立して、環状エーテルをポリマーのケイ素に繋ぐ、原子価結合または接続基であり; Lは、水素、W'及びWから選択され、またはL及びW'は組み合わさって、環状エーテルをポリマーのケイ素に繋ぐ、環状脂肪族連結基を含み; Vは、Zをポリマーのケイ素に繋ぐ、原子価結合または接続基であり; Zは、O−C(=O)−R30、置換されていないかもしくは置換されているアルケニル、及び−N=C=Oから選択され、そしてR30は、置換されていないかもしくは置換されているアルキル、または置換されていないかもしくは置換されているアルケニルであり; R2は、発色団であり; R'及びR''は、独立して、R1及びR2から選択され; そしてx=1/2または1である] - シロキサンポリマーが、構造(iii)及び(iv)の一つもしくはそれ以上の単位を含む、請求項1〜3のいずれか一つの方法。
-(A1R1SiOx)- (iii)
-(A2R2SiOx)- (iv)
[式中、R1は、独立して、構造(1)及び構造(2)から選択される要素であり、
式中、mは0または1であり; W及びW'は、独立して、環状エーテルをポリマーのケイ素に繋ぐ、原子価結合または接続基であり; Lは、水素、W'及びWから選択され、またはL及びW'は組み合わさって、環状エーテルをポリマーのケイ素に繋ぐ、環状脂肪族連結基を含み; Vは、Zをポリマーのケイ素に繋ぐ、原子価結合または接続基であり; Zは、O−C(=O)−R30、置換されていないかもしくは置換されているアルケニル、及び−N=C=Oから選択され; そしてR30は、置換されていないかもしくは置換されているアルキル、または置換されていないかもしくは置換されているアルケニルであり; R2は、発色団であり; x=1/2または1であり; A1及びA2は、独立して、ヒドロキシル、R1、R2、ハライド、アルキル、OR4、OC(O)R4、置換されていないかもしくは置換されているアルキルケトキシム、置換されていないアリール及び置換されているアリール、置換されていないかもしくは置換されているアルキルアリール、置換されていないかもしくは置換されているアルコキシ、置換されていないかもしくは置換されているアシル、及び置換されていないかもしくは置換されているアシルオキシであり、そしてR4は、置換されていないアルキル、置換されているアルキル、置換されていないアリール及び置換されているアリールから選択される] - ポリマーが、次のものから選択される一つもしくはそれ以上の単位を更に含む、請求項3または4の方法:
-(R3SiOh/2)- (v)
[式中、hは、1、2または3であり; そしてR3は、独立して、ヒドロキシル、水素、ハライド、アルキル、OR4、OC(O)R4、置換されていないかもしくは置換されているアルキルケトキシム、置換されていないかもしくは置換されているアリール、置換されていないかもしくは置換されているアルキルアリール、置換されていないかもしくは置換されているアルコキシ、置換されていないかもしくは置換されているアシル、及び置換されていないかもしくは置換されているアシルオキシであり、ここでR4は、アルキル、置換されていないアリール及び置換されているアリールから選択される]
-(SiO4/2)- (vi)
-((A1)A2SiOx)- (vii)
[式中、Xは1/2または1であり、A1及びA2は、独立して、ヒドロキシル、水素、ハライド、アルキル、OR4、OC(O)R4、置換されていないかもしくは置換されているアルキルケトキシム、置換されていないかもしくは置換されているアリール、置換されていないかもしくは置換されているアルコキシ、置換されていないかもしくは置換されているアルキルアリール、置換されていないかもしくは置換されているアシル、及び置換されていないかもしくは置換されているアシルオキシである]、
並びにこれらの単位の混合物。 - シロキサンポリマーが、構造(viii)の少なくとも一つの単位を含む、請求項1〜5のいずれか一つの方法。
-(R5SiOh/2)- (viii)
[式中、hは、1、2または3であり; そしてR5は、独立して、構造(1)、構造(2)、及び発色団から選択される要素であり
式中、mは0または1であり; W及びW'は、独立して、環状エーテルをポリマーのケイ素に繋ぐ、原子価結合または接続基であり; Lは、水素、W'及びWから選択され、またはL及びW'は組み合わさって、環状エーテルをポリマーのケイ素に繋ぐ、環状脂肪族連結基を含み; Vは、Zをポリマーのケイ素に繋ぐ、原子価結合または接続基であり; Zは、O−C(=O)−R30、置換されていないかもしくは置換されているアルケニル、及び−N=C=Oから選択され; そしてR30は、置換されていないかもしくは置換されているアルキルまたは置換されていないかもしくは置換されているアルケニルである] - シロキサンポリマーが、次の構造を含む、請求項1〜6のいずれか一つの方法。
-(R1SiO3/2)a(R2SiO3/2)b(R3SiO3/2)c(SiO4/2)d-
[式中、R1は、独立して、構造(1)及び構造(2)から選択される要素であり、
式中、mは0または1であり; W及びW'は、独立して、環状エーテルをポリマーのケイ素に繋ぐ、原子価結合または接続基であり; Lは、水素、W'及びWから選択され、またはL及びW'は組み合わさって、環状エーテルをポリマーのケイ素に繋ぐ、環状脂肪族連結基を含み; Vは、Zをポリマーのケイ素に繋ぐ、原子価結合または接続基であり; Zは、O−C(=O)−R30、置換されていないかもしくは置換されているアルケニル、及び−N=C=Oから選択され; そしてR30は、置換されていないかもしくは置換されているアルキルまたは置換されていないかもしくは置換されているアルケニルであり; R2は、発色団であり; R3は、独立して、水素、置換されていないかもしくは置換されている(C1−C10 )アルキル、置換されていないアリール、及び置換されているアリールであり; そして0<a<1; 0<b<1、0≦c<1; 及び0≦d<1である] - アルコールが、エタノール、イソプロパノール、n−ブタノール、イソブタノール、t−ブタノール、1,2−プロパンジオール、1,2,3−プロパントリオール、乳酸エチル、プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノプロピルエーテル、2−エトキシエタノール、1−メトキシ−2−プロパノール、2−メチル−2−プロパノール、及びこれらの混合物から選択される、請求項1〜7のいずれか一つの方法。
- 発色団が、置換されていない芳香族要素、置換されている芳香族要素、置換されていないヘテロ芳香族要素、及び置換されているヘテロ芳香族要素から選択される、請求項2の方法。
- 発色団が、置換されているかもしくは置換されていないフェニル基、置換されていないアントラシル基、置換されているかもしくは置換されていないフェナントリル基、置換されているかもしくは置換されていないナフチル基、スルホンに基づく化合物、ベンゾフェノンに基づく化合物、酸素、窒素、硫黄から選択されるヘテロ原子を含む置換されているかもしくは置換されていないヘテロ環状芳香族環、及びこれらの混合物から選択される、請求項9の方法。
- 酸発生剤、及び請求項1〜11のいずれか一つで定義されるシロキサンポリマーを含む、反射防止膜用組成物。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US89170207P | 2007-02-26 | 2007-02-26 | |
| US1332307P | 2007-12-13 | 2007-12-13 | |
| PCT/IB2008/000518 WO2008104874A1 (en) | 2007-02-26 | 2008-02-25 | Process for making siloxane polymers |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2010519362A true JP2010519362A (ja) | 2010-06-03 |
Family
ID=39638999
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2009550337A Pending JP2010519362A (ja) | 2007-02-26 | 2008-02-25 | シロキサンポリマーの製造方法 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20100093969A1 (ja) |
| EP (1) | EP2132253A1 (ja) |
| JP (1) | JP2010519362A (ja) |
| KR (1) | KR20090114476A (ja) |
| CN (1) | CN101622297A (ja) |
| TW (1) | TW200914497A (ja) |
| WO (1) | WO2008104874A1 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009237363A (ja) * | 2008-03-27 | 2009-10-15 | Jsr Corp | レジスト下層膜用組成物及びその製造方法 |
| JP2011510133A (ja) * | 2008-01-15 | 2011-03-31 | ダウ・コーニング・コーポレイション | シルセスキオキサン樹脂 |
| JP2019040201A (ja) * | 2018-10-30 | 2019-03-14 | 信越化学工業株式会社 | パターン形成方法 |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8026040B2 (en) * | 2007-02-20 | 2011-09-27 | Az Electronic Materials Usa Corp. | Silicone coating composition |
| CN101622296B (zh) * | 2007-02-27 | 2013-10-16 | Az电子材料美国公司 | 硅基抗反射涂料组合物 |
| US8507191B2 (en) * | 2011-01-07 | 2013-08-13 | Micron Technology, Inc. | Methods of forming a patterned, silicon-enriched developable antireflective material and semiconductor device structures including the same |
| BR112015014923B1 (pt) | 2012-12-21 | 2021-11-16 | Koninklijke Philips N.V. | Composição para formação de uma tinta de estampagem, tinta de estampagem, método para formar uma camada conformada em um substrato, uso da tinta de estampagem e substrato |
| US20190023860A1 (en) * | 2016-01-22 | 2019-01-24 | Samsung Sdi Co., Ltd. | Composition for window film, flexible window film formed therefrom, and display device comprising same |
| KR102505090B1 (ko) * | 2016-02-24 | 2023-03-02 | 닛산 가가쿠 가부시키가이샤 | 실리콘 함유 패턴반전용 피복제 |
| CN109722033B (zh) * | 2018-12-10 | 2021-08-06 | 沈阳化工大学 | 一种二蒽基二苯醚乙烯基硅橡胶制备方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005015779A (ja) * | 2003-06-03 | 2005-01-20 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 反射防止膜材料、これを用いた反射防止膜及びパターン形成方法 |
Family Cites Families (96)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2899412A (en) * | 1959-08-11 | Polysulfone resins from bicycloheptene | ||
| US2310605A (en) * | 1939-02-03 | 1943-02-09 | Freeport Sulphur Co | Production of sulphur dioxideolefin resins |
| US2625525A (en) * | 1949-11-17 | 1953-01-13 | Phillips Petroleum Co | Terpolymers of sulfur dioxide, monoolefinic materials and a liquid polymer of a conjugated diene, and their production |
| US2703793A (en) * | 1951-07-10 | 1955-03-08 | Du Pont | Process for preparing interpolymers of so2 with propylene and an acrylate |
| US2779749A (en) * | 1952-09-29 | 1957-01-29 | Phillips Petroleum Co | Stabilized unsaturate-so2 resins containing acrylates |
| US2794014A (en) * | 1953-10-15 | 1957-05-28 | Dow Chemical Co | Water-soluble heteropolymers of acrylic acid, allyl alcohol, and sulfur dioxide and processes for producing the same |
| US2778812A (en) * | 1953-11-23 | 1957-01-22 | Dow Chemical Co | Water soluble copolymers of so2, an acrylic acid and a vinyl alkyl ether |
| US2943077A (en) * | 1956-11-01 | 1960-06-28 | Du Pont | Copolymers of ethylene and sulfur dioxide |
| US3313785A (en) * | 1963-06-11 | 1967-04-11 | Union Carbide Corp | Polysulfones and method for their production |
| US3318844A (en) * | 1963-12-23 | 1967-05-09 | Gen Electric | Organopolysiloxanes |
| US3663507A (en) * | 1970-01-02 | 1972-05-16 | Minnesota Mining & Mfg | Linear polyarylsulfones having functional groups thereon |
| US3792026A (en) * | 1970-09-08 | 1974-02-12 | Dow Chemical Co | High molecular weight olefin polysulfone resins and process for their preparation |
| US3890287A (en) * | 1973-09-21 | 1975-06-17 | Dow Chemical Co | Polysulfone copolymers |
| US3893127A (en) * | 1973-09-27 | 1975-07-01 | Rca Corp | Electron beam recording media |
| US3884696A (en) * | 1974-03-05 | 1975-05-20 | Bell Telephone Labor Inc | Positive photoresist comprising polysulfones formed by reacting vinyl aromatic hydrocarbons with sulfur dioxide |
| US3898350A (en) * | 1974-06-27 | 1975-08-05 | Ibm | Terpolymers for electron beam positive resists |
| US3935332A (en) * | 1975-01-09 | 1976-01-27 | Rca Corporation | Development of poly(1-methyl-1-cyclopentene-SO2) electron beam resist |
| US4045318A (en) * | 1976-07-30 | 1977-08-30 | Rca Corporation | Method of transferring a surface relief pattern from a poly(olefin sulfone) layer to a metal layer |
| US4153741A (en) * | 1976-07-30 | 1979-05-08 | Rca Corporation | Method for forming a surface relief pattern in a poly(olefin sulfone) layer |
| US4267257A (en) * | 1976-07-30 | 1981-05-12 | Rca Corporation | Method for forming a shallow surface relief pattern in a poly(olefin sulfone) layer |
| US4097618A (en) * | 1977-03-09 | 1978-06-27 | Rca Corporation | Method of transferring a surface relief pattern from a poly(1-methyl-1-cyclopropene sulfone) layer to a non-metallic inorganic layer |
| US4251665A (en) * | 1978-05-22 | 1981-02-17 | King Industries, Inc. | Aromatic sulfonic acid oxa-azacyclopentane adducts |
| US4200729A (en) * | 1978-05-22 | 1980-04-29 | King Industries, Inc | Curing amino resins with aromatic sulfonic acid oxa-azacyclopentane adducts |
| US4341861A (en) * | 1980-12-23 | 1982-07-27 | Rca Corporation | Aqueous developable poly(olefin sulfone) terpolymers |
| US4393160A (en) * | 1980-12-23 | 1983-07-12 | Rca Corporation | Aqueous developable poly(olefin sulfone) terpolymers |
| US4504372A (en) * | 1982-03-12 | 1985-03-12 | Ciba-Geigy Corporation | Acid-curable composition containing a masked curing catalyst, and a process for its preparation |
| US4491628A (en) * | 1982-08-23 | 1985-01-01 | International Business Machines Corporation | Positive- and negative-working resist compositions with acid generating photoinitiator and polymer with acid labile groups pendant from polymer backbone |
| DE3563273D1 (en) * | 1984-03-19 | 1988-07-14 | Nippon Oil Co Ltd | Novel electron beam resist materials |
| CA1269794A (en) * | 1985-10-15 | 1990-05-29 | Eit Drent | Copolymers of so.sub.2 and ethene |
| JP2608429B2 (ja) * | 1987-11-09 | 1997-05-07 | 東レ・ダウコーニング・シリコーン株式会社 | パターン形成用材料およびパターン形成方法 |
| US4996136A (en) * | 1988-02-25 | 1991-02-26 | At&T Bell Laboratories | Radiation sensitive materials and devices made therewith |
| US5200544A (en) * | 1988-02-25 | 1993-04-06 | At&T Bell Laboratories | Resist materials |
| US5100503A (en) * | 1990-09-14 | 1992-03-31 | Ncr Corporation | Silica-based anti-reflective planarizing layer |
| US5298367A (en) * | 1991-03-09 | 1994-03-29 | Basf Aktiengesellschaft | Production of micromoldings having a high aspect ratio |
| KR950000074B1 (ko) * | 1991-03-28 | 1995-01-09 | 금호석유화학 주식회사 | 이산화황과 핵치환 트리알킬게르밀스티렌(Trialkeylgermylstyrene)의 다원공중합체 |
| US5187019A (en) * | 1991-09-06 | 1993-02-16 | King Industries, Inc. | Latent catalysts |
| TW211080B (ja) * | 1991-12-12 | 1993-08-11 | American Telephone & Telegraph | |
| US5384376A (en) * | 1992-12-23 | 1995-01-24 | Eastman Kodak Company | Organic/inorganic hybrid materials |
| US5918147A (en) * | 1995-03-29 | 1999-06-29 | Motorola, Inc. | Process for forming a semiconductor device with an antireflective layer |
| US5693691A (en) * | 1995-08-21 | 1997-12-02 | Brewer Science, Inc. | Thermosetting anti-reflective coatings compositions |
| KR100497280B1 (ko) * | 1996-02-29 | 2005-07-01 | 미네소타 마이닝 앤드 매뉴팩춰링 캄파니 | 공동 연속상을 갖는 광학 필름 |
| EP0921167A4 (en) * | 1996-08-22 | 2000-01-12 | Kaneka Corp | CURABLE COMPOSITION FOR EXTERIOR COATING AND ARTICLES THEREOF COVERED |
| US6808859B1 (en) * | 1996-12-31 | 2004-10-26 | Hyundai Electronics Industries Co., Ltd. | ArF photoresist copolymers |
| US5871872A (en) * | 1997-05-30 | 1999-02-16 | Shipley Company, Ll.C. | Dye incorporated pigments and products made from same |
| JPH11286549A (ja) * | 1998-02-05 | 1999-10-19 | Canon Inc | 感光性樹脂及び該感光性樹脂を用いたレジスト、該レジストを用いた露光装置及び露光方法及び該露光方法で得られた半導体装置 |
| US6069259A (en) * | 1998-02-06 | 2000-05-30 | Rensselaer Polytechnic Institute | Multifunctional polymerizible alkoxy siloxane oligomers |
| FR2776540B1 (fr) * | 1998-03-27 | 2000-06-02 | Sidel Sa | Recipient en matiere a effet barriere et procede et appareil pour sa fabrication |
| US6087064A (en) * | 1998-09-03 | 2000-07-11 | International Business Machines Corporation | Silsesquioxane polymers, method of synthesis, photoresist composition, and multilayer lithographic method |
| US6849377B2 (en) * | 1998-09-23 | 2005-02-01 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Photoresists, polymers and processes for microlithography |
| JP4096138B2 (ja) * | 1999-04-12 | 2008-06-04 | Jsr株式会社 | レジスト下層膜用組成物の製造方法 |
| WO2000077575A1 (en) * | 1999-06-10 | 2000-12-21 | Alliedsignal Inc. | Spin-on-glass anti-reflective coatings for photolithography |
| JP3795333B2 (ja) * | 2000-03-30 | 2006-07-12 | 東京応化工業株式会社 | 反射防止膜形成用組成物 |
| AU2001274579A1 (en) * | 2000-06-21 | 2002-01-02 | Asahi Glass Company, Limited | Resist composition |
| US6420088B1 (en) * | 2000-06-23 | 2002-07-16 | International Business Machines Corporation | Antireflective silicon-containing compositions as hardmask layer |
| US6368400B1 (en) * | 2000-07-17 | 2002-04-09 | Honeywell International | Absorbing compounds for spin-on-glass anti-reflective coatings for photolithography |
| EP1197511A1 (en) * | 2000-10-10 | 2002-04-17 | Shipley Company LLC | Antireflective composition |
| US20020094593A1 (en) * | 2001-01-16 | 2002-07-18 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Method for adjusting optical properties of an anti-reflective coating layer |
| US6596404B1 (en) * | 2001-07-26 | 2003-07-22 | Dow Corning Corporation | Siloxane resins |
| US6743885B2 (en) * | 2001-07-31 | 2004-06-01 | Sumitomo Chemical Company, Limited | Resin composition for intermediate layer of three-layer resist |
| KR100399642B1 (ko) * | 2001-10-24 | 2003-09-29 | 삼성에스디아이 주식회사 | 리튬 이차 전지용 양극 활물질 및 그 제조방법 |
| US6723488B2 (en) * | 2001-11-07 | 2004-04-20 | Clariant Finance (Bvi) Ltd | Photoresist composition for deep UV radiation containing an additive |
| US8344088B2 (en) * | 2001-11-15 | 2013-01-01 | Honeywell International Inc. | Spin-on anti-reflective coatings for photolithography |
| US6737117B2 (en) * | 2002-04-05 | 2004-05-18 | Dow Corning Corporation | Hydrosilsesquioxane resin compositions having improved thin film properties |
| US6730454B2 (en) * | 2002-04-16 | 2004-05-04 | International Business Machines Corporation | Antireflective SiO-containing compositions for hardmask layer |
| JP3953982B2 (ja) * | 2002-06-28 | 2007-08-08 | 富士通株式会社 | 半導体装置の製造方法及びパターンの形成方法 |
| US6919161B2 (en) * | 2002-07-02 | 2005-07-19 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Silicon-containing polymer, resist composition and patterning process |
| TW200413417A (en) * | 2002-10-31 | 2004-08-01 | Arch Spec Chem Inc | Novel copolymer, photoresist compositions thereof and deep UV bilayer system thereof |
| US20060141693A1 (en) * | 2002-11-27 | 2006-06-29 | Yoshio Hagiwara | Semiconductor multilayer interconnection forming method |
| US7041748B2 (en) * | 2003-01-08 | 2006-05-09 | International Business Machines Corporation | Patternable low dielectric constant materials and their use in ULSI interconnection |
| TW200424767A (en) * | 2003-02-20 | 2004-11-16 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | Immersion exposure process-use resist protection film forming material, composite film, and resist pattern forming method |
| JP4581995B2 (ja) * | 2003-03-07 | 2010-11-17 | チッソ株式会社 | ケイ素化合物 |
| KR100857967B1 (ko) * | 2003-06-03 | 2008-09-10 | 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤 | 반사 방지막 재료, 이것을 이용한 반사 방지막 및 패턴형성 방법 |
| US7223517B2 (en) * | 2003-08-05 | 2007-05-29 | International Business Machines Corporation | Lithographic antireflective hardmask compositions and uses thereof |
| US7115532B2 (en) * | 2003-09-05 | 2006-10-03 | Micron Technolgoy, Inc. | Methods of forming patterned photoresist layers over semiconductor substrates |
| US7270931B2 (en) * | 2003-10-06 | 2007-09-18 | International Business Machines Corporation | Silicon-containing compositions for spin-on ARC/hardmask materials |
| US20050123760A1 (en) * | 2003-10-15 | 2005-06-09 | Cammack J. K. | Light-emitting nanoparticle compositions |
| KR100570206B1 (ko) * | 2003-10-15 | 2006-04-12 | 주식회사 하이닉스반도체 | 유기 반사방지막용 광 흡수제 중합체 및 이의 제조 방법과상기 중합체를 포함하는 유기 반사 방지막 조성물 |
| US20050118541A1 (en) * | 2003-11-28 | 2005-06-02 | Applied Materials, Inc. | Maintenance of photoresist adhesion and activity on the surface of dielectric ARCS for 90 nm feature sizes |
| JP4491283B2 (ja) * | 2004-06-10 | 2010-06-30 | 信越化学工業株式会社 | 反射防止膜形成用組成物を用いたパターン形成方法 |
| US7691556B2 (en) * | 2004-09-15 | 2010-04-06 | Az Electronic Materials Usa Corp. | Antireflective compositions for photoresists |
| WO2006065321A1 (en) * | 2004-12-17 | 2006-06-22 | Dow Corning Corporation | Method for forming anti-reflective coating |
| JP4602842B2 (ja) * | 2005-06-07 | 2010-12-22 | 東京応化工業株式会社 | 反射防止膜形成用組成物、それを用いた反射防止膜 |
| US7785768B2 (en) * | 2005-06-07 | 2010-08-31 | Tokyo Ohka Kogyo Co. Ltd. | Thermoacid generator for antireflection film formation, composition for antireflection film formation, and antireflection film made therefrom |
| EP1742108B1 (en) * | 2005-07-05 | 2015-10-28 | Rohm and Haas Electronic Materials, L.L.C. | Coating compositions for use with an overcoated photoresist |
| US7918978B2 (en) * | 2005-07-14 | 2011-04-05 | I-Stat Corporation | Photoformed silicone sensor membrane |
| EP1762895B1 (en) * | 2005-08-29 | 2016-02-24 | Rohm and Haas Electronic Materials, L.L.C. | Antireflective Hard Mask Compositions |
| KR101271783B1 (ko) * | 2005-10-28 | 2013-06-07 | 도레이 카부시키가이샤 | 실록산 수지 조성물 및 그의 제조 방법 |
| JP4597844B2 (ja) * | 2005-11-21 | 2010-12-15 | 信越化学工業株式会社 | フォトレジスト膜のリワーク方法 |
| US7678529B2 (en) * | 2005-11-21 | 2010-03-16 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Silicon-containing film forming composition, silicon-containing film serving as etching mask, substrate processing intermediate, and substrate processing method |
| US7855043B2 (en) * | 2006-06-16 | 2010-12-21 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Silicon-containing film-forming composition, silicon-containing film, silicon-containing film-bearing substrate, and patterning method |
| US7704670B2 (en) * | 2006-06-22 | 2010-04-27 | Az Electronic Materials Usa Corp. | High silicon-content thin film thermosets |
| US7816069B2 (en) * | 2006-06-23 | 2010-10-19 | International Business Machines Corporation | Graded spin-on organic antireflective coating for photolithography |
| US7776516B2 (en) * | 2006-07-18 | 2010-08-17 | Applied Materials, Inc. | Graded ARC for high NA and immersion lithography |
| US7736837B2 (en) * | 2007-02-20 | 2010-06-15 | Az Electronic Materials Usa Corp. | Antireflective coating composition based on silicon polymer |
| CN101622296B (zh) * | 2007-02-27 | 2013-10-16 | Az电子材料美国公司 | 硅基抗反射涂料组合物 |
| US20090162800A1 (en) * | 2007-12-20 | 2009-06-25 | David Abdallah | Process for Imaging a Photoresist Coated over an Antireflective Coating |
-
2008
- 2008-02-25 CN CN200880006170A patent/CN101622297A/zh active Pending
- 2008-02-25 WO PCT/IB2008/000518 patent/WO2008104874A1/en not_active Ceased
- 2008-02-25 JP JP2009550337A patent/JP2010519362A/ja active Pending
- 2008-02-25 EP EP08709885A patent/EP2132253A1/en not_active Withdrawn
- 2008-02-25 US US12/449,750 patent/US20100093969A1/en not_active Abandoned
- 2008-02-25 KR KR1020097019978A patent/KR20090114476A/ko not_active Withdrawn
- 2008-02-26 TW TW097106716A patent/TW200914497A/zh unknown
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005015779A (ja) * | 2003-06-03 | 2005-01-20 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 反射防止膜材料、これを用いた反射防止膜及びパターン形成方法 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011510133A (ja) * | 2008-01-15 | 2011-03-31 | ダウ・コーニング・コーポレイション | シルセスキオキサン樹脂 |
| JP2009237363A (ja) * | 2008-03-27 | 2009-10-15 | Jsr Corp | レジスト下層膜用組成物及びその製造方法 |
| JP2019040201A (ja) * | 2018-10-30 | 2019-03-14 | 信越化学工業株式会社 | パターン形成方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO2008104874A1 (en) | 2008-09-04 |
| KR20090114476A (ko) | 2009-11-03 |
| CN101622297A (zh) | 2010-01-06 |
| US20100093969A1 (en) | 2010-04-15 |
| TW200914497A (en) | 2009-04-01 |
| EP2132253A1 (en) | 2009-12-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2009541788A (ja) | シロキサンポリマーを含む反射防止膜組成物 | |
| US7736837B2 (en) | Antireflective coating composition based on silicon polymer | |
| EP2121857B1 (en) | Silicone coating composition | |
| KR102367238B1 (ko) | 금속 하드마스크 조성물 및 반도체 기판 상에 미세 패턴을 형성하는 방법 | |
| EP2426558B1 (en) | Silicon-containing film-forming composition, silicon-containing film-formed substrate, and patterning process | |
| JP3795333B2 (ja) | 反射防止膜形成用組成物 | |
| US9069133B2 (en) | Anti-reflective coating for photolithography and methods of preparation thereof | |
| JP2010519362A (ja) | シロキサンポリマーの製造方法 | |
| KR102132509B1 (ko) | 하드마스크 및 충전 재료로서의 안정한 금속 화합물, 이들의 조성물 및 사용 방법 | |
| KR101735856B1 (ko) | 레지스트 하층막 형성용 조성물, 및 패턴 형성 방법 | |
| KR101319233B1 (ko) | 반사 방지막 재료, 및 이것을 사용하는 패턴 형성 방법 및기판 | |
| KR101690159B1 (ko) | 변환가능한 반사방지 코팅 | |
| KR20130020577A (ko) | 규소 함유 레지스트 하층막 형성용 조성물 및 패턴 형성 방법 | |
| CN101790704B (zh) | 光刻用形成抗蚀剂下层膜的组合物和半导体装置的制造方法 | |
| KR20130060138A (ko) | 규소 함유 레지스트 하층막 형성용 조성물 및 패턴 형성 방법 | |
| WO2010032796A1 (ja) | サイドウォール形成用組成物 | |
| KR20220041836A (ko) | 조성물, 규소 함유막, 규소 함유막의 형성 방법 및 반도체 기판의 처리 방법 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20100604 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110224 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120223 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130517 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130618 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20140225 |