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JP2010283581A - レベルシフト回路 - Google Patents

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JP2010283581A JP2009135050A JP2009135050A JP2010283581A JP 2010283581 A JP2010283581 A JP 2010283581A JP 2009135050 A JP2009135050 A JP 2009135050A JP 2009135050 A JP2009135050 A JP 2009135050A JP 2010283581 A JP2010283581 A JP 2010283581A
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Abstract

【課題】定常状態においては電力消費が少なく、且つ、電源投入時においても出力状態の確定が保証されるレベルシフト回路を提供する。
【解決手段】一次側の電位系より高電位の二次側の電位系に論理値信号を伝達するレベルシフト回路であって、一次側の電位系で動作するパルス生成回路11とNチャンネルMOSFETM11およびM12から構成される入力回路10と、二次側の電位系で動作するインバータU21およびU22を、互いの入力と出力の間に接続された抵抗を介して環状に接続して構成されるラッチ回路20と、二次側の高電位あるいは低電位に設定する初期値設定回路31あるいは32を備え、少なくとも一方のインバータの入力に初期値設定回路を接続することにより、電源投入時の出力状態を確定する。
【選択図】図1

Description

本発明は、一次側の電位系から一次側の電位系より高電位の二次側の電位系に論理値信号を伝達するレベルシフト回路に関する。
従来のレベルシフト回路の第1の構成例を図4に示す。図4は、本出願人が本願に先行して出願した特開2007−174627号(特許文献1)にて開示したレベルシフト回路である。
図4に示すレベルシフト回路は、入力回路10およびラッチ回路20から構成されている。
入力回路10は、一次側の高電位V1Hと一次側の低電位V1Lとの間で動作するパルス生成回路11と、NチャンネルMOSFET(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor)M11およびM12から構成される。
パルス生成回路11は、入力信号INが入力され、出力信号O1および出力信号O2を出力する。パルス生成回路11の出力信号O1は、NチャンネルMOSFETM11のゲートに接続し、パルス生成回路11の出力信号O2は、NチャンネルMOSFETM12のゲートに接続されている。NチャンネルMOSFETM11およびM12は、ソースが一次側の低電位V1Lに接続され、ドレインはラッチ回路20の入力N1およびN2にそれぞれ接続されている。
ラッチ回路20は、二次側の高電位V2Hと二次側の低電位V2Lとの間で動作するインバータU21およびU22と、抵抗R21およびR22から構成される。
ラッチ回路20の入力N1は、インバータU21の入力に接続されるとともに、抵抗R22を介してインバータU22の出力に接続されている。ラッチ回路20の入力N2は、インバータU22の入力に接続されるとともに、抵抗R21を介してインバータU21の出力に接続されている。インバータU22の出力は、ラッチ回路20の出力OUTとなる。
ここで図5および図6について説明する。図5は、図4におけるパルス生成回路11の具体的な構成を示し、図6は、パルス生成回路11の入出力動作波形を示している。
図5に示すようにパルス生成回路11は、4段のインバータU1〜U4が直列接続されて構成された遅延回路D1と、インバータU5およびU6と、2入力のNOR回路U7およびU8とから構成され、入力信号INから出力信号O1およびO2を生成して出力する。
出力信号O1は、入力信号INを第一の入力とし、遅延回路D1およびインバータU5を介して入力信号INが一定時間遅延された反転信号を第二の入力とする、2入力のNOR回路U7より出力される。出力信号O2は、インバータU6による入力信号INの反転信号を第一の入力とし、遅延回路D1により入力信号INが一定時間遅延された信号を第二の入力とする、2入力のNOR回路U8より出力される。
このような構成のパルス生成回路11は、図6に示す入出力動作波形のように、入力信号INの立ち上がりおよび立ち下がりに同期した微小パルス幅の信号を生成し出力する。すなわち、入力信号INの立ち下がりに同期した微小パルス信号を出力信号O1として出力し、入力信号INの立ち上がりに同期した微小パルス信号を出力信号O2として出力する。なお、この微小パルス幅は、遅延回路D1で設定された遅延時間により決定される。
以上のパルス生成回路11の動作を踏まえて、図4に示したレベルシフト回路の動作を説明する。
入力回路10への入力信号INがLレベル(V1L)からHレベル(V1H)へ立ち上がると、パルス生成回路11の出力信号O2から微小パルスがNチャンネルMOSFETM12のゲートに入力され、M12が微小時間オンする。すると、ラッチ回路20の入力N2の電位が低下し(V1L)、インバータU22の出力はHレベル(V2H)、インバータU21の出力はLレベル(V2L)となる。すなわち、ラッチ回路20の出力OUTは、Hレベルとなる。
一方、入力回路10への入力信号INがHレベル(V1H)からLレベル(V1L)へ立ち下がると、パルス生成回路11の出力信号O1から微小パルスがNチャンネルMOSFETM11のゲートに入力され、M11が微小時間オンする。すると、ラッチ回路20の入力N1の電位が低下し(V1L)、インバータU21の出力はHレベル(V2H)、インバータU22の出力はLレベル(V2L)となる。すなわち、ラッチ回路20の出力OUTはLレベルとなる。
このように、図4に示したレベルシフト回路は、入力信号INの立ち上がりおよび立ち下がりの微小時間だけ動作を行い、電位変化のない定常状態ではNチャンネルMOSFETM11およびM12はオフ状態で、低消費電力を実現する構成となっている。
しかし、一次側の電源投入(V1H、V1L)が二次側の電源投入(V2H、V2L)より遅れた場合は、入力信号INが確定せずラッチ回路20の入力N1およびN2も不定となるため、ラッチ回路20の出力OUTが不定状態となってしまう。
次に、図7について説明する。図7は、従来のレベルシフト回路の第2の構成例で、特許文献2で開示されているものである。
図7に示す回路は、入力回路10aと、ラッチ回路20aと、初期値設定回路131および132とから構成され、図4に示した第1の構成例とは異なり、一次側の低電位V1Lと二次側の低電位V2Lを同一電位にして基準電位GNDと接続している。
入力回路10aは、一次側の高電位V1Hと基準電位GNDとの間で動作するインバータU11およびU12と、NチャンネルMOSFETM11およびM12から構成されている。
インバータU11は、入力信号INが入力され、その論理反転信号を出力する。インバータU11の出力は、NチャンネルMOSFETM11のゲートとインバータU12の入力に接続される。インバータU12は、入力信号INと同相の信号を出力して、NチャンネルMOSFETM12のゲートに入力する。NチャンネルMOSFETM11およびM12は、ソースが基準電位GNDに接続され、ドレインはそれぞれラッチ回路20aの入力N1aおよびN2aに接続されている。この入力回路10aは、図4の入力回路10に対し、パルス生成回路11を省略し、インバータU11、U12の出力を直接NチャンネルMOSFETM11、M12のゲートに入力した形となっている。
ラッチ回路20aは、二次側の高電位V2Hと基準電位GNDとの間で動作するインバータU21およびU22から構成される。
インバータU21は、二次側の高電位V2Hと基準電位GNDとの間に直列接続されたPチャンネルMOSFETM21とNチャンネルMOSFETM22から構成され、両者のゲートは共通に接続されてラッチ回路20aの入力N1aとなっている。この入力N1aには、NチャンネルMOSFETM11のドレインとインバータU22の出力が接続されるとともに、初期値設定回路131が接続されている。インバータU22は、二次側の高電位V2Hと基準電位GNDとの間に直列接続されたPチャンネルMOSFETM23とNチャンネルMOSFETM24から構成され、両者のゲートは共通に接続されてラッチ回路20aの入力N2aとなっている。この入力N2aには、NチャンネルMOSFETM12のドレインとインバータU21の出力が接続されるとともに、初期値設定回路132が接続される。インバータU22の出力は、ラッチ回路20aの出力OUTとなる。
初期値設定回路131は、ゲートおよびソースが二次側の高電位V2Hに接続され、ドレインがラッチ回路20aの入力N1aに接続されるPチャンネルMOSFETM3Hで構成される。初期値設定回路132は、ゲートおよびソースが基準電位GNDに接続され、ドレインがラッチ回路20aの入力N2aに接続されるNチャンネルMOSFETM3Lで構成される。
以上のように構成された図7に示すレベルシフト回路の動作について説明する。
まず、一次側の電源V1Hおよび二次側の電源V2Hが供給されている定常状態の動作
を説明する。
初期設定回路131のPチャンネルMOSFETM3Hは、ゲートおよびソースが二次側の高電位V2Hに接続しているためオフとなる。同様に、初期値設定回路132のNチャンネルMOSFETM3Lも、ゲートおよびソースが基準電位GNDに接続しているためオフとなる。
このためラッチ回路20aは、入力信号INに対応した信号を、出力OUTから出力する。すなわち、入力信号INがHレベル(V1H)の場合は、NチャンネルMOSFETM11がオフし、M12がオンする。すると、ラッチ回路20aの入力N2aの電位が低下し(GND)、インバータU22の出力はHレベル(V2H)、インバータU21の出力はLレベル(GND)となる。すなわち、ラッチ回路20aの出力OUTは、Hレベルとなる。
一方、入力信号INがLレベル(GND)の場合は、NチャンネルMOSFETM11がオンし、M12がオフする。すると、ラッチ回路20aの入力N1aの電位が低下し(GND)、インバータU21の出力はHレベル(V2H)、インバータU22の出力はLレベル(GND)となる。すなわち、ラッチ回路20aの出力OUTは、Lレベルとなる。
次に、一次側の電源投入(V1H、GND)が二次側の電源投入(V2H、GND)より遅く、入力信号INが確定しない場合の動作について説明する。
二次側の電源電圧(V2H−GND間電位)が、ラッチ回路20aを構成するMOSFETM21、M22、M23、M24が動作を開始する電圧(しきい値電圧:例えば0.5〜1.0V)より低い電圧では、オフ状態である初期設定用のMOSFETM3HおよびM3Lにそれぞれ漏れ電流(オフリーク電流)が流れる。このオフリーク電流により、ラッチ回路20aの入力N1aおよびN2aの電位が決定される。すなわち、PチャンネルMOSFETM3Hが接続される入力N1aがHレベル(V2H)となり、NチャンネルMOSFETM3Lが接続される入力N2aがLレベル(GND)となる。この状態で、二次側の高電位電源V2Hが更に上昇すると、入力N1aおよびN2aもこの電位を保持して上昇する。これにより、インバータU21の出力はLレベル(GND)、インバータU22の出力はHレベル(V2H)となる。すなわち、ラッチ回路20aの出力OUTはHレベル(V2H)に設定され、初期状態が確定する。
なお、この初期状態で一次側の電源電位(V1H、GND)が投入されると、前述した定常状態と同様の動作となるため、説明は省略する。
特開2007−174627号公報 特開2008−17456号公報
上述した従来のレベルシフト回路には、以下のような改善が望ましい点があった。
まず、図4に示した第1の構成例では、定常状態では低消費電力を実現するが、一次側の電源投入(V1H、V1L)が二次側の電源投入(V2H、V2L)より遅れた場合は、入力信号INが確定せずラッチ回路20の入力N1およびN2も不定となるため、ラッチ回路20の出力OUTが不定状態となり、確定したい用途の場合は改善が必要である。
また、図7に示した第2の構成例では、一次側の電源投入(V1H、V1L)が二次側の電源投入(V2H、V2L)より遅れた場合でも、初期値設定回路を設けることでラッチ回路20aの出力OUTの状態を設定するようにしているが、MOSFETのしきい値やオフリーク電流を利用した回路構成となっているため、初期設定動作の精度が低いという問題点がある。
すなわち、MOSFETのしきい値やオフリーク電流は、製造工程によるバラツキや使用する電源電圧や立ち上がり時間および温度条件で大きく変動するため、インバータを構成するMOSFETと初期値設定回路を構成するMOSFETとの相対的な特性比較で論理動作が決まり、所望する初期設定動作の保証が難しくなる。
さらに、図7に示した第2の構成例では、一次側の電位系から二次側の電位系へ信号を伝達するNチャンネルMOSFETM11およびM12は、入力信号INに従い相補的にオン・オフ動作をするため、一次側の低電位V1Lと二次側の低電位V2Lが同一電位の場合は問題ないが、図4に示す構成のように異なる電位で動作する場合には問題が生じる。すなわち、NチャンネルMOSFETM11あるいはM12とインバータU21あるいはU22を構成するNチャンネルMOSFETにおいて、オンしているMOSFETを介し一次側の低電位V1Lと二次側の低電位V2Lとの間で、高い電位側から低い電位側へ電流が流れる継続的な経路ができてしまうという問題がある。例えば、V2L>V1Lであるとき、入力信号INがHレベルだと、MOSFETM12とM22がオンし、V2L→M22→M12→V1Lという継続的な電流経路ができてしまう。すなわち、図7に示した第2の構成例は、一次側の低電位V1Lと二次側の低電位V2Lが異なる場合には使うことができない。
本発明は、上述した問題に鑑みてなされたものであり、その解決しようとする課題は、一次側の低電位V1Lと二次側の低電位V2Lが異なる場合にでも使うことができ、且つ、電源投入時においても出力状態の確定が保証されるレベルシフト回路を提供することである。
上述した課題を解決するために、請求項1記載のレベルシフト回路によれば、一次側の電位系から該一次側の電位系より高電位の二次側の電位系に論理値信号を伝達するレベルシフト回路であって、前記二次側の電位系で動作する第1および第2のインバータを、互いの入力と出力の間に抵抗を接続することにより環状に接続して成るラッチ回路と、前記第1および第2のインバータの入力と、前記一次側の電位系の低電位側基準電位との間にそれぞれ接続された第1および第2のMOSFETと、前記第1および第2のインバータの入力の少なくとも一方に接続された初期値設定回路と、を備えたことを特徴とする。
また、請求項2記載のレベルシフト回路によれば、前記初期値設定回路として、前記第1および第2のインバータの何れか一方の入力と前記二次側の電位系の高電位側電位との間に接続された第1の抵抗と、前記第1および第2のインバータの何れか他方の入力と前記二次側の電位系の低電位側電位との間に接続された第2の抵抗と、の少なくとも一方を備えたことを特徴とする。
また、請求項3記載のレベルシフト回路によれば、前記初期値設定回路として、前記第1および第2のインバータの何れか一方の入力と前記二次側の電位系の高電位側電位との間に接続された第1の容量と、前記第1および第2のインバータの何れか他方の入力と前記二次側の電位系の低電位側電位との間に接続された第2の容量と、の少なくとも一方を備えたことを特徴とする。
また、請求項4記載のレベルシフト回路によれば、前記レベルシフト回路は、前記一次側の電位系で動作し、前記論理値信号の立ち上がりに第1のパルス信号を生成して該第1のパルス信号を前記第1のMOSFETのゲートに入力するとともに、前記論理値信号の立ち下がりに第2のパルス信号を生成して該第2のパルス信号を前記第2のMOSFETのゲートに入力するパルス生成回路を備えたことを特徴とする。
また、請求項5記載のレベルシフト回路によれば、前記パルス生成回路は、前記論理値信号を所定時間遅延させた信号を出力する遅延回路を有し、前記論理値信号と前記遅延回路出力の反転信号との論理積により前記第1のパルス信号を生成し、前記論理値信号の反転信号と前記遅延回路の出力信号との論理積により前記第2のパルス信号を生成することを特徴とする。
本発明に係るレベルシフト回路は、一次側の電位系で動作する入力回路をパルス生成回路と2つのNチャンネルMOSFETから構成し、二次側の電位系で動作するラッチ回路を2つのインバータの相互の入出力を抵抗を介して環状に接続して構成し、二次側の高電位あるいは低電位に設定する初期値設定回路を備え、少なくとも一方のインバータの入力と初期値設定回路を接続することにより、定常状態における低消費電力を実現し、電源投入時においても出力状態の確定が保証されるという効果を奏する。
本発明に係るレベルシフト回路の第一の実施例を示す図である。 本発明に係るレベルシフト回路の第二の実施例を示す図である。 本発明に係るレベルシフト回路の第三の実施例を示す図である。 従来のレベルシフト回路の第1の構成例を示す図である。 パルス生成回路11の具体的な構成を示す図である。 パルス生成回路11の入出力動作波形を示す図である。 従来のレベルシフト回路の第2の構成例を示す図である。
以下、本発明の実施形態に係るレベルシフト回路について、図面を参照しながら説明する。
図1は、この発明のレベルシフト回路の第1の実施例を示すブロック図である。図4、図7に示す従来回路例と同じ部位には同じ符号を付して詳細な説明は省略する。
図1に示すレベルシフト回路は、入力回路10、ラッチ回路20および初期値設定回路31、32から構成されていて、図4に示す従来のレベルシフト回路に初期値設定回路31、32が付加された構成となっている。
初期値設定回路31は、一端が二次側の高電位V2Hに接続され、他端がラッチ回路20の入力N1に接続される抵抗RHで構成される。初期値設定回路32は、一端が二次側の低電位V2Lに接続され、他端がラッチ回路20の入力N2に接続される抵抗RLで構成される。
ここで、インバータU21およびU22をそれぞれCMOSインバータにより構成する場合、抵抗RHおよびRLの抵抗値(それぞれの抵抗値もRH,RLと記す)と、NチャンネルMOSFETM11,M12およびインバータU21およびU22を構成するMOSFETのオン抵抗(Ron)は、以下の(1)〜(4)式を満足するように設定しておく。
RH>>Ron(U22;NMOS)+R22 ・・・ (1)
RL>>Ron(U21;PMOS)+R21 ・・・ (2)
Ron(M11)<<Ron(U22;PMOS)+R22 ・・・ (3)
Ron(M12)<<Ron(U21;PMOS)+R21 ・・・ (4)
ここで、Ron(M11),Ron(M12)はそれぞれNチャンネルMOSFETM11,M12のオン抵抗を意味し、Ron(U22;NMOS)はインバータU22を構成するNチャンネルMOSFETのオン抵抗を意味し、Ron(U21;PMOS),Ron(U22;PMOS)はそれぞれインバータU21,U22を構成するPチャンネルMOSFETのオン抵抗を意味する。また、抵抗R21,R22の抵抗値もR21,R22と記している。
なお、パルス生成回路11の具体的な構成および入出力動作波形は、図4に示す従来のレベルシフト回路におけるパルス生成回路11の構成および入出力波形を示す図5、6と同一であり、説明は省略する。
以上のように構成された図1に示すレベルシフト回路の動作について説明する。
まず、一次側の電源電位V1HとV1Lおよび二次側の電源電位V2HとV2Lが供給
されている定常状態での動作を説明する。
上記(1)〜(4)式が満足されている場合、初期値設定回路31の抵抗RHおよび初期値設定回路32の抵抗RLは、定常状態では無視することができる。このため、上述した図4に示す従来のレベルシフト回路と同一の動作となる。
すなわち、入力回路10への入力信号INがLレベル(V1L)からHレベル(V1H)へ立ち上がると、パルス生成回路11の出力信号O2から微小パルスがNチャンネルMOSFETM12のゲートに入力され、M12が微小時間オンする。すると、ラッチ回路20の入力N2の電位が低下し(V1L)、インバータU22の出力はHレベル(V2H)、インバータU21の出力はLレベル(V2L)となる。すなわち、ラッチ回路20の出力OUTは、Hレベルとなる。
一方、入力回路10への入力信号INがHレベル(V1H)からLレベル(V1L)へ立ち下がると、パルス生成回路11の出力信号O1から微小パルスがNチャンネルMOSFETM11のゲートに入力され、M11が微小時間オンする。すると、ラッチ回路20の入力N1の電位が低下し(VL1)、インバータU21の出力はHレベル(V2H)、インバータU22の出力はLレベル(V2L)となる。すなわち、ラッチ回路20の出力OUTはLレベルとなる。
次に、一次側の電源投入(V1H、V1L)が二次側の電源投入(V2H、V1L)より遅く、入力信号INが確定しない場合の動作について説明する。
二次側の電源電位(V2H、V2L)が投入されると、初期値設定回路31の抵抗RHにより、ラッチ回路20の入力N1はHレベル(V2H)に上昇し、初期値設定回路32の抵抗RLにより、ラッチ回路20の入力N2はLレベル(V2L)に低下する。
この状態で、二次側の電源電圧(V2H−V2L間電位)が、インバータU21およびU22が動作する電圧(しきい値電圧:例えば0.5〜1.0V)以上に上昇すると、入力N1もこの電位を保持して上昇し、この値(入力N1の論理値H)がラッチ回路20にラッチされる。すなわち、インバータU21の出力はLレベル(V2L)、インバータU22の出力はHレベル(V2H)となる。これにより、ラッチ回路20の出力OUTはHレベル(V2H)に設定され、初期状態が確定する。
なお、この初期状態で一次側の電源電位(V1H、V1L)が投入されると、前述した定常状態と同様の動作となるため、説明は省略する。
以上説明したように、図1に示したレベルシフト回路は、入力信号INに電位変化がない定常状態の場合では、NチャンネルMOSFETM11およびM12がオフしており、出力OUTがLレベルの場合に、V2Hから抵抗RH,R22およびオンしているインバータU21のNチャンネルMOSFETを介してV2Lに流れる微少電流と、インバータU21の出力(Hレベル)から抵抗R21およびRLを介してV2Lに流れる微小電流を除き定常的に電流を消費しない回路構成で、低消費電力化を実現できる。そして、一次側の電源投入(V1H、V1L)が二次側の電源投入(V2H、V1L)より遅く入力信号INが確定しない場合は、初期値設定回路の抵抗RHおよびRLの抵抗値を適切に設定することで、ラッチ回路の出力状態を確実に設定することができ、製造バラツキや動作条件などに影響を受けずに簡単な回路構成で低消費電力のレベルシフト回路を実現できる。
特に、図1に示したレベルシフト回路は、初期値設定回路31および32を抵抗で構成したことにより、二次側の電源電圧(V2H−V2L間電位)の立ち上がり速度が遅い場合の初期設定動作に好適となる。
なお、図1では、初期値設定回路31および32を備えたレベルシフト回路を示したが、いずれか一方を備えたレベルシフト回路で具体化してもよい。また、初期値設定回路31および32と入力N1およびN2との接続を入れ替えて構成してもよい。
図2は、この発明のレベルシフト回路の第2の実施例を示すブロック図である。図1に示す第1の実施例、および、図4、図7に示す従来回路例と同じ部位には同じ符号を付して詳細な説明は省略する。
図2に示す回路は、入力回路10と、ラッチ回路20と、初期値設定回路31aおよび32aから構成されている。なお、入力回路10およびラッチ回路20の構成・動作は実施例1に関する図1のものと同一であり、説明は省略する。
初期値設定回路31aは、一端が二次側の高電位V2Hに接続され、他端がラッチ回路20の入力N1に接続する容量CHで構成される。初期値設定回路32aは、一端が二次側の低電位V2Lに接続され、他端がラッチ回路20の入力N2に接続する容量CLで構成される。
なお、初期値設定回路に容量を適用するため、MOSFETのゲート容量や配線容量などの寄生容量も考慮する必要がある。そこで、入力N1に接続されているインバータU21のゲート容量などからなる寄生容量21を、入力N1と二次側の高電位V2H間の寄生容量CP1および入力N1と二次側の低電位V2L間の寄生容量CN1に分けて、図2に表示する。同様に、インバータU22のゲート容量などからなる入力N2に接続されている寄生容量22を、入力N2と二次側の高電位V2H間の寄生容量CP2および入力N2と二次側の低電位V2L間の寄生容量CN2に分けて、図2に表示する。
ここで、初期値設定回路の容量CHおよび容量CLの容量値(これらもCH、CLと記す。)は、寄生容量(CP1、CN1、CP2、CN2)の容量値(これらもCP1、CN1、CP2、CN2と記す。)も考慮して、容量値比(以下、単に容量比という。)が次式を満足するように設定する。
(CH+CP1)/CN1>CP2/(CL+CN2) ・・・ (5)
以上のように構成された図2に示すレベルシフト回路の動作について説明する。
まず、一次側の電源電位V1HとV1Lおよび二次側の電源電位V2HとV2Lが供給
されている定常状態での動作を説明する。
定常状態では、初期値設定回路31aの容量CHおよび初期値設定回路32aの容量CLと寄生容量21(CP1、CN1)および22(CP2、CN2)は無視することができ、上述の図1と同一の動作となる。従い、これ以上の説明は省略する。
次に、一次側の電源投入(V1H、V1L)が二次側の電源投入(V2H、V1L)より遅く、入力信号INが確定しない場合の動作について説明する。
二次側の電源電圧(V2H−V2L間電位)が投入されると、ラッチ回路20の入力N1は電源電圧を初期値設定回路31aの容量CHと寄生容量CP1およびCN1との容量比で分圧した電位となり、入力N2は電源電圧を初期値設定回路32aの容量CLと寄生容量CP2およびCN2との容量比で分圧した電位となる。ここで、容量比は(5)式のように設定されているため、ラッチ回路20の入力N1、N2の電位は、(入力N1の電位)>(入力N2の電位)という関係になる。(注:分圧なので、V2HやV2Lの値まで達せず、中間電位となる)
この状態で、二次側の電源電圧(V2H−V2L間電位)が、インバータU21およびU22が動作する電圧(しきい値電圧:例えば0.5〜1.0V)以上に上昇すると、入力N1およびN2も上記の関係を保持して上昇し、これに基づきラッチ回路20の状態が確定する。すなわち、インバータU21の出力はLレベル(V2L)、インバータU22の出力はHレベル(V2H)となる。これにより、ラッチ回路20の出力OUTはHレベル(V2H)に設定され、初期状態が確定する。
なお、この初期状態で一次側の電源電位(V1H、V1L)が投入されると、前述した定常状態と同様の動作となるため、説明は省略する。
以上説明したように、図2に示したレベルシフト回路は、一次側の電源投入(V1H、V1L)が二次側の電源投入(V2H、V1L)より遅く入力信号INが確定しない場合でも、初期値設定回路の容量(CH、CL)および寄生容量(CP1、CN1、CP2、CN2)の容量比を適切に設定することで、ラッチ回路の出力状態を確実に設定することが可能となり、製造バラツキや動作条件などに影響を受けずに簡単な回路構成で低消費電力のレベルシフト回路を実現できる。
特に、図2に示したレベルシフト回路は、初期値設定回路31aおよび32aを容量のみで構成したことにより、抵抗と容量の組み合わせによる遅れ要素を排することができ、二次側の電源電圧(V2H−V2L間電位)の立ち上がりが急峻な場合の初期設定動作に好適となる。
なお、図2では、初期値設定回路31aおよび32aを備えたレベルシフト回路を示したが、いずれか一方を備えたレベルシフト回路で具体化してもよい。また、初期値設定回路31aおよび32aと入力N1およびN2との接続を入れ替えて構成してもよい。
また、図2に示したレベルシフト回路は、容量比が(5)式を満足すればよいため、初期値設定回路の容量CHおよびCLを個別に設けず、寄生容量CP1およびCN2のみで(5)式を満足するようにインバータU21およびU22のゲート容量などを設定してもよい。
図3は、この発明のレベルシフト回路の第3の実施例を示すブロック図である。図1および図2に示す実施例と同じ部位には同じ符号を付して詳細な説明は省略する。
図3に示すレベルシフト回路は、図1および図2を組み合わせて構成している。すなわち、入力回路10およびラッチ回路20は、上述した図1および図2のものと同一であり、初期値設定回路31bおよび32bは、図1で示した抵抗(RH、RL)と図2で示した容量(CH、CL)の両方を用いて、抵抗RHと容量CH、および抵抗RLと容量CLとをそれぞれ並列に接続した構成とする。なお、抵抗および容量は、上述した(1)〜(5)式を満足するように設定する。
以上のように構成された図3に示すレベルシフト回路は、二次側の電源電圧(V2H−V2L間電位)の立ち上がり速度により、図1、図2で説明した動作を使い分けるものになる。
一次側の電源投入(V1H、V1L)が二次側の電源投入(V2H、V1L)より遅い場合、二次側の電源電圧の立ち上がり速度の違いで、初期値設定回路31bおよび32bの動作効果が異なる。すなわち、立ち上がり速度が遅い場合は、容量に流れる電流は無視され、抵抗に流れる電流が支配的となり、入力N1およびN2の電位が設定される。一方、立ち上がり速度が速い場合は、容量に流れる電流が支配的となり、容量比の分圧により入力N1およびN2の電位が設定される。
このように、図3に示したレベルシフト回路は、一次側の電源投入より二次側の電源投入が遅い場合に、二次側電源の立ち上がり時間の影響を受けず、ラッチ回路の出力状態を確実に設定することが可能で、製造バラツキや動作条件や二次側電源の立ち上がり時間などにも影響を受けず、簡単な回路構成で低消費電力のレベルシフト回路を実現できる。
なお、図3では、初期値設定回路31bおよび32bを備えたレベルシフト回路を示したが、いずれか一方を備えたレベルシフト回路で具体化してもよい。また、初期値設定回路31bおよび32bと入力N1およびN2との接続を入れ替えて構成してもよい。また、初期値設定回路の容量は、寄生容量のみの構成で設定してもよい。
以上、本発明の実施形態を説明したが、本発明は、上述した実施形態に限定されることなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々の改良や変更が可能である。
10、10a 入力回路
11 パルス生成回路
20、20a ラッチ回路
21、22 寄生容量を示す等価回路
31、32、31a,32a、31b、32b、131、132 初期値設定回路
CH、CL 容量もしくはその容量値
CP1、CP2、CN1、CN2 寄生容量もしくはその寄生容量値
D1 遅延回路
GND 基準電源端子もしくはその電位
IN 入力信号
M11、M12 NチャンネルMOSFET
M21、M23、M3H PチャンネルMOSFET
M22、M24、M3L NチャンネルMOSFET
N1、N2、N1a、N2a ラッチ回路の入力
O1、O2 パルス生成回路の出力信号
OUT ラッチ回路の出力
R21、R22 抵抗もしくはその抵抗値
RH、RL 抵抗もしくはその抵抗値
Ron MOSFETのオン抵抗値
U1、U2、U3、U4、U5、U6 インバータ
U7、U8 NOR回路
U11、U12、U21、U22 インバータ
V1H 一次側の高電位電源端子もしくはその電位
V1L 一次側の低電位電源端子もしくはその電位
V2H 二次側の高電位電源端子もしくはその電位
V2L 二次側の低電位電源端子もしくはその電位

Claims (5)

  1. 一次側の電位系から該一次側の電位系より高電位の二次側の電位系に論理値信号を伝達するレベルシフト回路であって、
    前記二次側の電位系で動作する第1および第2のインバータを、互いの入力と出力の間に抵抗を接続することにより環状に接続して成るラッチ回路と、
    前記第1および第2のインバータの入力と、前記一次側の電位系の低電位側基準電位との間にそれぞれ接続された第1および第2のMOSFETと、
    前記第1および第2のインバータの入力の少なくとも一方に接続された初期値設定回路と、
    を備えたことを特徴とするレベルシフト回路。
  2. 前記初期値設定回路として、
    前記第1および第2のインバータの何れか一方の入力と、前記二次側の電位系の高電位側電位との間に接続された第1の抵抗と、
    前記第1および第2のインバータの何れか他方の入力と、前記二次側の電位系の低電位側電位との間に接続された第2の抵抗と、
    の少なくとも一方を備えたことを特徴とする請求項1に記載のレベルシフト回路。
  3. 前記初期値設定回路として、
    前記第1および第2のインバータの何れか一方の入力と、前記二次側の電位系の高電位側電位との間に接続された第1の容量と、
    前記第1および第2のインバータの何れか他方の入力と、前記二次側の電位系の低電位側電位との間に接続された第2の容量と、
    の少なくとも一方を備えたことを特徴とする請求項1に記載のレベルシフト回路。
  4. 前記レベルシフト回路は、前記一次側の電位系で動作し、前記論理値信号の立ち上がりに第1のパルス信号を生成して該第1のパルス信号を前記第1のMOSFETのゲートに入力するとともに、前記論理値信号の立ち下がりに第2のパルス信号を生成して該第2のパルス信号を前記第2のMOSFETのゲートに入力するパルス生成回路を備えたことを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記載のレベルシフト回路。
  5. 前記パルス生成回路は、
    前記論理値信号を所定時間遅延させた信号を出力する遅延回路を有し、
    前記論理値信号と前記遅延回路出力の反転信号との論理積により前記第1のパルス信号を生成し、
    前記論理値信号の反転信号と前記遅延回路の出力信号との論理積により前記第2のパルス信号を生成することを特徴とする請求項4に記載のレベルシフト回路。
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