JP2010280600A - Method for producing sulfonium salt - Google Patents
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Abstract
【課題】ハロゲン化物イオンがフリーのスルホニウム塩の製造方法を提供する。
【解決手段】対アニオンとして、スルホン酸アニオンを有するスルホニウム化合物と、スルホンイミド塩とを接触・混合させることにより、下記一般式(5):
で表されるスルホニウム塩を製造する方法。
【選択図】なしA method for producing a sulfonium salt free of halide ions is provided.
By contacting and mixing a sulfonium compound having a sulfonate anion as a counter anion and a sulfonimide salt, the following general formula (5):
The manufacturing method of the sulfonium salt represented by these.
[Selection figure] None
Description
本発明は、塗料、コーティング剤、光硬化型接着剤、半導体のフォトリソグラフィー分野で使用される光酸発生剤に有用なスルホニウム塩の製造方法に関する。 The present invention relates to a method for producing a sulfonium salt useful as a photoacid generator used in the field of paints, coating agents, photocurable adhesives, and semiconductor photolithography.
光酸発生剤は、光照射により酸が発生し、エポキシモノマー、オキセタンモノマー等をカチオン重合させることができるため、塗料、コーティング剤、光硬化型接着剤等の分野に利用されている。また、半導体のフォトリソグラフィー分野では、露光により酸が発生し、その触媒作用により、レジスト樹脂を不溶化させている保護基を脱離させ、アルカリ現像液に可溶となる化学増幅型レジストにも使用されている。 Photo acid generators are used in the fields of paints, coating agents, photo-curing adhesives and the like because they generate an acid upon irradiation with light and can cationically polymerize epoxy monomers, oxetane monomers and the like. Also, in the field of semiconductor photolithography, acid is generated by exposure, and its catalytic action removes the protective group that has insolubilized the resist resin, and it is also used for chemically amplified resists that are soluble in alkaline developers. Has been.
光酸発生剤の分子構造は、照射光を吸収するカチオン部位と、酸の発生源となるアニオン部位から構成されており、光酸発生剤の代表例としてはスルホニウム塩やヨードニウム塩等のオニウム塩が挙げられる。スルホニウム塩はヨードニウム塩と比べて、保存安定性が良く、吸収波長がより長波長側にあるため、様々な構造を有するスルホニウム塩が開発されてきた。これらのスルホニウム塩のアニオン部位としては、SbF6 −、AsF6 −、BF4 −、B(C6F5)4 −、PF6 −等が使用されているが、Sbは劇物、Asは毒物であるため、これらの金属元素を含有するオニウム塩は安全性に問題があり、その用途は制限される。また、半導体のフォトリソグラフィー分野において、金属(SbF6 −、AsF6 −)、リン(PF6 −)、ホウ素(BF4 −、B(C6F5)4 −)等の元素を有する光酸発生剤は化学増幅型レジスト用途として使用することはできない。なぜならば、これらの元素は不純物となり、トランジスター性能に大きな影響を及ぼすからである(例えば、非特許文献1参照)。 The molecular structure of the photoacid generator is composed of a cation moiety that absorbs irradiated light and an anion moiety that is a source of acid generation. Typical examples of photoacid generators are onium salts such as sulfonium salts and iodonium salts. Is mentioned. Since the sulfonium salt has better storage stability and the absorption wavelength is longer than that of the iodonium salt, sulfonium salts having various structures have been developed. As the anion sites of these sulfonium salts, SbF 6 − , AsF 6 − , BF 4 − , B (C 6 F 5 ) 4 − , PF 6 − and the like are used, but Sb is a deleterious substance, As is Since they are poisonous, onium salts containing these metal elements have safety problems and their use is limited. In the field of semiconductor photolithography, a photoacid having an element such as metal (SbF 6 − , AsF 6 − ), phosphorus (PF 6 − ), boron (BF 4 − , B (C 6 F 5 ) 4 − ) or the like. The generator cannot be used for chemically amplified resist applications. This is because these elements become impurities and greatly affect transistor performance (see, for example, Non-Patent Document 1).
上記課題を解決する光酸発生剤として、例えば、カチオン部位はトリアリールスルホニウム、アニオン部位はフッ素含有スルホンイミデートからなるスルホニウム塩が挙げられる。従来、該スルホニウム塩は、下記に示す2つの工程から合成される。
第1工程:グリニャール試薬とジアリールスルホキシドからトリアリールスルホニウムハライドを合成する(例えば、非特許文献2〜3参照)。
第2工程:トリアリールスルホニウムハライドとスルホンイミド塩とを反応させて、トリアリールスルホニウム スルホンイミデートを合成する(例えば、特許文献1を参照)。
1st process: A triarylsulfonium halide is synthesize | combined from a Grignard reagent and diaryl sulfoxide (for example, refer nonpatent literature 2-3).
Second step: A triarylsulfonium halide and a sulfonimide salt are reacted to synthesize a triarylsulfonium sulfonamidate (see, for example, Patent Document 1).
しかしながら、上記製法の場合、第2工程において、副生成物としてハロゲン化物イオンが遊離するため、最終生成物のスルホニウム塩にハロゲン化物イオンの混入は避けられず、得られたスルホニウム塩中にハロゲン化物イオンが残存する可能性がある。ハロゲン化物イオンを含有するスルホニウム塩を光酸発生剤として使用すると、製品の着色や性能の低下等の原因となる。このため、ハロゲン化物イオンを含まない(フリーの)スルホニウム塩の製造が要求されるが、ハロゲン化物イオンの除去作業が必要となるため、操作が煩雑となる。このように、トリアリールスルホニウムハライドを経由する従来技術のスルホニウム塩の製法では、ハロゲン化物イオンの遊離・混入を回避することが困難であるため、新たな製造方法の開発が強く望まれる。 However, in the case of the above-mentioned production method, halide ions are liberated as a by-product in the second step. Therefore, the inclusion of halide ions in the sulfonium salt of the final product is unavoidable. Ions may remain. If a sulfonium salt containing a halide ion is used as a photoacid generator, it may cause coloration of the product or deterioration of performance. For this reason, it is required to produce a (free) sulfonium salt that does not contain halide ions, but the operation of removing the halide ions is necessary, and the operation becomes complicated. As described above, in the conventional method for producing a sulfonium salt via a triarylsulfonium halide, it is difficult to avoid the liberation / mixing of halide ions, and therefore development of a new production method is strongly desired.
本発明が解決しようとする課題は、上記問題点に鑑み、ハロゲン化物イオンの遊離・混入を回避しながらスルホニウム塩を高収率で製造することができるスルホニウム塩の新規製造方法を提供することである。 In view of the above problems, the problem to be solved by the present invention is to provide a novel method for producing a sulfonium salt capable of producing a sulfonium salt in a high yield while avoiding the liberation / mixing of halide ions. is there.
本発明者らは、ハロゲン化物イオンが遊離・混入することなく、スルホニウム塩を高収率で製造することができる方法について鋭意検討を行った。その結果、アニオン部位にスルホネートを有するスルホニウム塩とスルホンイミド塩とを接触・混合させる操作により、ハロゲン化物イオンが遊離・混入することなく、スルホニウム塩を高収率で製造できることを見出し、本発明を完成するに至った。 The present inventors diligently studied a method capable of producing a sulfonium salt in a high yield without liberation and mixing of halide ions. As a result, it was found that a sulfonium salt can be produced in a high yield without contacting and mixing halide ions, by contacting and mixing a sulfonium salt having a sulfonate at the anion site and a sulfonimide salt. It came to be completed.
すなわち、本発明は以下のとおりである。
[1]下記一般式(1):
[1] The following general formula (1):
[2]上記一般式(1)において、R1、R2、及びR3が、各々独立に、炭素数1〜4個のアルキル基、ナフチル基、又は式中Aが水素原子、ハロゲン原子、炭素数1〜4個のアルキル基、炭素数1〜4個のアルコキシ基、フェノキシ基、炭素数1〜4個のアルキルチオ基又はフェニルチオ基のいずれかである上記一般式(2)で表されるアリール基であり、xは、1〜4の整数であり、そしてyは、0又は1である、前記[1]に記載の一般式(5)で表されるスルホニウム塩の製造方法。 [2] In the general formula (1), R 1 , R 2 , and R 3 are each independently an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, a naphthyl group, or A in the formula is a hydrogen atom, a halogen atom, It is represented by the above general formula (2), which is any one of an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 4 carbon atoms, a phenoxy group, an alkylthio group having 1 to 4 carbon atoms, or a phenylthio group. The method for producing a sulfonium salt represented by the general formula (5) according to the above [1], which is an aryl group, x is an integer of 1 to 4, and y is 0 or 1.
[3]上記一般式(3)において、Rf、及びRf’は、各々独立に、F、C6F5若しくはCaF2a+1−bHb(aは1〜6の整数であり、そしてbは0又は1である)のいずれかであるか、又は式中、nが1〜4の整数である上記一般式(4)で表される構造を含む、前記[1]に記載の一般式(5)で表されるスルホニウム塩の製造方法。 [3] In the general formula (3), Rf and Rf ′ are each independently F, C 6 F 5 or C a F 2a + 1-b H b (a is an integer of 1 to 6 and b Is a general formula according to [1], including a structure represented by the general formula (4), wherein n is an integer of 1 to 4 The manufacturing method of the sulfonium salt represented by (5).
[4]上記一般式(3)中、Mがアルカリ金属である、前記[1]〜[3]のいずれかに記載の一般式(5)で表されるスルホニウム塩の製造方法。 [4] The method for producing a sulfonium salt represented by the general formula (5) according to any one of the above [1] to [3], wherein M is an alkali metal in the general formula (3).
本発明によれば、ハロゲン化物イオンが遊離・混入することなく、スルホニウム塩を高収率で製造することができる。 According to the present invention, a sulfonium salt can be produced in a high yield without liberation and mixing of halide ions.
以下、本発明について詳細に記述する。
本発明は、以下の反応スキーム:
The present invention provides the following reaction scheme:
本発明で使用する上記一般式(1)で表されるスルホニウム化合物のR1、R2、及びR3は、各々独立に、炭素数1〜8個のアルキル基、ナフチル基又は下記一般式(2):
R1、R2、及びR3の具体例としては、以下のものが挙げられる:
・炭素数1〜8個のアルキル基、
−CH3、−CH2CH3、−CH2CH2CH3、−CH(CH3)2、−CH2CH2CH2CH3、−CH2CH(CH3)2、−C(CH3)3、−(CH2)4CH3、−(CH2)5CH3、−(CH2)6CH3、−(CH2)7CH3、
・ナフチル基
An alkyl group having 1 to 8 carbon atoms,
-CH 3, -CH 2 CH 3, -CH 2 CH 2 CH 3, -CH (CH 3) 2, -CH 2 CH 2 CH 2 CH 3, -CH 2 CH (CH 3) 2, -C (CH 3 ) 3 ,-(CH 2 ) 4 CH 3 ,-(CH 2 ) 5 CH 3 ,-(CH 2 ) 6 CH 3 ,-(CH 2 ) 7 CH 3 ,
・ Naphthyl group
また、上記一般式(1)のアニオン部位であるスルホネートの具体例としては、以下の:CF3SO3 −、HCF2SO3 −、CF3CF2SO3 −、HCF2CF2SO3 −、CF3CFHSO3 −、CF3(CF2)2SO3 −、HCF2(CF2)2SO3 −、CF3(CF2)3SO3 −、HCF2(CF2)3SO3 −、CF3(CF2)4SO3 −、HCF2(CF2)4SO3 −、CF3(CF2)5SO3 −、HCF2(CF2)5SO3 −、CF3(CF2)6SO3 −、HCF2(CF2)6SO3 −、CF3(CF2)7SO3 −、HCF2(CF2)7SO3 −等が挙げられる。 Specific examples of the sulfonate that is the anion moiety of the general formula (1) include the following: CF 3 SO 3 − , HCF 2 SO 3 − , CF 3 CF 2 SO 3 − , HCF 2 CF 2 SO 3 − , CF 3 CFHSO 3 − , CF 3 (CF 2 ) 2 SO 3 − , HCF 2 (CF 2 ) 2 SO 3 − , CF 3 (CF 2 ) 3 SO 3 − , HCF 2 (CF 2 ) 3 SO 3 − , CF 3 (CF 2 ) 4 SO 3 − , HCF 2 (CF 2 ) 4 SO 3 − , CF 3 (CF 2 ) 5 SO 3 − , HCF 2 (CF 2 ) 5 SO 3 − , CF 3 (CF 2 ) 6 SO 3 − , HCF 2 (CF 2 ) 6 SO 3 − , CF 3 (CF 2 ) 7 SO 3 − , HCF 2 (CF 2 ) 7 SO 3 — and the like.
上記一般式(1)で表されるスルホニウム化合物は、後述するように含フッ素スルホン酸(CxF2x+1−yHySO3H)を使用して製造されるため、含フッ素スルホン酸の入手性、及び上記一般式(1)で表されるスルホニウム化合物の合成時のハンドリング等の理由から、上記一般式(1)において、好ましくは、R1、R2、及びR3が炭素数1〜4個のアルキル基、ナフチル基、又は式中、Aが水素原子、ハロゲン原子、炭素数1〜4個のアルキル基、炭素数1〜4個のアルコキシ基、フェノキシ基、炭素数1〜4個のアルキルチオ基若しくはフェニルチオ基のいずれかである一般式(2)で表されるアリール基であり、xは、1〜4の整数であり、そしてyは、0又は1である。より好ましくは、R1、R2、及びR3は、メチル基、ナフチル基、又は式中Aが水素原子、フッ素原子、塩素原子、メチル基、メトキシ基、フェノキシ基、メチルチオ基若しくはフェニルチオ基のいずれかである一般式(2)で表されるアリール基であり、xは、1〜4の整数であり、そしてyは、0又は1である。特に好ましくは、R1、R2、及びR3は、ナフチル基、又は式中、Aが水素原子若しくはフェニルチオ基のいずれかである一般式(2)で表されるアリール基であり、アニオン部位は、CF3SO3 −、CF3CF2SO3 −、HCF2CF2SO3 −若しくはCF3(CF2)3SO3 −のいずれかである。 Sulfonium compound represented by the general formula (1) is to be produced using the fluorine-containing sulfonic acid (C x F 2x + 1- y H y SO 3 H) as described below, to obtain a fluorine-containing sulfonic acid In the general formula (1), preferably, R 1 , R 2 , and R 3 each have 1 to 1 carbon atoms, for reasons such as properties and handling during the synthesis of the sulfonium compound represented by the general formula (1). 4 alkyl groups, naphthyl groups, or in the formula, A is a hydrogen atom, a halogen atom, an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 4 carbon atoms, a phenoxy group, or 1 to 4 carbon atoms Or an aryl group represented by the general formula (2) which is either an alkylthio group or a phenylthio group, x is an integer of 1 to 4, and y is 0 or 1. More preferably, R 1 , R 2 , and R 3 are a methyl group, a naphthyl group, or a group in which A is a hydrogen atom, a fluorine atom, a chlorine atom, a methyl group, a methoxy group, a phenoxy group, a methylthio group, or a phenylthio group. Any one of the aryl groups represented by the general formula (2), x is an integer of 1 to 4, and y is 0 or 1. Particularly preferably, R 1 , R 2 , and R 3 are a naphthyl group or an aryl group represented by the general formula (2) in which A is either a hydrogen atom or a phenylthio group, and an anionic site Is either CF 3 SO 3 − , CF 3 CF 2 SO 3 − , HCF 2 CF 2 SO 3 — or CF 3 (CF 2 ) 3 SO 3 — .
上記一般式(1)で表されるスルホニウム化合物の製造方法としては、以下の:
(1)スルフィド化合物とエステル化合物を含フッ素スルホン酸の存在下で反応させる方法(例えば、非特許文献4参照)
(1) A method in which a sulfide compound and an ester compound are reacted in the presence of a fluorine-containing sulfonic acid (see, for example, Non-Patent Document 4)
次に、本発明で使用する下記一般式(3):
上記一般式(3)において、Rf、及びRf’は、各々独立に、F、C6F5若しくはもしくはCaF2a+1−bH b(aは1〜8の整数であり、そしてbは0又は1である)のいずれかであるか又は下記一般式(4):
In the general formula (3), Rf and Rf ′ are each independently F, C 6 F 5 or C a F 2a + 1-b H b (a is an integer of 1 to 8, and b is 0 Or 1) or the following general formula (4):
上記一般式(3)のアニオン部位の具体例としては、以下の:
―N(SO2F)2
―N(SO2CF3)SO2F
―N(SO2CF3)2
―N(SO2CF2CF3)SO2F
―N(SO2CF2CF3)SO2CF3
―N(SO2CF2CF3)2
―N[SO2(CF2)2CF3]SO2F
―N[SO2(CF2)2CF3]SO2CF3
―N[SO2(CF2)2CF3]SO2CF2CF3
―N[SO2(CF2)2CF3]2
―N[SO2(CF2)3CF3]SO2F
―N[SO2(CF2)3CF3]SO2CF3
―N[SO2(CF2)3CF3]SO2CF2CF3
―N[SO2(CF2)3CF3]SO2(CF2)2CF3
―N[SO2(CF2)3CF3]2
―N[SO2(CF2)4CF3]SO2F
―N[SO2(CF2)4CF3]SO2CF3
―N[SO2(CF2)4CF3]SO2CF2CF3
―N[SO2(CF2)4CF3]SO2(CF2)2CF3
―N[SO2(CF2)4CF3]SO2(CF2)3CF3
―N[SO2(CF2)4CF3]2
―N[SO2(CF2)5CF3]SO2F
―N[SO2(CF2)5CF3]SO2CF3
―N[SO2(CF2)5CF3]SO2CF2CF3
―N[SO2(CF2)5CF3]SO2(CF2)2CF3
―N[SO2(CF2)5CF3]SO2(CF2)3CF3
―N[SO2(CF2)5CF3]SO2(CF2)4CF3
―N[SO2(CF2)5CF3]2
―N[SO2(CF2)6CF3]SO2F
―N[SO2(CF2)6CF3]SO2CF3
―N[SO2(CF2)6CF3]SO2CF2CF3
―N[SO2(CF2)6CF3]SO2(CF2)2CF3
―N[SO2(CF2)6CF3]SO2(CF2)3CF3
―N[SO2(CF2)6CF3]SO2(CF2)4CF3
―N[SO2(CF2)6CF3]SO2(CF2)5CF3
―N[SO2(CF2)6CF3]2
―N[SO2(CF2)7CF3]SO2F
―N[SO2(CF2)7CF3]SO2CF3
―N[SO2(CF2)7CF3]SO2CF2CF3
―N[SO2(CF2)7CF3]SO2(CF2)2CF3
―N[SO2(CF2)7CF3]SO2(CF2)3CF3
―N[SO2(CF2)7CF3]SO2(CF2)4CF3
―N[SO2(CF2)7CF3]SO2(CF2)5CF3
―N[SO2(CF2)7CF3]SO2(CF2)6CF3
―N[SO2(CF2)7CF3]2
―N(SO2CF2CF2H)SO2F
―N(SO2CF2CF2H)SO2CF3
―N(SO2CF2CF2H)SO2CF2H
―N(SO2CF2CF2H)SO2CF2CF3
―N(SO2CF2CF2H)2
―N(SO2CF2CF2H)SO2(CF2)2CF3
―N(SO2CF2CF2H)SO2(CF2)3CF3
―N(SO2CF2CF2H)SO2(CF2)4CF3
―N(SO2CF2CF2H)SO2(CF2)5CF3
―N(SO2CF2CF2H)SO2(CF2)6CF3
―N(SO2CF2CF2H)SO2(CF2)7CF3
―N(SO2CFHCF3)SO2F
―N(SO2CFHCF3)SO2CF3
―N(SO2CFHCF3)SO2CF2H
―N(SO2CFHCF3)SO2CF2CF3
―N(SO2CFHCF3)SO2CF2CF2H
―N(SO2CFHCF3)2
―N(SO2CFHCF3)SO2(CF2)2CF3
―N(SO2CFHCF3)SO2(CF2)3CF3
―N(SO2CFHCF3)SO2(CF2)4CF3
―N(SO2CFHCF3)SO2(CF2)5CF3
―N(SO2CFHCF3)SO2(CF2)6CF3
―N(SO2CFHCF3)SO2(CF2)7CF3
Specific examples of the anion moiety of the general formula (3) are as follows:
- N (SO 2 F) 2
- N (SO 2 CF 3) SO 2 F
- N (SO 2 CF 3) 2
- N (SO 2 CF 2 CF 3) SO 2 F
- N (SO 2 CF 2 CF 3) SO 2 CF 3
- N (SO 2 CF 2 CF 3) 2
- N [SO 2 (CF 2 ) 2 CF 3] SO 2 F
- N [SO 2 (CF 2 ) 2 CF 3] SO 2 CF 3
- N [SO 2 (CF 2 ) 2 CF 3] SO 2 CF 2 CF 3
- N [SO 2 (CF 2 ) 2 CF 3] 2
- N [SO 2 (CF 2 ) 3 CF 3] SO 2 F
- N [SO 2 (CF 2 ) 3 CF 3] SO 2 CF 3
- N [SO 2 (CF 2 ) 3 CF 3] SO 2 CF 2 CF 3
- N [SO 2 (CF 2 ) 3 CF 3] SO 2 (CF 2) 2 CF 3
- N [SO 2 (CF 2 ) 3 CF 3] 2
- N [SO 2 (CF 2 ) 4 CF 3] SO 2 F
- N [SO 2 (CF 2 ) 4 CF 3] SO 2 CF 3
- N [SO 2 (CF 2 ) 4 CF 3] SO 2 CF 2 CF 3
- N [SO 2 (CF 2 ) 4 CF 3] SO 2 (CF 2) 2 CF 3
- N [SO 2 (CF 2 ) 4 CF 3] SO 2 (CF 2) 3 CF 3
- N [SO 2 (CF 2 ) 4 CF 3] 2
- N [SO 2 (CF 2 ) 5 CF 3] SO 2 F
- N [SO 2 (CF 2 ) 5 CF 3] SO 2 CF 3
- N [SO 2 (CF 2 ) 5 CF 3] SO 2 CF 2 CF 3
- N [SO 2 (CF 2 ) 5 CF 3] SO 2 (CF 2) 2 CF 3
- N [SO 2 (CF 2 ) 5 CF 3] SO 2 (CF 2) 3 CF 3
- N [SO 2 (CF 2 ) 5 CF 3] SO 2 (CF 2) 4 CF 3
- N [SO 2 (CF 2 ) 5 CF 3] 2
- N [SO 2 (CF 2 ) 6 CF 3] SO 2 F
- N [SO 2 (CF 2 ) 6 CF 3] SO 2 CF 3
- N [SO 2 (CF 2 ) 6 CF 3] SO 2 CF 2 CF 3
- N [SO 2 (CF 2 ) 6 CF 3] SO 2 (CF 2) 2 CF 3
- N [SO 2 (CF 2 ) 6 CF 3] SO 2 (CF 2) 3 CF 3
- N [SO 2 (CF 2 ) 6 CF 3] SO 2 (CF 2) 4 CF 3
- N [SO 2 (CF 2 ) 6 CF 3] SO 2 (CF 2) 5 CF 3
- N [SO 2 (CF 2 ) 6 CF 3] 2
- N [SO 2 (CF 2 ) 7 CF 3] SO 2 F
- N [SO 2 (CF 2 ) 7 CF 3] SO 2 CF 3
- N [SO 2 (CF 2 ) 7 CF 3] SO 2 CF 2 CF 3
- N [SO 2 (CF 2 ) 7 CF 3] SO 2 (CF 2) 2 CF 3
- N [SO 2 (CF 2 ) 7 CF 3] SO 2 (CF 2) 3 CF 3
- N [SO 2 (CF 2 ) 7 CF 3] SO 2 (CF 2) 4 CF 3
- N [SO 2 (CF 2 ) 7 CF 3] SO 2 (CF 2) 5 CF 3
- N [SO 2 (CF 2 ) 7 CF 3] SO 2 (CF 2) 6 CF 3
- N [SO 2 (CF 2 ) 7 CF 3] 2
- N (SO 2 CF 2 CF 2 H) SO 2 F
- N (SO 2 CF 2 CF 2 H) SO 2 CF 3
- N (SO 2 CF 2 CF 2 H) SO 2 CF 2 H
- N (SO 2 CF 2 CF 2 H) SO 2 CF 2 CF 3
- N (SO 2 CF 2 CF 2 H) 2
- N (SO 2 CF 2 CF 2 H) SO 2 (CF 2) 2 CF 3
- N (SO 2 CF 2 CF 2 H) SO 2 (CF 2) 3 CF 3
- N (SO 2 CF 2 CF 2 H) SO 2 (CF 2) 4 CF 3
- N (SO 2 CF 2 CF 2 H) SO 2 (CF 2) 5 CF 3
- N (SO 2 CF 2 CF 2 H) SO 2 (CF 2) 6 CF 3
- N (SO 2 CF 2 CF 2 H) SO 2 (CF 2) 7 CF 3
- N (SO 2 CFHCF 3) SO 2 F
- N (SO 2 CFHCF 3) SO 2 CF 3
- N (SO 2 CFHCF 3) SO 2 CF 2 H
- N (SO 2 CFHCF 3) SO 2 CF 2 CF 3
- N (SO 2 CFHCF 3) SO 2 CF 2 CF 2 H
- N (SO 2 CFHCF 3) 2
- N (SO 2 CFHCF 3) SO 2 (CF 2) 2 CF 3
- N (SO 2 CFHCF 3) SO 2 (CF 2) 3 CF 3
- N (SO 2 CFHCF 3) SO 2 (CF 2) 4 CF 3
- N (SO 2 CFHCF 3) SO 2 (CF 2) 5 CF 3
- N (SO 2 CFHCF 3) SO 2 (CF 2) 6 CF 3
- N (SO 2 CFHCF 3) SO 2 (CF 2) 7 CF 3
後述するように、上記一般式(3)で表されるスルホンイミド塩は、スルホニルハライドを出発原料として合成されるが、該スルホニルハライドの入手性、スルホンイミド塩合成時のハンドリング等の理由から、上記一般式(3)中のRf、及びRf’は、好ましくは、F、C6F5若しくはCaF2a+1−bHb(aは1〜6の整数であり、そしてbは0又は1である)であるか又は式中、nが1〜4の整数である一般式(4)の構造を含む。より好ましくは、Rf、及びRf’は、F、C6F5若しくはCaF2a+1−bHb(aは1〜4の整数であり、そしてbは0又は1である)であるか又は式中nが2〜4の整数である一般式(4)の構造を含み、さらに好ましくは、Rf、及びRf’は、F、C6F5若しくはCaF2a+1−bH b(aは1〜4の整数であり、そしてbは0又は1である)であるか又は式中nが2〜3の整数である一般式(4)の構造を含む。 As will be described later, the sulfonimide salt represented by the general formula (3) is synthesized using a sulfonyl halide as a starting material, but for reasons such as availability of the sulfonyl halide, handling during the synthesis of the sulfonimide salt, and the like, Rf and Rf ′ in the general formula (3) are preferably F, C 6 F 5 or C a F 2a + 1-b H b (a is an integer of 1 to 6 and b is 0 or 1 Or a structure of the general formula (4) in which n is an integer of 1 to 4. More preferably, Rf and Rf ′ are F, C 6 F 5 or C a F 2a + 1-b H b (a is an integer from 1 to 4 and b is 0 or 1) or Wherein n is an integer of 2 to 4, and more preferably Rf and Rf ′ are F, C 6 F 5 or C a F 2a + 1-b H b (a is Or an integer of 1 to 4 and b is 0 or 1, or a structure of general formula (4) wherein n is an integer of 2 to 3.
また、上記一般式(3)で表されるスルホンイミド塩のMは、スルホンイミド塩の入手性、後述のスルホンイミド塩の製造時におけるハンドリング等の理由から、Mは、アルカリ金属であることがより好ましく、リチウム、ナトリウム又はカリウムのいずれかであることがさらに好ましい。 In addition, M of the sulfonimide salt represented by the general formula (3) may be an alkali metal for reasons such as availability of the sulfonimide salt and handling during the production of the sulfonimide salt described below. More preferably, it is any one of lithium, sodium or potassium.
上記一般式(3)で表されるスルホンイミド塩の製造方法としては、以下の:
(4)ペルフルオロアルキルスルホニルフルオリドとトリメチルシリル基含有ペルフルオロアルキルスルホンアミドのアルカリ金属塩を反応させる方法(例えば、非特許文献7〜8)
RfSO2F + Rf’SO2N(SiMe3)Na → RfSO2N(Na)SO2Rf’ + Me3SiF
(5)ペルフルオロアルキルスルホニルハライドとペルフルオロアルキルスルホンアミドをアルカリ金属フッ化物の存在下、反応させる方法(例えば、特許文献2参照)
RfSO2X + Rf’SO2NH2 + 4MF → RfSO2N(M)SO2Rf’ + 2MFHF + MX
(6)含フッ素アルキルスルホニルハライドと含フッ素アルキルスルホンアミドを炭酸塩の存在下、反応させる方法(例えば、特許文献3参照)
RfSO2X + Rf’SO2NH2 + M2CO3 → RfSO2N(M)SO2Rf’ + MX + CO2 + H2O
等が開示されており、その製造方法は特に限定されない。
The method for producing the sulfonimide salt represented by the general formula (3) is as follows:
(4) A method of reacting perfluoroalkylsulfonyl fluoride with an alkali metal salt of a trimethylsilyl group-containing perfluoroalkylsulfonamide (for example, Non-Patent Documents 7 to 8)
RfSO 2 F + Rf'SO 2 N (SiMe 3 ) Na → RfSO 2 N (Na) SO 2 Rf '+ Me 3 SiF
(5) A method of reacting perfluoroalkylsulfonyl halide and perfluoroalkylsulfonamide in the presence of an alkali metal fluoride (see, for example, Patent Document 2)
RfSO 2 X + Rf'SO 2 NH 2 + 4MF → RfSO 2 N (M) SO 2 Rf '+ 2MFHF + MX
(6) A method of reacting a fluorinated alkylsulfonyl halide and a fluorinated alkylsulfonamide in the presence of a carbonate (see, for example, Patent Document 3)
RfSO 2 X + Rf'SO 2 NH 2 + M 2 CO 3 → RfSO 2 N (M) SO 2 Rf '+ MX + CO 2 + H 2 O
Etc. are disclosed, and the manufacturing method thereof is not particularly limited.
上記一般式(1)で表されるスルホニウム化合物と上記一般式(3)で表されるスルホンイミド塩とを接触・混合させることにより、ハロゲン化物イオンが遊離・混入することなく、上記一般式(5)で表される高純度のスルホニウム塩を得ることができる。
溶媒としては、反応物質に対して不活性な溶媒であればよく、本発明で使用される溶媒の例としては、水、テトラヒドロフラン、1,4−ジオキサン、エチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールジメチルエーテル、トリエチレングリコールジメチルエーテル、テトラエチレングリコールジメチルエーテル等のエーテル系溶媒、アセトニトリル、プロピオニトリル、ブチロニトリル等のニトリル系溶媒、N,N―ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド等のアミド類、ジメチルスルホキシド、スルホラン等が挙げられる。これらの溶媒は単独または混合して使用できる。
By contacting and mixing the sulfonium compound represented by the above general formula (1) and the sulfonimide salt represented by the above general formula (3), the above general formula ( A high-purity sulfonium salt represented by 5) can be obtained.
Any solvent may be used as long as it is inert to the reactants. Examples of the solvent used in the present invention include water, tetrahydrofuran, 1,4-dioxane, ethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol dimethyl ether, and triethylene glycol. Examples include ether solvents such as dimethyl ether and tetraethylene glycol dimethyl ether, nitrile solvents such as acetonitrile, propionitrile, and butyronitrile, amides such as N, N-dimethylformamide and N, N-dimethylacetamide, dimethyl sulfoxide, and sulfolane. It is done. These solvents can be used alone or in combination.
上記一般式(3)で表されるスルホンイミド塩の使用量は、上記一般式(1)で表されるスルホニウム化合物1モルに対して、0.95モル〜10モルが好ましく、0.98モル〜5モルがより好ましく、1モル〜4モルがさらに好ましい。
反応温度は、通常、−20℃〜100℃であるが、好ましくは−10℃〜80℃であり、より好ましくは0℃〜50℃であり、さらに好ましくは10℃〜30℃である。
反応時間は、通常、0.01時間〜48時間であるが、好ましくは0.1時間〜36時間、より好ましくは0.2時間〜24時間、さらに好ましくは0.5時間〜12時間である。
0.95 mol-10 mol is preferable with respect to 1 mol of sulfonium compounds represented by the said General formula (1), and the usage-amount of the sulfonimide salt represented by the said General formula (3) is 0.98 mol-5 mol. More preferably, 1 mol to 4 mol is more preferable.
The reaction temperature is usually −20 ° C. to 100 ° C., preferably −10 ° C. to 80 ° C., more preferably 0 ° C. to 50 ° C., further preferably 10 ° C. to 30 ° C.
The reaction time is usually 0.01 hours to 48 hours, preferably 0.1 hours to 36 hours, more preferably 0.2 hours to 24 hours, and even more preferably 0.5 hours to 12 hours.
反応終了後、例えば、反応混合物中の溶媒を減圧留去した後、ジクロロメタン、クロロホルム、酢酸エチル等の有機溶媒と水を加えて有機層を分液し、水層は該有機溶媒で抽出操作をさらに2〜3回繰り返してこれらの有機層を一緒にして有機溶媒を減圧留去すると、上記一般式(5)で表されるスルホニウム塩を得ることができる。得られたスルホニウム塩は、従来公知の精製方法、例えば、晶析、カラムクロマトグラフィー等により精製を行っても差し支えない。 After completion of the reaction, for example, the solvent in the reaction mixture is distilled off under reduced pressure, and then an organic solvent such as dichloromethane, chloroform, ethyl acetate and water are added to separate the organic layer, and the aqueous layer is extracted with the organic solvent. Further, by repeating these two to three times and combining these organic layers together, the organic solvent is distilled off under reduced pressure to obtain the sulfonium salt represented by the general formula (5). The obtained sulfonium salt may be purified by a conventionally known purification method such as crystallization or column chromatography.
本発明者らは、以下の反応スキームに示すように、従来法のトリアリールスルホニウムハライドとスルホンイミド塩からトリアリールスルホニウム スルホンイミデート(C−1、C−2)を合成した場合、及び本発明の製法であるトリアリールスルホニウム スルホネートとスルホンイミド塩から得られたトリアリールスルホニウム スルホンイミデート(P−5、P−6)を合成した場合について、イオンクロマトにより、得られたスルホニウム塩に含まれるハロゲンイオンの測定を行った(実施例5と6、比較例1と2参照)。
その結果、C−1、C−2からは、臭化物イオンが、それぞれ、0.4ppm、0.6ppm検出されたが、P−5、P−6からは、臭化物イオンは検出限界以下(0.1ppm未満)であった。
このように、アニオン部位にフッ素含有スルホンイミデートを有するスルホニウム塩を製造する場合、従来法ではハロゲン化物イオンの遊離・混入が避けられないため、高純度のスルホニウム塩を得るために水洗を何回も繰り返す等の繁雑な操作が必要であったが、本発明の製法ではハロゲン化物イオンの遊離・混入が無いため、高純度のスルホニウム塩を高収率で得ることが可能となり、工業的に極めて有用であることが分かる。
As a result, bromide ions were detected at 0.4 ppm and 0.6 ppm from C-1 and C-2, respectively, but bromide ions were below the detection limit (less than 0.1 ppm) from P-5 and P-6. Met.
In this way, when producing a sulfonium salt having a fluorine-containing sulfonimidate at the anion site, it is inevitable that halide ions are liberated and mixed in the conventional method. Therefore, the water is washed several times to obtain a high-purity sulfonium salt. However, in the production method of the present invention, since there is no liberation and contamination of halide ions, it is possible to obtain a high-purity sulfonium salt in a high yield, which is extremely industrially difficult. It turns out that it is useful.
以下、実施例、比較例を用いて本発明を詳細に説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。
・1H NMR、 19F NMRによる分子構造解析
JNM−GSX400G型核磁気共鳴装置(日本電子株式会社製)を使用し、溶媒は重クロロホルム、基準物質としてテトラメチルシラン(1H NMR)、フレオン−11(CFCl3)(19F NMR)を用いた。
・イオンクロマトグラフによるイオン分析
イオンクロマトグラフはIC-2001(東ソー株式会社製)、カラムはTSKgel SuperIC-AP、溶離液は1.7mmol/l NaHCO3、1.8mmol/L Na2CO3を使用した。
EXAMPLES Hereinafter, although this invention is demonstrated in detail using an Example and a comparative example, this invention is not limited to these.
・ Molecular structure analysis by 1 H NMR and 19 F NMR
Using a JNM-GSX400G type nuclear magnetic resonance apparatus (manufactured by JEOL Ltd.), deuterated chloroform as solvent, tetramethylsilane ( 1 H NMR), Freon-11 (CFCl 3 ) ( 19 F NMR) as reference materials It was.
Ion Analysis by ion chromatography ion chromatograph IC-2001 (manufactured by Tosoh Corporation), column TSKgel SuperIC-AP, eluent 1.7 mmol / l NaHCO 3, was used 1.8mmol / L Na 2 CO 3.
[実施例1] (4―フェニルチオフェニル)ジフェニルスルホニウム ビス(ペルフルオロエタンスルホニル)イミデート(P−1)の合成
1H NMR 7.87-8.35 ppm (m, 19H)
19F NMR −78.53 ppm (s, 6F)、−117.36 ppm (s, 4F)
[Example 1] Synthesis of (4-phenylthiophenyl) diphenylsulfonium bis (perfluoroethanesulfonyl) imidate (P-1)
1 H NMR 7.87-8.35 ppm (m, 19H)
19 F NMR −78.53 ppm (s, 6F), −117.36 ppm (s, 4F)
[実施例2](4―フェニルチオフェニル)ジフェニルスルホニウム (1,1,2,2−テトラフルオロエタンスルホニル)(トリフルオロメタンスルホニル)イミデート(P−2)の合成
1H NMR 7.86-8.34 ppm (m, 19H)、7.21 ppm (m, 1H)
19F NMR −78.52 ppm (s, 3F)、−121.38 ppm (m, 2F)、−135.02 ppm (m, 2F)
[Example 2] Synthesis of (4-phenylthiophenyl) diphenylsulfonium (1,1,2,2-tetrafluoroethanesulfonyl) (trifluoromethanesulfonyl) imidate (P-2)
1 H NMR 7.86-8.34 ppm (m, 19H), 7.21 ppm (m, 1H)
19 F NMR −78.52 ppm (s, 3F), −121.38 ppm (m, 2F), −135.02 ppm (m, 2F)
[実施例3](4―フェニルチオフェニル)ジフェニルスルホニウム (ペルフルオロ−1−ブタンスルホニル)(トリフルオロメタンスルホニル)イミデート(P−3)の合成
1H NMR 7.85-8.33 ppm (m, 19H)、
19F NMR −78.78 ppm (s, 3F)、−80.36 ppm (m, 3F)、−113.32 ppm (m, 2F)、−121.04 ppm (m, 2F)、−125.71 ppm (m, 2F)
[Example 3] Synthesis of (4-phenylthiophenyl) diphenylsulfonium (perfluoro-1-butanesulfonyl) (trifluoromethanesulfonyl) imidate (P-3)
1 H NMR 7.85-8.33 ppm (m, 19H),
19 F NMR −78.78 ppm (s, 3F), −80.36 ppm (m, 3F), −113.32 ppm (m, 2F), −121.04 ppm (m, 2F), −125.71 ppm (m, 2F)
[実施例4](4―フェニルチオフェニル)ジフェニルスルホニウム ビス(ペルフルオロ−1−ブタンスルホニル)イミデート(P−4)の合成
1H NMR 7.87-8.78 ppm (m, 19H)、
19F NMR −80.42 ppm (m, 6F)、−113.39 ppm (m, 4F)、−121.14 ppm (m, 4F)、−125.73 ppm (m, 4F)
[Example 4] Synthesis of (4-phenylthiophenyl) diphenylsulfonium bis (perfluoro-1-butanesulfonyl) imidate (P-4)
1 H NMR 7.87-8.78 ppm (m, 19H),
19 F NMR −80.42 ppm (m, 6F), −113.39 ppm (m, 4F), −121.14 ppm (m, 4F), −125.73 ppm (m, 4F)
[実施例5](4―フェニルチオフェニル)ジフェニルスルホニウム ビス(トリフルオロメタンスルホニル)イミデート(P−5)の合成
1H NMR 8.06-8.59 ppm (m, 19H)、
19F NMR −80.41 ppm (s, 6F)
上記の方法で得られたP−5をイオンクロマトグラフで測定したところ、臭化物イオンの残存量は検出限界以下(0.1ppm未満)であった。
[Example 5] Synthesis of (4-phenylthiophenyl) diphenylsulfonium bis (trifluoromethanesulfonyl) imidate (P-5)
1 H NMR 8.06-8.59 ppm (m, 19H),
19 F NMR −80.41 ppm (s, 6F)
When P-5 obtained by the above method was measured by an ion chromatograph, the residual amount of bromide ions was below the detection limit (less than 0.1 ppm).
[比較例1]トリフェニルスルホニウム ビス(トリフルオロメタンスルホニル)イミデート(C−1)の合成
1H NMR 7.60-7.80 ppm (m, 15H)
19F NMR −79.24 ppm (s, 6F)
上記の方法で得られたC−1をイオンクロマトグラフで測定したところ、臭化物イオンが0.4ppm残存していた。
[Comparative Example 1] Synthesis of triphenylsulfonium bis (trifluoromethanesulfonyl) imidate (C-1)
1 H NMR 7.60-7.80 ppm (m, 15H)
19 F NMR −79.24 ppm (s, 6F)
When C-1 obtained by the above method was measured by ion chromatography, 0.4 ppm of bromide ions remained.
[実施例6](4―フェニルチオフェニル)ジフェニルスルホニウム 1,1,2,2,3,3−ヘキサフルオロプロパン−1,3−ジスルホニルイミデート(P−6)の合成
1H NMR 7.87-8.31 ppm (m, 19H)
19F NMR −119.54 ppm (s, 4F)、−125.79ppm (s, 2F)
上記の方法で得られたP−6をイオンクロマトグラフで測定したところ、臭化物イオンの残存量は検出限界以下(0.1ppm未満)であった。
Example 6 Synthesis of (4-phenylthiophenyl) diphenylsulfonium 1,1,2,2,3,3-hexafluoropropane-1,3-disulfonylimidate (P-6)
1 H NMR 7.87-8.31 ppm (m, 19H)
19 F NMR −119.54 ppm (s, 4F), −125.79 ppm (s, 2F)
When P-6 obtained by the above method was measured by ion chromatography, the residual amount of bromide ions was below the detection limit (less than 0.1 ppm).
[比較例2]トリフェニルスルホニウム 1,1,2,2,3,3−ヘキサフルオロプロパン−1,3−ジスルホニルイミデート(C−2)の合成
1H NMR 7.62-7.78 ppm (m, 15H)
19F NMR −119.86 ppm (s, 4F)、−126.50 ppm (s, 2F)
上記の方法で得られたC−2をイオンクロマトグラフで測定したところ、臭化物イオンが0.6ppm残存していた。
[Comparative Example 2] Synthesis of triphenylsulfonium 1,1,2,2,3,3-hexafluoropropane-1,3-disulfonylimidate (C-2)
1 H NMR 7.62-7.78 ppm (m, 15H)
19 F NMR −119.86 ppm (s, 4F), −126.50 ppm (s, 2F)
When C-2 obtained by the above method was measured by ion chromatography, 0.6 ppm of bromide ions remained.
[実施例7](4―フェニルチオフェニル)ジフェニルスルホニウム ビス(1,2,2,2−テトラフルオロエタンスルホニル)イミデート(P−7)の合成
1H NMR 7.87-8.36 ppm (m, 19H)、6.47 ppm (m, 2H)
19F NMR −72.05 ppm (m, 6F)、−192.48 ppm (m, 2F)
[Example 7] Synthesis of (4-phenylthiophenyl) diphenylsulfonium bis (1,2,2,2-tetrafluoroethanesulfonyl) imidate (P-7)
1 H NMR 7.87-8.36 ppm (m, 19H), 6.47 ppm (m, 2H)
19 F NMR −72.05 ppm (m, 6F), −192.48 ppm (m, 2F)
[実施例8](4―フェニルチオフェニル)ジフェニルスルホニウム ビス(1,1,2,2−テトラフルオロエタンスルホニル)イミデート(P−8)の合成
1H NMR 7.87-8.78 ppm (m, 19H)、7.15 ppm (m, 2H)
19F NMR −121.43 ppm (m, 4F)、−134.94ppm (m, 4F)
[Example 8] Synthesis of (4-phenylthiophenyl) diphenylsulfonium bis (1,1,2,2-tetrafluoroethanesulfonyl) imidate (P-8)
1 H NMR 7.87-8.78 ppm (m, 19H), 7.15 ppm (m, 2H)
19 F NMR −121.43 ppm (m, 4F), −134.94 ppm (m, 4F)
[実施例9](4―フェニルチオフェニル)ジフェニルスルホニウム ビス(2,3,4,5,6−ペンタフルオロベンゼンスルホニル)イミデート(P−9)の合成
1H NMR 7.89-8.36 ppm (m, 19H)、
19F NMR −137.69 ppm (m, 4F)、−150.63 ppm (m, 2F)、−161.96 ppm (m, 4F)
[Example 9] Synthesis of (4-phenylthiophenyl) diphenylsulfonium bis (2,3,4,5,6-pentafluorobenzenesulfonyl) imidate (P-9)
1 H NMR 7.89-8.36 ppm (m, 19H),
19 F NMR −137.69 ppm (m, 4F), −150.63 ppm (m, 2F), −161.96 ppm (m, 4F)
[実施例10](4―フェニルチオフェニル)ジフェニルスルホニウム 1,1,2,2−テトラフルオロエタン−1,2−ジスルホニルイミデート(P−10)の合成
1H NMR 7.88-8.35 ppm (m, 19H)
19F NMR −114.66 ppm (s, 4F)
[Example 10] Synthesis of (4-phenylthiophenyl) diphenylsulfonium 1,1,2,2-tetrafluoroethane-1,2-disulfonylimidate (P-10)
1 H NMR 7.88-8.35 ppm (m, 19H)
19 F NMR −114.66 ppm (s, 4F)
[実施例11](4―フェニルチオフェニル)ジフェニルスルホニウム ビス(フルオロスルホニル)イミデート(P−11)の合成
1H NMR 7.87-8.35 ppm (m, 19H)
19F NMR 52.33 ppm (s, 2F)
[Example 11] Synthesis of (4-phenylthiophenyl) diphenylsulfonium bis (fluorosulfonyl) imidate (P-11)
1 H NMR 7.87-8.35 ppm (m, 19H)
19 F NMR 52.33 ppm (s, 2F)
[実施例12](1―ナフチル)ジフェニルスルホニウム ビス(ペルフルオロエタンスルホニル)イミデート(P−12)の合成
1H NMR 8.00-8.99 ppm (m, 17H)
19F NMR −78.49 ppm (s, 6F)、−117.33 ppm (s, 4F)
[Example 12] Synthesis of (1-naphthyl) diphenylsulfonium bis (perfluoroethanesulfonyl) imidate (P-12)
1 H NMR 8.00-8.99 ppm (m, 17H)
19 F NMR −78.49 ppm (s, 6F), −117.33 ppm (s, 4F)
[実施例13](4―フェニルチオフェニル)ジフェニルスルホニウム ビス(ペルフルオロエタンスルホニル)イミデート(P−1)の合成
実施例1において、(4―フェニルチオフェニル)ジフェニルスルホニウム トリフルオロメタンスルホネートの代わりに、(4―フェニルチオフェニル)ジフェニルスルホニウム 1,1,2,2−テトラフルオロエタンスルホネート(0.635g、1.15mmol)を用いた以外は、実施例1と同様の操作を行い、(4―フェニルチオフェニル)ジフェニルスルホニウム ビス(ペルフルオロエタンスルホニル)イミデート(P−1)(0.856g)を得た(収率99.1%)。
[Example 13] Synthesis of (4-phenylthiophenyl) diphenylsulfonium bis (perfluoroethanesulfonyl) imidate (P-1) In Example 1, instead of (4-phenylthiophenyl) diphenylsulfonium trifluoromethanesulfonate, ( 4-phenylthiophenyl) diphenylsulfonium The same procedure as in Example 1 was performed, except that 1,1,2,2-tetrafluoroethanesulfonate (0.635 g, 1.15 mmol) was used, and (4-phenylthiophenyl) Diphenylsulfonium bis (perfluoroethanesulfonyl) imidate (P-1) (0.856 g) was obtained (yield 99.1%).
本発明で得られるスルホニウム塩は、ハロゲン化物イオンがフリーであるため、塗料、コーティング剤、光硬化型接着剤、半導体のフォトリソグラフィー分野など様々な用途に光酸発生剤として利用することができる。 Since the sulfonium salt obtained in the present invention is free of halide ions, it can be used as a photoacid generator in various applications such as paints, coating agents, photo-curing adhesives, and semiconductor photolithography fields.
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Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017508723A (en) * | 2014-01-17 | 2017-03-30 | 東友ファインケム株式会社Dongwoo Fine−Chem Co., Ltd. | NOVEL SULFONIMIDE SALT COMPOUND, PROCESS FOR PRODUCING THE SAME, PHOTOACID GENERATOR AND PHOTOSENSITIVE RESIN COMPOSITION CONTAINING THE SAME |
| JP2022159071A (en) * | 2021-04-02 | 2022-10-17 | サンアプロ株式会社 | Photoacid generator, curable composition and resist composition |
| JP2022161843A (en) * | 2021-04-08 | 2022-10-21 | サンアプロ株式会社 | Photoacid generator, curable composition and resist composition |
| WO2025204854A1 (en) * | 2024-03-29 | 2025-10-02 | 東京応化工業株式会社 | Resist composition and resist pattern formation method |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003231673A (en) * | 2001-12-03 | 2003-08-19 | Sumitomo Chem Co Ltd | Sulfonium salt and its use |
| JP2008089777A (en) * | 2006-09-29 | 2008-04-17 | Jsr Corp | Radiation-sensitive acid generator for immersion exposure, method for producing the same, radiation-sensitive resin composition for immersion exposure, and method for forming resist pattern |
| JP2009515944A (en) * | 2005-11-16 | 2009-04-16 | エイゼット・エレクトロニック・マテリアルズ・ユーエスエイ・コーポレイション | Photoactive compound |
| JP2010280599A (en) * | 2009-06-03 | 2010-12-16 | Asahi Kasei Corp | Sulfonium salt and process for producing the same |
-
2009
- 2009-06-03 JP JP2009134341A patent/JP2010280600A/en active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003231673A (en) * | 2001-12-03 | 2003-08-19 | Sumitomo Chem Co Ltd | Sulfonium salt and its use |
| JP2009515944A (en) * | 2005-11-16 | 2009-04-16 | エイゼット・エレクトロニック・マテリアルズ・ユーエスエイ・コーポレイション | Photoactive compound |
| JP2008089777A (en) * | 2006-09-29 | 2008-04-17 | Jsr Corp | Radiation-sensitive acid generator for immersion exposure, method for producing the same, radiation-sensitive resin composition for immersion exposure, and method for forming resist pattern |
| JP2010280599A (en) * | 2009-06-03 | 2010-12-16 | Asahi Kasei Corp | Sulfonium salt and process for producing the same |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017508723A (en) * | 2014-01-17 | 2017-03-30 | 東友ファインケム株式会社Dongwoo Fine−Chem Co., Ltd. | NOVEL SULFONIMIDE SALT COMPOUND, PROCESS FOR PRODUCING THE SAME, PHOTOACID GENERATOR AND PHOTOSENSITIVE RESIN COMPOSITION CONTAINING THE SAME |
| JP2022159071A (en) * | 2021-04-02 | 2022-10-17 | サンアプロ株式会社 | Photoacid generator, curable composition and resist composition |
| JP7727580B2 (en) | 2021-04-02 | 2025-08-21 | サンアプロ株式会社 | Photoacid generator, curable composition and resist composition |
| JP2022161843A (en) * | 2021-04-08 | 2022-10-21 | サンアプロ株式会社 | Photoacid generator, curable composition and resist composition |
| JP7779782B2 (en) | 2021-04-08 | 2025-12-03 | サンアプロ株式会社 | Photoacid generator, curable composition and resist composition |
| WO2025204854A1 (en) * | 2024-03-29 | 2025-10-02 | 東京応化工業株式会社 | Resist composition and resist pattern formation method |
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