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JP2010276344A - Electric test system and electric test method - Google Patents

Electric test system and electric test method Download PDF

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JP2010276344A JP2009126054A JP2009126054A JP2010276344A JP 2010276344 A JP2010276344 A JP 2010276344A JP 2009126054 A JP2009126054 A JP 2009126054A JP 2009126054 A JP2009126054 A JP 2009126054A JP 2010276344 A JP2010276344 A JP 2010276344A
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electric test system and method, efficiently performing a short circuit checking inspection and a capacitor reverse mounting checking inspection. <P>SOLUTION: The electric test system is equipped with: an electric test device; and an electronic device to be tested by the electric test device. The electronic device includes a plurality of electronic elements divided into respective groups and switches, at least one of which is provided for each group and switches electric connection between the electronic element and at least one of power supply wiring and ground wiring. At least one of the plurality of electronic elements is a polar capacitor. The electric test device has: a switch control circuit controlling the switching of the switch; a short detection circuit detecting the presence of short between the power supply wiring and the ground wiring in the group; a reverse mounting detection circuit detecting the mounting direction of the polar capacitor; and a power supply circuit supplying power to the power supply wiring and the ground wiring. <P>COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

Description

本発明は、電子装置の電気的試験システム及び電気的試験方法に関し、特に回路の短絡箇所及び有極性コンデンサの極性方向を確認する電気的試験システム及び電気的試験方法に関する。   The present invention relates to an electrical test system and an electrical test method for an electronic device, and more particularly to an electrical test system and an electrical test method for confirming a short circuit location of a circuit and a polarity direction of a polar capacitor.

電子装置においては、製造後、電気的試験(インサーキットテスト)が実施される。電気的試験において、例えば、電源とグランド間にショートが検出された場合、ショート箇所の特定は、電源とグランドとを接続している電子素子を1個ずつ取り外しながら電源とグランド間のショートチェックを行っていた。また、電源とグランド間に接続した有極性コンデンサの極性方向(逆実装)の確認検査においては、コンデンサの接続方向の確認は、1つずつ目視によって行っていた。   In an electronic device, an electrical test (in-circuit test) is performed after manufacturing. In an electrical test, for example, when a short circuit is detected between the power source and the ground, the short circuit location is identified by checking for a short circuit between the power source and the ground while removing each electronic element connecting the power source and the ground. I was going. Further, in the confirmation inspection of the polarity direction (reverse mounting) of the polar capacitor connected between the power source and the ground, the confirmation of the connection direction of the capacitor is performed by visual inspection one by one.

例えば特許文献1には、有極性コンデンサの逆実装を検査する技術が開示されている。特許文献1に記載の電解コンデンサの極性検出装置は、増幅器出力側に基板上でマイナス側として決められている電極リードが接続され、増幅器入力側で入出力間のループが負帰還ループとなる位置にケースが接続された被試験コンデンサと、予め決めた時間経過後の2時点における増幅器出力電圧が所定値以上異なるときに逆接続であることを警報する警報装置とから構成される。   For example, Patent Document 1 discloses a technique for inspecting reverse mounting of a polar capacitor. In the electrolytic capacitor polarity detection device described in Patent Document 1, an electrode lead determined as a negative side on the substrate is connected to the amplifier output side, and the loop between the input and output becomes a negative feedback loop on the amplifier input side. And a capacitor to be tested, and an alarm device that warns that the connection is reverse when the amplifier output voltages at two time points after a predetermined time have differed by a predetermined value or more.

特開平3−136312号公報Japanese Patent Laid-Open No. 3-136322 特開2001−60653号公報JP 2001-60653 A

以下の分析は、本発明の観点から与えられる。   The following analysis is given from the perspective of the present invention.

電源とグランド間のショート箇所特定のために、電源とグランド間の電子素子を1つずつ取り外してショートチェックすることは、膨大な時間と工数を必要とする。また、電子素子を取り外した後、電子素子を再度実装する場合、新たな問題が発生する可能性もある。コンデンサの逆実装の目視確認においても、確認作業に時間を要すると共に、チェック漏れが生じるおそれがある。   In order to identify a short circuit between the power source and the ground, it is necessary to remove a single electronic element between the power source and the ground and perform a short check to require a huge amount of time and man-hours. In addition, when the electronic element is mounted again after removing the electronic element, a new problem may occur. Even in the visual confirmation of the reverse mounting of the capacitor, the confirmation work takes time and there is a risk of check omission.

特許文献1に記載の電解コンデンサの極性検出装置においては、電源とグランド間のショートの有無を確認することができない。また、コンデンサの逆実装確認検査においても、被検査体のコンデンサを1つずつ検査するので検査に時間を要する。   In the electrolytic capacitor polarity detection device described in Patent Document 1, it is impossible to confirm the presence or absence of a short circuit between the power source and the ground. Also, in the reverse mounting confirmation inspection of capacitors, it takes time to inspect the capacitors to be inspected one by one.

本発明の目的は、短絡確認検査及びコンデンサ逆実装確認検査を効率的に実施可能な電気的試験システム及び電気的試験方法を提供することである。   An object of the present invention is to provide an electrical test system and an electrical test method capable of efficiently performing a short-circuit confirmation test and a capacitor reverse mounting confirmation test.

本発明の第1視点によれば、電気的試験装置と、電気的試験装置によって試験される電子装置と、を備える電気的試験システムが提供される。電子装置は、グループ毎に分けられた複数の電子素子と、各グループに少なくとも1つ配され、電源配線及びグランド配線のうち少なくともいずれかと電子素子との電気的接続を開閉するスイッチと、を有する。複数の電子素子のうち少なくとも1つは有極性コンデンサである。電気的試験装置は、スイッチの開閉を制御するスイッチ制御回路と、グループにおける電源配線とグランド配線間のショートの有無を検出するショート検出回路と、有極性コンデンサの実装方向を検出する逆実装検出回路と、電源配線とグランド配線に電力供給する電源回路と、を有する。   According to a first aspect of the present invention, there is provided an electrical test system including an electrical test apparatus and an electronic device to be tested by the electrical test apparatus. The electronic device includes a plurality of electronic elements divided into groups, and at least one switch arranged in each group, and a switch that opens and closes an electrical connection between at least one of a power supply wiring and a ground wiring and the electronic element. . At least one of the plurality of electronic elements is a polar capacitor. The electrical test equipment includes a switch control circuit that controls the opening and closing of the switch, a short detection circuit that detects the presence or absence of a short circuit between the power supply wiring and the ground wiring in the group, and a reverse mounting detection circuit that detects the mounting direction of the polar capacitor. And a power supply circuit for supplying power to the power supply wiring and the ground wiring.

本発明の第2視点によれば、少なくとも1つの電子素子が配された各グループにおけるショートを検出するショート検出工程と、電子素子のうち有極性コンデンサの逆実装を検出する逆実装検出工程と、を含む電気的試験方法が提供される。ショート検出工程は、電子素子と電源配線及びグランド配線のうちの少なくともいずれかとの電気的接続を遮断する工程と、各グループにおける電源配線とグランド配線間のショートの有無を検出する工程と、を含む。逆実装検出工程は、電子素子のうち有極性コンデンサを充電する工程と、電子素子と電源配線及びグランド配線のうちの少なくともいずれかとの電気的接続を遮断する工程と、グループにおける電源配線とグランド配線の電圧降下速度を測定する工程と、電圧降下速度が所定の範囲内にあるか否かを検出する工程と、を含む。   According to a second aspect of the present invention, a short detection step for detecting a short in each group in which at least one electronic element is arranged, a reverse mounting detection step for detecting reverse mounting of a polar capacitor among the electronic elements, An electrical test method is provided. The short detection step includes a step of cutting off an electrical connection between the electronic element and at least one of the power supply wiring and the ground wiring, and a step of detecting the presence or absence of a short between the power supply wiring and the ground wiring in each group. . The reverse mounting detection step includes a step of charging a polar capacitor in the electronic device, a step of cutting off an electrical connection between the electronic device and at least one of the power supply wiring and the ground wiring, and a power supply wiring and a ground wiring in the group. Measuring a voltage drop rate of the first and second steps, and detecting whether the voltage drop rate is within a predetermined range.

本発明は、以下の効果のうち少なくとも1つを有する。   The present invention has at least one of the following effects.

本発明においては、各グループを電気的に遮断してショートの有無を確認する。また、複数のグループを一括して試験することもできる。これにより、短時間でショート箇所を特定することが可能となる。   In the present invention, each group is electrically cut off to check whether there is a short circuit. It is also possible to test a plurality of groups at once. As a result, it is possible to specify a short-circuited portion in a short time.

また、本発明においては、電子素子が有極性コンデンサである場合には、グループ毎に逆実装の有無を確認する。また、複数のグループを一括して試験することもできる。これにより、複数のグループにおける逆実装の存在の有無及びその箇所を短時間で特定することが可能となる。また、目視確認の場合のような逆実装の見落としを防止することができる。   In the present invention, if the electronic element is a polar capacitor, the presence / absence of reverse mounting is checked for each group. It is also possible to test a plurality of groups at once. As a result, it is possible to specify in a short time whether or not reverse mounting exists in a plurality of groups. Further, it is possible to prevent overmounting of reverse mounting as in the case of visual confirmation.

本発明の電気的試験システムの一実施形態を示す概略構成図。1 is a schematic configuration diagram showing an embodiment of an electrical test system of the present invention. ショートの有無を検出するためのフローチャート。The flowchart for detecting the presence or absence of a short circuit. 電子素子の逆実装の有無を検出するためのフローチャート。The flowchart for detecting the presence or absence of reverse mounting of an electronic element. 電圧降下速度比較を説明するためのグラフ。The graph for demonstrating voltage drop speed comparison.

本発明の電気的試験システムの一実施形態について説明する。図1に、本発明の電気的試験システムの一実施形態を示す概略構成図を示す。   An embodiment of the electrical test system of the present invention will be described. In FIG. 1, the schematic block diagram which shows one Embodiment of the electrical test system of this invention is shown.

本発明の電気的試験システム1は、電気的試験装置10と、電気的試験装置10によって試験される被試験体となる電子装置40と、を備える。   The electrical test system 1 of the present invention includes an electrical test apparatus 10 and an electronic device 40 that is a device under test to be tested by the electrical test apparatus 10.

電気的試験装置10は、電源回路11と、スイッチ制御回路12と、ショート検出回路13と、逆実装検出回路14と、を有する。逆実装検出回路14は、電圧測定回路15と、電圧降下速度比較回路16と、を有する。   The electrical test apparatus 10 includes a power supply circuit 11, a switch control circuit 12, a short detection circuit 13, and a reverse mounting detection circuit 14. The reverse mounting detection circuit 14 includes a voltage measurement circuit 15 and a voltage drop speed comparison circuit 16.

電子装置40は、電源配線41及びグランド配線42を有するプリント基板と、プリント基板に実装された電子素子52,62,72を有する。電子素子52,62,72は、半導体素子のような能動素子でもよいし、コンデンサのような受動素子でもよい。以下の説明においては、電子素子52,62,72は有極性コンデンサであるとして説明する。電子素子52,62,72は、グループ分けされている。例えば、図1に示す形態においては、電子素子52,62,72は、第1グループ50、第2グループ60、及び第3グループ70にそれぞれ分けられている。すなわち、第1グループ50は、少なくとも1つの第1電子素子52を有し、第2グループ60は、少なくとも1つの第2電子素子62を有し、第3グループ70は、少なくとも1つの第3電子素子72を有する。グループの数及び各グループにおける電子素子の数は、適宜設定することができる。   The electronic device 40 includes a printed circuit board having a power supply wiring 41 and a ground wiring 42, and electronic elements 52, 62, and 72 mounted on the printed circuit board. The electronic elements 52, 62 and 72 may be active elements such as semiconductor elements or passive elements such as capacitors. In the following description, the electronic elements 52, 62 and 72 will be described as polar capacitors. The electronic elements 52, 62, 72 are grouped. For example, in the form shown in FIG. 1, the electronic elements 52, 62, and 72 are divided into a first group 50, a second group 60, and a third group 70, respectively. That is, the first group 50 includes at least one first electronic element 52, the second group 60 includes at least one second electronic element 62, and the third group 70 includes at least one third electron. An element 72 is included. The number of groups and the number of electronic elements in each group can be set as appropriate.

電子装置40は、各グループにおいて、電源配線41及びグランド配線42のうち少なくとも一方を開閉するスイッチ51,61,71を有する。図1に示す形態においては、第1グループ50は、電源配線41に少なくとも1つの第1スイッチ51を有し、第2グループ60は、電源配線41に少なくとも1つの第2スイッチ61を有し、第3グループ70は、電源配線41に少なくとも1つの第3スイッチ71を有する。また、第1〜第3グループ50,60,70は、それぞれ、各グループの電気的測定するための測定ポイント53a,53b,63a,63b,73a,73bを有する。   The electronic device 40 includes switches 51, 61, and 71 that open and close at least one of the power supply wiring 41 and the ground wiring 42 in each group. In the form shown in FIG. 1, the first group 50 has at least one first switch 51 in the power supply wiring 41, and the second group 60 has at least one second switch 61 in the power supply wiring 41, The third group 70 includes at least one third switch 71 in the power supply wiring 41. The first to third groups 50, 60, 70 each have measurement points 53a, 53b, 63a, 63b, 73a, 73b for electrical measurement of each group.

電源回路11は、電子装置40のショートチェック及び電子素子52,62,72の逆実装のチェックに必要な電力を供給する電源回路である。電子素子52,62,72の逆実装のチェックする際には、電源回路11は、少なくとも、コンデンサが完全充電することが電力を供給する。電気的試験を実施する際には、電源回路11の第1電源端子11aは、電子装置40の電源配線41に設けられた第2電源端子41aと電気的に接続され、電源回路11の第1グランド端子11bは、電子装置40のグランド配線42に設けられた第2グランド端子42aと電気的に接続される。   The power supply circuit 11 is a power supply circuit that supplies power necessary for a short check of the electronic device 40 and a reverse mounting check of the electronic elements 52, 62, and 72. When checking reverse mounting of the electronic elements 52, 62, and 72, the power supply circuit 11 supplies power when at least the capacitor is fully charged. When performing the electrical test, the first power supply terminal 11 a of the power supply circuit 11 is electrically connected to the second power supply terminal 41 a provided in the power supply wiring 41 of the electronic device 40, and the first power supply circuit 11 is connected to the first power supply terminal 11 a. The ground terminal 11 b is electrically connected to a second ground terminal 42 a provided on the ground wiring 42 of the electronic device 40.

スイッチ制御回路12は、電子装置40の第1〜第3スイッチ51,61,71の開閉を制御する。スイッチ制御回路12の第1スイッチ端子12aは、電子装置40の第1〜第3スイッチ51,61,71に設けられた第2スイッチ端子81aと電気的に接続される。電子装置40の第1〜第3スイッチ51,61,71は、電気的試験装置10による電気的試験を実施しないとき、例えば電子装置40の通常動作時には、常時閉状態(ON状態)となるように設定されている。   The switch control circuit 12 controls opening and closing of the first to third switches 51, 61, 71 of the electronic device 40. The first switch terminal 12 a of the switch control circuit 12 is electrically connected to the second switch terminal 81 a provided in the first to third switches 51, 61, 71 of the electronic device 40. The first to third switches 51, 61, 71 of the electronic device 40 are normally closed (ON state) when the electrical test by the electrical test device 10 is not performed, for example, during normal operation of the electronic device 40. Is set to

ショート検出回路13は、各グループ50,60,70において、電源配線41とグランド配線42間、すなわち第1測定ポイント53a,63a,73aと第2測定ポイント53b,63b,73b間のショートの有無を検出する。ショート検出回路13の第1電源側端子13aは、電子装置40の第1測定ポイント53a,63a,73aに設けられた第2電源側端子91aと電気的に接続され、ショート検出回路13の第1グランド側端子13bは、電子装置40の第2測定ポイント53b,63b,73bに設けられた第2グランド側端子91bと電気的に接続される。ショート検出回路13は、ショートの有無を、全グループ50,60,70同時に又は一括して測定できるものが好ましい。   In each group 50, 60, 70, the short detection circuit 13 determines whether there is a short circuit between the power supply wiring 41 and the ground wiring 42, that is, between the first measurement points 53a, 63a, 73a and the second measurement points 53b, 63b, 73b. To detect. The first power supply side terminal 13 a of the short detection circuit 13 is electrically connected to the second power supply side terminal 91 a provided at the first measurement points 53 a, 63 a, 73 a of the electronic device 40, and the first detection side of the short detection circuit 13 is connected. The ground side terminal 13b is electrically connected to a second ground side terminal 91b provided at the second measurement points 53b, 63b, 73b of the electronic device 40. The short detection circuit 13 is preferably one that can measure the presence / absence of a short circuit simultaneously for all groups 50, 60, 70 or collectively.

電圧測定回路15は、各グループ50,60,70において、電源配線41とグランド配線42間、すなわち第1測定ポイント53a,63a,73aと第2測定ポイント53b,63b,73b間の電圧を測定する。電圧測定回路15の第1電源側端子15aは、電子装置40の第1測定ポイント53a,63a,73aに設けられた第2電源側端子91aと電気的に接続され、電圧測定回路15の第1グランド側端子15bは、電子装置40の第2測定ポイント53b,63b,73bに設けられた第2グランド側端子91bと電気的に接続される。電圧測定回路15は、電源とグランド間の電圧を、全グループ50,60,70同時に又は一括して測定できるものが好ましい。   The voltage measurement circuit 15 measures the voltage between the power supply line 41 and the ground line 42, that is, between the first measurement points 53a, 63a, and 73a and the second measurement points 53b, 63b, and 73b in each group 50, 60, and 70. . The first power supply side terminal 15 a of the voltage measurement circuit 15 is electrically connected to the second power supply side terminal 91 a provided at the first measurement points 53 a, 63 a, 73 a of the electronic device 40, and the first of the voltage measurement circuit 15 is set. The ground side terminal 15b is electrically connected to a second ground side terminal 91b provided at the second measurement points 53b, 63b, 73b of the electronic device 40. The voltage measuring circuit 15 is preferably one that can measure the voltage between the power source and the ground at the same time or all at once in all groups 50, 60, 70.

電圧降下速度比較回路16は、有極性の電子素子(有極性コンデンサ)52,62,72の電圧降下速度と、電子素子52,62,72が正常に(逆実装なく)実装されていた場合の電圧降下速度を比較する。   The voltage drop speed comparison circuit 16 is used when the voltage drop speeds of the polar electronic elements (polar capacitors) 52, 62, 72 and the electronic elements 52, 62, 72 are normally mounted (without reverse mounting). Compare the voltage drop rate.

次に、本発明の電気的試験システムの動作及び電気的試験方法について説明する。   Next, the operation of the electrical test system of the present invention and the electrical test method will be described.

図2に、ショートの有無を検出するためのフローチャートを示す。まず、電源回路11と電源配線41及びグランド配線42とを電気的に接続する。また、スイッチ制御回路12と第1〜第3スイッチ51,61,71とを電気的に接続する。   FIG. 2 shows a flowchart for detecting the presence or absence of a short circuit. First, the power supply circuit 11 is electrically connected to the power supply wiring 41 and the ground wiring 42. In addition, the switch control circuit 12 and the first to third switches 51, 61, 71 are electrically connected.

ショートの有無をチェックする場合、スイッチ制御回路12により、第1〜第3スイッチ51,61,71をすべて開状態(OFF状態)とする(S11)。これにより、各グループを他のグループや電源回路11から電気的に分離する。次に、ショート検出回路13により、第1〜第3グループ50,60,70における第1測定ポイント53a,63a,73aと第2測定ポイント53b,63b,73b間の導通を(好ましくは同時に又は一括して)測定する(S12)。各グループにおいて導通が検出されなければ、その電子装置40にはショートが存在しないことになる。一方、導通が確認されたグループがある場合、そのグループには、電源とグランド間でショートが存在することになる。このとき、その電子装置40を正常品から排除したり、ショート箇所を修理したりするなどのショートに対する措置を施す(S14)。   When checking for the presence or absence of a short circuit, the switch control circuit 12 sets all the first to third switches 51, 61, 71 to an open state (OFF state) (S11). Thereby, each group is electrically separated from other groups and the power supply circuit 11. Next, the short detection circuit 13 establishes conduction between the first measurement points 53a, 63a, 73a and the second measurement points 53b, 63b, 73b in the first to third groups 50, 60, 70 (preferably simultaneously or collectively). Measure) (S12). If no continuity is detected in each group, there is no short in the electronic device 40. On the other hand, when there is a group in which conduction is confirmed, there is a short circuit between the power supply and the ground in the group. At this time, measures against a short circuit such as removing the electronic device 40 from a normal product or repairing a shorted part are taken (S14).

図3に、電子素子の逆実装の有無を検出するためのフローチャートを示す。電子素子の逆実装をチェックする場合、スイッチ制御回路12により、第1〜第3スイッチ51,61,71をすべて閉状態(ON状態)とする(S21)。次に、電源回路11により、第1〜第3電子素子52,62,72がすべてフルチャージするまで電力供給する(S22)。次に、スイッチ制御回路12により、第1〜第3スイッチ51,61,71をすべて開状態(OFF状態)とする(S23)。これにより、第1〜第3電子素子52,62,72に蓄積された電荷の放電が開始される。このとき、電圧測定回路15により、各グループの電圧降下速度を測定する(S24)。例えば、各グループにおいて、第1測定ポイント53a,63a,73aと第2測定ポイント53b,63b,73b間の電圧が所定の電圧になるまでの時間、もしくは所定の電圧降下するまでの時間を測定する。   FIG. 3 shows a flowchart for detecting the presence or absence of reverse mounting of the electronic element. When checking reverse mounting of the electronic element, the switch control circuit 12 sets all the first to third switches 51, 61, 71 to the closed state (ON state) (S21). Next, power is supplied by the power supply circuit 11 until all of the first to third electronic elements 52, 62, 72 are fully charged (S22). Next, the first to third switches 51, 61, 71 are all opened (OFF state) by the switch control circuit 12 (S23). As a result, the discharge of the charges accumulated in the first to third electronic elements 52, 62, 72 is started. At this time, the voltage drop rate of each group is measured by the voltage measurement circuit 15 (S24). For example, in each group, the time until the voltage between the first measurement points 53a, 63a, 73a and the second measurement points 53b, 63b, 73b becomes a predetermined voltage or the time until the predetermined voltage drop is measured. .

図4に、所定のグループにおいて逆実装された電子素子を検出する際の電圧降下速度比較を説明するためのグラフを示す。図2において、縦軸は第1測定ポイント53a,63a,73aと第2測定ポイント53b,63b,73b間の電圧(V)であり、横軸は第1〜第3電子素子52,62,72のディスチャージからの時間(T)である。グラフAは、当該グループにおいて逆実装電子素子が存在しない場合の電圧降下グラフであり、比較の際の基準となるものである。グラフBは、電圧測定回路15によって測定した第1測定ポイント53a,63a,73aと第2測定ポイント53b,63b,73b間の電圧降下のグラフである。有極性コンデンサが逆実装された場合、電力供給しても、逆実装されたコンデンサには蓄電されないので、逆実装コンデンサの放電時間は、適正に実装されているコンデンサと比較して短くなる。したがって、両者を比較することにより、逆実装の有無を検出することができる。   FIG. 4 shows a graph for explaining a voltage drop speed comparison when detecting electronic elements reversely mounted in a predetermined group. In FIG. 2, the vertical axis represents the voltage (V) between the first measurement points 53a, 63a, 73a and the second measurement points 53b, 63b, 73b, and the horizontal axis represents the first to third electronic elements 52, 62, 72. This is the time (T) from the discharge. Graph A is a voltage drop graph in the case where there is no reverse mounting electronic element in the group, and is a reference for comparison. A graph B is a graph of a voltage drop between the first measurement points 53a, 63a, 73a and the second measurement points 53b, 63b, 73b measured by the voltage measurement circuit 15. When a polar capacitor is reversely mounted, even if power is supplied, the reversely mounted capacitor is not charged, so the discharge time of the reversely mounted capacitor is shorter than that of a properly mounted capacitor. Therefore, the presence or absence of reverse mounting can be detected by comparing the two.

例えば、第1グループ50において、逆実装された電子素子52の有無を確認する場合、まず、電圧降下速度比較回路16に、第1グループにおける逆実装電子素子が存在しない場合の電圧降下データ(例えば、電圧Vから電圧Vに降下するまでの時間T)(図4におけるグラフAに相当)を記憶させておく。次に、S24において、電圧測定回路15によってディスチャージ開始時の電圧Vから所定の電圧Vになるまでの時間Tを測定する(図4におけるグラフBに相当)。電圧降下速度比較回路16により、測定した時間Tと、逆実装された電子素子52が存在しない場合に電圧Vから電圧Vになるまでの要する時間Tとを比較する。このとき、時間Tと時間Tの差ΔTが所定値以下である場合には、第1グループ50内に逆実装された電子素子52が存在しないと判断する。一方、時間Tと時間Tの差ΔTが所定値を越える場合には、第1グループ50内に逆実装された電子素子52が存在すると判断する。このようなチェックをグループ毎に(好ましくは同時に又は一括して)実施し、各グループにおいて逆実装された電子素子が存在しないか確認する。逆実装の存在が確認された場合、その電子装置40を正常品から排除したり、逆実装を直したりするなどの逆実装に対する措置を施す(S26)。 For example, when checking the presence or absence of the reversely mounted electronic element 52 in the first group 50, first, voltage drop data (for example, when there is no reversely mounted electronic element in the first group in the voltage drop speed comparison circuit 16) , Time T 1 ) (corresponding to graph A in FIG. 4) until the voltage V 1 drops to voltage V 2 is stored. Next, in S24, (corresponding to the graph B in FIG. 4) to a voltage by the measuring circuit 15 measures the time T 2 of the from the voltage V 1 of the time discharge start until a predetermined voltage V 2. The voltage drop speed comparison circuit 16 compares the measured time T 2 with the time T 1 required to change from the voltage V 1 to the voltage V 2 when there is no reversely mounted electronic element 52. At this time, when the difference ΔT between the time T 1 and the time T 2 is equal to or smaller than a predetermined value, it is determined that there is no electronic element 52 that is reversely mounted in the first group 50. On the other hand, when the difference ΔT between the time T 1 and the time T 2 exceeds a predetermined value, it is determined that there is an electronic device 52 that is reversely mounted in the first group 50. Such a check is performed for each group (preferably simultaneously or collectively), and it is confirmed whether there is an electronic device reversely mounted in each group. When the presence of reverse mounting is confirmed, measures against reverse mounting such as removing the electronic device 40 from the normal product or correcting the reverse mounting are performed (S26).

本発明によれば、グループ間を電気的に遮断してショートの有無を確認することにより、短時間でショート箇所を特定することが可能となる。また、電子素子が有極性コンデンサである場合には、逆実装の存在の有無及びその箇所を短時間で特定することが可能となる。また、目視確認の場合のような逆実装の見落としを防止することができる。   According to the present invention, it is possible to identify a short-circuited portion in a short time by electrically disconnecting between groups and confirming the presence or absence of a short-circuit. Further, when the electronic element is a polar capacitor, it is possible to specify the presence / absence of reverse mounting and its location in a short time. Further, it is possible to prevent overmounting of reverse mounting as in the case of visual confirmation.

本発明の電気的試験システム及び電気的試験方法は、上記実施形態に基づいて説明されているが、上記実施形態に限定されることなく、本発明の範囲内において、かつ本発明の基本的技術思想に基づいて、上記実施形態に対し種々の変形、変更及び改良を含むことができることはいうまでもない。また、本発明の請求の範囲の枠内において、種々の開示要素の多様な組み合わせ・置換ないし選択が可能である。   The electrical test system and electrical test method of the present invention have been described based on the above embodiment, but are not limited to the above embodiment, and are within the scope of the present invention and the basic technology of the present invention. It goes without saying that various modifications, changes and improvements can be included in the above embodiment based on the idea. Further, various combinations, substitutions, or selections of various disclosed elements are possible within the scope of the claims of the present invention.

本発明のさらなる課題、目的及び展開形態は、請求の範囲を含む本発明の全開示事項からも明らかにされる。   Further problems, objects, and developments of the present invention will become apparent from the entire disclosure of the present invention including the claims.

1 電気的試験システム
10 電気的試験装置
11 電源回路
11a 第1電源端子
11b 第1グランド端子
12 スイッチ制御回路
12a 第1スイッチ端子
13 ショート検出回路
13a 第1電源側端子
13b 第1グランド側端子
14 逆実装検出回路
15 電圧測定回路
15a 第1電源側端子
15b 第1グランド側端子
16 電圧降下速度比較回路
40 電子装置
41 電源配線
41a 第2電源端子
42 グランド配線
42a 第2グランド端子
50,60,70 第1〜第3グループ
51,61,71 第1〜第3スイッチ
52,62,72 第1〜第3電子素子
53a,63a,73a 第1測定ポイント
53b,63b,73b 第2測定ポイント
81a 第2スイッチ端子
91a 第2電源側端子
91b 第2グランド側端子
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Electrical test system 10 Electrical test apparatus 11 Power supply circuit 11a 1st power supply terminal 11b 1st ground terminal 12 Switch control circuit 12a 1st switch terminal 13 Short detection circuit 13a 1st power supply side terminal 13b 1st ground side terminal 14 Reverse Mounting detection circuit 15 Voltage measurement circuit 15a First power supply side terminal 15b First ground side terminal 16 Voltage drop speed comparison circuit 40 Electronic device 41 Power supply wiring 41a Second power supply terminal 42 Ground wiring 42a Second ground terminal 50, 60, 70 First 1st-3rd group 51, 61, 71 1st-3rd switch 52, 62, 72 1st-3rd electronic element 53a, 63a, 73a 1st measurement point 53b, 63b, 73b 2nd measurement point 81a 2nd switch Terminal 91a Second power supply side terminal 91b Second ground side terminal

Claims (6)

電気的試験装置と、前記電気的試験装置によって試験される電子装置と、を備え、
前記電子装置は、グループ毎に分けられた複数の電子素子と、各グループに少なくとも1つ配され、電源配線及びグランド配線のうち少なくともいずれかと前記電子素子との電気的接続を開閉するスイッチと、を有し、
複数の前記電子素子のうち少なくとも1つは有極性コンデンサであり、
前記電気的試験装置は、前記スイッチの開閉を制御するスイッチ制御回路と、前記グループにおける電源配線とグランド配線間のショートの有無を検出するショート検出回路と、前記有極性コンデンサの実装方向を検出する逆実装検出回路と、電源配線とグランド配線に電力供給する電源回路と、を有することを特徴とする電気的試験システム。
An electrical test device, and an electronic device to be tested by the electrical test device,
The electronic device includes a plurality of electronic elements divided into groups, at least one switch arranged in each group, and a switch that opens and closes an electrical connection between at least one of a power supply wiring and a ground wiring and the electronic elements, Have
At least one of the plurality of electronic elements is a polar capacitor,
The electrical test apparatus detects a switch control circuit that controls opening and closing of the switch, a short detection circuit that detects the presence or absence of a short circuit between a power supply wiring and a ground wiring in the group, and a mounting direction of the polar capacitor. An electrical test system comprising: a reverse mounting detection circuit; and a power supply circuit for supplying power to a power supply wiring and a ground wiring.
前記逆実装検出回路は、前記グループにおける電源配線とグランド配線間の電圧を測定する電圧測定回路と、前記電圧測定回路によって測定された電圧変化と前記有極性コンデンサが適正に実装された場合における電圧変化とを比較する電圧降下時間比較回路と、を有することを特徴とする請求項1に記載の電気的試験システム。   The reverse mounting detection circuit includes a voltage measuring circuit that measures a voltage between a power supply wiring and a ground wiring in the group, a voltage change measured by the voltage measuring circuit, and a voltage when the polar capacitor is properly mounted. The electrical test system according to claim 1, further comprising a voltage drop time comparison circuit that compares the change. 前記ショート検出回路は、各グループにおけるショートの有無を一括して検出することを特徴とする請求項1又は2に記載の電気的試験システム。   The electrical test system according to claim 1, wherein the short detection circuit collectively detects the presence or absence of a short in each group. 前記逆実装検出回路は、各グループにおける前記有極性コンデンサの逆実装の有無を一括して検出することを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の電気的試験システム。   The electrical test system according to any one of claims 1 to 3, wherein the reverse mounting detection circuit collectively detects the presence or absence of reverse mounting of the polar capacitors in each group. 少なくとも1つの電子素子が配された各グループにおけるショートを検出するショート検出工程と、
前記電子素子のうち有極性コンデンサの逆実装を検出する逆実装検出工程と、を含み、
前記ショート検出工程は、
前記電子素子と電源配線及びグランド配線のうちの少なくともいずれかとの電気的接続を遮断する工程と、
各グループにおける電源配線とグランド配線間のショートの有無を検出する工程と、を含み、
前記逆実装検出工程は、
前記電子素子のうち有極性コンデンサを充電する工程と、
前記電子素子と電源配線及びグランド配線のうちの少なくともいずれかとの電気的接続を遮断する工程と、
前記グループにおける電源配線とグランド配線の電圧降下速度を測定する工程と、
前記電圧降下速度が所定の範囲内にあるか否かを検出する工程と、を含むことを特徴とする電気的試験方法。
A short detection step of detecting a short in each group in which at least one electronic element is arranged;
A reverse mounting detection step of detecting reverse mounting of a polar capacitor among the electronic elements,
The short detection step includes
Cutting off the electrical connection between the electronic element and at least one of the power supply wiring and the ground wiring;
Detecting the presence or absence of a short circuit between the power supply wiring and the ground wiring in each group,
The reverse mounting detection step includes
Charging a polar capacitor of the electronic elements;
Cutting off the electrical connection between the electronic element and at least one of the power supply wiring and the ground wiring;
Measuring a voltage drop rate of the power supply wiring and the ground wiring in the group;
Detecting whether or not the voltage drop rate is within a predetermined range.
前記所定の範囲は、前記有極性コンデンサが適正に実装されていた場合の前記グループにおける電源配線とグランド配線の電圧降下速度を基に決定することを特徴とする請求項5に記載の電気的試験方法。   6. The electrical test according to claim 5, wherein the predetermined range is determined based on a voltage drop rate of a power supply wiring and a ground wiring in the group when the polar capacitor is properly mounted. Method.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103454546A (en) * 2013-08-23 2013-12-18 重庆市宇邦线缆有限公司 Method and device for detecting cable core breakage and short circuit faults automatically
CN104360218A (en) * 2014-11-20 2015-02-18 国网河北阜城县供电公司 Breaker secondary circuit wiring detecting device and breaker replacing method
CN107589337A (en) * 2017-10-07 2018-01-16 深圳特发东智科技有限公司 A kind of method for detecting short circuit and controller
CN110441554A (en) * 2019-07-18 2019-11-12 国网安徽省电力有限公司宣城供电公司 An auxiliary device for testing power frequency parameters of transmission lines against induction electricity

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103454546A (en) * 2013-08-23 2013-12-18 重庆市宇邦线缆有限公司 Method and device for detecting cable core breakage and short circuit faults automatically
CN104360218A (en) * 2014-11-20 2015-02-18 国网河北阜城县供电公司 Breaker secondary circuit wiring detecting device and breaker replacing method
CN107589337A (en) * 2017-10-07 2018-01-16 深圳特发东智科技有限公司 A kind of method for detecting short circuit and controller
CN107589337B (en) * 2017-10-07 2020-03-06 深圳特发东智科技有限公司 Short circuit detection method and controller
CN110441554A (en) * 2019-07-18 2019-11-12 国网安徽省电力有限公司宣城供电公司 An auxiliary device for testing power frequency parameters of transmission lines against induction electricity
CN110441554B (en) * 2019-07-18 2024-05-14 国网安徽省电力有限公司宣城供电公司 Power transmission line power frequency parameter test auxiliary device capable of preventing induction electricity

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