[go: up one dir, main page]

JP2010117171A - Spectrophotometer - Google Patents

Spectrophotometer Download PDF

Info

Publication number
JP2010117171A
JP2010117171A JP2008288920A JP2008288920A JP2010117171A JP 2010117171 A JP2010117171 A JP 2010117171A JP 2008288920 A JP2008288920 A JP 2008288920A JP 2008288920 A JP2008288920 A JP 2008288920A JP 2010117171 A JP2010117171 A JP 2010117171A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
light beam
measurement light
measurement
spectrophotometer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2008288920A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Mikio Sugioka
幹生 杉岡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP2008288920A priority Critical patent/JP2010117171A/en
Publication of JP2010117171A publication Critical patent/JP2010117171A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

【課題】 測定光束が試料中のどの位置に照射されるかを容易に確認しながら、試料室に試料を配置することができる分光光度計を提供すること。
【解決手段】 試料17中の被測定箇所に、紫外領域から可視領域までの内から選択される波長の測定光束を照射する照明部20と、試料17が配置されるための試料室14と、試料室14に配置された試料17中の被測定箇所を透過した透過光を検出する検出器10と、照明部20を制御する制御部30とを備える分光光度計1であって、制御部30は、試料17が試料室14に配置される前には、可視領域から選択される少なくとも一の特定波長の測定光束を照射しているように照明部20を自動的に制御することを特徴とする。
【選択図】図1
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a spectrophotometer capable of arranging a sample in a sample chamber while easily confirming which position in the sample is irradiated with a measurement light beam.
An illumination unit 20 that irradiates a measurement light beam having a wavelength selected from an ultraviolet region to a visible region to a measurement site in a sample 17, a sample chamber 14 in which the sample 17 is disposed, A spectrophotometer 1 including a detector 10 that detects transmitted light that has passed through a measurement site in a sample 17 disposed in a sample chamber 14, and a control unit 30 that controls an illumination unit 20. Is characterized in that, before the sample 17 is placed in the sample chamber 14, the illuminating unit 20 is automatically controlled so that the measurement light beam of at least one specific wavelength selected from the visible region is irradiated. To do.
[Selection] Figure 1

Description

本発明は、分光光度計に関し、特に紫外領域から可視領域までの内から選択される波長の測定光束を照射することができる分光光度計に関する。 The present invention relates to a spectrophotometer, and more particularly to a spectrophotometer capable of irradiating a measurement light beam having a wavelength selected from an ultraviolet region to a visible region.

試料(例えば、樹脂、膜、結晶、ガラス、粉体等)中の被測定箇所における吸収スペクトルを測定するために、分光光度計が用いられている。
図4は、従来の分光光度計の一例を示す概略構成図である。分光光度計51は、測定光束を照射する照明部20と、試料17が配置される試料室14と、透過光を検出する積分球ユニット等の検出器10と、照明部20と検出器10とを制御するコンピュータ(制御部)60とを備える。
照明部20は、重水素ランプやハロゲンランプ等の光源23と、光源23から出射された光を分散する回折格子22と、測定光束が試料17中に照射される照射面積(例えば、8mm×8mm)を決めるとともに目的波長の測定光束を通過させるスリット21とを有する。
コンピュータ60は、CPU61を備え、さらにメモリ35と、モニタ画面等を有する表示装置33と、入力装置32であるキーボードやマウスとが連結されている。
A spectrophotometer is used to measure an absorption spectrum at a location to be measured in a sample (eg, resin, film, crystal, glass, powder, etc.).
FIG. 4 is a schematic configuration diagram showing an example of a conventional spectrophotometer. The spectrophotometer 51 includes an illumination unit 20 that irradiates a measurement light beam, a sample chamber 14 in which a sample 17 is disposed, a detector 10 such as an integrating sphere unit that detects transmitted light, an illumination unit 20 and a detector 10. And a computer (control unit) 60 for controlling the computer.
The illumination unit 20 includes a light source 23 such as a deuterium lamp and a halogen lamp, a diffraction grating 22 that disperses light emitted from the light source 23, and an irradiation area (for example, 8 mm × 8 mm) in which the measurement light beam is irradiated into the sample 17. ) And a slit 21 through which a measurement light beam having a target wavelength passes.
The computer 60 includes a CPU 61, and further includes a memory 35, a display device 33 having a monitor screen and the like, and a keyboard and a mouse that are the input devices 32.

このような分光光度計51において、照明部20から出射された測定光束は、試料17が配置された試料室14へ導かれる。試料室14で測定光束は、試料17中の被測定箇所に照射され、試料17中の被測定箇所を通過した後で試料17中の被測定箇所から外へ透過光として出る。このとき、測定光束は、試料17中の被測定箇所による固有の吸収を受ける。そして、試料17中の被測定箇所から外へ出た透過光は、検出器10で検出される。その後、コンピュータ60は、検出器10の受光信号を解析することにより、試料17中の被測定箇所における吸収スペクトルを得る。 In such a spectrophotometer 51, the measurement light beam emitted from the illumination unit 20 is guided to the sample chamber 14 in which the sample 17 is disposed. In the sample chamber 14, the measurement light beam is irradiated to the measurement site in the sample 17, passes through the measurement site in the sample 17, and exits from the measurement site in the sample 17 as transmitted light. At this time, the measurement light beam is inherently absorbed by the portion to be measured in the sample 17. Then, the transmitted light exiting from the measurement site in the sample 17 is detected by the detector 10. Thereafter, the computer 60 obtains an absorption spectrum at the location to be measured in the sample 17 by analyzing the light reception signal of the detector 10.

ところで、このような分光光度計51では、紫外領域(180nm)から赤外領域(3000nm)までの内から選択される波長λ(例えば、200nm)から波長λ(例えば、800nm)までの測定光束を、試料17中の被測定箇所に順次照射することが回折格子22の角度や位置等を調整することで可能となっている。例えば、操作者は、入力装置32を用いて測定条件設定画像をモニタ画面23aに呼び出すことにより、入力装置32を用いて波長λや波長λ等の測定条件を入力している。これにより、試料17中の被測定箇所における波長λから波長λまでの吸収スペクトルを得ている。
また、試料17中における被測定箇所が小さい場合に、試料17中の被測定箇所に測定光束が正確に照射されるかを調べるために、波長λから波長λまでの測定光束を選択して照射する前に、入力装置32を用いて測定条件設定画像をモニタ画面23aに呼び出して、可視領域(400nm〜1000nm)の特定波長λ(例えば、550nm)の測定光束を入力することにより、試料17に特定波長λの測定光束を照射することで、測定光束が試料17中のどの位置に照射されるかを確認していた(例えば、特許文献1参照)。
特開2006―250836号公報
By the way, in such a spectrophotometer 51, measurement from a wavelength λ 2 (for example, 200 nm) to a wavelength λ 3 (for example, 800 nm) selected from the ultraviolet region (180 nm) to the infrared region (3000 nm). It is possible to sequentially irradiate the measurement site in the sample 17 with the light beam by adjusting the angle and position of the diffraction grating 22. For example, the operator inputs measurement conditions such as the wavelength λ 2 and the wavelength λ 3 using the input device 32 by calling the measurement condition setting image on the monitor screen 23 a using the input device 32. As a result, an absorption spectrum from the wavelength λ 2 to the wavelength λ 3 at the location to be measured in the sample 17 is obtained.
Further, when the measurement site in the sample 17 is small, in order to check whether the measurement beam in the sample 17 is accurately irradiated with the measurement beam, the measurement beam from the wavelength λ 2 to the wavelength λ 3 is selected. Before irradiating, a measurement condition setting image is called on the monitor screen 23a using the input device 32, and a measurement light beam having a specific wavelength λ 1 (eg, 550 nm) in the visible region (400 nm to 1000 nm) is input. by irradiating the measuring light beam of a specific wavelength lambda 1 to the sample 17, it was to check whether the measurement beam is irradiated on any position in the sample 17 (e.g., see Patent Document 1).
JP 2006-250836 A

しかしながら、測定光束が試料17中のどの位置に照射されるかを調べるために、波長λから波長λまでの測定光束を選択して照射する前に、特定波長λの測定光束を選択して照射するには、入力装置32等を操作する必要があり、複数の試料17を測定する場合には、試料17を交換するたびに入力装置32等を操作する必要があり、非常に手間がかかるという問題があった。
そこで、本発明は、測定光束が試料中のどの位置に照射されるかを容易に確認しながら、試料室に試料を配置することができる分光光度計を提供することを目的とする。
However, in order to investigate where in the sample 17 the measurement light beam is irradiated, the measurement light beam of the specific wavelength λ 1 is selected before the measurement light beam from the wavelength λ 2 to the wavelength λ 3 is selected and irradiated. In order to perform irradiation, it is necessary to operate the input device 32 and the like. When measuring a plurality of samples 17, it is necessary to operate the input device 32 and the like every time the sample 17 is replaced. There was a problem that it took.
Therefore, an object of the present invention is to provide a spectrophotometer capable of arranging a sample in a sample chamber while easily confirming in which position the measurement light beam is irradiated in the sample.

上記課題を解決するためになされた本発明の分光光度計は、試料中の被測定箇所に、紫外領域から可視領域までの内から選択される波長の測定光束を照射する照明部と、前記試料が配置されるための試料室と、前記試料室に配置された試料中の被測定箇所を透過した透過光を検出する検出器と、前記照明部を制御する制御部とを備える分光光度計であって、
前記制御部は、前記試料が試料室に配置される前には、可視領域から選択される少なくとも一の特定波長の測定光束を照射しているように照明部を自動的に制御するようにしている。
The spectrophotometer of the present invention made to solve the above-described problems is an illumination unit that irradiates a measurement light beam having a wavelength selected from an ultraviolet region to a visible region to a measurement target location in a sample, and the sample A spectrophotometer comprising: a sample chamber for disposing a light; a detector for detecting transmitted light that has passed through a measurement site in the sample disposed in the sample chamber; and a control unit for controlling the illumination unit. There,
The control unit automatically controls the illumination unit so that the measurement light beam having at least one specific wavelength selected from the visible region is irradiated before the sample is placed in the sample chamber. Yes.

ここで、「試料が試料室に配置される前」とは、試料が、試料中の所望の被測定箇所に測定光束が照射される位置に配置される前のことをいい、試料が、試料中の所望の被測定箇所に測定光束が照射されない試料室中の仮位置に配置されることとは異なる。よって、本発明には、試料が仮位置に配置されるときには、特定波長の測定光束を照射せず、試料が仮位置に配置された後、特定波長の測定光束を照射し、その状態で試料が、試料中の所望の被測定箇所に測定光束が照射される位置に配置されることも含まれる。
また、「少なくとも一の特定波長の測定光束」とは、一の特定波長の測定光束のみであってもよく、一の特定波長から他の特定波長までの測定光束を順次照射するものであってもよく、一の特定波長と他の特定波長とが混ざった測定光束であってもよい。
本発明の分光光度計によれば、制御部は、試料が試料室に配置される前には、可視領域から選択される少なくとも一の特定波長の測定光束を照射しているように照明部を自動的に制御する。このように制御部が照明部を制御しているので、操作者は、測定光束が試料中のどの位置に照射されるかを確認するために、入力装置等を操作する必要もなくなる。
Here, “before the sample is placed in the sample chamber” means before the sample is placed at a position where the measurement light beam is irradiated to a desired measurement location in the sample. It is different from being arranged at a temporary position in the sample chamber where the measurement light beam is not irradiated to a desired measurement location in the inside. Therefore, according to the present invention, when the sample is disposed at the temporary position, the measurement light beam having the specific wavelength is not irradiated, and after the sample is disposed at the temporary position, the measurement light beam having the specific wavelength is irradiated, and the sample is in that state. However, it is also included that the measurement light beam is radiated to a desired measurement site in the sample.
The “measurement light beam of at least one specific wavelength” may be only the measurement light beam of one specific wavelength, and sequentially irradiates measurement light beams from one specific wavelength to another specific wavelength. Alternatively, the measurement light beam may be a mixture of one specific wavelength and another specific wavelength.
According to the spectrophotometer of the present invention, before the sample is placed in the sample chamber, the control unit sets the illuminating unit so that the measurement light beam having at least one specific wavelength selected from the visible region is irradiated. Control automatically. Since the control unit controls the illumination unit in this way, the operator does not need to operate the input device or the like in order to confirm which position in the sample is irradiated with the measurement light beam.

以上のように、本発明の分光光度計によれば、測定光束が試料中のどの位置に照射されるかを容易に確認しながら、試料室に試料を配置することができる。 As described above, according to the spectrophotometer of the present invention, the sample can be placed in the sample chamber while easily confirming which position in the sample is irradiated with the measurement light beam.

(その他の課題を解決するための手段及び効果)
また、本発明の分光光度計は、前記制御部は、一の試料を測定するための前記紫外領域から可視領域までの内から選択される波長の測定光束を照射した後には、前記可視領域から選択される少なくとも一の特定波長の測定光束を照射するように照明部を自動的に制御するとともに、前記試料が試料室に配置された後には、前記可視領域から選択される少なくとも一の特定波長の測定光束の照射を停止するように照明部を自動的に制御するようにしてもよい。
そして、本発明の分光光度計は、前記制御部は、前記試料が試料室に配置される前には、緑色領域から選択される少なくとも一の特定波長の測定光束を照射しているように照明部を自動的に制御するようにしてもよい。
本発明の分光光度計によれば、一般にヒトの眼には、緑色が見やすいので、緑色領域から選択される少なくとも一の特定波長の測定光束を照射しているようにすることができ、さらに初期設定として出荷時等に設定しておけば、操作者は、測定光束が試料中のどの位置に照射されるかを確認するために、入力装置等を一度も操作する必要もなくなる。
(Means and effects for solving other problems)
Further, in the spectrophotometer of the present invention, after the control unit irradiates a measurement light beam having a wavelength selected from the ultraviolet region to the visible region for measuring one sample, the control unit starts from the visible region. The illumination unit is automatically controlled to irradiate at least one selected measurement light beam having a specific wavelength, and at least one specific wavelength selected from the visible region after the sample is placed in the sample chamber. The illumination unit may be automatically controlled so as to stop the irradiation of the measurement light beam.
The spectrophotometer of the present invention is illuminated such that the control unit emits a measurement light beam having at least one specific wavelength selected from the green region before the sample is placed in the sample chamber. The unit may be automatically controlled.
According to the spectrophotometer of the present invention, since the green color is generally easy to see in the human eye, it is possible to irradiate the measurement light beam with at least one specific wavelength selected from the green region, and further to the initial stage. If the setting is set at the time of shipment or the like, the operator does not need to operate the input device or the like once to confirm which position in the sample is irradiated with the measurement light beam.

さらに、本発明の分光光度計は、前記制御部が、前記試料が試料室に配置される前に照射している測定光束の少なくとも一の特定波長を設定する設定部を備え、前記制御部は、前記設定部に設定された測定光束の少なくとも一の特定波長に基づいて、前記照明部を自動的に制御するようにしてもよい。
本発明の分光光度計によれば、一般にヒトの眼には、緑色が見やすいので、550nm付近に設定すればよいが、試料が緑色である場合には、470nmの青色や650nmの赤色等に設定することができる。
Furthermore, the spectrophotometer of the present invention further includes a setting unit that sets at least one specific wavelength of the measurement light beam irradiated before the sample is placed in the sample chamber. The illumination unit may be automatically controlled based on at least one specific wavelength of the measurement light beam set in the setting unit.
According to the spectrophotometer of the present invention, since it is generally easy for human eyes to see green, it may be set around 550 nm. However, when the sample is green, it is set to 470 nm blue, 650 nm red, etc. can do.

以下、本発明の実施形態について図面を用いて説明する。なお、本発明は、以下の実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の態様が含まれることはいうまでもない。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In addition, this invention is not limited to the following embodiment, It cannot be overemphasized that various aspects are included in the range which does not deviate from the meaning of this invention.

図1は、本発明の一実施形態である分光光度計の構成を示すブロック図である。
分光光度計1は、測定光束を照射する照明部20と、試料17が配置される試料室14と、透過光を検出する積分球ユニット等の検出器10と、照明部20と検出器10とを制御するコンピュータ(制御部)30とを備える。なお、分光光度計51と同様のものについては、同じ符号を付している。
コンピュータ30においては、CPU31を備え、さらにメモリ35と、モニタ画面等を有する表示装置33と、入力装置32であるキーボードやマウスとが連結されている。CPU31が処理する機能をブロック化して説明すると、特定波長設定λを設定する設定部43と、照明部20を制御する照明部制御部41と、検出器10を制御する検出器制御部42とを有する。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a spectrophotometer according to an embodiment of the present invention.
The spectrophotometer 1 includes an illumination unit 20 that irradiates a measurement light beam, a sample chamber 14 in which a sample 17 is disposed, a detector 10 such as an integrating sphere unit that detects transmitted light, an illumination unit 20 and a detector 10. And a computer (control unit) 30 for controlling the computer. In addition, the same code | symbol is attached | subjected about the thing similar to the spectrophotometer 51. FIG.
The computer 30 includes a CPU 31, and further includes a memory 35, a display device 33 having a monitor screen and the like, and a keyboard and a mouse that are input devices 32. The function processed by the CPU 31 will be described as a block. A setting unit 43 that sets the specific wavelength setting λ 1 , an illumination unit control unit 41 that controls the illumination unit 20, and a detector control unit 42 that controls the detector 10. Have

図2は、分光光度計1により表示された初期条件設定画像の一例を示す図である。モニタ画面23aには、測光値の種類「反射率」と、検出器ユニット「積分球」と、スリット幅「8」mmと、特定波長設定λ「550」nmと、光源「自動」と、時定数「5.0」と、入力された測定条件を確定するためのOKボタンと、入力された測定条件を取消すためのCancelボタンとが表示されている。このように表示された初期条件設定画像は、入力装置32を用いてモニタ画面23aに呼び出されることになり、操作者は、初期条件設定画像を見ながら、入力装置32を用いて測定条件を入力していくことになる。 FIG. 2 is a diagram illustrating an example of an initial condition setting image displayed by the spectrophotometer 1. The monitor screen 23a includes a photometric value type “reflectance”, a detector unit “integrating sphere”, a slit width “8” mm, a specific wavelength setting λ 1 “550” nm, a light source “automatic”, A time constant “5.0”, an OK button for confirming the input measurement condition, and a Cancel button for canceling the input measurement condition are displayed. The initial condition setting image displayed in this way is called on the monitor screen 23a using the input device 32, and the operator inputs measurement conditions using the input device 32 while viewing the initial condition setting image. Will do.

設定部43は、特定波長設定λを設定する制御を行う。例えば、操作者によって入力装置32が操作されることにより、初期条件設定画像をモニタ画面23aに表示する。そして、操作者によって特定波長設定λ「550」nmと入力されることにより、特定波長設定λ「550」nmと設定する。このとき、一般にヒトの眼には、緑色が見やすいので、550nm付近に設定すればよいが、試料17が緑色である場合には、470nmの青色や650nmの赤色等に設定してもよい。 Setting unit 43 performs control to set a specific wavelength setting lambda 1. For example, when the input device 32 is operated by the operator, the initial condition setting image is displayed on the monitor screen 23a. Then, by inputting the specific wavelength setting lambda 1 "550" nm by the operator, to set a specific wavelength setting lambda 1 "550" nm. At this time, since it is generally easy for human eyes to see green, it may be set to around 550 nm. However, when the sample 17 is green, it may be set to 470 nm blue, 650 nm red, or the like.

照明部制御部41は、測定条件が入力された初期条件設定画像と測定条件設定画像とに基づいて、照明部20を制御する。例えば、設定部43によって特定波長設定λ「550」nmと設定されると(試料17が試料室14に配置される前には)、特定波長λの測定光束を照射する。そして、波長λ「200」nmと波長λ「800」nmと設定されると(試料17が試料室14に配置された後には)、波長λから波長λまでの測定光束を順次照射する。そして、波長λから波長λまでの測定光束を順次照射した後には、特定波長λの測定光束を照射する。このように試料17を測定しているとき以外には、特定波長λの測定光束を照射する。これにより、操作者は、入力装置32を操作する必要もなく、測定光束が試料17中のどの位置に照射されるかを確認しながら、試料17を、試料17中の所望の被測定箇所に測定光束が照射される位置に配置することができるようになっている。
検出器制御部42は、測定条件が入力された初期条件設定画像と測定条件設定画像とに基づいて、検出器10を制御する。例えば、照明部制御部41によって波長λの測定光束が照射されたときには、検出器10からの受光信号を受けることにより受光信号をメモリ35に記憶させ、照明部制御部41によって次の波長の測定光束が照射されたときには、検出器10からの受光信号を受けることにより受光信号をメモリ35に記憶させるように、照明部制御部41によって波長λから波長λまでの測定光束が順次照射されていくことにより、受光信号をメモリ35に記憶させていく。
The illumination unit control unit 41 controls the illumination unit 20 based on the initial condition setting image and the measurement condition setting image to which the measurement condition is input. For example, when the setting unit 43 sets the specific wavelength setting λ 1 “550” nm (before the sample 17 is placed in the sample chamber 14), the measurement light beam with the specific wavelength λ 1 is irradiated. When the wavelength λ 2 “200” nm and the wavelength λ 3 “800” nm are set (after the sample 17 is placed in the sample chamber 14), the measurement light beams from the wavelength λ 2 to the wavelength λ 3 are sequentially transmitted. Irradiate. Then, after sequentially irradiating the measurement light beam from the wavelength λ 2 to the wavelength λ 3 , the measurement light beam of the specific wavelength λ 1 is irradiated. Except when the sample 17 is being measured in this way, the measurement light beam having the specific wavelength λ 1 is irradiated. Thereby, the operator does not need to operate the input device 32, and the sample 17 is placed at a desired measurement location in the sample 17 while confirming which position in the sample 17 the measurement light beam is irradiated to. It can arrange | position in the position where a measurement light beam is irradiated.
The detector control unit 42 controls the detector 10 based on the initial condition setting image and the measurement condition setting image to which the measurement condition is input. For example, when the measurement light beam having the wavelength λ 2 is irradiated by the illumination unit control unit 41, the light reception signal is stored in the memory 35 by receiving the light reception signal from the detector 10, and the illumination unit control unit 41 stores the next wavelength. When the measurement light beam is irradiated, the illumination unit control unit 41 sequentially irradiates the measurement light beam from the wavelength λ 2 to the wavelength λ 3 so that the light reception signal is stored in the memory 35 by receiving the light reception signal from the detector 10. As a result, the received light signal is stored in the memory 35.

次に、分光光度計1により、複数の試料を順次測定する測定方法について説明する。図3は、分光光度計1による測定方法の一例について説明するためのフローチャートである。
まず、ステップS101の処理において、操作者は、入力装置32を用いて初期条件設定画像を呼び出し、特定波長設定λ「550」nmと入力する。
次に、ステップS102の処理において、設定部43は、特定波長設定λ「550」nmと設定して、照明部制御部41は、特定波長λの測定光束を照射する。
Next, a measurement method for sequentially measuring a plurality of samples with the spectrophotometer 1 will be described. FIG. 3 is a flowchart for explaining an example of the measuring method by the spectrophotometer 1.
First, in the process of step S101, the operator uses the input device 32 to call up an initial condition setting image and inputs a specific wavelength setting λ 1 “550” nm.
Next, in the process of step S102, the setting unit 43 sets the specific wavelength setting λ 1 “550” nm, and the illumination unit control unit 41 irradiates the measurement light beam with the specific wavelength λ 1 .

次に、ステップS103の処理において、操作者は、試料17を試料室14に配置する。このとき、操作者は、特定波長λの測定光束が試料17中のどの位置に照射されているかを確認しながら、試料17を、試料17中の所望の被測定箇所に測定光束が照射される位置に配置することになる。
次に、ステップS104の処理において、操作者は、入力装置32を用いて測定条件設定画像を呼び出し、波長λ「200」nm、波長λ「800」nmと入力する。
次に、ステップS105の処理において、照明部制御部41は、試料17中の被測定箇所に照射する測定光束として、波長λから波長λまでの測定光束を順次照射していくとともに、検出器制御部42は、受光信号をメモリ35に記憶させていく。
Next, in the process of step S <b> 103, the operator places the sample 17 in the sample chamber 14. At this time, the operator irradiates the sample 17 with the measurement light beam at a desired measurement site in the sample 17 while confirming which position in the sample 17 the measurement light beam of the specific wavelength λ 1 is irradiated. It will be arranged at the position.
Next, in the process of step S104, the operator calls up the measurement condition setting image using the input device 32, and inputs the wavelength λ 2 “200” nm and the wavelength λ 3 “800” nm.
Next, in the process of step S105, the illuminating unit control unit 41 sequentially irradiates the measurement light beam from the wavelength λ 2 to the wavelength λ 3 as the measurement light beam to be irradiated to the measurement site in the sample 17 and detects the measurement light beam. The instrument controller 42 stores the received light signal in the memory 35.

次に、ステップS106の処理において、照明部制御部41は、特定波長設定λ「550」nmと設定して、特定波長λの測定光束を照射する。
次に、ステップS107の処理において、操作者は、次の試料を測定するか否かを判断する。次の試料を測定すると判断したときには、ステップS108の処理において、操作者は、試料17を試料室14から除去して、ステップS103の処理に戻る。
一方、次の試料を測定しないと判断したときには、本フローチャートを終了させる。
Next, in the process of step S106, the illumination unit controller 41 sets the specific wavelength setting λ 1 “550” nm and irradiates the measurement light beam with the specific wavelength λ 1 .
Next, in the process of step S107, the operator determines whether or not to measure the next sample. When it is determined that the next sample is to be measured, in the process of step S108, the operator removes the sample 17 from the sample chamber 14, and returns to the process of step S103.
On the other hand, when it is determined that the next sample is not measured, this flowchart is terminated.

以上のように、本発明の分光光度計1によれば、測定光束が試料17中のどの位置に照射されるかを容易に確認しながら、試料17を、試料17中の所望の被測定箇所に測定光束が照射される位置に配置することができる。 As described above, according to the spectrophotometer 1 of the present invention, the sample 17 is moved to the desired location in the sample 17 while easily confirming which position in the sample 17 is irradiated with the measurement light beam. It can arrange | position in the position where a measurement light beam is irradiated.

本発明は、紫外領域から可視領域までの内から選択される波長の測定光束を照射することができる分光光度計に利用することができる。 The present invention can be used for a spectrophotometer capable of irradiating a measurement light beam having a wavelength selected from the ultraviolet region to the visible region.

本発明の一実施形態である分光光度計の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the spectrophotometer which is one Embodiment of this invention. 分光光度計により表示された初期条件設定画像の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the initial condition setting image displayed by the spectrophotometer. 分光光度計による測定方法の一例について説明するためのフローチャートである。It is a flowchart for demonstrating an example of the measuring method by a spectrophotometer. 従来の分光光度計の一例を示す概略構成図である。It is a schematic block diagram which shows an example of the conventional spectrophotometer.

符号の説明Explanation of symbols

1:分光光度計
10:検出器
14:試料室
17:試料
20:照明部
30:コンピュータ(制御部)
1: spectrophotometer 10: detector 14: sample chamber 17: sample 20: illumination unit 30: computer (control unit)

Claims (4)

試料中の被測定箇所に、紫外領域から可視領域までの内から選択される波長の測定光束を照射する照明部と、
前記試料が配置されるための試料室と、
前記試料室に配置された試料中の被測定箇所を透過した透過光を検出する検出器と、
前記照明部を制御する制御部とを備える分光光度計であって、
前記制御部は、前記試料が試料室に配置される前には、可視領域から選択される少なくとも一の特定波長の測定光束を照射しているように照明部を自動的に制御することを特徴とする分光光度計。
An illuminating unit that irradiates a measurement light beam having a wavelength selected from the ultraviolet region to the visible region to a measurement site in the sample;
A sample chamber for placing the sample;
A detector that detects transmitted light that has passed through a measurement site in a sample disposed in the sample chamber;
A spectrophotometer comprising a control unit for controlling the illumination unit,
The control unit automatically controls the illuminating unit so that the measurement light beam having at least one specific wavelength selected from the visible region is irradiated before the sample is arranged in the sample chamber. A spectrophotometer.
前記制御部は、一の試料を測定するための前記紫外領域から可視領域までの内から選択される波長の測定光束を照射した後には、前記可視領域から選択される少なくとも一の特定波長の測定光束を照射するように照明部を自動的に制御するとともに、
前記試料が試料室に配置された後には、前記可視領域から選択される少なくとも一の特定波長の測定光束の照射を停止するように照明部を自動的に制御することを特徴とする請求項1に記載の分光光度計。
The control unit measures at least one specific wavelength selected from the visible region after irradiating a measurement light beam having a wavelength selected from the ultraviolet region to the visible region for measuring one sample. While automatically controlling the lighting unit to irradiate the light beam,
2. The illumination unit is automatically controlled to stop irradiation of a measurement light beam having at least one specific wavelength selected from the visible region after the sample is arranged in the sample chamber. The spectrophotometer described in 1.
前記制御部は、前記試料が試料室に配置される前には、緑色領域から選択される少なくとも一の特定波長の測定光束を照射しているように照明部を自動的に制御することを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の分光光度計。 The control unit automatically controls the illumination unit so that the measurement light beam having at least one specific wavelength selected from the green region is irradiated before the sample is arranged in the sample chamber. The spectrophotometer according to claim 1 or 2. 前記制御部が、前記試料が試料室に配置される前に照射している測定光束の少なくとも一の特定波長を設定する設定部を備え、
前記制御部は、前記設定部に設定された測定光束の少なくとも一の特定波長に基づいて、前記照明部を自動的に制御することを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の分光光度計。
The control unit includes a setting unit that sets at least one specific wavelength of the measurement light beam irradiated before the sample is arranged in the sample chamber,
The spectrophotometer according to claim 1 or 2, wherein the control unit automatically controls the illumination unit based on at least one specific wavelength of the measurement light beam set in the setting unit. Total.
JP2008288920A 2008-11-11 2008-11-11 Spectrophotometer Pending JP2010117171A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008288920A JP2010117171A (en) 2008-11-11 2008-11-11 Spectrophotometer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008288920A JP2010117171A (en) 2008-11-11 2008-11-11 Spectrophotometer

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2010117171A true JP2010117171A (en) 2010-05-27

Family

ID=42304947

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008288920A Pending JP2010117171A (en) 2008-11-11 2008-11-11 Spectrophotometer

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2010117171A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022163671A1 (en) * 2021-01-29 2022-08-04 富士フイルム株式会社 Data processing device, method, and program, optical element, imaging optical system, and imaging device

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022163671A1 (en) * 2021-01-29 2022-08-04 富士フイルム株式会社 Data processing device, method, and program, optical element, imaging optical system, and imaging device
JPWO2022163671A1 (en) * 2021-01-29 2022-08-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US12196678B2 (en) Luminescence imaging for gemstone screening
JP6210115B2 (en) Gloss evaluation method and gloss evaluation apparatus
TWI683092B (en) Spectrometry device and method
JP2005207982A5 (en)
JP6917761B2 (en) Image inspection equipment
US20140022535A1 (en) Optical Characteristic Measuring Apparatus and Method
EP3431942A1 (en) Fluorescence spectrophotometer and fluorescence spectrometry and imaging method
JP6041691B2 (en) Measuring apparatus and measuring method
EP3431966B1 (en) Display device for photometric analyzer
JP2022170900A (en) Analysis equipment
JP2010117171A (en) Spectrophotometer
KR102248263B1 (en) A method of detecting a sample change using a light source control method, the light source control method, and a sample change detection device
JP5217046B2 (en) Optical characteristic measuring apparatus and optical characteristic measuring method
JP2009240644A (en) Transparency measurement device
US10942114B2 (en) Atomic absorption spectrophotometer and atomic absorption measurement method
JP2011169718A (en) Spectrophotometer and method for measuring performance thereof
JP2009222607A (en) Illumination control method of sample analyzer, and sample analyzer
KR20170033238A (en) System and method for measuring thermal degradation of composites
JP2011209183A (en) Pinworm egg inspection device and pinworm egg inspection method
JP2011085606A (en) Spectrophotometer
US11009393B2 (en) Spectroscopic analysis control device, spectroscopic analysis device, spectroscopic analysis control method, and spectroscopic analysis control program
JP2005189217A (en) Spectral characteristic measuring device
JP2006023169A (en) Weather resistance tester
JP6825631B2 (en) Colorimeter and the method
US12399107B1 (en) Integrated spectroscopic system with cuvette holders and homogenized illumination