JP2010184048A - Eye dimension measuring instrument - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、被検眼の所定部位の寸法を測定する眼寸法測定装置に関する。 The present invention relates to an eye size measuring device that measures the size of a predetermined part of an eye to be examined.
被検眼の所定部位の軸方向寸法(例えば、眼軸長、前房深度)を測定する眼寸法測定装置としては、光源から出射された低コヒーレント光を被検眼の異なる軸方向位置に存在する2つの部位に向けて照射する照射光学系と、2つの部位からの反射光を干渉光として受光素子で受光する受光光学系と、を有し、光路分割部材によって分割された第1の光と第2の光との間の光路差を調整可能な光路長変更部材を光軸方向に移動させ、受光素子によって干渉光が検出されたときの光路長変更部材の移動位置に基づいて眼寸法を測定する装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。 As an eye dimension measuring apparatus for measuring the axial dimension (for example, axial length, anterior chamber depth) of a predetermined part of the eye to be examined, low coherent light emitted from a light source exists at different axial positions of the eye to be examined 2 A first optical beam divided by an optical path splitting member, and a first optical beam divided by an optical path dividing member. The optical path length changing member capable of adjusting the optical path difference between the two lights is moved in the optical axis direction, and the eye dimension is measured based on the moving position of the optical path length changing member when the interference light is detected by the light receiving element. An apparatus is known (see, for example, Patent Document 1).
ところで、従来の装置の場合、測定開始のトリガ信号が出力されると、光路長変更部材が原点位置から所定方向に向けて移動され、第1の光と第2の光との光路長が一致されたときに受光素子から干渉信号が出力される。そして、この干渉信号が検出されたときの光路長変更部材の移動位置に基づいて眼寸法が測定される。なお、光路長変更部材は、移動限界位置に達した後、反対方向に移動され、原点位置に復帰される。 By the way, in the case of a conventional apparatus, when a trigger signal for starting measurement is output, the optical path length changing member is moved in the predetermined direction from the origin position, and the optical path lengths of the first light and the second light coincide with each other. When this is done, an interference signal is output from the light receiving element. Then, the eye size is measured based on the movement position of the optical path length changing member when this interference signal is detected. The optical path length changing member is moved in the opposite direction after reaching the movement limit position, and returned to the origin position.
しかしながら、従来の装置の場合、眼寸法を2回以上測定するためには光路長変更部材を2回以上往復して移動させている構成であったため、測定時間が長く、被検者にとって負担となっていた。 However, in the case of the conventional apparatus, in order to measure the eye dimension twice or more, since the optical path length changing member is moved back and forth twice or more, the measurement time is long, which is a burden on the subject. It was.
本発明は、上記問題点を鑑み、測定時間を短縮し、被検者の負担を軽減できる眼寸法測定装置を提供することを技術課題とする。 In view of the above problems, an object of the present invention is to provide an eye dimension measuring device that can shorten the measurement time and reduce the burden on the subject.
上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。 In order to solve the above problems, the present invention is characterized by having the following configuration.
(1) 低コヒーレント光を出射する測定光源と、該測定光源から出射された光を分割させる光分割部材と、前記測定光源から出射された光の一部の光路長を変化させるために前記光分割部材によって分割された一方の光路に移動可能に配置された光路長変更部材と、受光素子と、を有し、被検眼に低コヒーレント光を照射し、被検眼からの反射光を干渉光として前記受光素子で受光する干渉光学系と、
前記光路長変更部材を移動させる駆動部と、
該駆動部の駆動を制御すると共に、前記受光素子から出力される干渉信号に基づいて被検眼の所定部位の寸法を測定する演算制御手段と、を備える眼寸法測定装置において、
前記光分割部材によって分割された他方の光路として、第1の光路長を持つ第1光路と、前記光路長変更部材が所定量移動されたときに生成される光路差をオフセット可能な第2の光路長を持つ第2光路と、が形成されており、
前記演算制御手段は、前記光路長変更部材が所定方向に移動されたときに前記受光素子から出力される第1の干渉信号と第2の干渉信号とを取得し、前記第1の干渉信号と前記第2の干渉信号の各干渉信号に基づいて被検眼の所定部位の寸法を各々測定することを特徴とする。
(2) (1)の眼寸法測定装置において、前記光路長変更部材が所定方向に移動された状態において、使用する光路を前記第1光路と前記第2光路との何れかから選択するための光路選択手段を有し、前記演算制御手段は、該光路選択手段を制御し、前記光路長変更部材の移動位置に応じて前記第1光路と前記第2光路との何れかから選択することを特徴とする。
(3) (2)の眼寸法測定装置において、前記干渉光学系は、前記光分割部材によって分割された他方の光路にこの光路をさらに前記第1光路と前記第2光路に分割するための第2光分割部材を有することを特徴とする。
(4) (3)の眼寸法測定装置において、
前記演算制御手段は、前記光路長変更部材の所定方向への移動が完了した後に前記光路長変更部材が反対方向に移動させたときに前記受光素子から出力される第3の干渉信号と第4の干渉信号とを取得し、前記第3の干渉信号と前記第4の干渉信号の各干渉信号に基づいて被検眼の所定部位の寸法を各々測定することを特徴とする。
(1) A measurement light source that emits low-coherent light, a light splitting member that splits the light emitted from the measurement light source, and the light for changing the optical path length of a part of the light emitted from the measurement light source An optical path length changing member arranged to be movable along one optical path divided by the dividing member, and a light receiving element, irradiating the eye to be examined with low coherent light, and using reflected light from the eye to be examined as interference light An interference optical system for receiving light by the light receiving element;
A drive unit for moving the optical path length changing member;
In an eye dimension measuring apparatus comprising: an operation control unit that controls driving of the driving unit and measures a dimension of a predetermined part of the eye to be examined based on an interference signal output from the light receiving element.
As the other optical path divided by the light splitting member, a first optical path having a first optical path length and a second optical path difference that can be offset when the optical path length changing member is moved by a predetermined amount are offset. A second optical path having an optical path length is formed,
The calculation control means acquires a first interference signal and a second interference signal output from the light receiving element when the optical path length changing member is moved in a predetermined direction, and the first interference signal The size of a predetermined part of the eye to be examined is measured based on each interference signal of the second interference signal.
(2) In the eye dimension measuring device according to (1), when the optical path length changing member is moved in a predetermined direction, an optical path to be used is selected from the first optical path and the second optical path. An optical path selection unit, wherein the calculation control unit controls the optical path selection unit and selects one of the first optical path and the second optical path according to a movement position of the optical path length changing member. Features.
(3) In the eye dimension measuring device according to (2), the interference optical system is configured to divide the optical path into the first optical path and the second optical path into the other optical path divided by the light dividing member. It has two light splitting members.
(4) In the eye dimension measuring device of (3),
The arithmetic control means includes a third interference signal and a fourth interference signal output from the light receiving element when the optical path length changing member is moved in the opposite direction after the optical path length changing member is moved in the predetermined direction. And measuring the dimensions of predetermined portions of the eye to be examined based on the interference signals of the third interference signal and the fourth interference signal.
本発明によれば、測定時間を短縮し、被検者の負担を軽減できる。 According to the present invention, the measurement time can be shortened and the burden on the subject can be reduced.
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。図1は、本実施形態に係る眼寸法測定装置の光学系の概略構成図である。なお、以下の実施形態では、本発明を眼軸長測定装置に適用した場合について説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an optical system of an eye dimension measuring apparatus according to this embodiment. In the following embodiments, a case where the present invention is applied to an ocular axial length measurement apparatus will be described.
被検眼角膜と被検眼眼底に測定光を照射するために配置された照射光学系10は、低コヒーレント光を出射する測定光源1(例えば、SLD)と、測定光源1から出射された光束を平行光束とするコリメータレンズ3と、光源1から出射された光を分割するビームスプリッタ5と、ビームスプリッタ5の反射方向に配置された分散補正用ガラス7及び第1三角プリズム(コーナーキューブ)9と、ビームスプリッタ5の透過方向に配置されたビームスプリッタ11(例えば、ハーフミラー)と、ビームスプリッタ11の透過方向に配置された第2三角プリズム13と、ビームスプリッタ11の反射方向に配置された第3三角プリズム15と、偏光ブームスプリッタ17と、1/4波長板19と、を有する。
An irradiation
光源1から出射された光は、コリメータレンズ3によってコリメートされた後、ビームスプリッタ5によって第1測定光(参照光)と第2測定光とに分割される。ここで、第1測定光は、ガラス7を介して、三角プリズム9によって反射されて折り返される。その後、第1測定光は、ガラス7を介してビームスプリッタ5に入射される。また、第2測定光は、ビームスプリッタ11によって分割された後、第2三角プリズム13及び第3三角プリズム15によって反射され各々折り返される。その後、第2測定光は、ビームスプリッタ11を介してビームスプリッタ5に入射される。このようにして、第1測定光と第2測定光がビームスプリッタ5によって合成される。
The light emitted from the light source 1 is collimated by the
合成された光は、偏光ビームスプリッタ17によって反射され、1/4波長板19によって円偏光に変換された後、ダイクロイックミラー21を介して被検眼に照射される。このとき、測定光束は、被検者眼の角膜と眼底にて反射されると、1/2波長分位相が変換される。
The synthesized light is reflected by the
照射光学系10によって照射された測定光による角膜反射光と眼底反射光による干渉光を受光するために配置された受光光学系20は、1/4波長板19と、偏光ビームスプリッタ17と、集光レンズ25と、受光素子27と、を有する。
The light receiving
角膜反射光及び眼底反射光は、ダイクロイックミラー21を介して、1/4波長板19によって直線偏光に変換される。その後、偏光ビームスプリッタ17を透過した反射光は、集光レンズ25によって集光された後、受光素子27によって受光される。
The cornea reflection light and fundus reflection light are converted into linearly polarized light by the
三角プリズム9は、測定光源2から出射された光の一部の光路長を変化させるためビームスプリッタ5によって分割された一方の光路に移動可能に配置された光路長変更部材として用いられる。そして、三角プリズム9は、駆動部71(例えば、モータ)の駆動によってビームスプリッタ5に対して移動される。この場合、三角プリズム9の移動可能範囲は、干渉光による第1(第4)の干渉信号を得るために設定された第1の移動範囲M1(P1〜P2)と、干渉光による第2(第3)の干渉信号を得るために設定された第2の移動範囲M2(P2〜P3)と、に分割される(詳しくは、後述する)。なお、第1移動範囲M1と第2移動範囲M2はそれぞれ、比較的大きな眼軸長及び小さい眼軸長を持つ被検者でも測定範囲に含まれるように移動範囲が設定されている。なお、反転後のプリズム9の速度が測定に十分な一定速度に到達した状態で、干渉信号が検出されるように、プリズム9の助走距離が確保されるのが好ましい。光路長変更部材は、三角ミラー、コーナープリズム等であってもよい。また、プリズム9の駆動位置は、位置検出センサ72(例えば、ポテンショメータ、エンコーダ、等)によって検出される。
The
また、ビームスプリッタ5によって分割された他方の光路には、第1の光路長を持つ第1光路と、プリズム9が所定量移動されたときに生成される光路差をオフセット可能な第2の光路長を持つ第2光路と、が形成されている。図1の場合、ビームスプリッタ5によって分割された他方の光路には、この他方の光路をさらに第1光路と第2光路に分割するための第2光分割部材(ビームスプリッタ11)が配置されている。
The other optical path divided by the
第2三角プリズム13と第3三角プリズム15は、ビームスプリッタ11に対する距離が互いに異なるように配置されている。これにより、第2三角プリズム13を通過する第2測定光の光路と、第3三角プリズム15を通過する第2測定光の光路と、の間には所定の光路差が生じる。なお、この光路差は、第1移動範囲M1における始点位置P1から終点位置P2まで第1三角プリズム9が移動されることによって生じる光路長の変化量とほぼ等しくなるように設定できる。この場合、図1の構成に限らず、ビームスプリッタ11の反射方向の光路が短く、ビームスプリッタ11の透過方向の光路が長い構成であってもよい。
The 2nd
なお、以上の説明において、光路長変更部材は、光路分割部材(ビームスプリッタ5)によって分割される測定光路のいずれかに配置され、分割された測定光路間の光路差が調整されるように移動されればよい。具体的には、光路長変更部材及び光路分割部材は、図1のように照射光学系10の光路中に配置される他、受光光学系20の光路、又は照射光学系10と受光光学系20の共通光路に配置された構成であってもよい。
In the above description, the optical path length changing member is arranged in one of the measurement optical paths divided by the optical path dividing member (beam splitter 5), and moved so that the optical path difference between the divided measurement optical paths is adjusted. It only has to be done. Specifically, the optical path length changing member and the optical path dividing member are arranged in the optical path of the irradiation
ダイクロイックミラー21の反射方向には、被検眼の前眼部を撮像するために配置された前眼部撮像光学系30が設けられている。撮像光学系30は、光源1から出射された光を透過し前眼部照明光源40から出射された光を反射する特性を有するダイクロイックミラー21、対物レンズ31、全反射ミラー33、結像レンズ35、二次元撮像素子37、を有する。ここで、照明光源40によって赤外照明された前眼部像は、ダイクロイックミラー21、対物レンズ31、全反射ミラー33、結像レンズ35を介して、二次元撮像素子37に結像される。
In the reflection direction of the
次に、本実施形態に係る装置の制御系について説明する。制御部80は、表示モニタ81、光源1、受光素子27、駆動部71、位置検出センサ72、コントロール部84、メモリ85、等が接続される。制御部80は、受光素子27から出力される干渉信号を処理して被検眼の眼軸長を演算により求める。また、メモリ85には、求められた測定値などが記憶される。また、コントロール部84には、測定開始のトリガ信号を発する測定開始スイッチ84a、等の各種スイッチが設けられている。
Next, a control system of the apparatus according to the present embodiment will be described. The
以上のような構成を備える装置を用いて、被験者眼の眼軸長を測定する場合について説明する。検者は、モニタ81に表示される被験者眼のアライメント状態を見ながら、図示なきジョイスティック等の操作手段を用いて、装置を上下左右及び前後方向に移動させ、装置を被験者眼Eに対して所定の位置関係に置く。また、検者は、図示無き固視標を被験者眼に固視させる。
A case where the axial length of the subject's eye is measured using an apparatus having the above configuration will be described. While looking at the alignment state of the subject's eye displayed on the
ここで、測定開始のトリガ信号が発せられ、制御部80によって測定光源1が点灯されると、照射光学系10によって測定光が被検眼に照射されると共に、測定光による被検眼からの反射光が受光光学系20の受光素子27に入射される。
Here, when a trigger signal for starting measurement is generated and the measurement light source 1 is turned on by the
また、制御部80は、駆動部71の駆動を制御し、第1三角プリズム9を往復して移動させる。そして、制御部80は、受光素子27によって干渉光が検出されたタイミングを元に、眼軸長を算出する。
The
より具体的には、プリズム9は、初期位置(基準位置)P1を始点として移動され、第1移動範囲M1及び第2移動範囲M2をA方向に移動された後、終点位置P3にて移動方向が反転される。その後、プリズム9は、第2移動範囲M2及び第1移動範囲M1をB方向に移動され、初期位置P1に戻される。
More specifically, the
ここで、プリズム9が第1移動範囲M1上を移動された状態で、プリズム9を介して角膜に照射された第1測定光の光路長と,プリズム13を介して眼底に照射された第2測定光の光路長とが一致したとき、角膜反射光と眼底反射光による干渉光が受光素子27に受光される。このとき、干渉光による第1の干渉信号が受光素子27から制御部80に出力される。
Here, in a state where the
また、第1の干渉信号が受光素子27によって検出された後も、制御部80は、引き続き、プリズム9をA方向に移動させる。そして、プリズム9が第2移動範囲M2上を移動された状態で、プリズム9を介して角膜に照射された第1測定光の光路長と,プリズム15を介して眼底に照射された第2測定光の光路長と,が一致されたとき、角膜反射光と眼底反射光による干渉光が受光素子27に受光される。このとき、干渉光による第2の干渉信号が受光素子27から制御部80に出力される。
Further, even after the first interference signal is detected by the
第2の干渉信号の検出後、プリズム9が終点位置P3に到達されたら、制御部80は、プリズム9の移動方向を反転させ、終点位置P3からB方向にプリズム9を移動させる。そして、再びプリズム9が第2移動範囲M2上を移動された状態で、プリズム9を介して角膜に照射された第1測定光の光路長と,プリズム15を介して眼底に照射された第2測定光の光路長と,が一致したとき、干渉光が受光素子27に受光される。このとき、干渉光による第3の干渉信号が受光素子27から制御部80に出力される。
When the
また、第3の干渉信号が受光素子27によって検出された後も、制御部80は、引き続き、プリズム9をB方向に移動させる。そして、再びプリズム9が第1移動範囲M1上を移動された状態で、プリズム9を介して角膜に照射された第1測定光の光路長と,プリズム13を介して眼底に照射された第2測定光の光路長と,が一致したとき、干渉光が受光素子27に受光される。このとき、干渉光による第4の干渉信号が受光素子27から制御部80に出力される。
Further, even after the third interference signal is detected by the
第1〜第4の干渉信号が検出されたときのプリズム9の移動位置は、位置検出センサ72から出力される信号に基づいてそれぞれ検出可能である。したがって、眼軸長値を算出する場合、所定の演算式又はテーブル表等を用い、プリズム9の移動位置と眼軸長との関係を予め求めておけばよい。この場合、第1の移動範囲M1におけるプリズム9の移動位置と眼軸長との関係と、第2の移動範囲M2におけるプリズム9の移動位置と眼軸長との関係と、をそれぞれ求めておく。なお、上記手法に限るものではなく、プリズム9の移動中において干渉信号が検出された時間に基づいて眼軸長を測定するようにしてもよい。
The movement position of the
制御部80は、第1〜第4の干渉信号に基づいてそれぞれ被検眼の眼軸長値を算出し、第1〜第4の測定結果を得る。これにより、プリズム9が所定方向に1回移動(走査)される間に、被検者眼の眼軸長を2回測定できる。さらに、プリズム9が1回往復移動される間に、被検者眼の眼軸長が4回測定できる。
The
取得された被験者眼の眼軸長の情報は、メモリ85に記憶されるとともに、モニタ81に表示される。また、制御部80は、所定回数の測定が完了したら(又は被検者の眼軸長値が所定数得られたら)、プリズム9の往復移動を終了し、プリズム9の移動位置を初期位置に復帰させる。なお、上記のように眼軸長の測定値が複数取得された場合、各測定値をそれぞれ出力するようにしてもよいし、複数取得された測定値の平均値を出力するようにしてもよい。
The acquired information about the axial length of the subject's eye is stored in the
以上のような構成とすれば、少なくとも4回以上の連続測定がスムーズに行われる。また、測定が複数回行われることで、測定結果が安定し、良好な測定精度が得られる。なお、制御部80は、第4の干渉信号の検出後においても、同様に、プリズム9が往復移動させることによって、第5、第6、…の干渉信号を検出し、干渉信号が検出されたときのプリズム9の移動位置に基づいて眼軸長をそれぞれ測定し、さらなる連続測定を行うようにしてもよい。
With the above configuration, continuous measurement at least four times or more can be smoothly performed. In addition, since the measurement is performed a plurality of times, the measurement result is stabilized and good measurement accuracy is obtained. Note that the
なお、上記構成において、ビームスプリッタ11の例として、ハーフミラーを用いるものとしたが、偏光ビームスプリッタ11aを用いるようにしてもよい(図2参照)。なお、図1と同じ番号を付したものについては、特段の説明がない限り、図1と同じ機能・構成を有するものとする。ここで、光源1からビームスプリッタ5に向けて、紙面に対して垂直な偏光成分を持つ直線偏光の光が出射されるものとする。
In the above configuration, a half mirror is used as an example of the beam splitter 11, but a
図2(a)においては、偏光ビームスプリッタ11aは、回転駆動部75によって回転軸R1を中心に回転されるような構成となっている。ここで、偏光ビームスプリッタ11aの回転角度が90度毎に調整されることによって、光源1から出射された光がプリズム13に向けて透過される状態と、光源1から出射された光がプリズム15に向けて反射される状態と、に切換可能である。
In FIG. 2A, the
図2(b)においては、偏光ビームスプリッタ11aとビームスプリッタ5との間には、駆動部76の駆動によって1/2波長板14が挿脱可能な構成となっている。この場合、1/2波長板14の挿入によって光の偏光成分が90度変更される。これにより、1/2波長板14が挿脱されることで、光源1から出射された光がプリズム13に向けて透過される状態と、光源1から出射された光がプリズム15に向けて反射される状態と、に切換可能である。
In FIG. 2B, the half-wave plate 14 can be inserted and removed between the
図2(c)においては、照射光学系10の光路に、1/2波長板41と1/2波長板42とがそれぞれ挿脱可能に配置され、駆動部77及び駆動部78の駆動によって挿脱可能な構成となっている。この場合、1/2波長板41の挿入によって偏光ビームスプリッタ11aに入射される光の偏光成分が90度変更される。また、1/2波長板42の挿入によって光の偏光成分が90度毎に変更される。
In FIG. 2 (c), the half-
ここで、1/2波長板42が光路中に配置され、1/2波長板41が光路から外れている場合、光源1から出射された光は、偏光ビームスプリッタ11aを透過した後、プリズム13、偏光ビームスプリッタ11a及びビームスプリッタ5を介して、1/2波長板42によってS偏光に変換された後、偏光ビームスプリッタ17に向かう。
Here, when the half-
1/2波長板41が光路中に配置され、1/2波長板42が光路から外れている場合、光源1から出射された光は、偏光ビームスプリッタ11aによって反射された後、プリズム15、偏光ビームスプリッタ11a及びビームスプリッタ5を介して、偏光ビームスプリッタ17に向かう。
When the half-
図2(a)〜図2(c)において、連続測定を行う場合、制御部80は、駆動部71を制御して、前述のようにプリズム9を移動させる。このとき、制御部80は、第1移動範囲M1内をプリズム9が移動されるときには、光源1から出射された光がプリズム13によって反射される状態とし、第2移動範囲M2内をプリズム9が移動されるときには、光源1から出射された光がプリズム15によって反射される状態とする。すなわち、制御部80は、プリズム9が所定方向に移動された状態において、使用する光路を第1光路と第2光路との何れかから選択するために、駆動部を制御し、プリズム9の移動位置に応じて第1光路と第2光路との何れかから選択する。これにより、プリズム9の移動位置に応じて前述の第1測定光と干渉する第2測定光の光路が切り換えられる。
2A to 2C, when performing continuous measurement, the
なお、図2(a)において、制御部80は、プリズム9の移動位置に応じて偏光ビームスプリッタ11aの回転角度を90度毎に変化させればよい。図2(b)においては、制御部80は、プリズム9の移動位置に応じて1/2波長板14を挿脱配置すればよい。図3(c)においては、プリズム9の移動位置に応じて1/2波長板41と1/2波長板42とをそれぞれ挿脱配置すればよい。
In FIG. 2A, the
上記のような構成とすれば、ビームスプリッタ11によって第2測定光が分割される構成において、ハーフミラーに比べて、第2測定光の光量低下を回避できるため、受光素子27にて検出される干渉光のS/N比を向上させることができる。また、受光素子27に外乱光が入射されるのを回避できる。すなわち、プリズム9が第1移動範囲M1内を通過されるときに、プリズム15からの反射光が受光素子27に受光されるのを回避できる。プリズム9が第2移動範囲M1内を通過されるときに、プリズム13からの反射光が受光素子27に受光されるのを回避できる。
With the configuration as described above, in the configuration in which the second measurement light is divided by the beam splitter 11, it is possible to avoid a decrease in the amount of the second measurement light compared to the half mirror. The S / N ratio of the interference light can be improved. In addition, it is possible to prevent disturbance light from entering the
また、上記構成に限るものではなく、第1測定光と干渉する第2測定光の光路を選択的に切り換えるための光路切換部が配置されていればよい。この場合、第2測定光を分割するために配置された光路分割部材として、第2測定光の光路を反射方向に形成された反射光路(第1光路)と透過方向に形成された透過光路(第2光路)との間で選択的に切り換える光路切換部材を設けるようにしてもよい。より具体的には、図1の構成において、ビームスプリッタ11に代えて、駆動部(例えば、モータ)によって跳ね上げ可能な全反射ミラーを用いる。この場合、プリズム9が第1移動範囲M1内を移動されるとき、全反射ミラーが跳ね上げられ、第2測定光はプリズム13によって折り返される。また、プリズム9が第2移動範囲M2内を移動されるとき、第2測定光は全反射ミラーによって反射され、プリズム15によって折り返される。なお、上記のように光路切換を行う場合、光路切換に必要な時間を考慮して、第1移動範囲M1と第2移動範囲M2との間に、切換のための移動範囲を設けても良い。
Further, the configuration is not limited to the above configuration, and an optical path switching unit for selectively switching the optical path of the second measurement light that interferes with the first measurement light may be arranged. In this case, as the optical path dividing member arranged to divide the second measurement light, the optical path of the second measurement light is a reflected optical path (first optical path) formed in the reflection direction and a transmitted optical path formed in the transmission direction ( You may make it provide the optical path switching member which selectively switches between (2nd optical paths). More specifically, in the configuration of FIG. 1, instead of the beam splitter 11, a total reflection mirror that can be flipped up by a drive unit (for example, a motor) is used. In this case, when the
また、図1の構成において、ハーフミラー11とプリズム13との間の光路と、ハーフミラー11とプリズム15との間の光路と、にそれぞれ挿脱可能な遮光部材を設けるようにしてもよい。この場合、第1移動可能範囲M1にプリズム9が位置されているとき、ハーフミラー11とプリズム15との間の光路に遮光部材が挿入される。また、第2移動可能範囲M2にプリズム9が位置されているとき、ハーフミラー11とプリズム13との間の光路に遮光部材が挿入される。
In the configuration of FIG. 1, a light shielding member that can be inserted and removed may be provided in the optical path between the half mirror 11 and the
なお、以上の説明においては、第2測定光の光路を分割する構成としたが、これに限るものではなく、第2測定光の全光路長(光源1〜被検眼〜受光素子27)として所定の光路長を有する第1光路と、眼軸長の測定範囲以上第1光路より長い光路長を有する第2光路と、が形成される構成であればよい。この場合、調整される第1測定光の全光路長と,第1光路(又は第2光路)による第2測定光の全光路長と,の光路差が被検眼の眼軸長に対応されるとき、受光素子27によって干渉光が検出される。
In the above description, the optical path of the second measurement light is divided. However, the present invention is not limited to this, and the total optical path length of the second measurement light (light source 1 to eye to be examined to light receiving element 27) is predetermined. The first optical path having the optical path length and the second optical path having the optical path length longer than the first optical path over the measurement range of the axial length may be used. In this case, the optical path difference between the total optical path length of the first measurement light to be adjusted and the total optical path length of the second measurement light by the first optical path (or the second optical path) corresponds to the axial length of the eye to be examined. At this time, the interference light is detected by the
例えば、第1光路と第2光路を形成させる他の手法としては、図3に示すように、第1測定光と第2測定光が分割された後の第2測定光の光路において、第2測定光を折り返すために配置された反射部材の位置を第2測定光の進行方向に関して第1の位置と第2の位置とに選択的に切換配置するような構成が考えられる。図3においては、第2測定光を折り返すプリズム53a、53bがビームスプリッタ5の透過方向に配置され、駆動部79a、駆動部79bによってそれぞれ挿脱可能な構成となっている。この場合、プリズム9が第1移動範囲M1内を移動されるとき、プリズム53aが光路中に配置され、プリズム9が第2移動範囲内を移動されるとき、プリズム53bが光路中に配置される。
For example, as another method of forming the first optical path and the second optical path, as shown in FIG. 3, the second measurement light in the optical path of the second measurement light after the first measurement light and the second measurement light are divided is A configuration is conceivable in which the position of the reflecting member arranged for turning back the measurement light is selectively switched between the first position and the second position with respect to the traveling direction of the second measurement light. In FIG. 3,
なお、以上の説明においては、光路分割部材(例えば、ビームスプリッタ5)によって第1測定光が通過する第1測定光路と第2測定光路に分割し、分割された光路中に配置された光路長変更部材(プリズム9)によって第1測定光と第2測定光との光路差を生成するものとしたが、これに限るものではない。この場合、光源から出射された光を分割するビームスプリッタ(光分割部材)と、被検眼に測定光を照射するために配置されるサンプルアーム(照射光学系)と、参照光を生成するために配置されるレファレンスアーム(参照光光学系)と、干渉光を受光するための受光素子を有する受光光学系と、を有し、光路長変更部材の移動によって,サンプルアームを介して被検眼に照射された測定光とレファレンスアームからの参照光とによる干渉光が受光素子に受光されるような構成であってもよい。 In the above description, the optical path length is divided into the first measurement optical path and the second measurement optical path through which the first measurement light passes by the optical path dividing member (for example, the beam splitter 5), and is arranged in the divided optical path. Although the optical path difference between the first measurement light and the second measurement light is generated by the changing member (prism 9), the present invention is not limited to this. In this case, a beam splitter (light splitting member) that splits the light emitted from the light source, a sample arm (irradiation optical system) arranged to irradiate the measurement eye with the measurement light, and a reference light A reference arm (reference light optical system) arranged and a light receiving optical system having a light receiving element for receiving interference light, and irradiating the eye to be examined through the sample arm by moving the optical path length changing member The light receiving element may receive the interference light caused by the measured light and the reference light from the reference arm.
なお、以上の説明においては、眼軸長を測定するための構成について説明したが、これに限るものではなく、被検眼の軸方向において異なる位置に存在する2つの所定部位間の寸法を測定する構成であれば、これに限るものではない。例えば、被検者眼角膜と水晶体に測定光を照射し、その反射光を干渉光として受光して前房深度を測定する構成においても、適用可能である。 In the above description, the configuration for measuring the axial length has been described. However, the configuration is not limited to this, and the dimension between two predetermined parts existing at different positions in the axial direction of the eye to be examined is measured. The configuration is not limited to this. For example, the present invention can also be applied to a configuration in which measurement light is applied to the subject's cornea and the crystalline lens, and the reflected light is received as interference light to measure the anterior chamber depth.
1 測定光源
5 ビームスプリッタ
9 三角プリズム(光路長変更部材)
10 照射光学系
11 ビームスプリッタ
13 第2三角プリズム13
15 第3三角プリズム
20 受光光学系
27 受光素子
53a、53b プリズム
71 駆動部
80 制御部
1 Measurement
10 Irradiation optical system 11
15 third
Claims (4)
前記光路長変更部材を移動させる駆動部と、
該駆動部の駆動を制御すると共に、前記受光素子から出力される干渉信号に基づいて被検眼の所定部位の寸法を測定する演算制御手段と、を備える眼寸法測定装置において、
前記光分割部材によって分割された他方の光路として、第1の光路長を持つ第1光路と、前記光路長変更部材が所定量移動されたときに生成される光路差をオフセット可能な第2の光路長を持つ第2光路と、が形成されており、
前記演算制御手段は、前記光路長変更部材が所定方向に移動されたときに前記受光素子から出力される第1の干渉信号と第2の干渉信号とを取得し、前記第1の干渉信号と前記第2の干渉信号の各干渉信号に基づいて被検眼の所定部位の寸法を各々測定することを特徴とする眼寸法測定装置。 A measurement light source that emits low-coherent light, a light splitting member that splits the light emitted from the measurement light source, and a light splitting member that changes the optical path length of a part of the light emitted from the measurement light source. An optical path length changing member disposed so as to be movable in one of the divided optical paths, and a light receiving element. An interference optical system that receives light at
A drive unit for moving the optical path length changing member;
In an eye dimension measuring apparatus comprising: an operation control unit that controls driving of the driving unit and measures a dimension of a predetermined part of the eye to be examined based on an interference signal output from the light receiving element.
As the other optical path divided by the light splitting member, a first optical path having a first optical path length and a second optical path difference that can be offset when the optical path length changing member is moved by a predetermined amount are offset. A second optical path having an optical path length is formed,
The calculation control means acquires a first interference signal and a second interference signal output from the light receiving element when the optical path length changing member is moved in a predetermined direction, and the first interference signal An eye dimension measuring apparatus for measuring a size of a predetermined part of an eye to be examined based on each interference signal of the second interference signal.
前記演算制御手段は、該光路選択手段を制御し、前記光路長変更部材の移動位置に応じて前記第1光路と前記第2光路との何れかから選択することを特徴とする眼寸法測定装置。 2. The optical path selecting device according to claim 1, wherein the optical path length changing member is configured to select an optical path to be used from either the first optical path or the second optical path in a state where the optical path length changing member is moved in a predetermined direction. Have
The arithmetic control means controls the optical path selection means, and selects one of the first optical path and the second optical path according to the movement position of the optical path length changing member. .
前記演算制御手段は、前記光路長変更部材の所定方向への移動が完了した後に前記光路長変更部材が反対方向に移動させたときに前記受光素子から出力される第3の干渉信号と第4の干渉信号とを取得し、前記第3の干渉信号と前記第4の干渉信号の各干渉信号に基づいて被検眼の所定部位の寸法を各々測定することを特徴とする眼寸法測定装置。 In the eye dimension measuring device according to claim 3,
The arithmetic control means includes a third interference signal and a fourth interference signal output from the light receiving element when the optical path length changing member is moved in the opposite direction after the optical path length changing member is moved in the predetermined direction. And measuring the dimensions of a predetermined part of the eye to be inspected based on the interference signals of the third interference signal and the fourth interference signal.
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Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6806963B1 (en) * | 1999-11-24 | 2004-10-19 | Haag-Streit Ag | Method and device for measuring the optical properties of at least two regions located at a distance from one another in a transparent and/or diffuse object |
| WO2007065670A2 (en) * | 2005-12-06 | 2007-06-14 | Carl Zeiss Meditec Ag | Interferometric sample measurement |
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Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6806963B1 (en) * | 1999-11-24 | 2004-10-19 | Haag-Streit Ag | Method and device for measuring the optical properties of at least two regions located at a distance from one another in a transparent and/or diffuse object |
| WO2007065670A2 (en) * | 2005-12-06 | 2007-06-14 | Carl Zeiss Meditec Ag | Interferometric sample measurement |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2013002332A1 (en) | 2011-06-29 | 2013-01-03 | 株式会社ニデック | Eye axis length measurement device |
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