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JP2010166110A - 電圧検出回路 - Google Patents

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正一 杉浦
Atsushi Igarashi
敦史 五十嵐
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Abstract

【課題】小さい回路規模の電圧検出回路を提供する。
【解決手段】最低動作電源電圧と等しい閾値電圧の絶対値Vtpを有するPMOS11は、ゲートを接地端子に接続され、ソースを電源端子に接続され、ドレインをPMOS12のソースに接続される。PMOS12は、ゲートを基準電圧入力端子に接続され、ドレインを電圧検出回路の出力端子に接続される。容量15は、電圧検出回路の出力端子と接地端子との間に設けられる。インバータ41は、入力端子を電圧検出回路の出力端子に接続される。
【選択図】図1

Description

本発明は、対象となる対象回路が動作できる最低の電源電圧を検出する電圧検出回路に関する。
従来の電圧検出回路について説明する。図11は、従来の電圧検出回路を例示する図である。
ここで、信号10によってPMOSトランジスタ(PMOS)93がオンしていて、容量95はPMOS93によって充電されている。
電源電圧VDDは、分圧回路91によって分圧されて分圧電圧Vfbになる。コンパレータ92は分圧電圧Vfbと基準電圧Vrefとを比較していて、分圧電圧Vfbが基準電圧Vrefよりも低いと、つまり、電源電圧VDDが所定電圧よりも低いと、出力信号RSTがハイになり、電圧検出回路は対象となる対象回路(図示せず)をリセットする。
また、上記のように出力信号RSTがハイになると、NMOSトランジスタ(NMOS)94がオンし、容量95は放電し、出力信号RSTXはローになり、電圧検出回路は対象となる対象回路をリセットする(例えば、特許文献1参照)。
特開2007−318770号公報(図14)
しかし、従来の技術では、分圧回路91及びコンパレータ92が電源電圧VDDを監視するので、その分、電圧検出回路の回路規模が大きい。
本発明は、上記課題に鑑みてなされ、小さい回路規模の電圧検出回路を提供する。
本発明は、上記課題を解決するため、対象となる対象回路が動作できる最低の電源電圧を検出する電圧検出回路において、前記最低の電源電圧に基づいた閾値電圧の絶対値を有し、電源電圧が前記最低の電源電圧よりも高くなるとオンして電流を流すトランジスタと、前記電流に基づき、出力電圧を発生する容量と、を備えることを特徴とする電圧検出回路を提供する。
本発明では、電源電圧の監視に分圧回路及びコンパレータ等の回路が使用されず、トランジスタが電源電圧を監視するので、電圧検出回路の回路規模が小さくなる。
電圧検出回路を例示する図である。 出力電圧を例示するタイムチャートである。 出力電圧を例示するタイムチャートである。 電圧検出回路を例示する図である。 電圧検出回路を例示する図である。 電圧検出回路を例示する図である。 出力電圧を例示するタイムチャートである。 出力電圧を例示するタイムチャートである。 電圧検出回路を例示する図である。 電圧検出回路を例示する図である。 従来の電圧検出回路を例示する図である。
以下、本発明の実施形態を、図面を参照して説明する。
まず、対象となる対象回路が動作できる最低の電源電圧(最低動作電源電圧)を検出する電圧検出回路の構成について説明する。図1は、電圧検出回路を例示する図である。
[要素]電圧検出回路は、PMOSトランジスタ(PMOS)11、電流源21及び容量15を備える。電流源21は、PMOS12を有する。また、電圧検出回路の出力端子に入力端子を接続される対象回路40は、例えば、インバータ41を有する。
[要素の接続関係]PMOS11は、ゲートを接地端子に接続され、ソースを電源端子に接続され、ドレインをPMOS12のソースに接続される。PMOS12は、ゲートを基準電圧入力端子に接続され、ドレインを電圧検出回路の出力端子に接続される。容量15は、電圧検出回路の出力端子と接地端子との間に設けられる。インバータ41は、入力端子を電圧検出回路の出力端子に接続され、出力端子を図示しない回路に接続される。
[要素の機能]電圧検出回路は電源電圧VDD及び接地電圧VSSに基づいて動作する。出力電圧Voutは容量15に発生する。インバータ41は出力電圧Voutに基づいて電圧Vcを出力する。
PMOS12は、基準電圧Vrefをゲートに印加され、電流源として機能する。また、PMOS12は、PMOS11の電流をPMOS12の駆動電流に制限する。PMOS11は最低動作電源電圧と等しい閾値電圧の絶対値Vtpを有する。電源電圧VDDが最低動作電源電圧よりも高くなると、PMOS11はオンして電流を流し、PMOS12(電流源21)は容量15の充電を行う。すると、電流に基づき、容量15は出力電圧Voutを発生する。
次に、電源電圧VDDが急峻に立ち上がる時の電圧検出回路の動作について説明する。図2は、出力電圧を例示するタイムチャートである。
[t0≦t<t1の時の動作]電源電圧VDDが全く立ち上がっていないので、出力電圧Vout及び電圧Vcは接地電圧VSSになっている。
[t=t1の時(検出時)の動作]ここで、電源電圧VDDが急峻に立ち上がる。すると、PMOS11のゲート・ソース間電圧がPMOS11の閾値電圧の絶対値Vtpよりも高くなるので、PMOS11がオンし、電源電圧VDDが最低動作電源電圧よりも高くなったことが検出される。また、この時、基準電圧Vrefは安定しているので、PMOS12もオンし、PMOS12は電流源として機能する。よって、PMOS12が容量15の充電を開始する。しかし、この時、出力電圧Voutはまだ接地電圧VSSであるので、電圧Vcはハイになる。
[t1<t<t2の時(検出期間)の動作]PMOS12が容量15の充電を行っているので、出力電圧Voutは緩やかに高くなる。この時の出力電圧Voutは、インバータ41にとってローであり、電圧検出回路は、このロー信号を使用し、電源電圧VDDが最低動作電源電圧よりも高いことを検出して対象回路40に伝えている。つまり、電圧検出回路は、対象回路40をリセットする。また、出力電圧Voutはインバータ41にとってローであるので、電圧Vcはハイであって電源電圧VDDになる。
ここでの検出期間は、PMOS12の駆動能力と容量15の容量値及びリーク電流とインバータ41の反転閾値電圧V2とに基づき、決まる。
[t=t2の時の動作]出力電圧Voutがインバータ41の反転閾値電圧V2よりも高くなると、電圧Vcはローになる。この時の出力電圧Voutは、インバータ41にとってハイであり、電圧検出回路は、電源電圧VDDが最低動作電源電圧よりも高いことを対象回路40に伝えなくなっている。
その後、電源電圧VDDが立ち下がると、図示しないが、容量15のリーク電流により、出力電圧Voutはディスチャージされて接地電圧VSSになる。ここで、電源電圧VDDが立ち上がってから立ち下がり、容量15のリーク電流によるディスチャージに必要なディスチャージ時間が経過し、その後、電源電圧VDDが再度立ち上がる場合、電圧検出回路は最低動作電源電圧よりも電源電圧VDDが高いことを対象回路40に再度伝えることができる。つまり、ディスチャージ時間により、電源再投入の可能時期が決まる。
次に、電源電圧VDDが緩やかに立ち上がる時の電圧検出回路の動作について説明する。図3は、出力電圧を例示するタイムチャートである。
[t0≦t≦t1の時の動作]電源電圧VDDが全く立ち上がっていないので、出力電圧Vout及び電圧Vcは接地電圧VSSになっている。
[t1<t<t2の時の動作]ここで、電源電圧VDDが緩やかに立ち上がる。この時、出力電圧Voutがローであり、電圧Vcはハイであるので、電圧Vcも緩やかに高くなる。
[t=t2の時(検出時)の動作]電源電圧VDDが高くなり、PMOS11のゲート・ソース間電圧がPMSO11の閾値電圧の絶対値Vtpよりも高くなると、PMOS11がオンし、電源電圧VDDが最低動作電源電圧よりも高くなったことが検出される。また、この時、基準電圧Vrefは安定しているので、PMOS12もオンし、PMOS12は電流源として機能する。よって、PMOS12が容量15の充電を開始する。しかし、この時、出力電圧Voutはまだ接地電圧VSSであるので、電圧Vcはまだハイである。
[t2<t<t3の時(検出期間)の動作]PMOS12が容量15の充電を行っているので、出力電圧Voutは緩やかに高くなる。この時の出力電圧Voutは、インバータ41にとってローであり、電圧検出回路は、このロー信号を使用し、電源電圧VDDが最低動作電源電圧よりも高いことを検出して対象回路40に伝えている。つまり、電圧検出回路は、対象回路40をリセットする。また、出力電圧Voutはインバータ41にとってローであるので、電圧Vcはハイであって電源電圧VDDに追従する。
[t=t3の時の動作]出力電圧Voutがインバータ41の反転閾値電圧V2よりも高くなると、電圧Vcはローになる。この時の出力電圧Voutは、インバータ41にとってハイであり、電圧検出回路は、電源電圧VDDが最低動作電源電圧よりも高いことを対象回路40に伝えなくなっている。
[効果]このようにすると、電源電圧VDDの監視に分圧回路及びコンパレータ等の回路が使用されず、PMOS11が対象となる対象回路40が動作できる最低の電源電圧(最低動作電源電圧)よりも電源電圧VDDが高くなることを監視するので、電圧検出回路の回路規模が小さくなる。
また、電源電圧VDDが急峻に立ち上がっても緩やかに立ち上がっても、PMOS12の駆動能力と容量15の容量値及びリーク電流とインバータ41の反転閾値電圧V2とに基づいた検出期間が存在するので、電圧検出回路は最低動作電源電圧よりも電源電圧VDDが高くなることを監視できる。
[補足]なお、図示しないが、電源端子とPMOS11のソースとの間にダイオードまたはダイオード接続するMOSトランジスタが設けられても良い。この時、PMOS11とダイオードまたはMOSトランジスタとの閾値電圧の絶対値の合計電圧が、最低動作電源電圧になる。
また、図示しないが、PMOS11のゲートと接地端子との間にダイオードまたはダイオード接続するMOSトランジスタが設けられても良い。この時、PMOS11とダイオードまたはMOSトランジスタとの閾値電圧の絶対値の合計電圧が、最低動作電源電圧になる。
また、図4に示すように、電圧検出回路の出力端子と接地端子との間に低インピーダンス素子22が設けられても良い。低インピーダンス素子22は、電流源や抵抗などである。すると、容量15のリーク電流だけでなくて容量15のリーク電流及び低インピーダンス素子22の駆動電流により、ディスチャージ時間が決まる。よって、低インピーダンス素子22の駆動電流の分、ディスチャージ時間が短くなる。ここで、例えば、想定される瞬間的な停電が起こる場合、電圧検出回路はその瞬間的な停電時間よりもディスチャージ時間を短くできる。すると、その瞬間的な停電が起こっても、瞬間的な停電中にディスチャージが完了しているので、電圧検出回路は最低動作電源電圧よりも電源電圧VDDが高いことを対象回路40に再度伝えることができる。また、電源電圧VDDが立ち上がってから立ち下がる場合、低インピーダンス素子22により、出力電圧Voutはより確実にディスチャージされてより確実に接地電圧VSSになる。
また、図5に示すように、PMOS12と出力端子との間に抵抗14が設けられても良い。すると、抵抗14により、検出時における電源端子とPMOS11とPMOS12と抵抗14と容量15と接地端子との電流経路に流れる電流が制限されるので、この電流経路に過電流が流れにくくなる。また、抵抗14が存在しないと、寄生容量(図示せず)が電源電圧VDDの影響を受けるPMOS12のバックゲートと出力電圧Voutを出力するPMOS12のドレインとの間に存在してしまうので、電源電圧VDDがノイズ等によって急峻に変動すると寄生容量のカップリングによって出力電圧Voutも急峻に変動してしまうことがあるが、抵抗14が存在し、抵抗14及び容量15がローパスフィルタとして機能するので、この寄生容量を経由して電源電圧VDDの急峻な変動が出力電圧Voutに対して影響しにくくなる。
また、図6に示すように、電圧検出回路の出力端子にインバータ16が設けられても良い。このインバータ16は、電流源23及びNMOSトランジスタ(NMOS)17を有する。この電流源23は、基準電圧Vrefをゲートに印加されて電流源として機能するPMOS13を有する。この時、図2の電圧Vcは図7の出力電圧Vout2と等しくなり、図7の電圧Vcはt=t2の時にハイになる。また、図3の電圧Vcは図8の出力電圧Vout2と等しくなり、図8の電圧Vcはt=t3の時にハイになる。すると、図7〜8の出力電圧Vout2に示すように、ワンショットパルスが電圧検出回路内部で生成されるので、電圧検出回路の後段の対象回路40に対する利便性が高くなる。ここで、インバータ16の反転閾値電圧V1はNMOS17の閾値電圧Vtnになるので、電源電圧VDDが変動しても、インバータ16の反転閾値電圧V1は変動しない。よって、電源電圧VDDが変動しても、電圧検出回路の検出期間は変動しなくなる。なお、図9に示すように、電圧検出回路の出力端子にインバータ16が設けられても良い。このインバータ16は、抵抗28及びNMOS17を有する。
また、電源端子と接地端子との間に、図1では、PMOS11と電流源21と容量15とが順番に設けられているが、図10に示すように、容量65と電流源71とNMOS61とが順番に設けられても良い。この時、NMOS61は最低動作電源電圧と等しい閾値電圧の絶対値Vtnを有する。電源電圧VDDが最低動作電源電圧よりも高くなると、NMOS61はオンして電流を流す。すると、電流に基づき、容量65は出力電圧Voutを発生する。
また、図1では、電流源21が存在するが、図示しないが、電流源21は存在しなくても良い。この時、PMOS11の電流が容量15を直接充電するので、その電流及び容量15のリーク電流に基づき、容量15の容量値が回路設計され、所望の検出期間が実現される。
11〜12 PMOSトランジスタ
21 電流源
15 容量
40 対象回路
41 インバータ

Claims (13)

  1. 対象となる対象回路が動作できる最低の電源電圧を検出する電圧検出回路において、
    前記最低の電源電圧に基づいた閾値電圧の絶対値を有し、電源電圧が前記最低の電源電圧よりも高くなるとオンして電流を流すトランジスタと、
    前記電流に基づき、出力電圧を発生する容量と、
    を備えることを特徴とする電圧検出回路。
  2. 前記トランジスタがオンすると前記容量の充電または放電を行う第一電流源、
    をさらに備えることを特徴とする請求項1記載の電圧検出回路。
  3. 出力端子の放電または充電を行う低インピーダンス素子、
    をさらに備えることを特徴とする請求項1〜2記載の電圧検出回路。
  4. 出力端子に設けられるインバータ、
    をさらに備えることを特徴とする請求項1〜3記載の電圧検出回路。
  5. 前記インバータは第三電流源及びNMOSトランジスタを有することを特徴とする請求項4記載の電圧検出回路。
  6. 前記インバータは第二抵抗及びNMOSトランジスタを有することを特徴とする請求項4記載の電圧検出回路。
  7. 前記トランジスタは、ゲートを接地端子に接続され、ソースを電源端子に接続され、ドレインを出力端子に設けられるPMOSトランジスタであることを特徴とする請求項1記載の電圧検出回路。
  8. 前記トランジスタは、ゲートを接地端子に接続され、ソースを電源端子にダイオードまたはダイオード接続するMOSトランジスタを介して接続され、ドレインを出力端子に設けられるPMOSトランジスタであることを特徴とする請求項1記載の電圧検出回路。
  9. 前記トランジスタは、ゲートを接地端子にダイオードまたはダイオード接続するMOSトランジスタを介して接続され、ソースを電源端子に接続され、ドレインを出力端子に設けられるPMOSトランジスタであることを特徴とする請求項1記載の電圧検出回路。
  10. 前記トランジスタは、ゲートを電源端子に接続され、ソースを接地端子に接続され、ドレインを出力端子に設けられるNMOSトランジスタであることを特徴とする請求項1記載の電圧検出回路。
  11. 前記トランジスタは、ゲートを電源端子に接続され、ソースを接地端子にダイオードまたはダイオード接続するMOSトランジスタを介して接続され、ドレインを出力端子に設けられるNMOSトランジスタであることを特徴とする請求項1記載の電圧検出回路。
  12. 前記トランジスタは、ゲートを電源端子にダイオードまたはダイオード接続するMOSトランジスタを介して接続され、ソースを接地端子に接続され、ドレインを出力端子に設けられるNMOSトランジスタであることを特徴とする請求項1記載の電圧検出回路。
  13. 前記トランジスタと出力端子との間に設けられる第一抵抗、
    をさらに備えることを特徴とする請求項1記載の電圧検出回路。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102707124A (zh) * 2012-06-26 2012-10-03 苏州兆芯半导体科技有限公司 电压检测电路
JP2013179561A (ja) * 2012-01-30 2013-09-09 Seiko Instruments Inc パワーオンリセット回路
KR20160140435A (ko) * 2015-05-29 2016-12-07 알프스 덴키 가부시키가이샤 스위치 감시 회로

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5723628B2 (ja) * 2011-02-18 2015-05-27 ルネサスエレクトロニクス株式会社 電圧検出回路
JP5754343B2 (ja) * 2011-10-25 2015-07-29 ミツミ電機株式会社 低電圧検出回路
CN102998513B (zh) * 2012-11-01 2014-07-02 长沙景嘉微电子股份有限公司 一种mos管阈值电压测试电路
TWI577996B (zh) * 2012-12-07 2017-04-11 樺漢科技股份有限公司 識別電路
US9024678B2 (en) * 2013-05-22 2015-05-05 Infineon Technologies Ag Current sensing circuit arrangement for output voltage regulation
CN103472280A (zh) * 2013-09-12 2013-12-25 昆山新金福精密电子有限公司 一种电压检测电路
CN104090152B (zh) * 2014-06-16 2017-05-17 福建睿能科技股份有限公司 横机的掉电检测电路及其掉电检测方法
CN113030712B (zh) * 2019-12-25 2024-06-25 瑞昱半导体股份有限公司 电路检查方法及电子设备
TWI706616B (zh) * 2020-02-12 2020-10-01 新唐科技股份有限公司 電源突波偵測電路
JP2021136559A (ja) * 2020-02-26 2021-09-13 キオクシア株式会社 電圧検出回路及びパワーオンリセット回路
CN114924606A (zh) * 2022-06-02 2022-08-19 泉芯电子技术(深圳)有限公司 低功耗高电源抑制比的ldo电路

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2772522B2 (ja) * 1987-11-06 1998-07-02 日本電気アイシーマイコンシステム 株式会社 パワーオン信号発生回路
US4983857A (en) * 1989-07-31 1991-01-08 Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. Power-up reset circuit
JP4439974B2 (ja) * 2004-03-31 2010-03-24 Necエレクトロニクス株式会社 電源電圧監視回路

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013179561A (ja) * 2012-01-30 2013-09-09 Seiko Instruments Inc パワーオンリセット回路
CN102707124A (zh) * 2012-06-26 2012-10-03 苏州兆芯半导体科技有限公司 电压检测电路
KR20160140435A (ko) * 2015-05-29 2016-12-07 알프스 덴키 가부시키가이샤 스위치 감시 회로
KR101714320B1 (ko) * 2015-05-29 2017-03-08 알프스 덴키 가부시키가이샤 스위치 감시 회로

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