JP2010164528A - 光導波路の検査方法、及び、光コネクタ - Google Patents

Abstract

【課題】光コネクタに設けられた光導波路の温度変化を検出可能な、光導波路の検査方法及び、光コネクタを提供する。
【解決手段】光コネクタ１に設けられた光導波路５の温度を検査する方法であって、光導波路５に測定光を入射する工程と、光導波路５に測定光を入射した後、光導波路５の光出力側の端部７に設けられた導波路型回折格子９からの反射光を受光する工程と、反射光を受光した後、該反射光の波長を測定する工程と、波長を測定した後、該波長の測定値に基づいて、光導波路５の光出力側の端部７の温度変化を検出する工程と、を含む。
【選択図】図１

Description

本発明は、光導波路の検査方法と光コネクタとに関する。

従来、光導波路の検査方法に関する分野においては、特許文献１に記載の技術が知られている。特許文献１に記載の光コネクタの温度検出装置においては、光導波路としての光ファイバを含む光コネクタは、レセプタクルに連結されており、レセプタクルの外壁面に温度検出手段が設けられている。そして、レセプタクルの外壁面に設けられた温度検出手段によってレセプタクルの温度を検出し、この検出されたレセプタクルの温度を光コネクタの温度としている。

特開２００３−１０７２８２

特許文献１に記載の光コネクタの温度検出装置においては、光コネクタを全周にわたって覆うレセプタクルの外壁面の温度をもって光コネクタの温度としている。このため、光コネクタに含まれる光ファイバの温度変化を検出することが困難である。そこで、本発明は、光コネクタに設けられた光導波路の温度変化を検出可能な、光導波路の検査方法と光コネクタとを提供することを目的とする。

本発明の光導波路の検査方法は、光コネクタに設けられた光導波路の温度を検査する方法であって、光導波路に測定光を入射する工程と、光導波路に測定光を入射した後、光導波路の光出力側の端部に設けられた回折格子からの反射光を受光する工程と、反射光を受光した後、該反射光の波長を測定する工程と、波長を測定した後、該波長の測定値に基づいて、光導波路の光出力側の端部の温度変化を検出する工程と、を含む、ことを特徴とする。本発明の光導波路の検査方法においては、光導波路の光出力側の端部に設けられた回折格子からの反射光を受光して波長を測定する。この反射光の波長の測定値は、光導波路の光出力側の端部の温度変化に伴って変化する。このため、反射光の波長を測定することによって、光導波路の光出力側の端部の温度変化を検出することができる。

また、本発明の光導波路の検査方法は、光コネクタに設けられた光導波路の温度を検査する方法であって、光導波路に測定光を入射する工程と、光導波路に測定光を入射した後、光導波路の光入力側の端部に設けられた第１の回折格子からの第１の反射光と、光コネクタの光出力側の端部に設けられ、第１の回折格子とは異なる格子間隔の第２の回折格子からの第２の反射光とを受光する工程と、第１の反射光と第２の反射光とを受光した後、第１の反射光の波長及び第２の反射光の波長をそれぞれ測定する工程と、第１の反射光の波長及び第２の反射光の波長を測定した後、第１の反射光の波長の測定値と第２の反射光の波長の測定値とに基づいて、光導波路の温度変化を検出する工程と、を含む、ことを特徴とする。本発明の光導波路の検査方法においては、第１の反射光と第２の反射光とを受光して波長を測定する。第１の反射光の波長の測定値は、光導波路の光入力側の端部の温度変化に伴って変化する。また、第２の反射光の波長の測定値は、光導波路の光出力側の端部の温度変化に伴って変化する。このため、第１の反射光の波長と第２の反射光の波長とを測定することにより、光導波路の光出力側の端部の温度変化と、光入力側の端部の温度変化と、を検出することができる。

また、本発明の光導波路の検査方法は、光コネクタに設けられた光導波路の温度を検査する方法であって、光導波路に測定光を入射する工程と、光導波路に測定光を入射した後、光導波路の光出力側の端部に設けられた回折格子からの反射光を受光する工程と、反射光を受光した後、該反射光の強度を測定する工程と、強度を測定した後、該強度の測定値に基づいて、光導波路の光出力側の端部の温度変化を検出する工程と、を含む、ことを特徴とする。本発明の光導波路の検査方法においては、回折格子からの反射光の強度を測定する。この反射光の強度の測定値は、光導波路の光出力側の端部の温度変化に伴って変化する。したがって、反射光の強度を測定することによって、光導波路の光出力側の端部の温度変化を検出することができる。

また、本発明の光導波路の検査方法においては、測定光を入射する工程は、所定の波長の光を透過する光フィルタを介して光導波路に測定光を入射し、反射光を受光する工程は、光導波路に測定光を入射した後、光導波路の光出力側の端部に設けられた回折格子からの反射光を光フィルタを介して受光し、反射光の強度を測定する工程は、反射光を光フィルタを介して受光した後、該反射光の強度を測定する、ことが好ましい。この場合、回折格子からの反射光を、光フィルタを介して受光し、強度を測定する。この反射光の強度の測定値は、光導波路の光出力側の端部の温度変化に伴って変化する。したがって、反射光の強度を測定することによって、光導波路の光出力側の端部の温度変化を検出することができる。

また、本発明の光導波路の検査方法は、光コネクタに設けられた光導波路の温度を検査する方法であって、光導波路に測定光を入射する工程と、光導波路に測定光を入射した後、光導波路の少なくとも光出力側の端部に設けられたチャープト回折格子からの反射光を受光する工程と、反射光を受光した後、該反射光のスペクトルを測定する工程と、スペクトルを測定した後、該スペクトルの形状に基づいて、光導波路の温度変化を検出する工程と、を含む、ことを特徴とする。本発明の光コネクタの温度管理方法においては、チャープト回折格子からの反射光を受光して、反射光のスペクトルを測定する。このスペクトルの形状は、光導波路内部の温度変化に伴って変化する。このため、反射光のスペクトルを測定することによって、光導波路内部の温度変化を検出することができる。

また、本発明の光コネクタは、複数の光導波路を備えた光コネクタであって、複数の光導波路は、光出力側の端部に第１の回折格子を有する光導波路を含む、ことを特徴とする。本発明の光コネクタにおいて、複数の光導波路は、光出力側の端部に設けられ所定の波長の光を反射する第１の回折格子を有する光導波路を含む。このため、測定光を第１の回折格子の設けられた光導波路に入射すると、一部が第１の回折格子によって反射される。この反射された反射光の波長の値は、光導波路の光出力側の端部の温度変化に伴って変化する。このため、反射光を受光して波長を測定することによって、光導波路の光出力側の端部の温度変化を検出することができる。

また、本発明の光コネクタにおいては、第１の回折格子を有する光導波路は、光入力側の端部に設けられた第２の回折格子をさらに有し、第２の回折格子の格子間隔は、第１の回折格子の格子間隔と異なる、ことが好ましい。この場合、第１の回折格子が設けられている光導波路は、光入力側の端部に設けられた第２の回折格子をさらに備える。このため、測定光を入射すると、一部が第１の回折格子によって反射され、一部が第２の回折格子によって反射される。第１の回折格子からの反射光の波長は、光導波路の光出力側の端部の温度変化に伴って変化する。また、第２の回折格子からの反射光の波長は、光導波路の光入力側の端部の温度変化に伴って変化する。よって、第１の回折格子及び第２の回折格子からの反射光を受光して波長を測定することにより、光導波路の光出力側の端部の温度変化と、光導波路の光入力側の温度変化と、を検出することができる。

また、本発明の光コネクタにおいては、第１の回折格子を有する光導波路は、光入力側の端部に設けられた所定の波長の光を透過する光フィルタをさらに有する、ことが好ましい。この場合、第１の回折格子が設けられている光導波路は、光導波路の光入力側の端部に、所定の波長の光を透過する光フィルタを備える。測定光をこの光導波路に入射すると、一部が光フィルタを透過して、第１の回折格子によって反射される。そして、この反射光は、光フィルタを透過して受光される。この受光される反射光の強度は、光導波路の光出力側の端部の温度変化に伴って変化する。このため、この反射光の強度を測定することによって、光導波路の光出力側の端部の温度変化を検出することができる。

また、本発明の光コネクタは、複数の光導波路を備えた光コネクタであって、複数の光導波路は、少なくとも光出力側の端部に設けられたチャープト回折格子を有する光導波路を含む、ことを特徴とする。本発明の光コネクタにおいて、複数の光導波路は、チャープト回折格子の設けられた光導波路を含む。このため、この光導波路に測定光を入射すると、一部がチャープト回折格子によって反射される。チャープト回折格子によって反射される反射光のスペクトルの形状は、光導波路内部の温度変化に伴って変化する。このため、反射光のスペクトルを測定することにより、光導波路内部の温度変化を検出することができる。

本発明によれば、光コネクタに設けられた光導波路の温度変化を検出可能な、光導波路の検査方法と光コネクタとを提供することができる。

実施形態に係る装置構成を模式的に表した図である。 実施形態に係る装置構成を模式的に表した図である。 第１実施形態及び第２実施形態に係る光導波路の検査方法を説明するための図である。 第３実施形態及び第４実施形態に係る光導波路の検査方法を説明するための図である。 実施形態に係る装置構成を模式的に表した図である。

以下、図面を参照して、本発明に係る好適な実施形態について詳細に説明する。なお、図面の説明において、可能な場合には、同一要素には同一符号を付し、重複する説明を省略する。

（第１実施形態）図１（ａ）は、第１実施形態に係る装置構成を模式的に表した図である。図１（ａ）に示されるように、光コネクタ１及び光コネクタ２は、レーザ光を伝送するための光ファイバ３を他の光ファイバ４に接続するためのコネクタである。光コネクタ１は光導波路５を有する。光導波路５は、導波路型回折格子９を含む。導波路型回折格子９は、光導波路５の光出力側の端部７に設けられている。光コネクタ２は、光導波路８を有する。光導波路５の光入力側の端部６は光ファイバ３に光学的に接続され、光導波路５の光出力側の端部７は、光導波路８の光入力側の端部に接続されている。光導波路８の光出力側の端部は光ファイバ４に光学的に接続されている。光ファイバ３の一端は、光導波路５の光入力側の端部６に光学的に接続され、他端は光学系１６を介してレーザ光源１０と温度変化検出部１１とに光学的に接続されている。

図２は、レーザ光源１０、温度変化検出部１１及び光学系１６の具体的な構成例を示す図である。レーザ光源１０は、例えばレーザダイオード（不図示）及びレーザダイオードの駆動回路（不図示）等を有する。レーザ光源１０は、光学系１６を介して、光ファイバ３にレーザ光を入射する。温度変化検出部１１は、測定用光源１４と受光部１５とを有する。測定用光源１４は、例えば、白色光源である。測定用光源１４は、光学系１６を介して、光ファイバに測定光を入射する。受光部１５は、レーザ光源１０に接続されており、例えば、図示しないフォトダイオード等の受光素子、Ａ／Ｄコンバータ、ＣＰＵ、ＲＯＭ及びＲＡＭ等を有する。受光部１５は、光ファイバ３を介して伝送される反射光を、光学系１６を介して受光して電気信号に変換し、受光した光の波長や強度等を測定して解析する。さらに、受光部１５は、この反射光の波長や強度等の解析結果に基づいて、レーザ光源１０から射出されるレーザ光の強度を制御するための信号を、レーザ光源１０の駆動回路に送信する。

光学系１６は、レンズ１２，１３，１７，１９及びハーフミラー１８，２０を有する。レーザ光源１０から射出されたレーザ光は、レンズ１２、ハーフミラー１８及びレンズ１３を介して光ファイバ３に入射される。測定用光源１４から射出された測定光はレンズ１７及びハーフミラー２０を介してハーフミラー１８に至り、ハーフミラー１８により反射された後、レンズ１３を介して光ファイバ３に入射される。また、光ファイバ３を介して伝送された反射光は、レンズ１３を介してハーフミラー１８に至り、ハーフミラー１８により反射されてハーフミラー２０に至る。さらにハーフミラー２０により反射された後、レンズ１９を介して受光部１５に入射する。

続いて、図１（ａ）、図２及び図３（ａ）を用いて、第１実施形態に係る光コネクタの検査方法について説明する。図３（ａ）は、反射光の波長と光強度との関係を例示しおり、横軸は波長を表し、縦軸は反射光強度を表している。先ず、温度変化検出部１１の測定用光源１４が、光導波路５に測定光を入射する。続いて、光導波路５の光出力側の端部７に設けられた導波路型回折格子９からの反射光を、温度変化検出部１１の受光部１５が受光する。続いて、受光部１５は、この反射光の波長を測定し、この測定値に基づいて、光導波路５の光出力側の端部７の温度変化を検出する。具体的には、図３（ａ）に示されるように、波長の測定値λ_１が、光導波路５の光出力側の端部７の温度変化に伴って変化するので、受光部１５は、この波長の測定値λ_１の変化を検出することにより、光導波路５の光出力側の端部７の温度変化を検出する。続いて、受光部１５は、検出した温度変化が所定以上である場合（受光した反射光の波長が所定以上変化した場合）、この温度変化がレーザ光の照射に起因するものとして、レーザ光源１０から射出されるレーザ光の強度を制御するための信号をレーザ光源１０の駆動回路に送信する。

以上説明したように、第１実施形態においては、受光部１５が、光導波路５の光出力側の端部７に設けられた導波路型回折格子９からの反射光を受光して波長を測定する。この反射光の波長は、光導波路５の光出力側の端部７の温度変化に伴って変化する。このため、受光部１５は、反射光の波長を測定することによって、光導波路５の光出力側の端部７の温度変化を検出することができる。さらに、受光部１５は、検出した温度変化に応じて、レーザ光源１０から射出されるレーザ光の強度を制御することができるので、レーザ光に起因する光導波路５の光出力側の端部７の温度変化を抑制することができる。

（第２実施形態）図１（ｂ）は、第２実施形態に係る装置構成を模式的に表した図である。図１（ｂ）に示されるように、光コネクタ１ａは、第１実施形態の光コネクタ１の光導波路５に替えて、光導波路５ａを有する。光導波路５ａは、導波路型回折格子９及び導波路型回折格子２１を含む。導波路型回折格子９は、光導波路５ａの光出力側の端部７に設けられており、導波路型回折格子２１は、光導波路５ａの光入力側の端部６に設けられている。また、導波路型回折格子２１の格子間隔は、導波路型回折格子９の格子間隔とは異なる。光導波路５ａの他の構成は、第１実施形態の光導波路５と同様である。

続いて、図１（ｂ）、図２及び図３（ｂ）を用いて、第２実施形態に係る光コネクタの検査方法について説明する。図３（ｂ）は、反射光の波長と光強度との関係を例示しており、横軸は波長を表し、縦軸は反射光強度を表している。先ず、温度変化検出部１１の測定用光源１４が、光導波路５ａに測定光を入射する。続いて、光導波路５ａの光出力側の端部７に設けられた導波路型回折格子９からの反射光と、光導波路５ａの光入力側の端部６に設けられた導波路型回折格子２１からの反射光と、を温度変化検出部１１の受光部１５が受光する。続いて、受光部１５は、これらの反射光の波長を測定し、これらの測定値に基づいて、光導波路５ａの温度変化を検出する。この温度変化の検出について具体的に説明する。図３（ｂ）に示されるように、導波路型回折格子９からの反射光の波長の測定値λ_２は、光導波路５ａの光出力側の端部７の温度変化に伴って変化する。また、導波路型回折格子２１からの反射光の波長の測定値λ_３は、光導波路５ａの光入力側の端部６の温度変化に伴って変化する。受光部１５は、波長の測定値λ_２の変化を検出することにより、光導波路５の光出力側の端部７の温度変化を検出し、波長の測定値λ_３の変化を検出することにより、光導波路５ａの光入力側の端部６の温度変化を検出する。続いて、光入力側の端部６において温度変化が検出されず、光出力側の端部７において所定以上の温度変化が検出された場合（導波路型回折格子２１からの反射光の波長が変化せず、導波路型回折格子９からの反射光の波長が所定以上変化した場合）に限り、受光部１５は、この温度変化がレーザ光源１０から射出されるレーザ光の照射に起因するものとして、レーザ光源１０から射出されるレーザ光の強度を制御するための信号を、レーザ光源１０の駆動回路に送信する。

以上説明したように、第２実施形態において、受光部１５は、光導波路５ａの光出力側の端部７に設けられた導波路型回折格子９からの反射光と、光導波路５ａの光入力側の端部６に設けられた導波路型回折格子２１からの反射光と、を受光して波長を測定する。導波路型回折格子９からの反射光の波長は、光導波路５ａの光出力側の端部７の温度変化に伴って変化する。また、導波路型回折格子２１からの反射光の波長は、光導波路５ａの光入力側の端部６の温度変化に伴って変化する。このため、導波路型回折格子９からの反射光の波長と導波路型回折格子２１からの反射光の波長とを測定することにより、光導波路５ａの光入力側の端部６の温度変化と、光出力側の端部７の温度変化と、を検出することができる。さらに、受光部１５は、光導波路５ａの光出力側の端部７にのみ温度変化を検出した場合に限り、検出した温度変化に応じて、レーザ光源１０から射出されるレーザ光の強度を制御することができるので、レーザ光に起因する光導波路５ａの光出力側の端部７の温度変化を効率良く抑制することができる。

（第３実施形態）図１（ｃ）は、第３実施形態に係る装置構成を模式的に表した図である。図１（ｃ）に示されるように、光コネクタ１ｂは、第１実施形態の光コネクタ１の光導波路５に替えて、光導波路５ｂを備えている。光導波路５ｂは、導波路型回折格子９と、光フィルタとして帯域透過フィルタ２２と、を含む。導波路型回折格子９は、光導波路５ｂの光出力側の端部７に設けられており、帯域透過フィルタ２２は、光導波路５ｂの光入力側の端部６に設けられている。帯域透過フィルタ２２は、所定の波長帯域の光を透過する。光導波路５ｃの他の構成は、第１実施形態の光導波路５と同様である。

続いて、図１（ｃ）、図２及び図４（ａ）を用いて、第３実施形態に係る光コネクタの検査方法について説明する。図４（ａ）は、反射光の強度と光出力側の端部の温度との関係を例示しており、横軸は温度を表し、縦軸は反射光強度を表している。先ず、温度変化検出部１１の測定用光源１４が、光導波路５ｂに測定光を入射する。この測定光は、光導波路５ｂの光入力側の端部６に設けられた帯域透過フィルタ２２を透過し、光導波路５ｂの光出力側の端部７に設けられた導波路型回折格子９によって反射される。温度変化検出部１１の受光部１５は、この導波路型回折格子９からの反射光を受光する。続いて、受光部１５は、この受光した反射光の強度を測定し、この測定値に基づいて、光導波路５ｂの光出力側の端部７の温度変化を検出する。この温度変化の検出について具体的に説明する。導波路型回折格子９の設けられた光出力側の端部７に温度変化が生じると、導波路型回折格子９からの反射光の波長が変化する。導波路型回折格子９からの反射光の波長が変化して、帯域透過フィルタ２２の透過波長領域からのズレが生じると、帯域透過フィルタ２２を透過する反射光の強度が変化する。このように、光出力側の端部７に温度変化が生じると、帯域透過フィルタ２２を透過して受光部１５により受光される導波路型回折格子９からの反射光の強度が変化する。よって、受光部１５は、この反射光の強度の変化に基づいて、光出力側の端部７の温度変化を検出することができる。続いて、受光部１５は、検出した温度変化が所定以上である場合（受光した反射光の強度が、所定以上変化した場合）、この温度変化がレーザ光の照射に起因するものとして、レーザ光源１０から射出されるレーザ光の強度を制御するための信号を、レーザ光源１０の駆動回路に送信する。

以上説明したように、第３実施形態において、受光部１５は、光導波路５ｂの光出力側の端部７に設けられた導波路型回折格子９によって反射され、帯域透過フィルタ２２を透過した光（反射光）を受光して強度を測定する。この反射光の強度は、光導波路５ｂの光出力側の端部７の温度変化に伴って変化する。このため、受光部１５は、この反射光の強度を測定することによって、光導波路５ｂの光出力側の端部７の温度変化を検出することができる。さらに、受光部１５は、検出した温度変化に応じて、レーザ光源１０から射出されるレーザ光の強度を制御することができるので、レーザ光に起因する光導波路５ｂの光出力側の端部７の温度変化を抑制することができる。なお、第３実施形態においては、帯域透過フィルタ２２を、光導波路５ｂの光入力側の端部６に設ける構成としたが、これに限らない。例えば、図２に示されるように、帯域透過フィルタ２３を、測定用光源１４と光導波路５との間に設けることもできる。この構成によれば、測定光は、帯域透過フィルタ２３を介して光導波路５ｂに入射される。さらに、帯域透過フィルタ２２，２３に替えて、短波長側の光或いは長波長側の光を透過させるようなエッジフィルタを用いることもできる。また、帯域透過フィルタ２２，２３を用いる替わりに、出射波長が固定されたレーザ光源を測定用光源１４として用いてもよい。この場合、温度変化検出部１１の測定用光源１４が、光導波路５に出射波長が固定された測定光を入射する。続いて、光導波路５の光出力側の端部７に設けられた導波路型回折格子９からの反射光を、温度変化検出部１１の受光部１５が受光する。続いて、受光部１５は、この反射光の強度を測定し、この測定値に基づいて、光導波路５の光出力側の端部７の温度変化を検出する。具体的には、図４（ａ）に示されるように、強度の測定値が、光導波路５の光出力側の端部７の温度変化に伴って変化するので、受光部１５は、この強度の測定値の変化を検出することにより、光導波路５の光出力側の端部７の温度変化を検出する。続いて、受光部１５は、検出した温度変化が所定以上である場合（受光した反射光の強度が所定以上変化した場合）、この温度変化がレーザ光の照射に起因するものとして、レーザ光源１０から射出されるレーザ光の強度を制御するための信号をレーザ光源１０の駆動回路に送信する。

（第４実施形態）図１（ｄ）は、第４実施形態に係る装置構成を模式的に表した図である。図１（ｄ）に示されるように、光コネクタ１ｃは、第１実施形態の光コネクタ１の光導波路５に替えて光導波路５ｃを備えている。光導波路５ｃは、チャープト回折格子２４を含む。チャープト回折格子２４は、光導波路５ｃの光入力側の端部６から光出力側の端部７に向かって格子間隔が変化する。このため、チャープト回折格子２４は、光導波路５ｃ内の位置に応じて異なる波長の光を反射する。チャープト回折格子２４は、少なくとも光導波路５ｃの光出力側の端部７に設けられている領域を有する。なお、チャープト回折格子２４は、５ｃの光入力側の端部６に設けられている領域を有してもよい。光導波路５ｃの他の構成は、第１実施形態の光導波路５と同様である。

続いて、図１（ｄ）、図２及び図４（ｂ）を用いて、第４実施形態に係る光コネクタの検査方法について説明する。図４（ｂ）は、反射光の波長と光強度の関係（スペクトル）と例示しており、横軸は波長を表し、縦軸は反射光強度を表している。図４（ｂ）に示すスペクトルの長波長側の端部Ｄ１は、光導波路５ｃの光出力側の端部７からの反射光の強度を表し、短波長側の端部Ｄ２は、光導波路５ｃの光入力側の端部６からの反射光の強度を表している。先ず、温度変化検出部１１の測定用光源１４が、光導波路５ｃに測定光を入射する。続いて、光導波路５ｃに設けられたチャープト回折格子２４からの反射光を、温度変化検出部１１の受光部１５が受光する。続いて、受光部１５は、受光した反射光のスペクトルを測定し、測定したスペクトルの形状に基づいて、光導波路５ｃの温度変化を検出する。図４（ｂ）に示されるスペクトルの形状は、光導波路５ｃ内部の温度変化に伴って変化する。受光部１５は、スペクトルの形状の変化を検出することにより、光導波路５ｃ内部の温度変化を検出する。続いて、受光部１５は、スペクトルの、端部Ｄ１における形状のみが所定以上変化した場合、即ち、光導波路５ｃの光出力側の端部７においてのみ所定以上の温度変化が検出された場合に限り、この温度変化がレーザ光源１０から射出されるレーザ光の照射に起因するものとして、レーザ光源１０から射出されるレーザ光の強度を制御するための信号を、レーザ光源１０の駆動回路に送信する。

以上説明したように、第４実施形態において、受光部１５は、光導波路５ｃに設けられたチャープト回折格子２４からの反射光を受光してスペクトルを測定する。このスペクトルの形状は、光導波路５ｃ内部の温度変化に伴って変化する。このため、反射光のスペクトルを測定することによって、光導波路５ｃ内部の温度変化を検出することができる。さらに、受光部１５は、光導波路５ｃの光出力側の端部７にのみ温度変化が検出された場合に限り、この温度変化に応じて、レーザ光源１０から射出されるレーザ光の強度を制御することができるので、レーザ光に起因する光導波路５ａの光出力側の端部７の温度変化を効率良く抑制することができる。

（第５実施形態）図５（ａ）は、第５実施形態に係る光コネクタ２５の構成を模式的に表した図である。図５（ａ）に示されるように、光コネクタ２５及び光コネクタ３３は、複数の光ファイバ２８を他の複数の光ファイバ３４に光学的に接続するためのコネクタである。光コネクタ２５は、複数の光導波路２６を備える。複数の光導波路２６は、第１実施形態と同様の光導波路５を少なくとも一つ含む。光コネクタ３３は、複数の光導波路３２を備える。複数の光ファイバ２８の数、複数の光導波路２６の数、複数の光導波路３２の数及び複数の光ファイバ３４の数は同一である。複数の光導波路２６の光入力側の端部は、複数の光ファイバ２８に光学的に接続され、複数の光導波路２６の光出力側の端部は、複数の光導波路３２の光入力側の端部に光学的に接続されている。複数の光導波路３２の光出力側の端部は、複数の光ファイバ３４に光学的に接続されている。複数の光ファイバ２８のそれぞれは、一端において、複数の光導波路２６の光入力側のそれぞれの端部に光学的に接続されており、他端において、光学系１６を介してレーザ光源１０と温度変化検出部１１とに光学的に接続されている。

このように、第５実施形態に係る光コネクタ２５は、第１実施形態と同様の光導波路５を備える。したがって、光導波路５の導波路型回折格子９からの反射光を受光して波長を測定することによって、光導波路５の光出力側の端部７の温度変化（更には、複数の光導波路２６の光出力側の端部の温度変化）を検出することができる。なお、複数の光導波路２６は、二以上の光導波路５を含んでいてもよい。

（第６実施形態）図５（ｂ）は第６実施形態に係る装置構成を模式的に表した図である。図５（ｂ）に示されるように、光コネクタ２５ａは、第５実施形態の光コネクタ２５の複数の光導波路２６に替えて、複数の光導波路２６ａを備える。複数の光導波路２６ａは、第２実施形態と同様の光導波路５ａを少なくとも一つ含む。光コネクタ２５ａの他の構成は第５実施形態の光コネクタ２５と同様である。このように、第６実施形態に係る光コネクタ２５ａは、第２実施形態と同様の光導波路５ａを備える。したがって、導波路型回折格子９及び導波路型回折格子２１からの反射光を受光して波長を測定することにより、光導波路５ａの光出力側の端部７の温度変化（更には、複数の光導波路２６ａの光出力側の端部の温度変化）と、光導波路５ａの光入力側の端部６の温度変化（更には、複数の光導波路２６ａの光入力側の端部の温度変化）と、を検出することができる。なお、複数の光導波路２６ａは、二以上の光導波路５ａを含んでいてもよい。

（第７実施形態）図５（ｃ）は、第７実施形態に係る装置構成を模式的に表した図である。図５（ｃ）に示されるように、光コネクタ２５ｂは、第５実施形態の光コネクタ２５の複数の光導波路２６に替えて、複数の光導波路２６ｂを備える。複数の光導波路２６ｂは、第３実施形態と同様の光導波路５ｂを少なくとも一つ含む。光コネクタ２５ｂの他の構成は、第５実施形態の光コネクタ２５と同様である。このように、第７実施形態に係る光コネクタ２５ｂは、第３実施形態と同様の光導波路５ｂを備える。したがって、導波路型回折格子９によって反射され、帯域透過フィルタ２２を透過した光（反射光）を受光して、強度を測定することによって、光導波路５ｂの光出力側の端部７の温度変化（更には、複数の導波路２６ｂの光出力側の端部の温度変化）を検出することができる。なお、複数の導波路２６ｂは、二以上の光導波路５ｂを含んでいてもよい。また、帯域透過フィルタ２２，２３に替えて、短波長側の光或いは長波長側の光を透過させるようなエッジフィルタを用いることもできる。

（第８実施形態）図５（ｄ）は、第８実施形態に係る装置構成を模式的に表した図である。光コネクタ２５ｃは、第５実施形態の光コネクタ２５の複数の光導波路２６に替えて、複数の光導波路２６ｃを備える。複数の光導波路２６ｃは、第４実施形態と同様の光導波路５ｃを少なくとも一つ含む。光コネクタ２５ｃの他の構成は、第５実施形態の光コネクタ２５と同様である。このように、第８実施形態に係る光コネクタ２５ｃは、第４実施形態と同様の光導波路５ｃを備える。したがって、チャープト格子２４からの反射光のスペクトルを測定することにより、光導波路５ｃ内部の温度変化を検出することができる。なお、複数の光導波路２６ｃは、二以上の光導波路５ｃを含んでいてもよい。

１，１ａ，１ｂ，１ｃ，２，２５，２５ａ，２５ｂ，２５ｃ，３３…光コネクタ、３，４…光ファイバ、５，５ａ，５ｂ，５ｃ，８…光導波路、６…光入力側の端部、７…光出力側の端部、９，２１…導波路型回折格子、１０…レーザ光源、１１…温度変化検出部、１２，１３，１７，１９…レンズ、１４…測定用光源、１５…受光部、１６…光学系、１８，２０…ハーフミラー、２２，２３…帯域透過フィルタ、２４…チャープト回折格子、２６，２６ａ，２６ｂ，２６ｃ，３２…複数の光導波路、２８，３４…複数の光ファイバ。

Claims (9)

1. 光コネクタに設けられた光導波路の温度を検査する方法であって、
   前記光導波路に測定光を入射する工程と、
   前記光導波路に前記測定光を入射した後、前記光導波路の光出力側の端部に設けられた回折格子からの反射光を受光する工程と、
   前記反射光を受光した後、該反射光の波長を測定する工程と、
   前記波長を測定した後、該波長の測定値に基づいて、前記光導波路の前記光出力側の端部の温度変化を検出する工程と、を含む、
   ことを特徴とする光導波路の検査方法。
2. 光コネクタに設けられた光導波路の温度を検査する方法であって、
   前記光導波路に測定光を入射する工程と、
   前記光導波路に前記測定光を入射した後、前記光導波路の光入力側の端部に設けられた第１の回折格子からの第１の反射光と、前記光コネクタの光出力側の端部に設けられ、前記第１の回折格子とは異なる格子間隔の第２の回折格子からの第２の反射光とを受光する工程と、
   前記第１の反射光と前記第２の反射光とを受光した後、前記第１の反射光の波長及び前記第２の反射光の波長をそれぞれ測定する工程と、
   前記第１の反射光の波長及び前記第２の反射光の波長を測定した後、前記第１の反射光の波長の測定値と前記第２の反射光の波長の測定値とに基づいて、前記光導波路の温度変化を検出する工程と、を含む、
   ことを特徴とする光導波路の検査方法。
3. 光コネクタに設けられた光導波路の温度を検査する方法であって、
   前記光導波路に測定光を入射する工程と、
   前記光導波路に前記測定光を入射した後、前記光導波路の光出力側の端部に設けられた回折格子からの反射光を受光する工程と、
   前記反射光を受光した後、該反射光の強度を測定する工程と、
   前記強度を測定した後、該強度の測定値に基づいて、前記光導波路の前記光出力側の端部の温度変化を検出する工程と、を含む、
   ことを特徴とする光導波路の検査方法。
4. 前記測定光を入射する工程は、所定の波長の光を透過する光フィルタを介して前記光導波路に前記測定光を入射し、
   前記反射光を受光する工程は、前記光導波路に前記測定光を入射した後、前記光導波路の前記光出力側の端部に設けられた前記回折格子からの前記反射光を前記光フィルタを介して受光し、
   前記反射光の強度を測定する工程は、前記反射光を前記光フィルタを介して受光した後、該反射光の強度を測定する、
   ことを特徴とする請求項３に記載の光導波路の検査方法。
5. 光コネクタに設けられた光導波路の温度を検査する方法であって、
   前記光導波路に測定光を入射する工程と、
   前記光導波路に前記測定光を入射した後、前記光導波路の少なくとも光出力側の端部に設けられたチャープト回折格子からの反射光を受光する工程と、
   前記反射光を受光した後、該反射光のスペクトルを測定する工程と、
   前記スペクトルを測定した後、該スペクトルの形状に基づいて、前記光導波路の温度変化を検出する工程と、を含む、
   ことを特徴とする光導波路の検査方法。
6. 複数の光導波路を備えた光コネクタであって、
   前記複数の光導波路は、光出力側の端部に第１の回折格子を有する光導波路を含む、
   ことを特徴とする光コネクタ。
7. 前記第１の回折格子を有する光導波路は、光入力側の端部に設けられた第２の回折格子をさらに有し、
   前記第２の回折格子の格子間隔は、前記第１の回折格子の格子間隔と異なる、
   ことを特徴とする請求項６に記載の光コネクタ。
8. 前記第１の回折格子を有する光導波路は、光入力側の端部に設けられた所定の波長の光を透過する光フィルタをさらに有する、
   ことを特徴とする請求項６に記載の光コネクタ。
9. 複数の光導波路を備えた光コネクタであって、
   前記複数の光導波路は、少なくとも光出力側の端部に設けられたチャープト回折格子を有する光導波路を含む、
   ことを特徴とする光コネクタ。
   
   
   
   

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