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JP2010149375A - Method for manufacturing nozzle substrate, and method for manufacturing liquid droplet delivering head - Google Patents

Method for manufacturing nozzle substrate, and method for manufacturing liquid droplet delivering head Download PDF

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JP2010149375A
JP2010149375A JP2008329372A JP2008329372A JP2010149375A JP 2010149375 A JP2010149375 A JP 2010149375A JP 2008329372 A JP2008329372 A JP 2008329372A JP 2008329372 A JP2008329372 A JP 2008329372A JP 2010149375 A JP2010149375 A JP 2010149375A
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JP
Japan
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substrate
nozzle
silicon substrate
manufacturing
recess
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP2008329372A
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Japanese (ja)
Inventor
賢太郎 ▲高▼▲柳▼
Kentaro Takayanagi
Kazufumi Otani
和史 大谷
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Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Publication date
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Abstract

【課題】製造工程時に生じる糊残りを防止することが可能なノズル基板の製造方法及び液滴吐出ヘッドの製造方法を提供する。
【解決手段】ノズル基板1となるシリコン基板100に支持基板110を貼り付ける前に、シリコン基板100の表面に形成したインク保護膜103に凹凸形状を形成しておく。そして、凹凸形状が形成されたインク保護膜103上に支持基板110を貼り付ける。
【選択図】図5
A method of manufacturing a nozzle substrate and a method of manufacturing a droplet discharge head capable of preventing adhesive residue generated during the manufacturing process are provided.
An uneven shape is formed on an ink protective film 103 formed on the surface of a silicon substrate 100 before a support substrate 110 is attached to a silicon substrate 100 to be a nozzle substrate 1. Then, the support substrate 110 is affixed on the ink protective film 103 on which the uneven shape is formed.
[Selection] Figure 5

Description

本発明は、液滴を吐出するためのノズル孔を有するノズル基板の製造方法及び液滴吐出ヘッドの製造方法に関する。   The present invention relates to a method for manufacturing a nozzle substrate having nozzle holes for discharging droplets and a method for manufacturing a droplet discharge head.

液滴を吐出するための液滴吐出ヘッドとして、例えばインクジェット記録装置に搭載されるインクジェットヘッドが知られている。インクジェットヘッドは、一般に、インク滴を吐出するための複数のノズル孔が形成されたノズル基板と、このノズル基板に接合されノズル基板との間で上記ノズル孔に連通する圧力室、リザーバー等のインク流路が形成されたキャビティ基板とを備え、駆動部により圧力室に圧力を加えることによりインク滴を選択されたノズル孔より吐出するように構成されている。駆動手段としては、静電気力を利用する方式や、圧電素子による圧電方式、発熱素子を利用するバブルジェット(登録商標)方式等がある。   As a droplet discharge head for discharging droplets, for example, an inkjet head mounted on an inkjet recording apparatus is known. Ink-jet heads generally include a nozzle substrate in which a plurality of nozzle holes for discharging ink droplets are formed, and ink such as a pressure chamber and a reservoir that are joined to the nozzle substrate and communicate with the nozzle holes. And a cavity substrate on which a flow path is formed, and an ink droplet is ejected from a selected nozzle hole by applying pressure to the pressure chamber by a driving unit. As the driving means, there are a method using an electrostatic force, a piezoelectric method using a piezoelectric element, a bubble jet (registered trademark) method using a heating element, and the like.

近年、インクジェットヘッドに対して、印字、画質等の高品位化の要求が一段と強まり、そのため高密度化並びに吐出性能の向上が強く要求されている。このような背景から、インクジェットヘッドのノズル部に関して、従来より様々な工夫、提案がなされている。   In recent years, there has been an increasing demand for high quality printing, image quality, and the like for inkjet heads, and thus there is a strong demand for higher density and improved ejection performance. Against this background, various devices and proposals have been made for the nozzle portion of an inkjet head.

インクジェットヘッドにおいて、インク吐出特性を改善するためには、ノズル孔部での流路抵抗を調整し、ノズル長さが最適な長さになるように基板の厚みを調整することが望ましい。そこで、ノズル基板を製造する方法として、従来より予めシリコン基板にノズル孔となる凹部を形成し、その凹部形成面側に支持基板を貼り合わせ、シリコン基板の凹部形成面と反対面側から所望の厚さになるまで研削を行い、薄板化と同時にノズル孔を貫通させる方法があった(例えば、特許文献1参照)。   In an ink jet head, in order to improve ink ejection characteristics, it is desirable to adjust the flow path resistance at the nozzle hole and adjust the thickness of the substrate so that the nozzle length becomes the optimum length. Therefore, as a method of manufacturing a nozzle substrate, a recess that becomes a nozzle hole is previously formed in a silicon substrate in advance, and a support substrate is bonded to the recess forming surface side, and a desired surface is formed from the side opposite to the recess forming surface of the silicon substrate. There has been a method in which grinding is performed until the thickness is reached, and the nozzle holes are penetrated simultaneously with thinning (see, for example, Patent Document 1).

特開2007−168344号公報(第6頁〜第8頁、図4〜図8)JP 2007-168344 A (pages 6 to 8, FIGS. 4 to 8)

上記特許文献1の方法では、シリコン基板から支持基板を剥離する際、シリコン基板表面に糊残りが生じてしまうという問題があった。支持基板が貼り合わされる凹部形成面は、インクジェットヘッドのキャビティ基板と接合される接合面に相当することから、接合面に糊残りが生じると、キャビティ基板との接合時に接合不良を招く恐れがあった。また、ノズル孔のインク導入口(インク吐出口と反対側)の縁部分に糊残りが生じやすく、この部分に糊残りが生じると、吐出特性に影響し、所望の吐出特性が得られなくなるという問題があった。   The method of Patent Document 1 has a problem that adhesive residue is generated on the surface of the silicon substrate when the support substrate is peeled from the silicon substrate. Since the concave surface where the support substrate is bonded corresponds to the bonding surface bonded to the cavity substrate of the inkjet head, if adhesive residue is left on the bonding surface, bonding failure may occur when bonding to the cavity substrate. It was. In addition, adhesive residue tends to occur at the edge portion of the ink inlet of the nozzle hole (opposite to the ink discharge port). If adhesive residue occurs at this portion, the discharge characteristics are affected, and desired discharge characteristics cannot be obtained. There was a problem.

本発明は、このような点に鑑みなされたもので、製造工程時に生じる糊残りを防止することが可能なノズル基板の製造方法及び液滴吐出ヘッドの製造方法を得ることを目的とする。   SUMMARY An advantage of some aspects of the invention is that it provides a method for manufacturing a nozzle substrate and a method for manufacturing a droplet discharge head that can prevent adhesive residue generated during the manufacturing process.

本発明に係るノズル基板の製造方法は、シリコン基板にドライエッチングを施してノズル孔となる凹部を形成する工程と、シリコン基板の凹部の内壁及び凹部の形成面に液滴保護膜を形成する工程と、形成面上の液滴保護膜の表面に凹凸形状を形成する工程と、凹凸形状が形成された液滴保護膜の表面に第1の支持基板を貼り合わせる工程と、第1の支持基板を貼り合わせた面の反対側の面からシリコン基板を所望の厚さに薄板化して凹部の先端を開口し、ノズル孔を形成する工程と、シリコン基板の薄板化された加工面に液滴保護膜を形成し、その表面に撥液膜を形成する工程と、シリコン基板において撥液膜が形成された面に第2の支持基板を貼り合わせ、第1の支持基板をシリコン基板から剥離する工程と、第2の支持基板をシリコン基板から剥離する工程とを備えたものである。
これにより、シリコン基板から第1の支持基板の剥離を容易とし、糊残りを防止することが可能となる。
The method for manufacturing a nozzle substrate according to the present invention includes a step of dry etching a silicon substrate to form a recess that becomes a nozzle hole, and a step of forming a droplet protective film on the inner wall of the recess and the formation surface of the recess in the silicon substrate. A step of forming a concavo-convex shape on the surface of the droplet protective film on the forming surface, a step of attaching a first support substrate to the surface of the droplet protective film on which the concavo-convex shape is formed, and a first support substrate The process of thinning the silicon substrate to the desired thickness from the surface opposite to the surface on which the wafer is bonded and opening the tip of the recess to form nozzle holes, and droplet protection on the thinned surface of the silicon substrate Forming a film and forming a liquid repellent film on the surface; and bonding a second support substrate to the surface of the silicon substrate on which the liquid repellent film is formed and peeling the first support substrate from the silicon substrate And the second support substrate is silicon It is obtained by a step of peeling from the plate.
As a result, the first support substrate can be easily peeled off from the silicon substrate, and adhesive residue can be prevented.

また、本発明に係るノズル基板の製造方法は、凹凸形状をドライエッチング加工により形成するものである。
これにより、凹凸形状の設計自由度が高く、また、凹部の深さ制御を容易に行うことができる。従って、液滴保護膜に所望の凹凸形状を容易に形成することが可能である。
Moreover, the manufacturing method of the nozzle substrate which concerns on this invention forms an uneven | corrugated shape by dry etching process.
Thereby, the degree of freedom in design of the concavo-convex shape is high, and the depth of the concave portion can be easily controlled. Therefore, it is possible to easily form a desired uneven shape on the droplet protective film.

また、本発明に係るノズル基板の製造方法は、第2の支持基板をシリコン基板から剥離する工程の後に、シリコン基板を洗浄する工程を有するものである。
液滴保護膜に凹凸形状が形成されているため、洗浄工程において凹凸形状の表面と糊残渣との間に洗浄液が入り込み、高い洗浄効果を得ることができる。よって、ノズル孔の液滴導入口のノズル縁部分に仮に糊残渣が生じていても、効果的に除去することができる。
Moreover, the manufacturing method of the nozzle substrate according to the present invention includes a step of cleaning the silicon substrate after the step of peeling the second support substrate from the silicon substrate.
Since the concavo-convex shape is formed in the droplet protective film, the cleaning liquid enters between the surface of the concavo-convex shape and the glue residue in the cleaning process, and a high cleaning effect can be obtained. Therefore, even if a paste residue is generated at the nozzle edge portion of the droplet inlet of the nozzle hole, it can be effectively removed.

また、本発明に係るノズル基板の製造方法は、第1の支持基板を、接着面に紫外線または熱を与えることによって接着力が低下する自己剥離層を有する両面接着シートを介してシリコン基板に貼り合わせるものである。
このような両面接着シートを用いて、シリコン基板に第1の支持基板を貼り合わせることができる。
In the method for manufacturing a nozzle substrate according to the present invention, the first support substrate is attached to a silicon substrate via a double-sided adhesive sheet having a self-peeling layer whose adhesive strength is reduced by applying ultraviolet light or heat to the adhesive surface. It is to match.
Using such a double-sided adhesive sheet, the first support substrate can be bonded to the silicon substrate.

また、本発明に係るノズル基板の製造方法は、ノズル孔となる凹部を形成する工程では、液滴の導入口から吐出口に向けて断面積が段階的又は連続的に減少する凹部を形成するものである。
これにより、液滴の吐出方向をノズル孔の中心軸方向に揃えることができ、安定した吐出特性を有するノズル基板を製造することができる。
Further, in the method of manufacturing the nozzle substrate according to the present invention, in the step of forming the recess serving as the nozzle hole, the recess whose cross-sectional area decreases stepwise or continuously from the liquid inlet to the discharge port is formed. Is.
Thereby, the discharge direction of droplets can be aligned with the direction of the central axis of the nozzle hole, and a nozzle substrate having stable discharge characteristics can be manufactured.

また、本発明に係る液滴吐出ヘッドの製造方法は、液滴を吐出するための複数のノズル孔と、各ノズル孔に連通して設けられて圧力を加えるための圧力室と、圧力室に液滴を供給する液滴供給路と、液滴を吐出するための吐出圧力を圧力室に発生させる圧力発生手段とを有する液滴吐出ヘッドの製造方法であって、複数のノズル孔を有するノズル基板を、上記のノズル基板の製造方法により製造するものである。
液滴吐出ヘッドの製造工程においてノズル基板となるシリコン基板を加工する際に、加工途中でシリコン基板に貼り合わせた支持基板を、上述したように容易に剥離することができ、また、剥離時の糊残りが防止できるため、ノズル基板の歩留まりを向上させ、生産性を飛躍的に向上させることができる。
The method for manufacturing a droplet discharge head according to the present invention includes a plurality of nozzle holes for discharging droplets, a pressure chamber provided in communication with each nozzle hole for applying pressure, and a pressure chamber. A method for manufacturing a droplet discharge head having a droplet supply path for supplying droplets and a pressure generating means for generating a discharge pressure in the pressure chamber for discharging the droplets, the nozzle having a plurality of nozzle holes The substrate is manufactured by the nozzle substrate manufacturing method described above.
When processing a silicon substrate to be a nozzle substrate in the manufacturing process of the droplet discharge head, the support substrate bonded to the silicon substrate during the processing can be easily peeled off as described above. Since the adhesive residue can be prevented, the yield of the nozzle substrate can be improved and the productivity can be dramatically improved.

図1は、本発明の一実施の形態の液滴吐出ヘッドの製造方法によって製造された液滴吐出ヘッドの分解斜視図である。図2は、図1の液滴吐出ヘッドの長手方向断面図である。ここでは、液滴吐出ヘッドの一例として、静電駆動方式のインクジェットヘッドについて図1及び図2を参照して説明する。なお、構成部材を図示し、見やすくするため、図1を含め、以下の図面では各構成部材の大きさの関係が実際のものと異なる場合がある。   FIG. 1 is an exploded perspective view of a droplet discharge head manufactured by a method for manufacturing a droplet discharge head according to an embodiment of the present invention. 2 is a longitudinal sectional view of the droplet discharge head of FIG. Here, an electrostatic drive type inkjet head will be described with reference to FIGS. 1 and 2 as an example of a droplet discharge head. In addition, in order to illustrate the constituent members and make it easy to see, the relationship between the sizes of the constituent members in the following drawings including FIG. 1 may be different from the actual one.

本実施の形態のインクジェットヘッド10は、図1及び図2に示すように、ノズル基板1、キャビティ基板2及び電極基板3の3つの基板を貼り合わせた3層構造を有している。なお、ここでは、3層構造の例を示しているが、本例のインクジェットヘッド10は、3層構造のものに限られず、ノズル基板、リザーバー基板、キャビティ基板及び電極基板の4つの基板を積層した4層構造のヘッドとしてももちろん良い。   As shown in FIGS. 1 and 2, the inkjet head 10 according to the present embodiment has a three-layer structure in which three substrates of a nozzle substrate 1, a cavity substrate 2, and an electrode substrate 3 are bonded together. Although an example of a three-layer structure is shown here, the inkjet head 10 of this example is not limited to a three-layer structure, and four substrates, a nozzle substrate, a reservoir substrate, a cavity substrate, and an electrode substrate, are stacked. Of course, it may be a four-layer head.

以下、各基板の構成を更に詳しく説明する。
ノズル基板1は、後述する製造方法により、所要の厚さ(例えば約65μm)に薄くされたシリコン基板から作製されている。また、ノズル基板1には、インク滴を吐出する複数のノズル孔11が所定のピッチで設けられており、ここでは、2列のノズル列を形成している。各ノズル孔11は、吐出方向の先端側の円筒状の第1ノズル孔11aと、第1ノズル孔11aよりも径の大きい円筒状の第2ノズル孔11bとから構成され、第1ノズル孔11aと第2ノズル孔11bとは同軸上に設けられている。かかる構成により、インク滴の吐出方向をノズル孔11の中心軸方向に揃えることができ、安定したインク吐出特性を発揮させることができるようになっている。すなわち、インク滴の飛翔方向のばらつきがなくなり、またインク滴の飛び散りがなく、インク滴の吐出量のばらつきを抑制することが可能となっている。
Hereinafter, the configuration of each substrate will be described in more detail.
The nozzle substrate 1 is manufactured from a silicon substrate thinned to a required thickness (for example, about 65 μm) by a manufacturing method described later. The nozzle substrate 1 is provided with a plurality of nozzle holes 11 for ejecting ink droplets at a predetermined pitch. Here, two nozzle rows are formed. Each nozzle hole 11 is composed of a cylindrical first nozzle hole 11a on the tip end side in the ejection direction and a cylindrical second nozzle hole 11b having a diameter larger than that of the first nozzle hole 11a, and the first nozzle hole 11a. And the second nozzle hole 11b are provided coaxially. With such a configuration, the ink droplet ejection direction can be aligned with the central axis direction of the nozzle hole 11, and stable ink ejection characteristics can be exhibited. That is, there is no variation in the flying direction of ink droplets, there is no scattering of ink droplets, and it is possible to suppress variations in the ejection amount of ink droplets.

また、ノズル基板1の吐出面1a、吐出面1aと反対側の面及びノズル孔11の内壁にはこれらの面をインクから保護する保護膜としてのインク保護膜105が形成され、更に、インク保護膜105上の吐出面1a全面には撥液膜としての撥インク膜106が形成され、ノズル孔11の吐出口縁部を境界にしてノズル孔11の内壁及び反対側の面には撥インク膜106が形成されていない構成となっている。これにより、インクに対する耐久性向上及び吐出面1a上のインク滴残留防止が図られている。   Further, an ink protective film 105 is formed on the discharge surface 1a of the nozzle substrate 1, the surface opposite to the discharge surface 1a, and the inner wall of the nozzle hole 11 as a protective film for protecting these surfaces from ink. An ink repellent film 106 as a liquid repellent film is formed on the entire discharge surface 1 a on the film 105, and the ink repellent film is formed on the inner wall of the nozzle hole 11 and the surface on the opposite side with the discharge port edge of the nozzle hole 11 as a boundary. The configuration is such that 106 is not formed. Thereby, the durability against ink is improved and ink droplets remaining on the ejection surface 1a are prevented.

キャビティ基板2は、例えば厚さ約140μmのシリコン基板から作製されている。このシリコン基板にウェットエッチングを施すことにより、圧力室21となる凹部25、オリフィス23となる凹部26及びリザーバー24となる凹部27が形成される。凹部25はノズル孔11に対応する位置に独立に複数形成される。したがって、図2に示すようにノズル基板1とキャビティ基板2を接合した際、各凹部25は圧力室21を構成し、それぞれノズル孔11に連通しており、オリフィス23ともそれぞれ連通している。そして、圧力室21(凹部25)の底壁が振動板22となっている。   The cavity substrate 2 is made of, for example, a silicon substrate having a thickness of about 140 μm. By performing wet etching on the silicon substrate, a recess 25 that becomes the pressure chamber 21, a recess 26 that becomes the orifice 23, and a recess 27 that becomes the reservoir 24 are formed. A plurality of recesses 25 are independently formed at positions corresponding to the nozzle holes 11. Therefore, when the nozzle substrate 1 and the cavity substrate 2 are joined as shown in FIG. 2, each recess 25 constitutes a pressure chamber 21, communicates with the nozzle hole 11, and communicates with the orifice 23. The bottom wall of the pressure chamber 21 (concave portion 25) is a diaphragm 22.

凹部26は、細溝状のオリフィス23を構成し、この凹部26を介して凹部25(圧力室21)と凹部27(リザーバー24)とが連通している。
凹部27は、インク等の液状材料を貯留するためのものであり、各圧力室21に共通のリザーバー(共通インク室)24を構成する。そして、リザーバー24(凹部27)はそれぞれオリフィス23を介して全ての圧力室21に連通している。なお、オリフィス23(凹部26)はノズル基板1の裏面(キャビティ基板2との接合側の面)に設けることもできる。また、リザーバー24の底部にはインク供給孔28が設けられている。
The recess 26 constitutes a narrow groove-shaped orifice 23, and the recess 25 (pressure chamber 21) and the recess 27 (reservoir 24) communicate with each other through the recess 26.
The recess 27 is for storing a liquid material such as ink, and constitutes a reservoir (common ink chamber) 24 common to the pressure chambers 21. The reservoirs 24 (recesses 27) communicate with all the pressure chambers 21 via the orifices 23, respectively. The orifice 23 (concave portion 26) can also be provided on the back surface of the nozzle substrate 1 (the surface on the bonding side with the cavity substrate 2). An ink supply hole 28 is provided at the bottom of the reservoir 24.

また、キャビティ基板2の全面には熱酸化やプラズマCVD(Chemical Vapor Deposition)によりSiO2 やTEOS(Tetraethylorthosilicate Tetraethoxysilane:テトラエトキシシラン、珪酸エチル)膜等からなる絶縁膜2aが膜厚0.1μmで施されている。この絶縁膜2aは、インクジェットヘッド10を駆動させた時の絶縁破壊や短絡を防止する目的で設けられる。 Further, an insulating film 2a made of SiO 2 or TEOS (tetraethylsilane: tetraethoxysilane, ethyl silicate) film or the like is formed on the entire surface of the cavity substrate 2 by thermal oxidation or plasma CVD (Chemical Vapor Deposition) to a thickness of 0.1 μm. Has been. This insulating film 2a is provided for the purpose of preventing dielectric breakdown and short circuit when the inkjet head 10 is driven.

電極基板3は、例えば厚さ約1mmのガラス基板から作製される。中でも、キャビティ基板2のシリコン基板と熱膨張係数の近い硼珪酸系の耐熱硬質ガラスを用いるのが適している。これは、電極基板3とキャビティ基板2を陽極接合する際、両基板の熱膨張係数が近いため、電極基板3とキャビティ基板2との間に生じる応力を低減することができ、その結果剥離等の問題を生じることなく電極基板3とキャビティ基板2を強固に接合することができるからである。   The electrode substrate 3 is made from a glass substrate having a thickness of about 1 mm, for example. Among them, it is suitable to use a borosilicate heat-resistant hard glass having a thermal expansion coefficient close to that of the silicon substrate of the cavity substrate 2. This is because when the electrode substrate 3 and the cavity substrate 2 are anodically bonded, the thermal expansion coefficients of the two substrates are close to each other, so that the stress generated between the electrode substrate 3 and the cavity substrate 2 can be reduced. This is because the electrode substrate 3 and the cavity substrate 2 can be firmly bonded without causing the above problem.

電極基板3には、キャビティ基板2の各振動板22に対向する面の位置にそれぞれ凹部32が設けられている。凹部32は、エッチングにより深さ約0.3μmで形成されている。そして、各凹部32内には、一般に、ITO(Indium Tin Oxide:インジウム錫酸化物)からなる個別電極31が、例えば0.1μmの厚さでスパッタにより形成される。なお、個別電極31の材料はITOに限定するものではなく、クロム等の金属等を用いてもよいが、ITOは透明であるので放電したかどうかの確認が行いやすい等の理由から、一般にITOが用いられる。   The electrode substrate 3 is provided with a recess 32 at a position on the surface of the cavity substrate 2 facing each diaphragm 22. The recess 32 is formed with a depth of about 0.3 μm by etching. And in each recessed part 32, the individual electrode 31 which generally consists of ITO (Indium Tin Oxide: Indium tin oxide) is formed by the thickness of 0.1 micrometer, for example. The material of the individual electrode 31 is not limited to ITO, and a metal such as chrome may be used. However, since ITO is transparent, it is generally easy to confirm whether it has been discharged or not. Is used.

個別電極31は、リード部31aと、フレキシブル配線基板(図示せず)に接続される端子部31bとを有する。これらの端子部31bは、図2に示すように、配線のためにキャビティ基板2の末端部が開口された電極取り出し部30内に露出している。   The individual electrode 31 has a lead part 31a and a terminal part 31b connected to a flexible wiring board (not shown). As shown in FIG. 2, these terminal portions 31b are exposed in the electrode extraction portion 30 in which the end portion of the cavity substrate 2 is opened for wiring.

また、電極基板3には、外部のインクカートリッジ(図示せず)に接続されるインク供給孔33が設けられている。インク供給孔33は、キャビティ基板2に設けられたインク供給孔28に連通しており、インク供給孔28,33を通じてインクカートリッジ(図示せず)からインクが供給されるようになっている。インクカートリッジ(図示せず)から供給されたインクは、圧力室21へのインク供給路となるリザーバー24及びオリフィス23を介して圧力室21へと供給される。   The electrode substrate 3 is provided with an ink supply hole 33 connected to an external ink cartridge (not shown). The ink supply hole 33 communicates with the ink supply hole 28 provided in the cavity substrate 2, and ink is supplied from an ink cartridge (not shown) through the ink supply holes 28 and 33. Ink supplied from an ink cartridge (not shown) is supplied to the pressure chamber 21 via a reservoir 24 and an orifice 23 that serve as an ink supply path to the pressure chamber 21.

上述したように、ノズル基板1、キャビティ基板2及び電極基板3は、一般に個別に作製され、これらを図2に示すように貼り合わせることによりインクジェットヘッド10の本体部が作製される。さらに、振動板22と個別電極31との間に形成される電極間ギャップの開放端部はエポキシ等の樹脂による封止材34で封止される。これにより、湿気や塵埃等が電極間ギャップへ侵入するのを防止することができ、インクジェットヘッド10の信頼性を高く保持することができる。   As described above, the nozzle substrate 1, the cavity substrate 2, and the electrode substrate 3 are generally manufactured separately, and the main body of the inkjet head 10 is manufactured by bonding them together as shown in FIG. 2. Furthermore, the open end portion of the interelectrode gap formed between the diaphragm 22 and the individual electrode 31 is sealed with a sealing material 34 made of resin such as epoxy. Thereby, moisture and dust can be prevented from entering the gap between the electrodes, and the reliability of the inkjet head 10 can be kept high.

そして、図2に簡略化して示すように、ICドライバ等の駆動制御回路35が各個別電極31の端子部31bとキャビティ基板2上に設けられた共通電極29とに前記フレキシブル配線基板(図示せず)を介して接続され、インクジェットヘッド10が形成される。   2, a drive control circuit 35 such as an IC driver is connected to the terminal portion 31b of each individual electrode 31 and the common electrode 29 provided on the cavity substrate 2 (not shown). The inkjet head 10 is formed.

次に、以上のように構成されるインクジェットヘッド10の動作を説明する。
駆動制御回路35は、個別電極31に電荷の供給及び停止を制御する発振回路である。この発振回路は例えば24kHzで発振し、個別電極31に例えば0Vと30Vのパルス電位を印加して電荷供給を行う。発振回路が駆動し、個別電極31に電荷を供給して正に帯電させると、振動板22は負に帯電し、個別電極31と振動板22間に静電気力(クーロン力)が発生する。したがって、この静電気力により振動板22は個別電極31に引き寄せられて撓む(変位する)。これによって圧力室21の容積が増大する。そして、個別電極31への電荷の供給を止めると振動板22はその弾性力により元に戻り、その際、圧力室21の容積が急激に減少するため、そのときの圧力により圧力室21内のインクの一部がインク滴としてノズル孔11より吐出する。振動板22が次に同様に変位すると、インクがリザーバー24からオリフィス23を通じて圧力室21内に補給される。
Next, the operation of the inkjet head 10 configured as described above will be described.
The drive control circuit 35 is an oscillation circuit that controls supply and stop of electric charges to the individual electrodes 31. This oscillation circuit oscillates at, for example, 24 kHz, and supplies electric charges by applying pulse potentials of, for example, 0 V and 30 V to the individual electrodes 31. When the oscillation circuit is driven and charges are supplied to the individual electrode 31 to be positively charged, the diaphragm 22 is negatively charged and an electrostatic force (Coulomb force) is generated between the individual electrode 31 and the diaphragm 22. Therefore, the diaphragm 22 is attracted to the individual electrode 31 by this electrostatic force and bends (displaces). As a result, the volume of the pressure chamber 21 increases. When the supply of electric charges to the individual electrode 31 is stopped, the diaphragm 22 returns to its original state due to its elastic force, and at this time, the volume of the pressure chamber 21 decreases rapidly. Part of the ink is ejected from the nozzle hole 11 as an ink droplet. When the diaphragm 22 is similarly displaced next, ink is supplied from the reservoir 24 through the orifice 23 into the pressure chamber 21.

次に、このインクジェットヘッド10の製造方法について図3〜図9を参照して説明する。図3〜図7は、ノズル基板の製造工程を示す断面図である。図8及び図9は、キャビティ基板2及び電極基板3の製造方法を示す製造工程の断面図であり、ここでは、主に、電極基板3にシリコン基板200を接合した後にキャビティ基板2を製造する方法を示す。
まず最初に、本発明の特徴部分であるノズル基板1の製造方法を説明する。
Next, a method for manufacturing the inkjet head 10 will be described with reference to FIGS. 3-7 is sectional drawing which shows the manufacturing process of a nozzle substrate. 8 and 9 are cross-sectional views of the manufacturing process showing the manufacturing method of the cavity substrate 2 and the electrode substrate 3. Here, the cavity substrate 2 is mainly manufactured after the silicon substrate 200 is bonded to the electrode substrate 3. The method is shown.
First, a manufacturing method of the nozzle substrate 1 which is a characteristic part of the present invention will be described.

(1)ノズル基板1の製造方法
(A)まず、図3(A)に示すように、厚み725μmのシリコン基板100を用意し、熱酸化装置(図示せず)にセットして酸化温度1075℃、酸化時間4時間、酸素と水蒸気の混合雰囲気中の条件で熱酸化処理し、シリコン基板100の表面に膜厚0.5μmの熱酸化膜(SiO2 膜)101を均一に成膜する。そして、シリコン基板100の接合面(キャビティ基板2と接合されることとなる面)100aの熱酸化膜101に第2ノズルとなる部分101aをパターニングする。
(1) Manufacturing Method of Nozzle Substrate 1 (A) First, as shown in FIG. 3A, a silicon substrate 100 having a thickness of 725 μm is prepared, set in a thermal oxidation apparatus (not shown), and an oxidation temperature of 1075 ° C. Then, a thermal oxidation treatment is performed for 4 hours under conditions in a mixed atmosphere of oxygen and water vapor, and a thermal oxide film (SiO 2 film) 101 having a film thickness of 0.5 μm is uniformly formed on the surface of the silicon substrate 100. Then, the portion 101a to be the second nozzle is patterned on the thermal oxide film 101 on the bonding surface (surface to be bonded to the cavity substrate 2) 100a of the silicon substrate 100.

(B)次に、図3(B)に示すように、接合面100b上に、厚さ1.0μmのレジスト膜102を形成し、フォトリソグラフィーにより第1ノズルとなる部分102aをパターニングする。
(C)次に、図3(C)に示すように、ICPドライエッチング装置(図示せず)により、レジスト膜102の第1ノズルとなる部分102aを、例えば深さ40μmで垂直に異方性ドライエッチングし、第1ノズル孔となる凹部102bを形成する。この場合のエッチングガスとしては、C4F8、SF6を使用し、これらのエッチングガスを交互に使用すればよい。ここで、C4F8は形成される溝の側面にエッチングが進行しないように溝側面を保護するために使用し、SF6はシリコン基板100の垂直方向のエッチングを促進させるために使用する。
(D)次に、図3(D)に示すように、レジスト膜102を除去した後、ICPドライエッチング装置により熱酸化膜101の第2ノズルとなる部分101aを、深さ40μmで垂直に異方性ドライエッチングする。この際に、第1ノズルとなる凹部102bも深さが70〜80μm程度までエッチングされ、ノズル孔11となる凹部11cが形成される。
(B) Next, as shown in FIG. 3B, a resist film 102 having a thickness of 1.0 μm is formed on the bonding surface 100b, and a portion 102a serving as the first nozzle is patterned by photolithography.
(C) Next, as shown in FIG. 3C, the portion 102a to be the first nozzle of the resist film 102 is vertically anisotropic with a depth of 40 μm, for example, by an ICP dry etching apparatus (not shown). Dry etching is performed to form a recess 102b to be a first nozzle hole. In this case, C4F8 and SF6 are used as the etching gas, and these etching gases may be used alternately. Here, C4F8 is used to protect the groove side surface so that etching does not proceed to the side surface of the groove to be formed, and SF6 is used to promote the etching of the silicon substrate 100 in the vertical direction.
(D) Next, as shown in FIG. 3D, after removing the resist film 102, the portion 101 a serving as the second nozzle of the thermal oxide film 101 is vertically different at a depth of 40 μm using an ICP dry etching apparatus. Isotropic dry etching. At this time, the recess 102b to be the first nozzle is also etched to a depth of about 70 to 80 μm, and the recess 11c to be the nozzle hole 11 is formed.

(E)次に、図4(E)に示すように、シリコン基板100の表面に残る熱酸化膜101をフッ酸水溶液で除去した後、シリコン基板100の表面全体、すなわち吐出面100a、接合面100b及びノズル孔11となる凹部11cの内壁にインク保護膜103をドライ酸化で形成する。このインク保護膜103の膜厚は、所望の表面粗さRzに、インク保護膜として必要な膜厚(例えば0.1μm)を加えた値とする。インク保護膜103は、シリコン基板100(ノズル基板1)とキャビティ基板2とを接合する際の接合表面となることから、所望の接合強度を得るための設計上の制約として、表面荒さRzを約50nm〜6μmの範囲内とする必要があり、ここでは、表面荒さRzを約1〜2μmとしている。 (E) Next, as shown in FIG. 4E, after the thermal oxide film 101 remaining on the surface of the silicon substrate 100 is removed with a hydrofluoric acid aqueous solution, the entire surface of the silicon substrate 100, that is, the ejection surface 100a, the bonding surface. An ink protective film 103 is formed by dry oxidation on the inner walls of the recesses 11c that become the nozzle holes 11b. The film thickness of the ink protective film 103 is a value obtained by adding a film thickness necessary for the ink protective film (for example, 0.1 μm) to the desired surface roughness Rz. Since the ink protective film 103 serves as a bonding surface when the silicon substrate 100 (nozzle substrate 1) and the cavity substrate 2 are bonded to each other, the surface roughness Rz is reduced as a design constraint for obtaining a desired bonding strength. In this case, the surface roughness Rz is set to about 1 to 2 μm.

以上のようにしてシリコン基板100にノズル孔11となる凹部11cを形成した後、後述の工程(G)で接合面100b側に第1の支持基板としての支持基板110を貼り付けるに先立ち、本発明では次の工程(F)を行う。   After forming the recess 11c to be the nozzle hole 11 in the silicon substrate 100 as described above, prior to attaching the support substrate 110 as the first support substrate to the bonding surface 100b side in the step (G) described later, In the invention, the following step (F) is performed.

図5は、図4の工程(F)の点線A部分の拡大図で、図4の工程(F)の詳細説明図である。なお、図5では、図4の点線A部分を上下反転した状態で示している。
(F1)まず、図5(F1)に示すように、接合面100b上に、レジスト104を塗布し、フォトリソグラフィーにより複数の開口104aを形成する。開口104aの形状や配置パターンは、特に限定するものではないが、ここでは、四角形状の開口104aを千鳥格子状に形成している。
FIG. 5 is an enlarged view of a dotted line A part in the step (F) of FIG. 4, and is a detailed explanatory view of the step (F) of FIG. In FIG. 5, the dotted line A portion of FIG. 4 is shown in a vertically inverted state.
(F1) First, as shown in FIG. 5 (F1), a resist 104 is applied on the bonding surface 100b, and a plurality of openings 104a are formed by photolithography. The shape and arrangement pattern of the openings 104a are not particularly limited, but here, the rectangular openings 104a are formed in a staggered pattern.

(F2)次に、シリコン基板100を反応性イオンエッチング(RIE)装置に投入し、エッチングガスとしてCHF3とCF4、プラズマ安定化のためにArを導入する。流量はCHF3:30sccm、CF4:30sccm、Ar:600sccmとし、圧力は300Paとする。RFパワーは1300Wとする。上記条件で、レジスト104の開口104a部分をエッチングしてインク保護膜103に複数の凹部103aを形成する。次の図7は、インク保護膜103上に形成された複数の凹部103aを示している。 (F2) Next, the silicon substrate 100 is put into a reactive ion etching (RIE) apparatus, and CHF3 and CF4 as etching gases and Ar for plasma stabilization are introduced. The flow rates are CHF3: 30 sccm, CF4: 30 sccm, Ar: 600 sccm, and the pressure is 300 Pa. The RF power is 1300W. Under the above conditions, the openings 104 a of the resist 104 are etched to form a plurality of recesses 103 a in the ink protective film 103. Next, FIG. 7 shows a plurality of recesses 103 a formed on the ink protective film 103.

図7は、インク保護膜103の平面図である。図7に示すように、各凹部103aは、平面的に見て四角形状を成し、千鳥格子状に配置形成されている。複数の凹部103aは、インク保護膜103に凹凸形状を設けることを目的として形成したものであり、各凹部103aの形状や配置は図7の形状及び配置に特に限定するものではない。   FIG. 7 is a plan view of the ink protective film 103. As shown in FIG. 7, each recess 103a has a quadrangular shape when seen in a plan view, and is arranged in a staggered pattern. The plurality of recesses 103a are formed for the purpose of providing the ink protective film 103 with an uneven shape, and the shape and arrangement of each recess 103a are not particularly limited to the shape and arrangement shown in FIG.

なお、図5(F2)に示すように、凹部103aの深さが表面粗さRz(ここでは、上述したように約1〜2μm)に相当し、凹部103aの残し膜厚hが、インク保護膜として必要な膜厚に相当し、ここでは約0.1μmとしている。なお、凹部103aを形成しない状態でのインク保護膜103の表面粗さは通常約10nm程度であるため、凹部103aを形成したことによって必要十分に表面が粗い状態となっている。   As shown in FIG. 5F2, the depth of the recess 103a corresponds to the surface roughness Rz (here, about 1 to 2 μm as described above), and the remaining film thickness h of the recess 103a is the ink protection. This corresponds to the film thickness required for the film, and is about 0.1 μm here. In addition, since the surface roughness of the ink protective film 103 in a state where the recess 103a is not formed is usually about 10 nm, the surface is sufficiently and sufficiently rough due to the formation of the recess 103a.

(F3)次に、図5(F3)に示すように、シリコン基板100を硫酸と過酸化水素水からなる混合溶液に浸漬し、レジスト104を剥離する。これにより、複数の凹部103aが千鳥格子状に形成されたインク保護膜103が形成される。 (F3) Next, as shown in FIG. 5 (F3), the silicon substrate 100 is immersed in a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide solution, and the resist 104 is peeled off. Thereby, the ink protective film 103 in which the plurality of concave portions 103a are formed in a staggered pattern is formed.

ここで、図4に戻る。
(G)図4(G)に示すように、工程(F)によって凹凸形状が形成されたインク保護膜103を有する接合面110b(凹部103aの形成面)側に、両面接着シート50を介して、ガラス等の透明材料よりなる支持基板110を貼り付ける。この両面接着シート50には、例えば、セルファBG(登録商標:積水化学工業)を用いる。両面接着シート50は自己剥離層51を持ったシート(自己剥離型シート)で、その両面には接着面を有し、その一方の面にはさらに自己剥離層51を備え、この自己剥離層51は紫外線または熱などの刺激によって接着力が低下するようになっている。
Returning now to FIG.
(G) As shown in FIG. 4G, the double-sided adhesive sheet 50 is interposed on the side of the joint surface 110b (the surface on which the concave portion 103a is formed) having the ink protective film 103 in which the concavo-convex shape is formed by the step (F). A support substrate 110 made of a transparent material such as glass is attached. For this double-sided adhesive sheet 50, for example, Selfa BG (registered trademark: Sekisui Chemical Co., Ltd.) is used. The double-sided adhesive sheet 50 is a sheet having a self-peeling layer 51 (self-peeling type sheet), which has an adhesive surface on both surfaces, and further includes a self-peeling layer 51 on one surface. The adhesive strength is reduced by stimuli such as ultraviolet rays or heat.

このように自己剥離層51を備えた両面接着シート50を用いて支持基板110を貼り合わせるようにしたので、シリコン基板100の薄板化加工時には、シリコン基板100に支持基板110を強固に接着してシリコン基板100を破損することなく加工することができ、処理後には後述するように支持基板110をシリコン基板100から糊残り無く、容易に剥離することができる。   As described above, since the support substrate 110 is bonded using the double-sided adhesive sheet 50 having the self-peeling layer 51, the support substrate 110 is firmly bonded to the silicon substrate 100 when the silicon substrate 100 is thinned. The silicon substrate 100 can be processed without being damaged, and after the processing, the support substrate 110 can be easily peeled off from the silicon substrate 100 without any adhesive residue as will be described later.

そして、次に、シリコン基板100の吐出面100a側からバックグラインダー(図示せず)によって研削加工を行い、板厚が65μmになるまで薄板化する。これにより、ノズル孔11となる凹部11cの先端が開口し、ノズル孔11が形成される。薄板化後、さらに、ポリッシャー、CMP装置によって吐出面100aを研磨しても良い。   Next, grinding is performed by a back grinder (not shown) from the discharge surface 100a side of the silicon substrate 100 to reduce the thickness until the thickness becomes 65 μm. As a result, the tip of the recess 11 c that becomes the nozzle hole 11 is opened, and the nozzle hole 11 is formed. After the thinning, the discharge surface 100a may be further polished by a polisher and a CMP apparatus.

(H)次に、図4(H)に示すように、シリコン基板100の吐出面100aの表面に、インク保護膜105となる厚さ0.2μmのシリコーン重合膜をシロキサン原料のプラズマCVDで形成する。そして、空気中でUVを照射して脱水縮合させ、インク保護膜105表面をSiO2化する (H) Next, as shown in FIG. 4H, a 0.2 μm-thick silicone polymer film that forms the ink protective film 105 is formed on the surface of the discharge surface 100a of the silicon substrate 100 by plasma CVD using a siloxane material. To do. Then, UV irradiation is performed in the air to cause dehydration condensation, and the surface of the ink protective film 105 is changed to SiO 2 .

(I)次に、図4(I)に示すように、シリコン基板100の吐出面100aにさらに撥インク処理を施す。具体的には、シランカップリング材をディップコートし、吐出面100aに撥インク膜106を形成する。このとき、ノズル孔11の内壁にも撥インク膜106が形成される。 (I) Next, as shown in FIG. 4I, the ink repellent treatment is further performed on the ejection surface 100a of the silicon substrate 100. Specifically, a silane coupling material is dip coated, and an ink repellent film 106 is formed on the ejection surface 100a. At this time, the ink repellent film 106 is also formed on the inner wall of the nozzle hole 11.

(J)次に、図6(J)に示すように、吐出面100aに、第2の支持基板としてのサポートテープ120を貼り付け、その状態で支持基板110側からUV光を照射する。
(K)UV光を照射することにより、図6(K)に示すように、両面接着シート50の自己剥離層51をシリコン基板100の接合面100b面から剥離し、支持基板110をシリコン基板100から取り外す。
ここで、支持基板110を剥離するに際し、支持基板110の接着面となるシリコン基板100の接合面100b上には、表面に凹凸形状を有するインク保護膜103が形成されているため、支持基板110の剥離が容易に行えるようになっている。すなわち、凹部103aが形成されていることによって、支持基板110と両面接着シート50との接着面積が少なくなり、糊残りを防止すると共に容易に剥離することが可能となっている。
(J) Next, as shown in FIG. 6 (J), a support tape 120 as a second support substrate is attached to the ejection surface 100a, and UV light is irradiated from the support substrate 110 side in this state.
(K) By irradiating UV light, the self-peeling layer 51 of the double-sided adhesive sheet 50 is peeled off from the bonding surface 100b surface of the silicon substrate 100 as shown in FIG. Remove from.
Here, when the support substrate 110 is peeled off, since the ink protective film 103 having a concavo-convex shape is formed on the bonding surface 100b of the silicon substrate 100, which is an adhesion surface of the support substrate 110, the support substrate 110 is formed. Can be easily peeled off. That is, the formation of the recess 103a reduces the bonding area between the support substrate 110 and the double-sided adhesive sheet 50, and prevents adhesive residue and can be easily peeled off.

(L)そして、図6(L)に示すように、接合面100b側から酸素又はアルゴンのプラズマ処理を行い、ノズル孔11内壁の撥インク膜106を破壊して親水化する。
(M)そして、サポートテープ120を剥離した後、硫酸洗浄等により洗浄する。ここで、仮に、支持基板110の剥離後に糊残りが生じていたとしても、工程(M)での洗浄時に、インク保護膜103の凹凸状の表面と糊残渣部分との間に洗浄液が入り込むため、凹凸形状が無い場合に比べて高い洗浄効果を発揮することができ、効果的に糊を除去することが可能である。よって、例えば、ノズル孔11のインク導入口側(接合面110b側)のノズル縁部分に糊残りが生じても、洗浄により除去することができ、当該部分に糊が残存することによる吐出特性の変化を防止することができる。
以上により、ノズル基板1を作製することができる。
(L) Then, as shown in FIG. 6 (L), oxygen or argon plasma treatment is performed from the bonding surface 100b side, and the ink repellent film 106 on the inner wall of the nozzle hole 11 is destroyed and rendered hydrophilic.
(M) Then, after the support tape 120 is peeled off, it is washed by sulfuric acid washing or the like. Here, even if the adhesive residue is generated after the support substrate 110 is peeled off, the cleaning liquid enters between the uneven surface of the ink protective film 103 and the adhesive residue portion during the cleaning in the step (M). As compared with the case where there is no uneven shape, a high cleaning effect can be exhibited, and the glue can be effectively removed. Therefore, for example, even if adhesive residue is generated at the nozzle edge portion of the nozzle hole 11 on the ink introduction port side (joining surface 110b side), it can be removed by washing, and the discharge characteristics due to the adhesive remaining in the portion can be removed. Changes can be prevented.
As described above, the nozzle substrate 1 can be manufactured.

このように本実施の形態のノズル基板の製造方法によれば、ノズル基板1となるシリコン基板100に支持基板110を貼り付けるに際し、シリコン基板100の表面に形成したインク保護膜103に凹凸形状を形成してから支持基板110を貼り付けるようにしたので、支持基板110の剥離を容易とし、糊残りを防止することが可能となる。   As described above, according to the manufacturing method of the nozzle substrate of the present embodiment, when the support substrate 110 is attached to the silicon substrate 100 to be the nozzle substrate 1, the uneven shape is formed on the ink protective film 103 formed on the surface of the silicon substrate 100. Since the support substrate 110 is pasted after the formation, the support substrate 110 can be easily peeled off and the adhesive residue can be prevented.

また、凹部103aをドライエッチングで形成しているので、凹部103aの形状の設計自由度が高く、また、深さ制御を容易に行うことができる。従って、インク保護膜103に所望の凹凸形状を容易に形成することが可能である。   Further, since the recess 103a is formed by dry etching, the design freedom of the shape of the recess 103a is high, and the depth control can be easily performed. Accordingly, it is possible to easily form a desired uneven shape on the ink protective film 103.

また、インク保護膜103の表面に凹凸形状を設けたことにより、ノズル基板1製造工程の最終段階での洗浄に際し、凹凸形状の表面と糊残渣との間に洗浄液が入り込むため、高い洗浄効果が得られる。よって、接合面110b側のノズル孔11のノズル縁部分に糊残渣が生じていても、効果的に除去することができる。よって、当該ノズル縁部分に糊が残存することによる吐出特性の変化を防止することができる。   Further, by providing the uneven shape on the surface of the ink protective film 103, the cleaning liquid enters between the uneven surface and the adhesive residue when cleaning at the final stage of the manufacturing process of the nozzle substrate 1. can get. Therefore, even if a paste residue is generated at the nozzle edge portion of the nozzle hole 11 on the joint surface 110b side, it can be effectively removed. Therefore, it is possible to prevent a change in ejection characteristics due to the glue remaining on the nozzle edge portion.

なお、本実施の形態では、ノズル孔11を、インクの導入口から吐出口に向けて断面積が段階的(ここでは2段)に小さくなる形状に形成した例を示しているが、本発明のノズル基板の製造方法では、ノズル孔11の形状はこの形状に限定するものではない。例えば、インクの導入口から吐出口に向けて断面積が連続的に減少する構成としてもよい。要は、本発明は、シリコン基板にノズル孔となる凹部を形成した後、凹部の形成面側に支持基板を貼り合わせ、前記凹部形成面とは反対側の面から薄板化して凹部の先端を開口し、ノズル孔を形成する加工方法に適用可能である。   In the present embodiment, the nozzle hole 11 is formed in a shape in which the cross-sectional area gradually decreases from the ink introduction port to the ejection port (in this case, two steps). In this nozzle substrate manufacturing method, the shape of the nozzle hole 11 is not limited to this shape. For example, the cross-sectional area may be continuously reduced from the ink introduction port toward the ejection port. In short, in the present invention, after forming a recess to be a nozzle hole in a silicon substrate, a support substrate is bonded to the surface where the recess is formed, and the tip of the recess is made thin from the surface opposite to the surface where the recess is formed. The present invention is applicable to a processing method for opening and forming nozzle holes.

なお、本実施の形態のノズル基板1の製造方法は、静電駆動方式のインクジェットヘッドに用いるノズル基板の場合を例に説明したが、圧電駆動方式やバブルジェット(登録商標)方式など、他方式のアクチュエーター(圧力発生手段)を用いたインクジェットヘッドのノズル基板にも適用可能である。   The method for manufacturing the nozzle substrate 1 according to the present embodiment has been described by taking the case of a nozzle substrate used in an electrostatic drive type inkjet head as an example. However, other methods such as a piezoelectric drive method and a bubble jet (registered trademark) method may be used. The present invention can also be applied to a nozzle substrate of an ink jet head using an actuator (pressure generating means).

(2)キャビティ基板2及び電極基板3の製造方法
ここでは、電極基板3にシリコン基板200を接合した後、そのシリコン基板200からキャビティ基板2を製造する方法について図8、図9を参照して簡単に説明する。
(2) Manufacturing Method of Cavity Substrate 2 and Electrode Substrate 3 Here, a method of manufacturing the cavity substrate 2 from the silicon substrate 200 after bonding the silicon substrate 200 to the electrode substrate 3 will be described with reference to FIGS. Briefly described.

電極基板3は以下のようにして製造される。
(A)まず、硼珪酸ガラス等からなる板厚約1mmのガラス基板300に、例えば金・クロムのエッチングマスクを使用してフッ酸によってエッチングすることにより凹部32を形成する。なお、この凹部32は個別電極31の形状より少し大きめの溝状のものであり、個別電極31ごとに複数形成される。
そして、凹部32の内部に、例えばスパッタによりITO(Indium Tin Oxide)からなる個別電極31を形成する。
その後、ドリル等によってインク供給孔33を形成することにより、電極基板3が作製される。
The electrode substrate 3 is manufactured as follows.
(A) First, the concave portion 32 is formed by etching with a hydrofluoric acid using, for example, a gold / chromium etching mask on a glass substrate 300 made of borosilicate glass or the like and having a thickness of about 1 mm. Note that the recess 32 has a groove shape slightly larger than the shape of the individual electrode 31, and a plurality of the recesses 32 are formed for each individual electrode 31.
Then, an individual electrode 31 made of ITO (Indium Tin Oxide) is formed inside the recess 32 by sputtering, for example.
Thereafter, the ink supply hole 33 is formed by a drill or the like, whereby the electrode substrate 3 is manufactured.

(B)次に、厚さが例えば525μmのシリコン基板200の両面を鏡面研磨した後に、シリコン基板200の片面にプラズマCVD(Chemical Vapor Deposition)によって厚さ0.1μmのTEOS(TetraEthylorthosilicate)からなるシリコン酸化膜(絶縁膜)2aを形成する。なお、シリコン基板200を形成する前に、エッチングストップ技術を利用し振動板22の厚みを高精度に形成するためのボロンドープ層を形成するようにしてもよい。エッチングストップとは、エッチング面から発生する気泡が停止した状態と定義し、実際のウェットエッチングにおいては、気泡の発生の停止をもってエッチングがストップしたものと判断する。 (B) Next, after both surfaces of a silicon substrate 200 having a thickness of, for example, 525 μm are mirror-polished, one side of the silicon substrate 200 is made of silicon made of TEOS (TetraEthylorthosilicate) having a thickness of 0.1 μm by plasma CVD (Chemical Vapor Deposition). An oxide film (insulating film) 2a is formed. Note that before the silicon substrate 200 is formed, a boron doped layer for forming the thickness of the diaphragm 22 with high accuracy may be formed using an etching stop technique. Etching stop is defined as a state in which bubbles generated from the etching surface are stopped, and in actual wet etching, it is determined that the etching is stopped when the generation of bubbles is stopped.

(C)そして、このシリコン基板200と、図8(A)のように作製された電極基板3とを、例えば360℃に加熱し、シリコン基板200に陽極を、電極基板3に陰極を接続して800V程度の電圧を印加して陽極接合により接合する。
(D)シリコン基板200と電極基板3とを陽極接合した後に、水酸化カリウム水溶液等で接合状態のシリコン基板200をエッチングすることにより、シリコン基板200の厚さを例えば140μmになるまで薄板化する。
(C) The silicon substrate 200 and the electrode substrate 3 manufactured as shown in FIG. 8A are heated to, for example, 360 ° C., and the anode is connected to the silicon substrate 200 and the cathode is connected to the electrode substrate 3. Then, a voltage of about 800 V is applied to join by anodic bonding.
(D) After anodic bonding of the silicon substrate 200 and the electrode substrate 3, the silicon substrate 200 in a bonded state is etched with an aqueous potassium hydroxide solution or the like, thereby reducing the thickness of the silicon substrate 200 to, for example, 140 μm. .

(E)次に、図9(E)に示すように、シリコン基板200の上面(電極基板3が接合されている面と反対側の面)の全面にプラズマCVDによって例えば厚さ1.5μmのTEOS膜を形成する。
そして、このTEOS膜に、圧力室21となる凹部25、オリフィス23となる凹部26及びリザーバー24となる凹部25を形成するためのレジストをパターニングし、これらの部分のTEOS膜をエッチング除去する。
その後、シリコン基板200を水酸化カリウム水溶液等でエッチングすることにより、圧力室21となる凹部25、オリフィス23となる凹部26及びリザーバー24となる凹部27を形成する。このとき、配線のための電極取り出し部30となる部分もエッチングして薄板化しておく。なお、図9(E)のウェットエッチングの工程では、例えば初めに35重量%の水酸化カリウム水溶液を使用し、その後3重量%の水酸化カリウム水溶液を使用することができる。これにより、振動板22の面荒れを抑制することができる。
(E) Next, as shown in FIG. 9E, the entire surface of the upper surface of the silicon substrate 200 (the surface opposite to the surface to which the electrode substrate 3 is bonded) is, for example, 1.5 μm thick by plasma CVD. A TEOS film is formed.
Then, the TEOS film is patterned with a resist for forming a recess 25 to be the pressure chamber 21, a recess 26 to be the orifice 23, and a recess 25 to be the reservoir 24, and the TEOS film in these portions is removed by etching.
Thereafter, the silicon substrate 200 is etched with a potassium hydroxide aqueous solution or the like to form a recess 25 that becomes the pressure chamber 21, a recess 26 that becomes the orifice 23, and a recess 27 that becomes the reservoir 24. At this time, the portion that becomes the electrode extraction portion 30 for wiring is also etched and thinned. In the wet etching step of FIG. 9E, for example, a 35% by weight potassium hydroxide aqueous solution can be used first, and then a 3% by weight potassium hydroxide aqueous solution can be used. Thereby, surface roughness of the diaphragm 22 can be suppressed.

(F)シリコン基板200のエッチングが終了した後に、フッ酸水溶液でエッチングすることによりシリコン基板200の上面に形成されているTEOS膜を除去する。
(G)次に、シリコン基板200の圧力室21となる凹部25等が形成された面に、プラズマCVDによりTEOS膜(絶縁膜2a)を例えば厚さ0.1μmで形成する。
(H)その後、RIE(Reactive Ion Etching)等によって電極取り出し部30を開放する。また、電極基板3のインク供給孔33からレーザー加工を施してシリコン基板200のリザーバー24となる凹部27の底部を貫通させ、インク供給孔28を形成する。また、振動板22と個別電極31との間のギャップの開放端部をエポキシ樹脂等の封止材(図2参照)を充填することにより封止する。また、図1に示すように共通電極29がスパッタによりシリコン基板200の上面(ノズル基板1との接合側の面)の端部に形成される。
(F) After the etching of the silicon substrate 200 is completed, the TEOS film formed on the upper surface of the silicon substrate 200 is removed by etching with a hydrofluoric acid aqueous solution.
(G) Next, a TEOS film (insulating film 2a) is formed to a thickness of, for example, 0.1 μm by plasma CVD on the surface of the silicon substrate 200 where the recesses 25 to be the pressure chambers 21 are formed.
(H) After that, the electrode extraction unit 30 is opened by RIE (Reactive Ion Etching) or the like. Further, laser processing is performed from the ink supply hole 33 of the electrode substrate 3 so as to penetrate the bottom of the concave portion 27 that becomes the reservoir 24 of the silicon substrate 200, thereby forming the ink supply hole 28. Further, the open end of the gap between the diaphragm 22 and the individual electrode 31 is sealed by filling a sealing material such as an epoxy resin (see FIG. 2). Further, as shown in FIG. 1, the common electrode 29 is formed on the end portion of the upper surface of the silicon substrate 200 (the surface on the bonding side with the nozzle substrate 1) by sputtering.

以上により、電極基板3に接合した状態のシリコン基板200からキャビティ基板2が作製される。
そして最後に、このキャビティ基板2に、前述のように作製されたノズル基板1を接着等により接合することにより、図1に示したインクジェットヘッド10が完成する。
As described above, the cavity substrate 2 is manufactured from the silicon substrate 200 bonded to the electrode substrate 3.
Finally, the ink jet head 10 shown in FIG. 1 is completed by bonding the nozzle substrate 1 manufactured as described above to the cavity substrate 2 by bonding or the like.

本実施の形態のインクジェットヘッド10の製造工程において、ノズル基板1となるシリコン基板100を加工する際に、加工途中でシリコン基板100に貼り合わせた支持基板110を、上述したように容易に剥離することができ、また、剥離時の糊残りが防止できるため、ノズル基板1の歩留まりを向上させ、生産性を飛躍的に向上させることができる。   In the manufacturing process of the inkjet head 10 according to the present embodiment, when the silicon substrate 100 to be the nozzle substrate 1 is processed, the support substrate 110 bonded to the silicon substrate 100 is easily peeled off as described above. Moreover, since the adhesive residue at the time of peeling can be prevented, the yield of the nozzle substrate 1 can be improved and the productivity can be dramatically improved.

なお、上記の実施の形態では、ノズル基板の製造方法及びインクジェットヘッドの製造方法について述べたが、本発明は上記の実施の形態に限定されるものではなく、本発明の技術思想の範囲内で種々変更することができる。例えば、ノズル孔より吐出される液状材料を変更することにより、図10に示すインクジェットプリンター400のほか、液晶ディスプレイのカラーフィルターの製造、有機EL表示装置の発光部分の形成、遺伝子検査等に用いられる生体分子溶液のマイクロアレイの製造など様々な用途の液滴吐出装置として利用することができる。   In the above embodiment, the nozzle substrate manufacturing method and the inkjet head manufacturing method have been described. However, the present invention is not limited to the above embodiment, and is within the scope of the technical idea of the present invention. Various changes can be made. For example, by changing the liquid material discharged from the nozzle hole, in addition to the inkjet printer 400 shown in FIG. 10, it is used for manufacturing a color filter of a liquid crystal display, forming a light emitting portion of an organic EL display device, genetic testing, and the like. It can be used as a droplet discharge device for various uses such as the production of a biomolecule solution microarray.

本発明の一実施の形態の液滴吐出ヘッドの製造方法によって製造された液滴吐出ヘッドの分解斜視図。1 is an exploded perspective view of a droplet discharge head manufactured by a method for manufacturing a droplet discharge head according to an embodiment of the present invention. 図1の液滴吐出ヘッド10の長手方向断面図。FIG. 2 is a longitudinal sectional view of the droplet discharge head 10 of FIG. 1. ノズル基板1の製造工程を示す断面図。Sectional drawing which shows the manufacturing process of the nozzle substrate. 図3に続くノズル基板1の製造工程を示す断面図。Sectional drawing which shows the manufacturing process of the nozzle substrate 1 following FIG. 図4の工程(F)の点線A部分の拡大図。The enlarged view of the dotted-line A part of the process (F) of FIG. 図4に続くノズル基板1の製造工程を示す断面図。Sectional drawing which shows the manufacturing process of the nozzle substrate 1 following FIG. 図5のインク保護膜103の平面図。FIG. 6 is a plan view of the ink protective film 103 in FIG. 5. キャビティ基板2及び電極基板3の製造方法を示す製造工程の断面図。Sectional drawing of the manufacturing process which shows the manufacturing method of the cavity board | substrate 2 and the electrode substrate 3. FIG. 図8に続く製造工程の断面図。Sectional drawing of the manufacturing process following FIG. 本発明の一実施の形態に係るインクジェットヘッド10を使用したインクジェットプリンターの斜視図。1 is a perspective view of an ink jet printer using an ink jet head 10 according to an embodiment of the present invention.

符号の説明Explanation of symbols

1 ノズル基板、1a 吐出面、2 キャビティ基板、2a 絶縁膜、3 電極基板、10 インクジェットヘッド、11 ノズル孔、11a 第1ノズル孔、11b 第2ノズル孔、11c ノズル孔となる凹部、21 圧力室、22 振動板、23 オリフィス、24 リザーバー、25 凹部、26 凹部、27 凹部、28 インク供給孔、29 共通電極、30 電極取り出し部、31 個別電極、31a リード部、31b 端子部、32 凹部、33 インク供給孔、34 封止材、35 駆動制御回路、50 両面接着シート、51 自己剥離層、100 シリコン基板、100a 吐出面、100b 接合面、101 熱酸化膜、101a 第2ノズルとなる部分、102 レジスト膜、102a 第1ノズルとなる部分、103 インク保護膜(酸化膜)、103a 凹部、104 レジスト、104a 開口、105 インク保護膜、106 撥インク膜、110 支持基板、110b 接合面、120 サポートテープ、200 シリコン基板、300 ガラス基板、400 インクジェットプリンター。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Nozzle board | substrate, 1a discharge surface, 2 cavity board | substrate, 2a insulating film, 3 electrode board | substrate, 10 inkjet head, 11 nozzle hole, 11a 1st nozzle hole, 11b 2nd nozzle hole, 11c recessed part used as a nozzle hole, 21 pressure chamber , 22 Diaphragm, 23 Orifice, 24 Reservoir, 25 Recessed part, 26 Recessed part, 27 Recessed part, 28 Ink supply hole, 29 Common electrode, 30 Electrode extracting part, 31 Individual electrode, 31a Lead part, 31b Terminal part, 32 Recessed part, 33 Ink supply hole, 34 sealing material, 35 drive control circuit, 50 double-sided adhesive sheet, 51 self-peeling layer, 100 silicon substrate, 100a ejection surface, 100b bonding surface, 101 thermal oxide film, 101a part to be second nozzle, 102 Resist film, 102a portion to be the first nozzle, 103 ink protective film ( Monolayer), 103a recess 104 resist, 104a opening 105 ink protective layer, 106 an ink repellent layer, 110 a support substrate, 110b bonding surface 120 supports the tape, 200 silicon substrate, 300 a glass substrate, 400 an ink jet printer.

Claims (6)

シリコン基板にドライエッチングを施してノズル孔となる凹部を形成する工程と、
前記シリコン基板の前記凹部の内壁及び前記凹部の形成面に液滴保護膜を形成する工程と、
前記形成面上の前記液滴保護膜の表面に凹凸形状を形成する工程と、
前記凹凸形状が形成された前記液滴保護膜の表面に第1の支持基板を貼り合わせる工程と、
前記第1の支持基板を貼り合わせた面の反対側の面から前記シリコン基板を所望の厚さに薄板化して前記凹部の先端を開口し、ノズル孔を形成する工程と、
前記シリコン基板の前記薄板化された加工面に液滴保護膜を形成し、その表面に撥液膜を形成する工程と、
前記シリコン基板において前記撥液膜が形成された面に第2の支持基板を貼り合わせ、前記第1の支持基板を前記シリコン基板から剥離する工程と、
前記第2の支持基板を前記シリコン基板から剥離する工程と
を備えたことを特徴とするノズル基板の製造方法。
Forming a recess to be a nozzle hole by dry etching the silicon substrate;
Forming a droplet protective film on the inner wall of the recess of the silicon substrate and the formation surface of the recess;
Forming a concavo-convex shape on the surface of the droplet protective film on the formation surface;
A step of attaching a first support substrate to the surface of the droplet protective film on which the uneven shape is formed;
A step of thinning the silicon substrate to a desired thickness from the surface opposite to the surface on which the first support substrate is bonded, opening the tip of the recess, and forming a nozzle hole;
Forming a droplet protective film on the thinned processed surface of the silicon substrate, and forming a liquid repellent film on the surface;
Bonding a second support substrate to the surface of the silicon substrate on which the liquid repellent film is formed, and peeling the first support substrate from the silicon substrate;
And a step of peeling the second support substrate from the silicon substrate.
前記凹凸形状をドライエッチング加工により形成することを特徴とする請求項1記載のノズル基板の製造方法。   The method for manufacturing a nozzle substrate according to claim 1, wherein the uneven shape is formed by dry etching. 前記第2の支持基板を前記シリコン基板から剥離する工程の後に、前記シリコン基板を洗浄する工程を有することを特徴とする請求項1又は請求項2記載のノズル基板の製造方法。   3. The method for manufacturing a nozzle substrate according to claim 1, further comprising a step of cleaning the silicon substrate after the step of peeling the second support substrate from the silicon substrate. 前記第1の支持基板を、接着面に紫外線または熱を与えることによって接着力が低下する自己剥離層を有する両面接着シートを介して前記シリコン基板に貼り合わせることを特徴とする請求項1乃至請求項3の何れかに記載のノズル基板の製造方法。   The first support substrate is bonded to the silicon substrate through a double-sided adhesive sheet having a self-peeling layer whose adhesive strength is reduced by applying ultraviolet light or heat to the adhesive surface. Item 4. A method for manufacturing a nozzle substrate according to Item 3. 前記ノズル孔となる凹部を形成する工程では、液滴の導入口から吐出口に向けて断面積が段階的又は連続的に減少する凹部を形成することを特徴とする請求項1乃至請求項4の何れかに記載のノズル基板の製造方法。   5. The step of forming a concave portion to be a nozzle hole forms a concave portion whose cross-sectional area decreases stepwise or continuously from a droplet introduction port toward a discharge port. A method for producing a nozzle substrate according to any one of the above. 液滴を吐出するための複数のノズル孔と、各ノズル孔に連通して設けられて圧力を加えるための圧力室と、前記圧力室に液滴を供給する液滴供給路と、液滴を吐出するための吐出圧力を前記圧力室に発生させる圧力発生手段とを有する液滴吐出ヘッドの製造方法であって、
前記複数のノズル孔を有するノズル基板を、請求項1乃至請求項5の何れかに記載のノズル基板の製造方法により製造することを特徴とする液滴吐出ヘッドの製造方法。
A plurality of nozzle holes for discharging droplets, a pressure chamber provided in communication with each nozzle hole for applying pressure, a droplet supply path for supplying droplets to the pressure chamber, and a droplet A method for manufacturing a droplet discharge head, comprising pressure generating means for generating a discharge pressure for discharging in the pressure chamber,
6. A method for manufacturing a droplet discharge head, wherein the nozzle substrate having the plurality of nozzle holes is manufactured by the method for manufacturing a nozzle substrate according to any one of claims 1 to 5.
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