JP2010098668A - 差分増幅回路とそれを用いたad変換装置 - Google Patents
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 title claims abstract description 121
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 13
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 abstract description 19
- 230000003321 amplification Effects 0.000 abstract description 9
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 abstract description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 70
- 238000000034 method Methods 0.000 description 16
- 230000008569 process Effects 0.000 description 16
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 14
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 6
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 6
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 6
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 5
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 4
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 3
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 3
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 3
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 3
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000013139 quantization Methods 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
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- H03F3/45076—Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier
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- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/38—DC amplifiers with modulator at input and demodulator at output; Modulators or demodulators specially adapted for use in such amplifiers
- H03F3/387—DC amplifiers with modulator at input and demodulator at output; Modulators or demodulators specially adapted for use in such amplifiers with semiconductor devices only
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- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/06—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters
- H03M1/0617—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by the use of methods or means not specific to a particular type of detrimental influence
- H03M1/0634—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by the use of methods or means not specific to a particular type of detrimental influence by averaging out the errors, e.g. using sliding scale
- H03M1/0656—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by the use of methods or means not specific to a particular type of detrimental influence by averaging out the errors, e.g. using sliding scale in the time domain, e.g. using intended jitter as a dither signal
- H03M1/066—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by the use of methods or means not specific to a particular type of detrimental influence by averaging out the errors, e.g. using sliding scale in the time domain, e.g. using intended jitter as a dither signal by continuously permuting the elements used, i.e. dynamic element matching
- H03M1/0663—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by the use of methods or means not specific to a particular type of detrimental influence by averaging out the errors, e.g. using sliding scale in the time domain, e.g. using intended jitter as a dither signal by continuously permuting the elements used, i.e. dynamic element matching using clocked averaging
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- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2203/00—Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
- H03F2203/45—Indexing scheme relating to differential amplifiers
- H03F2203/45512—Indexing scheme relating to differential amplifiers the FBC comprising one or more capacitors, not being switched capacitors, and being coupled between the LC and the IC
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/12—Analogue/digital converters
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Abstract
【解決手段】差分増幅回路1は、帰還容量を有し、アナログ入力信号を増幅してアナログ出力信号を出力する演算増幅器20と、演算増幅器20の入力端子の仮想接地点に接続され、所定の変調制御信号に基づいて、入力される1対のアナログ差動信号のうちの1つの入力信号を交互に選択するように切り替えて出力する変調回路2とを備えて構成される。差分増幅回路1は、所定の入力レベル限定範囲でかつ上記変調制御信号のタイミングで上記仮想接地点の電位から開始するように、上記アナログ入力信号の互いに異なる極性の信号に交互に折り返して増幅する。さらに、AD変換器3及びデジタル復調回路4を備えてAD変換装置を構成し、もしくはAT変換器7及びデジタル信号処理回路8を備えてAD変換装置を構成する。
【選択図】図1
Description
帰還容量を有し、アナログ入力信号を増幅してアナログ出力信号を出力する演算増幅器と、
上記演算増幅器の入力端子の仮想接地点に接続され、所定の変調制御信号に基づいて、入力される1対のアナログ差動信号のうちの1つの入力信号を交互に選択するように切り替えて出力する変調手段とを備えた差分増幅回路であって、
上記差分増幅回路は、所定の入力レベル限定範囲でかつ上記変調制御信号のタイミングで上記仮想接地点の電位から開始するように、上記アナログ入力信号の互いに異なる極性の信号に交互に折り返して増幅することを特徴とする。
上記差分増幅回路を備えたAD変換装置であって、
上記演算増幅器からのアナログ出力信号をデジタル信号にAD変換するAD変換手段と、
上記AD変換手段からのデジタル信号を上記変調制御信号のタイミングで極性を反転しかつ仮想接地点にオフセットし、前のタイミングのデジタル信号の信号レベルに加算することにより、上記アナログ入力信号の信号レベルに対応したデジタル信号を復調するデジタル復調手段とをさらに備えたことを特徴とする。
上記差分増幅回路を備えたAD変換装置であって、
上記演算増幅器からのアナログ出力信号を所定の基準値と比較して比較結果信号を出力する比較手段と、
上記比較手段からの比較結果信号に基づいてその変化のタイミングを示すAT変換信号を発生して出力するとともに、上記AT変換信号を変調制御信号として上記変調手段に出力し、上記アナログ入力信号を復調するために上記アナログ入力信号の増減に応じて変化する復調増減制御信号を発生して出力する変調制御手段と、
上記変調制御手段からのAT変換信号を、所定のデータクロックのタイミングでデジタル信号であるTD変換信号に変換するTD変換手段と、
上記TD変換手段からのAT変換信号を、上記データクロック及び復調増減制御信号を用いて、上記アナログ入力信号に対応する信号レベルを有するデジタルAD変換復調信号に復調するデジタル復調手段とをさらに備えたことを特徴とする。
上記TD変換手段はさらに、上記比較手段からの中間の比較結果信号を、上記データクロックのタイミングでデジタル信号である中間の比較結果信号に変換し、
上記デジタル復調手段は、上記TD変換手段からのAT変換信号を、上記データクロック、復調増減制御信号及び中間の比較結果信号を用いて、上記アナログ入力信号に対応する信号レベルを有するデジタルAD変換復調信号に復調することを特徴とする。
(1)仮想接地点に変調回路を挿入した帰還容量回路を有する演算増幅器を用いて構成したので、低電圧で動作可能であって、プロセスの微細化が進むとデジタル回路で構成された後段のAD変換器の高速化によってAD変換装置全体のSNRが大幅に改善する。
(2)例えばコンパレータである比較手段の多ビット化によって基準電位間の電圧分解能、すなわちAD変換器の電圧分解能が増加してAD変換装置のSNRが大幅に向上する。
(3)例えばコンパレータである比較手段の基準電圧によって演算増幅器の出力振幅範囲を自由に設定できるため、出力信号の線形性要求仕様を緩和できる。
(4)演算増幅器の出力波形は基準電圧の範囲内に折り返されるため、デジタル領域での復調時に電源電圧よりも大きな電圧振幅を持つ信号を出力できる。従って、当該回路の出力ダイナミックレンジを大幅に改善できる。
(5)演算増幅器の仮想接地点の信号振幅は(1/利得)に圧縮されるため、電源電圧以上の信号振幅を入力可能であり、当該回路は回路入力部にレベルシフト回路や減衰器を必要としない。これにより、回路構成がきわめて簡単である。
図1は本発明の第1の実施形態に係るAD変換装置の構成を示すブロック図である。また、図2は図1のAD変換装置の動作を示す各信号の信号波形図であって、図2(a)は図1の差分増幅回路1に入力されるアナログ信号Vin+,Vin−の信号波形図であり、図2(b)は図1の差分増幅回路1に入力される変調制御信号の信号波形図であり、図2(c)は図1の差分増幅回路1からの出力信号DeltAMPoutの信号波形図であり、図2(d)は図1のAD変換器3に入力される動作クロックの信号波形図であり、図2(e)はAD変換器3からのAD変換信号ADCoutの信号波形図であり、図2(f)は図1のデジタル復調回路4に入力される復調制御信号の信号波形図であり、図2(g)は図1のデジタル復調回路4からのAD変換復調信号ADDoutの信号波形図である。
(1)仮想接地点に変調回路2を挿入した帰還キャパシタCfを有する演算増幅器20を用いて構成したので、低電圧で動作可能であって、プロセスの微細化が進むとデジタル回路で構成された後段のAD変換器3の高速化によってAD変換装置全体のSNRを大幅に改善する。
(2)データクロックのクロックレートを変化することによって差分増幅回路1の出力振幅範囲を自由に設定できるため、出力信号の線形性要求仕様を緩和できる。
(3)差分増幅回路1の出力波形は所定範囲内に折り返されるため、デジタル領域での復調時に電源電圧よりも大きな電圧振幅を持つ信号を出力できる。従って、当該差分増幅回路1の出力ダイナミックレンジを大幅に改善できる。
(4)差分増幅回路1の仮想接地点の信号振幅は(1/利得)に圧縮されるため、電源電圧以上の信号振幅を入力可能であり、当該回路は回路入力部にレベルシフト回路や減衰器を必要としない。これにより、回路構成がきわめて簡単である。
図3は本発明の第2の実施形態に係るAD変換装置の構成を示すブロック図であり、図4は図3の変調制御回路22の構成を示すブロック図である。また、図5は図3のAD変換装置の動作を示す各信号の信号波形図であって、図5(a)は図3の差分増幅回路1に入力されるアナログ信号Vin+,Vin−の信号波形図であり、図5(b)は図3の差分増幅回路1からの出力信号DeltAMPoutの信号波形図であり、図5(c)は図3のコンパレータ回路21−2からの出力信号Compout2の信号波形図であり、図5(d)は図3のコンパレータ回路21−1からの出力信号Compout1の信号波形図であり、図5(e)は図3の変調制御回路22からのAT変換信号ATCout及び変調制御信号の信号波形図であり、図5(f)は図3の変調制御回路22からデジタル復調回路32に入力される復調増減制御信号の信号波形図であり、図5(g)は図3のTD変換器31からのTD変換信号TDCoutの信号波形図であり、図5(h)は図3のデジタル復調回路32からのAD変換復調信号ADDoutの信号波形図である。
(1)AD変換器3及びデジタル復調回路4に代えて、AT変換器7、デジタル信号処理回路8及びデータクロック発生器5を備えたこと。
(2)AT変換器7の変調制御回路22はAT変換信号ATCoutをデジタル信号処理回路8に出力するとともに、当該AT変換信号ATCoutを変調制御信号として変調回路2に出力する。また、変調制御回路22は、変調回路2により変調された信号を復調するために、AD変換信号の復調信号レベルを増減するための復調増減制御信号を発生してデジタル復調回路32に出力する。
(3)データクロック発生器5は、入力される1対の差動信号のクロックとは異なるデータクロックを発生して、AT変換信号ATCoutを当該データクロックを用いてデジタル化して復調するためにTD変換器31及びデジタル復調回路32に出力する。
以下、上記相違点について詳細説明する。
(1)仮想接地点に変調回路2を挿入した帰還容量回路を有する演算増幅器20を用いて構成したので、低電圧で動作可能であって、プロセスの微細化が進むとデジタル回路で構成された後段のATD変換器7,31の高速化によってAD変換装置全体のSNRが大幅に改善する。
(2)コンパレータ回路21−1,21−2の基準電圧によって演算増幅器20の出力振幅範囲を自由に設定できるため、出力信号の線形性要求仕様を緩和できる。
(3)演算増幅器20の出力波形は基準電圧の範囲内に折り返されるため、デジタル領域での復調時に電源電圧よりも大きな電圧振幅を持つ信号を出力できる。従って、当該回路の出力ダイナミックレンジを大幅に改善できる。
(4)演算増幅器20の仮想接地点の信号振幅は(1/利得)に圧縮されるため、電源電圧以上の信号振幅を入力可能であり、当該回路は回路入力部にレベルシフト回路や減衰器を必要としない。これにより、回路構成がきわめて簡単である。
図6は本発明の第3の実施形態に係るAD変換装置の構成を示すブロック図である。また、図7は図6のAD変換装置の動作を示す各信号の信号波形図であって、図7(a)は図6の差分増幅回路1に入力されるアナログ信号Vin+,Vin−の信号波形図であり、図7(b)は図6の差分増幅回路1からの出力信号DeltAMPoutの信号波形図であり、図7(c)は図6のコンパレータ回路21−2からの出力信号Compout2の信号波形図であり、図7(d)は図6のコンパレータ回路21−1からの出力信号Compout1の信号波形図であり、図7(e)は図6のコンパレータ回路23−n(n=1,2,…,N)からの出力信号Compoutmnの信号波形図であり、図7(f)は図6の変調制御回路22からのAT変換信号ATCout及び変調制御信号の信号波形図であり、図7(g)は図6の変調制御回路22からの復調増減制御信号の信号波形図であり、図7(h)は図6のTD変換器31MからのTD変換信号TDCoutの信号波形図であり、図7(i)は図6のTD変換器31Mからのマルチビット比較結果信号TDCoutmnの信号波形図であり、図7(j)は図6のデジタル復調回路32MからのAD変換復調信号ADDoutの信号波形図である。さらに、図8は図7(j)のAD変換復調信号ADDoutの拡大図である。なお、図7(j)及び図8は図6の回路動作をわかりやすく表した模式図であって図6のコンパレータ回路21−1,21−2,23−nのみが動作しているときの波形を図示している。ここで、すべてのコンパレータ回路21−1,21−2,23−1〜23−Nが動作するときは、差分増幅回路1の出力信号DeltAMPoutがしきい値Vref1〜VrefNを超える毎にAD変換信号ADDoutが所定の変化量ΔV/Nずつ変化する。
(1)図3のAT変換器7では、2つの基準電圧VrefL,VrefHを用いているが、第3の実施形態に係るAT変換器7Mでは、当該2つの基準電圧VrefL,VrefHの間に位置する複数N個の基準電圧Vrefn(n=1,2,…,N)の基準電圧源26−1〜26−Nをそれぞれ有するコンパレータ回路23−1〜23−Nをさらに備えてマルチビット化を行ったこと。
(2)図3のデジタル信号処理回路8に代えて、上記マルチビット化に対応するデジタル信号処理回路8Mを備えたこと。
以下、当該相違点について説明する。
図9は本発明の第4の実施形態に係るAD変換装置の構成を示すブロック図である。第4の実施形態に係るAD変換装置は、図1の第1の実施形態に係るAD変換装置を全差動化したことを特徴とし、具体的には、図1の第1の実施形態に係るAD変換装置に比較して以下の点が異なる。
(1)図1の差分増幅回路1に代えて、全差動化された差分増幅回路1Aを備えたこと。
(2)図1のAD変換器3に代えて全差動型AD変換器3Aを備えたこと。
以下、当該相違点について説明する。
図10は本発明の第5の実施形態に係るAD変換装置の構成を示すブロック図である。第5の実施形態に係るAD変換装置は、図3の第2の実施形態に係るAD変換装置を全差動化したことを特徴とし、具体的には、図3の第2の実施形態に係るAD変換装置に比較して以下の点が異なる。
(1)図3の差分増幅回路1に代えて、全差動化された差分増幅回路1Aを備えたこと。
(2)図3のAD変換器3に代えて全差動型AT変換器7Aを備えたこと。
以下、当該相違点について説明する。
図11は本発明の第6の実施形態に係るAD変換装置の構成を示すブロック図である。第6の実施形態に係るAD変換装置は、図6の第3の実施形態に係るAD変換装置を全差動化したことを特徴とし、具体的には、図6の第3の実施形態に係るAD変換装置に比較して以下の点が異なる。
(1)図6の差分増幅回路1に代えて、全差動化された差分増幅回路1Aを備えたこと。
(2)図6のAT変換器7Mに代えて全差動型AT変換器7AMを備えたこと。
また、第6の実施形態に係るAD変換装置は、図10の第5の実施形態に係るAD変換装置をマルチビット化したことを特徴とし、具体的には、図10の第5の実施形態に係るAD変換装置に比較して以下の点が異なる。
(1)図6のAT変換器7Aに代えて、マルチビット化されたAT変換器7AMを備えたこと。
(2)図6のデジタル信号処理回路8に代えて、マルチビット化されたデジタル信号処理回路8Mを備えたこと。
以下、当該相違点について説明する。
本実施形態によれば、仮想接地電位点に変調回路を挿入した容量フィードバック構成の差分増幅回路と、その出力電圧を検出するコンパレータ回路と、当該コンパレータ回路により応答した時間を検出するTD変換器によってAD変換装置を構成する。コンパレータ回路に差分増幅回路の出力信号と基準電圧VrefH,VrefLを入力し、出力信号が基準電圧範囲を超えるときに変調回路の信号パスを切り替えるよう制御する。この制御によって、差分増幅回路の出力波形は基準電圧の範囲内に折り返されるため、線形出力可能な範囲のみを使用できる。ここで、基準電圧の電位差はAD変換装置の電圧分解能に相当する。基準電位差及び出力波形の折り返し回数とタイミングのデジタルデータを取得することで、入力信号の電圧データと時間データを決定できるため、本発明の実施形態に係る回路装置はAD変換装置として動作する。
(1)仮想接地点に変調回路を挿入した帰還容量回路を有する演算増幅器を用いて構成したので、低電圧で動作可能であって、プロセスの微細化が進むとデジタル回路で構成された後段のAD変換器の高速化によってAD変換装置全体のSNRが大幅に改善する。
(2)例えばコンパレータである比較手段の多ビット化によって基準電位間の電圧分解能、すなわちAD変換器の電圧分解能が増加してAD変換装置のSNRが大幅に向上する。
(3)例えばコンパレータである比較手段の基準電圧によって演算増幅器の出力振幅範囲を自由に設定できるため、出力信号の線形性要求仕様を緩和できる。
(4)演算増幅器の出力波形は基準電圧の範囲内に折り返されるため、デジタル領域での復調時に電源電圧よりも大きな電圧振幅を持つ信号を出力できる。従って、当該回路の出力ダイナミックレンジを大幅に改善できる。
(5)演算増幅器の仮想接地点の信号振幅は(1/利得)に圧縮されるため、電源電圧以上の信号振幅を入力可能であり、当該回路は回路入力部にレベルシフト回路や減衰器を必要としない。これにより、回路構成がきわめて簡単である。
2,2A…変調回路、
3,3A…AD変換器、
4,4A…デジタル復調回路、
5…データクロック発生器、
6…動作クロック発生器、
7,7M,7AM…AT変換器、
8,8M…デジタル信号処理回路、
10〜14…スイッチ、
20,20A…演算増幅器、
21−1,21−2,23−1〜23−N…コンパレータ回路、
22…変調制御回路、
25−1,25−2,26−1〜26−N…基準電圧源、
31,31M…TD変換器、
32,32M…デジタル復調回路、
41…オアゲート、
42…トグルフリップフロップ(TFF)、
43…微分回路、
44,45…遅延器、
46…論理回路。
Claims (7)
- 帰還容量を有し、アナログ入力信号を増幅してアナログ出力信号を出力する演算増幅器と、
上記演算増幅器の入力端子の仮想接地点に接続され、所定の変調制御信号に基づいて、入力される1対のアナログ差動信号のうちの1つの入力信号を交互に選択するように切り替えて出力する変調手段とを備えた差分増幅回路であって、
上記差分増幅回路は、所定の入力レベル限定範囲でかつ上記変調制御信号のタイミングで上記仮想接地点の電位から開始するように、上記アナログ入力信号の互いに異なる極性の信号に交互に折り返して増幅することを特徴とする差分増幅回路。 - 請求項1記載の差分増幅回路を備えたAD変換装置であって、
上記演算増幅器からのアナログ出力信号をデジタル信号にAD変換するAD変換手段と、
上記AD変換手段からのデジタル信号を上記変調制御信号のタイミングで極性を反転しかつ仮想接地点にオフセットし、前のタイミングのデジタル信号の信号レベルに加算することにより、上記アナログ入力信号の信号レベルに対応したデジタル信号を復調するデジタル復調手段とをさらに備えたことを特徴とするAD変換装置。 - 請求項1記載の差分増幅回路を備えたAD変換装置であって、
上記演算増幅器からのアナログ出力信号を所定の基準値と比較して比較結果信号を出力する比較手段と、
上記比較手段からの比較結果信号に基づいてその変化のタイミングを示すAT変換信号を発生して出力するとともに、上記AT変換信号を変調制御信号として上記変調手段に出力し、上記アナログ入力信号を復調するために上記アナログ入力信号の増減に応じて変化する復調増減制御信号を発生して出力する変調制御手段と、
上記変調制御手段からのAT変換信号を、所定のデータクロックのタイミングでデジタル信号であるTD変換信号に変換するTD変換手段と、
上記TD変換手段からのAT変換信号を、上記データクロック及び復調増減制御信号を用いて、上記アナログ入力信号に対応する信号レベルを有するデジタルAD変換復調信号に復調するデジタル復調手段とをさらに備えたことを特徴とするAD変換装置。 - 上記比較手段は、上記演算増幅器からのアナログ出力信号を所定の最大基準値及び最小基準値と比較して比較結果信号を出力することを特徴とする請求項3記載のAD変換装置。
- 上記比較手段はさらに、上記演算増幅器からのアナログ出力信号を、上記最大基準値と上記最小基準値との間の複数の基準値と比較して、上記最大基準値と上記最小基準値との間の中間の比較結果信号を出力し、
上記TD変換手段はさらに、上記比較手段からの中間の比較結果信号を、上記データクロックのタイミングでデジタル信号である中間の比較結果信号に変換し、
上記デジタル復調手段は、上記TD変換手段からのAT変換信号を、上記データクロック、復調増減制御信号及び中間の比較結果信号を用いて、上記アナログ入力信号に対応する信号レベルを有するデジタルAD変換復調信号に復調することを特徴とするAD変換装置。 - 上記差分増幅回路及び上記AD変換手段は全差動化回路で構成されたことを特徴とする請求項2記載のAD変換装置。
- 上記差分増幅回路及び上記比較手段は全差動化回路で構成されたことを特徴とする請求項3乃至5のうちのいずれか1つに記載のAD変換装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2008269814A JP4564559B2 (ja) | 2008-10-20 | 2008-10-20 | 差分増幅回路とそれを用いたad変換装置 |
| US12/582,305 US7907076B2 (en) | 2008-10-20 | 2009-10-20 | Differential amplifier circuit amplifying differential signals with selectively switching between differential signals and AD converter apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2008269814A JP4564559B2 (ja) | 2008-10-20 | 2008-10-20 | 差分増幅回路とそれを用いたad変換装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2010098668A true JP2010098668A (ja) | 2010-04-30 |
| JP4564559B2 JP4564559B2 (ja) | 2010-10-20 |
Family
ID=42116956
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2008269814A Expired - Fee Related JP4564559B2 (ja) | 2008-10-20 | 2008-10-20 | 差分増幅回路とそれを用いたad変換装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US7907076B2 (ja) |
| JP (1) | JP4564559B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP2012074919A (ja) * | 2010-09-29 | 2012-04-12 | Handotai Rikougaku Kenkyu Center:Kk | Ad変換装置 |
| JP2013183292A (ja) * | 2012-03-01 | 2013-09-12 | Ricoh Co Ltd | 信号増幅回路 |
| JP2013223197A (ja) * | 2012-04-19 | 2013-10-28 | Japan Radio Co Ltd | アナログデジタル変換回路 |
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| WO2022138671A1 (ja) * | 2020-12-23 | 2022-06-30 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 磁気センサ及び生体磁気計測装置 |
Families Citing this family (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US7888996B1 (en) * | 2009-10-27 | 2011-02-15 | Texas Instruments Incorporated | Chopper stabilized operational amplifier |
| EP2375566B1 (en) * | 2010-04-12 | 2014-11-26 | Dialog Semiconductor GmbH | Duplicate feedback network in class D amplifiers |
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| JP5570377B2 (ja) * | 2010-09-30 | 2014-08-13 | キヤノン株式会社 | 固体撮像装置 |
| JP5801231B2 (ja) | 2012-03-22 | 2015-10-28 | 株式会社東芝 | 伝送システム、復号装置、メモリコントローラおよびメモリシステム |
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| US11632122B2 (en) | 2021-01-07 | 2023-04-18 | AyDeeKay LLC | Stable low-power analog-to-digital converter (ADC) reference voltage |
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-
2008
- 2008-10-20 JP JP2008269814A patent/JP4564559B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2009
- 2009-10-20 US US12/582,305 patent/US7907076B2/en not_active Expired - Fee Related
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| JP2022100056A (ja) * | 2020-12-23 | 2022-07-05 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 磁気センサ及び生体磁気計測装置 |
| JP7344517B2 (ja) | 2020-12-23 | 2023-09-14 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 磁気センサ及び生体磁気計測装置 |
| US12399233B2 (en) | 2020-12-23 | 2025-08-26 | National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology | Magnetic sensor and biomagnetism measuring apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20100103015A1 (en) | 2010-04-29 |
| JP4564559B2 (ja) | 2010-10-20 |
| US7907076B2 (en) | 2011-03-15 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100709 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100720 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100730 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130806 Year of fee payment: 3 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |