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JP2010075378A - Inspection device - Google Patents

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JP2010075378A
JP2010075378A JP2008246200A JP2008246200A JP2010075378A JP 2010075378 A JP2010075378 A JP 2010075378A JP 2008246200 A JP2008246200 A JP 2008246200A JP 2008246200 A JP2008246200 A JP 2008246200A JP 2010075378 A JP2010075378 A JP 2010075378A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
scope
light
luminance value
unit
inspection
Prior art date
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Pending
Application number
JP2008246200A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Noriko Ota
紀子 太田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hoya Corp
Original Assignee
Hoya Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hoya Corp filed Critical Hoya Corp
Priority to JP2008246200A priority Critical patent/JP2010075378A/en
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an inspection system for accurately obtaining the luminance of each pixel in an image signal obtained in an endoscope system. <P>SOLUTION: The inspection system includes an inspection device comprising a holder part for holding the distal end of a scope in the fixed state, and a reflection part disposed at a position facing the distal end of the scope when the scope is fixed to the holder part. The inner wall of the reflection part is hemispherical to reflect the light emitted from a light source used for illumination and irradiated via the scope on the inner wall. The inspection system also has a measuring device for calculating the luminance of each pixel in the image signal obtained by the scope capturing the incident light reflected from the reflection part and via an object optical system of the scope. The scope is attached to the holder part and the positional relation between the scope and the reflection part is set so that the optical axis of the object optical system is perpendicular to the plane including a circle constituting an opening of the hemisphere of the reflection part and that the optical axis passes through the center of the circle. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、検査システムに関し、特に内視鏡システムの照明関連部材の検査を行うシステムに関する。   The present invention relates to an inspection system, and more particularly to a system for inspecting illumination-related members of an endoscope system.

撮像素子が搭載されたスコープを備えた内視鏡システムにおいて、開発時などに、内視鏡システムの特性に関する検査が行われる。例えば、ホワイトバランスなど内視鏡システムの画像処理特性の検査が行われる。かかる検査においては、検査に適したチャート(例えばホワイトバランスチャート)を撮像し、得られた画像信号などから検査に必要な値を測定する。例えば、特許文献1は、内部に設けられたカラーチャートなどをスコープで撮像して画像処理特性の検査を行うための検査装置(測定容器)を開示する。
特開平05−137693号公報
In an endoscope system having a scope on which an image sensor is mounted, an inspection relating to the characteristics of the endoscope system is performed during development. For example, inspection of image processing characteristics of an endoscope system such as white balance is performed. In such an inspection, a chart (for example, a white balance chart) suitable for the inspection is imaged, and a value necessary for the inspection is measured from the obtained image signal or the like. For example, Patent Document 1 discloses an inspection device (measuring container) for inspecting image processing characteristics by imaging a color chart or the like provided therein with a scope.
Japanese Patent Laid-Open No. 05-137693

しかし、特許文献1の装置のように、平面のチャートを撮像した場合には、チャートの中心部と周辺部とではチャートと対物光学系との間の距離差が生じ、反射光の到達距離差に基づく周辺減光が起こり、撮像により得られた画像信号における画素ごとの輝度値分布を正確に求めることが出来ない。このため、光源部、ライトガイド、及び配光レンズなど、照明関連部材の検査を正しく行うことが出来ない。   However, when an image of a flat chart is captured as in the apparatus of Patent Document 1, a distance difference between the chart and the objective optical system is generated between the central portion and the peripheral portion of the chart, and a difference in reach of reflected light is reached. As a result, peripheral brightness dimming occurs, and the luminance value distribution for each pixel in the image signal obtained by imaging cannot be obtained accurately. For this reason, it is impossible to correctly inspect illumination-related members such as the light source unit, the light guide, and the light distribution lens.

したがって本発明の目的は、内視鏡システムで得られた画像信号における画素ごとの輝度値を正確に得る検査システムを提供することである。   Accordingly, an object of the present invention is to provide an inspection system that accurately obtains a luminance value for each pixel in an image signal obtained by an endoscope system.

本発明に係る内視鏡システムの検査システムは、スコープの先端部を固定した状態で保持する保持部と、スコープが保持部に固定された時に、スコープの先端部と対向する位置に設けられ、内壁が球冠形状を有し、スコープを介した照明に使用する光源部から出射され、スコープを介して照射された光を、内壁で反射する反射部とを有する検査装置と、反射部が反射した光であって、スコープの対物光学系を介して入射した光を、スコープで撮像して得られた画像信号における画素ごとの輝度値を算出する測定装置とを備え、対物光学系の光軸が、反射部の球冠の開口部を構成する円を含む平面と垂直で且つ、円の中心を通るように、スコープが保持部に取り付けられ、且つスコープと反射部との位置関係が設定される。   The inspection system of the endoscope system according to the present invention is provided at a position facing the distal end portion of the scope when the scope is fixed to the holding portion, the holding portion that holds the scope distal end portion in a fixed state, The inner wall has a spherical crown shape, the inspection device has a reflection unit that reflects the light emitted from the light source unit used for illumination through the scope and irradiated through the scope, and the reflection unit reflects the light. A measuring device that calculates a luminance value for each pixel in an image signal obtained by imaging the light incident through the objective optical system of the scope with the scope, and the optical axis of the objective optical system However, the scope is attached to the holding part so as to be perpendicular to the plane including the circle constituting the opening of the spherical crown of the reflecting part and through the center of the circle, and the positional relationship between the scope and the reflecting part is set. The

球体の一部を示す球冠形状の反射部を含む検査装置を使って、スコープから照射される光の反射光を撮像する。反射部のいずれの部位からの反射光の対物光学系への到達距離差が殆ど発生しないため、かかる到達距離差に基づく周辺減光のない状態で反射光を撮像することが出来、撮像により得られた画像信号における画素ごとの輝度値を正確に算出することが可能になる。   The reflected light of the light emitted from the scope is imaged using an inspection device including a spherical crown-shaped reflecting portion that shows a part of the sphere. Since there is almost no difference in the arrival distance of the reflected light from any part of the reflecting part to the objective optical system, the reflected light can be imaged in the absence of peripheral dimming based on the difference in the arrival distance. The luminance value for each pixel in the obtained image signal can be accurately calculated.

好ましくは、測定装置は、画像信号におけるピーク輝度値、及びピーク輝度値に対応する画素位置を算出する。   Preferably, the measuring device calculates a peak luminance value in the image signal and a pixel position corresponding to the peak luminance value.

撮像により得られた画像上のピーク輝度値、ピーク輝度値に対応する画素位置、及び周辺減光度合いを正確に算出することが可能になる。   It is possible to accurately calculate the peak luminance value on the image obtained by imaging, the pixel position corresponding to the peak luminance value, and the degree of ambient light attenuation.

さらに好ましくは、ピーク輝度値、及びピーク輝度値に対応する画素位置は、光源部、光源部から出射された光をスコープの先端部まで導くライトガイド、及び光源部から出射されライトガイドで導光された光を反射部に向けて照射する配光レンズの少なくとも1つの不具合を特定するために使用される。   More preferably, the peak luminance value and the pixel position corresponding to the peak luminance value are guided by the light source unit, a light guide for guiding the light emitted from the light source unit to the distal end of the scope, and the light guide emitted from the light source unit. It is used to identify at least one defect of the light distribution lens that irradiates the reflected light toward the reflecting portion.

これらの算出結果に基づいて、光源部、ライトガイド、及び配光レンズを含む照明関連部材の不具合を特定することが可能になる。   Based on these calculation results, it is possible to identify defects in the illumination-related members including the light source unit, the light guide, and the light distribution lens.

また、好ましくは、対物光学系と、反射部の配光レンズから照射される光を反射する領域のいずれの部分から、対物光学系への距離が等しくなるように、スコープが保持部に取り付けられ、且つスコープと反射部との位置関係が設定される。   Preferably, the scope is attached to the holding unit so that the distance from the objective optical system and the part that reflects the light irradiated from the light distribution lens of the reflecting unit to the objective optical system is equal. In addition, the positional relationship between the scope and the reflecting portion is set.

反射部からの反射光の対物光学系への到達距離差が最も少ない状態に出来、かかる到達距離差に基づく周辺減光の最も少ない状態で反射光を撮像することが可能になる。   It is possible to make the difference in the arrival distance of the reflected light from the reflection portion to the objective optical system the smallest, and it is possible to image the reflected light with the least amount of peripheral light reduction based on the difference in the arrival distance.

以上のように本発明によれば、内視鏡システムで得られた画像信号における画素ごとの輝度値を正確に得る検査システムを提供することができる。   As described above, according to the present invention, it is possible to provide an inspection system that accurately obtains a luminance value for each pixel in an image signal obtained by an endoscope system.

以下、本実施形態における内視鏡システムの構成について、図を用いて説明する。本実施形態に係る内視鏡システム1は、スコープ10、プロセッサ30、及びモニタ50を備える(通常観察時、図1参照)。また、後述するように、内視鏡システム1の開発時や製造時には、画像処理特性の検査を行うために、内視鏡システム1に検査装置70や測定装置90が取り付けられる。スコープ10は、光ファイバーケーブルなどのライトガイド11、配光レンズ12、対物レンズや視感度補正フィルタを含む対物光学系13、CCDなどの撮像素子を含む撮像部14、及び映像信号処理部15を有する。   Hereinafter, the configuration of the endoscope system according to the present embodiment will be described with reference to the drawings. The endoscope system 1 according to the present embodiment includes a scope 10, a processor 30, and a monitor 50 (during normal observation, refer to FIG. 1). Further, as will be described later, when the endoscope system 1 is developed or manufactured, an inspection apparatus 70 and a measurement apparatus 90 are attached to the endoscope system 1 in order to inspect image processing characteristics. The scope 10 includes a light guide 11 such as an optical fiber cable, a light distribution lens 12, an objective optical system 13 including an objective lens and a visibility correction filter, an imaging unit 14 including an imaging element such as a CCD, and a video signal processing unit 15. .

プロセッサ30は、光源部31、ビデオ信号処理部33、プロセッサ30の各部を制御する制御部35を有する。プロセッサ30ではスコープ10により取得され映像信号処理部15で前段の画像処理が施された画像信号に対し、モニタ50で表示可能な画像(ビデオ信号)を生成する後段の画像処理が施される。   The processor 30 includes a light source unit 31, a video signal processing unit 33, and a control unit 35 that controls each unit of the processor 30. In the processor 30, subsequent image processing for generating an image (video signal) that can be displayed on the monitor 50 is performed on the image signal acquired by the scope 10 and subjected to the previous image processing in the video signal processing unit 15.

通常観察時、プロセッサ30には、モニタ50が接続される。モニタ50は、プロセッサ30で画像処理された、所定のビデオ信号の規格に準拠した画像を表示する表示手段である。プロセッサ30には、モニタ50の他に、プロセッサ30で画像処理された画像データ等を記録する外部記憶装置や、画像を出力(プリントアウト)するプリンタなどが接続されてもよい。   A monitor 50 is connected to the processor 30 during normal observation. The monitor 50 is a display unit that displays an image that has been subjected to image processing by the processor 30 and that conforms to a predetermined video signal standard. In addition to the monitor 50, the processor 30 may be connected to an external storage device that records image data processed by the processor 30, a printer that outputs (prints out) an image, and the like.

光源部31から出射された光は、ライトガイド11、配光レンズ12を介して、スコープ10の先端部から被観察体に向けて照射される。光源部31は、光を出射する光源31aと絞り31bを有し、光源31aからライトガイド11、配光レンズ12を介して被観察体に照射される光量は、絞り31bの開度によって調整される。   The light emitted from the light source unit 31 is irradiated from the distal end portion of the scope 10 toward the object to be observed through the light guide 11 and the light distribution lens 12. The light source unit 31 includes a light source 31a that emits light and a diaphragm 31b. The amount of light emitted from the light source 31a to the object to be observed through the light guide 11 and the light distribution lens 12 is adjusted by the opening of the diaphragm 31b. The

被観察体からの反射光などは対物光学系13を介して撮像部14の撮像素子に入射する。撮像素子では入射した光を光電変換し、画像信号を出力する。撮像部14から出力された画像信号は、映像信号処理部15において、YC分離、ホワイトバランス調整、色補正など前段の画像処理が施され、プロセッサ30のビデオ信号処理部33に出力される。プロセッサ30では、ビデオ信号処理部33において、後段の画像処理が施されて、モニタ50で出力可能なビデオ信号にされる。   Reflected light from the object to be observed enters the image sensor of the image capturing unit 14 via the objective optical system 13. The image sensor photoelectrically converts the incident light and outputs an image signal. The image signal output from the imaging unit 14 is subjected to the preceding image processing such as YC separation, white balance adjustment, and color correction in the video signal processing unit 15, and is output to the video signal processing unit 33 of the processor 30. In the processor 30, the video signal processing unit 33 performs subsequent image processing to obtain a video signal that can be output by the monitor 50.

本実施形態では、スコープ10やプロセッサ30の開発時や製造時に、検査装置70、及び測定装置90を使って、内視鏡システム1における光源部31、ライトガイド11、及び配光レンズ12を含む照明関連部材の不具合を特定する明るさ検査が行われる(図2参照)。検査装置70、及び測定装置90は、内視鏡システム1の通常観察時には用いられない(図1参照)。検査装置70は、明るさ検査時にスコープ10の先端部を固定した状態で保持する保持部71、及びスコープ10の配光レンズ12から照射された光を対物光学系13に向けて反射する反射部75を有する。測定装置90は、プロセッサ30から出力されるビデオ信号に基づいて、画素ごとの輝度値を算出するPCなどである。   In the present embodiment, when the scope 10 and the processor 30 are developed and manufactured, the light source unit 31, the light guide 11, and the light distribution lens 12 in the endoscope system 1 are included using the inspection device 70 and the measurement device 90. A brightness inspection is performed to identify defects in lighting-related members (see FIG. 2). The inspection device 70 and the measurement device 90 are not used during normal observation of the endoscope system 1 (see FIG. 1). The inspection device 70 includes a holding unit 71 that holds the distal end portion of the scope 10 in a fixed state during a brightness inspection, and a reflection unit that reflects the light emitted from the light distribution lens 12 of the scope 10 toward the objective optical system 13. 75. The measuring device 90 is a PC that calculates a luminance value for each pixel based on the video signal output from the processor 30.

保持部71は、スコープ10の先端部を所定位置に固定して、対物光学系13と反射部75との距離を一定に保つ部材である。反射部75は、内壁に拡散反射性白色塗料が塗布された半球体で構成される。反射部75の反射面は、略完全拡散反射面(R(λ)=1)で構成される。明るさ検査時に、スコープ10の先端部が反射部75の内壁と対向し、対物光学系13の光軸LXが、反射部75の半球体の開口部を構成する円を含む平面と垂直で且つ、該円の中心を通る位置関係になるように、スコープ10が保持部71に取り付けられ、且つスコープ10と反射部75との位置関係が設定される。   The holding portion 71 is a member that fixes the distal end portion of the scope 10 at a predetermined position and keeps the distance between the objective optical system 13 and the reflecting portion 75 constant. The reflection part 75 is comprised by the hemisphere body by which the diffuse reflection white coating material was apply | coated to the inner wall. The reflection surface of the reflection unit 75 is configured by a substantially complete diffuse reflection surface (R (λ) = 1). At the time of the brightness inspection, the distal end portion of the scope 10 faces the inner wall of the reflecting portion 75, the optical axis LX of the objective optical system 13 is perpendicular to a plane including a circle that forms the hemispherical opening of the reflecting portion 75, and The scope 10 is attached to the holding portion 71 so that the positional relationship passes through the center of the circle, and the positional relationship between the scope 10 and the reflecting portion 75 is set.

特に、反射部75の配光レンズ12から照射される光を反射する領域のいずれの部分から、対物光学系13への距離が等しくなるように、該円の中心近傍に対物光学系13が配置されるのが望ましい。   In particular, the objective optical system 13 is arranged in the vicinity of the center of the circle so that the distance from any portion of the region that reflects the light irradiated from the light distribution lens 12 of the reflecting portion 75 to the objective optical system 13 becomes equal. It is desirable to be done.

明るさ検査時には、光源部31から出射された光は、ライトガイド11、及び配光レンズ12を介して、反射部75の内壁に向けて照射される。なお、明るさ検査の目的に応じて、絞り31bの開度調整を自動で行う自動調光モード、または手動で行うマニュアル調光モードが設定される。明るさ検査として、自動調光で反射部75を撮像した場合の、照明関連部材における光の拡散具合などを評価する場合には、自動調光モードに設定される。明るさ検査として、特定の明るさに設定して反射部75を撮像した場合の、照明関連部材における光の拡散具合などを評価する場合には、マニュアル調光モードで特定の明るさに対応する開度に絞り31bが設定される。   At the time of the brightness inspection, the light emitted from the light source unit 31 is emitted toward the inner wall of the reflection unit 75 via the light guide 11 and the light distribution lens 12. Depending on the purpose of the brightness inspection, an automatic dimming mode for automatically adjusting the opening of the diaphragm 31b or a manual dimming mode for manually setting is set. When the reflection portion 75 is imaged by automatic light control as the brightness inspection, when evaluating the light diffusion state in the illumination-related member, the automatic light control mode is set. As a brightness test, when evaluating the degree of light diffusion in the illumination-related member when the reflection unit 75 is imaged with a specific brightness setting, the manual brightness control mode corresponds to the specific brightness. A throttle 31b is set to the opening.

反射部75からの反射光は対物光学系13を介して撮像部14の撮像素子に入射する。撮像素子では入射した光を光電変換し、画像信号を出力する。撮像部14から出力された画像信号は、映像信号処理部15において、YC分離、ホワイトバランス調整、色補正など前段の画像処理が施され、プロセッサ30のビデオ信号処理部33に出力される。プロセッサ30では、ビデオ信号処理部33において、後段の画像処理が施されて、ビデオ信号が生成される。明るさ検査時は、プロセッサ30のビデオ信号出力端子には、測定装置90が接続される。   Reflected light from the reflection unit 75 is incident on the image sensor of the imaging unit 14 via the objective optical system 13. The image sensor photoelectrically converts the incident light and outputs an image signal. The image signal output from the imaging unit 14 is subjected to the preceding image processing such as YC separation, white balance adjustment, and color correction in the video signal processing unit 15, and is output to the video signal processing unit 33 of the processor 30. In the processor 30, the video signal processing unit 33 performs subsequent image processing to generate a video signal. At the time of the brightness inspection, the measuring device 90 is connected to the video signal output terminal of the processor 30.

プロセッサ30から出力されるビデオ信号は、明るさ検査に使用される。具体的には、プロセッサ30に接続された測定装置90は、ビデオ信号における画素ごとの輝度値を算出し、これに基づいて、最も高い輝度のピーク輝度値や、ピーク輝度値に対応する画素位置、及び周辺減光度合いを算出する。   The video signal output from the processor 30 is used for brightness inspection. Specifically, the measurement device 90 connected to the processor 30 calculates the luminance value for each pixel in the video signal, and based on this, the highest luminance peak luminance value and the pixel position corresponding to the peak luminance value , And the surrounding dimming degree are calculated.

光源部31、ライトガイド11、配光レンズ12などの照明関連装置が、正常に取り付けられ、均一の反射率分布を有する被観察体を撮像した場合は、撮像部14の撮像素子における特定位置の輝度値が所定の値で且つピーク輝度値になるような画像信号を形成する、すなわち画像の特定位置が最も明るくなるように設計される。照明関連装置のいずれかの部分の取り付け位置がずれるなど、いずれかの部分に不具合が生じた場合には、ピーク輝度値に対応する画素位置の特定位置からのずれや、ピーク輝度値の低下が起きるので、ピーク輝度値の値や対応する画素位置などを把握し、正常時に想定されたピーク輝度値や対応する画素位置との比較により、照明関連装置の不具合を特定する明るさ検査を行うことが可能になる。   When illumination-related devices such as the light source unit 31, the light guide 11, and the light distribution lens 12 are normally mounted and image an object to be observed having a uniform reflectance distribution, The image signal is designed so that the luminance value is a predetermined value and the peak luminance value, that is, the specific position of the image is brightest. If a failure occurs in any part of the lighting-related device, such as the mounting position is shifted, the pixel position corresponding to the peak luminance value may be displaced from a specific position, or the peak luminance value may be reduced. Because it happens, grasp the value of the peak luminance value and the corresponding pixel position, etc., and perform a brightness inspection to identify the malfunction of the lighting related device by comparing it with the peak luminance value assumed in the normal state and the corresponding pixel position Is possible.

但し、ピーク輝度値など撮像により得られた画像における画素ごとの輝度値を正確に得る必要がある。均一の反射率分布を有する平面の反射部を撮像した場合には、反射部上の任意の点から対物光学系13に到達する距離に差異が現れるため、到達距離差に基づく周辺減光の影響を受けてピーク輝度値や、ピーク輝度値に対応する画素位置を正しく求めることが出来ない恐れがある。そのため、反射光の対物光学系13への到達距離差をなくすために、反射部を対物光学系13から遠くに配置し、遠くに配置した状態で広角系のレンズを有する対物光学系13の撮像領域をカバーするために、広い反射部を用意する必要があり、装置が大型化する。   However, it is necessary to accurately obtain the luminance value for each pixel in the image obtained by imaging such as the peak luminance value. When a planar reflection part having a uniform reflectance distribution is imaged, a difference appears in the distance reaching the objective optical system 13 from an arbitrary point on the reflection part. Accordingly, there is a possibility that the peak luminance value and the pixel position corresponding to the peak luminance value cannot be obtained correctly. Therefore, in order to eliminate the difference in the arrival distance of the reflected light to the objective optical system 13, the imaging of the objective optical system 13 having a wide-angle lens in a state where the reflecting portion is arranged far from the objective optical system 13 and arranged far away. In order to cover the area, it is necessary to prepare a wide reflection portion, which increases the size of the apparatus.

本実施形態では、半球体の反射部75を含む検査装置70を使って、ライトガイド11、及び配光レンズ12を介して照射される光を反射し、かかる反射光を撮像部14で撮像する。反射部75において反射光の対物光学系13への到達距離差が殆ど発生しないため、かかる到達距離差に基づく周辺減光のない一面略均一の白色光を撮像することが可能になり、撮像により得られた画像信号における画素ごとの輝度値を正確に算出することが可能になる。画素ごとの輝度値に基づいて、ピーク輝度値、ピーク輝度値に対応する画素位置、及び周辺減光度合いを正確に算出し、これらの算出結果に基づいて、光源部31、ライトガイド11、及び配光レンズ12を含む照明関連部材の不具合を正確に特定することが可能になる。   In the present embodiment, the inspection device 70 including the hemispherical reflection unit 75 is used to reflect light irradiated through the light guide 11 and the light distribution lens 12 and the reflected light is imaged by the imaging unit 14. . Since there is almost no difference in the arrival distance of the reflected light to the objective optical system 13 in the reflection section 75, it becomes possible to pick up substantially uniform white light on one side with no peripheral dimming based on the difference in arrival distance. It is possible to accurately calculate the luminance value for each pixel in the obtained image signal. Based on the luminance value for each pixel, the peak luminance value, the pixel position corresponding to the peak luminance value, and the surrounding dimming degree are accurately calculated, and based on these calculation results, the light source unit 31, the light guide 11, and It is possible to accurately identify the malfunction of the illumination-related member including the light distribution lens 12.

また、本実施形態では、反射部75の内壁を半球体形状にして、対物光学系13と反射部75の内壁のいずれの部分との距離を略等しく出来るため、不必要に反射部75を大きくする必要はなく、検査装置70の大型化を防ぐことが出来る。   In the present embodiment, the inner wall of the reflecting part 75 is formed in a hemispherical shape, and the distance between the objective optical system 13 and any part of the inner wall of the reflecting part 75 can be made substantially equal. Therefore, the reflecting part 75 is unnecessarily enlarged. It is not necessary to increase the size of the inspection apparatus 70.

なお、反射部75の内壁は半球体形状に限らず、球体の一部である球冠形状であってもよい。但し、配光レンズ12からの照射領域、及び対物光学系13の受光領域をカバーする大きさを有するのが望ましい。   The inner wall of the reflecting portion 75 is not limited to a hemispherical shape, and may be a spherical crown shape that is a part of a sphere. However, it is desirable to have a size that covers the irradiation area from the light distribution lens 12 and the light receiving area of the objective optical system 13.

次に、スコープ10を検査装置70に取り付けて、明るさ検査用の画像(ビデオ信号)を取得する手順を、図3のフローチャートを用いて説明する。ステップS11で、スコープ10の先端部が、保持部71に取り付けられる。ステップS12で、反射部75が所定位置に取り付けられる。ステップS11、S12により、スコープ10と検査装置70との位置関係が決定する。なお、保持部71と反射部75とを固定した状態で用意しておき、保持部71にスコープ10の先端部を取り付ける位置を誘導する位置決め部材を設けておけば、ステップS11を行うことで、ステップS12の操作も完了出来る。   Next, a procedure for attaching the scope 10 to the inspection apparatus 70 and acquiring an image (video signal) for brightness inspection will be described with reference to the flowchart of FIG. In step S <b> 11, the distal end portion of the scope 10 is attached to the holding portion 71. In step S12, the reflector 75 is attached to a predetermined position. The positional relationship between the scope 10 and the inspection apparatus 70 is determined by steps S11 and S12. In addition, if the holding part 71 and the reflection part 75 are prepared in a fixed state and a positioning member that guides the position where the scope 10 is attached to the holding part 71 is provided, step S11 is performed. The operation in step S12 can also be completed.

ステップS13で、光源31aが点灯せしめられる。明るさ検査の目的に応じて、絞り31bの開度調整を自動で行う自動調光モード、または手動で行うマニュアル調光モードが設定される。ステップS14で、光源部31から出射された光は、ライトガイド11、及び配光レンズ12を介して、反射部75の内壁に向けて照射される。撮像部14は、反射部75からの反射光を撮像して画像信号を出力する。画像信号は、映像信号処理部15における前段の画像処理、及びビデオ信号処理部33における後段の画像処理が施されて、ビデオ信号が生成される。   In step S13, the light source 31a is turned on. Depending on the purpose of the brightness inspection, an automatic dimming mode for automatically adjusting the opening of the diaphragm 31b or a manual dimming mode for manually setting is set. In step S <b> 14, the light emitted from the light source unit 31 is irradiated toward the inner wall of the reflection unit 75 via the light guide 11 and the light distribution lens 12. The imaging unit 14 captures the reflected light from the reflection unit 75 and outputs an image signal. The image signal is subjected to preceding image processing in the video signal processing unit 15 and subsequent image processing in the video signal processing unit 33 to generate a video signal.

次に、ビデオ信号に基づいて、ピーク輝度値、及びピーク輝度値に対応する画素位置の特定を行う手順を、図4のフローチャートを用いて説明する。ステップS31で、図3のステップS14で生成されたビデオ信号が測定装置90に取り込まれる。ステップS32で、ビデオ信号における1画素の輝度値Yが算出される。ステップS33で、今回算出した輝度値Yが、前回までに算出したピーク輝度値Ymaxよりも大きいか否かが判断される。大きい場合には、ステップS34で、ピーク輝度値Ymaxが今回の輝度値Yに更新され、ステップS35に進められる。大きくない場合には、ステップS35に進められる。   Next, the procedure for specifying the peak luminance value and the pixel position corresponding to the peak luminance value based on the video signal will be described with reference to the flowchart of FIG. In step S31, the video signal generated in step S14 of FIG. In step S32, the luminance value Y of one pixel in the video signal is calculated. In step S33, it is determined whether or not the luminance value Y calculated this time is larger than the peak luminance value Ymax calculated up to the previous time. If larger, the peak luminance value Ymax is updated to the current luminance value Y in step S34, and the process proceeds to step S35. If not, the process proceeds to step S35.

ステップS35で、総ての画素について輝度値Yの算出が行われたか否かが判断される。行われていない場合には、ステップS32に戻されて、他の画素についての輝度値Yの算出が行われステップS32〜S34が繰り返される。総ての画素についての輝度値Yの算出が行われた場合には、終了し、ピーク輝度値Ymax、及びピーク輝度値Ymaxに対応する画素位置が決定される。また、画素ごとの輝度値Yに基づいて、輝度値分布が算出され、周辺減光度合いが算出される。   In step S35, it is determined whether or not the luminance value Y has been calculated for all the pixels. If not, the process returns to step S32 to calculate the luminance value Y for other pixels, and steps S32 to S34 are repeated. When the luminance values Y for all the pixels have been calculated, the process ends, and the peak luminance value Ymax and the pixel position corresponding to the peak luminance value Ymax are determined. Further, based on the luminance value Y for each pixel, a luminance value distribution is calculated, and the degree of ambient light attenuation is calculated.

本実施形態における通常観察時の内視鏡システムの構成図である。It is a lineblock diagram of an endoscope system at the time of normal observation in this embodiment. 明るさ検査時の内視鏡システムと検査装置と測定装置の構成図である。It is a block diagram of an endoscope system, an inspection device, and a measurement device at the time of brightness inspection. ビデオ信号を取得する手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the procedure which acquires a video signal. ピーク輝度値を算出する手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the procedure which calculates a peak luminance value.

符号の説明Explanation of symbols

1 内視鏡システム
10 スコープ
11 ライトガイド
13 対物光学系
14 撮像部
15 映像信号処理部
30 プロセッサ
31 光源部
31a 光源
31b 絞り
33 ビデオ信号処理部
35 制御部
50 モニタ
70 検査装置
71 保持部
75 反射部
90 測定装置
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Endoscope system 10 Scope 11 Light guide 13 Objective optical system 14 Imaging part 15 Image | video signal processing part 30 Processor 31 Light source part 31a Light source 31b Aperture 33 Video signal processing part 35 Control part 50 Monitor 70 Inspection apparatus 71 Holding part 75 Reflection part 90 Measuring device

Claims (4)

スコープの先端部を固定した状態で保持する保持部と、前記スコープが前記保持部に固定された時に、前記スコープの先端部と対向する位置に設けられ、内壁が球冠形状を有し、前記スコープを介した照明に使用する光源部から出射され、前記スコープを介して照射された光を、前記内壁で反射する反射部とを有する検査装置と、
前記反射部が反射した光であって、前記スコープの対物光学系を介して入射した光を、前記スコープで撮像して得られた画像信号における画素ごとの輝度値を算出する測定装置とを備え、
前記対物光学系の光軸が、前記反射部の球冠の開口部を構成する円を含む平面と垂直で且つ、前記円の中心を通るように、前記スコープが前記保持部に取り付けられ、且つ前記スコープと前記反射部との位置関係が設定されることを特徴とする内視鏡システムの検査システム。
A holding part that holds the scope tip in a fixed state; and when the scope is fixed to the holding part, the scope is provided at a position facing the scope tip, and an inner wall has a spherical crown shape, An inspection apparatus having a reflection part that reflects the light emitted from the light source part used for illumination through the scope and irradiated through the scope at the inner wall;
A measuring device that calculates a luminance value for each pixel in an image signal obtained by imaging the light reflected by the reflecting unit and incident through the objective optical system of the scope with the scope; ,
The scope is attached to the holding unit so that the optical axis of the objective optical system is perpendicular to a plane including a circle constituting the opening of the crown of the reflecting unit and passes through the center of the circle; and An inspection system for an endoscope system, wherein a positional relationship between the scope and the reflector is set.
前記測定装置は、前記画像信号におけるピーク輝度値、及び前記ピーク輝度値に対応する画素位置を算出することを特徴とする請求項1に記載の検査システム。   The inspection system according to claim 1, wherein the measurement device calculates a peak luminance value in the image signal and a pixel position corresponding to the peak luminance value. 前記ピーク輝度値、及び前記ピーク輝度値に対応する画素位置は、前記光源部、前記光源部から出射された光を前記スコープの先端部まで導くライトガイド、及び前記光源部から出射され前記ライトガイドで導光された光を前記反射部に向けて照射する配光レンズの少なくとも1つの不具合を特定するために使用されることを特徴とする請求項2に記載の検査システム。   The peak luminance value and the pixel position corresponding to the peak luminance value are determined by the light source unit, a light guide that guides light emitted from the light source unit to the distal end of the scope, and the light guide emitted from the light source unit. The inspection system according to claim 2, wherein the inspection system is used to identify at least one defect of the light distribution lens that irradiates the light guided in the step toward the reflection portion. 前記対物光学系と、前記反射部の前記配光レンズから照射される光を反射する領域のいずれの部分から、前記対物光学系への距離が等しくなるように、前記スコープが前記保持部に取り付けられ、且つ前記スコープと前記反射部との位置関係が設定されることを特徴とする請求項1に記載の検査システム。
The scope is attached to the holding unit so that the distance from the objective optical system and the part of the reflective part that reflects the light irradiated from the light distribution lens to the objective optical system is equal. The inspection system according to claim 1, wherein a positional relationship between the scope and the reflection unit is set.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN111031890A (en) * 2017-08-23 2020-04-17 奥林巴斯株式会社 Illumination unit for endoscope and endoscope

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN111031890A (en) * 2017-08-23 2020-04-17 奥林巴斯株式会社 Illumination unit for endoscope and endoscope
CN111031890B (en) * 2017-08-23 2022-04-29 奥林巴斯株式会社 Lighting unit for endoscope and endoscope

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