JP2010061765A - Laser driving device, optical unit, and optical apparatus - Google Patents
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Abstract
【課題】ライトストラテジ技術を適用する場合でも、APC制御用の信号が、伝送部材を起因とする伝送帯域低下の影響を受けないようにする。
【解決手段】半導体レーザ41、レーザ駆動部、ビームスプリッタ42などの光学部材、発光波形生成部203、光電変換部(受光素子310、電流電圧変換部312)、サンプルホールド部330、サンプリングパルス生成部400を、光ピックアップ14に配置する。APC制御部58とライトストラテジ回路290をドライブ基板に配置する。ドライブ基板と光ピックアップ14をフレキシブル基板51で接続する。APC制御用のサンプリングパルスおよび帰還信号の何れもが、フレキシブル基板51を起因とする伝送帯域低下の影響を受けない。
【選択図】図3Even when a write strategy technique is applied, an APC control signal is not affected by a transmission band reduction caused by a transmission member.
An optical member such as a semiconductor laser 41, a laser drive unit, a beam splitter 42, a light emission waveform generation unit 203, a photoelectric conversion unit (a light receiving element 310, a current-voltage conversion unit 312), a sample hold unit 330, a sampling pulse generation unit. 400 is arranged on the optical pickup 14. The APC control unit 58 and the write strategy circuit 290 are arranged on the drive board. The drive substrate and the optical pickup 14 are connected by the flexible substrate 51. Neither the sampling pulse for APC control nor the feedback signal is affected by the transmission band reduction caused by the flexible substrate 51.
[Selection] Figure 3
Description
本発明は、レーザ駆動装置(レーザ駆動回路)、光学ユニット、レーザ駆動装置や光学ユニットを利用した光ディスク装置(光ディスクを使用する記録再生装置)などの光装置に関する。 The present invention relates to an optical device such as a laser driving device (laser driving circuit), an optical unit, an optical disk device using a laser driving device or an optical unit (recording / reproducing device using an optical disk).
レーザを光源に用いた記録再生装置が、種々の分野で利用されている。たとえば、光ディスクを記録や再生の媒体として用いる光ディスク記録再生装置(以下、単に光ディスク装置ともいう)が注目されている。 Recording / reproducing apparatuses using a laser as a light source are used in various fields. For example, an optical disk recording / reproducing apparatus (hereinafter also simply referred to as an optical disk apparatus) that uses an optical disk as a recording or reproducing medium has attracted attention.
光ディスク装置の光ピックアップには、通常、レーザを駆動するレーザ駆動部と、再生信号検出用の光検出部と、レーザの光量監視用の光検出部が搭載される(特許文献1,非特許文献1を参照)。
An optical pickup of an optical disc apparatus usually includes a laser driving unit that drives a laser, a light detection unit for detecting a reproduction signal, and a light detection unit for monitoring the amount of laser light (
再生信号検出用の光検出部は、光ディスクからの反射光を電気信号に変換するもので、反射光よりフォーカス信号、トラッキング信号などの制御信号や光ディスクに記録されたデータ信号を検出する役割を持つ。光量監視用の光検出部は、レーザのAPC(Auto Power Control)システムの物差しとなる信号を検出するもので、レーザの発光をモニタし、読込みや書込み時のレーザパワーを監視する役割を持つ。 The light detection unit for detecting a reproduction signal converts reflected light from the optical disk into an electrical signal, and has a role of detecting a control signal such as a focus signal and a tracking signal and a data signal recorded on the optical disk from the reflected light. . The light detection unit for monitoring the amount of light detects a signal that is a rule of the laser APC (Auto Power Control) system, and monitors the laser emission and monitors the laser power during reading and writing.
光ディスク装置においては、可動部分であるピックアップと固定部分である信号処理系で構成される。一般的に、レーザ駆動部や各光検出部は、ピックアップ上に搭載されたレーザの近傍に配置され、信号処理系統からピックアップ(レーザ駆動・光検出系統)までは、可撓性のプリント基板(フレキシブル基板)により接続される(非特許文献1の図9,10を参照)。 An optical disc apparatus is composed of a pickup that is a movable part and a signal processing system that is a fixed part. Generally, the laser drive unit and each light detection unit are arranged in the vicinity of a laser mounted on a pickup, and a flexible printed circuit board (from a signal processing system to a pickup (laser drive / light detection system)) (Refer to FIGS. 9 and 10 of Non-Patent Document 1).
非特許文献1の図9における光量監視手法は、光ピックアップ側の光検出部で、光量信号(パワーモニタ信号)を検出し増幅する。そして、フレキシブル基板を介して信号処理系のAPC制御部へ伝送し、APC制御部のサンプルホールド部でサンプルホールドして、APC制御用のレーザパワーモニタ電圧(ほぼ直流レベル)を取得する。サンプルホールド用のパルス信号は、記録用のライトストラテジ部(詳細は後述する)と併設されたタイミング信号生成部(Timing Gen.)から供給される。
In the light quantity monitoring method in FIG. 9 of Non-Patent
一方、非特許文献1の図10における光量監視手法は、特許文献1の段落6,7と同様に、光ピックアップ側の光検出部にサンプルホールド部を配置して、光電変換信号をサンプルホールドすることにより、レーザパワーモニタ電圧を取得する。レーザ駆動部に配置された記録用のライトストラテジ部でサンプルホールド用のパルス信号を生成し、サンプルホールド部に供給する構成を採っている。
On the other hand, in the light amount monitoring method in FIG. 10 of
非特許文献1の図9の構成では、APC用のパワーモニタ信号PMは、フレキシブル基板を介して伝送されることで、信号劣化が問題となる。すなわち、信号書込み時にフレキシブル基板を通じて伝送されるAPC用のパワーモニタ信号のパターンは、信号書込み時のレーザ発光パターンと同じになり、その周波数が高くなる。フレキシブル基板により伝送帯域が制限されてしまい、パワーモニタ信号をAPC制御部に正確に伝送できなくなるなどの、高周波のパワーモニタ信号をフレキシブル基板を介して伝送することに伴う問題が発生する。
In the configuration of FIG. 9 of
非特許文献1の図10の構成では、レーザパワーモニタ電圧はほぼ直流レベルとなっており、フレキシブル基板を介した高速の信号伝送が不要となるため、パワーモニタ信号PMをフレキシブル基板を介して伝送する図9のような問題は解消される。しかしながら、ライトストラテジ部をレーザ駆動ICに収容しているため、レーザ駆動ICが大規模になる(チップ面積やパッケージ面積大)、消費電力が増え発熱の問題が発生する、コストアップになる、などの難点がある。
In the configuration of FIG. 10 of Non-Patent
非特許文献1では、ライトストラテジ部を内蔵することによる消費電力アップ分を、回路アーキテクチャの見直しにより実用レベルにまで抑え込むことが記載されているが、本質的な課題解決にはなっていない。
Non-Patent
本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、ライトストラテジ技術の適用にも考慮しつつ、非特許文献1の図9,10の問題を解消できる、APC制御用の信号(帰還信号やサンプルパルス)の生成・伝送手法の新たな仕組みを提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above circumstances. A signal for APC control (feedback signal and sample) that can solve the problems of FIGS. 9 and 10 of Non-Patent
本発明においては、ライトストラテジ技術を適用する際の発光波形を規定するライトストラテジ信号(複数のパルス信号)を生成する発光波形パルス生成部と、サンプリングパルスを生成するサンプリングパルス生成部を、それぞれ異なる部材に搭載する。そして、それぞれが搭載される部材を伝送部材で接続する。 In the present invention, a light emission waveform pulse generation unit that generates a write strategy signal (a plurality of pulse signals) that defines a light emission waveform when applying the write strategy technique and a sampling pulse generation unit that generates a sampling pulse are different from each other. Mount on the member. And the member in which each is mounted is connected with a transmission member.
サンプリングパルス生成部が搭載される側は、レーザ素子、駆動部、光学部材、発光波形生成部、光電変換部、も搭載され、一般的には、光ピックアップと称される光学ユニットが相当する。なお、好ましくは、サンプリングパルス生成部は、発光波形生成部や駆動部を収容したレーザ駆動装置(典型的には半導体IC)に搭載するのがよい。 On the side on which the sampling pulse generation unit is mounted, a laser element, a drive unit, an optical member, a light emission waveform generation unit, and a photoelectric conversion unit are also mounted, and generally corresponds to an optical unit called an optical pickup. Preferably, the sampling pulse generation unit is mounted on a laser drive device (typically a semiconductor IC) that houses the light emission waveform generation unit and the drive unit.
発光波形パルス生成部が搭載される側は、APC制御用のレーザパワー指示信号を生成して発光波形生成部に供給するAPC制御部も搭載され、一般的には、ドライブ基板やメイン基板などと称されるものが相当する。 The side on which the light emission waveform pulse generation unit is mounted also includes an APC control unit that generates a laser power instruction signal for APC control and supplies it to the light emission waveform generation unit. It corresponds to what is called.
サンプリングパルス生成部は、伝送部材を介して伝送されたライトストラテジ信号に基づく発光波形のエッジを基準にサンプリングパルスを生成してサンプルホールド部に供給する。 The sampling pulse generation unit generates a sampling pulse based on the edge of the light emission waveform based on the write strategy signal transmitted through the transmission member, and supplies the sampling pulse to the sample hold unit.
このような構成を採れば、サンプリングパルス生成部が生成したサンプリングパルスは、伝送部材を介することなく、サンプルホールド部に供給される。APC制御用のサンプリングパルスは、伝送部材を起因とする伝送帯域低下の影響を受けない。 With such a configuration, the sampling pulse generated by the sampling pulse generation unit is supplied to the sample hold unit without passing through the transmission member. The sampling pulse for APC control is not affected by the transmission band reduction caused by the transmission member.
また、APC制御用の帰還信号は、高周波のパワーモニタ信号の状態ではなく、サンプルホールド部で生成されるほぼ直流レベルのサンプルホールド信号(パワーモニタ電圧)の状態で、伝送部材を介してAPC制御部に送られる。APC制御用の帰還信号は、伝送部材を起因とする伝送帯域低下の影響を受けない。 The feedback signal for APC control is not a state of a high-frequency power monitor signal, but is a state of a substantially DC level sample hold signal (power monitor voltage) generated by the sample hold unit, and is APC controlled via a transmission member. Sent to the department. The feedback signal for APC control is not affected by the transmission band reduction caused by the transmission member.
本発明の一態様によれば、ライトストラテジ技術を適用する場合でも、APC制御用のサンプリングパルスおよび帰還信号の何れもが、伝送部材を起因とする伝送帯域低下の影響を受けない。 According to one aspect of the present invention, even when the write strategy technique is applied, neither the sampling pulse for APC control nor the feedback signal is affected by the transmission band reduction caused by the transmission member.
以下、図面を参照して本発明の実施形態について詳細に説明する。なお、説明は以下の順序で行なう。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. The description will be given in the following order.
1.記録再生装置の構成概要
2.信号インタフェースの問題点と対策手法の原理
3.本実施形態の信号インタフェース(通常方式ベースとシーケンシャル方式ベース)
4.サンプリングパルス設定:第1例(マーク用の第1の設定手法)
5.サンプリングパルス設定:第2例(マーク用の第2の設定手法)
6.サンプリングパルス設定:第3例(スペース用の第1の設定手法)
7.サンプリングパルス設定:第4例(スペース用の第2の設定手法)
8.シーケンシャル方式の詳細
1. 1. Outline of configuration of recording / reproducing
4). Sampling pulse setting: first example (first setting method for marks)
5). Sampling pulse setting: second example (second setting method for marks)
6). Sampling pulse setting: third example (first setting method for space)
7). Sampling pulse setting: 4th example (second setting method for space)
8). Details of sequential method
<記録再生装置>
図1は、光装置の一例である記録再生装置(光ディスク装置)の一構成例を示す図である。図1Aは、光ピックアップの構成例を説明する図である。
<Recording and playback device>
FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration example of a recording / reproducing apparatus (optical disk apparatus) which is an example of an optical apparatus. FIG. 1A is a diagram illustrating a configuration example of an optical pickup.
光ディスクOD(Optical Disk)としては、CD(コンパクトディスク)やCD−ROM(Read Only Memory)などのいわゆる再生専用の光ディスクのほか、たとえばCD−R(Recordable)のような追記型光ディスクや、CD−RW(Rewritable )のような書き換え可能型光ディスクであってもよい。さらには、CD系の光ディスクに限らず、MO(光磁気ディスク)であってもよいし、通常のDVD(Digital Video またはVersatile Disk)や、たとえば波長405nm程度の青色レーザを利用する次世代DVDといったDVD系の光ディスクであってもよい。DVD系統には、DVD−RAM/−R/+R/−RW/+RWなどもある。また、現行のCDフォーマットを踏襲しながら、記録密度を現行フォーマットの約2倍とした、いわゆる2倍密度のCD(DDCD;DD=Double Density)やCD−RあるいはCD−RWであってもよい。 As an optical disk OD (Optical Disk), in addition to a so-called read-only optical disk such as a CD (Compact Disk) and a CD-ROM (Read Only Memory), a write-once optical disk such as a CD-R (Recordable), a CD- A rewritable optical disk such as RW (Rewritable) may be used. Furthermore, it is not limited to a CD-based optical disk, but may be an MO (magneto-optical disk), a normal DVD (Digital Video or Versatile Disk), or a next-generation DVD using a blue laser with a wavelength of about 405 nm, for example. It may be a DVD-type optical disc. The DVD system includes DVD-RAM / -R / + R / -RW / + RW. Further, it may be a so-called double density CD (DDCD; DD = Double Density), CD-R, or CD-RW in which the recording density is approximately double that of the current format while following the current CD format. .
本実施形態の記録再生装置1は、光ピックアップ14とピックアップ制御部32を備える。光ピックアップ14は、光ディスクODへの情報の記録あるいは情報の再生を行なう。光ピックアップ14は、ピックアップ制御部32によって制御され、光ピックアップ14から出射されるレーザビームの光ディスクODに対する半径方向位置(トラッキングサーボ)および焦点方向位置(フォーカスサーボ)を制御する。
The recording / reproducing
記録再生装置1は、回転制御部(回転サーボ系)として、スピンドルモータ10と、モータドライバ12と、スピンドルモータ制御部30を備える。スピンドルモータ10は、光ディスクODを回転させるものであり、その回転数はスピンドルモータ制御部30によって制御される。
The recording / reproducing
記録再生装置1は、記録・再生系として、光ピックアップ14を介して情報を記録する情報記録部および光ディスクODに記録されている情報を再生する情報再生部の一例である記録・再生信号処理部50を備える。記録・再生信号処理部50と光ピックアップ14の間は、信号を伝送する伝送部材の一例としてのフレキシブル基板51にパターン形成された信号配線を介して接続される。そのフレキシブル基板51の全長は、記録・再生信号処理部50と光ピックアップ14の配置によって異なるが、たとえば100mm程度の長さを持つ。
The recording / reproducing
記録再生装置1は、コントローラ系として、コントローラ62や図示を割愛したインタフェース機能をなすインタフェース部などを備える。コントローラ62は、マイクロプロセッサ(MPU:Micro Processing Unit )で構成されており、スピンドルモータ制御部30およびピックアップ制御部32を有するサーボ系や記録・再生信号処理部50の動作を制御する。インタフェース部は、当該記録再生装置1を利用した各種の情報処理を行なう情報処理装置(ホスト装置)の一例であるパーソナルコンピュータ(以下パソコンと称する)との間のインタフェース(接続)機能をなす。インタフェース部には、ホストIFコントローラが設けられる。記録再生装置1とパソコンにより情報記録再生システム(光ディスクシステム)が構成される。
The recording / reproducing
[光ピックアップ]
図1Aに示すように、光ピックアップ14は、半導体レーザ41、ビームスプリッタ42、レンズ43、ミラー44、光検出部45、およびレーザ駆動装置の一例である駆動電流制御部47を備える。駆動電流制御部47は一例としてレーザ駆動IC(LDD )で構成される。駆動電流制御部47には、記録・再生信号処理部50のデジタル信号処理部57からライトストラテジに応じた記録パルスが、またAPC制御部58からレーザパワー指示電圧PWが、フレキシブル基板51を介して伝送される。駆動電流制御部47は、ライトストラテジに応じた記録パルスとAPC制御用のレーザパワー指示電圧PWを合成して記録波形を生成し、記録波形を増幅して、半導体レーザ41を駆動する。
[Optical pickup]
As shown in FIG. 1A, the
半導体レーザ41は、光ディスクODに付加情報を記録するあるいは光ディスクODに記録されている情報を読み取るためのレーザ光を発する。ビームスプリッタ42は、半導体レーザ41からのレーザ光や光ディスクODからの反射光を通過あるいは反射させる。ミラー44は、レーザ光や反射光を略90度の方向へ反射させる。
The
光検出部45は第1光検出部45aと第2光検出部45bを有する。第1光検出部45aは、一例としてフォトディテクIC(PDIC)で構成され、第2光検出部45bは一例としてフロントモニタフォトディテクタIC(FMPDIC)で構成される。第1光検出部45aは再生信号処理(サーボ処理を含む)用のRF信号を取得し、第2光検出部45bはAPC制御用のパワーモニタ信号PMを取得する。第1光検出部45aおよび第2光検出部45bは、図示しないが、何れも、受光素子と、電流電圧変換部と、増幅部を有する。さらに、詳細は後述するが、本実施形態の第2光検出部45bは、増幅部から出力されるパワーモニタ信号PMをサンプルホールドしパワーモニタ電圧PDを取得するサンプルホールド回路を有する。 The light detection unit 45 includes a first light detection unit 45a and a second light detection unit 45b. The first light detection unit 45a is configured by a photo detector IC (PDIC) as an example, and the second light detection unit 45b is configured by a front monitor photo detector IC (FMPDIC) as an example. The first light detection unit 45a acquires an RF signal for reproduction signal processing (including servo processing), and the second light detection unit 45b acquires a power monitor signal PM for APC control. Although not shown, each of the first light detection unit 45a and the second light detection unit 45b includes a light receiving element, a current-voltage conversion unit, and an amplification unit. Further, as will be described in detail later, the second light detection unit 45b of the present embodiment has a sample and hold circuit that samples and holds the power monitor signal PM output from the amplification unit and acquires the power monitor voltage PD.
たとえば、半導体レーザ41から発せられたレーザ光はレンズ43aおよびビームスプリッタ42を通過し、ミラー44aで光ディスクOD側に反射され、レンズ43bにより集光されて光ディスクODを照射する。光ディスクODで反射された反射光(レーザ光)は、レンズ43bを通過し、ミラー44aでビームスプリッタ42側に反射され、ビームスプリッタ42によりミラー44b側に反射され、さらにミラー44bにより反射されて第1光検出部45aに入射する。第1光検出部45aは、この入射光を電気信号に変換し、増幅して、RF信号を取得する。RF信号はフレキシブル基板51を介して記録・再生信号処理部50に伝送される。
For example, laser light emitted from the
また、半導体レーザ41から発せられたレーザ光の一部はビームスプリッタ42で第2光検出部45b側に反射されて第2光検出部45bに入射する。第2光検出部45bは、この入射光を電気信号に変換し、増幅して、パワーモニタ信号PMを取得し、さらにパワーモニタ信号PMをサンプルホールドしてパワーモニタ電圧PDを取得する。パワーモニタ電圧PDはフレキシブル基板51を介して記録・再生信号処理部50のAPC制御部58に伝送される。
Further, part of the laser light emitted from the
[記録・信号処理部]
記録・再生信号処理部50は、RF増幅部52と、波形整形部53(波形等化器;Equalizer )と、AD変換部54(ADC;Analog to Digital Converter )を備える。また、記録・再生信号処理部50は、クロック再生部55と、書込みクロック生成部56と、DSP(Digital Signal Processor)で構成されたデジタル信号処理部57と、APC制御部58(Automatic Power Control)を備える。
[Recording / Signal Processing Unit]
The recording / reproduction
RF増幅部52は、光ピックアップ14により読み取られた微小なRF(高周波)信号(再生RF信号)を予め定められたレベルに増幅する。波形整形部53は、RF増幅部52から出力された再生RF信号を整形する。AD変換部54は、波形整形部53から出力されたアナログの再生RF信号をデジタルの再生RFデータDinに変換する。
The
クロック再生部55は、AD変換部54から出力された再生RFデータDinに同期したクロック信号を生成するデータリカバリ型の位相同期回路(PLL回路)を有する。また、クロック再生部55は、再生したクロック信号をAD変換部54へADクロックCKad(サンプリングクロック)として供給するほか、その他の機能部に供給したりする。
The
デジタル信号処理部57は、たとえば、再生用の機能部として、データ検出部と復調処理部を有する。データ検出部は、PRML(Partial Response Maximum Likelihood )などの処理を行ない、再生RFデータDinからデジタルデータを検出する。
The digital
復調処理部は、デジタルデータ列を復調し、デジタルオーディオデータやデジタル画像データなどを復号化するなどのデジタル信号処理をする。たとえば、復調処理部は、復調部、誤り訂正符号(ECC)訂正部、アドレスデコード部などを有し、復調・ECC訂正、アドレスデコードを行なう。復調後のデータは、インタフェース部を介してホスト装置へ転送される。 The demodulation processing unit demodulates the digital data sequence and performs digital signal processing such as decoding digital audio data and digital image data. For example, the demodulation processing unit includes a demodulation unit, an error correction code (ECC) correction unit, an address decoding unit, and the like, and performs demodulation / ECC correction and address decoding. The demodulated data is transferred to the host device via the interface unit.
書込みクロック生成部56は、クリスタル発振器などから供給される基準クロックに基づき光ディスクODへの記録の際にデータを変調するための書込みクロックを生成する。デジタル信号処理部57は、記録用の機能部として、ECCエンコード部や変調処理部を有する。このデジタル信号処理部57は、記録データを生成し、さらに、ライトストラテジに応じた各パワーレベルの発光タイミング信号を生成する。
The
本実施形態の記録再生装置1は、半導体レーザ41から照射されるレーザ光により光ディスクODに情報源より出力されるデジタルデータを記録しまた光ディスクODの記録情報を再生する。駆動電流制御部47は、ライトストラテジに応じた駆動電流を半導体レーザ41に供給する。APC制御部58は、パワーモニタ電圧PDに基づいて半導体レーザ41の発光パワーを一定に制御する機能を持ち、レーザパワー指示電圧PWを光ピックアップ14の駆動電流制御部47に供給する。
The recording / reproducing
<信号インタフェースの問題点と対策手法の原理>
図2〜図2Cは、信号インタフェースの問題点とその対策手法の基本原理を説明する図である。ここで、図2は、ライトストラテジ技術を適用したレーザ駆動方式の一例を説明する図である。図2A〜図2Cは、ライトストラテジ技術を適用して半導体レーザ41を駆動する際の信号インタフェース手法の第1比較例〜第3比較例を説明する図である。
<Signal interface problems and countermeasure principle>
2 to 2C are diagrams for explaining the basic principle of the problem of the signal interface and the countermeasure technique. Here, FIG. 2 is a diagram illustrating an example of a laser driving method to which the write strategy technique is applied. 2A to 2C are diagrams illustrating a first comparative example to a third comparative example of the signal interface method when the
光ディスクの記録方式としては、光ディスク媒体に情報を記録する際、光パワーの強弱変化によって記録媒体にマーク・スペースを形成するいわゆる光強度変調方式によって記録を行なう。エラーの少ない記録を行なうためには、光パワーの強弱変化は、記録データそのものではなく、たとえば、図2に示したような波形を用いる。 As an optical disk recording method, when information is recorded on an optical disk medium, recording is performed by a so-called light intensity modulation method in which a mark / space is formed on the recording medium by a change in intensity of light power. In order to perform recording with few errors, the intensity change of the optical power uses not the recording data itself but a waveform as shown in FIG. 2, for example.
マルチパルス方式は、記録クロックを分割してパルス発光させるものである。この例では、クール(Cool)、イレーズ(Erase )、ピーク(Peak)の3つのパワーレベルを持つ。キャッスル方式は、主に高倍速記録で用いられており、記録クロック単位のパルス発光はさせないものの、マークの先頭と最後でレーザパワーを上げる。この例ではパワーレベルが、クール、イレーズ、ピーク,オーバードライブ(Over Drive)の4つであり、マルチパルス方式に比べて増えている。 In the multi-pulse method, a recording clock is divided to emit pulses. In this example, there are three power levels: Cool, Erase, and Peak. The castle method is mainly used in high-speed recording, and does not emit pulses in units of recording clocks, but raises the laser power at the beginning and end of the mark. In this example, there are four power levels, cool, erase, peak, and overdrive (Over Drive), which are increased compared to the multi-pulse system.
また、各エッジのタイミングはチャネルクロック間隔(Tw)よりも小さい単位で調整する。たとえば、Tw/40、Tw/32、Tw/16などとする。 The timing of each edge is adjusted in units smaller than the channel clock interval (Tw). For example, Tw / 40, Tw / 32, Tw / 16, etc.
このような発光パターンの工夫を記録補償(ライトストラテジ技術)と称し、記録データに応じた各エッジのタイミングを生成するのが記録補償回路(ライトストラテジ回路)である。 Such a contrivance of the light emission pattern is referred to as recording compensation (write strategy technology), and a recording compensation circuit (write strategy circuit) generates the timing of each edge according to recording data.
以下の各実施形態では、特に断りのない限り、レーザ発光波形として、キャッスル方式を適用する場合で説明する。これは、高倍速の記録では、キャッスル方式が一般的であるためである。ただし、後述する各実施形態の仕組みは、マルチパルス方式にも適用可能である。キャッスル方式とマルチパルス方式は、各パルスタイミングでのパワーレベルの設定値が異なるに過ぎず、「記録パワーをパルス分割し、多値レベル化し制御する」と言う点において共通するからである。 In each of the following embodiments, a castle method is applied as a laser emission waveform unless otherwise specified. This is because the castle method is common for high-speed recording. However, the mechanism of each embodiment to be described later can be applied to a multi-pulse system. This is because the castle method and the multi-pulse method are different from each other only in the setting value of the power level at each pulse timing, and are common in the point that “the recording power is divided into pulses and controlled to a multi-value level”.
一方、光ディスク装置のレーザ駆動系としては、たとえば図2A〜図2Cに示すように、半導体レーザ41や光学部品を搭載した光ピックアップ14(光ヘッド)と、制御回路を搭載したドライブ基板(メイン基板)に分かれている。光ピックアップ14は光ディスクODの半径に応じて可動するため、両者はフレキシブル基板51で接続される。
On the other hand, as the laser drive system of the optical disk apparatus, for example, as shown in FIGS. 2A to 2C, an optical pickup 14 (optical head) on which a
ここで、図2Aに示す第1比較例では、ライトストラテジ回路290X(発光波形パルス生成部)は、ドライブ基板に搭載されている。この場合、ドライブ基板から光ピックアップ14に搭載したレーザ駆動回路200X(図1Aの駆動電流制御部47に対応)に、各パワーレベルに対応した発光タイミングを指示するライトストラテジ信号(記録パルス信号)とレーザパワー指示電圧PWが送られる。レーザ駆動回路200Xは、ライトストラテジ信号とレーザパワー指示電圧PWを合成して発光波形を生成する発光波形生成部203を有する。発光波形生成部203は、レーザパワー指示電圧PWに応じたパワーの増減を行ない駆動電流を生成することにより半導体レーザ41を発光させる。
Here, in the first comparative example shown in FIG. 2A, the
また、APC制御系に着目すると、先ず、光ピックアップ14側のパワーモニタ回路300A(図1Aの第2光検出部45bに対応)は、受光素子310と、電流電圧変換部312(I−V)と、増幅機能を持った出力バッファ314を有する。受光素子310と電流電圧変換部312で光電変換部が構成される。電流電圧変換部312は、シングルエンド入力−シングルエンド出力型であり、受光素子310で光電変換された電流信号を電圧信号に変換してパワーモニタ信号PMを生成し、出力バッファ314に供給する。出力バッファ314は、シングルエンド入力−差動出力型であり、APC用の帰還信号として、パワーモニタ信号PMを差動信号(PM_P,PM_N)でAPC制御部58側に送る。
Focusing on the APC control system, first, the
ドライブ基板に搭載される記録・再生信号処理部50のAPC制御部58Aは、入力バッファ320と、サンプルホールド部330を有する。サンプルホールド部330は、マーク用のサンプルホールド回路332と、スペース用のサンプルホールド回路334を有する。サンプルホールド回路332は、パワーモニタ信号PMの書込み期間(マーク位置)の値をサンプルしてパワーモニタ電圧PD_1を取得する。サンプルホールド回路334は、パワーモニタ信号PMのバイアス期間(スペース位置)の値をサンプルしてパワーモニタ電圧PD_2を取得する。入力バッファ320は、差動入力−差動出力型であり、受信したパワーモニタ信号PM(PM_P,PM_N)を差動信号でサンプルホールド回路330に送る。
The
半導体レーザ41から発せられたレーザ光の内の一部がビームスプリッタ42により反射されて受光素子310に入射する。受光素子310は、レーザ光を受光して対応する電流に変換し、電流電圧変換部312はそれを電圧に変換して受光信号として出力バッファ314に入力する。出力バッファ314は、この受光信号を増幅し、差動のパワーモニタ信号PMとし、入力バッファ320を介してサンプルホールド部330に入力する。サンプルホールド部330は、ライトストラテジ回路290Xから供給されるサンプリングパルスSPに基づきパワーモニタ信号PMをサンプルホールドし、パワーモニタ電圧PD_1,PD_2を取得する。
A part of the laser light emitted from the
APC制御部58Aは、このパワーモニタ電圧PD_1,PD_2に基づいて、半導体レーザ41の最適記録出力レベルを求め、半導体レーザ41の出射パワーを一定に維持させるレーザパワー指示電圧PWを生成して発光波形生成部203に供給する。
The
このような構成の第1比較例では、ライトストラテジ回路290Xから送られるライトストラテジ信号(記録パルス信号やレーザ駆動タイミング信号とも称する)は、チャネルクロックよりも細かいタイミング情報を持つものであるが、近年の記録速度向上に伴う次のような課題が問題となる。第1には、パワーレベルの増加により、記録系統の信号線の伝送本数が増える点である。たとえば、図では、LVDS (Low Voltage Differential Signal)対応の4〜5chで示している。第2には、フレキシブル基板51に起因する周波数特性低下(伝送帯域低下)のため、ライトストラテジ信号を正確に伝送することが困難になる点である。ライトストラテジ信号の間隔が正確に伝送できなくなり、記録速度向上の障害になるのである。また、図2A(2)に示すように、最短パルス(たとえば1T程度)において、符号間干渉によるエッジずれが発生する。
In the first comparative example having such a configuration, the write strategy signal (also referred to as a recording pulse signal or a laser drive timing signal) sent from the
また、パワーモニタ信号PMは、ライトストラテジ回路290Xから送られるライトストラテジ信号に応じたレーザ光を検出したものである。よって、パワーモニタ信号PMも、ライトストラテジ信号と同様に、フレキシブル基板51に起因する問題がある。図2A(3)に示すように、フレキシブル基板51の周波数特性のため、パワーモニタ信号PMが劣化し、正確に伝送することが困難になる。また、遅延バラツキが発生するし、高倍速化による短パルス化のためサンプリング・ゲートが開けられないと言った問題も生じる。
The power monitor signal PM is obtained by detecting laser light corresponding to the write strategy signal sent from the
図2Bに示す第2比較例では、ライトストラテジ回路290Y(発光波形パルス生成部)は、ドライブ基板ではなく、第1比較例のレーザ駆動回路200Xと同様の回路を含むレーザ駆動回路200Yに搭載されている。ライトストラテジ回路290Yでは、記録クロックと記録データから、光パワーを制御するタイミング信号を生成する。タイミング信号はチャネルクロック間隔(Tw)よりも小さい単位となり、パワーレベルごとに生成され、パワーレベルとタイミングは一対一で対応させる。これを実現するためのライトストラテジ回路290Yは、位相同期回路、メモリ、アドレスエンコーダ、タイミング生成回路を含む。位相同期回路は、チャネルクロック間隔(Tw)よりも小さい単位を生成するための多相クロックを生成する。メモリは、レベル情報を格納する。アドレスエンコーダは、記録データ長を判別しメモリアドレスを生成する。タイミング生成回路は、記録データ長に応じてメモリから読み出されたタイミング情報をタイミング信号に変換する。
In the second comparative example shown in FIG. 2B, the
また、APC制御系に着目すると、第2比較例は、サンプルホールド部330をドライブ基板(記録・再生信号処理部50)側ではなく、光ピックアップ14側のパワーモニタ回路300Bに収容している。具体的には、第2比較例のパワーモニタ回路300Bは、受光素子310と、電流電圧変換部313(I−V)と、可変ゲイン型の増幅部315(GCA)と、サンプルホールド部330と、出力バッファ340を有する。受光素子310と電流電圧変換部313で光電変換部が構成される。
Focusing on the APC control system, in the second comparative example, the
電流電圧変換部313は、差動入力−差動出力型であり、受光素子310で光電変換された電流信号を電圧信号に変換して差動のパワーモニタ信号PM_P,PM_Nを生成し、増幅部315に供給する。増幅部315は、差動入力−差動出力型であり、パワーモニタ信号PM_P,PM_Nを増幅してサンプルホールド部330に供給する。
The current-
サンプルホールド回路332は、非反転のパワーモニタ信号PM_Pをサンプルホールドするサンプルホールド回路332_Pと反転のパワーモニタ信号PM_Nをサンプルホールドするサンプルホールド回路332_Nを有する。同様に、サンプルホールド回路334は、非反転のパワーモニタ信号PM_Pをサンプルホールドするサンプルホールド回路334_Pと反転のパワーモニタ信号PM_Nをサンプルホールドするサンプルホールド回路334_Nを有する。第1比較例では図示していないが、サンプルホールド回路332,334は、第2比較例と同様のものである。
The
出力バッファ340は、パワーモニタ電圧PD_1用の出力バッファ342と、パワーモニタ電圧PD_2用の出力バッファ344を有する。出力バッファ342,344は、差動入力−シングルエンド出力型である。出力バッファ342は、サンプルホールド回路332_Pからのパワーモニタ電圧PD_P1 とサンプルホールド回路332_Nからのパワーモニタ電圧PD_N1 に基づきパワーモニタ電圧PD_1を生成してAPC制御部58Bに供給する。出力バッファ344は、サンプルホールド回路334_Pからのパワーモニタ電圧PD_P2 とサンプルホールド回路334_Nからのパワーモニタ電圧PD_N2 に基づきパワーモニタ電圧PD_2を生成してAPC制御部58Bに供給する。APC用の帰還信号として、パワーモニタ電圧PD_1,PD_2を、フレキシブル基板51を介してAPC制御部58に送る構成である。
The
第2比較例では、フレキシブル基板51で伝送される記録系の信号は記録クロックと記録データとなり、第1比較例でのストラテジ伝送の問題点が解消される。たとえば、ライトストラテジ伝送用のLVDSのチャンネル数は削減されるし、記録クロックと記録データは何れも、チャネルクロック単位の信号であることから、フレキシブル基板51での伝送特性の影響を受け難くい。また、APC制御系では、サンプルホールド部330を光ピックアップ14側のパワーモニタ回路300Bに搭載することでパワーモニタ電圧PDでの伝送が可能となり、パワーモニタ信号PMをフレキシブル基板51で伝送することによる第1例の課題は解消される。
In the second comparative example, the recording system signal transmitted by the
しかしながら、ライトストラテジ回路290Yには、位相同期回路、メモリ、アドレスエンコーダ、タイミング生成回路を含むので、レーザ駆動回路200Yが大規模で(チップ面積、パッケージ面積が大)、消費電力が増え発熱の問題が発生する難点がある。
However, since the
図2Cに示す第3比較例は、ライトストラテジ回路290Xを第1比較例と同様に記録・再生信号処理部50に配置し、サンプルホールド部330を第2比較例と同様にパワーモニタ回路300Bに配置している。この場合、記録系に関しては第1比較例と同様の問題を持つ。
In the third comparative example shown in FIG. 2C, the
加えて、サンプルホールド部330用のサンプリングパルスSPはライトストラテジ回路290Xに付随のサンプリングパルス生成部400Xで生成し、そのサンプリングパルスSPをフレキシブル基板51を介してサンプルホールド部330に伝送することになる。そのため、フレキ配線数の増加、フレキ伝送によるサンプリングパルスSPの信号劣化が新たな問題となる。さらに、サンプリングパルスSPの高速伝送のために、LVDS対応にすることを考慮すると、サンプルホールド部330は、サンプリングパルスSPの入力回路をLVDS対応とする必要があり、端子数が増加する難点がある。
In addition, the sampling pulse SP for the
このように、第1〜第3比較例では、記録系の信号伝送とAPC制御系の信号伝送において、信号の伝送本数や伝送帯域低下、あるいは、ライトストラテジ回路290をレーザ駆動回路200に配置する場合の回路規模の点で、難点がある。
As described above, in the first to third comparative examples, the number of signal transmissions and the transmission band decrease or the
そこで、本実施形態では、先ず、ライトストラテジ技術の適用にも考慮しつつ、APC制御用の信号やサンプリングパルスSPの生成・伝送手法において、第1〜第3比較例の問題を解決することのできる仕組みにする。その手法の基本的な考え方は、ライトストラテジ回路を固定回路基板側に配置し、光ピックアップ14側において、ライトストラテジ用の発光パワーパターン(波形制御信号パターン)を規定する信号に基づいてサンプリングパルスSPを生成する点にある。つまり、ライトストラテジ回路290(発光波形パルス生成部)を備えないレーザ駆動回路200が受け取るレーザ駆動タイミング信号に基づいて、サンプリングパルスSPを生成する。
Therefore, in the present embodiment, first, the problem of the first to third comparative examples is solved in the method for generating and transmitting the APC control signal and the sampling pulse SP while considering the application of the write strategy technique. Make it possible. The basic idea of this method is that the write strategy circuit is arranged on the fixed circuit board side, and the sampling pulse SP is based on the signal defining the light emission power pattern (waveform control signal pattern) for the write strategy on the
サンプリングパルスSPを生成するサンプリングパルス生成部400は、レーザ駆動回路200内に配置してもよいし、パワーモニタ回路300内に配置してもよいし、レーザ駆動回路200やパワーモニタ回路300とは別に配置してもよい。
The sampling
本実施形態のサンプリングパルス生成部400は、レーザ駆動タイミング信号に基づいて、記録波形制御信号パターンにおいて、レベルが変化するタイミングを基準として、サンプリングパルスSPを生成する。
The sampling
たとえば、サンプルホールド回路332に供給するマーク用のサンプリングパルスSP_1は、マークを形成するためのあるエッジを起点として、そこからの遅延時間、パルス幅、そしてサンプルホールド回路332までの遅延補償のための全体遅延時間を設定して生成する。この手法を第1の設定手法と称する。
For example, the sampling pulse SP_1 for the mark supplied to the
また、マークを形成するためのあるエッジを起点とし、そこからの遅延時間と、起点とは別のエッジをパルスの終点の基準とし、そこからの遅延時間と、サンプルホールド回路332までの遅延補償のための全体遅延時間を設定して、生成する。この手法を第2の設定手法と称する。
Further, a certain edge for forming a mark is used as a starting point, a delay time from that point, and an edge different from the starting point is used as a reference for the end point of the pulse, the delay time from that point, and delay compensation to the
さらに、起点とするエッジから、起点とは別のあるエッジまでの時間が設定値以下であれば、マーク用のサンプリングパルスSP_1を生成しない設定を可能にする。 Furthermore, if the time from the starting edge to a certain edge different from the starting point is equal to or less than the set value, it is possible to set so that the mark sampling pulse SP_1 is not generated.
スペース用のサンプリングパルスSP_2の生成も、以下の通り、マーク用の場合と同様である。すなわち、スペース用のサンプリングパルスSP_2は、スペースを形成するためのあるエッジを起点として、そこからの遅延時間、パルス幅、そしてサンプルホールド回路334までの遅延補償のための全体遅延時間を設定して生成する(第1の設定手法)。
The generation of the sampling pulse SP_2 for space is the same as that for the mark as follows. That is, the sampling pulse SP_2 for the space starts from a certain edge for forming the space, sets the delay time from there, the pulse width, and the overall delay time for delay compensation to the
また、スペースを形成するためのあるエッジを起点とし、そこからの遅延時間と、起点とは別のエッジをパルスの終点の基準とし、そこからの遅延時間と、サンプルホールド回路334までの遅延補償のための全体遅延時間を設定して、生成する(第2の設定手法)。
Further, a certain edge for forming a space is used as a starting point, a delay time therefrom, and an edge different from the starting point is used as a reference for the end point of the pulse, the delay time from there and a delay compensation to the
さらに、起点とするエッジから、起点とは別のあるエッジまでの時間が設定値以下であれば、スペース用のサンプリングパルスSP_2を生成しない設定を可能にする。 Furthermore, if the time from the starting edge to a certain edge different from the starting point is equal to or less than the set value, setting that does not generate the sampling pulse SP_2 for space is enabled.
さらに好ましくは、APC制御系統の前記問題点を解決しつつ、ライトストラテジ技術の適用における信号線の伝送本数や伝送帯域の問題点に関して、レーザ駆動回路の回路規模を第2比較例ほどは増大させることなく、解決することのできる仕組みにする。その手法の基本的な考え方は、先ず、ライトストラテジ技術を適用する場合の各タイミングでのレーザ発光のパワーレベル情報(記録波形制御信号パターン)を光ピックアップ14(たとえばレーザ駆動回路200)側で記憶しておく。また、スペースとマークの繰返しの切替りタイミングを示す基準パルスの取得タイミングを規定する情報を含んだ第1の伝送信号と、レーザ発光レベルの切替りタイミングを示す切替えパルスの取得タイミングを規定する情報を含んだ第2の伝送信号を使用する。第1の伝送信号と第2の伝送信号を、図1および図1Aのライトストラテジ信号として扱う。なお、基準パルスもレーザ発光レベルの切替りタイミングを示すものと考えることができ、切替えパルスの一態様として扱う手法を採ることも考えられる。 More preferably, the circuit scale of the laser drive circuit is increased as much as the second comparative example with respect to the problem of the number of signal lines transmitted and the transmission band in the application of the write strategy technology while solving the above problems of the APC control system. And make it a mechanism that can solve it. The basic idea of this method is that, first, the power level information (recording waveform control signal pattern) of laser emission at each timing when the write strategy technology is applied is stored on the optical pickup 14 (for example, laser drive circuit 200) side. Keep it. The first transmission signal including information defining the reference pulse acquisition timing indicating the switching timing of the space and mark repetition, and the information specifying the acquisition timing of the switching pulse indicating the switching timing of the laser emission level The second transmission signal including is used. The first transmission signal and the second transmission signal are treated as the write strategy signals of FIGS. 1 and 1A. In addition, it can be considered that the reference pulse also indicates the switching timing of the laser emission level, and it is conceivable to adopt a method that is handled as one aspect of the switching pulse.
記録系統に関し、2種のパルス信号から基準パルスと切替えパルスを生成し、基準パルスで記録波形制御信号パターンの初期レベルにし、以後、切替えパルスごとに記録波形制御信号パターンに従いライトストラテジ技術を適用する発光パワーレベルに切り替える。そして、基準パルスが生成される都度、再度、前記と同様の処理を行なう。このような方式を、本明細書では、シーケンシャル(sequential)方式と称する。 With respect to the recording system, a reference pulse and a switching pulse are generated from two types of pulse signals, the recording pulse control signal pattern is set to the initial level with the reference pulse, and then a write strategy technique is applied for each switching pulse according to the recording waveform control signal pattern. Switch to emission power level. Then, every time a reference pulse is generated, the same processing as described above is performed again. Such a method is referred to as a sequential method in this specification.
第1・第3比較例の方式とシーケンシャル方式は、ライトストラテジ回路290をドライブ基板側に配置する点で共通するが、シーケンシャル方式の方がフレキシブル基板51を介する信号伝送線の種類が少ないと言う相違がある。以下では、シーケンシャル方式との対比で、第1・第3比較例の方式を通常方式と称する。
The methods of the first and third comparative examples and the sequential method are common in that the
<信号インタフェース:システム構成>
図3および図3Aは、本実施形態の信号インタフェース方式を実現するシステム構成を示す図である。
<Signal interface: System configuration>
3 and 3A are diagrams showing a system configuration that realizes the signal interface system of the present embodiment.
本実施形態は、記録系に関しては、第1・第3比較例と同様の信号インタフェース方式を採りつつ、APC制御系に関しては、サンプリングパルス生成部400を光ピックアップ14側(特にレーザ駆動回路200内)に配置する例である。レーザ駆動回路200は、第1比較例のレーザ駆動回路200Xと同様の回路を含む。
In the present embodiment, the recording system uses the same signal interface method as in the first and third comparative examples, and the APC control system includes the
ここで、図3に示す第1例は通常方式をベースとする。サンプリングパルス生成部400は、ライトストラテジ回路290からフレキシブル基板51を介して伝送されるLVDS対応のライトストラテジ信号(4〜5ch)に基づいて、サンプリングパルスSP_1,SP_2を生成する。ライトストラテジ回路290は、デジタル信号処理部57に収容されている。
Here, the first example shown in FIG. 3 is based on the normal method. The
図3Aに示す第2例はシーケンシャル方式をベースとする。サンプリングパルス生成部400は、記録・再生信号処理部50からフレキシブル基板51を介して伝送されるLVDS対応のライトストラテジ信号(2〜3ch)に基づいて、サンプリングパルスSP_1,SP_2を生成する。第1例と第2例では、ライトストラテジ信号の種類が異なり、これに起因して伝送線本数も異なり、第2例の方が少ない。
The second example shown in FIG. 3A is based on a sequential method. The
たとえば、第2例のデジタル信号処理部57Bは、ライトストラテジ回路290の後段にシーケンシャル対応の伝送信号生成部500を有する。伝送信号生成部500は、ライトストラテジ回路290からのライトストラテジ信号(たとえば4〜5ch)に基づいて、第1の伝送信号と第2の伝送信号を生成する。ここで、第1の伝送信号は、スペースおよびマークの繰返しの切替りタイミングを示す基準パルスの取得タイミングを規定する情報を含むものである。第2の伝送信号は、分割された駆動信号の切替りタイミングを示す切替えパルスの取得タイミングを規定する情報を含むものである。伝送信号生成部500は、第1および第2の伝送信号をフレキシブル基板51を介してレーザ駆動回路200に供給する。
For example, the digital
第2例のレーザ駆動回路200Bは、デジタル信号処理部57の伝送信号生成部500と整合するパルス再生部202と発光波形生成部203を有する。パルス再生部202は、フレキシブル基板51を介して伝送された第1および第2の伝送信号に基づいて基準パルスと切替えパルスを生成する。発光波形生成部203は、この基準パルスと切替えパルスを使用して記録波形制御信号パターンに従った電流信号を生成する。
The
第1・第2の伝送信号や、発光波形生成部203,500の詳細については後で説明する。
Details of the first and second transmission signals and the light emission
第1例と第2例では、デジタル信号処理部57からレーザ駆動回路200に伝送される記録系のパルス信号の種類が異なるが、何れも、光ピックアップ14において、記録波形制御信号パターンに従って光ピックアップ14を駆動する点では相違がない。本実施形態のサンプリングパルス生成部400は、記録波形制御信号パターンにおいて、レベルが変化するタイミングを基準としてサンプリングパルスSPを生成するので、伝送される記録系のパルス信号の種類に関わらず、同様のパルス設定手法を採用できる。以下に、その設定例について説明する。
In the first example and the second example, the types of pulse signals of the recording system transmitted from the digital
<サンプリングパルス設定:第1例>
図4は、サンプリングパルスSPの第1の設定例を説明する図である。この例では、レーザ発光波形は、クール、イレーズ、ピーク、オーバードライブの4つのパワーレベルをもつ。このうち、マークを形成するパワーレベルはピークとオーバードライブ、スペースを形成するパワーレベルはクールとイレーズと考えることができる。第1例は、マーク用のサンプリングパルスSP_1を設定する際に第1の設定手法を採用するものである。
<Sampling pulse setting: First example>
FIG. 4 is a diagram illustrating a first setting example of the sampling pulse SP. In this example, the laser emission waveform has four power levels: cool, erase, peak, and overdrive. Among these, the power level for forming the mark can be considered as peak and overdrive, and the power level for forming the space can be considered as cool and erase. The first example employs the first setting method when setting the sampling pulse SP_1 for the mark.
ここでは、サンプリングパルスSP_1は、マークを形成するピークとオーバードライブのうち比較的幅が広いピークレベルをサンプルホールドする場合について説明する。サンプリングパルスSP_1は、パワーモニタ信号PMのピークレベルをサンプルホールドするためのものであるから、パワーモニタ信号PMがオーバードライブレベルからピークレベルに静定した後にサンプルできるようにタイミングを設定する。したがって、ピークレベルの開始位置を基準に生成するのが、スペース幅の影響を受けないので好ましいことになる。ピークレベルをサンプルするタイミングの設定に当たっては、パルス再生部202からサンプルホールド回路332に至る信号経路の信号帯域および遅延に対する補償を考慮する。
Here, a description will be given of a case where the sampling pulse SP_1 samples and holds a peak level having a relatively wide width between the peak forming the mark and the overdrive. Since the sampling pulse SP_1 is used to sample and hold the peak level of the power monitor signal PM, the timing is set so that the power monitor signal PM can be sampled after it has settled from the overdrive level to the peak level. Therefore, it is preferable to generate the peak level based on the start position because it is not affected by the space width. In setting the timing for sampling the peak level, compensation for the signal band and delay of the signal path from the
たとえば、キャッスル方式を適用する場合、図4のように、ピークレベルの開始タイミングT12を、ピークレベルをサンプルするための起点のエッジ(基準エッジ)に設定する。基準エッジT12を起点として、サンプリングパルスSP_1の立上りタイミングT13を規定する立上り遅延時間TD1_1(T12〜T13)を設定する。立上り遅延時間TD1_1は、サンプルホールド回路332に入力されるパワーモニタ信号PMが、オーバードライブレベルからピークレベルへ静定する時間を考慮して設定する。
For example, when the castle method is applied, as shown in FIG. 4, the peak level start timing T12 is set to the starting edge (reference edge) for sampling the peak level. Starting from the reference edge T12, a rising delay time TD1_1 (T12 to T13) that defines the rising timing T13 of the sampling pulse SP_1 is set. The rise delay time TD1_1 is set in consideration of the time during which the power monitor signal PM input to the
さらに、立上りタイミングT13を起点に、サンプリングパルスSP_1のアクティブHの期間を規定するパルス幅PW1(T13〜T14)と、実際にアクティブHとなるまでのパルス遅延時間TD1_2(T13〜T15)を設定する。パルス遅延時間TD1_2は、パルス再生部202からサンプルホールド回路332への信号経路におけるサンプリングパルスの遅延時間とパワーモニタ信号PMの遅延時間の差を補償することを考慮して設定する。ここで、サンプリングパルスの遅延時間とは、パルス再生部202からサンプリングパルス生成部400を経てサンプルホールド回路332に入力されるまでに要する時間である。また、パワーモニタ信号PMの遅延時間とは、パルス再生部202から発光波形生成部203を経て半導体レーザ41が発光し、その光が受光素子310に入射して電流電圧変換部313と可変ゲイン型増幅器315を経てサンプルホールド回路332に入力されるまでに要する時間である。
Further, starting from the rising timing T13, a pulse width PW1 (T13 to T14) that defines the active H period of the sampling pulse SP_1 and a pulse delay time TD1_2 (T13 to T15) until the active pulse H actually becomes active are set. . The pulse delay time TD1_2 is set in consideration of compensating for the difference between the delay time of the sampling pulse and the delay time of the power monitor signal PM in the signal path from the
こうすることで、サンプリングパルスSP_1は、タイミングT12から「TD1_1+TD1_2」経過後に立上り、パルス幅PW1経過後に立ち下がる。 As a result, the sampling pulse SP_1 rises after “TD1_1 + TD1_2” has elapsed from the timing T12, and falls after the pulse width PW1 has elapsed.
なお、マーク長が短い場合には、マーク用のサンプリングパルスSP_1を生成しない設定にする。たとえば、基準エッジT12からピークレベルの最後となるオーバードライブの開始タイミングT14までを、サンプリングパルス出力判定設定期間DET1に設定する。そして、このサンプリングパルス出力判定設定期間DET1が、予め定められている値に達しない場合、サンプリングパルスSP_1を出力しないようにする。たとえば、パワーモニタ信号PMにおける、オーバードライブレベルからピークレベルへの静定に10nsを要する波形においては、立上り遅延時間TD1_1を10ns以上に設定することで、正しいピークレベルをサンプルホールドすることができる。このとき、サンプリングパルス出力判定設定期間DET1を10nsと設定することにより、ピークレベルの幅が10ns以下のパルスにおいては、サンプリングパルスSP_1を生成しないようにする。 If the mark length is short, the setting is made so that the mark sampling pulse SP_1 is not generated. For example, the period from the reference edge T12 to the overdrive start timing T14 at the end of the peak level is set in the sampling pulse output determination setting period DET1. When the sampling pulse output determination setting period DET1 does not reach a predetermined value, the sampling pulse SP_1 is not output. For example, in a waveform that requires 10 ns for stabilization from the overdrive level to the peak level in the power monitor signal PM, the correct peak level can be sampled and held by setting the rise delay time TD1_1 to 10 ns or more. At this time, the sampling pulse output determination setting period DET1 is set to 10 ns, so that the sampling pulse SP_1 is not generated in a pulse having a peak level width of 10 ns or less.
<サンプリングパルス設定:第2例>
図4Aは、サンプリングパルスSPの第2の設定例を説明する図である。レーザ発光波形は、図4と同じパワーレベルをもつ。第2例は、マーク用のサンプリングパルスSP_1を設定する際に第2の設定手法を採用するものである。
<Sampling pulse setting: second example>
FIG. 4A is a diagram illustrating a second setting example of the sampling pulse SP. The laser emission waveform has the same power level as in FIG. The second example employs the second setting method when setting the mark sampling pulse SP_1.
たとえば、キャッスル方式を適用する場合、図4Aのように、ピークレベルの開始タイミングT22を、ピークレベルをサンプルするための起点のエッジ(立上り基準エッジ)に設定する。立上り基準エッジT22を起点として、サンプリングパルスSP_1の立上りタイミングT23を規定する立上り遅延時間TD2_1(T22〜T23)を設定する。立上り遅延時間TD2_1は、サンプルホールド回路332に入力されるパワーモニタ信号PMが、オーバードライブレベルからピークレベルへ静定する時間を考慮して設定する。さらに、立上りタイミングT23を起点に、実際にアクティブHとなるまでのパルス遅延時間TD2_2(T23〜T26)を設定する。パルス遅延時間TD2_2は、パルス再生部202からサンプルホールド回路332への信号経路におけるサンプリングパルスの遅延時間とパワーモニタ信号PMの遅延時間の差を補償することを考慮して設定する。
For example, when the castle method is applied, as shown in FIG. 4A, the peak level start timing T22 is set to the starting edge (rising reference edge) for sampling the peak level. A rising delay time TD2_1 (T22 to T23) that defines the rising timing T23 of the sampling pulse SP_1 is set starting from the rising reference edge T22. The rise delay time TD2_1 is set in consideration of the time during which the power monitor signal PM input to the
さらに、ピークレベルの最後となるオーバードライブの開始タイミングT24を、ピークレベルのサンプリングの終点のエッジ(立下り基準エッジ)に設定する。立下り基準エッジT24を起点として、サンプリングパルスSP_1のアクティブHの終了タイミングを規定する立下り遅延時間TD2_3(T24〜T25)を設定する。立下り遅延時間TD2_3は、必要なパルス幅を考慮して設定する。この場合のパルス幅PW2は「T24+TD2_3−T23」となる。 Furthermore, the overdrive start timing T24 at the end of the peak level is set to the end point (falling reference edge) of the peak level sampling. A falling delay time TD2_3 (T24 to T25) that defines the end timing of the active H of the sampling pulse SP_1 is set starting from the falling reference edge T24. The falling delay time TD2_3 is set in consideration of the necessary pulse width. In this case, the pulse width PW2 is “T24 + TD2_3−T23”.
こうすることで、サンプリングパルスSP_1は、タイミングT22から「TD2_1+TD2_2」経過後に立上り、パルス幅PW2(=T24+TD2_3−T23)経過後に立ち下がる。 As a result, the sampling pulse SP_1 rises after “TD2_1 + TD2_2” has elapsed from the timing T22, and falls after the pulse width PW2 (= T24 + TD2_3-T23) has elapsed.
なお、マーク長が短い場合には、マーク用のサンプリングパルスSP_1を生成しない設定にする。たとえば、立上り基準エッジT22からピークレベルの最後となるオーバードライブの開始タイミングT24までを、サンプリングパルス出力判定設定期間DET2に設定する。そして、このサンプリングパルス出力判定設定期間DET2が、予め定められている値に達しない場合、サンプリングパルスSP_1を出力しないようにする。たとえば、パワーモニタ信号PMにおける、オーバードライブレベルからピークレベルへの静定に10nsを要する波形においては、立上り遅延時間TD2_1を10ns以上に設定することで、正しいピークレベルをサンプルホールドすることができる。このとき、サンプリングパルス出力判定設定期間DET2を10nsと設定することにより、ピークレベルの幅が10ns以下のパルスにおいては、サンプリングパルスSP_1を生成しないようにする。 If the mark length is short, the setting is made so that the mark sampling pulse SP_1 is not generated. For example, the period from the rising reference edge T22 to the overdrive start timing T24 at the end of the peak level is set in the sampling pulse output determination setting period DET2. When the sampling pulse output determination setting period DET2 does not reach a predetermined value, the sampling pulse SP_1 is not output. For example, in a waveform that requires 10 ns for stabilization from the overdrive level to the peak level in the power monitor signal PM, the correct peak level can be sampled and held by setting the rising delay time TD2_1 to 10 ns or more. At this time, the sampling pulse output determination setting period DET2 is set to 10 ns, so that the sampling pulse SP_1 is not generated in a pulse having a peak level width of 10 ns or less.
<サンプリングパルス設定:第3例>
図4Bは、サンプリングパルスSPの第3の設定例を説明する図である。レーザ発光波形は、図4と同じパワーレベルをもつ。第3例は、スペース用のサンプリングパルスSP_2を設定する際に第1の設定手法を採用するものである。
<Sampling pulse setting: third example>
FIG. 4B is a diagram for explaining a third setting example of the sampling pulse SP. The laser emission waveform has the same power level as in FIG. In the third example, the first setting method is adopted when setting the sampling pulse SP_2 for space.
ここでは、サンプリングパルスSP_2は、スペースを形成するクールとイレーズのうち比較的幅が広いイレーズレベルをサンプルホールドする場合について説明する。サンプリングパルスSP_2は、パワーモニタ信号PMのイレーズレベルをサンプルホールドするためのものであるから、パワーモニタ信号PMがクールレベルからイレーズレベルに静定した後にサンプルできるようにタイミングを設定する。したがって、イレーズレベルの開始位置を基準に生成するのが、マーク幅の影響を受けないので好ましいことになる。イレーズレベルをサンプルするタイミングの設定に当たっては、パルス再生部202からサンプルホールド回路334に至る信号経路の信号帯域および遅延に対する補償を考慮する。
Here, the case where the sampling pulse SP_2 samples and holds an erase level having a relatively wide width between cool and erase forming a space will be described. Since the sampling pulse SP_2 is used to sample and hold the erase level of the power monitor signal PM, the timing is set so that the power monitor signal PM can be sampled after being settled from the cool level to the erase level. Therefore, it is preferable to generate with reference to the start position of the erase level because it is not affected by the mark width. In setting the timing for sampling the erase level, compensation for the signal band and delay of the signal path from the
たとえば、キャッスル方式を適用する場合、図4Bのように、イレーズレベルの開始タイミングT32を、イレーズレベルをサンプルするための起点のエッジ(基準エッジ)に設定する。基準エッジT32を起点として、サンプリングパルスSP_2の立上りタイミングT33を規定する立上り遅延時間TD3_1(T32〜T33)を設定する。立上り遅延時間TD3_1は、サンプルホールド回路334に入力されるパワーモニタ信号PMが、クールレベルからイレーズレベルへ静定する時間を考慮して設定する。
For example, when the castle method is applied, as shown in FIG. 4B, the erase level start timing T32 is set to the edge (reference edge) of the starting point for sampling the erase level. Starting from the reference edge T32, a rising delay time TD3_1 (T32 to T33) that defines the rising timing T33 of the sampling pulse SP_2 is set. The rise delay time TD3_1 is set in consideration of the time for the power monitor signal PM input to the
さらに、立上りタイミングT33を起点に、サンプリングパルスSP_2のアクティブHの期間を規定するパルス幅PW3(T33〜T34)と、実際にアクティブHとなるまでのパルス遅延時間TD3_2(T33〜T37)を設定する。パルス遅延時間TD3_2は、パルス再生部202からサンプルホールド回路334への信号経路におけるサンプリングパルスの遅延時間とパワーモニタ信号PMの遅延時間の差を補償することを考慮して設定する。
Further, starting from the rising timing T33, the pulse width PW3 (T33 to T34) for defining the active H period of the sampling pulse SP_2 and the pulse delay time TD3_2 (T33 to T37) until the active pulse H actually becomes active are set. . The pulse delay time TD3_2 is set in consideration of compensating for the difference between the delay time of the sampling pulse and the delay time of the power monitor signal PM in the signal path from the
こうすることで、サンプリングパルスSP_2は、タイミングT32から「TD3_1+TD3_2」経過後に立上り、パルス幅PW3経過後に立ち下がる。 In this way, the sampling pulse SP_2 rises after “TD3_1 + TD3_2” has elapsed from the timing T32, and falls after the pulse width PW3 has elapsed.
なお、スペース長が短い場合には、スペース用のサンプリングパルスSP_2を生成しない設定にする。たとえば、基準エッジT32からイレーズレベルの最後となるオーバードライブの開始タイミングT35までを、サンプリングパルス出力判定設定期間DET3に設定する。そして、このサンプリングパルス出力判定設定期間DET3が、予め定められている値に達しない場合、サンプリングパルスSP_2を出力しないようにする。たとえば、パワーモニタ信号PMにおける、クールレベルからイレーズレベルへの静定に10nsを要する波形においては、立上り遅延時間TD3_1を10ns以上に設定することで、正しいイレーズレベルをサンプルホールドすることができる。このとき、サンプリングパルス出力判定設定期間DET3を10nsと設定することにより、イレーズレベルの幅が10ns以下のパルスにおいては、サンプリングパルスSP_2を生成しないようにする。 If the space length is short, the setting is made so as not to generate the space sampling pulse SP_2. For example, the period from the reference edge T32 to the overdrive start timing T35 at the end of the erase level is set in the sampling pulse output determination setting period DET3. When the sampling pulse output determination setting period DET3 does not reach a predetermined value, the sampling pulse SP_2 is not output. For example, in a waveform that requires 10 ns for stabilization from the cool level to the erase level in the power monitor signal PM, the correct erase level can be sampled and held by setting the rise delay time TD3_1 to 10 ns or more. At this time, the sampling pulse output determination setting period DET3 is set to 10 ns, so that the sampling pulse SP_2 is not generated for a pulse whose erase level width is 10 ns or less.
<サンプリングパルス設定:第4例>
図4Cは、サンプリングパルスSPの第4の設定例を説明する図である。レーザ発光波形は、図4と同じパワーレベルをもつ。第4例は、スペース用のサンプリングパルスSP_2を設定する際に第2の設定手法を採用するものである。
<Sampling pulse setting: 4th example>
FIG. 4C is a diagram illustrating a fourth setting example of the sampling pulse SP. The laser emission waveform has the same power level as in FIG. The fourth example employs the second setting method when setting the sampling pulse SP_2 for space.
たとえば、キャッスル方式を適用する場合、図4Cのように、イレーズレベルの開始タイミングT42を、イレーズレベルをサンプルするための起点のエッジ(立上り基準エッジ)に設定する。立上り基準エッジT42を起点として、サンプリングパルスSP_2の立上りタイミングT43を規定する立上り遅延時間TD4_1(T42〜T43)を設定する。立上り遅延時間TD4_1は、サンプルホールド回路334に入力されるパワーモニタ信号PMが、クールレベルからイレーズレベルへ静定する時間を考慮して設定する。さらに、立上りタイミングT43を起点に、実際にアクティブHとなるまでのパルス遅延時間TD4_2(T43〜T47)を設定する。パルス遅延時間TD4_2は、パルス再生部202からサンプルホールド回路334への信号経路におけるサンプリングパルスの遅延時間とパワーモニタ信号PMの遅延時間の差を補償することを考慮して設定する。
For example, when the castle method is applied, as shown in FIG. 4C, the start timing T42 of the erase level is set to the starting edge (rising reference edge) for sampling the erase level. A rising delay time TD4_1 (T42 to T43) that defines the rising timing T43 of the sampling pulse SP_2 is set starting from the rising reference edge T42. The rise delay time TD4_1 is set in consideration of the time during which the power monitor signal PM input to the
さらに、イレーズレベルの最後となるオーバードライブの開始タイミングT45を、イレーズレベルのサンプリングの終点のエッジ(立下り基準エッジ)に設定する。立下り基準エッジT45を起点として、サンプリングパルスSP_2のアクティブHの終了タイミングを規定する立下り遅延時間TD4_3(T45〜T46)を設定する。立下り遅延時間TD4_3は、必要なパルス幅を考慮して設定する。この場合のパルス幅PW4は「T45+TD4_3−T43」となる。 Furthermore, the overdrive start timing T45, which is the last of the erase level, is set to the end edge (falling reference edge) of the erase level sampling. A falling delay time TD4_3 (T45 to T46) that defines the end timing of the active H of the sampling pulse SP_2 is set starting from the falling reference edge T45. The fall delay time TD4_3 is set in consideration of the necessary pulse width. In this case, the pulse width PW4 is “T45 + TD4_3−T43”.
こうすることで、サンプリングパルスSP_2は、タイミングT42から「TD4_1+TD4_2」経過後に立上り、パルス幅PW4(=T45+TD4_3−T43)経過後に立ち下がる。 By doing so, the sampling pulse SP_2 rises after “TD4_1 + TD4_2” has elapsed from the timing T42, and falls after the pulse width PW4 (= T45 + TD4_3-T43) has elapsed.
なお、スペース長が短い場合には、スペース用のサンプリングパルスSP_2を生成しない設定にする。たとえば、立上り基準エッジT42からイレーズレベルの最後となるオーバードライブの開始タイミングT45までを、サンプリングパルス出力判定設定期間DET4に設定する。そして、このサンプリングパルス出力判定設定期間DET4が、予め定められている値に達しない場合、サンプリングパルスSP_2を出力しないようにする。たとえば、パワーモニタ信号PMにおける、クールレベルからイレーズレベルへの静定に10nsを要する波形においては、立上り遅延時間TD4_1を10ns以上に設定することで、正しいイレーズレベルをサンプルホールドすることができる。このとき、サンプリングパルス出力判定設定期間DET4を10nsと設定することにより、イレーズレベルの幅が10ns以下のパルスにおいては、サンプリングパルスSP_2を生成しないようにする。 If the space length is short, the setting is made so as not to generate the space sampling pulse SP_2. For example, the period from the rising reference edge T42 to the overdrive start timing T45 at the end of the erase level is set in the sampling pulse output determination setting period DET4. When the sampling pulse output determination setting period DET4 does not reach a predetermined value, the sampling pulse SP_2 is not output. For example, in a waveform that requires 10 ns for stabilization from the cool level to the erase level in the power monitor signal PM, the correct erase level can be sampled and held by setting the rise delay time TD4_1 to 10 ns or more. At this time, the sampling pulse output determination setting period DET4 is set to 10 ns, so that the sampling pulse SP_2 is not generated for a pulse whose erase level width is 10 ns or less.
<シーケンシャル方式の詳細>
図5は、記録系にシーケンシャル方式を採用する第2例の信号インタフェース方式の詳細を説明する図である。
<Details of sequential method>
FIG. 5 is a diagram for explaining the details of the signal interface system of the second example that employs the sequential system for the recording system.
図5(2)に示すように、本実施形態のシーケンシャル方式は、第1の伝送信号としてのリセット信号RSと第2の伝送信号としてのエッジ信号ESの2種類の入力信号を使用して、基準パルスとしてのリセットパルスRPと切替えパルスとしてのエッジパルスEPを生成する。 As shown in FIG. 5 (2), the sequential method of this embodiment uses two types of input signals, a reset signal RS as a first transmission signal and an edge signal ES as a second transmission signal. A reset pulse RP as a reference pulse and an edge pulse EP as a switching pulse are generated.
第1の伝送信号(リセット信号RS)は、ライトストラテジ回路内蔵の構成の第2比較例のレーザ駆動回路200Yにおける記録波形制御信号パターンの開始エッジ(図5(1)のエッジパルスEP1)と同じエッジを示す信号である。第2の伝送信号(エッジ信号ES)は、それ以外のエッジタイミング(図5(1)のエッジパルスEP2,EP3,EP4,EP5)を合成したものと同じエッジを示す信号である。
The first transmission signal (reset signal RS) is the same as the start edge of the recording waveform control signal pattern (edge pulse EP1 in FIG. 5 (1)) in the
図5(3)に示すように、メモリ回路の各レジスタに、記録波形制御信号パターンを示す各発光パワーレベルの情報を順に記憶しておく。リセットパルスRPに基づき基準パワーレベルの情報を読み出す。基準パワーレベルの情報に続く各タイミングでの発光パワーレベルの情報は、エッジパルスEPに基づき順に読み出す。 As shown in FIG. 5 (3), information on each light emission power level indicating the recording waveform control signal pattern is stored in order in each register of the memory circuit. Based on the reset pulse RP, information on the reference power level is read out. Information on the light emission power level at each timing following the information on the reference power level is sequentially read based on the edge pulse EP.
つまり、レーザ駆動回路200内に、高速に動作するリセット機能付のシーケンシャルアクセスメモリを備え、読み出す順番に各パワーレベル情報を保持するようにしておく。そして、切替えパルス(エッジパルスEP)が生成される都度、基準パワーレベルの情報の次から順番に、発光パワーレベルの情報を選択して読み出す。さらに、どの発光パワーレベルが選択されていても、基準パルス(リセットパルスRP)のリセット機能により、基準パルスが生成されるタイミングで、先頭エリアの情報(基準パワーレベルの情報)を読み出す。
That is, the
[ドライブ基板側の構成]
図6は、ドライブ基板側のデジタル信号処理部57に備えられるシーケンシャル方式を実現するために使用される伝送信号生成部500の構成例を説明する図である。
[Configuration of drive board]
FIG. 6 is a diagram illustrating a configuration example of the transmission
シーケンシャル方式の基本は、記録モード時に、1つの第1の伝送信号および1つの第2の伝送信号をレーザ駆動回路200に供給して、ライトストラテジ技術で半導体レーザ41を駆動するものである。第1の伝送信号としては、スペースとマークの繰返しの切替りタイミングを示す基準パルスの取得タイミングがエッジで示されているリセット信号RSを使用する。第2の伝送信号としては、レーザ発光レベルの切替りタイミングを示す切替えパルスの取得タイミングがエッジで示されているエッジ信号ESを使用する。因みに、ここでは、エッジ信号ESのエッジはリセットパルスRPを示さないものとする。
The basic of the sequential method is to supply one first transmission signal and one second transmission signal to the
図5で示したように、ライトストラテジ回路290で生成される記録波形制御信号パターンを規定する各エッジパルスEP1〜EP5の内、エッジパルスEP1がリセットパルスRPに対応する。そこで、伝送信号生成部500は、エッジパルスEP1に基づき、リセット信号RSを生成する。また、エッジパルスEP2〜EP5がエッジパルスEPに対応するので、伝送信号生成部500は、エッジパルスEP2〜EP5に基づいてエッジ信号ESを生成する。
As shown in FIG. 5, among the edge pulses EP1 to EP5 that define the recording waveform control signal pattern generated by the
このとき、リセット信号RSの片エッジでリセットパルスRPを規定する考え方と両エッジでリセットパルスRPを規定する考え方の何れをも採り得る。同様に、エッジ信号ESの片エッジでエッジパルスEPを規定する考え方と両エッジでエッジパルスEPを規定する考え方の何れをも採り得る。リセットパルスRPに比べるとエッジパルスEPの出力頻度は多くなる。そこで、本実施形態では、少なくともエッジパルスEPに関してはエッジ信号ESの両エッジで規定する構成を採用することにする。リセットパルスRPに関しては、リセット信号RSの片エッジで規定する場合と、両エッジで規定する場合の何れかを採ることとする。 At this time, either the concept of defining the reset pulse RP with one edge of the reset signal RS or the concept of defining the reset pulse RP with both edges can be adopted. Similarly, either the concept of defining the edge pulse EP with one edge of the edge signal ES or the concept of defining the edge pulse EP with both edges can be adopted. The edge pulse EP is output more frequently than the reset pulse RP. Therefore, in this embodiment, a configuration defined by both edges of the edge signal ES is adopted at least for the edge pulse EP. As for the reset pulse RP, either the case where it is defined by one edge of the reset signal RS or the case where it is defined by both edges is taken.
たとえば、伝送信号生成部500は、リセット信号RSを生成するために、RS型フリップフロップ510とD型フリップフロップ512を有する。RS型フリップフロップ510のR入力端にはノンリターンゼロデータNRZIDATAを入力し、S入力端にはエッジパルスEP1を入力する。RS型フリップフロップ510の非反転出力端 Qは、D型フリップフロップ512のクロック入力端CKと接続されている。D型フリップフロップ512の反転出力端xQはD入力端と接続され、1/2分周回路が構成されるようになっている。
For example, the transmission
こうすることで、RS型フリップフロップ510の非反転出力端 Qは、エッジパルスEP1の立上りエッジに同期してアクティブHとなりノンリターンゼロデータNRZIDATAの立上りエッジに同期してインアクティブLとなる。RS型フリップフロップ510の非反転出力端 Qの出力パルスは、D型フリップフロップ512のクロック入力端CKに供給され、1/2に分周される。
As a result, the non-inverting output terminal Q of the RS flip-
RS型フリップフロップ510の非反転出力端 Qの出力パルスをリセット信号RSとすれば、その立上りエッジでリセットパルスRPを規定することになる。RS型フリップフロップ510の反転出力端xQの出力パルスをリセット信号RSとすれば、その立下りエッジでリセットパルスRPを規定することになる。D型フリップフロップ512の非反転出力端 Qや反転出力端xQの出力パルスをリセット信号RSとすれば、その両エッジでリセットパルスRPを規定することになる。よって、リセット信号RSの片エッジでリセットパルスRPを規定するシステム構成にする場合にはD型フリップフロップ512は不要である。
If the output pulse at the non-inverting output terminal Q of the RS flip-
伝送信号生成部500は、エッジ信号ESを生成するために、4入力型のORゲート520とD型フリップフロップ522を有する。ORゲート520の各入力端には、エッジパルスEP1〜EP5が供給される。ORゲート520の出力端は、D型フリップフロップ522のクロック入力端CKと接続されている。D型フリップフロップ522の反転出力端xQはD入力端と接続され、1/2分周回路が構成されるようになっている。
The transmission
こうすることで、エッジパルスEP2〜EP5の何れかの立上りエッジに同期して、D型フリップフロップ522の非反転出力端 Qや反転出力端xQは、L,Hが順番に変化する。よって、D型フリップフロップ522の非反転出力端 Qや反転出力端xQの出力パルスをエッジ信号ESとすれば、その両エッジでエッジパルスEPを規定することになる。
By doing so, the non-inverting output terminal Q and the inverting output terminal xQ of the D-type flip-
[光ピックアップ側の構成]
図7〜図7Dは、シーケンシャル方式を実現する光ピックアップ14側の構成を説明する図である。ここで、図7は、シーケンシャル方式を実現するレーザ駆動回路(特に、図1Aの駆動電流制御部47に対応)を示す図である。図7Aは、シーケンシャル方式のレーザ駆動回路200に使用されるメモリ回路(発光レベルパターン記憶部)の記憶情報と電流スイッチとの関係を説明する図である。図7Bおよび図7Cは、シーケンシャル方式のレーザ駆動回路200の動作を説明するタイミングチャートである。図7Dは、図7Bおよび図7Cに示す記録波形制御信号パターンに対応したメモリ回路のレジスタ設定情報を示す図である。
[Optical pickup side configuration]
7 to 7D are diagrams illustrating the configuration on the
図7のように、本実施形態のレーザ駆動回路200は、リセットパルス生成部210およびエッジパルス生成部220を具備したパルス再生部202、発光レベルパターン記憶部230、電流源部240、電流スイッチ部250、レーザ駆動部270を有する。レーザ駆動回路200の内、レーザ駆動部270を除く部分が発光波形生成部203である。リセットパルス生成部210は第1パルス生成部の一例であり、エッジパルス生成部220は第2パルス生成部の一例である。
As shown in FIG. 7, the
パルス再生部202は、第1の伝送信号としてのリセット信号RSと第2の伝送信号としてのエッジ信号ESを使用して、リセットパルスRPとエッジパルスEPを生成(再生)する。たとえば、リセットパルス生成部210は、リセット信号RSに基づきリセットパルスRPを生成する。エッジパルス生成部220は、エッジ信号ESに基づきにエッジパルスEPを生成する。つまり、リセットパルスRPの生成タイミングはリセット信号RSのエッジに同期し、エッジパルスEPの生成タイミングはエッジ信号ESのエッジに同期させるものである。ここでは、リセットパルスRPおよびエッジパルスEPは何れもアクティブHのパルス信号であるものとする。
The
リセットパルス生成部210は第1エッジ検出部の一例であるエッジ検出回路212を有している。エッジパルス生成部220は第2エッジ検出部の一例であるエッジ検出回路222を有している。エッジ検出回路212,222としては、たとえば、NAND(あるいはAND)ゲートやNOR(あるいはOR)ゲート回路やインバータやEX−ORゲートなどのゲート回路を利用するなど公知のものを適用すればよい。
The reset
たとえば、非反転型の論理ゲートを遅延素子として使用し、入力パルス信号と遅延素子の出力をEX−ORゲートに入力すると両エッジをアクティブHで検出できる。反転型の論理ゲートを遅延素子として使用し、入力パルス信号と遅延素子の出力を、ANDゲートに入力すると立上りエッジをアクティブHで検出でき、NORゲートに入力すると立下りエッジをアクティブHで検出できる。 For example, when a non-inverted logic gate is used as a delay element and the input pulse signal and the output of the delay element are input to the EX-OR gate, both edges can be detected with active H. When an inverting logic gate is used as a delay element, when the input pulse signal and the output of the delay element are input to the AND gate, the rising edge can be detected with active H, and when the input pulse signal is input to the NOR gate, the falling edge can be detected with active H. .
ここで、リセットパルス生成部210は、入力されるリセット信号RSの立上りおよび立下りの何れか一方のエッジ(ここでは立上りエッジとする)をエッジ検出回路212により検出してリセットパルスRPを生成し、発光レベルパターン記憶部230に供給する(対応するタイミングチャートは図7B)。変形例としては、リセット信号の立上りおよび立下りの双方のエッジを検出してリセットパルスRPを生成してもよい(対応するタイミングチャートは図7C)。
Here, the reset
エッジパルス生成部220は、入力されるエッジ信号ESの立上りおよび立下りの双方のエッジをエッジ検出回路222により検出してエッジパルスEPを生成し、発光レベルパターン記憶部230に供給する。スペースとマークの繰返しの1サイクル当たりに、リセットパルスRPは1つ生成すればよいが、エッジパルスEPは複数生成する必要があるので、エッジ信号ESの両エッジからエッジパルスEPを生成することでエッジ信号ESの周波数を低く抑えるようにしている。
The edge
発光レベルパターン記憶部230は、ライトストラテジ技術を適用する場合の各タイミングにおけるレーザ発光のパワーレベル情報(記録波形制御信号パターン)を記憶する。たとえば発光レベルパターン記憶部230は、複数のレジスタ232_1〜232_k(纏めてレジスタセット231と称する)と各レジスタ232_1〜232_kの出力に設けられた読出しスイッチ234_1〜234_kを備える。
The light emission level
レジスタセット231は、主記憶部として機能する。各レジスタ232_1〜232_kの出力線や対応する読出しスイッチ234_1〜234_kは、ライトストラテジ技術を適用する際のレーザパワーの多値レベルを設定可能な複数である。多値レベルの数とレジスタ232_1〜232_kの出力線や読出しスイッチ234_1〜234_kの数は同一であってもよいし、デコーダを使用することで異なるようにしてもよい。本実施形態では、多値レベルの数とレジスタ232_1〜232_kの出力線および読出しスイッチ234_1〜234_kの数は同一であるものとする。 The register set 231 functions as a main storage unit. The output lines of the registers 232_1 to 232_k and the corresponding read switches 234_1 to 234_k are a plurality that can set a multi-value level of laser power when the write strategy technique is applied. The number of multilevel levels and the number of output lines of the registers 232_1 to 232_k and the read switches 234_1 to 234_k may be the same, or may be different by using a decoder. In the present embodiment, it is assumed that the number of multi-value levels is the same as the number of output lines of the registers 232_1 to 232_k and the read switches 234_1 to 234_k.
本実施形態の発光レベルパターン記憶部230は、記録波形制御信号パターンに従って、記録波形制御信号パターンの初期レベルを先頭に各発光パワーレベルの情報やそれに対応する電流スイッチ部250の切替え態様を規定する情報が順にレジスタ232_1〜232_kに記憶される。記録波形制御信号パターン例については後で説明する。
The light emission level
初期レベルの情報を保持する1段目のレジスタ232_1に接続される1段目の読出しスイッチ234_1の制御入力端には、リセットパルス生成部210からリセットパルスRPが供給される。2段目以降のレジスタ232_2,…,232_kに接続される読出しスイッチ234_2,…,234_kの制御入力端には、エッジパルス生成部220からエッジパルスEPが共通に供給される。読出しスイッチ234_2,…,234_kは、レジスタ232_2,…,232_kの出力をエッジパルスEPごとに順番に選択するシーケンシャルスイッチである。
The reset pulse RP is supplied from the
発光レベルパターン記憶部230は、記録モード時に、リセットパルスRP、エッジパルスEP、およびレジスタ232に保存しておいたパワーレベル情報に基づき、電流スイッチ部250の各電流スイッチをオン/オフする複数の電流切替パルスSWを出力する。具体的には、発光レベルパターン記憶部230は、レジスタ232_2,…,232_kに保存してあるパワーレベル情報(特に本例では電流スイッチ部250を制御する電流切替パルスSW)をエッジパルスEPのタイミングで順番に読み出して行く。そして、リセットパルスRPのタイミングで初期レベル情報を記憶するレジスタ232_1の読出しに戻す。
In the recording mode, the light emission level
電流源部240は、基準電流生成部242と電流出力型のDA変換部244(IDAC)を備えている。基準電流生成部242は、半導体レーザ41の発光パルス波形における記録モード時の多値並びに再生(読取り)モード時のリード(Read)の各パワーレベルに対応するデジタルの各基準電流値を発光レベルパターン記憶部230の情報に基づき生成する。たとえば、発光レベルパターン記憶部230に、各発光パワーレベルに対応する電流情報を多ビットデジタルデータで設定しておき、各発光パワーレベルに対応する各基準電流生成部242はその電流情報を取り込む。そして、各基準電流生成部242は、必要に応じて、オフセット設定やゲイン調整を行なうようにする。
The
DA変換部244は、基準電流生成部242で生成された電流情報(デジタルデータ)をアナログに変換して出力する。ここで、各DA変換部244には、APC制御部58からフレキシブル基板51を介してレーザパワー指示電圧PWが供給されている。各DA変換部244は、レーザパワー指示電圧PWに基づいてDA変換のゲインを調整する。これにより、半導体レーザ41の発光パワーは、レーザパワー指示電圧PWに応じた一定値にフィードバック制御される。
The
電流スイッチ部250は、記録モード時に、DA変換部244にてアナログ信号に変換された各パワー基準電流の何れか1つもしくは任意の組合せ(重畳)にするべく、電流スイッチ252(Current SW)を備えている。電流スイッチ部250は、発光レベルパターン記憶部230から読み出された複数のレベル情報(具体的には電流切替パルスSW)に基づき電流スイッチ252をオン/オフすることにより発光パワーを制御する。
In the recording mode, the
記録モード時の多値レベルとしては、本例では、クール(Cool)、イレーズ(Erase )、ピーク(Peak)、オーバードライブ(Over Drive)の4値を採用している(図7A、図7Bを参照)。これに対応して、基準電流生成部242は、4つのレベルの基準電流を生成する各別の基準電流生成部242C,242E,242P,242OD、並びにリード用の基準電流生成部242Rを備えている。DA変換部244としては、基準電流生成部242にて生成された各基準電流をアナログ信号に変換するべく、それぞれDA変換部244C,244E,244P,244OD,244Rを備えている。電流スイッチ252も、各別に252C,252E,252P,252OD,252Rを備える。
In this example, four levels of cool, erase, peak, and overdrive are used as multilevel levels in the recording mode (see FIGS. 7A and 7B). reference). Correspondingly, the reference
基準電流生成部242が生成する各基準電流としては、図7A(1)に示すように、クール、イレーズ、ピーク、オーバードライブの4値のそれぞれに対応する各別のIc,Ie,Ip,Iodにしてもよい。また、図7A(2)に示すように、クール電流Ic、イレーズ電流Ie、ピーク電流Ip、オーバードライブ電流Iodで、順に増加する分を加算するようなクール電流Icと各差分情報(Ie−Ic,Ip−Ie,Iod−Ip)にしてもよい。何れを採るかに応じて、電流スイッチ部250の各電流スイッチ252の何れをオンさせるかが異なり、その採用構成に応じて、電流スイッチ252を制御する電流切替パルスSWの出力パターン情報も発光レベルパターン記憶部230に記憶される。
As shown in FIG. 7A (1), each reference current generated by the reference
図7A(1),(2)の何れにおいても、記録モード時には、4値レベルを制御するために、発光レベルパターン記憶部230の各レジスタ232からは4種の電流切替パルスSW_1〜SW_4が出力される。
7A (1) and (2), in the recording mode, four types of current switching pulses SW_1 to SW_4 are output from each
図7A(1)に示す例では、クール、イレーズ、ピーク、オーバードライブの別に基準電流Ic,Ie,Ip,Iodが対応する電流スイッチ252C,252E,252P,252ODに供給される。したがって、4種の電流切替パルスSW_1〜SW_4の何れか1つをアクティブにすることで1つの電流スイッチ252をオンすればよい。この場合、電流スイッチ252の切替えタイミングのずれの影響は図7A(2)に比べると少ないと考えられる。その反面、各基準電流生成部242が各別に基準電流を生成する必要があるので、特に、ピーク電流Ipやオーバードライブ電流Iod用の基準電流生成部242P,242ODの生成する電流量が多くなる。
In the example shown in FIG. 7A (1), the reference currents Ic, Ie, Ip, and Iod are supplied to the corresponding
図7A(2)に示す例では、電流加算を利用するので、クール、イレーズ、ピーク、オーバードライブの順に、アクティブにする電流切替パルスSW_1〜SW_4の組合せ数を増やすことで、オンさせる電流スイッチ252を増やしていく。この場合、電流加算のタイミングが加算電流スイッチ252の切替えタイミングに左右されるので「ずれ」の影響は図7A(1)に比べると大きくなると考えられる。その反面、各基準電流生成部242の生成する電流量は少なくて済む。
In the example shown in FIG. 7A (2), since current addition is used, the
レーザ駆動部270は、レーザ切替回路272とドライバ回路274を有する。レーザ切替回路272としては、一例として、CD系統用の第1半導体レーザ41_1、DVD系統用の第2半導体レーザ41_2、次世代DVD系統用の第3半導体レーザ41_3の3系統を切り替える3入力−1出力型のスイッチを有している。ドライバ回路274は、第1半導体レーザ41_1を駆動する第1ドライバ回路274_1、第2半導体レーザ41_2を駆動する第2ドライバ回路274_2、第3半導体レーザ41_3を駆動する第3ドライバ回路274_3を有する。各ドライバ回路274_1〜274_3は、入力された記録波形制御信号パターンを持った電流信号に対して、APC制御部58から供給されるレーザパワー指示電圧に応じたパワーの増減を行ない駆動電流を生成することにより半導体レーザ41を発光させる。レーザ駆動部270は、CD,DVD,次世代DVDの3種類の記録媒体用の半導体レーザ41_1,41_2,41_3に対応しており、記録媒体によって半導体レーザ41を切り替える。
The
このような構成により、レーザ駆動回路200は、半導体レーザ41の閾値電流を供給するバイアス電流と複数の電流パルスの組合せによりライトストラテジ技術が適用される多値パワーの発光波形を生成するようにしている。図示しないレーザパワー制御系(APC制御系)では、半導体レーザ41のレーザパワーが、この多値パワーの発光波形となるように、多値パワーを制御する。
With such a configuration, the
[動作]
図7Bおよび図7Cに示すように、書込み用のデータ入力はノンリターンゼロデータNRZIDATAであるものとする。スペース長は2Tで、マーク長は2T以上(図では2T,3T,4T,5Tを例示)であるとする。最高速信号は2T繰返しとなる。
[Operation]
As shown in FIGS. 7B and 7C, the data input for writing is assumed to be non-return zero data NRZIDATA. The space length is 2T, and the mark length is 2T or more (2T, 3T, 4T, and 5T are illustrated in the figure). The maximum speed signal is 2T repetition.
ライトストラテジ技術を適用するとき、この例では、各スペース長2Tにおいて、前半の1T時にはクールレベル(Cool)、後半の1T時にはイレーズレベル(Erase )にする。マーク長2T時において、前半の1T時にはイレーズレベル、後半の1T時にはオーバードライブレベルにする。マーク長3T時において、1番目の1T時にはイレーズレベル、2番目の1T時にはオーバードライブレベル(O.D.)、3番目の1T時にはピークレベル(Peak)にする。
When the write strategy technique is applied, in this example, in each
マーク長4T時において、1番目の1T時にはイレーズレベル、2番目の1T時にはオーバードライブレベル、3番目の1T時にはピークレベル、4番目の1T時にはオーバードライブレベルにする。マーク長5T時において、1番目の1T時にはイレーズレベル、2番目の1T時にはオーバードライブレベル、3番目の1T時にはピークレベル、4番目の1T時にはピークレベル、5番目の1T時にはオーバードライブレベルにする。つまり、マーク長5T時には、3〜4番目の2T時にはピークレベルを維持し、その後の5番目の1T時にオーバードライブレベルに遷移する。 When the mark length is 4T, the erase level is set at the first 1T, the overdrive level is set at the second 1T, the peak level is set at the third 1T, and the overdrive level is set at the fourth 1T. When the mark length is 5T, the erase level is set for the first 1T, the overdrive level is set for the second 1T, the peak level is set for the third 1T, the peak level is set for the fourth 1T, and the overdrive level is set for the first 1T. That is, when the mark length is 5T, the peak level is maintained at the 3rd to 4th 2T, and the transition is made to the overdrive level at the 5th 1T thereafter.
また、マーク長に関わらず、スペースの後半からマークの1番目にかけての2T時にはイレーズレベルを維持し、その後の1T時にオーバードライブレベルに遷移する。各発光パワーレベルには、O.D.>Peak>Erase >Coolの関係がある。 Regardless of the mark length, the erase level is maintained at 2T from the second half of the space to the first mark, and transitions to the overdrive level at 1T thereafter. Each emission power level has a relationship of O.D.> Peak> Erase> Cool.
このような記録波形制御信号パターンに対応して、図7Dに示すように、1段目のレジスタ232_1には初期レベルとしてクールレベルの情報を記憶する。2段目のレジスタ232_2にはイレーズレベル、3段目のレジスタ232_2にはオーバードライブレベル、4段目のレジスタ232_2にはピークレベル、5段目のレジスタ232_5にはオーバードライブ、の各情報を記憶する。 Corresponding to such a recording waveform control signal pattern, cool level information is stored as an initial level in the first-stage register 232_1 as shown in FIG. 7D. Erase level is stored in the second register 232_2, overdrive level is stored in the third register 232_2, peak level is stored in the fourth register 232_2, and overdrive information is stored in the fifth register 232_5. To do.
1つのリセット信号RSと1つのエッジ信号ESを入力パルス信号として使用する。1つのリセット信号RSの立上りエッジあるいは立上りエッジおよび立下りエッジに基づきリセットパルスRPを生成する。1つのエッジ信号ESの両エッジに基づきエッジパルスEPを生成する。そして、発光レベルパターン記憶部230の各レジスタ232_1〜232_5に記憶した各パワーレベル情報を先頭エリア(本例ではクール)から順番に読み出していく。
One reset signal RS and one edge signal ES are used as input pulse signals. A reset pulse RP is generated based on a rising edge or a rising edge and a falling edge of one reset signal RS. An edge pulse EP is generated based on both edges of one edge signal ES. And each power level information memorize | stored in each register | resistor 232_1-232_5 of the light emission level pattern memory |
たとえば、リセットパルスRPがアクティブHのときに読出しスイッチ234_1をオンさせて1段目のレジスタ232_1のパワーレベル情報を読み出す。この後、エッジパルスEPがアクティブHとなる都度、シーケンシャルスイッチ構成の読出しスイッチ234_2〜234_5を順番にオンさせてレジスタ232_2〜232_5のパワーレベル情報を順番に読み出す。 For example, when the reset pulse RP is active H, the read switch 234_1 is turned on to read the power level information of the first-stage register 232_1. Thereafter, every time the edge pulse EP becomes active H, the read switches 234_2 to 234_5 having the sequential switch configuration are sequentially turned on to read the power level information of the registers 232_2 to 232_5 in order.
たとえば、マーク長4Tやマーク長5Tの記録時には、順番に全てのパワーレベル情報を読み出すと、クール→イレーズ→オーバードライブ→ピーク→オーバードライブの順でレーザ発光パワーが切り替わる。 For example, when recording at a mark length of 4T or a mark length of 5T, if all the power level information is read in order, the laser emission power is switched in the order of cool → erase → overdrive → peak → overdrive.
ノンリターンゼロデータNRZIDATAのマーク長によっては全てのレベルを出力することはなく、たとえば、マーク長2Tの記録時には、オーバードライブからクールにパワーを遷移させる必要が生じる。その場合、クールにしたいオーバードライブ直後のタイミングでリセットパルスRPがアクティブHとなるようにリセット信号RSを供給することにより、オーバードライブの次にクールの情報が読み出される。同様に、マーク長3Tの記録時には、ピークからクールにパワーが遷移するように、クールにしたいピーク直後のタイミングでリセットパルスRPがアクティブHとなるようにリセット信号RSを供給すればよい。 Depending on the mark length of the non-return zero data NRZIDATA, all levels are not output. For example, when recording with a mark length of 2T, it is necessary to transition the power from overdrive to cool. In this case, by supplying a reset signal RS so that the reset pulse RP becomes active H at a timing immediately after overdrive to be cool, cool information is read after overdrive. Similarly, at the time of recording with a mark length of 3T, the reset signal RS may be supplied so that the reset pulse RP becomes active H at the timing immediately after the peak to be cooled so that the power transitions from the peak to cool.
ここまでのシーケンシャル方式の説明では、リセット信号RSとエッジ信号ESは、何れも1つであったが、図を示しての詳細説明は割愛するが、様々な変形が可能である。 In the description of the sequential method so far, the reset signal RS and the edge signal ES are both one, but a detailed description with illustration is omitted, but various modifications are possible.
たとえば、第1の伝送信号(リセット信号RS)と第2の伝送信号(エッジ信号ES)は、それぞれ複数にすることが可能である。たとえば、切替えパルスの取得タイミングを規定する情報を含んだ第2の伝送信号(エッジ信号ES)を複数本で伝送することにより、より容易に伝送帯域の問題点を解決することもできる。 For example, the first transmission signal (reset signal RS) and the second transmission signal (edge signal ES) can each be plural. For example, by transmitting a plurality of second transmission signals (edge signals ES) including information defining the acquisition timing of the switching pulse, the problem of the transmission band can be solved more easily.
また、第1の伝送信号としては、スペースとマークの繰返しの切替りタイミングを示す基準パルスの取得タイミングがエッジで示されていないものとし、第2の伝送信号(エッジ信号ES)で基準パルスの取得タイミングを規定する手法にしてもよい。この場合、第1の伝送信号(リセット信号RS)は、エッジ信号ESのエッジからリセットパルスRPとエッジパルスEPを区別して取得するための判別信号に使用する。たとえば、エッジパルスEPのエッジタイミングに同期してリセットパルスRPを生成し、エッジ信号ESの両エッジの内のリセットパルスRPの生成に寄与しないタイミングでエッジパルスEPを生成する。こうすることで、エッジ信号ESだけでなくリセットパルスRPの生成タイミングもエッジ信号ESのエッジに同期して生成されるので、スキューの影響が排除される。 Further, as the first transmission signal, it is assumed that the acquisition timing of the reference pulse indicating the switching timing of the space and mark repetition is not indicated by an edge, and the reference pulse of the reference pulse is indicated by the second transmission signal (edge signal ES). A method for defining the acquisition timing may be used. In this case, the first transmission signal (reset signal RS) is used as a determination signal for distinguishing and acquiring the reset pulse RP and the edge pulse EP from the edge of the edge signal ES. For example, the reset pulse RP is generated in synchronization with the edge timing of the edge pulse EP, and the edge pulse EP is generated at a timing that does not contribute to the generation of the reset pulse RP of both edges of the edge signal ES. By doing so, not only the edge signal ES but also the generation timing of the reset pulse RP is generated in synchronization with the edge of the edge signal ES, so that the influence of skew is eliminated.
また、第1の伝送信号(リセット信号RS)を複数本にして、それぞれのリセットタイミングを異なるようにすれば、複数種類のパワーレベルパターンを切替える機能を実現することができる。たとえば、マーク長に応じてピークレベルやオーバードライブレベルを変更する場合への適用に好適である。 Further, if a plurality of first transmission signals (reset signals RS) are used and the respective reset timings are different, a function for switching a plurality of types of power level patterns can be realized. For example, it is suitable for application to changing the peak level or overdrive level according to the mark length.
発光レベルパターン記憶部230と読出しスイッチ234との間に、m入力−n出力(m−nと記す:m,nは正の整数でm<n)型のデコーダを配置して、発光パワーの多値レベルの数とレジスタ232の出力線や読出しスイッチ234の数を異ならせてもよい。この場合、デコーダが必要になるので回路構成が少し複雑になるが、レジスタ232に記憶する情報量が減少するため、レジスタセット231の記憶容量の低減が可能となり、発光レベルパターン記憶部230の回路規模を縮小できる。
An m-input-n-output (denoted as mn: m, n is a positive integer and m <n) type decoder is arranged between the light emission level
レジスタ232の発光パワー情報を電流レベル情報そのものとし、これを順次切り替えて電流源部240に供給すると、電流源部240は基準電流生成部242とDA変換部244がそれぞれ1つの簡易なものとなるし、電流スイッチ部250は不要となる。また、レジスタ232の各電流レベル情報を各電流値Ic,Ie,Ip,Iodに一致させれば、基準電流生成部242も不要となる。ただし、DA変換では1つのレベルパワーを表すのに複数本の情報が必要となり、その複数本のデジタル情報(ビットデータ)でアナログ電流値(DAC内の複数SW)を制御するので、ビット間のタイミングスキューがあると、波形特性が悪化する可能性がある。
When the light emission power information of the
1…記録再生装置、10…スピンドルモータ、12…モータドライバ、14…光ピックアップ、200…レーザ駆動回路、202…パルス再生部、203…発光波形生成部、210…リセットパルス生成部、220…エッジパルス生成部、230…発光レベルパターン記憶部、240…電流源部、270…レーザ駆動部、290…ライトストラテジ回路、30…スピンドルモータ制御部、300…パワーモニタ回路、310…受光素子、312…電流電圧変換部、313…電流電圧変換部、32…ピックアップ制御部、330…サンプルホールド部、400…サンプリングパルス生成部、41…半導体レーザ、45…光検出部、47…駆動電流制御部、50…記録・再生信号処理部、500…伝送信号生成部、51…フレキシブル基板、52…RF増幅部、53…波形整形部、54…AD変換部、55…クロック再生部、56…書込みクロック生成部、57…デジタル信号処理部、58…APC制御部、62…コントローラ
DESCRIPTION OF
Claims (9)
前記レーザ素子を駆動する駆動部と、
前記レーザ素子から発せられたレーザ光を導光する光学部材と、
記録クロックおよび記録データに基づいて、スペースおよびマークに対して複数に分割された駆動信号の組合せでなる発光波形を規定する複数のパルス信号を生成する発光波形パルス生成部と、
前記発光波形を生成して前記駆動部に供給する発光波形生成部と、
前記レーザ素子から発せられるレーザ光を電気信号に変換する光電変換部と、
前記光電変換部により得られた電気信号をサンプリングしてホールドするサンプルホールド部と、
前記電気信号をサンプリングしてホールドするためのサンプリングパルスを前記発光波形のエッジを基準に生成し前記サンプルホールド部に供給するサンプリングパルス生成部と、
前記サンプルホールド部で得られたサンプルホールド信号に基づいて前記レーザ光のパワーレベルを適正なレベルにするためのレーザパワー指示信号を生成して前記発光波形生成部に供給するAPC制御部と、
前記レーザ素子、前記駆動部、前記光学部材、前記発光波形生成部、前記光電変換部、前記サンプルホールド部、および前記サンプリングパルス生成部を搭載した部分と、前記発光波形パルス生成部および前記APC制御部を搭載した部分と、の間に介在して信号を伝送する伝送部材と、
を備えた光装置。 A laser element;
A drive unit for driving the laser element;
An optical member for guiding laser light emitted from the laser element;
A light emission waveform pulse generation unit that generates a plurality of pulse signals that define a light emission waveform composed of a combination of drive signals divided into a plurality of spaces and marks based on a recording clock and recording data;
A light emission waveform generation unit that generates the light emission waveform and supplies the light emission waveform to the drive unit;
A photoelectric conversion unit that converts laser light emitted from the laser element into an electrical signal;
A sample and hold unit that samples and holds the electrical signal obtained by the photoelectric conversion unit;
A sampling pulse generator for sampling and holding the electrical signal to generate a sampling pulse based on an edge of the light emission waveform and supplying the sampling pulse to the sample hold unit;
An APC control unit that generates a laser power instruction signal for setting the power level of the laser light to an appropriate level based on the sample hold signal obtained by the sample hold unit, and supplies the laser power instruction signal to the emission waveform generation unit;
The laser element, the drive unit, the optical member, the light emission waveform generation unit, the photoelectric conversion unit, the sample hold unit, the sampling pulse generation unit, the light emission waveform pulse generation unit, and the APC control A transmission member for transmitting a signal interposed between a portion mounted with a portion;
Optical device with
請求項1に記載の光装置。 The optical device according to claim 1, wherein the sampling pulse generation unit generates the sampling pulse based on a plurality of pulse signals generated by the light emission waveform pulse generation unit.
前記第1の伝送信号と前記第2の伝送信号に基づいて、前記基準パルスと前記切替えパルスを再生して前記発光波形生成部および前記サンプリングパルス生成部に供給するパルス再生部と、
をさらに備え、
前記伝送信号生成部は、前記伝送部材と前記発光波形パルス生成部の間に配置され、
前記パルス再生部は、前記伝送部材と、前記発光波形生成部および前記サンプリングパルス生成部の間に配置され、
前記発光波形生成部は、前記基準パルスと前記切替えパルスに基づいて、前記発光波形を生成する
請求項1に記載の光装置。 Based on a plurality of pulse signals generated by the light emission waveform pulse generation unit, a first transmission signal including information defining the acquisition timing of a reference pulse indicating the switching timing of the space and the mark, and A transmission signal generation unit that generates a second transmission signal including information defining acquisition timing of a switching pulse indicating switching timing of the divided drive signal;
A pulse regeneration unit that regenerates the reference pulse and the switching pulse based on the first transmission signal and the second transmission signal and supplies the reference pulse and the switching pulse to the emission waveform generation unit and the sampling pulse generation unit;
Further comprising
The transmission signal generation unit is disposed between the transmission member and the light emission waveform pulse generation unit,
The pulse regeneration unit is disposed between the transmission member, the light emission waveform generation unit and the sampling pulse generation unit,
The optical device according to claim 1, wherein the light emission waveform generation unit generates the light emission waveform based on the reference pulse and the switching pulse.
請求項1〜3の内の何れか一項に記載の光装置。 The sampling pulse generation unit, each sampling pulse corresponding to each position of the mark and the space in the electrical signal, a delay time starting from a reference edge forming each of the mark and the space in the emission waveform, The optical device according to claim 1, wherein the optical device is generated based on a pulse width and a delay time for delay compensation from the sampling pulse generation unit to the sample hold unit.
請求項1〜3の内の何れか一項に記載の光装置。 The sampling pulse generation unit, each sampling pulse corresponding to each position of the mark and the space in the electrical signal, a delay time starting from a reference edge forming each of the mark and the space in the emission waveform, And generating based on a set value that defines an end point of each sampling pulse starting from an edge different from the reference edge, and a delay time for delay compensation from the sampling pulse generation unit to the sample hold unit. The optical device according to any one of 1 to 3.
前記マークの長さが予め定められている設定値よりも短いときには、前記マーク用のサンプリングパルスを生成しない、
および/または、
前記スペースの長さが予め定められている設定値よりも短いときには、前記スペース用のサンプリングパルスを生成しない
請求項4または5に記載の光装置。 The sampling pulse generator is
When the length of the mark is shorter than a predetermined setting value, the sampling pulse for the mark is not generated.
And / or
The optical device according to claim 4 or 5, wherein when the length of the space is shorter than a predetermined set value, the sampling pulse for the space is not generated.
前記レーザ素子を駆動する駆動部と、
前記レーザ素子から発せられたレーザ光を導光する光学部材と、
発光波形を生成して前記駆動部に供給する発光波形生成部と、
前記レーザ素子から発せられるレーザ光を電気信号に変換する光電変換部と、
前記光電変換部により得られた電気信号をサンプリングしてホールドするサンプルホールド部と、
前記電気信号をサンプリングしてホールドするためのサンプリングパルスを前記発光波形のエッジを基準に生成し前記サンプルホールド部に供給するサンプリングパルス生成部と、
を備え、
記録クロックおよび記録データに基づく、スペースおよびマークに対して複数に分割された駆動信号の組合せでなる発光波形を規定する信号を外部から取り込み、
前記サンプルホールド部で得られたサンプルホールド信号を外部に出力する
光学ユニット。 A laser element;
A drive unit for driving the laser element;
An optical member for guiding laser light emitted from the laser element;
A light emission waveform generation unit that generates a light emission waveform and supplies the light emission waveform to the driving unit;
A photoelectric conversion unit that converts laser light emitted from the laser element into an electrical signal;
A sample and hold unit that samples and holds the electrical signal obtained by the photoelectric conversion unit;
A sampling pulse generator for sampling and holding the electrical signal to generate a sampling pulse based on an edge of the light emission waveform and supplying the sampling pulse to the sample hold unit;
With
Based on the recording clock and recording data, a signal that defines a light emission waveform consisting of a combination of drive signals divided into a plurality of spaces and marks is taken in from the outside.
An optical unit that outputs a sample hold signal obtained by the sample hold unit to the outside.
電気信号をサンプリングしてホールドするためのサンプリングパルスを前記発光波形のエッジを基準に生成するサンプリングパルス生成部と、
前記発光波形パターンを規定する信号に基づいて、前記発光波形を生成する発光波形生成部と、
前記発光波形生成部で生成された前記発光波形に基づいて、レーザ素子を駆動する駆動部と、
を備えたレーザ駆動装置。 An input terminal to which a signal defining a light emission waveform composed of a combination of drive signals divided into a plurality of spaces and marks is input;
A sampling pulse generator for generating a sampling pulse for sampling and holding an electric signal with reference to an edge of the light emission waveform; and
Based on a signal that defines the light emission waveform pattern, a light emission waveform generation unit that generates the light emission waveform;
Based on the emission waveform generated by the emission waveform generation unit, a drive unit that drives a laser element;
A laser drive device comprising:
前記発光波形生成部は、前記基準パルスと前記切替えパルスに基づいて、前記発光波形を生成する
請求項8に記載のレーザ駆動装置。 The first transmission signal including information defining the acquisition timing of the reference pulse indicating the switching timing of the space and the mark, and the acquisition timing of the switching pulse indicating the switching timing of the divided drive signal. A pulse generation unit for reproducing the reference pulse and the switching pulse based on a second transmission signal including information to be defined;
The laser driving device according to claim 8, wherein the light emission waveform generation unit generates the light emission waveform based on the reference pulse and the switching pulse.
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP2008228209A JP2010061765A (en) | 2008-09-05 | 2008-09-05 | Laser driving device, optical unit, and optical apparatus |
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Family Applications (1)
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| JP2001266497A (en) * | 2000-03-21 | 2001-09-28 | Yamaha Corp | Transmitter |
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-
2008
- 2008-09-05 JP JP2008228209A patent/JP2010061765A/en active Pending
Patent Citations (3)
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| JP2001266497A (en) * | 2000-03-21 | 2001-09-28 | Yamaha Corp | Transmitter |
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