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JP2010054229A - 静電容量測定装置 - Google Patents

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JP2010054229A JP2008216875A JP2008216875A JP2010054229A JP 2010054229 A JP2010054229 A JP 2010054229A JP 2008216875 A JP2008216875 A JP 2008216875A JP 2008216875 A JP2008216875 A JP 2008216875A JP 2010054229 A JP2010054229 A JP 2010054229A
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Abstract

【課題】ノイズに起因した静電容量の測定精度の低下を軽減する。
【解決手段】コンデンサ9に定電流Iを供給して充電する充放電部2と、充電状態のコンデンサ9の両端間電圧Vcを測定する電圧測定部3と、電圧測定部3によって測定された両端間電圧Vcに基づいて両端間電圧Vcの変化量(V−V),(V−V),・・・,(V−Vn−1)を複数期間T,T,・・・,T分算出し、期間T,T,・・・,T毎の両端間電圧Vcの変化量(V−V),(V−V),・・・,(V−Vn−1)および期間T,T,・・・,T毎のコンデンサ9への充電量に基づいて期間T,T,・・・,T毎のコンデンサ9の静電容量C,C,・・・,Cを算出すると共に、各静電容量C,C,・・・,Cの平均値をコンデンサ9の最終静電容量Ccとして算出する処理部4とを備えている。
【選択図】図1

Description

本発明は、コンデンサの静電容量を測定する静電容量測定装置に関するものである。
この種の静電容量測定装置として、下記特許文献1に開示されている容量測定システムが知られている。この静電容量測定装置は、コンデンサ(キャパシタ)が接続される入力端子、入力端子に接続されるプログラム可能な定電流源、入力端子に接続されたコンデンサと並列に接続される放電スイッチ、入力端子に接続された比較器、入力端子に発生する電圧を検出するアナログ−デジタルコンバータ、これら各デバイスに結合されたマイクロプロセッサ、メモリおよび表示装置を備えている。
この静電容量測定装置は、静電容量の測定に際して、(a)コンデンサを少なくとも部分的に放電して、コンデンサにかかる電圧を測定し、初期電圧を得るステップと、(b)定電流値および時間間隔を選択して、予め定められた値を有する電荷パケットを与えるステップと、(c)電荷パケットをコンデンサに運び、これによって全蓄積電荷に比例する電圧を生成するステップと、(d)コンデンサの電圧を予め定められた最小電圧と比較して、コンデンサの電圧が予め定められた最小電圧を超えるか否かを判定するステップと、(e)予め定められた最小電圧がコンデンサの電圧を超えれば、ステップ(b),(c)および(d)を繰返して、コンデンサにおける全蓄積電荷および対応する最終電圧を与えるステップとを備え、ここに異なる定電流値および異なる時間間隔が選択されて異なる所定値を有する電荷パケットを与えることができ、(f)初期電圧を最終電圧から減算して差動電圧を得て、コンデンサ上の全蓄積電荷を差動電圧によって除算することによって静電容量を計算するステップとを実行する。
特許第3624184号公報(第1−4頁、第2図)
ところが、上記の静電容量測定装置には、以下の解決すべき課題がある。すなわち、コンデンサの初期電圧および最終電圧のうちの少なくとも1つの電圧値の測定の際にコンデンサの両端間にノイズが発生したときには、測定された電圧値はこのノイズの影響を受け、ひいてはこの電圧値を用いて算出される静電容量についてもノイズの影響が避けられない。しかしながら、この静電容量測定装置には、静電容量をコンデンサの初期電圧および最終電圧の2つの電圧値を用いて計算する構成のため、静電容量に与えるノイズの影響が大きく、ノイズに起因した静電容量の測定精度の低下が大きいという課題が存在している。
本発明は、かかる課題に鑑みてなされたものであり、ノイズに起因した静電容量の測定精度の低下を軽減し得る静電容量測定装置を提供することを主目的とする。
上記目的を達成すべく請求項1記載の静電容量測定装置は、コンデンサに定電流を供給して当該コンデンサを充電する電流供給部と、充電状態の前記コンデンサの両端間電圧を測定する電圧測定部と、当該電圧測定部によって測定された両端間電圧に基づいて当該両端間電圧の変化量を複数期間分算出し、当該期間毎の当該両端間電圧の変化量および当該期間毎の前記コンデンサへの充電量に基づいて当該期間毎の当該コンデンサの静電容量を算出すると共に、当該各期間について算出された前記静電容量の平均値を当該コンデンサの最終静電容量として算出する処理部とを備えている。
また、請求項2記載の静電容量測定装置は、請求項1記載の静電容量測定装置において、前記処理部は、前記各期間の長さを一定として前記変化量を測定する。
また、請求項3記載の静電容量測定装置は、請求項1または2記載の静電容量測定装置において、前記処理部は、前記各期間が連続する状態で前記変化量を測定する。
請求項1記載の静電容量測定装置では、処理部が、期間毎のコンデンサの両端間電圧の変化量および期間毎のコンデンサへの充電量に基づいて期間毎のコンデンサの静電容量を算出すると共に、各期間について算出された静電容量の平均値をコンデンサの最終静電容量として算出する。したがって、この静電容量測定装置によれば、仮にいずれかの期間での両端間電圧の測定時にコンデンサの両端間にノイズが発生したとしても、最終静電容量は複数の期間について算出された静電容量の平均値として算出されるため、ノイズの影響を軽減することができ、最終静電容量の測定精度の低下を軽減することができる。
また、請求項2記載の静電容量測定装置によれば、処理部が各期間の長さを一定として両端間電圧の変化量を測定することにより、各期間についての静電容量を算出するための計算を簡略化できるため、最終静電容量の算出までに要する時間を短縮することができる。
また、請求項3記載の静電容量測定装置によれば、処理部が各期間が連続する状態で変化量を測定するため、期間毎のコンデンサの両端間電圧の計測に要する時間を短縮することができ、最終静電容量の算出までの時間を短くすることができる。
以下、本発明に係る静電容量測定装置の最良の形態について、添付図面を参照して説明する。
最初に、静電容量測定装置1の構成について、図面を参照して説明する。
図1に示す静電容量測定装置1は、充放電部2、電圧測定部3、処理部4、記憶部5および表示部6を備え、一対のプローブ7,8を介して接続されたコンデンサ9の静電容量Ccを測定可能に構成されている。本例では、コンデンサ9の一端(図1中の上端)は、プローブ7を介して充放電部2および電圧測定部3に接続され、コンデンサ9の他端(図1中の下端)は、プローブ8を介して静電容量測定装置1の内部基準電位(内部グランド)に接続される。
充放電部2は、例えば、定電流源および定電流負荷装置(いずれも図示せず)で構成されて、定電流源の作動時には本発明における電流供給部として機能して定電流Iを外部に供給可能であると共に、定電流負荷装置の作動時には定電流Iを外部から吸い込み可能に構成されている。また、充放電部2は、処理部4からの制御信号S1により、定電流供給動作状態、定電流吸い込み動作状態、およびこれらの動作をいずれも実施しない停止状態のうちのいずれかの状態に移行させられる。なお、図示はしないが、定電流負荷装置に代えて、各プローブ7,8間に放電抵抗とスイッチの直列接続回路を配置して、このスイッチを処理部4が接断制御することにより、各プローブ7,8間に接続されたコンデンサ9から電流を放電する構成を採用することもできる。この構成によれば、回路の簡略化を図ることができ、装置を安価に構成することができる。
電圧測定部3は、一例として図1に示すように、バッファ11およびA/D変換器12を備え、コンデンサ9の両端間電圧Vcを測定して、両端間電圧Vcを示すディジタルデータDvを出力する。この場合、バッファ11は、その入力端子がプローブ8を介してコンデンサ9の一端にハイインピーダンス状態で接続されて、両端間電圧Vcを入力し、入力した両端間電圧Vcをローインピーダンスで出力する。A/D変換器12は、バッファ11から出力された両端間電圧Vcを所定のサンプリング周期(両端間電圧Vcの変化に対して十分に短い周期)でサンプリングすることにより、その電圧値を示すディジタルデータDvに変換して出力する。
処理部4は、記憶部5に予め記憶されている動作プログラムに従って作動して、ディジタルデータDvに基づくコンデンサ9の静電容量の算出処理(静電容量測定処理50(図3参照))を実行する。記憶部5は、ROMおよびRAMで構成されて、処理部4のための動作プログラムを記憶すると共に、処理部4用のワークメモリとして機能する。表示部6は、一例として液晶ディスプレイ装置で構成されて、静電容量測定処理50の結果を表示可能に構成されている。
次に、静電容量測定装置1による静電容量測定動作について、図2,3を参照して説明する。
静電容量測定装置1では、作動状態において、電圧測定部3が、コンデンサ9の両端間電圧Vcを入力して、その電圧値を示すディジタルデータDvに変換して出力する動作を繰り返し実行している。
この状態において、処理部4は、静電容量測定処理を実行する。この静電容量測定処理では、処理部4は、まず、制御信号S1を充放電部2に出力することにより、充放電部2を定電流負荷として作動させて放電処理を開始させる(ステップ51)。これにより、図1において矢印で示す方向とは逆の向きでコンデンサ9に定電流Iが流れて、コンデンサ9が放電され、その両端間電圧Vcは図2に示すように一定の割合で低下する。
次いで、処理部4は、電圧測定部3から出力されるディジタルデータDvに基づいてコンデンサ9の両端間電圧Vcを検出しつつ、両端間電圧Vcが予め規定(プログラミング)されている初期電圧Vsを下回ったか否かを判別する(ステップ52)。処理部4は、コンデンサ9に対する放電処理の実行中においてステップ52を繰り返し実行し、両端間電圧Vcが初期電圧Vsを下回ったと判別したときには、制御信号S1を切り替えることにより、充放電部2を定電流源として作動させて充電処理を開始させる(ステップ53)。これにより、図1において矢印で示す方向でコンデンサ9に定電流Iが流れて、コンデンサ9が充電され、これによりコンデンサ9の両端間電圧Vcが図2に示すように一定の割合で上昇する。なお、上記したようにA/D変換器12のサンプリング周期は両端間電圧Vcの変化に対して十分に短いため、コンデンサ9に対する充電処理は、実質的に両端間電圧Vcが初期電圧Vsと一致した状態から開始される。
続いて、処理部4は、予め規定(プログラミング)されている長さ(一定)の時間(後述する各期間T,T,・・・,T(以下、特に区別しないときには「期間T」ともいう)の長さ)の計測を開始する(ステップ54)。本例では、一例として計測時間(期間Tの長さ)は100msに規定されている。コンデンサ9の両端間電圧Vcの測定に際して、50Hzまたは60Hzの周波数のハムノイズが重畳する場合もあるが、期間の長さを100msとして、この間隔で後述するように両端間電圧Vcを測定することで、ハムノイズが除去される。処理部4は、計測している時間が各期間Tの長さ(100ms)に達したか否か(つまり、期間Tの終期に達したか否か)の判別を繰り返し実行し(ステップ55)、達したと判別したときには、達した時点における(期間Tの終期における)ディジタルデータDvで示されるコンデンサ9の両端間電圧Vc(V1)を測定して、記憶部5に記憶させる(ステップ56)。
次いで、処理部4は、予め規定(プログラミング)された個数(本例ではn個(nは2以上の整数))分の期間Tの計測がすべて完了したか否かを判別し(ステップ57)、完了するまで、上記ステップ54〜ステップ56を繰り返し実行する。これにより、記憶部5には、各期間T,T,・・・,Tの終了時点(終期)での両端間電圧Vc(V,V,・・・,V)が記憶される。
続いて、処理部4は、ステップ57において、予め規定された個数(n個)分の期間Tの計測がすべて完了したと判別したときには、記憶部5に記憶されている両端間電圧Vc(V,V,・・・,V)に基づいて各期間T,T,・・・,Tにおけるコンデンサ9の両端間電圧Vcの変化量を算出すると共に、算出した変化量に基づいて各期間T,T,・・・,Tにおけるコンデンサ9の静電容量C,C,・・・,Cを算出して、記憶部5に記憶させる(ステップ58)。この場合、各期間においてコンデンサ9に対して供給される電荷量は(I×100ms)で現されるため、k番目の期間Tkにおける静電容量Ckは、(I×100ms)/(V−Vk−1)で算出される。なお、1番目の期間T1における静電容量Cは、(I×100ms)/(V−V)で算出される。最後に、処理部4は、算出した各期間T,T,・・・,Tにおけるコンデンサ9の静電容量C,C,・・・,Cを平均して、コンデンサ9の最終的な静電容量(本発明における最終静電容量)Ccを算出し、記憶部5に記憶させると共に、表示部6に表示させる(ステップ59)。これにより、静電容量測定処理が完了する。
このように、この静電容量測定装置1では、処理部4が、複数の期間T,T,・・・,T毎の両端間電圧Vcの変化量(V−V),(V−V),・・・,(V−Vn−1)および期間T,T,・・・,T毎のコンデンサ9への充電量(I×100ms)に基づいて期間T,T,・・・,T毎のコンデンサ9の静電容量C,C,・・・,Cを算出すると共に、これら静電容量C,C,・・・,Cの平均値をコンデンサ9の最終的な静電容量Ccとして算出する。
したがって、この静電容量測定装置1によれば、仮にいずれかの両端間電圧Vcの測定時にコンデンサ9の両端間にノイズが発生したとしても、最終的な静電容量Ccは複数の静電容量C,C,・・・,Cの平均値として算出されるため、ノイズの影響を軽減することができ、最終的な静電容量Ccの測定精度の低下を軽減することができる。
また、この静電容量測定装置1では、処理部4が、各期間T,T,・・・,Tの長さを一定(本例では100ms)として、各期間T,T,・・・,Tでの両端間電圧Vcの変化量(V−V),(V−V),・・・,(V−Vn−1)を測定している。この場合、各期間T,T,・・・,Tの長さを異ならしめる構成としても、各期間T,T,・・・,Tでの静電容量C,C,・・・,Cの平均値をコンデンサ9の最終的な静電容量Ccとして算出することができるが、各期間T,T,・・・,Tの長さを一定にすることにより、各期間T,T,・・・,Tについての静電容量C,C,・・・,Cを算出するための計算を簡略化できるため、計算を簡略化できるため、最終的な静電容量Ccの算出までに要する時間を短縮することができる。
また、この静電容量測定装置1では、処理部4が、各期間T,T,・・・,Tを連続させた状態で、各期間T,T,・・・,Tでの両端間電圧Vcの変化量(V−V),(V−V),・・・,(V−Vn−1)を測定している。この場合、各期間T,T,・・・,Tをすべて不連続としたり、一部を連続させ、かつ残りを不連続としたりする構成においても、各期間T,T,・・・,Tでの静電容量C,C,・・・,Cの平均値をコンデンサ9の最終的な静電容量Ccとして算出することができるが、各期間T,T,・・・,Tを連続させた状態とすることにより、期間T,T,・・・,T毎のコンデンサ9の両端間電圧V,V,・・・,Vの計測に要する時間を短縮することができ、最終的な静電容量Ccの算出までの時間を短くすることができる。
なお、本発明は、上記の構成に限定されない。例えば、期間T,T,・・・,T毎のコンデンサ9の静電容量C,C,・・・,Cを算出する手法として、複数の期間T,T,・・・,T毎の両端間電圧Vcの変化量(V−V),(V−V),・・・,(V−Vn−1)に基づいて期間T,T,・・・,T毎のコンデンサ9の静電容量C,C,・・・,Cを算出する上記手法を採用しているが、この手法に代えて、期間T,T,・・・,T毎に両端間電圧Vcを所定回数(複数回(3回以上)。2回としたときには上記した手法と同一となる。)サンプリングし、サンプリングによって測定した複数の両端間電圧Vcの平均値を期間T,T,・・・,T毎に算出し、算出した平均値に基づいて期間T,T,・・・,T毎のコンデンサ9の静電容量C,C,・・・,Cを算出する手法を採用することもできる。
以下、この手法を採用した静電容量測定処理について、図4を参照して具体的に説明する。この場合、電圧測定部3が両端間電圧Vcの電圧値をディジタルデータDvに変換して出力している状態において、処理部4は、記憶部5に予め記憶されている動作プログラムに従って作動して、静電容量測定処理60を実行する。
この静電容量測定処理では、処理部4は、まず、図3に示すステップ51〜ステップ54までの各動作と同一の動作をステップ61〜ステップ64においてそれぞれ実行する。
処理部4は、期間Tの長さの計測をステップ64において開始した後、予め規定(プログラミング)されているサンプリング周期Ts(期間Tよりも十分に短い時間(例えば1ms))での両端間電圧Vc(V1)の測定を実行して、ディジタルデータDvで示されるコンデンサ9の両端間電圧Vcを記憶部5に記憶させる(ステップ65)。処理部4は、計測している時間が期間Tの長さ(100ms)に達したか否かの判別を繰り返しつつ(ステップ66)、計測している時間が期間Tに達するまで、ステップ65の測定処理を繰り返し実行する。これにより、1つの期間T内でのサンプリング周期Ts毎の両端間電圧Vcが記憶部5に記憶される。
一方、処理部4は、ステップ66において計測している時間が期間Tに達したと判別したときには、予め規定(プログラミング)された個数(本例ではn個(nは2以上の整数))分の期間Tの計測がすべて完了したか否かを判別し(ステップ67)、完了するまで、上記ステップ64〜ステップ66を繰り返し実行する。これにより、記憶部5には、サンプリング周期Tsで測定された両端間電圧Vcが期間T,T,・・・,T毎に記憶される。ここで、処理部4による期間Tの計測タイミングおよびサンプリング周期Tsの計測タイミングは、A/D変換器12のサンプリング周期と共に不図示の基準クロックに同期したものとなっているため、サンプリング周期Tsに基づいて各期間Tでサンプリングされる両端間電圧Vcの数は同数(一例としてm個(mは2以上の整数))となる。なお、本例では上記したように、サンプリング周期Tsを1msとし、期間Tを100msとしているため、m=100となる。
続いて、処理部4は、ステップ67において、予め規定された個数(n個)分の期間Tの計測がすべて完了したと判別したときには、記憶部5に期間T毎に記憶されている複数の両端間電圧Vc(VC1,VC2,・・・,VCm)に基づいて各期間T,T,・・・,Tにおけるコンデンサ9の静電容量C,C,・・・,Cを算出して、記憶部5に記憶させる(ステップ68)。この静電容量C〜Cの算出に際しては、処理部4は、期間T毎に、まず、各両端間電圧Vcについて、最初にサンプリングされた(測定された)両端間電圧VC1との差分を算出し、次いで、算出したこれら差分の平均値Vaveを算出する。この平均値Vaveは下記式で表される。
平均値Vave=((VC1−VC1)+(VC2−VC1)+・・・+(VCm−VC1))/m
この場合、この平均値Vaveは、期間Tの中間点における両端間電圧Vcを現しているため、コンデンサ9が定電流Iで充電されているという条件下において、期間Tにおける両端間電圧Vcの増加分は、2×Vaveで現される。したがって、処理部4は、式(I×100ms)/(2×Vave)に基づいて、各期間Tにおける静電容量C,C,・・・,Cを算出する。
最後に、処理部4は、算出した各期間T,T,・・・,Tにおけるコンデンサ9の静電容量C,C,・・・,Cを平均して、コンデンサ9の最終的な静電容量(本発明における最終静電容量)Ccを算出し、記憶部5に記憶させると共に、表示部6に表示させる(ステップ69)。これにより、静電容量測定処理60が完了する。
この静電容量測定処理60を実行する静電容量測定装置1によれば、各期間Tにおいて複数(3回以上)両端間電圧Vcをサンプリングして、その平均値Vaveに基づいて静電容量Ccを算出することにより、ノイズの影響を一層軽減することができ、最終的な静電容量Ccの測定精度の低下を一層軽減することができる。
なお、本発明は、上記の構成に限定されない。例えば、放電処理の開始直後におけるコンデンサ9の両端間電圧Vcが初期電圧Vs未満であるときには、処理部4は、最初に検出した両端間電圧Vcを初期電圧Vsとし、放電処理を直ちに終了させて、ステップ53に移行し、その後は上記した内容で各処理を実行することにより、最終的な静電容量Ccを算出することができる。
また、複数の期間Tを充電処理期間中に設定して静電容量を測定する構成に代えて、充電処理に続いて放電処理を実行するようにして、この放電処理期間中に静電容量を測定するための期間Tを設定するようにしてもよい。また、各期間Tの長さを一例として100msに規定してハムノイズを低減する構成を採用しているが、ハムノイズの影響を無視できるのであれば、各期間Tを任意の長さに規定することもできる。
静電容量測定装置1の構成を示すブロック図である。 充放電処理の際のコンデンサ9の両端間電圧Vcの波形図である。 静電容量測定処理50のフローチャートである。 静電容量測定処理60のフローチャートである。
符号の説明
1 静電容量測定装置
2 充放電部
3 電圧測定部
4 処理部
9 コンデンサ
,C,・・・,C,Cc 静電容量
I 定電流
,T,・・・,T 期間
Vc 両端間電圧

Claims (3)

  1. コンデンサに定電流を供給して当該コンデンサを充電する電流供給部と、
    充電状態の前記コンデンサの両端間電圧を測定する電圧測定部と、
    当該電圧測定部によって測定された両端間電圧に基づいて当該両端間電圧の変化量を複数期間分算出し、当該期間毎の当該両端間電圧の変化量および当該期間毎の前記コンデンサへの充電量に基づいて当該期間毎の当該コンデンサの静電容量を算出すると共に、当該各期間について算出された前記静電容量の平均値を当該コンデンサの最終静電容量として算出する処理部とを備えている静電容量測定装置。
  2. 前記処理部は、前記各期間の長さを一定として前記変化量を算出する請求項1記載の静電容量測定装置。
  3. 前記処理部は、前記各期間が連続する状態で前記変化量を算出する請求項1または2記載の静電容量測定装置。
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