JP2010050560A - Defective pixel detection circuit, imaging device, and defective pixel detection method - Google Patents
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Abstract
【課題】フレームメモリを用いなくても、欠陥画素を検出すること。
【解決手段】欠陥画素検出部11は、撮像素子に含まれる所定数以上のラインの画素毎に出力されるデジタル画像信号の画素値を指定した範囲毎に記憶するメモリ12を備える。また、メモリ12から読み出したデジタル画像信号の画素値と、撮像素子から出力されるデジタル画像信号の画素値を、ライン毎に同期加算する加算部21を備える。また、ライン毎に同期加算されたデジタル画像信号の画素値に基づいて、撮像素子に含まれる画素の欠陥を欠陥画素として検出する検出部24を備える。また、所定の処理回路でメモリ12が用いられる場合に、2次元フィルタ23及び検出部24が行う処理を停止し、所定の処理回路でメモリ12が用いられない場合に、2次元フィルタ23及び検出部24による処理を実行させる制御を行う制御部8と、を備える。
【選択図】図4A defective pixel is detected without using a frame memory.
A defective pixel detection unit 11 includes a memory 12 that stores a pixel value of a digital image signal output for each pixel of a predetermined number or more lines included in an image sensor for each specified range. The digital image signal pixel value read from the memory 12 and the digital image signal pixel value output from the image sensor are also provided with an adder 21 that synchronously adds line by line. In addition, a detection unit 24 that detects a defect of a pixel included in the image sensor as a defective pixel based on the pixel value of the digital image signal that is synchronously added for each line is provided. Further, when the memory 12 is used in a predetermined processing circuit, the processing performed by the two-dimensional filter 23 and the detection unit 24 is stopped, and when the memory 12 is not used in the predetermined processing circuit, the two-dimensional filter 23 and detection are performed. And a control unit 8 that performs control to execute processing by the unit 24.
[Selection] Figure 4
Description
本発明は、例えば、撮像素子に含まれる欠陥画素を検出する欠陥画素検出回路、撮像装置及び欠陥画素検出方法に関する。 The present invention relates to a defective pixel detection circuit, an imaging apparatus, and a defective pixel detection method that detect, for example, a defective pixel included in an imaging element.
CCD(Charge Coupled Devices)やCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)センサ等の撮像素子には欠陥画素が存在し、撮像素子を用いたデジタルビデオカメラやデジタルスチルカメラ(以下、「撮像装置」と総称する。)では欠陥画素を検出し補正を行っている。「欠陥画素」とは、欠陥によって正常に画像信号を生成できない画素を指す。欠陥画素が存在すると、例えば、遮光状態で撮像した画像に輝点が生じたり、白い背景を撮像した画像に暗点が生じたりする。欠陥画素が存在すると得られる画像が劣化するため、撮像装置は検出した欠陥画素の影響を除くことが必要となる。 An imaging device such as a CCD (Charge Coupled Device) or a CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) sensor has a defective pixel, and a digital video camera or a digital still camera using the imaging device (hereinafter collectively referred to as “imaging device”). ) Detects and corrects defective pixels. A “defective pixel” refers to a pixel that cannot normally generate an image signal due to a defect. If a defective pixel exists, for example, a bright spot occurs in an image captured in a light-shielded state, or a dark spot occurs in an image captured on a white background. Since an image obtained when there is a defective pixel deteriorates, it is necessary for the imaging apparatus to remove the influence of the detected defective pixel.
ここで、従来の撮像装置100の構成例について、図1を参照して説明する。
撮像装置100は、レンズ、シャッタ等からなる光学系101を介して撮像面に結像した像光をアナログ画像信号として出力する撮像部102と、アナログ画像信号をデジタル画像信号に変換するアナログ/デジタル変換部103を備える。また、撮像装置100は、デジタル画像信号に対して各種の補正を行う画像補正部104と、補正された画像に各種の処理を施す画像処理部105と、処理された画像を表示する表示部106と、処理された画像を記録する記録部107を備える。また、撮像装置100は、画像補正部104と画像処理部105で処理された画像データを複数のフレーム毎に記憶するフレームメモリ108を備える。
Here, a configuration example of the conventional imaging apparatus 100 will be described with reference to FIG.
The imaging apparatus 100 includes an
画像補正部104は、欠陥画素を検出する不図示の検出部を備える。
フレームメモリ108には1フレーム分の全画素値が保持され蓄えられる。そして、フレームメモリ108は、画像補正や様々な画像処理において、フレームとフレームの間の相関(差異など)から処理に必要な情報を引き出すために用いられる。一般的に、フレームメモリ108は、フレーム毎に一フレーム分の画像データを保持するように用いられる。また、画像補正用に一枚、別の画像処理用に一枚のように、複数枚分のフレームメモリ108を撮像装置100に搭載する場合もある。
The
The
従来、撮像装置100が欠陥画素を検出する場合、フレームメモリ108を用いて複数フレームにわたる同期加算を行っている。同期加算とは、遮光状態で撮像して得られる画像信号に基づいて、複数フレームにわたって同じ位置の画素値を積算する処理である。フレームメモリ108を用いて同期加算を行えば、デジタル画像信号に重畳されるランダムノイズを抑えて、信号対ノイズ比(SN比)の良い状態で欠陥画素を検出できる。また、フレームメモリ108に蓄えられたフレーム毎の全画素値を、フィルタ等の回路に入力することで、少ない処理(1回の検出動作で撮像素子全体を欠陥画素の検出対象にできる。)でフレーム内の欠陥画素を検出できる。
Conventionally, when the imaging apparatus 100 detects a defective pixel, the
特許文献1には、ノイズ低減回路と解像度変換回路でラインメモリを共有し、2次元フィルタを用いてノイズを低減する技術について開示されている。
ところで、一般的にフレームメモリ108は高価であり、撮像装置に実装するために必要な面積が大きくなりやすい。このため、フレームメモリ108を撮像装置に搭載できないことが多い。フレームメモリ108を撮像装置に搭載できなければ、同期加算を用いて欠陥画素を検出することはできなかった。
By the way, the
フレームメモリ108を用いないで欠陥画素を検出する場合、撮像部102が出力した画像信号をそのままフィルタ等で構成される欠陥画素検出回路に入力し、ノイズの影響を受けながら欠陥の可能性が高い画素を抽出する。その後、検出した画素のみ複数フレームにわたって同期加算し、検出した画素が欠陥画素であるかどうかを確認するという、非常に時間のかかる方法がとられていた。また、デジタル画像信号はノイズの影響を受けるため、正常な画素であるにもかかわらず、欠陥画素であると誤検出する場合もあった。
When a defective pixel is detected without using the
本発明はこのような状況に鑑みて成されたものであり、撮像装置に含まれる所定の処理回路で用いられるメモリを用いて、欠陥画素を検出することを目的とする。 SUMMARY An advantage of some aspects of the invention is that a defective pixel is detected using a memory used in a predetermined processing circuit included in an imaging apparatus.
本発明は、撮像素子に含まれる所定数以上のラインから出力される、デジタル画像信号の画素値をライン毎にメモリに記憶する。
次に、加算部は、メモリから読みだしたデジタル画像信号の画素値と、撮像素子から出力されたデジタル画像信号の画素値をライン毎に同期加算して再びメモリに記憶する。
次に、検出部は、ライン毎に同期加算されたデジタル画像信号の画素値に基づいて、検出部が撮像素子に含まれる画素の欠陥を欠陥画素として検出する。
そして、制御部は、所定の処理回路でメモリが用いられる場合に、加算部及び検出部が行う処理を停止し、所定の処理回路でメモリが用いられない場合に、加算部及び検出部による処理を実行させる制御を行うものである。
According to the present invention, pixel values of a digital image signal output from a predetermined number or more of lines included in an image sensor are stored in a memory for each line.
Next, the adder synchronously adds the pixel value of the digital image signal read from the memory and the pixel value of the digital image signal output from the image sensor for each line, and stores the result in the memory again.
Next, the detection unit detects a defect of a pixel included in the image sensor as a defective pixel based on the pixel value of the digital image signal that is synchronously added for each line.
The control unit stops processing performed by the adding unit and the detecting unit when the memory is used in the predetermined processing circuit, and performs processing by the adding unit and the detecting unit when the memory is not used in the predetermined processing circuit. The control to execute is performed.
このようにしたことで、撮像装置に含まれる所定の処理回路で用いられるメモリを用いて欠陥画素を検出できる。 By doing in this way, a defective pixel can be detected using the memory used by the predetermined | prescribed processing circuit contained in an imaging device.
本発明によれば、撮像装置に含まれる所定の処理回路で用いられるメモリを用いて同期加算を行って欠陥画素を検出できるため、欠陥画素を検出するための処理を簡素化できるという効果がある。 According to the present invention, since defective pixels can be detected by performing synchronous addition using a memory used in a predetermined processing circuit included in the imaging apparatus, it is possible to simplify the process for detecting defective pixels. .
以下、本発明の一実施の形態例について、図2〜図8を参照して説明する。本実施の形態例では、撮像素子の欠陥画素を検出する欠陥画素検出回路(本例では、欠陥画素検出部11)に適用した例について説明する。 Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. In this embodiment, an example applied to a defective pixel detection circuit (in this example, a defective pixel detection unit 11) that detects a defective pixel of an image sensor will be described.
図2は、撮像装置10の内部構成例を示す。
撮像装置10は、レンズ、シャッタ等からなる光学系1を介して撮像面に結像した像光をアナログ画像信号として出力する撮像部2と、アナログ画像信号をデジタル画像信号に変換するアナログ/デジタル変換部3を備える。本例のデジタル画像信号は主に動画を記録・再生するために用いられるが、静止画を記録・再生するために用いてもよい。また、撮像装置10は、デジタル画像信号に対して各種の補正を行う画像補正部4と、補正されたデジタル画像信号に各種の処理を施す画像処理部5と、処理されたデジタル画像信号に基づいて画像を表示する表示部6と、処理されたデジタル画像信号に基づいて画像ファイル、画像データ等を記録する記録部7を備える。
FIG. 2 shows an internal configuration example of the
The
撮像部2は、CCDやCMOSセンサ等の撮像素子を備える。アナログ/デジタル変換部3は、撮像部2が生成したアナログ画像信号を所定のサンプリングレートでサンプリングして、デジタル画像信号に変換する。アナログ/デジタル変換部3から出力されたデジタル画像信号は、画像補正部4に供給される。
The
画像補正部4は、アナログ/デジタル変換部3から供給されたデジタル画像信号から、例えば、静止画又は動画のノイズを除いたり、オートフォーカス等に用いられる各種の制御信号を生成したりする。また、画像補正部4は、撮像部2の欠陥画素を検出する欠陥画素検出部11(後述の図3参照)を備えており、欠陥画素検出部11で検出された欠陥画素を補正する。
The
画像補正部4が行う欠陥画素の補正では、例えば、欠陥画素の周りの暗点を明るくしたり、輝点を暗くしたりする処理が行われる。通常、欠陥画素を補正するために、暗点を明るくする処理、又は、輝点を暗くする処理を行っているが、これらの処理だけでは、暗い被写体を撮影した時に暗点が輝点となり、明るい被写体を撮影した時に輝点が暗点になってしまう。そこで、欠陥画素の画素値を、周囲の画素の平均値で置き換える方法が良く用いられる。こうすると、被写体に応じて周囲の画素値が変化しても、欠陥画素の画素値が周囲の画素の平均値に置き換えられるので、欠陥画素と周囲の画素とのレベル差が目立たなくなる。欠陥画素検出部11の詳細な構成例、処理例については、後述する。
In the correction of defective pixels performed by the
画像処理部5は、補正されたデジタル画像信号で生成される画像に対して、例えば輝度・色度変換を行ってホワイトバランスの調整を行ったり、画質調整・輪郭強調等の処理を行ったりする。表示部6は、例えば、有機EL(Electro Luminescence)ディスプレイパネルや液晶ディスプレイパネルで構成される。この表示部6は、撮像装置10に対して取り外し可能としてもよい。記録部7は、例えば、フラッシュメモリ等の取り外し可能な記憶装置や、ハードディスクドライブ、DVD等の大容量記憶メディアが用いられる。
The
撮像装置10内の各処理ブロックは、制御部8によって制御される。制御部8は、例えば、中央処理装置(CPU:Central Processing Unit)が用いられる。本例の制御部8は、画像補正部4または画像処理部5がメモリ12(後述する図3参照)を使用していない場合に、メモリ12をラインメモリとして欠陥画素の検出に用いる。本例では、メモリ12にフレームメモリ以外のメモリを用いている。
Each processing block in the
図3は、画像補正部4の内部構成例を示す。
画像補正部4は、欠陥画素を検出する欠陥画素検出部11と、撮像素子に含まれる所定数以上のラインから出力される、デジタル画像信号の画素値を指定した範囲毎に一時記憶するメモリ12と、デジタル画像信号に輝度補正等の処理を施す補正部13を備える。なお、本例の補正部13は、画像補正部4が備える補正処理を行うブロックを総称するものである。また、補正部13には、画像処理部5が備える処理ブロックも含まれる。そして、欠陥画素検出部11は、これらの処理ブロックが補正処理を行うにあたって使用するメモリ12を欠陥画素の検出に用いる。
FIG. 3 shows an internal configuration example of the
The
アナログ/デジタル変換部3から供給されるデジタル画像信号は、欠陥画素検出部11と補正部13に供給される。欠陥画素検出部11は、所定数以上のラインで出力されたデジタル画像信号をライン毎にメモリ12に記憶させる。本例のメモリ12は、欠陥画素を検出するためのラインメモリ12a〜12c(後述する図4参照)を備える。そして、欠陥画素検出部11は、メモリ12を利用して同期加算を行って欠陥画素を検出する。ただし、欠陥画素検出部11は、補正部13が行う本来の処理に影響を及ぼさないようにして、メモリ12を欠陥画素の検出処理に用いる。
The digital image signal supplied from the analog /
本例では、ラインメモリを3本とした場合について説明するが、実装に際しては3本に限らず、その時点で他の用途に使用されていないラインメモリ、すなわち使えるラインメモリは使えるだけ使うようにする。そして、できるだけ大きな容量のメモリ12を用意した上で、できるだけ大きな範囲の画素について、同期加算を行う。本例において、メモリ12は、補正部13と画像処理部5、又は、後述する検出部24(図4参照)のいずれかが排他的に利用することになる。
In this example, the case where the number of line memories is three will be described. However, the number of line memories is not limited to three, and line memories that are not used for other purposes at that time, that is, usable line memories should be used as much as possible. To do. Then, a
欠陥画素検出部11(検出部24)は、メモリ12から読み出したデジタル画像信号に基づいて、欠陥画素を検出する。補正部13は、欠陥画素検出部11で検出された欠陥画素の位置情報を基に、欠陥画素が含まれる画像の補正を行う。その後、補正部13は、補正したデジタル画像信号を表示部6または記録部7に出力する。そして、欠陥画素検出部11は、検出した欠陥画素の情報を、撮像装置10内の各処理ブロックを制御する制御部8に出力する。
The defective pixel detection unit 11 (detection unit 24) detects defective pixels based on the digital image signal read from the
欠陥画素の検出は、メモリ12内に保持された同期加算済みの画像信号のみを用いて行う。また、検出部24において検出されたアドレスデータ(後述するアドレスメモリ25(図4参照)に保持)は一度の検出動作の度に制御部8に渡される。制御部8は、複数回の検出動作によって検出された多量のアドレスデータを管理する。そして、制御部8は、管理しているアドレスデータを補正部13に渡し、補正部13は受け取ったアドレスデータに基づいて、欠陥画素を補正する動作を行う。
The detection of defective pixels is performed using only the image signals that have been synchronized and added and stored in the
図4は、欠陥画素検出部11の内部構成例を示す。
欠陥画素検出部11は、メモリ12から読み出したデジタル画像信号の画素値と、撮像素子から出力され、アナログ/デジタル変換部3が出力するデジタル画像信号の画素値をライン毎に同期加算する加算部21を備える。また、所定のタイミングでメモリ12からデジタル画像信号の画素値をライン毎に読み出す選択部22を備える。選択部22は、メモリ12から読み出した並列出力されるデジタル画像信号の画素値を、検出対象領域の水平方向を揃えて検出部24に出力する。また、欠陥画素検出部11は、ライン毎に同期加算されたデジタル画像信号の画素値に基づいて、撮像素子に含まれる画素の欠陥を欠陥画素として検出する検出部24を備える。加算部21が加算したデジタル画像信号を指定した範囲毎に記憶するメモリ12は、画像補正部4または画像処理部5が用いる小容量のメモリやラインメモリを流用する。検出部24が検出した欠陥画素撮像素子における位置情報は、アドレスメモリ25に記憶される。
FIG. 4 shows an internal configuration example of the defective
The defective
同期加算は、メモリ12、メモリ12を使用する処理部を切替え制御するメモリ制御部26及び加算部21によって行われる処理である。そして、所定フレーム数の同期加算が終わった後に、その同期加算された値が2次元フィルタ23に入力されると、2次元フィルタ23は欠陥画素の特徴量を抽出する。ここで、メモリ制御部26は、所定の処理回路でメモリ12が用いられる場合に、加算部21及び検出部24が行う処理を停止し、所定の処理回路でメモリ12が用いられない場合に、加算部21及び検出部24による処理を実行させる制御を行う
The synchronous addition is processing performed by the
通常、ビデオ信号の処理では、順次走査を行っている。この処理は、画面の左上に位置する信号から順に右方向へ水平に一ライン信号が流れたら、次に一つ下のラインを左から右方向へ移動させる。この移動を繰り返しながら右下まで順に信号を流すことによって、順次画素毎に画像処理を行う。2次元で画像信号を処理する場合、一つ前、二つ前のラインの信号をメモリ12に保持し、これと現在のラインを合わせて縦横二次元の処理を行う。
Usually, in the processing of a video signal, sequential scanning is performed. In this process, when one line signal flows horizontally in the right direction from the signal located at the upper left of the screen, the next lower line is moved from the left to the right. By repeating this movement and sequentially flowing signals to the lower right, image processing is performed sequentially for each pixel. When processing an image signal in two dimensions, the signals of the previous and second previous lines are held in the
通常、フレームメモリからの読み出しは、1ラインずつとなるため、遅延線を用いて並列に行われる。この場合、フレームメモリと加算部21で同期加算が行われ、同期加算後のフレームメモリ出力を遅延線にて、並列化させる。これに対して、本例のように集積回路(LSI)内に配されたラインメモリ等のメモリを用いた場合には、ラインメモリ12a〜12cと加算部21で同期加算した後、メモリ12から同時に複数ラインを読み出して利用する。このとき、ラインメモリ12a〜12cを遅延線として兼用した上で、同時に3ライン分ずつ読み出す等の並列化を行う。2次元フィルタ23は、こうして並列化された信号を受けて、欠陥画素の特徴量を抽出する。
Normally, reading from the frame memory is performed on a line-by-line basis, and thus is performed in parallel using a delay line. In this case, synchronous addition is performed by the frame memory and the adding unit 21, and the frame memory output after the synchronous addition is parallelized by the delay line. On the other hand, when a memory such as a line memory arranged in an integrated circuit (LSI) is used as in this example, the
アドレスメモリ25に保持された欠陥画素のアドレスデータは、制御部8に渡され、そこで管理される。渡された欠陥画素のアドレスデータは制御部8によって、補正部13に渡されて、欠陥補正の動作に利用される。
The defective pixel address data held in the
選択部22は、メモリ12と一体であり、複数ラインの画素値を記憶したメモリ12から、例えば、3ライン分の水平方向をそろえて並列に出力できる。また、選択部22から加算部21には、選択したラインメモリ12a〜12cの画素値が供給される。そして、メモリ制御部26からメモリ12には、制御信号(read-address,write-address,write-enable)が供給される。一方、メモリ制御部26から検出部24には、画素位置を示す垂直水平アドレスが供給される。
The
メモリ12が備える3個のラインメモリ12a〜12cを同期加算に用いる際には、所定のビット数で定まるワード(例えば、10ビット/ワード)の語長を積算分増やすか、ワードの語長を変えずに演算結果が桁あふれしないように計算する。ここで、積算分とは積算する指定フレーム数と同義である。積算フレーム数を多くすると、ワードの語長を必要なだけ増やさなければならない。
When the three
演算結果が桁あふれするとその演算結果を正しい値として使用できない。このため、あるラインメモリで桁あふれする場合には他のラインメモリに含まれる数ビットの領域を演算用に一時的に使うことで、演算結果の桁あふれによる誤処理を防いでいる。また、ワードの語長を積算分増やして使うと、利用できるワード数が減るため、フレームメモリを利用する場合に比べて一度に検出対象とする画素数は減ってしまう。そして、ラインメモリ12a〜12cを用いて同期加算を行うことによって、SN比の良い状態で欠陥画素を検出できる。なお、本例では、3個のラインメモリを使用した例について説明したが、基本的には、メモリは何個でも使えるだけ使う、という構成になる。
If the operation result overflows, the operation result cannot be used as a correct value. For this reason, when an overflow occurs in a certain line memory, an error process due to overflow of the operation result is prevented by temporarily using an area of several bits included in another line memory for calculation. Further, if the word length of the word is increased and used, the number of usable words is reduced, so that the number of pixels to be detected at a time is reduced as compared with the case of using the frame memory. Then, by performing synchronous addition using the
ここで、「語長を積算分増やすと利用できるワード数が減る」ことについて説明する。一般に、メモリの必要容量は、”語長×ワード数”で決まる。このため、利用できるメモリの容量は実装されているメモリ容量で上限が決まると言える。ここで、2つの相反する要求が出てくる。第1の要求は、できるだけ多くの画素について一度に同期加算をするためには、できるだけワード数を多くしたいというものである。一方で、第2の要求として、同期加算フレーム数が多いほどSN比がよくなるので、語長は同期加算するフレーム数に応じて桁あふれしないようにできるだけ増やしたいという要求がある。これら相反する要求によって、同期加算のフレーム数と一度に同期加算できる画素数はトレードオフの関係となる。 Here, it will be described that “the number of words that can be used decreases when the word length is increased by an amount”. In general, the required memory capacity is determined by “word length × number of words”. For this reason, it can be said that the upper limit of the available memory capacity is determined by the installed memory capacity. Here are two conflicting requirements. The first requirement is to increase the number of words as much as possible in order to perform synchronous addition for as many pixels as possible at once. On the other hand, as the second request, since the SN ratio is improved as the number of synchronous addition frames increases, there is a request to increase the word length as much as possible so as not to overflow the number according to the number of frames to be synchronously added. Due to these conflicting requirements, the number of frames for synchronous addition and the number of pixels that can be synchronously added at a time have a trade-off relationship.
通常、ラインメモリは画像処理系を流れるビデオ信号の語長分しか画素値を持っていない。例えばビデオ信号が10ビットで、ラインメモリが10ビット/ワードの語長を持っていたと仮定する。このビデオ信号を同期加算する場合、10ビットの最大値である1023と1023を加算すると2046となる。このため、11ビットの語長が必要となる。つまり、2フレームの同期加算を行うと値が倍になり、11ビットの語長が必要となる。さらに、4フレームの同期加算を行う場合、値が4倍となるので2ビット増えて12ビット、8フレームの同期加算を行う場合、値が8倍となるので3ビット増えて13ビット必要となる。 Usually, the line memory has pixel values only for the word length of the video signal flowing through the image processing system. For example, assume that the video signal is 10 bits and the line memory has a word length of 10 bits / word. When this video signal is synchronously added, the sum of 1023 and 1023, which is the maximum value of 10 bits, is 2046. For this reason, a word length of 11 bits is required. That is, if two frames are synchronously added, the value is doubled, and an 11-bit word length is required. Furthermore, when 4 frames are synchronously added, the value is 4 times, so 2 bits are increased to 12 bits, and when 8 frames are synchronously added, the value is 8 times, so 3 bits are increased and 13 bits are required. .
このように、3ラインについて8フレームまでの同期加算を行うためには、13ビットのラインメモリが3本必要になる。これは見方を変えると、13ビット×3=39ビット幅のメモリが必要になるとも言える。一方で、本例のメモリ12に物理的に実装されるラインメモリは10ビット/ワードのものである。この場合、4本のラインメモリを用意して、10ビット×4=40ビット幅とみなせば、先の39ビット幅をまかなうことができる。つまり、補正や画像処理では4本として扱っているラインメモリを、同期加算では3本分として扱って語長を増やすことによって、同期加算した値の桁あふれが起こらないようにしている。一例として60フレームの同期加算を行う場合には、値が60倍となるので6ビット増えて16ビット、つまり16ビット×3=48ビット必要となる。このため、10ビット/ワードのラインメモリが5本必要となる。
Thus, in order to perform synchronous addition of up to 8 frames for 3 lines, 3 13-bit line memories are required. From a different point of view, it can be said that a memory of 13 bits × 3 = 39 bits is required. On the other hand, the line memory physically mounted in the
検出部24は、2次元フィルタ23から画素値を読み出すタイミングを指示するメモリ制御部26によって制御される。メモリ制御部26には、図示しない同期信号発生部から、水平同期信号と垂直同期信号が入力される。これは、同時に撮像素子やアナログ/デジタル変換部3へも配られる。これらの同期信号によって、メモリ制御部26は、1フレーム内におけるメモリ12に記憶されたライン数と水平方向の位置を計算できる。また、メモリ制御部26は、入力された水平同期信号と垂直同期信号に基づいて、メモリ12の書き込み許可信号、選択部22の切り替え信号、読取り信号等を生成する。画素値はメモリ12から読みだされ、2次元フィルタ23で欠陥画素の特徴量が抽出され、その特徴量が検出部24にて評価される。この評価は、検出部24が複数のフレームにわたってアドレスメモリ25に記憶された欠陥画素のアドレスをフレーム毎に読み出すことによって行われ、欠陥画素が確定される。
The
欠陥画素検出部11は、ライン毎のデジタル画像信号をラインメモリ12a〜12cに記憶させる。ラインメモリ12a〜12cは、先入れ先出し(FIFO:First-In First-Out)のキュー構造である。選択部22は、ラインメモリ12a〜12cからデジタル画像信号を読み出すタイミングを異ならせることによって、ラインメモリ12a〜12cを遅延線として用いる。
The defective
制御部8は、所定の処理回路(本例では、補正部13)でメモリ12が用いられる場合に、2次元フィルタ23及び検出部24が行う処理を停止する。また、制御部8は、所定の処理回路でメモリ12が用いられない場合に、2次元フィルタ23及び検出部24による処理を実行させる制御を行う。欠陥画素検出部11が欠陥画素を検出する際、選択部22は、補正部13が本来行うデジタル画像信号の流れる処理経路を切り替えて、デジタル画像信号を3ライン分並列にした状態で2次元フィルタ23に入力する。2次元フィルタ23は、3×3画素分の領域に含まれるデジタル画像信号のハイパスフィルタとして機能する。
The
ここで、2次元フィルタ23の役割について説明する。
一般的な欠陥画素は被写体に関わらず、常に一定の値を出力する。このため、レンズの絞りを閉じて光を遮断した状態で白点となって現れたり、白い被写体を映した際に黒点となって現れたりする。このような白点や黒点を欠陥画素と検出することになるが、これら白点や黒点は2次元でとらえた場合に高周波とみなすことができる。このため、欠陥画素の特徴量として高周波成分を抽出することになる。そこで用いられるのが、二次元の高周波成分を抽出する2次元フィルタ23(二次元ハイパスフィルタ)となる。二次元ハイパスフィルタで欠陥画素の特徴量である高周波成分を抽出し、検出部24にてこれが規定した閾値より大きければ欠陥画素としての特徴量で有るとして、欠陥画素と判定する。
Here, the role of the two-
A general defective pixel always outputs a constant value regardless of the subject. For this reason, it appears as a white spot when the lens aperture is closed and the light is blocked, or appears as a black spot when a white subject is projected. Such white spots and black spots are detected as defective pixels, but these white spots and black spots can be regarded as high frequency when viewed in two dimensions. For this reason, a high frequency component is extracted as the feature amount of the defective pixel. Therefore, a two-dimensional filter 23 (two-dimensional high-pass filter) that extracts a two-dimensional high-frequency component is used. A high-frequency component, which is a feature amount of a defective pixel, is extracted by a two-dimensional high-pass filter, and if it is larger than a threshold value specified by the
2次元フィルタ23は欠陥画素の特徴量を抽出する処理を行う。欠陥画素検出は、まず複数フレームにわたって同期加算を行う。同期加算が所定フレーム数終わった後、欠陥画素の検出動作に移行する。検出動作では、メモリ12から同期加算済みの画素値を並列に読み出し、2次元フィルタ23に入力する。2次元フィルタ23では欠陥画素の特徴量を抽出し、これを検出部24に入力する。検出部24は特徴量を評価し、評価値が規定した値より大きければ欠陥画素と判断する。この時、メモリ制御部26から受け取っていた垂直水平アドレス値を欠陥画素アドレスデータとして、アドレスメモリ25に保持する。アドレスメモリ25に保持されたデータは、一回の検出動作毎に制御部8にデータを渡す。
The two-
そして、同期加算によって、信号に重畳するノイズを除くことができる。ガウス分布と想定されるノイズは、同期加算することで分布の中央値であるゼロへと収束する。つまりノイズは同期加算により、その影響を排除できる。3×3のフィルタでは、抽出対象は中央の1画素であり、中央の1画素と周囲の画素を用いた演算により、特徴量を抽出する。そして順次抽出対象を1画素分ずつずらして各画素について特徴量の抽出演算を行う。なお、ノイズが発生し、信号に重畳されるのは、A/D変換されるまでのアナログ部分となる。つまり、撮像素子からアナログ/デジタル変換部3までの間である。
Then, noise superimposed on the signal can be removed by synchronous addition. Noise assumed to be Gaussian distribution converges to zero which is the median value of the distribution by synchronous addition. That is, the influence of noise can be eliminated by synchronous addition. In the 3 × 3 filter, the extraction target is one pixel at the center, and feature amounts are extracted by calculation using the center pixel and surrounding pixels. The extraction target is sequentially extracted for each pixel by sequentially shifting the extraction target by one pixel. Note that noise is generated and superimposed on the signal is an analog portion until A / D conversion is performed. That is, it is between the image sensor and the analog /
ラインメモリ12aから選択部22に供給されるデジタル画像信号は、加算部21によって、アナログ/デジタル変換部3から供給されるデジタル画像信号に加算される。そして、検出部24は、選択部22を通して読み出された画素値のうち、撮像面内における垂直位置と水平位置が同一となる画素値を、アドレスメモリ25から読み出した画素値に対応させてフレーム毎に同期加算する。その後、再びメモリ12の同じ位置にデジタル画像信号を書き込む。
The digital image signal supplied from the
ここで、撮像素子内における欠陥画素の例について、撮像素子が有する撮像面の一部を切り出して説明する。
図5は、メモリ12に記憶させる画素に欠陥画素が含まれる場合の例を示す。
図6は、メモリ12に記憶させる画素に欠陥画素が含まれない場合の例を示す。
本例では、3×7画素分のデジタル画像信号をラインメモリ12a〜12cに同期加算して取り込む場合における、取り込み範囲32と、欠陥画素の検出範囲34について説明する。図中の単位格子は、撮像素子の1画素に相当する単位画素31を表す。
Here, an example of defective pixels in the imaging device will be described by cutting out a part of the imaging surface of the imaging device.
FIG. 5 shows an example in which defective pixels are included in the pixels stored in the
FIG. 6 shows an example in which a defective pixel is not included in the pixels stored in the
In this example, a
図中の撮像面には、1ライン当たりの画素数を20画素とし、ライン数を15ラインとした計300画素が含まれる。そして、この撮像面には、3個の欠陥画素33a〜33cが含まれる。以下の説明では、(縦方向のライン数,横方向の画素数)として、撮像面内における画素の位置を座標で指定する。
The imaging surface in the figure includes a total of 300 pixels with 20 pixels per line and 15 lines. The imaging surface includes three
検出部24は、複数フレームにわたって同期加算された画素値に対して、1回の検出動作を行い、アドレスデータを制御部8に渡す。この動作を何度も繰り返すこととなるが、この際に、一度に同期加算を行える面積が限られる。このため、撮像素子全体から欠陥画素を抽出するためには、同期加算を何度も繰り返すことになる。
The
図5において、画素をメモリ12に取り込んで同期加算をする範囲は、3×7画素の取り込み範囲32であり、検出対象となる画素範囲が検出範囲34になる。取り込み範囲32について同期加算を行った後、検出動作に移行する。このとき、欠陥画素の検出は座標(6,6)〜(6,10)について行われる。こうして、座標(6,6)〜(6,10)の画素について欠陥画素の検出評価が終わる。
In FIG. 5, the range in which the pixels are taken into the
図6に示すように、今度は座標(6、11)〜座標(6、15)の画素について欠陥画素の検出評価を行う。このため、図6に示す取り込み範囲32の画素値をメモリ12に取り込んで同期加算を行う。そして、検出部24は、同期加算後に座標(6,11)〜座標(6,15)の画素について欠陥画素の検出評価を行う。その後、順次、メモリ12に取り込んで同期加算する範囲をずらす。本例では、次に、座標(6、16)〜座標(6、20)の画素について検出評価の対象となる。こうして撮像素子の右端まできたら、次は座標(7,1)〜座標(7,5)の画素について欠陥画素の検出評価を行う。以下、撮像面の全体の画素について欠陥画素の検出処理を繰り返す。ただし、実際に欠陥画素を検出可能な領域は、検出範囲34で示される。検出範囲34の外縁は、取り込み範囲32に含まれるものの欠陥画素を検出できる領域ではない。
As shown in FIG. 6, this time, defective pixels are detected and evaluated for pixels at coordinates (6, 11) to coordinates (6, 15). For this reason, the pixel values in the
そして、加算部21は、取り込み範囲32に含まれる全ての画素をメモリ12に取り込んで同期加算する。そして、3×3画素領域35で行う3×3フィルタは、3×3=9画素の中心画素についての演算を行う。つまり、3×3フィルタの演算を実行するには3×3画素が必要であるが、得られる演算値は中心の1画素に関する値だけとなる。このため一度に同期加算した面積のうち、外縁に位置する1画素分は欠陥画素の検出対象とはならない。この検出対象とならなかった外縁に位置する1画素分については次回以降の動作で検出対象となるようにメモリ12に取り込んで同期加算を行う。
Then, the adder 21 captures all the pixels included in the
図7は、2000画素×3ラインのメモリ12の構成例を示す。
メモリ12は、2000画素分のデジタル画像信号の画素値を記憶できるラインメモリ12a〜12cを有する。
FIG. 7 shows a configuration example of the
The
欠陥画素検出部11は、3×3画素毎に同期加算された結果を用いて、欠陥画素を検出する。このため、垂直方向には3ライン分の同期加算された画素値が必要となる。例えば、同期加算に利用できるラインメモリ12a〜12cが2000画素分の画素値を記憶できる場合、ラインメモリ12a〜12cを合計すると6000画素分の同期した加算結果を記憶できる。
The defective
本例の2次元フィルタ23は3×3画素の2次元フィルタ23を用いるので、メモリ12の外縁に記憶されたデジタル画像信号については欠陥画素を検出できない。このため、2次元フィルタ23を用いて、一度に欠陥画素の検出対象とすることができる画素数は、メモリ12の外縁に位置する各1画素分を除いた内側の1998画素となる。
Since the two-
図8は、欠陥画素を検出する処理の例を示す。
ここでは、指定した範囲内を、複数回に分けてメモリ12に取り込み欠陥画素を検出する処理について説明する。欠陥画素検出部11は、メモリ12に取り込んだ画素値を同期加算し、欠陥画素の検出を行う。メモリ12に取り込む画素の範囲は、検出範囲34が重ならないように移動させながら、指定した範囲内の全画素から欠陥画素の検出を行うようにする。ただし、メモリ12に一度に取り込む画素の範囲は任意であり、指定した範囲は撮像素子の全画素を含まなくてもよい。
FIG. 8 shows an example of processing for detecting defective pixels.
Here, a process of capturing a specified range into the
始めに、撮像装置10は、はレンズの絞りを閉じて(アイリスクローズ)、レンズに入射する光を遮る(ステップS1)。次に、欠陥画素検出部11は、メモリ12を初期化し(ステップS2)、同期加算しながら画素値をメモリ12に取り込む(ステップS3)。
First, the
次に、同期加算の回数が指定フレーム数に達したか否かを判別する(ステップS4)。ここで、同期加算をするフレームの数を、「指定フレーム数」と称しており、例えば、60フレームが指定フレーム数として設定される。 Next, it is determined whether or not the number of synchronous additions has reached the specified number of frames (step S4). Here, the number of frames to be synchronously added is referred to as “designated frame number”, and for example, 60 frames are set as the designated frame number.
同期加算の回数が指定フレーム数に達していない場合、ステップS3に処理を戻し、再度同期加算を行う。一方、同期加算の回数が指定フレーム数に達した場合、メモリ12から画像信号を読み出す(ステップS5)。 If the number of synchronous additions has not reached the specified number of frames, the process returns to step S3, and synchronous addition is performed again. On the other hand, when the number of synchronous additions reaches the specified number of frames, an image signal is read from the memory 12 (step S5).
次に、検出部24は、2次元フィルタ23の結果に基づいて、欠陥画素を検出する(ステップS6)。欠陥画素を検出した後、撮像面の指定範囲内で欠陥画素の検出を終了したか否かを判別する(ステップS7)。
Next, the
撮像面の指定範囲内で欠陥画素の検出を終了していない場合、メモリ12の取り込み範囲を移動して(ステップS8)、ステップS2に処理を戻し、再度メモリ12を初期化する。一方、撮像面の指定範囲内で欠陥画素の検出を終了した場合、欠陥画素の検出処理を終了する。
If the detection of defective pixels is not completed within the designated range on the imaging surface, the capture range of the
上述した本実施の形態に係る欠陥画素検出部11は、フレームメモリ以外のメモリを用いてデジタル画像信号の画素値から欠陥画素を検出する。このとき、例えば、ラインメモリを用いることによって同期加算を行う。このため、デジタル画像信号に重畳されるノイズの影響を除いた上で、精度良く欠陥画素を検出できるという効果がある。
The above-described defective
他の処理にも用いられる点に関しては、フレームメモリ以外のメモリを用いる場合も同じであるが、これまで欠陥検出のための同期加算にフレームメモリ以外のメモリを流用していなかった。ここで、ビデオカメラ、デジタルカメラの一般的な信号処理回路として、フレームメモリの次に大きなメモリとしてラインメモリがある。一般的なビデオ信号処理において、ラインメモリは、2次元の信号処理を行うために用いられる。上述した本実施の形態例では、容量が大きいラインメモリを用いて、欠陥画素を検出するものである。 The points used for other processes are the same when a memory other than the frame memory is used. However, until now, no memory other than the frame memory has been used for synchronous addition for defect detection. Here, as a general signal processing circuit of a video camera and a digital camera, a line memory is the next largest memory after the frame memory. In general video signal processing, a line memory is used to perform two-dimensional signal processing. In the present embodiment described above, a defective pixel is detected using a line memory having a large capacity.
また、フレームメモリを用いず、撮像装置10の各部が内蔵するメモリを同期加算に用いることによって、低コストかつ小面積な回路で、同期加算を行うことができる。また、撮像装置10が内蔵するメモリ12で欠陥画素を検出する対象領域の水平垂直比を調整することで、同期加算によってノイズの影響を排除した欠陥検出を1度により多くの画素を対象として行うことができる。このため、従来の技術に比べ、短時間で効率よく欠陥画素を検出できるという効果がある。
In addition, by using a memory built in each unit of the
なお、2次元フィルタ23が処理できる画素範囲は、3×3画素以外でも構わず、例えば、5×5画素であってもよい。また、同期加算に用いるメモリは同期加算したデジタル画像信号を格納できれば、撮像装置10にラインメモリとして実装されているメモリ以外のメモリを同期加算のために用いても構わない。
The pixel range that can be processed by the two-
また、ラインメモリが欠陥画素を検出する検出対象領域の水平方向に対する垂直方向の比を可変としてもよい。
図9は、1000画素×6ラインのメモリ12の構成例を示す。
本例のメモリ12は、それぞれ1000画素の画素値を記憶するラインメモリ41a〜41fを有する。
Further, the ratio of the vertical direction to the horizontal direction of the detection target area in which the line memory detects the defective pixel may be variable.
FIG. 9 shows a configuration example of the
The
上述したように、図9に示すようにメモリ12を構成した場合であっても、メモリ12の外縁の上下左右に位置する1画素分は欠陥画素の検出対象とならない。しかし、欠陥画素検出部11は、内側の998画素×4ラインの画素(3992画素)分を一度に欠陥画素を検出する対象とすることができる。
As described above, even when the
このように、図7に示した6000画素分の画素値を記憶するラインメモリ12a〜12cと同じ容量であるラインメモリ41a〜41fを用いても、メモリ12の水平垂直比を変えることで一度に検出対象とする画素数を約2倍とすることができる。検出対象領域の水平方向に対する垂直方向の比を可変とする処理は、メモリ制御部26が行う。このため、上述した実施の形態例で行う同期加算を用いた欠陥画素の検出処理に要する時間を約半分とすることができる。このように欠陥画素を検出するためには、撮像装置10にメモリ12を実装する際に、ワード長を1000画素分としておく。そして、1000画素分のワード長のラインメモリを2個で一組として、2000画素分の長さを持つラインメモリを構成しておけばよい。
As described above, even when the line memories 41a to 41f having the same capacity as the
また、ラインメモリの長さを、元の長さに対して1/3,1/4,…,1/m(mは有理数)と変えると、一度に欠陥画素を検出できる画素数を増やすことができる。本例の欠陥画素検出部11を実装する際には、本来メモリが使用される補正部13等の処理に影響が出ないようしながら、検出対象とする画素数ができるだけ大きくなるように構成する。このように、同期加算されたデジタル画像信号を2次元フィルタ23に入力して欠陥画素を検出する際には、同期加算に用いるラインメモリが格納する対象範囲の水平垂直比を変える。このことで、メモリ12に取り込む2次元画像面積の縦横比を変化させて、一度に検出対象とする面積を増すと共に、撮像素子全体の欠陥画素検出にかかる時間を短縮することができるという効果がある。
Further, if the length of the line memory is changed to 1/3, 1/4,..., 1 / m (m is a rational number) with respect to the original length, the number of pixels that can detect defective pixels at a time is increased. Can do. When the defective
また、本発明は上述した実施の形態例に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱することなくその他種々の構成を取り得ることは勿論である。 Further, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and it is needless to say that various other configurations can be taken without departing from the gist of the present invention.
1…光学系、2…撮像部、3…A/D変換部、4…画像補正部、5…画像処理部、6…表示部、7…記録部、8…制御部、10…撮像装置、11…欠陥画素検出部、12…メモリ、12a〜12c…ラインメモリ、13…補正部、21…加算部、22…選択部、23…2次元フィルタ、24…検出部、25…アドレスメモリ、26…メモリ制御部
DESCRIPTION OF
Claims (6)
前記メモリから読みだした前記デジタル画像信号の画素値と、前記撮像素子から出力されたデジタル画像信号の画素値をライン毎に同期加算する加算部と、
ライン毎に同期加算された前記デジタル画像信号の画素値に基づいて、前記撮像素子に含まれる画素の欠陥を欠陥画素として検出する検出部と、
所定の処理回路で前記メモリが用いられる場合に、前記加算部及び前記検出部が行う処理を停止し、前記所定の処理回路で前記メモリが用いられない場合に、前記加算部及び前記検出部による処理を実行させる制御を行う制御部と、を備える
欠陥画素検出回路。 A memory that stores the pixel value of the digital image signal output from a predetermined number of lines or more included in the image sensor for each specified range;
An adder that synchronously adds the pixel value of the digital image signal read from the memory and the pixel value of the digital image signal output from the image sensor for each line;
A detection unit that detects a defect of a pixel included in the image sensor as a defective pixel based on a pixel value of the digital image signal that is synchronously added for each line;
When the memory is used in a predetermined processing circuit, the processing performed by the addition unit and the detection unit is stopped, and when the memory is not used in the predetermined processing circuit, the addition unit and the detection unit A defective pixel detection circuit comprising: a control unit that performs control to execute processing.
前記メモリは、フレームメモリ以外のメモリである、
欠陥画素検出回路。 The defective pixel detection circuit according to claim 1.
The memory is a memory other than a frame memory.
Defective pixel detection circuit.
所定のタイミングで前記メモリから前記デジタル画像信号の画素値をライン毎に読み出し、前記検出対象領域の水平方向を揃えて前記デジタル画像信号の画素値を前記検出部に出力する選択部を備える
欠陥画素検出回路。 The defective pixel detection circuit according to claim 2.
A defective pixel including a selection unit that reads out the pixel value of the digital image signal from the memory for each line at a predetermined timing and outputs the pixel value of the digital image signal to the detection unit while aligning the horizontal direction of the detection target region. Detection circuit.
前記検出部が検出した欠陥画素の前記撮像素子における位置情報を記憶するアドレスメモリを備え、
前記検出部は、複数のフレームにわたって前記アドレスメモリに記憶された前記欠陥画素のアドレスをフレーム毎に読み出し、前記欠陥画素を確定する
欠陥画素検出回路。 The defective pixel detection circuit according to claim 3.
An address memory for storing position information of the defective pixel detected by the detection unit in the image sensor;
The detection unit reads out the address of the defective pixel stored in the address memory over a plurality of frames for each frame and determines the defective pixel.
撮像素子に含まれる所定数以上のラインから出力される、デジタル画像信号の画素値を指定した範囲毎に記憶するメモリと、
前記メモリから読みだした前記デジタル画像信号の画素値と、前記撮像素子から出力されたデジタル画像信号の画素値をライン毎に同期加算する加算部と、
ライン毎に同期加算された前記デジタル画像信号の画素値に基づいて、前記撮像素子に含まれる画素の欠陥を欠陥画素として検出する検出部と、
所定の処理回路で前記メモリが用いられる場合に、前記加算部及び前記検出部が行う処理を停止し、前記所定の処理回路で前記メモリが用いられない場合に、前記加算部及び前記検出部による処理を実行させる制御を行う制御部と、
前記検出した欠陥画素が出力する画素値を補正したデジタル画像信号を出力する画像補正部と、
前記画像補正部から供給されたデジタル画像信号を出力する出力部と、を備える
撮像装置。 An imaging unit that outputs image light imaged through an optical system as an imaging signal;
A memory that stores the pixel value of the digital image signal output from a predetermined number of lines or more included in the image sensor for each specified range;
An adder that synchronously adds the pixel value of the digital image signal read from the memory and the pixel value of the digital image signal output from the image sensor for each line;
A detection unit that detects a defect of a pixel included in the image sensor as a defective pixel based on a pixel value of the digital image signal that is synchronously added for each line;
When the memory is used in a predetermined processing circuit, the processing performed by the addition unit and the detection unit is stopped, and when the memory is not used in the predetermined processing circuit, the addition unit and the detection unit A control unit that performs control to execute processing;
An image correction unit for outputting a digital image signal obtained by correcting the pixel value output by the detected defective pixel;
An output unit that outputs a digital image signal supplied from the image correction unit.
前記メモリから読みだした前記デジタル画像信号の画素値と、前記撮像素子から出力されたデジタル画像信号の画素値をライン毎に同期加算するステップと、
ライン毎に同期加算された前記デジタル画像信号の画素値に基づいて、検出部が前記撮像素子に含まれる画素の欠陥を欠陥画素として検出するステップと、
所定の処理回路で前記メモリが用いられる場合に、前記加算部及び前記検出部が行う処理を停止し、前記所定の処理回路で前記メモリが用いられない場合に、前記加算部及び前記検出部による処理を実行させる制御を行うステップと、を含む
欠陥画素検出方法。
Storing the pixel value of the digital image signal output from a predetermined number of lines or more included in the image sensor in a memory for each designated range;
Synchronously adding the pixel value of the digital image signal read from the memory and the pixel value of the digital image signal output from the image sensor for each line;
A step of detecting a defect of a pixel included in the image sensor as a defective pixel based on a pixel value of the digital image signal synchronously added for each line;
When the memory is used in a predetermined processing circuit, the processing performed by the addition unit and the detection unit is stopped, and when the memory is not used in the predetermined processing circuit, the addition unit and the detection unit And a step of performing control to execute processing, and a defective pixel detection method.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2008210965A JP2010050560A (en) | 2008-08-19 | 2008-08-19 | Defective pixel detection circuit, imaging device, and defective pixel detection method |
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014030145A (en) * | 2012-07-31 | 2014-02-13 | Canon Inc | Image processor and control method of the same |
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2008
- 2008-08-19 JP JP2008210965A patent/JP2010050560A/en active Pending
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