JP2010040064A - 光ディスク装置及び信号生成方法 - Google Patents

Abstract

【課題】光ビームの焦点からマーク層までの距離を表すマーク層距離信号を生成し得る。
【解決手段】本発明は、メインビームＭＢとほぼ同一のスポット径でなるサブビームＳＢをラジアル方向にずらして照射することにより、光ディスク１００の半径方向であるラジアル方向においてメインビームＭＢが照射されない領域にサブビームＳＢの少なくとも一部を照射させる。そして本発明は、メインビームＭＢ及びサブビームＳＢに基づいて、読出光ビームＬＲの焦点とトラックＴＲが属するマーク層Ｙとの距離を表すマーク層距離信号としての補正プルイン信号ＳＰＩｃを生成する。
【選択図】図２０

Description

本発明は光ディスク装置及び信号生成方法に関し、例えば一様でなる記録層に記録マークが形成されてなる光ディスクから情報を再生する光ディスク装置に適用して好適なものである。

従来、光ディスク装置においては、ＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）及びＢｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ（登録商標、以下ＢＤと呼ぶ）等のように、信号記録層を有する従来型の光ディスクが広く普及している。この光ディスク装置では、信号記録層において光ビームが照射されるべき所望のトラック（以下、これを所望トラックと呼ぶ）に対して光ビームを照射し、その反射光を読み取ることにより情報を再生するようになされている。

この従来型の光ディスク装置では、信号記録層に対して光ビームを照射すると、当該光ビームが信号記録層によって反射されるため常に所定以上の光量で反射光を受光することができる。このため従来型の光ディスク装置では、反射光を基に光ビームの所望トラックからのズレ量を表す各種エラー信号（例えばフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号）を生成し、光ビームを所望の位置に照射するようサーボ制御を実行するようになされている。

またかかる従来型の光ディスク装置では、当該光ディスクの信号記録層に対して光ビームを照射し、当該信号記録層の局所的な反射率等を変化させることにより、情報の記録を行うようになされている。

この光ディスクについて、対物レンズ等により光ビームが集光された際に形成するビームスポットの大きさは、およそλ／ＮＡ（λ：光ビームの波長、ＮＡ：開口数）で与えられ、解像度もこの値に比例することが知られている。例えばＢＤ方式では、直径１２０［ｍｍ］の光ディスクに１層あたり約２５［ＧＢ］のデータを記録することができる。

ところで光ディスクには、音楽コンテンツや映像コンテンツ等の各種コンテンツ、或いはコンピュータ用の各種データ等のような種々の情報が記録されるようになされている。特に近年では、映像の高精細化や音楽の高音質化等により情報量が増大し、また１枚の光ディスクに記録するコンテンツ数の増加等が要求されており、当該光ディスクのさらなる大容量化が望まれている。

そこで光ディスク装置のなかには、例えばホログラムを利用して光ディスクの一様な記録層内に定在波を記録マークとして記録し、これを多層化することにより光ディスクの簡素化及び大容量化を図ったものが提案されている（例えば、特許文献１参照）。

この光ディスク装置では、光ディスクにおいて記録マークを有するマーク層に光ビームを照射すると共に当該光ディスクから戻る戻り光ビームを受光する。そして光ディスク装置では、当該反射光を基に記録マークの有無を検出し、情報を再生するようになされている。
特開２００８−７１４３３公報

ところで図１（Ａ）に示すように、従来型の光ディスク装置では、時点ｔ１において光ビームの和光量を表すプルイン信号ＳＰＩの信号レベルが所定のフォーカスイン閾値ＡＦＩとなったときに、当該光ビームの焦点が信号記録面の近傍にあると判別し、フォーカスイン信号ＳＦＩ（図１（Ｂ））を「Ｈｉｇｈ」レベルに立ち上げる。

そして従来型の光ディスク装置では、時点ｔ２においてフォーカスエラー信号ＳＦＥ（図１（Ｃ））からゼロクロス点を検出すると、フォーカスサーボ制御信号ＳＦＢ（図１（Ｅ））を立ち上げ、フォーカスサーボ制御を開始するようになされている。

すなわち従来型の光ディスク装置では、信号記録面からの戻り光の和光量であるプルイン信号ＳＰＩが光ビームの焦点から信号記録面までの距離を表しており、当該光ビームの焦点が信号記録面に近づくにつれてその信号レベルが増大するという特性を利用してゼロクロス点を検出するタイミングを決定している。

これに対して特許文献１に記載の光ディスク装置に対応する光ディスクでは、記録層内が一様でなり信号記録面を有さず、記録マークがマーク層として一平面上に形成されることにより、記録マークが点在して配列された状態にある。このため光ディスク装置では、図２（Ａ）に示すように光ビームの焦点が半径方向に記録マーク列（すなわちトラック）上に位置するかどうかでプルイン信号ＳＰＩの信号レベルが大きく変動してしまい、その波形が櫛形になってしまう。

このようなプルイン信号ＳＰＩでは、信号レベルがフォーカスイン閾値ＡＦＩ以上とフォーカスイン閾値ＡＦＩ未満とを繰り返すことになり、フォーカスイン信号ＳＦＩが立ち上がりと立ち下がりを繰り返してしまい、プルイン信号を用いてゼロクロス点を検出するタイミングを決定することができなくなってしまう。

また図２（Ｃ）に示すように、フォーカスエラー信号ＳＦＥもその波形が大きく崩れている。この場合、フォーカスエラー信号ＳＦＥは、光ビームの焦点とマーク層とのずれ量を正確に表しているとはいえず、ゼロクロス点を検出してフォーカス制御を開始しても、制御系が不安定になる可能性がある。

言い換えると、特許文献１に記載の光ディスク装置では、信号記録面と光ビームの焦点が光ビームの焦点からマーク層までの距離を表すべきプルイン信号ＳＰＩ及びフォーカスエラー信号ＳＦＥが、当該距離を正確に表していないという問題があった。

本発明は以上の点を考慮してなされたもので、光ビームの焦点からマーク層までの距離を表すマーク層距離信号を生成し得る光ディスク装置及び信号生成方法を提案しようとするものである。

かかる課題を解決するため本発明においては、光源から出射された光ビームをメインビーム及びサブビームに分離し、一様でなる記録層において記録マークによるトラックが形成されてなる光ディスクに対して光ビームを集光し照射する際、光ディスクの半径方向であるラジアル方向においてメインビームが照射されない領域にサブビームの少なくとも一部を照射させ、メインビーム及びサブビームのうち、トラックに対して照射された少なくとも一の光ビームによる戻り光ビームに基づいて、光ビームの焦点とトラックが属するマーク層との距離を表すマーク層距離信号を生成するようにした。

これにより本発明では、トラックに対して照射された戻り光ビームに基づいてマーク層距離信号を生成することができる。

また本発明においては、光源から出射された光ビームをメインビーム及びサブビームに分離する光分離部と、一様でなる記録層において記録マークによるトラックが形成されてなる光ディスクに対して光ビームを集光し照射する際、サブビーム若しくはメインビーム及びサブビームをトラック及びトラックが形成されていないスペース領域の両方に対して照射する対物レンズと、トラック及びスペース領域の両方に対して照射されたサブビーム若しくはメインビーム及びサブビームによる戻り光ビームに基づいて、光ビームの焦点とトラックが属するマーク層との距離を表すマーク層距離信号を生成する信号生成部とを設けるようにした。

これにより本発明では、マーク層総体としての戻り光ビームに基づいてマーク層距離信号を生成することができる。

本発明によれば、トラックに対して照射された戻り光ビームに基づいてマーク層距離信号を生成することができ、かくして光ビームの焦点からマーク層までの距離を表すマーク層距離信号を生成し得る光ディスク装置及び信号生成方法を実現できる。

また本発明によれば、マーク層総体としての戻り光ビームに基づいてマーク層距離信号を生成することができ、かくして光ビームの焦点からマーク層までの距離を表すマーク層距離信号を生成し得る光ディスク装置及び信号生成方法を実現できる。

以下、図面について、本発明の一実施の形態を詳述する。

（１）第１の実施の形態
（１−１）光ディスクの構成
まず、第１の実施の形態における情報の再生に関する原理について説明する。第１の実施の形態では、光ディスク１００の一様でなる記録層１０１の内部に立体的な形状を有する記録マークＲＭが形成されているようになされている。

実際上光ディスク１００は、図３（Ａ）に外観図を示すように、全体として略円板状に構成され、中心にチャッキング用の孔１００Ｈが設けられている。

また光ディスク１００は、図３（Ｂ）に断面図を示すように、情報を記録するための記録層１０１の両面を基板１０２及び１０３により挟んだ構成を有している。

光ディスク１００は、記録層１０１において螺旋状に連なって記録マークＲＭが形成されることにより、螺旋状のトラックＴＲを形成している。このトラックＴＲは、記録層１０１において基板１０２から一定の距離離隔した同一平面内に形成されることにより、マーク層Ｙを形成している。

また光ディスク１００は、記録層１０１の内部にマーク層Ｙが複数形成されている。なお図３（Ｂ）では、４層のマーク層Ｙが形成されている様子を示している。

図４に示すように、記録マークＲＭは微少なホログラムでなる。図５（Ａ）に示すように、記録マークＲＭは、一の光源から出射された波長が４０５［ｎｍ］でなる記録光ビームＬＷが記録光ビームＬＷ１及びＬＷ２の２つに分離されると共に、当該分離された２つの記録光ビームＬＷ１及びＬＷ２を、対物レンズＯＬ１及びＯＬ２を介して互いに反対側（すなわち基板１０２及び１０３側）から照射して干渉させることにより記録されている。

因みに光ディスク１００では、２値化された記録データのうち「１」に対して記録マークＲＭが形成され、「０」に対して記録マークが形成されないように割り当てられることにより、情報が記録されている。

一方図５（Ｂ）に示すように光ディスク１００は、記録マークＲＭに対して例えば基板１０２側から４０５［ｎｍ］でなる読出光ビームＬＲが対物レンズＯＬを介して照射されると、記録時において基板１０３側から照射された読出光ビームＬＲを再現し、基板１０２から出射する戻り光ビームＬＲｒを発生させる。

このとき光ディスク装置１は、例えば記録マークＲＭが形成されていれば符号「１」に、当該記録マークＲＭが形成されていなければ符号「０」に割り当てることにより、記録されている情報を再生することができる。

このように光ディスク１００では、記録層１０１の内部に記録マークＲＭが螺旋状に連なって形成されることによりトラックＴＲが形成されると共に、当該トラックＴＲが一面に形成されることによりマーク層Ｙが形成されている。

（１−２）プルイン信号が櫛形となる原因
本願発明人は、シミュレーションにより、光ディスク１００に対して読出光ビームＬＲを照射したときにプルイン信号ＳＰＩが図２（Ａ）に示したような櫛形となる原因を考察した。

本シミュレーションでは、図６（Ａ）に示すように、１つの読出光ビームＬＲによる１つのスポットＰのみが記録層１０１に形成され、当該読出光ビームＬＲによる戻り光ビームＬＲｒが生成される。

本シミュレーションにおいて、戻り光ビームＬＲｒは、図７に示すように、非点収差を付加された上で４つの検出領域ＦＤａ、ＦＤｂ、ＦＤｃ及びＦＤｄを有する光検出器ＦＤによって受光される。光検出器ＦＤは、検出領域ＦＤａ〜ＦＤｄにより戻り光ビームＬＲｒの一部をそれぞれ検出し、このとき検出した光量に応じて検出信号ＵＲａ、ＵＲｂ、ＵＲｃ及びＵＲｄ（以下、これらをまとめて検出信号ＵＲａ〜ＵＲｄとする）をそれぞれ生成する。

そして本シミュレーションでは、検出信号ＵＲａ〜ＵＲｄから次式に従って和信号を生成すると共に、当該和信号に対してＬＰＦ（Low Pass Filter）処理を施すことによりプルイン信号ＳＰＩを生成した。

また本シミュレーションでは、非点収差法により次式に従ってフォーカスエラー信号ＳＦＥを生成した。

ここで図６（Ａ）に示すように、トラックＴＲの中心に対して読出光ビームＬＲのスポットＰの中心が位置するときをオントラックと呼ぶ。

オントラック時において、記録マークＲＭから発生する戻り光ビームＬＲｒが対物レンズＯＬによって受光されるときの光強度分布（以下、これを瞳上光強度分布ＤＬと呼ぶ）を図６（Ｂ）に示している。なお本シミュレーションでは、光強度分布を表す各図において最も光強度が大きい部分を基準に光強度を濃淡で示しており、本光強度が大きい部分を濃く、光強度が小さい部分を薄く表している。図からわかるように戻り光ビームＬＲｒは、中心部分でその光強度が比較的大きく、周縁部分において光強度の比較的小さくなっている。

なお本シミュレーションにおいて、読出光ビームＬＲの波長λは４０５［ｎｍ］、対物レンズＯＬの開口数ＮＡ（Numerical Aperture）は０．５１、トラックＴＲの間隔（以下、これをトラックピッチＴＰと呼ぶ）は１．１［μｍ］、光強度分布における解像度が１２８×１２８とした。

図８に、オントラック時において対物レンズＯＬをフォーカス方向の移動させた場合に生成されるフォーカスエラー信号ＳＦＥを示している。なお横軸は時間軸であり、０から２００までの間に対物レンズＯＬが２５［μｍ］移動したことを表している。また縦軸は信号レベルを表している。以下のグラフについても同様である。

図８からわかるように、オントラック時においてフォーカスエラー信号ＳＦＥは振幅の大きいＳ字カーブを描いており、マーク層Ｙとの合焦点となるゼロクロス点ＺＣ近傍の傾きが急峻となっている。因みにフォーカスエラー信号ＳＦＥにおいて極大点ＭｘＦ及び極小点ＭｎＦ間は約５．７５［μｍ］であった。

図９に、オントラック時において対物レンズＯＬをフォーカス方向の移動させた場合に生成されるプルイン信号ＳＰＩを示している。図からわかるように、オントラック時においてプルイン信号ＳＰＩはマーク層Ｙとの合焦点となる極大点ＭｘＩの信号レベルが非常に大きくなっている。

図１０に、オントラック時において光検出器ＦＤ上で受光される戻り光ビームＬＲのスポット（以下、これを戻り光スポットＱと呼ぶ）における光強度分布を示している。なお図１０（Ａ）及び（Ｃ）は、フォーカスエラー信号ＳＦＥ（図８）が極大点ＭｘＦ及び極小点ＭｘＦになるときの戻り光スポットＱをそれぞれ示しており、図１０（Ｂ）は、読出光ビームＬＲがマーク層Ｙに合焦したときの戻り光スポットＱを示している。

いずれの戻り光スポットＱにおいても、その中心部分において光強度が大きく、周縁部分において光強度が小さくなっており、光強度の大きい部分がその中心に集約されている。なお非点収差を付加しているため、読出光ビームＬＲがマーク層Ｙに合焦していない図１０（Ａ）及び（Ｃ）においてはその形状が約４５°傾いた楕円状を呈している。

これに対して図１１（Ａ）に示すように、トラックＴＲの中心に対して読出光ビームＬＲのスポットＰの中心が約０．３１［μｍ］ずれてデトラックしているときの瞳上光強度分布ＤＬを図１１（Ｂ）に示している。

図からわかるように、オントラック時（図６（Ｂ））と比較して、中心部分の光強度が小さく、光強度の大きい部分が外側に移動している。なお上述したように図１１（Ａ）において光強度の最も大きい部分を基準に光強度分布を濃淡で示しているため図には表われていないが、デトラック時（０．３１［μｍ］）における戻り光ビームＬＲｒとしての全体の光量はオントラック時と比較して小さくなっている。

図１２に、デトラック時（０．３１［μｍ］）において対物レンズＯＬをフォーカス方向の移動させた場合に生成されるフォーカスエラー信号ＳＦＥを示している。図からわかるように、フォーカスエラー信号ＳＦＥの振幅がオントラック時と比較して大幅に小さくなっており、極大点ＭｘＦ及び極小点ＭｎＦ間が約１０［μｍ］と大きくなっていた。

すなわちフォーカスエラー信号ＳＦＥは、デトラック時（０．３１［μｍ］）において、大幅に感度が鈍くなっていることがわかる。

図１３に、デトラック時（０．３１［μｍ］）において対物レンズＯＬをフォーカス方向の移動させた場合に生成されるプルイン信号ＳＰＩを示している。図からわかるように、プルイン信号ＳＰＩの信号レベルは、極大点ＭｘＩとなるべきマーク層Ｙとの合焦点（横軸目盛り１００付近）において合焦してないデフォーカス時と比較して落ち込んでしまっている。

読出光ビームＬＲがマーク層Ｙからデフォーカスしているとき、当該読出光ビームＬＲはその光径が大きい状態で、かつ目標トラックＴＧからデトラックした状態で照射される。このため読出光ビームＬＲは、その周縁部分が記録マークＲＭに照射されることになり、ある程度の光量で戻り光ビームＬＲｒが受光されることになる。

これに対して読出光ビームＬＲが目標マーク層ＹＧに合焦しているとき、当該読出光ビームＬＲはその光径が小さい状態で、目標トラックＴＧからデトラックした状態で照射される。このため読出光ビームＬＲは、記録マークＲＭに殆ど照射されず、戻り光ビームＬＲｒの光量がデフォーカスしている時よりも小さくなってしまう。

図１４に、デトラック時（０．３１［μｍ］）において光検出器ＦＤ上で受光される戻り光スポットＱにおける光強度分布を示している。なお図１４（Ａ）及び（Ｃ）は、フォーカスエラー信号ＳＦＥ（図１２）が極大点ＭｘＦ及び極小点ＭｘＦになるときの戻り光スポットＱをそれぞれ示しており、図１４（Ｂ）は、読出光ビームＬＲがマーク層Ｙに合焦したときの戻り光スポットＱを示している。

図からわかるように、オントラック時（図６（Ｂ））と比較して、戻り光スポットＱの形状が崩れ、外側に大きく広がってしまっていることがわかる。

また図１５（Ａ）に示すように、トラックＴＲの中心に対して読出光ビームＬＲのスポットＰの中心が約０．５５［μｍ］ずれてデトラックしているときの瞳上光強度分布ＤＬを図１５（Ｂ）に示している。なおトラックピッチＴＰが１．１［μｍ］でなることから、図１５（Ａ）では１／２トラックだけデトラックしていることになる。

図からわかるように、戻り光ビームＬＲｒは、その中心部分において若干光強度の大きい部分がみられるものの、中心部分以外の光強度が極めて弱く、全体的に非常に小さい広量でなることがわかる。

図１６に、デトラック時（０．５５［μｍ］）において対物レンズＯＬをフォーカス方向の移動させた場合に生成されるフォーカスエラー信号ＳＦＥを示している。図からわかるように、フォーカスエラー信号ＳＦＥにおける極大点ＭｘＦ及び極小点ＭｎＦ間が約１２．７５［μｍ］と、デトラック時（０．３１［μｍ］、図１２）と比較してさらに広がっており、感度がさらに鈍くなっていることがわかる。

図１７に、デトラック時（０．５５［μｍ］）において対物レンズＯＬをフォーカス方向の移動させた場合に生成されるプルイン信号ＳＰＩを示している。図からわかるように、極大点ＭｘＩとなるべきマーク層Ｙとの合焦点（横軸目盛り１００付近）におけるプルイン信号ＳＰＩの信号レベルの落ち込みがデトラック時（０．３１［μｍ］、図１３）と比較してさらに大きくなってしまっている。

図１８に、デトラック時（０．５５［μｍ］）において光検出器ＦＤ上で受光される戻り光スポットＱにおける光強度分布を示している。なお図１８（Ａ）及び（Ｃ）は、フォーカスエラー信号ＳＦＥ（図１６）が極大点ＭｘＦ及び極小点ＭｘＦになるときの戻り光スポットＱをそれぞれ示しており、図１８（Ｂ）は、読出光ビームＬＲがマーク層Ｙに合焦したときの戻り光スポットＱを示している。

図からわかるように、デトラック時（０．３１［μｍ］、図１４）と比較して、戻り光スポットＱの形状がさらに崩れ、外側に大きく広がってしまっていることがわかる。

図１９（Ａ）及び図２０（Ａ）に、読出光ビームＬＲのスポットＰの中心がオントラックから０．１３７５［μｍ］ずつデトラックした場合に得られるフォーカスエラー信号ＳＦＥ及びプルイン信号ＳＰＩをそれぞれ示している。

図１９（Ａ）に示すように、フォーカスエラー信号ＳＦＥは、曲線Ｆ１が示すオントラック時と曲線Ｆ５が示すデトラック時（０．５５［μｍ］）とにおける振幅の差が非常に大きく、また合焦点となるゼロクロス点ＺＣ近傍における傾きのばらつきが非常に大きいことがわかる。

すなわちフォーカスエラー信号ＳＦＥでは、オントラック時及びデトラック時において異なる信号レベルを示すことになってしまう。

また図２０（Ａ）に示すように、プルイン信号ＳＰＩは、曲線Ｉ１が示すオントラック時と曲線Ｉ５が示すデトラック時（０．５５［μｍ］）とにおける振幅の差が非常に大きく、特に合焦点近傍では、その信号レベルが全く異なってしまっている。

ここで一般的に、光ディスク１００は最大で約５０［μｍ］程度の偏心を有している。すなわちトラックピッチＴＰを約１．１［μｍ］とした場合、同一位置に読出光ビームＬＲを照射すると、光ディスク１００の１回転につき約９０回トラックＴＲを横切ることになってしまう。

例えば所望のマーク層Ｙに対してフォーカス制御を開始するフォーカス引込処理において、光ディスク装置１は、対物レンズ１６を移動させることなく読出光ビームＬＲを照射する。この結果読出光ビームＬＲは、オントラックとデトラックとを一定の周期で繰り返し、図２に示したような櫛形のプルイン信号ＳＰＩ及び波形の大きく崩れたフォーカスエラー信号ＳＦＥが生成されることになる。

このように、一様でなる記録層１０１に記録マークＲＭを記録する光ディスク１００では、読出光ビームＬＲを反射する信号記録面を有さないため、当該読出光ビームＬＲのオントラック時又はデトラック時で戻り光ビームＬＲｒの光量が大きく変動する。このため本来目標マーク層ＹＧと読出光ビームＬＲの焦点との距離を表すべきフォーカスエラー信号ＳＦＥ及びプルイン信号ＳＰＩの信号レベルがオントラック時又はデトラック時で変動してしまう。

この結果、読出光ビームＬＲを同一位置に照射するような処理（すなわちトラッキング制御を開始する前段階における処理）の際、光ディスク１００の偏心を起因として読出光ビームＬＲがトラックＴＲを横切ると、これに応じてフォーカスエラー信号ＳＦＥ及びプルイン信号ＳＰＩの信号レベルが大きく変動するのである。

（１−３）光ディスク装置の構成
図２１に示すように、光ディスク装置１は、制御部２を中心に構成されている。制御部２は、図示しないＣＰＵ（Central Processing Unit）と、各種プログラム等が格納されるＲＯＭ（Read Only Memory）と、当該ＣＰＵのワークメモリとして用いられるＲＡＭ（Random Access Memory）とによって構成されている。

制御部２は、光ディスク１００から情報を再生する場合、駆動制御部３を介してスピンドルモータ５を回転駆動させ、所定のターンテーブルに載置された光ディスク１００を所望の速度で回転させる。

また制御部２は、図示しない外部機器から供給される再生アドレス情報に基づき、駆動制御部３を介してスレッドモータ６を駆動させることにより、光ピックアップ１０を移動軸６Ａ及び６Ｂに沿ってトラッキング方向、すなわち光ディスク１００の内周側又は外周側へ向かう方向へ大きく移動させるようになされている。

光ピックアップ１０は、対物レンズ１６等の複数の光学部品が取り付けられており、制御部２の制御に基づいて光ディスク１００における再生アドレス情報が示すマーク層Ｙ（以下、これを目標マーク層ＹＧと呼ぶ）のトラックＴＲ（以下、これを目標トラックＴＧと呼ぶ）に対し、読出光ビームＬＲを照射し、戻り光ビームＬＲｒを検出するようになされている。

信号処理部４は、光ピックアップ１０から供給される検出信号に対し所定の演算処理、復調処理及び復号化処理等を施すことにより、目標トラックＴＧに記録マークＲＭとして記録されている情報を再生し得るようになされている。

また光ピックアップ１０のアクチュエータ１７は、検出信号から算出されるフォーカスエラー信号ＳＦＥ及びトラッキングエラー信号ＳＴＥに基づいて対物レンズ１６のフォーカス制御及びトラッキング制御を行い、当該対物レンズ１６により集光される読出光ビームＬＲの焦点の位置を調整するようになされている。

（１−４）光ピックアップの構成
次に、光ピックアップ１０の構成について説明する。図２２に示すように、光ピックアップ１０のレーザダイオード１１は、波長約４０５[ｎｍ]の青色レーザ光でなる読出光ビームＬＲを出射し、コリメータレンズ１２へ入射させる。実際上レーザダイオード１１は、制御部２（図２１）の制御に基づき情報の読出に応じた所定の光量の読出光ビームＬＲを出射する。コリメータレンズ１２は、読出光ビームＬＲを発散光から平行光に変換し、グレーティング１３へ入射させる。

グレーティング１３は、読出光ビームＬＲをメインビームＭＢ及び２つのサブビームＳＢに分離し、これらを読出光ビームＬＲとして偏光ビームスプリッタ１４へ入射させる。

偏光ビームスプリッタ１４は、入射される光ビームの偏光方向により読出光ビームＬＲを透過して１／４波長板１５へ入射させる。１／４波長板１５は、読出光ビームＬＲをそれぞれＰ偏光から円偏光に変換して対物レンズ１６へ入射させる。

対物レンズ１６は、読出光ビームＬＲを集光し、光ディスク１００の記録層１０１における目標トラックＴＧ及びその近傍に照射する。このとき対物レンズ１６は、メインビームＭＢと２つのサブビームＳＢとを別々の集光点に集光し、メインビームＭＢを目標トラックＴＧに照射し、サブビームＳＢを当該目標トラックＴＧの近傍に照射する。この結果メインビームＭＢによるメインスポットＭＰ及びサブビームＳＢによる２つのサブビームスポットＳＰが目標マーク層Ｙにおける異なる箇所にそれぞれ形成されることになる（詳しくは後述する）。

ここで記録層１０１は、目標トラックＴＧ及びその近傍に記録マークＲＭが形成されている場合には、戻り光ビームＬＲｒを生成することになる。一方記録層１０１は、目標トラックＴＧ及びその近傍に記録マークＲＭが形成されていない場合には、読出光ビームＬＲをほぼ透過させ、戻り光ビームＬＲｒを殆ど生成しないことになる。

戻り光ビームＬＲｒは、元の読出光ビームＬＲの光路を反対方向へ進行する。すなわち戻り光ビームＬＲｒは、対物レンズ１６により平行光へ変換され、１／４波長板１５によってＳ偏光へ変換された後、偏光ビームスプリッタ１４へ入射される。

偏光ビームスプリッタ１４は、Ｓ偏光でなる戻り光ビームＬＲｒを反射透過面１４Ｓによって反射し、マルチレンズ１９へ入射させる。マルチレンズ１９は、戻り光ビームＬＲｒを集光すると共に非点収差を付加し、フォトディテクタ２０へ照射させる。

ここで読出光ビームＬＲがメインビームＭＢ及び２つのサブビームＳＢでなることから、戻り光ビームＬＲｒとしてメイン戻り光ビームＭＢｒ及び２つのサブ戻り光ビームＳＢｒが生成されることになる。

図２２に示すように、フォトディテクタ２０は、メイン戻り光ビームＭＢｒを受光するためのメインスポット検出器２１と、サブ戻り光ビームＳＢｒを受光するためのサブスポット検出器２２及び２３とから構成されている。

メインスポット検出器２１は、メイン戻り光ビームＭＢｒを受光するための検出領域２１Ａ、２１Ｂ、２１Ｃ及び２１Ｄ（以下、これらをまとめて検出領域２１Ａ〜２１Ｄとする）が設けられている。

メインスポット検出器２１は、検出領域２１Ａ〜２１Ｄによりメイン戻り光ビームＭＢｒの一部をそれぞれ検出し、このとき検出した光量に応じて検出信号ＵＭａ、ＵＭｂ、ＵＭｃ及びＵＭｄ（以下、これらをまとめて検出信号ＵＭａ〜ＵＭｄとする）をそれぞれ生成して、これらを信号処理部４（図２１）へ送出する。

サブスポット検出器２２は、サブ戻り光ビームＳＢｒを受光するための検出領域２２Ａ、２２Ｂ、２２Ｃ及び２２Ｄ（以下、これらをまとめて検出領域２２Ａ〜２２Ｄとする）が設けられている。

サブスポット検出器２２は、検出領域２２Ａ〜２２Ｄによりサブ戻り光ビームＳＢｒの一部をそれぞれ検出し、このとき検出した光量に応じて検出信号ＵＳ１ａ、ＵＳ１ｂ、ＵＳ１ｃ及びＵＳ１ｄ（以下、これらをまとめて検出信号ＵＳ１ａ〜ＵＳ１ｄとする）をそれぞれ生成して、これらを信号処理部４（図２１）へ送出する。

サブスポット検出器２３は、サブスポット検出器２３と同様にサブ戻り光ビームＳＢｒを受光するための検出領域２３Ａ、２３Ｂ、２３Ｃ及び２３Ｄ（以下、これらをまとめて検出領域２３Ａ〜２３Ｄとする）が設けられている。

サブスポット検出器２３は、検出領域２３Ａ〜２３Ｄによりサブ戻り光ビームＳＢｒの一部をそれぞれ検出し、このとき検出した光量に応じて検出信号ＵＳ２ａ、ＵＳ２ｂ、ＵＳ２ｃ及びＵＳ２ｄ（以下、これらをまとめて検出信号ＵＳ２ａ〜ＵＳ２ｄとする）をそれぞれ生成して、これらを信号処理部４（図２１）へ送出するようになされている。

（１−５）サーボ制御信号の生成
上述したように、光ディスク装置１の光ピックアップ１０（図２２（Ａ））は、読出光ビームＬＲをメインビームＭＢと２つのサブビームＳＢに分離して光ディスク１００に照射する。

このとき光ピックアップ１０は、グレーティング１３の配置により、メインビームＭＢによるメインスポットＭＰとサブビームによるサブスポットＳＰとがトラックピッチＴＰの１／２だけラジアル方向に離隔させた状態で読出光ビームＬＲを照射するようになされている。因みにサブスポットＳＰのスポット径は、メインスポットＭＰとほぼ同一でなる。

これにより例えば図２３（Ａ）に示すように、サブスポットＳＰがトラックＴＲに位置しないときには、メインスポットＭＰがトラックＴＲに位置することになる。一方、図２３（Ｂ）に示すように、メインスポットＭＰがトラックＴＲに位置しないときには、サブスポットＳＰがトラックＴＲに位置することになる。

すなわち光ディスク装置１では、メインビームＭＢ及びサブビームＳＢのうち、少なくとも一方をトラックＴＲに対して確実に照射することができる。

そこで本実施の形態の光ディスク装置１では、メインビームＭＢによるメイン戻り光ビームＭＢｒとサブビームＳＢによるサブ戻り光ビームＳＰｒとに基づいて補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃ及び補正プルイン信号ＳＰＩｃを生成する。

具体的に光ディスク装置１の信号処理部４（図２１）は、フォトディテクタ２０から検出信号ＵＭａ〜ＵＭｄ、ＵＳ１ａ〜ＵＳ１ｄ並びにＵＳ２ａ〜ＵＳ２ｄ供給されると、次式に従って補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃを生成する。

なおｋはメインビームＭＢとサブビームＳＢの光量の差を補正するための係数であり、メインビームＭＢによる検出信号ＵＭａ〜ＵＭｄに対して２つのサブビームＳＢによる検出信号ＵＳ１ａ〜ＵＳ１ｄ及びＵＳ２ａ〜ＵＳ２ｄの信号レベルが約１／２となるような値に選定される。例えばサブビームＳＢがメインビームＭＢの約１／１０の光量で照射される場合には、ｋ＝約５となる。

ここでメインビームＭＢの中心がトラックＴＲの中心に照射されたときをオントラックとし、当該メインビームＭＢをそれぞれ０．２７５［μｍ］及び０．４１２５［μｍ］だけデトラックさせたときの補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃを、マーク層Ｙからの距離の関係として図１９（Ｂ）に示している。

図からわかるように、補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃでは、メインビームＭＢがオントラックしたとき（曲線Ｆｃ１）とデトラックしたとき（曲線Ｆｃ３及びＦｃ４）の極大点ＭｘＦ及び極小点ＭｎＦの信号レベルの差異及びゼロクロス点ＺＣ近傍における傾きの差異が、フォーカスエラー信号ＳＦＥ（図１９（Ａ））と比して小さくなっている。

なお補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃでは、メインビームＭＢとサブビームＳＢの双方がトラックピッチＴＰの１／４（０．２７５［μｍ］）だけデトラックする曲線Ｆｃ３において、曲線Ｆｃ１に対する信号レベルの変動が最も大きくなっている。

言い換えると補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃは、マーク層Ｙからの距離に応じた信号レベルを示しており、メインビームＭＢのトラックＴＲに対する位置に応じて信号レベルが殆ど変動しない。

この結果光ディスク装置１では、ラジアル方向の位置を固定して対物レンズ１６をフォーカス方向に移動させる際、図２４（Ｂ）に示すように、通常のフォーカスエラー信号ＳＦＥ（図２４（Ａ））と比較して波形の整った補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃを生成することができる。

また信号処理部４は、次式に従って補正プルイン信号ＳＰＩｃを生成する。

ここでメインビームＭＢの中心がトラックＴＲの中心に照射されたときをオントラックとし、当該メインビームＭＢをそれぞれ０．２７５［μｍ］及び０．４１２５［μｍ］だけデトラックさせたときの補正プルイン信号ＳＰＩｃを、マーク層Ｙからの距離の関係として図２０（Ｂ）に示している。

図からわかるように、補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃでは、メインビームＭＢがオントラックしたとき（曲線Ｉｃ１）とデトラックしたとき（曲線Ｉｃ３及びＩｃ４）の極大点ＭｘＦの信号レベルの差異は、プルイン信号ＳＰＩ（図２０（Ａ））と比して大幅に小さくなっている。

なお補正プルイン信号ＳＰＩｃでは、メインビームＭＢとサブビームＳＢの双方がトラックピッチＴＰの１／４（０．２７５［μｍ］）だけデトラックする曲線Ｉｃ３において、曲線Ｆｃ１に対する信号レベルの変動が最も大きくなっている。

言い換えると補正プルイン信号ＳＦＥｃは、マーク層Ｙからの距離に応じた信号レベルを示しており、メインビームＭＢのトラックＴＲに対する位置に応じた信号レベルの変動がプルイン信号ＳＰＩと比して小さくなっている。

この結果光ディスク装置１では、ラジアル方向の位置を固定して対物レンズ１６をフォーカス方向に移動させる際、図２５（Ｂ）に示すように、通常のプルイン信号ＳＰＩ（図２５（Ａ））と比較して波形の整った補正プルイン信号ＳＰＩｃを生成することができる。

これにより光ディスク装置１は、トラックＴＲに対して照射された戻り光ビームＬＲｒに基づいてマーク層Ｙからの距離に応じた信号レベルでなる補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃ及び補正プルイン信号ＳＰＩｃを生成し得るようになされている。

また光ディスク装置１の信号処理部４（図２１）は、次式に従ってメインプルイン信号ＳＰＩｍを生成する。このメインプルイン信号ＳＰＩｍは、メインビームＭＢに基づいて生成されることから、従来の光ディスク装置において生成されるプルイン信号ＳＰＩに相当するものとなる。

さらに信号処理部４は、次式に従ってトラッキングエラー信号ＳＴＥを生成する。なお光ディスク装置１では、ラジアル方向に１／２トラックピッチＴＰだけサブスポットＳＰをメインスポットＭＰから離隔させるため、ＤＰＰ（Differential Push Pull）法に従ってトラッキングエラー信号ＳＴＥを生成する。

また信号処理部４は、次式に従って再生信号ＳＲＦを生成する。

このように光ディスク装置１では、ラジアル方向においてメインビームＭＢの照射されない領域にサブビームＳＢを照射させることにより、メインビームＭＢ又はサブビームＳＢの少なくともいずれか一方がトラックＴＲに対して照射されるようにする。そして光ディスク装置１は、メインビームＭＢ及びサブビームＳＢを加算することにより、常にトラックＴＲに対して照射された戻り光ビームＬＲｒに基づいて、読出光ビームＬＲのトラックＴＲに対する位置に応じた信号レベルの変動の小さい補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃ及び補正プルイン信号ＳＰＩｃを生成することができる。

この結果光ディスク装置１では、読出光ビームＬＲの焦点からマーク層Ｙまでの距離を表す信号として補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃ及び補正プルイン信号ＳＰＩｃを生成し得るようになされている。

（１−６）サーボ処理部の構成
図２６に示すように、駆動制御部３のサーボ処理部３０は、サーボ制御部３１によって全体を制御している。このサーボ制御部３１は、詳しくは後述するが、信号処理部４から供給される補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃ、補正プルイン信号ＳＰＩｃ、メインプルイン信号ＳＰＩｍ及びトラッキングエラー信号ＳＴＥを基に層数カウント処理、フォーカス引込処理及びトラッキング引込処理を実行するようになされている。

またサーボ処理部３０では、補正プルイン信号ＳＰＩｃ、補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃ及びトラッキングエラー信号ＳＴＥを基にフォーカス駆動電流ＤＦＥ及びトラッキング駆動電流ＤＴＥを生成し、アクチュエータ１７に供給する。

具体的にサーボ処理部３０は、ＦＥゲイン調整部３２、位相補償部３４及びスイッチ３５からなるフォーカスループ回路と、ＴＥゲイン調整部４２、位相補償部４４及びスイッチ４５からなるトラッキングループ回路を有している。

ＦＥゲイン調整部３２は、補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃが供給されると、当該補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃに対して予め記憶している基準ゲインを乗算し、フォーカス駆動電流ＤＦＥとして位相補償部３４に供給する。位相補償部３４は、フォーカス制御系を安定させるためにフォーカス駆動電流ＤＦＥの位相を調整し、スイッチ３５へ供給する。

スイッチ３５は、サーボ制御部３１から供給されるスイッチング信号ＳＳＦに応じて「ＯＮ」と「ＯＦＦ」を切り換えるようになされている。サーボ制御部３１は、スイッチ３５を「ＯＮ」に切り換えることにより、フォーカスループ回路を「ＯＮ」に切り換える。この結果、アクチュエータ１７にフォーカス駆動電流ＤＦＥが供給され、フィードバック制御によるフォーカス制御が開始される。

同様にＴＥゲイン調整部４２は、トラッキングエラー信号ＳＴＥが供給されると、当該トラッキングエラー信号ＳＴＥに対して予め記憶している基準ゲインを乗算し、トラッキング駆動電流ＤＴＥとして位相補償部４４に供給する。位相補償部４４は、トラッキング制御系を安定させるためにトラッキング駆動電流ＤＴＥの位相を調整し、スイッチ４５へ供給する。

スイッチ４５は、サーボ制御部３１から供給されるスイッチング信号ＳＳＴに応じて「ＯＮ」と「ＯＦＦ」を切り換えるようになされている。サーボ制御部３１は、スイッチ４５を「ＯＮ」に切り換えることにより、トラッキングループ回路を「ＯＮ」に切り換える。この結果、アクチュエータ１７にトラッキング駆動電流ＤＴＥが供給され、フィードバック制御によるトラッキング制御が開始される。

またフォーカスループ回路及びトラッキングループ回路は、補正プルイン信号ＳＰＩｃの供給を制御するスイッチ３３及び４３がそれぞれ取り付けられることにより、フォーカスＡＧＣ（Auto Gain Control）回路及びトラッキングＡＧＣ回路がそれぞれ設置されている。

すなわちフォーカスＡＧＣ回路では、スイッチ３３が「ＯＦＦ」から「ＯＮ」に切り換えられると、フォーカスＡＧＣ回路が「ＯＦＦ」から「ＯＮ」に切り替わる。このときＦＥゲイン調整部３２には、スイッチ３３を介して補正プルイン信号ＳＰＩｃが供給されと共に、サーボ制御部３１から基準レベル信号ＳＮＦが供給される。

ＦＥゲイン調整部３２は、補正プルイン信号ＳＰＩｃを基準レベル信号ＳＮＦによって除算することにより正規化し、当該正規化した値と基準ゲインを乗算することにより、設定ゲインを算出する。そしてＦＥゲイン調整部３２は、補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃに対して設定ゲインを乗算することにより、戻り光ビームＬＲｒの光量に応じて自動的にゲインを調整するＡＧＣ処理を実行するようになされている。

またトラッキングＡＧＣ回路でも同様に、スイッチ４３が「ＯＦＦ」から「ＯＮ」に切り換えられると、トラッキングＡＧＣ回路が「ＯＦＦ」から「ＯＮ」に切り替わる。このときＴＥゲイン調整部４２には、スイッチ４３を介して補正プルイン信号ＳＰＩｃが供給されと共に、サーボ制御部３１から基準レベル信号ＳＮＴが供給される。

ＴＥゲイン調整部４２は、補正プルイン信号ＳＰＩｃを基準レベル信号ＳＮＴによって除算することにより正規化し、当該正規化した値と基準ゲインを乗算することにより、設定ゲインを算出する。そしてＴＥゲイン調整部３２は、トラッキングエラー信号ＳＦＥｃに対して設定ゲインを乗算することにより、ＡＧＣ処理を実行するようになされている。

このようにサーボ処理部３０では、フォーカスループ回路、トラッキングループ回路、フォーカスＡＧＣ回路及びトラッキングＡＧＣ回路を有しており、サーボ制御部３１の制御によりスイッチ３５、４５、３３及び４３が切り換えられることにより、各回路が「ＯＮ」と「ＯＦＦ」に切り換えられるようになされている。

（１−７）層数カウント処理
光ディスク装置１は、まず光ディスク１００の記録層１０１がマーク層Ｙを何層有しているかをカウントする層数カウント処理を実行する。

具体的に光ディスク装置１の制御部２（図２１）は、例えば光ディスク１００に記録された情報を再生する旨の要求が外部機器からなされると、層数カウント処理を開始する。制御部２は、光ディスク１００を回転させ、アクチュエータ１７を駆動することにより対物レンズ１６を光ディスク１００から最も離隔させた位置（以下、これを最離隔位置と呼ぶ）に変位させると、対物レンズ１６を所定の移動速度で光ディスク１００に近接させる（以下、これらの動作をサーチ動作と呼ぶ）。なおアクチュエータ１７は、駆動制御部３から供給されるフォーカス駆動電流ＤＦＥ及びトラッキング駆動電流ＤＴＥに応じた位置に変位するようになされている。

このとき光ディスク装置１の信号処理部４（図２１）は、検出信号ＵＭａ〜ＵＭｄ、ＵＳ１ａ〜ＵＳ１ｄ及びＵＳ２ａ〜ＵＳ２ｄから補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃ及び補正プルイン信号ＳＰＩを生成し、駆動制御部３のサーボ処理部３０に供給する。

図２６に示すようにサーボ処理部３０のサーボ制御部３１は、図２７に示す時点ｔ１において、補正プルイン信号ＳＰＩｃがフォーカスイン閾値ＡＦＩ以上となると、補正フォーカスイン信号ＳＦＩｃを「Ｌｏｗ」レベルから「Ｈｉｇｈ」レベルに立ち上げ、補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃの監視を開始する。

時点ｔ２において、サーボ制御部３１は、補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃが基準レベルＳＬと交差するゼロクロス点ＺＣを検出すると、ゼロクロス点検出信号ＳＺＣｆを「Ｌｏｗ」レベルから「Ｈｉｇｈ」レベルに立ち上げると共に、カウント信号ＳＣＴを「Ｌｏｗ」レベルから「Ｈｉｇｈ」レベルに立ち上げる。

時点ｔ３において、サーボ制御部３１は、補正プルイン信号ＳＰＩｃがフォーカスイン閾値ＡＦＩ未満となると、補正フォーカスイン信号ＳＦＩｃ、ゼロクロス点検出信号ＳＺＣｆ及びカウント信号ＳＣＴを「Ｈｉｇｈ」レベルから「Ｌｏｗ」レベルに立ち下げ、補正プルイン信号ＳＰＩの監視を継続する。

時点ｔ４〜時点ｔ６、時点ｔ７〜時点ｔ９、及び時点ｔ１０〜時点ｔ１２において、制御部２は、時点ｔ１〜時点ｔ３と同様の処理を繰り返す。この結果サーボ制御部３１は、合計４回に亘ってカウント信号ＳＣＴを「Ｈｉｇｈ」レベルに立ち上げることになる。サーボ制御部３１は、このカウント信号ＳＣＴを制御部２へ供給する。

そして時点１３において、サーボ制御部３１は、アクチュエータ１７に所定の駆動電流ＤＦＥを供給したことにより対物レンズ１６が所定の検出終了位置まで変位すると、対物レンズ１６を光ディスク１００から離隔させる方向へ変位させる。そして制御部２は、カウント信号ＳＴＣが「Ｈｉｇｈ」に立ち上がった回数をカウント値Ｎとしてカウントしており、当該カウント値Ｎを記録層１０１が有するマーク層Ｙの数として認識するようになされている。

このように光ディスク装置１では、マーク層Ｙ総体としての戻り光ビームＬＲｒの光量を表す補正プルイン信号ＳＰＩｃを生成することにより、補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃから適切にゼロクロス点ＺＣを検出し、マーク層Ｙの層数をカウントし得るようになされている。

（１−８）フォーカス引込処理
続いて光ディスク装置１は、再生アドレス情報が示す目標マーク層ＹＧに対してフォーカス制御を開始するフォーカス引込処理を実行する。

具体的に光ディスク装置１の制御部２（図２１）は、層数カウント処理に引き続き光ディスク１００を回転させた状態で、対物レンズ１６を最離隔位置まで変位させると、対物レンズ１６を所定の移動速度で光ディスク１００に近接させる。

このとき光ディスク装置１の信号処理部４（図２１）は、検出信号ＵＭａ〜ＵＭｄ、ＵＳ１ａ〜ＵＳ１ｄ及びＵＳ２ａ〜ＵＳ２ｄから補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃ、補正プルイン信号ＳＰＩ及びメインプルイン信号ＳＰＩｍを生成し、駆動制御部３のサーボ処理部３０に供給する。

例えば図２８に示すように時点ｔ２１において、サーボ処理部３０のサーボ制御部３１は、補正プルイン信号ＳＰＩｃがフォーカスイン閾値ＡＦＩ以上となると、補正フォーカスイン信号ＳＦＩｃを「Ｌｏｗ」レベルから「Ｈｉｇｈ」レベルに立ち上げ、補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃの監視を開始する。

またサーボ制御部３１は、メインプルイン信号ＳＰＩｍを監視し、当該メインプルイン信号がフォーカスイン閾値ＡＦＩ以上になったときだけ「Ｈｉｇｈ」レベルに立ち上がるオントラック信号ＳＯＴを生成する。

時点ｔ２２において、サーボ制御部３１は、補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃからゼロクロス点ＺＣを検出すると、ゼロクロス点検出信号ＳＺＣｆを「Ｌｏｗ」レベルから「Ｈｉｇｈ」レベルに立ち上げると共に、フォーカスサーボ制御信号ＳＦＢを「Ｌｏｗ」レベルから「Ｈｉｇｈ」レベルに立ち上げる。このフォーカスサーボ制御信号ＳＦＢは、フォーカス制御を実行中に「Ｈｉｇｈ」レベルに立ち上がる信号である。

このときサーボ制御部３１は、フォーカスサーボ制御信号ＳＦＢの立ち上がりをトリガとしてフォーカスループ回路を「ＯＮ」に切り換える。光ディスク装置１は、補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃがゼロになるよう、すなわち読出光ビームＬＲ（メインビームＭＢ及びサブビームＳＢ）が目標マーク層ＹＧに合焦するようフィードバック制御することにより、補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃによるフォーカス制御を実行する。

時点ｔ２３において、サーボ制御部３１は、補正プルイン信号ＳＰＩｃがフォーカスイン閾値ＡＦＩ未満となると、補正フォーカスイン信号ＳＦＩｃ及びゼロクロス点検出信号ＳＺＣｆを「Ｈｉｇｈ」レベルから「Ｌｏｗ」レベルに立ち下げる。

ここでサーボ制御部３１は、時点ｔ２３からの時間を計測しており、時点ｔ２２から所定のフォーカス確認時間が経過した時点ｔ２４において、補正フォーカスイン信号ＳＦＩｃを確認する。このときサーボ制御部３１は、当該フォーカスイン信号ＳＦＩｃが「Ｌｏｗ」レベルである場合、フォーカス制御系が発散し、フォーカス制御が適切に実行されていないと認識し、フォーカスサーボ制御信号ＳＦＢを「Ｌｏｗ」レベルに立ち下げる。このときサーボ制御部３１は当該サーボ制御信号ＳＦＢの立ち下がりをトリガとしてフォーカスループを再び「ＯＦＦ」に切り換える。

そして制御部２は、再び対物レンズ１６を最離隔位置まで変位させてから当該対物レンズ１６を光ディスク１００に対して近接させる。

時点ｔ２５において、サーボ制御部３１は、補正プルイン信号ＳＰＩｃがフォーカスイン閾値ＡＦＩ以上となると、補正フォーカスイン信号ＳＦＩｃを「Ｌｏｗ」レベルから「Ｈｉｇｈ」レベルに立ち上げ、補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃの監視を開始する。

時点ｔ２６において、サーボ制御部３１は、補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃからゼロクロス点ＺＣを検出すると、ゼロクロス点検出信号ＳＺＣｆを「Ｌｏｗ」レベルから「Ｈｉｇｈ」レベルに立ち上げると共に、フォーカスサーボ制御信号ＳＦＢを「Ｌｏｗ」レベルから「Ｈｉｇｈ」レベルに立ち上げる。

時点ｔ２６から所定のフォーカス確認時間が経過した時点ｔ２７において、サーボ制御部３１は、補正フォーカスイン信号ＳＦＩｃを確認する。このときサーボ制御部３１は、当該フォーカスイン信号ＳＦＩｃが「Ｈｉｇｈ」レベルである場合、フォーカス制御系が収束し、フォーカス制御が適切に実行されていると認識し、ゼロクロス点検出信号ＳＺＣｆを「Ｌｏｗ」レベルに立ち下げる。

このときサーボ制御部３１は、引き続き補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃのゲインを調整するＡＧＣ処理を開始する。

具体的に光ディスク装置１におけるサーボ処理部３０のサーボ制御部３１（図２６）は、フォーカスエラー信号ＳＦＥｃに対するＡＧＣ制御を開始し、スイッチ３３に対してスイッチング信号ＳＳＦを供給することにより、スイッチ３３を「ＯＦＦ」から「ＯＮ」に切り換える。この結果ＦＥゲイン調整部３２には、補正プルイン信号ＳＰＩｃが供給される。

そしてＦＥゲイン調整部３２は、補正プルイン信号ＳＰＩｃをサーボ制御部３１から供給される基準レベル信号ＳＮＦによって除算することにより、補正プルイン信号ＳＰＩｃを正規化し、正規化プルイン値を算出する。ＦＥゲイン調整部３２は、予め設定された基準ゲイン値に対して正規化プルイン値を乗算することにより、設定ゲイン値を設定する。そしてＦＥゲイン調整部３２は、供給される補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃに対して設定ゲイン値を乗算することによりフォーカス駆動電流ＤＦＥを生成し、位相補償部３４に供給する。

位相補償部３４は、制御系の安定性を向上させるため、フォーカス駆動電流ＤＦＥの位相を調整し、スイッチ３５を介して当該フォーカス駆動電流ＤＦＥを出力する。この結果、アクチュエータ１７には、ＡＧＣ処理によりゲインの調整された補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃに基づくフォーカス駆動電流ＤＦＥが供給される。

これによりサーボ制御部３１は、マーク層Ｙからの戻り光ビームＬＲｒの光量に基づいて設定ゲイン値を決定することができるため、アクチュエータ１７に適切なフォーカス駆動電流ＤＦＥを供給することができ、フォーカス制御系を安定させ得るようになされている。

このように光ディスク装置１では、マーク層Ｙ総体としての戻り光ビームＬＲｒの光量を表す補正プルイン信号ＳＰＩｃを生成することにより、補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃから適切にゼロクロス点ＺＣを検出し、フォーカス制御を開始し得るようになされている。さらに光ディスク装置１では、補正フォーカスエラー信号ＳＰＩｃがフォーカスイン閾値ＡＦＩ以上であるか否かによってフォーカス制御が安定して実行されているか否かを適切に判別し得るようになされている。

また光ディスク装置１では、マーク層Ｙ総体としての戻り光ビームＬＲｒから補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃを生成することにより、トラックＴＲとの位置関係に拘らず補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃがマーク層Ｙと読出光ビームＬＲの焦点との距離を表すことができるため、フォーカス制御系を安定させ得るようになされている。

さらに光ディスク装置１では、マーク層総体としての戻り光ビームＬＲｒの光量を表す補正プルイン信号ＳＰＩｃに基づいて補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃの設定ゲイン値を調整する。これによりサーボ処理部３０では、当該戻り光ビームＬＲｒの光量に応じて適切な設定ゲイン値を設定することができるため、フォーカス制御系を安定させ得るようになされている。

（１−９）トラッキング引込処理
続いて光ディスク装置１は、再生アドレス情報が示す目標トラックＴＧの近傍となるトラックＴＲに対してトラッキング制御を開始するトラッキング引込処理を実行する。

光ディスク装置１におけるサーボ処理部３０のサーボ制御部３１は、トラッキング引込処理を開始すると、トラッキングエラー信号ＳＴＥの監視を開始する。因みにトラッキング引込処理においては、フォーカス制御が実行されているため、補正プルイン信号（図２９（Ａ））は一定以上の値を示し、フォーカスイン信号ＳＦＩ（図２９（Ｃ））は「Ｈｉｇｈ」レベルのままとなる。

例えば図２９（Ｂ）に示すように、サーボ制御部３１は、時点ｔ３１においてトラッキングエラー信号ＳＴＥからゼロクロス点ＺＣを検出すると、ゼロクロス点検出信号ＳＺＣｔを「Ｌｏｗ」レベルから「Ｈｉｇｈ」レベルに立ち上げると共に、トラッキングサーボ制御信号ＳＴＢを「Ｌｏｗ」レベルから「Ｈｉｇｈ」レベルに立ち上げる。

このとき制御部２は、トラッキングサーボ制御信号ＳＴＢの立ち上がりをトリガとしてトラッキングループ回路を「ＯＮ」に切り換える。光ディスク装置１は、トラッキングエラー信号ＳＴＥがゼロになるよう、すなわちメインビームＭＢがトラックＴＲに照射されるようフィードバック制御することにより、トラッキングエラー信号ＳＦＥによるトラッキング制御を実行する。

そしてサーボ制御部３１は、時点ｔ３１から所定のトラッキング確認時間が経過した時点ｔ３２において、オントラック信号ＳＯＴを確認する。ここでオントラック信号ＳＯＴが「Ｌｏｗ」レベルであった場合、サーボ制御部３１は、トラッキング制御が安定して実行されていないと判別し、トラッキングサーボ制御信号ＳＴＢを「Ｈｉｇｈ」レベルから「Ｌｏｗ」レベルに立ち下げる。

このとき制御部２は、トラッキングループ回路を「ＯＮ」から「ＯＦＦ」に切り換える。そしてサーボ制御部３１は、再度トラッキングエラー信号ＳＴＥからゼロクロス点ＺＣを検出する時点ｔ３０からの処理を繰り返す。

一方サーボ制御部３１は、オントラック信号ＳＯＴが所定のオン確認時間に亘って「Ｈｉｇｈ」レベルである場合には、トラッキング制御が安定して実行されていると認識し、ゼロクロス点信号ＳＺＣｔを立ち下げる。このときサーボ制御部３１は、トラッキングエラー信号ＳＴＥのゲインを調整するＡＧＣ処理を開始する。

具体的に光ディスク装置１におけるサーボ処理部３０のサーボ制御部３１（図２６）は、トラッキングエラー信号ＳＴＥに対するＡＧＣ制御を開始し、スイッチ４３に対してスイッチング信号ＳＳＦを供給することにより、スイッチ４３を「ＯＦＦ」から「ＯＮ」に切り換える。この結果ＴＥゲイン調整部４２には、補正プルイン信号ＳＰＩｃが供給される。

そしてＴＥゲイン調整部４２は補正プルイン信号ＳＰＩｃをサーボ制御部３１から供給される基準レベル信号ＳＮＦによって除算することにより、補正プルイン信号ＳＰＩｃを正規化し、正規化プルイン値を算出する。ＴＥゲイン調整部４２は、予め設定された基準ゲイン値に対して正規化プルイン値を乗算することにより、設定ゲイン値を設定する。そしてＴＥゲイン調整部４２は、供給される補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃに対して設定ゲイン値を乗算することによりトラッキング駆動電流ＤＴＥを生成し、位相補償部４４に供給する。

位相補償部４４は、制御系の安定性を向上させるため、トラッキング駆動電流ＤＴＥの位相を調整し、スイッチ４５を介して当該トラッキング駆動電流ＤＴＥを出力する。この結果、アクチュエータ１７には、ＡＧＣ処理によりゲインの調整されたトラッキングエラー信号ＴＥに基づくトラッキング駆動電流ＤＴＥが供給される。

これによりサーボ制御部３１は、トラックＴＲからの戻り光ビームＬＲｒの光量に基づいて設定ゲイン値を決定することができるため、アクチュエータ１７に適切なトラッキング駆動電流ＤＴＥを供給することができ、トラッキング制御系を安定させ得るようになされている。

そして光ディスク装置１は、補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃに基づくフォーカス制御及びトラッキングエラー信号ＳＴＥに基づくトラッキング制御を実行しながら、（７）式に従って再生信号ＳＲＦを生成する。そして光ディスク装置１は、当該再生信号ＳＲＦに対して所定の２値化処理や復調処理等を実行することにより、情報の再生処理を実行するようになされている。

ここで情報再生処理の際、制御部２は、補正プルイン信号ＳＰＩｃの信号レベルを表すフォーカスイン信号ＳＦＩを常に監視する。そして制御部２は、当該フォーカスイン信号ＳＦＩが「Ｌｏｗ」レベルに立ち下がると、フォーカス制御が外れたと認識し、フォーカス引込処理及びトラッキング引込処理を実行するようになされている。

これにより光ディスク装置１は、例えば外乱によってトラッキング制御が外れてしまったような場合であっても、デトラックの影響の少ない補正プルイン信号ＳＰＩｃに基づいてフォーカス制御の成否を高い精度で判別することができる。

また情報再生処理の際、制御部２は、メインプルイン信号ＳＰＩｍの信号レベルを表すオントラック信号ＳＯＴを常に監視する。そして制御部２は、当該オントラック信号ＳＯＴが「Ｌｏｗ」レベルに立ち下がると、トラッキング制御が外れたと認識し、トラッキング引込処理を実行するようになされている。

これにより光ディスク装置１は、例えば外乱によってトラッキング制御が外れてしまったような場合であっても、デトラックの影響の少ない補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃに基づいて、高い精度でフォーカス制御を実行することができる。

このように光ディスク装置１は、補正プルイン信号ＳＰＩｃの信号レベルに基づいてフォーカス制御の成否を確認するようにした。これにより光ディスク装置１は、読出光ビームＬＲのトラックとの位置関係に拘らずフォーカス制御の成否を正確に判別し得るようになされている。

また光ディスク装置１は、メインプルイン信号ＳＰＩｍに基づいてトラッキング制御の成否を確認するようにした。これにより光ディスク装置１は、メインビームＭＢとトラックＴＲとの位置関係に応じてメインプルイン信号ＳＰＩｍの信号レベルが変動することを利用して、トラッキング制御の成否を正確に判別し得るようになされている。

（１−１０）処理手順
次に、情報再生プログラムに従って実行される情報再生処理について、図３０〜３３に示すフローチャートに従って説明する。

（１−１０−１）情報再生処理手順
光ディスク装置１は、光ディスク１００に対して情報再生処理を実行する旨の要求が外部機器よりなされると、情報再生処理手順ＲＴ１を開始し、ステップＳＰ１へ移る。

ステップＳＰ１において、光ディスク装置１は、光ディスク１００を所望の回転速度で回転させると、次のステップＳＰ２へ移り、レーザダイオード１１から読出光ビームＬＲを出射し、次のステップＳＰ３へ移る。

ステップＳＰ３において、光ディスク装置１は、サブルーチンＳＲＴ１１へ移り、光ディスク１００におけるマーク層Ｙの層数を計測する層数カウント処理を実行すると、次のステップＳＰ６へ移る。

ステップＳＰ６において、光ディスク装置１は、サブルーチンＳＲＴ１２へ移り、目標マーク層ＹＧに対してフォーカス制御処理を開始するフォーカス引込処理を実行すると、次のステップＳＰ７へ移る。

ステップＳＰ７において、光ディスク装置１は、サブルーチンＳＲＴ１３へ移り、目標トラックＴＧ近傍に対してトラッキング制御処理を開始するトラッキング引込処理を実行すると、次のステップＳＰ８へ移る。

ステップＳＰ８において、光ディスク装置１は、再生信号ＳＲＦに対して各種処理を実行し、光ディスク１００に記録されている情報を再生すると、次のステップＳＰ９へ移る。

ステップＳＰ９において、光ディスク装置１は、フォーカスイン信号ＳＦＩが「Ｈｉｇｈ」であるか否かについて判別する。

ここでステップＳＰ９において肯定結果が得られた場合、光ディスク装置１は、読出光ビームＬＲの焦点と目標マーク層ＹＧが近接しており、目標マークＹＧに対するフォーカス制御が適切に実行されているため、次のステップＳＰ１５へ移る。

これに対してステップＳＰ９において否定結果が得られた場合、このことは目標マークＹＧに対するフォーカス制御が適切に実行されていないことを表しており、このとき光ディスク装置１は、ステップＳＰ１０へ移り、トラッキングＡＧＣ回路を「ＯＦＦ」に切り換え、次のステップＳＰ１１へ移る。

ステップＳＰ１１にいて、光ディスク装置１は、フォーカスＡＧＣ回路を「ＯＦＦ」に切り換えると、次のステップＳＰ１２及びＳＰ１３へ移り、トラッキングループ回路及びフォーカスループ回路を「ＯＦＦ」に切り換える。そして光ディスク装置１は、ステップＳＰ６へ戻り、フォーカス引込処理及びトラッキング引込処理を再度実行する。

ステップＳＰ１５において、光ディスク装置１は、オントラック信号ＳＯＴが「Ｈｉｇｈ」であるか否かについて判別する。ここで肯定結果が得られた場合、光ディスク装置１は、目標トラックＴＧに対するトラッキング制御が適切に実行されているため、次のステップＳＰ１９へ移る。

これに対してステップＳＰ１５において否定結果が得られた場合、このことは目標トラックＴＧに対するトラッキング制御が適切に実行されていないことを表しており、このとき光ディスク装置１は、ステップＳＰ１６へ移る。

ステップＳＰ１９において、光ディスク装置１は、トラッキングＡＧＣ回路を「ＯＦＦ」に切り換えると、次のステップＳＰ１７へ移り、トラッキングループ回路を「ＯＦＦ」に切り換え、ステップＳＰ７に戻ってトラッキング引込処理を再度実行する。

ステップＳＰ１９において、光ディスク装置１は、外部機器から終了指示がなされたか否かについて判別し、否定結果が得られた場合、ステップＳＰ８へ戻って光ディスク１００からの情報の再生を継続する。

これに対してステップＳＰ１６において肯定結果が得られた場合、光ディスク装置１は、終了ステップへ移って情報再生処理手順ＲＴ１を終了する。

（１−１０−２）層数カウント処理手順
次に、層数カウント処理の手順について、図３１に示すフローチャート（サブルーチンＳＲＴ１１）を用いて説明する。

情報再生処理手順ＲＴ１（図３０）のステップＳＰ３において、光ディスク装置１は、サブルーチンＳＲＴ１１のステップＳＰ２１へ移る。

ステップＳＰ２１において光ディスク装置１は、対物レンズ１６を最離隔位置から当該光ディスク１００に近接させる方向に移動を開始すると、次のステップＳＰ２２へ移る。

ステップＳＰ２２において、光ディスク装置１は、フォーカスイン信号ＳＦＩが「Ｈｉｇｈ」レベルであるか否かについて判別する。ここで否定結果が得られた場合、光ディスク装置１は、次のステップＳＰ２４へ移る。

これに対してステップＳＰ２２において肯定結果が得られた場合、このことは読出光ビームＬＲの焦点がマーク層Ｙの近傍に位置していることを表しており、このとき光ディスク装置１は、次のステップＳＰ２３へ移る。

ステップＳＰ２３において、光ディスク装置１は、補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃからゼロクロス点を検出すると、カウント値Ｎを「１」だけカウントアップし、次のステップＳＰ２４へ移る。

ステップＳＰ２４において、光ディスク装置１は、対物レンズ１６を検出終了位置まで移動させたか否かについて判別し、否定結果が得られた場合には、ステップＳＰ２２へ戻り、処理を継続する。

これに対してステップＳＰ２４において肯定結果が得られた場合、光ディスク装置１は、現在のカウント値Ｎを光ディスク１００のマーク層Ｙの数と認識し、終了ステップへ移って層数カウント処理を終了し、情報再生処理手順ＲＴ１のステップＳＰ６へ移る。

（１−１０−３）フォーカス引込処理手順
次に、フォーカス引込処理の手順について、図３２に示すフローチャート（サブルーチンＳＲＴ１２）を用いて説明する。

情報再生処理手順ＲＴ１（図３２）のステップＳＰ６において、光ディスク装置１は、サブルーチンＳＲＴ１２のステップＳＰ４１へ移る。

ステップＳＰ４１において、光ディスク装置１は、対物レンズ１６を最離隔位置から当該光ディスク１００に近接させる方向に移動を開始すると、次のステップＳＰ４２へ移る。

ステップＳＰ４２において、光ディスク装置１は、フォーカスイン信号ＳＦＩが「Ｈｉｇｈ」レベルであるか否かについて判別し、否定結果が得られた場合、光ディスク装置１は、次のステップＳＰ４２において、肯定結果が得られるまで待ち受ける。

これに対してステップＳＰ４２において肯定結果が得られた場合、このことは読出光ビームＬＲの焦点がマーク層Ｙの近傍に位置していることを表しており、このとき光ディスク装置１は、次のステップＳＰ４３へ移る。

ステップＳＰ４３において、光ディスク装置１は、補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃからゼロクロス点ＺＣを検出すると、カウント値Ｎを「１」だけカウントアップし、次のステップＳＰ４４へ移る。

ステップＳＰ４４において、光ディスク装置１は、カウント値Ｎに基づいて現在合焦中のマーク層Ｙが再生アドレス情報の表す目標マーク層ＹＧであるか否かについて判別する。ここで否定結果が得られた場合、光ディスク装置１は、ステップＳＰ４２へ戻り、処理を継続する。

これに対してステップＳＰ４４において肯定結果が得られた場合、このことは現在目標マーク層ＹＧに合焦していることを表しており、このとき光ディスク装置１は、次のステップＳＰ４５へ移る。

ステップＳＰ４５において、光ディスク装置１は、フォーカスループ回路を「ＯＮ」に切り換えると、次のステップＳＰ４６へ移る。

ステップＳＰ４６において、光ディスク装置１は、フォーカス確認時間の経過した時点でフォーカスイン信号ＳＦＩが「Ｈｉｇｈ」レベルであるか否かについて判別する。ここで否定結果が得られた場合、このことは読出光ビームＬＲの焦点がマーク層Ｙの近傍に位置しておらず、フォーカス制御が適切に実行されていないことを表しており、このとき光ディスク装置１は、次のステップＳＰ５０へ移る。

これに対してステップＳＰ４６において肯定結果が得られた場合、光ディスク装置１は、フォーカス制御が適切に実行されているため、次のステップＳＰ４７へ移る。

ステップＳＰ４７において、光ディスク装置１は、フォーカスＡＧＣ回路を「ＯＮ」に切り換えると、次のステップＳＰ４８へ移る。

ステップＳＰ４８において、光ディスク装置１は、フォーカスイン信号ＳＦＩが「Ｈｉｇｈ」レベルであるか否かについて判別し、否定結果が得られた場合には、次のステップＳＰ４９へ移る。

ステップＳＰ４９において、光ディスク装置１は、フォーカスＡＧＣ回路を「ＯＦＦ」に切り換えると、次のステップＳＰ５０へ移る。

ステップＳＰ５０において、光ディスク装置１は、フォーカスループ回路を「ＯＦＦ」に切り換えると、ステップＳＰ４１へ戻ってフォーカス引込処理を再度実行する。

これに対してステップＳＰ４８において肯定結果が得られた場合、このことは目標マーク層ＹＧに対してフォーカス制御が適切に実行されていることを表しており、このとき光ディスク装置１は、情報再生処理手順ＲＴ１のステップＳＰ７へ移る。

（１−１０−４）トラッキング引込処理手順
次に、トラッキング引込処理の手順について、図３３に示すフローチャート（サブルーチンＳＲＴ１３）を用いて説明する。

情報再生処理手順ＲＴ１（図３２）のステップＳＰ７において、光ディスク装置１は、サブルーチンＳＲＴ１３のステップＳＰ６１へ移る。

ステップＳＰ６１において、光ディスク装置１は、トラッキングエラー信号ＳＴＥからゼロクロス点ＺＣを検出すると、次のステップＳＰ６２へ移る。

ステップＳＰ６２において、光ディスク装置１は、トラッキングループ回路を「ＯＮ」に切り換えると、次のステップＳＰ６３へ移る。

ステップＳＰ６３において、光ディスク装置１は、フォーカスイン信号ＳＦＩが「Ｈｉｇｈ」であるか否かについて判別する。ここで否定結果が得られた場合、フォーカス制御が適切に実行されていないため、次のステップＳＰ６９へ移る。

これに対してステップＳＰ６３において肯定結果が得られた場合、フォーカス制御が適切に実行されているため、次のステップＳＰ６４へ移る。

ステップＳＰ６４において、光ディスク装置１は、トラッキングＡＧＣ回路を「ＯＮ」に切り換えると、次のステップＳＰ６５へ移る。

ステップＳＰ６５において、光ディスク装置１は、フォーカスイン信号ＳＦＩが「Ｈｉｇｈ」であるか否かについて判別する。ここで否定結果が得られた場合、フォーカス制御が適切に実行されていないため、次のステップＳＰ７１へ移る。

ステップＳＰ７１において、光ディスク装置１は、トラッキングＡＧＣ回路を「ＯＦＦ」に切り換えると、次のステップＳＰ７２、ＳＰ７３及びＳＰ７４において、フォーカスＡＧＣ回路、トラッキングループ回路及びフォーカスループ回路をそれぞれ「ＯＦＦ」に切り換え、情報再生処理手順ＲＴ１（図３０）のステップＳＰ６へ戻り、フォーカス引込処理からの処理を再度実行する。

これに対してステップＳＰ６５において肯定結果が得られた場合、フォーカス制御が適切に実行されているため、次のステップＳＰ６６へ移る。

ステップＳＰ６６において、光ディスク装置１は、オントラック信号ＳＯＴが「Ｈｉｇｈ」であるか否かについて判別する。ここで否定結果が得られた場合、このことは目標トラックＴＧに対してトラッキング制御が適切に実行されていないことを表しており、このとき光ディスク装置１は、次のステップＳＰ６８へ移る。

ステップＳＰ６８において、光ディスク装置１は、トラッキングＡＧＣ回路を「ＯＦＦ」に切り換えると、次のステップＳＰ６９へ移る。ステップＳＰ６９において、光ディスク装置１は、トラッキングループ回路を「ＯＦＦ」に切り換え、ステップＳＰ６１へ戻ってトラッキング引込処理を再度実行する。

これに対してステップＳＰ６６において肯定結果が得られた場合、このことは目標トラックＴＧに対してトラッキング制御が適切に実行されていることを表しており、このとき光ディスク装置１は、情報再生処理手順ＲＴ１（図３０）のステップＳＰ８へ移り、情報の再生を実行する。

（１−１１）動作及び効果
以上の構成において光ディスク装置１は、光源としてのレーザダイオード１１から出射された光ビームとしての読出光ビームＬＲをメインビームＭＢ及びサブビームＳＢに分離し、一様でなる記録層１０１において記録マークＲＭによるトラックＴＲが形成されてなる光ディスク１００に対して光ビームを集光し照射する。

このとき光ディスク装置１は、メインビームＭＢとほぼ同一のスポット径でなるサブビームＳＢをラジアル方向にずらして照射することにより、光ディスク１００の半径方向であるラジアル方向においてメインビームＭＢが照射されない領域にサブビームＳＢの少なくとも一部を照射させる。

そして光ディスク装置１は、メインビームＭＢ及びサブビームＳＢに基づいて、読出光ビームＬＲの焦点とトラックＴＲが属するマーク層Ｙとの距離を表すマーク層距離信号としての補正プルイン信号ＳＰＩｃを生成する。

これにより光ディスク装置１は、メインビームＭＢ又はサブビームＳＢのいずれかがトラックＴＲに照射されたことにより、トラックＴＲからの戻り光ビームＬＲｒに基づいて補正プルイン信号ＳＰＩｃを生成することができる。このため光ディスク装置１は、読出光ビームＬＲの焦点とマーク層Ｙとの距離が小さくなるにつれて信号レベルが増大する補正プルイン信号ＳＰＩｃを生成することができる。

言い換えると光ディスク装置１は、メインビームＭＢがトラックＴＲから照射された場合には、サブビームＳＢがトラックＴＲに照射されるため、メイン戻り光ビームＭＢｒの光量変化をサブ戻り光ビームＳＢｒの光量変化によって相殺することができる。

また光ディスク装置１は、メインビームＭＢによるメイン戻り光ビームＭＢｒの和光量とサブビームＳＢによるサブ戻り光ビームＳＢｒの和光量とに基づいて、（３）式に従って補正プルイン信号ＳＰＩｃを生成する。これにより光ディスク装置１は、図２０（Ｂ）に示したように、読出光ビームＬＲのトラックＴＲとの位置関係に応じた信号レベルの変動を小さくすることができる。

さらに光ディスク装置１は、メインビームＭＢによるメイン戻り光ビームＭＢｒの光量とサブビームＳＢによるサブ戻り光ビームＳＢｒの光量とに基づいて、（４）式に従って読出光ビームＬＲの焦点とマーク層Ｙとのずれ量を表す補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃを生成する。

これにより光ディスク装置１は、図１９（Ｂ）に示したように、読出光ビームＬＲのトラックＴＲとの位置関係に応じた信号レベルの変動を小さくすることができ、補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃが読出光ビームＬＲの焦点とマーク層Ｙとのずれ量を正確に表すことができる。

光ディスク装置１は、情報の再生を開始し、トラッキング制御を実行中であっても補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃを使用することにより、外乱などによってデトラックが生じた場合でも高い精度でフォーカス制御を実行することができる。

また光ディスク装置１は、フォーカス駆動部としてのアクチュエータ１７によって対物レンズ１６を光ディスク１００に対して近接及び離隔するフォーカス方向に駆動する。光ディスク装置１は、補正プルイン信号ＳＰＩｃが所定のフォーカスイン閾値ＡＦＩ以上となると、読出光ビームＬＲの焦点とマーク層Ｙとのずれ量を表すフォーカスずれ量信号としての補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃが基準レベルＳＬと交差するゼロクロス点ＺＣを検出する。

そして光ディスク装置１は、対物レンズ１６が光ディスク１００から最も離隔する最離隔位置から検出終了位置までの所定の移動区間だけ移動する間に検出されたゼロクロス点の数をカウントする。

ここで従来の光ディスク装置では、メイン戻り光ビームＭＢｒの和光量でなる従来のプルイン信号ＳＰＩが所定のフォーカスイン閾値ＡＦＩ以上でなるときにフォーカスエラー信号ＳＦＥからゼロクロス点ＺＣを検出する。これにより従来の光ディスク装置は、フォーカスエラー信号ＳＦＥにノイズなどによるゼロクロス点ＺＣを検出することなく、マーク層Ｙのみを検出するようになされている。

ところが光ディスク１００のような信号記録面を有さず、一様な記録層１０１に対して記録マークＲＭが形成される場合、メイン戻り光ビームＭＢｒの和光量が読出光ビームＬＲの焦点とトラックＴＲが属するマーク層Ｙとの距離を表すことができず、従来の光ディスク装置と同様にしてマーク層Ｙの数を精度良く検出することができなかった。

光ディスク装置１では、補正プルイン信号ＳＰＩｃが読出光ビームＬＲの焦点とトラックＴＲが属するマーク層Ｙとの距離を表すため、当該補正プルイン信号ＳＰＩｃを用いて、従来の光ディスク装置と同様、マーク層Ｙの数を精度良く検出することが可能となる。

さらに光ディスク装置１は、対物レンズ１６をフォーカス方向に駆動し、補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃが基準レベルＳＬになるように当該フォーカスエラー信号ＳＦＥｃに基づいてアクチュエータ１７をフィードバック制御する。そして光ディスク装置１は、補正プルイン信号ＳＰＩｃの信号レベルに基づいて、フィードバック制御の成否を確認するようにした。

これにより光ディスク装置１は、トラックＴＲと読出光ビームＬＲとの位置関係に応じた信号レベルの変動が小さい補正プルイン信号ＳＰＩｃを用いるため、正確にフィードバック制御の成否を確認することができる。

このとき光ディスク装置１は、情報の再生を開始し、トラッキング制御を実行中であっても補正プルインエラー信号ＳＰＩｃを使用することにより、外乱などによってデトラックが生じた場合でも高い精度でフォーカス制御の成否を確認することができる。

また光ディスク装置１は、補正プルイン信号ＳＰＩｃが所定のフォーカスイン閾値ＡＦＩ以上となるとフォーカスエラー信号ＳＦＥｃからゼロクロス点ＺＣを検出し、当該ゼロクロス点ＺＣに応じてフィードバック制御を開始させる。

これにより光ディスク装置１は、補正プルイン信号ＳＰＩｃを用いることによりフォーカスエラー信号ＳＦＥにノイズなどによるゼロクロス点ＺＣを除外し、目標マーク位置ＹＧに対して確実にフィードバック制御を開始することができる。

さらに光ディスク装置１は、補正プルイン信号ＳＰＩｃの信号レベルを正規化して基準ゲインに乗算することにより、補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃの信号レベルを補正する。

これにより光ディスク装置１は、戻り光ビームＬＲｒの光量変化に応じた補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃの変動を相殺できるため、フォーカス制御系の安定性を向上させることができる。

また光ディスク装置１は、対物レンズ１６をラジアル方向に駆動し、読出光ビームＬＲｒの焦点とマーク層Ｙとのずれ量を表すトラッキングエラー信号ＳＴＥが基準レベルＳＬになるように当該トラッキングエラー信号ＳＴＥに基づいてアクチュエータ１７をフィードバック制御する。光ディスク装置１は、メイン戻り光ビームＭＢｒの和光量を表すメインプルイン信号ＳＰＩｍに基づいてフィードバック制御の成否を確認する。

これにより光ディスク装置１は、メインビームＭＢとトラックＴＲとの位置関係に応じて光量が大きく変動するというメインプルイン信号ＳＰＩｍの特性を利用するため、プルイン信号ＳＰＩの僅かな変動に基づいてトラッキング制御の成否を確認する従来の光ディスク装置と比較して、トラッキング制御の成否を高い精度で確認することができる。

以上の構成によれば、光ディスク装置１は、メインビームＭＢ及びサブビームＳＢをトラックＴＲ及びトラックＴＲが形成されていないスペース領域ＡＲの両方に対して照射し、当該メインビームＭＢ及びサブビームＳＢによる戻り光ビームＬＲｒに基づいて、読出光ビームＬＲの焦点とマーク層Ｙとの距離を表すマーク層距離信号としての補正プルイン信号ＳＰＩｃ又は補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃを生成するようにした。

これにより光ディスク装置１は、トラックＴＲ及びスペース領域ＡＲからなるマーク層Ｙ総体としての戻り光ビームＬＲｒに基づいて補正プルイン信号ＳＰＩｃ又は補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃを生成することができる。このため光ディスク装置１は、読出光ビームＬＲのトラックＴＲに対する位置に応じた変動を戻り光ビームＬＲｒの光量変化を小さくすることができ、かくしてマーク層距離信号の精度を向上させ得る光ディスク装置及び信号生成方法を実現できる。

（２）第２の実施の形態
（２−１）サブビームの照射及び信号の生成
図３４〜図３６は第２の実施の形態を示すもので、図１〜図３３に示す第１の実施の形態に対応する部分を同一符号で示している。この第２の実施の形態では、サブビームＳＢのトラックＴＲに対する位置及びサブスポットＳＰの大きさが第１の実施の形態と異なっている。なお光ディスク装置１１１としての構成は、第１の実施の形態の光ディスク装置１と同様であるため、説明を省略する。

図３４に示すように、グレーティング１３に対応するグレーティング１１３は、その中心部分にのみ回折格子１１３Ａが形成されている。この回折格子１１３Ａのサイズは読出光ビームＬＲの光束径よりも小さく、読出光ビームＬＲの中心部分のみに対応する光束径の小さいサブビームＳＢを発生させるようになされている。

すなわち対物レンズ１６に対して、光束径の大きいメインビームＭＢと光束径の小さいサブビームＳＢが入射されることになる。この結果メインビームＭＢは、対物レンズ１６を当該対物レンズ１６が有する開口数ＮＡ（Numerical Aperture）でなるレンズとして作用させることができ、図３５に示すように、トラックＴＲに小さな直径でなるメインスポットＭＰを形成する。

これに対してサブビームＳＢは、対物レンズ１６を当該対物レンズ１６が有する開口数ＮＡよりも小さいレンズとして作用させることができ、トラックＴＲに大きな直径でなるサブスポットＳＰを形成する。

このサブスポットＳＰは、回折格子１１３Ａの直径によりスポット径がトラックピッチＴＰとほぼ同一となるように調整されている。従ってサブビームＳＢは、マーク層ＹにおけるトラックＴＲとスペース領域ＡＳの両方に照射される。

図３６に示すように、フォトディテクタ２０に対応するフォトディテクタ１２０は、フォトディテクタ２０と同様に縦横２方向に各２分割された４つの検出領域を有するメインスポット検出器１２１並びにサブスポット検出器１２２及び１２３を有している。このフォトディテクタ１２０では、サブスポット検出器１２２及び１２３の各検出領域１２２Ａ〜１２２Ｄ及び１２３Ａ〜１２３Ｄをメインスポット検出器１２１の各検出領域１２１Ａ〜１２１Ｄよりも大きく形成している。サブ戻り光ビームＳＢｒのスポット径がメイン戻り光ビームＭＢｒのスポット径よりも大きくなるためである。

信号処理部４に対応する信号処理部１０４では、次式に従って補正プルイン信号ＳＰＩｃを生成する。

すなわち光ディスク装置１１１では、サブビームＳＢがトラックＴＲ及びスペース領域ＡＳの両方に満遍なく照射されるため、サブビームＳＢが必ずトラックＴＲに照射されることになる。このため光ディスク装置１１１では、サブビームＳＢのみを用いて補正プルイン信号ＳＰＩｃを生成するようになされている。

また光ディスク装置１１１では、補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃの代りにメインビームＭＢから次式に従って生成される通常のフォーカスエラー信号ＳＦＥを使用する。

因みに光ディスク装置１１１では、プッシュプル法や１スポットプッシュプル法などによってメインビームＭＢからトラッキングエラー信号ＳＴＥを生成するようになされている。

このように光ディスク装置１１１では、サブスポットＳＰのスポット径を大きくすることにより、トラックＴＲ及びスペース領域ＡＳの両方に対して照射するようにした。これにより光ディスク装置１１１は、サブビームＳＢを必ずトラックＴＲに対して照射することができ、サブビームＳＢによるサブ戻り光ビームＳＢｒの和光量が読出光ビームＬＲの焦点とマーク層Ｙとの距離を表すことができる。

（２−２）動作及び効果
以上の構成において、光ディスク装置１１１では、サブビームＳＢのスポット径をメインビームＭＢのスポット径より大きくすることにより、サブビームＳＢをトラックＴＲ及び当該トラックＴＲの形成されていないスペース領域ＡＳの両方に対して照射する。そして光ディスク装置１１１は、サブビームＳＢによるサブ戻り光ビームＳＢｒに基づいてマーク層距離信号としてのプルイン信号ＳＰＩｃを生成するようにした。

これにより光ディスク装置１では、トラックＴＲとサブビームＳＢの位置関係に拘らず、サブビームＳＢが常にトラックＴＲに対して照射されるため、トラックＴＲとサブビームＳＢの位置関係に応じた信号レベルの変動の少ないプルイン信号ＳＰＩｃを生成することができる。

また光ディスク装置１は、サブビームＳＢの光束径をメインビームＭＢの光束径よりも小さくすることにより、サブビームＳＢのスポット径をメインビームＭＢのスポット径より大きくし、サブビームＳＢをトラックＴＲ及びスペース領域ＡＳの両方に対して照射することができる。

以上の構成によれば、光ディスク装置１は、サブビームＳＢをトラックＴＲ及びスペース領域ＡＳの両方に対して照射すると共に、当該サブビームＳＢによるサブ戻り光ビームＳＢｒに基づいてプルイン信号ＳＰＩｃを生成する。これにより光ディスク装置１は、サブビームＳＢが常にトラックＴＲに対して照射されるため、トラックＴＲとサブビームＳＢの位置関係に応じた信号レベルの変動の少ないプルイン信号ＳＰＩｃを生成することができる。

（３）他の実施の形態
なお上述した第１の実施の形態において、メイン戻り光ビームＭＢｒ及び２つのサブ戻り光ビームＳＢｒに基づいて補正プルイン信号ＳＰＩｃ及びフォーカスエラー信号ＳＦＥｃを生成した場合について述べたが、本発明はこれに限られない。本発明では、トラックＴＲに対して照射された少なくとも一の読出光ビームによる戻り光ビームＬＲｒに基づいて補正プルイン信号ＳＰＩｃ又はフォーカスエラー信号ＳＦＥｃが生成されれば良く、例えばメイン戻り光ビームＭＢｒ及び１つのサブ戻り光ビームＳＢｒに基づいて生成されても良い。

またメインビームＭＢ及びサブビームＳＢのうち、トラックＴＲに照射された少なくとも一の光ビームを選択し、当該選択された光ビームに基づいて補正プルイン信号ＳＰＩｃ又はフォーカスエラー信号ＳＦＥｃが生成されても良い。この場合、例えばメインビームＭＢによるメイン戻り光ビームＭＢｒ及びサブビームＳＢによるサブ戻り光ビームＳＢｒの光量比から、トラックＴＲに照射された方を選択し、選択された戻り光ビームＬＲｒに基づいて補正プルイン信号ＳＰＩｃ又はフォーカスエラー信号ＳＦＥｃを生成する。

例えば光ディスク装置１は、（５）式に従ってメインビームＭＢの光量を表すメインプルイン信号ＳＰＩｍを生成すると共に（１０）式に従ってサブビームの光量を表すサブプルイン信号ＳＰＩｓを生成する。

そして光ディスク装置１は、信号レベルの大きい方の信号を補正プルイン信号ＳＰＩｃとして使用するようにする。さらに光ディスク装置１は、サブプルイン信号ＳＰＩｓの光量が大きい場合には、（１１）式に従ってサブフォーカスエラー信号ＳＦＥｓを生成する。このサブフォーカスエラー信号ＳＦＥｓは、層数カウント処理に使用することができる。因みに第２の実施の形態においても同様のサブフォーカスエラー信号ＳＦＥｓを生成することが可能である。

また上述した第１及び第２の実施の形態では、光ディスク１００に対してメインビームＭＢ及び２つのサブビームＳＢを照射するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限られない。本発明では、例えば図３７に示すように、４つのサブビームＳＢを照射するようにしても良い。この場合、各対となるサブビームＳＢをメインビームＭＢから１／３トラックピッチＴＰずつずらすことにより、メインビームＭＢ及びサブビームＳＢのいずれかを一段と確実にトラックＴＲに照射することが可能となる。

さらに上述した第１の実施の形態においては、補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃ及びトラッキングエラー信号ＳＴＥに対してＡＧＣ処理を実行するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、必ずしもＡＧＣ処理を実行する必要はない。

さらに上述した第１の実施の形態においては、オントラック信号ＳＯＴを用いてトラッキング制御の成否を確認するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限られず、必ずしもトラッキング制御の成否を確認する必要はない。

さらに上述した第２の実施の形態においては、トラックピッチＴＰとほぼ同一径でなるサブビームＳＢを照射するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限られない。例えば本発明では、サブビームＳＢのガウス分布を考慮に入れて、デトラック時の補正プルイン信号ＳＰＩｃの信号レベルの変動が最も小さくなるようにサブビームＳＢのスポット径を決定することができる。因みにサブビームＳＢのスポット径は、回折格子１１３Ａの口径に応じて変化させることが可能である。

さらに上述した第１及び第２の実施の形態においては、非点収差法に従って補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃを生成するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限られるものではない。本発明では、例えばスポットサイズ法など、その他種々の手法によって補正フォーカスエラー信号ＳＦＥｃを生成することができる。

さらに上述した第１及び第２の実施の形態においては、ＤＰＰ（Differential Push Pull）法に従ってトラッキングエラー信号ＳＴＥｍを生成するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限られるものではない。本発明では、例えばプッシュプル法やＤＰＤ（Differential Phase Detection）法など種々の手法によってトラッキングエラー信号ＳＴＥを生成することができる。

さらに上述した第１及び第２の実施の形態においては、立体的な記録マークとして記録層１０１にホログラムでなる記録マークＲＭが形成されるようにした場合について述べたが、本発明はこれに限られるものではない。例えば気泡でなる記録マークＲＭが形成されるようにしても良い。

さらに上述した第１及び第２の実施の形態では、記録層１０１及び２０１に複数のマーク層Ｙが形成されるようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、マーク層Ｙが１層のみ形成されるようにしても良い。

さらに上述した第１及び第２の実施の形態においては、記録層１０１が螺旋状のトラックＴＲを有するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、同心円状の基準トラックを有するようにしても良い。

さらに上述した第１及び第２の実施の形態においては、光ディスク装置１が情報の再生のみを行う情報再生装置でなるようにした場合について述べたが、本発明はこれに限られない。本発明は、情報の再生及び記録の両方を行う情報記録再生装置にも同様に適用することができる。

さらに上述した第１の実施の形態では、情報再生処理の際、層数カウント処理、フォーカス引込処理及びトラッキング引込処理を実行するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限られない。本発明は、例えば光ディスク１００が装填されたときに層数カウント処理を実行したり、情報記録処理を開始する時に層数カウント処理、フォーカス引込処理及びトラッキング引込処理を実行しても良い。

さらに上述した第１及び第２の実施の形態においては、４０５［ｎｍ］でなる読出光ビームＬＲを光ディスク１００に対して照射するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、その他種々の波長でなる光ビームを照射しても良い。

さらに上述した第１の実施の形態においては、光分離部としてのグレーティング１３と、対物レンズとしての対物レンズ１６と、信号生成部としての信号処理部４とによって光ディスク装置としての光ディスク装置１を構成するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、その他種々の構成でなる光分離部と、対物レンズと、信号生成部とによって本発明の光ディスク装置を構成するようにしても良い。

本発明は、映像や音声、或いはコンピュータ用のデータ等の情報を光ディスクに記録し、また当該光ディスクから当該情報を再生する光ディスク装置でも利用できる。

従来のフォーカスの引き込みの説明に供する略線図である。 プルイン信号とフォーカスエラー信号を示す略線図である。 光ディスク装置の構成を示す略線図である。 記録マークの様子を示す略線図である。 情報の記録及び再生の説明に供する略線図である。 オントラック時における記録マークとスポットの様子を示す略線図である。 シミュレーションに用いられた光検出器の構成を示す略線図である。 オントラック時のフォーカスエラー信号を示す略線図である。 オントラック時のプルイン信号を示す略線図である。 オントラック時の戻り光スポットの様子を示す略線図である。 ０．３１μｍデトラック時のスポットの様子を示す略線図である。 ０．３１μｍデトラック時のフォーカスエラー信号を示す略線図である。 ０．３１μｍデトラック時のプルイン信号を示す略線図である。 ０．３１μｍデトラック時における戻り光スポットの様子を示す略線図である。 ０．５５μｍデトラック時のスポットの様子を示す略線図である。 ０．５５μｍデトラック時のフォーカスエラー信号を示す略線図である。 ０．５５μｍデトラック時のプルイン信号を示す略線図である。 ０．５５μｍデトラック時における戻り光スポットの様子を示す略線図である。 フォーカスエラー信号と補正フォーカスエラー信号との比較を示す略線図である。 プルイン信号と補正プルイン信号との比較を示す略線図である。 光ディスク装置の構成を示す略線図である。 光ピックアップの構成を示す略線図である。 第１の実施の形態による光ビームの照射を示す略線図である。 補正フォーカスエラー信号の波形を示す略線図である。 補正プルイン信号の波形を示す略線図である。 サーボ処理部の構成を示す略線図である。 層数カウント処理における各信号を示す略線図である。 フォーカス引込処理における各信号を示す略線図である。 トラッキング引込処理における各信号を示す略線図である。 情報再生処理手順の説明に供するフローチャートである。 層数カウント処理手順の説明に供するフローチャートである。 フォーカス引込処理手順の説明に供するフローチャートである。 トラッキング引込処理手順の説明に供するフローチャートである。 第２の実施の形態によるグレーティングの構成を示す略線図である。 第２の実施の形態による光ビームの照射を示す略線図である。 第２の実施の形態によるフォトディテクタの構成を示す略線図である。 他の実施の形態による光ビームの照射を示す略線図である。

符号の説明

１、１１１……光ディスク装置、２……制御部、３……駆動制御部、４……信号処理部、１０……光ピックアップ、１１……レーザダイオード、１６……対物レンズ、１７……アクチュエータ、２０、１２０……フォトディテクタ、１００……光ディスク、１０１……記録層、１０２、１０３……基板、ＴＧ……目標トラック、Ｙ……マーク層、ＹＧ……目標マーク層、ＲＭ……記録マーク、ＴＲ……トラック、ＬＲ……読出光ビーム、ＬＲｒ……戻り光ビーム、ＭＢ……メインビーム、ＳＢ……サブビーム、ＭＢｒ……メイン戻り光ビーム、ＳＢｒ……サブ戻り光ビーム。

Claims (20)

1. 光源から出射された光ビームをメインビーム及びサブビームに分離する光分離部と、
   一様でなる記録層において記録マークによるトラックが形成されてなる光ディスクに対して上記光ビームを集光し照射する際、上記光ディスクの半径方向であるラジアル方向において上記メインビームが照射されない領域に上記サブビームの少なくとも一部を照射させる対物レンズと、
   上記メインビーム及び上記サブビームのうち、上記トラックに対して照射された少なくとも一の光ビームによる戻り光ビームに基づいて、上記光ビームの焦点と上記トラックが属するマーク層との距離を表すマーク層距離信号を生成する信号生成部と
   を有する光ディスク装置。
2. 上記マーク層距離信号は、
   上記距離が小さくなるにつれて信号レベルが増大する補正プルイン信号である
   請求項１に記載の光ディスク装置。
3. 上記マーク層距離信号は、
   上記光ビームの焦点と上記マーク層とのずれ量を表す補正フォーカスエラー信号である
   請求項１に記載の光ディスク装置。
4. 上記対物レンズは、
   上記メインビームとほぼ同一のスポット径でなる上記サブビームを上記メインビームから上記ラジアル方向にずらして照射する
   請求項１に記載の光ディスク装置。
5. 上記信号生成部は、
   上記メインビームによるメイン戻り光ビームの和光量と上記サブビームによるサブ戻り光ビームの和光量とに基づいて、上記距離が小さくなるにつれて信号レベルが増大する補正プルイン信号を生成する
   請求項４に記載の光ディスク装置。
6. 上記信号生成部は、
   上記メインビームによるメイン戻り光ビームの光量と上記サブビームによるサブ戻り光ビームの光量とに基づいて、上記光ビームの焦点と上記マーク層とのずれ量を表す補正フォーカスエラー信号を生成する
   請求項４に記載の光ディスク装置。
7. 上記対物レンズを上記光ディスクに対して近接及び離隔するフォーカス方向に駆動するフォーカス駆動部と、
   上記補正プルイン信号が所定の検出閾値以上となると、上記光ビームの焦点と上記マーク層とのずれ量を表すフォーカスずれ量信号が基準レベルと交差するゼロクロス点を検出するフォーカスゼロクロス点検出部と、
   上記対物レンズが所定の移動区間だけ移動する間に検出された上記ゼロクロス点の数をカウントするカウント部と
   を有する請求項２に記載の光ディスク装置。
8. 上記フォーカスずれ量信号は、
   上記マーク層距離信号としての補正フォーカスエラー信号である
   請求項７に記載の光ディスク装置。
9. 上記対物レンズを上記光ディスクに対して近接及び離隔するフォーカス方向に駆動するフォーカス駆動部と、
   上記光ビームの焦点と上記マーク層とのずれ量を表すフォーカスずれ量信号が基準レベルになるように当該フォーカスずれ量信号に基づいて上記フォーカス駆動部をフィードバック制御すると共に、上記補正プルイン信号の信号レベルに基づいて、上記フォーカス駆動部に対するフィードバック制御の成否を確認するフォーカスフィードバック制御部
   を有する請求項２に記載の光ディスク装置。
10. 上記補正プルイン信号が所定の検出閾値以上となると、上記光ビームの焦点と上記マーク層とのずれ量を表すフォーカスずれ量信号が基準レベルと交差するゼロクロス点を検出するフォーカスゼロクロス点検出部と、
    上記ゼロクロス点に応じて上記フォーカスフィードバック制御部によるフィードバック制御を開始させるフォーカス制御開始部と
    請求項９に記載の光ディスク装置。
11. 上記フォーカスフィードバック制御部は、
    上記補正プルイン信号の信号レベルに応じて上記フォーカスずれ量信号の信号レベルを補正する
    請求項９に記載の光ディスク装置。
12. 上記対物レンズを上記ラジアル方向に駆動するトラッキング駆動部と、
    上記光ビームの焦点と上記マーク層とのずれ量を表すトラッキングエラー信号が基準レベルになるように当該トラッキングエラー信号に基づいて上記トラッキング駆動部をフィードバック制御すると共に、上記メイン戻り光ビームの和光量に基づいて上記トラッキング駆動部に対するフィードバック制御の成否を確認するトラッキングフィードバック制御部と
    を有する請求項５に記載の光ディスク装置。
13. 上記対物レンズは、
    上記サブビームを上記メインビームから上記ラジアル方向にトラックピッチの半分だけずらして照射する
    請求項１２に記載の光ディスク装置。
14. 上記対物レンズは、
    上記サブビームのスポット径を上記メインビームのスポット径より大きくすることにより、上記サブビームを上記トラック及び当該トラックの形成されていないスペース領域の両方に対して照射し、
    上記信号生成部は、
    上記サブビームによるサブ戻り光ビームに基づいて上記マーク層距離信号を生成する
    請求項１に記載の光ディスク装置。
15. 上記光分離部は、
    上記サブビームの光束径を上記メインビームの光束径よりも小さくすることにより、上記サブビームのスポット径を上記メインビームのスポット径より大きくする
    請求項１４に記載の光ディスク装置。
16. 上記光分離部は、
    上記光ビームの光束径よりも小さな領域に回折格子が形成された回折素子でなる
    請求項１５に記載の光ディスク装置。
17. 上記信号生成部は、
    上記メインビーム及びサブビームのうち、上記トラックに照射された少なくとも一の光ビームを選択し、当該選択された光ビームに基づいて上記マーク層距離信号を生成する
    請求項１に記載の光ディスク装置。
18. 上記信号生成部は、
    上記メインビームによるメイン戻り光ビーム及び上記サブビームによるサブ戻り光ビームの光量に基づいて、上記トラックに照射された光ビームを選択する
    請求項１に記載の光ディスク装置。
19. 光源から出射された光ビームをメインビーム及びサブビームに分離する光分離ステップと、
    一様でなる記録層において記録マークによるトラックが形成されてなる光ディスクに対して上記光ビームを集光し照射する際、上記光ディスクの半径方向であるラジアル方向において上記メインビームが照射されない領域に上記サブビームの少なくとも一部を照射させる照射ステップと、
    上記メインビーム及び上記サブビームのうち、上記トラックに対して照射された少なくとも一の光ビームによる戻り光ビームに基づいて、上記光ビームの焦点と上記トラックが属するマーク層との距離を表すマーク層距離信号を生成する信号生成ステップと
    を有する信号生成方法。
20. 光源から出射された光ビームをメインビーム及びサブビームに分離する光分離部と、
    一様でなる記録層において記録マークによるトラックが形成されてなる光ディスクに対して上記光ビームを集光し照射する際、上記サブビーム若しくは上記メインビーム及び上記サブビームを上記トラック及び上記トラックが形成されていないスペース領域の両方に対して照射する対物レンズと、
    上記トラック及び上記スペース領域の両方に対して照射された上記サブビーム若しくは上記メインビーム及び上記サブビームによる戻り光ビームに基づいて、上記光ビームの焦点と上記トラックが属するマーク層との距離を表すマーク層距離信号を生成する信号生成部と
    を有する光ディスク装置。

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