JP2009238878A - Plasma processing device - Google Patents
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Abstract
【課題】一台で各種のプラズマを発生でき、基板に対して各種の表面処理を可能にし、生産効率を向上させることのできるプラズマ処理装置を提供する。
【解決手段】処理室内にモータにて回動する回転カプラ32を配置し、その回転カプラ32にスポット型ダイレクトプラズマ電極ユニットU11、ライン型ダイレクトプラズマ電極ユニットU12、スポット型リモートプラズマ電極ユニットU13、ライン型リモートプラズマ電極ユニットU14を固着した。そして、回転カプラ32を回転させて、各電極ユニットU11〜U14のうち所望の1つを選択して基板の所定の表面位置に対向配置させるようにした。
【選択図】図8A plasma processing apparatus capable of generating various types of plasma with a single unit, enabling various surface treatments on a substrate, and improving production efficiency.
A rotary coupler 32 that is rotated by a motor is disposed in a processing chamber, and a spot type direct plasma electrode unit U11, a line type direct plasma electrode unit U12, a spot type remote plasma electrode unit U13, a line are arranged on the rotary coupler 32. Type remote plasma electrode unit U14 was fixed. Then, the rotary coupler 32 is rotated so that a desired one of the electrode units U11 to U14 is selected and arranged to face a predetermined surface position of the substrate.
[Selection] Figure 8
Description
本発明は、プラズマ処理装置に関する。 The present invention relates to a plasma processing apparatus.
従来、放電プラズマ電極にてプラズマを発生させ、そのプラズマを基板の表面にさらして基板の表面を加工するプラズマ処理装置が知られている。
この種のプラズマ処理装置は、対向配置される一対の電極を備え、その両電極間に形成される間隙にガスを供給し、その両電極間に高周波電圧を印加して放電を起こさせてプラズマを発生させる。この発生させたプラズマを基板の表面にさらすことにより、基板表面はプラズマ処理される。つまり、プラズマ中の励起分子、ラジカル原子、励起したイオン等の活性種により、基板の表面で各種反応を生じさせ、基板の表面を表面処理(例えば表面改質、アッシング、エッチング、デポジッション等)させるものである。
2. Description of the Related Art Conventionally, a plasma processing apparatus is known that generates plasma with a discharge plasma electrode and exposes the plasma to the surface of the substrate to process the surface of the substrate.
This type of plasma processing apparatus includes a pair of electrodes arranged opposite to each other, supplies a gas to a gap formed between the electrodes, applies a high-frequency voltage between the electrodes, and causes a discharge to generate plasma. Is generated. By exposing the generated plasma to the surface of the substrate, the substrate surface is subjected to plasma treatment. In other words, active species such as excited molecules, radical atoms, and excited ions in the plasma cause various reactions on the surface of the substrate, and surface treatment of the substrate (for example, surface modification, ashing, etching, deposition, etc.) It is something to be made.
ところで、プラズマには、プラズマがライン状に形成されるライン型のプラズマと、プラズマがスポット状に形成されるスポット型のプラズマがある(例えば、特許文献1、特許文献2)。
By the way, the plasma includes a line type plasma in which the plasma is formed in a line shape and a spot type plasma in which the plasma is formed in a spot shape (for example,
又、ライン型プラズマとスポット型プラズマには、基板にダメージを与えないために、基板から離間した位置でプラズマを発生させ、その発生させたプラズマを基板の表面まで供給するリモート型のプラズマと(例えば、特許文献1、特許文献2)、基板にプラズマを一様に直接作用させるために、アース側に基板を配置し、その発生したプラズマを基板の表面に作用させるダイレクト型のプラズマがある。(例えば、特許文献3)
しかしながら、この各種のプラズマを発生させるには、それぞれそれ専用のプラズマ電極ユニットを備えたプラズマ処理装置を、それぞれ用意する必要があった。従って、装置一台で多目的な基板の表面処理を行うことができず、生産効率が悪かった。 However, in order to generate these various plasmas, it is necessary to prepare plasma processing apparatuses each having a dedicated plasma electrode unit. Accordingly, the multipurpose substrate surface treatment cannot be performed with one apparatus, and the production efficiency is poor.
本発明は、上記問題点を解決するためになされたものであって、その目的は、一台で各種のプラズマを発生でき、基板に対して各種の表面処理を可能にし、生産効率を向上させることのできるプラズマ処理装置を提供するにある。 The present invention has been made to solve the above-described problems, and its purpose is to generate various types of plasma with a single unit, enable various surface treatments on the substrate, and improve production efficiency. An object of the present invention is to provide a plasma processing apparatus that can perform the above process.
本発明のプラズマ処理装置は、処理室内に設けたステージ上に載置された基板の表面に、前記処理室内に設けた支持装置に支持されたプラズマ電極ユニットにて生成されたプラズマにさらして、前記基板の表面を加工するプラズマ処理装置であって、前記支持装置に、前記プラズマ電極ユニットに設けた被連結部に対して着脱可能に連結する連結部を備えたカプラを設けた。 The plasma processing apparatus of the present invention is exposed to plasma generated by a plasma electrode unit supported by a support device provided in the processing chamber on the surface of a substrate placed on a stage provided in the processing chamber, A plasma processing apparatus for processing the surface of the substrate, wherein the support device is provided with a coupler having a connecting portion detachably connected to a connected portion provided in the plasma electrode unit.
本発明のプラズマ処理装置によれば、カプラに連結部備え、プラズマ電極ユニットに被連結部を設け、カプラに対してプラズマ電極ユニットを取り外し可能に連結固定するようにしたので、一台のプラズマ処理装置で各種のプラズマを発生させることができ、基板に対して各種の表面処理を可能にし、生産効率を向上させることができる。 According to the plasma processing apparatus of the present invention, the coupler is provided with the connecting portion, the plasma electrode unit is provided with the connected portion, and the plasma electrode unit is detachably connected and fixed to the coupler. Various plasmas can be generated by the apparatus, various surface treatments can be performed on the substrate, and production efficiency can be improved.
このプラズマ処理装置において、前記プラズマ電極ユニットに設けた被連結部はボルトであり、前記カプラに備えた連結部はネジ孔であってもよい。
このプラズマ処理装置によれば、カプラとプラズマ電極ユニットの連結構造をネジ孔とボルトで行ったので、その交換作業は非常に簡単に行うことができる。
In this plasma processing apparatus, the connected portion provided in the plasma electrode unit may be a bolt, and the connecting portion provided in the coupler may be a screw hole.
According to this plasma processing apparatus, since the coupling structure of the coupler and the plasma electrode unit is performed with the screw holes and the bolts, the replacement operation can be performed very easily.
(第1実施形態)
以下、本発明の放電プラズマ処理装置の第1実施形態を図面に従って説明する。
図1は、プラズマ処理装置10を説明するための、概略外観面図である。プラズマ処理装置10は、処理室11の底面11aにXY方向移動装置12が設けられ、そのXY方向移動装置12の作動アーム12aに接地電極として電極ステージ13が連結固定されている。
(First embodiment)
Hereinafter, a first embodiment of a discharge plasma processing apparatus of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a schematic external view for explaining the
XY方向移動装置12は、作動アーム12aを介して電極ステージ13を主走査方向(図1において左右方向)に移動させるととともに、主走査方向と直交する副走査方向(図1において紙面に対して垂直方向)に移動させるようになっている。
The XY
電極ステージ13は、ステンレススチールにて形成されている。電極ステージ13は、その載置面13aに基板14が載置される。従って、電極ステージ13に載置された基板14は、処理室11内において主走査方向及び副走査方向に移動され案内されるようになっている。
The
基板14は、プラズマ中に含まれる活性原子(ラジカル)と反応して、反応物を気化するような成分を含む材料が挙げられる。本実施形態では、例えば、シリコン(Si)基板としている。
Examples of the
処理室11内の上面には、支持装置15が設けられ、その支持装置15の下側にカプラ16が、上下方向に移動可能に設けられている。カプラ16は、ステンレススチールで構成され、その下面には逆円錐台形状の嵌合穴17が凹設されている。嵌合穴17の奥面には連結部としてのネジ孔18が形成されている。
A
図1において、カプラ16には、スポット型ダイレクトプラズマ電極ユニットU1が装着されている。スポット型プラズマ電極ユニットU1は、図3に示すように、円柱状のカソード電極部21とそのカソード電極部21の基端部に円錐台形状のベース電極部22が一体的に形成されている。円錐台形状のベース電極部22は、カプラ16の逆円錐台形状の嵌合穴17に密着嵌合するようになっている。また、カソード電極部21が設けられていないベース電極部22の反対側の面には、嵌合穴17に形成したネジ孔18と螺合する被連結部としてのボルト23が取着されている。
In FIG. 1, the
図2に示すように、スポット型ダイレクトプラズマ電極ユニットU1は、カプラ16を最も上側に配置した状態で、そのベース電極部22に設けたボルト23をネジ孔18に螺着すると、カプラ16に対して簡単に連結固定される。そして、ベース電極部22の外周面と嵌合穴17の内周面は密着して電気的に接続される。次に、カプラ16を支持装置15に対して高さ方向の位置調整をして、電極ユニットU1を基板14との最適な間隔に設定する。
As shown in FIG. 2, in the spot type direct plasma electrode unit U <b> 1, when a
そして、円柱状のカソード電極部21の下面と基板14との間にはプラズマガスが供給されるとともに、カソード電極部21と基板14を載置した電極ステージ13との間に高周波電圧を印加される。ここで、プラズマガスは、高周波電圧の作用(電界の作用)により、含まれるガス分子が解離してプラズマを生じるガスであって、例えば、ヘリウム(He)ガス、Ar(アルゴン)ガスのようなキャリアガスと、処理ガスとの混合ガス等である。処理ガスは、エッチング加工する基板14の構成プ構成材料に応じて異なる。基板14の構成材料が前述のシリコン系化合物である場合、CF4、CHF3、C2F6、SF6のようなフッ素系ガス、CCl4のような塩素ガス等が用いられる。
A plasma gas is supplied between the lower surface of the cylindrical
これによって、カソード電極部21と基板14との間において高い周波数で向きが反転する電界が誘起され、カソード電極部21と基板14との間に存在するプラズマガスの分子が電離して、スポット状のプラズマを発生させることができる。
As a result, an electric field whose direction is reversed at a high frequency is induced between the
なお、カプラ16からスポット型ダイレクトプラズマ電極ユニットU1を外す場合には、連結の場合とは反対方向にダイレクトプラズマ電極ユニットU1を回すことにより、ベース電極部22に設けたボルト23がネジ孔18から外れるため、カプラ16からスポット型ダイレクトプラズマ電極ユニットU1を簡単に取り外すことができる。
When the spot type direct plasma electrode unit U1 is removed from the
ところで、カプラ16は、スポット型ダイレクトプラズマ電極ユニットU1以外のプラズマ電極ユニットであっても前記したベース電極部22とボルト23を備えたプラズマ電極ユニットであればスポット型ダイレクトプラズマ電極ユニットU1と同様に取り外し可能に連結固定することができる。
By the way, even if the
図4は、ライン型ダイレクトプラズマ電極ユニットU2、図5はスポット型リモートプラズマ電極ユニットU3、図6はライン型モートプラズマ電極ユニットU4を示し、いずれの電極ユニットU2〜U4もカプラ16に対して取り外し可能に連結固定することができる。
4 shows a line-type direct plasma electrode unit U2, FIG. 5 shows a spot-type remote plasma electrode unit U3, and FIG. 6 shows a line-type mote plasma electrode unit U4. Both electrode units U2 to U4 are removed from the
詳述すると、図4に示すライン型ダイレクトプラズマ電極ユニットU2は、円柱状のカソード電極部21に代えて、平板状のカソード電極部25を備えている。
そして、平板状のカソード電極部25の下面と基板14との間にはプラズマガスが供給されるとともに、カソード電極部25と基板14を載置した電極ステージ13との間に高周波電圧を印加されるようになっている。これによって、カソード電極部25と基板14との間において高い周波数で向きが反転する電界が誘起され、カソード電極部25と基板14との間に存在するプラズマガスの分子が電離して、ライン状のプラズマを発生させることができる。
More specifically, the line type direct plasma electrode unit U2 shown in FIG. 4 includes a plate-like
A plasma gas is supplied between the lower surface of the flat
また、図5に示すスポット型リモートプラズマ電極ユニットU3は、ボルト23を備えたベース電極部22に円柱状のカソード電極部26を設けるとともに、その円柱状のカソード電極部26の外周に接地された先細円筒状のアノード電極部27が設けられている。円柱状のカソード電極部26と先細円筒状のアノード電極部27は図示しない絶縁体よりなる間隔保持部材にて離間して配置されている。
Further, the spot type remote plasma electrode unit U3 shown in FIG. 5 is provided with a cylindrical
この離間した空間にはプラズマガスがベース電極部22側から供給されるとともに、カソード電極部26とアノード電極部27との間に高周波電圧を印加されるようになっている。このとき、電極ステージ13は接地されていない。
A plasma gas is supplied to the separated space from the
これによって、両電極部26,27との間において高い周波数で向きが反転する電界が誘起され、両電極部26,27との間に存在するプラズマガスの分子が電離して、プラズマを発生させることができる。そして、電極部26,27との間に発生したプラズマは、アノード電極部27の先端開口部27aから導出されて基板14の表面にスポット状のプラズマとして供給される。
As a result, an electric field whose direction is reversed at a high frequency is induced between the
また、図6に示すライン型リモートプラズマ電極ユニットU4は、円柱状のカソード電極部21に代えて、平板状のカソード電極部28を備えているとともに、その平板状のカソード電極部28と相対向する位置に接地された平板状のアノード電極部29が設けられている。平板状のカソード電極部28は金属板22aを介してベース電極部22に連結固定されている。また、平板状のカソード電極部28と平板状のアノード電極部29は図示しない絶縁体よりなる間隔保持部材にて離間して配置されている。
Further, the line type remote plasma electrode unit U4 shown in FIG. 6 includes a flat
この離間した空間にはプラズマガスがベース電極部22側から供給されるとともに、カソード電極部28とアノード電極部29との間に高周波電圧を印加されるようになっている。このとき、電極ステージ13は接地されていない。
A plasma gas is supplied to the separated space from the
これによって、両電極部28,29との間において高い周波数で向きが反転する電界が誘起され、電極部28,29との間に存在するプラズマガスの分子が電離して、プラズマを発生させることができる。そして、電極部28,29との間に発生したプラズマは、離間した空間から導出されて基板14の表面にライン状のプラズマとして供給される。
As a result, an electric field whose direction is reversed at a high frequency is induced between the
従って、カプラ16に対して電極ユニットU1〜U4が取り外し可能に連結固定することができる。
次に、上記のように構成した実施形態の効果を以下に記載する。
Therefore, the electrode units U1 to U4 can be detachably connected and fixed to the
Next, effects of the embodiment configured as described above will be described below.
(1)上記実施形態によれば、支持装置15に設けたカプラ16に対して、スポット型ダイレクトプラズマ電極ユニットU1、ライン型ダイレクトプラズマ電極ユニットU2、スポット型リモートプラズマ電極ユニットU3、ライン型リモートプラズマ電極ユニットU4を取り外し可能に連結固定することができるようにした。従って、一台のプラズマ処理装置10で各種のプラズマを発生させることができ、基板14に対して各種の表面処理を可能にし、生産効率を向上させることができる。
(1) According to the above embodiment, the spot-type direct plasma electrode unit U1, the line-type direct plasma electrode unit U2, the spot-type remote plasma electrode unit U3, the line-type remote plasma with respect to the
(2)しかも、上記実施形態によれば、カプラ16と各電極ユニットU1〜U4との連結構造をネジ孔18とボルト23で行ったので、カプラ16に対して各電極ユニットU1〜U4の交換作業は非常に簡単に行うことができる。
(第2実施形態)
次に、本発明の放電プラズマ処理装置の第1実施形態を図面に従って説明する。尚、説明の便宜上、第1実施形態と同様の構成は、符号を同じにしてその詳細な説明を省略する。
(2) Moreover, according to the above embodiment, since the coupling structure of the
(Second Embodiment)
Next, a first embodiment of the discharge plasma processing apparatus of the present invention will be described with reference to the drawings. For convenience of explanation, the same components as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted.
図7は、プラズマ処理装置30を説明するための、概略外観図である。プラズマ処理装置30は、処理室11の底面11aに設けられたXY方向移動装置12の作動アーム12aに接地電極として電極ステージ13が連結固定されている。そして、電極ステージ13の載置面13aには、基板14が載置される。
FIG. 7 is a schematic external view for explaining the
処理室11内の上面には、テーブル移動手段としてのモータ31が設けられ、そのモータ31から突出した回転軸31aにテーブルとしての回転カプラ32が固着されている。回転カプラ32は円板状をなした絶縁体であって、電極ステージ13と平行に配置される。回転カプラ32は、モータ31の回転軸31aの回転により、同回転軸31aを回転中心に回転する。
A motor 31 as a table moving means is provided on the upper surface in the
円板状の回転カプラ32は、図8に示すように、その下面32aには、スポット型ダイレクトプラズマ電極ユニットU11、ライン型ダイレクトプラズマ電極ユニットU12、スポット型リモートプラズマ電極ユニットU13、及び、ライン型リモートプラズマ電極ユニットU14を固着させている。
As shown in FIG. 8, the disk-shaped
スポット型ダイレクトプラズマ電極ユニットU11は、第1実施形態のスポット型ダイレクトプラズマ電極ユニットU1とは、ベース電極部22とボルト23を設けていないのが相違する。電極ユニットU11は、その円柱状のカソード電極部21が回転カプラ32に固着されている。
The spot type direct plasma electrode unit U11 is different from the spot type direct plasma electrode unit U1 of the first embodiment in that the
ライン型ダイレクトプラズマ電極ユニットU12は、第1実施形態のライン型ダイレクトプラズマ電極ユニットU2とは、ベース電極部22とボルト23を設けていないのが相違する。電極ユニットU12は、その平板状カソード電極部25が回転カプラ32に固着されている。
The line type direct plasma electrode unit U12 is different from the line type direct plasma electrode unit U2 of the first embodiment in that the
スポット型リモートプラズマ電極ユニットU13は、第1実施形態のスポット型リモートプラズマ電極ユニットU3とは、ベース電極部22とボルト23を設けていないのが相違する。電極ユニットU13は、図示しない間隔保持部材を介して先細円筒状のアノード電極部27を保持した円柱状のカソード電極部26が回転カプラ32に固着されている。
The spot type remote plasma electrode unit U13 is different from the spot type remote plasma electrode unit U3 of the first embodiment in that the
ライン型リモートプラズマ電極ユニットU14は、第1実施形態のライン型リモートプラズマ電極ユニットU4とは、ベース電極部22とボルト23を設けていないのが相違する。電極ユニットU14は、図示しない間隔保持部材を介して平板状のアノード電極部29を保持した平板状のカソード電極部28が回転カプラ32に固着されている。
The line type remote plasma electrode unit U14 is different from the line type remote plasma electrode unit U4 of the first embodiment in that the
従って、モータ31の回転軸31aを回転させて回転カプラ32を回動させることによって、回転カプラ32の下面32aに設けた各電極ユニットU11〜U14のうち所望の1つを選択して基板14の所定の表面位置に対向配置させることができる。
Therefore, by rotating the rotating shaft 31a of the motor 31 and rotating the rotating
そして、回転カプラ32を回動させて、基板14の所定の表面位置にスポット型ダイレクトプラズマ電極ユニットU11を対向配置させる。次に、電極ユニットU11のカソード電極部21の下面と基板14との間にプラズマガスを供給するとともに、カソード電極部21と基板14を載置した電極ステージ13との間に高周波電圧を印加する。
Then, the
これによって、カソード電極部21と基板14との間において高い周波数で向きが反転する電界が誘起され、カソード電極部21と基板14との間に存在するプラズマガスの分子が電離して、スポット状のプラズマが発生する。
As a result, an electric field whose direction is reversed at a high frequency is induced between the
また、回転カプラ32を回動させて、基板14の所定の表面位置にライン型ダイレクトプラズマ電極ユニットU12を対向配置させる。次に、電極ユニットU12の平板状のカソード電極部25の下面と基板14との間にプラズマガスを供給するとともに、カソード電極部25と基板14を載置した電極ステージ13との間に高周波電圧を印加する。
Further, the
これによって、カソード電極部25と基板14との間において高い周波数で向きが反転する電界が誘起され、カソード電極部25と基板14との間に存在するプラズマガスの分子が電離して、ライン状のプラズマが発生する。
As a result, an electric field whose direction is reversed at a high frequency is induced between the
また、回転カプラ32を回動させて、基板14の所定の表面位置にスポット型リモートプラズマ電極ユニットU13を対向配置させる。次に、カソード電極部26とアノード電極部27との間にプラズマガスを供給するとともに、カソード電極部26とアノード電極部27との間に高周波電圧を印加する。
Further, the
これによって、両電極部26,27との間において高い周波数で向きが反転する電界が誘起され、電極部26,27との間に存在するプラズマガスの分子が電離して、プラズマが発生する。そして、電極部26,27との間に発生したプラズマは、アノード電極部27の先端開口部27aから導出されて基板14の所定の表面位置にスポット状のプラズマとして供給される。
As a result, an electric field whose direction reverses at a high frequency is induced between the
さらに、回転カプラ32を回動させて、基板14の所定の位置にライン型リモートプラズマ電極ユニットU14を対向配置させる。次に、カソード電極部28とアノード電極部29との間にプラズマガスを供給するとともに、カソード電極部28とアノード電極部29との間に高周波電圧を印加する。
Further, the
これによって、両電極部28,29との間において高い周波数で向きが反転する電界が誘起され、電極部28,29との間に存在するプラズマガスの分子が電離して、プラズマが発生する。電極部28,29との間に発生したプラズマは、離間した空間から導出されて基板14の所定の表面位置にライン状のプラズマとして供給される。
As a result, an electric field whose direction reverses at a high frequency is induced between the
次に、上記のように構成した実施形態の効果を以下に記載する。
(1)上記実施形態によれば、モータ31にて回動する回転カプラ32に対して、スポット型ダイレクトプラズマ電極ユニットU11、ライン型ダイレクトプラズマ電極ユニットU12、スポット型リモートプラズマ電極ユニットU13、ライン型リモートプラズマ電極ユニットU14を固着した。そして、回転カプラ32を回転させて、各電極ユニットU11〜U14のうち所望の1つを選択して基板14の所定の表面位置に対向配置させるようにした。
Next, effects of the embodiment configured as described above will be described below.
(1) According to the above embodiment, with respect to the
従って、一台のプラズマ処理装置30で各種のプラズマを発生させることができ、基板14に対して各種の表面処理を可能にし、生産効率を向上させることができる。
(2)しかも、上記実施形態によれば、回転カプラ32を回転するだけで、各電極ユニットU11〜U14の所望の1つを選択して基板14の所定の表面位置に対向配置させることができるため、各種のプラズマ処理への変更作業が非常に簡単かつ短時間で行える。
Accordingly, various plasmas can be generated by one
(2) In addition, according to the above-described embodiment, a desired one of the electrode units U11 to U14 can be selected and disposed to face a predetermined surface position of the
尚、上記実施形態は以下のように変更してもよい。
・上記第1実施形態では、カプラ16に対して、スポット型ダイレクトプラズマ電極ユニットU1、ライン型ダイレクトプラズマ電極ユニットU2、スポット型リモートプラズマ電極ユニットU3、ライン型リモートプラズマ電極ユニットU4の4種類が交換可能であった。これを、それ以外のプラズマ電極ユニットもカプラ16に対して交換可能にするようにして実施してもよい。
In addition, you may change the said embodiment as follows.
In the first embodiment, four types of the spot type direct plasma electrode unit U1, the line type direct plasma electrode unit U2, the spot type remote plasma electrode unit U3, and the line type remote plasma electrode unit U4 are exchanged for the
・上記第1実施形態では、ボルト23とネジ孔18でカプラ16に対して各プラズマ電極ユニットU1〜U4を取り外し可能連結したが、それ以外の方法で取り外し可能連結してもよい。
In the first embodiment, each plasma electrode unit U1 to U4 is detachably connected to the
・上記第2実施形態では、回転カプラ32にスポット型ダイレクトプラズマ電極ユニットU11、ライン型ダイレクトプラズマ電極ユニットU12、スポット型リモートプラズマ電極ユニットU13、ライン型リモートプラズマ電極ユニットU14の4種類を取着した。これを、これらと異なるプラズマ電極ユニットをさらに回転カプラ32に取着して実施してもよい。
In the second embodiment, four types of spot type direct plasma electrode unit U11, line type direct plasma electrode unit U12, spot type remote plasma electrode unit U13, and line type remote plasma electrode unit U14 are attached to the
・上記第2実施形態では、回転カプラ32にスポット型ダイレクトプラズマ電極ユニットU11、ライン型ダイレクトプラズマ電極ユニットU12、スポット型リモートプラズマ電極ユニットU13、ライン型リモートプラズマ電極ユニットU14の4種類を取着した。これを、少なくともいずれか1つ減らして、2個または3個のプラズマ電極ユニットを回転カプラ32に取着して実施してもよい。
In the second embodiment, four types of spot type direct plasma electrode unit U11, line type direct plasma electrode unit U12, spot type remote plasma electrode unit U13, and line type remote plasma electrode unit U14 are attached to the
・上記第2実施形態では、回転カプラ32に異なるプラズマ電極ユニットを取着した。これを、同じものを複数回転カプラ32に取着して実施してもよい。この場合、一つのプラズマ電極ユニットが損傷等で使用不能になっても、直ちに新たなものに交換できる。
In the second embodiment, different plasma electrode units are attached to the
U1,U11…スポット型ダイレクトプラズマ電極ユニット、U2,U12…ライン型ダイレクトプラズマ電極ユニット、U3,U13…スポット型リモートプラズマ電極ユニット、U4,U14…ライン型リモートプラズマ電極ユニット、10,30…プラズマ処理装置、11…処理室、15…支持装置、16…カプラ、17…嵌合穴、18…ネジ孔、21,25,28…カソード電極部、22…ベース電極部、23…ボルト、27,29…アノード電極部、31…モータ、32…回転カプラ。 U1, U11 ... Spot type direct plasma electrode unit, U2, U12 ... Line type direct plasma electrode unit, U3, U13 ... Spot type remote plasma electrode unit, U4, U14 ... Line type remote plasma electrode unit, 10, 30 ... Plasma treatment Apparatus, 11 ... processing chamber, 15 ... support device, 16 ... coupler, 17 ... fitting hole, 18 ... screw hole, 21, 25, 28 ... cathode electrode part, 22 ... base electrode part, 23 ... bolt, 27, 29 ... Anode electrode part, 31 ... motor, 32 ... rotary coupler.
Claims (6)
前記ステージの上方位置に配置され、その下側に複数のプラズマ電極ユニットを取着したテーブルと、
前記テーブルを移動させ、前記テーブルに配置した各プラズマ電極ユニットの1つを前記基板の所定の上方位置に配置するようにテーブル移動手段と
を設けたことを特徴とするプラズマ処理装置。 A plasma processing apparatus that exposes plasma generated by a plasma electrode unit to a surface of a substrate placed on a stage provided in a processing chamber, and processes the surface of the substrate,
A table disposed at an upper position of the stage and having a plurality of plasma electrode units attached to the lower side thereof;
A plasma processing apparatus, comprising: a table moving means for moving the table and disposing one of the plasma electrode units arranged on the table at a predetermined upper position of the substrate.
前記複数のプラズマ電極ユニットは、互いに種類の異なるプラズマ電極ユニットであることを特徴とするプラズマ処理装置。 The plasma processing apparatus according to claim 1,
The plasma processing apparatus, wherein the plurality of plasma electrode units are different types of plasma electrode units.
前記複数のプラズマ電極ユニットは、スポット型ダイレクトプラズマ電極ユニット、ライン型ダイレクトプラズマ電極ユニット、スポット型リモートプラズマ電極ユニット、ライン型リモートプラズマ電極ユニットであることを特徴とするプラズマ処理装置。 The plasma processing apparatus according to claim 2, wherein
The plasma processing apparatus, wherein the plurality of plasma electrode units are a spot type direct plasma electrode unit, a line type direct plasma electrode unit, a spot type remote plasma electrode unit, and a line type remote plasma electrode unit.
前記テーブルは、円板状の回転カプラであり、前記テーブル移動手段はモータであることを特徴とするプラズマ処理装置。 In the plasma processing apparatus of any one of Claims 1-3,
The plasma processing apparatus, wherein the table is a disk-shaped rotary coupler, and the table moving means is a motor.
前記支持装置に、前記プラズマ電極ユニットに設けた被連結部に対して着脱可能に連結する連結部を備えたカプラを設けたことを特徴とするプラズマ処理装置。 Plasma that processes the surface of the substrate by exposing the surface of the substrate placed on a stage provided in the processing chamber to plasma generated by a plasma electrode unit supported by a support device provided in the processing chamber. A processing device comprising:
A plasma processing apparatus, wherein the support device is provided with a coupler having a connecting portion detachably connected to a connected portion provided in the plasma electrode unit.
前記プラズマ電極ユニットに設けた被連結部はボルトであり、前記カプラに備えた連結部はネジ孔であることを特徴とするプラズマ処理装置。 The plasma processing apparatus according to claim 5, wherein
The plasma processing apparatus, wherein the connected portion provided in the plasma electrode unit is a bolt, and the connecting portion provided in the coupler is a screw hole.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2008080658A JP2009238878A (en) | 2008-03-26 | 2008-03-26 | Plasma processing device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2008080658A JP2009238878A (en) | 2008-03-26 | 2008-03-26 | Plasma processing device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2009238878A true JP2009238878A (en) | 2009-10-15 |
Family
ID=41252507
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2008080658A Pending JP2009238878A (en) | 2008-03-26 | 2008-03-26 | Plasma processing device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2009238878A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2021108294A3 (en) * | 2019-11-27 | 2021-07-08 | Applied Materials, Inc. | Processing chamber with multiple plasma units |
| US11721542B2 (en) | 2019-11-27 | 2023-08-08 | Applied Materials, Inc. | Dual plasma pre-clean for selective gap fill |
-
2008
- 2008-03-26 JP JP2008080658A patent/JP2009238878A/en active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| WO2021108294A3 (en) * | 2019-11-27 | 2021-07-08 | Applied Materials, Inc. | Processing chamber with multiple plasma units |
| US11721542B2 (en) | 2019-11-27 | 2023-08-08 | Applied Materials, Inc. | Dual plasma pre-clean for selective gap fill |
| US11955319B2 (en) | 2019-11-27 | 2024-04-09 | Applied Materials, Inc. | Processing chamber with multiple plasma units |
| US12230479B2 (en) | 2019-11-27 | 2025-02-18 | Applied Materials, Inc. | Processing chamber with multiple plasma units |
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