JP2009261684A

JP2009261684A - Ｘ線透視撮影装置、ｘ線透視撮影方法

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Publication number: JP2009261684A
Application number: JP2008115534A
Authority: JP
Inventors: Tomoji Sakai; 友治坂井
Original assignee: Hitachi Medical Corp
Current assignee: Hitachi Healthcare Manufacturing Ltd
Priority date: 2008-04-25
Filing date: 2008-04-25
Publication date: 2009-11-12
Anticipated expiration: 2028-04-25
Also published as: JP5390786B2

Abstract

【課題】被検体の被曝を低減し、迅速なＸ線条件の設定を可能とするＸ線透視撮影装置を提供する。
【解決手段】Ｘ線透視撮影装置１は、透視停止時に透視最終画像を保存し、透視停止中はＸ線絞りの位置を監視して絞り位置情報を取得する。Ｘ線透視撮影装置１は、透視停止中にＸ線絞りの位置が変更されると、透視最終画像と絞り位置情報とに基づいて、Ｘ線発生器を制御するＸ線制御部へフィードバックをかけてＸ線発生器のＸ線条件を最適化する。Ｘ線透視撮影装置１は、透視再開時に常に適切なＸ線条件に設定されているので、透視の効率化と被検体への不要な被曝を低減する。
【選択図】図１

Description

本発明は、被検体の生体組織を撮影するＸ線透視撮影装置に関する。詳細には、Ｘ線照射前にＸ線条件を設定するＸ線透視撮影装置に関する。

Ｘ線透視撮影装置は、Ｘ線発生器から被検体にＸ線を照射し、被検体を透過したＸ線をＸ線検出器で検出しＸ線透視画像を構成して表示させる装置である。Ｘ線透視撮影装置は、Ｘ線検出器で検出された信号を、Ｘ線発生器にフィードバックしてＸ線条件（照射されるＸ線量等）を決定する。

従来、Ｘ線透視撮影装置は、Ｘ線を被検体に照射しつつ被検体を透過して検出されるＸ線の検出量によって、照射するＸ線量を最適化した後、被検体の生体組織の撮影を行っていた。

また、Ｘ線発生器の被検体側に設けられるＸ線絞りの位置が変更されると、被検体に対して曝射されるＸ線の範囲が変更される。従って、Ｘ線絞りの位置が変更されれば、その都度、照射するＸ線量を再び最適化する必要がある。

被検体の付加的なＸ線被曝を低減するために、Ｘ線絞りの位置を制御コンピュータに送信する発信器をＸ線絞りに設け、絞り位置に応じてビデオ信号の、絞りによる作用を模擬する方法が開示されている（例えば、［特許文献１］参照。）。

特開平５−１０３２６３号公報

しかしながら、［特許文献１］は、実際に被検体にＸ線を照射することなく、元になる撮影画像に対して、絞りによる作用を算出して模擬的に表示させる技術であって、実際に被検体の撮影画像を得る場合には、Ｘ線を照射しつつ設定された絞りに対して最適Ｘ線量を決定する必要がある。
従って、実際にＸ線絞りを調整しつつＸ線量の調整を行っている間、被検体は不要な被曝に曝されることになる。

従来のＸ線透視撮影装置では、透視Ｘ線量を最適化するため、Ｘ線を被検体に照射し始めてからＸ線量が安定するまでに時間を要し、不安定なＸ線量によって透視される画像は有効な画像ではなく、被検体にとっては不要な被曝になってしまうという課題があった。

特に、透視開始後に透視の停止・再開を繰り返す場合、透視を再開する毎にＸ線透視撮影装置がＸ線量を最適化するので、透視再開毎に被検体は不要な被曝を受けるという問題点があった。
透視停止から透視再開の間に、Ｘ線絞りの位置が変更された場合には、Ｘ線条件（Ｘ線量）の最適化には更に時間を要するため、被検体の不要な被曝が問題となっていた。

本発明は、以上の課題に鑑みてなされたものであり、被検体の被曝を低減し、迅速なＸ線条件の設定を可能とするＸ線透視撮影装置を提供することを目的とする。

前述した目的を達成するための第１の発明は、被検体にＸ線を照射するＸ線発生器と、前記被検体に照射するＸ線量を調整するＸ線絞りと、前記被検体を透過したＸ線を検出するＸ線検出器と、検出されたＸ線情報に基づいてＸ線透視画像を構成して表示する表示装置と、を備えるＸ線透視撮影装置であって、透視停止時の透視最終画像を保存する最終画像保存手段と、前記Ｘ線絞りの絞り位置情報を取得する絞り位置情報取得手段と、前記透視最終画像と、前記絞り位置情報とに基づいてＸ線条件フィードバック信号を算出するフィードバック信号算出手段と、前記Ｘ線条件フィードバック信号に基づいて前記Ｘ線発生器のＸ線条件を設定するＸ線条件設定手段と、を具備することを特徴とするＸ線透視撮影装置である。

第１の発明のＸ線透視撮影装置は、透視停止時の透視最終画像を保存し、Ｘ線絞りの絞り位置情報を取得し、透視最終画像と絞り位置情報とに基づいてＸ線条件フィードバック信号を算出し、Ｘ線条件フィードバック信号に基づいてＸ線発生器のＸ線条件を設定する。

Ｘ線絞りは、Ｘ線発生器の被検体側に配置される。Ｘ線絞りは、被検体に照射するＸ線束を必要視野に制限し、被曝や散乱線の発生を抑える。
透視最終画像は、Ｘ線透視撮影装置による透視・撮影停止の直近に取得された透視画像である。保存される透視最終画像は、透視・撮影停止毎に更新される。
Ｘ線条件フィードバック信号に基づいて設定されるＸ線条件は、Ｘ線発生器が印加する電圧・電流の値である。Ｘ線発生器５から出力されるＸ線量はＸ線条件である電圧・電流の値に依存して決まる。

第１の発明では、Ｘ線透視撮影装置は、透視最終画像と絞り位置情報とに基づいてＸ線条件フィードバック信号を算出するので、Ｘ線条件の迅速な設定が行われ、被検体への不要な被曝を低減することができる。

また、Ｘ線透視撮影装置は、Ｘ線絞りの位置の変更に対応して、透視最終画像の画素値を元に算出される統計値と、変更された絞り位置情報とから、Ｘ線発生器に設定するＸ線条件フィードバック信号を算出するようにしてもよい。
また、Ｘ線透視撮影装置は、手動で選択されるＸ線透視画像の分割モードに応じて、Ｘ線条件のフィードバック信号を算出してもよい。予め分割モードに対するＸ線絞りの位置が設定されているので、絞り位置情報の取得が不要になり、迅速にＸ線条件フィードバック信号を算出することができる。

第２の発明は、被検体にＸ線を照射するＸ線発生器と、前記被検体に照射するＸ線量を調整するＸ線絞りと、前記被検体を透過したＸ線を検出するＸ線検出器と、検出されたＸ線情報に基づいてＸ線透視画像を構成して表示する表示装置と、を備えるＸ線透視撮影装置におけるＸ線透視撮影方法であって、透視停止時の透視最終画像を保存する最終画像保存ステップと、前記Ｘ線絞りの絞り位置情報を取得する絞り位置情報取得ステップと、前記透視最終画像と、前記絞り位置情報とに基づいてＸ線条件フィードバック信号を算出するフィードバック信号算出ステップと、前記Ｘ線条件フィードバック信号に基づいて前記Ｘ線発生器のＸ線条件を設定するＸ線条件設定ステップと、を含むことを特徴とするＸ線透視撮影方法である。

第２の発明は、第１の発明のＸ線透視撮影装置におけるＸ線透視撮影方法に関する発明である。

本発明によれば、被検体の被曝を低減し、迅速なＸ線条件の設定を可能とするＸ線透視撮影装置を提供することができる。

以下添付図面を参照しながら、本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。尚、以下の説明及び添付図面において、同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略することにする。

（１．Ｘ線透視撮影装置１の構成）
最初に、図１を参照しながら、Ｘ線透視撮影装置１の構成について説明する。
図１は、Ｘ線透視撮影装置１の構成を示す図である。
Ｘ線透視撮影装置１は、テーブル１５に固定した被検体１７にＸ線を照射するＸ線管３と、Ｘ線管３に電圧・電流を印加するＸ線発生器５と、不要なＸ線を遮断するＸ線可動絞り９と、Ｘ線管３と対向配置され被検体１７を透過した照射Ｘ線１３を検出するＸ線検出器１９と、Ｘ線透視画像を表示する画像表示装置２５等から構成される。

Ｘ線制御部７は、Ｘ線発生器５が印加する電圧・電流の値であるＸ線条件を制御する。Ｘ線発生器５から出力されるＸ線量はＸ線条件に依存する。Ｘ線制御部７は、フィードバック制御部３１から送られるＸ線条件の変更指示情報（フィードバック信号４５）に基づいてＸ線条件を変更する。
Ｘ線可動絞り制御部１１は、操作部（絞り操作部）２９から送られる絞り操作指示情報に応じてＸ線可動絞り９の位置や形状等を制御する。

Ｘ線検出データ読出部２１は、Ｘ線検出器１９によって検出された透視画像情報を読出し、画像処理部２３は読み出された透視画像情報の処理を行う。具体的には、画像処理部２３は、読み出された透視画像情報に対してオフセット補正、ゲイン補正などの各種補正処理を行い、さらに、補正された透視画像情報にダイナミックレンジ圧縮処理、フィルタ処理等の各種の画像処理を施して１フレーム分のＸ線透視画像を生成する。画像処理部２３は、例えば、１秒間に３０フレームのＸ線透視画像を生成する。
ＣＲＴや液晶表示装置等の画像表示装置２５は、画像処理の行われたＸ線透視画像を表示する。

操作部（絞り操作部）２９は、操作者が手動で操作する絞り位置変更操作部や、分割ボタン等により予め設定された絞り位置を設定する絞り設定部である。例えば、縦方向の左右の絞りの位置、横方向の上下の絞りの位置は、操作者の手動操作によりそれぞれ独立した位置設定が可能である。また、例えば画像の縦２分割、横２分割、４分割等の分割ボタンが押下されると、予め登録されているそれぞれの絞り位置情報が読み出されて、絞り位置が設定される。

操作部（絞り操作部）２９が操作されると、Ｘ線可動絞り制御部１１、Ｘ線条件制御部２７、フィードバック制御部３１、及びＸ線制御部７によってＸ線発生器５のＸ線条件の変更処理が行われる。

操作部（絞り操作部）２９が操作されると、Ｘ線可動絞り制御部１１からＸ線可動絞り９に位置変更指示情報が送られて絞り位置が変更され、同時にＸ線条件制御部２７に絞り位置変更情報（絞り位置情報４３）が通知される。

Ｘ線条件制御部２７は、Ｘ線可動絞り制御部１１から送られる絞り位置変更情報（絞り位置情報４３）と、画像処理部２３から送られる透視画像情報（Ｘ線透視画像画素値４１）に基づいて、Ｘ線条件変更に係る統計値（例えば平均画素値４４）を算出してフィードバック制御部３１に送る。Ｘ線条件制御部２７の処理の詳細については後述する。
フィードバック制御部３１は、Ｘ線条件の変更指示情報（フィードバック信号４５）をＸ線制御部７に送る。

（２．Ｘ線条件制御部２７の構成）
次に、図２を参照しながら、Ｘ線条件制御部２７の構成と処理の詳細について説明する。
図２は、Ｘ線条件制御部２７の構成を示す図である。

Ｘ線条件制御部２７は、画像取得部３３、画素値演算部３５、絞り位置情報取得部３７及び有効視野算出部３９から構成される。画像取得部３３は、画像処理部２３から透視画像情報（Ｘ線透視画像画素値４１）を取得し、画素値演算部３５に送る。

絞り位置情報取得部３７は、Ｘ線可動絞り制御部１１から、絞り位置情報４３を取得し有効視野算出部３９に送る。有効視野算出部３９は、Ｘ線の曝射範囲がＸ線可動絞り９によって制限されて実際にＸ線が照射される範囲を、有効視野として算出する。

画素値演算部３５は、所定の画素領域（採光野領域）に対して透視画像情報（Ｘ線透視画像画素値４１）と算出された有効視野に基づいて、Ｘ線条件を制御するための統計値（平均画素値４４）を算出し、フィードバック制御部３１に送る。

（３．Ｘ線条件制御部２７のハードウェア構成）
図３は、Ｘ線条件制御部２７のハードウェア構成を示す図である。
Ｘ線条件制御部２７は、ＣＰＵ１０１、主メモリ１０３、記憶装置１０５、表示メモリ１０７、画像表示装置２５、コントローラ１０９に接続されたマウス１１１やキーボード１１３が、システムバス１１５によって接続されて構成される。Ｘ線条件制御部２７は、システムバス１１５を介して他装置からの入力情報１１７を取得し、他装置へ出力情報１１９を送出する。

ＣＰＵ１０１は、各構成要素の動作を制御する装置である。ＣＰＵ１０１は、記憶装置１０５に格納されるプログラムやプログラム実行に必要なデータを主メモリ１０３にロードして実行する。記憶装置１０５は、Ｘ線透視撮影装置１により透視・撮影された透視画像情報を格納する装置である。また、記憶装置１０５には、ＣＰＵ１０１が実行するプログラムやプログラム実行に必要なデータが格納される。主メモリ１０３は、ＣＰＵ１０１が実行するプログラムや演算処理の途中経過を記憶するものである。

マウス１１１やキーボード１１３は、操作者がＸ線透視撮影装置１に対して操作指示を行う操作デバイスである。表示メモリ１０７は、液晶ディスプレイやＣＲＴ等の画像表示装置２５に表示するための表示データを格納するものである。コントローラ１０９は、マウス１１１の状態を検出して、画像表示装置２５上のマウスポインタの位置を検出し、検出信号をＣＰＵ１０１へ出力するものである。

入力情報１１７は、例えば、画像処理部２３から送られるＸ線透視画像画素値４１やＸ線可動絞り制御部１１から送られる絞り位置情報４３である。出力情報１１９は、例えば、フィードバック制御部３１に送られる平均画素値４４である。入力情報１１７や出力情報１１９は、システムバス１１５を介してオンラインで送受信するとしたが、ネットワーク等を介して送受信するようにしてもよい。

以上、Ｘ線条件制御部２７のハードウェア構成について説明したが、Ｘ線検出データ読出部２１、画像処理部２３、Ｘ線可動絞り制御部１１、Ｘ線制御部７、フィードバック制御部３１等もそれぞれＸ線条件制御部２７と同様な構成とするようにしてもよいし、部分的にハードウェア構成を共有するようにしてもよい。

＜第１実施形態＞
（４．Ｘ線透視撮影装置１の動作）
次に、図４〜図９を参照しながら、第１実施形態について説明する。

（４−１．全体動作）
図４は、Ｘ線透視撮影装置１の全体動作を示すフローチャートである。
操作者は、被検体１７をテーブル１５に固定し、Ｘ線透視スイッチをＯＮにする（ステップ１００１）。Ｘ線透視スイッチＯＮにすると、Ｘ線管３から被検体１７に向けてＸ線が照射される（ステップ１００２）。

Ｘ線条件制御部２７は、記憶装置１０５に透視最終画像が格納されているかどうかを判定する（ステップ１００３）。尚、記憶装置１０５に格納される透視最終画像は、格納されてから所定時間（例えば３０分）が経過すると消去されるようにしてもよい。また、被検体１７に関する最初のＸ線透視撮影の開始時には、透視最終画像は格納されていない。

記憶装置１０５に透視最終画像が格納されていなければ（ステップ１００３のＮＯ）、Ｘ線条件制御部２７はＸ線条件決定処理（１）を実行する（ステップ１００４）。

（４−２．Ｘ線条件決定処理（１））
次に、図５を参照しながら、Ｘ線条件決定処理（１）について説明する。
図５は、Ｘ線条件決定処理（１）を示すフローチャートである。

照射Ｘ線１３は被検体１７を透過しＸ線検出器１９で検出され、Ｘ線検出データ読出部２１で読み出される。検出された透過Ｘ線は画像処理部２３で処理される。Ｘ線条件制御部２７の画像取得部３３は、画像処理部２３から透視画像情報（Ｘ線透視画像画素値４１）を取得する（ステップ２００１）。

図８は透視画像情報２０１と採光野領域５９を説明する図である。採光野領域５９は、フィードバック信号の算出対象となる画素領域である。
透視画像情報２０１は、画像表示装置２５に表示される透視画像のデータであって、画像処理部２３からＸ線透視画像画素値４１として取得される。透視画像情報２０１の画素領域は、採光野領域５９と一致するとは限らない。例えば、Ｘ線可動絞り９によって有効視野が狭められた場合、透視画像情報２０１の画素領域は、採光野領域５９よりも狭くなることがある。
画素値演算部３５は、透視画像情報２０１に基づいて、採光野領域５９の全画素の平均画素値４４を算出し、フィードバック制御部３１に出力する（ステップ２００２）。尚、画素値演算部３５は、透視画像情報２０１の画素領域には含まれず、採光野領域５９に属する画素の画素値を黒値（画素値「０」）として算出する。

フィードバック制御部３１は、採光野領域５９の平均画素値４４をフィードバック信号４５に変換する変換テーブル、又は変換式を有する。フィードバック制御部３１は、平均画素値４４をフィードバック信号４５に変換してＸ線制御部７に送る（ステップ２００３）。
Ｘ線制御部７は、フィードバック信号４５に基づいてＸ線発生器５に印加する電圧・電流を変更し、Ｘ線発生器５が照射するＸ線量（Ｘ線条件）を変更する（ステップ２００４）。

このように、Ｘ線条件決定処理（１）では、Ｘ線透視スイッチＯＮの状態で、Ｘ線条件制御部２７は採光野領域５９の平均画素値４４をフィードバック制御部３１に送り、フィードバック制御部３１は平均画素値４４をフィードバック信号４５に変換してＸ線制御部７に送り、Ｘ線制御部７はＸ線発生器５のＸ線条件を最適化する。

Ｘ線条件決定処理（１）（ステップ２００１からステップ２００４の処理）が実行されることにより、Ｘ線透視撮影装置１のＸ線条件は最適化され、被検体１７の安定したＸ線透視画像を得ることができる。Ｘ線条件決定処理（１）実行後、ステップ１００５（図４）に進む。

（４−３．Ｘ線透視撮影装置１の処理とＸ線照射時間の関係）
ここで、Ｘ線透視撮影装置１の処理とＸ線照射時間の関係について説明する。
図７は、Ｘ線透視撮影装置１の処理とＸ線照射時間の関係を示す図である。縦軸は時間５１を示す。時間Ｔ_１〜時間Ｔ_６は、所要時間を示す。

被検体１７の最初の透視を透視（１）５３とする。透視の停止後、再開した透視を透視（２）５５、及び透視（３）５７とする。透視（１）５３、透視（２）５５、及び透視（３）５７に要する時間はそれぞれ時間Ｔ_１、時間Ｔ_４、及び時間Ｔ_６であり、その間は被検体１７に透視Ｘ線が照射される。
尚、時間Ｔ_３、時間Ｔ_５の期間は、Ｘ線透視撮影装置１の透視が停止中であり、その間は被検体１７に透視Ｘ線は照射されない。

最初の透視（１）５３のＸ線条件決定処理（１）（ステップ２００１からステップ２００４の処理）に要する時間Ｔ_２は、透視前にＸ線条件を最適化する時間である。Ｘ線条件決定処理（１）の時間Ｔ_２の間、被検体１７は不要な被曝を受けることになる。

（４−４．透視撮影実行と透視最終画像の保存）
Ｘ線条件決定処理（１）（図４：ステップ１００４）の終了後、又はステップ１００３（図４）において記憶装置１０５に透視最終画像が格納されている場合、Ｘ線透視撮影装置１は被検体１７のＸ線透視撮影を実行する（ステップ１００５）。後述するが、記憶装置１０５に透視最終画像が格納されている場合は、Ｘ線透視撮影装置１のＸ線条件は既に最適化されている。

尚、Ｘ線透視撮影を実行中（ステップ１００５）、操作者によって絞りの位置が変更されると、採光野領域５９の平均画素値４４が変化するのでＸ線条件制御部２７等によるフィードバック処理が行われＸ線条件が変更される。即ちステップ１００４のＸ線条件決定処理（１）と同様に、採光野領域５９の平均画素値４４に基づいてフィードバック処理が行われＸ線条件が最適化される。

操作者は、Ｘ線透視撮影装置１のＸ線透視スイッチをＯＦＦして、Ｘ線透視を停止する（ステップ１００６）。ステップ１００１からステップ１００６の透視に要する時間は、透視（１）５３（図７）の時間Ｔ_１で示される。

Ｘ線透視撮影装置１は、Ｘ線透視スイッチＯＦＦの直近の透視撮影画像を記憶装置１０５に保存する（ステップ１００７）。Ｘ線透視スイッチＯＦＦの直近の透視撮影画像を透視最終画像とする。

（４−５．Ｘ線条件決定処理（２））
Ｘ線透視撮影装置１は、Ｘ線透視スイッチＯＦＦのあと、Ｘ線条件決定処理（２）を実行する（ステップ１００８）。
図６を参照しながら、Ｘ線条件決定処理（２）について説明する。
図６は、Ｘ線条件決定処理（２）を示すフローチャートである。
Ｘ線条件制御部２７は、画像処理部２３からＸ線透視画像画素値４１である透視最終画像を取得する（ステップ３００１）。

次に、Ｘ線条件制御部２７は、Ｘ線可動絞り制御部１１から絞り位置情報４３を取得する（ステップ３００２）。取得された絞り位置情報４３と、透視最終画像の有効視野の形状及び面積は対応している。

透視停止の状態で、絞り位置情報４３に変更がない場合（ステップ３００３のＮＯ）、かつＸ線透視スイッチがＯＦＦの場合（ステップ３００９のＮＯ）は、Ｘ線透視撮影装置１は処理を行わず透視停止の状態を保つ。

透視停止の状態で、絞り位置情報４３に変更がない場合（ステップ３００３のＮＯ）、かつＸ線透視スイッチがＯＮになった場合（ステップ３００９のＹＥＳ）、Ｘ線透視撮影装置１はＸ線条件決定処理（２）を終了し、Ｘ線条件は変更されずステップ１００２（図４）に戻る。次のステップ１００３では、透視最終画像が保存されているので（ステップ１００３のＹＥＳ）、Ｘ線透視撮影装置１はすぐにＸ線透視撮影処理を実行する（ステップ１００５）。

Ｘ線透視スイッチＯＮ（ステップ３００９のＹＥＳ）からＸ線透視スイッチＯＦＦ（ステップ１００６）までの透視処理は、透視（２）５５（図７）で示され、透視処理に要する時間はＴ_４である。透視最終画像が保存されているので、透視（１）５３の場合のようなＸ線条件決定処理（１）は不要になる。

ステップ３００３（図６）に戻り、透視停止の状態で、操作者が操作部２９を操作して絞り位置情報４３に変更があった場合（ステップ３００３のＹＥＳ）、Ｘ線条件制御部２７は、保存している透視最終画像に基づいて採光野領域５９の平均画素値を算出する（ステップ３００４）。
即ち、採光野領域５９の全画素の画素値Ｐ_０〜Ｐ_ｎの平均画素値Ｐ_ｘを算出する。

Ｘ線条件制御部２７は、Ｘ線可動絞り制御部１１から、絞り位置変更後の絞り位置情報４３を取得し、絞り位置情報４３に基づいて有効視野を算出し、絞り位置変更後の採光野領域５９の平均画素値４４を算出する（ステップ３００５）。

図９を参照しながら、絞り位置変更と絞り位置変更後の採光野領域５９の平均画素値４４の算出処理（Ｘ線条件算出処理）について説明する。
図９は、Ｘ線条件算出画像２０２を示す図である。

Ｘ線条件制御部２７の絞り位置情報取得部３７は絞り位置変更後の絞り位置情報４３として、絞り左羽座標（Ｘ１）６５−１、絞り右羽座標（Ｘ２）６５−２、絞り上羽座標（Ｙ１）６５−３、絞り下羽座標（Ｙ２）６５−４を取得する。有効視野算出部３９は、絞り位置変更後の有効視野（Ｓ２）６３を算出する。

画素値演算部３５は、採光野領域５９にあって、絞り位置変更後に有効視野６３の範囲にない画素の画素値を黒値（画素値「０」）に置き換えて、当初の採光野領域５９の全画素の画素値をＰ_ｍ０〜Ｐ_ｍｎに置き換える。画素値演算部３５は、画素値Ｐ_ｍ０〜Ｐ_ｍｎの平均値Ｐ_ｍｘを算出して採光野領域５９の平均画素値４４とする。

画素値演算部３５は、絞り位置変更後の採光野領域５９の平均画素値４４をフィードバック制御部３１に出力する（ステップ３００６）。
フィードバック制御部３１は、変換テーブル、又は変換式に基づいて平均画素値４４（Ｐ_ｍｘ）をフィードバック信号４５に変換してＸ線制御部７に送る（ステップ３００７）。
Ｘ線制御部７は、フィードバック信号４５に基づいてＸ線発生器５に印加する電圧・電流を変更し、Ｘ線発生器５が照射するＸ線量（Ｘ線条件）を変更する（ステップ３００８）。

Ｘ線透視スイッチがＯＦＦの間は（ステップ３００９のＮＯ）、Ｘ線条件制御部２７はステップ３００３からステップ３００９の処理を繰り返し、絞り位置情報４３に変更がある毎にＸ線条件を変更する処理を行う。

Ｘ線透視スイッチがＯＮになると（ステップ３００９のＹＥＳ）、Ｘ線透視撮影装置１はＸ線条件決定処理（２）を終了し、ステップ１００２（図４）に戻る。次のステップ１００３では、透視最終画像が保存されているので（ステップ１００３のＹＥＳ）、Ｘ線透視撮影装置１はすぐにＸ線透視撮影処理を実行する（ステップ１００５）。この場合、Ｘ線透視スイッチＯＦＦの間にＸ線透視撮影装置１はＸ線条件決定処理（２）（ステップ１００８）を実行し、Ｘ線条件を最適化している。

Ｘ線透視スイッチＯＮ（ステップ３００９のＹＥＳ）からＸ線透視スイッチＯＦＦ（ステップ１００６）までの透視処理は、透視（３）５７（図７）で示され、透視処理に要する時間はＴ_６である。透視（２）５５終了後から透視（３）５７開始時までの時間Ｔ_５の間、Ｘ線条件決定処理（２）（ステップ１００８）が実行され、絞り位置が変更される毎にＸ線条件が最適化される。透視（３）５７の場合も、既に透視最終画像が保存されているので、透視（１）５３の場合のようなＸ線条件決定処理（１）は不要になる。

尚、Ｘ線条件決定処理（２）では、Ｘ線条件制御部２７が、絞り位置変更後の採光野領域５９の全画素の平均画素値を算出してフィードバック制御部３１に出力するとして説明したが、全画素の平均画素値の代わりに全画素の中央値を用いるようにしてもよい。

（４−６．第１実施形態の効果）
以上述べたように、第１実施形態では、Ｘ線透視撮影装置１は透視停止中のＸ線絞りの位置変更がある毎にＸ線発生器のＸ線条件を最適化するので、透視再開時には既にＸ線条件は適切に調整されている。従って、同一の被検体に対してＸ線透視撮影の停止・透視再開を繰り返す場合には、透視再開時のＸ線条件の最適化が不要なので効率的な撮影ができ、被検体への不要な被曝を低減することができる。

＜第２実施形態＞
（５．画像の分割モードの設定）
次に、図１０〜図１２を参照しながら、第２実施形態について説明する。
第２実施形態のＸ線透視撮影装置１は、操作部（絞り操作部）２９として、予め画像の分割が設定されている分割ボタンを備える。

図１０は、縦２分割ボタンによる縦２分割画面２０３を示す図である。操作者によって操作部（絞り操作部）２９の縦２分割ボタンが選択されると、絞り位置が、予め登録されている絞り左羽座標（Ｘ１）６９−１、絞り右羽座標（Ｘ２）６９−２に変更になり、有効視野６７が得られるよう予め設定されている。

図１１は、横２分割ボタンによる横２分割画面２０４を示す図である。操作部（絞り操作部）２９の横２分割ボタンが選択されると、絞り位置が、予め登録されている絞り上羽座標（Ｙ１）７３−１、絞り下羽座標（Ｙ２）７３−２に変更になり、有効視野７１が得られるよう予め設定されている。

図１２は、４分割ボタンによる４分割画面２０５を示す図である。操作部（絞り操作部）２９の４分割ボタンが選択されると、絞り位置が、予め登録されている絞り左羽座標（Ｘ１）６９−１、絞り右羽座標（Ｘ２）６９−２、絞り上羽座標（Ｙ１）７３−１、絞り下羽座標（Ｙ２）７３−２に変更になり、有効視野７５が得られるよう予め設定されている。

透視・撮影停止中に分割ボタンが選択されると、Ｘ線可動絞り９は予め分割ボタンに対応して登録されている絞り位置に切り替わり、Ｘ線条件制御部２７は絞り位置に対応する有効視野を得る。Ｘ線条件制御部２７は有効視野が変更された場合の採光野領域に対して、第１実施形態と同様に平均画素値４４を算出してフィードバック制御部３１に出力しＸ線条件の最適化を図る。
Ｘ線透視撮影装置１は、分割ボタンを選択することにより、Ｘ線条件制御部２７による絞り位置情報の取得処理と、有効視野算出処理とが不要になるので、Ｘ線条件の最適化処理の効率化を図ることができる。

以上述べたように、第２実施形態では、分割ボタンの選択により有効視野を即座に得ることができるので、連続的に変化する絞り位置情報を検出して有効視野を算出する処理が不要になり、Ｘ線条件の最適化処理の効率化を図ることができる。

（６．その他）
以上、第１実施形態、第２実施形態について説明したが、これらを組み合わせてＸ線透視撮影装置１を構成してもよい。

また、フィードバック信号の算出は、予め登録している採光野領域の平均画素値とフィードバック信号値を対応させる所定のテーブルを用いて算出してもよいし、所定の関係式で算出するようにしてもよい。

以上、本発明に係るＸ線透視撮影装置の好適な実施形態について説明したが、本発明はかかる例に限定されない。当業者であれば、本願で開示した技術的思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。

Ｘ線透視撮影装置１の構成を示す図Ｘ線条件制御部２７の構成を示す図Ｘ線条件制御部２７のハードウェア構成を示す図Ｘ線透視撮影装置１の動作のフローチャートを示す図Ｘ線条件決定処理（１）のフローチャートを示す図Ｘ線条件決定処理（２）のフローチャートを示す図Ｘ線透視撮影装置１の処理とＸ線照射時間の関係を示す図透視画像情報２０１と採光野領域５９を説明する図Ｘ線条件算出画像２０２を示す図縦２分割画面２０３を示す図横２分割画面２０４を示す図４分割画面２０５を示す図

符号の説明

１………Ｘ線透視撮影装置
３………Ｘ線管
５………Ｘ線発生器
７………Ｘ線制御部
９………Ｘ線可動絞り
１１………Ｘ線可動絞り制御部
１３………照射Ｘ線
１５………テーブル
１７………被検体
１９………Ｘ線検出器
２１………Ｘ線検出データ読出部
２３………画像処理部
２５………画像表示装置
２７………Ｘ線条件制御部
２９………操作部（絞り操作部）
３１………フィードバック制御部
３３………画像取得部
３５………画素値演算部
３７………絞り位置情報取得部
３９………有効視野算出部
４１………Ｘ線透視画像画素値
４３………絞り位置情報
４４………平均画素値
４５………フィードバック信号
５１………時間
５３、５５、５７………撮影
５９………採光野領域
６０、６３、６７、７１、７５………有効視野
６１………生体組織
６５−１、６５−２、６５−３、６５−４、６９−１、６９−２、７３−１，７３−２………絞り座標
１０１………ＣＰＵ
１０３………主メモリ
１０５………記憶装置
１０７………表示メモリ
１０９………コントローラ
１１１………マウス
１１３………キーボード
１１５………システムバス
１１７………入力情報
１１９………出力情報
２０１………透視画像情報
２０２………Ｘ線条件算出画像
２０３………縦２分割画面
２０４………横２分割画面
２０５………４分割画面

Claims

被検体にＸ線を照射するＸ線発生器と、前記被検体に照射するＸ線量を調整するＸ線絞りと、前記被検体を透過したＸ線を検出するＸ線検出器と、検出されたＸ線情報に基づいてＸ線透視画像を構成して表示する表示装置と、を備えるＸ線透視撮影装置であって、
透視停止時の透視最終画像を保存する最終画像保存手段と、
前記Ｘ線絞りの絞り位置情報を取得する絞り位置情報取得手段と、
前記透視最終画像と、前記絞り位置情報とに基づいてＸ線条件フィードバック信号を算出するフィードバック信号算出手段と、
前記Ｘ線条件フィードバック信号に基づいて前記Ｘ線発生器のＸ線条件を設定するＸ線条件設定手段と、
を具備することを特徴とするＸ線透視撮影装置。
前記フィードバック信号算出手段は、前記絞り位置情報の変更に対応して、前記透視最終画像の画素値を元に算出される統計値と、変更された前記絞り位置情報とから、前記Ｘ線発生器に設定する前記Ｘ線条件フィードバック信号を算出することを特徴とする請求項１に記載のＸ線透視撮影装置。
前記フィードバック信号算出手段は、手動で選択される前記Ｘ線透視画像の分割モードに応じて、Ｘ線条件のフィードバック信号を算出することを特徴とする請求項２に記載のＸ線透視撮影装置。
被検体にＸ線を照射するＸ線発生器と、前記被検体に照射するＸ線量を調整するＸ線絞りと、前記被検体を透過したＸ線を検出するＸ線検出器と、検出されたＸ線情報に基づいてＸ線透視画像を構成して表示する表示装置と、を備えるＸ線透視撮影装置におけるＸ線透視撮影方法であって、
透視停止時の透視最終画像を保存する最終画像保存ステップと、
前記Ｘ線絞りの絞り位置情報を取得する絞り位置情報取得ステップと、
前記透視最終画像と、前記絞り位置情報とに基づいてＸ線条件フィードバック信号を算出するフィードバック信号算出ステップと、
前記Ｘ線条件フィードバック信号に基づいて前記Ｘ線発生器のＸ線条件を設定するＸ線条件設定ステップと、
を含むことを特徴とするＸ線透視撮影方法。