JP2009260054A - Resin sealing apparatus and resin sealing method - Google Patents
Resin sealing apparatus and resin sealing method Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009260054A JP2009260054A JP2008107703A JP2008107703A JP2009260054A JP 2009260054 A JP2009260054 A JP 2009260054A JP 2008107703 A JP2008107703 A JP 2008107703A JP 2008107703 A JP2008107703 A JP 2008107703A JP 2009260054 A JP2009260054 A JP 2009260054A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pressure
- waveform
- pressure waveform
- allowable range
- standard
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000011347 resin Substances 0.000 title claims abstract description 54
- 229920005989 resin Polymers 0.000 title claims abstract description 54
- 238000007789 sealing Methods 0.000 title claims abstract description 39
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 23
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 claims description 20
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 11
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 abstract description 6
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 5
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 4
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 3
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 3
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- 238000012806 monitoring device Methods 0.000 description 2
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 2
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 2
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 239000012778 molding material Substances 0.000 description 1
- 239000008188 pellet Substances 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
- Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
Abstract
Description
本発明は、樹脂に対して圧力を付与しつつ樹脂を所定の形状に成形する樹脂成形の技術分野に関する。 The present invention relates to a technical field of resin molding in which a resin is molded into a predetermined shape while applying pressure to the resin.
従来、半導体チップが搭載された基板(被成型品)をキャビティ内に配置すると共に、溶融した樹脂を該キャビティの外部から圧力を掛けてキャビティ内に流し込んで封止する所謂「トランスファ方式」と称される樹脂封止装置が広く普及している。 Conventionally, a so-called “transfer method” in which a substrate (molded product) on which a semiconductor chip is mounted is placed in a cavity and molten resin is poured into the cavity by applying pressure from the outside of the cavity and sealed. Resin sealing devices are widely used.
また、近年、対向して配置された上型と下型の間に形成されるキャビティ内に基板および樹脂を配置すると共に、この状態で配置した樹脂を圧縮することによって基板を封止するいわゆる「圧縮方式」と称される樹脂封止装置も開発されている。 Also, in recent years, a substrate and a resin are disposed in a cavity formed between an upper mold and a lower mold that are disposed to face each other, and the substrate is sealed by compressing the resin disposed in this state. A resin sealing device called “compression method” has also been developed.
いずれの方式の場合においても、キャビティ内に封入された樹脂の圧力が封止作業の進行に伴ってどのように変化しているかという情報は、当該封止作業が正常に進行しているか否かを判定するための重要な判断材料となると考えられる。 In any case, the information on how the pressure of the resin sealed in the cavity changes with the progress of the sealing work is whether or not the sealing work is proceeding normally. It is considered that it becomes an important judgment material for judging.
この圧力特性の監視によって封止作業の正常・異常の判定を行おうとした場合、例えば、特許文献1に記載されている「機器の運転状態監視装置」に係る技術を当該樹脂封止の異常判定に応用することが考えられる。この運転状態監視装置は、機器の処理状態を表す状態信号をデジタル化して順次入力する状態信号入力手段と、入力起動信号をトリガにして上記状態信号の上記機器の処理が正常な状態の波形を基準信号(標準特性)として記憶する基準波形記憶手段と、上記状態信号の波形と上記基準の信号の波形とを上記入力起動信号をトリガにして順次比較する状態波形比較手段とを備えたことを特徴とするものである。
When it is attempted to determine the normality / abnormality of the sealing work by monitoring the pressure characteristics, for example, the technology related to the “apparatus operating state monitoring device” described in
この装置に係る技術を樹脂封止の異常判定に応用する場合、具体的には、正常に封止が行われた際の圧力特性を標準圧力として装置に予め記憶させておき、特性の取得開始タイミング(起動トリガ)を例えば充填開始からとするなど、共通の測定環境を維持した上で、実際の圧力をこの記憶された標準圧力と比較して両者の乖離の程度が所定の閾値を超えた場合に異常と判断することになると解される。 When applying the technology related to this device to abnormality determination of resin sealing, specifically, the pressure characteristics when sealing is performed normally are stored in advance as standard pressure in the device, and the acquisition of the characteristics is started. While maintaining a common measurement environment, for example, starting from the start of filling (start trigger), the actual pressure was compared with the stored standard pressure, and the degree of deviation between the two exceeded a predetermined threshold. It is understood that it will be judged as abnormal.
しかしながら、封止作業中の樹脂の実圧力は時間と共にさまざまなファクタの影響を受けて絶えず変化してゆくものであるため、この判定は、現実には必ずしも簡単ではない。 However, since the actual pressure of the resin during the sealing operation is constantly changing with the influence of various factors with time, this determination is not always easy in practice.
とりわけ、トランスファ方式の樹脂封止装置にあっては、キャビティ内の実圧力は、樹脂の充填速度、温度(粘度)、流動抵抗(金型のランナ、ゲート、キャビティ等の寸法や形状)等の影響を強く受け、極めて複雑に変化する。 In particular, in a transfer type resin sealing device, the actual pressure in the cavity is such as resin filling speed, temperature (viscosity), flow resistance (dimension runner, gate, cavity, etc. dimensions and shape), etc. It is highly influenced and changes very complexly.
また、実圧力の上昇勾配が時間と共に変化するため、標準圧力と実圧力の起動トリガの時間軸方向のずれの影響が一様でないことも大きな障害となる。例えば、図8に示したように、標準圧力Psに対して一定のマージン(許容圧力σh)を与えた場合を想定する。この場合、圧力変化の少ない時間帯(例えば時間T1の近辺)は特に問題とならないが、圧力変化の大きな時間帯(例えば時間T2の近辺)では、同じ許容圧力σhが与えられていても起動トリガが時間軸方向に少しずれただけで、異常と判定されてしまう恐れがある。 In addition, since the increase gradient of the actual pressure changes with time, it is a great obstacle that the influence of the deviation in the time axis direction between the start trigger of the standard pressure and the actual pressure is not uniform. For example, as shown in FIG. 8, it is assumed that a certain margin (allowable pressure σh) is given to the standard pressure Ps. In this case, a time zone in which the pressure change is small (for example, in the vicinity of the time T1) is not particularly problematic. However, in a time zone in which the pressure change is large (for example, in the vicinity of the time T2), even if the same allowable pressure σh is given, the activation trigger However, there is a risk that it will be judged as abnormal if it is slightly shifted in the time axis direction.
また、圧縮方式の樹脂封止装置の場合は、変動要素自体は少ないものの、実圧力の立ち上がりが急である分、標準圧力と実圧力の起動トリガのずれの影響はトランスファ方式の場合よりもむしろ大きく、圧力変化の大きい領域では僅かな起動トリガのずれが大きな圧力乖離要因となって誤判定を誘引する恐れがある。 In the case of the compression type resin sealing device, although the fluctuation factor itself is small, the effect of the deviation of the start trigger between the standard pressure and the actual pressure is rather than the case of the transfer method because of the steep rise of the actual pressure. In a large region where the pressure change is large, a slight deviation of the start trigger may cause a large pressure divergence and induce an erroneous determination.
本発明はこのような事情を考慮してなされたものであって、圧力変化が大きな領域においても、簡便な方法で樹脂封止の圧力異常判定を的確に行うことができるようにすることをその課題としている。 The present invention has been made in consideration of such circumstances, and is intended to enable accurate determination of resin sealing pressure abnormality by a simple method even in a region where the pressure change is large. It is an issue.
本発明は、キャビティ内に配置した被成型品を樹脂にて封止するための樹脂封止装置であって、標準となる圧力波形を記憶する手段と、前記キャビティ内の前記樹脂の実圧力を検出する手段と、前記標準圧力波形に基づいて前記実圧力の許容範囲を設定する手段と、前記実圧力が前記許容範囲を超えた場合に異常判定を行なう比較・判定手段と、を備え、特定の時点での前記許容範囲が、前記標準圧力波形における時間軸上の当該特定の時点以外の圧力値にも基づいていることにより上記課題を解決するものである。 The present invention is a resin sealing device for sealing a molded article placed in a cavity with a resin, which stores a standard pressure waveform and an actual pressure of the resin in the cavity. A means for detecting, a means for setting an allowable range of the actual pressure based on the standard pressure waveform, and a comparison / determination means for determining an abnormality when the actual pressure exceeds the allowable range. The above-described problem is solved by the fact that the permissible range at the point of time is based on pressure values other than the specific point on the time axis in the standard pressure waveform.
即ち、許容範囲を設定するにあたり、単に標準圧力波形に一律に一定のマージンを付与する(即ち、特定の時点の圧力値のみに基づいて一定のマージンを付与する)のではなく、標準圧力波形の他の時点の圧力値にも基づくことで、より適切な許容範囲の設定が可能となっている。 That is, in setting the allowable range, instead of simply giving a constant margin to the standard pressure waveform (that is, giving a constant margin based only on the pressure value at a specific time point), Based on the pressure values at other points in time, a more appropriate allowable range can be set.
具体的には、例えば、前記許容範囲を、前記標準圧力波形を所定の時間分だけ前後にスライドさせた範囲となるように設定する。このような手法で設定された許容範囲は、圧力変化が小さい領域では相対的に小さな許容範囲となり、一方で、圧力変化が大きい領域では相対的に大きな許容範囲となる。換言すれば、もともとの標準圧力において圧力変化が小さい領域では厳密な圧力管理が可能であると同時に、もともとの標準圧力において圧力変化が大きい領域では許容範囲にやや余裕を持たせ、比較・判定時の「重ね合わせ」に時間軸方向の多少のズレが生じている場合でも、誤判定が頻発することを効果的に防ぐことができる。更に、ここでの許容範囲の設定は、標準圧力波形を基にして所定時間分だけ前後させるだけで設定でき、非常に簡便である。 Specifically, for example, the allowable range is set to be a range in which the standard pressure waveform is slid back and forth for a predetermined time. The permissible range set by such a method is a relatively small permissible range in a region where the pressure change is small, while it is a relatively large permissible range in a region where the pressure change is large. In other words, strict pressure control is possible in the area where the pressure change is small at the original standard pressure, and at the same time, the allowance is given a little margin in the area where the pressure change is large at the original standard pressure. Even if there is a slight shift in the time axis direction in the “superposition”, it is possible to effectively prevent frequent erroneous determinations. Furthermore, the setting of the permissible range here is very simple because it can be set by moving it back and forth for a predetermined time based on the standard pressure waveform.
ここで、標準圧力波形が上昇と下降を繰り返すような波形である場合、即ち、標準圧力波形に下降勾配が存在する場合は、前記標準圧力波形に対して所定の時間分だけ前にスライドさせた波形を位相進み圧力波形とし、前記標準圧力波形に対して所定の時間分だけ後にスライドさせた波形を位相遅れ圧力波形としたときに、前記位相進み圧力波形の圧力値が前記標準圧力波形の圧力値以下となる領域、または、前記位相遅れ圧力波形の圧力値が前記標準圧力波形の圧力値以上となる領域では異常判定を行わないようにすることで、誤判定を予め防止することができる。 Here, when the standard pressure waveform is a waveform that repeatedly rises and falls, that is, when the standard pressure waveform has a descending gradient, the standard pressure waveform is slid forward by a predetermined time with respect to the standard pressure waveform. When the waveform is a phase advance pressure waveform, and the waveform slid after a predetermined time with respect to the standard pressure waveform is a phase delay pressure waveform, the pressure value of the phase advance pressure waveform is the pressure of the standard pressure waveform. It is possible to prevent erroneous determination in advance by not performing abnormality determination in a region where the pressure value of the phase lag pressure waveform is equal to or greater than the pressure value of the standard pressure waveform.
更に、前記許容範囲を、前記標準圧力波形を所定の圧力分だけ上下にスライドさせた範囲となるように設定すれば、標準圧力波形において殆ど圧力の変化がない領域においても一定の許容範囲を与えることができる。このように、標準圧力波形において相対的に圧力変化の少ない領域と、相対的に圧力変化の大きい領域とを区分してそれぞれ独立のパラメータで許容範囲を設定できるため、より的確な圧力異常判定が可能となっている。またここでも、許容範囲は、標準圧力波形を基準に所定の圧力分だけ上下させるだけで設定できるため、非常に簡便である。 Further, if the allowable range is set to be a range in which the standard pressure waveform is slid up and down by a predetermined pressure, a certain allowable range is given even in a region where there is almost no pressure change in the standard pressure waveform. be able to. In this way, an allowable range can be set with independent parameters by dividing a region with a relatively small pressure change and a region with a relatively large pressure change in the standard pressure waveform. It is possible. Also in this case, the allowable range is very simple because it can be set only by raising and lowering by a predetermined pressure with reference to the standard pressure waveform.
ここでも、標準圧力波形が上昇と下降を繰り返すような波形である場合、即ち、標準圧力波形に下降勾配が存在する場合は、前記標準圧力波形に対して所定の時間分だけ前にスライドさせ且つ所定の圧力分だけ上にスライドさせた波形を位相進み最大圧力波形とし、前記標準圧力波形に対して所定の時間分だけ後にスライドさせ且つ所定の圧力分だけ下にスライドさせた波形を位相遅れ最小圧力波形としたときに、前記位相進み最大圧力波形の圧力値が前記標準圧力波形の圧力値以下となる領域、または、前記位相遅れ最小圧力波形の圧力値が前記標準圧力波形の圧力値以上となる領域では異常判定を行わないようにすることで、誤判定を予め防止することができる。 Again, if the standard pressure waveform is a waveform that repeats rising and falling, that is, if there is a descending slope in the standard pressure waveform, the standard pressure waveform is slid forward by a predetermined time with respect to the standard pressure waveform, and The waveform slid up by a predetermined pressure is the phase advance maximum pressure waveform, and the waveform slid after a predetermined time and slid down by the predetermined pressure with respect to the standard pressure waveform is the minimum phase delay When the pressure waveform is set, the pressure value of the phase advance maximum pressure waveform is equal to or less than the pressure value of the standard pressure waveform, or the pressure value of the phase delay minimum pressure waveform is equal to or greater than the pressure value of the standard pressure waveform. In such a region, it is possible to prevent erroneous determination in advance by not performing abnormality determination.
また、前記許容範囲を、前記標準圧力波形における時点毎に、当該時点から前後所定時間範囲内の前記標準圧力波形の圧力サンプル値に基づいて設定してもよい。このようにすれば、1つのパラメータによって、圧力変化が少ない領域も圧力変化が大きな領域も一括して許容範囲を設定できる。 The permissible range may be set for each time point in the standard pressure waveform based on a pressure sample value of the standard pressure waveform within a predetermined time range before and after the time point. In this way, it is possible to set an allowable range collectively for a region where the pressure change is small and a region where the pressure change is large by one parameter.
例えば、前記所定範囲内の圧力サンプル値の最大値に基づいて前記許容範囲の上限を設定し、前記所定範囲内の圧力サンプル値の最小値に基づいて前記許容範囲の下限を設定する。 For example, the upper limit of the allowable range is set based on the maximum value of the pressure sample value within the predetermined range, and the lower limit of the allowable range is set based on the minimum value of the pressure sample value within the predetermined range.
またその設定の際に、当該時点からどの程度離れた時点での圧力サンプル値に基づいているかによって、前記許容範囲の設定に重み付けを与えれば、標準圧力波形の経時的な変化を考慮に入れた信頼度の高い許容範囲の設定が可能となる。 In addition, when setting the weight range, the change in the standard pressure waveform over time can be taken into account if the setting of the allowable range is weighted depending on how far from the time point the pressure sample value is based. It is possible to set an allowable range with high reliability.
また、前記異常判定を、特定の時間帯においてのみ行うような構成とすれば、完成品の品質に大きく影響を与える時間帯のみを監視し、それ以外の部分を監視外に置くことができる。その結果、処理する情報量が少なくなると共に、品質上それ程重要でない領域で誤判定がなされることを完全に排除することができる。 Further, if the abnormality determination is performed only in a specific time zone, only the time zone that greatly affects the quality of the finished product can be monitored, and the other parts can be left out of monitoring. As a result, the amount of information to be processed is reduced, and it is possible to completely eliminate erroneous determination in an area that is not so important in quality.
また、前記許容範囲の設定手法が、特定の時間帯毎に選択可能である構成とすれば、品質管理上の重要度や、圧力変化に応じて時間帯毎に最適な設定手法を選択でき、全体として最適な許容範囲を決定することができる。 In addition, if the setting method of the allowable range is selectable for each specific time zone, the optimum setting method can be selected for each time zone according to the importance in quality control and the pressure change, As a whole, the optimum tolerance can be determined.
本発明を適用することにより、圧力変化が大きな領域においても、簡便な方法で樹脂封止の圧力異常判定を的確に行うことができるようになる。 By applying the present invention, it is possible to accurately determine the pressure abnormality of the resin sealing even in a region where the pressure change is large by a simple method.
以下、添付図面を参照しつつ、本発明の実施形態の一例について詳細に説明する。 Hereinafter, an example of an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
図1は、本発明の実施形態が適用された樹脂封止装置の一例を示す概略構成平面図である。図2は、標準圧力波形と許容範囲の関係の第1例を表したグラフである。図3は、標準圧力波形と許容範囲の関係の第2例を表したグラフである。図4は、標準圧力波形と許容範囲の関係の第3例を表したグラフである。図5は、標準圧力波形と許容範囲の関係の第4例を表したグラフである。図6は、標準圧力波形と許容範囲の関係の第5例を表したグラフである。図7は、図6における時点T前後の拡大図である。なお、図2乃至図7のグラフは理解容易のため多少摸式化した表現としている。 FIG. 1 is a schematic configuration plan view showing an example of a resin sealing device to which an embodiment of the present invention is applied. FIG. 2 is a graph showing a first example of the relationship between the standard pressure waveform and the allowable range. FIG. 3 is a graph showing a second example of the relationship between the standard pressure waveform and the allowable range. FIG. 4 is a graph showing a third example of the relationship between the standard pressure waveform and the allowable range. FIG. 5 is a graph showing a fourth example of the relationship between the standard pressure waveform and the allowable range. FIG. 6 is a graph showing a fifth example of the relationship between the standard pressure waveform and the allowable range. FIG. 7 is an enlarged view before and after time T in FIG. Note that the graphs of FIGS. 2 to 7 are expressed in a somewhat simplified form for easy understanding.
<樹脂封止装置の構成>
この樹脂封止装置22の金型24は、上型26と下型28とを備える。上型26は、さらに上下に分割され、第1上型30とその上部に重ねられる第2上型32とから主に構成されている。第1上型30と第2上型32との間には、断熱層34が介在されている。
<Configuration of resin sealing device>
The mold 24 of the resin sealing device 22 includes an
第1上型30は、カル部36、封止対象である基板Kが配置される第1、第2凹部38、40、および封止樹脂が充填されるキャビティ42のうちの基板Kの上側に相当する上部キャビティ44を備える。第2上型32は、図1においては、その上下方向の厚さが第1上型30のそれとほぼ同一に描写されているが、実際には上型26の大半を占め、図示せぬ公知の取付ブロック等を介して固定プラテンに取り付けられている。
The first upper mold 30 is located above the substrate K among the cull portion 36, the first and second recesses 38 and 40 in which the substrate K to be sealed is disposed, and the cavity 42 filled with the sealing resin. A corresponding upper cavity 44 is provided. In FIG. 1, the second upper mold 32 has a vertical thickness that is substantially the same as that of the first upper mold 30, but actually occupies most of the
一方、下型28は、図示せぬ公知の取付ブロック、支持プレート等を介して可動プラテンに取り付けられている。なお、可動プラテンは図示せぬプレス装置と連結され、このプレス装置を駆動することによって進退動(図1における上下方向の移動)が可能とされ、上型26(具体的にはその第1上型30)に対して下型28を接離させ、金型24の型閉じ、型締めおよび型開きを行う。尤も、本発明においては、上型、下型のいずれが可動金型とされていてもよい。
On the other hand, the
下型28には、ランナ50および(キャビティ42のうちの基板Kの下側に相当する)下部キャビティ52が凹設されている。また、筒状のポット54が形成されており、このポット54内をプランジャ56が進退動自在に配設されている。
In the
プランジャ56にはロードセル等で構成された圧力センサ70が付設されており、樹脂の実圧力が計測できるようになっている。尤も、本発明においては、圧力センサの具体的構造や設置位置については特に限定されるものではない。むしろ、設置位置としては、封入樹脂は、完全な「流体」としての動きをするわけではないため、封止空間を構成するキャビティ42に近い位置に設置する方がより高精度の検出ができる場合がある。 The plunger 56 is provided with a pressure sensor 70 composed of a load cell or the like so that the actual pressure of the resin can be measured. However, in the present invention, the specific structure and installation position of the pressure sensor are not particularly limited. Rather, as the installation position, the encapsulated resin does not move as a complete “fluid”, and therefore it is possible to detect with higher accuracy by installing it at a position close to the cavity 42 that constitutes the sealed space. There is.
なお、符号72は、標準圧力波形の記憶部、74は、標準圧力波形を基に許容範囲を設定可能な演算部、78は、樹脂に掛かる実圧力が許容範囲内に収まっているか否かを判定することで封止の異常を判定するための比較・判定部である(後に詳述)。 Reference numeral 72 denotes a standard pressure waveform storage unit, 74 denotes a calculation unit capable of setting an allowable range based on the standard pressure waveform, and 78 denotes whether or not the actual pressure applied to the resin is within the allowable range. It is a comparison / determination unit for determining a sealing abnormality by determining (details will be described later).
<樹脂封止装置の作用>
プランジャ56がその下限位置に置かれた状態で、ポット54内にタブレット或いはペレット状等の樹脂材料(成形材料)58がセットされ、プランジャ56の上昇により、溶融温度下でカル部36、ランナ50を介して基板Kの上下に形成された上下キャビティ44、52内に該樹脂材料58が流入する。その後上型26および下型28によって型締めされた状態で温度上昇がなされ、樹脂が硬化した段階で型開きし、樹脂封止された基板Kが取り出される。
<Operation of resin sealing device>
With the plunger 56 placed at the lower limit position, a resin material (molding material) 58 such as a tablet or a pellet is set in the
この一連の作業の間、前処理として、この実施形態では、良好な封止が行われたときに検出された圧力特性を、標準圧力(標準圧力波形)として(即ち許容範囲を設定する際の基となる情報源として)予め記憶部72に記憶している。 During this series of operations, as a pretreatment, in this embodiment, the pressure characteristic detected when a good seal is performed is set as a standard pressure (standard pressure waveform) (that is, when an allowable range is set). The information is stored in the storage unit 72 in advance (as a basic information source).
更に、この標準圧力(標準圧力波形)に基づいて、許容範囲が設定される(この点の詳細は後述する。)。 Further, an allowable range is set based on this standard pressure (standard pressure waveform) (details of this point will be described later).
その上で、実際の封止作業時に封入樹脂の実圧力が圧力センサ70によりリアルタイムで検出され、比較・判定部78において「実圧力」と「設定された許容範囲」とが比較される。比較の結果、実圧力が設定された許容範囲を超えたときには「封止作業に何らかの異常が発生した」との判定がなされる。
Then, the actual pressure of the encapsulated resin is detected in real time by the pressure sensor 70 during the actual sealing operation, and the comparison /
例えば、何らかの原因で樹脂漏れ(あるいは溢れ)が生じた場合には、樹脂の実圧力は正常時のときよりも低くなる傾向となる。また、バリかす等の異物が残存・混入している場合には、その分の容積が樹脂の拡散空間として機能しなくなるため、正常時の標準圧力(標準圧力波形)よりも早めに高く立ち上がる傾向となる。そこで、実圧力が予め標準圧力波形に基づいて設定された所定の許容範囲を超えた場合に速やかに封止異常と判定するようにすれば、所定の処理あるいはメンテナンスを確実に且つ早期に行うことができるようになる。 For example, when a resin leak (or overflow) occurs for some reason, the actual pressure of the resin tends to be lower than when it is normal. In addition, when foreign matter such as burrs remains or mixes, the volume does not function as a resin diffusion space, so it tends to rise faster than the normal pressure (standard pressure waveform) at normal times. It becomes. Therefore, if the actual pressure exceeds a predetermined allowable range set based on the standard pressure waveform in advance, it is determined that the sealing abnormality is promptly performed, so that predetermined processing or maintenance can be performed reliably and quickly. Will be able to.
なお、実圧力が許容範囲内に収まっているか否かの判定に先立ち、標準圧力波形の時間軸と実圧力の時間軸とを何らかの共通のポイントを基準にして「重ね合わせる」作業が必要となるが、この手法としては、例えば前述の特許文献1の例のように文字通り時間軸上の特定の時点を基準にする場合と、可動部材の位置(例えばプランジャや可動金型の初期位置)を基準にする場合とが考えられる。時間軸上の特定の時点を基準にする場合は、トランスファ方式なら例えば充填の開始時点、圧縮方式なら例えば型締め開始時点等の起動トリガが発生した時点を基準として両特性を重ね合わせ、そこからの経過時間に対応させて実圧力が許容範囲を超えていないか否かを比較・判定することになる。一方、可動部材の位置を基準とする場合には、トランスファ方式なら例えば充填開始時のプランジャの位置、圧縮方式なら例えば型締めの開始時の可動金型の初期位置等を基準として重ね合わせ、そこからのプランジャや金型の移動距離に対応させて実圧力が許容範囲を超えていないか否かを比較・判定することになる。いずれの手法を用いた場合でも、本実施形態に拠れば的確な異常判定ができる。
Prior to determining whether or not the actual pressure is within the allowable range, it is necessary to perform an operation of “superimposing” the time axis of the standard pressure waveform and the time axis of the actual pressure on the basis of some common point. However, as this method, for example, as in the case of the above-mentioned
前記可動部材の位置を基準とする場合であっても、前記「可動位置」には、時間的前後の概念が含まれることから「広義の時間軸」と捉えることができるため、特許請求の範囲及び本明細書における「時間軸」の概念には、前記可動部材の位置を基準とする場合における「可動部材の位置の軸」の概念を含むものとする。 Even when the position of the movable member is used as a reference, the “movable position” includes a concept before and after the time, and thus can be regarded as a “wide time axis”. In addition, the concept of “time axis” in this specification includes the concept of “axis of position of movable member” when the position of the movable member is used as a reference.
<許容範囲の設定について>
次に、どのようにして許容範囲が設定されるかについて説明する。
<About setting the allowable range>
Next, how the allowable range is set will be described.
図2においてラインPs(実線で表示)は標準圧力波形、ラインPb(点線で表示)は標準圧力波形をそっくりそのまま指定時間幅t分だけ前(時間軸方向に前)にスライドさせた位相進み圧力波形、ラインPa(一点鎖線で表示)は標準圧力波形をそっくりそのまま指定時間幅t分だけ後(時間軸方向に後)にスライドさせた位相遅れ圧力波形をそれぞれ示している。その結果、位相進み圧力波形Pbと位相遅れ圧力波形Paに囲まれた範囲が許容範囲として設定される。即ち、位相進み圧力波形Pbが許容圧力の上限値として、および、位相遅れ圧力波形Paが許容圧力の下限値となる。このように、標準圧力波形Psを時間軸方向に所定の時間t分だけスライドさせて許容範囲が設定されることから、特定時点の許容範囲は、標準圧力波形Psにおける時間軸上の当該特定の時点以外の圧力値に基づいて設定されていることとなる。なお、ここでは指定時間tを位相進み側および位相遅れ側で同じとしているが、異なっていてもよい。 In FIG. 2, the line Ps (displayed by a solid line) is a standard pressure waveform, and the line Pb (displayed by a dotted line) is a phase advance pressure obtained by sliding the standard pressure waveform exactly the specified time width t (forward in the time axis direction). The waveform, line Pa (indicated by the alternate long and short dash line) shows a phase-lag pressure waveform obtained by sliding the standard pressure waveform as it is after the specified time width t (as viewed in the time axis direction). As a result, a range surrounded by the phase advance pressure waveform Pb and the phase delay pressure waveform Pa is set as an allowable range. That is, the phase advance pressure waveform Pb is the upper limit value of the allowable pressure, and the phase delay pressure waveform Pa is the lower limit value of the allowable pressure. In this way, the allowable range is set by sliding the standard pressure waveform Ps in the time axis direction for a predetermined time t. Therefore, the allowable range at a specific time point is the specific range on the time axis in the standard pressure waveform Ps. It is set based on the pressure value other than the time point. Here, the designated time t is the same on the phase advance side and the phase delay side, but may be different.
このような手法で設定された許容範囲は、圧力変化が小さい領域(例えば図1におけるT1近辺)では相対的に小さな許容範囲σ2となり、一方で、圧力変化が大きい領域(例えば図1におけるT2近辺)では相対的に大きな許容範囲σ1となる。換言すれば、もともとの標準圧力(標準圧力波形)において圧力変化が小さい領域では厳密な圧力管理が可能であると同時に、もともとの標準圧力(標準圧力波形)において圧力変化が大きい領域では許容範囲にやや余裕を持たせ、比較・判定時の「重ね合わせ」に時間軸方向の多少のズレが生じている場合でも、誤判定が頻発することを効果的に防ぐことができる。更に、ここでの許容範囲の設定は、標準圧力波形を基にして所定時間分だけ前後させるだけで設定でき、非常に簡便である。 The permissible range set by such a method is a relatively small permissible range σ2 in the region where the pressure change is small (for example, near T1 in FIG. 1), while the region where the pressure change is large (for example, near T2 in FIG. 1). ) Is a relatively large allowable range σ1. In other words, strict pressure control is possible in the region where the pressure change is small at the original standard pressure (standard pressure waveform), and at the same time, it is within the allowable range in the region where the pressure change is large at the original standard pressure (standard pressure waveform). Even if there is a slight margin, even if there is a slight shift in the time axis direction in the “superposition” at the time of comparison / determination, it is possible to effectively prevent frequent erroneous determinations. Furthermore, the setting of the permissible range here is very simple because it can be set by moving it back and forth for a predetermined time based on the standard pressure waveform.
ここで、図3に示しているように、標準圧力波形Psが上昇と下降を繰り返すような波形である場合、即ち、標準圧力波形Psに下降勾配が存在する場合は、例えば、位相進み圧力波形Pbの圧力値が標準圧力波形Psの圧力値以下となる領域β、または、位相遅れ圧力波形Paの圧力値が標準圧力波形Psの圧力値以上となる領域αでは異常判定を行わないようにすることで、誤判定を予め防止することができる。 Here, as shown in FIG. 3, when the standard pressure waveform Ps is a waveform that repeatedly rises and falls, that is, when the standard pressure waveform Ps has a descending gradient, for example, the phase advance pressure waveform In the region β where the pressure value of Pb is equal to or smaller than the pressure value of the standard pressure waveform Ps, or in the region α where the pressure value of the phase delay pressure waveform Pa is equal to or larger than the pressure value of the standard pressure waveform Ps, abnormality determination is not performed. Thus, erroneous determination can be prevented in advance.
次に図4においてラインPs(実線で表示)は標準圧力波形、ラインPb・max(点線で表示)は標準圧力波形をそっくりそのまま指定時間幅t分だけ前(時間軸方向に前)にスライドさせ且つ指定圧力幅p分だけ上(圧力軸方向に上)にスライドさせた位相進み最大圧力波形、ラインPa・min(一点差線で表示)は標準圧力波形をそっくりそのまま指定時間幅t分だけ後(時間軸方向に後)にスライドさせ且つ指定圧力幅p分だけ下(圧力軸方向に下)にスライドさせた位相遅れ最小圧力波形をそれぞれ示している。その結果、位相進み最大圧力波形Pb・maxと位相遅れ最小圧力波形Pa・minに囲まれた範囲が許容範囲として設定される。即ち、位相進み最大圧力波形Pb・maxが許容圧力の上限値として、および、位相遅れ最小圧力波形Pa・minが許容圧力の下限値となる。このように、標準圧力波形Psを時間軸方向に所定の時間t分だけスライドさせた上で、更に、圧力軸方向に指定圧力幅p分だけ許容範囲が設定されることから、特定時点の許容範囲は、標準圧力波形Psにおける時間軸上の当該特定の時点以外の圧力値に基づいて設定されていることとなる。なお、ここでは指定時間tを位相進み側および位相遅れ側で同じとし、更に、指定圧力幅pを上限値側と下限値側とで同じとしているが、異なっていてもよい。 Next, in FIG. 4, the line Ps (displayed by a solid line) is slid the standard pressure waveform, and the line Pb · max (displayed by a dotted line) is slid the standard pressure waveform as it is by the specified time width t (forward in the time axis direction). In addition, the phase advance maximum pressure waveform slid upward by the specified pressure width p (up in the pressure axis direction), the line Pa · min (indicated by a one-point difference line) is exactly the same as the standard pressure waveform after the specified time width t. The phase-lag minimum pressure waveforms are shown as being slid in the time axis direction (backward) and slid down by the specified pressure width p (down in the pressure axis direction). As a result, a range surrounded by the maximum phase advance pressure waveform Pb · max and the minimum phase delay pressure waveform Pa · min is set as an allowable range. That is, the phase advance maximum pressure waveform Pb · max is the upper limit value of the allowable pressure, and the phase delay minimum pressure waveform Pa · min is the lower limit value of the allowable pressure. In this way, the standard pressure waveform Ps is slid in the time axis direction for a predetermined time t, and further, an allowable range is set for the specified pressure width p in the pressure axis direction. The range is set based on pressure values other than the specific time point on the time axis in the standard pressure waveform Ps. Here, the designated time t is the same on the phase advance side and the phase lag side, and the designated pressure width p is the same on the upper limit value side and the lower limit value side, but they may be different.
このような手法で設定された許容範囲は、標準圧力波形Psにおいて殆ど圧力の変化がない領域においても一定の許容範囲を与えることができる。このように、標準圧力波形Psにおいて相対的に圧力変化の少ない領域と、相対的に圧力変化の大きい領域とを区分してそれぞれ独立のパラメータで許容範囲を設定できるため、より的確な圧力異常判定が可能となっている。またここでも、許容範囲は、標準圧力波形Psを基準に所定の時間分だけ前後にスライドさせた上で、所定の圧力分だけ上下にスライドさせるだけ(若しくはその逆)で設定できるため、非常に簡便である。 The permissible range set by such a method can give a constant permissible range even in a region where there is almost no pressure change in the standard pressure waveform Ps. As described above, since the allowable range can be set with independent parameters by dividing the region where the pressure change is relatively small and the region where the pressure change is relatively large in the standard pressure waveform Ps, more accurate pressure abnormality determination is possible. Is possible. In this case as well, the allowable range can be set by sliding back and forth for a predetermined time with reference to the standard pressure waveform Ps and then sliding up and down for the predetermined pressure (or vice versa). Convenient.
なおここでも、図5に示しているように、標準圧力波形Psが上昇と下降を繰り返すような波形である場合、即ち、標準圧力波形Psに下降勾配が存在する場合は、例えば、位相進み最大圧力波形Pb・maxの圧力値が標準圧力波形Psの圧力値以下となる領域β、または、位相遅れ最小圧力波形Pa・minの圧力値が標準圧力波形Psの圧力値以上となる領域αでは異常判定を行わないようにすることで、誤判定を予め防止することができる。 Also here, as shown in FIG. 5, when the standard pressure waveform Ps is a waveform that repeatedly rises and falls, that is, when there is a descending gradient in the standard pressure waveform Ps, for example, the phase advance maximum Abnormal in the region β where the pressure value of the pressure waveform Pb · max is less than or equal to the pressure value of the standard pressure waveform Ps, or in the region α where the pressure value of the phase delay minimum pressure waveform Pa · min is greater than or equal to the pressure value of the standard pressure waveform Ps. By preventing the determination, erroneous determination can be prevented in advance.
次に、図6、図7において、ラインPs(実線で表示)は標準圧力波形、ラインPmax(点線で表示)は許容範囲の上限値を示す波形、ラインPmin(一点差線で表示)は許容範囲の下限値を示す波形である。例えば、特定の時点Tの許容範囲(上限値および下限値)は、当該時点Tを基準に前後に指定時間幅t分までの特定時間範囲(Tx〜Tyまでの範囲)を設定し、当該特定時間範囲(Tx〜Ty)内の圧力値をサンプル値として決定される。例えば、特定時間範囲(Tx〜Ty)内を時間軸に沿って更に細かく区分した上で、これら区分毎の圧力値をサンプル値として取得する。図7に詳細に示しているように、時点T〜Txまでを5つに区分(Tn−1〜Tn−5)し、時点T〜Tyまでも5つに区分(Tn+1〜Tn+5)している。その結果、時点Tn−5(Tx)の圧力値をPn−5、時点Tn−4の圧力値をPn−4、時点Tn−3の圧力値をPn−3、時点Tn−2の圧力値をPn−2、時点Tn−1の圧力値をPn−1、時点Tn+1の圧力値をPn+1、時点Tn+2の圧力値をPn+2、時点Tn+3の圧力値をPn+3、時点Tn+4の圧力値をPn+4、時点Tn+5(Ty)の圧力値をPn+5として取得する。その上で、これらサンプル値を基に算出した値を許容範囲として設定する。なお、ここでの算出手法は特に限定されるものではなく、後述するように圧力サンプル値の最大値と最小値を利用したり、サンプル値の平均値を求めてその上下にマージンを加えたり、微分値、積分値やこれらを組み合せた値を加味する手法でもよい。また、これら圧力サンプル値に時点Tからの距離(時間的距離)に応じて重み付けを与えた上で算出してもよい。例えば、時点Tに近い圧力サンプル値ほど評価の重み付けが大きくなるように設定すれば、より標準圧力波形Psにおける圧力値の変化を機動的に捉えて許容範囲を設定することが可能となる。 Next, in FIG. 6 and FIG. 7, the line Ps (displayed by a solid line) is a standard pressure waveform, the line Pmax (displayed by a dotted line) is a waveform indicating the upper limit value of the allowable range, and the line Pmin (displayed by a one-point difference line) is allowable. It is a waveform which shows the lower limit of a range. For example, an allowable range (upper limit value and lower limit value) at a specific time point T is set by specifying a specific time range (range from Tx to Ty) up to a specified time width t before and after the time point T as a reference. A pressure value within the time range (Tx to Ty) is determined as a sample value. For example, after further dividing the specific time range (Tx to Ty) along the time axis, the pressure value for each section is acquired as a sample value. As shown in detail in FIG. 7, time T to Tx is divided into five (Tn-1 to Tn-5), and time T to Ty is also divided into five (Tn + 1 to Tn + 5). . As a result, the pressure value at time Tn-5 (Tx) is Pn-5, the pressure value at time Tn-4 is Pn-4, the pressure value at time Tn-3 is Pn-3, and the pressure value at time Tn-2 is Pn-2, pressure value at time point Tn-1 is Pn-1, pressure value at time point Tn + 1 is Pn + 1, pressure value at time point Tn + 2 is Pn + 2, pressure value at time point Tn + 3 is Pn + 3, pressure value at time point Tn + 4 is Pn + 4, time point Tn + 5 The pressure value of (Ty) is acquired as Pn + 5. Then, a value calculated based on these sample values is set as an allowable range. In addition, the calculation method here is not particularly limited, as described below, using the maximum and minimum values of the pressure sample value, obtaining an average value of the sample value and adding a margin above and below it, A method may be used in which a differential value, an integral value, or a combination of these values is taken into account. Alternatively, the pressure sample values may be calculated after weighting according to the distance from the time point T (temporal distance). For example, if the pressure sample value closer to the time point T is set so that the evaluation weight becomes larger, the allowable range can be set by more flexibly capturing the change in the pressure value in the standard pressure waveform Ps.
具体例として、図6および図7として示している例においては、これらサンプル値のうち、最大のもの(ここではPn−3)と最小のもの(ここではPn+5)を利用している。即ち、当該特定時間範囲(Tx〜Ty)内での最大圧力値Pxと最小圧力値Pyにそれぞれ指定圧力幅P1、P2分だけマージンを与えて設定される。より具体的には、時点Tの許容範囲の上限値PmaxTは、特定時間範囲(Tx〜Ty)内での最大圧力値Px(ここではPn−3)に指定圧力幅P1を加えた値となる。また、時点Tの許容範囲の下限値PminTは、特定時間範囲(Tx〜Ty)内での最小圧力値Py(ここではPn+5)から指定圧力幅P2を引いた値となる。同様に、その他のすべての時点においても、同様の手法により許容範囲の上限値と下限値が設定される。その結果、PmaxとPminに囲まれた範囲が許容範囲として設定されることとなる。このようにすれば、1つのパラメータによって、圧力変化が少ない領域も圧力変化が大きな領域も一括して許容範囲を設定でき便利である。なお、ここでは指定時間tを時点Tを基準に前後で同じとしているが、異なっていてもよい。また場合によっては、時点Tを基準に前側のみ、後側のみに指定時間tを設定してもよい。 As a specific example, in the example shown as FIG. 6 and FIG. 7, among these sample values, the maximum (here, Pn-3) and the minimum (here, Pn + 5) are used. That is, the maximum pressure value Px and the minimum pressure value Py within the specific time range (Tx to Ty) are set by giving margins for the designated pressure widths P1 and P2, respectively. More specifically, the upper limit value PmaxT of the allowable range at the time point T is a value obtained by adding the designated pressure range P1 to the maximum pressure value Px (here, Pn-3) within the specific time range (Tx to Ty). . Further, the lower limit value PminT of the allowable range at the time T is a value obtained by subtracting the designated pressure width P2 from the minimum pressure value Py (here, Pn + 5) within the specific time range (Tx to Ty). Similarly, at all other points in time, the upper limit value and the lower limit value of the allowable range are set by the same method. As a result, a range surrounded by Pmax and Pmin is set as an allowable range. In this way, it is convenient to set a permissible range for a region where the pressure change is small and a region where the pressure change is large by one parameter. Here, the designated time t is the same before and after the time T, but may be different. In some cases, the designated time t may be set only on the front side and only on the rear side with respect to the time point T.
また、上記では指定圧力幅P1、P2分の所謂「マージン」を付与しているが、これは必須のものではない。上記の例であれば、例えば、特定時間範囲(Tx〜Ty)内での最大圧力値Pxと最小圧力値Pyの値をそのまま許容範囲の上限値、下限値に設定することも可能である。更に指定圧力幅P1、P2を付与する場合においては、上限値側P1と下限値側P2で異なる値としてもよいし、一方側にのみ付与するような構成でもよい。更に、この指定圧力幅自体を何らかのパラメータにより(例えば微分値や積分値に応じて)変化させることも可能である。 In the above description, a so-called “margin” for the designated pressure ranges P1 and P2 is given, but this is not essential. In the above example, for example, the maximum pressure value Px and the minimum pressure value Py within the specific time range (Tx to Ty) can be set as the upper limit value and lower limit value of the allowable range as they are. Further, when the designated pressure ranges P1 and P2 are applied, different values may be applied to the upper limit value side P1 and the lower limit value side P2, or a configuration in which only one side is applied may be employed. Furthermore, the specified pressure width itself can be changed by some parameter (for example, according to a differential value or an integral value).
また、異常判定を、特定の時間帯においてのみ行うような構成とすれば、完成品の品質に大きく影響を与える時間帯のみを監視し、それ以外の部分を監視外に置くことができる。その結果、処理する情報量が少なくなると共に、品質上それ程重要でない領域で誤判定がなされることを完全に排除することができる。 Further, if the configuration is such that the abnormality determination is performed only in a specific time zone, only the time zone that greatly affects the quality of the finished product can be monitored, and the other parts can be left out of monitoring. As a result, the amount of information to be processed is reduced, and it is possible to completely eliminate erroneous determination in an area that is not so important in quality.
また、前記許容範囲の設定手法が、特定の時間帯毎に選択可能である構成とすれば、品質管理上の重要度や、圧力変化に応じて時間帯毎に最適な設定手法を選択でき、演算負荷と信頼度とのバランスが取れた全体として最適な許容範囲を決定することができる。 In addition, if the setting method of the allowable range is selectable for each specific time zone, the optimum setting method can be selected for each time zone according to the importance in quality control and the pressure change, It is possible to determine the optimum allowable range as a whole in which the calculation load and the reliability are balanced.
本発明は、半導体チップを搭載した基板を樹脂にて封止する樹脂封止装置としての適用はもちろん、広く樹脂成形装置に適用することが可能である。 The present invention can be widely applied to a resin molding apparatus as well as a resin sealing apparatus that seals a substrate on which a semiconductor chip is mounted with a resin.
22…樹脂封止装置
24…金型
26…上型
28…下型
42…キャビティ
50…ランナ
54…ポット
56…プランジャ
70…圧力センサ
72…記憶部
74…演算部
78…比較・判定部
K…基板(被成形品)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 22 ... Resin sealing device 24 ... Die 26 ... Upper die 28 ... Lower die 42 ...
Claims (10)
標準となる圧力波形を記憶する手段と、
前記キャビティ内の前記樹脂の実圧力を検出する手段と、
前記標準圧力波形に基づいて前記実圧力の許容範囲を設定する手段と、
前記実圧力が前記許容範囲を超えた場合に異常判定を行なう比較・判定手段と、を備え、
特定の時点での前記許容範囲が、前記標準圧力波形における時間軸上の当該特定の時点以外の圧力値にも基づいている
ことを特徴とする樹脂封止装置。 A resin sealing device for sealing a molded product arranged in a cavity with a resin,
Means for storing a standard pressure waveform;
Means for detecting the actual pressure of the resin in the cavity;
Means for setting an allowable range of the actual pressure based on the standard pressure waveform;
Comparing / determining means for performing abnormality determination when the actual pressure exceeds the allowable range,
The allowable range at a specific time point is also based on pressure values other than the specific time point on the time axis in the standard pressure waveform.
前記許容範囲が、前記標準圧力波形を所定の時間分だけ前後にスライドさせた範囲となるように設定される
ことを特徴とする樹脂封止装置。 In claim 1,
The resin sealing device, wherein the allowable range is set to be a range in which the standard pressure waveform is slid back and forth for a predetermined time.
前記標準圧力波形に対して所定の時間分だけ前にスライドさせた波形を位相進み圧力波形とし、前記標準圧力波形に対して所定の時間分だけ後にスライドさせた波形を位相遅れ圧力波形としたときに、
前記位相進み圧力波形の圧力値が前記標準圧力波形の圧力値以下となる領域、または、前記位相遅れ圧力波形の圧力値が前記標準圧力波形の圧力値以上となる領域では異常判定を行わない
ことを特徴とする樹脂封止装置。 In claim 2,
When a waveform slid by a predetermined time before the standard pressure waveform is a phase advance pressure waveform, and a waveform slid by a predetermined time with respect to the standard pressure waveform is a phase lag pressure waveform In addition,
Abnormality determination is not performed in a region where the pressure value of the phase advance pressure waveform is equal to or less than the pressure value of the standard pressure waveform, or in a region where the pressure value of the phase lag pressure waveform is equal to or greater than the pressure value of the standard pressure waveform. A resin sealing device.
更に、前記許容範囲が、前記標準圧力波形を所定の圧力分だけ上下にスライドさせた範囲となるように設定される
ことを特徴とする樹脂封止装置。 In claim 2 or 3,
Furthermore, the allowable range is set so as to be a range in which the standard pressure waveform is slid up and down by a predetermined pressure.
前記標準圧力波形に対して所定の時間分だけ前にスライドさせ且つ所定の圧力分だけ上にスライドさせた波形を位相進み最大圧力波形とし、前記標準圧力波形に対して所定の時間分だけ後にスライドさせ且つ所定の圧力分だけ下にスライドさせた波形を位相遅れ最小圧力波形としたときに、
前記位相進み最大圧力波形の圧力値が前記標準圧力波形の圧力値以下となる領域、または、前記位相遅れ最小圧力波形の圧力値が前記標準圧力波形の圧力値以上となる領域では異常判定を行わない
ことを特徴とする樹脂封止装置。 In claim 4,
A waveform that is slid forward by a predetermined time with respect to the standard pressure waveform and slid upward by a predetermined pressure is used as a phase advance maximum pressure waveform, and is slid by a predetermined time with respect to the standard pressure waveform. And when the waveform slid down by a predetermined pressure is the phase delay minimum pressure waveform,
Abnormality determination is performed in a region where the pressure value of the phase advance maximum pressure waveform is equal to or less than the pressure value of the standard pressure waveform, or in a region where the pressure value of the phase delay minimum pressure waveform is equal to or greater than the pressure value of the standard pressure waveform. There is no resin sealing device.
前記許容範囲が、前記標準圧力波形における時点毎に、当該時点から前後所定時間範囲内の前記標準圧力波形の圧力サンプル値に基づいて設定される
ことを特徴とする樹脂封止装置。 In claim 1,
The allowable range is set for each time point in the standard pressure waveform based on a pressure sample value of the standard pressure waveform within a predetermined time range before and after the time point.
前記所定時間範囲内の圧力サンプル値の最大値に基づいて前記許容範囲の上限を設定し、前記所定時間範囲内の圧力サンプル値の最小値に基づいて前記許容範囲の下限を設定する
ことを特徴とする樹脂封止装置。 In claim 6,
The upper limit of the allowable range is set based on the maximum value of the pressure sample value within the predetermined time range, and the lower limit of the allowable range is set based on the minimum value of the pressure sample value within the predetermined time range. Resin sealing device.
前記許容範囲が、前記標準圧力波形における時点毎に、当該時点から前後所定時間範囲内の前記標準圧力波形の圧力サンプル値に基づいて設定される際に、当該時点からどの程度離れた時点での圧力サンプル値に基づいているかによって、前記許容範囲の設定に重み付けが与えられる
ことを特徴とする樹脂封止装置。 In claim 6 or 7,
When the allowable range is set for each time point in the standard pressure waveform based on the pressure sample value of the standard pressure waveform within a predetermined time range before and after the time point, how far away from the time point Weighting is given to the setting of the allowable range depending on whether it is based on a pressure sample value.
前記異常判定が、特定の時間帯においてのみ行われる
ことを特徴とする樹脂封止装置。 In any one of Claims 1 thru | or 8.
The abnormality determination is performed only in a specific time zone.
前記許容範囲の設定手法が、特定の時間帯毎に選択可能である
ことを特徴とする樹脂封止装置。 In any one of Claims 1 thru | or 9,
The method for setting the allowable range can be selected for each specific time period.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2008107703A JP2009260054A (en) | 2008-04-17 | 2008-04-17 | Resin sealing apparatus and resin sealing method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2008107703A JP2009260054A (en) | 2008-04-17 | 2008-04-17 | Resin sealing apparatus and resin sealing method |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2009260054A true JP2009260054A (en) | 2009-11-05 |
Family
ID=41387105
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2008107703A Pending JP2009260054A (en) | 2008-04-17 | 2008-04-17 | Resin sealing apparatus and resin sealing method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2009260054A (en) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2011143786A1 (en) * | 2010-05-19 | 2011-11-24 | Kistler Holding Ag | Method for detecting insert objects in an injection-moulded part |
| JP2014136312A (en) * | 2013-01-15 | 2014-07-28 | Matsuda Seisakusho:Kk | Injection molding device and injection molding method |
| JP2019150861A (en) * | 2018-03-06 | 2019-09-12 | 東芝機械株式会社 | Injection device, molding machine and quality management program |
| JPWO2023140136A1 (en) * | 2022-01-20 | 2023-07-27 |
-
2008
- 2008-04-17 JP JP2008107703A patent/JP2009260054A/en active Pending
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2011143786A1 (en) * | 2010-05-19 | 2011-11-24 | Kistler Holding Ag | Method for detecting insert objects in an injection-moulded part |
| CN102892566A (en) * | 2010-05-19 | 2013-01-23 | 基斯特勒控股公司 | Method for detecting inserts in injection molded parts |
| JP2013526436A (en) * | 2010-05-19 | 2013-06-24 | キストラー ホールディング アクチエンゲゼルシャフト | Method for detecting inserts in injection molded parts |
| CN102892566B (en) * | 2010-05-19 | 2016-05-25 | 基斯特勒控股公司 | Method for detecting inserts in injection molded parts |
| KR101783501B1 (en) * | 2010-05-19 | 2017-09-29 | 키스틀러 홀딩 아게 | Method for detecting insert objects in an injection-moulded part |
| JP2014136312A (en) * | 2013-01-15 | 2014-07-28 | Matsuda Seisakusho:Kk | Injection molding device and injection molding method |
| JP2019150861A (en) * | 2018-03-06 | 2019-09-12 | 東芝機械株式会社 | Injection device, molding machine and quality management program |
| JP7064353B2 (en) | 2018-03-06 | 2022-05-10 | 芝浦機械株式会社 | Injection equipment, molding machines and quality control programs |
| JPWO2023140136A1 (en) * | 2022-01-20 | 2023-07-27 | ||
| WO2023140136A1 (en) * | 2022-01-20 | 2023-07-27 | 三菱電機株式会社 | Method for molding fiber-reinforced resin impeller and method for molding fiber-reinforced resin gear |
| JP7638404B2 (en) | 2022-01-20 | 2025-03-03 | 三菱電機株式会社 | Method for molding fiber-reinforced resin impellers, method for molding fiber-reinforced resin gears, and injection mold for fiber-reinforced resin impellers |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US9724863B2 (en) | Injection molding machine | |
| JP2010538877A (en) | Injection molding machine monitoring, data recording and / or control method and apparatus | |
| JP5351307B1 (en) | Pressure control device for injection molding machine | |
| JP2009260054A (en) | Resin sealing apparatus and resin sealing method | |
| EP3541593B1 (en) | Method for controlling valve gates using one or more strain gauges | |
| JP2009137076A (en) | Injection mold, method for detecting plasticization failure in injection molding, and injection molding method | |
| JP7293962B2 (en) | Molded product quality anomaly prediction system | |
| US11738388B2 (en) | Casting mold for die casting, and method for setting decompression path conductance thereof | |
| JP2009137073A (en) | Molding quality judgment method and molding quality judgment device | |
| US7981333B2 (en) | Method of setting mold clamping force of injection molding machine | |
| KR101919242B1 (en) | Checking system for injection mold | |
| JP3475725B2 (en) | Injection molding method and apparatus | |
| JP5980842B2 (en) | Method for determining molding quality of hollow molded products | |
| JP4975461B2 (en) | Resin sealing device | |
| JP6913467B2 (en) | Resin molding mold and resin molding equipment | |
| JP5661007B2 (en) | Injection device and injection control method thereof | |
| JP2008254011A (en) | Casting method and die casting machine | |
| JP5102186B2 (en) | Injection molding method and injection molding machine | |
| JP2009090594A (en) | Resin sealing device | |
| JP5151553B2 (en) | Resin injection apparatus, resin injection method, resin injection program, and recording medium | |
| JP4385008B2 (en) | Injection control method for injection molding machine | |
| KR20170082928A (en) | Device and method for controlling switchover of hold pressure in injection molding device | |
| JP2009269063A (en) | Detection system of die operation in die casting device | |
| KR102682311B1 (en) | Lubrication system for injection molding machine and control method thereof | |
| JP2011218629A (en) | Resin sealing apparatus and resin sealing method |