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JP2009258011A - 部分放電測定方法 - Google Patents

部分放電測定方法 Download PDF

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Abstract

【課題】部分放電信号の検出感度に優れる部分放電測定方法を提供する。
【解決手段】絶縁筒14を介して接続された金属シース13A及び13Bとの間にコンデンサ20を有する低インピーダンスのバイパス線21を設け、このバイパス線21に流れる部分放電電流を高周波変流器30で検出するようにしたので、部分放電信号を商用周波数から容易に分離できるとともに、部分放電信号に空気伝搬した外来ノイズが重畳しにくいことから、検出感度を向上させることができる。
【選択図】図1

Description

本発明は、部分放電測定方法に関する。
従来、高電圧電力設備に生じる部分放電を測定する部分放電測定方法として、例えば、電力ケーブルの表面に箔電極を設け、この箔電極を介して電力ケーブルの外部に取り出した部分放電パルスを検出インピーダンスを用いて測定するものがある(例えば、特許文献1参照)。
特開平7−174809号公報
しかし、従来の部分放電測定方法によると、部分放電を検出するにあたって高インピーダンスの検出器を用いているため、空気伝搬した外来ノイズが部分放電信号に重畳しやすく、そのことによって部分放電信号の検出感度を低下させるという問題がある。
従って、本発明の目的は、部分放電信号の検出感度に優れる部分放電測定方法を提供することにある。
本発明は、上記目的を達成するため、商用周波数におけるインピーダンスに対して部分放電の周波数帯域におけるインピーダンスが小となるコンデンサを有した測定用閉回路を測定対象の外部に設け、前記測定用閉回路を流れる部分放電電流を高周波変流器で検出することを特徴とする部分放電測定方法を提供する。
上記部分放電測定方法において、測定対象の外周に設置した絶縁筒で分割されたシース間を、コンデンサを介して接続して部分放電に基づく電流を通過させる測定用閉回路を形成しても良い。また、コンデンサを箔電極と測定対象を構成する絶縁物の一部を用いて形成することもできる。さらに、測定用閉回路を測定対象と接地との間に設けても良い。また、測定用閉回路を測定対象と設備ケースとの間に設けても良い。また、複数の測定対象をコンデンサを介して接続して測定用閉回路を形成するものであっても良い。
本発明の部分放電測定方法によれば、部分放電信号の検出感度を向上させることができる。
[第1の実施の形態]
図1は、本発明の第1の実施の形態に係る部分放電測定を行うために用いた構成を示す図である。
第1の実施の形態は、測定対象である電力ケーブル10の外部にコンデンサ20を有するバイパス線21を接続し、バイパス線21を流れる部分放電電流を高周波変流器30を介して部分放電信号を検出するものである。
電力ケーブル10は、導体11と、絶縁体12と、絶縁体12の外周に設けられる金属シース13A,13Bと、金属シース13A,13Bとを有し、金属シース13A,13Bの一部の外周にはそれらを絶縁する絶縁筒14が設けられる。
また、電力ケーブル10から部分放電信号を検出するものとして、バイパス線21に着脱可能に設けられる高周波変流器30と、高周波変流器30にリード線40を介して接続される電光変換部(E/O)50と、電光変換部(E/O)50と光ファイバ41で接続されて部分放電信号を測定する部分放電測定部(PDM)51と、部分放電測定部(PDM)51に信号線42を介して接続されるポータブル・コンピュータ(PC)52と、部分放電測定部(PDM)51に信号線43を介して接続されるスペクトラムアナライザ(SPEC)53と、部分放電測定部(PDM)51に信号線44を介して接続されて部分放電波形を観測するオシロスコープ(OSC)54とを有する。
バイパス線21は、金属シース13A及び金属シース13Bとの間に2個のコンデンサ20を有し、金属シース13A及び金属シース13Bの表面に図示しないそれぞれ箔電極を介して固定することにより、低インピーダンスの測定用閉回路を形成している。第1の実施の形態において測定用閉回路は、導体11−絶縁体12−金属シース13A−バイパス線21−コンデンサ20−バイパス線21−高周波変流器30−バイパス線21−コンデンサ20−バイパス線21−金属シース13B−絶縁体12−導体11となる。ここでコンデンサ20は、それぞれ500pF以上の容量を有するものを用いることが好ましい。なお、コンデンサは図示する2個以外の数で構成されても良い。
一般に、箔電極と検出インピーダンスを用いて部分放電を検出する場合、インピーダンス整合を得るために500Ωから1KΩ程度の検出インピーダンスが広く用いられており、部分放電測定は検出インピーダンスの両端に生じる電圧を検出することにより行われる。このような検出インピーダンスを用いる部分放電測定では、部分放電に基づく高周波信号に対して実質的に開放されている状態と同様の高インピーダンスとなる。
第1の実施の形態のバイパス線21は、箔電極を介して金属シース13Aと金属シース13Bの表面にそれぞれ固定されており、さらにコンデンサ20を有することで、商用周波数(50Hz〜60Hz)に対しては高インピーダンスとなるが、部分放電の周波数帯域(100kHz〜100MHz)である高周波信号に対しては低インピーダンスとなる。
次に、第1の実施の形態における部分放電測定動作について説明する。電力ケーブル10の外周に設置した絶縁筒14近傍で部分放電が発生すると、パルス状の部分放電電流が金属シース13Aからコンデンサ20を有するバイパス線21に流れる。高周波変流器30は、バイパス線21に流れる部分放電電流に基づいて生じた電流を信号線40を介して電光変換部(E/O)50に出力する。
電光変換部(E/O)50は、信号線40を介して入力する電流を光信号に変換し、光ファイバ41を介して部分放電測定装置(PDM)51に出力する。部分放電測定装置(PDM)51は、光ファイバ41を介して入力する光信号を入力することにより部分放電を測定する。この部分放電測定装置(PDM)51は、ポータブル・コンピュータ(PC)52から操作信号を入力することにより、部分放電測定の開始及び停止が制御される。部分放電測定に伴い、スペクトラムアナライザ(SPEC)53で光信号に含まれる周波数成分が可視的に表示され、オシロスコープ(OSC)54で部分放電測定中の波形観測状況が表示される。
(第1の実施の形態の効果)
上記した第1の実施の形態によると、絶縁筒14を介して接続された金属シース13A及び13Bとの間にコンデンサ20を有する低インピーダンスのバイパス線21を設け、このバイパス線21に流れる部分放電電流を高周波変流器30で検出するようにしたので、部分放電信号を商用周波数から容易に分離できるとともに、部分放電信号に空気伝搬した外来ノイズが重畳しにくいことから、検出感度を向上させることができる。
[第2の実施の形態]
図2は、本発明の第2の実施の形態に係る部分放電測定を行うために用いた構成を示す図である。なお、以下の説明において、第1の実施の形態と同様の構成及び機能を有する部分については共通の符号を付している。
第2の実施の形態は、第1の実施の形態で説明した金属シース13A及び金属シース13Bとの間に設けられる絶縁膜14が、金属シース13A及び金属シース13Bとを固定するボルト132及びナット133で短絡されている点、及び絶縁筒14の表面に設けられる箔電極31と金属シース13Bとの間にバイパス線21を設けている点において、第1の実施の形態と相違している。
金属シース13A及び金属シース13Bは、フランジ13aを有し、このフランジ13aとの間に設けられる絶縁筒14をボルト132及びナット133の締付けにより固定している。絶縁筒14は、ボルト132及びナット133によって短絡されていることにより、金属シース13Aと金属シース13Bとの間のインピーダンスはほぼ0になる。
バイパス線21は、箔電極31と金属シース13Bとを接続しており、そのことによって導体11を流れる部分放電電流を絶縁筒14を介して取り出す低インピーダンスの閉回路を形成している。電力ケーブル10の絶縁筒14近傍で部分放電が発生すると、部分放電電流が絶縁筒14から箔電極31を介してバイパス線21に流れる。高周波変流器30は、バイパス線21に流れる部分放電電流に基づいて生じた電流を信号線40を介して電光変換部(E/O)50に出力する。
(第2の実施の形態の効果)
上記した第2の実施の形態によると、ボルト132及びナット133によって短絡された絶縁筒14の表面に箔電極31を介してバイパス線21の一端を接続し、バイパス線21の他端を金属シースに接続するようにしても、箔電極31と測定対象である電力ケーブル10の外周に設置した絶縁筒14の一部を用いてコンデンサを設けることができ、第1の実施の形態と同様に部分放電信号に空気伝搬した外来ノイズが重畳しにくく、良好な検出感度が得られる。なお、第2の実施の形態では、バイパス線21の他端を金属シース13Bに接続する構成を説明したが、金属シース13Aに接続しても良い。
[第3の実施の形態]
図3は、本発明の第3の実施の形態に係る部分放電測定を行うために用いた構成を示す図である。
第3の実施の形態は、第1の実施の形態で説明したコンデンサ20を有するバイパス線21を接地線として設け、金属シース13と接地との間に低インピーダンスの閉回路を設けている点において、第1の実施の形態と相違している。
バイパス線21は、任意の長さで金属シース13Aと接地との間に設けられており、そのことによって低インピーダンスのバイパス回路を形成している。
(第3の実施の形態の効果)
上記した第3の実施の形態によると、金属シース13と接地との間にコンデンサ20を有するバイパス線21を設けているので、部分放電の測定対象として、系統運用上、金属シース13を直接接地できない場合があっても、商用周波数に対しては高インピーダンスで、部分放電に基づく高周波信号に対しては低インピーダンスのバイパス線21を安全かつ容易に設けることができ、良好な検出感度で部分放電測定を行うことができる。
また、図4に示すように、電力ケーブル10で金属シース13と接地との間に接地線22が設けられているものでは、この接地線22に高周波変流器30を設ける方法も考えられるが、接地線22の長さが大であると、コンダクタンス成分の存在によって高インピーダンスとなり、部分放電に基づく高周波信号が流れにくくなる。この場合についても第3の実施の形態のバイパス線21は良好な検出感度で部分放電測定を行うことができる。
[第4の実施の形態]
図5は、本発明の第4の実施の形態に係る部分放電測定を行うために用いた構成を示す図である。
第4の実施の形態は、測定対象としてガス絶縁開閉装置の設備ケース16と、設備ケース上に設けられているブッシング15とを有し、ブッシング15を構成する碍子17の表面に箔電極31を設け、このブッシング15と設備ケース16との間をバイパス線21で接続する点において、第1の実施の形態と相違している。
バイパス線21は、ブッシング15の下部表面に設けられる箔電極31に一端を接続し、設備ケース16の上部側面に設けられる接地板32に他端が接続されている。このように接続することで、バイパス線21とブッシング15とがコンデンサカップリングされることにより、部分放電に基づく高周波信号に対して低インピーダンスの閉回路が形成される。
(第4の実施の形態の効果)
上記した第4の実施の形態によると、ガス絶縁開閉装置においてもケーブル及びケーブル端末部(箱)等の測定対象と同様にコンデンサカップリングに基づく低インピーダンスの閉回路を設けることで、従来、対地コンデンサを用いて行っていた電力ケーブルの絶縁接続部における部分放電測定方法に比べて検出感度に優れる部分放電測定を行うことができる。
なお、第4の実施の形態では、ガス絶縁開閉装置に部分放電を測定するための低インピーダンスの閉回路を設ける構成を説明したが、例えば、変圧器の気中端末部(箱)等についても同様に部分放電の測定が可能である。
[第5の実施の形態]
図6は、本発明の第5の実施の形態に係る部分放電測定を行うために用いた構成を示す図である。
第5の実施の形態は、第4の実施の形態で説明したブッシング15について、同一電源で課電された同位相の2相の測定対象の間にバイパス線21を設け、このバイパス線21から部分放電信号を高周波変流器30で取り出す点において、第4の実施の形態と相違している。
2相のブッシングは、複導体線路を構成するブッシングであって、例えば、R相の碍子17Aと碍子17Bとを有し、碍子17Aの基部である下部金具18Aと、碍子17Bの基部である下部金具18Bとが2個のコンデンサ20を有したバイパス線21で接続されるとともに、碍子17Aの上部金具170と碍子17Bの上部金具171の上部とが連接線19で接続されることによって低インピーダンスの閉回路を形成している。なお、第5の実施の形態では、同位相間を連接線19で接続するものとしてR相のブッシング同士を接続する構成を説明したが、T相又はS相同士の測定対象を接続する構成であっても良い。
(第5の実施の形態の効果)
上記した第5の実施の形態によると、同位相の2相の測定対象の間に布設したバイパス線21によって低インピーダンスの閉回路を設けることで、検出感度に優れ、単相での部分放電測定と比べて効率良く部分放電測定を行うことができる。部分放電が生じている場合、その発生源がどの相に生じているかは、部分放電測定装置(PDM)51で位相を調べることにより把握することができる。
[第6の実施の形態]
図7は、本発明の第6の実施の形態に係る部分放電測定を行うために用いた構成を示す図である。
第6の実施の形態は、第5の実施の形態で説明した同一電源で課電された同位相の2相間を接続するバイパス線21を設ける構成を絶縁筒14A,14Bで分割された電力ケーブル10A,10Bに適用した点において、第5の実施の形態と相違している
電力ケーブル10Aは、金属シース130Aと金属シース130Bとが絶縁筒14Aによって分割されており、電力ケーブル10Bは、金属シース131Aと金属シース131Bとが絶縁筒14Bによって分割されている。金属シース130Aと金属シース131Aとの間にはバイパス線21Aが設けられており、金属シース130Bと金属シース131Bとの間にはバイパス線21Bが設けられている。また、バイパス線21Aとバイパス線21Bは、バイパス線の一部を構成する短絡線22によって接続されており、短絡線22には高周波変流器30が設けられている。また、連接線19は2つの導体11A(例えば、R相)を接続している。
(第6の実施の形態の効果)
上記した第6の実施の形態によると、絶縁筒で分割された同位相の2相のケーブルであっても、第5の実施の形態と同様に検出感度に優れ、単相での部分放電測定と比べて効率良く部分放電測定を行うことができる。
[他の実施の形態]
なお、本発明は、上記実施の形態に限定されず、本発明の技術思想を逸脱あるいは変更しない範囲内で種々な変形が可能である。例えば、金属シースは表面が防食層で覆われているものであっても良い。
図1は、本発明の第1の実施の形態に係る部分放電測定を行うために用いた構成を示す図である。 図2は、本発明の第2の実施の形態に係る部分放電測定を行うために用いた構成を示す図である。 図3は、本発明の第3の実施の形態に係る部分放電測定を行うために用いた構成を示す図である。 図4は、金属シースと接地との間に接地線が設けられている電力ケーブル部分的に示す図である。 図5は、本発明の第4の実施の形態に係る部分放電測定を行うために用いた構成を示す図である。 図6は、本発明の第5の実施の形態に係る部分放電測定を行うために用いた構成を示す図である。 図7は、本発明の第6の実施の形態に係る部分放電測定を行うために用いた構成を示す図である。
符号の説明
10…電力ケーブル、11…導体、12…絶縁体、13,13A,13B,130A,130B,131A,131B…金属シース、13a…フランジ、14,14A,14B…絶縁筒、15…ブッシング、16…設備ケース、17,17A,17B…碍子、18A,18B…基部、19…連接線、20…コンデンサ、21,21A,21B…バイパス線、22…短絡線、30…高周波変流器、31…箔電極、40,42,43,44…リード線、41…光ファイバ、51…部分放電測定装置(PDM)、52…ポータブル・コンピュータ(PC)、53…スペクトラムアナライザ(SPEC)、54…オシロスコープ(OSC)、132…ボルト、133…ナット、170…上部金具、171…上部金具

Claims (6)

  1. 商用周波数におけるインピーダンスに対して部分放電の周波数帯域におけるインピーダンスが小となるコンデンサを有した測定用閉回路を測定対象の外部に設け、
    前記測定用閉回路を流れる部分放電電流を高周波変流器で検出することを特徴とする部分放電測定方法。
  2. 前記測定対象の外周に設置した絶縁筒で分割されたシース間を、前記コンデンサを介して接続して部分放電に基づく電流を通過させる前記測定用閉回路を形成することを特徴とする請求項1に記載の部分放電測定方法。
  3. 前記コンデンサを箔電極と前記測定対象を構成する絶縁物の一部を用いて形成することを特徴とする請求項1に記載の部分放電測定方法。
  4. 前記測定用閉回路を前記測定対象と接地との間に設けることを特徴とする請求項1に記載の部分放電測定方法。
  5. 前記測定用閉回路を前記測定対象と設備ケースとの間に設けることを特徴とする請求項1に記載の部分放電測定方法。
  6. 複数の前記測定対象を前記コンデンサを介して接続して前記測定用閉回路を形成することを特徴とする請求項1に記載の部分放電測定方法。
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