JP2009108162A - 樹脂組成物及び樹脂組成物を使用して作製した半導体装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】銀粉(A)、熱硬化性樹脂(B)、少なくとも1つの一般式(1)で示される結合と少なくとも1つのアルコキシシリル基を有する化合物(C)を含む樹脂組成物であって、前記化合物(C)の50%以上が一般式(1)におけるnが2である化合物であることを特徴とする樹脂組成物及び該樹脂組成物を使用して作製したことを特徴とする半導体装置である。
【選択図】図2
Description
このような多孔質絶縁膜は、その構造上一般的に機械的強度か弱いという問題がある。すなわち従来の絶縁膜を使用した半導体素子に比較して外部からのストレスに対して敏感で、これまで問題とされなかったストレスでも絶縁膜の破壊に至る場合がある。
そこで発生するストレスを少なくするために、封止材料、ダイアタッチ材料などの半導体構成材料に対して低応力性のものが要求されると共に、半導体生産プロセスの見直しも行われている。
半導体素子をリードフレーム、有機基板などの支持体に接着するダイアタッチプロセスにおいては、ダイアタッチ後に半導体素子と支持体の熱膨張率の異なりに基づく反りが発生するが、過度の反りは層間絶縁膜のダメージの原因となるため、反りの小さいダイアタッチ材料が求められると共に低温で硬化することが可能な硬化性に優れる材料が求められている。(例えば、特許文献1参照。)
一般に低温での硬化性をよくすると室温での粘度上昇も短時間でおこり、またワイヤボンド時、半田リフロー時などの高温プロセス下での接着力が低下するといった傾向があった。
[1](A)銀粉、(B)熱硬化性樹脂、(C)少なくとも1つの一般式(1)で示される結合と少なくとも1つのアルコキシシリル基を有する化合物を含む樹脂組成物であって、前記少なくとも1つの一般式(1)で示される結合と少なくとも1つのアルコキシシリル基を有する化合物(C)の50%以上が一般式(1)におけるnが2である化合物であることを特徴とする樹脂組成物。
−(S)n− (1)
nは1〜10の整数
[3]前記熱硬化性樹脂(B)が、シアネート樹脂、エポキシ樹脂、ラジカル重合性のアクリル樹脂、マレイミド樹脂のいずれかを含むことを特徴とする前記[1]項記載の樹脂組成物。
[4]前記[1]〜[3]項のいずれか1項に記載の樹脂組成物を半導体用ダイアタッチペーストまたは放熱部材接着用材料として用いて作製したことを特徴とする半導体装置。
−(S)n− (1)
nは1〜10の整数
本発明に用いる銀粉(A)は、純銀または銀合金の微粉末である。銀合金としては銀を50重量%以上、好ましくは70重量%以上含有する銀−銅合金、銀−パラジウム合金、銀−錫合金、銀−亜鉛合金、銀−マグネシウム合金、銀−ニッケル合金などが挙げられる。銀が好ましいのは良好な導電性、熱伝導性を有する上に酸化されにくく加工性にも優れるからである。また後述する化合物(C)と反応可能で樹脂組成物を硬化した場合に良好な機械的特性を示すからである。
通常電子材料用として市販されている銀粉であれば、還元粉、アトマイズ粉などが入手可能で、好ましい粒径としては平均粒径が0.5μm以上、30μm以下である。より好ましい平均粒径は1μm以上、10μm以下である。下限値以下では樹脂組成物の粘度が高くなりすぎ、上限値以上ではディスペンス時にノズル詰まりの原因となりうるからであり、電子材料用以外の銀粉ではイオン性不純物の量が多い場合があるので注意が必要である。必要により平均粒径が1μm以下の金属粉との併用も可能である。
銀粉(A)の形状としては、フレーク状、球状など特に限定されないが、好ましくはフレーク状のものを使用し、通常樹脂組成物中70重量%以上、95重量%以下含まれる。銀粉の割合が下限値より少ない場合には導電性が悪化し、上限値より多い場合には樹脂組成物の粘度が高くなりすぎるためである。
フェニル、ビス(4−シアナトフェニル)メタン、ビス(3,5−ジメチル−4−シアナトフェニル)メタン、2,2−ビス(4−シアナトフェニル)プロパン、2,2−ビス(3,5−ジブロモ−4−シアナトフェニル)プロパン、ビス(4−シアナトフェニル)エーテル、ビス(4−シアナトフェニル)チオエーテル、ビス(4−シアナトフェニル)スルホン、トリス(4−シアナトフェニル)ホスファイト、トリス(4−シアナトフェニル)ホスフェート、及びノボラック樹脂とハロゲン化シアンとの反応により得られるシアネート類などが挙げられ、これらの多官能シアネート樹脂のシアネート基を三量化することによって形成されるトリアジン環を有するプレポリマーも使用できる。このプレポリマーは、上記の多官能シアネート樹脂モノマーを、例えば、鉱酸、ルイス酸などの酸、ナトリウムアルコラート、第三級アミン類などの塩基、炭酸ナトリウムなどの塩類を触媒として重合させることにより得られる。
ポリエーテルとしては、炭素数が3〜6の2価の有機基がエーテル結合を介して繰り返したものが好ましく、芳香族環を含まないものが好ましい。ポリエーテルポリオールと(メタ)アクリル酸またはその誘導体との反応により得ることが可能である。
ポリエステルとしては、炭素数が3〜6の2価の有機基がエステル結合を介して繰り返
したものが好ましく、芳香族環を含まないものが好ましい。ポリエステルポリオールと(メタ)アクリル酸またはその誘導体との反応により得ることが可能である。
ポリカーボネートとしては、炭素数が3〜6の2価の有機基がカーボネート結合を介して繰り返したものが好ましく、芳香族環を含まないものが好ましい。ポリカーボネートポリオールと(メタ)アクリル酸またはその誘導体との反応により得ることが可能である。
レートとの共重合体などが好ましい。これら共重合体とカルボキシ基と反応する場合には水酸基を有するアクリレート、水酸基と反応する場合には(メタ)アクリル酸またはその誘導体を反応することにより得ることが可能である。
ポリブタジエンとしては、カルボキシ基を有するポリブタジエンと水酸基を有する(メタ)アクリレートとの反応、水酸基を有するポリブタジエンと(メタ)アクリル酸またはその誘導体との反応により得ることが可能であり、また無水マレイン酸を付加したポリブタジエンと水酸基を有する(メタ)アクリレートとの反応により得ることも可能である。
ブタジエンアクリロニトリル共重合体としては、カルボキシ基を有するブタジエンアクリロニトリル共重合体と水酸基を有する(メタ)アクリレートとの反応により得ることが可能である。
ジ(メタ)アクリレート、1,6−ヘキサンジオールジ(メタ)アクリレート、1,9−ノナンジオールジ(メタ)アクリレート、1,3−ブタンジオールジ(メタ)アクリレート、1,10−デカンジオールジ(メタ)アクリレート、テトラメチレングリコールジ(メタ)アクリレート、メトキシエチル(メタ)アクリレート、ブトキシエチル(メタ)アクリレート、エトキシジエチレングリコール(メタ)アクリレート、メトキシポリアルキレングリコールモノ(メタ)アクリレート、オクトキシポリアルキレングリコールモノ(メタ)アクリレート、ラウロキシポリアルキレングリコールモノ(メタ)アクリレート、ステアロキシポリアルキレングリコールモノ(メタ)アクリレート、アリロキシポリアルキレングリコールモノ(メタ)アクリレート、ノニルフェノキシポリアルキレングリコールモノ(メタ)アクリレート、N,N’−メチレンビス(メタ)アクリルアミド、N,N’−エチレンビス(メタ)アクリルアミド、1,2−ジ(メタ)アクリルアミドエチレングリコール、ジ(メタ)アクリロイロキシメチルトリシクロデカン、N−(メタ)アクリロイロキシエチルマレイミド、N−(メタ)アクリロイロキシエチルヘキサヒドロフタルイミド、N−(メタ)アクリロイロキシエチルフタルイミド、n−ビニル−2−ピロリドン、スチレン誘導体、α−メチルスチレン誘導体などを使用することも可能である。
1−メチルエチルパーオキシ−2−エチルヘキサノエート、t−ヘキシルパーオキシ−2−エチルヘキサノエート、t−ブチルパーオキシ−2−エチルヘキサノエート、t−ブチルパーオキシイソブチレート、t−ブチルパーオキシマレイックアシッド、t−ブチルパーオキシラウレート、t−ブチルパーオキシ−3,5,5−トリメチルヘキサノエート、t−ブチルパーオキシイソプロピルモノカーボネート、t−ブチルパーオキシ−2−エチルヘキシルモノカーボネート、2,5−ジメチル−2,5−ビス(ベンゾイルパーオキシ)ヘキサン、t−ブチルパーオキシアセテート、t−ヘキシルパーオキシベンゾエート、t−ブチルパーオキシ−m−トルオイルベンゾエート、t−ブチルパーオキシベンゾエート、ビス(t−ブチルパーオキシ)イソフタレート、t−ブチルパーオキシアリルモノカーボネート、3,3’,4,4’−テトラ(t−ブチルパーオキシカルボニル)ベンゾフェノンなどが挙げられるが、これらは単独または硬化性を制御するため2種類以上を混合して用いることもできる。
ここで一般式(1)に示される結合には急激な反応を起こす活性水素が存在しないため室温での保存性を悪化させることなく接着性を向上することが可能となる。
物と支持体との接着力向上のみならず樹脂組成物自体の凝集力を向上させる点である。前述のように硫黄原子は金属と結合可能であり金属との良好な接着性を要求される場合によく利用されるが、一般式(1)に示される結合の場合室温付近での銀粉との反応は例えばメルカプト基に比較すると非常にゆっくりしたものである。このため硬化時には樹脂組成物中に未反応で存在するため、被着体との接着性向上のみならず銀粉(A)とも強固に結合することが可能となり樹脂組成物自体の凝集力を向上させることが可能となる。
GPCの測定は、Waters社製アライアンス(2695セパレーションズモデュール、2414リフラクティブインデックスディテクター、TSKゲルGMHHR−Lx2+TSKガードカラムHHR−Lx1、移動相:THF、1.0ml/分)を用い、カラム温度40.0℃、UV検出器内温度40.0℃、サンプル注入量100μlにて行った。
図1において、右側のラウロイルメタクリレートのピーク(溶離時間約18分)面積は、混合した直後(a−1)と混合物を25℃48時間放置した後(a−2)ともほぼ同じなのに対し、左側のカブラス4のピーク(溶離時間約17分)面積は、混合した直後(a−1)に対して、混合物を25℃48時間放置した後(a−2)では減少していることがわかる。
化合物(C)は少なくとも1つのアルコキシシリル基を有するが、より好ましいのはアルコキシシリル基が2つの場合である。
このような化合物としては、ビス(トリメトキシシリルプロピル)ジスルフィド、ビス(トリエトキシシリルプロピル)ジスルフィド、ビス(トリブトキシシリルプロピル)ジスルフィド、ビス(ジメトキシメチルシリルプロピル)ジスルフィド、ビス(ジエトキシメチルシリルプロピル)ジスルフィド、ビス(ジブトキシメチルシリルプロピル)ジスルフィドなどが挙げられる。
なかでも特に好ましいのは、ビス(トリメトキシシリルプロピル)ジスルフィド、ビス(トリエトキシシリルプロピル)ジスルフィドであり前述のように一般式(1)におけるnが3以上の化合物を含むことは可能であるが、前述のように一般式(1)におけるnが2の化合物は50%以上含まれることが好ましい。
本発明の樹脂組成物は、例えば各成分を予備混合した後、3本ロールを用いて混練した後真空下脱泡することにより製造することができる。
[実施例1]
銀粉(A)として平均粒径8μm、最大粒径30μmのフレーク状銀粉(以下銀粉)を、熱硬化性樹脂(B)としてポリテトラメチレングリコールとイソホロンジイソシアネートと2−ヒドロキシメチルメタクリレートとの反応により得られたウレタンジメタクリレート化合物(分子量約1600、以下化合物B1)、1,4−シクロヘキサンジメタノールモノアクリレート(日本化成(株)製、CHDMMA、以下化合物B6)、2−メタクリロイルオキシエチルコハク酸(共栄社化学(株)製、ライトエステルHO−MS、以下化合物B7)、1,6−ヘキサンジオールジメタクリレート(共栄社化学(株)製、ライトエステル1、6HX、以下化合物B8)、ジクミルパーオキサイド(日本油脂(株)製、パークミルD、急速加熱試験における分解温度:126℃、以下重合開始剤)を、化合物(C)としてビス(トリメトキシシリルプロピル)ジスルフィド(ダイソー(株)製、カブラス2A、一般式(1)におけるnが2である成分が約58%(高速液体クロマトグラム(GPC)で測定し得られたチャートの面積比)、一般式(1)におけるnが4以上である成分が約10%(高速液体クロマトグラム(GPC)で測定し得られたチャートの面積比)、以下化合物C1)を、グリシジル基を有するカップリング剤(信越化学工業(
株)製、KBM−403E、以下化合物Z2)を表1のように配合し、3本ロールを用いて混練し、脱泡することで樹脂組成物を得た。配合割合は重量部である。得られた樹脂組成物を以下の方法により評価した。評価結果を表1に示す。
以下の化合物を使用した。
ポリテトラメチレングリコールとマレイミド化酢酸の反応により得られたビスマレイミド化合物(分子量580、以下化合物B2)、シクロヘキサンジカルボン酸のジアリルエステルとポリプロピレングリコールとの反応により得られたジアリルエステル化合物(分子量1000、ただし原料として用いたシクロヘキサンジカルボン酸のジアリルエステルを約15%含む、以下化合物B3)、1,4−シクロヘキサンジメタノール/1,6−ヘキサンジオール(=3/1(重量比))と炭酸ジメチルの反応により得られたポリカーボネートジオールとメチルメタクリレートの反応により得られたポリカーボネートジメタクリレート化合物(分子量1000、以下化合物B4)、酸価108mgKOH/gで分子量4600のアクリルオリゴマーと2−ヒドロキシメタクリレート/ブチルアルコール(=1/2(モル比))との反応により得られたメタクリル化アクリルオリゴマー(分子量5000、以下化合物B5)、ビスフェノールAとエピクロルヒドリンとの反応により得られるジグリシジルビスフェノールA(エポキシ当量180、常温で液体、以下化合物B9)、クレジルグリシジルエーテル(エポキシ当量185、以下化合物B10)、ビスフェノールF(大日本インキ工業(株)製、DIC−BPF、水酸基当量100、以下化合物B11)、ジシアンジアミド(以下化合物B12)、2−メチルイミダゾールと2,4−ジアミノ−6−ビニルトリアジンとの付加物(四国化成工業(株)製、キュアゾール2MZ−A、以下化合物B13)、化合物(C)としてビス(トリメトキシシリルプロピル)ジスルフィド((ダイソー(株)製、カブラス2B、一般式(1)におけるnが2である成分が約86%、一般式(1)におけるnが4以上である成分が約2%、以下化合物C2)及び(デグサ社製、Si−75、一般式(1)におけるnが2である成分が約72%、一般式(1)におけるnが4以上である成分が約12%、以下化合物C3))を、表1のように配合し、実施例1と同様に3本ロールを用いて混練し、脱泡することで樹脂組成物を得た。配合割合は重量部である。得られた樹脂組成物を以下の方法により評価した。評価結果を表1に示す。
表1に示す割合で配合し実施例1と同様に樹脂組成物を得た。
なお比較例1ではビス(トリメトキシシリルプロピル)テトラスルフィド(ダイソー(株)製、カブラス4、一般式(1)におけるnが2である成分が約19%、一般式(1)におけるnが4以上である成分が約54%、以下化合物Z1)を、比較例3ではメルカプト基とアルコキシシラン基を有する化合物として3−メルカプトプロピルトリメトキシシラン(信越化学工業(株)製、KBM−803P、以下化合物Z3)を用いた。
得られた樹脂組成物を以下の方法により評価した。評価結果を表1に示す。
・粘度及び保存性:E型粘度計(3°コーン)を用い25℃、2.5rpmでの値を樹脂組成物作製後(初期)及び25℃48時間静置後に測定した。粘度が15〜25Pa・s、粘度の変化率が20%以下の場合を合格とした。粘度の単位はPa・sである。
・接着強度(1):表1に示す樹脂組成物作製後3時間以内に樹脂組成物を用いて6×6mmのシリコンチップを銀めっきした銅フレームにマウントし、175℃オーブン中30分硬化した。硬化後85℃、85%、72時間吸湿処理を行い、自動接着力測定装置を用いて260℃での熱時ダイシェア強度を測定した。260℃熱時ダイシェア強度が30N/チップ以上の場合を合格とした。接着強度の単位はN/チップである。
・接着強度(2):表1に示す樹脂組成物作製後25℃48時間静置した樹脂組成物を用
いた以外は接着強度(1)と同様に260℃での熱時ダイシェア強度を測定した。260℃熱時ダイシェア強度が30N/チップ以上の場合を合格とした。接着強度の単位はN/チップである。
測定温度:−100〜300℃
昇温速度:5℃/分
周波数:10Hz
荷重:100mN
25℃における貯蔵弾性率を弾性率とし5000MPa以下の場合を合格とした。弾性率の単位はMPaである。
・耐リフロー性(1):表1に示す樹脂組成物を用いて、下記のリードフレームとシリコンチップをオーブン中175℃30分間硬化し接着した。封止材料(スミコンEME−G620A、住友ベークライト(株)製)を用い封止し、半導体装置を作製した。この半導体装置を60℃、相対湿度60%、120時間吸湿処理した後、IRリフロー処理(260℃、10秒、3回リフロー)を行った。処理後の半導体装置を超音波探傷装置(透過型)により剥離の程度を測定した。ダイアタッチ部の剥離面積が10%未満の場合を合格とした。剥離面積の単位は%である。
半導体装置:QFP(14×20×2.0mm)
リードフレーム:銀めっきした銅フレーム
チップサイズ:6×6mm
・耐リフロー性(2):表1に示す樹脂組成物作製後25℃48時間静置した樹脂組成物を用いた以外は耐リフロー性(1)と同様に表1に示す樹脂組成物を用いて、剥離の程度を測定した。ダイアタッチ部の剥離面積が10%未満の場合を合格とした。
Claims (4)
- (A)銀粉、(B)熱硬化性樹脂、(C)少なくとも1つの一般式(1)で示される結合と少なくとも1つのアルコキシシリル基を有する化合物を含む樹脂組成物であって、前記少なくとも1つの一般式(1)で示される結合と少なくとも1つのアルコキシシリル基を有する化合物(C)の50%以上が一般式(1)におけるnが2である化合物であることを特徴とする樹脂組成物。
−(S)n− (1)
nは1〜10の整数
- 前記化合物(C)に含まれる一般式(1)におけるnが4以上である化合物が、化合物(C)に対して20%以下である請求項1記載の樹脂組成物。
- 前記熱硬化性樹脂(B)が、シアネート樹脂、エポキシ樹脂、ラジカル重合性のアクリル樹脂、マレイミド樹脂のいずれかを含むことを特徴とする請求項1記載の樹脂組成物。
- 請求項1〜3のいずれか1項に記載の樹脂組成物を半導体用ダイアタッチペーストまたは放熱部材接着用材料として用いて作製したことを特徴とする半導体装置。
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Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011037981A (ja) * | 2009-08-10 | 2011-02-24 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 樹脂組成物及び樹脂組成物を使用して作製した半導体装置 |
| JP2011052043A (ja) * | 2009-08-31 | 2011-03-17 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 樹脂組成物及び樹脂組成物を使用して作製した半導体装置 |
| JP2011073405A (ja) * | 2009-10-01 | 2011-04-14 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 積層構造体の製造方法 |
| JP2011080024A (ja) * | 2009-10-09 | 2011-04-21 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 樹脂組成物及び樹脂組成物を使用して作製した半導体装置 |
| JP2011082368A (ja) * | 2009-10-08 | 2011-04-21 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 樹脂組成物及び樹脂組成物を使用して作製した半導体装置 |
| JP2017171844A (ja) * | 2016-03-25 | 2017-09-28 | 住友ベークライト株式会社 | ペースト状接着剤組成物、半導体装置、半導体装置の製造方法および放熱板の接着方法 |
| JP2020188270A (ja) * | 2016-03-25 | 2020-11-19 | 住友ベークライト株式会社 | ペースト状接着剤組成物、半導体装置、半導体装置の製造方法および放熱板の接着方法 |
| US11124646B2 (en) | 2016-08-05 | 2021-09-21 | 3M Innovative Properties Company | Heat-dissipating resin composition, cured product thereof, and method of using same |
| US11162004B2 (en) | 2016-09-23 | 2021-11-02 | Nichia Corporation | Electrically conductive adhesive and electrically conductive material |
Families Citing this family (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105073901B (zh) * | 2013-03-29 | 2018-08-28 | 纳美仕有限公司 | 树脂组合物 |
| JPWO2016052664A1 (ja) * | 2014-10-01 | 2017-07-13 | ナミックス株式会社 | 樹脂組成物 |
| SG11201706655VA (en) * | 2015-08-03 | 2017-09-28 | Furukawa Electric Co Ltd | Electrically conductive composition |
| CN108350332B (zh) * | 2015-12-28 | 2020-01-21 | 综研化学株式会社 | 粘合剂用组合物、粘合剂层以及表面保护片 |
| CN108350331B (zh) * | 2015-12-28 | 2020-01-14 | 综研化学株式会社 | 粘合剂用组合物、粘合剂层和粘合片 |
| JP6005312B1 (ja) | 2016-02-10 | 2016-10-12 | 古河電気工業株式会社 | 導電性接着フィルムおよびこれを用いたダイシング・ダイボンディングフィルム |
| JP5972490B1 (ja) | 2016-02-10 | 2016-08-17 | 古河電気工業株式会社 | 導電性接着剤組成物ならびにこれを用いた導電性接着フィルムおよびダイシング・ダイボンディングフィルム |
| JP5989928B1 (ja) | 2016-02-10 | 2016-09-07 | 古河電気工業株式会社 | 導電性接着フィルムおよびこれを用いたダイシング・ダイボンディングフィルム |
| JP5972489B1 (ja) | 2016-02-10 | 2016-08-17 | 古河電気工業株式会社 | 導電性接着フィルムおよびこれを用いたダイシング・ダイボンディングフィルム |
| JP6005313B1 (ja) | 2016-02-10 | 2016-10-12 | 古河電気工業株式会社 | 導電性接着フィルムおよびこれを用いたダイシング・ダイボンディングフィルム |
| US11505692B2 (en) * | 2016-09-02 | 2022-11-22 | Threebond Co., Ltd. | (Meth) acrylic resin composition and electroconductive adhesive using the same |
| JP2019001912A (ja) * | 2017-06-15 | 2019-01-10 | タツタ電線株式会社 | 導電性樹脂組成物及びそれを用いたシールドパッケージの製造方法 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006085978A (ja) * | 2004-09-15 | 2006-03-30 | Toyobo Co Ltd | 導電性樹脂組成物及びこれを用いた面状発熱体 |
| JP2007262243A (ja) * | 2006-03-28 | 2007-10-11 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 樹脂組成物及び樹脂組成物を使用して作製した半導体装置 |
| JP2009191214A (ja) * | 2008-02-18 | 2009-08-27 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 熱伝導性樹脂組成物、接着剤層、及びそれらを用いて作製した半導体装置。 |
| JP2009203416A (ja) * | 2008-02-29 | 2009-09-10 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 熱伝導性樹脂組成物、接着剤層、及びそれらを用いて作製した半導体装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003327669A (ja) * | 2002-05-13 | 2003-11-19 | Hitachi Chem Co Ltd | エポキシ樹脂組成物及び接着剤 |
-
2007
- 2007-10-29 JP JP2007280696A patent/JP5266719B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2008
- 2008-10-24 CN CN200880008769.0A patent/CN101636463B/zh active Active
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006085978A (ja) * | 2004-09-15 | 2006-03-30 | Toyobo Co Ltd | 導電性樹脂組成物及びこれを用いた面状発熱体 |
| JP2007262243A (ja) * | 2006-03-28 | 2007-10-11 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 樹脂組成物及び樹脂組成物を使用して作製した半導体装置 |
| JP2009191214A (ja) * | 2008-02-18 | 2009-08-27 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 熱伝導性樹脂組成物、接着剤層、及びそれらを用いて作製した半導体装置。 |
| JP2009203416A (ja) * | 2008-02-29 | 2009-09-10 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 熱伝導性樹脂組成物、接着剤層、及びそれらを用いて作製した半導体装置 |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011037981A (ja) * | 2009-08-10 | 2011-02-24 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 樹脂組成物及び樹脂組成物を使用して作製した半導体装置 |
| JP2011052043A (ja) * | 2009-08-31 | 2011-03-17 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 樹脂組成物及び樹脂組成物を使用して作製した半導体装置 |
| JP2011073405A (ja) * | 2009-10-01 | 2011-04-14 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 積層構造体の製造方法 |
| JP2011082368A (ja) * | 2009-10-08 | 2011-04-21 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 樹脂組成物及び樹脂組成物を使用して作製した半導体装置 |
| JP2011080024A (ja) * | 2009-10-09 | 2011-04-21 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | 樹脂組成物及び樹脂組成物を使用して作製した半導体装置 |
| JP2017171844A (ja) * | 2016-03-25 | 2017-09-28 | 住友ベークライト株式会社 | ペースト状接着剤組成物、半導体装置、半導体装置の製造方法および放熱板の接着方法 |
| JP2020188270A (ja) * | 2016-03-25 | 2020-11-19 | 住友ベークライト株式会社 | ペースト状接着剤組成物、半導体装置、半導体装置の製造方法および放熱板の接着方法 |
| US11124646B2 (en) | 2016-08-05 | 2021-09-21 | 3M Innovative Properties Company | Heat-dissipating resin composition, cured product thereof, and method of using same |
| US11162004B2 (en) | 2016-09-23 | 2021-11-02 | Nichia Corporation | Electrically conductive adhesive and electrically conductive material |
| US11739238B2 (en) | 2016-09-23 | 2023-08-29 | Nichia Corporation | Electrically conductive adhesive and electrically conductive material |
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