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JP2009186660A - Laser processing apparatus, laser processing method, and electronic device - Google Patents

Laser processing apparatus, laser processing method, and electronic device Download PDF

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JP2009186660A
JP2009186660A JP2008025162A JP2008025162A JP2009186660A JP 2009186660 A JP2009186660 A JP 2009186660A JP 2008025162 A JP2008025162 A JP 2008025162A JP 2008025162 A JP2008025162 A JP 2008025162A JP 2009186660 A JP2009186660 A JP 2009186660A
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wavelength
light
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Application number
JP2008025162A
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Japanese (ja)
Inventor
Michio Nakayama
通雄 中山
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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  • Optical Modulation, Optical Deflection, Nonlinear Optics, Optical Demodulation, Optical Logic Elements (AREA)
  • Laser Beam Processing (AREA)
  • Lasers (AREA)

Abstract

【課題】メンテナンスが容易で可干渉性の制御が可能なレーザ加工装置、これを用いたレーザ加工方法、並びにこのレーザ加工方法を用いた電子デバイスを提供する。
【解決手段】赤外波長帯のシード光を放射するシード光源と、前記シード光が供給され、第1のレーザ光を放出する第1のファイバアンプと、前記シード光が供給され、第2のレーザ光を放出する第2のファイバアンプと、前記第1のレーザ光を紫外光乃至可視光の波長範囲に波長変換する第1の波長変換部と、前記第2のレーザ光を紫外光乃至可視光の波長範囲に波長変換する第2の波長変換部と、前記波長変換された前記第1及び第2のレーザ光を合成して合成ビームを形成する光学照射部と、を備え、前記第1のレーザ光と前記第2のレーザ光は、中心波長、光路長、位相及び出射タイミングのうちの少なくともいずれかが異なった状態で合成されることを特徴とするレーザ加工装置が提供される。
【選択図】図1
Provided are a laser processing apparatus that can be easily maintained and can control coherence, a laser processing method using the same, and an electronic device using the laser processing method.
A seed light source that emits seed light in an infrared wavelength band, a first fiber amplifier that is supplied with the seed light and emits a first laser light, and is supplied with the seed light. A second fiber amplifier that emits laser light; a first wavelength converter that converts the wavelength of the first laser light into a wavelength range of ultraviolet light to visible light; and the second laser light that is ultraviolet light to visible. A first wavelength conversion unit that converts the wavelength into a wavelength range of light; and an optical irradiation unit that combines the wavelength-converted first and second laser beams to form a combined beam. This laser beam and the second laser beam are synthesized in a state in which at least one of a center wavelength, an optical path length, a phase, and an emission timing is different.
[Selection] Figure 1

Description

本発明は、レーザ加工装置、レーザ加工方法、並びに電子デバイスに関する。   The present invention relates to a laser processing apparatus, a laser processing method, and an electronic device.

ガラス基板上に形成された非晶質シリコンや半導体基板上の半導体をレーザアニールするには、可干渉性が小さく、パルスエネルギーが大きく、均一なラインビームを得ることが容易なエキシマレーザが広く用いられる。この場合、材料がシリコンであると吸収係数が大きい、例えば波長が308nm近傍の紫外光が用いられる。   For laser annealing of amorphous silicon formed on a glass substrate or semiconductor on a semiconductor substrate, excimer lasers with low coherence, high pulse energy, and easy to obtain a uniform line beam are widely used. It is done. In this case, if the material is silicon, ultraviolet light having a large absorption coefficient, for example, a wavelength near 308 nm is used.

エキシマレーザはハロゲンガスを用いる活性ガスレーザであるために、ガス交換及びチャンバ交換などにおけるメンテナンスが簡単ではない。これをYAGレーザなどを用いて固体化しようとすると、ビーム整形における干渉が大きい、またパルスエネルギーが小さいなどの問題がある。   Since the excimer laser is an active gas laser using halogen gas, maintenance in gas exchange and chamber exchange is not easy. If this is attempted to be solidified using a YAG laser or the like, there are problems such as large interference in beam shaping and low pulse energy.

簡単な構成でレーザ光を容易に照射できるレーザアニール方法及びその装置に関する技術開示例がある(特許文献1)。この技術開示例では、レーザ発振器からのレーザ光を光ファイバで伝送し、伝送したレーザ光を、光ファイバに接続した光導波路によりガラス基板へと照射する。しかしながらこの構成では、可干渉性が大きく合成レーザ光に干渉縞を生じやすく、均一な強度分布を得ることが困難である。
特開2007−88050号公報
There is a technical disclosure example regarding a laser annealing method and apparatus capable of easily irradiating laser light with a simple configuration (Patent Document 1). In this technical disclosure example, laser light from a laser oscillator is transmitted through an optical fiber, and the transmitted laser light is irradiated onto a glass substrate through an optical waveguide connected to the optical fiber. However, with this configuration, coherence is large and interference fringes are easily generated in the synthesized laser beam, and it is difficult to obtain a uniform intensity distribution.
JP 2007-88050 A

メンテナンスが容易で可干渉性の制御が可能なレーザ加工装置、これを用いたレーザ加工方法、並びにこのレーザ加工方法を用いた電子デバイスを提供する。   Provided are a laser processing apparatus that is easy to maintain and capable of coherence control, a laser processing method using the same, and an electronic device using the laser processing method.

本発明の一態様によれば、赤外波長帯のシード光を放射するシード光源と、前記シード光が供給され、第1のレーザ光を放出する第1のファイバアンプと、前記シード光が供給され、第2のレーザ光を放出する第2のファイバアンプと、前記第1のレーザ光を紫外光乃至可視光の波長範囲に波長変換する第1の波長変換部と、前記第2のレーザ光を紫外光乃至可視光の波長範囲に波長変換する第2の波長変換部と、前記波長変換された前記第1及び第2のレーザ光を合成して合成ビームを形成する光学照射部と、を備え、前記第1のレーザ光と前記第2のレーザ光は、中心波長、光路長、位相及び出射タイミングのうちの少なくともいずれかが異なった状態で合成されることを特徴とするレーザ加工装置が提供される。   According to one aspect of the present invention, a seed light source that emits seed light in an infrared wavelength band, a first fiber amplifier that is supplied with the seed light and emits first laser light, and the seed light is supplied. A second fiber amplifier that emits a second laser light; a first wavelength converter that converts the wavelength of the first laser light into a wavelength range of ultraviolet light to visible light; and the second laser light. A second wavelength conversion unit that converts the wavelength of the light into a wavelength range of ultraviolet light to visible light, and an optical irradiation unit that combines the wavelength-converted first and second laser lights to form a combined beam. The laser processing apparatus is characterized in that the first laser beam and the second laser beam are synthesized in a state where at least one of a center wavelength, an optical path length, a phase, and an emission timing is different. Provided.

また、本発明の他の一態様によれば、ファイバアンプにシード光を供給して第1及び第2のレーザ光を放出させ、非線形結晶を用いて前記第1及び第2のレーザ光をそれぞれ波長変換し、前記波長変換された前記第1及び第2のレーザ光を合成して合成ビームを形成し、前記合成ビームを被加工体に照射するレーザ加工方法であって、前記第1及び第2のレーザ光は、中心波長、光路長、位相及び出射タイミングのうちの少なくともいずれかが異なった状態で合成されることを特徴とするレーザ加工方法が提供される。   According to another aspect of the invention, seed light is supplied to the fiber amplifier to emit the first and second laser lights, and the first and second laser lights are respectively emitted using a nonlinear crystal. A laser processing method that performs wavelength conversion, combines the wavelength-converted first and second laser beams to form a combined beam, and irradiates a workpiece with the combined beam, the first and first laser beams The laser processing method is characterized in that the two laser beams are synthesized in a state in which at least one of the center wavelength, the optical path length, the phase, and the emission timing is different.

また、本発明のさらに他の一態様によれば、上記に記載のレーザ加工方法を用いて形成された電子デバイスが提供される。   According to yet another aspect of the present invention, there is provided an electronic device formed using the laser processing method described above.

メンテナンスが容易で可干渉性の制御が可能なレーザ加工装置、これを用いたレーザ加工方法、並びにこのレーザ加工方法を用いた電子デバイスを提供する。   Provided are a laser processing apparatus that is easy to maintain and capable of coherence control, a laser processing method using the same, and an electronic device using the laser processing method.

以下、図面を参照しつつ本発明の実施の形態について説明する。
図1は、本発明の実施形態にかかるレーザ加工装置の構成図である。
レーザ加工装置は、シード光源10、ファイバアンプ12、波長変換部14、照射光学部16、ステージ18、とを備えている。シード光源10から、例えば赤外光波長を有するパルスシード光G10が出射される。パルスシード光G10は、例えば3つに分割されて、ファイバアンプ12へそれぞれに入射される。ファイバアンプ12は、増幅されたレーザ光G11、G21、G31を出力する。波長変換部14は、増幅されたレーザ光G11、G21、G31がそれぞれ波長変換されたレーザ光G12、G22、G32を放出する。照射光学部16は、レーザ光G12、G22、G32による合成ビームGTを生成する。合成ビームGTがステージ18上の被加工体20に照射されレーザ加工が行われる。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a configuration diagram of a laser processing apparatus according to an embodiment of the present invention.
The laser processing apparatus includes a seed light source 10, a fiber amplifier 12, a wavelength conversion unit 14, an irradiation optical unit 16, and a stage 18. For example, pulse seed light G10 having an infrared light wavelength is emitted from the seed light source 10. The pulse seed light G10 is divided into, for example, three parts and is incident on the fiber amplifier 12 respectively. The fiber amplifier 12 outputs amplified laser beams G11, G21, and G31. The wavelength conversion unit 14 emits laser beams G12, G22, and G32 obtained by wavelength-converting the amplified laser beams G11, G21, and G31, respectively. The irradiation optical unit 16 generates a combined beam GT using the laser beams G12, G22, and G32. The composite beam GT is irradiated onto the workpiece 20 on the stage 18 and laser processing is performed.

図2は、ファイバアンプの構成図である。
ファイバアンプ12は、Yb(イッテルビウム)添加光ファイバ54及び励起光源58からなるプリアンプ12a(A1、A3、A5)とYb添加光ファイバ56及び励起光源62からなるメインアンプ12b(A2、A4、A6)との縦続接続を、3系列備えている。励起光源58、62は半導体レーザからなり、その励起光がコンバイナ60、64により合成され、光ファイバ54、56へ伝達される。P1、P2、P3、P4、P5はファイバ間の融着点を表す。パルスシード光G10は3つに分岐され、プリアンプA1、A3、A5へそれぞれに入射される。メインアンプA2、A4、A6から増幅されたレーザ光G11、G21、G31がそれぞれ放出される。なお、増幅利得及びレーザ光出力に余裕があればメインアンプA2、A4、A6のみでもよい。
FIG. 2 is a configuration diagram of the fiber amplifier.
The fiber amplifier 12 includes a preamplifier 12a (A1, A3, A5) including a Yb (ytterbium) -doped optical fiber 54 and a pumping light source 58, and a main amplifier 12b (A2, A4, A6) including a Yb-doped optical fiber 56 and a pumping light source 62. Are connected in three series. The pumping light sources 58 and 62 are semiconductor lasers, and the pumping light is synthesized by the combiners 60 and 64 and transmitted to the optical fibers 54 and 56. P1, P2, P3, P4, and P5 represent fusion points between the fibers. The pulse seed light G10 is branched into three and is incident on the preamplifiers A1, A3, and A5, respectively. Amplified laser beams G11, G21, and G31 are emitted from the main amplifiers A2, A4, and A6, respectively. It should be noted that only the main amplifiers A2, A4, and A6 may be used if there is a margin in the amplification gain and laser light output.

光ファイバ54、56のコアにおいて、高出力半導体レーザなどにより励起されたYbが、赤外光波長を有するパルスシード光G10の入射により誘導放出を生じ、パルスシード光G10が増幅される。例えばパルスシード光G10のパルス幅を約100ns、平均出力を数Wとすると、プリアンプ12a及びメインアンプ12bにより、平均出力が約200Wのレーザ光G11、G21、G31がそれぞれ得られる。このようなファイバアンプ12は、MOPA(Master Oscillator Power Amplifier)と呼ばれる。並列に接続される系列数を少なくとも2つとするが、高いエネルギーパルスが必要なレーザアニール加工の場合、10系列以上とすることができる。   In the cores of the optical fibers 54 and 56, Yb excited by a high-power semiconductor laser or the like causes stimulated emission by the incidence of the pulse seed light G10 having an infrared light wavelength, and the pulse seed light G10 is amplified. For example, assuming that the pulse width of the pulse seed light G10 is about 100 ns and the average output is several W, the preamplifier 12a and the main amplifier 12b respectively obtain laser lights G11, G21, and G31 having an average output of about 200W. Such a fiber amplifier 12 is called a MOPA (Master Oscillator Power Amplifier). Although the number of series connected in parallel is at least two, in the case of laser annealing processing that requires a high energy pulse, it can be 10 series or more.

コアに添加される希土類元素であるYbの発光スペルトルは、975及び1030nm近傍に極大を有する広い波長範囲である。Ybの他に、Tm(ツリウム)などを添加してもよい。励起光の波長は、例えば800〜1100nmである。   The light emission spectrum of Yb, which is a rare earth element added to the core, has a wide wavelength range having local maxima in the vicinity of 975 and 1030 nm. In addition to Yb, Tm (thulium) or the like may be added. The wavelength of the excitation light is, for example, 800 to 1100 nm.

波長変換部14は、図1に表すようにレンズ30、非線形結晶からなるSHG(Second Harmonic Generation:第2次高調波生成)素子32、レンズ34、非線形結晶からなるTHG(Third Harmonic Generation:第3次高調波生成)素子36、並びにレンズ38を備えている。非線形結晶は、例えばLBO:LiBからなり、SHG素子32は入射光である増幅光G11、G21、G31の波長の2分の1の波長変換光に変換する。またTHG素子36は、SHG素子32からの波長変換光をもとの入射光波長の3分の1の波長に変換する。すなわち、赤外光の波長を有するパルスシード光G10を、紫外光〜可視光の波長を有する波長変換光であるレーザ光G12、G22、G32に変換する。 この場合、2段階の波長変換による変換効率を、例えば20%以上とすることができる。また、用途によりTHG素子36を省略することができる。 As shown in FIG. 1, the wavelength converter 14 includes a lens 30, a SHG (Second Harmonic Generation) element 32 made of a nonlinear crystal, a lens 34, and a THG (Third Harmonic Generation: third made of a nonlinear crystal). (Second harmonic generation) element 36 and lens 38 are provided. The nonlinear crystal is made of, for example, LBO: LiB 3 O 5 , and the SHG element 32 converts the wavelength converted light into half of the wavelengths of the amplified lights G11, G21, and G31 that are incident light. The THG element 36 converts the wavelength-converted light from the SHG element 32 into a wavelength that is one third of the original incident light wavelength. That is, the pulse seed light G10 having a wavelength of infrared light is converted into laser beams G12, G22, and G32 that are wavelength converted light having a wavelength of ultraviolet light to visible light. In this case, the conversion efficiency by the two-stage wavelength conversion can be set to 20% or more, for example. Further, the THG element 36 can be omitted depending on the application.

なお、赤外光は700nm〜100μmの波長範囲であるが、レーザ加工においては、略1000nm近傍がよく用いられる。また、紫外光は10〜400nm、可視光は400〜700nmの波長範囲をそれぞれに有する。なお、シリコン材料のレーザアニール加工においては、吸収係数が大きい紫外光を用いることが好ましい。   In addition, infrared light has a wavelength range of 700 nm to 100 μm, but in the laser processing, the vicinity of about 1000 nm is often used. Further, ultraviolet light has a wavelength range of 10 to 400 nm, and visible light has a wavelength range of 400 to 700 nm. In laser annealing of silicon material, it is preferable to use ultraviolet light having a large absorption coefficient.

図3は、照射光学部を表す模式図である。すなわち、図3(a)は、細矩形カライド方式の照射光学部16を表す。波長変換部14からのレーザ光G12、G22、G32は、ガイドファイバによる伝送または空間伝送されレンズ系によりライン状の合成ビームGT1に合成される。合成ビームGTの断面形状はライン状に限定されず、スポット状(破線で表すGT2)や矩形状であってもよい。また、図3(b)は、多段アレイレンズ方式の照射光学部16を表す。この照射光学部16においては、アレイレンズにより合成ビームGTを形成している。   FIG. 3 is a schematic diagram illustrating an irradiation optical unit. That is, FIG. 3A shows the irradiation optical unit 16 of a thin rectangular callide method. The laser beams G12, G22, and G32 from the wavelength conversion unit 14 are transmitted by a guide fiber or transmitted by space, and are combined into a line-shaped combined beam GT1 by a lens system. The cross-sectional shape of the combined beam GT is not limited to a line shape, and may be a spot shape (GT2 represented by a broken line) or a rectangular shape. FIG. 3B shows a multistage array lens type irradiation optical unit 16. In the irradiation optical unit 16, the combined beam GT is formed by an array lens.

本実施形態にかかるレーザ加工装置では、合成すべきレーザ光G12、G22、G32において、中心波長、光路長、位相、出射タイミングのうちの少なくとも1つが異なるように調整し干渉を抑制する。まず、図1において、プリアンプA1及びメインアンプA2を含むファイバアンプ12及びそれに連なる波長変換部14の第1系列を通過するレーザ光の光路長をK1、プリアンプA3及びメインアンプA4を含むファイバアンプ12及びそれに連なる波長変換部14の第2系列を通過するレーザ光の光路長をK2、プリアンプA5及びメインアンプA6を含むファイバアンプ12及びそれに連なる第3系列を通過するレーザ光の光路長をK3とする。  In the laser processing apparatus according to this embodiment, the laser beams G12, G22, and G32 to be combined are adjusted so that at least one of the center wavelength, the optical path length, the phase, and the emission timing is different to suppress interference. First, in FIG. 1, the fiber amplifier 12 including the preamplifier A1 and the main amplifier A2, and the fiber amplifier 12 including the optical path length of the laser light passing through the first series of the wavelength converter 14 connected thereto and the preamplifier A3 and the main amplifier A4. And the optical path length of the laser light passing through the second series of the wavelength conversion unit 14 connected thereto, K2, and the optical path length of the laser light passing through the fiber amplifier 12 including the preamplifier A5 and the main amplifier A6 and the third series connected thereto as K3. To do.

この場合、少なくとも2つの光路長を異なる値とし、レーザ光を合成するときの干渉を抑制する。すべてのレーザ光の光路長をすべて異なった値とするとより好ましい。図4は、光路長のずれによる可干渉性を説明する図である。本発明者の実験によれば、上記のシード光を2分岐した後合成した所、光路長ずれをゼロとすると、図4(a)のように干渉縞を生じたが、光路長ずれを0.5mmとすると、図4(b)のように干渉縞を抑制でき均一な合成ビームとできた。   In this case, at least two optical path lengths are set to different values to suppress interference when laser beams are combined. It is more preferable that the optical path lengths of all the laser beams are all different values. FIG. 4 is a diagram for explaining the coherence due to the deviation of the optical path length. According to the inventor's experiment, when the above seed light was synthesized after being branched into two, when the optical path length deviation was zero, interference fringes were generated as shown in FIG. 4A, but the optical path length deviation was 0. When the thickness is 0.5 mm, the interference fringes can be suppressed as shown in FIG.

ファイバレーザ発振器を備えたシード光源を用い、ファイバアンプで増幅後、SHG素子及びTHG素子により波長変換したレーザ光の可干渉長Lは、例えば数mmと短かい。可干渉長L(またはコヒーレンス長)は、次式で表される。

L=c/Δf

但し cは光速で、真空中で3×10
Δfは光源の周波数スペクトル幅(Hz)

なお、半導体レーザではΔfが数〜数百MHzであり、可干渉長Lが略1〜100mの範囲となり、ファイバアンプからの増幅光の可干渉長である数mmよりも長い。
The coherence length L of the laser light that has been amplified by a fiber amplifier using a seed light source equipped with a fiber laser oscillator and wavelength-converted by an SHG element and a THG element is as short as several millimeters, for example. The coherence length L (or coherence length) is expressed by the following equation.

L = c / Δf

Where c is the speed of light and 3 × 10 8 m in vacuum
Δf is the frequency spectrum width of the light source (Hz)

In the semiconductor laser, Δf is several to several hundred MHz, the coherence length L is in the range of about 1 to 100 m, and is longer than several mm, which is the coherence length of the amplified light from the fiber amplifier.

シード光の出口から、ファイバアンプ12と波長変換部14とを通り、レーザ光が合成される位置までの光学的距離(物理的距離×屈折率)で表す光路長差(K1とK2との間、K2とK3との間、K3とK1との間)を可干渉長L以上とすると、干渉縞を確実に抑制できてより好ましい。本実施形態ではΔfは、例えば10〜100GHzなどと広く可干渉長Lを短くできる。このためYAGまたは半導体レーザを用いた光源に比べて光路長差を短くすることができレーザ加工装置を小型化できる。光路長差を可干渉長よりも十分に長くすると、光路上のどの位置においても殆ど干渉縞を生じことがなく、均一な強度分布を有する合成ビームGTを実現できる。   The optical path length difference (between K1 and K2) expressed by the optical distance (physical distance × refractive index) from the seed light exit to the position where the laser light is synthesized through the fiber amplifier 12 and the wavelength converter 14. , Between K2 and K3, and between K3 and K1) is more than the coherence length L, which is more preferable because interference fringes can be reliably suppressed. In the present embodiment, Δf is as wide as 10 to 100 GHz, for example, and the coherence length L can be shortened. Therefore, the optical path length difference can be shortened compared to a light source using YAG or a semiconductor laser, and the laser processing apparatus can be downsized. When the optical path length difference is sufficiently longer than the coherence length, interference fringes are hardly generated at any position on the optical path, and a combined beam GT having a uniform intensity distribution can be realized.

また、レーザ光の中心波長を変化させても干渉を抑制することができる。
まず、図5はシード光源を表し、図5(a)はファイバレーザ発振器の構成図、図5(b)は半導体レーザの図である。図5(a)において、光ファイバ40は図1を構成するファイバアンプ12のように、例えばYb添加光ファイバを用いることができる。半導体レーザ42によりYbを励起する。
Further, interference can be suppressed even if the center wavelength of the laser beam is changed.
First, FIG. 5 shows a seed light source, FIG. 5A is a configuration diagram of a fiber laser oscillator, and FIG. 5B is a diagram of a semiconductor laser. In FIG. 5A, the optical fiber 40 can be, for example, a Yb-doped optical fiber, like the fiber amplifier 12 constituting FIG. Yb is excited by the semiconductor laser 42.

光ファイバ40及びAO(Acousto-Optic:音響光学)スイッチ50を挟んだ両側にはFBG(Fiber Bragg Grating) が設けられている。FBGは光ファイバのコア部の屈折率を周期的に変化させた回折格子を備えている。FBG48は回折格子のブラッグ波長を有する光を高反射し、それ以外の波長を透過する。また、FBG46はブラッグ波長の光を透過及び反射する。   FBGs (Fiber Bragg Grating) are provided on both sides of the optical fiber 40 and the AO (Acousto-Optic) switch 50. The FBG includes a diffraction grating in which the refractive index of the core portion of the optical fiber is periodically changed. The FBG 48 highly reflects light having the Bragg wavelength of the diffraction grating and transmits other wavelengths. The FBG 46 transmits and reflects light having a Bragg wavelength.

また、AOスイッチ50は、AO材料に高周波電圧を印加し生じる超音波により屈折率を周期的に変化させ、偏光の方向を変化させる。AOスイッチ50の偏光方向をFBG46及びFBG48の光軸と一致させた場合、光共振器が形成されFBG46、48のブラッグ波長と一致した発振光であるシード光G10をFBG48から外部に出射する。他方、AOスイッチ50の偏光方向がFBG46、48の光軸と不一致の場合、共振器は構成されず光は出射されない。このようにして、パルスシード光G10を得ることができる。なお、AO材料としては、LiTaO、LiNbO、TeO、CdSなどがある。 The AO switch 50 changes the direction of polarization by periodically changing the refractive index by ultrasonic waves generated by applying a high-frequency voltage to the AO material. When the polarization direction of the AO switch 50 is matched with the optical axes of the FBG 46 and FBG 48, an optical resonator is formed and seed light G10, which is oscillation light that matches the Bragg wavelength of the FBGs 46, 48, is emitted from the FBG 48 to the outside. On the other hand, when the polarization direction of the AO switch 50 does not coincide with the optical axes of the FBGs 46 and 48, no resonator is configured and no light is emitted. In this way, the pulse seed light G10 can be obtained. Examples of the AO material include LiTaO 3 , LiNbO 3 , TeO 2 , and CdS.

FBG46と光ファイバ40との間において、励起光源42からの励起光が2段のコンバイナ44a、44bを介して光ファイバ40へ向けて入射される。高い出力のパルスシード光G10とするために励起用半導体レーザを、例えば数十個接続する場合もある。   Between the FBG 46 and the optical fiber 40, the pumping light from the pumping light source 42 enters the optical fiber 40 via the two-stage combiners 44a and 44b. In order to obtain a high output pulse seed light G10, for example, several tens of pumping semiconductor lasers may be connected.

光ファイバの長さ及びYbなど添加希土類元素の濃度を変化させると、増幅利得が極大となる波長を変化させることができる。図1に表す共通のシード光源10を図5に表す構成とした場合、希土類元素の励起スペクトル幅の波長範囲はパルスシード光の波長範囲よりも大きいので、ファイバアンプ12の第1系列及び第2系列の間で、増幅利得が極大となる波長を異なる値とすることができる。このためにレーザ光の中心波長を異なるようにし干渉の抑制ができる。第1、第2、第3の系列の中心波長をすべて異なる値とすると、より干渉の抑制が容易となる。   When the length of the optical fiber and the concentration of the added rare earth element such as Yb are changed, the wavelength at which the amplification gain is maximized can be changed. When the common seed light source 10 shown in FIG. 1 is configured as shown in FIG. 5, the wavelength range of the excitation spectrum width of the rare earth element is larger than the wavelength range of the pulse seed light. The wavelength at which the amplification gain becomes maximum between the series can be set to different values. For this reason, interference can be suppressed by changing the center wavelength of the laser light. If the central wavelengths of the first, second, and third series are all different values, interference can be more easily suppressed.

なお、プリアンプ12a、メインアンプ12bのうち少なくともいずれか1つの光ファイバの長さまたは希土類元素濃度を変化させればよい。また、図1に破線で表すように、プリアンプ12aとメインアンプ12bとの間で互いの系列間を接続してもよい。   Note that the length or the rare earth element concentration of at least one of the preamplifier 12a and the main amplifier 12b may be changed. Further, as indicated by a broken line in FIG. 1, the preamplifier 12a and the main amplifier 12b may be connected to each other.

図5(b)は半導体レーザ52をシード光源とする場合である。ファイバレーザ発振器と比べて動作寿命が短いが構成が簡素で、かつ小型化が容易となる。   FIG. 5B shows a case where the semiconductor laser 52 is used as a seed light source. Compared with the fiber laser oscillator, the operating life is short, but the configuration is simple and the size can be easily reduced.

さらに、レーザ光の位相を変化させても干渉を抑制できる。図1において、プリアンプA3とメインアンプA4との間に位相をずらす位相板(または位相変調器)70を設けて増幅されたレーザ光G11と増幅されたレーザ光G21との間の位相をずらし干渉を抑制する。さらに、プリアンプA5とメインアンプA6との間に位相板(または位相変調器)71をさらに設けて増幅されたレーザ光G11、G21、とはそれぞれに異なる位相を有する増幅されたレーザ光G31とすると、干渉をさらに抑制できる。これら位相板(または位相変調器)70、71は、シード光源10と照射光学部16との間のどこに挿入されても良い。   Furthermore, interference can be suppressed even if the phase of the laser beam is changed. In FIG. 1, a phase plate (or a phase modulator) 70 that shifts the phase is provided between the preamplifier A3 and the main amplifier A4, and the phase is shifted and interfered between the amplified laser beam G11 and the amplified laser beam G21. Suppress. Further, when the amplified laser beam G31 having a phase different from the amplified laser beams G11 and G21, which are further provided with a phase plate (or phase modulator) 71 between the preamplifier A5 and the main amplifier A6, is assumed. , Interference can be further suppressed. These phase plates (or phase modulators) 70 and 71 may be inserted anywhere between the seed light source 10 and the irradiation optical unit 16.

図6は、本実施形態の変形例にかかるレーザ加工装置の構成図である。
パルスシード光G10、G20、G30をそれぞれの系列ごとに設けている。図5(a)では回折格子の間隔を変化させればFBG46、48のブラッグ波長を変化させ、中心波長を変えることができる。なお、図5(a)に表す1つのファイバレーザ発振器からのシード光を空間伝播し、カットオフ波長が少しずつずれたダイクロイックミラーを用いて分離してそれぞれのファイバアンプに入射することもできる。また、図5(b)では半導体レーザの活性層の組成を変化させて中心波長を変えることができる。このように、本変形例では容易に異なる中心波長とすることができる。
FIG. 6 is a configuration diagram of a laser processing apparatus according to a modification of the present embodiment.
Pulse seed lights G10, G20, and G30 are provided for each series. In FIG. 5A, the Bragg wavelength of the FBGs 46 and 48 can be changed and the center wavelength can be changed by changing the interval of the diffraction grating. Note that the seed light from one fiber laser oscillator shown in FIG. 5A can be spatially propagated, separated by using a dichroic mirror whose cutoff wavelength is slightly shifted, and then incident on each fiber amplifier. In FIG. 5B, the center wavelength can be changed by changing the composition of the active layer of the semiconductor laser. Thus, in this modification, it can be easily set as a different center wavelength.

図1及び図6に表したレーザ加工装置において、レーザ光G12の出射タイミングと、レーザ光G22の出射タイミングと、を1/Δfで表される時間(秒)以上ずらし干渉を抑制することができる。但し、Δfはレーザ光の周波数スペクトル幅(Hz)を表す。   In the laser processing apparatus shown in FIGS. 1 and 6, the emission timing of the laser beam G12 and the emission timing of the laser beam G22 are shifted by a time (second) represented by 1 / Δf, and interference can be suppressed. . However, Δf represents the frequency spectrum width (Hz) of the laser beam.

また変調パルス幅を変化させても照射タイミングをずらし干渉を抑制できる。例えばシード光源10に用いる半導体レーザの変調タイミングを1/Δf以上すらすか、またはシード光源10を構成するファイバレーザ発振器の出射光を制御するQスイッチを用いて変調タイミングを1/Δf以上ずらすことなどにより照射タイミングをずらし干渉を抑制できる。これらは主として電気的タイミングを制御する手段と言える。   Even if the modulation pulse width is changed, the irradiation timing can be shifted to suppress interference. For example, the modulation timing of the semiconductor laser used for the seed light source 10 is made even 1 / Δf or more, or the modulation timing is shifted by 1 / Δf or more using a Q switch that controls the emitted light of the fiber laser oscillator constituting the seed light source 10. Therefore, the irradiation timing can be shifted to suppress interference. These are mainly means for controlling electrical timing.

また、図1及び図6に表したレーザ加工装置において、光路長、中心波長、位相、出射タイミングのうち、異なる値とするものが同一で無くともよい。例えばレーザ光G12とレーザ光G22との間で異なる光路長とし、レーザ光G22とレーザ光G32との間で異なる中心波長としてもよい。またレーザ光G22とレーザ光G32との間で異なる位相とするか、または異なる出射タイミングとしてもよい。いずれの構成であっても、合成すべきレーザ光が、光路長、中心波長、位相、出射タイミングのうち少なくともいずれか1つが異なっていれば干渉を抑制することがより容易である。   In the laser processing apparatus shown in FIGS. 1 and 6, different values among the optical path length, the center wavelength, the phase, and the emission timing may not be the same. For example, the optical path length may be different between the laser beam G12 and the laser beam G22, and the center wavelength may be different between the laser beam G22 and the laser beam G32. Further, the phase may be different between the laser beam G22 and the laser beam G32, or the emission timing may be different. Regardless of the configuration, it is easier to suppress interference if the laser light to be synthesized has at least any one of the optical path length, the center wavelength, the phase, and the emission timing.

本実施形態にかかるレーザ加工装置は固体レーザ方式であり、ハロゲンガスを用いないので、ガス交換及びチャンバ交換などのメンテナンスが容易であり、有毒ガスが不要で安全である。また、エキシマレーザのパルス幅は約30nsと略固定であるが、本実施形態では変調タイミングを変化しパルス幅を可変とできる。このために、例えば100nm以上のパルス幅も可能であり、レーザ加工の自由度を高めることができる。   Since the laser processing apparatus according to the present embodiment is a solid-state laser system and does not use halogen gas, maintenance such as gas exchange and chamber exchange is easy, and no toxic gas is required and it is safe. The pulse width of the excimer laser is substantially fixed at about 30 ns, but in this embodiment, the modulation timing can be changed to make the pulse width variable. For this reason, for example, a pulse width of 100 nm or more is possible, and the degree of freedom of laser processing can be increased.

図7は、本実施形態にかかるレーザ加工方法のフロー図である。
シード光源10から、例えば赤外光波長を有するパルスシード光G10が出射される。3つに分割されたパルスシード光G10をファイバアンプ12へそれぞれに入射し増幅する(S100)。レーザ光G11、G21、G31を波長変換部14でより短波長のレーザ光G12、G22、G32へそれぞれに変換する(S102)。
FIG. 7 is a flowchart of the laser processing method according to the present embodiment.
For example, pulse seed light G10 having an infrared light wavelength is emitted from the seed light source 10. The pulse seed light G10 divided into three is incident on the fiber amplifier 12 and amplified (S100). The laser beams G11, G21, and G31 are converted into shorter wavelength laser beams G12, G22, and G32 by the wavelength conversion unit 14 (S102).

レーザ光G12、G22、G32を、照射光学部16によりライン状またはスポット状の断面形状を有する合成ビームGTとする(S106)。この合成ビームGTをステージ18上に載置された被加工体20へ照射することにより、レーザ加工が可能となる。合成ビームGTをスキャンし被加工体20の表面の所定領域を一括処理する(S106)。被加工体20が載置されたステージ18を移動しても、合成ビームGTをスキャンすることと同じことである。   The laser beams G12, G22, and G32 are converted into a combined beam GT having a line-shaped or spot-shaped cross-sectional shape by the irradiation optical unit 16 (S106). By irradiating the workpiece 20 placed on the stage 18 with the composite beam GT, laser processing becomes possible. The synthesized beam GT is scanned to collectively process a predetermined area on the surface of the workpiece 20 (S106). Moving the stage 18 on which the workpiece 20 is placed is the same as scanning the composite beam GT.

なお、ライン状にビーム整形する場合、例えばラインビーム幅Wを数μm〜50μm程度、ラインビーム長BLを500mmなどとする。合成ビームGTは被加工体20の上に照射され、被加工体20を高いスループットで処理できる。   In the case of beam shaping in a line shape, for example, the line beam width W is about several μm to 50 μm, and the line beam length BL is 500 mm. The combined beam GT is irradiated onto the workpiece 20, and the workpiece 20 can be processed with high throughput.

本実施形態のレーザ加工方法では、少なくとも2つのレーザ光の干渉を抑制して光学的に合成した合成ビームGTを用いる。このためビーム整形において干渉縞、すなわちビーム強度の不均一が抑制でき、均一な合成ビームGTを用いて被加工体のレーザ加工ができる。   In the laser processing method of the present embodiment, a combined beam GT that is optically combined while suppressing interference between at least two laser beams is used. For this reason, interference fringes, that is, nonuniformity of beam intensity can be suppressed in beam shaping, and laser processing of the workpiece can be performed using the uniform composite beam GT.

さらに、スポットまたはライン状などの合成ビームGTを、半導体にスキャン照射することにより、例えば高いスループットで被加工体20を処理することができる。このために、非晶質シリコンを多結晶シリコンに変換するなどレーザアニール工程の合理化が可能となる。同様に、イオン注入後の半導体層のアニール工程の合理化が可能となる。このように、本実施形態のレーザ加工方法は液晶表示装置や半導体装置などの電子デバイスの製造工程の生産性を高めることができる。   Furthermore, the processed object 20 can be processed with a high throughput, for example, by irradiating the semiconductor with a combined beam GT such as a spot or a line. For this reason, it is possible to rationalize the laser annealing process such as converting amorphous silicon into polycrystalline silicon. Similarly, the annealing process of the semiconductor layer after ion implantation can be rationalized. Thus, the laser processing method of the present embodiment can increase the productivity of the manufacturing process of electronic devices such as liquid crystal display devices and semiconductor devices.

以上、図面を参照しつつ、本発明の実施の形態について説明した。しかしながら本発明はこれらの実施形態に限定されない。本発明を構成するシード光源、ファイバアンプ、波長変換部、照射光学系、光ファイバ、半導体レーザの、材質、サイズ、形状、配置などに関して当業者が設計変更を行ったものであっても、本発明の主旨を逸脱しない限り本発明の範囲に包含される。   The embodiments of the present invention have been described above with reference to the drawings. However, the present invention is not limited to these embodiments. Even if a person skilled in the art changes the design regarding the material, size, shape, arrangement, etc. of the seed light source, fiber amplifier, wavelength converter, irradiation optical system, optical fiber, and semiconductor laser constituting the present invention, It is included in the scope of the present invention without departing from the gist of the invention.

本発明の実施形態にかかるレーザ加工装置の構成図The block diagram of the laser processing apparatus concerning embodiment of this invention ファイバアンプの構成図Fiber amplifier configuration diagram 照射光学部を表す模式図Schematic diagram showing the irradiation optics 光路長のずれによる可干渉性を説明する図Diagram explaining coherence due to optical path length deviation シード光源の構成図Configuration diagram of seed light source 本実施形態の変形例にかかるレーザ加工装置の構成図The block diagram of the laser processing apparatus concerning the modification of this embodiment 本実施形態にかかるレーザ加工方法のフロー図Flow chart of laser processing method according to this embodiment

符号の説明Explanation of symbols

10 シード光源、12 ファイバアンプ、14 波長変換部、16 照射光学部、18 ステージ、20 被加工体、40、54、56 光ファイバ、52 半導体レーザ、70 位相板(位相変調器)、50 Qスイッチ、
G10、G20、G30 パルスシード光、G11、G21、G31 レーザ光、G12、G22、G32 レーザ光、GT、GT1、GT2 合成ビーム、K1、K2、K3 光路長
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Seed light source, 12 Fiber amplifier, 14 Wavelength conversion part, 16 Irradiation optical part, 18 stage, 20 Work piece, 40, 54, 56 Optical fiber, 52 Semiconductor laser, 70 Phase plate (phase modulator), 50 Q switch ,
G10, G20, G30 Pulse seed light, G11, G21, G31 Laser light, G12, G22, G32 Laser light, GT, GT1, GT2 Composite beam, K1, K2, K3 Optical path length

Claims (12)

赤外波長帯のシード光を放射するシード光源と、
前記シード光が供給され、第1のレーザ光を放出する第1のファイバアンプと、
前記シード光が供給され、第2のレーザ光を放出する第2のファイバアンプと、
前記第1のレーザ光を紫外光乃至可視光の波長範囲に波長変換する第1の波長変換部と、
前記第2のレーザ光を紫外光乃至可視光の波長範囲に波長変換する第2の波長変換部と、
前記波長変換された前記第1及び第2のレーザ光を合成して合成ビームを形成する光学照射部と、
を備え、
前記第1のレーザ光と前記第2のレーザ光は、中心波長、光路長、位相及び出射タイミングのうちの少なくともいずれかが異なった状態で合成されることを特徴とするレーザ加工装置。
A seed light source that emits seed light in the infrared wavelength band;
A first fiber amplifier that is supplied with the seed light and emits a first laser light;
A second fiber amplifier that is supplied with the seed light and emits a second laser light;
A first wavelength converter that converts the wavelength of the first laser light into a wavelength range of ultraviolet light to visible light;
A second wavelength converter for converting the wavelength of the second laser light into a wavelength range of ultraviolet light to visible light;
An optical irradiation unit that combines the wavelength-converted first and second laser beams to form a combined beam;
With
The laser processing apparatus, wherein the first laser beam and the second laser beam are synthesized in a state in which at least one of a center wavelength, an optical path length, a phase, and an emission timing is different.
前記第1及び第2の波長変換部は、非線形結晶を用いて前記第1及び第2のレーザ光の第2次高調波を発生させることを特徴とする請求項1記載のレーザ加工装置。   The laser processing apparatus according to claim 1, wherein the first and second wavelength conversion units generate second harmonics of the first and second laser beams using a nonlinear crystal. 前記第1のレーザ光と前記第2のレーザ光の光路長の差は、前記第1及び第2のレーザ光の可干渉長のいずれよりも大きいことを特徴とする請求項1または2に記載のレーザ加工装置。   The difference in optical path length between the first laser beam and the second laser beam is larger than any of the coherence lengths of the first and second laser beams. Laser processing equipment. 前記シード光源は、1つのファイバレーザ発振器からの前記シード光を波長分離して前記第1及び第2のファイバアンプにそれぞれに供給し、
前記第1のレーザ光の中心波長と前記第2のレーザ光の中心波長とは、異なることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1つに記載のレーザ加工装置。
The seed light source wavelength-separates the seed light from one fiber laser oscillator and supplies it to the first and second fiber amplifiers, respectively.
The laser processing apparatus according to claim 1, wherein a center wavelength of the first laser light and a center wavelength of the second laser light are different.
前記第1のファイバアンプが有する光ファイバと、前記第2のファイバアンプが有する光ファイバと、は、長さ及び添加希土類元素濃度の少なくともいずれかが異なることにより、増幅利得が極大となる波長が互いに異なることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1つに記載のレーザ加工装置。   The optical fiber included in the first fiber amplifier and the optical fiber included in the second fiber amplifier are different in at least one of the length and the concentration of the added rare earth element, so that the wavelength at which the amplification gain is maximized is increased. The laser processing apparatus according to claim 1, wherein the laser processing apparatuses are different from each other. 前記シード光源は、互いに異なる中心波長を有する少なくとも2つのレーザを有し、
前記第1のレーザ光の中心波長と前記第2のレーザ光の中心波長とが異なることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1つに記載のレーザ加工装置。
The seed light source comprises at least two lasers having different center wavelengths;
The laser processing apparatus according to claim 1, wherein a center wavelength of the first laser light is different from a center wavelength of the second laser light.
前記第1のレーザ光と前記第2のレーザ光の位相を相対的にずらす位相板及び位相変調器の少なくともいずれかをさらに備えたことを特徴とする請求項1〜6のいずれか1つに記載のレーザ加工装置。   7. The apparatus according to claim 1, further comprising at least one of a phase plate and a phase modulator that relatively shift the phases of the first laser beam and the second laser beam. The laser processing apparatus as described. レーザ光の発光スペクトルの広がり幅をΔf(ヘルツ)としたとき、前記第1のレーザ光と前記第2のレーザ光の出射タイミングは、(1/Δf)秒以上異なることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1つに記載のレーザ加工装置。   The emission timing of the first laser light and the second laser light is different from each other by (1 / Δf) seconds or more when the spread width of the emission spectrum of the laser light is Δf (hertz). The laser processing apparatus as described in any one of 1-3. 前記シード光源は、第1及び第2のレーザを有し、
前記第1及び第2のレーザの変調タイミングは、(1/Δf)秒以上異なることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1つに記載のレーザ加工装置。
The seed light source includes first and second lasers;
The laser processing apparatus according to claim 1, wherein the modulation timings of the first and second lasers are different by (1 / Δf) seconds or more.
ファイバアンプにシード光を供給して第1及び第2のレーザ光を放出させ、
非線形結晶を用いて前記第1及び第2のレーザ光をそれぞれ波長変換し、
前記波長変換された前記第1及び第2のレーザ光を合成して合成ビームを形成し、
前記合成ビームを被加工体に照射するレーザ加工方法であって、
前記第1及び第2のレーザ光は、中心波長、光路長、位相及び出射タイミングのうちの少なくともいずれかが異なった状態で合成されることを特徴とするレーザ加工方法。
Supplying seed light to the fiber amplifier to emit the first and second laser light;
Wavelength conversion of the first and second laser beams using a nonlinear crystal,
Combining the wavelength-converted first and second laser beams to form a combined beam;
A laser processing method for irradiating a workpiece with the combined beam,
The laser processing method, wherein the first and second laser beams are synthesized in a state where at least one of a center wavelength, an optical path length, a phase, and an emission timing is different.
前記被加工体が有する半導体に前記合成ビームを照射し、前記半導体のレーザアニールを行うことを特徴とする請求項10記載のレーザ加工方法。   The laser processing method according to claim 10, wherein the semiconductor included in the workpiece is irradiated with the synthetic beam and laser annealing of the semiconductor is performed. 請求項10または11に記載のレーザ加工方法を用いて形成された電子デバイス。   An electronic device formed using the laser processing method according to claim 10.
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