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JP2009175672A - Low refractive index film, method for manufacturing the same, and antireflection film containing low refractive index film - Google Patents

Low refractive index film, method for manufacturing the same, and antireflection film containing low refractive index film Download PDF

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JP2009175672A
JP2009175672A JP2008241533A JP2008241533A JP2009175672A JP 2009175672 A JP2009175672 A JP 2009175672A JP 2008241533 A JP2008241533 A JP 2008241533A JP 2008241533 A JP2008241533 A JP 2008241533A JP 2009175672 A JP2009175672 A JP 2009175672A
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refractive index
fine particle
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low refractive
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JP2008241533A
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Japanese (ja)
Inventor
Masato Nishimura
正人 西村
Nobuaki Takane
信明 高根
Tomomi Kawamura
智巳 川村
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Resonac Corp
Original Assignee
Hitachi Chemical Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a low refractive index film and a method for manufacturing the film, by which a low refractive index film can be manufactured at a normal temperature and normal pressure, and a particulate layered film includes followability to a microstructure and does not degrade optical performances such as diffusion property and condensing property given by the microstructure, and to provide an antireflection film containing a low refractive index film. <P>SOLUTION: The low refractive index film includes a particulate layered film formed by alternately depositing an electrolyte polymer and fine particles on a microstructure surface, wherein the refractive index of the particulate layered film ranges from 1.10 to 1.21. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、光学部材などに用いる低屈折率膜及びその製造方法並びに低屈折率膜を含む反射防止膜に関する。   The present invention relates to a low refractive index film used for an optical member and the like, a manufacturing method thereof, and an antireflection film including the low refractive index film.

低屈折率膜は、反射防止膜、反射膜、半透過半反射膜、可視光反射赤外線透過膜、赤外線反射可視光透過膜、青色反射膜、緑色反射又は赤色反射膜、輝線カットフィルター、色調補正膜に含まれる光学機能膜として光学部材に形成される。   Low refractive index film is anti-reflection film, reflection film, semi-transmission semi-reflection film, visible light reflection infrared transmission film, infrared reflection visible light transmission film, blue reflection film, green reflection or red reflection film, bright line cut filter, color correction An optical functional film included in the film is formed on the optical member.

表面形状が平坦な光学部材に限らず、液晶用バックライトの輝度向上レンズフィルムや拡散フィルム、ビデオプロジェクションテレビのスクリーンに用いられるフレネルレンズやレンチキュラーレンズ又はマイクロレンズなどの光学機能部材では、いずれも樹脂材料が微細構造体をもつことで所望の幾何光学的な性能を得ている。これらの微細構造体表面にも低屈折率膜を含む光学機能膜は必要とされている。   Not only optical members with a flat surface shape, but also optical function members such as brightness enhancement lens films and diffusion films for liquid crystal backlights, Fresnel lenses, lenticular lenses, and microlenses used for video projection television screens are all made of resin. The desired geometrical optical performance is obtained because the material has a microstructure. An optical functional film including a low refractive index film is also required on the surface of these fine structures.

低屈折率膜を反射防止膜として用いる場合、単層構造の低屈折率膜はそのまま反射防止膜となる。単層構造の反射防止膜は、反射防止性能をより広い波長範囲で示し、さらに、層数低減によりコストが低減する。単層構造の反射防止膜の屈折率としては、基材が樹脂材料などの透明材料である場合は、1.2〜1.3の範囲の低屈折率が望まれる。   When a low refractive index film is used as an antireflection film, the low refractive index film having a single layer structure becomes an antireflection film as it is. The antireflection film having a single layer structure exhibits antireflection performance in a wider wavelength range, and the cost is reduced by reducing the number of layers. As the refractive index of the antireflection film having a single-layer structure, a low refractive index in the range of 1.2 to 1.3 is desired when the substrate is a transparent material such as a resin material.

低屈折率膜の形成方法には蒸着法、スパッタ法等の気相法や、ディッピング法、スピンコート法等の塗布法が挙げられる。
しかし、気相法により得られる代表的な低屈折率の薄膜は、屈折率が1.38のMgFや1.39のLiFであり、これらの薄膜の単層反射防止膜としての性能は低い。
Examples of the method for forming the low refractive index film include vapor phase methods such as vapor deposition and sputtering, and coating methods such as dipping and spin coating.
However, typical low-refractive-index thin films obtained by the vapor phase method are MgF 2 having a refractive index of 1.38 and LiF having 1.39, and the performance of these thin films as a single-layer antireflection film is low. .

また、塗布法で得られる低屈折率膜の代表的な材料には、屈折率が1.35〜1.4のフッ素系高分子材料や、屈折率が1.37〜1.46であるフッ素モノマーの重合体からなる微粒子を融着させた多孔質材料があるが(例えば、特許文献1参照)、屈折率が1.3以下のフッ素系高分子材料は得られていない。   In addition, as a typical material of the low refractive index film obtained by the coating method, a fluorine-based polymer material having a refractive index of 1.35 to 1.4, or fluorine having a refractive index of 1.37 to 1.46 Although there is a porous material in which fine particles made of a monomer polymer are fused (see, for example, Patent Document 1), a fluorine-based polymer material having a refractive index of 1.3 or less has not been obtained.

一方、焼成により得られた多孔質構造膜が低屈折率膜となる例として、多孔質SOGやフッ化マグネシウムの多孔質膜が挙げられる(例えば、特許文献2、3参照)。
しかし、多孔質SOGは屈折率を1.3以下にするために200度以上の焼成処理が必
要であり、フッ化マグネシウムの多孔質膜は150度1時間の熱処理が必要である。そのため、樹脂材料の耐熱性や微細構造体の構造維持の点から、焼成を必要とする低屈折率膜は樹脂基材用の反射防止膜には適さない。
On the other hand, examples of the porous structure film obtained by firing becoming a low refractive index film include porous films of porous SOG and magnesium fluoride (see, for example, Patent Documents 2 and 3).
However, the porous SOG requires a baking treatment of 200 ° C. or more in order to make the refractive index 1.3 or less, and the magnesium fluoride porous film needs a heat treatment of 150 ° C. for 1 hour. Therefore, from the viewpoint of heat resistance of the resin material and maintaining the structure of the fine structure, a low refractive index film that requires firing is not suitable as an antireflection film for a resin substrate.

固体基材がフレネルレンズ、レンチキュラーレンズ等の微細構造体を有する場合でも、単層構造の低屈折率膜はレンズ表面の反射光を抑制し、ビデオプロジェクション用スクリーンなどに投影される画像のゴーストを抑制することに有効である。またその他の光学機能部材においても、反射防止膜は透過光を増加できる。   Even when the solid substrate has a fine structure such as a Fresnel lens or a lenticular lens, the low refractive index film with a single layer structure suppresses the reflected light on the lens surface and prevents the ghost of the image projected on a video projection screen or the like. It is effective for suppression. Also in other optical function members, the antireflection film can increase transmitted light.

気相法では微細構造体の形状に追従させて薄膜を形成することができる。
しかし、気相法では真空装置が必要となるため、製造コストが高価になる。
さらに、真空装置の内壁に形成された膜が剥がれ落ち、低屈折率膜上に異物として残存する。
また、低屈折率膜の密着性を得るために一般的に行われる基板加熱は、熱応力により樹脂製の微細構造体にクラックを発生させる(例えば、特許文献4参照)。
In the vapor phase method, a thin film can be formed by following the shape of the microstructure.
However, since the vapor phase method requires a vacuum apparatus, the manufacturing cost becomes expensive.
Furthermore, the film formed on the inner wall of the vacuum apparatus peels off and remains as a foreign substance on the low refractive index film.
Moreover, the substrate heating generally performed in order to acquire the adhesiveness of a low refractive index film | membrane produces a crack in the resin-made fine structure with a thermal stress (for example, refer patent document 4).

塗布法では、真空装置は不要であり、また真空装置に由来する異物も発生しない。
しかし、スピンコート法では、塗布材料が微細構造体の凹部分に残留することが避けられず、凹部分で低屈折率膜が厚くなる。このように微細構造体へ低屈折率膜が追従しない場合、微細構造体のもたらす拡散性や集光性等の幾何光学的な性能が損なわれる。
The coating method does not require a vacuum device, and does not generate foreign matters derived from the vacuum device.
However, in the spin coating method, it is inevitable that the coating material remains in the concave portion of the fine structure, and the low refractive index film becomes thick in the concave portion. When the low refractive index film does not follow the fine structure in this way, geometric optical performance such as diffusibility and light condensing property provided by the fine structure is impaired.

一方、ディップコート法などは、引き上げ速度により膜厚を制御できるため、塗布材料を微細構造体に追従させることも可能である。
しかし、引き上げ速度が数十μm/秒まで遅くする必要があり、製造コストが著しく高くなる(例えば、特許文献5参照)。
On the other hand, in the dip coating method or the like, the film thickness can be controlled by the pulling speed, so that the coating material can follow the microstructure.
However, it is necessary to slow the pulling speed up to several tens of μm / second, and the manufacturing cost becomes extremely high (for example, see Patent Document 5).

ナノメータースケールの薄膜を溶液から形成する方法として、交互積層法が提案されている(例えば、非特許文献1参照)。交互積層法では、液中での静電吸着により薄膜が形成されるため、微細構造体に良好に追従した薄膜を得ることができる。また常温プロセスであるために、樹脂材料に熱的ダメージを与えない。   As a method for forming a nanometer-scale thin film from a solution, an alternate lamination method has been proposed (for example, see Non-Patent Document 1). In the alternate lamination method, since a thin film is formed by electrostatic adsorption in a liquid, it is possible to obtain a thin film that closely follows the microstructure. Moreover, since it is a normal temperature process, the resin material is not thermally damaged.

正の電荷を有する電解質ポリマーと負の電荷を有する電解質ポリマーを交互に積層した薄膜は、塩酸処理により薄膜に空隙を発生させることで屈折率が約1.2の低屈折率膜となる(例えば、特許文献6、7参照)。   A thin film in which an electrolyte polymer having a positive charge and an electrolyte polymer having a negative charge are alternately laminated is a low refractive index film having a refractive index of about 1.2 by generating voids in the thin film by hydrochloric acid treatment (for example, And Patent Documents 6 and 7).

一方、電解質ポリマー層の上に微粒子を1層静電吸着させた微粒子単層膜は、酸処理等の必要なく低屈折率膜となる(例えば、特許文献8、9参照)。微粒子単層膜が低屈折率膜となる理由は、直径が100nm以上の微粒子による表面凹凸形状が屈折率を連続的に変化させ、微粒子間の空隙が平均屈折率を低下させるためである。   On the other hand, a fine particle monolayer film in which fine particles are electrostatically adsorbed on an electrolyte polymer layer becomes a low refractive index film without the need for acid treatment or the like (see, for example, Patent Documents 8 and 9). The reason why the fine particle single layer film is a low refractive index film is that the surface irregularity shape by fine particles having a diameter of 100 nm or more continuously changes the refractive index, and voids between the fine particles lower the average refractive index.

しかし、直径が100nmを超える微粒子を用いた微粒子単層膜は可視光を散乱・拡散させるため、透明性を必要とする光学部材には適当ではない。
また、光学部材表面に微細構造体を有する場合、例えば微細構造体がレンズである場合、レンズ表面の低屈折率膜が光を散乱・拡散させる場合は光が焦点に集まらないなどの幾何光学的な性能低下を生じる。
However, a fine particle monolayer film using fine particles having a diameter exceeding 100 nm scatters and diffuses visible light, and thus is not suitable for an optical member requiring transparency.
In addition, when the optical member surface has a fine structure, for example, when the fine structure is a lens, when the low refractive index film on the lens surface scatters or diffuses light, the geometrical optical means that the light does not collect at the focal point. Cause a significant decrease in performance.

一方、直径が100nm以下の微粒子を用いる場合、透明な微粒子積層膜が得られやすい。
しかし、表面凹凸形状に由来する屈折率低減効果は得られなくなる。そのため、微粒子間の空隙の密度を増加させることで、微粒子積層膜の平均屈折率を低下させることが取り組まれている(例えば、特許文献10〜12参照)。
On the other hand, when fine particles having a diameter of 100 nm or less are used, a transparent fine particle laminated film is easily obtained.
However, the refractive index reduction effect derived from the surface irregularity shape cannot be obtained. For this reason, it has been attempted to reduce the average refractive index of the fine particle multilayer film by increasing the density of voids between the fine particles (see, for example, Patent Documents 10 to 12).

特許第3718031号公報Japanese Patent No. 3718031 特開2003−158125号公報JP 2003-158125 A 特開2004−302112号公報JP 2004-302112 A 特開2000−156486号公報JP 2000-156486 A 特許第2905712号公報Japanese Patent No. 2905712 特開2004−109624号公報JP 2004-109624 A 特開2005−266252号公報JP 2005-266252 A 特開2002−006108号公報JP 2002-006108 A 特開2006−208726号公報JP 2006-208726 A 特開2006−297680号公報JP 2006-297680 A 特開2006−301124号公報JP 2006-301124 A 特開2006−301125号公報JP 2006-301125 A Thin Solid Films, 210/211, p831(1992)Thin Solid Films, 210/211, p831 (1992)

本発明においては、常温・常圧にて低屈折率膜を形成でき、固体基材が微細構造を有しても低屈折率膜中の微粒子積層膜が微細構造に追従し、その微細構造のもたらす拡散性や集光性等の幾何光学的な性能を損なうことのない、低屈折率膜及びその製造方法並びに低屈折率膜を含む反射防止膜を提供することを目的とするものである。   In the present invention, a low refractive index film can be formed at room temperature and normal pressure, and even if the solid substrate has a fine structure, the fine particle laminated film in the low refractive index film follows the fine structure. An object of the present invention is to provide a low refractive index film, a method for manufacturing the same, and an antireflection film including the low refractive index film without impairing the geometric optical performance such as diffusibility and light condensing property.

本発明は、次の事項に関する。
(1)固体基材表面に電解質ポリマー及び微粒子を交互に積層させて形成される微粒子積層膜からなり、該微粒子積層膜の屈折率が1.10以上1.21以下であることを特徴とする低屈折率膜。
The present invention relates to the following matters.
(1) It is composed of a fine particle laminated film formed by alternately laminating electrolyte polymer and fine particles on the surface of a solid substrate, and the refractive index of the fine particle laminated film is 1.10 or more and 1.21 or less. Low refractive index film.

(2)前記微粒子積層膜が、固体基材表面に電解質ポリマー及び微粒子を交互に吸着させて形成される前記(1)に記載の低屈折率膜。 (2) The low refractive index film according to (1), wherein the fine particle laminated film is formed by alternately adsorbing an electrolyte polymer and fine particles on the surface of a solid substrate.

(3)前記微粒子積層膜中の微粒子が、多孔質シリカ微粒子、中空状シリカ微粒子、及び一次粒子がつながった形状のシリカ微粒子のうちの1種以上を含むことを特徴とする前記(1)又は(2)に記載の低屈折率膜。 (3) The fine particles in the fine particle laminated film include one or more of porous silica fine particles, hollow silica fine particles, and silica fine particles having a shape in which primary particles are connected to each other (1) or The low refractive index film according to (2).

(4)前記微粒子積層膜中の微粒子の平均一次粒子径が、1nm以上40nm以下であることを特徴とする前記(1)〜(3)のいずれかに記載の低屈折率膜。 (4) The low refractive index film according to any one of (1) to (3), wherein an average primary particle diameter of the fine particles in the fine particle laminated film is 1 nm or more and 40 nm or less.

(5)前記微粒子積層膜がさらに電解質ポリマーを含み、該電解質ポリマーの含有率が、微粒子に対して0.01質量%以上10質量%以下であることを特徴とする前記(1)〜(4)のいずれかに記載の低屈折率膜。 (5) The fine particle multilayer film further contains an electrolyte polymer, and the content of the electrolyte polymer is 0.01% by mass or more and 10% by mass or less based on the fine particles. ). The low refractive index film according to any one of the above.

(6)前記固体基材表面が、レンチキュラーレンズ、フレネルレンズ、プリズム、マイクロレンズアレイ、導光性微細構造、光拡散性微細構造、ホログラムを得るための微細構造のうちのいずれかの微細構造を有することを特徴とする前記(1)〜(5)のいずれかに記載の低屈折率膜。 (6) The solid substrate surface has any one of a lenticular lens, a Fresnel lens, a prism, a microlens array, a light guiding fine structure, a light diffusing fine structure, and a fine structure for obtaining a hologram. The low refractive index film according to any one of (1) to (5), wherein the low refractive index film is provided.

(7)前記(1)〜(6)のいずれかに記載の低屈折率膜を含むことを特徴とする反射防止膜。 (7) An antireflection film comprising the low refractive index film according to any one of (1) to (6).

(8)固体基材表面に形成される、屈折率が1.10以上1.21以下の微粒子積層膜からなる低屈折率膜の製造方法であって、
(i)固体基材表面に電解質ポリマー溶液(A液)又は微粒子分散液(B液)を接触させる工程、次いでリンスする工程、
(ii)前記A液を接触させた後の固体基材表面にA液の電解質ポリマーと反対電荷を有する微粒子の分散液を接触させる工程、又は前記B液を接触させた後の固体基材表面にB液の微粒子と反対電荷を有する電解質ポリマーの溶液を接触させる工程、次いでリンスする工程、及び
(iii)(i)と(ii)を交互に繰り返す工程、
を含むことを特徴とする低屈折率膜の製造方法。
(8) A method for producing a low refractive index film comprising a fine particle laminated film having a refractive index of 1.10 or more and 1.21 or less formed on the surface of a solid substrate,
(I) a step of bringing the electrolyte polymer solution (liquid A) or the fine particle dispersion (liquid B) into contact with the solid substrate surface, and then a rinsing step;
(Ii) A step of bringing a dispersion of fine particles having a charge opposite to that of the electrolyte polymer of the liquid A into contact with the surface of the solid base after the liquid A is contacted, or the surface of the solid base after the liquid B is contacted A step of contacting a solution of an electrolyte polymer having an opposite charge with the fine particles of the liquid B, followed by a rinsing step, and (iii) a step of alternately repeating (i) and (ii),
A method for producing a low refractive index film, comprising:

(9)前記微粒子積層膜中の微粒子が、多孔質シリカ微粒子、中空状シリカ微粒子、及び一次粒子がつながった形状のシリカ微粒子のうちの1種以上を含むことを特徴とする前記(8)に記載の低屈折率膜の製造方法。 (9) The above (8) is characterized in that the fine particles in the fine particle laminated film include one or more of porous silica fine particles, hollow silica fine particles, and silica fine particles having a shape in which primary particles are connected. The manufacturing method of the low-refractive-index film of description.

(10)前記微粒子分散液中の微粒子の平均一次粒子径が1nm以上40nm以下である前記(8)又は(9)に記載の低屈折率膜の製造方法。 (10) The method for producing a low refractive index film according to (8) or (9), wherein the average primary particle diameter of the fine particles in the fine particle dispersion is 1 nm or more and 40 nm or less.

(11)前記微粒子積層膜を、微粒子に対する電解質ポリマーの含有率が0.01質量%以上10質量%以下となるように形成することを特徴とする前記(8)〜(10)のいずれかに記載の低屈折率膜の製造方法。 (11) In any one of (8) to (10), the fine particle multilayer film is formed so that the content of the electrolyte polymer with respect to the fine particles is 0.01% by mass or more and 10% by mass or less. The manufacturing method of the low-refractive-index film of description.

(12)固体基材表面に微粒子及び電解質ポリマーを交互に吸着させて微粒子積層膜を形成することを特徴とする前記(8)〜(11)のいずれかに記載の低屈折率膜の製造方法。 (12) The method for producing a low refractive index film according to any one of (8) to (11), wherein fine particles and an electrolyte polymer are alternately adsorbed on the surface of a solid substrate to form a fine particle laminated film. .

(13)固体基材表面が、レンチキュラーレンズ、フレネルレンズ、プリズム、マイクロレンズアレイ、導光性微細構造、光拡散性微細構造、ホログラムを得るための微細構造のうちのいずれかの微細構造を有することを特徴とする前記(8)〜(12)のいずれかに記載の低屈折率膜の製造方法。 (13) The surface of the solid substrate has any one of a lenticular lens, a Fresnel lens, a prism, a microlens array, a light guiding fine structure, a light diffusing fine structure, and a fine structure for obtaining a hologram. The method for producing a low refractive index film according to any one of (8) to (12), wherein:

(14)前記低屈折率膜が、反射防止膜である前記(8)〜(13)のいずれか1項に記載の低屈折率膜の製造方法。 (14) The method for producing a low refractive index film according to any one of (8) to (13), wherein the low refractive index film is an antireflection film.

本発明の低屈折率膜によれば、その低い屈折率により、光学機能膜として幅広い用途に用いることができる。低屈折率膜を単層構造の反射防止膜として用いた場合、反射光の抑制と透過光の向上に加えて、反射光と透過光を無彩色にできる。
また、本発明の低屈折率膜は、低屈折率膜の屈折率及び空隙の体積率を規定することで、より確実に優れた反射防止性能を発揮することができる。
According to the low refractive index film of the present invention, it can be used for a wide range of applications as an optical functional film because of its low refractive index. When the low refractive index film is used as an antireflection film having a single layer structure, reflected light and transmitted light can be achromatic in addition to suppressing reflected light and improving transmitted light.
In addition, the low refractive index film of the present invention can exhibit excellent antireflection performance more reliably by defining the refractive index of the low refractive index film and the volume ratio of the voids.

本発明の低屈折率膜において、微粒子の材料を屈折率の低い材料及び微粒子の形状を制限することで、低屈折率膜の屈折率をより確実に低下することができる。
本発明の低屈折率膜において、微粒子の平均一次粒子径を規定することで、低屈折率膜の透明性を向上でき、固体基材が微細構造を有する場合であっても、その幾何光学的な性能を損なうことがない。
In the low refractive index film of the present invention, the refractive index of the low refractive index film can be more reliably lowered by limiting the material of the fine particles to the material having a low refractive index and the shape of the fine particles.
In the low refractive index film of the present invention, by defining the average primary particle diameter of the fine particles, the transparency of the low refractive index film can be improved, and even if the solid substrate has a fine structure, the geometric optical Performance is not impaired.

本発明の低屈折率膜において、低屈折率膜に含まれる電解質ポリマー量を規定することで、より確実に低屈折率膜の屈折率を減少できる。
本発明の低屈折率膜において、交互積層法により微粒子積層膜を形成することで、低屈折率膜に含まれる空隙の体積率を高めることができ、より確実に低屈折率膜の屈折率を減少できる。
一方、本発明の低屈折率膜の製造方法により、以上の本発明の低屈折率膜を製造することができる。特に、常温・常圧にて低屈折率膜を形成できるため、真空装置等を必要とせず、また樹脂性固体基材に熱応力によるクラックを生じることがない。
In the low refractive index film of the present invention, the refractive index of the low refractive index film can be more reliably reduced by defining the amount of electrolyte polymer contained in the low refractive index film.
In the low refractive index film of the present invention, the volume ratio of voids contained in the low refractive index film can be increased by forming the fine particle laminated film by the alternating lamination method, and the refractive index of the low refractive index film can be more reliably increased. Can be reduced.
On the other hand, the above-described low refractive index film of the present invention can be manufactured by the low refractive index film manufacturing method of the present invention. In particular, since a low refractive index film can be formed at room temperature and normal pressure, a vacuum device or the like is not required, and cracks due to thermal stress do not occur in the resinous solid substrate.

加えて、固体基材が微細構造体を有する場合、微細構造体表面に微粒子及び電解質ポリマーを交互に吸着させて低屈折率膜を形成するため、微粒子積層膜が微細構造体へ追従し、微細構造体のもたらす拡散性や集光性等の幾何光学的な性能を損なうことがない。
本発明の低屈折率膜において、微細構造を規定することで、低屈折率膜による光学機能部材の性能をより確実に向上できる。
In addition, when the solid substrate has a fine structure, fine particles and electrolyte polymer are alternately adsorbed on the surface of the fine structure to form a low refractive index film. It does not impair geometric optical performance such as diffusibility and light condensing property provided by the structure.
In the low refractive index film of the present invention, by defining the fine structure, the performance of the optical functional member by the low refractive index film can be improved more reliably.

本発明の低屈折率膜は、固体基材表面に電解質ポリマー及び微粒子を交互に積層させて形成される微粒子積層膜からなり、該微粒子積層膜の屈折率が1.10以上1.21以下であることを特徴としている。
また、本発明の低屈折率膜の製造方法は、屈折率が1.10以上1.21以下であり、微粒子積層膜からなる低屈折率膜の製造方法であって、
前記微粒子積層膜の形成を、
(i)固体基材表面に電解質ポリマー溶液(A液)又は微粒子分散液(B液)を接触させる工程、次いでリンスする工程、
(ii)前記A液を接触させた後の固体基材表面にA液の電解質ポリマーと反対電荷を有する微粒子の分散液を接触させる工程、又は前記B液を接触させた後の固体基材表面にB液の微粒子と反対電荷を有する電解質ポリマーの溶液を接触させる工程、次いでリンスする工程、及び
(iii)(i)と(ii)を交互に繰り返す工程、
を含む一連の工程により行うことを特徴としている。
以下に、本発明の微細構造体用反射防止膜及びその製造方法それぞれの実施の形態の双方を交えて説明する。
The low refractive index film of the present invention comprises a fine particle laminate film formed by alternately laminating electrolyte polymer and fine particles on the surface of a solid substrate, and the refractive index of the fine particle laminate film is 1.10 or more and 1.21 or less. It is characterized by being.
Further, the method for producing a low refractive index film of the present invention is a method for producing a low refractive index film having a refractive index of 1.10 or more and 1.21 or less and comprising a fine particle laminated film,
Formation of the fine particle laminated film,
(I) a step of bringing the electrolyte polymer solution (liquid A) or the fine particle dispersion (liquid B) into contact with the solid substrate surface, and then a rinsing step;
(Ii) A step of bringing a dispersion of fine particles having a charge opposite to that of the electrolyte polymer of the liquid A into contact with the surface of the solid base after the liquid A is contacted, or the surface of the solid base after the liquid B is contacted A step of contacting a solution of an electrolyte polymer having an opposite charge with the fine particles of the liquid B, followed by a rinsing step, and (iii) a step of alternately repeating (i) and (ii),
It is characterized by being performed by a series of steps including
Hereinafter, the antireflection film for a fine structure according to the present invention and the respective embodiments of the manufacturing method thereof will be described together.

本発明の低屈折率膜は、光学部材等の固体基材に形成することで反射防止膜、反射膜、半透過半反射膜、可視光反射赤外線透過膜、赤外線反射可視光透過膜、青色反射膜、緑色反射又は赤色反射膜、輝線カットフィルター、色調補正膜に含まれる光学機能膜として機能する。   The low refractive index film of the present invention is formed on a solid substrate such as an optical member, so that it is an antireflection film, a reflection film, a semi-transmission semi-reflection film, a visible light reflection infrared transmission film, an infrared reflection visible light transmission film, a blue reflection. It functions as an optical functional film included in the film, the green reflection or red reflection film, the bright line cut filter, and the color tone correction film.

また、液晶用バックライトの輝度向上レンズフィルムや拡散フィルム、ビデオプロジェクションテレビのスクリーンに用いられるフレネルレンズやレンチキュラーレンズ、マイクロレンズ等の光学機能部材のように幾何光学性能を有する微細構造体に対しても、本発明の低屈折率膜は良好に追従する。その結果、本発明の低屈折率膜は微細構造体の幾何光学性能を損なうことなく、光学機能膜として機能する。   In addition, for microscopic structures having geometric optical performance such as optical function members such as brightness enhancement lens films and diffusion films for liquid crystal backlights, Fresnel lenses, lenticular lenses, and microlenses used in video projection television screens. However, the low refractive index film of the present invention follows well. As a result, the low refractive index film of the present invention functions as an optical functional film without impairing the geometric optical performance of the fine structure.

(A)固体基材
固体基材は平坦でも、それ以外の形状を有してもよい。その形状物は幾何光学的な性能を有する微細構造体であってもよい。微細構造体の例としては、レンチキュラーレンズシート、フレネルレンズシート、プリズムシート、マイクロレンズアレイシート、オンチップマイクロレンズアレイ、導光シート、拡散シート、ホログラムシート、太陽電池が挙げられる。
(A) Solid substrate The solid substrate may be flat or have other shapes. The shape may be a fine structure having geometric optical performance. Examples of the fine structure include a lenticular lens sheet, a Fresnel lens sheet, a prism sheet, a microlens array sheet, an on-chip microlens array, a light guide sheet, a diffusion sheet, a hologram sheet, and a solar cell.

そのため、微細構造の例としては、レンチキュラーレンズ、フレネルレンズ、プリズム、マイクロレンズアレイ、導光性微細構造、光拡散性微細構造、ホログラムを得るための微細構造等が挙げられる。   Therefore, examples of the fine structure include a lenticular lens, a Fresnel lens, a prism, a microlens array, a light guiding fine structure, a light diffusing fine structure, and a fine structure for obtaining a hologram.

(B)固体基材材料
固体基材上に交互積層法により微粒子積層膜を形成するためには、固体基材がその表面に電荷を有することが必要である。交互積層法を用いて形成した微粒子積層膜が固体基材に密着するためには、固体基材表面の電荷を極性基が有することが望ましい。極性基は分子内に電荷の偏り(分子内分極)を有するため又は解離によりイオンになるため、局所的にプラス又はマイナスの電荷を有する。
(B) Solid substrate material In order to form a fine particle laminate film on a solid substrate by an alternate lamination method, the solid substrate needs to have a charge on its surface. In order for the fine particle laminated film formed using the alternating lamination method to adhere to the solid substrate, it is desirable that the polar group has a charge on the surface of the solid substrate. The polar group has a positive or negative charge locally because it has a charge bias (intramolecular polarization) in the molecule or becomes an ion by dissociation.

この極性基の電荷と反対の電荷を有する物質を吸着させる。極性基としては、ビニル基、エポキシ基、スチリル基、メタクリロキシ基、アクリロキシ基、アミノ基、ウレイド基、クロロプロピル基、メルカプト基、スルフィド基、スルホン酸基、リン酸基、イソシアネート基、カルボキシル基、エステル基、カルボニル基、水酸基、シラノール基等の官能基のうち一つ又は二つ以上であることが望ましい。   A substance having a charge opposite to that of the polar group is adsorbed. As the polar group, vinyl group, epoxy group, styryl group, methacryloxy group, acryloxy group, amino group, ureido group, chloropropyl group, mercapto group, sulfide group, sulfonic acid group, phosphoric acid group, isocyanate group, carboxyl group, It is desirable that it is one or more of functional groups such as an ester group, a carbonyl group, a hydroxyl group, and a silanol group.

固体基材が表面に極性基を有する結果、ゼータ電位の絶対値が1〜100mVであることが好ましく、5〜90mVであることがより好ましく、10〜80mVであることがさらに好ましい。   As a result of the solid substrate having a polar group on the surface, the absolute value of the zeta potential is preferably 1 to 100 mV, more preferably 5 to 90 mV, and even more preferably 10 to 80 mV.

固体基材の材質としては樹脂、シリコーン等の半導体や金属、無機化合物等が挙げられる。
また、その形状はフィルム、シート、板、曲面を有する形状など任意である。固体基材の一部もしくは全体が筒状、糸状、繊維、発泡体等のように浸漬して溶液が入り込むことができるものであれば微粒子積層膜がその表面に形成されるので使用することができる。
Examples of the material for the solid substrate include resins, semiconductors such as silicone, metals, inorganic compounds, and the like.
Moreover, the shape is arbitrary, such as a shape which has a film, a sheet | seat, a board, and a curved surface. If the solid substrate can be partly or wholly immersed, such as a cylinder, thread, fiber, foam, etc., and the solution can enter, it can be used because a fine particle laminated film is formed on the surface. it can.

また、固体基材の断面が凹凸形状を有していても、表面の構造に追従して微粒子積層膜を形成することができる。
さらに、固体基材表面がナノメートルスケールやサブミクロンスケールの構造を有していても、その構造に追従して微粒子積層膜を形成することができる。
Moreover, even if the cross section of the solid substrate has an uneven shape, the fine particle laminated film can be formed following the surface structure.
Furthermore, even if the solid substrate surface has a nanometer-scale or sub-micron-scale structure, the fine particle multilayer film can be formed following the structure.

上記金属としては、鉄、銅、白銅、ブリキ等があり、表面に電荷が存在するように酸化皮膜を形成させる等の処理を施したものである。
また、上記無機化合物としてはガラス、セラミックス等があり、表面に極性基を有するものである。
Examples of the metal include iron, copper, white copper, tinplate, and the like, and are subjected to a treatment such as forming an oxide film so that electric charges exist on the surface.
Examples of the inorganic compound include glass and ceramics, and have a polar group on the surface.

上記の樹脂としてはポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート等のポリエステルであって水酸基又はカルボキシル基を有するもの、カルボキシル基又はアミノ基を有するポリアミド、ポリビニルアルコール、アクリル酸又はメタクリル酸の重合体又は共重合体等が挙げられる。   Examples of the resin include polyesters such as polyethylene terephthalate, polybutylene terephthalate, and polyethylene naphthalate, which have a hydroxyl group or a carboxyl group, a polyamide having a carboxyl group or an amino group, a polymer of polyvinyl alcohol, acrylic acid, or methacrylic acid, or A copolymer etc. are mentioned.

また、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリスチレン、トリアセチルセルロース、ジアセチルセルロース、アセテートブチレートセルロース、ポリエーテルサルフォン、ポリイミド、ポリメチルペンテン、ポリ塩化ビニル、ポリビニルアセタール、ポリメタクリル酸メチル、ポリカーボネート、ポリウレタン等を使用することもできる。   Also, polyethylene, polypropylene, polystyrene, triacetyl cellulose, diacetyl cellulose, acetate butyrate cellulose, polyethersulfone, polyimide, polymethylpentene, polyvinyl chloride, polyvinyl acetal, polymethyl methacrylate, polycarbonate, polyurethane, etc. are used. You can also

固体基材の表面をコロナ放電処理、グロー放電処理、プラズマ処理、紫外線照射、オゾン処理、アルカリや酸などによる化学的エッチング処理等して極性基を導入してもよい。このような処理により極性基を導入した樹脂を使用してもよい。   The surface of the solid substrate may be subjected to corona discharge treatment, glow discharge treatment, plasma treatment, ultraviolet irradiation, ozone treatment, chemical etching treatment with alkali or acid, etc. to introduce polar groups. You may use resin which introduce | transduced the polar group by such a process.

本発明において、固体基材には、基材上に樹脂膜、無機膜や有機材料と無機材料のどちらも含む膜が積層されているものも包含される。それら樹脂膜層、無機膜層や有機−無機膜は固体基材のどこに位置してもよく、固体基材の最表面に位置しない場合は極性基を有する必要はない。   In the present invention, the solid substrate includes those in which a resin film, an inorganic film, or a film containing both an organic material and an inorganic material is laminated on the substrate. These resin film layer, inorganic film layer, and organic-inorganic film may be located anywhere on the solid substrate, and need not have a polar group when not located on the outermost surface of the solid substrate.

それら樹脂膜層、無機膜層や有機−無機膜は固体基材に光学機能や機械的特性向上する等の機能を付与してもよく、付与しなくてもよい。固体基材の機械的特性を向上させる層の例としてはハードコート層が挙げられる。   The resin film layer, the inorganic film layer, and the organic-inorganic film may or may not be provided with a function of improving the optical function and mechanical properties of the solid substrate. An example of a layer that improves the mechanical properties of the solid substrate is a hard coat layer.

光学機能を付与するための膜の例としては、反射防止膜、反射膜、半透過半反射膜、可視光反射赤外線透過膜、赤外線反射可視光透過膜、青色反射膜、緑色反射又は赤色反射膜、輝線カットフィルター、色調補正膜が1つ以上含まれる光学機能膜が挙げられる。これらの光学機能膜を有する固体基材上に微粒子積層膜を形成することで、さらに別の光学機能を付与することができる。   Examples of films for imparting optical functions include antireflection films, reflective films, semi-transmissive and semi-reflective films, visible light reflective infrared transmissive films, infrared reflective visible light transmissive films, blue reflective films, green reflective or red reflective films , An optical function film including at least one bright line cut filter and a color tone correction film. Further optical functions can be imparted by forming a fine particle laminate film on a solid substrate having these optical function films.

例えば、反射防止機能、輝線カットフィルター機能、近赤外カットフィルター機能、色調補正機能のうち一つ以上の機能を有する固体基材に、微粒子積層膜を形成すると、反射防止機能、輝線カットフィルター機能、近赤外カットフィルター機能、色調補正機能のうち、固体基材にない一つ以上の機能を付与することができ、プラズマディスプレイパネル、液晶表示装置等のディスプレイのための光学フィルタなどに好適な光学部材が得られる。   For example, when a multilayer film is formed on a solid substrate having one or more of an antireflection function, a bright line cut filter function, a near infrared cut filter function, and a color tone correction function, the antireflection function and the bright line cut filter function Among the near-infrared cut filter function and the color tone correction function, one or more functions not provided in the solid substrate can be given, and it is suitable for an optical filter for a display such as a plasma display panel or a liquid crystal display device. An optical member is obtained.

また、導光板、拡散フィルム、プリズムフィルム、輝度向上フィルム、偏光板等の光学フィルムを固体基材として用いて、微粒子積層膜を含む反射防止膜を形成して得られる光学フィルタは、光学フィルム界面での反射が抑制される。このため、このような光学フィルタを組み込んだ液晶表示装置は輝度も向上する。   In addition, an optical filter obtained by forming an antireflection film including a fine particle laminated film using an optical film such as a light guide plate, a diffusion film, a prism film, a brightness enhancement film, and a polarizing plate as a solid substrate is an optical film interface. Reflection at is suppressed. For this reason, the brightness of a liquid crystal display device incorporating such an optical filter is improved.

また、光拡散性フィルムを固体基材として用いて、その固体基材に微粒子積層膜を含む半透過半反射膜層を形成して得られる光学フィルタを組み込んだ半透過型液晶表示装置は外光反射による輝度が向上する。このように、フラットパネルディスプレイ等のディスプレイのためのフィルタ部材に微粒子積層膜を形成させることでそれら部材の高機能化を達成することができる。   A transflective liquid crystal display device incorporating an optical filter obtained by using a light diffusing film as a solid substrate and forming a transflective film layer including a fine particle laminated film on the solid substrate Brightness due to reflection is improved. As described above, by forming a fine particle laminated film on a filter member for a display such as a flat panel display, it is possible to achieve high functionality of those members.

微粒子積層膜の形成を望まない固体基材の表面部分又は裏面部分には、粘着フィルムなどを貼り付ける等の微粒子分散液と固体基材との接触防止を施すことで、微粒子積層膜の形成を防ぐことができる。   Forming a fine particle laminate film by preventing contact between the fine particle dispersion and the solid substrate, such as attaching an adhesive film, to the front or back surface of the solid substrate where formation of the fine particle laminate film is not desired Can be prevented.

(C)ハードコート材料
ハードコート膜を積層することで固体基材の機械的特性が向上する。ハードコート膜となる材料には、アクリル系樹脂、ウレタン系樹脂、メラミン系樹脂等の重合性不飽和二重結合含有化合物の架橋体や、有機シリケート化合物、シリコーン系樹脂又は金属酸化物などが挙げられる。重合性不飽和二重結合含有化合物としては、熱硬化性樹脂、放射線硬化型樹脂等の硬化性樹脂を用いることができるが、特に多官能重合性不飽和二重結合含有化合物を用いることが好ましい。
(C) Hard coat material By laminating a hard coat film, the mechanical properties of the solid substrate are improved. Examples of materials for the hard coat film include cross-linked products of polymerizable unsaturated double bond-containing compounds such as acrylic resins, urethane resins, and melamine resins, organic silicate compounds, silicone resins, and metal oxides. It is done. As the polymerizable unsaturated double bond-containing compound, a curable resin such as a thermosetting resin or a radiation curable resin can be used, and it is particularly preferable to use a polyfunctional polymerizable unsaturated double bond-containing compound. .

多官能重合性不飽和二重結合含有化合物としては、多価アルコールとメタクリル酸又はアクリル酸とのエステル(例、エチレングリコールジ−(メタ)アクリレート、1,4−ジクロヘキサンジアクリレート、ペンタエリスリトールテトラ−(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ−(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリ−(メタ)アクリレート、トリメチロールエタントリ−(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールテトラ−(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールペンタ−(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ−(メタ)アクリレート、1,3,5−シクロヘキサントリオールトリメタクリレート、ポリウレタンポリアクリレート、ポリエステルポリアクリレート)、ビニルベンゼンの誘導体(例、1,4−ジビニルベンゼン、4−ビニル安息香酸−2−アクリロイルエチルエステル、1,4−ジビニルシクロヘキサノン)、ビニルスルホン化合物(例、ジビニルスルホン)、アクリルアミド化合物(例、メチレンビスアクリルアミド)及びメタクリルアミド等が上げられるが、これに制限するものではない。上記において(メタ)アクリレートは「メタクリレート又はアクリレート」を意味する。   Polyfunctional polymerizable unsaturated double bond-containing compounds include esters of polyhydric alcohols and methacrylic acid or acrylic acid (eg, ethylene glycol di- (meth) acrylate, 1,4-dichlorohexane diacrylate, pentaerythritol tetra -(Meth) acrylate, pentaerythritol tri- (meth) acrylate, trimethylolpropane tri- (meth) acrylate, trimethylolethane tri- (meth) acrylate, dipentaerythritol tetra- (meth) acrylate, dipentaerythritol penta- (Meth) acrylate, dipentaerythritol hexa- (meth) acrylate, 1,3,5-cyclohexanetriol trimethacrylate, polyurethane polyacrylate, polyester polyacrylate), vinyl base Zen derivatives (eg, 1,4-divinylbenzene, 4-vinylbenzoic acid-2-acryloylethyl ester, 1,4-divinylcyclohexanone), vinylsulfone compounds (eg, divinylsulfone), acrylamide compounds (eg, methylenebis) Acrylamide) and methacrylamide are examples, but not limited thereto. In the above, (meth) acrylate means "methacrylate or acrylate".

市販されている多官能重合性不飽和二重結合含有化合物の例としては、三菱レイヨン(株)製の多官能アクリル系硬化塗料(ダイヤビームシリーズなど)、長瀬産業(株)製の多官能アクリル系硬化塗料(デナコールシリーズなど)、新中村化学工業(株)製の多官能アクリル系硬化塗料(NKエステルシリーズなど)、大日本インキ化学工業(株)製の多官能アクリル系硬化塗料(UNIDICシリーズなど)、東亜合成化学工業(株)製の多官能アクリル系硬化塗料(アロニックスシリーズなど)、日本油脂(株)製の多官能アクリル系硬化塗料(ブレンマーシリーズなど)、日本化薬(株)製の多官能アクリル系硬化塗料(KAYARADシリーズなど)、共栄社化学(株)製の多官能アクリル系硬化塗料(ライトエステルシリーズ、ライトアクリレートシリーズ等)が挙げられる。   Examples of commercially available polyfunctional polymerizable unsaturated double bond-containing compounds include polyfunctional acrylic cured paints (Diabeam series, etc.) manufactured by Mitsubishi Rayon Co., Ltd., and polyfunctional acrylics manufactured by Nagase Sangyo Co., Ltd. -Based cured paint (Denacol series, etc.), Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd. polyfunctional acrylic cured paint (NK ester series, etc.), Dainippon Ink & Chemicals Co., Ltd. multifunctional acrylic cured paint (UNIDIC) Series), multifunctional acrylic cured paints made by Toa Gosei Chemical Industry Co., Ltd. (Aronix series, etc.), multifunctional acrylic cured paints made by NOF Corporation (Blenmer series, etc.), Nippon Kayaku ( Co., Ltd. polyfunctional acrylic curable paint (KAYARAD series, etc.), Kyoeisha Chemical Co., Ltd. polyfunctional acrylic curable paint (light ester series, Ito acrylate series, etc.).

これらの多官能重合性不飽和二重結合含有化合物の重合を効率よく開始させる目的で重合開始剤を添加することが特に有効であり、その重合開始剤としてはアセトフェノン類、ベンゾフェノン類、ミヒラーズベンゾイルベンゾエート、α−アミロキシムエステル、テトラメチルチウラムモノサルファイド及びチオキサントン類が好ましい。   It is particularly effective to add a polymerization initiator for the purpose of efficiently initiating the polymerization of these polyfunctional polymerizable unsaturated double bond-containing compounds. As the polymerization initiator, acetophenones, benzophenones, Michler's benzoyl are used. Benzoates, α-amyloxime esters, tetramethylthiuram monosulfide and thioxanthones are preferred.

また、重合を促進させる目的で重合開始剤に加えて増感剤を用いてもよい。
さらに、レベリング剤、充填剤を添加してもよく、これら化合物中に必要に応じて添加剤を加えて塗工材料とする。
In addition to a polymerization initiator, a sensitizer may be used for the purpose of promoting polymerization.
Furthermore, a leveling agent and a filler may be added, and additives are added to these compounds as necessary to form a coating material.

この塗工材料を例えばバーコート法、ナイフコート法、ロールコート法、ブレードコート法、ダイコート法、グラビアコート法等を用いて、コーティングして塗膜を形成させ、乾燥後、熱硬化型樹脂組成物を用いる場合には、加熱して該塗膜を硬化させることにより、また電離放射線硬化型樹脂組成物を用いる場合には、電離放射線を照射して該塗膜を硬化させることにより、ハードコート層を形成させてもよい。   The coating material is coated using, for example, a bar coating method, a knife coating method, a roll coating method, a blade coating method, a die coating method, a gravure coating method, etc. to form a coating film, and after drying, a thermosetting resin composition When using a product, the coating is cured by heating. When using an ionizing radiation curable resin composition, the coating is cured by irradiating with ionizing radiation. A layer may be formed.

電離放射線としては放射線、電子線、粒子線、ガンマー線、紫外線等が挙げられるが、特に紫外線が好ましく、その光源としては水銀灯による近紫外線からエキシマーレーザーによる真空紫外線までが使用できる。   Examples of the ionizing radiation include radiation, electron beams, particle beams, gamma rays, ultraviolet rays, and the like, and ultraviolet rays are particularly preferable. The light source can be from near ultraviolet rays using a mercury lamp to vacuum ultraviolet rays using an excimer laser.

ハードコート膜が形成した固体基材の市販品を用いてもよく、そのような市販品としては、きもと製のハードコートPET(KBフィルム)、東レ製のハードコートPET(タフトップN−TOP)、東洋包材製のハードコートフィルム、日新化成製のハードコートポリカーボネート(Lexan Margard、Lexan CTG AF)等が例として挙げられる。   A commercial product of a solid substrate formed with a hard coat film may be used, and as such a commercial product, hard coat PET (KB film) manufactured by Kimoto, hard coat PET manufactured by Toray (Tough Top N-TOP) Examples thereof include a hard coat film made by Toyo Packaging Co., Ltd., and a hard coat polycarbonate (Lexan Margard, Lexan CTG AF) made by Nisshin Kasei.

(D)中間層
固体基材に極性基を確実に導入するために、固体基材に中間層を積層して固体基材とすることができる。この場合、中間層は固体基材の表面層とされる。又は中間層材料が微細構造体を形成していてもよい。
(D) Intermediate layer In order to reliably introduce a polar group into a solid substrate, an intermediate layer can be laminated on the solid substrate to form a solid substrate. In this case, the intermediate layer is a surface layer of the solid substrate. Alternatively, the intermediate layer material may form a fine structure.

中間層は、固体基材と微粒子積層膜の間に設けられ、中間層が極性基を有することで固体基材と微粒子積層膜との密着性を向上させる。微粒子積層膜が中間層を介して固体基材と強固に接着するために、固体基材上の微粒子積層膜の表面硬度が向上すると考えられる。   The intermediate layer is provided between the solid base material and the fine particle laminated film, and the intermediate layer has a polar group to improve the adhesion between the solid base material and the fine particle laminated film. It is considered that the surface hardness of the fine particle laminated film on the solid substrate is improved because the fine particle laminated film is firmly bonded to the solid substrate through the intermediate layer.

中間層に含まれる極性基は、ビニル基、エポキシ基、スチリル基、メタクリロキシ基、アクリロキシ基、アミノ基、ウレイド基、クロロプロピル基、メルカプト基、スルフィド基、スルホン酸基、リン酸基、イソシアネート基、カルボキシル基、エステル基、カルボニル基、水酸基、シラノール基のうち一つ又は二つ以上の官能基であることが望ましい。
中間層の材料としては、これらの基を有する樹脂、シランカップリング剤などを使用することができる。
The polar group contained in the intermediate layer is vinyl group, epoxy group, styryl group, methacryloxy group, acryloxy group, amino group, ureido group, chloropropyl group, mercapto group, sulfide group, sulfonic acid group, phosphoric acid group, isocyanate group. , A carboxyl group, an ester group, a carbonyl group, a hydroxyl group, or a silanol group, preferably one or more functional groups.
As the material for the intermediate layer, resins having these groups, silane coupling agents, and the like can be used.

中間層の材料としての樹脂には、ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート等のポリエステルであって水酸基又はカルボキシル基を有するもの、カルボキシル基又はアミノ基を有するポリアミド、ポリビニルアルコール、アクリル酸又はメタクリル酸の重合体若しくは共重合体などがある。   Examples of the resin as the material for the intermediate layer include polyesters such as polyethylene terephthalate, polybutylene terephthalate, and polyethylene naphthalate, which have a hydroxyl group or a carboxyl group, a polyamide having a carboxyl group or an amino group, polyvinyl alcohol, acrylic acid, or methacrylic acid. There are acid polymers or copolymers.

固体基材へのこの中間層の積層は、例えば、固体基材に極性基を有する樹脂を溶剤に溶解して塗布し乾燥する方法、中間層の樹脂の原料となるモノマーやオリゴマー(この中には、極性基を有するモノマーやオリゴマーが含まれる)を固体基材に塗布し、反応硬化させる方法、中間層としての樹脂の原料モノマーやオリゴマーにシランカップリング剤を混ぜて塗布し、反応硬化させる方法などにより行うことができる。前述の中間層の形成方法に加えて、中間層材料を金型に転写するなどして、中間層材料を固体基材にしてもよい。   The intermediate layer is laminated on the solid substrate by, for example, a method in which a resin having a polar group is dissolved in a solid substrate and applied and dried. (Including monomers and oligomers having polar groups) are applied to a solid substrate and reacted and cured, and a silane coupling agent is mixed and applied to a resin raw material monomer and oligomer as an intermediate layer and cured. It can be performed by a method or the like. In addition to the method for forming the intermediate layer described above, the intermediate layer material may be used as a solid substrate, for example, by transferring the intermediate layer material to a mold.

極性基が付与されたポリエステル系樹脂の塗布液を次のように製造してもよい。
ジメチルテレフタレート117部、ジメチルイソフタレート117部、エチレングリコール103部、ジエチレングリコール58部、酢酸亜鉛0.08部及び三酸化アンチモン0.08部を反応容器中で40〜220℃に昇温させて、3時間エステル交換反応させ、ポリエステル形成成分を得る。
You may manufacture the coating liquid of the polyester-type resin to which the polar group was provided as follows.
117 parts of dimethyl terephthalate, 117 parts of dimethyl isophthalate, 103 parts of ethylene glycol, 58 parts of diethylene glycol, 0.08 part of zinc acetate and 0.08 part of antimony trioxide were heated to 40-220 ° C. in a reaction vessel, and 3 Transesterification is performed for a time to obtain a polyester-forming component.

次いで、5−ナトリウムスルホイソフタル酸9部を添加して220〜260℃で1時間エステル化反応させ、さらに減圧下(10〜0.2mmHg)で2時間重縮合反応を行ない、平均分子量18000、軟化点140℃のスルホン酸基を付与したポリエステル共重合体を得る。   Next, 9 parts of 5-sodium sulfoisophthalic acid was added, and the esterification reaction was carried out at 220 to 260 ° C. for 1 hour, followed by a polycondensation reaction under reduced pressure (10 to 0.2 mmHg) for 2 hours, with an average molecular weight of 18000, softening A polyester copolymer having a sulfonic acid group having a point of 140 ° C. is obtained.

このスルホン酸基を付与したポリエステル共重合体300部とnブチルセロソルブ140部とを150〜170℃で3時間撹拌して均一な粘稠溶融液を得、この溶融液に水560部を徐々に添加してポリエステル系樹脂水分散液を得ることができる。
市販品であるスルホン酸が付与された水分散ポリエステル樹脂(例えば、バイロナールMD−1200、東洋紡積(株)製、商品名)を利用してもよい。
300 parts of the polyester copolymer provided with the sulfonic acid group and 140 parts of n-butyl cellosolve are stirred at 150 to 170 ° C. for 3 hours to obtain a uniform viscous melt, and 560 parts of water is gradually added to the melt. Thus, an aqueous polyester resin dispersion can be obtained.
A commercially available water-dispersed polyester resin to which a sulfonic acid is added (for example, Vylonal MD-1200, manufactured by Toyobo Co., Ltd., trade name) may be used.

前記手順において、5−ナトリウムスルホイソフタル酸の代わりに、スルホイソフタル酸、スルホテレフタル酸、4−スルホナフタレン−2,7−ジカルボン酸及びそれらのエステル形成性誘導体などの金属塩を用いても、スルホン酸基を付与したポリエステル共重合体を得ることができる。   In the above procedure, a metal salt such as sulfoisophthalic acid, sulfoterephthalic acid, 4-sulfonaphthalene-2,7-dicarboxylic acid and their ester-forming derivatives may be used instead of 5-sodium sulfoisophthalic acid. A polyester copolymer provided with an acid group can be obtained.

金属塩における金属の例としては、ナトリウム、リチウム、カリウム、マグネシウムなどが挙げられる。
また、5−ナトリウムスルホイソフタル酸の代わりに、5−アミノイソフタル酸などを用いることで、アミノ基を付与したポリエステル共重合体を得ることができる。
Examples of the metal in the metal salt include sodium, lithium, potassium, magnesium and the like.
Moreover, the polyester copolymer provided with the amino group can be obtained by using 5-aminoisophthalic acid or the like instead of 5-sodium sulfoisophthalic acid.

極性基が付与されたポリウレタン系樹脂を次のように製造してもよい。
アリルアルコールから出発したエチレンオキシドのポリエーテルをメタ重亜硫酸ナトリウムでスルホン化したスルホン酸ナトリウムを含むポリエーテル(SO−含有量8.3重量%、ポリエチレンオキシド含有量83重量%)192部、ポリテトラメチレンアジペート1013部及びビスフェノールAで開始されたポリプロピレンオキシドポリエーテル248部を混合し、減圧下(10〜0.2mmHg)100℃で脱水してこの混合物を70℃とし、これにイソホロンジイソシアネート178部とヘキサメチレン−1,6−ジイソシアネート244部との混合物を加え、さらに、生成混合物をイソシアネート含有量が5.6重量%になるまで80℃から90℃の範囲で撹拌する。
You may manufacture the polyurethane-type resin to which the polar group was provided as follows.
Polyethylene containing sodium sulfonate obtained by sulfonating a polyether of ethylene oxide starting from allyl alcohol with sodium metabisulfite (SO 3 -content: 8.3% by weight, polyethylene oxide content: 83% by weight), 192 parts, polytetra 1013 parts of methylene adipate and 248 parts of polypropylene oxide polyether initiated with bisphenol A were mixed and dehydrated under reduced pressure (10-0.2 mmHg) at 100 ° C. to 70 ° C., to which 178 parts of isophorone diisocyanate and A mixture with 244 parts of hexamethylene-1,6-diisocyanate is added and the resulting mixture is further stirred in the range of 80 ° C. to 90 ° C. until the isocyanate content is 5.6% by weight.

得られたプレポリマーを60℃に冷却し、ヘキサメチレジイソシアネート3モルと水1モルから得られるビウレットポリイソシアネート56部とイソホロンジアミンとアセトンから得られるビスケチミン173部とを順次加える。
次いでヒドラジン水和物の15部を溶解した50℃水溶液をこの混合物に激しく撹拌しながら加え、ポリウレタン系樹脂水分散液を得ることができる。
The obtained prepolymer is cooled to 60 ° C., and 56 parts of biuret polyisocyanate obtained from 3 moles of hexamethylenedisocyanate and 1 mole of water, and 173 parts of bisketimine obtained from isophoronediamine and acetone are sequentially added.
Next, a 50 ° C. aqueous solution in which 15 parts of hydrazine hydrate is dissolved can be added to this mixture with vigorous stirring to obtain an aqueous polyurethane resin dispersion.

官能基が付与するように調製された樹脂としては、有機溶剤可溶型の非晶性ポリエステル樹脂が挙げられ、その市販品としては、東洋紡績(株)製、バイロン(103、200、220、226、240、245、270、280、290、296、300、500、516、530、550、560、600、630、650、660、670、885、GK110、GK130、GK140、GK150、GK180、GK190、GK250、GK330、GK360、GK590、GK640、GK680、GK780、GK810、GK880、GK890、BX1001、商品名)が挙げられる。   Examples of the resin prepared so that the functional group is imparted include organic solvent-soluble amorphous polyester resins. Examples of commercially available products include BYRON (103, 200, 220, manufactured by Toyobo Co., Ltd.). 226, 240, 245, 270, 280, 290, 296, 300, 500, 516, 530, 550, 560, 600, 630, 650, 660, 670, 885, GK110, GK130, GK140, GK150, GK180, GK190, GK250, GK330, GK360, GK590, GK640, GK680, GK780, GK810, GK880, GK890, BX1001, trade names).

また、水分散ポリエステル樹脂が挙げられ、その市販品としては、東洋紡積(株)製、バイロナール(MD−1100、MD−1200、MD−1220、MD−1245、MD−1250、MD−1335、MD−1400、MD−1480、MD−1500、MD−1930、MD−1985、商品名)が挙げられる。   Moreover, water-dispersed polyester resin is mentioned, As a commercial item, Toyobo Co., Ltd. product, Bironal (MD-1100, MD-1200, MD-1220, MD-1245, MD-1250, MD-1335, MD -1400, MD-1480, MD-1500, MD-1930, MD-1985, trade names).

また、ポリエステルウレタン樹脂が挙げられ、その市販品としては、東洋紡績(株)製、バイロン(UR−1350、UR−1400、UR−2300、UR−3200、UR−3210、UR−3500、UR−4125、UR−5537、UR−8200、UR−8300、UR−8700、UR−9500、商品名)が挙げられる。   Moreover, a polyester urethane resin is mentioned, As a commercial item, Toyobo Co., Ltd. make, Byron (UR-1350, UR-1400, UR-2300, UR-3200, UR-3210, UR-3500, UR- 4125, UR-5537, UR-8200, UR-8300, UR-8700, UR-9500, trade names).

本発明において、前記シランカップリング剤としては、下記化学式(I)で表されるものが挙げられる。   In the present invention, examples of the silane coupling agent include those represented by the following chemical formula (I).

Figure 2009175672

(ただし、式中、Rは非加水分解性基であって、ビニルアルキル基、エポキシアルキル基、スチリルアルキル基、メタクリロキシアルキル基、アクリロキシアルキル基、アミノアルキル基、ウレイドアルキル基、クロロプロピルアルキル基やスルフィドアルキル基等のハロゲンアルキル基、メルカプトアルキル基、イソシアネートアルキル基又はヒドロキシアルキル基である。Rは加水分解性基であって炭素数が1〜6のアルキル基、nは1〜3の整数を示し、Rが複数ある場合、各Rは互いに同一であっても異なっていてもよく、ORが複数ある場合、各ORは互いに同一であっても異なっていてもよい。)
Figure 2009175672

(In the formula, R 1 is a non-hydrolyzable group, which is a vinylalkyl group, an epoxyalkyl group, a styrylalkyl group, a methacryloxyalkyl group, an acryloxyalkyl group, an aminoalkyl group, a ureidoalkyl group, a chloropropyl group, A halogen alkyl group such as an alkyl group or a sulfide alkyl group, a mercaptoalkyl group, an isocyanate alkyl group or a hydroxyalkyl group, R 2 is a hydrolyzable group having 1 to 6 carbon atoms, and n is 1 to 1 3 of an integer, when R 1 are a plurality, each R 1 may be the being the same or different, when OR 2 is more, even if each OR 2 is not being the same or different Good.)

固体基材のシランカップリング剤処理の例としては、まず、シランカップリング剤を水性媒体中で、酸の存在下又は不存在下、アルコキシ基を加水分解してシラノール基とし、得られたシラン溶液に固体基材を接触させることで、固体基材表面に存在する水酸基にシラノール基を水素結合的に吸着させ、その後、固体基材を乾燥処理することにより行うことができ、これにより脱水縮合反応がおこり、非加水分解性基を固体基材表面に付与することができる。   As an example of a silane coupling agent treatment of a solid substrate, first, a silane coupling agent is hydrolyzed to an silanol group by hydrolyzing an alkoxy group in an aqueous medium in the presence or absence of an acid. By bringing the solid substrate into contact with the solution, silanol groups can be adsorbed by hydrogen bonding to the hydroxyl groups present on the surface of the solid substrate, and then the solid substrate can be dried, thereby performing dehydration condensation. A reaction takes place and a non-hydrolyzable group can be imparted to the surface of the solid substrate.

非加水分解性基と反応しなかったシラノール基も本発明における極性基として機能し、微粒子積層膜と相互作用することで、固体基材と微粒子積層膜の密着が得られる。詳細は明らかではないが、相互作用には、共有結合、分子間力、ファンデアワールス力のいずれかが一つ以上寄与していると考えられる。   The silanol group that has not reacted with the non-hydrolyzable group also functions as a polar group in the present invention, and the solid substrate and the fine particle laminated film can be adhered by interacting with the fine particle laminated film. Although details are not clear, it is considered that one or more of covalent bonds, intermolecular forces, and van der Waals forces contribute to the interaction.

シランカップリング剤としては、具体的には、ビニルトリクロルシラン、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、ビニルフェニルトリメトキシシラン、ビニルトリス(2−メトキシエトキシ)シラン等のビニル基官能性シラン、メチルトリメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、フェニルトリメトキシシラン、フェニルトリエトキシシラン等のアルキル基又はアリール基官能性シラン、β−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルメチルジエトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルメチルジイソプロペノキシシラン、メチルトリグリシドキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリエトキシシラン等のエポキシ基官能性シラン、p−スチリルトリメトキシシラン等のスチリル基官能性シラン、γ−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、γ−メタクリロキシプロピルメチルジメトキシシラン、メチルトリ(メタクリロキシエトキシ)シラン、γ−メタクリロキシプロピルメチルジエトキシシラン、γ−メタクリロキシプロピルトリエトキシシラン等のメタクリロキシ基官能性シラン、γ−アクリロキシプロピルトリメトキシシラン等のアクリロキシ基官能性シラン、γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、γ−アミノプロピルトリエトキシシラン、γ−アミノプロピルメチルジメトキシシラン、γ−アミノプロピルメチルジエトキシシラン、N−β−(アミノエチル)−γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−β−(アミノエチル)−γ−アミノプロピルメチルジメトキシシラン、N−β−(アミノエチル)−γ−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−β−(アミノエチル)−γ−アミノプロピルメチルジエトキシシラン、N−β−(N−ビニルベンジルアミノエチル)−γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、γ−アニリノプロピルトリメトキシシラン、γ−トリエトキシシリル−N−(1,3−ジメチル−ブチリデン)−プロピルアミン、N−フェニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン等のアミノ基官能性シラン、γ−ウレイドプロピルトリエトキシシラン等のウレイド基官能性シラン、γ−クロロプロピルトリメトキシシラン等のクロロプロピル基官能性シラン、γ−メルカプトプロピルトリメトキシシラン、γ−メルカプトプロピルトリエトキシシラン、γ−メルカプトプロピルメチルジメトキシシラン等のメルカプト基官能性シラン、ビス(トリエトキシシリルプロピル)テトラスルフィド等のスルフィド基官能性シラン、γ−イソシアナートプロピルトリエトキシシラン、トリメチルシリルイソシアネート、ジメチルシリルイソシアネート、フェニルシリルトリイソシアネート、テトライソシアネートシラン、メチルシリルトリイソシアネート、ビニルシリルトリイソシアネート、エトキシシラントリイソシアネート等のイソシアネート基官能性シラン等がある。   Specific examples of the silane coupling agent include vinyl trichlorosilane, vinyltrimethoxysilane, vinyltriethoxysilane, vinylphenyltrimethoxysilane, vinyltris (2-methoxyethoxy) silane, and other vinyl group functional silanes, Alkyl group or aryl group functional silane such as methoxysilane, methyltriethoxysilane, phenyltrimethoxysilane, phenyltriethoxysilane, β- (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane, γ-glycidoxypropyltri Epoxy functional groups such as methoxysilane, γ-glycidoxypropylmethyldiethoxysilane, γ-glycidoxypropylmethyldiisopropenoxysilane, methyltriglycidoxysilane, γ-glycidoxypropyltriethoxysilane Functional silane, styryl group functional silane such as p-styryltrimethoxysilane, γ-methacryloxypropyltrimethoxysilane, γ-methacryloxypropylmethyldimethoxysilane, methyltri (methacryloxyethoxy) silane, γ-methacryloxypropylmethyldi Methacryloxy group functional silanes such as ethoxysilane, γ-methacryloxypropyltriethoxysilane, acryloxy group functional silanes such as γ-acryloxypropyltrimethoxysilane, γ-aminopropyltrimethoxysilane, γ-aminopropyltriethoxysilane , Γ-aminopropylmethyldimethoxysilane, γ-aminopropylmethyldiethoxysilane, N-β- (aminoethyl) -γ-aminopropyltrimethoxysilane, N-β- (aminoethyl) -γ-aminopro Rumethyldimethoxysilane, N-β- (aminoethyl) -γ-aminopropyltriethoxysilane, N-β- (aminoethyl) -γ-aminopropylmethyldiethoxysilane, N-β- (N-vinylbenzylamino) Ethyl) -γ-aminopropyltrimethoxysilane, γ-anilinopropyltrimethoxysilane, γ-triethoxysilyl-N- (1,3-dimethyl-butylidene) -propylamine, N-phenyl-3-aminopropyltri Amino group functional silane such as methoxysilane, ureido group functional silane such as γ-ureidopropyltriethoxysilane, chloropropyl group functional silane such as γ-chloropropyltrimethoxysilane, γ-mercaptopropyltrimethoxysilane, γ -Mercaptopropyltriethoxysilane, γ-mercaptopropi Mercapto group functional silane such as methyldimethoxysilane, sulfide group functional silane such as bis (triethoxysilylpropyl) tetrasulfide, γ-isocyanatopropyltriethoxysilane, trimethylsilyl isocyanate, dimethylsilyl isocyanate, phenylsilyl triisocyanate, tetra There are isocyanate group functional silanes such as isocyanate silane, methylsilyl triisocyanate, vinylsilyl triisocyanate, and ethoxysilane triisocyanate.

これらのシランカップリング剤を用いて、微粒子の表面に官能基を付与してもよい。これにより、微粒子間や微粒子−基板間に共有結合、分子間力、ファンデアワールス力のいずれか一つ以上の引力を確実に与えることができる。   A functional group may be imparted to the surface of the fine particles using these silane coupling agents. Accordingly, at least one of attractive forces among the covalent bonds, the intermolecular forces, and the van der Waals forces between the fine particles and between the fine particles and the substrate can be reliably applied.

シランカップリング剤の市販品としては、例えば、ビニル基を有するKA−1003、KBM−1003、KBE−1003、エポキシ基を有するKBM−303、KBM−403、KBE−402、KBE−403、スチリル基を有するKBM−1403、メタクリロキシ基を有するKBM−502、KBM−503、KBE−502、KBE−503、アクリロキシ基を有するKBM−5103、アミノ基を有するKBM−602、KBM−603、KBE−603、KBM−903、KBE−903、KBE−9103、KBM−573、KBM−575、KBM−6123、ウレイド基を有するKBE−585、クロロプロピル基を有するKBM−703、メルカプト基を有するKBM−802、KBM−803、スルフィド基を有するKBE−846、イソシアネート基を有するKBE−9007(いずれも信越化学工業(株)製、商品名)等が挙げられる。   Examples of commercially available silane coupling agents include KA-1003 having a vinyl group, KBM-1003, KBE-1003, KBM-303 having an epoxy group, KBM-403, KBE-402, KBE-403, and a styryl group. KBM-1403 having a methacryloxy group, KBM-502, KBM-503, KBE-502, KBE-503, KBM-5103 having an acryloxy group, KBM-602 having an amino group, KBM-603, KBE-603, KBM-903, KBE-903, KBE-9103, KBM-573, KBM-575, KBM-6123, KBE-585 having a ureido group, KBM-703 having a chloropropyl group, KBM-802 having a mercapto group, KBM -803, with sulfide group That KBE-846, KBE-9007 (Shin-Etsu Chemical none Co., Ltd., trade name) having an isocyanate group and the like.

また、シランカップリング剤をすでに溶剤や水に希釈したプライマーを用いて中間層を形成してもよい。プライマーの市販品としては、例えば、アミノ基を有するシランカップリング剤を希釈したKBP−40、KBP−41、KBP−43、KBP−90、イソシアネート基を有するシランカップリング剤を希釈したKBP−44、メルカプト基を有するシランカップリング剤を希釈したX−12−414(信越化学工業(株)製、商品名)等が挙げられる。   Alternatively, the intermediate layer may be formed using a primer in which the silane coupling agent is already diluted in a solvent or water. Examples of commercially available primers include KBP-40, KBP-41, KBP-43, KBP-90 diluted with a silane coupling agent having an amino group, and KBP-44 diluted with a silane coupling agent having an isocyanate group. And X-12-414 (trade name, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) diluted with a silane coupling agent having a mercapto group.

中間層には極性基を有する樹脂を用いることが固体基材と中間層との密着を得るために好ましい。シランカップリング剤や樹脂を中間層として固体基材上に形成する際に、採用できる塗布法としては、よく知られた方法により行うことができ、例えば、リバースロール・コート法、グラビア・コート法、キス・コート法、ロールブラッシュ法、スプレーコート法、エアナイフコート法、ワイヤーバーバーコート法、パイプドクター法及びカーテン・コート法、スピンコート法、ディップコート法、交互積層法等を採用することができる。これらの方法を単独で又は組み合わせて行うことができる。いずれの塗布法においても、微細構造を中間層が追従するように、塗布液の濃度を希釈することが望ましい。   A resin having a polar group is preferably used for the intermediate layer in order to obtain adhesion between the solid substrate and the intermediate layer. As a coating method that can be adopted when forming a silane coupling agent or resin as an intermediate layer on a solid substrate, it can be performed by a well-known method, for example, reverse roll coating method, gravure coating method, etc. Kiss coating method, roll brushing method, spray coating method, air knife coating method, wire barber coating method, pipe doctor method and curtain coating method, spin coating method, dip coating method, alternating lamination method, etc. can be adopted . These methods can be performed alone or in combination. In any coating method, it is desirable to dilute the concentration of the coating solution so that the intermediate layer follows the fine structure.

固体基材と中間層との密着をより確実にするために、固体基材にコロナ放電処理、グロー放電処理、プラズマ処理、紫外線照射、オゾン処理、アルカリや酸などによる化学的エッチング処理を施してもよい。   In order to ensure adhesion between the solid substrate and the intermediate layer, the solid substrate is subjected to corona discharge treatment, glow discharge treatment, plasma treatment, ultraviolet irradiation, ozone treatment, chemical etching treatment with alkali or acid, etc. Also good.

固体基材(中間層を含んでもよい)表面の電荷密度を均一にし、微粒子をムラなく吸着させることを目的として、電解質ポリマー層を形成してもよい。電解質ポリマーには、プラスの電荷を有するポリジアリルジメチルアンモニウムクロリド(PDDA)やポリエチレンイミン(PEI)又はマイナスの電荷を有するポリスチレンスルホン酸ナトリウム(PSS)が好ましい。   An electrolyte polymer layer may be formed for the purpose of making the charge density of the surface of the solid substrate (which may include an intermediate layer) uniform and adsorbing fine particles evenly. For the electrolyte polymer, polydiallyldimethylammonium chloride (PDDA) having a positive charge, polyethyleneimine (PEI), or sodium polystyrene sulfonate (PSS) having a negative charge is preferable.

また、アドバンスト マテリアル(Advanced Material)13巻52−54頁(2001年発行)に示されるように、交互積層法を用いて、荷電の符号の異なる2種類の電解質ポリマーの交互積層膜を固体基材(中間層を含んでもよい)に形成してもよい。   In addition, as shown in Advanced Material, Vol. 13, pp. 52-54 (issued in 2001), an alternating lamination method is used to form an alternating laminated film of two types of electrolyte polymers with different charge signs. (It may include an intermediate layer).

これら電解質ポリマー層を中間層として固体基材表面に形成する場合は、電解質ポリマー層を固体基材と密着させることが望ましい。密着させる方法としては、固体基材や固体基材表面層がポリマーである場合、熱、光、電子線、γ線等の従来公知の方法によって、電解質ポリマーなどを固体基材表面のポリマーに結合させる方法が挙げられる。   When these electrolyte polymer layers are formed on the surface of the solid substrate as an intermediate layer, it is desirable that the electrolyte polymer layer is in close contact with the solid substrate. When the solid substrate or the solid substrate surface layer is a polymer, the electrolyte polymer or the like is bonded to the polymer on the surface of the solid substrate by a conventionally known method such as heat, light, electron beam, or γ ray. The method of letting it be mentioned.

また、この方法を用いて極性基を有するモノマーを固体基材にグラフトさせてもよい。極性基を有するモノマーとしては、アクリル酸又はメタクリル酸若しくはそれらのアルカリ金属塩もしくはアミン塩、イタコン酸又はそのアルカリ金属塩もしくはアミン酸塩、アリルアミン又はそのハロゲン化水素酸塩、3−ビニルポロピオン酸又はそのアルカリ金属塩もしくはアミン塩、ビニルスルホン酸又はそのアルカリ金属塩もしくはアミン塩、ビニルスチレンスルホン酸又はそのアルカリ金属塩若しくはアミン塩、2−スルホエチレンアクリレート、2−スルホエチレンメタクリレート、3−スルホプロピレンアクリレート、3−スルホプロピレンメタクリレート又はそれらのアルカリ金属塩若しくはアミン塩、2−アクリルアミド−2−メチルプロパンスルホン酸又はそのアルカリ金属塩若しくはアミン塩、モノ(2−アクリロイルオキシエチル)アシッドホスフェート、モノ(2−メタクリロイルオキシエチル)アシッドホスフェート、アシッドホスホオキシポリエチレングリコールモノ(メタ)アクリレート等のリン酸モノマー又はそのアルカリ金属塩若しくはアミン塩が挙げられる。   Moreover, you may graft the monomer which has a polar group on a solid base material using this method. Examples of the monomer having a polar group include acrylic acid or methacrylic acid or an alkali metal salt or amine salt thereof, itaconic acid or an alkali metal salt or amine acid salt thereof, allylamine or a hydrohalic acid salt thereof, or 3-vinyl propionic acid. Or its alkali metal salt or amine salt, vinyl sulfonic acid or its alkali metal salt or amine salt, vinyl styrene sulfonic acid or its alkali metal salt or amine salt, 2-sulfoethylene acrylate, 2-sulfoethylene methacrylate, 3-sulfopropylene Acrylate, 3-sulfopropylene methacrylate or an alkali metal salt or amine salt thereof, 2-acrylamido-2-methylpropanesulfonic acid or an alkali metal salt or amine salt thereof, mono (2-acryloyl) Oxyethyl) acid phosphate, mono (2-methacryloyloxyethyl) acid phosphate, phosphoric acid monomer or an alkali metal salt or amine salt thereof, such as acidphosphoxyethyl polyethylene glycol mono (meth) acrylate and the like.

(E)微粒子積層膜の形成方法
Langmuir,Vol.13,pp.6195−6203,(1997)に示されるように、固体基材に電解質ポリマー溶液(A液)を接触する工程と微粒子分散液(B液)を接触する工程とを交互に繰り返す方法(交互積層法)により、固体基材上に微粒子積層膜を形成することができる。より具体的には、以下の(i)〜(iii)の工程により形成される。
(i)固体基材表面に電解質ポリマー溶液(A液)又は微粒子分散液(B液)を接触させる工程、次いでリンスする工程、
(ii)前記A液を接触させた後の固体基材表面にA液の電解質ポリマーと反対電荷を有する微粒子の分散液を接触させる工程、又は前記B液を接触させた後の固体基材表面にB液の微粒子と反対電荷を有する電解質ポリマーの溶液を接触させる工程、次いでリンスする工程、及び
(iii)(i)と(ii)を交互に繰り返す工程
この交互積層法によると、電解質ポリマー溶液と微粒子分散液とが接触することで、電解質ポリマー及び微粒子は交互に吸着して微粒子積層膜が形成される。繰り返す回数に特に制限はないが、その回数により、薄膜の膜厚を制御することができる。上記の交互積層法において、交互に繰り返す回数は、1回以上百回以下とすることが透明性を確保する上で好ましい。また上記の交互積層法において、電解質ポリマー溶液に接触する工程で終わるよりも、微粒子分散溶液に接触する工程で終わることが好ましい。
(E) Formation method of fine particle laminated film Langmuir, Vol. 13, pp. 6195-6203, (1997), a method of alternately repeating the step of contacting the electrolyte polymer solution (liquid A) and the step of contacting the fine particle dispersion (liquid B) with the solid substrate (alternate lamination method) ) To form a fine particle laminated film on the solid substrate. More specifically, it is formed by the following steps (i) to (iii).
(I) a step of bringing the electrolyte polymer solution (liquid A) or the fine particle dispersion (liquid B) into contact with the solid substrate surface, and then a rinsing step;
(Ii) A step of bringing a dispersion of fine particles having a charge opposite to that of the electrolyte polymer of the liquid A into contact with the surface of the solid base after the liquid A is contacted, or the surface of the solid base after the liquid B is contacted A step of contacting a solution of an electrolyte polymer having the opposite charge with the fine particles of the liquid B, a step of rinsing, and a step of alternately repeating (iii), (i) and (ii) And the fine particle dispersion come into contact with each other, whereby the electrolyte polymer and the fine particles are alternately adsorbed to form a fine particle laminated film. The number of repetitions is not particularly limited, but the thickness of the thin film can be controlled by the number of repetitions. In the above alternate lamination method, the number of times of repeating alternately is preferably 1 to 100 times in order to ensure transparency. Moreover, in said alternating lamination method, it is preferable to complete | finish in the process contacted with a fine particle dispersion solution rather than the process contacted with an electrolyte polymer solution.

各工程において吸着が進行して表面電荷が反転すると、さらなる静電吸着は起こらなくなるために、電解質ポリマー溶液又は微粒子分散溶液の一回の接触により形成される膜の厚さは制御できる。また余分に物理吸着した材料は、吸着面をリンスすることで除去できる。   When adsorption progresses in each step and the surface charge is reversed, further electrostatic adsorption does not occur. Therefore, the thickness of the film formed by one contact of the electrolyte polymer solution or the fine particle dispersion solution can be controlled. Further, the material that has been physically adsorbed excessively can be removed by rinsing the adsorption surface.

さらに、表面電荷が反転する限り、膜の形成を継続することができる。そのため、通常のディップコート法よりも、交互積層法で形成した薄膜の膜厚均一性は高く、かつ膜厚制御性も高い。高い膜厚制御性は微粒子積層膜が光干渉効果によって所望の光学機能を発現するために重要である。リンス液は、水、有機溶媒又は水と水溶性の有機溶媒のような混合溶媒が好ましい。水溶性の有機溶媒としては、例えば、メタノール、エタノール、プロパノール、アセトン、ジメチルホルムアミド、アセトニトリル等が挙げられる。   Furthermore, as long as the surface charge is reversed, the film formation can be continued. Therefore, the film thickness uniformity of the thin film formed by the alternating lamination method is higher and the film thickness controllability is higher than the normal dip coating method. High film thickness controllability is important for the fine particle laminated film to exhibit a desired optical function by the optical interference effect. The rinsing liquid is preferably water, an organic solvent, or a mixed solvent such as water and a water-soluble organic solvent. Examples of the water-soluble organic solvent include methanol, ethanol, propanol, acetone, dimethylformamide, acetonitrile and the like.

微粒子積層膜の形成装置としては、J.Appl.Phys.,Vol.79,pp.7501−7509,(1996)や特願2000−568599号に示されるように、固体基材を固定したアームが自動的に動き、プログラムに従って固体基材を電解質ポリマー溶液中や微粒子分散液中又はリンス液中に浸漬させるディッパーと呼ばれる装置を用いてもよい。   As an apparatus for forming a fine particle laminated film, J.A. Appl. Phys. , Vol. 79, pp. As shown in 7501-7509, (1996) and Japanese Patent Application No. 2000-568599, the arm to which the solid substrate is fixed automatically moves, and the solid substrate is moved into the electrolyte polymer solution, the fine particle dispersion or the rinse according to the program. You may use the apparatus called a dipper to immerse in a liquid.

また、固体基材上に電解質ポリマー溶液又は微粒子分散液を滴下又はスプレーすることで微粒子積層膜を形成してもよい。その際、リンス液は滴下、スプレー、シャワーのいずれか又は組み合わせた方法で供給されてもよい。また固体基材は、搬送や回転などの運動を行っていてもよい。   Further, the fine particle laminated film may be formed by dropping or spraying an electrolyte polymer solution or a fine particle dispersion on a solid substrate. At that time, the rinsing liquid may be supplied by any of dripping, spraying, showering, or a combined method. Further, the solid substrate may perform movement such as conveyance and rotation.

(F)微粒子分散液
本発明で用いる微粒子分散液は、後述する微粒子が、水、有機溶媒又は水と水溶性の有機溶媒のような混合溶媒である媒体(液)に分散されたものである。水溶性の有機溶媒としては、例えば、メタノール、エタノール、プロパノール、アセトン、ジメチルホルムアミド、アセトニトリル等が挙げられる。
(F) Fine particle dispersion The fine particle dispersion used in the present invention is obtained by dispersing fine particles described later in a medium (liquid) that is a mixed solvent such as water, an organic solvent, or water and a water-soluble organic solvent. . Examples of the water-soluble organic solvent include methanol, ethanol, propanol, acetone, dimethylformamide, acetonitrile and the like.

微粒子分散液中に占める微粒子の割合は、通常0.005〜15重量%程度が好ましく、0.001〜10重量%程度がより好ましく、0.01〜5重量%程度がさらに好ましい。微粒子の割合が低すぎると微粒子積層膜が形成できず、高すぎると微粒子同士の凝集により微粒子積層膜が透明性や平坦性を損なうために好ましくない。微粒子の分散性が低い場合は、分散性を改善するために、微粒子分散液を調製する際にいわゆる分散剤を用いることができる。   The proportion of fine particles in the fine particle dispersion is usually preferably about 0.005 to 15% by weight, more preferably about 0.001 to 10% by weight, and further preferably about 0.01 to 5% by weight. If the proportion of the fine particles is too low, a fine particle laminated film cannot be formed, and if it is too high, the fine particle laminated film impairs transparency and flatness due to aggregation of fine particles. When the dispersibility of the fine particles is low, a so-called dispersant can be used when preparing the fine particle dispersion in order to improve the dispersibility.

このような分散剤としては、界面活性剤や電解質ポリマー又は非イオン性のポリマーなどを用いることができる。これらの分散剤の使用量は、用いる分散剤の種類によって異なるものであるが、一般に、微粒子に対する分散剤の量が0.001〜100重量%程度であることが好ましく、多すぎるとゲル化・分離を起こしたり、分散液中で微粒子が電気的に中性となったりし、微粒子積層膜が得られにくくなる。   As such a dispersant, a surfactant, an electrolyte polymer, a nonionic polymer, or the like can be used. The amount of these dispersants to be used varies depending on the type of the dispersant to be used. In general, the amount of the dispersant with respect to the fine particles is preferably about 0.001 to 100% by weight. Separation occurs, or the fine particles become electrically neutral in the dispersion, making it difficult to obtain a fine particle laminated film.

また、微粒子分散液のpHは、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム等のアルカリ性水溶液又は塩酸、硫酸等の酸性水溶液により1〜13の範囲で調整することができ、分散剤によってもpHを調整することができる。微粒子分散液のpHが等電位点からずれるほど、固体基材や電解質ポリマーとの静電的引力が強くなる傾向がある。なお、等電位点とは微粒子の表面電位が0となり、静電反発力がなくなるために粒子が凝集を起こすpH値であるが、等電位点は表面水酸基の数や結晶構造により異なるため、微粒子の材料によって異なる。   The pH of the fine particle dispersion can be adjusted in the range of 1 to 13 with an alkaline aqueous solution such as sodium hydroxide or potassium hydroxide or an acidic aqueous solution such as hydrochloric acid or sulfuric acid, and the pH can also be adjusted with a dispersant. Can do. As the pH of the fine particle dispersion deviates from the equipotential point, the electrostatic attractive force with the solid substrate or the electrolyte polymer tends to increase. The equipotential point is a pH value at which the surface potential of the fine particles becomes 0 and the electrostatic repulsion force disappears, so that the particles aggregate. However, the equipotential point varies depending on the number of surface hydroxyl groups and the crystal structure. It depends on the material.

(G)微粒子材料
本発明に用いる微粒子分散水溶液に分散されている微粒子の平均一次粒子径は、1nm以上40nm以下であることが、微粒子積層膜が高い透明性を有し、その結果、微細構造体の幾何光学的な性能を損なわないために好ましく、2nm以上30nm以下がより好ましく、3nm以上20nm以下がさらに好ましい。平均一次粒子径が1nm未満の微粒子は形成が難しくなる。平均一次粒子径が40nmを超えると、微細構造上に透明な微粒子積層膜を形成しにくくなり、微細構造体の幾何光学的な性能を損なう。
(G) Fine particle material The average primary particle diameter of the fine particles dispersed in the fine particle dispersed aqueous solution used in the present invention is 1 nm or more and 40 nm or less, and the fine particle laminated film has high transparency. It is preferable in order not to impair the geometric optical performance of the body, more preferably 2 nm to 30 nm, and still more preferably 3 nm to 20 nm. Fine particles having an average primary particle diameter of less than 1 nm are difficult to form. When the average primary particle diameter exceeds 40 nm, it becomes difficult to form a transparent fine particle laminated film on the fine structure, and the geometric optical performance of the fine structure is impaired.

また、交互積層法で微粒子積層膜を形成する場合、交互積層回数1回あたりの微粒子積層膜の膜厚変化量は、通常は微粒子の平均一次粒子径と同程度である。そのため、平均一次粒子径が大きすぎると膜厚制御の精度が低くなり、光学機能発現に膜厚を精度良く得ることが困難になる。   In addition, when the fine particle laminated film is formed by the alternating lamination method, the amount of change in the film thickness of the fine particle laminated film per one alternate lamination is usually about the same as the average primary particle diameter of the fine particles. Therefore, if the average primary particle size is too large, the accuracy of film thickness control is lowered, and it is difficult to obtain a film thickness with high accuracy in terms of optical function expression.

なお、微粒子積層膜の光学機能発現に必要な膜厚dは、次式(1) The film thickness d 1 required for the optical function expression of the fine particle laminated film is expressed by the following formula (1)

Figure 2009175672

(ただし、式中、λは光学的機能を発現したい波長、nは膜の屈折率、xは通常2〜8である)で求められる(光学薄膜技術、日本オプトメカトロニクス協会、岡本幹夫著、pp.7−45、2002年1月15日発行、参照)。
Figure 2009175672

(Where, λ is the wavelength at which the optical function is desired to be developed, n is the refractive index of the film, and x is usually 2 to 8) (Optical Thin Film Technology, Japan Opto-Mechatronics Association, Mikio Okamoto, pp 7-45, issued January 15, 2002, see).

本発明において、微粒子の平均一次粒子径、平均二次粒子径、一次粒子がつながった形状の粒子の粒子径の測定は、公知の方法を用いて行うことができる。本発明では、一次粒子がつながった形状の粒子を数珠状粒子と表現する場合がある。   In the present invention, the average primary particle diameter, the average secondary particle diameter, and the particle diameter of particles having a shape in which primary particles are connected can be measured using a known method. In the present invention, particles having a shape in which primary particles are connected may be expressed as beaded particles.

一次粒子が凝集せずに微粒子分散液中に分散している場合、平均一次粒子径を動的散乱法により測定することができる。ただし、一次粒子が凝集した二次粒子の場合や一次粒子が共有結合してなる数珠状粒子の場合は、動的散乱法により測定されるのは平均一次粒子ではなく、平均二次粒子径や数珠状粒子の粒子径である。二次粒子や数珠状粒子における平均一次粒子径はBET法や電子顕微鏡法によって測定できる。   When primary particles are not aggregated but are dispersed in the fine particle dispersion, the average primary particle diameter can be measured by a dynamic scattering method. However, in the case of secondary particles in which primary particles are aggregated or beaded particles in which primary particles are covalently bonded, it is not the average primary particles that are measured by the dynamic scattering method. This is the particle size of the beaded particles. The average primary particle diameter in secondary particles or beaded particles can be measured by the BET method or electron microscopy.

BET法では、窒素ガスのように占有面積の分かった分子を粒子表面に吸着させ、その吸着量と圧力の関係から比表面積を求め、この比表面積を換算表から粒子径に変換をすることで平均一次粒子径を求めることができる。   In the BET method, molecules with an occupied area such as nitrogen gas are adsorbed on the particle surface, the specific surface area is obtained from the relationship between the adsorbed amount and the pressure, and the specific surface area is converted from the conversion table into the particle diameter. The average primary particle size can be determined.

電子顕微鏡法では、まず厚さ数十nmのアモルファスカーボン膜が形成された銅製メッシュ上で微粒子を微粒子分散液からすくいとる又はアモルファスカーボン膜上に微粒子を吸着させる。これらの微粒子を透過型電子顕微鏡により観察し、次いで、撮影画像中の全ての微粒子の長さを測定しその相加平均を平均一次粒子径として求める。   In electron microscopy, first, fine particles are scooped from a fine particle dispersion on a copper mesh on which an amorphous carbon film having a thickness of several tens of nm is formed, or fine particles are adsorbed on the amorphous carbon film. These fine particles are observed with a transmission electron microscope, then the lengths of all the fine particles in the photographed image are measured, and the arithmetic average thereof is obtained as the average primary particle diameter.

なお、長さをはかる微粒子の数は100以上が望ましく、1つの撮影画像中の微粒子の数が100未満の場合は複数の撮影画像を用いて100以上となるようする。柱状粒子のように粒子の軸比が大きく異なる場合は、一般的に短軸の長さを測定し、その相加平均を平均一次粒子径とする。   Note that the number of fine particles for measuring the length is desirably 100 or more, and when the number of fine particles in one photographed image is less than 100, it is set to 100 or more using a plurality of photographed images. When the axial ratios of the particles are greatly different as in the case of columnar particles, the length of the minor axis is generally measured, and the arithmetic average is taken as the average primary particle diameter.

前記の粒子径測定における微粒子は、微粒子積層膜を作製するための微粒子分散液から得るだけではなく、微粒子積層膜から得てもよい。微粒子積層膜から得る方法としては、スチールウール(日本スチールウール社製、#0000)やカッターなどで固体基材上の微粒子積層膜を研磨することで粉末状の微粒子凝集体を剥離し、その微粒子凝集体を溶媒中に分散させる方法が挙げられる。   The fine particles in the above-mentioned particle diameter measurement may be obtained not only from the fine particle dispersion for preparing the fine particle laminated film but also from the fine particle laminated film. As a method of obtaining from the fine particle laminated film, the fine particle aggregate on the solid substrate is polished by steel wool (manufactured by Nippon Steel Wool Co., Ltd., # 0000) or a cutter, and the fine particle aggregate is peeled off. A method of dispersing the aggregate in a solvent can be mentioned.

微粒子凝集体を分散させる方法・装置は特に制限はなく、例えば、超音波をかける方法、ロール、バンバリーミキサー、ニーダー、単軸押出機、2軸押出機等によって分散させる方法が挙げられる。
これにより、サイズの小さくなった微粒子凝集体や単分散の微粒子が得られる。前記溶媒には水、有機溶媒、又は、水と水溶性の有機溶媒のような混合溶媒を用いることができる。
The method and apparatus for dispersing the fine particle aggregate is not particularly limited, and examples thereof include a method of applying ultrasonic waves, a method of dispersing by a roll, a Banbury mixer, a kneader, a single screw extruder, a twin screw extruder, and the like.
Thereby, fine particle aggregates and monodispersed fine particles having a reduced size can be obtained. As the solvent, water, an organic solvent, or a mixed solvent such as water and a water-soluble organic solvent can be used.

電子顕微鏡法では、微粒子の粒子径と同時に形状も観察できる。一次粒子が多孔質構造であるか、中空であるか、一次粒子がつながった形状であるかが区別できる。一次粒子がつながった形状の粒子は図1に示すように形状をしており、本発明では数珠状粒子と呼ぶ場合がある。   In electron microscopy, the shape of the fine particles can be observed simultaneously with the particle size. It can be distinguished whether the primary particle has a porous structure, is hollow, or has a shape in which the primary particles are connected. The primary particles connected to each other have a shape as shown in FIG. 1 and may be called beaded particles in the present invention.

なお、本発明において規定する平均一次粒子径の数値は、BET法によって得られる数値である。ただし、後述する中空状微粒子および多孔質微粒子については(透過型)電子顕微鏡法によって得られる数値とする。   In addition, the numerical value of the average primary particle diameter prescribed | regulated in this invention is a numerical value obtained by BET method. However, the hollow fine particles and the porous fine particles described later are values obtained by (transmission type) electron microscopy.

この数珠状粒子は、微粒子積層膜の強度を向上させるために、一次粒子同士が共有結合していることが好ましい。数珠状粒子を用いた微粒子膜では、数珠状の形状がもたらす立体的な障害により、他の数珠状粒子や反対電荷を有する電解質ポリマーが空間を密に占めることができず、その結果、球状粒子を用いた微粒子膜よりも空隙率が高く低屈折率となる。   In order to improve the strength of the fine particle laminated film, it is preferable that the primary particles are covalently bonded to each other. In the fine particle film using beaded particles, the steric hindrance caused by the beaded shape prevents other beaded particles or the electrolyte polymer having the opposite charge from occupying a dense space, resulting in spherical particles. It has a higher porosity and a lower refractive index than the fine particle film using.

図1に示すような数珠状粒子は、溶液中に分散している数珠状粒子の半数以上が4個以上の一次粒子から構成されている。また数珠状粒子では、一次粒子は3次元的な団子上に凝集しておらず、一つの一次粒子が隣接する粒子数は10を超えない場合が多い。最密充填では一つの一次粒子が隣接する粒子数が16となる。   In the bead-like particles as shown in FIG. 1, more than half of the bead-like particles dispersed in the solution are composed of four or more primary particles. Further, in the case of beaded particles, primary particles are not aggregated on a three-dimensional dumpling, and the number of particles adjacent to one primary particle often does not exceed 10. In the closest packing, the number of particles adjacent to one primary particle is 16.

数珠状粒子における一次粒子の配置としては、一つの一次粒子が隣接する粒子数が1以上8以下である部位が、半分以上を占めることが特徴である。そのため、数珠状粒子は基材に吸着した際に2次元的にひろがった形状を取りやすく、造膜性の向上にも寄与する。 さらに、一次粒子同時が共有結合している場合、微粒子積層膜の強度向上にも寄与する。   The arrangement of primary particles in the bead-shaped particles is characterized in that the portion where the number of particles adjacent to one primary particle is 1 or more occupies more than half. For this reason, the bead-like particles are easy to take a two-dimensionally expanded shape when adsorbed on the base material, and contribute to the improvement of the film forming property. Furthermore, when the primary particles are covalently bonded, the strength of the fine particle laminated film is also improved.

本発明における微粒子としては、無機微粒子があるが、具体的は、リチウム、ナトリウム、マグネシウム、アルミニウム、亜鉛、インジウム、シリコーン、錫、チタン、ジルコニウム、イットリウム、ビスマス、ニオブ、セリウム、コバルト、銅、鉄、ホルミウム、マンガン等のハロゲン化物や酸化物などが使用されるが、さらに具体的には、フッ化リチウム(LiF)、フッ化ナトリウム(NaF)、フッ化マグネシウム(MgF)、フッ化アルミニウム(AlF)、酸化アルミニウム(Al)、酸化亜鉛(ZnO)、インジウムスズ酸化物(ITO)、シリカ(SiO)、酸化スズ(SnO)、酸化チタン(TiO)、酸化ジルコニウム(ZrO)、酸化イットリウム(Y)、酸化ビスマス(Bi)、酸化ニオブ(Nb)、セリア(CeO)、酸化コバルト(CoO)、銅(CuO)、鉄(Fe)、ホルミウム(Ho)、マンガン(Mn)等が挙げられ、これらは単独で又は二種類以上を混合して使用することができる。微粒子は不定型であってもよく、取り得る結晶型に特に制限はない。 The fine particles in the present invention include inorganic fine particles. Specifically, lithium, sodium, magnesium, aluminum, zinc, indium, silicone, tin, titanium, zirconium, yttrium, bismuth, niobium, cerium, cobalt, copper, iron , Holmium, manganese and other halides and oxides are used. More specifically, lithium fluoride (LiF), sodium fluoride (NaF), magnesium fluoride (MgF 2 ), aluminum fluoride ( AlF 3 ), aluminum oxide (Al 2 O 3 ), zinc oxide (ZnO), indium tin oxide (ITO), silica (SiO 2 ), tin oxide (SnO 2 ), titanium oxide (TiO 2 ), zirconium oxide ( ZrO 2), yttrium oxide (Y 2 O 3), bismuth oxide (B 2 O 3), niobium oxide (Nb 2 O 5), ceria (CeO 2), cobalt oxide (CoO), copper (CuO), iron (Fe 2 O 3), holmium (Ho 2 O 3), manganese (Mn 3 O 4 ) and the like, and these can be used alone or in admixture of two or more. The fine particles may be indefinite, and there are no particular limitations on the crystal form that can be obtained.

上記の無機微粒子の中でも反射防止膜に必要とされる低屈折率の薄膜が得られる点でシリカ(SiO)が好ましく、平均一次粒子径を1nm〜40nmのように制御した水分散コロイダルシリカ(SiO)が最も好ましい。このような無機微粒子の市販品としては、例えば、スノーテックス(日産化学工業社製)等が挙げられる。 Among the above inorganic fine particles, silica (SiO 2 ) is preferable in that a thin film having a low refractive index required for an antireflection film can be obtained, and water-dispersed colloidal silica having an average primary particle diameter controlled to 1 nm to 40 nm ( Most preferred is SiO 2 ). Examples of such commercially available inorganic fine particles include Snowtex (manufactured by Nissan Chemical Industries).

さらに、形状面から言えば、多孔質シリカ微粒子、中空状シリカ微粒子、及び一次粒子がつながった形状のシリカ微粒子のうちの1種以上を用いることが好ましい。一次粒子がつながった形状の粒子を用いて微粒子積層膜を形成すると、立体障害により緻密化が阻害されるために、微粒子積層膜の屈折率が低下するからである。また、多孔質の粒子及び中空の粒子を用いて微粒子積層膜を形成すると、多孔質粒子表面の空隙及び中空粒子内部の空隙が導入され、微粒子積層膜の屈折率が低下するからである。
多孔質シリカ微粒子としては、空隙率10〜70%のものが好ましく、内径が1〜25nmの細孔を有することが好ましい。製造方法の例としては、0.1molのテトラエトキシシランに1mmolの塩酸と40mLの水を加え、さらにゼラチンを10wt%加えて室温下で1時間加水分解を行い、次いで50℃で乾燥し、空気中で1℃/minで600℃まで昇温して、ゼラチンの除去により生じた細孔を有するシリカ系多孔質体を得る。さらに、この多孔質体を水中でビーズミル等により粉砕することで、直径数十nmの多孔質シリカ微粒子の水分散液を得ることができる。市販されているものとしては、日本シリカ工業社製NipsilやNipgelが挙げられる。
中空状シリカ微粒子としては、微粒子に対する中空部分の空隙率が10〜50%のものが好ましく、市販されているものとしては、触媒化成工業社製スルーリアが挙げられる。
Furthermore, in terms of shape, it is preferable to use one or more of porous silica fine particles, hollow silica fine particles, and silica fine particles having a shape in which primary particles are connected. This is because when the fine particle laminated film is formed using particles having a shape in which the primary particles are connected, densification is inhibited by steric hindrance, so that the refractive index of the fine particle laminated film is lowered. Further, when the fine particle laminated film is formed using porous particles and hollow particles, voids on the surface of the porous particles and voids inside the hollow particles are introduced, and the refractive index of the fine particle laminated film is lowered.
The porous silica fine particles preferably have a porosity of 10 to 70% and preferably have pores having an inner diameter of 1 to 25 nm. As an example of the production method, 1 mmol of hydrochloric acid and 40 mL of water are added to 0.1 mol of tetraethoxysilane, and 10 wt% of gelatin is further added, followed by hydrolysis at room temperature for 1 hour, followed by drying at 50 ° C., air The temperature is raised to 600 ° C. at a rate of 1 ° C./min to obtain a silica-based porous body having pores generated by removing gelatin. Furthermore, an aqueous dispersion of porous silica fine particles having a diameter of several tens of nm can be obtained by pulverizing the porous body in water by a bead mill or the like. Examples of commercially available products include Nipsil and Nipgel manufactured by Nippon Silica Kogyo.
As the hollow silica fine particles, those having a void ratio of 10 to 50% with respect to the fine particles are preferable, and examples of commercially available ones include Suriria manufactured by Catalyst Chemical Industries.

より低い屈折率を得るためには、基本となる微粒子が、図1に示されるように数珠状に連なった粒子形状を含有するものがより好ましい。市販されているものとしては、スノーテックスUPやスノーテックスPS−S、スノーテックスPS−M(日産化学工業社製、商品名)や、ファインカタロイドF120(触媒化成工業社製、商品名)で、パールネックレス状シリカゾルがある。   In order to obtain a lower refractive index, it is more preferable that the basic fine particles contain a bead-shaped particle shape as shown in FIG. Commercially available products include Snowtex UP, Snowtex PS-S, Snowtex PS-M (Nissan Chemical Industries, trade name) and Fine Catalloy F120 (Catalyst Chemical Industries, trade name). There is a pearl necklace-like silica sol.

本発明における微粒子として、ポリマー微粒子も用いることができ、例えば、ポリエチレン、ポリスチレン、アクリル系ポリマー、シリコーンポリマー、フェノール樹脂、ポリアミド、天然高分子を挙げることができ、これらは単独で又は二種類以上を混合して使用することができる。それらは液相から溶液噴霧法、脱溶媒法、水溶液反応法、エマルション法、懸濁重合法、分散重合法、アルコキシド加水分解法(ゾル−ゲル法)、水熱反応法、化学還元法、液中パルスレーザーアブレーション法などの製造方法で合成される。ポリマー微粒子の市販品としては、例えば、ミストパール(荒川化学工業(株)製)等が挙げられる。   As the fine particles in the present invention, polymer fine particles can also be used, and examples thereof include polyethylene, polystyrene, acrylic polymer, silicone polymer, phenol resin, polyamide, natural polymer, and these can be used alone or in combination of two or more. Can be used as a mixture. From liquid phase to solution spray method, solvent removal method, aqueous solution reaction method, emulsion method, suspension polymerization method, dispersion polymerization method, alkoxide hydrolysis method (sol-gel method), hydrothermal reaction method, chemical reduction method, liquid It is synthesized by a manufacturing method such as medium pulse laser ablation. Examples of commercially available polymer fine particles include Mist Pearl (manufactured by Arakawa Chemical Industries, Ltd.).

また、微粒子間や微粒子−基板間に共有結合、分子間力、ファンデアワールス力のいずれか一つ以上の引力を与える目的で、これらの微粒子の表面にイオン性の官能基を付加してもよい。微粒子表面への官能基の付与は、前記化学式(I)で表されるシランカップリング剤を微粒子の水酸基などと縮合反応させることで行うことができる。   In addition, an ionic functional group may be added to the surface of these fine particles for the purpose of applying at least one of at least one of a covalent bond, an intermolecular force, and a van der Waals force between the fine particles and between the fine particles and the substrate. Good. The functional group can be imparted to the surface of the fine particles by subjecting the silane coupling agent represented by the chemical formula (I) to a condensation reaction with the hydroxyl groups of the fine particles.

微粒子表面へ付与する官能基としては、例えば、前述したビニル基、エポキシ基、スチリル基、メタクリロキシ基、アクリロキシ基、アミノ基、ウレイド基、クロロプロピル基、スルフィド基、メルカプト基、イソシアネート基を挙げることができる。   Examples of the functional group imparted to the surface of the fine particles include the above-described vinyl group, epoxy group, styryl group, methacryloxy group, acryloxy group, amino group, ureido group, chloropropyl group, sulfide group, mercapto group, and isocyanate group. Can do.

シランカップリングの市販品としては、信越化学製のKBMシリーズやKBEシリーズが挙げられる。また、カルボキシル基、カルボニル基、フェノール基等を微粒子表面に付与してもよく、
このような官能基が表面に付与された微粒子の市販品としては、例えば、ミストパール(荒川化学工業社製、商標名)等が挙げられる。
Examples of commercially available silane couplings include KBM series and KBE series manufactured by Shin-Etsu Chemical. Further, a carboxyl group, a carbonyl group, a phenol group or the like may be imparted to the surface of the fine particles,
Examples of commercially available fine particles having such functional groups on the surface include Mist Pearl (trade name, manufactured by Arakawa Chemical Industries, Ltd.).

媒体中に分散している微粒子は、その表面極性基の解離やイオンの吸着によって拡散電気二重層が生じるために、電気的に負又は正に帯電する。次式に表される微粒子表面の拡散電気二重層の厚さ(1/κ)は、表面電荷と対イオン(電解質イオン)の間の引力と、熱運動による力がつりあう距離である。ここで、κはDebye−Huckelのパラメータと呼ばれ、次式のように表される(大島広行、「ナノ微粒子の分散安定性・凝集制御及びゼータ電位の測定評価」、技術情報協会)。   The fine particles dispersed in the medium are electrically negatively or positively charged because a diffusion electric double layer is generated by dissociation of surface polar groups and adsorption of ions. The thickness (1 / κ) of the diffusion electric double layer on the surface of the fine particles expressed by the following formula is a distance where the attractive force between the surface charge and the counter ion (electrolyte ion) balances with the force due to thermal motion. Here, κ is called a Debye-Huckel parameter and is expressed as the following equation (Hiroyuki Oshima, “Dispersion stability / aggregation control of nanoparticle and measurement evaluation of zeta potential”, Technical Information Association).

Figure 2009175672

(式中、kはBoltzmann定数、εは真空の誘電率、εは媒体(液)の比誘電率、Tは絶対温度、Zは価数、eは単位電荷、Nはアボガドロ数、Cは電解質濃度で単位はM(=mol/リットル)である。)
Figure 2009175672

(Wherein, k is Boltzmann constant, epsilon 0 is the vacuum dielectric constant, epsilon r is the relative dielectric constant of the medium (liquid), T is an absolute temperature, Z is valence, e is the unit charge, N A is Avogadro's number, C is the electrolyte concentration, and the unit is M (= mol / liter).)

微粒子の表面電位(φ)は、表面電荷密度(σ)による電場(σ/εε)と電気二重層(1/κ)との積であり、次式のように表される。 The surface potential (φ 0 ) of the fine particles is the product of the electric field (σ / ε r ε 0 ) and the electric double layer (1 / κ) due to the surface charge density (σ), and is represented by the following equation.

Figure 2009175672

この式から、微粒子の表面電位(φ)は、表面電荷密度(σ)や電解質濃度(C)により制御できることが分かる。
Figure 2009175672

From this equation, it can be seen that the surface potential (φ 0 ) of the fine particles can be controlled by the surface charge density (σ) and the electrolyte concentration (C).

電解質濃度を上げるために加える電解質としては、水又は水、アルコール混合溶媒等に溶解するものであれば制限はないが、アルカリ金属及びアルカリ土類金属、四級アンモニウムイオン等とハロゲン元素との塩、LiCl、KCl、NaCl、MgCl、CaCl等が用いられる。 The electrolyte added to increase the electrolyte concentration is not limited as long as it dissolves in water or water, a mixed solvent of alcohol, etc., but is a salt of an alkali metal and alkaline earth metal, a quaternary ammonium ion, etc. and a halogen element. LiCl, KCl, NaCl, MgCl 2 , CaCl 2 or the like is used.

表面電荷密度(σ)は、pHによって制御できる。なぜなら、粒子表面にある解離基の解離(イオン化)度はpHによって影響を受けるからである。例えば微粒子表面にカルボキシル基(−COOH)や表面水酸基(−OH)がある場合は、pHを上げるとイオン化してカルボキシレート陰イオン(−COO)又は水酸化物イオン(−O)となるため、電荷密度σは上がる。 The surface charge density (σ) can be controlled by pH. This is because the degree of dissociation (ionization) of the dissociating group on the particle surface is affected by pH. For example, when there are carboxyl groups (—COOH) or surface hydroxyl groups (—OH) on the surface of the fine particles, ionization occurs as carboxylate anions (—COO ) or hydroxide ions (—O ) when the pH is raised. Therefore, the charge density σ increases.

一方、アミノ基(−NH)がある場合はpHを下げるとアンモニウムイオン(−NH )となり電荷密度が上がる。すなわち、高いpH領域及び低いpH領域で電荷密度の上昇がある。 On the other hand, when there is an amino group (—NH 2 ), when the pH is lowered, ammonium ions (—NH 3 + ) are formed and the charge density is increased. That is, there is an increase in charge density in the high pH region and the low pH region.

表面電位が同じ符号である微粒子は互いに反発し、凝集することなく安定に媒質中に分散する。ゼータ電位は微粒子の表面電荷を反映し、微粒子の分散安定性の指標として用いられている(北原文雄、古澤邦夫、尾崎正孝、大島広行、「Zeta Potentialゼータ電位:微粒子界面の物理化学」、サイエンティスト社、1995年1月発行)。ゼータ電位の絶対値が増加すれば微粒子間の反発力が強くなり粒子の安定性は高くなり、逆にゼータ電位がゼロに近づくと微粒子は凝集しやすくなる。   The fine particles having the same sign on the surface potential repel each other and stably disperse in the medium without agglomeration. The zeta potential reflects the surface charge of fine particles and is used as an indicator of the dispersion stability of fine particles (Fumio Kitahara, Kunio Furusawa, Masataka Ozaki, Hiroyuki Oshima, “Zeta Potential Zeta Potential: Physical Chemistry of Fine Particle Interfaces”, Scientist Issued in January 1995). If the absolute value of the zeta potential increases, the repulsive force between the fine particles becomes strong and the stability of the particles becomes high. Conversely, when the zeta potential approaches zero, the fine particles tend to aggregate.

このゼータ電位は、例えば、電気泳動光散乱測定法(別名レーザードップラー法)により測定することができる。外部電場(E)によって泳動する微粒子に波長(λ)のレーザー光を照射し、散乱角(θ)で散乱する光の周波数変化(ドップラーシフト量Δν)を測定し、次式によって微粒子の泳動速度(V)を求める。   This zeta potential can be measured, for example, by an electrophoretic light scattering measurement method (also called a laser Doppler method). Irradiate fine particles migrating with an external electric field (E) with laser light of wavelength (λ), measure the frequency change (Doppler shift amount Δν) of the light scattered at the scattering angle (θ), (V) is obtained.

Figure 2009175672

(ただし、nは媒体(液)の屈折率である。ここで得られた泳動速度(V)と外部電場(E)から電気移動度(U)が次式より求められる。)
Figure 2009175672

(Where n is the refractive index of the medium (liquid). The electromobility (U) is obtained from the following equation from the migration velocity (V) and the external electric field (E) obtained here.)

Figure 2009175672

電気移動度(U)からゼータ電位(ζ)は、次式のSmoluchowskiの式を用いて求められる。
Figure 2009175672

The zeta potential (ζ) can be obtained from the electric mobility (U) using the following Smoluchowski equation.

Figure 2009175672

(ただし、ηは媒体(液)の粘度、εは媒体(液)の誘電率である(北原文雄、古澤邦夫、尾崎正孝、大島広行、「Zeta Potentialゼータ電位:微粒子界面の物理化学」、サイエンティスト社、1995年1月発行))。
Figure 2009175672

(Where η is the viscosity of the medium (liquid), and ε is the dielectric constant of the medium (liquid) (Fumio Kitahara, Kunio Furusawa, Masataka Ozaki, Hiroyuki Oshima, “Zeta Potential Zeta Potential: Physical Chemistry of Fine Particle Interface”, Scientist Issued in January 1995)).

ゼータ電位の比較的新しい測定方法として、超音波方式又はコロイド振動電流法も挙げられる。測定装置としてはDispersion Technology社製の、商品名DT−200やDT−1200、DT−300が挙げられる。超音波を照射された溶媒中の微粒子は、溶媒と微粒子の密度差により相対的に振動するために、荷電した微粒子とその周囲のカウンターイオンの分極によりコロイド振動電位と呼ばれる電場を発生する。この電場を検出し、解析することでゼータ電位を測定できる。   As a relatively new method for measuring the zeta potential, an ultrasonic method or a colloid oscillating current method can also be mentioned. Examples of the measuring apparatus include trade names DT-200, DT-1200, and DT-300 manufactured by Dispersion Technology. Since the fine particles in the solvent irradiated with ultrasonic waves vibrate relatively due to the density difference between the solvent and the fine particles, an electric field called a colloid vibration potential is generated by the polarization of the charged fine particles and the surrounding counter ions. The zeta potential can be measured by detecting and analyzing this electric field.

無機酸化物の粒子では分散溶液のpHが変わるとゼータ電位が大きく変化する。例えば、チタニア粒子(日本アエロジル社製)が分散する溶液のpHを3、7.5、11と変化させると、ゼータ電位は+40mV、0mV、−20mVと変化し、粒子径は400nm、1600nm、900nmと変化する。   In inorganic oxide particles, the zeta potential changes greatly when the pH of the dispersion changes. For example, when the pH of the solution in which titania particles (Nippon Aerosil Co., Ltd.) are dispersed is changed to 3, 7.5, and 11, the zeta potential changes to +40 mV, 0 mV, and −20 mV, and the particle diameters are 400 nm, 1600 nm, and 900 nm. And change.

すなわち、ゼータ電位が0mVになると粒子は凝集することがわかる(大塚電子(株)、アプリケーションノート、ゼータ電位「無機物のゼータ電位測定」、p.LS−N002−6、2002年9月1日発行)。このことから、溶液中の微粒子を安定に分散させるために、微粒子のゼータ電位の絶対値を数mV〜数十mVの範囲に制御することが望ましい。   That is, it can be seen that the particles aggregate when the zeta potential becomes 0 mV (Otsuka Electronics Co., Ltd., application note, zeta potential “measurement of zeta potential of inorganic substances”, p. LS-N002-6, issued on September 1, 2002) ). Therefore, in order to stably disperse the fine particles in the solution, it is desirable to control the absolute value of the zeta potential of the fine particles in the range of several mV to several tens of mV.

1重量%に調整した日産化学製のシリカ微粒子水分散液(スノーテックス(ST)20)はpHが10であり、シリカ微粒子のゼータ電位は−48mVである。このシリカ微粒子分散液のpHを9に調整すると、シリカ微粒子のゼータ電位は−45mVとなる。またpHが10のシリカ微粒子水分散液に塩化ナトリウムを添加し、塩化ナトリウム濃度が0.25モル/リットルのシリカ微粒子水分散液を調整すると、シリカ微粒子のゼータ電位は−40mVとなる。   The silica fine particle aqueous dispersion (Snowtex (ST) 20) manufactured by Nissan Chemical Co., Ltd. adjusted to 1% by weight has a pH of 10, and the zeta potential of the silica fine particles is -48 mV. When the pH of the silica fine particle dispersion is adjusted to 9, the zeta potential of the silica fine particles becomes −45 mV. Further, when sodium chloride is added to a silica fine particle aqueous dispersion having a pH of 10 to prepare a silica fine particle aqueous dispersion having a sodium chloride concentration of 0.25 mol / liter, the zeta potential of the silica fine particles becomes −40 mV.

シリカ微粒子水分散液と、ポリジアリルジメチルアンモニウムクロライド(PDDA)の0.3重量%水溶液を用いて、交互積層法により作製したシリカ微粒子積層膜では、ゼータ電位が−48mVのときにシリカ微粒子積層膜の屈折率が1.31となるのに対して、ゼータ電位が−45mVと−40mVのときには屈折率が1.29となる。この1.31の屈折率から微粒子体積率を求めると60%、1.29の屈折率から微粒子体積率を求めると56%となる。このことから、屈折率の低下は、微粒子のゼータ電位低下により、微粒子体積率が低下したためと考えられる。つまり微粒子のゼータ電位の制御により、微粒子積層膜の屈折率を制御することができる。   In a silica fine particle laminated film produced by an alternating lamination method using a silica fine particle aqueous dispersion and a 0.3% by weight aqueous solution of polydiallyldimethylammonium chloride (PDDA), when the zeta potential is −48 mV, the silica fine particle laminated film The refractive index is 1.31, whereas the refractive index is 1.29 when the zeta potential is −45 mV and −40 mV. When the fine particle volume ratio is obtained from the refractive index of 1.31, 60% is obtained, and when the fine particle volume ratio is obtained from the refractive index of 1.29, it is 56%. From this, the decrease in the refractive index is considered to be due to the decrease in the volume fraction of the fine particles due to the decrease in the zeta potential of the fine particles. That is, the refractive index of the fine particle multilayer film can be controlled by controlling the zeta potential of the fine particles.

微粒子積層膜に含まれる微粒子の種類は一種類に限らない。例えば、微粒子分散溶液の一回の液の接触において吸着される微粒子は二種類以上でもよく、また微粒子分散溶液の液の接触毎に微粒子の種類が異なっていてもよい。
なお、酸化チタン、酸化セリウム、酸化ニオブ、酸化錫、酸化アルミニウム、酸化ケイ素の微粒子が、微粒子積層膜の表面硬度を高める点で好ましい。
The kind of fine particles contained in the fine particle laminated film is not limited to one. For example, two or more kinds of fine particles may be adsorbed in one contact of the fine particle dispersion solution, and the kind of fine particles may be different for each contact of the fine particle dispersion solution.
Note that fine particles of titanium oxide, cerium oxide, niobium oxide, tin oxide, aluminum oxide, and silicon oxide are preferable in terms of increasing the surface hardness of the fine particle laminated film.

(H)電解質ポリマー溶液
電解質ポリマー溶液は、交互積層法を用いて微粒子積層膜を作製する際に必要となる。この電解質ポリマー溶液は、微粒子の表面電荷と反対又は同じ符号の電荷の電解質ポリマーを、水、有機溶媒又は水溶性の有機溶媒と水の混合溶媒に溶解したものである。使用できる水溶性の有機溶媒としては、例えば、メタノール、エタノール、プロパノール、アセトン、ジメチルホルムアミド、アセトニトリル等が挙げられる。
(H) Electrolyte polymer solution The electrolyte polymer solution is required when the fine particle laminated film is produced using the alternating lamination method. This electrolyte polymer solution is obtained by dissolving an electrolyte polymer having a charge opposite to or having the same sign as the surface charge of fine particles in water, an organic solvent, or a mixed solvent of water-soluble organic solvent and water. Examples of water-soluble organic solvents that can be used include methanol, ethanol, propanol, acetone, dimethylformamide, acetonitrile, and the like.

電解質ポリマーとしては、荷電を有する官能基を主鎖又は側鎖に持つ高分子を用いることができる。   As the electrolyte polymer, a polymer having a charged functional group in the main chain or side chain can be used.

ポリアニオンとしては、一般的に、スルホン酸、硫酸、カルボン酸等、負電荷を帯びることのできる官能基を有するものであり、例えば、ポリスチレンスルホン酸(PSS)、ポリビニル硫酸(PVS)、デキストラン硫酸、コンドロイチン硫酸、ポリアクリル酸(PAA)、ポリメタクリル酸(PMA)、ポリマレイン酸、ポリフマル酸、ポリパラフェニレン(−)、ポリチオフェン−3−アセティックアシド、ポリアミック酸及びそれらを少なくとも1種以上を含む共重合体などを用いることができる。またポリ(アニリン−N−プロパンスルホン酸)(PAN)等の機能性高分子イオン、種々のデオキシリボ核酸(DNA)、リボ核酸(RNA)、ペクチン等の荷電を有する多糖類など、荷電を有する生体高分子を用いることもできる。   The polyanion generally has a functional group that can be negatively charged, such as sulfonic acid, sulfuric acid, carboxylic acid, etc., for example, polystyrene sulfonic acid (PSS), polyvinyl sulfate (PVS), dextran sulfate, Chondroitin sulfate, polyacrylic acid (PAA), polymethacrylic acid (PMA), polymaleic acid, polyfumaric acid, polyparaphenylene (−), polythiophene-3-acetic acid, polyamic acid, and a co-polymer containing at least one of them A polymer etc. can be used. Also, charged living organisms such as functional polymer ions such as poly (aniline-N-propanesulfonic acid) (PAN), various deoxyribonucleic acid (DNA), ribonucleic acid (RNA), and charged polysaccharides such as pectin. Polymers can also be used.

例えば、ポリエチレンイミン(PEI及びその4級化物)、ポリアリルアミン及びその4級化物、ポリアリルアミン塩酸塩(PAH)、ポリジアリルジメチルアンモニウムクロリド(PDDA)、ポリビニルピリジン(PVP)、ポリリジン、ポリアクリルアミド、ポリピロール、ポリアニリン、ポリパラフェニレン(+)、ポリパラフェニレンビニレン、ポリエチルイミン及びそれらを少なくとも1種以上を含む共重合体や塩の種類を変えたものなどを用いることができる。   For example, polyethyleneimine (PEI and its quaternized product), polyallylamine and its quaternized product, polyallylamine hydrochloride (PAH), polydiallyldimethylammonium chloride (PDDA), polyvinylpyridine (PVP), polylysine, polyacrylamide, polypyrrole Polyaniline, polyparaphenylene (+), polyparaphenylene vinylene, polyethylimine, a copolymer containing at least one of them, or a salt whose type is changed can be used.

例えば、ポリアリルアミンアミド硫酸塩、アリルアミン塩酸塩とジアリルアミン塩酸塩の共重合体、アリルアミン塩酸塩とジメチルアリルアミン塩酸塩の共重合体、アリルアミン塩酸塩とその他の共重合体、部分メトキシカルボニル化アリルアミン重合体、部分メチルカルボニル化アリルアミン酢酸塩重合体、ジアリルアミン塩酸塩重合体、メチルジアリルアミン塩酸塩重合体、メチルジアリルアミンアミド硫酸塩重合体、メチルジアリルアミン酢酸塩重合体、ジアリルアミン塩酸塩と二酸化イオウの共重合体、ジアリルアミン酢酸塩と二酸化イオンの共重合体、ジアリルメチルエチルアンモニウムエチルサルフェイトと二酸化イオウとの共重合体、メチルジアリルアミン塩酸塩と二酸化イオウとの共重合体、ジアリルジメチルアンモニウムクロリドと二酸化イオウとの共重合体、ジアリルジメチルアンモニウムクロリドとアクリルアミドとの共重合体、ジアリルジメチルアンモニウムクロリドとジアリルアミン塩酸塩誘導体との共重合体、ジメチルアミンとエピクロロヒドリンの共重合体、ジメチルアミンとエチレンジアミンとエピクロロヒドリンの共重合体、ポリアミドポリアミンとエピクロロヒドリンとの共重合体等が挙げられる。
ポリカチオンとしては、1級から3級のアミノ基や4級アンモニウム基が好ましい。詳細は不明だが、シリカの表面水酸基とアミノ基やアンモニウム基が比較的強く結合する。
For example, polyallylamine amide sulfate, copolymer of allylamine hydrochloride and diallylamine hydrochloride, copolymer of allylamine hydrochloride and dimethylallylamine hydrochloride, allylamine hydrochloride and other copolymers, partially methoxycarbonylated allylamine polymer Partially methylcarbonylated allylamine acetate polymer, diallylamine hydrochloride polymer, methyldiallylamine hydrochloride polymer, methyldiallylamine amide sulfate polymer, methyldiallylamine acetate polymer, copolymer of diallylamine hydrochloride and sulfur dioxide, Copolymer of diallylamine acetate and ion dioxide, copolymer of diallylmethylethylammonium ethyl sulfate and sulfur dioxide, copolymer of methyldiallylamine hydrochloride and sulfur dioxide, diallyldimethylammonium Copolymer of loride and sulfur dioxide, copolymer of diallyldimethylammonium chloride and acrylamide, copolymer of diallyldimethylammonium chloride and diallylamine hydrochloride derivative, copolymer of dimethylamine and epichlorohydrin, dimethyl Examples thereof include a copolymer of amine, ethylenediamine, and epichlorohydrin, and a copolymer of polyamide polyamine and epichlorohydrin.
The polycation is preferably a primary to tertiary amino group or a quaternary ammonium group. Although details are unknown, the surface hydroxyl group of silica and amino group or ammonium group are relatively strongly bonded.

これらの電解質ポリマーは、いずれも水溶性又は水と有機溶媒との混合液に可溶なものであり、電解質ポリマーの重量平均分子量(ゲルパーミエーションクロマトグラフィーにより、標準ポリスチレンの検量線を用いて測定した値)としては、用いる電解質ポリマーの種類により一概には定めることができないが、一般に、400〜300,000程度のものが好ましい。なお、溶液中の電解質ポリマーの濃度は、一般に、0.0003〜3重量%程度が好ましく、0.001〜1重量%程度がより好ましく、0.01〜1重量%程度がさらに好ましい。電解質ポリマーの濃度が低すぎると微粒子積層膜が形成できず、高すぎると洗浄工程での余剰な電解質ポリマーの除去が不十分となり、凝集物を生成するために微粒子積層膜が透明性や平坦性を損なう。また、電解質ポリマー溶液のpHは、5以上12以下が好ましく、6以上11.5以下がより好ましく、7以上11以下がさらに好ましい。pHが低すぎると、金属酸化物微粒子の水酸基を活性化できずに電解質ポリマーの吸着量が不均一になり、微粒子積層膜の膜厚が不均一化になる。pHが高すぎると金属酸化物を溶かすため、微粒子積層膜が透明性や平坦性を損なう。   These electrolyte polymers are either water-soluble or soluble in a mixed solution of water and an organic solvent, and the weight average molecular weight of the electrolyte polymer (measured by gel permeation chromatography using a standard polystyrene calibration curve). However, it is generally preferred to have a value of about 400 to 300,000, depending on the type of electrolyte polymer used. In general, the concentration of the electrolyte polymer in the solution is preferably about 0.0003 to 3% by weight, more preferably about 0.001 to 1% by weight, and further preferably about 0.01 to 1% by weight. If the concentration of the electrolyte polymer is too low, a fine particle laminate film cannot be formed, and if it is too high, removal of excess electrolyte polymer in the washing process becomes insufficient, and the fine particle laminate film becomes transparent and flat in order to produce aggregates. Damage. The pH of the electrolyte polymer solution is preferably 5 or more and 12 or less, more preferably 6 or more and 11.5 or less, and further preferably 7 or more and 11 or less. If the pH is too low, the hydroxyl groups of the metal oxide fine particles cannot be activated, the amount of adsorption of the electrolyte polymer becomes nonuniform, and the film thickness of the fine particle multilayer film becomes nonuniform. If the pH is too high, the metal oxide is dissolved, so that the fine particle laminated film impairs transparency and flatness.

ポリカチオンであるポリジアリルジメチルアンモニウムクロリド(PDDA)と、ポリアニオンであるポリスチレンスルホン酸(PSS)を用いて、交互積層法により(PDDA/PSS)多層膜を作製できる。シリコンウエハ上に交互積層回数45回で形成した(PDDA/PSS)45層構造膜の厚さは60nmであり、交互積層回数1回あたりのPDDA/PSS膜の厚さは約1.3nmと概算できる。このことから、PDDA層とPSS層は、分子オーダーの薄さで形成されることがわかる。なお、PDDAとPSSの単分子層はその分子構造から数Åと考えられる。   By using polydiallyldimethylammonium chloride (PDDA), which is a polycation, and polystyrene sulfonic acid (PSS), which is a polyanion, a (PDDA / PSS) multilayer film can be produced by an alternate lamination method. The thickness of the 45-layer structure film (PDDA / PSS) formed on the silicon wafer with 45 times of alternate lamination is 60 nm, and the thickness of the PDDA / PSS film per alternate lamination is about 1.3 nm. it can. From this, it can be seen that the PDDA layer and the PSS layer are formed with a molecular order thinness. In addition, the monomolecular layer of PDDA and PSS is considered to be several tens from the molecular structure.

(I)微粒子積層膜
本発明に係る微粒子積層膜は低屈折率の微粒子積層膜であって、既述の通り、屈折率が1.10以上1.21以下であり、優れた反射防止性能を発揮することができる。また、多孔質層であることにより内部の空隙が屈折率の減少に寄与し、微粒子積層膜の空隙の体積率等を規定することで、より確実に優れた反射防止性能を発揮することができる。
以下に、当該微粒子積層膜について詳述する。
(I) Fine Particle Laminate Film The fine particle laminate film according to the present invention is a low refractive index fine particle laminate film having a refractive index of 1.10 or more and 1.21 or less as described above, and has excellent antireflection performance. It can be demonstrated. In addition, by being a porous layer, the internal voids contribute to the reduction of the refractive index, and by defining the volume ratio of the voids of the fine particle multilayer film, it is possible to more reliably exhibit excellent antireflection performance. .
The fine particle laminated film will be described in detail below.

微粒子積層膜は、微粒子材料の選択によりその屈折率を制御できる。微粒子積層膜の屈折率は、エリプソメトリーで測定した偏光特性からの解析又は分光光度計で測定した反射スペクトルや透過スペクトルからの解析により求めることができる。これらの手法の優れている点は微粒子積層膜の膜厚を同時に評価できることである。その他に微粒子積層膜の膜厚を求める方法には、SEM(走査型電子顕微鏡)、TEM(透過型電子顕微鏡)、AFM(原子間力顕微鏡)等の膜を観察する方法もある。また水晶振動子上に膜を形成し、周波数変化量と膜材料の密度から膜厚を求めることもできる。   The refractive index of the fine particle laminated film can be controlled by selecting the fine particle material. The refractive index of the fine particle laminated film can be obtained by analysis from polarization characteristics measured by ellipsometry or analysis from reflection spectrum and transmission spectrum measured by a spectrophotometer. The advantage of these methods is that the film thickness of the fine particle laminated film can be evaluated simultaneously. Other methods for determining the film thickness of the fine particle laminated film include a method of observing a film such as SEM (scanning electron microscope), TEM (transmission electron microscope), and AFM (atomic force microscope). It is also possible to form a film on the quartz resonator and obtain the film thickness from the frequency change amount and the density of the film material.

微粒子と荷電の異なる電解質ポリマーとしてポリジアリルジメチルアンモニウムクロリド(PDDA)を用いる場合、前述のように、PDDA層は1.3nm未満という分子オーダーの薄さである。従って、PDDA層は固体基材や微粒子表面を、その表面形状に追従しながら覆っていると考えられる。そして、その薄さで、固体基材と微粒子、微粒子と微粒子の静電的な結合材として機能している。   When polydiallyldimethylammonium chloride (PDDA) is used as an electrolyte polymer having a different charge from fine particles, the PDDA layer has a molecular order thickness of less than 1.3 nm as described above. Therefore, the PDDA layer is considered to cover the surface of the solid substrate or fine particles while following the surface shape. The thin substrate functions as an electrostatic binding material between the solid substrate and the fine particles and between the fine particles and the fine particles.

微粒子積層膜の屈折率は微粒子材料のバルクより低いが、それは微粒子積層膜中の微粒子の間に隙間ができるからである。本発明の微粒子積層膜では微粒子の間の隙間はほとんど空気であり、微粒子積層膜の屈折率nは次式から求めることができる。 The refractive index of the fine particle laminated film is lower than the bulk of the fine particle material because a gap is formed between the fine particles in the fine particle laminated film. In particle laminated film of the present invention the gap between the particles is almost air, the refractive index n c of the particle laminated film can be determined from the following equation.

Figure 2009175672

(ただし、式中、ρは微粒子積層膜中の微粒子の体積密度、nは微粒子を構成する物質の屈折率、nは空気の屈折率=1.0を示す。)(薄膜・光デバイス、吉田貞史、矢嶋弘義著、東京大学出版会、pp.34−37、1994年9月20日発行、参照)。
Figure 2009175672

(In the formula, ρ p represents the volume density of the fine particles in the fine particle laminated film, n P represents the refractive index of the substance constituting the fine particles, and n 0 represents the refractive index of air = 1.0.) (Thin Film / Light Device, Sadayoshi Yoshida, Hiroyoshi Yajima, The University of Tokyo Press, pp. 34-37, published September 20, 1994).

例えば、バルクの屈折率nが2.3のチタニア微粒子を用いた微粒子積層膜の屈折率nは1.8となり、バルクの屈折率nが1.48のシリカ微粒子を用いた微粒子積層膜の屈折率nは1.3となる。このように、微粒子積層膜は微粒子材料のバルクより低い屈折率を示すため、光学的な設計において屈折率の選択範囲を広げる。 For example, the refractive index n c is 1.8 next to the particle laminated film in which the refractive index n P of the bulk is used titania fine particles of 2.3, particle laminated with silica particles having a refractive index n P of the bulk 1.48 refractive index n c of the film becomes 1.3. Thus, the fine particle laminated film exhibits a refractive index lower than that of the bulk of the fine particle material, and thus widens the selection range of the refractive index in optical design.

本発明に係る微粒子積層膜の屈折率は、1.10以上1.21以下であるが、1.10未満ではその屈折率を有する微粒子積層膜の形成が困難であり、1.21を超えると汚染材料や吸着材料により屈折率が増加した場合に、反射防止機能が容易に低下してしまう。当該屈折率は、1.14以上1.20以下が好ましく、1.14以上1.19以下がより好ましい。   The refractive index of the fine particle laminated film according to the present invention is 1.10 or more and 1.21 or less, but if it is less than 1.10, it is difficult to form a fine particle laminated film having the refractive index. When the refractive index is increased by a contaminating material or an adsorbing material, the antireflection function is easily lowered. The refractive index is preferably 1.14 or more and 1.20 or less, and more preferably 1.14 or more and 1.19 or less.

本発明の微粒子積層膜では微粒子の間の隙間はほとんど空気であるため、次式より微粒子積層膜の屈折率から微粒子積層膜中の空気の体積率(空隙率ρ)を求めることもできる。 In the fine particle laminated film of the present invention, since the gap between the fine particles is almost air, the volume ratio of air in the fine particle laminated film (porosity ρ 0 ) can also be obtained from the refractive index of the fine particle laminated film from the following equation.

Figure 2009175672
Figure 2009175672

例えば、屈折率nが1.8のチタニア微粒子積層膜中の空隙率ρは48%となり、屈折率nが1.3のシリカ微粒子積層膜中の空隙率ρは42%となる。
本発明に係る微粒子積層膜の空隙率ρとしては、61.0%以上82.4%以下が好ましく、63.0%以上74.8%以下がより好ましく、63.0%以上74.8%以下が最も好ましい。空隙率ρが61.0%以上82.4%以下であると、微粒子積層膜の屈折率を既述の所定の数値とすることができる。
For example, becomes 48% porosity [rho 0 is in the titania particle laminated film having a refractive index n c is 1.8, the porosity [rho 0 of the silica particle laminated film having a refractive index n c is 1.3 becomes 42% .
The porosity ρ 0 of the fine particle multilayer film according to the present invention is preferably 61.0% or more and 82.4% or less, more preferably 63.0% or more and 74.8% or less, and 63.0% or more and 74.8%. % Or less is most preferable. When the porosity ρ 0 is 61.0% or more and 82.4% or less, the refractive index of the fine particle laminated film can be set to the predetermined numerical value described above.

一方、微粒子積層膜の空隙を完全に埋めるように屈折率nの樹脂を充填した場合の微粒子積層膜の屈折率n’は次式で表される。 On the other hand, the refractive index n c ′ of the fine particle laminated film when the resin having the refractive index n r is filled so as to completely fill the voids of the fine particle laminated film is expressed by the following equation.

Figure 2009175672
Figure 2009175672

同じ微粒子の体積密度の場合、空隙を樹脂で完全に充填した微粒子積層膜の屈折率n’よりも、空隙を有する微粒子積層膜の屈折率nのほうが屈折率は低くなる。そのため、空隙を樹脂で完全に充填した微粒子積層膜よりも空隙を有する微粒子積層膜のほうが低い屈折率を示し、光学的な設計において屈折率の選択範囲を広げる。 If the volume density of the same particles, than the refractive index n c 'of particle laminated film was completely filled with resin voids, the refractive index towards the refractive index n c of the particle laminated film having pores is low. For this reason, the fine particle laminated film having voids exhibits a lower refractive index than the fine particle laminated film in which the voids are completely filled with resin, and the refractive index selection range is widened in optical design.

微粒子積層膜は膜中に空隙を有するが、微粒子と空隙のサイズが光(可視光)の波長よりも十分小さいために、平均的な屈折率nを有する。また微粒子積層膜の空隙になんらかの理由で微粒子以外の材料が充填された場合では、微粒子積層膜の空隙のサイズは小さくなるため、その場合でも平均的な屈折率を示す。これらの微粒子積層膜を含む反射防止膜又は空隙に微粒子以外の材料を含んだ微粒子積層膜を含む反射防止膜は、ある平均的な屈折率を有し、光学的に1層の膜として機能する。 Although particle laminated film has voids in the film, because the size of the particles and the gap is sufficiently smaller than the wavelength of light (visible light), with an average refractive index n c. In addition, when a material other than fine particles is filled in the voids of the fine particle laminated film for some reason, the size of the voids of the fine particle laminated film becomes small, and even in that case, an average refractive index is exhibited. The antireflection film including these fine particle multilayer films or the antireflection film including the fine particle multilayer film containing a material other than the fine particles in the gap has an average refractive index and optically functions as a single layer film. .

図1に示すような一次粒子がつながった形状の粒子を用いて形成した微粒子積層膜では、粒子同士の立体障害により緻密化が阻害されるために、微粒子積層膜の屈折率が低下する。その場合、一次粒子の粒子径以上の空隙が微粒子積層膜の内部や表面に存在するため、内部の空隙はTEM(透過型電子顕微鏡)により、表面の空隙はSEM(走査型電子顕微鏡)やAFM(原子間力顕微鏡)などにより観察することができる。   In the fine particle laminated film formed using particles having a shape in which primary particles are connected as shown in FIG. 1, densification is hindered by steric hindrance between the particles, so that the refractive index of the fine particle laminated film is lowered. In that case, since voids larger than the particle diameter of the primary particles exist in the inside and surface of the fine particle laminated film, the internal voids are obtained by TEM (transmission electron microscope), and the surface voids are obtained by SEM (scanning electron microscope) or AFM. It can be observed with an atomic force microscope.

屈折率nの固体基材の表面に次式のような屈折率nARと膜厚dARを有する低屈折率膜が形成される時、波長λでの固体基材の表面反射率が0%となる。 When the low refractive index film on the surface of the solid substrate having a refractive index n s with the refractive index n AR and the thickness d AR as of the formula: is formed, the surface reflectance of the solid substrate at a wavelength λ 0 %.

Figure 2009175672
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Figure 2009175672
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例えば、波長550nmでのn=1.54の透明な固体基材の表面反射率を0%にするためには、nAR=1.241、dAR=111nmの低屈折率膜を固体基材表面に形成する必要がある。n=1.54の透明な固体基材に反射防止膜を形成した場合の表面反射率と、低屈折率膜の屈折率の関係を図2のように示す。低屈折率膜の屈折率がnARより小さくても大きくても、低屈折率膜付きの固体基材の表面反射率は0%より増大する。 For example, in order to set the surface reflectance of a transparent solid base material having a wavelength of 550 nm of n S = 1.54 to 0%, a low refractive index film of n AR = 1.241 and d AR = 111 nm is used as a solid base. It is necessary to form on the surface of the material. FIG. 2 shows the relationship between the surface reflectance when an antireflection film is formed on a transparent solid substrate with n S = 1.54 and the refractive index of the low refractive index film. Even if the refractive index of the low refractive index film is smaller or larger than n AR, surface reflectivity of the solid substrate with a low refractive index film is increased from 0%.

一方で、波長550nmでのn=1.54の透明な固体基材の表面反射率を0.1%以下にするためには、低屈折率膜のnは1.203以上1.281以下であればよい。また、波長550nmでのn=1.54の透明な固体基材の表面反射率を1.0%以下にするためには、低屈折率膜のnは1.123以上1.372以下であればよい。低屈折率膜が無い場合、n=1.54の透明な固体基材の表面反射率は4.5%である。そのため、屈折率が1.123以上1.372以下の低屈折率膜を固体基材表面に形成すれば、その低屈折率膜は反射防止膜として機能する。 On the other hand, in order to make the surface reflectance of a transparent solid substrate of n S = 1.54 at a wavelength of 550 nm 0.1% or less, the n C of the low refractive index film is 1.203 or more and 1.281. The following is sufficient. Moreover, in order to make the surface reflectance of a transparent solid base material of n S = 1.54 at a wavelength of 550 nm 1.0% or less, n C of the low refractive index film is 1.123 or more and 1.372 or less. If it is. In the absence of a low refractive index film, the surface reflectance of a transparent solid substrate with n S = 1.54 is 4.5%. Therefore, if a low refractive index film having a refractive index of 1.123 or more and 1.372 or less is formed on the surface of the solid substrate, the low refractive index film functions as an antireflection film.

本発明に係る微粒子積層膜の屈折率は、固体基材の表面反射率を0%にする屈折率nAR(式(5)参照)より小さい。これにより、微粒子積層膜の屈折率が何らかの理由で増加しても、反射防止膜として機能し続ける。例えば、1.372であった微粒子積層膜の屈折率が何らかの理由で1.490に増加すると、固体基材の表面反射率は1.0%から3.3%に増加し、微粒子積層膜は反射防止膜ではなくなる。 The refractive index of the fine particle laminated film according to the present invention is smaller than the refractive index n AR (see formula (5)) that makes the surface reflectance of the solid substrate 0%. Thereby, even if the refractive index of the fine particle laminated film increases for some reason, it continues to function as an antireflection film. For example, when the refractive index of the fine particle laminated film which was 1.372 is increased to 1.490 for some reason, the surface reflectance of the solid base material is increased from 1.0% to 3.3%. It is no longer an antireflection film.

しかし、1.123であった微粒子積層膜の屈折率が何らかの理由で1.241に増加すると、固体基材の表面反射率は1.0%から0.0%に減少し、微粒子積層膜は最適な反射防止膜となる。このことから、屈折率がnAR(式(5)参照)より小さい微粒子積層膜は、何らかの理由で屈折率が増加しても反射防止機能を維持できる観点で優れた低屈折率膜といえる。 However, when the refractive index of the fine particle laminated film that was 1.123 increases to 1.241 for some reason, the surface reflectance of the solid substrate decreases from 1.0% to 0.0%, and the fine particle laminated film becomes It becomes an optimal antireflection film. From this, it can be said that the fine particle laminated film having a refractive index smaller than n AR (see formula (5)) is an excellent low refractive index film from the viewpoint of maintaining the antireflection function even if the refractive index increases for some reason.

微粒子積層膜の屈折率が増加する理由には、微粒子積層膜の汚染、吸湿、補強等が挙げられる。微粒子積層膜は膜中に空隙を有し、空隙は膜表面につながっている。そのため、汚染材料の染込み、水や溶媒や低分子量体の吸着が起こり得る。その場合、汚染材料や吸着材料の除去のために清掃を要する。   The reason why the refractive index of the fine particle laminated film increases includes contamination of the fine particle laminated film, moisture absorption, reinforcement and the like. The fine particle laminated film has voids in the film, and the voids are connected to the film surface. For this reason, infiltration of contaminating materials and adsorption of water, solvents and low molecular weight substances can occur. In that case, cleaning is required to remove the contaminating material and the adsorbing material.

しかし、前述のように屈折率がnARより小さい微粒子積層膜を用いることで汚染材料や吸着材料を除去することなく反射防止機能を維持することができる。
また、微粒子積層膜を固体基材へ密着させるため、微粒子積層膜自身の強度を向上させるため又はそれらの両方を得るために、微粒子積層膜に補強剤を染込ませ、硬化させる場合がある。
However, it is possible to maintain the anti-reflection function without the removal of contaminating material and adsorbent material by using a refractive index n AR smaller particle laminated film as described above.
Further, in order to adhere the fine particle laminated film to the solid substrate, to improve the strength of the fine particle laminated film itself, or to obtain both of them, a reinforcing agent may be infused into the fine particle laminated film and cured.

微粒子積層膜を硬化性樹脂に接触させ、空隙を樹脂である程度埋め、その後硬化させることで、微粒子膜の密着性や膜強度は向上できる。そのような樹脂材料は、例えば電離放射線硬化樹脂、熱硬化型樹脂、熱可塑性樹脂、反応性シリコーンオイル等の樹脂組成物が挙げられる。   The adhesion and film strength of the fine particle film can be improved by bringing the fine particle laminated film into contact with the curable resin, filling the voids with the resin to some extent, and then curing. Examples of such a resin material include resin compositions such as ionizing radiation curable resins, thermosetting resins, thermoplastic resins, and reactive silicone oils.

また、金属アルコキシド溶液に接触した後、乾燥して金属酸化物の硬化物で空隙をある程度埋める方法やポリシラザンの溶液にディップして、転化させたシリカで空隙をある程度埋めることもできる。   Alternatively, after contact with the metal alkoxide solution, the void can be filled to some extent with a method of drying and filling the void to some extent with a hardened metal oxide, or by dipping in a solution of polysilazane and converted silica.

また、これらの樹脂組成物や金属酸化物が微粒子積層膜上をコートしてもよく、このオーバーコートは膜強度をさらに向上させる。これらの材料が微粒子積層膜の空隙をある程度埋める場合は屈折率を若干増加させるが、前述のように屈折率がnARより小さい微粒子積層膜を用いることで反射防止機能を維持することができる。なお、樹脂組成物や金属酸化物が微粒子積層膜中の空隙を埋めずに、オーバーコートされるだけでもよい。 Further, these resin compositions and metal oxides may coat the fine particle laminated film, and this overcoat further improves the film strength. If these materials are filled to some extent voids particle laminated film increases the refractive index slightly, but it is possible to maintain the anti-reflection function by using a refractive index n AR smaller particle laminated film as described above. The resin composition or metal oxide may be overcoated without filling the voids in the fine particle laminated film.

また、反射防止膜以外の光学機能薄膜としての用途に対しても、本発明のように屈折率の低い微粒子積層膜は光学性能の向上や光学機能の維持に有用である。   In addition, for use as an optical functional thin film other than the antireflection film, the fine particle laminated film having a low refractive index as in the present invention is useful for improving the optical performance and maintaining the optical function.

(J)光学部材
本発明に係る微粒子積層膜は、交互積層法により得られるために膜厚均一性が高く、それゆえ、その微粒子積層膜は光学部材に好適に用いることができる。微粒子積層膜は、例えば反射防止膜、反射膜、半透過半反射膜、可視光反射赤外線透過膜、赤外線反射可視光透過膜、青色反射膜、緑色反射膜、赤色反射膜、輝線カットフィルター膜、色調補正膜が二つ以上加わった構成の膜として機能させることができる。
(J) Optical Member Since the fine particle laminated film according to the present invention is obtained by an alternating lamination method, the film thickness uniformity is high. Therefore, the fine particle laminated film can be suitably used for an optical member. The fine particle laminated film is, for example, an antireflection film, a reflection film, a transflective film, a visible light reflection infrared transmission film, an infrared reflection visible light transmission film, a blue reflection film, a green reflection film, a red reflection film, a bright line cut filter film, It can function as a film having a structure in which two or more color correction films are added.

そのため、微粒子積層膜を形成した固体基材は、例えば、反射防止膜付き基材、反射膜付き基材(ミラー)、半透過半反射膜付き基材(ハーフミラー)、可視光反射赤外線透過膜付き基材(コールドミラー)、赤外線反射可視光透過膜付き基材(ホットミラー)、青色反射膜付き基材、緑色反射膜付き基材又は赤色反射膜付き基材(ダイクロックミラー)、輝線カットフィルター膜付き基材、色調補正膜付き基材として用いることができる。   Therefore, the solid base material on which the fine particle laminated film is formed includes, for example, a base material with an antireflection film, a base material with a reflective film (mirror), a base material with a semi-transmissive semi-reflective film (half mirror), and a visible light reflecting infrared transmissive film. Substrate with cold mirror, base material with infrared reflective visible light transmission film (hot mirror), base material with blue reflective film, base material with green reflective film or base material with red reflective film (dichroic mirror), bright line cut It can be used as a substrate with a filter film or a substrate with a color tone correction film.

上記の機能は、多くの場合、固体基材の上に低屈折率膜と高屈折率膜を膜厚制御しながら積層して形成した多層構造膜からなる微粒子積層膜によって発現される。
光学的機能発現に必要な屈折率の範囲は、低屈折率膜としては1.3〜1.5、高屈折率膜としては1.6〜2.4が一般的であるが、多くの場合、低屈折率膜の屈折率は低いほど良く、高屈折率膜の屈折率は高いほど良い。なお、光学機能発現に必要な膜厚は、前記式(1)により求めることができる。屈折率の調整は、前記したように微粒子の選択により、行うことが出来る。
In many cases, the above-described function is expressed by a fine particle laminated film composed of a multilayer structure film formed by laminating a low refractive index film and a high refractive index film on a solid substrate while controlling the film thickness.
The range of the refractive index required for the expression of the optical function is generally 1.3 to 1.5 for a low refractive index film and 1.6 to 2.4 for a high refractive index film. The lower the refractive index of the low refractive index film, the better, and the higher the refractive index of the high refractive film, the better. In addition, the film thickness required for optical function expression can be calculated | required by said Formula (1). The refractive index can be adjusted by selecting fine particles as described above.

多層構造の反射防止膜には、固体基材上に高屈折率膜と低屈折率膜を交互に積層した4層以上の積層数のものがあり、広い波長領域で反射防止機能を示す。この場合、低屈折率膜と高屈折率膜の屈折率差が大きいほど、反射防止性能に優れる。実際上の反射防止膜に利用する観点から、可視光の波長領域で微粒子積層膜の表面反射率の最小値が3%以下であることが好ましく、2%以下であることがより好ましく、1%以下であることがさらに好ましく、0.5%以下であることがさらに好ましい。   An antireflection film having a multilayer structure includes an antireflection film having four or more layers in which a high refractive index film and a low refractive index film are alternately laminated on a solid substrate, and exhibits an antireflection function in a wide wavelength region. In this case, the greater the difference in refractive index between the low refractive index film and the high refractive index film, the better the antireflection performance. From the viewpoint of use in an actual antireflection film, the minimum value of the surface reflectance of the fine particle multilayer film in the visible light wavelength region is preferably 3% or less, more preferably 2% or less, and more preferably 1%. Or less, more preferably 0.5% or less.

半透過半反射膜の基本的な多層構造は、固体基材上に高屈折率膜と低屈折率膜の2層を順に積層し、2回繰り返した4層構造が一般的である。高屈折率膜と低屈折率膜の各層の厚さは前記式(1)に近づけることが基本であるが、反射スペクトルや透過スペクトルを目的とする波長領域で平坦にするため、すなわち、反射率や透過率の波長依存性を小さくするために、若干増減させてもよい。   The basic multilayer structure of the semi-transmissive / semi-reflective film is generally a four-layer structure in which two layers of a high refractive index film and a low refractive index film are sequentially laminated on a solid substrate and repeated twice. The thickness of each layer of the high refractive index film and the low refractive index film is basically close to the above formula (1), but in order to flatten the reflection spectrum and the transmission spectrum in the target wavelength region, that is, the reflectance. In order to reduce the wavelength dependence of the transmittance, it may be slightly increased or decreased.

なお、高屈折率膜の単層膜でも、前記式(1)に近づけることで、波長λを中心とした波長領域で半透過半反射機能を示す。実際上の半透過半反射膜に利用する観点から、微粒子積層膜の可視光の波長領域での反射率の平均値が15%以上50%以下及び透過率の平均値が50%以上85%以下であることが好ましく、反射率の平均値が15%以上40%以下及び透過率の平均値が60%以上85%以下であることがより好ましく、反射率の平均値が15%以上30%以下及び透過率の平均値が70%以上85%以下であることがさらに好ましい。   Note that even a single-layer film of a high refractive index film exhibits a semi-transmissive / semi-reflective function in a wavelength region centered on the wavelength λ by being close to the equation (1). From the viewpoint of use in an actual semi-transmissive / semi-reflective film, the average value of the reflectance in the visible light wavelength region of the fine particle laminated film is 15% to 50% and the average value of the transmittance is 50% to 85%. It is preferable that the average reflectance is 15% to 40% and the average transmittance is 60% to 85%, and the average reflectance is 15% to 30%. Further, the average value of the transmittance is more preferably 70% or more and 85% or less.

反射膜の基本的な多層構造は、固体基材上に高屈折率膜と低屈折率膜の2層を順に積層した二層構造を繰り返し積層したものであり、高屈折率膜と低屈折率膜の交互積層構造であるが、固体基材側最下層と最表面層は高屈折率膜である。膜厚は基本的にそれぞれ前記式(1)で決定される。高屈折率膜と低屈折率膜の二層構造の繰り返し数が多いほど高い反射率が得られる。   The basic multilayer structure of the reflective film is a two-layer structure in which two layers of a high refractive index film and a low refractive index film are sequentially laminated on a solid substrate, and the high refractive index film and the low refractive index are laminated. Although the film has an alternately laminated structure, the lowermost layer on the solid substrate side and the outermost surface layer are high refractive index films. The film thickness is basically determined by the equation (1). The higher the number of repetitions of the two-layer structure of the high refractive index film and the low refractive index film, the higher the reflectance.

また、低屈折率膜と高屈折率膜の屈折率差が大きいほど、二層構造の繰り返し数が同じでも反射率が高くなる。そのため、低屈折率膜と高屈折率膜の屈折率差を大きくすることで、高い反射率を得るために必要な二層構造の繰り返し数を少なくすることができる。   Further, the greater the difference in refractive index between the low refractive index film and the high refractive index film, the higher the reflectance even if the number of repetitions of the two-layer structure is the same. Therefore, by increasing the difference in refractive index between the low refractive index film and the high refractive index film, the number of repetitions of the two-layer structure necessary for obtaining a high reflectance can be reduced.

可視光反射赤外線透過膜、赤外線反射可視光透過膜、青色反射膜、緑色反射膜、赤色反射膜、輝線カットフィルター膜、色調補正膜は、ある特定の波長で反射率が高いことが特徴であるため、基本的な膜構造は反射膜のような多層構造である。   A visible light reflecting infrared transmission film, an infrared reflection visible light transmission film, a blue reflection film, a green reflection film, a red reflection film, a bright line cut filter film, and a color tone correction film are characterized by high reflectivity at a specific wavelength. Therefore, the basic film structure is a multilayer structure such as a reflective film.

式(2)からわかるように、微粒子材料の変更や微粒子体積密度の制御により微粒子積層膜の屈折率を制御することができ、高屈折率や低屈折率の微粒子積層膜を得ることができる。例えば、バルクの屈折率が2.3の酸化チタン、2.2のセリア、1.9の酸化錫の微粒子を用いて、微粒子の体積密度を60%に制御すれば、屈折率1.89のチタニア微粒子積層膜、屈折率1.82のセリア微粒子積層膜や屈折率1.60の酸化錫微粒子積層膜等の高屈折率膜が得られる。   As can be seen from the equation (2), the refractive index of the fine particle laminated film can be controlled by changing the fine particle material or controlling the fine particle volume density, and a fine refractive index laminated film having a high refractive index or a low refractive index can be obtained. For example, if the volume density of fine particles is controlled to 60% by using fine particles of titanium oxide having a bulk refractive index of 2.3, ceria of 2.2, and tin oxide of 1.9, a refractive index of 1.89. A high refractive index film such as a titania fine particle laminated film, a ceria fine particle laminated film having a refractive index of 1.82 or a tin oxide fine particle laminated film having a refractive index of 1.60 is obtained.

一方、バルクの屈折率が1.6の酸化アルミニウム、1.48のシリカの微粒子を用いて、微粒子の体積密度を50%に制御すれば、屈折率1.33の酸化アルミニウム微粒子積層膜や屈折率1.26のシリカ微粒子積層膜等の低屈折率膜が得られる。微粒子体積密度は微粒子のゼータ電位や微粒子形状により制御できる。   On the other hand, if the volume density of the fine particles is controlled to 50% using aluminum oxide having a bulk refractive index of 1.6 and silica fine particles of 1.48, a refractive index of 1.33 is obtained. A low refractive index film such as a silica fine particle laminated film having a rate of 1.26 is obtained. The fine particle volume density can be controlled by the fine particle zeta potential and the fine particle shape.

微細構造が高度に制御され、幾何光学的に高い性能を有する微細構造体においては、微細構造体表面の反射防止膜や低屈折率膜は、可視光を散乱・拡散させることは望ましくない。若干でも光を散乱・拡散させる反射防止膜や低屈折率膜は、光が斜めから入射する場合に光の散乱・拡散の度合いが増すためである。   In a fine structure whose fine structure is highly controlled and has high geometric optical performance, it is not desirable for the antireflection film or low refractive index film on the surface of the fine structure to scatter and diffuse visible light. This is because an antireflection film or a low refractive index film that scatters or diffuses light even slightly increases the degree of light scattering / diffusion when light is incident obliquely.

微細構造体表面の反射防止膜には光が法線方向から入射するだけでなく、斜入射である場合も多い。そのため、例えば、レンズ形状物の表面に光を散乱・拡散させる反射防止膜や低屈折率膜が形成された場合、光が焦点に集まらない等の幾何光学的な性能低下を生じる。すなわち、反射防止膜が微細構造体の幾何光学的な性能を損なわないためには、反射防止膜や低屈折率膜が透明であることが望ましい。本発明では、反射防止膜や低屈折率膜の濁度を測定することにより、本発明の反射防止膜や低屈折率膜が微細構造体の幾何光学的な性能を損なわないことを評価できる。   In many cases, light is incident on the antireflection film on the surface of the fine structure not only from the normal direction but also at an oblique incidence. Therefore, for example, when an antireflection film or a low refractive index film that scatters and diffuses light is formed on the surface of the lens-shaped object, geometric optical performance degradation occurs such that the light does not collect at the focal point. That is, it is desirable that the antireflection film and the low refractive index film are transparent so that the antireflection film does not impair the geometric optical performance of the microstructure. In the present invention, by measuring the turbidity of the antireflection film or the low refractive index film, it can be evaluated that the antireflection film or the low refractive index film of the present invention does not impair the geometric optical performance of the microstructure.

微細構造が高度に制御され、幾何光学的に高い性能を有する微細構造体においては、微細構造体表面の反射防止膜は、微細構造体の形状に追従して形成されることが望ましい。反射防止膜が微細構造体の形状に追従しない場合は、微細構造体の幾何光学的な性能が損なわれる。レンズ状微細構造を例にとれば、固体撮像素子に用いられるオンチップマイクロレンズアレイ表面の反射防止膜がマイクロレンズに追従しない場合、レンズの集光性能を損なうために、集光される光量の減少により感度が低下し、さらにフォトダイオード以外の部分に照射された光が迷光となり、フレアやコントラスト低下を引き起こす。   In a fine structure having a highly controlled fine structure and high geometric optical performance, it is desirable that the antireflection film on the surface of the fine structure be formed following the shape of the fine structure. When the antireflection film does not follow the shape of the fine structure, the geometric optical performance of the fine structure is impaired. Taking the lens-like microstructure as an example, if the antireflection film on the surface of the on-chip microlens array used in the solid-state imaging device does not follow the microlens, the amount of light collected will be reduced in order to impair the light collection performance of the lens. The sensitivity decreases due to the decrease, and the light irradiated to the part other than the photodiode becomes stray light, causing flare and contrast reduction.

本発明では、微粒子積層膜が形成した微細構造体の断面を走査型電子顕微鏡などにより観察し、微細構造表面からの法線方向に対する微粒子積層膜の厚みを測定することで、微粒子積層膜の微細構造体への追従性を評価することができる。また微細構造体を斜め方向より走査型電子顕微鏡などにより観察し、投影された微細構造体の形状より微粒子積層膜の微細構造体への追従性を評価することもできる。   In the present invention, the cross section of the fine structure formed by the fine particle laminated film is observed with a scanning electron microscope or the like, and the thickness of the fine particle laminated film with respect to the normal direction from the fine structure surface is measured. The followability to the structure can be evaluated. Further, the fine structure can be observed from an oblique direction with a scanning electron microscope or the like, and the followability of the fine particle laminated film to the fine structure can be evaluated from the shape of the projected fine structure.

本発明では、固体基材が表面に極性基を有することにより、その上に形成された微粒子積層膜が実用的な密着性を得ることができる。固体基材上の膜の表面硬度を評価する方法としては鉛筆硬度試験が挙げられる。固体基材の硬度に依存せずに薄膜そのものの硬度を評価する装置にはナノインデンターが挙げられる。
また、密着性を評価する方法にはテープ剥離試験が挙げられる。
In the present invention, since the solid substrate has a polar group on the surface, the fine particle laminated film formed thereon can obtain practical adhesion. An example of a method for evaluating the surface hardness of a film on a solid substrate is a pencil hardness test. An apparatus that evaluates the hardness of the thin film itself without depending on the hardness of the solid substrate includes a nanoindenter.
Moreover, a tape peeling test is mentioned as a method of evaluating adhesiveness.

なお、テープ剥離試験には必ずしもJIS Z 1522に規定するような2.94N/10mm以上の粘着力を有する必要は無く、より実際の工程において用いる粘着テープを用いて試験してもよい。光電変換素子等の半導体の製造工程においては、バックグラインド工程に用いる粘着テープ等の保護テープがそれにあたる。   The tape peeling test does not necessarily have an adhesive strength of 2.94 N / 10 mm or more as defined in JIS Z 1522, and the test may be performed using an adhesive tape used in a more actual process. In the manufacturing process of a semiconductor such as a photoelectric conversion element, a protective tape such as an adhesive tape used in the back grinding process corresponds to it.

また、液晶用バックライトの輝度向上レンズフィルム、拡散フィルム、ビデオプロジェクションテレビのスクリーンに用いられるフレネルレンズやレンチキュラーレンズなどの光学機能部材においては、加工・輸送・組立て・保管に表面保護、汚染防止や固定をするために貼る粘着テープがそれにあたる。   In addition, for optical function members such as Fresnel lenses and lenticular lenses used in LCD backlight brightness enhancement lens films, diffusion films, and video projection television screens, surface protection, contamination prevention, etc. Adhesive tape to be fixed to fix it.

(K)質量測定
水晶振動子は極めて微量の質量変化を計測する質量センサーとして利用されている。水晶振動子の電極表面に物質が付着すると、水晶振動子全体の質量が増加するため、水晶振動子の共振周波数は減少する。(表面技術、瀬尾眞浩著、「水晶振動微量天秤法」、Vol.45、No.10、pp.1003−1008、1994年、参照)この水晶振動子の質量増加量(Δm)は付着物質の質量に等しく、水晶振動子の共振周波数の減少分(ΔF)と次式に示すSauerbreyの式で関係付けられる。
(K) Mass measurement A crystal resonator is used as a mass sensor for measuring a very small amount of mass change. When a substance adheres to the electrode surface of the crystal resonator, the mass of the entire crystal resonator increases, so that the resonance frequency of the crystal resonator decreases. (Refer to Surface Technology, Akihiro Seo, “Crystal Microvibration Microbalance”, Vol. 45, No. 10, pp. 1003-1008, 1994) The mass increase (Δm) of this crystal resonator is an attached substance. And is related to the decrease (ΔF) of the resonance frequency of the crystal resonator by the Sauerbrey equation shown below.

Figure 2009175672

(ただし、Aは電極面積、μは水晶のせん断応力(2.947×1010kg・m・s)、pは水晶の比重(2648kg/m)、Fはセンサーの共振基本周波数である。(Z.Phys.,G.Sauerbrey著,Vol.155,p.206,1959年))
Figure 2009175672

(Where A is the electrode area, μ is the shear stress of the crystal (2.947 × 10 10 kg · m · s), p is the specific gravity of the crystal (2648 kg / m 3 ), and F 0 is the resonance fundamental frequency of the sensor. (Z. Phys., G. Sauerbrey, Vol. 155, p. 206, 1959))

交互積層法による微粒子積層膜の形成において、この水晶振動子を微粒子分散液に接触し、水晶振動子上に微粒子を吸着させることで、固体基材上に吸着する微粒子の質量を評価することができる。
また、特願2000−568599号に示されるように、同じ水晶振動子を電解質ポリマー溶液に接触し、水晶振動子上に電解質ポリマーを吸着させることで、基板上に吸着する電解質ポリマーの質量を評価することができる。
In the formation of the fine particle laminated film by the alternating lamination method, the mass of the fine particles adsorbed on the solid substrate can be evaluated by bringing the quartz crystal into contact with the fine particle dispersion and adsorbing the fine particles on the quartz crystal vibrator. it can.
Further, as shown in Japanese Patent Application No. 2000-568599, the mass of the electrolyte polymer adsorbed on the substrate is evaluated by bringing the same crystal resonator into contact with the electrolyte polymer solution and adsorbing the electrolyte polymer on the crystal resonator. can do.

交互積層法により形成した微粒子積層膜は、ほとんど微粒子から構成されており、電解質ポリマーの構成比は少ない。水晶振動子を用いた質量評価により、微粒子積層膜中の微粒子に対する電解質ポリマーの質量比を評価することができる。
微粒子と電解質ポリマーが同じ水晶振動子の電極面に吸着する場合、微粒子の質量(Δm)に対する電解質ポリマーの質量(Δm)の比(Δm/Δm)は、式(A)から次式のように導かれる。
The fine particle laminated film formed by the alternating lamination method is almost composed of fine particles, and the composition ratio of the electrolyte polymer is small. By mass evaluation using a crystal resonator, the mass ratio of the electrolyte polymer to the fine particles in the fine particle laminated film can be evaluated.
If fine particles and the electrolyte polymer is adsorbed on the electrode surface of the same crystal oscillator, the ratio of the mass of the electrolyte polymer to the mass of particulates (Δm p) (Δm e) (Δm e / Δm p) , the following formulas (A) Guided by the formula.

Figure 2009175672

(ただし、ΔFは電解質ポリマーの吸着による共振周波数の減少分であり、ΔFは微粒子の吸着による共振周波数の減少分である。すなわち、微粒子に対する電解質ポリマーの質量比(Δm/Δm)は、微粒子に対する電解質ポリマーの吸着による共振周波数の減少分の比(ΔF/ΔF)として求めることができる。)
Figure 2009175672

(Where ΔF e is the decrease in resonance frequency due to adsorption of the electrolyte polymer, and ΔF p is the decrease in resonance frequency due to adsorption of the fine particles. That is, the mass ratio of the electrolyte polymer to the fine particles (Δm e / Δm p ) Can be obtained as the ratio of the decrease in resonance frequency due to adsorption of the electrolyte polymer to the fine particles (ΔF e / ΔF p ).

本発明における微粒子積層膜を形成するために、固体基材を電解質ポリマー溶液に接触し、次いでリンス用の超純水に接触する工程(A)と、微粒子分散液に接触し、次いでリンス用の超純水に接触する工程(B)をこの順に施す。この工程(A)1回と工程(B)1回を順に行う工程を微粒子積層膜製膜工程の1サイクルとし、微粒子積層膜が光学機能を発現する厚さとなるサイクル数(Nmax)まで繰り返す。 In order to form the fine particle laminated film in the present invention, a step (A) in which the solid substrate is brought into contact with the electrolyte polymer solution and then in contact with ultrapure water for rinsing, and in contact with the fine particle dispersion, and then in the rinsing The process (B) which contacts ultrapure water is performed in this order. The step of performing this step (A) once and step (B) once as one cycle of the fine particle laminated film forming step is repeated up to the number of cycles (N max ) at which the fine particle laminated film has a thickness that exhibits an optical function. .

固体基材とともに水晶振動子を電解質ポリマー溶液、超純水、微粒子分散液、超純水の順に接触すると、電解質ポリマーの吸着とリンス、微粒子の吸着とリンスに伴う共振周波数の変化が図3のように測定できる。ここでは、微粒子分散液としてシリカ微粒子の水分散液(スノーテックス(ST)20)を、電解質ポリマー溶液としてPDDAを用いる。   When the quartz crystal resonator is brought into contact with the solid base material in the order of the electrolyte polymer solution, the ultrapure water, the fine particle dispersion, and the ultrapure water, the adsorption and rinsing of the electrolyte polymer and the change in the resonance frequency accompanying the adsorption and rinsing of the fine particles are shown in FIG. Can be measured as follows. Here, an aqueous dispersion of silica fine particles (Snowtex (ST) 20) is used as the fine particle dispersion, and PDDA is used as the electrolyte polymer solution.

周波数減少分(ΔF)は、電解質ポリマーの吸着とリンスを経て水晶振動子及び固体基材の上に残る電解質ポリマーの質量による周波数減少分である。このΔFを微粒子積層膜製膜工程が1回目からNmax回目までの間に測定し、それらの平均値をΔFee avとする。 The frequency decrease (ΔF e ) is the frequency decrease due to the mass of the electrolyte polymer remaining on the quartz resonator and the solid substrate through the adsorption and rinsing of the electrolyte polymer. This ΔF e is measured during the first to N max times in the fine particle laminated film forming step, and the average value thereof is taken as ΔF ee av .

また、周波数減少分(ΔF)は微粒子の吸着とリンスを経て水晶振動子及び固体基材の上に残る微粒子の質量による周波数減少分である。このΔFを微粒子積層膜製膜工程が1からNmaxの間に測定し、それらの平均値をΔF avとする。これらを用いて、微粒子積層膜中の微粒子に対する電解質ポリマーの質量比(me/P)を次式のように求めることができる。 The frequency decrease (ΔF P ) is the frequency decrease due to the mass of the fine particles remaining on the quartz vibrator and the solid substrate through the adsorption and rinsing of the fine particles. The [Delta] F P a particle laminated film forming step is measured between 1 and N max, and the average value and [Delta] F P av. Using these, the mass ratio (me / P ) of the electrolyte polymer with respect to the fine particles in the fine particle laminated film can be obtained by the following equation.

Figure 2009175672
Figure 2009175672

本発明で形成する微粒子積層膜では、微粒子に対する電解質ポリマーの質量比(me/p)は、0.01質量%以上10質量%以下であることが好ましい。微粒子の体積率が同じ場合、空隙を樹脂で完全に充填した微粒子積層膜の屈折率n’(式(4)参照)よりも空隙を有する微粒子積層膜の屈折率n(式(2)参照)のほうが低い。このことから、微粒子積層膜に含まれる微粒子に対する電解質ポリマーの体積率が小さいほど、すなわち微粒子積層膜に含まれる微粒子に対する電解質ポリマーの質量比(me/P)が小さいほど、微粒子積層膜の屈折率は低くなることがわかる。 In the fine particle laminated film formed according to the present invention, the mass ratio (me / p ) of the electrolyte polymer to the fine particles is preferably 0.01% by mass or more and 10% by mass or less. When the volume ratio of the fine particles are the same, the refractive index n c of the particle laminated film that completely fills the voids in the resin '(Equation (4) see) the refractive index of the particle laminated film having pores than n c (formula (2) See) is lower. From this, the smaller the volume ratio of the electrolyte polymer to the fine particles contained in the fine particle laminated film, that is, the smaller the mass ratio ( me / P ) of the electrolyte polymer to the fine particles contained in the fine particle laminated film, the more the refractive index of the fine particle laminated film. It can be seen that the rate is low.

同じ微粒子の体積密度(充填率)において、樹脂中に微粒子が分散した膜に比べて、微粒子に対する電解質ポリマーの質量比(me/P)が0.01%〜10%と小さい微粒子積層膜の屈折率は低くなる。すなわち、微粒子積層膜の屈折率を下げるためには、微粒子に対して0.01質量%以上10質量%以下の電解質ポリマーを含むことが好ましく、0.1質量%以上5質量%以下がより好ましい。 In the same fine particle volume density (filling rate), the mass ratio (me / P ) of the electrolyte polymer to the fine particles is 0.01% to 10%, which is smaller than that of the film in which the fine particles are dispersed in the resin. The refractive index is lowered. That is, in order to lower the refractive index of the fine particle laminated film, it is preferable to contain 0.01% by mass or more and 10% by mass or less of the electrolyte polymer, and more preferably 0.1% by mass or more and 5% by mass or less. .

微粒子積層膜中の電解質ポリマーの質量を、示差熱天秤にて電解質ポリマーの沸点以上に加熱した際の質量減少分として評価してもよい。この場合、シリコーンウエハ、ガラス等の高硬度な基材上に形成された微粒子積層膜をカッターなどで基材から剥離し、粉末状になった微粒子積層膜を試料として用いればよい。   The mass of the electrolyte polymer in the fine particle laminated film may be evaluated as a mass decrease when heated to the boiling point of the electrolyte polymer or higher with a differential thermobalance. In this case, the fine particle laminated film formed on a high hardness substrate such as a silicone wafer or glass may be peeled off from the substrate with a cutter or the like, and the powder fine particle laminated film may be used as a sample.

また、高感度電子天秤によって高温焼成後の基材上の微粒子積層膜中の電解質ポリマーの質量減少分を測定し、微粒子積層膜中の電解質ポリマーの質量を評価してもよい。この場合、シリコーンウエハやガラス等の高融点の基材を用い、高温焼成後に十分な時間を経過させて微粒子積層膜の吸湿量に違いを与えなければよい。   Further, the mass decrease of the electrolyte polymer in the fine particle laminated film on the substrate after high-temperature firing may be measured by a high sensitivity electronic balance, and the mass of the electrolyte polymer in the fine particle laminated film may be evaluated. In this case, a high melting point base material such as a silicone wafer or glass may be used, and a sufficient time should be allowed to elapse after baking at a high temperature so as not to give a difference in the moisture absorption amount of the fine particle laminated film.

(L)乾燥処理
上記のようにして固体基材表面に形成した微粒子積層膜を加熱することで乾燥処理を行ってもよい。乾燥処理により微粒子積層膜中に含有される水が除去されるとともに、微粒子間のファンデアワールス力、分子間力、クーロン引力及び共有結合がより多く生じ、膜硬度の向上が図られる。
(L) Drying treatment The drying treatment may be performed by heating the fine particle laminated film formed on the surface of the solid substrate as described above. The water contained in the fine particle laminated film is removed by the drying treatment, and more van der Waals force, intermolecular force, coulomb attractive force and covalent bond between the fine particles are generated, and the film hardness is improved.

加熱温度は、固体基材の融点、ガラス転移温度、軟化温度等より低い温度が良く、固体基材の透明性や無着色といった光学機能が保たれる温度が良い。なお、加熱温度は、微粒子積層膜中の電解質ポリマーの融点や沸点を越えてもよい。   The heating temperature is preferably lower than the melting point, glass transition temperature, softening temperature, etc. of the solid substrate, and is preferably a temperature at which the optical function such as transparency and non-coloring of the solid substrate is maintained. The heating temperature may exceed the melting point or boiling point of the electrolyte polymer in the fine particle laminated film.

本発明における微粒子積層膜中の電解質ポリマーは極微量であるため、加熱によって蒸発し、微粒子積層膜中から除去されても光学機能や機械特性は保たれる。
また、微粒子積層膜の形成のためには電解質ポリマーは静電的な結合材として必要であるが、微粒子積層膜の形成後では微粒子積層膜は微粒子間引力により保持されるために電解質ポリマーは存在してもよいし、存在しなくてもよい。
Since the electrolyte polymer in the fine particle laminated film in the present invention is extremely small, even if it is evaporated by heating and removed from the fine particle laminated film, the optical function and mechanical properties are maintained.
In addition, the electrolyte polymer is necessary as an electrostatic binder for the formation of the fine particle laminate film, but after the fine particle laminate film is formed, the electrolyte polymer exists because the fine particle laminate film is retained by the attractive force between fine particles. It may or may not exist.

加熱時間は、1分〜1時間程度であることが好ましい。もちろん、加熱温度と加熱時間との関係は、相対的なものであり、処理温度を低くした場合には、その分長い時間にわたって処理を続けることで目的を達成できる。   The heating time is preferably about 1 minute to 1 hour. Of course, the relationship between the heating temperature and the heating time is relative, and when the processing temperature is lowered, the purpose can be achieved by continuing the processing for a longer time.

また、加熱処理の雰囲気に制限はなく、空気中のような酸化性の雰囲気、窒素中のような不活性な雰囲気、あるいは水素などを含む還元性雰囲気であっても差し支えない。加熱方法にも制限はなく、オーブン、誘導加熱装置、赤外線ヒータのような加熱手段ないしは加熱装置を用いて行うことができる。   The atmosphere for the heat treatment is not limited, and may be an oxidizing atmosphere such as air, an inert atmosphere such as nitrogen, or a reducing atmosphere including hydrogen. There is no restriction | limiting also in the heating method, It can carry out using heating means thru | or a heating apparatus like an oven, an induction heating apparatus, and an infrared heater.

以下、本発明を実施例に基づいて説明するが、本発明はこれら実施例によって何等制限するものではない。
[実施例1]
1.微粒子積層膜(低屈折率膜)の形成(微粒子積層膜の製膜工程)
BET法で測定した平均一次粒子径が8nmの数珠状シリカ微粒子が分散したシリカ水分散液(日産化学工業(株)製、商品名:スノーテックス(ST)OUP、シリカゾル)をpHは調整せずに濃度を0.01重量%に調整した微粒子分散液として用い、電解質ポリマーとしてポリジアリルジメチルアンモニウムクロリド(PDDA、アルドリッチ社製)を0.001重量%、pH10に調整した水溶液を電解質ポリマー水溶液として用いた。
EXAMPLES Hereinafter, although this invention is demonstrated based on an Example, this invention is not restrict | limited at all by these Examples.
[Example 1]
1. Formation of fine particle laminated film (low refractive index film) (film production process of fine particle laminated film)
The pH of the silica aqueous dispersion (manufactured by Nissan Chemical Industries, Ltd., trade name: SNOWTEX (ST) OUP, silica sol) in which bead-like silica fine particles having an average primary particle diameter of 8 nm measured by the BET method are dispersed is not adjusted. As an electrolyte polymer aqueous solution, an aqueous solution adjusted to 0.001% by weight of polydiallyldimethylammonium chloride (PDDA, manufactured by Aldrich) and a pH of 10 is used as an electrolyte polymer. It was.

基材であるマイクロレンズアレイシート、シリコンウエハ(SUMCO社製、6PW−A1、6インチΦ、625μm厚)、ガラス基材(松浪硝子社製、商品名:S1111、25mm×75mm×0.7mm厚、波長550nmでの屈折率は1.54)のそれぞれに、電解質ポリマー水溶液を滴下して1分間経過後にリンス用の超純水を1分間シャワーする工程(ア)、微粒子分散液を滴下して1分間経過後にリンス用の超純水を1分間シャワーする工程(イ)をこの順に施した。工程(ア)1回と工程(イ)1回を順に行うことを1サイクルとし、このサイクル数を微粒子交互積層回数とした。微粒子交互積層回数を21回行い、固体基材表面に微粒子積層膜(低屈折率膜)を形成した。   Microlens array sheet as a substrate, silicon wafer (SUMPCO, 6PW-A1, 6 inch Φ, 625 μm thickness), glass substrate (Matsunami Glass, product name: S1111, 25 mm × 75 mm × 0.7 mm thickness) The refractive index at a wavelength of 550 nm is 1.54), a step of dropping an electrolyte polymer aqueous solution and showering for 1 minute after rinsing ultrapure water for 1 minute, and a fine particle dispersion being dropped. After the elapse of 1 minute, the step (a) of showering ultrapure water for rinsing for 1 minute was performed in this order. Performing the step (a) once and the step (b) once in order was defined as one cycle, and this cycle number was defined as the number of fine particle alternating laminations. The number of times the fine particles were alternately laminated was 21 times, and a fine particle laminated film (low refractive index film) was formed on the surface of the solid substrate.

微粒子積層膜中における微粒子に対する電解質ポリマーの質量比の測定方法を以下に示す。
水晶振動子を電解質ポリマー水溶液に1分間浸漬し、リンス用の超純水に3分間浸漬する工程(ア’)、シリカゾルに1分間浸漬した後、リンス用の超純水に3分間浸漬する工程(イ’)をこの順に施した。工程(ア’)での水晶振動子の共振周波数をモニタすることで、水晶振動子上及び固体基材上に残る電解質ポリマーの質量による周波数減少分(ΔF)を評価することができる。このΔFの評価を微粒子交互積層回数だけ繰り返し、平均化することで、電解質ポリマーの質量による周波数減少分の平均値(ΔF av)を求めることができる。工程(イ’)における水晶振動子の共振周波数をモニタすることで、水晶振動子上及び固体基材上に残る微粒子の質量による周波数減少分(ΔF)を評価することができる。
A method for measuring the mass ratio of the electrolyte polymer to the fine particles in the fine particle laminated film will be described below.
A step of immersing the quartz crystal in an electrolyte polymer aqueous solution for 1 minute, immersing in ultra pure water for rinsing for 3 minutes (A '), a step of immersing in silica sol for 1 minute, and then immersing in ultra pure water for rinsing for 3 minutes (I ') was applied in this order. By monitoring the resonance frequency of the crystal resonator in the step (a ′), the frequency decrease (ΔF e ) due to the mass of the electrolyte polymer remaining on the crystal resonator and the solid substrate can be evaluated. By repeating this evaluation of ΔF e by the number of times of alternate lamination of fine particles and averaging, the average value (ΔF e av ) of the frequency decrease due to the mass of the electrolyte polymer can be obtained. By monitoring the resonance frequency of the crystal resonator in the step (A ′), it is possible to evaluate the frequency decrease (ΔF p ) due to the mass of the fine particles remaining on the crystal resonator and the solid substrate.

このΔFの評価を微粒子交互積層回数だけ繰り返し、平均化することで、微粒子の質量による周波数減少分の平均値(ΔF av)を求めることができる。ΔF avとΔF avの比として、微粒子積層膜中の微粒子に対する電解質ポリマーの質量比(me/p)を求めることができる(式(9)参照)。水晶振動子の共振周波数変化から評価した微粒子積層膜中の微粒子に対する電解質ポリマーの質量比(me/p)は3%であった。これより、微粒子積層膜はほぼ微粒子のみから構成されていることがわかる。 By repeating this evaluation of ΔF p by the number of times of fine particle alternate lamination and averaging, the average value (ΔF p av ) of the frequency decrease due to the mass of the fine particles can be obtained. As a ratio of ΔF e av and ΔF p av , the mass ratio (me / p ) of the electrolyte polymer to the fine particles in the fine particle laminated film can be obtained (see formula (9)). The mass ratio (me / p ) of the electrolyte polymer to the fine particles in the fine particle laminated film evaluated from the change in the resonance frequency of the quartz resonator was 3%. From this, it can be seen that the fine particle laminated film is substantially composed only of fine particles.

2.微粒子積層膜の透明性の評価
前記で得た微粒子積層膜が形成されたガラス基板のヘイズ値を、濁度計(日本電色工業社製)でJIS K 7361−1−1997に準拠して測定した結果、0.4%であった。ガラス基板のみのヘイズ値を同様に測定した結果、0.1%であった。微粒子積層膜が形成された固体基材のヘイズ値から、固体基材のみのヘイズ値を差し引くことで微粒子積層膜の濁度を求めた。その結果、微粒子積層膜の濁度は0.3%であり、微粒子積層膜の透明性が非常に高いことがわかった。
2. Evaluation of transparency of fine particle laminated film The haze value of the glass substrate on which the fine particle laminated film obtained above was formed was measured with a turbidimeter (manufactured by Nippon Denshoku Industries Co., Ltd.) according to JIS K 7361-1-1997. As a result, it was 0.4%. The haze value of the glass substrate alone was measured in the same manner and was found to be 0.1%. The turbidity of the fine particle laminate film was determined by subtracting the haze value of only the solid substrate from the haze value of the solid substrate on which the fine particle laminate film was formed. As a result, it was found that the turbidity of the fine particle laminated film was 0.3%, and the transparency of the fine particle laminated film was very high.

3.微粒子積層膜の反射防止性能の評価
微粒子積層膜が形成されたガラス基板の透過スペクトルを可視紫外分光光度計(日本分光(株)製、商品名:V−570)で測定したところ、波長400〜800nmでの最大の透過率は94.4%であった。
3. Evaluation of antireflection performance of fine particle laminated film When the transmission spectrum of the glass substrate on which the fine particle laminated film is formed was measured with a visible ultraviolet spectrophotometer (trade name: V-570, manufactured by JASCO Corporation), the wavelength was 400 to 400. The maximum transmittance at 800 nm was 94.4%.

また、微粒子積層膜が形成されたガラス基板の反対面に黒い粘着テープ(ニチバン(株)製、商品名:VT−196)を気泡が残らないように貼り付け、微粒子積層膜が形成された片面の表面反射率のスペクトルを可視紫外分光光度計(日本分光(株)製、商品名:V−570)で測定した。微粒子積層膜が形成されたガラス基板の波長400〜800nmでの最小の表面反射率は0.8%であった。
ガラス基板の透過率は91%、表面反射率は4.5%であることから、優れた特性の反射防止膜が形成され、透過率も向上させることがわかった。
Also, a black adhesive tape (manufactured by Nichiban Co., Ltd., trade name: VT-196) is attached to the opposite surface of the glass substrate on which the fine particle laminated film is formed so that no bubbles remain, and one side on which the fine particle laminated film is formed The surface reflectance spectrum was measured with a visible ultraviolet spectrophotometer (trade name: V-570, manufactured by JASCO Corporation). The minimum surface reflectance at a wavelength of 400 to 800 nm of the glass substrate on which the fine particle laminated film was formed was 0.8%.
Since the transmittance of the glass substrate was 91% and the surface reflectance was 4.5%, it was found that an antireflection film having excellent characteristics was formed and the transmittance was also improved.

4.微粒子積層膜の屈折率の評価
シリコンウエハ上の微粒子積層膜の屈折率と膜厚を自動エリプソメータ(ファイブラボ(株)製、商品名:MARY−102、レーザー波長632.8nm)で評価した結果、微粒子積層膜の屈折率は1.138、厚さは121nmであった。
4). Evaluation of Refractive Index of Fine Particle Layered Film As a result of evaluating the refractive index and film thickness of the fine particle layered film on the silicon wafer with an automatic ellipsometer (manufactured by Fibrabo Co., Ltd., trade name: MARY-102, laser wavelength 632.8 nm), The fine particle laminated film had a refractive index of 1.138 and a thickness of 121 nm.

[実施例2]
0.3重量%に調整した微粒子分散液として用いたこと、微粒子交互積層回数を6回としたこと以外は実施例1に準じて基材上に微粒子積層膜(低屈折率膜)を作製した。
微粒子積層膜が形成されたガラス基板の透過スペクトルを実施例1と同様に測定したところ、波長400〜800nmでの最大の透過率は95.1%であった。
[Example 2]
A fine particle laminated film (low refractive index film) was produced on the substrate in accordance with Example 1 except that the fine particle dispersion was adjusted to 0.3% by weight and that the number of alternating fine particle laminations was six. .
When the transmission spectrum of the glass substrate on which the fine particle laminated film was formed was measured in the same manner as in Example 1, the maximum transmittance at a wavelength of 400 to 800 nm was 95.1%.

実施例1と同様に微粒子積層膜が形成されたガラス基板の表面反射スペクトルを測定したところ、波長400〜800nmでの最小の表面反射率は0.1%であった。
また、実施例1と同様に評価した微粒子積層膜の屈折率は1.204、厚さは114nmであり、実施例1と同様に評価した微粒子積層膜の濁度は0.3%であり、実施例1と同様に評価した微粒子積層膜中の微粒子に対する電解質ポリマーの質量比(me/p)は3%であった。
When the surface reflection spectrum of the glass substrate on which the fine particle laminated film was formed was measured in the same manner as in Example 1, the minimum surface reflectance at a wavelength of 400 to 800 nm was 0.1%.
Further, the refractive index of the fine particle laminated film evaluated in the same manner as in Example 1 is 1.204, the thickness is 114 nm, and the turbidity of the fine particle laminated film evaluated in the same manner as in Example 1 is 0.3%. The mass ratio (me / p ) of the electrolyte polymer to the fine particles in the fine particle laminated film evaluated in the same manner as in Example 1 was 3%.

[実施例3]
1重量%に調整した微粒子分散液として用いたこと、ポリジアリルジメチルアンモニウムクロリド(PDDA)を0.1重量%、pH10に調整した電解質ポリマー水溶液を用いたこと、微粒子交互積層回数を2回としたこと以外は実施例1に準じて基材上に微粒子積層膜(低屈折率膜)を作製した。
[Example 3]
It was used as a fine particle dispersion adjusted to 1% by weight, an electrolyte polymer aqueous solution adjusted to 0.1% by weight of polydiallyldimethylammonium chloride (PDDA) and pH 10, and the number of alternating fine particle laminations was set to 2 times. Except for this, a fine particle laminated film (low refractive index film) was produced on a substrate in accordance with Example 1.

微粒子積層膜が形成されたガラス基板の透過スペクトルを実施例1と同様に測定したところ、波長400〜800nmでの最大の透過率は95.0%であった。
実施例1と同様に微粒子積層膜が形成されたガラス基板の表面反射スペクトルを測定したところ、波長400〜800nmでの最小の表面反射率は0.2%であった。
また、実施例1と同様に評価した微粒子積層膜の屈折率は1.199、厚さは115nmであり、実施例1と同様に評価した微粒子積層膜の濁度は0.3%であり、実施例1と同様に評価した微粒子積層膜中の微粒子に対する電解質ポリマーの質量比(me/p)は3%であった。
When the transmission spectrum of the glass substrate on which the fine particle laminated film was formed was measured in the same manner as in Example 1, the maximum transmittance at a wavelength of 400 to 800 nm was 95.0%.
When the surface reflection spectrum of the glass substrate on which the fine particle laminated film was formed was measured in the same manner as in Example 1, the minimum surface reflectance at a wavelength of 400 to 800 nm was 0.2%.
Further, the refractive index of the fine particle laminated film evaluated in the same manner as in Example 1 is 1.199, the thickness is 115 nm, and the turbidity of the fine particle laminated film evaluated in the same manner as in Example 1 is 0.3%. The mass ratio (me / p ) of the electrolyte polymer to the fine particles in the fine particle laminated film evaluated in the same manner as in Example 1 was 3%.

[実施例4]
0.1重量%に調整した微粒子分散液として用いたこと、ポリエチレンイミン(PEI)を0.01重量%に調整し、pHを調整しない電解質ポリマー水溶液を用いたこと、微粒子交互積層回数を3回としたこと以外は実施例1に準じて基材上に微粒子積層膜(低屈折率膜)を作製した。
[Example 4]
Used as a fine particle dispersion adjusted to 0.1% by weight, adjusted to 0.01% by weight of polyethyleneimine (PEI), used an aqueous electrolyte polymer solution without adjusting pH, and repeated the number of times of alternating fine particle lamination three times. Except for the above, a fine particle laminated film (low refractive index film) was produced on the substrate according to Example 1.

微粒子積層膜が形成されたガラス基板の透過スペクトルを実施例1と同様に測定したところ、波長400〜800nmでの最大の透過率は94.7%であった。
実施例1と同様に微粒子積層膜が形成されたガラス基板の表面反射スペクトルを測定したところ、波長400〜800nmでの最小の表面反射率は0.5%であった。
また、実施例1と同様に評価した微粒子積層膜の屈折率は1.167、厚さは118nmであり、実施例1と同様に評価した微粒子積層膜の濁度は0.3%であり、実施例1と同様に評価した微粒子積層膜中の微粒子に対する電解質ポリマーの質量比(me/p)は3%であった。
When the transmission spectrum of the glass substrate on which the fine particle laminated film was formed was measured in the same manner as in Example 1, the maximum transmittance at a wavelength of 400 to 800 nm was 94.7%.
When the surface reflection spectrum of the glass substrate on which the fine particle laminated film was formed was measured in the same manner as in Example 1, the minimum surface reflectance at a wavelength of 400 to 800 nm was 0.5%.
Further, the refractive index of the fine particle laminated film evaluated in the same manner as in Example 1 is 1.167, the thickness is 118 nm, and the turbidity of the fine particle laminated film evaluated in the same manner as in Example 1 is 0.3%. The mass ratio (me / p ) of the electrolyte polymer to the fine particles in the fine particle laminated film evaluated in the same manner as in Example 1 was 3%.

[実施例5]
BET法で測定した平均一次粒子径が15nmの数珠状シリカ微粒子が分散したシリカ水分散液(日産化学工業(株)製、商品名:スノーテックス(ST)PSS、シリカゾル)をpHは調整せずに濃度を10重量%に調整した微粒子分散液として用いたこと、ポリエチレンイミン(PEI)を1重量%に調整し、pHを調整しない電解質ポリマー水溶液を用いたこと、微粒子交互積層回数を10回としたこと以外は実施例1に準じて基材上に微粒子積層膜(低屈折率膜)を作製した。
[Example 5]
The pH of the silica aqueous dispersion (manufactured by Nissan Chemical Industries, Ltd., trade name: Snowtex (ST) PSS, silica sol) in which bead-like silica fine particles having an average primary particle diameter of 15 nm measured by the BET method are dispersed is not adjusted. Used as a fine particle dispersion whose concentration was adjusted to 10% by weight, polyethyleneimine (PEI) was adjusted to 1% by weight, an electrolyte polymer aqueous solution without adjusting the pH was used, and the number of times of fine particle alternate lamination was 10 times. Except for the above, a fine particle laminated film (low refractive index film) was produced on a substrate according to Example 1.

微粒子積層膜が形成されたガラス基板の透過スペクトルを実施例1と同様に測定したところ、波長400〜800nmでの最大の透過率は95.0%であった。
実施例1と同様に微粒子積層膜が形成されたガラス基板の表面反射スペクトルを測定したところ、波長400〜800nmでの最小の表面反射率は0.2%であった。
また、実施例1と同様に評価した微粒子積層膜の屈折率は1.195、厚さは115nmであり、実施例1と同様に評価した微粒子積層膜の濁度は0.3%であった。
When the transmission spectrum of the glass substrate on which the fine particle laminated film was formed was measured in the same manner as in Example 1, the maximum transmittance at a wavelength of 400 to 800 nm was 95.0%.
When the surface reflection spectrum of the glass substrate on which the fine particle laminated film was formed was measured in the same manner as in Example 1, the minimum surface reflectance at a wavelength of 400 to 800 nm was 0.2%.
The refractive index of the fine particle laminated film evaluated in the same manner as in Example 1 was 1.195, the thickness was 115 nm, and the turbidity of the fine particle laminated film evaluated in the same manner as in Example 1 was 0.3%. .

[実施例6]
BET法で測定した平均一次粒子径が20nmの数珠状シリカ微粒子が分散したシリカ水分散液(日産化学工業(株)製、商品名:スノーテックス(ST)PSM、シリカゾル)をpHは調整せずに濃度を1重量%に調整した微粒子分散液として用いたこと、ポリエチレンイミン(PEI)を0.1重量%に調整し、pHを調整しない電解質ポリマー水溶液を用いたこと、微粒子交互積層回数を15回としたこと以外は実施例1に準じて基材上に微粒子積層膜(低屈折率膜)を作製した。
[Example 6]
The pH of a silica aqueous dispersion (manufactured by Nissan Chemical Industries, Ltd., trade name: Snowtex (ST) PSM, silica sol) in which beaded silica fine particles having an average primary particle diameter of 20 nm measured by the BET method are dispersed is not adjusted. Used as a fine particle dispersion whose concentration was adjusted to 1% by weight, polyethyleneimine (PEI) was adjusted to 0.1% by weight, an aqueous electrolyte polymer solution was used without adjusting the pH, and the number of times of fine particle alternate lamination was 15. A fine particle laminated film (low refractive index film) was produced on the base material in the same manner as in Example 1 except that the process was repeated.

微粒子積層膜が形成されたガラス基板の透過スペクトルを実施例1と同様に測定したところ、波長400〜800nmでの最大の透過率は94.9%であった。
実施例1と同様に微粒子積層膜が形成されたガラス基板の表面反射スペクトルを測定したところ、波長400〜800nmでの最小の表面反射率は0.3%であった。
また、実施例1と同様に評価した微粒子積層膜の屈折率は1.180、厚さは117nmであり、実施例1と同様に評価した微粒子積層膜の濁度は0.3%であった。
When the transmission spectrum of the glass substrate on which the fine particle multilayer film was formed was measured in the same manner as in Example 1, the maximum transmittance at a wavelength of 400 to 800 nm was 94.9%.
When the surface reflection spectrum of the glass substrate on which the fine particle laminated film was formed was measured in the same manner as in Example 1, the minimum surface reflectance at a wavelength of 400 to 800 nm was 0.3%.
Further, the refractive index of the fine particle laminated film evaluated in the same manner as in Example 1 was 1.180, the thickness was 117 nm, and the turbidity of the fine particle laminated film evaluated in the same manner as in Example 1 was 0.3%. .

[実施例7]
基材に微細構造体であるマイクロレンズ(光硬化性樹脂、幅9μm、高さ1.5μm)を有するマイクロレンズアレイシートを用いたこと以外は実施例1に準じて基材上に微粒子積層膜を作製した。なお、マイクロレンズアレイシートの一部に保護テープを貼り、微粒積層膜が形成されない部分を設けた。
[Example 7]
A fine particle laminated film on the substrate according to Example 1 except that a microlens array sheet having a microlens (photocurable resin, width 9 μm, height 1.5 μm) as a fine structure is used as the substrate. Was made. A protective tape was applied to a part of the microlens array sheet to provide a portion where the fine particle laminated film was not formed.

走査型電子顕微鏡(フィリップス社製、商品名:XL30ESEM)で、微粒子積層膜が形成したマイクロレンズアレイシートを、シート面の法線方向から75°の角度から観察し、微粒子積層膜が形成したマイクロレンズの形状を観察した。
また、同様に微粒子積層膜が形成していない部分のマイクロレンズの形状も観察した。微粒子積層膜が形成したマイクロレンズの観察像の輪郭を図4に破線で示す。
The microlens array sheet on which the fine particle multilayer film was formed was observed with a scanning electron microscope (manufactured by Philips, trade name: XL30ESEM) from an angle of 75 ° from the normal direction of the sheet surface. The shape of the lens was observed.
Similarly, the shape of the microlens where the fine particle laminated film was not formed was also observed. The outline of the observation image of the microlens formed with the fine particle laminated film is shown by a broken line in FIG.

また、微粒子積層膜が形成していないマイクロレンズの観察像の輪郭も図4に実線で示す。微粒子積層膜の厚みが0.1μmと仮定して、微粒子積層膜が形成したマイクロレンズの輪郭を微粒子積層膜が形成していないマイクロレンズの輪郭の上に0.1μmずらして記した。その結果、マイクロレンズ上の微粒子積層膜は、マイクロレンズの法線方向に対する厚みが均一であることが確認でき、微粒子積層膜がマイクロレンズの形状に良好に追従していることが確認できた。   Further, the outline of the observation image of the microlens in which the fine particle laminated film is not formed is also shown by a solid line in FIG. Assuming that the thickness of the fine particle laminated film is 0.1 μm, the outline of the microlens formed by the fine particle laminated film is shifted from the outline of the microlens not formed by the fine particle laminated film by 0.1 μm. As a result, it was confirmed that the fine particle laminated film on the microlens had a uniform thickness with respect to the normal direction of the microlens, and that the fine particle laminated film satisfactorily followed the shape of the microlens.

[実施例8]
基材に微細構造体であるマイクロレンズ(光硬化性樹脂、幅9μm、高さ1.5μm)を有するマイクロレンズアレイシートを用いたこと以外は実施例4に準じて基材上に微粒子積層膜を作製した。なお、マイクロレンズアレイシートの一部に保護テープを貼り、微粒積層膜が形成されない部分を設けた。
[Example 8]
Fine particle laminated film on the substrate according to Example 4 except that a microlens array sheet having a microlens (photocurable resin, width 9 μm, height 1.5 μm) as a microstructure is used as the substrate. Was made. A protective tape was applied to a part of the microlens array sheet to provide a portion where the fine particle laminated film was not formed.

実施例7と同様に微粒子積層膜が形成したマイクロレンズと微粒子積層膜が形成していないマイクロレンズの走査型電子顕微鏡観察し、観察像の輪郭の比較を行った結果、微粒子積層膜はマイクロレンズの法線方向に対する厚みが均一であり、微粒子積層膜の形状追従性は良好であることが確認できた。   As in Example 7, the microlens formed with the fine particle laminate film and the microlens without the fine particle laminate film were observed with a scanning electron microscope and the contours of the observed images were compared. It was confirmed that the thickness with respect to the normal direction was uniform and the shape followability of the fine particle laminated film was good.

[実施例9]
基材に微細構造体であるマイクロレンズ(光硬化性樹脂、幅9μm、高さ1.5μm)を有するマイクロレンズアレイシートを用いたこと以外は実施例6に準じて基材上に微粒子積層膜を作製した。なお、マイクロレンズアレイシートの一部に保護テープを貼り、微粒積層膜が形成されない部分を設けた。
[Example 9]
Fine particle laminated film on the substrate according to Example 6 except that a microlens array sheet having a microlens (photocurable resin, width 9 μm, height 1.5 μm) as a fine structure is used as the substrate. Was made. A protective tape was applied to a part of the microlens array sheet to provide a portion where the fine particle laminated film was not formed.

実施例7と同様に微粒子積層膜が形成したマイクロレンズと微粒子積層膜が形成していないマイクロレンズの走査型電子顕微鏡観察し、観察像の輪郭の比較を行った結果、微粒子積層膜はマイクロレンズの法線方向に対する厚みが均一であり、微粒子積層膜の形状追従性は良好であることが確認できた。   As in Example 7, the microlens formed with the fine particle laminate film and the microlens without the fine particle laminate film were observed with a scanning electron microscope and the contours of the observed images were compared. It was confirmed that the thickness with respect to the normal direction was uniform and the shape followability of the fine particle laminated film was good.

[実施例10]
透過型電子顕微鏡法で測定した平均一次粒子径が40nmの中空状シリカ微粒子が分散したシリカイソプロパノール分散液(触媒化成工業(株)製、商品名:スルーリア、シリカゾル)をpHは調整せずに超純水での希釈により濃度を0.1重量%に調整した微粒子分散液として用いたこと、ポリジアリルジメチルアンモニウムクロリド(PDDA)を0.3重量%、pH10に調整した電解質ポリマー水溶液を用いたこと、及び微粒子交互積層回数を5回としたこと以外は実施例1に準じて基材上に微粒子積層膜(低屈折率膜)を作製した。
[Example 10]
The silica isopropanol dispersion (catalyst chemical industry Co., Ltd., trade name: sulria, silica sol) in which hollow silica fine particles having an average primary particle size of 40 nm measured by transmission electron microscopy are dispersed is ultra-adjusted without adjusting the pH. Used as a fine particle dispersion whose concentration was adjusted to 0.1% by dilution with pure water, and an electrolyte polymer aqueous solution adjusted to 0.3% by weight of polydiallyldimethylammonium chloride (PDDA) and pH 10. A fine particle laminated film (low refractive index film) was produced on the base material in the same manner as in Example 1 except that the number of alternating fine particle laminations was five.

微粒子積層膜が形成されたガラス基板の透過スペクトルを実施例1と同様に測定したところ、波長400〜800nmでの最大の透過率は94.9%であった。
実施例1と同様に微粒子積層膜が形成されたガラス基板の表面反射スペクトルを測定したところ、波長400〜800nmでの最小の表面反射率は0.3%であった。
また、実施例1と同様に評価した微粒子積層膜の屈折率は1.180、厚さは117nmであり、実施例1と同様に評価した微粒子積層膜の濁度は0.3%であり、実施例1と同様に評価した微粒子積層膜中の微粒子に対する電解質ポリマーの質量比(me/p)は3%であった。
When the transmission spectrum of the glass substrate on which the fine particle laminated film was formed was measured in the same manner as in Example 1, the maximum transmittance at a wavelength of 400 to 800 nm was 94.9%.
When the surface reflection spectrum of the glass substrate on which the fine particle laminated film was formed was measured in the same manner as in Example 1, the minimum surface reflectance at a wavelength of 400 to 800 nm was 0.3%.
Further, the refractive index of the fine particle laminated film evaluated in the same manner as in Example 1 is 1.180, the thickness is 117 nm, and the turbidity of the fine particle laminated film evaluated in the same manner as in Example 1 is 0.3%. The mass ratio (me / p ) of the electrolyte polymer to the fine particles in the fine particle laminated film evaluated in the same manner as in Example 1 was 3%.

[比較例1]
BET法で測定した平均一次粒子径が15nmの球状シリカ微粒子が分散したシリカ水分散液(日産化学工業(株)製、商品名:スノーテックス(ST)O、シリカゾル)を0.1重量%に調整した微粒子分散液として用いたこと、ポリジアリルジメチルアンモニウムクロリド(PDDA)を0.1重量%、pH10に調整した電解質ポリマー水溶液に用いたこと、微粒子交互積層回数を3回としたこと以外は実施例1に準じて基材上に微粒子積層膜を作製した。
[Comparative Example 1]
Silica aqueous dispersion (manufactured by Nissan Chemical Industries, Ltd., trade name: Snowtex (ST) O, silica sol) in which spherical silica fine particles having an average primary particle diameter of 15 nm measured by the BET method are dispersed is 0.1% by weight. Except for using as an adjusted fine particle dispersion, using polydiallyldimethylammonium chloride (PDDA) as an electrolyte polymer aqueous solution adjusted to 0.1% by weight, pH 10, and changing the number of times of fine particle alternate lamination to 3 times. A fine particle laminated film was produced on the substrate according to Example 1.

微粒子積層膜が形成されたガラス基板の透過スペクトルを実施例1と同様に測定したところ、波長400〜800nmでの最大の透過率は95.1%であった。
実施例1と同様に微粒子積層膜が形成されたガラス基板の表面反射スペクトルを測定したところ、波長400〜800nmでの最小の表面反射率は0.1%であった。
また、実施例1と同様に評価した微粒子積層膜の屈折率は1.268、厚さは108nmであり、実施例1と同様に評価した微粒子積層膜の濁度は0.3%であり、実施例1と同様に評価した微粒子積層膜中の微粒子に対する電解質ポリマーの質量比(me/p)は3%であった。
When the transmission spectrum of the glass substrate on which the fine particle laminated film was formed was measured in the same manner as in Example 1, the maximum transmittance at a wavelength of 400 to 800 nm was 95.1%.
When the surface reflection spectrum of the glass substrate on which the fine particle laminated film was formed was measured in the same manner as in Example 1, the minimum surface reflectance at a wavelength of 400 to 800 nm was 0.1%.
Further, the refractive index of the fine particle laminated film evaluated in the same manner as in Example 1 is 1.268, the thickness is 108 nm, and the turbidity of the fine particle laminated film evaluated in the same manner as in Example 1 is 0.3%. The mass ratio (me / p ) of the electrolyte polymer to the fine particles in the fine particle laminated film evaluated in the same manner as in Example 1 was 3%.

[比較例2]
BET法で測定した平均一次粒子径が50nmの球状シリカ微粒子が分散したシリカ水分散液(日産化学工業(株)製、商品名:スノーテックス(ST)XL、シリカゾル)を1重量%に調整した微粒子分散液として用いたこと、ポリエチレンイミン(PEI)を0.1重量%に調整し、pHを調整しない電解質ポリマー水溶液を用いたこと、微粒子交互積層回数を23回としたこと以外は実施例1に準じて基材上に微粒子積層膜を作製した。
[Comparative Example 2]
A silica water dispersion (manufactured by Nissan Chemical Industries, Ltd., trade name: Snowtex (ST) XL, silica sol) in which spherical silica fine particles having an average primary particle size of 50 nm measured by the BET method are dispersed was adjusted to 1% by weight. Example 1 except that it was used as a fine particle dispersion, polyethyleneimine (PEI) was adjusted to 0.1% by weight, an electrolyte polymer aqueous solution without adjusting the pH was used, and the number of times of fine particle alternating lamination was 23 times. In accordance with the above, a fine particle laminated film was prepared on a substrate.

微粒子積層膜が形成されたガラス基板の透過スペクトルを実施例1と同様に測定したところ、波長400〜800nmでの最大の透過率は94.8%であった。
実施例1と同様に微粒子積層膜が形成されたガラス基板の表面反射スペクトルを測定したところ、波長400〜800nmでの最小の表面反射率は0.1%であった。
また、実施例1と同様に評価した微粒子積層膜の屈折率は1.223、厚さは112nmであり、実施例1と同様に評価した微粒子積層膜の濁度は0.6%であり、実施例1と同様に評価した微粒子積層膜中の微粒子に対する電解質ポリマーの質量比(me/p)は3%であった。
When the transmission spectrum of the glass substrate on which the fine particle laminated film was formed was measured in the same manner as in Example 1, the maximum transmittance at a wavelength of 400 to 800 nm was 94.8%.
When the surface reflection spectrum of the glass substrate on which the fine particle laminated film was formed was measured in the same manner as in Example 1, the minimum surface reflectance at a wavelength of 400 to 800 nm was 0.1%.
Further, the refractive index of the fine particle laminated film evaluated in the same manner as in Example 1 is 1.223, the thickness is 112 nm, and the turbidity of the fine particle laminated film evaluated in the same manner as in Example 1 is 0.6%. The mass ratio (me / p ) of the electrolyte polymer to the fine particles in the fine particle laminated film evaluated in the same manner as in Example 1 was 3%.

[比較例3]
BET法で測定した平均一次粒子径が85nmの球状シリカ微粒子が分散したシリカ水分散液(日産化学工業(株)製、商品名:スノーテックス(ST)ZL、シリカゾル)を1重量%に調整した微粒子分散液として用いたこと、ポリエチレンイミン(PEI)を1重量%に調整し、pHを調整しない電解質ポリマー水溶液を用いたこと、微粒子交互積層回数を16回としたこと以外は実施例1に準じて基材上に微粒子積層膜を作製した。
[Comparative Example 3]
A silica water dispersion (manufactured by Nissan Chemical Industries, Ltd., trade name: Snowtex (ST) ZL, silica sol) in which spherical silica fine particles having an average primary particle diameter of 85 nm measured by the BET method are dispersed was adjusted to 1% by weight. According to Example 1, except that it was used as a fine particle dispersion, polyethyleneimine (PEI) was adjusted to 1% by weight, an electrolyte polymer aqueous solution not adjusting pH was used, and the number of fine particle alternate laminations was set to 16. Thus, a fine particle laminated film was produced on the substrate.

微粒子積層膜が形成されたガラス基板の透過スペクトルを実施例1と同様に測定したところ、波長400〜800nmでの最大の透過率は93.6%であった。
実施例1と同様に微粒子積層膜が形成されたガラス基板の表面反射スペクトルを測定したところ、波長400〜800nmでの最小の表面反射率は0.1%であった。
また、実施例1と同様に評価した微粒子積層膜の屈折率は1.241、厚さは111nmであり、実施例1と同様に評価した微粒子積層膜の濁度は1.8%であり、実施例1と同様に評価した微粒子積層膜中の微粒子に対する電解質ポリマーの質量比(me/p)は3%であった。
When the transmission spectrum of the glass substrate on which the fine particle laminated film was formed was measured in the same manner as in Example 1, the maximum transmittance at a wavelength of 400 to 800 nm was 93.6%.
When the surface reflection spectrum of the glass substrate on which the fine particle laminated film was formed was measured in the same manner as in Example 1, the minimum surface reflectance at a wavelength of 400 to 800 nm was 0.1%.
Further, the refractive index of the fine particle laminated film evaluated in the same manner as in Example 1 is 1.241, the thickness is 111 nm, and the turbidity of the fine particle laminated film evaluated in the same manner as in Example 1 is 1.8%. The mass ratio (me / p ) of the electrolyte polymer to the fine particles in the fine particle laminated film evaluated in the same manner as in Example 1 was 3%.

[比較例4]
BET法で測定した平均一次粒子径が15nmの球状シリカ微粒子が分散したシリカ微粒子メチルエチルケトン分散液(日産化学工業(株)製、商品名:MEK−ST、オルガノシリカゾル)を1.5重量%に調整した微粒子分散液を用いた。
[Comparative Example 4]
Silica fine particle methyl ethyl ketone dispersion (manufactured by Nissan Chemical Industries, Ltd., trade name: MEK-ST, organosilica sol) in which spherical silica fine particles having an average primary particle size of 15 nm measured by the BET method are dispersed is adjusted to 1.5% by weight. The fine particle dispersion was used.

基材である上記のマイクロレンズアレイシート、シリコンウエハ(SUMCO社製6PW−A1、6インチΦ、625μm厚)、ガラス基材(松浪硝子社製、S1111、25mm×75mm×0.7mm厚、波長550nmでの屈折率は1.54)に微粒子分散液を滴下し、回転数1000min−1で展開及び乾燥し、基材上に微粒子積層膜を形成した。 The above-mentioned microlens array sheet as a base material, silicon wafer (SUMPCO 6PW-A1, 6 inch Φ, 625 μm thickness), glass base material (Matsunami Glass, S1111, 25 mm × 75 mm × 0.7 mm thickness, wavelength The fine particle dispersion was dropped into the refractive index at 550 nm of 1.54), and developed and dried at a rotation speed of 1000 min −1 to form a fine particle laminated film on the substrate.

微粒子積層膜が形成されたガラス基板の透過スペクトルを実施例1と同様に測定したところ、波長400〜800nmでの最大の透過率は94.8%であった。
実施例1と同様に微粒子積層膜が形成されたガラス基板の表面反射スペクトルを測定したところ、波長400〜800nmでの最小の表面反射率は0.4%であった。
また、実施例1と同様に評価した微粒子積層膜の屈折率は1.315、厚さは105nmであり、実施例1と同様に評価した微粒子積層膜の濁度は0.3%であった。
When the transmission spectrum of the glass substrate on which the fine particle laminated film was formed was measured in the same manner as in Example 1, the maximum transmittance at a wavelength of 400 to 800 nm was 94.8%.
When the surface reflection spectrum of the glass substrate on which the fine particle laminated film was formed was measured in the same manner as in Example 1, the minimum surface reflectance at a wavelength of 400 to 800 nm was 0.4%.
Further, the refractive index of the fine particle laminated film evaluated in the same manner as in Example 1 was 1.315, the thickness was 105 nm, and the turbidity of the fine particle laminated film evaluated in the same manner as in Example 1 was 0.3%. .

[比較例5]
BET法で測定した平均一次粒子径が8nmの数珠状シリカ微粒子が分散したシリカ微粒子イソプロパノール分散液(日産化学工業(株)製、商品名:IPA−ST−UP、オルガノシリカゾル)を1.5重量%に調整した微粒子分散液を用いたこと以外は比較例4に準じて基材上に微粒子積層膜を作製した。
[Comparative Example 5]
1.5 weight silica fine particle isopropanol dispersion (manufactured by Nissan Chemical Industries, Ltd., trade name: IPA-ST-UP, organosilica sol) in which bead-like silica fine particles having an average primary particle diameter of 8 nm measured by the BET method are dispersed. A fine particle laminated film was produced on a substrate according to Comparative Example 4 except that a fine particle dispersion adjusted to% was used.

微粒子積層膜が形成されたガラス基板の透過スペクトルを実施例1と同様に測定したところ、波長400〜800nmでの最大の透過率は95.1%であった。
実施例1と同様に微粒子積層膜が形成されたガラス基板の表面反射スペクトルを測定したところ、波長400〜800nmでの最小の表面反射率は0.1%であった。
また、実施例1と同様に評価した微粒子積層膜の屈折率は1.232、厚さは112nmであり、実施例1と同様に評価した微粒子積層膜の濁度は0.3%であった。
When the transmission spectrum of the glass substrate on which the fine particle laminated film was formed was measured in the same manner as in Example 1, the maximum transmittance at a wavelength of 400 to 800 nm was 95.1%.
When the surface reflection spectrum of the glass substrate on which the fine particle laminated film was formed was measured in the same manner as in Example 1, the minimum surface reflectance at a wavelength of 400 to 800 nm was 0.1%.
The refractive index of the fine particle laminated film evaluated in the same manner as in Example 1 was 1.232, the thickness was 112 nm, and the turbidity of the fine particle laminated film evaluated in the same manner as in Example 1 was 0.3%. .

[比較例6]
基材に微細構造体であるマイクロレンズ(光硬化性樹脂、幅9μm、高さ1.5μm)を有するマイクロレンズアレイシートを用いたこと以外は比較例1に準じて基材上に微粒子積層膜を作製した。なお、マイクロレンズアレイシートの一部に保護テープを貼り、微粒積層膜が形成されない部分を設けた。
[Comparative Example 6]
Fine particle laminated film on the substrate according to Comparative Example 1 except that a microlens array sheet having a microlens (photocurable resin, width 9 μm, height 1.5 μm) as a microstructure is used as the substrate. Was made. A protective tape was applied to a part of the microlens array sheet to provide a portion where the fine particle laminated film was not formed.

実施例7と同様に微粒子積層膜が形成したマイクロレンズと微粒子積層膜が形成していないマイクロレンズの走査型電子顕微鏡観察し、観察像の輪郭の比較を行った結果、微粒子積層膜はマイクロレンズの法線方向に対する厚みが均一であり、微粒子積層膜の形状追従性は良好であることが確認できた。   As in Example 7, the microlens formed with the fine particle laminate film and the microlens without the fine particle laminate film were observed with a scanning electron microscope and the contours of the observed images were compared. It was confirmed that the thickness with respect to the normal direction was uniform and the shape followability of the fine particle laminated film was good.

[比較例7]
基材に微細構造体であるマイクロレンズ(光硬化性樹脂、幅9μm、高さ1.5μm)を有するマイクロレンズアレイシートを用いたこと以外は比較例5に準じて基材上に微粒子積層膜を作製した。なお、マイクロレンズアレイシートの一部に保護テープを貼り、微粒積層膜が形成されない部分を設けた。
[Comparative Example 7]
Fine particle laminated film on the substrate according to Comparative Example 5 except that a microlens array sheet having a microlens (photocurable resin, width 9 μm, height 1.5 μm) as a fine structure is used as the substrate. Was made. A protective tape was applied to a part of the microlens array sheet to provide a portion where the fine particle laminated film was not formed.

実施例7と同様に微粒子積層膜が形成したマイクロレンズと微粒子積層膜が形成していないマイクロレンズの走査型電子顕微鏡観察し、観察像の輪郭の比較を行った結果、図5に示すように微粒子積層膜はマイクロレンズの法線方向に対する厚みが不均一であり、マイクロレンズの谷部分に近づくほど厚くなった。これにより、微粒子積層膜がマイクロレンズの形状を変化させることがわかり、集光性能を低下させることが推察される。   As in Example 7, the microlens formed with the fine particle laminate film and the microlens without the fine particle laminate film were observed with a scanning electron microscope and the contours of the observed images were compared. As a result, as shown in FIG. The fine particle laminated film had a non-uniform thickness in the normal direction of the microlens, and became thicker as it approached the valley portion of the microlens. Thereby, it turns out that a fine particle lamination film changes the shape of a micro lens, and it is guessed that condensing performance falls.

以上の実施例及び比較例の結果を表1、表2に示す。   The results of the above Examples and Comparative Examples are shown in Tables 1 and 2.

Figure 2009175672
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Figure 2009175672
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表1、表2より、実施例1〜6、10では、微粒子積層膜の屈折率を1.138〜1.204に低下でき、それらの屈折率で反射防止機能が得られることがわかる。また、例えば実施例4の微粒子積層膜は、汚染等により屈折率が0.15増加しても最小表面反射率0.5%の反射防止機能を維持できることがわかる(図2参照)。これに対して比較例1〜5では、屈折率が1.223〜1.315の範囲にあり、現行における最小表面反射率は実施例よりもむしろ低いが、汚染などにより屈折率が増加した場合、図2に示すように表面反射率が増加し反射防止機能を維持できなくなるという問題がある。   From Tables 1 and 2, in Examples 1 to 6, it can be seen that the refractive index of the fine particle multilayer film can be lowered to 1.138 to 1.204, and the antireflection function can be obtained with those refractive indexes. Further, for example, it can be seen that the fine particle laminated film of Example 4 can maintain the antireflection function with the minimum surface reflectance of 0.5% even if the refractive index increases by 0.15 due to contamination or the like (see FIG. 2). On the other hand, in Comparative Examples 1 to 5, the refractive index is in the range of 1.223 to 1.315, and the current minimum surface reflectance is lower than that of the example, but the refractive index is increased due to contamination or the like. As shown in FIG. 2, there is a problem that the surface reflectance increases and the antireflection function cannot be maintained.

数珠状に連なった微粒子の状態と、一次粒子の粒子径を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the state of the microparticles which continued in the shape of a bead, and the particle diameter of a primary particle. 反射防止膜の屈折率と反射防止膜付き固体基材(屈折率1.54)の表面反射率との関係を示すグラフである。It is a graph which shows the relationship between the refractive index of an antireflection film, and the surface reflectance of a solid base material (refractive index 1.54) with an antireflection film. 水晶振動子上に電解質ポリマーが吸着し、リンスされ、次いで微粒子が吸着し、リンスされる時の水晶振動子の共振周波数の変化を示すグラフである。It is a graph which shows the change of the resonance frequency of a crystal oscillator when electrolyte polymer adsorb | sucks on a crystal oscillator, and it is rinsed, and then microparticles | fine-particles adsorb | suck and are rinsed. 実施例7の微粒子積層膜が形成したマイクロレンズをSEMで観察した像の輪郭(図中破線)と微粒子積層膜を形成する前のマイクロレンズをSEM観察した像の輪郭(図中実線)を上下に0.1μmずらして並べた図である。The contour of an image obtained by observing the microlens formed with the fine particle multilayer film of Example 7 with an SEM (broken line in the figure) and the contour of the image obtained by SEM observation of the microlens before forming the fine particle laminated film (solid line in the figure) FIG. 比較例7の微粒子積層膜が形成したマイクロレンズをSEMで観察した像の輪郭(図中破線)と微粒子積層膜を形成する前のマイクロレンズをSEM観察した像の輪郭(図中実線)を上下に0.1μmずらして並べた図である。The contour of an image obtained by observing the microlens formed with the fine particle laminated film of Comparative Example 7 with an SEM (broken line in the figure) and the outline of the image obtained by SEM observing the microlens before forming the fine particle laminated film (solid line in the figure) FIG.

Claims (14)

固体基材表面に電解質ポリマー及び微粒子を交互に積層させて形成される微粒子積層膜からなり、該微粒子積層膜の屈折率が1.10以上1.21以下であることを特徴とする低屈折率膜。   A low refractive index characterized by comprising a fine particle laminate film formed by alternately laminating electrolyte polymer and fine particles on the surface of a solid substrate, the refractive index of the fine particle laminate film being 1.10 or more and 1.21 or less film. 前記微粒子積層膜が、固体基材表面に電解質ポリマー及び微粒子を交互に吸着させて形成される請求項1に記載の低屈折率膜。   The low refractive index film according to claim 1, wherein the fine particle laminated film is formed by alternately adsorbing an electrolyte polymer and fine particles on the surface of a solid substrate. 前記微粒子積層膜中の微粒子が、多孔質シリカ微粒子、中空状シリカ微粒子、及び一次粒子がつながった形状のシリカ微粒子のうちの1種以上を含むことを特徴とする請求項1又は2に記載の低屈折率膜。   The fine particles in the fine particle laminated film include one or more of porous silica fine particles, hollow silica fine particles, and silica fine particles having a shape in which primary particles are connected to each other. Low refractive index film. 前記微粒子積層膜中の微粒子の平均一次粒子径が、1nm以上40nm以下であることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の低屈折率膜。   4. The low refractive index film according to claim 1, wherein an average primary particle diameter of the fine particles in the fine particle laminated film is 1 nm or more and 40 nm or less. 前記微粒子積層膜がさらに電解質ポリマーを含み、該電解質ポリマーの含有率が、微粒子に対して0.01質量%以上10質量%以下であることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の低屈折率膜。   The said fine particle laminated film contains electrolyte polymer further, The content rate of this electrolyte polymer is 0.01 mass% or more and 10 mass% or less with respect to microparticles | fine-particles, The any one of Claims 1-4 characterized by the above-mentioned. 2. A low refractive index film according to 1. 前記固体基材表面が、レンチキュラーレンズ、フレネルレンズ、プリズム、マイクロレンズアレイ、導光性微細構造、光拡散性微細構造、ホログラムを得るための微細構造のうちのいずれかの微細構造を有することを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の低屈折率膜。   The solid substrate surface has a fine structure of any one of a lenticular lens, a Fresnel lens, a prism, a microlens array, a light guiding fine structure, a light diffusing fine structure, and a fine structure for obtaining a hologram. The low refractive index film according to any one of claims 1 to 5, wherein 請求項1〜6のいずれか1項に記載の低屈折率膜を含むことを特徴とする反射防止膜。   An antireflection film comprising the low refractive index film according to claim 1. 固体基材表面に形成される、屈折率が1.10以上1.21以下の微粒子積層膜からなる低屈折率膜の製造方法であって、
(i)固体基材表面に電解質ポリマー溶液(A液)又は微粒子分散液(B液)を接触させる工程、次いでリンスする工程、
(ii)前記A液を接触させた後の固体基材表面にA液の電解質ポリマーと反対電荷を有する微粒子の分散液を接触させる工程、又は前記B液を接触させた後の固体基材表面にB液の微粒子と反対電荷を有する電解質ポリマーの溶液を接触させる工程、次いでリンスする工程、及び
(iii)(i)と(ii)を交互に繰り返す工程、
を含むことを特徴とする低屈折率膜の製造方法。
A method for producing a low refractive index film comprising a fine particle laminated film having a refractive index of 1.10 or more and 1.21 or less formed on the surface of a solid substrate,
(I) a step of bringing the electrolyte polymer solution (liquid A) or the fine particle dispersion (liquid B) into contact with the solid substrate surface, and then a rinsing step;
(Ii) A step of bringing a dispersion of fine particles having a charge opposite to that of the electrolyte polymer of the liquid A into contact with the surface of the solid base after the liquid A is contacted, or the surface of the solid base after the liquid B is contacted A step of contacting a solution of an electrolyte polymer having an opposite charge with the fine particles of the liquid B, followed by a rinsing step, and (iii) a step of alternately repeating (i) and (ii),
A method for producing a low refractive index film, comprising:
前記微粒子積層膜中の微粒子が、多孔質シリカ微粒子、中空状シリカ微粒子、及び一次粒子がつながった形状のシリカ微粒子のうちの1種以上を含むことを特徴とする請求項8に記載の低屈折率膜の製造方法。   The low refraction according to claim 8, wherein the fine particles in the fine particle laminated film include one or more of porous silica fine particles, hollow silica fine particles, and silica fine particles having a shape in which primary particles are connected. Manufacturing method of rate membrane. 前記微粒子分散液中の微粒子の平均一次粒子径が1nm以上40nm以下である請求項8又は9に記載の低屈折率膜の製造方法。   The method for producing a low refractive index film according to claim 8 or 9, wherein an average primary particle diameter of the fine particles in the fine particle dispersion is 1 nm or more and 40 nm or less. 前記微粒子積層膜を、微粒子に対する電解質ポリマーの含有率が0.01質量%以上10質量%以下となるように形成することを特徴とする請求項8〜10のいずれか1項に記載の低屈折率膜の製造方法。   The low refractive index according to any one of claims 8 to 10, wherein the fine particle laminated film is formed so that the content of the electrolyte polymer with respect to the fine particles is 0.01 mass% or more and 10 mass% or less. Manufacturing method of rate membrane. 固体基材表面に微粒子及び電解質ポリマーを交互に吸着させて微粒子積層膜を形成することを特徴とする請求項8〜11のいずれか1項に記載の低屈折率膜の製造方法。   The method for producing a low refractive index film according to any one of claims 8 to 11, wherein fine particle and electrolyte polymer are alternately adsorbed on the surface of the solid substrate to form a fine particle laminated film. 固体基材表面が、レンチキュラーレンズ、フレネルレンズ、プリズム、マイクロレンズアレイ、導光性微細構造、光拡散性微細構造、ホログラムを得るための微細構造のうちのいずれかの微細構造を有することを特徴とする請求項8〜12のいずれか1項に記載の低屈折率膜の製造方法。   The solid substrate surface has a fine structure of any one of a lenticular lens, a Fresnel lens, a prism, a microlens array, a light guiding fine structure, a light diffusing fine structure, and a fine structure for obtaining a hologram. The method for producing a low refractive index film according to any one of claims 8 to 12. 前記低屈折率膜が、反射防止膜である請求項8〜13のいずれか1項に記載の低屈折率膜の製造方法。   The method for producing a low refractive index film according to any one of claims 8 to 13, wherein the low refractive index film is an antireflection film.
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