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JP2009168615A - 外観検査装置及び外観検査方法 - Google Patents

外観検査装置及び外観検査方法 Download PDF

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JP2009168615A
JP2009168615A JP2008006942A JP2008006942A JP2009168615A JP 2009168615 A JP2009168615 A JP 2009168615A JP 2008006942 A JP2008006942 A JP 2008006942A JP 2008006942 A JP2008006942 A JP 2008006942A JP 2009168615 A JP2009168615 A JP 2009168615A
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light
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Kosuke Niimura
康介 新村
Yoshio Yokoyama
良雄 横山
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Denso Corp
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Abstract

【課題】凹凸を備えた3次元形状の被検査体を正確に検査できる外観検査装置を提供する。
【解決手段】本発明に係る外観検査装置10は、3次元形状の被検査体としてのワーク20を画像化する1次元画像化部11と、被検査体20から出射した光を入射し、入射した光を収束させるように出射する第1レンズ12と、第1レンズ12と1次元画像化部11との間に配置され、第1レンズ12からの光を結像する第2レンズ14と、を備えており、被検査体20から出て第1レンズ12に入射する光束の主光線が、第1レンズ12の光軸に対して平行であり、1次元画像化部11は、被検査体20からの上記主光線を含む出射光を、第1レンズ12及び第2レンズ14を介して入射して画像化する。
【選択図】図2

Description

本発明は、外観検査装置及び外観検査方法に関する。特に、本発明は、凹凸を備えた3次元形状を有する被検査体の外観を検査する外観検査装置及び外観検査方法に関する。
従来、製品又は部品等の被検査体の外観を検査するために外観検査装置が用いられている。この種の外観検査装置は、カメラ等を有しており、例えば、製品又は部品等の外観をカメラにより撮影し、その撮影した画像に基づいて、良品又は不良品の良否判定が行われる。
被検査体は、2次元形状を有する場合もあるが、凹凸を備えた3次元形状を有する場合もある。被検査体が3次元形状を有し、凹凸を有する場合には、被検査体に影の部分が生じたり、又は、凸部に遮られてカメラに撮影されない部分が生じる場合がある。
例えば、特許文献1又は2には、被検査体を照らす照明部の構成を工夫し、被検査体に平行光を照射する外観検査装置が開示されている。
しかし、特許文献1又は2に記載の外観検査装置の例では、図1に示すように、カメラ及びレンズの画角に起因して、被検査体の凸部に遮られてカメラに撮影されない部分が生じるという問題点がある。
図1(a)は、従来の例による外観検査装置を用いた検査の要部を説明する図である。図1(a)に示す外観検査装置は、カメラ111が、結像用のレンズ114を介して、被検査体120の外観を撮影する。
カメラ111は、レンズ114を介して、光軸Lの周囲に画角αを有しており、図1(a)に示すように、この画角内に配置された被検査体120を撮影することができる。図1(a)の例では、一対の被検査体120,120が、画角内の左右両端近傍に配置されている。
被検査体120は、中央に凹部を有し、該凹部の両側に凸部が形成された3次元形状を有している。
図1(b)には、被検査体120からカメラ111に向かって、光軸Lに対して斜めに進行する主光線の向きを矢印で示している。被検査体120からの反射光は、レンズ114を介して、カメラ111において結像して、画像化される。
しかし、図1(b)に示すように、被検査体120における凹部の一部の領域Qからの反射光が、凸部に遮蔽されて、レンズ114を介して、カメラ111において結像しない場合がある。
図1(c)に示すように、カメラ111により撮影された画像には、被検査体120の凸部の内側の領域Q1が撮影されているが、一方、凹部の一部の領域Qは撮影されていない。
従って、被検査体120の領域Qの部分に不具合があったとしても、図1に示す外観検査装置では、被検査体120の良否判定を誤るおそれがある。
また、図1(a)に示す例の外観検査装置では、カメラ111の画角には、所定の範囲があり、この範囲内における被検査体120を配置する位置によって、上記領域Qが変化してしまうという問題点もある。即ち、被検査体を配置する位置によって、外観検査装置の良否判定の精度も異なってしまうことになる。
特許第3170598号公報 特許第3580493号公報
本発明は、上記問題点を解決することを課題とし、3次元形状の被検査体を検査できる外観検査装置及び外観検査方法を提供することを目的とする。また、本発明は、凹凸を備えた3次元形状を有する被検査体を正確に検査できる外観検査装置及び外観検査方法を提供することを目的とする。更に、本発明は、3次元形状の被検査体の配置位置の影響を受けずに、被検査体を正確に検査できる外観検査装置及び外観検査方法を提供することを目的とする。
上記課題を解決するため、請求項1に記載の発明は、3次元形状の被検査体(20)を画像化する1次元画像化部(11)と、被検査体(20)から出射した光を入射し、入射した光を収束させるように出射する第1レンズ(12)と、上記第1レンズ(12)と上記1次元画像化部(11)との間に配置され、上記第1レンズ(12)からの光を結像する第2レンズ(14)と、を備えており、被検査体(20)から出て上記第1レンズ(12)に入射する光束の主光線が、上記第1レンズ(12)の光軸に対して平行であり、上記1次元画像化部(11)は、被検査体(20)からの上記主光線を含む出射光を、上記第1レンズ(12)及び上記第2レンズ(14)を介して入射して画像化することを特徴とする。
これにより、凹凸を備えた3次元形状を有する被検査体を正確に検査できる。また、3次元形状の被検査体の配置位置の影響を受けずに、被検査体を正確に検査できる。更に、1次元画像化部を用いることにより、光軸の調整が容易となると共に、画像化部の寸法を低減し、且つ、装置の製造コストを低減できる。更にまた、高分解能を有する画像化部を入手し易くなる。
請求項2に記載の発明は、上記第1レンズ(12)がフレネルレンズであることが好ましい。
これにより、第1レンズの寸法、重量及びコストを低減できる。
請求項3に記載の発明は、上記1次元画像化部(11)が、複数の画像化素子が直線状に配列した構成を有しており、上記第1レンズ(12)は縦長であり、上記第1レンズ(12)の長手方向が、上記1次元画像化部(11)における上記複数の画像化素子の上記配列方向と一致していることが好ましい。
これにより、第1レンズのたわみが小さくなり、このたわみの影響による、1次元画像化部により撮影された画像の歪みが小さくなる。
請求項4に記載の発明は、上記第1レンズ(12)の長手方向の長さが、上記外観検査装置(10)に載置された被検査体(20)の被検査部位における上記長手方向の長さよりも大きいことが好ましい。
これにより、3次元形状の被検査体の配置位置の影響を受けずに、被検査体の上記長手方向の被検査部位を確実に検査できる。
請求項5に記載の発明は、一対の縦長の照明部(13,13)を備えており、上記一対の照明部(13,13)は、その長手方向を、上記第1レンズ(12)の上記長手方向と一致させて、被検査体(20)を斜め上方から照射するように、上記第1レンズ(12)と被検査体(20)との間に配置されていることが好ましい。
これにより、被検査体を均一に照らすことができるので、凹凸を備えた3次元形状を有する被検査体を一層正確に検査できる。
請求項6に記載の発明は、被検査体(20)を載置して搬送する搬送部(15)を備えており、上記搬送部(15)は、被検査体(20)を、上記複数の画像化素子の配列方向と交差する方向に向かって搬送し、上記1次元画像化部(11)は、搬送される被検査体(20)を連続して画像化することが好ましい。
これにより、搬送部により搬送される被検査体の短冊状の画像を、1次元画像化部が連続して撮影することができる。
請求項7に記載の発明は、上記1次元画像化部(11)の光軸と、上記第1レンズ(12)の上記光軸とが一致していることが好ましい。
これにより、少ない光学要素のみで外観検査装置を構成することができる。
また、請求項8に記載の発明は、3次元形状の被検査体(20)から出射した光を入射し、入射した光を収束させるように出射する第1レンズ(12)に、被検査体(20)から出て上記第1レンズ(12)に入射する光束の主光線が上記第1レンズ(12)の光軸に対して平行である、被検査体(20)からの出射光を入射し、上記第1レンズ(12)から出射した光を、結像用の第2レンズ(14)に入射し、上記第2レンズ(14)が出射した光を、1次元画像化部(11)に入射し、上記1次元画像化部(11)が入射した光を画像化し、上記1次元画像化部(11)が画像化した画像を用いて被検査体(20)の良否を判定することを特徴とする。
これにより、請求項1と同様の効果が得られる。
また、請求項9に記載の発明は、上記1次元画像化部(11)が画像化した短冊状の複数の画像から被検査体(20)の全体を表わす合成画像を作成し、この合成画像を用いて、被検査体(20)の良否を判定することが好ましい。
これにより、被検査体の全体を1つの画像に画像化して、被検査体の良否を判定できる。
上記各手段に付した括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示す一例である。
以下、本発明の外観検査装置を、その好ましい一実施形態に基づいて、図面を参照しながら説明する。
本実施形態の外観検査装置10(以下、単に本装置10ともいう)は、図2(a)に示すように、3次元形状の被検査体としてのワーク20を画像化する1次元画像化部11と、被検査体20から出射した光を入射し、入射した光を収束させるように出射する第1レンズ12と、第1レンズ12と1次元画像化部11との間に配置され、第1レンズ12からの光を結像する第2レンズ14と、を備えている。また、本装置10では、被検査体20から出て第1レンズ12に入射する光束の主光線が、第1レンズ12の光軸に対して平行であり、1次元画像化部11は、被検査体20からの上記主光線を含む出射光を、第1レンズ12及び第2レンズ14を介して入射して画像化する。
ここで、被検査体20からの上記主光線を含む出射光は、外部照明の光を被検査体20が反射して出射する反射光、及び、透明な被検査体20を透過して出射される透過光を含む意味である。
本装置10では、1次元画像化部11の光軸と、第1レンズ12の上記光軸とが一致している。第1レンズ12及び第2レンズ14は、ワーク20を1次元画像化部11に結像する結像系を構成している。
また、本装置10は、ワーク20を照らす一対の照明部13,13と、第1レンズ12と1次元画像化部11との間の光路に配置されて、上記光軸方向の前後に移動させ1次元画像化部11に焦点を合わせて結像するための第2レンズ14と、ワーク20を載置して搬送する搬送部15と、1次元画像化部11が出力する画像信号を入力し画像処理を行い、ワーク20の良否判定を行う画像処理部16と、画像処理部16の出力を表示する表示部17と、を備えている。画像処理部16は、図示しない制御部を備えており、この制御部は、本装置10の各構成要素の制御を行う。
本装置10の検査対象であるワーク20は、図2(a)に示すように、凹凸を備えた3次元形状を有している。このワーク20は、不透明な物質から構成されている。本装置10では、ワーク20の検査項目が、ワーク20の外観全体でも良いし、ワーク20の一部分又は複数の部分の外観であっても良い。また、ワーク20が、複数の部品が組み立てられて構成されている場合には、本装置10の検査項目として、例えば、ワーク20の組み立てに用いられるボルト又はコネクタ等の接合部品の配置又は有無であっても良い。
ワーク20は、図2及び図3に示すように、中央に凹部を有し、該凹部の両側に凸部が形成された3次元形状を有している。
以下、本装置10について、更に説明する。
まず、1次元画像化部11について以下に説明する。1次元画像化部11は、ワーク20を短冊状に部分的に撮影して画像化する。1次元画像化部11は、複数の画像化素子が直線状に配列した構成を有しており、いわゆるラインセンサカメラである。各画像化素子は、入射した光を電気信号に変換して画像信号を出力するので、1次元画像化部11は、1走査ごとに1つの短冊状の画像を撮影し、この画像信号を画像処理部16に出力する。詳しくは後述するが、1次元画像化部11は、搬送部15により搬送されるワーク20を連続して画像化し、複数の短冊状の画像を撮影する。1次元画像化部11は、上記制御部により制御されている。
1次元画像化部11の上記画像化素子の数は、ワーク20の良否判定に求められる分解能に応じて、適宜選択されることが好ましい。上記画像化素子の数としては、例えば、5000〜10000個の範囲から選択することができる。
1次元画像化部11は、上記画像化素子の配列の向きが、搬送部15におけるワーク20の搬送方向と直交する向きと一致するように配置されている。ここで、直交するとは、正確に直交する状態及びほぼ直交する状態とを含む意味である。
上記画像化素子としては、CCD又はCMOS素子等を用いることができる。1次元画像化部11は、モノクロ画像又はカラー画像を画像化するタイプの何れのものを用いても良い。
次に、第1レンズ12について以下に説明する。第1レンズ12は、光軸に平行な光を入射して、入射した光を収束するように出射するレンズであり、いわゆる凸レンズである。第1レンズは、その光軸を1次元画像化部11の光軸と一致させて、ワーク20と1次元画像化部11との間に配置されている。
ここで、第1レンズ12の光軸に平行な光とは、第1レンズ12に向かって、該光軸の向きと一致する方向に進行する光のことである。
本装置10では、第1レンズ12は、具体的にはフレネルレンズである。このフレネルレンズは、図3(a)に示すように、凸レンズを同心円状に切り厚みを低減して形成されており、その断面形状はのこぎり状となっている。
図2(a)に示すように、第1レンズ12は縦長矩形の板形状であり、第1レンズ12の長手方向が、1次元画像化部11における画像化素子の上記配列方向と一致している。また、第1レンズ12の長手方向は、搬送部15におけるワーク20の搬送方向と直交する向きである。ここで、直交するとは、正確に直交する状態及びほぼ直交する状態とを含む意味である。
そして、第1レンズ12における長手方向の何れかの位置から出射した光は、第2レンズ14を介して、全て1次元画像化部11に入射するように、本装置10の各構成要素が配置されている。
第1レンズ12の長手方向の長さは、本装置10の搬送部15に載置されたワーク20の被検査部位における該長手方向の長さよりも大きいことが好ましい。つまり、ワーク20は、搬送部15に載置された時に、ワーク20の被検査部位の搬送方向と直交する方向の寸法が、即ち、第1レンズ12の長手方向の寸法が、第1レンズ12の長手方向の長さよりも小さいことが好ましい。
このような構成により、本装置10では、搬送部15に載置されたワーク20が、その第1レンズ12の上記長手方向については、全て1次元画像化部11により撮影することもできる。
次に、一対の照明部13,13について以下に説明する。一対の照明部13,13それぞれは、図2(a)に示すように、縦長矩形の板形状を有する。照明部13は、ワーク20側を向いた面に、光源が照明部13の長手方向に直線状に配列されている。光源の列は、1つでも良いし、複数配置しても良い。照明部13は、例えば、複数のLEDを照明部13の長手方向に配置して構成することができる。
一対の照明部13,13は、図2(a)及び(b)に示すように、その長手方向を、第1レンズ12の上記長手方向と一致させて、ワーク20を斜め上方から照射するように、第1レンズ12とワーク20との間に配置されている。一対の照明部13,13それぞれは、互いに平行に配置されている。本装置10では、ワーク20からの上記出射光として、照明部による光をワーク20が反射する反射光を用いている。
一対の照明部13,13は、図2(b)に示すように、少なくとも、光軸Lの方向に第1レンズ12を射影したワーク20上の領域Pを均一に照らすことが好ましい。図2(b)は、ワーク20の搬送方向と直交する向きに、一対の照明部13,13等を見た、本装置10の部分側面図である。
本装置10では、領域Pにおいて、ワーク20の表面における何れの点も、上記結像系において、1次元画像化部11に結像するように配置されている。
図2(b)に示すように、一対の照明部13,13は、光源がワーク20を照らすように下向きに向けてワーク20を斜め上方から照射するように配置されている。
また、一対の照明部13,13は、第1レンズ12を介して、1次元画像化部11の視野を遮らないように、第1レンズ12の幅方向の長さよりも大きい間隔をあけて配置されている。ここで、第1レンズ12の幅方向は、第1レンズの長手方向と直行する方向である。
次に、第2レンズ14について以下に説明する。第2レンズ14は、その光軸を、1次元画像化部11及び第1レンズ12の光軸と一致させて配置されている。第2レンズ14は、上記光軸上を前後に移動させて、ワーク20に焦点を合わせる。
ワーク20は、例えば、図2(a)及び図3に示すように、3次元形状の凹凸を備えており、その高さに合わせて焦点を合わせる必要がある。本装置10では、第2レンズ14の位置を調整することにより、ワーク20の検査したい部位に焦点を合わすことができる。
上記第2レンズ14は、1枚のレンズを用いても良いが、収差を補正するために複数のレンズが組み合わせられて構成された複合レンズを用いても良い。また、第2レンズ14に絞りを配置しても良い。また、絞りは、第1レンズ12と第2レンズ14との間か、又は、第2レンズ14と1次元画像化部11との間に配置しても良い。
次に、搬送部15について以下に説明する。搬送部15は、図2(a)に示すように、ワーク20を載置するベルト15aと、ベルト15aを搬送する一対の駆動ロール15b、15bと、ベルト15a上に載置したワークを検知する一対のワークセンサ15c、15cとを備えている。搬送部15には、リニアモータ、ボールねじ機構を用いても良い。
搬送部15は、載置されたワーク20を、1次元画像化部11における上記複数の画像化素子の配列方向と交差する方向か、又は、ほぼ直交する方向に向かって搬送することが好ましい。本装置10では、搬送部15は、ワーク20を、1次元画像化部11における上記複数の画像化素子の配列方向とほぼ直交する方向に、図2の矢印の方向に、向かって搬送する。一方、一対のワークセンサ15c,15c間には、赤外線等の光の送受信が行われている。ベルト15aに載置されたワーク20が搬送されて、一対のワークセンサ15c、15cの間を横切り上記光を遮ると、受信側のワークセンサ15cが検知信号を上記制御部に出力する。そして、検知信号を入力した上記制御部が、1次元画像化部11に連続した走査による撮影を開始させる。
従って、ワーク20は、搬送部15により搬送方向に搬送されながら、1次元画像化部11によって、搬送方向とほぼ直交する向きに縦長の短冊状の複数の画像が撮影される。
搬送部15におけるワーク20の搬送速度は、1次元画像化部11の1走査に要する時間、ワーク20の寸法、検査精度により適宜設定されることが好ましい。1次元画像化部11による複数の走査によって、ワーク20の全体を撮影する場合には、ワーク20の搬送速度は、1次元画像化部11における1走査に要する時間の間にワーク20が搬送される距離が、上記1走査により撮影されるワーク20における搬送方向の長さと同じか又は短くなるように設定されることが好ましい。
具体的には、本装置10では、搬送速度を300mm/秒とした。また、本装置10では、1次元画像化部11では、500μ秒で一つの走査による撮影を行い、一つのワーク20に対して、連続で6000回の撮影を行うこととした。
また、搬送部15におけるワーク20の搬送と1次元画像化部11の走査とを同期させて、1次元画像化部11が走査している間は、ワーク20の搬送を停止させても良い。
次に、画像処理部16について以下に説明する。画像処理部16は、図示しない、演算部、記憶部、及び入出力部等を備えている。上記記憶部には、1次元画像化部11が出力する画像が記憶されると共に、画像処理を行うプログラム、良否判定を行うプログラム及び本装置10の各要素の制御又は処理を行うプログラム等が記憶されている。これらのプログラムは、上記演算部により実行される。また、画像処理部16の上記制御部は、上記演算部が、上記プログラムを実行することにより実現される。また、上記入出力部は、1次元画像化部11で撮影した画像、又は、良否判定結果を、表示部17に出力する。また、上記入出力部は、本装置10の各構成要素との間で、制御信号又はデータ信号の入出力処理を行う。
画像処理部16は、1次元画像化部11が出力する各画像信号を入力し、1次元画像化部11が撮影した短冊状の複数の画像を上記記憶部に保存する。次に、画像処理部16は、上記記憶部に保存した複数の画像からワーク全体を表わす合成画像を作成し、この合成画像を用いて、ワーク20の良否判定処理を行う。
画像処理部16は、上記合成画像中に位置するワーク20を検出し、検出したワーク20の画像を用いて、ワーク20の良否判定処理を行う。これらの検出処理及び良否判定処理は、各種公知の方法を用いることができ、例えば、正規化相関マッチング方法を用いることができる。この正規化相関マッチング方法では、良品であるワーク20の良品画像パターンを上記記憶部にあらかじめ記憶しておき、この良品画像パターンと、1次元画像化部11により撮影された画像との比較が行われる。
具体的には、正規化相関マッチング方法では、マスタ画像と呼ばれる良品画像パターンをあらかじめ登録しておき、検査時には、入力されたワーク20を含む上記合成画像の左上から右下へ順にサーチし、各位置における相関値(マスタ画像との一致度合いを表わす評価尺度)を求める。そして、求めた相関値の中で最大となる位置における相関値が所定のしきい値を超えるか否かにより、ワーク20の良否を判定する。この相関値は−1〜1の範囲の値として得られる。本装置10では、ワーク20の良否判定を、上記相関値が所定のしきい値以上であれば良品であると判定する。
上述した画像処理部16は、公知の技術を用いて構成することができ、例えば、シーケンス制御装置またはパーソナルコンピュータを用いることができる。
表示部17は、液晶ディスプレイ、CRT又はPDP等の公知の表示装置を用いることができる。また、本装置10の各構成要素は、図示しない支持部により、固定されて支持されている。
次に、上述した構成を有する本装置10が、凹凸を備えた3次元形状のワーク20の外観検査を正確に行えることを、図3(a)〜(c)を用いて、以下に説明する。
1次元画像化部11は、図3(a)に示すように、第2レンズ14を介して、光軸Lの周囲に画角αを有している。第1レンズ12は、その長手方向の両端を、1次元画像化部11の画角の両境界と一致させて配置されている。1次元画像化部11は、第1レンズ12が出射した光を全て、結像するように配置されている。即ち、第1レンズ12における長手方向の何れかの位置から出射した光は、全て、第2レンズ14を介して、1次元画像化部11に向かって収束し、1次元画像化部11に入射し画像化される。
また、図3(a)では、一対のワーク20、20が、領域P(図2(b)参照)の左右両端近傍に配置されている。
本装置10では、図3(a)及び(b)に示すように、ワーク20から出て第1レンズ12に入射する光束の主光線が、第1レンズ12の光軸に対して平行である。従って、ワーク20において、領域P(図2(b)参照)の何れかの部位から出射し、第1レンズ12に入射した反射光は、第2レンズ14を介して、1次元画像化部11において結像する。図3(b)において、ワーク20から出て第1レンズ12に入射する光束の主光線の向きを矢印で示している。
従って、搬送部15により搬送されるワーク20を連続走査して撮影する本装置10では、図3(c)に示すように、ワーク20における第1レンズ12側を向いている領域について、全て、1次元画像化部11により撮影することができる。
このように、本装置10では、凹凸を備えており3次元形状を有するワーク20は、図3(c)に示すように、凸部に遮蔽されて1次元画像化部11に撮影されない部分がない。
また、図3に示すように、ワーク20を搬送部15の何処に載置しても、同様に、ワーク20における第1レンズ12側を向いている領域について、全て、1次元画像化部11により撮影することができる。
本装置10で用いる1次元画像化部11は、例えば、2次元画像化部を有する外観検査装置と比べて以下のような利点を有する。なお、2次元画像化部は、画像化素子が2次元に配置された画像化部のことである。
(1)光軸の調整が容易となる
(2)画像化部の寸法を低減して、本装置10の寸法を小さくできる
(3)本装置10の製造コストを低減できる
(4)高分解能を有する画像化部を入手し易い
また、本装置10では、第1レンズ12の形状を、1次元画像化部11に合わせて縦長にすることにより、2次元画像化部を有する外観検査装置と比べて、以下のような利点を有する。
図4(a)に示すように、第1レンズ12の長手方向及び幅方向におけるたわみが小さいので、このたわみの影響による、1次元画像化部により撮影された画像の歪みが小さい。一方、2次元画像化部を有する外観検査装置は、図4(b)に示すように、2次元状に広い面積を有する第1レンズ112が必要となるので、縦方向及び横方向のたわみが大きく、このたわみの影響により、撮影された画像の歪みが大きくなる。
また、1次元画像化部11を有する本装置10では、領域P(図2(b)参照)の面積が小さいので、一対の照明部13,13により、領域Pを均一に照らすことができる。一方、2次元画像化部を有する外観検査装置では、照らすべき領域の面積が大きいので、均一に照らすことが困難となり、撮影された画像には照明の不均一性による影響が生じる。
上述したように、1次元画像化部11を有する本装置10は、2次元画像化部を有する外観検査装置と比べて、ワーク20の正確な画像を撮影することができるので、その画像に基づいて、正確な良否判定を行うことができる。
次に、上述した本装置10の動作の例を、図5を用いて、以下に説明する。この動作は、主に、画像処理部16における上記演算部が、上記記憶部に記憶された所定のプログラムを実行することにより行われる。
まず、ステップS10において、一対の照明部13,13を点灯する。
次に、ステップS11において、搬送部15のベルト15a上にワーク20を載置して、ワーク20の搬送を開始する。
次に、ステップS12において、ワークセンサ15cがワーク20を検知したかを判断する。ワークセンサ15cがワーク20を検知していなければ、S12の前に戻る。一方、ワークセンサ15cがワーク20を検知していれば、次にステップS13に進む。
ステップS13では、搬送部15により搬送されているワーク20に対して、第1レンズ12に、3次元形状のワーク20から出て、第1レンズ12に入射する光束の主光線が第1レンズ12の光軸に対して平行である、ワーク20からの出射光を入射し、第1レンズ12から出射した光を、結像用の第2レンズ14に入射し、第2レンズ14が出射した光を、1次元画像化部11に入射し、1次元画像化部11が、入射した光を画像化して短冊状の画像を撮影する。そして、1次元画像化部11は、各画像を画像化処理部16に出力する。
次に、ステップS14において、画像処理部16は、入力した短冊状の複数の画像を画像処理部の記憶部に保存し、保存した複数の画像からワーク20全体を含む合成画像を作成し、この合成画像を用いてワーク20の良否判定処理を行う。
然る後、ステップS15において、画像処理部16は、表示部17にワーク20の良否判定結果を表示する。もし、次に検査するワーク20があれば、S11からの動作を繰り返しても良い。
本装置10は、ワーク20の製造工程において、インラインで検査工程に配置し、ワーク20の外観検査を行っても良い。この場合には、もし、あるワークの良否判定結果が不良であったならば、不良品のワークを、製造工程から速やかに取り除くことができる。
上述した本装置10によれば、凹凸を備えた3次元形状を有するワーク20を正確に検査できる。また、3次元形状のワーク20の配置位置の影響を受けずに、ワーク20の外観を確実に検査できる。更に、1次元画像化部11を用いることにより、光軸の調整が容易となると共に、画像化部の寸法を低減し、且つ、装置の製造コストを低減できる。更にまた、高分解能を有する画像化部を入手し易くなる。
また、本装置10は、一対の照明部13,13を備えているので、ワーク20を均一に照らすことができるため、凹凸を備えた3次元形状を有するワーク20を一層正確に検査できる。
また、本装置10では、第1レンズ12としてフレネルレンズを用いるので、軽量で、取り扱い易いため、光軸調整が容易である。また、フレネルレンズは、通常の凸レンズと比べて安価であるので、製造コストを低減できる。
また、本装置10では、1次元画像化部11の光軸と、第1レンズ12の光軸とが一致しているので、第1レンズ12から出射した光を反射させる等の操作を必要としないため、少ない光学要素のみで外観検査装置を構成することができる。
また、本装置10では、高解像度の複数の短冊状の画像から、1つの合成画像を作成するので、高解像度の該合成画像を用いて、ワーク20の精度の高い検査が行える。
本発明の外観検査装置及びその方法は、上述した実施形態に制限されることなく、本発明の趣旨を逸脱しない限り適宜変更が可能である。
例えば、上述した実施形態では、第1レンズとしてフレネルレンズを用いていたが、通常の凸レンズ又は、円形状の凸レンズを縦長に切断したものを用いても良い。
また、上述した実施形態では、1次元画像化部11の光軸と、第1レンズ12の光軸とが一致していたが、両者の光軸を一致させていなくても良い。この場合、第1レンズ12から出射した光を、光学要素を用いて、反射又は屈折させた後、1次元画像化部11に入射して画像化させるようにしていても良い。
また、本発明の外観検査装置の被検査体は、自動車の部品であっても良い。そして、自動車の部品としては、例えば、ラジエータ、冷却ファン等の電動ファンが挙げられる。
(a)は、従来の例による外観検査装置を用いた検査の要部を説明する図であり、(b)は、主光線の向きを示す図であり、(c)は、カメラが撮影した画像を示す図である。 (a)は、本発明に係る外観検査装置の一実施形態の装置構成図であり、(b)は、(a)における一対の照明部の配置を説明する図である。 (a)は、図2の実施形態を用いた検査の要部を説明する図であり、(b)は、主光線の向きを示す図であり、(c)は、1次元画像化部が撮影した画像を示す図である。 (a)は、本実施形態の第1レンズの特徴を説明する図であり、(b)は、広い面積を有するレンズを使用した場合を説明する図である。 図2の実施形態の動作の一例を説明するフローチャートである。
符号の説明
10 外観検査装置
11 1次元画像化部
12 第1レンズ
13 照明部
14 第2レンズ
15 搬送部
15a ベルト
15b 駆動ロール
15c ワークセンサ
16 画像処理部
17 表示部
20 被検査体(ワーク)
L 光軸

Claims (9)

  1. 3次元形状の被検査体(20)を画像化する1次元画像化部(11)と、
    被検査体(20)から出射した光を入射し、入射した光を収束させるように出射する第1レンズ(12)と、
    前記第1レンズ(12)と前記1次元画像化部(11)との間に配置され、前記第1レンズ(12)からの光を結像する第2レンズ(14)と、
    を備えており、
    被検査体(20)から出て前記第1レンズ(12)に入射する光束の主光線が、前記第1レンズ(12)の光軸に対して平行であり、
    前記1次元画像化部(11)は、被検査体(20)からの前記主光線を含む出射光を、前記第1レンズ(12)及び前記第2レンズ(14)を介して入射して画像化することを特徴とする外観検査装置。
  2. 前記第1レンズ(12)がフレネルレンズである請求項1に記載の外観検査装置。
  3. 前記1次元画像化部(11)は、複数の画像化素子が直線状に配列した構成を有しており、
    前記第1レンズ(12)は縦長であり、前記第1レンズ(12)の長手方向が、前記1次元画像化部(11)における前記複数の画像化素子の前記配列方向と一致している請求項1又は2に記載の外観検査装置。
  4. 前記第1レンズ(12)の長手方向の長さが、前記外観検査装置(10)に載置された被検査体(20)の被検査部位における前記長手方向の長さよりも大きい請求項3に記載の外観検査装置。
  5. 一対の縦長の照明部(13,13)を備えており、
    前記一対の照明部(13,13)は、その長手方向を、前記第1レンズ(12)の前記長手方向と一致させて、前記披検査体(20)を斜め上方から照射するように、前記第1レンズ(12)と被検査体(20)との間に配置されている請求項3又は4に記載の外観検査装置。
  6. 被検査体(20)を載置して搬送する搬送部(15)を備えており、
    前記搬送部(15)は、被検査体(20)を、前記複数の画像化素子の前記配列方向と交差する方向に向かって搬送し、
    前記1次元画像化部(11)は、搬送される被検査体(20)を連続して画像化する請求項5に記載の外観検査装置。
  7. 前記1次元画像化部(11)の光軸と、前記第1レンズ(12)の前記光軸とが一致している請求項1〜6の何れか一項に記載の外観検査装置。
  8. 3次元形状の被検査体(20)から出射した光を入射し、入射した光を収束させるように出射する第1レンズ(12)に、被検査体(20)から出て前記第1レンズ(12)に入射する光束の主光線が前記第1レンズ(12)の光軸に対して平行である、被検査体(20)からの出射光を入射し、
    前記第1レンズ(12)から出射した光を、結像用の第2レンズ(14)に入射し、
    前記第2レンズ(14)が出射した光を、1次元画像化部(11)に入射し、
    前記1次元画像化部(11)が入射した光を画像化し、
    前記1次元画像化部(11)が画像化した画像を用いて被検査体(20)の良否を判定することを特徴とする外観検査方法。
  9. 前記1次元画像化部(11)が画像化した短冊状の複数の画像から被検査体(20)の全体を表わす合成画像を作成し、この合成画像を用いて、被検査体(20)の良否を判定する請求項8に記載の外観検査方法。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA2947720C (en) * 2014-05-05 2019-09-10 Alcoa Inc. Apparatus and methods for weld measurement
JP6870636B2 (ja) * 2018-03-12 2021-05-12 オムロン株式会社 外観検査システム、画像処理装置、設定装置および検査方法
US11423639B2 (en) * 2020-07-31 2022-08-23 Ford Global Technologies, Llc Hidden camera detection systems and methods

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5648547A (en) * 1979-09-28 1981-05-01 Sumitomo Electric Ind Ltd Crack detector
JPH0829138A (ja) * 1994-07-20 1996-02-02 Fujitsu Ltd パターン検査装置及び方法
WO2002023123A1 (fr) * 2000-09-18 2002-03-21 Olympus Optical Co., Ltd. Capteur optique
JP2004226128A (ja) * 2003-01-20 2004-08-12 Saki Corp:Kk 外観検査装置および外観検査方法
JP2005164429A (ja) * 2003-12-03 2005-06-23 Toppan Printing Co Ltd ホログラム製品の欠陥検出装置および欠陥検出方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5113268A (en) * 1988-06-10 1992-05-12 Minolta Camera Kabushiki Kaisha Dual operational image reading apparatus
JP3580493B2 (ja) * 2000-08-11 2004-10-20 株式会社サキコーポレーション 走査ヘッドおよびそれを利用可能な外観検査方法および装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5648547A (en) * 1979-09-28 1981-05-01 Sumitomo Electric Ind Ltd Crack detector
JPH0829138A (ja) * 1994-07-20 1996-02-02 Fujitsu Ltd パターン検査装置及び方法
WO2002023123A1 (fr) * 2000-09-18 2002-03-21 Olympus Optical Co., Ltd. Capteur optique
JP2004226128A (ja) * 2003-01-20 2004-08-12 Saki Corp:Kk 外観検査装置および外観検査方法
JP2005164429A (ja) * 2003-12-03 2005-06-23 Toppan Printing Co Ltd ホログラム製品の欠陥検出装置および欠陥検出方法

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