JP2009164505A - Component imaging device, surface mounter and component testing device - Google Patents
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Abstract
【課題】装置が大型化するのを抑制しながら、撮像中心線に沿った方向の照射ムラが生じるのを抑制することが可能な部品撮像装置を提供する。
【解決手段】この部品撮像装置50は、幾何学的中心Gに対して位置がずれた発光中心Pを有する複数のLED532を備えている。また、LED532は、撮像中心線150に対して一方側の領域53aに配置され、発光中心Pが幾何学的中心Gに対して撮像中心線150と平行なY1方向側に位置するLED532と、撮像中心線150に対して他方側の領域53bに一方側のLED532に対応するように配置され、発光中心Pが幾何学的中心Gに対してY1方向とは反対のY2方向側に位置するLED532とを含む。
【選択図】図15A component imaging device capable of suppressing the occurrence of uneven irradiation in a direction along an imaging center line while suppressing an increase in size of the device.
The component imaging device includes a plurality of LEDs having a light emission center P shifted in position with respect to a geometric center G. In addition, the LED 532 is disposed in the region 53a on one side with respect to the imaging center line 150, and the LED 532 is located on the Y1 direction side parallel to the imaging center line 150 with respect to the geometric center G. An LED 532 which is disposed in the region 53b on the other side with respect to the center line 150 so as to correspond to the LED 532 on one side, and whose emission center P is located on the Y2 direction side opposite to the Y1 direction with respect to the geometric center G; including.
[Selection] Figure 15
Description
この発明は、部品撮像装置、表面実装機および部品試験装置に関し、特に、部品を撮像部により撮像する際に用いる部品撮像装置、部品を撮像部により撮像する際に用いる照明部を備えた表面実装機および部品試験装置に関する。 The present invention relates to a component imaging device, a surface mounter, and a component testing device, and in particular, a component imaging device used when imaging a component with an imaging unit, and a surface mounting provided with an illumination unit used when imaging the component with an imaging unit The present invention relates to a machine and a part testing apparatus.
従来、プリント配線板(以下、「プリント基板」と呼ぶ)上に実装された電子部品を撮像部により撮像する際に用いる照明装置が知られている(たとえば、特許文献1参照)。 2. Description of the Related Art Conventionally, there is known an illuminating device that is used when an electronic part mounted on a printed wiring board (hereinafter referred to as “printed circuit board”) is imaged by an imaging unit (for example, see Patent Document 1).
上記特許文献1の照明装置では、撮像中心線に沿った方向に所定のピッチ間隔で列状に並べられた複数の砲弾型のLEDが撮像中心線の一方側および他方側にそれぞれ対応するように配置されている。この砲弾型のLEDは、平面的に見て、LEDの幾何学的中心に発光中心が位置するように構成されている。そして、撮像中心線の一方側に配置されたLED(第1発光素子)は、撮像中心線の他方側に配置された一方側のLEDと対応するLED(第2発光素子)に対して、1/2ピッチずつ撮像中心線に沿った方向にずらして配置されている。したがって、上記特許文献1では、一方側のLED(第1発光素子)の発光中心と、一方側のLEDと対応する他方側のLED(第2発光素子)の発光中心とも撮像中心線に沿った方向に互いに1/2ピッチずつずれるように配置される。これにより、上記特許文献1の照明装置により光を照射する場合、一方側のLEDの光の強度が強い領域および弱い領域に、それぞれ、他方側のLEDの光の強度が弱い領域および強い領域を重ねることができるので、撮像中心線に沿った方向の照射ムラが生じるのを抑制することが可能である。
In the illumination device of
また、従来、プリント基板に電子部品を実装する表面実装機および電子部品の検査を行う部品検査装置(部品試験装置)においても、電子部品を撮像する際に電子部品に光を照射するための照明部を備えた部品撮像装置が知られている。表面実装機および部品検査装置では、ヘッドユニットにより搬送される部品が部品撮像装置により撮像される。 Conventionally, also in a surface mounter for mounting electronic components on a printed circuit board and a component inspection apparatus (component testing apparatus) for inspecting electronic components, illumination for irradiating the electronic components with light when imaging the electronic components 2. Description of the Related Art A component imaging device including a unit is known. In the surface mounter and the component inspection apparatus, the component conveyed by the head unit is imaged by the component imaging device.
しかしながら、特許文献1の照明装置では、上記のように、発光中心が幾何学的中心に位置する砲弾型のLEDを用いるとともに、照射ムラを抑制するために、撮像中心線に対して一方側のLEDと他方側の対応するLEDの位置自体を互いに1/2ピッチずつずらすことで、一方側のLEDの発光中心と他方側のLEDの発光中心とを互いにずらすように構成している。このため、一方側のLEDを他方側のLEDに対して撮像中心線に沿った方向にずらした距離分(1/2ピッチ分)、列状のLEDを配置するための領域が撮像中心線に沿った方向に長くなってしまうという不都合がある。その結果、LEDを配置するためのLED取付部(発光素子取付部)の寸法が大きくなるので、その分、照明装置が大型化してしまうという問題点がある。また、そのような照明装置を表面実装機の照明部および部品試験装置の照明部として用いた場合には、表面実装機および部品試験装置は、照明装置との接触を避けるためにヘッドユニットの可動範囲が制限されたり大型化してしまうという問題点がある。
However, in the illumination device of
この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の1つの目的は、装置が大型化するのを抑制しながら、撮像中心線に沿った方向の照射ムラが生じるのを抑制することが可能な部品撮像装置、表面実装機および部品試験装置を提供することである。 The present invention has been made in order to solve the above-described problems, and one object of the present invention is to prevent irradiation unevenness in the direction along the imaging center line while suppressing an increase in size of the apparatus. It is an object of the present invention to provide a component imaging device, a surface mounter, and a component testing apparatus that can suppress the occurrence.
上記目的を達成するために、この発明の第1の局面による部品撮像装置は、ヘッドユニットにより搬送される部品を撮像部により撮像する際に用いる部品撮像装置であって、平面的に見て、幾何学的中心に対して位置がずれた発光中心を有する複数の発光素子と、複数の発光素子が配置され、部品を撮像する際の撮像中心線に対して一方側および他方側の配置領域を有する発光素子取付部とを備え、発光素子の少なくとも一部は、発光素子取付部の一方側の配置領域に配置され、発光中心が幾何学的中心に対して撮像中心線に沿った第1の方向側に位置する第1発光素子と、発光素子取付部の他方側の配置領域に第1発光素子に対応するように配置され、発光中心が幾何学的中心に対して第1の方向とは反対の撮像中心線に沿った第2の方向側に位置する第2発光素子とを含む。 In order to achieve the above object, a component imaging apparatus according to a first aspect of the present invention is a component imaging apparatus used when an imaging unit images an image of a component conveyed by a head unit. A plurality of light emitting elements having light emission centers whose positions are shifted with respect to the geometric center, and a plurality of light emitting elements are arranged, and arrangement regions on one side and the other side with respect to an imaging center line when imaging a component A light emitting element mounting portion, and at least a part of the light emitting element is disposed in an arrangement region on one side of the light emitting element mounting portion, and the light emitting center is a first centered along the imaging center line with respect to the geometric center. A first light-emitting element located on the direction side, and disposed in the arrangement region on the other side of the light-emitting element mounting portion so as to correspond to the first light-emitting element; Second direction along opposite imaging centerline And a second light emitting element located on.
この第1の局面による部品撮像装置では、上記のように、平面的に見て、幾何学的中心に対して位置がずれた発光中心を有する複数の発光素子を用いるとともに、撮像中心線に対して一方側の配置領域に発光中心が幾何学的中心に対して第1の方向側に位置する発光素子(第1発光素子)を配置し、かつ、他方側の配置領域に発光中心が幾何学的中心に対して第1の方向とは反対の第2の方向側に位置する発光素子(第2発光素子)を配置することによって、一方側の発光素子(第1発光素子)の位置と他方側の発光素子(第2発光素子)の位置とを撮像中心線に沿った方向にずらすことなく、または、少しずらすだけで、一方側の発光素子(第1発光素子)の発光中心と他方側の発光素子(第2発光素子)の発光中心とを撮像中心線に沿った方向に大きくずらすことができる。このように、第1発光素子および第2発光素子をずらさないか、または、少しずらすだけにすることにより、発光素子を配置するための領域(発光素子取付部)の撮像中心線に沿った方向の長さが大きくなるのを抑制することができるとともに、第1発光素子の発光中心と第2発光素子の発光中心とを大きくずらすことにより、撮像中心線に沿った方向の照射ムラが生じるのを抑制することができる。その結果、部品撮像装置が大型化するのを抑制しながら、撮像中心線に沿った方向の照射ムラが生じるのを抑制することができる。これにより、より鮮明な部品の画像を得ることができるので、部品の姿勢を正確に認識することが可能である。 In the component imaging device according to the first aspect, as described above, a plurality of light emitting elements having emission centers shifted from the geometric center in plan view are used, and the imaging center line is used. A light emitting element (first light emitting element) whose light emission center is located on the first direction side with respect to the geometric center is disposed in the one arrangement region, and the light emission center is geometric in the other arrangement region. By disposing the light emitting element (second light emitting element) located on the second direction side opposite to the first direction with respect to the target center, the position of the one side light emitting element (first light emitting element) and the other Without shifting the position of the light emitting element (second light emitting element) on the side in the direction along the imaging center line or only slightly shifting, the light emission center and the other side of the light emitting element on the one side (first light emitting element) The light emission center of the light emitting element (second light emitting element) along the imaging center line It can be shifted significantly to the direction. As described above, the first light-emitting element and the second light-emitting element are not shifted or only slightly shifted so that the direction along the imaging center line of the region (light-emitting element mounting portion) for arranging the light-emitting elements is arranged. Can be suppressed, and the uneven emission in the direction along the imaging center line is caused by largely shifting the light emission center of the first light emitting element and the light emission center of the second light emitting element. Can be suppressed. As a result, it is possible to suppress the occurrence of uneven irradiation in the direction along the imaging center line while suppressing an increase in size of the component imaging device. As a result, a clearer image of the component can be obtained, so that the posture of the component can be accurately recognized.
上記第1の局面による部品撮像装置において、好ましくは、第1発光素子および第2発光素子は、一方が他方に対して平面内で略180度回転された状態で、それぞれ、発光素子取付部の一方側および他方側の配置領域に配置されている。このように構成すれば、一方側の発光素子(第1発光素子)の位置と他方側の対応する発光素子(第2発光素子)の位置とを撮像中心線に沿った方向にずらさないか、または、少しずらした状態における、第1発光素子の発光中心と第2発光素子の発光中心との撮像中心線に沿った方向のずれ量を最も大きくすることができる。これにより、第1発光素子の光の強度が弱い領域に対する第2発光素子の光の強度の強い領域の重なり度合をより大きくすることができるので、撮像中心線に沿った方向の照射ムラが生じるのをより抑制することができるため、部品の姿勢をさらに正確に認識することが可能である。 In the component imaging device according to the first aspect described above, preferably, the first light emitting element and the second light emitting element are respectively rotated by about 180 degrees in a plane with respect to the other, It arrange | positions at the arrangement | positioning area | region of the one side and the other side. With this configuration, the position of the light emitting element on the one side (first light emitting element) and the position of the corresponding light emitting element on the other side (second light emitting element) are not shifted in the direction along the imaging center line. Alternatively, the amount of shift in the direction along the imaging center line between the emission center of the first light emitting element and the emission center of the second light emitting element in a slightly shifted state can be maximized. As a result, it is possible to further increase the degree of overlap of the region where the light intensity of the second light emitting element is high with respect to the region where the light intensity of the first light emitting element is weak, and thus irradiation unevenness in the direction along the imaging center line occurs. Therefore, the posture of the component can be recognized more accurately.
上記第1の局面による部品撮像装置において、好ましくは、第1発光素子および第2発光素子は、それぞれ、発光素子取付部の一方側および他方側の配置領域において、撮像中心線に対して略対称な位置に配置されており、対称に配置された第1発光素子および第2発光素子のそれぞれの発光中心は、撮像中心線に平行な方向に所定の距離だけ互いにずれている。このように構成すれば、第1発光素子と第2発光素子とが撮像中心線に対して略対称に配置されることにより、第1発光素子とその第1発光素子に対応する第2発光素子とが撮像中心線に沿った方向の同じ位置に配置された状態で、第1発光素子および第2発光素子のそれぞれの発光中心が撮像中心線に平行な方向に所定の距離だけ互いにずらされるので、第1発光素子の位置とその第1発光素子に対応する第2発光素子の位置とを全くずらすことなく、第1発光素子の発光中心と第2発光素子の発光中心とを撮像中心線に平行な方向にずらすことができる。これにより、発光素子を配置するための領域(発光素子取付部)の撮像中心線に沿った方向の長さを小さくすることができるので、部品撮像装置をさらに小型化することができる。 In the component imaging apparatus according to the first aspect, preferably, the first light emitting element and the second light emitting element are substantially symmetrical with respect to the imaging center line in the arrangement regions on one side and the other side of the light emitting element mounting portion, respectively. The light emission centers of the first light emitting element and the second light emitting element arranged symmetrically are shifted from each other by a predetermined distance in a direction parallel to the imaging center line. If comprised in this way, a 1st light emitting element and a 2nd light emitting element corresponding to the 1st light emitting element by the 1st light emitting element and a 2nd light emitting element being arrange | positioned substantially symmetrically with respect to an imaging centerline. Are arranged at the same position in the direction along the imaging center line, and the respective emission centers of the first light emitting element and the second light emitting element are shifted from each other by a predetermined distance in a direction parallel to the imaging center line. The light emitting center of the first light emitting element and the light emitting center of the second light emitting element are set to the imaging center line without shifting the position of the first light emitting element and the position of the second light emitting element corresponding to the first light emitting element. Can be shifted in parallel directions. Thereby, since the length of the area | region (light emitting element attachment part) for arrange | positioning a light emitting element along the imaging center line can be made small, a component imaging device can be further reduced in size.
この場合、好ましくは、第1発光素子および第2発光素子は、それぞれ、発光素子取付部の一方側および他方側の配置領域に列状に複数列ずつ配置されており、互いに対応する列の第1発光素子および第2発光素子は、それぞれ、発光素子取付部の一方側および他方側の配置領域において、発光素子取付部の撮像中心線に対して略対称な位置に配置されており、かつ、互いに対応する列の第1発光素子および第2発光素子の発光中心は、撮像中心線に平行な方向に所定の距離だけ互いにずれている。このように構成すれば、それぞれ複数列ずつ配置された第1発光素子および第2発光素子により光を照射することにより、それぞれ一列ずつ配置された第1発光素子および第2発光素子により光を照射する場合と比較して光量を大きくすることができる。また、互いに対応する列の第1発光素子および第2発光素子の発光中心が、撮像中心線に平行な方向に所定の距離だけ互いにずれているので、撮像中心線に沿った方向の照射ムラが生じるのを抑制することができるため、部品の姿勢を正確に認識することが可能である。 In this case, preferably, the first light-emitting element and the second light-emitting element are arranged in a plurality of rows in the arrangement region on one side and the other side of the light-emitting device mounting portion, respectively, The first light-emitting element and the second light-emitting element are disposed at positions substantially symmetrical with respect to the imaging center line of the light-emitting element mounting portion in the arrangement regions on one side and the other side of the light-emitting element mounting portion, respectively. The light emission centers of the first light emitting element and the second light emitting element in the corresponding columns are shifted from each other by a predetermined distance in a direction parallel to the imaging center line. If comprised in this way, light will be irradiated by the 1st light emitting element and the 2nd light emitting element which were respectively arrange | positioned 1 row at a time by irradiating light by the 1st light emitting element and 2nd light emitting element which were respectively arrange | positioned in multiple rows. The amount of light can be increased as compared with the case of doing so. In addition, since the emission centers of the first light emitting element and the second light emitting element in the corresponding columns are shifted from each other by a predetermined distance in a direction parallel to the imaging center line, irradiation unevenness in the direction along the imaging center line is caused. Since generation | occurrence | production can be suppressed, it is possible to recognize the attitude | position of components correctly.
上記第1の局面による部品撮像装置において、好ましくは、発光素子取付部は、撮像中心線に沿って設けられた撮像光を通過させるためのスリットを含み、第1発光素子および第2発光素子は、それぞれ、発光素子取付部の一方側および他方側の配置領域において、スリットの延びる方向の中心線に対して略対称な位置に配置されている。このように構成すれば、撮像中心線としてのスリットの中心線に対応した位置にヘッドユニットにより搬送された部品が撮像部により撮像される際に、その部品に対して、第1発光素子および第2発光素子を用いることにより照射ムラが抑制された光をスリットの両側から照射することができる。これにより、部品の撮像にとって良好な照明環境を得ることができる。また、部品からの撮像光をスリットを介して容易に撮像部に導くことができる。 In the component imaging apparatus according to the first aspect described above, preferably, the light emitting element mounting portion includes a slit for passing imaging light provided along the imaging center line, and the first light emitting element and the second light emitting element are In each of the arrangement regions on the one side and the other side of the light emitting element mounting portion, the light emitting element attachment portions are arranged at substantially symmetrical positions with respect to the center line in the slit extending direction. If comprised in this way, when the components conveyed by the head unit to the position corresponding to the centerline of the slit as an imaging centerline are imaged by the imaging unit, the first light emitting element and the first By using the two light emitting elements, light with suppressed irradiation unevenness can be irradiated from both sides of the slit. Thereby, a favorable illumination environment for imaging of components can be obtained. Further, the imaging light from the component can be easily guided to the imaging unit through the slit.
この場合、好ましくは、発光素子は、発光素子取付部の一方側および他方側の配置領域において、スリットの延びる方向のスリットの縁部に沿って複数配置され、発光中心が幾何学的中心に対してスリット側に位置する第3発光素子をさらに含む。このように構成すれば、第1発光素子および第2発光素子のみならず、第3発光素子によっても部品に対して光を照射することができるので、光量をより大きくすることができる。また、第3発光素子の発光中心を幾何学的中心に対してスリット側に位置させることによって、撮像中心線に沿って設けられるスリットに第3発光素子の発光中心を近づけることができるので、第3発光素子により撮像中心に向かって照射される光量をより大きくすることができるため、より高速な撮影を行うことができる。 In this case, preferably, a plurality of light emitting elements are arranged along the edge of the slit in the direction in which the slit extends in the arrangement region on one side and the other side of the light emitting element mounting portion, and the light emitting center is located with respect to the geometric center. And a third light emitting element positioned on the slit side. If comprised in this way, since light can be irradiated with respect to components not only by a 1st light emitting element and a 2nd light emitting element but by a 3rd light emitting element, a light quantity can be enlarged more. Further, by positioning the light emission center of the third light emitting element on the slit side with respect to the geometric center, the light emission center of the third light emitting element can be brought closer to the slit provided along the imaging center line. Since the amount of light emitted toward the imaging center can be increased by the three light emitting elements, higher-speed shooting can be performed.
この発明の第2の局面による表面実装機は、部品を搬送するとともに、部品を基板上に実装するヘッドユニットと、ヘッドユニットにより搬送される部品を撮像する撮像部と、部品を撮像部により撮像する際に用いる照明部とを備え、照明部は、平面的に見て、幾何学的中心に対して位置がずれた発光中心を有する複数の発光素子と、複数の発光素子が配置され、部品を撮像する際の撮像中心線に対して一方側および他方側の配置領域を有する発光素子取付部とを含み、発光素子の少なくとも一部は、発光素子取付部の一方側の配置領域に配置され、発光中心が幾何学的中心に対して撮像中心線に沿った第1の方向側に位置する第1発光素子と、発光素子取付部の他方側の配置領域に第1発光素子に対応するように配置され、発光中心が幾何学的中心に対して第1の方向とは反対の撮像中心線に沿った第2の方向側に位置する第2発光素子とを有する。 A surface mounter according to a second aspect of the present invention transports a component, mounts the component on a substrate, an imaging unit that images the component conveyed by the head unit, and captures the component by the imaging unit. A plurality of light emitting elements having a light emission center whose position is shifted with respect to the geometric center in a plan view, and a plurality of light emitting elements are arranged. A light emitting element mounting portion having an arrangement region on one side and the other side with respect to an imaging center line at the time of imaging, at least a part of the light emitting element is disposed in an arrangement region on one side of the light emitting element mounting portion. The light emission center corresponds to the first light emitting element in the first light emitting element located on the first direction side along the imaging center line with respect to the geometric center, and the arrangement region on the other side of the light emitting element mounting portion. Arranged at the center, and the emission center is geometric The first direction and a second light emitting element located in a second direction along the opposite imaging center line with respect to center.
この第2の局面による表面実装機では、上記のように、第1の局面による部品撮像装置と同様の構成を有する照明部を設けることによって、部品撮像装置を小型化しながら、撮像中心線に沿った方向の照射ムラが生じるのを抑制することができる。これにより、表面実装機を大型化させることなくヘッドユニットの可動範囲を十分に確保し、かつ、部品の姿勢を正確に認識して装着することができる。 In the surface mounter according to the second aspect, as described above, the illumination unit having the same configuration as that of the component imaging device according to the first aspect is provided. It is possible to suppress the occurrence of uneven irradiation in the other direction. Thus, the movable range of the head unit can be secured sufficiently without increasing the size of the surface mounter, and the posture of the component can be accurately recognized and mounted.
この発明の第3の局面による部品試験装置は、被検査用電子部品が装填される複数の検査用ソケットを支持する基台と、複数の被検査用電子部品を未検査部品用トレイから搬送し、複数の検査用ソケットに装填した後に検査済み部品用トレイに搬送するヘッドユニットと、ヘッドユニットにより搬送される部品を撮像する撮像部と、部品を撮像部により撮像する際に用いる照明部とを備え、照明部は、平面的に見て、幾何学的中心に対して位置がずれた発光中心を有する複数の発光素子と、複数の発光素子が配置され、部品を撮像する際の撮像中心線に対して一方側および他方側の配置領域を有する発光素子取付部とを含み、発光素子の少なくとも一部は、発光素子取付部の一方側の配置領域に配置され、発光中心が幾何学的中心に対して撮像中心線に沿った第1の方向側に位置する第1発光素子と、発光素子取付部の他方側の配置領域に第1発光素子に対応するように配置され、発光中心が幾何学的中心に対して第1の方向とは反対の撮像中心線に沿った第2の方向側に位置する第2発光素子とを有する。 A component testing apparatus according to a third aspect of the present invention transports a plurality of electronic components to be inspected from a base for supporting a plurality of inspection sockets loaded with electronic components to be inspected from a tray for uninspected components. A head unit that is loaded into a plurality of inspection sockets and then transported to an inspected component tray, an imaging unit that captures an image of the component that is transported by the head unit, and an illumination unit that is used when the component is imaged by the imaging unit The illumination unit includes a plurality of light emitting elements having a light emission center whose position is shifted with respect to the geometric center in a plan view, and an imaging center line when the plurality of light emitting elements are arranged to image a component. A light emitting element mounting portion having an arrangement region on one side and the other side, at least a part of the light emitting element is disposed in an arrangement region on one side of the light emitting element mounting portion, and the light emission center is a geometric center Taken against A first light emitting element positioned on the first direction side along the center line, and disposed on the other side of the light emitting element mounting portion so as to correspond to the first light emitting element, the light emission center being a geometric center On the other hand, it has the 2nd light emitting element located in the 2nd direction side along the imaging centerline opposite to a 1st direction.
この第3の局面による部品試験装置では、上記のように、第1の局面による部品撮像装置と同様の構成を有する照明部を設けることによって、部品撮像装置を小型化しながら、撮像中心線に沿った方向の照射ムラが生じるのを抑制することができる。これにより、部品試験装置を大型化させることなくヘッドユニットの可動範囲を十分に確保し、かつ、部品の姿勢を正確に認識して部品を検査することができる。 In the component testing apparatus according to the third aspect, as described above, by providing the illumination unit having the same configuration as that of the component imaging apparatus according to the first aspect, the component imaging apparatus is reduced in size while being along the imaging center line. It is possible to suppress the occurrence of uneven irradiation in the other direction. Thereby, the movable range of the head unit can be ensured sufficiently without increasing the size of the component testing apparatus, and the component posture can be accurately recognized to inspect the component.
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
(第1実施形態)
図1は、本発明の第1実施形態による表面実装機の全体構成を示す斜視図である。図2〜図11は、図1に示した表面実装機の構造を説明するための図である。以下、図1〜図11を参照して、本発明の第1実施形態による表面実装機100の構造について説明する。なお、この第1実施形態では、本発明の部品撮像装置を表面実装機に適用した場合の例について説明する。
(First embodiment)
FIG. 1 is a perspective view showing the overall configuration of the surface mounter according to the first embodiment of the present invention. 2-11 is a figure for demonstrating the structure of the surface mounter shown in FIG. The structure of the
図1〜図5に示すように、第1実施形態による表面実装機100は、プリント基板110に部品120を実装する装置である。なお、プリント基板110は、本発明の「基板」の一例である。図1に示すように、表面実装機100は、X方向に延びる一対の基板搬送コンベア10と、一対の基板搬送コンベア10の上方をXY方向に移動可能なヘッドユニット20とを備えている。一対の基板搬送コンベア10の両側には、部品120を供給するための複数のテープフィーダ121が配置されている。ヘッドユニット20は、テープフィーダ121から部品120を取得するとともに、基板搬送コンベア10上のプリント基板110に部品120を実装する機能を有する。基板搬送コンベア10およびヘッドユニット20は、基台1上に設置されている。以下、表面実装機100の具体的な構造を説明する。
As shown in FIGS. 1 to 5, the
一対の基板搬送コンベア10は、プリント基板110をX方向に搬送するとともに、所定の実装作業位置でプリント基板110を停止させ、保持させることが可能なように構成されている。
A pair of board |
テープフィーダ121は、複数の部品120を所定の間隔を隔てて保持したテープが巻き回されたリールを保持している。このテープフィーダ121は、リールを回転させることにより部品120を保持するテープを送り出すことによって、テープフィーダ121の先端から部品120を供給するように構成されている。なお、部品120は、IC、トランジスタ、コンデンサなどの小型の電子部品である。
The
また、ヘッドユニット20は、X方向に延びるヘッドユニット支持部30に沿ってX方向に移動可能に構成されている。具体的には、ヘッドユニット支持部30は、ボールネジ軸31とボールネジ軸31を回転させるサーボモータ32とX方向のガイドレール(図示せず)とを有しているとともに、ヘッドユニット20は、ボールネジ軸31が螺合されるボールナット21を有している。ヘッドユニット20は、サーボモータ32によりボールネジ軸31が回転されることにより、ヘッドユニット支持部30に対してX方向に移動するように構成されている。また、ヘッドユニット支持部30は、基台1上に設けられたY方向に延びる一対の固定レール部40に沿ってY方向に移動可能に構成されている。具体的には、固定レール部40は、ヘッドユニット支持部30の両端部をY方向に移動可能に支持するガイドレール41と、Y方向に延びるボールネジ軸42(図4参照)と、ボールネジ軸42を回転させるサーボモータ43(図4参照)とを有しているとともに、ヘッドユニット支持部30には、ボールネジ軸42が螺号されるボールナット33(図4参照)が設けられている。ヘッドユニット支持部30は、サーボモータ43によりボールネジ軸42が回転されることによって、ガイドレール41に沿ってY方向に移動するように構成されている。このような構成により、ヘッドユニット20は、基台1上をXY方向に移動することが可能なように構成されている。
The
また、ヘッドユニット20には、X方向に列状に配置された6本の吸着ノズル22が下方に突出するように設けられている。また、各々の吸着ノズル22は、負圧発生機(図示せず)によってその先端に負圧状態を発生させることが可能に構成されている。吸着ノズル22は、この負圧によって、テープフィーダ121から供給される部品120を先端に吸着および保持することが可能である。
The
また、各々の吸着ノズル22は、図示しない機構(サーボモータなど)によって、ヘッドユニット20に対して上下方向(Z方向)に移動可能に構成されている。表面実装機100は、吸着ノズル22が上昇位置に位置した状態で部品120の搬送などを行うとともに、吸着ノズル22が下降位置に位置した状態で部品120のテープフィーダ121からの吸着およびプリント基板110への実装を行うように構成されている。また、吸着ノズル22は、吸着ノズル22自体がその軸を中心として回転可能に構成されている。これにより、表面実装機100では、部品120を搬送する途中に吸着ノズル22を回転させることにより、ノズルの先端に保持された部品120の姿勢(水平面内の向き)を調整することが可能である。
Each
また、ヘッドユニット20には、吸着ノズル22に吸着された部品120の姿勢を撮像するための部品撮像装置50が取り付けられている。この部品撮像装置50は、図2に示すように、ヘッドユニット20に対してX方向(6本の吸着ノズル22が並んでいる方向)に移動可能に取り付けられている。具体的には、ヘッドユニット20には、X方向に延びるボールネジ軸23と、ボールネジ軸23を回転させるサーボモータ24とが設けられているとともに、部品撮像装置50には、ボールネジ軸23が螺合されるボールナット51が設けられている。部品撮像装置50は、サーボモータ24によりボールネジ軸23が回転されることにより、ヘッドユニット20に対してX方向に移動されるように構成されている。これにより、部品撮像装置50は、ヘッドユニット20にX方向に並んで配置された6本の吸着ノズル22に保持された部品120を順次撮像することが可能になる。また、ヘッドユニット20に部品撮像装置50が取り付けられることによって、部品120を吸着ノズル22により保持した状態でヘッドユニット20を実装位置に移動させながら、部品撮像装置50をヘッドユニット20に対して相対移動させて部品120の姿勢(吸着ノズル22への吸着状態)を撮像することが可能である。
In addition, a
部品撮像装置50は、図2〜図7に示すように、1つの部品認識用カメラ52と、吸着ノズル22に吸着された部品120に対して下方および側方からそれぞれ照明光を照射する下方照明部53および側方照明部54と、部品120の撮像光を部品認識用カメラ52に導くためのプリズム55〜57とを含んでいる。また、部品認識用カメラ52には、後述するように、6つのラインセンサ521〜526(図10参照)からなるイメージセンサ52aが内蔵されている。なお、部品認識用カメラ52は、本発明の「撮像部」の一例である。また、下方照明部53および側方照明部54は、本発明の「照明部」の一例である。
2 to 7, the
図6および図7に示すように、第1実施形態による下方照明部53は、部品撮像装置50が撮像対象の部品120を保持する吸着ノズル22に対して所定の位置(下面撮像位置)に移動した場合に部品120の下方に位置する長方形状のLED取付基板531と、LED取付基板531上に配置された複数のチップ型(表面実装型)のLED532とを有する。LED取付基板531には、撮像中心線150と平行な方向に延びる長方形状のスリット531aが形成されている。また、複数のLED532は、スリット531aの4辺を取り囲むように配置されている。このLED532の構造およびLED532のLED取付基板531上における配置については、後に詳細に説明する。スリット531aは、下方照明部53のLED532の光が照射された部品120からの反射光(撮像光)を通過させるために設けられている。また、図6に示すように、スリット531aの下方にはZ方向の撮像光をX方向に沿った方向に反射させるための反射面55aを有するプリズム55が配置されている。また、プリズム55の側方には、プリズム55によりX方向に反射された撮像光を部品認識用カメラ52側に反射させるための反射面56aを有するプリズム56が配置されている。これにより、下方照明部53による撮像光は、プリズム55の反射面55aとプリズム56の反射面56aとにより反射されて部品認識用カメラ52のイメージセンサ52aに入射するように構成されている。
As shown in FIGS. 6 and 7, in the
図8および図9に示すように、側方照明部54は、部品撮像装置50が撮像対象の部品120を保持する吸着ノズル22に対して所定の位置(側面撮像位置)に移動した場合に部品120の側方に位置する長方形状のLED取付基板541と、LED取付基板541の表面上に配置された複数のチップ型のLED542とを有する。また、上記したプリズム56の側方には、反射面57aおよび57bを有するプリズム57がLED取付基板541上のLED542と対向するように配置されている。反射面57aは、LED542からのY方向の撮像光を反射面57bに向かってZ方向に反射させるように構成されており、反射面57bは、入射した撮像光をプリズム56の反射面56aに向かってX方向に反射させるように構成されている。なお、プリズム56の反射面56aは、上記した下方照明部53による撮像光を部品認識用カメラ52側に反射する機能に加えて、側方照明部54による撮像光を部品認識用カメラ52に反射する機能を有する。これにより、側方照明部54のLED542による光が照射された部品120からの透過光(撮像光)は、プリズム57の反射面57aおよび57bと、プリズム56の反射面56aとを介して部品認識用カメラ52のイメージセンサ52aに入射するように構成されている。この部品撮像装置50では、部品120の下方から見た画像と部品120の側方から見た画像とを1つの部品認識用カメラ52により撮像することが可能である。なお、LED取付基板531および541は、本発明の「発光素子取付部」の一例である。また、チップ型のLED532および542は、本発明の「発光素子」の一例である。
As shown in FIG. 8 and FIG. 9, the
また、図10に示すように、部品認識用カメラ52のイメージセンサ52aは、いわゆるTDIセンサ(Time Delay Integration Sensor)であり、A方向に画素が連なるように延びる複数(第1実施形態では、6個)のラインセンサ521〜526がB方向に配置されることにより構成されている。TDIセンサからなるイメージセンサ52aを用いることにより、部品撮像装置50を部品120に対して高速で移動させながら撮像を行う場合にも、鮮明な画像を得ることが可能である。このTDIセンサからなるイメージセンサ52aは、以下のようにして部品120の撮像を行うように構成されている。
Also, as shown in FIG. 10, the
すなわち、部品撮像装置50(部品認識用カメラ52)を移動させながらTDIセンサからなるイメージセンサ52aによって部品120を撮像する場合、部品120が部品認識用カメラ52に対して相対的に移動する方向(B方向)に沿って6つのラインセンサ521〜526が所定のピッチ(間隔)で並べられている。つまり、部品120は所定の速度で6つのラインセンサ521〜526を横切るように移動する。ここで、6つのラインセンサ521〜526は、各ラインセンサ521〜526間のピッチを部品120が移動するのに要する時間(以下、撮像ピッチ時間)毎に撮像を行うように制御される。これにより、1段目のラインセンサ521により撮像した部品120のある部分が、撮像ピッチ時間後に2段目のラインセンサ522により撮像される。さらに撮像ピッチ時間後には、3段目のラインセンサ523により同一部分の撮像が行われる。同様にして、部品120の同一部分が6つのラインセンサ521〜526により6回撮像される。また、各々のラインセンサ521〜526により撮像された同一部分の画像に対応する電荷は全て加算されるように制御される。これにより、6個のラインセンサからなるTDIセンサでは、一度の撮像で部品120のある部分に対して1つのラインセンサが得る電荷の6倍の電荷を得ることが可能である。このように制御することによって、部品撮像装置50の移動速度を速くすることに起因して1つのラインセンサだけでは十分な電荷を得ることが困難な場合にも、鮮明な画像を得ることが可能である。
That is, when the
また、表面実装機100の動作は、図11に示す制御装置60によって制御されている。制御装置60は、主制御部61、軸制御部62、照明制御部63および画像処理部64を含んでいる。
The operation of the
主制御部61は、論理演算を実行するCPU、CPUを制御するプログラムなどを記憶するROM(Read Only Memory)および装置の動作中に種々のデータを一時的に記憶するRAM(Random Access Memory)などから構成されている。主制御部61は、ROMに記憶されているプログラムに従って、軸制御部62、照明制御部63および画像処理部64を介して、下方照明部53、側方照明部54、イメージセンサ52a、各サーボモータなどを制御するように構成されている。
The
軸制御部62は、主制御部61から出力される制御信号に基づいて、表面実装機100の各サーボモータ(ヘッドユニット支持部30をY方向に移動するためのサーボモータ43(図4参照)、ヘッドユニット20をX方向に移動するためのサーボモータ32(図4参照)、吸着ノズル22を上下方向に移動させるためのサーボモータ(図示せず)、および、部品撮像装置50をX方向に移動させるためのサーボモータ24(図4参照))などの駆動を制御するように構成されている。
The
照明制御部63は、主制御部61から出力される制御信号に基づいて、下方照明部53および側方照明部54を所定のタイミングで点灯させるように構成されている。画像処理部64は、主制御部61から出力される制御信号に基づいて、イメージセンサ52aから所定のタイミングで撮像信号の読み出しを行うとともに、読み出した撮像信号に所定の画像処理を行うことにより、部品120を認識するのに適した画像データを生成するように構成されている。また、画像処理部64は、生成した画像データを主制御部61に出力するように構成されている。
The
図12は、下方照明部のLED取付基板およびLED取付基板上に配置されたチップ型のLEDを示す平面図である。図13および図14は、それぞれ、下方照明部に配置されるチップ型のLEDの構造を示す斜視図および平面図である。図15は、図12に示した下方照明部の平面図において、チップ型のLEDの配置状態を簡略化して示した平面図である。次に、図12〜図15を参照して、本発明の第1実施形態による表面実装機100のチップ型のLEDの構造およびLEDの基板上の配置について詳細に説明する。
FIG. 12 is a plan view showing an LED mounting board of the lower illumination unit and a chip-type LED disposed on the LED mounting board. 13 and 14 are a perspective view and a plan view, respectively, showing the structure of a chip-type LED disposed in the lower illumination section. FIG. 15 is a plan view showing a simplified arrangement of chip-type LEDs in the plan view of the lower illumination unit shown in FIG. Next, with reference to FIGS. 12 to 15, the structure of the chip-type LED of the
第1実施形態では、移動しながら撮像を行う部品撮像装置50に搭載する光源として、チップ型(表面実装型)のLEDを用いている。このチップ型のLEDは、砲弾型のLEDと比較して、小型、軽量で、かつ、厚みが小さいという特徴がある。このため、部品撮像装置50を小型・軽量化することができるので、撮像装置を高速に安定して移動できるとともに、ヘッドユニットの可動範囲は大きくなる。また、照明の厚みが小さくなると、吸着ノズル22を下降させて部品120を実装するに際に、部品撮像装置50をプリント基板110に近づけることが出来る。このため、吸着ノズル22のストロークを小さくすることが可能となるので、その結果、正確で高速な部品実装が可能となる。第1実施形態に用いるチップ型のLED532としては、たとえば、スタンレー社製のUR1111C型を用いることが可能である。以下、LED532の構造について詳細に説明する。
In the first embodiment, a chip-type (surface-mount type) LED is used as a light source mounted on the
図12〜図14に示すように、チップ型のLED532は、カソード端子532aと、カソード端子532aと同一の形状を有するアノード端子532bと、カソード端子532aの表面上に配置されたLED素子532cと、LED素子532cとアノード端子532bとを接続するボンディングワイヤ532dと、これらを封止するパッケージ532eとを含んでいる。LED532は、約1.6mmの長さL1と、約0.8mmの幅W1と、約0.7mmの厚みtとを有する。
As shown in FIGS. 12 to 14, a chip-
ここで、第1実施形態では、図14に示すように、LED素子532cの発光中心Pは、平面的に見て、LED532の幾何学的中心Gから約0.28mmの距離D1だけずれるように配置されている。このように、LED532は、LED532の幾何学的中心Gの位置に対してLED素子532cの発光中心Pの位置がずれるように構成されている。第1実施形態では、図12に示すように、カソード端子532aおよびアノード端子532bを半田533によりLED取付基板531に取り付けた複数のLED532を、下方照明部53として用いている。LED532のカソード端子532aおよびアノード端子532bが半田533に取り付けられた状態でのY方向の長さをL2とする。
Here, in the first embodiment, as shown in FIG. 14, the light emission center P of the
次に、LED取付基板531上のLED532の配置について説明する。図15に示すように、LED取付基板531の表面上には、撮像中心線150(長方形状のスリット531aの中心線)に対して一方側の領域53aに、撮像中心線150と平行な方向(スリット531aが延びる方向と平行な方向(Y方向))に列状に所定のピッチ(間隔)L3で並ぶように複数のLED532が配置されている。以下、列状に並んだ複数のLED532の1列分をLED列と呼ぶ。なお、図15では、LED532および半田533を含む領域をY方向の長さL2を有する長方形状の領域として簡略化して示している。第1実施形態では、一方側の領域53aに3列のLED列A1〜A3が配置されている。第1実施形態では、LED列A1、A2およびA3は、それぞれ、8個、7個および6個のLED532からなり、LED列に含まれるLED532の個数は、スリット531aから離れるに従って少なくなるように構成されている。第1実施形態では、一方側の領域53aにおけるLED列A1、A2およびA3のLED532は、LED532の幾何学的中心Gに対して撮像中心線150と平行なY1方向側に発光中心Pが位置するように配置されている。
Next, the arrangement of the
また、撮像中心線150に対して他方側の領域53bには、一方側の領域53aのLED532の配置と対応するように、3列のLED列B1、B2およびB3が配置されている。一方側のLED列A1、A2およびA3と、他方側のLED列B1、B2およびB3とは、それぞれ対応するLED532が撮像中心線150に対して対称となるように同じY方向の位置に配置されている。ここで、第1実施形態では、他方側の領域53bにおけるLED列B1、B2およびB3のLED532は、LED532の幾何学的中心Gに対して撮像中心線150と平行で、かつ、Y1方向と180度反対のY2方向側に発光中心Pが位置するように配置されている。これにより、一方側のLED列A1のLED532の発光中心Pと、他方側のLED列B1の対応するLED532の発光中心Pとは、撮像中心線150と平行な方向(Y方向)に互いにずれ量D2だけずれている。つまり、図15に示した第1実施形態のLED取付基板531におけるLED532の配置では、一方側の領域53aの3列のLED532と、他方側の領域53bの対応する3列のLED532とが、Y方向にずれることなく同じ位置で対象配置されながら、発光中心PのみY方向にずれ量D2分だけずれるように配置されている。
In addition, three LED rows B1, B2, and B3 are arranged in the
また、一方側のLED列A1のLED532の発光中心Pと、そのLED532に対応する他方側のLED列B1のLED532に対してY方向に隣接するLED532の発光中心Pとは、互いにずれ量D3だけずれている。第1実施形態では、ずれ量D3は、ずれ量D2よりも大きいとともに、ずれ量D2およびD3の和がピッチL3になる。また、同様に、一方側のLED列A2およびA3のLED532の発光中心Pは、それぞれ、他方側のLED列B2およびB3の対応するLED532の発光中心Pに対して、撮像中心線150と平行な方向(Y方向)にずれ量D2分ずれているとともに、他方側の対応するLED532に隣接するLED532の発光中心Pに対して、ずれ量D3分ずれている。
Further, the light emission center P of the
また、スリット531aの延びる方向の縁部531bに沿った領域53cに、複数のLED532が配置されている。第1実施形態では、2つのLED532からなる3つのLED列C1〜C3が縁部531bに沿って配置されている。この領域53cの3つのLED列C1〜C3のLED532は、撮像中心線150と平行なY方向の位置をずらすことなく、幾何学的中心Gに対してスリット531a側に発光中心Pが位置するように配置されている。
A plurality of
また、側方照明部54のLED542は、前述した下方照明部53のLED532と同様の構造を有する。図8に示すように、側方照明部54においても、撮像中心線151に対して一方側の領域54aおよび他方側の領域54bに、撮像中心線151と平行な方向に列状に並んだ複数のLED542が配置されている。一方側の領域54aにおけるLED542は、幾何学的中心Gに対して撮像中心線151と平行なZ1方向側に発光中心Pが位置するように配置されている。また、他方側の領域54bにおけるLED542は、LED542の幾何学的中心Gに対して撮像中心線151と平行で、かつ、Z1方向と180度反対のZ2方向側に発光中心Pが位置するように配置されている。また、一方側の領域54aのLED542と、他方側の領域54bの対応するLED542とは、撮像中心線151に対して対称となるようにZ方向に同じ位置で配置されている。
Further, the
次に、第1実施形態の表面実装機100によるプリント基板110への部品120の実装動作について説明する。
Next, the mounting operation of the
まず、図1に示すように、プリント基板110が一対の基板搬送コンベア10を介して基台1上に搬入されるとともに、基台1の中央の装着作業位置まで搬送される。
First, as shown in FIG. 1, the printed
また、プリント基板110の搬入動作と並行して、実装対象の部品120がヘッドユニット20によりテープフィーダ121から取り出される。具体的には、ヘッドユニット20がテープフィーダ121の上方に移動されることにより、テープフィーダ121に保持される実装対象の部品120の上方にヘッドユニット20の吸着ノズル22が配置される。
In parallel with the loading operation of the printed
その後、吸着ノズル22を下降させるとともに、所定のタイミングで吸着ノズル22の先端に負圧が供給される。これにより、テープフィーダ121上の部品120が吸着ノズル22により吸着および保持される。
Thereafter, the
次に、部品120を保持した吸着ノズル22が上昇し、ヘッドユニット20はプリント基板110の上方の装着位置に移動される。この時、ヘッドユニット20を移動させながら、図7および図9に示すように、ヘッドユニット20に取り付けられた部品撮像装置50をX方向に移動させることにより、吸着ノズル22に保持された部品120の撮像が行われる。この際、第1実施形態では、図6〜図9に示すように、上記したような特徴的なLED配置を有する下方照明部53および側方照明部54を用いて、部品120の下面の画像と側面の画像とを撮像する。
Next, the
また、部品120の下面および側面の画像のデータは、主制御部61(図11参照)に取り込まれる。主制御部61は、部品120の側面の画像により、いわゆるチップ立ちなどの吸着不良の有無を判断する。そして、吸着不良が無いと判断した場合には、主制御部61は、部品120の下面の画像に基づいて、部品120の吸着位置の正しい吸着位置に対するずれ量を算出する。そして、その算出したずれ量に基づいてヘッドユニットが移動するとともに吸着ノズル22が回転して、部品120の装着位置の補正が行われる。上述した部品120の装着位置の補正処理は、ヘッドユニット20がテープフィーダ121上からプリント基板110の装着位置に移動するのと並行して行われる。
In addition, the image data of the lower surface and the side surface of the
そして、図1に示すように、ヘッドユニット20がプリント基板110の装着位置に移動された後、吸着ノズル22が下降されて部品120がプリント基板110に装着される。以上の処理が繰り返し行われることにより、部品120のプリント基板110への装着が行われる。
As shown in FIG. 1, after the
また、部品120の実装が完了したプリント基板110は、一対の基板搬送コンベア10を介して基台1から搬出される。このようにして、表面実装機100による部品120の実装動作が終了する。
In addition, the printed
第1実施形態では、上記のように、平面的に見て、幾何学的中心Gに対して位置がずれた発光中心Pを有するLED532を用いるとともに、撮像中心線150の一方側の領域53aに発光中心Pが幾何学的中心Gに対してY1方向側に位置するようにLED532を配置し、他方側の領域53bに発光中心Pが幾何学的中心Gに対してY1方向とは反対のY2方向側に位置するようにLED532を配置することによって、一方側のLED532の位置と他方側のLED532の位置とを撮像中心線150と平行な方向にずらすことなく、一方側のLED532の発光中心Pと他方側のLED532の発光中心Pとを撮像中心線150と平行な方向(Y方向)に大きくずらすことができる。このように、一方側のLED532の位置と他方側のLED532の位置とをずらさないことにより、LED532を配置するための領域(LED取付基板531)の撮像中心線150と平行な方向(Y方向)の長さが大きくなるのを抑制することができるとともに、一方側のLED532の発光中心Pと他方側のLED532の発光中心Pとを大きくずらすことにより、撮像中心線150と平行な方向の照射ムラが生じるのを抑制することができる。その結果、表面実装機100を大型化させることなくヘッドユニット20の可動範囲を十分確保し、かつ、部品120の吸着姿勢を正確に認識して装着位置の補正をすることができる。
In the first embodiment, as described above, the
また、第1実施形態では、上記のように、側方照明部54についても、撮像中心線151に対して一方側の領域54aに発光中心PがZ1方向側に位置するようにLED542を配置するとともに、撮像中心線151に対して他方側の領域54bに発光中心PがZ1方向とは反対のZ2方向側に位置するようにLED542を配置することによって、一方側のLED542の位置と他方側のLED542の位置とを撮像中心線151と平行な方向にずらすことなく、一方側のLED542の発光中心Pと他方側のLED542の発光中心Pとを撮像中心線151と平行な方向にずらすことができる。これにより、表面実装機100を大型化させることなくヘッドユニット20の可動範囲を十分確保し、かつ、部品120の吸着姿勢をさらに正確に認識して装着位置の補正することができる。
In the first embodiment, as described above, the
また、第1実施形態では、上記のように、一方側の領域53aのLED532が他方側の領域53bのLED532に対して平面内で略180度回転された状態でLED532をLED取付基板531に配置することによって、一方側のLED532の位置と他方側の対応するLED532の位置とを撮像中心線150と平行な方向にずらさない状態における、一方側のLED532の発光中心Pと他方側のLED532の発光中心Pとの撮像中心線150と平行な方向のずれ量を最も大きくすることができる。これにより、一方側のLED532の光の強度が弱い領域に対する他方側のLED532の光の強度の強い領域の重なり度合をより大きくすることができるので、撮像中心線150と平行な方向の照射ムラが生じるのをより抑制することができるため、部品120の姿勢を正確に認識し、装着位置の補正を行うことが可能である。
In the first embodiment, as described above, the
また、第1実施形態では、上記のように、一方側の領域53aおよび他方側の領域53bにおいて、撮像中心線150に対して対称な位置にLED532を配置することによって、一方側のLED532の位置とその一方側のLED532に対応する他方側のLED532の位置とをずらすことなく、一方側のLED532の発光中心Pと他方側のLED532の発光中心Pとを撮像中心線150に平行な方向にずらすことができる。これにより、LED532を配置するための領域の撮像中心線150に沿った方向の長さが大きくなるのをより抑制することができるので、表面実装機100が大型化するのをより抑制することができるため、部品120の姿勢をより正確に認識し、装着位置の補正を行うことが可能である。
In the first embodiment, as described above, the
また、第1実施形態では、上記のように、一方側の領域53aおよび他方側の領域53bにそれぞれ3列ずつLED532を配置することにより、一方側の領域53aおよび他方側の領域53bにそれぞれ1列ずつLED532を配置する場合と比較して光量を大きくすることができるため、より高速に撮像することが可能である。
In the first embodiment, as described above, three rows of
また、第1実施形態では、上記のように、スリット531aの延びる方向の中心線(撮像中心線150)に対して対称な位置にLED532を配置することによって、部品120がヘッドユニット20により撮像中心線150としてのスリット531aの中心線に対応した位置に搬送されて部品撮像装置50により撮像される際に、その部品120に対して、スリット531aの両側から照射ムラが抑制された光を照射することができる。これにより、部品120の撮像にとって良好な照明環境を得ることができる。
Further, in the first embodiment, as described above, the
また、第1実施形態では、上記のように、スリット531aの縁部531bに沿ってLED列C1〜C3を配置することによって、LED列A1〜A3およびLED列B1〜B3のみならず、LED列C1〜C3によっても部品120に対して光を照射することができるので、光量をより大きくすることができる。また、LED列C1〜C3のLED532の発光中心Pをスリット531a側に位置させることによって、LED列C1〜C3のLED532の発光中心Pがスリット531aに近くなるので、LED列C1〜C3のLED532の発光中心Pを撮像の際にスリット531aの上方に位置する部品120に近づけることができる。これにより、部品120に対する照明強度を大きくすることができる。
In the first embodiment, as described above, by arranging the LED rows C1 to C3 along the
(第2実施形態)
図16は、本発明の第2実施形態による表面実装機の下方照明部を示す平面図である。この第2実施形態では、上記第1実施形態と異なり、スリット531aの延びる方向の縁部531bに沿った領域53cに配置されたLED532のうち、一部のLED532の発光中心Pがスリット531aと反対側に位置するように配置された例について説明する。
(Second Embodiment)
FIG. 16 is a plan view showing a lower illumination unit of the surface mounter according to the second embodiment of the present invention. In the second embodiment, unlike the first embodiment, among the
第2実施形態の下方照明部200では、図16に示すように、スリット531aの延びる方向の縁部531bに沿った領域53cにY方向にずれることなく配置された3列のLED列C1〜C3のLED532のうち、撮像中心線150上に配置されたLED列C2のLED532の発光中心Pがスリット531a側に位置するように配置されている一方、LED列C1およびC3のLED532の発光中心Pがスリット531aと反対側に位置するように配置されている。なお、その他のLED532の配置は、上記第1実施形態と同様であるので、説明を省略する。
In the
第2実施形態では、スリット531aの延びる方向の縁部531bに沿った領域53cに配置されたLED532のうち、LED列C1およびC3のLED532の発光中心Pをスリット531aと反対側に位置するように配置することによって、撮像時において、LED列C1およびC3のLED532の発光中心Pからスリット531aの上方に位置する部品120までの距離を大きくすることができる。これにより、LED列C1およびC3のLED532がスリット531a側に位置している場合と比較して、LED列C1およびC3のLED532から照射された光により部品120に対してより広範囲に渡って光を照射することができる。これにより、上記第1実施形態のLED配置と比較して、部品120のY方向両端部の照射ムラが生じるのをより抑制することができる。
In the second embodiment, among the
(第3実施形態)
図17は、本発明の第3実施形態による表面実装機の下方照明部を示す平面図である。この第3実施形態では、上記第1実施形態と異なり、撮像中心線150に対して一方側および他方側の互いに対応するLED列のLED532の発光中心Pが撮像中心線150と平行な方向に等間隔で交互に配置されるように一方側のLED列と他方側のLED列とをずらした例について説明する。
(Third embodiment)
FIG. 17 is a plan view showing a lower illumination unit of the surface mounter according to the third embodiment of the present invention. In the third embodiment, unlike the first embodiment, the emission center P of the
第3実施形態の下方照明部300では、図17に示すように、一方側の領域53aのLED532の発光中心Pは、撮像中心線150と平行なY1方向側に配置されているとともに、他方側の領域53bのLED532の発光中心Pは、Y1方向と反対のY2方向側に配置されている。また、一方側の領域53aのLED列A1、A2およびA3は、それぞれ、他方側の領域53bのLED列B1、B2およびB3に対して所定の距離(間隔)L4だけ撮像中心線150と平行な方向にずれて配置されている。これにより、一方側のLED列A1のLED532の発光中心Pと、他方側のLED列B1のLED532の発光中心Pとが、撮像中心線150と平行な方向に等間隔(ずれ量D4)で交互に配置されるように構成されている。同様に、一方側のLED列A2と他方側のLED列B2、および、一方側のLED列A3と他方側のLED列B3との間においても、発光中心Pが撮像中心線150と平行な方向に等間隔(ずれ量D4)で交互に配置されるように構成されている。
In the
ここで、第3実施形態では、上記した一方側の領域53aのLED532と、対応する他方側の領域53bのLED532との間のY方向の間隔(Y方向の位置ずれ量)L4は、各列のLED532の発光中心P間のピッチ(間隔)L5の1/2(1/2ピッチ)よりも小さい。なお、その他の構成は、上記第1実施形態と同様であるので説明を省略する。
Here, in the third embodiment, the Y-direction interval (Y-direction misalignment amount) L4 between the
第3実施形態の下方照明部300では、上記のように、一方側の領域53aと他方側の領域53bとで互いに対応するLED列のLED532を、発光中心Pが撮像中心線150と平行な方向に等間隔になるように配置することによって、一方側のLED列のLED532の照明光の強度が最も弱い領域と、他方側のLED列のLED532の照明光が最も強い領域とを重ねることができるので、上記第1実施形態と比較して、照射ムラが生じるのをより抑制することができる。
In the
また、第3実施形態では、一方側の領域53aのLED532の発光中心Pを撮像中心線150と平行なY1方向側に配置するとともに、他方側の領域53bのLED532の発光中心をY1方向と反対のY2方向側に配置することによって、発光中心が幾何学的中心に位置するLEDを用いた場合と異なり、各列のLED532の発光中心P間のピッチ(間隔)L5の1/2(1/2ピッチ)よりも少ないずらし量(間隔L4)分だけ一方側のLED列と他方側のLED列とを互いにずらすだけで、一方側と他方側とで互いに対応するLED列のLED532を撮像中心線150と平行な方向に等間隔(ずれ量D4)で交互に配置することができる。したがって、この第3実施形態においても、LED列A1〜A3およびLED列B1〜B3を配置するための領域(LED取付基板531)の撮像中心線150に沿った方向の長さが大きくなるのを抑制しながら、撮像中心線150に沿った方向の照射ムラが生じるのをより抑制することができる。その結果、部品撮像装置50(表面実装機100)が大型化するのを抑制しながら、撮像中心線150に沿った方向の照射ムラが生じるのを抑制することができる。
In the third embodiment, the light emission center P of the
(第4実施形態)
図18は、本発明の第4実施形態によるICハンドラー(部品試験装置)を示す斜視図である。この第4実施形態では、上記第1実施形態の下方照明部53をICハンドラー400に適用した例について説明する。
(Fourth embodiment)
FIG. 18 is a perspective view showing an IC handler (component testing apparatus) according to the fourth embodiment of the present invention. In the fourth embodiment, an example in which the
第4実施形態によるICハンドラー400は、パッケージングされて完成した電子部品の検査を行うとともに、その検査結果に基づき良品、不良品などに分類する装置である。このICハンドラー400は、基台401と、基台401上に配置されるとともに電子部品が収納されたトレイが配置される部品収納部402(トレイは図示せず)と、基台401の内部に配置され、電子部品の検査のために電子部品が装填される複数の検査用ソケット403とを備えている。部品収納部402は、未検査の電子部品が収納されたトレイ支持部402aと、検査後に良品であると判定された電子部品を収納するトレイ支持部402bと、検査後に不良品であると判定された電子部品を収納するトレイ支持部402cとを含んでいる。
The
また、ICハンドラー400は、部品収納部402と検査用ソケット403との間で電子部品を搬送する2つの部品移動装置404をさらに備えている。部品移動装置404は、基台401上に設けられた一対のレール405に沿ってY方向に移動可能な移動部406と、移動部406をY方向に移動するためのボールネジ式の駆動装置407とを含んでいる。また、移動部406は、電子部品を吸着するための吸着ノズル(図示せず)を有するヘッドユニット408を有する。吸着ノズルは、上記第1実施形態と同様に部品の姿勢を補正する機能を有する。このヘッドユニット408は、移動部406に対してX方向に相対移動可能に構成されている。部品移動装置404は、電子部品をヘッドユニット408の吸着ノズルにより保持した状態でヘッドユニット408をXY方向に移動させることにより、部品収納部402と検査用ソケット403との間で電子部品を搬送するように構成されている。
The
ここで、第4実施形態では、ヘッドユニット408に対してY方向に移動可能に構成されるとともに、ヘッドユニット408の吸着ノズルに保持された電子部品の下面を撮像するための部品撮像装置409が設けられている。この部品撮像装置409の照明部409aは、上記第1実施形態の下方照明部53と同様に構成されている。なお、部品撮像装置409の構成は、上記第1実施形態の部品撮像装置50と同様であるので、詳細な説明を省略する。部品撮像装置409によってヘッドユニット408の吸着ノズルに保持された電子部品の撮像を行うことにより、その撮像画像に基づいて電子部品の姿勢を正確に認識し、検査用ソケット403に装填する位置を補正することが可能である。
Here, in the fourth embodiment, the
第4実施形態では、上記のように、ICハンドラー400の撮像装置409の照明部409aとして、上記第1実施形態の下方照明部53と同様に構成された照明部409aを用いることによって、照明部409aが大型化するのを抑制しながら、撮像中心線150(図15参照)に沿った方向の照射ムラが生じるのを抑制することができる。これにより、ICハンドラー400が大型化するのを抑制しながら、電子部品の姿勢を正確に認識し、検査用ソケット403に装填する位置を補正することができる。
In the fourth embodiment, as described above, the
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれる。 The embodiment disclosed this time should be considered as illustrative in all points and not restrictive. The scope of the present invention is shown not by the above description of the embodiments but by the scope of claims for patent, and further includes all modifications within the meaning and scope equivalent to the scope of claims for patent.
たとえば、上記第1実施形態では、撮像中心線150に対して一方側の領域53aの複数のLED532の発光中心Pを幾何学的中心Gに対して全て同じY1方向側に配置した例を示したが、本発明はこれに限らず、一方側の領域53aにおいて、1つのLED列のLEDの発光中心Pの向きを他のLED列のLEDの発光中心Pの向きと逆向きとなるようにLEDを配置してもよい。たとえば、図19に示す第1実施形態の第1変形例の下方照明部500のように、LED列A2のLED532の発光中心PをY2方向側に位置させるとともに、LED列A1およびLED列A3のLED532の発光中心PをY2方向と逆のY1方向側に配置してもよい。この場合、他方側の領域53bにおいては、LED列B2のLED532の発光中心PをY1方向側に位置させるとともに、LED列B1およびLED列B3のLED532の発光中心PをY1方向と逆のY2方向側に配置させる。
For example, in the first embodiment, the example in which the emission centers P of the plurality of
また、上記第1実施形態では、撮像中心線150に対して一方側の領域53aおよび他方側の領域53bにそれぞれ3列のLED列を配置した例を示したが、本発明はこれに限らず、図20に示す第1実施形態の第2変形例の下方照明部600のように、一方側の領域53aおよび他方側の領域53bに、それぞれ、2列ずつのLED列A1、A2、B1およびB2を配置してもよい。また、この第2変形例では、スリット531aの縁部531bに沿った領域53cに、2列のLED列C1およびC2が配置されている。なお、LED列は1列であってもよいし、4列以上であってもよい。
In the first embodiment, the example in which three LED rows are arranged in each of the
また、上記第1実施形態では、3列のLED列にそれぞれ含まれるLEDの個数をスリットに近い側から順に少なくなるように構成した例を示したが、本発明はこれに限らず、スリットに近い側から順に多くなるように構成してもよいし、各LED列のLEDの個数を同じにしてもよい。 In the first embodiment, the example in which the number of LEDs included in each of the three LED rows is reduced in order from the side closer to the slit is shown. However, the present invention is not limited thereto, and You may comprise so that it may increase in an order from the near side, and you may make the number of LED of each LED row | line | column the same.
また、上記第1実施形態では、下方照明部53のLED取付基板531に長方形状のスリット531aを設けた例を示したが、本発明はこれに限らず、撮像対象の部品によって楕円形状などの長方形状以外の形状のスリットを設けてもよい。
Moreover, although the example which provided the rectangular-shaped
また、上記第1実施形態では、撮像中心線150に対して一方側の領域53aのLEDが他方側の領域53bのLEDに対して平面内で180度回転された状態で撮像中心線150と平行に配置した例を示したが、本発明はこれに限らず、一方側の領域のLEDが他方側の領域のLEDに対して平面内で180度回転された状態でLEDを撮像中心線150に対して所定の角度傾斜するように配置してもよい。また、一方側のLEDを、他方側のLEDに対して平面内で180度と異なる角度で逆向きに回転された状態で配置するようにしてもよい。
In the first embodiment, the LED in one
また、上記第1実施形態では、イメージセンサとして6つのラインセンサからなるTDIセンサを用いた例を示したが、本発明はこれに限らず、1つのラインセンサを用いてもよい。 Moreover, although the example which used the TDI sensor which consists of six line sensors as an image sensor was shown in the said 1st Embodiment, this invention is not limited to this, You may use one line sensor.
また、上記第1〜第4実施形態では、本発明の部品撮像装置を表面実装機100および部品試験装置(ICハンドラー400)に適用した例を示したが、本発明の部品撮像装置は表面実装機および部品試験装置以外の機器や装置にも広く適用することが可能である。
In the first to fourth embodiments, the component imaging apparatus of the present invention is applied to the
1 基台
20 ヘッドユニット
50 部品撮像装置
52 部品認識用カメラ(撮像部)
53、200、300、500、600 下方照明部(照明部)
54 側方照明部(照明部)
100 表面実装機
110 プリント基板(基板)
120 部品
150、151 撮像中心線
400 ICハンドラー(部品試験装置)
531、541 LED取付基板(発光素子取付部)
531a スリット
531b 縁部
532、542 LED(発光素子)
532c LED素子
A1、A2、A3 LED列(第1発光素子)
B1、B2、B3 LED列(第2発光素子)
C1、C2、C3 LED列(第3発光素子)
G 幾何学的中心
P 発光中心
DESCRIPTION OF
53, 200, 300, 500, 600 Downward illumination unit (illumination unit)
54 Side illumination unit (illumination unit)
100
120
531, 541 LED mounting board (light emitting element mounting portion)
532c LED element A1, A2, A3 LED row (first light emitting element)
B1, B2, B3 LED row (second light emitting element)
C1, C2, C3 LED array (third light emitting element)
G Geometric center P Luminescent center
Claims (8)
平面的に見て、幾何学的中心に対して位置がずれた発光中心を有する複数の発光素子と、
前記複数の発光素子が配置され、前記部品を撮像する前記撮像部の撮像中心線に対して一方側および他方側の配置領域を有する発光素子取付部とを備え、
前記発光素子の少なくとも一部は、
前記発光素子取付部の一方側の配置領域に配置され、前記発光中心が前記幾何学的中心に対して前記撮像中心線に沿った第1の方向側に位置する第1発光素子と、
前記発光素子取付部の他方側の配置領域に前記第1発光素子に対応するように配置され、前記発光中心が前記幾何学的中心に対して前記第1の方向とは反対の前記撮像中心線に沿った第2の方向側に位置する第2発光素子とを含む、部品撮像装置。 A component imaging device used when imaging an image of a component conveyed by a head unit by an imaging unit,
A plurality of light emitting elements having a light emission center whose position is shifted from a geometric center in plan view;
A plurality of light emitting elements arranged, and a light emitting element mounting portion having arrangement regions on one side and the other side with respect to an imaging center line of the imaging unit that images the component,
At least a part of the light emitting element is
A first light emitting element that is disposed in an arrangement region on one side of the light emitting element mounting portion, and wherein the light emission center is located on a first direction side along the imaging center line with respect to the geometric center;
The imaging center line disposed in the arrangement region on the other side of the light emitting element mounting portion so as to correspond to the first light emitting element, and the light emission center being opposite to the first direction with respect to the geometric center And a second light emitting element located on the second direction side along the component imaging device.
前記対称に配置された前記第1発光素子および前記第2発光素子のそれぞれの発光中心は、前記撮像中心線に平行な方向に所定の距離だけ互いにずれている、請求項1または2に記載の部品撮像装置。 The first light-emitting element and the second light-emitting element are disposed at substantially symmetrical positions with respect to the imaging center line in the arrangement regions on one side and the other side of the light-emitting element mounting portion, respectively.
3. The light emission center of each of the first light emitting element and the second light emitting element arranged symmetrically is shifted from each other by a predetermined distance in a direction parallel to the imaging center line. Component imaging device.
互いに対応する列の前記第1発光素子および前記第2発光素子は、それぞれ、前記発光素子取付部の一方側および他方側の配置領域において、前記発光素子取付部の撮像中心線に対して略対称な位置に配置されており、かつ、互いに対応する列の前記第1発光素子および前記第2発光素子の発光中心は、前記撮像中心線に平行な方向に所定の距離だけ互いにずれている、請求項3に記載の部品撮像装置。 The first light emitting element and the second light emitting element are respectively arranged in a plurality of rows in a row in the arrangement region on one side and the other side of the light emitting element mounting portion,
The first light-emitting element and the second light-emitting element in the columns corresponding to each other are substantially symmetric with respect to the imaging center line of the light-emitting element mounting part in the arrangement region on one side and the other side of the light-emitting element mounting part, respectively The light emitting centers of the first light emitting element and the second light emitting element in the columns corresponding to each other are shifted from each other by a predetermined distance in a direction parallel to the imaging center line. Item imaging apparatus according to Item 3.
スリットを含み、
前記第1発光素子および前記第2発光素子は、それぞれ、前記発光素子取付部の一方側および他方側の配置領域において、前記スリットの延びる方向の中心線に対して略対称な位置に配置されている、請求項1〜4のいずれか1項に記載の部品撮像装置。 The light emitting element mounting portion includes a slit for passing imaging light provided along the imaging center line,
The first light-emitting element and the second light-emitting element are arranged at positions substantially symmetrical with respect to the center line in the extending direction of the slit in the arrangement regions on one side and the other side of the light-emitting element mounting portion, respectively. The component imaging device according to any one of claims 1 to 4.
前記ヘッドユニットにより搬送される前記部品を撮像する撮像部と、
前記部品を前記撮像部により撮像する際に用いる照明部とを備え、
前記照明部は、
平面的に見て、幾何学的中心に対して位置がずれた発光中心を有する複数の発光素子と、
前記複数の発光素子が配置され、前記部品を撮像する際の撮像中心線に対して一方側および他方側の配置領域を有する発光素子取付部とを含み、
前記発光素子の少なくとも一部は、
前記発光素子取付部の一方側の配置領域に配置され、前記発光中心が前記幾何学的中心に対して前記撮像中心線に沿った第1の方向側に位置する第1発光素子と、
前記発光素子取付部の他方側の配置領域に前記第1発光素子に対応するように配置され、前記発光中心が前記幾何学的中心に対して前記第1の方向とは反対の前記撮像中心線に沿った第2の方向側に位置する第2発光素子とを有する、表面実装機。 A head unit for transporting the component and mounting the component on a substrate;
An imaging unit that images the component conveyed by the head unit;
An illumination unit used when imaging the component by the imaging unit,
The illumination unit is
A plurality of light emitting elements having a light emission center whose position is shifted from a geometric center in plan view;
A plurality of light emitting elements are disposed, and includes a light emitting element mounting portion having arrangement regions on one side and the other side with respect to an imaging center line when imaging the component;
At least a part of the light emitting element is
A first light emitting element that is disposed in an arrangement region on one side of the light emitting element mounting portion, and wherein the light emission center is located on a first direction side along the imaging center line with respect to the geometric center;
The imaging center line disposed in the arrangement region on the other side of the light emitting element mounting portion so as to correspond to the first light emitting element, and the light emission center being opposite to the first direction with respect to the geometric center And a second light emitting element located on the second direction side along the surface mounting machine.
複数の被検査用電子部品を未検査部品用トレイから搬送し、前記複数の検査用ソケットに装填した後に検査済み部品用トレイに搬送するヘッドユニットと、
前記ヘッドユニットにより搬送される前記部品を撮像する撮像部と、
前記部品を前記撮像部により撮像する際に用いる照明部とを備え、
前記照明部は、
平面的に見て、幾何学的中心に対して位置がずれた発光中心を有する複数の発光素子と、
前記複数の発光素子が配置され、前記部品を撮像する際の撮像中心線に対して一方側および他方側の配置領域を有する発光素子取付部とを含み、
前記発光素子の少なくとも一部は、
前記発光素子取付部の一方側の配置領域に配置され、前記発光中心が前記幾何学的中心に対して前記撮像中心線に沿った第1の方向側に位置する第1発光素子と、
前記発光素子取付部の他方側の配置領域に前記第1発光素子に対応するように配置され、前記発光中心が前記幾何学的中心に対して前記第1の方向とは反対の前記撮像中心線に沿った第2の方向側に位置する第2発光素子とを有する、部品試験装置。 A base supporting a plurality of inspection sockets loaded with electronic components to be inspected;
A head unit for transporting a plurality of electronic components to be inspected from an uninspected component tray and loading the plurality of electronic components to the inspected component tray after loading the plurality of inspection sockets;
An imaging unit that images the component conveyed by the head unit;
An illumination unit used when imaging the component by the imaging unit;
The illumination unit is
A plurality of light emitting elements having a light emission center shifted in position with respect to a geometric center in plan view;
A plurality of light emitting elements are disposed, and includes a light emitting element mounting portion having an arrangement region on one side and the other side with respect to an imaging center line when imaging the component;
At least a part of the light emitting element is
A first light emitting element that is disposed in an arrangement region on one side of the light emitting element mounting portion, and the light emission center is located on a first direction side along the imaging center line with respect to the geometric center;
The imaging center line disposed in the arrangement region on the other side of the light emitting element mounting portion so as to correspond to the first light emitting element, and the light emission center being opposite to the first direction with respect to the geometric center And a second light emitting element located on the second direction side along the line.
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Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2010087408A1 (en) | 2009-01-30 | 2010-08-05 | 株式会社資生堂 | Double container, inner container and outer container |
| WO2015016308A1 (en) * | 2013-08-01 | 2015-02-05 | シーシーエス株式会社 | Light source apparatus |
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