JP2009162963A - Confocal microscope and scanning method - Google Patents
Confocal microscope and scanning method Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009162963A JP2009162963A JP2008000035A JP2008000035A JP2009162963A JP 2009162963 A JP2009162963 A JP 2009162963A JP 2008000035 A JP2008000035 A JP 2008000035A JP 2008000035 A JP2008000035 A JP 2008000035A JP 2009162963 A JP2009162963 A JP 2009162963A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- objective lens
- subject
- confocal microscope
- light
- scanning
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 17
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 64
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 14
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 description 5
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 4
- 238000012356 Product development Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Abstract
Description
本発明は、光学顕微鏡の光学系を介して被検体を光で走査することにより、被検体の表面情報を測定する装置に関わり、特に共焦点顕微鏡に関する。 The present invention relates to an apparatus for measuring surface information of a subject by scanning the subject with light through an optical system of an optical microscope, and more particularly to a confocal microscope.
共焦点顕微鏡は、被検体に照明し、被検体からの反射光が共焦点絞りを通過する光の強度を光検出器で検出し、被検体の焦点深度の深い画像や、3次元画像を取得する広く馴染みのある3次元顕微鏡である。 The confocal microscope illuminates the subject, detects the intensity of the light reflected from the subject through the confocal stop with a photodetector, and acquires an image with a deep focal depth or a three-dimensional image of the subject. It is a widely familiar three-dimensional microscope.
図12は、IZカーブと呼ばれる曲線で、対物レンズと被検体の相対位置Zと、被検体から反射される光の強度Iの関係を表したものであり、対物レンズの焦点位置と被検体が一致した時に最も光の強度が高くなることを示している。 FIG. 12 is a curve called an IZ curve, which shows the relationship between the relative position Z between the objective lens and the subject and the intensity I of the light reflected from the subject. The focal position of the objective lens and the subject are It shows that the light intensity is highest when the values match.
共焦点顕微鏡では、この原理を利用し、例えば、Z駆動機構によって対物レンズを顕微鏡の光軸方向に移動させて、被検体の表面付近をZ方向に走査させ、光検出器で最も光の強度が高くなった時のZ駆動機構のZ方向の位置から被検体の高さを求めることが出来る。なお、ここでZ方向とは、光源からの光を被検体に照射する光軸方向をZ方向としており、共焦点顕微鏡のZ駆動機構はこのZ方向に対物レンズを動かす。 In the confocal microscope, this principle is used, for example, the objective lens is moved in the optical axis direction of the microscope by the Z drive mechanism, and the vicinity of the surface of the subject is scanned in the Z direction. The height of the subject can be obtained from the position in the Z direction of the Z drive mechanism when becomes high. Here, in the Z direction, the optical axis direction for irradiating the subject with light from the light source is the Z direction, and the Z drive mechanism of the confocal microscope moves the objective lens in this Z direction.
また、被検体の表面付近を含む様に、最低3点以上のIとZの情報とを得て、近似曲線により図12のようなIZカーブを求め、被検体の表面位置を推定する技術が、特許文献1に開示されている。 Further, there is a technique for obtaining information on I and Z at least three points so as to include the vicinity of the surface of the subject, obtaining an IZ curve as shown in FIG. 12 by an approximate curve, and estimating the surface position of the subject. Patent Document 1 discloses this.
この様に、共焦点顕微鏡で被検体の表面形状の高さ情報を得るには、IZカーブ内に被検体の表面を含む様に予めZ方向の走査範囲を決める必要がある。
一般的に、このZ方向の走査範囲を決める方法としては、操作者が3次元画像を取得毎に、共焦点等で被検体の表面位置が含まれる様に確認しながらZ走査範囲を決定する作業を行なうこととなる。そのため、操作の負担が大きくなり、また3次元画像取得までに多大な時間を要してしまう。
As described above, in order to obtain the height information of the surface shape of the subject with the confocal microscope, it is necessary to determine the scanning range in the Z direction in advance so that the surface of the subject is included in the IZ curve.
In general, as a method of determining the scanning range in the Z direction, every time the operator acquires a three-dimensional image, the Z scanning range is determined while confirming that the surface position of the subject is included at a confocal point or the like. Work will be done. Therefore, the burden of operation becomes large, and a great deal of time is required until acquiring a three-dimensional image.
更に、前述したIZカーブは対物レンズの倍率(実際には、NAであるが、市販されている対物レンズは、倍率とNAは比例関係にある)が高くなるほどZ分解能も高くなり、被検体のサイズに適した分解能に合わせて観察出来る様に、図13の様に複数の対物レンズを搭載した共焦点顕微鏡が広く知られている。 Further, the IZ curve described above indicates that the higher the magnification of the objective lens (actually NA is, but the commercially available objective lens has a proportional relationship between the magnification and NA), the higher the Z resolution, and the higher the Z resolution. A confocal microscope equipped with a plurality of objective lenses as shown in FIG. 13 is widely known so that observation can be performed in accordance with a resolution suitable for the size.
図13の共焦点顕微鏡200では、複数の対物レンズ201−1〜201−nがレボルバー202に固定されており、操作者はレボルバー202を走査することで試料ステージ203上の被検体204に対する対物レンズ201を変更できる。 In the confocal microscope 200 of FIG. 13, a plurality of objective lenses 201-1 to 201-n are fixed to the revolver 202, and the operator scans the revolver 202 to objective lenses for the subject 204 on the sample stage 203. 201 can be changed.
図13のような複数の対物レンズを搭載した共焦点顕微鏡200では、低倍率の対物レンズ201から、高倍率の対物レンズ201に連続的に切替え、観察倍率と分解能を上げて3次元形状を取得する場合、操作者は、対物レンズ201を変更する都度に、上述したZ走査範囲を決める作業を強いられることになり、総合的に多大な時間を浪費することになる。 In the confocal microscope 200 equipped with a plurality of objective lenses as shown in FIG. 13, a low-magnification objective lens 201 is continuously switched to a high-magnification objective lens 201 to obtain a three-dimensional shape by increasing the observation magnification and resolution. In this case, the operator is forced to perform the above-described operation for determining the Z scanning range every time the objective lens 201 is changed, and a total amount of time is wasted.
これらの問題を解決する為に、特許文献2及び特許文献3では、3次元形状を取得する前に、共焦点顕微鏡が半自動的にZ走査範囲を決める提案がなされている。
しかしながら、上記した各特許文献に開示のある方法には以下の様な問題がある。
特許文献2及び特許文献3の方法では、操作者の負担の問題は軽減されているが、3次元形状を取得する前に、Z走査範囲を決める作業を排除出来ていない為、時間を浪費する問題は残っている。
However, the methods disclosed in the above patent documents have the following problems.
In the methods of Patent Document 2 and Patent Document 3, the problem of the burden on the operator is reduced, but time is wasted because the task of determining the Z scanning range cannot be excluded before acquiring the three-dimensional shape. The problem remains.
更には、Z走査範囲を半自動的に決定する為の複雑な演算プログラムが必要で、製品の開発コストがかかるという問題も新たに出てくる。
本発明は、上記問題を鑑みてなされたものであり、対物レンズを切替えても、操作者がZ範囲を都度設定する必要が無く、且つ安価な共焦点顕微鏡及び走査方法を提供することを目的とする。
Furthermore, a complicated calculation program for semi-automatically determining the Z scanning range is required, and a new problem arises that the product development cost is high.
The present invention has been made in view of the above problems, and it is an object of the present invention to provide an inexpensive confocal microscope and scanning method that does not require the operator to set the Z range each time even when the objective lens is switched. And
本発明による共焦点顕微鏡は、光源からの光を被検体に集光させるための複数の対物レンズと、前記対物レンズで集光した光を被検体の表面に沿って相対的に走査させるXY走査部と、前記複数の対物レンズを切替える対物レンズ切替え部と、前記被検体と前記対物レンズとを相対的に観察光学系の光軸に沿って移動させるZ駆動部と、前記被検体で反射された光の強度を検出する光検出部と、前記Z駆動部により、前記被検体と前記対物レンズとを相対的に前記観察光学系の光軸に沿って移動させるZ走査範囲を、前記複数の対物レンズそれぞれに対応させて記憶する記憶部と、前記Z走査範囲を使用して前記Z駆動部を制御する制御部と、を備えることを特徴とする。 A confocal microscope according to the present invention includes a plurality of objective lenses for condensing light from a light source on a subject, and XY scanning for relatively scanning the light collected by the objective lens along the surface of the subject. An objective lens switching unit that switches between the plurality of objective lenses, a Z drive unit that relatively moves the subject and the objective lens along the optical axis of the observation optical system, and is reflected by the subject. A Z scanning range in which the subject and the objective lens are relatively moved along the optical axis of the observation optical system by the light detection unit for detecting the intensity of the detected light and the Z drive unit. A storage unit that stores data corresponding to each objective lens and a control unit that controls the Z driving unit using the Z scanning range are provided.
また本発明による共焦点顕微鏡による、観察光学系の光軸に沿って移動させて走査する走査方法は、使用している対物レンズに基づいて、被検体と前記対物レンズとを相対的に前記観察光学系の光軸に沿って移動させるZ走査範囲を読み出し、前記Z走査範囲を使用して、前記被検体と前記対物レンズとを相対的に前記観察光学系の光軸に沿って移動させることを特徴とする。 Further, the scanning method for scanning by moving along the optical axis of the observation optical system by the confocal microscope according to the present invention is based on the objective lens being used, and the object and the objective lens are relatively relative to each other. A Z scanning range to be moved along the optical axis of the optical system is read, and the subject and the objective lens are relatively moved along the optical axis of the observation optical system using the Z scanning range. It is characterized by.
本発明によれば、対物レンズを切替えて使用した場合でも、操作者がZ範囲を都度設定しなくても共焦点画像の取得が可能となる。
また制御プログラムが簡単になり、安価に実現することが出来る。
According to the present invention, even when the objective lens is switched and used, a confocal image can be acquired without the operator having to set the Z range each time.
Also, the control program is simplified and can be realized at low cost.
以下に図面を参照しながら本発明の一実施形態について説明する。
図1は、第1実施形態による共焦点顕微鏡装置の構成を示す図である。
図1に示されるように、本実施形態の共焦点顕微鏡100は、光のビーム、例えばレーザ光を発する光源部11、光源部11からの光のビームを二次元的に走査する二次元走査機構14、及び走査される光のビームを収束させて、光軸に垂直な方向に2次元方向に走査するXYステージ2に置かれた被検体1表面に光スポットを形成する対物レンズ3を有している。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.
FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration of a confocal microscope apparatus according to the first embodiment.
As shown in FIG. 1, the confocal microscope 100 according to the present embodiment includes a light beam, for example, a light source unit 11 that emits laser light, and a two-dimensional scanning mechanism that two-dimensionally scans a light beam from the light source unit 11. 14 and an objective lens 3 that converges the beam of light to be scanned and forms a light spot on the surface of the subject 1 placed on the XY stage 2 that scans in a two-dimensional direction in a direction perpendicular to the optical axis. ing.
対物レンズ3は、対物レンズ3よりも高い倍率とNAを持つ対物レンズ4と共に、複数の対物レンズを光学系内外に切替える為のレボルバー5に固定され、レボルバー5は、レボルバー5と、対物レンズ3と対物レンズ4を光軸に沿って移動させるZ移動機構6に固定されている。更に、Z移動機構6には、対物レンズ3の光軸に沿った移動量を計測するZスケール7を有している。 The objective lens 3 is fixed to a revolver 5 for switching a plurality of objective lenses into and out of the optical system together with an objective lens 4 having a higher magnification and NA than the objective lens 3, and the revolver 5 includes the revolver 5 and the objective lens 3 Are fixed to a Z moving mechanism 6 for moving the objective lens 4 along the optical axis. Further, the Z movement mechanism 6 has a Z scale 7 for measuring the movement amount of the objective lens 3 along the optical axis.
光源部11と二次元走査機構14の間の光路上にPBS(偏光ビームスプリッター)12を有し、二次元走査機構14と対物レンズ3の間の光路上に、瞳投影レンズ8、結像レンズ9、及び1/4波長板10を有している。PBS12は、1/4波長板10と共働して、被検体1からの反射光のビームを、被検体1に向かう光のビームから、偏光に基づいて選択的に分離する。二次元走査機構14は、例えば高速スキャンが可能な二つのガルバノミラーを組み合わせて構成される。また、二次元走査機構14は、対物レンズ3の瞳と共役な位置に配置されている。 A PBS (polarization beam splitter) 12 is provided on the optical path between the light source unit 11 and the two-dimensional scanning mechanism 14, and the pupil projection lens 8 and the imaging lens are provided on the optical path between the two-dimensional scanning mechanism 14 and the objective lens 3. 9 and quarter-wave plate 10. The PBS 12 cooperates with the quarter wavelength plate 10 to selectively separate the reflected light beam from the subject 1 from the light beam toward the subject 1 based on the polarization. The two-dimensional scanning mechanism 14 is configured by combining two galvanometer mirrors capable of high-speed scanning, for example. The two-dimensional scanning mechanism 14 is disposed at a position conjugate with the pupil of the objective lens 3.
光検出器13は、PBS12で分散された光のビームを収束する収束レンズ24で収束された反射光を検出する。
制御部16は、コンピュータ17と接続され、コンピュータ17に接続された指示入力部20(例えばキーボードやポインティングデバイス等)から指示を受け、XYステージ2、レボルバー5、Z移動機構6、及び二次元走査機構14への制御を行う。また制御部16は、上記した制御対象の制御量、光検出器13で得られた輝度値や、Zスケール7、XYステージ2からの変位(座標値)を受取り、コンピュータ17にこれらを示すデータを伝える。
The photodetector 13 detects reflected light converged by a converging lens 24 that converges the beam of light dispersed by the PBS 12.
The control unit 16 is connected to the computer 17 and receives an instruction from an instruction input unit 20 (for example, a keyboard or a pointing device) connected to the computer 17, and the XY stage 2, the revolver 5, the Z moving mechanism 6, and two-dimensional scanning. Control to the mechanism 14 is performed. Further, the control unit 16 receives the control amount to be controlled, the luminance value obtained by the light detector 13 and the displacement (coordinate value) from the Z scale 7 and the XY stage 2, and data indicating these to the computer 17. Tell.
コンピュータ17には、測定結果や測定条件等を表示する表示部21や、上記した指示入力部20が接続される。また、コンピュータ17の内部には、制御部16からのデータを一時的に記憶したり、演算結果や各種条件、指示入力部20からの命令に基づいて3次元画像取得を行う一連の動作を記憶したりするための記憶部18、及び各種演算を行う演算処理部19を備える。 The computer 17 is connected to a display unit 21 for displaying measurement results, measurement conditions, and the like, and the instruction input unit 20 described above. Further, inside the computer 17, data from the control unit 16 is temporarily stored, and a series of operations for acquiring a three-dimensional image based on calculation results, various conditions, and instructions from the instruction input unit 20 are stored. And an arithmetic processing unit 19 that performs various calculations.
記憶部18には、対物レンズ3及び対物レンズ4それぞれに対応させて、光軸に沿って移動させるZ移動機構6の距離をZ走査範囲α22、Z走査範囲β23として記憶されている。このZ走査範囲α22、Z走査範囲β23は、それぞれの対物レンズの倍率や、NA等の各対物レンズ個別の情報を元に決められる。制御部16は、レボルバ5を駆動して対物レンズを変更するとそれに基づいて、変更した対物レンズに対応するZ走査範囲が設定され、設定されたZ走査範囲に基づいてZ方向の走査を行なう。 The storage unit 18 stores the distances of the Z moving mechanism 6 that moves along the optical axis in correspondence with the objective lens 3 and the objective lens 4 as a Z scanning range α22 and a Z scanning range β23, respectively. The Z scanning range α22 and the Z scanning range β23 are determined based on the magnification of each objective lens and individual information such as NA. When the revolver 5 is driven to change the objective lens, the control unit 16 sets a Z scanning range corresponding to the changed objective lens, and performs scanning in the Z direction based on the set Z scanning range.
次に、本実施形態による共焦点顕微鏡100の3次元画像取得時の動作を説明する。
図1において、光源部11からの光のビーム15は、PBS12を透通し、二次元走査機構14により二次元的に走査される。二次元走査機構14を経た光のビーム15は、瞳投影レンズ8、結像レンズ9、及び1/4波長板10を経た後、対物レンズ3によって被検体1の表面に収束され、光スポットを形成する。被検体1の内部に形成された光スポットは、二次元走査機構14によるビームの二次元走査に対応して、光軸に直交する平面内で走査される。
Next, the operation of the confocal microscope 100 according to the present embodiment when acquiring a three-dimensional image will be described.
In FIG. 1, the light beam 15 from the light source unit 11 passes through the PBS 12 and is two-dimensionally scanned by the two-dimensional scanning mechanism 14. The light beam 15 that has passed through the two-dimensional scanning mechanism 14 passes through the pupil projection lens 8, the imaging lens 9, and the ¼ wavelength plate 10, and then is converged on the surface of the subject 1 by the objective lens 3, and the light spot is focused. Form. The light spot formed inside the subject 1 is scanned in a plane perpendicular to the optical axis corresponding to the two-dimensional scanning of the beam by the two-dimensional scanning mechanism 14.
被検体1からの反射光のビームは、被検体1への入射時の光路を逆に戻り、対物レンズ3、1/4波長板10、結像レンズ9、瞳投影レンズ8及び二次元走査機構14を経て、PBS12に到達する。 The beam of reflected light from the subject 1 returns to the reverse optical path when entering the subject 1, and the objective lens 3, the quarter wavelength plate 10, the imaging lens 9, the pupil projection lens 8, and the two-dimensional scanning mechanism. 14 and reach the PBS 12.
光源部11から射出される光は直線偏光であり、この光は被検体1の表面に到達する途中で1/4波長板10を通過することにより円偏光に変換される。被検体1の表面で反射された光は、PBS12に到達する間に1/4波長板10を再び通過することにより、円偏光から直線偏光に変換される。この直線偏光は、光源部11からの射出された直後の直線偏光に対して直交している。このため、被検体1の表面からの反射光のビームは、PBS12で反射され、被検体1に向かう光のビーム15から選択的に分離され、検出光のビーム15aとなる。検出光のビーム15aは、収束レンズ24によって収束され、光検出器13に入射する。 The light emitted from the light source unit 11 is linearly polarized light, and this light is converted into circularly polarized light by passing through the quarter-wave plate 10 while reaching the surface of the subject 1. The light reflected by the surface of the subject 1 is converted from circularly polarized light to linearly polarized light by passing through the quarter wavelength plate 10 again while reaching the PBS 12. This linearly polarized light is orthogonal to the linearly polarized light immediately after being emitted from the light source unit 11. For this reason, the reflected light beam from the surface of the subject 1 is reflected by the PBS 12 and selectively separated from the light beam 15 directed toward the subject 1 to become a detection light beam 15a. The detection light beam 15 a is converged by the converging lens 24 and enters the photodetector 13.
光検出器13は、実質的に微小開口として機能する大きさの受光面を有し、その受光面は、被検体1の内部に形成された光スポットに対して共焦点の位置に配置されている。従って、図3に示される光学系は、共焦点光学系を構成している。なお、光検出器13は、実質的に微小開口として機能する大きさの受光面を有しているが、光検出器13の受光面の大きさは通常の大きさのもとし、光検出器13の手前に微小開口(ピンホール)を配置するようにしてもよい。 The photodetector 13 has a light-receiving surface that is substantially sized to function as a minute aperture, and the light-receiving surface is disposed at a confocal position with respect to a light spot formed inside the subject 1. Yes. Therefore, the optical system shown in FIG. 3 constitutes a confocal optical system. The photodetector 13 has a light-receiving surface that is substantially sized to function as a microscopic aperture. However, the size of the light-receiving surface of the photodetector 13 is a normal size, and the photodetector A minute opening (pinhole) may be arranged in front of 13.
光検出器13は、入射した光強度に対応した電気信号を出力する。この光検出器13からの電気信号は、制御部16に取り込まれる。制御部16は、光検出器13からの電気信号と、光スポットの位置情報とに基づいて画像を形成する。この画像は、コンピュータ17を通して、表示部21に表示される。光スポットのX−Y位置情報は、二次元走査機構14の制御信号から求められる。 The photodetector 13 outputs an electrical signal corresponding to the incident light intensity. The electrical signal from the photodetector 13 is taken into the control unit 16. The controller 16 forms an image based on the electrical signal from the photodetector 13 and the position information of the light spot. This image is displayed on the display unit 21 through the computer 17. The XY position information of the light spot is obtained from the control signal of the two-dimensional scanning mechanism 14.
共焦点顕微鏡100では、合焦から外れたZ位置からの反射光の強度は極端に小さいが、合焦位置からの反射光の強度は高く、合焦位置以外からのノイズ光が少い、という特性を利用し、被検体1の表面の高さを検出する。 In the confocal microscope 100, the intensity of reflected light from the Z position out of focus is extremely small, but the intensity of reflected light from the in-focus position is high, and there is little noise light from other than the in-focus position. Using the characteristics, the height of the surface of the subject 1 is detected.
光検出器13で検出される光強度が最大となるように、Z移動機構6により、被検体1に対する対物レンズ3の光軸に沿った位置を調整することにより、光スポットの光軸に沿った位置すなわち合焦位置を、被検体1の表面上に合わせることが可能である。この合焦位置での平面において、光スポットを二次元走査機構14により二次元的に走査することにより、被検体1の表面の画像を得ることができる。 Along the optical axis of the light spot by adjusting the position along the optical axis of the objective lens 3 with respect to the subject 1 by the Z moving mechanism 6 so that the light intensity detected by the photodetector 13 becomes maximum. The position, that is, the in-focus position can be adjusted on the surface of the subject 1. An image of the surface of the subject 1 can be obtained by scanning the light spot two-dimensionally with the two-dimensional scanning mechanism 14 on the plane at the in-focus position.
また、対物レンズ3の光軸に沿った移動をZスケール7により計測することにより、被検体1の表面のZ方向の位置を検出することができる。
なお、このZ位置検出方法は、特許文献1に開示されている、Zスケール7の情報と、各Z位置での光検出器13で得られる電気信号を記憶部18に一旦記憶させておき、演算処理部19がこれら情報より近似曲線を利用してIZカーブを求め、被検体の表面位置を推定する方法でも良い。
Further, by measuring the movement of the objective lens 3 along the optical axis with the Z scale 7, the position of the surface of the subject 1 in the Z direction can be detected.
In this Z position detection method, the information of the Z scale 7 disclosed in Patent Document 1 and the electrical signal obtained by the photodetector 13 at each Z position are temporarily stored in the storage unit 18. A method may be used in which the arithmetic processing unit 19 obtains an IZ curve from these pieces of information using an approximate curve and estimates the surface position of the subject.
これらの動作により、制御部16によって、被検体1の表面形状を高精度に得られたXYZの3次元の情報として、コンピュータ17を通して記憶部18に保存される。また、この3次元情報は、被表示部21に表示される。 By these operations, the control unit 16 stores the surface shape of the subject 1 in the storage unit 18 through the computer 17 as XYZ three-dimensional information obtained with high accuracy. The three-dimensional information is displayed on the display portion 21.
以下に、操作者による本実施形態の共焦点顕微鏡100を用いた被検体1の表面形状を取得するまでの動作を説明する。
操作者は、被検体1をXYステージ2の上に静置し、指示入力部20を使い、XYステージ2を移動させ、対物レンズ3の下に被検体1を略位置決めする。
Hereinafter, the operation until the operator acquires the surface shape of the subject 1 using the confocal microscope 100 of the present embodiment will be described.
The operator places the subject 1 on the XY stage 2, moves the XY stage 2 using the instruction input unit 20, and substantially positions the subject 1 under the objective lens 3.
次に、操作者は、表示部21にリアルタイムに表示される被検体1の表面状態を観察しながら、指示入力部20を操作して、観察したい箇所まで被検体1をXYZの初期位置決めする。 Next, the operator operates the instruction input unit 20 while observing the surface state of the subject 1 displayed on the display unit 21 in real time, and initially positions the subject 1 in the XYZ to a position to be observed.
この時、Z方向の初期位置決めは、顕微鏡で一般的に使われるオートフォーカス機能による位置決めや、別の位置検出センサー等の手段を使う等、被検体1が対物レンズ3の焦点位置付近に位置決め出来ればどのようは方法を用いても良い。 At this time, the initial positioning in the Z direction can be performed by positioning the subject 1 near the focal position of the objective lens 3, such as positioning by an autofocus function generally used in a microscope, or using another means such as a position detection sensor. Any method may be used.
次に、指示入力部20により、3次元画像取得命令を入力すると、記憶部18に記憶されている3次元画像取得を行う一連の動作が実行される。
この一連の動作は、制御部1が、レボルバー5の制御情報を記憶部16から呼び出し、対物レンズ3が光軸上にあることを判断し、記憶部16に記憶されている対物レンズ3の場合に実行されるZ走査範囲α22を読み出し、Z移動機構6をZ走査範囲α22の区間の範囲を駆動する。そして共焦点顕微鏡100の光軸方向に対物レンズ3を移動しながら、光検出器13で検出される光強度が最大となるZ位置を検出する。同時に、上述した二次元走査機構14によるビームの二次元走査も同じに行い、被検体1の3次元形状を取得する。
Next, when a 3D image acquisition command is input by the instruction input unit 20, a series of operations for acquiring a 3D image stored in the storage unit 18 is executed.
In this series of operations, the control unit 1 calls the control information of the revolver 5 from the storage unit 16, determines that the objective lens 3 is on the optical axis, and the objective lens 3 stored in the storage unit 16. The Z scanning range α22 to be executed is read out, and the Z moving mechanism 6 drives the range of the Z scanning range α22. Then, while moving the objective lens 3 in the optical axis direction of the confocal microscope 100, the Z position where the light intensity detected by the photodetector 13 becomes maximum is detected. At the same time, the two-dimensional scanning of the beam by the above-described two-dimensional scanning mechanism 14 is performed in the same manner, and the three-dimensional shape of the subject 1 is acquired.
図2は、Z走査範囲α22で決められている光軸方向の動きの軌跡を表す図である。なお、同図において下方向は、対物レンズが被検体1に近づく方向を示している。
図2において、共焦点顕微鏡100は、対物レンズ3を、Z方向の初期位置50よりZ移動量51分移動して被検体1に接近し、続いてZ移動量52分を移動し被検体1から遠ざける。Z走査範囲α22は、Z移動量51、52の範囲と走査方向等を情報として記憶している。
FIG. 2 is a diagram showing a trajectory of movement in the optical axis direction determined by the Z scanning range α22. In the figure, the downward direction indicates the direction in which the objective lens approaches the subject 1.
In FIG. 2, the confocal microscope 100 moves the objective lens 3 from the initial position 50 in the Z direction by the Z movement amount 51 by approaching the subject 1, and subsequently moves the Z movement amount 52 minutes by the subject 1. Keep away from. The Z scanning range α22 stores the range of the Z movement amounts 51 and 52, the scanning direction, and the like as information.
なおこのZ移動量51、52の移動は、移動方向が逆になる順序でも良いし、Z走査範囲α22は、Z移動量52の値をZ方向の初期位置50を中心とした中心振り分けにし、Z移動量51をZ移動量52の半分(Z走査範囲α/2)の値としても良い。 The movements of the Z movement amounts 51 and 52 may be in the order in which the movement directions are reversed, and the Z scanning range α22 is set such that the value of the Z movement amount 52 is centered around the initial position 50 in the Z direction, The Z movement amount 51 may be half the Z movement amount 52 (Z scanning range α / 2).
上記説明では、対物レンズ3が上記した軌跡で光軸上を移動している間、被検体1の3次元情報を得ることにしているが、Z方向の初期位置50からZ移動量51分を移動している間は3次元情報を取得せずに移動し、Z移動量52分を移動している間だけ被検体1の3次元情報を得る構成としても良い。この場合、3次元情報を取得しない間のZ駆動速度は、3次元情報を取得しているときよりも高速に移動することで、共焦点顕微鏡の高速化を図っても良い。 In the above description, while the objective lens 3 is moving on the optical axis along the locus described above, the three-dimensional information of the subject 1 is obtained, but the Z movement amount 51 minutes from the initial position 50 in the Z direction is obtained. A configuration may be adopted in which the three-dimensional information is acquired without acquiring the three-dimensional information while moving, and the three-dimensional information of the subject 1 is obtained only while the Z movement amount is 52 minutes. In this case, the speed of the confocal microscope may be increased by moving the Z drive speed while not acquiring the three-dimensional information at a higher speed than when acquiring the three-dimensional information.
また、図3の様に、Z移動52分移動した後、Z移動52a移動、Z移動52b移動、・・・と繰り返し、対物レンズ3を被検体1の上方で上下に反復駆動させて、被検体1の3次元情報を連続して取得する構成とすることも出来る。上下の反復運動を繰り返して複数データを取り、これらの平均値を取ることにより、ノイズの影響が小さく精度の高いデータを得ることが出来る。 Further, as shown in FIG. 3, after moving for Z movement 52 minutes, Z movement 52a movement, Z movement 52b movement,... Are repeated, and the objective lens 3 is repeatedly driven up and down above the subject 1 to move the object. A configuration in which the three-dimensional information of the specimen 1 is continuously acquired may be employed. By taking a plurality of data by repeating the up and down repetitive motion and taking the average value of these, it is possible to obtain highly accurate data with little influence of noise.
また、図示しないが、共焦点顕微鏡100に位置検出センサーを設け、被検体1のある位置や、XYステージ2の表面などの位置を検出し、対物レンズ3(対物レンズ4)と被検体1との相対距離を監視し、対物レンズ3と被検体の衝突を避ける構成としても良い。また、位置検出センサーで、対物レンズ3(対物レンズ4)と被検体1の距離が離れすぎないように監視しても良い。 Although not shown, the confocal microscope 100 is provided with a position detection sensor to detect the position of the subject 1 and the position of the surface of the XY stage 2, and the objective lens 3 (objective lens 4) and the subject 1. The relative distance may be monitored to avoid collision between the objective lens 3 and the subject. Further, the position detection sensor may be monitored so that the distance between the objective lens 3 (objective lens 4) and the subject 1 is not too far.
次に操作者が、使用する対物レンズを対物レンズ3よりもより高倍率である対物レンズ4に変更して、被検体1を拡大した(若しくはより高分解能な)3次元形状を取得したい場合、指示入力部20を操作して対物レンズ4に切替える命令を入力すると、制御部16がレボルバー5を回転させて対物レンズ3から対物レンズ4に切替える。 Next, when the operator wants to change the objective lens to be used to the objective lens 4 having a higher magnification than the objective lens 3 and acquire a three-dimensional shape in which the subject 1 is enlarged (or higher resolution), When a command for switching to the objective lens 4 is input by operating the instruction input unit 20, the control unit 16 rotates the revolver 5 to switch from the objective lens 3 to the objective lens 4.
次に操作者が、指示入力部20を操作して3次元画像取得命令を入力すると、演算実行部19によって記憶部18に記憶されているZ走査範囲β23を読み出し、Z走査範囲β23に基づいて3次元画像取得を行う一連の動作が実行する。 Next, when the operator operates the instruction input unit 20 to input a three-dimensional image acquisition command, the arithmetic execution unit 19 reads out the Z scanning range β23 stored in the storage unit 18, and based on the Z scanning range β23. A series of operations for obtaining a three-dimensional image is executed.
これにより上述したZ走査範囲α22を走査する動作と同様の動きをする。
このとき制御部16は、レボルバー5の制御情報を記憶部16から呼び出し、対物レンズ4が光軸上にあることを判断すると共に、記憶部16に記憶されている対物レンズ4の場合にのみ実行されるZ走査範囲β23を呼び出す。そして制御部16は、共焦点顕微鏡100の光軸方向に対物レンズ4を移動させながら、Z移動機構6を制御してZ走査範囲α23の区間を走査すると共に、上述した二次元走査機構14によるビームの二次元走査も行い、被検体1の3次元形状を取得する。
As a result, the same movement as the above-described operation of scanning the Z scanning range α22 is performed.
At this time, the control unit 16 calls the control information of the revolver 5 from the storage unit 16, determines that the objective lens 4 is on the optical axis, and executes only when the objective lens 4 is stored in the storage unit 16. The Z scanning range β23 is called. Then, the control unit 16 controls the Z moving mechanism 6 while moving the objective lens 4 in the optical axis direction of the confocal microscope 100 to scan the section of the Z scanning range α23, and the two-dimensional scanning mechanism 14 described above. Two-dimensional scanning of the beam is also performed, and the three-dimensional shape of the subject 1 is acquired.
Z走査範囲β23で決められている光軸方向の動きの軌跡は、上述したZ走査範囲α22とは、Z移動量51、Z移動量52の距離は異なるが、動作自体はZ走査範囲α22の場合と同様となる。 The trajectory of movement in the optical axis direction determined in the Z scanning range β23 differs from the Z scanning range α22 described above in the distance of the Z movement amount 51 and the Z movement amount 52, but the operation itself is the same as that of the Z scanning range α22. Same as the case.
なお対物レンズ3から対物レンズ4に切替えることをトリガーとして、制御部16が自動的に、記憶部18に記憶されている3次元画像取得を行う一連の動作を実行する構成としても良い。 In addition, it is good also as a structure which performs a series of operation | movement which the control part 16 automatically acquires the three-dimensional image memorize | stored in the memory | storage part 18 by switching to the objective lens 4 from the objective lens 3 as a trigger.
このように本実施形態における共焦点顕微鏡100では、3次元画像を取得する際に、必要な動作である被検体1と対物レンズとを相対的に光学系の光軸に沿って移動させるZ走査の走査範囲を、共焦点顕微鏡100に搭載されている複数の対物レンズそれぞれに対して予め設定してある為、操作者は、どの対物レンズに変更してもZ走査範囲を決める作業を行なう必要が無く、3次元画像を取得出来る。 As described above, in the confocal microscope 100 according to the present embodiment, when acquiring a three-dimensional image, Z scanning that moves the subject 1 and the objective lens relatively along the optical axis of the optical system, which is a necessary operation. Since the scanning range is set in advance for each of the plurality of objective lenses mounted on the confocal microscope 100, the operator needs to work to determine the Z scanning range regardless of which objective lens is changed. 3D images can be acquired.
また、Z走査の範囲を半自動的に決定する為の複雑な演算処理は不要な為、制御プログラムが簡単になり、製品の開発コストが安く抑えることが出来る。
次に第2の実施形態について説明する。
In addition, since complicated arithmetic processing for semi-automatic determination of the Z-scanning range is unnecessary, the control program is simplified, and the product development cost can be reduced.
Next, a second embodiment will be described.
なお、第2の実施形態の共焦点顕微鏡100の構成は、図1に示した第1の実施形態の共焦点顕微鏡100と基本的には同じであるが、コンピュータ17に接続された表示部21には、対物レンズ4のZ走査範囲α22、Z走査範囲β23のパラメータが図4の様に表示できるよう、制御部16が実行するプログラムや記憶部23内のプログラムが構成されている。 Note that the configuration of the confocal microscope 100 of the second embodiment is basically the same as that of the confocal microscope 100 of the first embodiment shown in FIG. 1, but the display unit 21 connected to the computer 17. The program executed by the control unit 16 and the program in the storage unit 23 are configured so that the parameters of the Z scanning range α22 and the Z scanning range β23 of the objective lens 4 can be displayed as shown in FIG.
図4は、第2の実施形態の共焦点顕微鏡100で表示部21に表示されるZ方向の走査範囲を設定する設定画面の例を示す図である。
図4の変更ボタン60は、対物レンズ3のZ走査範囲α22のパラメータを変更するトリガーとなっており、ウインドウ61、ウインドウ62は、図2で説明したZ移動量51と、Z移動量52の量を表示するものである。同様に、変更ボタン63は、対物レンズ4のZ走査範囲β23のパラメータを変更するトリガーとなっており、ウインドウ64、ウインドウ65は、Z走査範囲β23におけるZ移動量51と、Z移動量52の量を表示するものである。
FIG. 4 is a diagram illustrating an example of a setting screen for setting the scanning range in the Z direction displayed on the display unit 21 in the confocal microscope 100 according to the second embodiment.
The change button 60 in FIG. 4 serves as a trigger for changing the parameter of the Z scanning range α22 of the objective lens 3, and the window 61 and the window 62 have the Z movement amount 51 and the Z movement amount 52 described in FIG. The amount is displayed. Similarly, the change button 63 serves as a trigger for changing the parameter of the Z scanning range β23 of the objective lens 4, and the window 64 and the window 65 indicate the Z movement amount 51 and the Z movement amount 52 in the Z scanning range β23. The amount is displayed.
この第2の実施形態では、操作者が対物レンズ3のZ走査範囲α22を変更したい場合は、指示入力部20を操作して表示部21に表示された図4のウインドウ61、ウインドウ62からそれぞれ所望の量を入力した後に変更ボタン60を表示画面上から押下すると、記憶部18に記憶されているZ走査範囲α22が書き換えられる。 In the second embodiment, when the operator wants to change the Z scanning range α22 of the objective lens 3, the operator operates the instruction input unit 20 from the window 61 and the window 62 shown in FIG. When the change button 60 is pressed from the display screen after inputting a desired amount, the Z scanning range α22 stored in the storage unit 18 is rewritten.
対物レンズ4のZ走査範囲β23を変更したい場合も同様の手順で行なうことが出来る。
この第2の実施形態によれば、指示入力部20を操作することにより、Z走査範囲α22、β23を変更することが出来る。したがって第2の実施形態の共焦点顕微鏡100は、第1の実施形態で得られる効果に加え、例えば被検体1の表面凹凸の高さから判断して、Z走査範囲α22を小さくして無駄なZ走査をしないようにすることが出来るので、被検体1の3次元画像をより高速に取得することが可能になり、汎用性の高い共焦点顕微鏡を実現できる。
The same procedure can be used to change the Z scanning range β23 of the objective lens 4.
According to the second embodiment, the Z scanning ranges α22 and β23 can be changed by operating the instruction input unit 20. Therefore, the confocal microscope 100 according to the second embodiment is wasteful by reducing the Z scanning range α22 in addition to the effects obtained in the first embodiment, for example, based on the height of the surface irregularities of the subject 1. Since Z scanning can be avoided, a three-dimensional image of the subject 1 can be acquired at higher speed, and a highly versatile confocal microscope can be realized.
次に第3の実施形態について説明する。
なお第3の実施形態の共焦点顕微鏡100の構成も、図1に示した第1の実施形態の共焦点顕微鏡100と基本的には同じであるが、コンピュータ17に接続された表示部21には、対物レンズ4のZ走査範囲α22、Z走査範囲β23のパラメータの他に対物レンズの作動距離(Working Distance:WD)が図5の様に表示できるよう、制御部16が実行するプログラムや記憶部23内のプログラムが構成されている。
Next, a third embodiment will be described.
The configuration of the confocal microscope 100 according to the third embodiment is basically the same as that of the confocal microscope 100 according to the first embodiment shown in FIG. 1, but the display unit 21 connected to the computer 17 is connected to the display unit 21. Is a program executed by the control unit 16 or stored so that the working distance (WD) of the objective lens can be displayed as shown in FIG. 5 in addition to the parameters of the Z scanning range α22 and the Z scanning range β23 of the objective lens 4. The program in the unit 23 is configured.
図5は、第3の実施形態における共焦点顕微鏡100で表示部21に表示されるZ方向の走査範囲を設定する設定画面の例を示す図である。なお図5において図4と同一の機能を有するものには同一の符号が付せられている。 FIG. 5 is a diagram illustrating an example of a setting screen for setting a scanning range in the Z direction displayed on the display unit 21 in the confocal microscope 100 according to the third embodiment. 5 having the same functions as those in FIG. 4 are denoted by the same reference numerals.
同図の表示画面は、図4の第2の実施形態の表示画面と比すと、新たに各対物レンズの作動距離(WD)を示す表示66、67が設けられている。
図6は対物レンズの作動距離(WD)を説明する図である。
Compared with the display screen of the second embodiment of FIG. 4, the display screen of FIG. 4 is newly provided with displays 66 and 67 indicating the working distance (WD) of each objective lens.
FIG. 6 is a diagram for explaining the working distance (WD) of the objective lens.
対物レンズの作動距離(WD)72とは、対物レンズ前面から、物体面71にピントがあう位置までの距離である。この作動距離(WD)72は、各対物レンズそれぞれが持つ固有値であり、第3の実施形態の共焦点顕微鏡100ではこの作動距離(WD)72を予め記憶部18に記憶している。 The working distance (WD) 72 of the objective lens is a distance from the front surface of the objective lens to a position where the object plane 71 is in focus. The working distance (WD) 72 is an eigenvalue of each objective lens, and the working distance (WD) 72 is stored in the storage unit 18 in advance in the confocal microscope 100 according to the third embodiment.
第2の実施形態の共焦点顕微鏡100では、操作者が対物レンズ3のZ走査範囲α22を変更したい場合は、指示入力部20を操作入力して表示部21に表示された図4のウインドウ61、ウインドウ62から所望の値を入力していた。それに対して第3の実施形態の共焦点顕微鏡100では、対物レンズが被検体1に極接近することが無い様に、図5の表示画面に示すように表示部21上に対物レンズ3の作動距離(WD)66の値が表示されるので、この表示を目安にして、例えば経験値や、メーカー推奨値に従って、対物レンズ3が被検体1の表面に近づく方向には余裕をとってWDの6%の値をウインドウ61に入力し、対物レンズ3が被検体1の表面が遠ざかる方向は、衝突する危険性が無い為、WDの20%の値をウインドウ62から入力するなど、対物レンズの作動距離(WD)に基づいて、それぞれ所望の量に書き換えることが出来る。なおこのとき、被検体1のおおまかな凹凸量も加味して値を決定しても良い。 In the confocal microscope 100 of the second embodiment, when the operator wants to change the Z scanning range α22 of the objective lens 3, the window 61 of FIG. 4 displayed on the display unit 21 by operating the instruction input unit 20 is input. The desired value is input from the window 62. On the other hand, in the confocal microscope 100 of the third embodiment, the objective lens 3 is operated on the display unit 21 as shown in the display screen of FIG. 5 so that the objective lens does not come close to the subject 1. Since the value of the distance (WD) 66 is displayed, using this display as a guide, for example, according to experience values or manufacturer recommended values, allow the objective lens 3 to approach the surface of the subject 1 with a margin and set the WD. A value of 6% is input to the window 61. Since there is no danger of collision in the direction in which the objective lens 3 moves away from the surface of the subject 1, a value of 20% of WD is input from the window 62. Each can be rewritten to a desired amount based on the working distance (WD). At this time, the value may be determined in consideration of the rough unevenness of the subject 1.
ここで、対物レンズ3と被検体1との衝突を避ける為に、ウインドウ61やウインドウ62に入力できる値を、対物レンズ3(対物レンズ4)の作動距離(WD)66(67)の値や、作動距離(WD)66(67)の値の所定の比率の値、例えば、50%の値を上限とする制限を加えても良い。 Here, in order to avoid the collision between the objective lens 3 and the subject 1, the values that can be input to the window 61 and the window 62 are the values of the working distance (WD) 66 (67) of the objective lens 3 (objective lens 4), The upper limit may be a value of a predetermined ratio of the value of the working distance (WD) 66 (67), for example, a value of 50%.
なお第3の実施形態は、上記した態様に限定されるものではなく、対物レンズのZ方向の走査範囲を、対物レンズの作動距離(WD)を参照して決めるようにしたものは全て包括される。 Note that the third embodiment is not limited to the above-described aspect, and includes everything that determines the Z-direction scanning range of the objective lens with reference to the working distance (WD) of the objective lens. The
この第3の実施形態の共焦点顕微鏡100は、第1及び第2の実施形態で得られる効果に加え、被検体1と対物レンズ3(対物レンズ4)とを相対的に観察光学系の光軸に沿って移動させるZ走査範囲α22(β23)を、対物レンズ3の作動距離(WD)の値を目安に設定出来る為、操作者は、迷うこと無くZ走査範囲を簡単に決定することが出来る。 In addition to the effects obtained in the first and second embodiments, the confocal microscope 100 according to the third embodiment relatively moves the subject 1 and the objective lens 3 (objective lens 4) to the light of the observation optical system. Since the Z scanning range α22 (β23) to be moved along the axis can be set with the value of the working distance (WD) of the objective lens 3 as a guide, the operator can easily determine the Z scanning range without hesitation. I can do it.
また被検体1と対物レンズ3とを相対的に観察光学系の光軸に沿って移動させるZ走査範囲α22(β23)を、対物レンズ3の作動距離(WD)の値や、作動距離(WD)の所定の比率の値までの駆動制限とすることにより、対物レンズ3と被検体1との衝突を防ぐことが出来る。 Further, the Z scanning range α22 (β23) in which the subject 1 and the objective lens 3 are relatively moved along the optical axis of the observation optical system is set to the value of the working distance (WD) of the objective lens 3 or the working distance (WD). ), The collision between the objective lens 3 and the subject 1 can be prevented.
次に第4の実施形態について説明する。
なお第4の実施形態の共焦点顕微鏡100の構成も、図1に示した第1の実施形態の共焦点顕微鏡100と基本的には同じであるが、制御部16が実行するプログラムや演算処理部19が実行する記憶部23内のプログラムやデータの内容が異なる。
Next, a fourth embodiment will be described.
The configuration of the confocal microscope 100 of the fourth embodiment is basically the same as that of the confocal microscope 100 of the first embodiment shown in FIG. The contents of programs and data in the storage unit 23 executed by the unit 19 are different.
図7は、第4の実施形態の共焦点顕微鏡100によって表示部21に表示されるIZカーブである。
第4の実施形態では、図7に示すように対物レンズ3を用いたときのIZカーブ81を更に表示することが出来る。
FIG. 7 is an IZ curve displayed on the display unit 21 by the confocal microscope 100 according to the fourth embodiment.
In the fourth embodiment, an IZ curve 81 when the objective lens 3 is used can be further displayed as shown in FIG.
IZカーブは、対物レンズのNAに関係して、曲線の形状が異なり、各種対物レンズによって決められるもので、第4の実施形態の共焦点顕微鏡100では予め使用する各対物レンズのIZ−カーブを記憶部18に記憶している。 The IZ curve has a different shape depending on the NA of the objective lens and is determined by various objective lenses. In the confocal microscope 100 of the fourth embodiment, the IZ-curve of each objective lens used in advance is determined. It is stored in the storage unit 18.
図8は、対物レンズ3と対物レンズ4のI−Zカーブの関係を示したイメージ図で、対物レンズ3よりも大きなNAを持つ対物レンズ4のI−Zカーブ86の方が対物レンズ3のI−Zカーブ85より急峻なカーブとなる。 FIG. 8 is an image diagram showing the relationship between the IZ curve of the objective lens 3 and the objective lens 4, and the IZ curve 86 of the objective lens 4 having a larger NA than the objective lens 3 is the I of the objective lens 3. The curve is steeper than the -Z curve 85.
第2、第3の実施形態では、操作者が対物レンズ3のZ走査範囲α22を変更したい場合は、指示入力部20を走査して表示部21に表示された図4のウインドウ61、ウインドウ62からそれぞれ所望の値を入力していた。それに対し第4の実施形態の共焦点顕微鏡100では、第1の実施形態と同様、被検体1の3次元画像を取得する前動作として、操作者は、表示部21にリアルタイムに表示される被検体1の表面状態を観察しながら、指示入力部20を操作してXYステージ2とZ移動機構6を駆動させて、被検体1が対物レンズ3の焦点位置付近に位置決めを行なう。 In the second and third embodiments, when the operator wants to change the Z scanning range α22 of the objective lens 3, the instruction input unit 20 is scanned and the window 61 and the window 62 shown in FIG. Each desired value was input from. On the other hand, in the confocal microscope 100 of the fourth embodiment, as in the first embodiment, as a pre-operation for acquiring a three-dimensional image of the subject 1, the operator displays the object displayed on the display unit 21 in real time. While observing the surface state of the specimen 1, the instruction input unit 20 is operated to drive the XY stage 2 and the Z moving mechanism 6 so that the subject 1 is positioned near the focal position of the objective lens 3.
対物レンズ3の焦点位置付近は、対物レンズ3のIZカーブの頂点のZ位置(図7のZ0の位置)となっている。
このことを利用して、被検体1の3次元画像を取得する際に、対物レンズ3を最小限に光軸方向に移動させる為に、図7の様に対物レンズ3のIZカーブ81を表示部21に表示し、これを目安にして、図4のウインドウ61に所望の値を入力する。
The vicinity of the focal position of the objective lens 3 is the Z position of the vertex of the IZ curve of the objective lens 3 (the position of Z0 in FIG. 7).
By utilizing this, when acquiring a three-dimensional image of the subject 1, the IZ curve 81 of the objective lens 3 is displayed as shown in FIG. 7 in order to move the objective lens 3 in the optical axis direction to the minimum. A desired value is input to the window 61 shown in FIG.
この時の目安として、、図7に示す対物レンズ3のIZカーブ71のI値の50%の高さの時のZ幅82(半値幅)に設定したり、被検体1の表面の凹凸量が多い場合等は、I値の20%の高さの時のZ幅83等に設定したりするなど、IZカーブの高さに一定の比率を掛けた値の時のZ幅を使ってもよい。また、被検体1の表面高さによっては、Z幅82の値を2倍等の値を適時使っても良い。更には、ウインドウ61には、Z幅82の半分の値を設定し、ウインドウ62には、Z幅83の半分の値を設定してもよい。 As a guide at this time, the Z width 82 (half-value width) at a height of 50% of the I value of the IZ curve 71 of the objective lens 3 shown in FIG. If there is a large amount, the Z width at the height of 20% of the I value may be set to 83, etc. Even if the Z width at the value obtained by multiplying the IZ curve height by a certain ratio is used. Good. Also, depending on the surface height of the subject 1, a value such as double the value of the Z width 82 may be used as appropriate. Further, a half value of the Z width 82 may be set in the window 61, and a half value of the Z width 83 may be set in the window 62.
なお第4の実施形態では、I−Zカーブを操作者に表示する構成であるが、I−Zカーブそのものでなく、Z幅82(半値幅)等、I−Zカーブから求めた操作者が目安とする値そのものを操作者に示す構成としても良い。 In the fourth embodiment, the IZ curve is displayed to the operator. However, the operator obtained from the IZ curve, such as the Z width 82 (half width), is not the IZ curve itself. It is good also as a structure which shows an operator the value itself as a standard.
また、Z幅82(半値幅)等I−Zカーブから求めた値から自動的にZ移動量51、52の値を自動的に算出して決定するようにしても良い。
また、第3の実施形態の構成と組み合わせて、ウインドウ61や、ウインドウ62に入力する値を、対物レンズ3(対物レンズ4)の作動距離(WD)66(67)の値や、対物レンズ3(対物レンズ4)の作動距離(WD)の所定の割合の値を上限とする制限を加えると、対物レンズ3と被検体1との衝突を防ぐことが出来る。
Alternatively, the values of the Z movement amounts 51 and 52 may be automatically calculated and determined from the values obtained from the I-Z curve such as the Z width 82 (half width).
Further, in combination with the configuration of the third embodiment, the value input to the window 61 and the window 62 is changed to the value of the working distance (WD) 66 (67) of the objective lens 3 (objective lens 4), the objective lens 3 or the like. If a limit is set with the upper limit of a predetermined ratio value of the working distance (WD) of the (objective lens 4), collision between the objective lens 3 and the subject 1 can be prevented.
なお、第4の実施形態の共焦点顕微鏡100は、上述した構成や動作に限定されるものではなく、対物レンズのZ走査範囲を対物レンズのIZを参照して決めるもの全てを包括する。 Note that the confocal microscope 100 according to the fourth embodiment is not limited to the above-described configuration and operation, and includes everything that determines the Z scanning range of the objective lens with reference to the IZ of the objective lens.
以上のように第4の実施形態の共焦点顕微鏡100によれば、第1、第2の実施形態で得られる効果に加え、被検体1と対物レンズ3(対物レンズ4)とを相対的に観察光学系の光軸に沿って移動させるZ走査範囲α22(β23)を、対物レンズ3(対物レンズ4)のIZカーブを目安に設定出来る為、操作者は、迷うこと無くZ走査範囲を簡単に決定することが出来る。 As described above, according to the confocal microscope 100 of the fourth embodiment, in addition to the effects obtained in the first and second embodiments, the subject 1 and the objective lens 3 (objective lens 4) are relatively moved. Since the Z scanning range α22 (β23) moved along the optical axis of the observation optical system can be set with the IZ curve of the objective lens 3 (objective lens 4) as a guide, the operator can easily set the Z scanning range without hesitation. Can be determined.
また、被検体1表面付近を対物レンズ3(対物レンズ4)のIZカーブを目安に設定すると、被検体1の3次元画像を取得する際に、対物レンズ3(対物レンズ4)を最小限に光軸方向に移動させることが出来る為、3次元画像を高速に取得することが可能となる。 Further, when the vicinity of the surface of the subject 1 is set with the IZ curve of the objective lens 3 (objective lens 4) as a guide, the objective lens 3 (objective lens 4) is minimized when a three-dimensional image of the subject 1 is acquired. Since it can be moved in the optical axis direction, a three-dimensional image can be acquired at high speed.
次に第5の実施形態について説明する。
なお、第5の実施形態の共焦点顕微鏡100の構成も、図1に示した第1の実施形態の共焦点顕微鏡100と基本的には同じであるが、制御部16が実行するプログラムや演算処理部19が実行する記憶部23内のプログラムやデータの内容が異なる。
Next, a fifth embodiment will be described.
The configuration of the confocal microscope 100 of the fifth embodiment is basically the same as that of the confocal microscope 100 of the first embodiment shown in FIG. The contents of programs and data in the storage unit 23 executed by the processing unit 19 are different.
第1の実施形態では、共焦点顕微鏡100の光軸方向に対物レンズ3(対物レンズ4)を移動させながら、二次元走査機構14によるビームの二次元走査を行い、被検体1の3次元形状を取得していた。それに対して第5の実施形態の共焦点顕微鏡100では、共焦点顕微鏡100の光軸方向に対物レンズ3(対物レンズ4)を移動させながら、二次元走査機構14によるビームの走査を、1次元走査を行い、被検体1の2次元形状、即ち被検体1の断面形状を取得する。 In the first embodiment, the two-dimensional scanning mechanism 14 performs two-dimensional scanning of the beam while moving the objective lens 3 (objective lens 4) in the optical axis direction of the confocal microscope 100, and the three-dimensional shape of the subject 1 is obtained. Was getting. On the other hand, in the confocal microscope 100 of the fifth embodiment, the beam is scanned by the two-dimensional scanning mechanism 14 while moving the objective lens 3 (objective lens 4) in the optical axis direction of the confocal microscope 100. Scanning is performed to obtain the two-dimensional shape of the subject 1, that is, the cross-sectional shape of the subject 1.
この二次元走査機構14によるビームの1次元走査は、図9の1次元走査1や、1次元走査2の様に走査出来る為、操作者が所望する被検体1の断面形状を取得することが出来る。 Since the one-dimensional scanning of the beam by the two-dimensional scanning mechanism 14 can be performed like the one-dimensional scanning 1 or the one-dimensional scanning 2 in FIG. 9, the operator can obtain the desired cross-sectional shape of the subject 1. I can do it.
この第5の実施形態の共焦点顕微鏡100は、第1の実施形態で得られる効果に加え、2次元(断面)観察を行なうことが出来、被検体の断面のみ観察したい場合は、第1の実施形態の共焦点顕微鏡100よりも1次元分の情報量を減らすことが出来る為、高速に断面形状を観察することが出来る。 In addition to the effects obtained in the first embodiment, the confocal microscope 100 according to the fifth embodiment can perform two-dimensional (cross-section) observation. Since the amount of information for one dimension can be reduced as compared with the confocal microscope 100 of the embodiment, the cross-sectional shape can be observed at high speed.
次に第6の実施形態について説明する。
なお、第6実施形態の共焦点顕微鏡100の構成も、図1に示した第1の実施形態の共焦点顕微鏡100と基本的には同じであるが、制御部16が実行するプログラムや演算処理部19が実行する記憶部23内のプログラムやデータの内容が異なる。
Next, a sixth embodiment will be described.
The configuration of the confocal microscope 100 of the sixth embodiment is basically the same as that of the confocal microscope 100 of the first embodiment shown in FIG. The contents of programs and data in the storage unit 23 executed by the unit 19 are different.
第6の実施形態の共焦点顕微鏡100は、記憶部18に光検出器13で検出される光強度の閾値81が記憶されている。
上述したように共焦点顕微鏡100では、光検出器13で検出される光強度が最大となった時の対物レンズ3のZ位置が被検体1の表面位置となる。
In the confocal microscope 100 of the sixth embodiment, a threshold value 81 of the light intensity detected by the photodetector 13 is stored in the storage unit 18.
As described above, in the confocal microscope 100, the Z position of the objective lens 3 when the light intensity detected by the photodetector 13 becomes the maximum is the surface position of the subject 1.
図10は、第1の実施形態で説明した、被検体1の3次元画像を取得する際に、Z走査範囲α22を用いて、光軸方向に対物レンズ3をZ位置Z0〜Z位置Z2まで(Z走査範囲α22)移動させた際の対物レンズ3のZ位置と、各Z位置で得られた光検出器13で検出される光強度Iとの関係を表した1データである。 FIG. 10 illustrates the objective lens 3 from the Z position Z0 to the Z position Z2 in the optical axis direction using the Z scanning range α22 when acquiring a three-dimensional image of the subject 1 described in the first embodiment. (Z scanning range α22) One data representing the relationship between the Z position of the objective lens 3 when moved and the light intensity I detected by the photodetector 13 obtained at each Z position.
同図において、被検体1の表面位置、即ちZ位置を求める際に、光検出器13で検出される光強度Iが、記憶部18に記憶されている閾値91以下の場合のZ位置情報は制御部18が破棄する。そして光強度Iが閾値91以上となるZ位置92−Z位置93までのZ区間だけの情報から、被検体1の表面位置(Z位置)を求める。図10では、Z1が被検体1の表面位置となる。 In the figure, when obtaining the surface position of the subject 1, that is, the Z position, the Z position information when the light intensity I detected by the photodetector 13 is not more than the threshold 91 stored in the storage unit 18 is as follows. The control unit 18 discards it. Then, the surface position (Z position) of the subject 1 is obtained from the information of only the Z section from the Z position 92 to the Z position 93 where the light intensity I is equal to or greater than the threshold value 91. In FIG. 10, Z1 is the surface position of the subject 1.
この第6の実施形態の共焦点顕微鏡100では、第1の実施形態で得られる効果に加え、第1の実施形態の場合には、Z位置Z0−Z位置Z2までのZ区間、即ちZ走査範囲α22全ての情報を使って被検体1の表面位置、即ちZ位置を求めていたのに対して、第6の実施形態の場合、Z位置82−Z位置83までのZ区間だけの情報を使い、被検体1の表面位置、即ちZ位置を求める。 In the confocal microscope 100 according to the sixth embodiment, in addition to the effects obtained in the first embodiment, in the case of the first embodiment, the Z section from the Z position Z0 to the Z position Z2, that is, Z scanning. Whereas the surface position of the subject 1, i.e., the Z position, has been obtained using all the information in the range α22, in the case of the sixth embodiment, information for only the Z section from the Z position 82 to the Z position 83 is obtained. The surface position of the subject 1, that is, the Z position is obtained.
そのため、Z位置を求める際のデータ量を減らすことが出来、第1の実施形態よりも高速に3次元形状を構築することが出来る。
またデータ量を減らすことで、記憶部18の容量や、演算処理部19の負荷を減らすことが出来る。
Therefore, the amount of data when obtaining the Z position can be reduced, and a three-dimensional shape can be constructed faster than in the first embodiment.
Further, by reducing the amount of data, the capacity of the storage unit 18 and the load on the arithmetic processing unit 19 can be reduced.
この第6の実施形態の閾値を用いる手法は、第1の実施形態の手法ではどうしてもZ走査範囲を多めにとる必要があり、それを防ぐためには有効である。
次に第7の実施形態について説明する。
The method using the threshold value of the sixth embodiment inevitably requires a larger Z scanning range than the method of the first embodiment, and is effective in preventing this.
Next, a seventh embodiment will be described.
なお第7実施形態の共焦点顕微鏡100の構成も、図1に示した第1の実施形態の共焦点顕微鏡100と基本的に同じであるが、制御部16が実行するプログラムや演算処理部19が実行する記憶部23内のプログラムやデータの内容が異なる。 The configuration of the confocal microscope 100 of the seventh embodiment is basically the same as that of the confocal microscope 100 of the first embodiment shown in FIG. The contents of programs and data in the storage unit 23 to be executed are different.
この第7の実施形態は、第1の実施形態で説明した、Z走査範囲α22を用いた走査の仕方が第1の実施形態と異なる。
図11に第7の実施形態のZ方向の走査の仕方を説明する図である。同図では図2と同一物には同じ符号を付している。
The seventh embodiment is different from the first embodiment in the scanning method using the Z scanning range α22 described in the first embodiment.
FIG. 11 is a diagram for explaining how to scan in the Z direction according to the seventh embodiment. In this figure, the same components as those in FIG.
図11は、Z走査範囲α22で決められている光軸方向の動きの軌跡を表しており、図11の下方向は、対物レンズが被検体1に近づく方向である。
対物レンズ3は、Z方向の初期位置50より、光検出器13で検出される光強度が最大となるZ位置を検出しながら、Z移動量51分被検体1から遠ざかる方向に移動する。
FIG. 11 shows a trajectory of movement in the optical axis direction determined by the Z scanning range α22, and the lower direction in FIG. 11 is a direction in which the objective lens approaches the subject 1.
The objective lens 3 moves from the initial position 50 in the Z direction in a direction away from the subject 1 by the Z movement amount 51 while detecting the Z position at which the light intensity detected by the photodetector 13 is maximum.
この時、光検出器13で検出される光強度が最大となったZ位置をピーク検出位置54として被検体1の表面位置を検出した場合、演算処理部19は、Z初期位置50とピーク検出位置54との差分Δaを算出する。 At this time, when the surface position of the subject 1 is detected with the Z position where the light intensity detected by the photodetector 13 is maximized as the peak detection position 54, the arithmetic processing unit 19 detects the Z initial position 50 and the peak detection. A difference Δa from the position 54 is calculated.
この差分ΔaをZ移動量51に加算した量を移動した後、続いてZ移動量52−2分を移動し、被検体1に近づけて行く。ここでZ移動量52−2は、図11で示す様に、Z移動量52と移動量は同じであり、Z移動量52をΔa分だけ光軸方向にオフセットしたものである。 After the amount obtained by adding the difference Δa to the Z movement amount 51 is moved, the Z movement amount 52-2 is subsequently moved to approach the subject 1. Here, as shown in FIG. 11, the Z movement amount 52-2 is the same as the Z movement amount 52, and is offset in the optical axis direction by Δa.
またZ移動量51を移動している間は、Z移動量52を移動する速度よりも高速(すなわちZ位置を検出する分解能を落とす)に移動した後、移動速度を落として(すなわちZ位置を検出する分解能を上げる)、Z移動量52−2分を移動すると、より共焦点顕微鏡の高速化を図ることが出来る。 While the Z movement amount 51 is being moved, the Z movement amount 52 is moved at a speed higher than the movement speed of the Z movement amount 52 (that is, the resolution for detecting the Z position is reduced), and then the movement speed is reduced (that is, the Z position is changed). Increasing the resolution to be detected) and moving the Z movement amount 52-2 can increase the speed of the confocal microscope.
なおこのZ移動量51、Z移動量52の移動において、移動方向は第1の実施形態と同様、逆でも良い。
この第7の実施形態は、上記した説明内容に限定されるものではなく、Z移動量51を移動している間に検出したピーク検出位置54に基づいて、Z移動量52のスタート位置を光軸方向にオフセットするものは全て包括される。
In the movement of the Z movement amount 51 and the Z movement amount 52, the movement direction may be reversed as in the first embodiment.
The seventh embodiment is not limited to the above description, and the start position of the Z movement amount 52 is detected based on the peak detection position 54 detected while the Z movement amount 51 is moving. Anything offset in the axial direction is included.
第7の実施形態の共焦点顕微鏡100によれば、第1の実施形態で得られる効果に加え、Z方向の初期位置50を、Z分解能の高い共焦点顕微鏡で再検出し、Z方向の初期位置を変更出来る。そのため、Z移動量52の移動量を無駄に大きくする必要が無くなり、共焦点顕微鏡の高速化を図ることが出来る。 According to the confocal microscope 100 of the seventh embodiment, in addition to the effects obtained in the first embodiment, the initial position 50 in the Z direction is redetected with a confocal microscope having a high Z resolution, and the initial position in the Z direction is detected. You can change the position. Therefore, there is no need to unnecessarily increase the movement amount of the Z movement amount 52, and the speed of the confocal microscope can be increased.
1 被検体
2 XYステージ
3、4 対物レンズ
5 レボルバー
6 Z移動機構
7 Zスケール
8 瞳投影レンズ
9 結像レンズ
10 1/4波長板
11 光源部
12 PBS
13 光検出器
14 二次元走査機構
15 光のビーム
15a 検出光のビーム
16 制御部
17 コンピュータ
18 記憶部
19 演算処理部
20 指示入力部
21 表示部
22 Z走査範囲α
23 Z走査範囲β
24 収束レンズ
100 共焦点顕微鏡
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Subject 2 XY stage 3, 4 Objective lens 5 Revolver 6 Z moving mechanism 7 Z scale 8 Pupil projection lens 9 Imaging lens 10 1/4 wavelength plate 11 Light source part 12 PBS
13 Photodetector 14 Two-dimensional scanning mechanism 15 Beam of light 15a Beam of detection light 16 Control unit 17 Computer 18 Storage unit 19 Arithmetic processing unit 20 Instruction input unit 21 Display unit 22 Z scanning range α
23 Z scanning range β
24 converging lens 100 confocal microscope
Claims (12)
前記対物レンズで集光した光を被検体の表面に沿って相対的に走査させるXY走査部と、
前記複数の対物レンズを切替える対物レンズ切替え部と、
前記被検体と前記対物レンズとを相対的に観察光学系の光軸に沿って移動させるZ駆動部と、
前記被検体で反射された光の強度を検出する光検出部と、
前記Z駆動部により、前記被検体と前記対物レンズとを相対的に前記観察光学系の光軸に沿って移動させるZ走査範囲を、前記複数の対物レンズそれぞれに対応させて記憶する記憶部と、
前記Z走査範囲を使用して前記Z駆動部を制御する制御部と、
を備えることを特徴とする共焦点顕微鏡。 A plurality of objective lenses for condensing the light from the light source on the subject;
An XY scanning unit that relatively scans the light collected by the objective lens along the surface of the subject;
An objective lens switching section for switching the plurality of objective lenses;
A Z driving unit that relatively moves the subject and the objective lens along the optical axis of the observation optical system;
A light detection unit for detecting the intensity of light reflected by the subject;
A storage unit for storing a Z scanning range in which the subject and the objective lens are relatively moved along the optical axis of the observation optical system by the Z driving unit corresponding to each of the plurality of objective lenses; ,
A control unit for controlling the Z driving unit using the Z scanning range;
A confocal microscope characterized by comprising:
ことを特徴とする請求項3に記載の共焦点顕微鏡。 2. The confocal microscope according to claim 1, wherein the operator determines the contents of the Z scanning range from a relationship between a relative position between the objective lens and the subject and the intensity of the light.
The confocal microscope according to claim 3.
使用している対物レンズに基づいて、被検体と前記対物レンズとを相対的に前記観察光学系の光軸に沿って移動させるZ走査範囲を読み出し、
前記Z走査範囲を使用して、前記被検体と前記対物レンズとを相対的に前記観察光学系の光軸に沿って移動させる
ことを特徴とする共焦点顕微鏡による走査方法。 A confocal microscope is a scanning method that scans by moving along the optical axis of the observation optical system,
Based on the objective lens being used, a Z scanning range for moving the subject and the objective lens relatively along the optical axis of the observation optical system is read out,
A scanning method using a confocal microscope, wherein the subject and the objective lens are relatively moved along the optical axis of the observation optical system using the Z scanning range.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2008000035A JP2009162963A (en) | 2008-01-04 | 2008-01-04 | Confocal microscope and scanning method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2008000035A JP2009162963A (en) | 2008-01-04 | 2008-01-04 | Confocal microscope and scanning method |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2009162963A true JP2009162963A (en) | 2009-07-23 |
Family
ID=40965661
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2008000035A Pending JP2009162963A (en) | 2008-01-04 | 2008-01-04 | Confocal microscope and scanning method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2009162963A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012022135A (en) * | 2010-07-14 | 2012-02-02 | Olympus Corp | Confocal microscope device |
| JP2014215582A (en) * | 2013-04-30 | 2014-11-17 | オリンパス株式会社 | Confocal microscope device |
Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08210819A (en) * | 1994-12-02 | 1996-08-20 | Keyence Corp | Laser microscope |
| JPH1048511A (en) * | 1996-07-31 | 1998-02-20 | Sankyo Seiki Mfg Co Ltd | Autofocusing device |
| JP2000305021A (en) * | 1999-04-21 | 2000-11-02 | Keyence Corp | Confocal microscope |
| JP2001201694A (en) * | 2000-01-18 | 2001-07-27 | Olympus Optical Co Ltd | Microscopic device |
| JP2003029151A (en) * | 2001-07-11 | 2003-01-29 | Olympus Optical Co Ltd | Confocal laser scanning microscope and control program |
| JP2003307681A (en) * | 2002-04-17 | 2003-10-31 | Olympus Optical Co Ltd | Confocal scanning optical microscope |
| JP2006072154A (en) * | 2004-09-03 | 2006-03-16 | Olympus Corp | Microscopic device, microscopic unit and program |
| JP2006293219A (en) * | 2005-04-14 | 2006-10-26 | Olympus Corp | Scanning type confocal microscope and method of measuring sample information |
-
2008
- 2008-01-04 JP JP2008000035A patent/JP2009162963A/en active Pending
Patent Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08210819A (en) * | 1994-12-02 | 1996-08-20 | Keyence Corp | Laser microscope |
| JPH1048511A (en) * | 1996-07-31 | 1998-02-20 | Sankyo Seiki Mfg Co Ltd | Autofocusing device |
| JP2000305021A (en) * | 1999-04-21 | 2000-11-02 | Keyence Corp | Confocal microscope |
| JP2001201694A (en) * | 2000-01-18 | 2001-07-27 | Olympus Optical Co Ltd | Microscopic device |
| JP2003029151A (en) * | 2001-07-11 | 2003-01-29 | Olympus Optical Co Ltd | Confocal laser scanning microscope and control program |
| JP2003307681A (en) * | 2002-04-17 | 2003-10-31 | Olympus Optical Co Ltd | Confocal scanning optical microscope |
| JP2006072154A (en) * | 2004-09-03 | 2006-03-16 | Olympus Corp | Microscopic device, microscopic unit and program |
| JP2006293219A (en) * | 2005-04-14 | 2006-10-26 | Olympus Corp | Scanning type confocal microscope and method of measuring sample information |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012022135A (en) * | 2010-07-14 | 2012-02-02 | Olympus Corp | Confocal microscope device |
| JP2014215582A (en) * | 2013-04-30 | 2014-11-17 | オリンパス株式会社 | Confocal microscope device |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP5841379B2 (en) | Hardness testing machine | |
| EP2977720A1 (en) | A method for measuring a high accuracy height map of a test surface | |
| US10678038B2 (en) | Scanning confocal microscope apparatus, scanning control method, and recording medium | |
| JP2020505633A (en) | Method and system for microspectrophotometry | |
| US9444995B2 (en) | System and method for controlling a tracking autofocus (TAF) sensor in a machine vision inspection system | |
| WO2014069053A1 (en) | Image acquisition device and method for focusing image acquisition device | |
| JP5718662B2 (en) | Autofocus device | |
| JP2009162963A (en) | Confocal microscope and scanning method | |
| US10816783B2 (en) | Magnifying observation apparatus | |
| JP5094519B2 (en) | Scanning laser microscope | |
| JP5065189B2 (en) | Autofocus device | |
| JP2006098794A (en) | Compound microscope and measuring method of compound microscope | |
| JP5576195B2 (en) | Autofocus device | |
| JP2017053734A (en) | Hardness tester and hardness test method | |
| JP5185769B2 (en) | Microscope system | |
| JP4398183B2 (en) | Confocal microscope | |
| JP5847282B2 (en) | Confocal microscope system | |
| JP2003315015A (en) | Measuring microscope | |
| JP2008256637A (en) | Three-dimensional shape measuring device | |
| JP5042791B2 (en) | Film thickness measuring device | |
| JP2006133183A (en) | Composite microscope | |
| JP6659333B2 (en) | Hardness tester and hardness test method | |
| JP6635783B2 (en) | Microscope equipment | |
| JP2005300278A (en) | Living body observation device | |
| JP4913609B2 (en) | Hardness testing machine |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20101111 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120620 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120703 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20121120 |