JP2009080076A - 成形品の形状評価方法及び装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】成形品の表面形状を測定して多数のデータ点列よりなる形状データを得たうえ、各データ区間毎に隣接するデータ点間を結ぶ基底関数を定義する。次にデータ点の間引きを行ったうえで、拡大されたデータ区間毎に隣接するデータ点間を結ぶ基底関数を再定義し、再定義された基底関数と間引かれた各データ点との間の誤差を評価する。誤差が許容値を越えるデータ区間では間引かれたデータ点を復元するが、誤差が許容値以下のデータ区間ではさらにデータ点の間引きを行なうことを繰り返すことにより、基底関数及びデータ量を圧縮し、成形品の形状評価を行なう。
【選択図】図7
Description
成形品の表面形状を形状測定機により測定して多数のデータ点列よりなる形状データを得る第1ステップと、
データ区間毎に隣接するデータ点間を結ぶ基底関数を定義する第2ステップと、
データ点の間引きを行ったうえで、拡大されたデータ区間毎に隣接するデータ点間を結ぶ基底関数を再定義する第3ステップと、
再定義された基底関数と間引かれた各データ点との間の誤差を評価し、誤差が許容値を越えるデータ区間では間引かれたデータ点を復元する第4ステップと、
誤差が許容値以下のデータ区間ではさらにデータ点の間引きを行なう第5ステップと、
その後に隣接するデータ点間を結ぶ基底関数を再定義する第6ステップと、
第4ステップから第6ステップを複数回繰り返すことにより、基底関数及びデータ量を圧縮する第7ステップと、
圧縮された形状データをデータ出力部から出力する第8ステップと、
からなることを特徴とするものである。
(第1ステップ)
この実施形態では、図1に示される断面形状を持つプレス成形された成形品1の形状評価を、レーザ変位計などの形状測定機を用いて行う。成形品1は形状測定機のベース2上に置かれ、その上面に設けられた図示しないレールに添ってセンサヘッド3を走行させながら、所定間隔で形状データを測定する。
第1ステップにおいて多数のデータ点列よりなる形状データが形状測定機から演算処理装置7に入力されたのち、まず基底関数構成部11がデータ区間毎に隣接するデータ点間を結ぶ基底関数を定義する。その様子は図5に示すとおりであり、最初は演算処理装置7に入力された全てのデータ点の間の区間について基底関数を定義する。ここで基底関数とは、元の区間データから分割された区間毎に定義され、境界条件を満足するような関数の集合であり、これを数学的に表現すれば数1のとおりである。
第2ステップでは全部のデータ点を用い、各データ区間について基底関数を定義したため、データ点が800個であれば799個の基底関数を定義したこととなる。しかしこのままではデータ点数が多すぎて演算処理装置7の負担が大きいので、第3ステップではデータ削減部12がデータ点の間引きを行う。
次に誤差評価部13が、再定義された基底関数と間引かれた各データ点との間の誤差を評価する。誤差評価の手法としては、有限区間での最小自乗誤差または最大誤差を使用することができる。これらは、図5に示した区間Ii=〔ai,bi〕上にN個の計測データの組〔x1,y1,......xN,yN〕があるとき、、その区間で定義された基底関数との誤差を表わすものである。最小自乗誤差または最大誤差の数学的定義および意味は表2に示すとおりである。この実施形態では最小自乗誤差を用いて、全区間について誤差の評価を行った。
このようにして1回目のデータ点数及び基底関数の削減が終了したのち、第5ステップではデータ削減部12が、誤差が許容値以下の区間について、さらにデータ点の間引きを行なう。
そして第6ステップでは、間引きが行なわれた区間について隣接するデータ点間を結ぶ基底関数を再定義する。
その後、第4ステップに戻って誤差の評価を行い、誤差が許容値を越えたデータ区間については、間引かれたデータ点を復元し、誤差が許容値以下の区間については、さらにデータ点の間引きを行ない基底関数を再定義するという第5ステップ、第6ステップを複数回繰り返す。以上のフローを図7に示した。
第8ステップでは、圧縮された形状データをデータ出力部14から外部に出力する。
2 形状測定機のベース
3 センサヘッド
4 直線部
5 湾曲面
6 先端部
7 演算処理装置
11 基底関数構成部
12 データ削減部
13 誤差評価部
14 データ出力部
Claims (6)
- 成形品の表面形状を形状測定機により測定して多数のデータ点列よりなる形状データを得る第1ステップと、
データ区間毎に隣接するデータ点間を結ぶ基底関数を定義する第2ステップと、
データ点の間引きを行ったうえで、拡大されたデータ区間毎に隣接するデータ点間を結ぶ基底関数を再定義する第3ステップと、
再定義された基底関数と間引かれた各データ点との間の誤差を評価し、誤差が許容値を越えるデータ区間では間引かれたデータ点を復元する第4ステップと、
誤差が許容値以下のデータ区間ではさらにデータ点の間引きを行なう第5ステップと、
その後に隣接するデータ点間を結ぶ基底関数を再定義する第6ステップと、
第4ステップから第6ステップを複数回繰り返すことにより、基底関数及びデータ量を圧縮する第7ステップと、
圧縮された形状データをデータ出力部から出力する第8ステップと、
からなることを特徴とする成形品の形状評価方法。 - データ点の間引きを、1点置きに行うことを特徴とする請求項1記載の成形品の形状評価方法。
- 基底関数として、一次スプライン関数、二次スプライン関数、三次スプライン関数の何れかを使用することを特徴とする請求項1記載の成形品の形状評価方法。
- 誤差の評価手法として、最小自乗誤差または最大誤差を使用することを特徴とする請求項1記載の成形品の形状評価方法。
- 成形品の表面形状を測定する形状測定機と、この形状測定機から出力された多数のデータ点列よりなる形状データの演算処理装置と、外部へのデータ出力部とからなり、この演算処理装置は、データ区間毎に隣接するデータ点間を結ぶ基底関数を定義する基底関数構成部と、データ点の間引きを行うデータ削減部と、基底関数と間引かれた各データ点との間の誤差を評価する誤差評価部とを備え、誤差が許容値以下のデータ区間ではさらにデータ点の間引きを繰り返し、基底関数及びデータ量を圧縮する機能を備えたものであることを特徴とする成形品の形状評価装置。
- 形状測定機がレーザ変位計であることを特徴とする請求項5記載の成形品の形状評価装置。
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| JP2007251084A JP2009080076A (ja) | 2007-09-27 | 2007-09-27 | 成形品の形状評価方法及び装置 |
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