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JP2009041930A - Color filter appearance inspection method - Google Patents

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JP2009041930A
JP2009041930A JP2007204229A JP2007204229A JP2009041930A JP 2009041930 A JP2009041930 A JP 2009041930A JP 2007204229 A JP2007204229 A JP 2007204229A JP 2007204229 A JP2007204229 A JP 2007204229A JP 2009041930 A JP2009041930 A JP 2009041930A
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JP
Japan
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inspection
pixels
pixel
defect
color
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Pending
Application number
JP2007204229A
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Japanese (ja)
Inventor
Yoshihiko Kawashima
佳彦 河島
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Toppan Inc
Original Assignee
Toppan Printing Co Ltd
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Publication date
Application filed by Toppan Printing Co Ltd filed Critical Toppan Printing Co Ltd
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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

【課題】カラーフィルタの欠陥が、どの色の着色画素に発生したかを検査の段階で特定し、色毎に異なる規格を適用した欠陥検査を行うカラーフィルタの外観検査方法を提供する。
【解決手段】予め、着色画素などの良品検査画素の濃度範囲を設定し、被検査体を撮像した際に、各色の着色画素などを判定する検出検査画素の数を設定し、次に、欠陥D3の位置情報から、その周囲に輪郭部R3を設け、輪郭検査画素の各濃度を求め前記濃度範囲と対比して濃度範囲毎に集計し、次に、輪郭検査画素の数が検出検査画素の数以上なら、欠陥は当該着色画素と判定し、欠陥のサイズを当該色の許容欠陥のサイズと対比し可否を判定する。
【選択図】図11
The present invention provides a color filter appearance inspection method for identifying in which color pixel a color filter defect has occurred at the stage of inspection, and performing defect inspection applying different standards for each color.
A density range of non-defective inspection pixels such as colored pixels is set in advance, and the number of detected inspection pixels for determining colored pixels of each color is set when an inspected object is imaged. A contour portion R3 is provided around the position information of D3, and each density of the contour inspection pixel is obtained and counted for each density range in comparison with the density range. Next, the number of contour inspection pixels is the number of the detection inspection pixels. If the number is greater than or equal to the number, the defect is determined to be the colored pixel, and the size of the defect is compared with the size of the allowable defect of the color to determine whether or not the defect is possible.
[Selection] Figure 11

Description

本発明は、カラーフィルタの外観検査に関するものであり、特に、液晶表示装置用カラーフィルタの製造工程で発生する外観上の欠陥が、どの色の着色画素に発生した欠陥であるかを検査の段階で特定し、着色画素の色毎に異なる規格を適用した欠陥検査を行うカラーフィルタの外観検査方法に関する。   The present invention relates to an appearance inspection of a color filter, and in particular, an inspection stage as to which color pixel is an appearance defect that occurs in a manufacturing process of a color filter for a liquid crystal display device. And a color filter appearance inspection method for performing defect inspection using different standards for each color of the colored pixels.

図7は、液晶表示装置に用いられるカラーフィルタの一例を模式的に示した平面図である。また、図8は、図7に示すカラーフィルタのX−X’線における断面図である。
図7、及び図8に示すように、液晶表示装置に用いられるカラーフィルタ(4)は、ガラス基板(40)上にブラックマトリックス(41)、着色画素(42)、及び透明導電膜(43)が順次に形成されたものである。
図7、及び図8はカラーフィルタを模式的に示したものであり着色画素の形状を正方形としている。また、着色画素(42)は12個表されているが、実際のカラーフィルタにおいては、例えば、対角17インチの画面に数百μm程度の着色画素が多数個配列されている。
FIG. 7 is a plan view schematically showing an example of a color filter used in the liquid crystal display device. FIG. 8 is a cross-sectional view taken along line XX ′ of the color filter shown in FIG.
As shown in FIGS. 7 and 8, the color filter (4) used in the liquid crystal display device has a black matrix (41), a colored pixel (42), and a transparent conductive film (43) on a glass substrate (40). Are formed sequentially.
7 and 8 schematically show the color filter, and the color pixel has a square shape. In addition, although 12 colored pixels (42) are shown, in an actual color filter, for example, a large number of colored pixels of about several hundred μm are arranged on a 17-inch diagonal screen.

液晶表示装置の多くに用いられている、上記構造のカラーフィルタの製造方法としては、先ず、ガラス基板上にブラックマトリックスを形成してブラックマトリックス基板とし、次に、このブラックマトリックス基板上のブラックマトリックスのパターンに位置合わせして着色画素を形成し、更に透明導電膜を位置合わせして形成するといった方法が広く用いられている。
ブラックマトリックス(41)は、遮光性を有するマトリックス状のものであり、着色画素(42)は、例えば、赤色、緑色、青色のフィルタ機能を有するものであり、透明導電膜(43)は、透明な電極として設けられたものである。
As a method for manufacturing a color filter having the above structure used in many liquid crystal display devices, a black matrix is first formed on a glass substrate to form a black matrix substrate, and then the black matrix on the black matrix substrate is used. A method is widely used in which a colored pixel is formed by aligning with the pattern, and a transparent conductive film is aligned and formed.
The black matrix (41) is a matrix having light shielding properties, the colored pixels (42) have, for example, red, green, and blue filter functions, and the transparent conductive film (43) is transparent. Provided as a simple electrode.

ブラックマトリックス(41)は、着色画素(42)間のマトリックス部(41A)と、着色画素(42)が形成された領域(表示部)の周辺部を囲む額縁部(41B)とで構成されている。
ブラックマトリックスは、カラーフィルタの着色画素の位置を定め、大きさを均一なものとし、また、表示装置に用いられた際に、好ましくない光を遮蔽し、表示装置の画像をムラのない均一な、且つコントラストを向上させた画像にする機能を有している。
The black matrix (41) is composed of a matrix portion (41A) between the colored pixels (42) and a frame portion (41B) surrounding the peripheral portion of the region (display portion) where the colored pixels (42) are formed. Yes.
The black matrix determines the position of the colored pixels of the color filter, makes the size uniform, and shields unwanted light when used in a display device, making the image of the display device uniform and uniform. In addition, it has a function of making an image with improved contrast.

このブラックマトリックス基板の製造には、ガラス基板(40)上にブラックマトリックスの材料としてのクロム(Cr)、酸化クロム(CrOX )などの金属、もしくは金属化合物を薄膜状に成膜し、成膜された薄膜上に、例えば、ポジ型のフォトレジストを用いてエッチングレジストパターンを形成し、次に、成膜された金属薄膜の露出部分のエッチング及びエッチングレジストパターンの剥膜を行い、Cr、CrOX などの金属薄膜からなるブラックマトリックス(41)を形成するといった方法がとられている。
或いは、ガラス基板(40)上に、ブラックマトリックス形成用の黒色感光性樹脂を用いてフォトリソグラフィ法によってブラックマトリックス(41)を形成するといった方法がとられている。
For the production of this black matrix substrate, a metal or a metal compound such as chromium (Cr) or chromium oxide (CrO x ) as a black matrix material is formed into a thin film on a glass substrate (40). An etching resist pattern is formed on the formed thin film using, for example, a positive photoresist, and then an exposed portion of the formed metal thin film is etched and an etching resist pattern is stripped, and Cr, CrO A method has been adopted in which a black matrix (41) made of a metal thin film such as X is formed.
Alternatively, the black matrix (41) is formed on the glass substrate (40) by photolithography using a black photosensitive resin for forming a black matrix.

また、着色画素(42)の形成は、このブラックマトリックス基板上に、例えば、顔料などの色素を分散させたネガ型のフォトレジストを用いて塗布膜を設け、この塗布膜への露光、現像によって着色画素を形成するといった方法がとられている。
また、透明導電膜(43)の形成は、着色画素が形成されたブラックマトリックス基板上
に、例えば、ITO(Indium Tin Oxide)を用いスパッタ法によって透明導電膜を形成するといった方法がとられている。
In addition, the colored pixels (42) are formed by providing a coating film on the black matrix substrate using, for example, a negative photoresist in which a pigment or other pigment is dispersed, and exposing and developing the coating film. A method of forming colored pixels is used.
The transparent conductive film (43) is formed on the black matrix substrate on which the colored pixels are formed by, for example, forming a transparent conductive film by sputtering using ITO (Indium Tin Oxide). .

このカラーフィルタの製造工程で発生する外観上の欠陥は、その大きさ(範囲)によって、広域欠陥と狭域(点)欠陥とに2分される。
広域欠陥は色ムラで代表され、色ムラはカラーフィルタ上の広い範囲に及ぶ色濃度の不良である。色ムラは微妙に変化する色の濃淡であり、広い範囲に及んでいるため、目視では確認しやすく、検査装置では検出しにくい。
The appearance defects generated in the manufacturing process of the color filter are divided into a wide area defect and a narrow area (point) defect depending on the size (range).
Wide area defects are represented by color unevenness, which is a color density defect over a wide range on a color filter. Color unevenness is a shade of color that slightly changes and covers a wide range, so it is easy to visually confirm and difficult to detect with an inspection apparatus.

また、狭域(点)欠陥は、その大きさが微小であるため、検査装置では検出しやすく、目視では確認しにくい。
点欠陥には、1)ブラックマトリックスの欠け、着色画素の白抜け(ピンホール)、着色画素のハーフ白抜け、透明導電膜の抜け(ピンホール)などのパターン欠け、2)ブラックマトリックスの残り、着色画素の残り、混色などのパターン残り、3)異物付着(黒欠陥)、4)傷などに大別される。
In addition, since the size of the narrow area (point) defect is minute, it is easy to detect with an inspection apparatus and difficult to visually confirm.
Point defects include: 1) black matrix chipping, colored pixel white spots (pinholes), colored pixel half white spots, transparent conductive film gaps (pinholes), 2) black matrix remaining, It is roughly divided into the remaining color pixels, the remaining pattern such as mixed colors, 3) adhesion of foreign matters (black defects), and 4) scratches.

これらの欠陥項目の検査は、各製造工程毎に行われることが多い。例えば、ブラックマトリックスの形成後には、ブラックマトリックスの製造中に発生したブラックマトリックスの欠け、ブラックマトリックスの残りなどの項目の検査が行われる。また着色画素の形成後には、着色画素の製造中に発生した着色画素の白抜け(ピンホール)、着色画素のハーフ白抜け、着色画素の残り、異物付着(黒欠陥)、色ムラなどの項目の検査が行われる。   Inspection of these defective items is often performed for each manufacturing process. For example, after the black matrix is formed, items such as black matrix chipping and black matrix remaining generated during the manufacture of the black matrix are inspected. In addition, after the formation of the colored pixels, items such as white spots (pinholes) in the colored pixels, half white spots in the colored pixels, remaining of the colored pixels, adhesion of foreign matter (black defects), color unevenness, etc. Inspection is performed.

上記検査は、透過光によるカラーフィルタの透過検査と反射光による反射検査の2種の検査で構成されている。透過検査による方が欠陥を検出し、良否を識別することが正確、容易な欠陥には透過検査が行われる。また、反射検査による方が欠陥を検出し、良否を識別することが正確、容易な欠陥には反射検査が行われる。すなわち、各欠陥の性状により透過検査又は/及び反射検査が行われる。
尚、上記検査においては、検査する欠陥項目、良否を識別する水準などは、品目によって適宜に設定して行われる。
The above inspection is composed of two types of inspection, that is, transmission inspection of a color filter using transmitted light and reflection inspection using reflected light. Transmission inspection is performed for defects that are accurate and easy to detect defects and to identify good or bad by the transmission inspection. In addition, a reflection inspection is performed for a defect that is accurate and easy to detect a defect and to discriminate pass / fail by the reflection inspection. That is, a transmission inspection and / or a reflection inspection is performed depending on the nature of each defect.
In the above inspection, the defect item to be inspected, the level for identifying good or bad, etc. are appropriately set depending on the item.

図1は、自動外観検査装置の一例の概略を示す側面図である。また、図2は、その平面図である。図1及び図2に示すように、この自動外観検査装置は、定盤(11)、検査ステージ(12)、反射用光源(13A)、反射用検査カメラ(14A)、透過用光源(13B)、透過用検査カメラ(14B)、及び画像処理装置(15)で構成されている。
検査ステージ(12)に載置されたカラーフィルタ(被検査体)(10)は、図1中、白太矢印で示すように、X軸方向に搬送されながら検査を受ける。
FIG. 1 is a side view showing an outline of an example of an automatic visual inspection apparatus. FIG. 2 is a plan view thereof. As shown in FIGS. 1 and 2, the automatic appearance inspection apparatus includes a surface plate (11), an inspection stage (12), a reflection light source (13A), a reflection inspection camera (14A), and a transmission light source (13B). , A transmission inspection camera (14B), and an image processing device (15).
The color filter (inspected object) (10) placed on the inspection stage (12) undergoes inspection while being conveyed in the X-axis direction, as indicated by the white arrow in FIG.

反射用光源(13A)は、射出された検査光を搬送されてきたカラーフィルタ(被検査体)(10)の表面に斜め上方から照射する。カラーフィルタ(10)の表面で反射した反射光を反射用検査カメラ(14A)で受光させ、その信号を画像処理装置(15)へと伝送する。
また、透過用光源(13B)は、射出された検査光を搬送されてきたカラーフィルタ(被検査体)(10)の裏面に下方から垂直に照射する。カラーフィルタ(10)を透過した透過光を透過用検査カメラ(14B)で受光させ、その信号を画像処理装置(15)へと伝送する。画像処理装置(15)では、伝送された信号を処理し、欠陥を識別する。
The light source for reflection (13A) irradiates the surface of the color filter (inspected object) (10) that has been transported with the emitted inspection light obliquely from above. The reflected light reflected by the surface of the color filter (10) is received by the reflection inspection camera (14A), and the signal is transmitted to the image processing device (15).
Further, the transmission light source (13B) irradiates the back surface of the color filter (inspected object) (10) that has been transported with the emitted inspection light vertically from below. The transmitted light transmitted through the color filter (10) is received by the transmission inspection camera (14B), and the signal is transmitted to the image processing device (15). The image processing device (15) processes the transmitted signal to identify defects.

図2に示すように、この一例における反射用検査カメラ(14A)は、反射用検査カメラ(1)(14A(1))〜反射用検査カメラ(8)(14A(8))の8個の反射用検査カメラで構成されており、これらは、カラーフィルタ(10)の搬送方向(X軸方向)
と直角に、すなわち、カラーフィルタ(10)の幅方向(Y軸方向)に一列に順次に配列されている。
また、反射用光源(13A)は、反射用光源(1)(13A(1))〜反射用光源(8)(13A(8))の8個の反射用光源で構成されており、上記反射用検査カメラ(1)(14A(1))〜反射用検査カメラ(8)(14A(8))の配列に対応し、Y軸方向に一列に順次に配列されている。
As shown in FIG. 2, the reflection inspection camera (14A) in this example has eight reflection inspection cameras (1) (14A (1)) to reflection inspection cameras (8) (14A (8)). It consists of a reflection inspection camera, which is the color filter (10) transport direction (X-axis direction)
Are arranged in a row at right angles to each other, that is, in the width direction (Y-axis direction) of the color filter (10).
The reflection light source (13A) is composed of eight reflection light sources including the reflection light source (1) (13A (1)) to the reflection light source (8) (13A (8)). Corresponding to the arrangement of the inspection cameras (1) (14A (1)) to the inspection cameras for reflection (8) (14A (8)), they are sequentially arranged in a line in the Y-axis direction.

また、透過用検査カメラ(14B)は、透過用検査カメラ(1)(14B(1))〜透過用検査カメラ(8)(14B(8))の8個の透過用検査カメラで構成されており、上記反射用検査カメラ(1)(14A(1))〜反射用検査カメラ(8)(14A(8))の配列に対応し、Y軸方向に一列に順次に配列されている。また、透過用光源(13B)は、透過用光源(1)(13B(1))〜透過用光源(8)(13B(8))の8個の透過用光源で構成されており、各々が定盤(11)の下方にて透過用検査カメラ(1)(14B(1))〜透過用検査カメラ(8)(14B(8))の配列に対応し、Y軸方向に一列に順次に配列されている。   Further, the transmission inspection camera (14B) is composed of eight transmission inspection cameras of the transmission inspection camera (1) (14B (1)) to the transmission inspection camera (8) (14B (8)). This corresponds to the arrangement of the reflection inspection cameras (1) (14A (1)) to the reflection inspection cameras (8) (14A (8)) and is sequentially arranged in a line in the Y-axis direction. The transmissive light source (13B) is composed of eight transmissive light sources including a transmissive light source (1) (13B (1)) to a transmissive light source (8) (13B (8)). Corresponding to the array of transmission inspection cameras (1) (14B (1)) to transmission inspection cameras (8) (14B (8)) below the surface plate (11), sequentially in a line in the Y-axis direction. It is arranged.

図3は、カラーフィルタ(被検査体)(10)上における、反射用検査カメラと透過用検査カメラによる走査領域を説明する平面図である。図3に示すカラーフィルタ(10)のサイズは、例えば、幅(W)1500mm×長さ(L)1800mm程度のものである。図1及び図2に示すように、反射用検査カメラ(14A)及び透過用検査カメラ(14B)は固定されており、カラーフィルタ(10)が検査ステージ(12)に載置された状態で、白太矢印で示すように、図3中、左方から右方へ移動し、カラーフィルタ(被検査体)(10)面が走査される。   FIG. 3 is a plan view for explaining a scanning area on the color filter (inspected object) (10) by the reflection inspection camera and the transmission inspection camera. The size of the color filter (10) shown in FIG. 3 is, for example, about width (W) 1500 mm × length (L) 1800 mm. As shown in FIGS. 1 and 2, the reflection inspection camera (14A) and the transmission inspection camera (14B) are fixed, and the color filter (10) is placed on the inspection stage (12). As indicated by the white arrow, the color filter (inspected object) (10) plane is scanned from the left to the right in FIG.

符号(Sr(1))は、反射用検査カメラ(1)(14A(1))及び透過用検査カメラ(1)(14B(1))の走査領域を表している。同様に、符号(Sr(2))〜符号(Sr(8))は、各々、〔反射用検査カメラ(2)(14A(2))及び透過用検査カメラ(2)(14B(2))〕〜〔反射用検査カメラ(8)(14A(8))及び透過用検査カメラ(8)(14B(8))〕の走査領域を表している。   Reference numeral (Sr (1)) represents a scanning region of the inspection camera for reflection (1) (14A (1)) and the inspection camera for transmission (1) (14B (1)). Similarly, reference numerals (Sr (2)) to (Sr (8)) denote [reflection inspection camera (2) (14A (2)) and transmission inspection camera (2) (14B (2)), respectively. ] To [scanning areas of the inspection camera for reflection (8) (14A (8)) and the inspection camera for transmission (8) (14B (8))].

反射用検査カメラ(14A)及び透過用検査カメラ(14B)のイメージセンサーとしては、例えば、ラインセンサーが用いられることが多い。
図3に示す例は、反射用検査カメラ(14A(1)〜14A(8))及び透過用検査カメラ(14B(1)〜14B(8))の各々が、対応したカラーフィルタ(被検査体)(10)上の走査領域(Sr(1)〜Sr(8))を、図3中、右方から左方への1走査で撮像を終了する例である。
例えば、撮像の解像度を高めるために、1走査領域を図3中、上下に2分割した2走査を、或いは上下に4分割した4走査を行う場合もある。
For example, a line sensor is often used as an image sensor for the reflection inspection camera (14A) and the transmission inspection camera (14B).
In the example shown in FIG. 3, each of the reflection inspection camera (14A (1) to 14A (8)) and the transmission inspection camera (14B (1) to 14B (8)) corresponds to a color filter (inspected object). ) (10) This is an example in which imaging of the scanning region (Sr (1) to Sr (8)) on the upper side is completed by one scanning from right to left in FIG.
For example, in order to increase the imaging resolution, there are cases where one scan area is divided into two scans divided into two in the vertical direction in FIG. 3, or four scans divided into four in the vertical direction.

図4は、検査カメラにて撮像されたカラーフィルタ画像の一例を模式的に示す説明図である。図4に示すように、被検査体としてのカラーフィルタは、ブラックマトリックス(21)が形成され外観検査の終了したガラス基板上に、赤色、緑色、青色の着色画素(22)が形成された状態のものである。各色の着色画素(22)は、その各々が、図4中、Y軸方向に連続して配設されている。またX軸方向には、その各色の連続した列が赤色、緑色、青色の順に繰り返し配設されている。赤色の着色画素(P2)に欠陥(D)が発生している例である。   FIG. 4 is an explanatory diagram schematically illustrating an example of a color filter image captured by the inspection camera. As shown in FIG. 4, the color filter as the object to be inspected is a state in which red, green, and blue colored pixels (22) are formed on the glass substrate on which the black matrix (21) is formed and the appearance inspection is finished. belongs to. Each of the colored pixels (22) of each color is continuously arranged in the Y-axis direction in FIG. In the X-axis direction, a continuous row of each color is repeatedly arranged in the order of red, green, and blue. This is an example in which a defect (D) occurs in a red colored pixel (P2).

図5(a)は、図4に示す左端の赤色の着色画素(P1)の点線で囲む部分を拡大した説明図である。また、図5(b)は、隣接する赤色の着色画素(P2)の点線で囲む部分を拡大した説明図である。
この検査装置は、欠陥がランダムに発生することを前提にして、隣接する同色の着色画素(22)を比較して欠陥を検出する比較方式を採用したものである。図4中、左端の赤色の着色画素(P1)の特定箇所(Ki)の明るさ(検査カメラへ入射する光の強さ)と、隣接する赤色の着色画素(P2)の特定箇所(Ki)の明るさの差によって欠陥を識別する。
FIG. 5A is an explanatory diagram in which a portion surrounded by a dotted line of the red colored pixel (P1) at the left end shown in FIG. 4 is enlarged. FIG. 5B is an explanatory diagram in which a portion surrounded by a dotted line of the adjacent red colored pixel (P2) is enlarged.
This inspection apparatus employs a comparison method in which defects are detected by comparing adjacent colored pixels (22) of the same color on the assumption that the defects occur randomly. In FIG. 4, the brightness (intensity of light incident on the inspection camera) of the specific portion (Ki) of the red colored pixel (P1) at the left end and the specific portion (Ki) of the adjacent red colored pixel (P2). Identify defects by the difference in brightness.

1個の着色画素は、複数の領域(K1〜Kn)に分割される。複数に分割された1領域は、検査のために比較する着色画素上の1単位であり、以降、本発明においては、この1領域を検査画素と称する。
先ず、左端の赤色の着色画素(P1)の第1検査画素(K1)の明くさと、隣接する赤色の着色画素(P2)の第1検査画素(K1)の明るさを比較し、次に、着色画素(P1)の第2検査画素(K2)の明くさと、着色画素(P2)の第2検査画素(K2)の明るさを比較し、以降、同様に順次に比較を行い、着色画素(P1)に対する着色画素(P2)の欠陥の有無を識別する。
One colored pixel is divided into a plurality of regions (K1 to Kn). One area divided into a plurality is one unit on a colored pixel to be compared for inspection, and hereinafter, this one area is referred to as an inspection pixel in the present invention.
First, the brightness of the first inspection pixel (K1) of the red coloring pixel (P1) at the left end is compared with the brightness of the first inspection pixel (K1) of the adjacent red coloring pixel (P2). The brightness of the second inspection pixel (K2) of the coloring pixel (P1) is compared with the brightness of the second inspection pixel (K2) of the coloring pixel (P2). The presence / absence of a defect in the colored pixel (P2) with respect to the pixel (P1) is identified.

図5においては、着色画素(P1)の第i検査画素(Ki)の明るさと、着色画素(P2)の第i検査画素(Ki)の明るさの差が大きいために欠陥と識別されることになる。この明るさは、検査カメラが再現する輝度範囲を、例えば、8ビット(256)にて区分した256段階で表示した数値を用い、その数値の差が、予め設定した閾値以上であるとき、着色画素(P2)の第i検査画素(Ki)は欠陥と識別するようにしておく。以降、本発明においては、256段階で表示した数値を検査画素の濃度、また、数値の範囲を濃度範囲と称する。   In FIG. 5, since the difference between the brightness of the i-th inspection pixel (Ki) of the colored pixel (P1) and the brightness of the i-th inspection pixel (Ki) of the colored pixel (P2) is large, it is identified as a defect. become. For this brightness, for example, a numerical value displayed in 256 levels obtained by dividing the luminance range reproduced by the inspection camera by 8 bits (256) is used. When the difference between the numerical values is equal to or larger than a preset threshold value, coloring is performed. The i-th inspection pixel (Ki) of the pixel (P2) is identified as a defect. Hereinafter, in the present invention, the numerical value displayed in 256 levels is referred to as the density of the inspection pixel, and the numerical value range is referred to as the density range.

さて、自動外観検査装置で検出された欠陥は、自動外観検査装置の後工程に設置された、例えば、レビュー装置を使用して、作業員がモニターで欠陥を確認する。許容される欠陥のサイズは、必ずしも一律ではなく、実際の作業においては、許容される欠陥のサイズが着色画素の色毎に異なった数値に規定されている場合がある。   Now, the defect detected by the automatic visual inspection apparatus is confirmed by the operator on the monitor using, for example, a review apparatus installed in a subsequent process of the automatic visual inspection apparatus. The allowable defect size is not necessarily uniform, and in actual work, the allowable defect size may be defined as a different value for each color of the colored pixel.

しかしながら、自動外観検査装置は、欠陥が発生している着色画素の色を認識することができないため、着色画素の色毎に許容される欠陥のサイズが異なる場合には、自動外観検査装置が欠陥を検出する検出サイズを、最も小さな数値に合わせ欠陥の検出を行うことになる。
従って、レビュー装置では、自動外観検査装置が検出した欠陥を、着色画素の色毎に異なった数値に合わせて、改めて確認するといった作業が行われている。
However, since the automatic visual inspection apparatus cannot recognize the color of the colored pixel in which the defect has occurred, the automatic visual inspection apparatus has a defect if the allowable defect size differs for each color of the colored pixel. The defect size is detected by matching the detection size for detecting the smallest value.
Therefore, in the review apparatus, an operation is performed in which the defect detected by the automatic appearance inspection apparatus is reconfirmed according to a different numerical value for each color of the colored pixels.

図6は、赤色の着色画素に発生した欠陥の一例の説明図である。赤色の着色画素(22R)に直径(φ)40μmの欠陥(D2)が発生しているカラーフィルタを例示したものである。
例えば、許容される欠陥のサイズが青色の着色画素(22B)では30μmφ、赤色の着色画素(22R)では40μmφ、緑色の着色画素(22G)では50μmφといった規格の場合、自動外観検査装置は検出サイズを最も小さな数値である30μmφに合わせ欠陥の検出を行うことになる。
FIG. 6 is an explanatory diagram of an example of a defect that has occurred in a red colored pixel. This is an example of a color filter in which a defect (D2) having a diameter (φ) of 40 μm is generated in a red colored pixel (22R).
For example, if the permissible defect size is 30 μmφ for the blue colored pixel (22B), 40 μmφ for the red colored pixel (22R), and 50 μmφ for the green colored pixel (22G), the automatic visual inspection apparatus detects the detected size. The defect is detected in accordance with the smallest value of 30 μmφ.

図6に示す赤色の着色画素(22R)の欠陥(D2)は、直径(φ)40μmの欠陥であるので、30μmφに設定した自動外観検査装置では欠陥として検出される。一方、レビュー装置では、赤色の着色画素(22R)での許容される欠陥のサイズである40μmφで確認するので、欠陥ではないと確認される。
つまり、レビュー装置では、自動外観検査装置で欠陥と検出した欠陥を、着色画素の色毎に異なる規格と対比し、欠陥か否かを確認する負担が残されている。
特許第3287872号公報
Since the defect (D2) of the red colored pixel (22R) shown in FIG. 6 is a defect having a diameter (φ) of 40 μm, it is detected as a defect by the automatic visual inspection apparatus set to 30 μmφ. On the other hand, in the review apparatus, since it is confirmed with 40 μmφ that is an allowable defect size in the red colored pixel (22R), it is confirmed that the defect is not a defect.
That is, in the review device, the burden of checking whether or not the defect is detected as a defect by comparing the defect detected by the automatic appearance inspection device with a standard different for each color of the colored pixel remains.
Japanese Patent No. 3287873

本発明は、上記問題を解決するためになされたものであり、カラーフィルタの製造工程で発生する外観上の欠陥が、どの色の着色画素に発生した欠陥であるかを検査の段階で特定し、着色画素の色毎に異なる規格を適用した欠陥検査を行うことのできるカラーフィルタの外観検査方法を提供することを課題とするものである。
これにより、着色画素の色毎に異なる規格には該当しない欠陥を有するカラーフィルタを、後工程であるレビュー装置で改めて確認することはなくなり、レビュー装置での負担が低減される。
The present invention has been made in order to solve the above-mentioned problems, and in the inspection stage, it is specified which color defect is caused by an appearance defect generated in the color filter manufacturing process. Another object of the present invention is to provide a color filter appearance inspection method capable of performing defect inspection applying different standards for each color of colored pixels.
As a result, a color filter having a defect that does not correspond to a different standard for each color of the colored pixel is not reconfirmed by the review apparatus, which is a subsequent process, and the burden on the review apparatus is reduced.

本発明は、カラーフィルタの製造工程で発生する欠陥の検査方法において、
A)予め、1)良品カラーフィルタを検査カメラにて撮像し、撮像した第1色の着色画素における検査画素(良品検査画素)の濃度範囲を設定し、
2)後に、被検査体カラーフィルタを前記検査カメラにて撮像した際に、撮像した着色画素が第1色であることを判定するために必要な第1色の判定閾値として、上記1)で設定した濃度範囲の濃度を有する検査画素(検出検査画素)の数を設定し、
3)上記1)を、第2色の着色画素、第3色の着色画素、ブラックマトリクス、及び他、の各部位について行い、各々における検査画素(良品検査画素)の濃度範囲を設定し、
4)上記2)を、上記各部位について行い、各々における判定閾値としての検査画素(検出検査画素)の数を設定し、
B)次に、1)被検査体カラーフィルタを前記検査カメラにて撮像し、欠陥が検出された際に、欠陥を構成する複数の検査画素の位置情報から、欠陥の周囲に一定幅の輪郭部を設定し、
2)該輪郭部を構成する複数の検査画素(輪郭検査画素)の各濃度を求め、得られた検査画素(輪郭検査画素)の各濃度を、前記A)1)、及び3)にて設定した、第1色の着色画素及び上記各部位の各々の検査画素(良品検査画素)の濃度範囲と対比して、該当する濃度範囲にある濃度を有する検査画素(輪郭検査画素)の数を各々の検査画素(良品検査画素)の濃度範囲毎に集計し、
C)次に、1)集計して得られた第1色の着色画素の検査画素(良品検査画素)の濃度範囲にある、輪郭部を構成する検査画素(輪郭検査画素)の数が、前記A)2)にて設定した、第1色の判定閾値としての検査画素(検出検査画素)の数以上であれば、輪郭部及び前記欠陥は第1色の着色画素にあると判定し、
2)上記1)を、上記各部位について行い、前記A)4)にて設定した各々の検査画素(検出検査画素)の数以上であれば、輪郭部及び前記欠陥は当該部位にあると判定し、
D)次に、前記欠陥のサイズを、着色画素の色毎に定められた欠陥のサイズの規格の当該色の欠陥のサイズと対比して、許容される欠陥か否かを判定し、
欠陥の検査を行うことを特徴とするカラーフィルタの外観検査方法である。
The present invention is a method for inspecting defects that occur in the manufacturing process of a color filter.
A) In advance, 1) a non-defective color filter is imaged with an inspection camera, and the density range of the inspection pixel (non-defective product inspection pixel) in the colored pixels of the imaged first color is set.
2) Later, when the inspected object color filter is imaged by the inspection camera, the determination threshold of the first color necessary for determining that the imaged colored pixel is the first color is 1) above Set the number of inspection pixels (detection inspection pixels) with the density in the set density range,
3) The above 1) is performed for each of the second color pixel, the third color pixel, the black matrix, and the other parts, and the density range of the inspection pixel (non-defective inspection pixel) in each is set.
4) Perform the above 2) for each of the above parts, and set the number of inspection pixels (detection inspection pixels) as a determination threshold value in each of the parts,
B) Next, 1) An image of the color filter to be inspected is picked up by the inspection camera, and when a defect is detected, a contour having a constant width is formed around the defect from position information of a plurality of inspection pixels constituting the defect. Set the
2) The respective densities of a plurality of inspection pixels (contour inspection pixels) constituting the contour portion are obtained, and the respective densities of the obtained inspection pixels (contour inspection pixels) are set in A) 1) and 3). The number of inspection pixels (contour inspection pixels) having a density in the corresponding density range in comparison with the density range of the first color pixel and each inspection pixel (non-defective inspection pixel) in each of the above-mentioned parts. For each density range of inspection pixels (non-defective product inspection pixels)
C) Next, 1) The number of inspection pixels (contour inspection pixels) constituting the contour portion in the density range of the inspection pixels (non-defective inspection pixels) of the colored pixels of the first color obtained by aggregation is A) If the number of inspection pixels (detection inspection pixels) as the determination threshold of the first color set in 2) is equal to or greater than that, it is determined that the contour portion and the defect are in the colored pixels of the first color,
2) Perform 1) above for each part, and if the number of each inspection pixel (detection inspection pixel) set in A) 4) is equal to or greater than that, determine that the contour and the defect are in the part. And
D) Next, the size of the defect is compared with the size of the defect of the color of the standard of the size of the defect determined for each color of the colored pixel, and it is determined whether or not it is an allowable defect.
A color filter appearance inspection method characterized by inspecting a defect.

また、本発明は、上記発明によるカラーフィルタの外観検査方法において、前記欠陥の周囲に一定幅の輪郭部における一定幅は、検査画素数で1〜5個の幅であることを特徴とするカラーフィルタの外観検査方法である。   Further, the present invention is the color filter appearance inspection method according to the above invention, wherein the constant width in the contour portion having a constant width around the defect is 1 to 5 in number of inspection pixels. This is a filter appearance inspection method.

本発明は、A)予め、1)良品カラーフィルタを検査カメラにて撮像し、各色の着色画素などの検査画素(良品検査画素)の濃度範囲を設定し、2)後に、被検査体カラーフィルタを撮像した際に、各色の着色画素などが各々当該各色の着色画素などであることを判定するために必要な各々の判定閾値として、上記で設定した濃度範囲の濃度を有する各々
の検査画素(検出検査画素)の数を設定し、
B)次に、1)被検査体カラーフィルタを検査カメラにて撮像し、欠陥が検出された際に、欠陥を構成する複数の検査画素の位置情報から、欠陥の周囲に一定幅の輪郭部を設定し、2)この輪郭部を構成する複数の検査画素(輪郭検査画素)の各濃度を求め、得られた検査画素(輪郭検査画素)の各濃度を、上記にて設定した、各色の着色画素などの各々の検査画素(良品検査画素)の濃度範囲と対比して、該当する濃度範囲にある濃度を有する検査画素(輪郭検査画素)の数を各々の検査画素(良品検査画素)の濃度範囲毎に集計し、
C)次に、1)集計して得られた各色の着色画素などの検査画素(良品検査画素)の濃度範囲にある、輪郭部を構成する検査画素(輪郭検査画素)の数が、前記A)にて設定した、各色の判定閾値としての検査画素(検出検査画素)の数以上であれば、輪郭部は当該着色画素などにあると判定し、
D)次に、前記欠陥のサイズを、着色画素の色毎に定められた欠陥のサイズの規格の当該色の欠陥のサイズと対比して、許容される欠陥か否かを判定し、
欠陥の検査を行うので、カラーフィルタの製造工程で発生する外観上の欠陥が、どの色の着色画素に発生した欠陥であるかを検査の段階で特定し、着色画素の色毎に異なる規格を適用した欠陥検査を行うことのできるカラーフィルタの外観検査方法となる。
これにより、着色画素の色毎に異なる規格には該当しない欠陥を有するカラーフィルタを、後工程であるレビュー装置で改めて確認することはなくなり、レビュー装置での負担が低減される。
In the present invention, A) in advance, 1) a non-defective color filter is imaged by an inspection camera, and the density range of inspection pixels (non-defective inspection pixels) such as colored pixels of each color is set. When each of the inspection pixels having the density in the density range set as described above is used as each determination threshold necessary for determining that the colored pixels of each color are the colored pixels of each color. Set the number of detection inspection pixels)
B) Next, 1) When an inspection object color filter is imaged by an inspection camera and a defect is detected, a contour portion having a constant width is formed around the defect based on positional information of a plurality of inspection pixels constituting the defect. 2) Obtain the respective densities of a plurality of inspection pixels (contour inspection pixels) constituting the contour portion, and determine the densities of the obtained inspection pixels (contour inspection pixels) for each color set above. In contrast to the density range of each inspection pixel (non-defective inspection pixel) such as a colored pixel, the number of inspection pixels (contour inspection pixels) having a density in the corresponding density range is determined for each inspection pixel (non-defective inspection pixel). Tally for each concentration range,
C) Next, 1) The number of inspection pixels (contour inspection pixels) constituting the contour portion in the density range of inspection pixels (non-defective inspection pixels) such as colored pixels of the respective colors obtained by aggregation is the A If it is equal to or greater than the number of inspection pixels (detection inspection pixels) as determination threshold values for each color set in (), the contour portion is determined to be in the coloring pixel,
D) Next, the size of the defect is compared with the size of the defect of the color of the standard of the size of the defect determined for each color of the colored pixel, and it is determined whether or not it is an allowable defect.
Since defects are inspected, the appearance defects that occur in the color filter manufacturing process are identified in the colored pixels of the color pixels at the inspection stage, and different standards are used for each color of the colored pixels. This is a color filter appearance inspection method capable of performing the applied defect inspection.
As a result, a color filter having a defect that does not correspond to a different standard for each color of the colored pixel is not reconfirmed by the review apparatus, which is a subsequent process, and the burden on the review apparatus is reduced.

以下に本発明の実施の形態を詳細に説明する。
図9は、良品カラーフィルタの着色画素を固体撮像素子を用いた検査カメラにて撮像したカラーフィルタ画像の一例を模式的に示す説明図である。図9に示すように、この良品カラーフィルタは、ブラックマトリックス(21)が形成され外観検査の終了したガラス基板上に、赤色、緑色、青色の着色画素(22R、22G、22B)が形成された状態のものである。各色の着色画素は、その各々が、図9中、Y軸方向に連続して配設されている。またX軸方向には、その各色の連続した列が赤色、緑色、青色の順に繰り返し配設されている。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail.
FIG. 9 is an explanatory diagram schematically illustrating an example of a color filter image obtained by imaging colored pixels of a non-defective color filter with an inspection camera using a solid-state imaging device. As shown in FIG. 9, this non-defective color filter has red, green, and blue colored pixels (22R, 22G, and 22B) formed on a glass substrate on which a black matrix (21) has been formed and appearance inspection has been completed. Is in state. Each colored pixel is arranged continuously in the Y-axis direction in FIG. In the X-axis direction, a continuous row of each color is repeatedly arranged in the order of red, green, and blue.

1個の着色画素は、比較検査のために複数の領域(検査画素)に分割され、分割された検査画素の明るさ(検査カメラへ入射する光の強さ)を比較し検査に用いる。この明るさの程度を表す際には、検査カメラが再現する輝度範囲を、例えば、8ビット(256)にて区分した256段階で表示した数値が用いられる。本発明においては、この数値を検査画素の濃度と称している。
第1色、例えば、赤色の着色画素の検査画素の明るさは、検査カメラが撮像した赤色の着色画素が分割された検査画素の256段階で表示される濃度である。
この濃度は、赤色の着色画素の分光特性と検査カメラの分光感度の積により定まる。
One colored pixel is divided into a plurality of regions (inspection pixels) for comparison inspection, and the brightness (intensity of light incident on the inspection camera) of the divided inspection pixels is compared and used for inspection. In order to express the brightness level, a numerical value displayed in 256 levels obtained by dividing the luminance range reproduced by the inspection camera by, for example, 8 bits (256) is used. In the present invention, this numerical value is called the density of the inspection pixel.
The brightness of the inspection pixel of the first color, for example, the red colored pixel is a density displayed in 256 levels of the inspection pixel obtained by dividing the red colored pixel captured by the inspection camera.
This density is determined by the product of the spectral characteristics of the red colored pixels and the spectral sensitivity of the inspection camera.

本発明においては、先ず、良品カラーフィルタを検査カメラにて撮像し、撮像した第1色、例えば、赤色の着色画素における検査画素(良品検査画素)の濃度範囲を設定する。続いて、後に、被検査体カラーフィルタを検査カメラにて撮像した際に、撮像した着色画素が赤色であることを判定するために必要な赤色の判定閾値として、上記濃度範囲の濃度を有する検査画素(検出検査画素)の数を設定する。   In the present invention, first, a non-defective color filter is picked up by an inspection camera, and a density range of inspection pixels (non-defective inspection pixels) in the picked-up first color, for example, red colored pixels is set. Subsequently, when the inspection object color filter is imaged with an inspection camera, an inspection having a density in the above density range as a red determination threshold necessary for determining that the captured colored pixel is red The number of pixels (detection inspection pixels) is set.

表1は、具体的なカラーフィルタの一例における、良品カラーフィルタを構成する赤色の着色画素、緑色の着色画素、青色の着色画素、ブラックマトリクス、及び他の濃度範囲を示したものである。表1に示すように、この一例の赤色の着色画素における検査画素(良品検査画素)の濃度は、256段階で表示される数値にて、概ね151〜180の範囲
にあるので、151〜180と設定したものである。
Table 1 shows a red colored pixel, a green colored pixel, a blue colored pixel, a black matrix, and other density ranges that constitute a non-defective color filter in an example of a specific color filter. As shown in Table 1, the density of the inspection pixel (non-defective product inspection pixel) in the red colored pixel of this example is in a range of about 151 to 180 in numerical values displayed in 256 levels. It is set.

同様に、緑色の着色画素における検査画素(良品検査画素)の濃度範囲は131〜150と設定し、青色の着色画素における検査画素(良品検査画素)の濃度範囲は101〜130と設定し、ブラックマトリクスにおける検査画素(良品検査画素)の濃度範囲は000〜100と設定し、他における検査画素(良品検査画素)の濃度範囲は181〜255と設定したものである。   Similarly, the density range of the inspection pixel (non-defective product inspection pixel) in the green colored pixel is set to 131 to 150, the density range of the inspection pixel (non-defective product inspection pixel) in the blue colored pixel is set to 101 to 130, and black The density range of inspection pixels (non-defective product inspection pixels) in the matrix is set to 000 to 100, and the density range of other inspection pixels (non-defective product inspection pixels) is set to 181 to 255.

Figure 2009041930
Figure 2009041930

Figure 2009041930
また、表2に示すように、被検査体カラーフィルタを撮像した着色画素が赤色であることを判定するために必要な、上記151−180の範囲の濃度を有する検査画素(検出検査画素)の数は、精査した結果、5個以上であることを突き止め、赤色の判定閾値として、検査画素(検出検査画素)の数は5個と設定したものである。
Figure 2009041930
Further, as shown in Table 2, the inspection pixels (detection inspection pixels) having the density in the range of 151 to 180 necessary for determining that the colored pixel obtained by imaging the color filter to be inspected is red. The number is determined to be 5 or more as a result of careful examination, and the number of inspection pixels (detection inspection pixels) is set to 5 as a red determination threshold.

同様に、緑色の判定閾値として、検査画素(検出検査画素)の数は5個、青色の判定閾値として、検査画素(検出検査画素)の数は5個、ブラックマトリクスの判定閾値として、検査画素(検出検査画素)の数は5個、他の判定閾値として、検査画素(検出検査画素)の数は0個と設定したものである。   Similarly, the number of inspection pixels (detection inspection pixels) is five as the green determination threshold, the number of inspection pixels (detection inspection pixels) is five as the blue determination threshold, and the inspection pixels are as the black matrix determination threshold. The number of (detection inspection pixels) is set to 5, and the number of inspection pixels (detection inspection pixels) is set to 0 as another determination threshold.

表1に示すように、良品カラーフィルタにおける赤色の着色画素、緑色の着色画素、青色の着色画素、ブラックマトリクス、及び他の各々の濃度範囲は、相互に重複することなく区分されている。このように各々の濃度範囲が重複せずに、明確に区分されていることは、どの色の着色画素に発生した欠陥であるかを特定する本発明においては好適なものといえる。   As shown in Table 1, the red color pixel, the green color pixel, the blue color pixel, the black matrix, and the other density ranges in the non-defective color filter are divided without overlapping each other. Thus, it can be said that it is preferable in the present invention for specifying which color pixel is a defect that each density range is clearly divided without overlapping.

本発明によるカラーフィルタの外観検査方法においては、上記検査画素(良品検査画素)の濃度範囲の設定、及び検査画素(検出検査画素)の数の設定の後に、被検査体カラーフィルタの検査を行う。
図10は、上記具体的なカラーフィルタの一例における、被検査体カラーフィルタを検査カメラにて撮像し、欠陥が検出された際のカラーフィルタ画像の一例を示したものである。図10に示すように、この一例は、直径(φ2)40μmの欠陥(D3)が青色の着色画素(22B)に発生したカラーフィルタを例示したものである。
自動外観検査装置は、この青色の着色画素(22B)の欠陥(D3)を欠陥として識別するものの、青色の着色画素(22B)に発生した欠陥であるとの特定はしていない。
In the color filter appearance inspection method according to the present invention, the inspection object color filter is inspected after setting the density range of the inspection pixels (non-defective inspection pixels) and the number of inspection pixels (detection inspection pixels). .
FIG. 10 shows an example of the color filter image when the inspection object color filter in the example of the specific color filter is imaged by the inspection camera and a defect is detected. As shown in FIG. 10, this example illustrates a color filter in which a defect (D3) having a diameter (φ2) of 40 μm is generated in a blue colored pixel (22B).
The automatic visual inspection apparatus identifies the defect (D3) of the blue colored pixel (22B) as a defect, but does not specify that the defect has occurred in the blue colored pixel (22B).

図10に示すように、被検査体カラーフィルタを検査カメラにて撮像し、欠陥が検出された際には、欠陥(D3)を構成する複数の検査画素の位置情報から、図11に示すように、欠陥(D3)の周囲に一定幅(j)の輪郭部(R3)を設定する。
この一定幅(j)は、検査画素数で1〜5個であることが好ましい。検査画素数を多くすると判定の精度は向上するが、5個以内で十分な精度が得られる。
As shown in FIG. 10, when an inspection camera color filter is imaged with an inspection camera and a defect is detected, the position information of a plurality of inspection pixels constituting the defect (D3) is used as shown in FIG. In addition, a contour (R3) having a constant width (j) is set around the defect (D3).
This constant width (j) is preferably 1 to 5 inspection pixels. Increasing the number of inspection pixels improves the accuracy of determination, but sufficient accuracy can be obtained within 5 pixels.

次に、この輪郭部(R3)を構成する複数の検査画素(輪郭検査画素)(E1〜En)の各濃度を求め、得られた検査画素(輪郭検査画素)の各濃度を、表1に示す赤色の着色画素、緑色の着色画素、青色の着色画素、ブラックマトリクス、及び他の各々の検査画素(良品検査画素)の濃度範囲と対比して、該当する濃度範囲にある濃度を有する検査画素(輪郭検査画素)(E1〜En)の数を各々の検査画素(良品検査画素)の濃度範囲毎に集計する。   Next, the respective densities of the plurality of inspection pixels (contour inspection pixels) (E1 to En) constituting the contour portion (R3) are obtained, and the respective densities of the obtained inspection pixels (contour inspection pixels) are shown in Table 1. In contrast to the density ranges of the red color pixel, the green color pixel, the blue color pixel, the black matrix, and each of the other test pixels (non-defective product test pixels) shown, the test pixel having a density in the corresponding density range The number of (contour inspection pixels) (E1 to En) is totaled for each density range of each inspection pixel (non-defective product inspection pixel).

表3は、この一例における、該当する濃度範囲にある濃度を有する検査画素(輪郭検査画素)(E1〜En)の数を各々の検査画素(良品検査画素)の濃度範囲毎に集計したものである。表3に示すように、検査画素(輪郭検査画素)(E1〜En)の全数は29個であり、濃度範囲000〜100に該当する検査画素(輪郭検査画素)の数は1個、濃度範囲101〜130に該当する検査画素(輪郭検査画素)の数は25個、以降、3個、0個、0個であることが示されている。   Table 3 summarizes the number of inspection pixels (contour inspection pixels) (E1 to En) having a density in the corresponding density range for each density range of each inspection pixel (non-defective product inspection pixel) in this example. is there. As shown in Table 3, the total number of inspection pixels (contour inspection pixels) (E1 to En) is 29, the number of inspection pixels (contour inspection pixels) corresponding to the density range 000 to 100 is 1, and the density range It is indicated that the number of inspection pixels (contour inspection pixels) corresponding to 101 to 130 is 25, and thereafter, 3, 0, and 0.

Figure 2009041930
Figure 2009041930

Figure 2009041930
次に、集計して得られた赤色の着色画素の検査画素(良品検査画素)の濃度範囲(151〜180)にある、輪郭部(R3)を構成する検査画素(輪郭検査画素)の数が、表2に示す赤色の判定閾値としての検査画素(検出検査画素)の数である5個以上であれば、輪郭部(R3)は赤色の着色画素にあると判定し、輪郭部(R3)を構成する検査画素(輪郭検査画素)の数が、赤色の判定閾値としての検査画素(検出検査画素)の数である5個以下であれば、輪郭部(R3)は赤色の着色画素にないと判定する。
Figure 2009041930
Next, the number of inspection pixels (contour inspection pixels) constituting the contour portion (R3) in the density range (151 to 180) of the inspection pixels (non-defective product inspection pixels) of red colored pixels obtained by aggregation is obtained. If the number of inspection pixels (detection inspection pixels) as the red determination threshold shown in Table 2 is five or more, the contour portion (R3) is determined to be a red colored pixel, and the contour portion (R3) If the number of inspection pixels (contour inspection pixels) constituting the number is five or less, which is the number of inspection pixels (detection inspection pixels) as a red determination threshold, the contour portion (R3) is not in the red colored pixels. Is determined.

表4は、このような判定を容易に行うために、表2に表3を重ねたものである。表4に示すように、青色の判定閾値としての検査画素(検出検査画素)の数は5個であるのに対して、検査画素(輪郭検査画素)の数は25個であるので、輪郭部(R3)は青色の着色画素にあり、表4に示す青を欠陥が発生した着色画素と判定する。   Table 4 is obtained by superimposing Table 3 on Table 2 in order to easily perform such a determination. As shown in Table 4, the number of inspection pixels (detection inspection pixels) as the blue determination threshold is 5, whereas the number of inspection pixels (contour inspection pixels) is 25. (R3) is in a blue colored pixel, and blue shown in Table 4 is determined as a colored pixel in which a defect has occurred.

次に、この欠陥のサイズ(φ2:40μm)を、着色画素の色毎に定められた欠陥のサイズの規格内の青色の欠陥のサイズ、すなわち、前記許容される青色の着色画素での欠陥のサイズである30μmφと対比して、許容される欠陥であると判定する。
尚、欠陥のサイズとして、直径を例示して説明を行ったが、実際には欠陥の形状は不定型であるので、欠陥の直径に匹敵するものとして、欠陥の面積、欠陥の長辺などで許容される規格を定めることもある。
Next, the size of the defect (φ2: 40 μm) is determined based on the size of the blue defect within the defect size standard defined for each color of the colored pixel, that is, the defect size in the allowable blue colored pixel. Compared with the size of 30 μmφ, it is determined that the defect is acceptable.
In addition, although the diameter was illustrated as an example of the size of the defect, since the shape of the defect is indefinite, the area of the defect, the long side of the defect, etc. are comparable to the diameter of the defect. It may define acceptable standards.

自動外観検査装置の一例の概略を示す側面図である。It is a side view which shows the outline of an example of an automatic external appearance inspection apparatus. 図1に示す自動外観検査装置の平面図である。It is a top view of the automatic external appearance inspection apparatus shown in FIG. 被検査体カラーフィルタ上における、反射用検査カメラと透過用検査カメラによる走査領域を説明する平面図である。It is a top view explaining the scanning area | region by the inspection camera for reflection on a to-be-inspected color filter, and the inspection camera for transmission. 検査カメラにて撮像されたカラーフィルタ画像の一例を模式的に示す説明図である。It is explanatory drawing which shows typically an example of the color filter image imaged with the inspection camera. (a)は、図4に示す左端の赤色の着色画素の点線で囲む部分を拡大した説明図である。(b)は、隣接する赤色の着色画素の点線で囲む部分を拡大した説明図である。(A) is explanatory drawing to which the part enclosed with the dotted line of the red coloring pixel of the left end shown in FIG. 4 was expanded. (B) is explanatory drawing to which the part enclosed with the dotted line of an adjacent red coloring pixel was expanded. 赤色の着色画素に発生した欠陥の一例の説明図である。It is explanatory drawing of an example of the defect which generate | occur | produced in the red coloring pixel. 液晶表示装置に用いられるカラーフィルタの一例を模式的に示した平面図である。It is the top view which showed typically an example of the color filter used for a liquid crystal display device. 図7に示すカラーフィルタのX−X’線における断面図である。It is sectional drawing in the X-X 'line | wire of the color filter shown in FIG. 良品カラーフィルタの着色画素を固体撮像素子を用いた検査カメラにて撮像したカラーフィルタ画像の一例を模式的に示す説明図である。It is explanatory drawing which shows typically an example of the color filter image which imaged the coloring pixel of the good quality color filter with the inspection camera using a solid-state image sensor. 被検査体カラーフィルタを検査カメラにて撮像し、欠陥が検出された説明図である。It is explanatory drawing by which the to-be-inspected object color filter was imaged with the inspection camera, and the defect was detected. 欠陥を構成する複数の検査画素の位置情報から欠陥の周囲に一定幅の輪郭部を設定する説明図である。It is explanatory drawing which sets the outline part of a fixed width around a defect from the positional information on the some test | inspection pixel which comprises a defect.

符号の説明Explanation of symbols

4・・・カラーフィルタ
10・・・被検査体カラーフィルタ
11・・・定盤
12・・・検査ステージ
13A・・・反射用光源
13B・・・透過用光源
14A・・・反射用検査カメラ
14B・・・透過用検査カメラ
15・・・画像処理装置
21、41・・・ブラックマトリックス
22、42・・・着色画素
22R・・・赤色の着色画素
22G・・・緑色の着色画素
22B・・・青色の着色画素
40・・・ガラス基板
43・・・透明導電膜
D、D2、D3・・・欠陥
E1〜En・・・輪郭部を構成する複数の検査画素(輪郭検査画素)
K1〜Kn・・・第1検査画素〜第n検査画素
R3・・・輪郭部
Sr・・・反射用検査カメラ及び透過用検査カメラの走査領域
4 ... Color filter 10 ... Object color filter 11 ... Surface plate 12 ... Inspection stage 13A ... Reflection light source 13B ... Transmission light source 14A ... Reflection inspection camera 14B ... Transmission inspection camera 15 ... Image processing device 21, 41 ... Black matrix 22, 42 ... Colored pixel 22R ... Red colored pixel 22G ... Green colored pixel 22B ... Blue colored pixel 40 ... glass substrate 43 ... transparent conductive films D, D2, D3 ... defects E1 to En ... a plurality of inspection pixels (contour inspection pixels) constituting the contour portion
K1 to Kn: First inspection pixel to nth inspection pixel R3: Outline Sr: Scanning region of reflection inspection camera and transmission inspection camera

Claims (2)

カラーフィルタの製造工程で発生する欠陥の検査方法において、
A)予め、1)良品カラーフィルタを検査カメラにて撮像し、撮像した第1色の着色画素における検査画素(良品検査画素)の濃度範囲を設定し、
2)後に、被検査体カラーフィルタを前記検査カメラにて撮像した際に、撮像した着色画素が第1色であることを判定するために必要な第1色の判定閾値として、上記1)で設定した濃度範囲の濃度を有する検査画素(検出検査画素)の数を設定し、
3)上記1)を、第2色の着色画素、第3色の着色画素、ブラックマトリクス、及び他、の各部位について行い、各々における検査画素(良品検査画素)の濃度範囲を設定し、
4)上記2)を、上記各部位について行い、各々における判定閾値としての検査画素(検出検査画素)の数を設定し、
B)次に、1)被検査体カラーフィルタを前記検査カメラにて撮像し、欠陥が検出された際に、欠陥を構成する複数の検査画素の位置情報から、欠陥の周囲に一定幅の輪郭部を設定し、
2)該輪郭部を構成する複数の検査画素(輪郭検査画素)の各濃度を求め、得られた検査画素(輪郭検査画素)の各濃度を、前記A)1)、及び3)にて設定した、第1色の着色画素及び上記各部位の各々の検査画素(良品検査画素)の濃度範囲と対比して、該当する濃度範囲にある濃度を有する検査画素(輪郭検査画素)の数を各々の検査画素(良品検査画素)の濃度範囲毎に集計し、
C)次に、1)集計して得られた第1色の着色画素の検査画素(良品検査画素)の濃度範囲にある、輪郭部を構成する検査画素(輪郭検査画素)の数が、前記A)2)にて設定した、第1色の判定閾値としての検査画素(検出検査画素)の数以上であれば、輪郭部及び前記欠陥は第1色の着色画素にあると判定し、
2)上記1)を、上記各部位について行い、前記A)4)にて設定した各々の検査画素(検出検査画素)の数以上であれば、輪郭部及び前記欠陥は当該部位にあると判定し、
D)次に、前記欠陥のサイズを、着色画素の色毎に定められた欠陥のサイズの規格の当該色の欠陥のサイズと対比して、許容される欠陥か否かを判定し、
欠陥の検査を行うことを特徴とするカラーフィルタの外観検査方法。
In the inspection method of defects that occur in the color filter manufacturing process,
A) In advance, 1) a non-defective color filter is imaged with an inspection camera, and the density range of the inspection pixel (non-defective product inspection pixel) in the colored pixels of the imaged first color is set.
2) Later, when the inspected object color filter is imaged by the inspection camera, the determination threshold of the first color necessary for determining that the imaged colored pixel is the first color is 1) above Set the number of inspection pixels (detection inspection pixels) with the density in the set density range,
3) The above 1) is performed for each of the second color pixel, the third color pixel, the black matrix, and the other parts, and the density range of the inspection pixel (non-defective inspection pixel) in each is set.
4) Perform the above 2) for each of the above parts, and set the number of inspection pixels (detection inspection pixels) as a determination threshold value in each of the parts,
B) Next, 1) An image of the color filter to be inspected is picked up by the inspection camera, and when a defect is detected, a contour having a constant width is formed around the defect from position information of a plurality of inspection pixels constituting the defect. Set the
2) The respective densities of a plurality of inspection pixels (contour inspection pixels) constituting the contour portion are obtained, and the respective densities of the obtained inspection pixels (contour inspection pixels) are set in A) 1) and 3). The number of inspection pixels (contour inspection pixels) having a density in the corresponding density range in comparison with the density range of the first color pixel and each inspection pixel (non-defective inspection pixel) in each of the above-mentioned parts. For each density range of inspection pixels (non-defective product inspection pixels)
C) Next, 1) The number of inspection pixels (contour inspection pixels) constituting the contour portion in the density range of the inspection pixels (non-defective inspection pixels) of the colored pixels of the first color obtained by aggregation is A) If the number of inspection pixels (detection inspection pixels) as the determination threshold of the first color set in 2) is equal to or greater than that, it is determined that the contour portion and the defect are in the colored pixels of the first color,
2) Perform 1) above for each part, and if the number of each inspection pixel (detection inspection pixel) set in A) 4) is equal to or greater than that, determine that the contour and the defect are in the part. And
D) Next, the size of the defect is compared with the size of the defect of the color of the standard of the size of the defect determined for each color of the colored pixel, and it is determined whether or not it is an allowable defect.
A method for inspecting the appearance of a color filter, which comprises inspecting for defects.
前記欠陥の周囲に一定幅の輪郭部における一定幅は、検査画素数で1〜5個の幅であることを特徴とする請求項1記載のカラーフィルタの外観検査方法。   The color filter appearance inspection method according to claim 1, wherein the constant width in the contour portion having a constant width around the defect is 1 to 5 in number of inspection pixels.
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