JP2008519381A - 光記録装置が使用している方法，光記録装置，及び当該方法と当該装置とを使用する光記録媒体。 - Google Patents

Abstract

光記録媒体の記録層上に照射ビームを用いて情報を書込むための光記録装置において使用される，書込みパワーレベルの最適値を設定する方法が記述されている。当該記録層は，非晶質状態と結晶質状態との間で変化することが可能である。当該光記録装置は，記録媒体上に情報を記録するために調節可能な書込みパワーレベルP_wを持つ照射ビームを発生するための照射源と，各々のパターンを異なる書込みパワーレベルの値にて当該記録層上のテスト領域に一連のテストパターンを記録するための制御ユニットと，前記テストパターンを読取り，かつこれに対応する読取り信号部分を形成するための読取りユニットと，少なくとも一つの読取り信号部分から読取りパラメータ値を得，そしてこの読取られたパラメータに基づいて書込みパワーレベルの最適値P_optを設定する第1の手段とを有する。本発明によれば当該光記録装置は，前記記録層の少なくとも一部を非晶質化しその後再結晶化するという初期ステップを少なくとも1回は行う第2の手段を更に有する。この態様にて書込みパワーレベルP_wの決定された最適値P_optに対する確実な結果が得られる。

Description

本発明は，光記録装置において，光記録媒体の記録層に照射ビームを用いて情報を書くために使用する当該照射ビームの書込みパワーレベルの最適値の設定方法に関し，前記光記録媒体の記録層は非晶質状態と結晶質状態との間で変化することが可能で，前記最適値の設定方法は，各パターンが照射ビームの異なる書込みパワーレベル（P_w）値を用いて書かれた，一連のテストパターンを記録層のテスト領域中に書く第１のステップと，これに対応する読取り信号部分を形成するために当該テストパターンを読む第２のステップと，少なくとも一つの読取り信号部分から読取りパラメータ値を得て，この読取りパラメータの値に基づき書込みパワーレベルの最適値（P_opt）を設定する第３のステップとを有する。

本発明はまた，照射ビームを照射して，記録層が非晶質状態と結晶質状態との間で変化可能な光記録媒体の記録層に情報を書込むための光記録装置にも関し，当該装置は，記録媒体に情報を記録するために調節可能な書込みパワーレベル（P_w）値を持つ照射ビームを発する照射源と，記録層のテスト領域に，各パターンが書込みパワーレベルの異なる値で記録されている一連のテストパターンを記録するための制御ユニットと，当該パターンを読み，対応する読取り信号部分を形成するための読取りユニットと，少なくとも一つの読取り信号部分から読取ったパラメータの値を得て，この読取られたパラメータ値に基づいた書込みパワーレベルの最適値（P_opt）を設定する第1の手段とを有する。

本発明はまた，記録媒体の記録層に照射ビームを用いて照射することにより情報を記録する光記録媒体にも関し，当該記録媒体は，テスト領域と，情報が当該記録媒体上に記録され得る記録プロセスを表す制御情報を含む領域とを有し，当該制御情報は前記記録プロセス用の複数の記録パラメータ値を有している。これらの記録パラメータ値は，種々のパワーレベルを表すパラメータを含むことが可能で，そればかりでなく時間情報を表すパラメータも含むことが出来る。

前記方法で用いられている書換え型の相変化媒体は，その製造工程中で初期化される。これは，当該相変化層は結晶化されていることを意味する。ある光記録装置，例えばドライブが光記録媒体，例えば光ディスクに書込みを開始する前には，最適書込みパワーレベルを決定するために一般には最適パワー校正（OPC）が実行される。このOPCは，光ディスクの未記録部分（すべて初期化された結晶質状態である）に行うことが出来，又は代替的には，以前に１度かそれ以上OPC手順で使用された部分（このため一部は非晶質状態になっている）に行うことが出来る。この場所の違いにより，OPC手順の結果は異なるかも知れない。これゆえ，良く知られているガンマ-OPC手順（例えばDVD+ReWritable, 4.7 Gbytes, Basic Format Specifications, System Description, version 1.2, December 2002に記載されている）のような従来のOPC手順では，実際のOPCを実行するのに先立ちDC-消去がOPC手順に加えられてきた。これは，消去パワーレベルに等しいDCパワーレベルを持つ照射ビームが光ディスクに照射されることを意味する。この態様にて，全て結晶質状態である領域が得られる。

冒頭の方法及び装置は，欧州特許出願No. EP 0 737 962から既知である。従来技術の装置は照射ビームの最適書込みパワー（P_opt）を設定するために以下のステップを含む方法を使用している。最初に，前記装置は記録媒体上に，各々のパターンの書込みパワー（P_w）が徐々に増加してゆくような一連のテストパターンを記録する。次に，前記装置は前記テストパターンに対応する読取り信号から各記録テストパターンの変調度（M）を得る。当該変調度（M）の，書込みパワー（P_w）に関する微分値を演算し，変調度（M）（の範囲）にわたって書込みパワー（P_w）で乗算することによりこの微分値を正規化する。正規化された微分値（γ）とプリセット値（γ_target）との交点が，目標書込みパワーレベル（P_target）を決定する。最後に，当該記録媒体の記録に適する書込みパワーレベル（P_opt）を得るために，この目標書込みパワー（P_target）にパラメータ，ロー（ρ）が乗算される。

パラメータ，ロー（ρ）の値は，記録媒体自身上の記録プロセスを示している制御情報を含む領域から読取られる。やはり記録媒体自身上にある記録プロセスを示している制御情報を含む領域から読取られた値（P_ind）の近傍の範囲にある複数の書込みパワー（P_w）値を用いて，複数のテストパターンが記録媒体上に記録される。

光ディスク記録装置においては，レーザービームのような照射ビームの正しいパワーにて光記録媒体に情報を記録する事が重要である。各々の記録媒体と記録装置との組み合わせに対する環境の違い及び装置間の差異に起因して，媒体の製造者はこの正しいパワーを絶対的に確実な方法（例えばディスクに事前記録するとか）で供することは出来ない。

他の既知の方法は，米国特許US 2002-0114235-A1 (出願者整理番号PHNL000685), 及び同じくUS 5,978,351 (同PHN16186)，及び同じく US 2004-0081046-A1 (同PHN16187)に既述されており，ここでも参照されて組み込まれている。

誰もが知っている8xのDVD+RWディスクにおいて，当該ディスクの未記録の部分で行われたOPCの結果は，同じディスクの以前に書込まれた部分で行われたOPCの結果とは異なることが観察されている。これゆえ，従来のOPC手順では最適書込みパワーレベルの決定値は，以前に書かれたOPC領域がドライブによって使用されたか否かに依存している。従ってOPCの結果は確実なものではなかったかも知れない。

本発明の目的は，書込みパワーレベル(P_w )の決定された最適値(P_opt)に対する確実な結果を与えるという冒頭による方法を供することにある。

この目的は，冒頭で述べられた方法が第1のステップに先立ち，記録層の少なくとも一部を非晶質化し，続いて前記記録層を再結晶化させるという少なくとも一つの初期ステップを更に有することを特徴とする本発明によって達成される。

発明者達は，例えば1〜2.4x DVD+RW媒体で使われている従来の材料では，前に述べたDC-消去は融解消去であるとの見識を持った。これは，非晶質領域が結晶化されるのみならず，これらの非晶質領域の間にある結晶領域が先ず融解され，それに続いて結晶化されることを意味している。この結果，実際のOPCは常にフレッシュな全面結晶化された材料上で行われる。

発明者達は，例えば8x DVD+RWで使われているような高速度用で，かつ相変化速度の速い材料とは対照的に，例えば6x及び8xの速度での記録は非融解消去を用いて行われているとの他の見識も持った。この結果，実際のOPCに先行するDC-消去は，非晶質領域を結晶化するのみであろう。非晶質領域の間の既に結晶化している領域は融解されることなく，同じ結晶質状態に留まるであろう。

これゆえ，従来のOPCがディスクの空の未記録の部分に実行されたとき，実際のOPCは古くなった結晶材料上で行われる。しかしながら，もし同じOPCが前記ディスクの既に書込まれた部分に行われるとすると，OPCの一部はフレッシュな結晶材料上（即ち，当該材料はDC-消去前には非晶質であった）に実行され，また一部は古くなった結晶材料上（即ち，当該材料はDC-消去前には結晶質であった）に実行されるであろう。

それゆえ従来のOPCでは，未記録部分でのOPCの結果は記録された部分を用いたOPCとは大変異なる場合が生じ得た（書込みパワーレベルの最適値のばらつきが5%以上に達することさえあった）。本発明の基本的な考えは，OPCは少なくとも一部はフレッシュな結晶材料を持つOPC領域の一部を使ってのみ行うべきであるということである。前記を確実なものとするために，請求項1に記載の方法が供される。本発明による前記方法の他の実施例は，従属する請求項に記載されている。

本発明による前記方法の実施例において，前記初期ステップは，第1のステップと，第2のステップと，第3のステップとが遂行されるテスト領域の一部にて行われる。例えば光ドライブは，各OPC手順を実行するのに先立ち，書込みパワーの安全かつ最良の推定値にてOPCが行われようとしている領域にのみ書込む。

本発明による前記方法の他の実施例において，前記初期ステップは，第1のステップと第2のステップと第3のステップとが遂行されなかったテスト領域の一部にて繰り返されし行われるか，又は前記初期ステップは，全てのテスト領域，若しくは実質的に全てのテスト領域にて行われる。例えば，空の未使用のディスクを認識した時，又は一部未記録のOPC領域を持つディスクを認識した時には，光ドライブは全てのOPC領域に書込む。これはもし同一のディスクが当該ドライブに2度目に挿入された時に，同ドライブによる追加のアクションが必要ないという長所を持つ。

前記初期ステップは，データの書込み，DC-消去手順，又はパルス消去手順を有することが出来る。斯様な初期ステップの例は，新しい結晶質材料が得られるような比較的高い消去パワーを持つDC-消去である。

通常，前記初期ステップは例えば光ドライブのような光記録装置の照射ビームを用いて遂行される。

代替的には，前記初期ステップは光記録媒体の製造工程中で遂行される。これは，本発明による方法を未だ組み込んでいないドライブが，斯様な光記録媒体（即ち，従来技術のOPCにより得られた書込みパワーレベルの正確な最適値を持つ媒体）にデータを上手く書くことが出来るという長所を持つ。

本発明の他の目的は，書込みパワーレベル（P_w）の決定された最適値（P_opt）に対する確実な結果を与える冒頭の装置を提供することである。

この目的は，冒頭で述べられた装置が，第1のステップに先立ち，記録層の少なくとも一部を非晶質化し，続いて当該記録層を再結晶化させるという少なくとも一つの初期ステップを遂行するための第2の手段を有することを特徴とするとき，本発明によって達成される。

本発明による前記装置の実施例において，前記初期ステップは照射ビームによって遂行される。

本発明の他の目的は，OPCが信頼性良く実行出来る光記録媒体を提供することである。

前記目的は，冒頭で述べられた光記録媒体が 記録層の少なくとも一部を非晶質化し，続いて当該記録層を再結晶化させるという少なくとも一つの初期ステップが前記記録媒体に適用されることを特徴とする本発明によって達成される。好ましくは，前記少なくとも一つの初期ステップは当該記録媒体のテスト領域に遂行されている。

本発明の目的，特徴及び長所は，添付の図面に例示されているように，以下のより明確な本発明の実施例の説明から明らかであろう。

図1は，光記録媒体1に記録する本発明による光記録装置を示す。前記記録媒体1は，その上に透明な基板2及び記録層3を持つ。記録層3は，照射ビーム5による情報の記録に適する材料を有する。前記記録材料は，例えば，相変化型であっても良いし，又はいかなる他の材料でも良い。情報は，記録層3の上に，マークと呼ばれる光学的に検知可能な区域の形で記録されることが出来る。前記装置は，照射ビーム5を発する照射源4，例えば半導体レーザ，を有する。当該照射ビームは，ビーム・スプリッタ6と対物レンズ7と基板2とを経由して前記記録層3上に集束される。前記記録媒体は，代替的には空中投射であっても良く，この場合，前記照射ビームは基板2を通過することなく直接記録層3に投射される。媒体1から反射された照射は対物レンズ7によって集束され，ビーム・スプリッタ6を通過した後，当該入射照射光を電気検知信号に変換する検知システム8に到達する。前記検知信号は回路9へ導かれる。当該回路9は，記録媒体1から読取られた情報を表す読取り信号S_Rのような複数の検知信号から幾つかの信号を得る。前記照射源4，ビーム・スプリッタ6，対物レンズ7，検知システム8及び回路9は，一体となって読取りユニット90を形成する。

回路9からの前記読取り信号は，当該読取り信号から読取りパラメータを表す信号を得るために第1のプロセッサ10内で処理される。得られた信号は第2のプロセッサ101に供給され，読取られたパラメータの一連の値を処理し，そしてレーザパワーレベルを制御するために必要な書込みパワー制御信号に対する値を得る第3のプロセッサ102へ続いて供給される。

前記書込みパワー制御信号は制御ユニット12へ送られる。前記記録媒体1へ記録される情報を表す情報信号13もまた当該制御ユニット12へ供給される。前記制御ユニット12の出力は，照射源4へ接続されている。記録層3のマークは1個の照射パルスにより記録されることが出来，当該パルスのパワーは前記プロセッサ102によって決められた最適書込みパワーレベル（P_opt）によって決定される。代替的には，1個のマークは，等しい長さ又は異なる長さでかつ前記書込みパワー制御信号によって決まる1個かそれ以上のパワーレベルの一連の照射パルスによって記録されることが可能である。

前記プロセッサは，例えばマイクロプロセッサであるとか，デジタル信号プロセッサであるとか，配線接続されたアナログ回路であるとか，又は外部プログラミング可能な回路であるとかの，計算を遂行するのに適したどのような手段をも意味すると理解される。更には，第1のプロセッサ10と，第2のプロセッサ101と，第3のプロセッサ102とは別々の装置であっても良いし，又は代替的に，全ての三つの処理を実行する単一の装置であっても良い。

記録媒体1に情報を記録する前に，本発明の実施例に従った装置が，実際のOPCステップに先行してデータの書込み，続いて前記データを消去する初期OPCステップを使用するときは，当該装置はその書込みパワー（P_w）を安全な最良の推定値に設定する（例えば，P_ind×ロー（ρ）とする。パラメータP_ind 及びロー（ρ）は，当該記録媒体それ自身上にある記録プロセスを示している制御情報を含む領域から読取る）。不確実なOPCの結果を避けるために本発明による態様の一つは，例えば，実際のOPCに先立って，初期書込み及びそれに続くDC-消去を行うことである。

データの書込み及びそれに続く前記データの消去を行う初期ステップは，前記制御ユニット12のコントロール下で行うことが出来る，又は代替的には，追加の制御ユニット（図1では示されていない）の制御下で行うことが出来る点に注意する。

図2及び図3では，1回，又はより良い2回の初期書込みを行うことにより，OPCがDOW10以上書かれた部分で行なわれたときに得られるOPCの結果に近いOPCの結果が得られることが示されている。従って未記録部分及び記録済み部分の両方から確実なOPCの結果を得ることができる。DOWとはDirect Over Writeを意味し（即ち，以前書かれた場所を消去するという上記の先行ステップ無しで当該の以前書かれた場所の上に直接書込む動作を指す），続く数字はDOWサイクルが行われた回数を表す。

図2及び図3では，初期書込み無しの，未記録の部分へのOPCの結果もまた参考のためにプロットされている。実際にはこれらのプロットは，記録媒体の未記録の部分での従来のOPCを表している。明らかにこのOPCは，書込まれたトラック上でのOPCに比べて非常に大きなパワーの結果となっている。図2において，OPCが未記録の部分に行われた場合とOPCがDOW10の部分に行われた場合を比べると，変調度（M）及びガンマ-曲線は大きく異なることが見て取れる。ガンマ-OPCの前に1回の初期書込みをする（DOW0へのOPC）という初期ステップを行うと，前記変調度及びガンマ-曲線はDOW10の状況と大変似てくる。ガンマ-OPCの前に2回の初期書込みをする（DOW1へのOPC）という初期ステップを行うことは，確実なOPCの結果のためになお一層良い。

図3は，実際のOPCに先行して異なる条件を持つ材料で得られた実際のOPCの結果のグラフを示す。各々の異なる条件に対して，実際のP_targetは，グラフがX軸と交差した場所での書込みパワーである。P_optはP_targetと，記録媒体から読取ることができるロー（ρ）とを乗算することにより得られる。1回又はそれ以上の初期書込みを行う場合，P_targetの差は0.5mW以下である。初期書込みを使わぬ場合，非常に高い値を持つP_targetが得られる。

光ドライブが実際のOPCステップに先行する初期ステップにおいて初期書込みを行うとき，当該ドライブが最適書込みパワーで書くか否かは不明である。それ故，本発明は初期書込みパワーと P_Wより15%低いDC-消去パワーとの組み合わせ及び初期書込みパワーとP_W より15%高いDC-消去パワーとの組み合わせ（即ち，公称値より15%低い書込みパワー及び公称値より15%高い書込みパワー）にてテストされた。この結果は図4及び図5に示される。

図4は，異なる三つのパワーにてDOW0（=初期）書込みされたOPCの結果が示されている。これらの三つのパワーレベルに対する変調度及びガンマ曲線は大変似ている。

図5は，初期ステップに於る異なる書込みパワー及び消去パワーで得られたOPCの結果の差異は0.5mW より下であることが示されている。各々の異なる条件に対し，最適書込みパワーは，曲線がX軸を交差する地点の書込みパワーである。

図6には，本発明による方法の実施例がフローチャートに概要的に描かれている。前記初期ステップ40の後に実行される第1のステップ41において，当該装置は一連のテストパターンを光記録媒体1の上に書込む。このテストパターンは所望する読取り信号を与えるよう選択されるべきである。もし前記読取り信号から得られた読取りパラメータが，テストパターンの属している読取り信号部分の変調度（M）である場合，当該テストパターンは，読取り信号部分の最大変調度に達するほどに十分長いマークを有するはずである。この変調度（M）は，次の式から計算される。
M = ((I_H-I_L) / I_H ) ・100%,
ここでI_H及びI_Lは，例えば，8-14変調プラス（EFM＋）符号化が採用されているときは，情報担体に記録されたチャネルビット長の14倍の長さを持つ長いマークを有する情報を読んで得られる読取り信号の振幅で，I_Hは振幅の最大値であり，I_Lは振幅の最小値である。前記情報が所謂8-14変調（EFM）に準拠して符号化されているときは，テストパターンは変調手段の（中の）長いI11マークを好ましくは有する。各々のテストパターンは，異なる書込みパワーレベル（P_w）にて記録される。前記パワーの範囲は，記録媒体上に制御情報として記録された表示パワーレベル（P_ind）に基づいて選択される。続いて，制御ユニット12のコントロール下で，階段状に増加する記録パワーレベル（P_w）を持つテストパターンが記録される。テストパターンは記録媒体のどこにも書かれることが出来る。代替的には，テストパターンは記録媒体上に特別に供されるテスト領域に書かれることが可能である。

第2のステップ42において，前記記録されたテストパターンは読取りユニット90によって読取り信号S_Rを形成するよう読取られる。テストパターンは，異なる長さ又は等しい長さの数百個のマークを有する。

第3のステップ43において，プロセッサ10は読取り信号S_Rから各々の読取り信号部分に対する読取りパラメータを得る。好ましい読取りパラメータは変調度（M）である。これらの読取られたパラメータから，最適書込みパワーレベル（P_opt）が決定される。

本発明によれば，第1のステップ41に先行して実行される，記録層の少なくとも一部を非晶質化し，そして当該記録層を再結晶化させる初期ステップ40が遂行される。

OPCの結果の信頼性を増すために，ドライブ・テストゾーン及びディスク・テストゾーンに，これらの領域が使われる前に少なくとも1回当該初期ステップ40を行うことが好ましい。この初期ステップ40は，例えば，これらのテストゾーンへのランダムデータにての記録，そしてその後にこの記録された領域を消去するステップを有する。斯様な初期ステップ40において，記録プロセスを示している（物理フォーマット情報とも呼ばれる）制御情報を含む領域から得られた次のようなパワー設定値が例えば使われる：書込みパワー（Pw）= ρ×Pind 及び，消去パワー（Pe）＝ε₁×Pw。代替的には，ドライブによって決定された幾つかの最適書込みパワー設定値が使われる。

図7A はトラック30を持つ，本発明による記録媒体1の実施例を示す。当該トラックは円形又は螺旋形を持ち，例えば，エンボスされた溝又は稜線の形状をしている。前記記録媒体1の表面は，ユーザーの情報を記録するための情報記録領域31と，制御領域とも呼ばれユーザー情報を記録するのは一般には意図していない特定の記録パラメータのテストを行うためのテスト領域32とに仕切られている。当該テスト領域32は，図7Aでは破線状のトラックにより印されている。情報記録領域31は特定の書込みパワーレベルを超える照射を浴びると，光学的に検知可能な性質が変化することがあるタイプである。当該記録媒体上の情報は，光学的に検知可能なマーク34のパターンにより表されている。

記録されるマークの，例えば，長さに依存した一定の書込みパワー又は異なる書込みパワーの1個又はそれ以上の記録パルスによって各々のマーク34が形成される記録プロセスにより，情報は前記情報記録領域31の中のトラック30に記録される。この記録プロセスに対する記録パラメータは，前記記録プロセスを模擬しているマーク34のテストパターンの形にてテスト領域32でテストされる。図7Bは，マーク34のテストパターンの例を有するトラック30の大きく拡大された部分33を示す。記録パラメータに関する情報がテスト領域32の部分でテストされる前に，本発明による光記録装置で，前記制御領域32の同じ部分に本発明による方法が遂行される。代替的には，本発明による方法は全ての制御領域32に遂行されることが出来る。

本発明の応用：
- 本発明は，相変化型光媒体の製造工程に組み込み可能である。
- 本発明は，相変化形光媒体に記録するDVD記録機，CD記録機，Blu-ray記録機及びHD-DVD記録機のような光ドライブに組み込み可能である。

上述の説明及び実施例は本発明を制限する以上のものを例示していること，及び当業者は請求項の範囲からはずれることなく代替物を設計することが可能であろうことに注意すべきである。例えば本発明は，円盤形状の記録媒体，及び読取り信号の変調度（M）を読取りパラメータとして用いた実施例に基づいて説明されてきた。しかしながら，当業者にとっては，代わりの読取りパラメータ及び他の形状の記録媒体を採用することが出来ることは明白であろう。読取り信号のジッタが，例えば，読取りパラメータとして代替的に使用可能である。更に，請求項の括弧の間に置かれたいかなる参照記号も，本請求を制限するとして解釈されるべきではない。「有する」という単語，及びその活用変化形は，請求項にリストアップされた以外のステップ又は要素の存在を排するものではない。

本発明による光記録装置の実施例のブロック図を示す。 実際のOPCに先行して，異なる条件を持つ材料から得られた書込みパワーの関数としての変調度とガンマ値のグラフを示す。 実際のOPCに先行して，異なる条件を持つ材料から得られた実際のOPCの結果のグラフを示す。 異なる書込みパワーにて初期書込みした後に得られた記録パワーの関数としての変調度とガンマ値のグラフを示す。 異なる書込みパワーにて初期書込みした後に得られた実際のOPCの結果のグラフを示す。 本発明による実施例のフローチャートを示す。 本発明による記録媒体の実施例を示す。 図7Aの部分拡大図を示す。

Claims (16)

1. 照射ビームを照射して，非晶質状態と結晶質状態との間で変化することが可能な光記録媒体の記録層上に情報を書込むために光記録装置で使用する書込みパワーレベルの最適値を設定する方法であって，当該方法は，
   前記記録層のテスト領域に，照射ビームの異なる書込みパワーレベル（P_w ）にて各々のパターンが書込まれる一連のテストパターンを書く第1のステップと，
   対応する読取り信号部分を形成するよう当該テストパターンを読取る第2のステップと，
   少なくとも一つの読取り信号部分から読取りパラメータの値を得て，この読取りパラメータの値に基づいて書込みパワーレベルの最適値（P_opt）を設定する第3のステップとを有する方法において，
   前記第1のステップに先立ち，前記記録層を少なくとも部分的に非晶質化し，その後前記記録層を結晶化する少なくとも1回の初期ステップを更に有することを特徴とする方法。
2. 前記第1，第2及び第3のステップが遂行されるべきテスト領域の一部にて前記初期ステップが行われる請求項1に記載の方法。
3. 前記第1，第2及び第3のステップが遂行されたテスト領域の前記一部以外のテスト領域の他の一部にて前記初期ステップが繰り返される請求項2に記載の方法。
4. 前記初期ステップは，テスト領域の全体，又は少なくとも実質的に全てのテスト領域で行われる請求項1に記載の方法。
5. 前記初期ステップにおいて，前記記録層の少なくとも一部の非晶質化及び，その後の当該記録層の再結晶化は，当該記録層への照射ビームの照射により得られる請求項1に記載の方法。
6. 前記初期ステップは，データの書込み及びそれに続く当該データの消去のステップを有する請求項5に記載の方法。
7. 前記初期ステップは，DC-消去手順を有する請求項1又は5に記載の方法。
8. 前記初期ステップは，パルス消去手順を有する請求項1又は5に記載の方法。
9. 前記初期ステップは，光記録媒体の製造工程中に行われる請求項1又は5に記載の方法。
10. 前記初期ステップにおいて前記記録層の少なくとも一部の非晶質化は，当該光記録媒体の製造工程中で行われ，それに続く当該記録層の再結晶化は，当該光記録媒体の使用中に行われる請求項1又は5に記載の方法。
11. 照射ビームにより，記録層が非晶質状態と結晶質状態との間で変化可能な光記録媒体の記録層に情報を書込むための光記録装置であって，当該光記録装置は，
    前記記録媒体に情報を記録するために制御可能な書込みパワーレベル（P_w）値を持つ照射ビームを発する照射源と，
    記録層のテスト領域に，各テストパターンが異なる書込みパワーレベル値で記録される一連のテストパターンを記録するための制御ユニットと，
    当該テストパターンを読み，対応する読取り信号部分を形成するための読取りユニットと，
    各読取り信号部分から読取りパラメータの値を得て，この読取りパラメータ値に基づいた書込みパワーレベルの最適値（P_opt）を設定する第1の手段とを有する光記録装置において，
    一連のテストパターンの記録に先立ち，前記記録層の少なくとも一部を非晶質化し，その後当該記録層を再結晶化させる少なくとも1回の初期ステップを行う第2の手段を有することを特徴とする光記録装置。
12. 前記第2の手段は前記記録層の少なくとも一部を非晶質化するためにデータを書込むよう構成されており，かつ当該手段は書込みの後，当該記録層を次に再結晶化するために前記データを消去するよう更に構成されている請求項11に記載の光記録装置。
13. 前記の書込むデータは，ランダムデータである請求項12に記載の光記録装置。
14. 照射ビームにて記録層に照射することにより情報を記録するために非晶質状態と結晶質状態との間で変化することが可能な当該記録層を有する光記録媒体であって，当該記録層はテスト領域及び前記記録媒体上に情報を記録する記録プロセスを示す制御情報を含む領域を有し，当該制御情報は当該記録プロセスのための記録パラメータ値を有する記録媒体において，前記記録層の少なくとも一部は非晶質状態を持つことを特徴とする光記録媒体。
15. 照射ビームにて記録層に照射することにより情報を記録するために非晶質状態と結晶質状態との間で変化することが可能な当該記録層を有する光記録媒体であって，当該記録層はテスト領域及び前記記録媒体上に情報を記録する記録プロセスを示す制御情報を含む領域を有し，当該制御情報は当該記録プロセスのための記録パラメータ値を有する光記録媒体において，前記記録層の少なくとも一部は結晶質状態を持ち，かつ当該結晶質状態にある前記記録層の少なくとも一部は，前記記録層の少なくとも一部の非晶質化及びその後の再結晶化によって得られることを特徴とする光記録媒体。
16. 前記記録層の少なくとも一部は，当該光記録媒体のテスト領域に位置している請求項14又は15に記載の光記録媒体。

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