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JP2008518478A - 発光アレイの製造方法 - Google Patents

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JP2008518478A
JP2008518478A JP2007538972A JP2007538972A JP2008518478A JP 2008518478 A JP2008518478 A JP 2008518478A JP 2007538972 A JP2007538972 A JP 2007538972A JP 2007538972 A JP2007538972 A JP 2007538972A JP 2008518478 A JP2008518478 A JP 2008518478A
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optical
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JP2007538972A
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ジェイ. オウダーキルク,アンドリュー
エー. レザーデイル,キャサリン
ベンソン,オルスター,ジュニア
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3M Innovative Properties Co
Original Assignee
3M Innovative Properties Co
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  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)

Abstract

発光アレイの作製方法は精密に形状化されたパターン化研削材を用いて光学材料を研削する。1つまたは複数のパターン化研削材は、光学材料の1つまたは複数の交差軸に沿って接触且つ研削する。得られた精密に形状化且つ配置された光学素子は一連の光源と位置合わせ且つ接着される。

Description

本発明は光学素子および半導体素子などの一連の形状化要素を製造する方法に関する。
数ミリメートル未満の少なくとも1つの寸法を有する光学素子(すなわち無機または有機材料であるとともに少なくとも一平面に沿って刻面された形状化体、形状化体は光を反射、屈折、吸収するおよび/または熱を伝達する)および半導体素子は、現在多数の方法により作製されている。これらの方法には成型、個々の要素のラッピング、焼結を伴うゾルゲルからの光学素子の鋳造、微細複製、および表面張力または収縮を利用して所望の形状を形成する方法がある。これらの方法のうちラッピングだけが耐火性または結晶材料からの精密な形状の作製を可能にする。しかしラッピングは特にダイヤモンド、炭化ケイ素、およびサファイアなどの高い熱伝導率を有するセラミクスに関して、大量の光学素子を作製する最も遅く且つ最も高価な方法の1つである。加えて個々にラッピングされた形状化要素は個々に取り扱わなければならならず、それは困難である。
精密に形状化されたパターン化研削材を用いて光学材料を研削する、発光アレイを作製する方法が開示されている。1つまたは複数のパターン化研削材は、光学材料の1つまたは複数の交差軸に沿って接触且つ研削する。得られた精密に形状化且つ配置された光学素子は一連のLEDなどの一連の光源と位置合わせ且つ接着される。
本出願はまた、加工物が研削されて一連の形状化要素を規定するチャネルを少なくとも部分的に形成する、加工物から形状化要素を製造する方法も開示する。チャネルの表面はパターン化研削材により光学品質まで研磨される。
図1aおよび1bは一連の個々の光学および/または半導体素子を形成するための、基板材料を研削するパターン化研削材10、30の代表的な実施形態を示す。本明細書で用いるように研削は、基板材料の研削(abrading)および研磨(polishing)を同時に含み得るが、研磨は別のステップとして行われ得る。加えて要素または形状化要素に関して本明細書で用いるように、「個々の」または「個片化(singulated)」とは、識別可能であるが必ずしも他の要素から切り離されていない要素を指す。同様に個片化とは、必ずしも互いに切り離されていない識別可能なユニットを形成することを指す。図示のようにパターン化研削材10、30は加工面12、32とバッキング14、34とを含む。加工面12、32は突起16、36と、粒子18、38と、結合剤20、40とを含む。
パターン化研削材10、30は結合剤20、40内に分散された粒子18、38の複合物をバッキング14、34に塗布することにより形成される。バッキング14、34はポリエチレンテレフタレート(PET)フィルム、布、紙、不織布、金属箔、ガラス繊維、およびそれらの組み合わせなどの材料を備え得る。結合剤20、40は粒子18、38を分散させる媒体としての機能を果たすとともに、また複合物をバッキング14、34に接着させ得る。パターン化研削材10、30は複合物を成形することにより精密な三次元形状に形成される。
典型的な成形作業は、鋳型(mold)内で複合物または樹脂を形成することを含み、複合物または樹脂はその後紫外光、電子、x線、または熱エネルギーなどのエネルギー源で硬化される。代替的には複合物を塑性状態で形成するとともに硬化させて所望の形状を形成することができる。例えば粒子で充填されたフェノール結合剤が成形型で成形されるとともに、放射線または熱で硬化され得る。重要なことにはパターン化研削材10、30を厳密な仕様に合わせて作成することができることである。
スリーエム・カンパニー(3M Company)により製造されるトライザクト(登録商標)(Trizact(登録商標))研磨材がパターン化研削材の一例である。適当なパターン化研削材は研磨粒子と結合剤とを含む。結合剤材料はポリマ類、金属類またはセラミクス類で形成されている。一例にはウレタン類、エポキシ類、アクリル化ウレタン類、アクリル化エポキシ類、単および多官能アクリレート類、フェノール類、電鋳ニッケル、およびガラスタイプ材料がある。
粒子18、38は約0.5〜約20μm、またはいくつかの実施形態において約1.5〜10μmの平均直径を有する。粒子18、38は溶融酸化アルミニウム(茶色、加熱処理済み、および白色酸化アルミニウムを含む)、セラミック酸化アルミニウム、緑色炭化ケイ素、炭化ケイ素、シリカ、クロミア、溶融アルミナ:ジルコニア、ダイヤモンド、酸化鉄、セリア、立方晶窒化ホウ素、炭化ホウ素、ガーネット、およびそれらの組み合わせを含み得る。研削性能を変更および改善するために、処理補助剤などの他のアジュバントが含まれ得る。
粒子18、38は直接結合剤に混合してもよく、または粒子は結合剤に混合される前にまず研削材塊に形成してもよい。研削材塊を形成するためには、粒子をシリカまたはケイ酸塩ガラスなどのガラスタイプ材料内で結合して切断性能を改善する。そして研削材塊を結合剤に混合する。
パターン化研削材10、30の突起16、36は多数の形状うちのいずれかに形成され得る。一例には非球面円弧を含む円形および非円形円弧、台形、放物線、四角錐、およびそれらの組み合わせである、研削経路に垂直な断面を有する突起16、36がある。パターン化研削材を用いて作製された個々の光学および/または半導体素子の断面は、パターン化研削材10、30の経路に垂直に取った突起16、36の反転断面を有する。加えて個々の要素は、形状化要素上により複雑なファセットを生成する可能性がある少なくともより複雑な断面形状を有する一平面に沿って刻面(facested)される。
パターン化研削材10、30とは異なり、従来の研削材は通常平滑面を生成するために用いられる。溝形成を最小限に抑えるために、研削材頂点(間の間隔)のピッチはランダム化されているか、または頂点はサンディング動作に対して斜角に配向されているとともに、研削材はサンディング中は揺動される。代替的には従来の研削材の頂点は非特定形状を有して浅く、一ラッピングステップを含む。
またパターン化研削材10、30は従来のギャングソーと区別できる。ギャングソーは機械的に位置合わせされるとともに個々に取り付けられた多数列の金属刃である。金属刃は使用につれて鈍る。パターン化研削材は厳密に位置合わせされるとともに金型(die)、鋳型(mold)、または他の技術から製造される複合材料の一体化列であり、さらにギャングソーとは異なり使用につれて磨滅または鋭くなるとともに、多数の機能と有用性とを有するように構築することができる。上述したようにパターン化研削材は研削および研磨を同時に行うことができる。この特徴はギャングソーによる切断を始めとする他の方法に比べて形状化要素の損傷の低減につながる。パターン化研削材は粉砕助剤、充填剤粒子、粒子表面処理、界面活性剤、パシベーション剤、酸化剤、カプリング剤、分散剤、および他の添加剤も含み得る。これらの材料の例は米国特許公報第2003/0024169A1号明細書(ケンドール(Kendall)ら)に記載されている。
図2a〜2dは個々の精密な光学または/および半導体素子を、精密に形成されたパターン化研削材から形成する方法を図示する。図2aは加工面102とバッキング104とを有するパターン化研削材100を示す。加工面102は突起106を含むとともに、バッキング104は基準参照108を含む。
使用中、パターン化研削材100を多数の工具のうちのいずれかにより用いて基板材料を研削して、個々の光学および/または半導体素子を形成する。パターン化研削材100を回転可能シリンダ、ベルト、または平坦なシートの少なくとも一部分に適用して、研削プロセスの工具を作製してもよい。
図2bは光学および/または半導体材料で作製された加工物110を示す。加工物110は基板材料112と担体114とを含む。適当な基板材料には、ガラス類、方解石、サファイア、酸化亜鉛、炭化ケイ素、ダイヤモンド、およびそれらの組み合わせのような硬質無機材料などの光学材料がある。また光学材料にはこれらの材料の積層物、例えばガラスに接着された炭化ケイ素、ガラスに接着されたサファイア、ガラスに接着された方解石、およびガラスに接着された高分子フィルムがあり得る。光学材料の有利な特徴には、少なくとも0.01cm2/sの熱拡散率、透明性、高屈折率、低色度、および低毒性がある。また基板材料112はシリコンなどの半導体材料、もしくは炭化ケイ素またはサファイア上に蒸着された半導体を備え得る。基板材料112は任意のタイプの光学および/または半導体材料で構成し得るが、パターン化研削材110による研削および研磨は、脆弱な、非常に硬い、および/または感温性材料、従来の方法を用いて切断することが非常に困難であるとともに成形不可能な材料に特に有利である。
限定を意図することなく、開示された要素に対して特定の有用性を有するガラスには、約1.7より大きい屈折率と摂氏750度未満のガラス転移温度、より好適には650C未満のガラス転移温度とを有する無鉛ガラスがある。すべてが同じであれば低熱膨張係数を有するガラスが好ましい。いくつかの例示的ガラスには、すべてショット・ガラス(Schott Glass)(独国)から入手可能なn−LAF7、n−LAF3、n−LAF33、およびn−LASF46、ならびにオハラ・コーポレーション(Ohara Corp.)から入手可能なS−NPH2がある。
担体114は当該技術で周知の多数の材料のうちのいずれかで構成され得る。適当な材料は非常に機械的に安定していなければならない。
作業中、パターン化研削材100の加工面102は加工物110の基板材料112と接触する。加工物110は連続運動または揺動運動のいずれかにより、加工物110内に少なくとも部分的にチャネルを形成するとともに、チャネルにより規定される要素の表面を光学品質にまで研磨するように研削される。パターン化研削材100と加工物110との間の相対運動は図示の断面平面に垂直である。研削は乾燥または液体潤滑剤および冷却剤を用いて行われ得る。液体潤滑剤を利用する場合には、前述した粒子タイプにうちの1つを含む研磨スラリーが添加され得る。研磨スラリー(化学的機械的研磨(CMP)で一般に用いられる)は当該技術で既知である。例えばシリカ、アルミナ、またはセリア研磨粒子を含む液体ベースの複合懸濁液、および酸化剤、ポリマ、pH安定剤、分散剤、および界面活性剤などの化学添加物を適合可能な研磨パッドと組み合わせて用いることができる。適当な研磨流体は突起との粒子接触または相互作用点における高反応性または腐食性を提供する。異なる温度を用いて研磨流体の反応性または腐食性を制御し得る。代替的にはパターン化研削材100は研磨スラリーと組み合わせて用いられる無研削材パッドにより形成される。無研削材パッドがチャネルの形状を規定する一方で、研磨スラリーがチャネルの表面を光学品質まで研磨する。
要素の表面を遊離および固定砥粒研磨の両方を始めとする多数の従来の研磨技術のいずれかを用いて研磨することができる。遊離砥粒研磨において研磨鉱物(CeO2、SiO2、Al23、ダイヤモンド等)のスラリーは、溶剤(通例水)と組み合わされてパッドまたはプラテン材料に塗布される。研磨スラリーがパッド−基板界面に送達されつつ、研磨される材料基板が通常の負荷の元でパッドまたはプラテンに対して移動される。典型的なパッド材料はウレタン類などの多孔性ポリマ類、フェルト類、布類、または立毛(napped)ポリマ材料類である。固定砥粒研磨において研磨鉱物は樹脂、金属または硝子(ガラス)であり得る接着剤内に頑固に保持される。この状況において研磨される基板または材料はまた通常の負荷の元でパッドまたはプラテン材料に対して移動される。研磨液体を固定砥粒−基板界面に適用して研磨を補助することができる。研磨液体のタイプは、材料除去を助けるように設計されたpHの水溶性または非水溶性液体であり得る。研磨粒子のスラリーを固定砥粒と一緒に用いて研磨動作を提供することもできる。固定砥粒および遊離砥粒研磨用研磨パッドは共に、材料除去、表面仕上げ、および大型のトポロジー形状維持の適当なバランスを生じるように設計された多様な機械的構成および特性を生じる。
図2cは研削プロセス中のパターン化研削材100および加工物110を図示する。研削するためには加工面102と反対側のバッキング104と基板112の反対側の担体114とに力をかけて、研削プロセス中パターン化研削材100と基板112とを接触させていなければならない。これらの力は硬い材料、弾性材料(例えばゴム)を介して、もしくは表面を支える空気または液体などの流体を介してかけられる。
図2dは個々の要素116とチャネル118とを有する加工物110を示す。各個々の要素116は側面116aと上面116bとを含む。研削はチャネル118を形成して、側面116aおよび上面116bの一部またはすべてを同時に、または1つまたは複数のパターン化研削材がチャネル118を形成した後に表面116aおよび116bを研磨する状態で漸進的に研磨することによってもよい。同時に行われる場合には、研削速度は表面116aおよび116bを光学品質まで研磨するほど十分に速い。漸進的に行われる場合には、各研削材がプロセス中に微細になっていく状態で2つ以上のパターン化研削材の漸進が用いられるか、または粒子がプロセス全体を通して微細になっていく場合、研磨スラリーが添加され得る。
パターン化研削材100を、個々に異なる大きさに形成された粒子が分配または突起106の特定の部分に集中された状態で準備することができる。例えば大きな粒子を突起106の先端に組み込むことにより高い除去速度および要素116上に粗い仕上げを提供し得る。より微細な粒子を突起106の側部に集中させることにより、要素116の側面116aを研磨し得る。パターン化研削材100の各突起106間の表面であるランドは、要素116が突起106とほぼ同等の高さを有する場合には、加工物110の上面116bを研削する異なる粒径を組み込んでもよい。多機能領域を有するパターン化研削材の一例が国際公開第01/45903A1パンフレット(オオイシ(Ohishi))に記載されている。
図3a〜3fは代替方法を示す。ここでダイヤモンドソーまたは同様なタイプの工具を用いてチャネルを大まかに形成し、チャネルはその後1つまたは複数のパターン化研削材で仕上げられる。
図3aは突起206を有するパターン化研削材200と、基板材料212と担体214とを有する加工物210とを含む。作業中加工物210は、突起206が部分的にのみチャネルを形成するようにパターン化研削材200で研削される。
図3aのステップの結果が図3bに示されている。加工物210はここで部分的に形成されたチャネル218aを含む。
次に図3cに示されているように、ダイヤモンドソー220は部分形成チャネル218aを、チャネルをさらに形成するためのガイドとして用いる。ダイヤモンドソー220は各チャネル218aを個々に切削して、部分形成チャネル218bを形成する。部分形成チャネル218aを用いることで、ダイヤモンドソー220が適正な場所に各チャネル218bを確実に切削することができる。図3bは各部分形成チャネル218bの形成後の加工物210を示す。ほぼ基板212を通しての切削を示しているが、ダイヤモンドソー220は基板212中を完全に切断することにより、部分形成チャネル218bを形成し得る。
チャネルの形成を仕上げるために、パターン化研削材200は加工物210を研削してチャネル218を規定するとともに要素216を形成する。これは図3eに図示されている。パターン化研削材200は当初に使用した同じパターン化研削材または異なるパターン化研削材であり得る。上記したCMPおよび固定砥粒技術を用いてさらなる研磨を達成することができる。
個々の要素216が図3fに担体214に取り付けられて示されている。パターン化研削材200は表面216aおよび216bの少なくとも一部を光学品質にまで研磨した。
基板212が完全に研削され得るか、または完全に研削される前に研削を停止することができる。基板212中を完全に研削する前に研削が停止される場合には、その結果得られる形状化要素アレイを基板212の背面の残りをバックグラインドすることにより、個片化することができる。これが個片化形状化要素の背面から見たときのファセットの第2の平面を作製する。
図4a〜4cは代替方法を図示する。図4aは粗いチャネル318cを有する基板312を示す。基板312は前述した方法または当該技術で周知の他の方法のいずれかにより研削または切削され得る。
図4bに示すように軟質で、容易に研磨されやすい共形コーティング312aが、化学蒸着またはスパッタリングなどの技術を用いて粗く形状化された基板312材料上に堆積される。コーティング312aはシリカ、ケイ酸塩ガラス、またはインジウムスズ酸化物であり得るとともに、部分形成要素のすべてを被覆しなければならない。そしてパターン化研削材はコーティング312aを研削してチャネル318を形成するとともに、チャネル318の表面を光学品質まで研磨する。図4cは得られた製品、要素316aを示す。
さらに他の代替方法において、(図示しない)パターン化研削材を最初に用いて加工物上の基板をプランジカットすることにより部分形成チャネルを形成する。その後同じまたは他のパターン化研削材が、パターン化研削材を部分形成チャネルの表面に対して横方向に付勢することにより部分形成チャネルの側面を研削する。この方法から生じるチャネルはパターン化研削材の突起より幅広い。
個々の要素はアレイとして用いられるように、または個々に用いられるように個片化され得る。個々に用いられる場合には、担体はその除去により形状化要素を個片化するように解放可能であり得る。
形状化要素は、各要素の基部が特定の所望形状を有するとともに形状化要素が刻面されるように形成することができる。形状およびファセットは加工物を1つまたは複数の交差軸に沿って研削することにより形成される。図5および6はこの概念を図示する。
図5は正方形基部(太字で示す)を有する要素の構成を図示する。図5は中心線CL1と中心線CL2とを示し、それらは加工物内に形成されたチャネルの中心線を表わしている。中心線CL1に沿って研削し、加工物をパターン化研削材に対して約90°回転し、さらに中心線CL2に沿って研削することで、正方形基部を有する要素を作製する。
図6は六角形基部を有する要素(太字で示す)の構成を図示する。図6は中心線CL3と、中心線CL4と、中心線CL5とを示す。ここで相対的回転は3つの研削ステップ間で約60°である。このプロセスによれば3つ以上のファセットを有する形状化要素を形成することが可能であり、形状化要素に3〜8のファセットが容易に作製される。各追加軸に沿った方向性研削は形状化要素上により複雑なファセットを生成する。
チャネルの経路は図5および6に示すように直線か、または曲線であり得る。複数の湾曲交差経路が形成されるか、または緩やかに湾曲した円弧であるかまたは回転体が形成されないように正弦曲線になり得る。
さらに交互配置プロセスによりチャネルを形成し得る。この方法において複数の第1のチャネルがパターン化研削材で加工物内に形成される。パターン化研削材が持ち上げられ、ある距離横方向に移動され、そして据え置かれて第1のチャネルと平行であるがずれている複数の第2のチャネルを形成して、第1および第2のチャネルが交互配置される。必要に応じて異なるパターン化研削材を用いて第2のチャネルを形成してもよい。このプロセスは所望の数のチャネルが達成されるまで、1つまたは複数のパターン化研削材を用いて継続される。
各要素の高さは設計の選択肢の問題であるが通例約10mm、より好適には約300μm〜約4mmになる。各要素の基部幅は高さの約10分の1〜約2分の1になり、各要素間の距離は高さの約2分の1になる。形状化要素のアスペクト比は通例2:1または5:1である。透明な光学材料で作製された要素は図示のように先細形状を有して、光を平行にするまたは焦点に収束させることができる。しかしいくつかの実施形態において垂直またはほぼ垂直側面を有する個々の要素を作製することが有利であり得る。
精密な個々の要素を製作するためには、パターン化研削材は所望の形状を形成するために必要な各軸に沿って研削するように、加工物に対して正確に位置決めされなければならない。これは多数の方法のいずれかによって行われ得る。図2aに示すように、パターン化研削材100は基準参照108を含み、基準参照108は工具のガイドに嵌入されて研削中パターン化研削材を正しい位置に位置決めおよび保持する。1つまたは複数の突起106などの基準参照は加工面102上にあってもよい。基準参照はガイドを用いて機械的であり得るか、または配置を制御する制御機構へ信号を供給し得る。制御機構はパターン化研削材100、加工物110またはその両方の位置を動的に調整する。制御機構は光学的、機械的、電気的、または磁気的信号を利用し得る。
代替的にはローラおよび1つまたは2つの側壁をベルトを有する工具の縁部ガイドとして用い得る。この側壁はベルトの縁部の位置を規定する。
一連の光学素子は発光ダイオード(LED)ダイなどの個片化光源に接着され得る。しかし開示の方法により作製された個々の光学素子はアレイを規定する正確な場所にあるため、光学素子およびダイのいずれかまたは両方は解放可能な担体に固定されている場合、一連の光学素子は一連のLEDダイとの位置合わせに理想的である。図7a〜7cは一連のLEDダイに接着され得る一連の光学素子を製造する他の方法を図示する。
図7aは突起406と突起422aとを有するパターン化研削材400を示す。図7bは光学材料424bおよび424cならびに担体414を有する加工物410を示す。ここで加工物410は多層光学材料の利用を図示する。例えば層424bはガラス、セラミックまたはポリマ類であり得る。適当なポリマには熱硬化性、熱可塑性、および配向熱可塑性ポリマがある。層424cの適当な材料にはガラス、セラミックまたはポリマ類、ならびに多層光学フィルムミラーまたは偏光板、金属類、インジウムスズ酸化物、酸化亜鉛、金属網、格子、網、およびワイヤグリッド偏光板を始めとする無機層などの他の材料がある。ワイヤグリッド偏光板は米国特許第6,243,199号明細書(ハンセン(Hansen)ら)および米国特許第6,785,050号明細書(ラインズ(Lines)ら)に記載されている。ワイヤグリッド偏光板は場合によっては保護コーティングで被覆され得る。
図7cは研削プロセスから形成された光学素子416を示す。光学素子416は側面416aとチャネル418bを有する上面416bとを含む。図示のようにパターン化研削材400の突起422aは上面416b内にLEDの取り付けを助けるチャネル418bを形成する。パターン化研削材400は光学品質までの研磨面416aおよび416bに有し、約20nm以下の表面粗さRAを有することが好ましい。
いくつかの実施形態において、光学素子416に取り付けられたLEDダイは光学素子416と接着される前にアレイに配列される。このプロセスが図8a〜8dに図示されている。
関連手法において図7bに示すような2つ以上の層状加工物は、上記のような光学材料で構成された第2のウエハに接着された半導体ウエハを備え得る。半導体ウエハは基板と、電極層と、エレクトロルミネセンスにより光を生成するのに適した半導体層とを含み得る。半導体ウエハ内に形成されたLEDは、両方の電極にウエハの一方側からアクセス可能な「フリップチップ」設計を有することができる。ウエハ内のLEDの発光面に対応する半導体ウエハの反対側は光学材料の層に接着されている。従来の接着方法を本明細書の他の部分に記載されているように用いることができる。そして半導体/光学組み合わせ加工物を本明細書に開示されたパターン化研削材のいずれか、例えば図1bのもので研削することができる。必要な場合には、半導体ウエハの電極層がもし存在すれば、電極層を研削プロセス中にポリマまたは他の材料の薄膜で保護することができる。このようなポリマまたは他の材料を後で熱、プラズマエッチング、または適当な溶剤を用いて除去することができる。研削を組み合わせ加工物の一側または両側から開始することができる。半導体ウエハ側から開始する場合には、且つ図1bのような先細突起を用いてウエハ内のLED間にチャネルを切削する場合には、研削手順が完全である場合最終的な結果は、互いに固着されるとともに固有位置合わせされているが小さい個々の光学素子を小さい個々のLEDダイに個々に位置合わせするまたはマウントする必要のない、多数の個々のLEDダイ/光学素子対である。
図8aは接着剤526によって担体524に取り付けられた基板522を示す。この例では基板522は半導体材料のウエハであるとともに、担体524は適当な溶剤、熱、UV照射、または適度な剥離力を用いて解放可能である。担体524は接着層を有するプラスチックフィルムなどの材料と場合によってはウエハフレームとを備え得る。適当なプラスチックフィルムにはダイシングテープとして当該技術で既知のもの、例えばニュージャージー州プリンストン(Princeton,New Jersey)のエーアイ・テクノロジー(AI Technology)により販売されているダイシングテープがある。ウエハフレームはプラスチックまたは金属で作製され得るが、曲げ、屈曲、腐食および熱に対して耐性がなければならない。
パターン化研削材500は基板522を研削してLEDダイを規定するチャネルを形成する。図8bに示すように基板522の厚さは突起516の高さ未満である。第1の研削ステップに続く研削ステップにおいて基板522への応力を緩和するために、チャネルを適当な材料でバック充填してもよく、その材料はその後分解されるかまたは最後の研削ステップの後で洗い流される。適当な材料は溶解可能、燃焼可能、または光分解可能な剛性高分子材料である。このバック充填技術を説明した実施形態のいずれかと共に用い得る。
その結果得られる、側面538aと上面538bとを有し、担体524に取り付けられたLEDダイ538が図8cに示されている。パターン化研削材500を用いた半導体材料のウエハのダイシングは同時に側面538aを光学品質まで研磨するため、ウエハのダイシングに伴う時間およびコストを低減する。加えてウエハをダイシングする現在の方法は欠損ダイの割合が大きくなる。開示の研削方法は欠損ダイが少なく、これはもう一つの大きなコスト削減である。基板の大きな部分にわたりウエハをダイシングするさらなる利点は、ダイサ速度が完成ダイの寸法にあまり依存しないということである。例えば大型のウエハを非常に小さいダイに個片化することは、従来のダイシング技術を用いると非常に時間がかかる恐れがある。
そして一連の光学素子416(図7c)が一連のLEDダイ538に取り付けられる。図8dに示すように、光学素子416はLEDダイ538と一対一の対になる。対の光学素子およびLEDダイをアレイとしてまたは個々に用い得る。光学素子416およびLEDダイ538の各組み合わせを、担体414および524を除去することによりまたは担体414および524にわたって切断することにより個片化することができる。
代替方法において基板522は基板424bおよび424c(図7b)上に積層される。パターン化研削材は基板522、424cおよび424bのすべてまたは一部にわたり研削する。このようにLEDに接着された一連の光学素子は、光学および半導体素子を互いに位置合わせする必要なく且つ別の研削ステップを行う必要なく形成される。
ダイ538は多数の方法のいずれかによって光学素子416に接着され得る。図9は接着の一形状を図示する。図9は光学素子416およびLEDダイ538の個片化対合(pairing)を示す。硬化樹脂540はダイ538および光学素子416を包み込みその対合を一緒に接着する。
代替的には図10に示すように、ホットメルト接着剤542が光学素子416とLEDダイ538との間に塗布される。適当なホットメルト接着剤の例には、半結晶ポリオレフィン類、熱可塑性ポリエステル類、およびアクリル樹脂類がある。
他の実施形態においてダイ538の表面538b、光学素子416の上面416cまたはその両方は薄膜プラズマアシストまたは従来のCVDプロセスでシリカまたは他の無機材料で被覆されている。この後平坦化および、熱、圧力、水または他の化学剤の組み合わせによる接着が続く。また表面の少なくとも一方を水素イオンで照射することにより接着性も改善することができる。加えてQ.−Y.トン(Tong)およびU.ゲーゼル(Goesele)著、半導体ウエハ接着(Semiconductor Wafer Bonding)の4および10章、ジョン・ワイリー・アンド・サンズ、ニューヨーク(John Wiley&Sons,New York)1999年に記載されているような半導体ウエハ接着技術を用い得る。他のウエハ接着方法が米国特許第5,915,193号明細書(トン(Tong)ら)および同第6,563,133号明細書(トン(Tong))に記載されている。
開示した光学素子および半導体の製造および仕上げの方法は、光学品質の一連の厳密に配置された要素を同時に作製することをもたらす。光学素子をLEDなどの光源に接着または結合することは、LEDからの光を平行にするとともにLEDから熱を奪う。その結果得られる方法は効率的であるとともに高品質製品を作製する。
パターン化研削材の代表的な実施形態の斜視図である。 パターン化研削材の代表的な実施形態の斜視図である。 形状化要素を製造する方法の第1の実施形態を図示する断面図である。 形状化要素を製造する方法の第1の実施形態を図示する断面図である。 形状化要素を製造する方法の第1の実施形態を図示する断面図である。 形状化要素を製造する方法の第1の実施形態を図示する断面図である。 形状化要素を製造する方法の第2の実施形態を示す断面図である。 形状化要素を製造する方法の第2の実施形態を示す断面図である。 形状化要素を製造する方法の第2の実施形態を示す断面図である。 形状化要素を製造する方法の第2の実施形態を示す断面図である。 形状化要素を製造する方法の第2の実施形態を示す断面図である。 形状化要素を製造する方法の第2の実施形態を示す断面図である。 形状化要素を製造する方法の第3の実施形態を示す断面図である。 形状化要素を製造する方法の第3の実施形態を示す断面図である。 形状化要素を製造する方法の第3の実施形態を示す断面図である。 チャネル形成を図示する図である。 チャネル形成を図示する図である。 一連の光学素子を製造する代表的方法を示す断面図である。 一連の光学素子を製造する代表的方法を示す断面図である。 一連の光学素子を製造する代表的方法を示す断面図である。 一連のLEDダイを製造して光学素子に取り付ける代表的方法を示す断面図である。 一連のLEDダイを製造して光学素子に取り付ける代表的方法を示す断面図である。 一連のLEDダイを製造して光学素子に取り付ける代表的方法を示す断面図である。 一連のLEDダイを製造して光学素子に取り付ける代表的方法を示す断面図である。 光学素子をLEDダイに接着する代表的実施形態を示す断面図である。 光学素子をLEDダイに接着する代表的実施形態を示す断面図である。

Claims (18)

  1. 一連の光学素子を少なくとも1つのパターン化研削材で形成するステップと、
    発光デバイスを各光学素子に取り付けるステップと、
    を含む、光源の製造方法。
  2. 一連の発光デバイスを形成するステップをさらに含み、
    個々の発光デバイスが個々の光学素子と位置合わせされるように、前記一連の発光デバイスが前記一連の光学素子に取り付けられる請求項1に記載の方法。
  3. 前記光学素子が以下の、ガラス類、方解石、サファイア、酸化亜鉛、炭化ケイ素、ダイヤモンド、高分子フィルム、およびそれらの組み合わせから選択される材料で構成されている請求項1に記載の方法。
  4. 前記光学素子が、少なくとも約0.01cm2/sの熱拡散率を有する材料で構成されている請求項1に記載の方法。
  5. 前記光学素子が前記パターン化研削材によって、前記発光デバイスからの光を平行にするとともに熱を奪うような形状に形成される請求項1に記載の方法。
  6. 各発光デバイスが半導体材料で構成されている請求項1に記載の方法。
  7. 前記パターン化研削材が、前記一連の光学素子を規定するチャネルを形成する突起を含む請求項1に記載の方法。
  8. 取り付けるステップが、
    前記取り付けられた光学素子および発光デバイスを硬化性樹脂に包み込むステップをさらに含む請求項1に記載の方法。
  9. 取り付けるステップが、
    前記発光デバイスおよび前記一連の光学素子のうちの少なくとも一方の表面を処理するステップさらにを含む請求項1に記載の方法。
  10. 前記表面を処理するステップが、前記表面を薄膜プラズマアシストCVD方法で無機材料で被覆し、その後平坦化および接着するステップを含む請求項9に記載の方法。
  11. 前記表面を処理するステップが、前記表面を従来のCVD方法で無機材料で被覆し、その後平坦化および接着するステップを含む請求項9に記載の方法。
  12. 前記表面を処理するステップが、前記表面を水素イオンで照射するステップを含む請求項9に記載の方法。
  13. 前記表面を処理するステップが、ホットメルト接着剤を塗布するステップを含む請求項9に記載の方法。
  14. 前記発光デバイスが取り付けられた前記光学素子を個片化するステップをさらに含む請求項1に記載の方法。
  15. 一連の光学素子を少なくとも1つのパターン化研削材で形成するステップと、
    一連の発光デバイスを前記少なくとも1つのパターン化研削材で形成するステップと、
    個々の発光デバイスが個々の光学素子と位置合わせされるように、前記一連の発光デバイスを前記一連の光学素子に取り付けるステップと、
    を含む、光源の製造方法。
  16. 前記一連の光学素子が第1のパターン化研削材で形成されるとともに、前記一連の発光デバイスが第2のパターン化研削材で形成される請求項15に記載の方法。
  17. 前記一連の光学素子と前記一連の発光デバイスとが同時に形成される請求項15に記載の方法。
  18. 光学素子と発光デバイスとが約10mm未満の少なくとも一寸法を有する請求項15に記載の方法。
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