JP2008225185A - Optoelectronic circuit board - Google Patents
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Abstract
【課題】光素子を基板に実装した状態で光素子及び光導波路の検査が可能な光電子回路基板を提案する。
【解決手段】第1の光導波路13Aには、合流光導波路14が設けられ、第2の光導波路13Bには、分岐光導波路15が設けられている。導入用開口140から第1の検査用光信号20を合流光導波路14に導入し、合流光導波路14から第1の光導波路13Aを伝播する第1の検査用光信号20を第1の光モジュール12Aが、受信したか否かによって光電子回路基板1の検査を行うことができる。また、第1の光モジュール12Aから送信された光信号2が、第2の光導波路13Bを伝播し、その光信号2の一部が、分岐光導波路15に伝播する。分岐光導波路15から取出用開口150を介してその光信号2の一部を、第2の検査用光信号21として、受光装置4が受信したか否かによって光電子回路基板1の検査を行うことができる。
【選択図】図1An optoelectronic circuit board capable of inspecting an optical element and an optical waveguide while the optical element is mounted on the substrate is proposed.
A first optical waveguide (13A) is provided with a converging optical waveguide (14), and a second optical waveguide (13B) is provided with a branch optical waveguide (15). The first inspection optical signal 20 is introduced into the converging optical waveguide 14 from the introduction opening 140, and the first inspection optical signal 20 propagating from the converging optical waveguide 14 through the first optical waveguide 13A is converted into the first optical module. The optoelectronic circuit board 1 can be inspected depending on whether or not 12A has received it. Further, the optical signal 2 transmitted from the first optical module 12 </ b> A propagates through the second optical waveguide 13 </ b> B, and a part of the optical signal 2 propagates through the branch optical waveguide 15. The optoelectronic circuit board 1 is inspected depending on whether or not the light receiving device 4 has received a part of the optical signal 2 from the branch optical waveguide 15 through the extraction opening 150 as the second inspection optical signal 21. Can do.
[Selection] Figure 1
Description
本発明は、光電子回路基板に関する。 The present invention relates to an optoelectronic circuit board.
従来の技術として、レーザ光の反射光量を増大させる金属反射膜が発光部の周囲に形成された光部品と、光部品を実装した基板と、光部品と基板との間に設けられ、レーザ光が伝播する光導波路と、光導波路の端部付近の光部品に対応する位置に設けられ、レーザ光の光路を変換する第1のピラミッド鏡と、光導波路から分岐して設けられた検査用光導波路と、検査用光導波路の端部付近に設けられ、レーザ光の光路を変換する第2のピラミッド鏡とを備えた光導波路基板が知られている(例えば、特許文献1参照)。 Conventionally, an optical component in which a metal reflection film that increases the amount of reflected laser light is formed around the light emitting unit, a substrate on which the optical component is mounted, and the optical component and the substrate are provided between the optical component and the laser beam. An optical waveguide through which light propagates, a first pyramid mirror provided at a position corresponding to an optical component near the end of the optical waveguide, and converting the optical path of the laser light, and an inspection light provided by branching from the optical waveguide There is known an optical waveguide substrate provided with a waveguide and a second pyramid mirror provided near the end of the optical waveguide for inspection and converting the optical path of laser light (see, for example, Patent Document 1).
この光導波路基板に実装された光部品のずれの検出は、レーザ光を出力するレーザ光源と、レーザ光を反射する反射面を有するハーフミラーと、ハーフミラーの反射面によって反射されたレーザ光を検出する光検出器とを備えた検出装置を用いることによって行われる。 The detection of the deviation of the optical component mounted on the optical waveguide substrate is performed by detecting a laser light source that outputs laser light, a half mirror having a reflecting surface that reflects the laser light, and laser light reflected by the reflecting surface of the half mirror. This is done by using a detection device comprising a photodetector for detection.
まず、検出装置のレーザ光源から第2のピラミッド鏡に向けて出力されたレーザ光は、ハーフミラーを透過した後、第2のピラミッド鏡によってその光路を変換され、検査用光導波路及び光導波路を伝播し、第1のピラミッド鏡によって再び光路が変換される。 First, the laser light output from the laser light source of the detection device toward the second pyramid mirror is transmitted through the half mirror, and then its optical path is converted by the second pyramid mirror, and the optical waveguide for inspection and the optical waveguide are changed. Propagating and the light path is converted again by the first pyramid mirror.
光路が変換されたレーザ光は、光部品が所定の位置よりずれて実装されていたとき、光部品の金属反射膜によって反射光量を増大されて反射され、反射したレーザ光は、光路を逆戻りし、ハーフミラーの反射面で反射した後、光検出器によって検出され、光検出器は、レーザ光の光量の大きさに基づいて光部品の実装のずれを検出する。
本発明の目的は、光素子を基板に実装した状態で光素子及び光導波路の検査が可能な光電子回路基板を提案することにある。 An object of the present invention is to propose an optoelectronic circuit board capable of inspecting an optical element and an optical waveguide while the optical element is mounted on the substrate.
本発明の態様は、上記目的を達成するため、以下の光電子回路基板を提供する。 In order to achieve the above object, an aspect of the present invention provides the following optoelectronic circuit board.
(1)電子回路を有し、光信号を第1の面側から第2の面側に通過させる発光側開口、及び前記光信号を前記第2の面側から前記第1の面側へ通過させる受光側開口が形成された基板と、前記基板の前記第1の面側に実装され、前記発光側開口に対向する位置に設けられた発光素子、及び前記受光側開口に対向する位置に設けられた受光素子と、前記基板の前記第2の面側に設けられ、前記発光側開口を前記第1の面側から前記第2の面側に通過する前記光信号の光路を変換する第1の光路変換面、及び前記第1の光路変換面により変換された前記光信号が前記受光側開口を前記第2の面側から前記第1の面側に通過するように前記光信号の光路を変換する第2の光路変換面を有する光導波路と、前記光導波路から分岐して設けられ、検査用光信号を前記光導波路に対して導入又は取出しする検査用光導波路とを備えたことを特徴とする光電子回路基板。 (1) A light emitting side opening having an electronic circuit and allowing an optical signal to pass from the first surface side to the second surface side, and passing the optical signal from the second surface side to the first surface side. A light receiving side opening formed thereon, a light emitting element mounted on the first surface side of the substrate and provided at a position facing the light emitting side opening, and provided at a position facing the light receiving side opening A first light-receiving element that converts the optical path of the optical signal that is provided on the second surface side of the substrate and passes through the light-emitting side opening from the first surface side to the second surface side. And the optical path of the optical signal so that the optical signal converted by the first optical path conversion surface passes through the light receiving side opening from the second surface side to the first surface side. An optical waveguide having a second optical path conversion surface to be converted, and branched from the optical waveguide, for inspection Optoelectronic circuit board characterized by comprising an inspection optical waveguide for introducing or taking out a signal to the optical waveguide.
(2)前記検査用光導波路は、前記検査用光信号の光路を変換する第3の光路変換面を備えたことを特徴とする前記(1)に記載の光電子回路基板。 (2) The optoelectronic circuit board according to (1), wherein the inspection optical waveguide includes a third optical path conversion surface that converts an optical path of the inspection optical signal.
(3)前記基板は、前記検査用光信号を通過させる検査用開口が形成され、前記検査用光導波路の前記第3の光路変換面は、前記検査用光信号が前記検査用開口を通過するように前記検査用光信号の光路を変換することを特徴とする前記(2)に記載の光電子回路基板。 (3) The substrate has an inspection opening through which the inspection optical signal passes, and the inspection optical signal passes through the inspection opening on the third optical path conversion surface of the inspection optical waveguide. The optical circuit board according to (2), wherein the optical path of the optical signal for inspection is converted as described above.
(4)さらに、前記基板の前記第2の面側に前記光導波路及び前記検査用光導波路を介して他の基板を備え、前記他の基板は、前記検査用光信号を通過させる検査用開口が形成され、前記検査用光導波路の前記第3の光路変換面は、前記検査用光信号が前記検査用開口を通過するように前記検査用光信号の光路を変換することを特徴とする前記(2)に記載の光電子回路基板。 (4) Further, another substrate is provided on the second surface side of the substrate via the optical waveguide and the inspection optical waveguide, and the other substrate passes through the inspection optical signal. And the third optical path conversion surface of the inspection optical waveguide converts the optical path of the inspection optical signal so that the inspection optical signal passes through the inspection opening. The optoelectronic circuit board according to (2).
(5)前記検査用光導波路の分岐点における前記光信号の進行方向に対する角度は、前記検査用光導波路が前記検査用光信号の取出用として用いられるとき、鋭角であることを特徴とする前記(1)に記載の光電子回路基板。 (5) The angle with respect to the traveling direction of the optical signal at the branch point of the optical waveguide for inspection is an acute angle when the optical waveguide for inspection is used for taking out the optical signal for inspection. The optoelectronic circuit board according to (1).
(6)前記検査用光導波路のコアは、前記検査用光導波路が前記検査用光信号の取出用として用いられるとき、前記光導波路のコアよりも断面積が小さいことを特徴とする前記(5)に記載の光電子回路基板。 (6) The core of the optical waveguide for inspection has a smaller sectional area than the core of the optical waveguide when the optical waveguide for inspection is used for taking out the optical signal for inspection (5) ) Optoelectronic circuit board.
(7)前記光導波路及び前記検査用光導波路は、少なくとも一方が分岐点を起点とする曲線部を有することを特徴とする前記(1)に記載の光電子回路基板。 (7) The optoelectronic circuit board according to (1), wherein at least one of the optical waveguide and the inspection optical waveguide has a curved portion starting from a branch point.
(8)前記検査用光導波路は、前記検査用光信号を導入する第1の検査用光導波路と、前記検査用光信号を取出しする第2の検査用光導波路を備えたことを特徴とする前記(1)に記載の電子回路基板。 (8) The inspection optical waveguide includes a first inspection optical waveguide for introducing the inspection optical signal and a second inspection optical waveguide for extracting the inspection optical signal. The electronic circuit board according to (1).
請求項1に記載の光電子回路基板によれば、光素子を基板に実装した状態で光素子及び光導波路の検査が可能になる。 According to the optoelectronic circuit board of the first aspect, the optical element and the optical waveguide can be inspected in a state where the optical element is mounted on the substrate.
請求項2に記載の光電子回路基板によれば、第3の光路変換面を有していない場合と比較して、基板に実装される電子部品等の実装密度を上げることができる。 According to the optoelectronic circuit board of the second aspect, it is possible to increase the mounting density of electronic components and the like mounted on the board as compared with the case where the third optical path conversion surface is not provided.
請求項3に記載の光電子回路基板によれば、容易に光素子及び光導波路の検査ができる。 According to the optoelectronic circuit board according to the third aspect, the optical element and the optical waveguide can be easily inspected.
請求項4に記載の光電子回路基板によれば、基板に実装される電子部品等の実装密度を更に上げることができる。 According to the optoelectronic circuit board of the fourth aspect, it is possible to further increase the mounting density of electronic components and the like mounted on the board.
請求項5に記載の光電子回路基板によれば、効果的に検査用光信号の取出しを行うことができる。 According to the optoelectronic circuit board of the fifth aspect, it is possible to effectively extract the optical signal for inspection.
請求項6に記載の光電子回路基板によれば、光導波路を伝播する光信号の損失を抑えることができる。 According to the optoelectronic circuit board of the sixth aspect, it is possible to suppress the loss of the optical signal propagating through the optical waveguide.
請求項7に記載の光電子回路基板によれば、検査用光信号を効果的に導入及び取出しすることができ、また、基板に実装される電子部品等の配置の自由度を増すことができる。 According to the optoelectronic circuit board according to the seventh aspect, the inspection optical signal can be effectively introduced and taken out, and the degree of freedom of arrangement of electronic components and the like mounted on the board can be increased.
請求項8に記載の光電子回路基板によれば、より正確に光素子及び光導波路の検査が可能になる。 According to the optoelectronic circuit board of the eighth aspect, the optical element and the optical waveguide can be inspected more accurately.
[第1の実施の形態]
(光電子回路基板の構成)
図1、図2、図3は、本発明の第1の実施の形態に係る光電子回路基板を示し、図1(a)は、斜視図、図1(b)は、図1(a)のA1―A1線断面図、図1(c)は、図1(a)のA2―A2線断面図、図2(a)は、平面図、図2(b)は、図2(a)のB―B線断面図、図3(a)は、図2(a)のC―C線断面図、図3(b)は、図2(a)のD―D線断面図である。
[First embodiment]
(Configuration of optoelectronic circuit board)
1, 2, and 3 show an optoelectronic circuit board according to a first embodiment of the present invention, FIG. 1 (a) is a perspective view, and FIG. 1 (b) is FIG. 1 (a). FIG. 1C is a cross-sectional view taken along the line A2-A2 of FIG. 1A, FIG. 2A is a plan view, and FIG. 2B is a cross-sectional view of FIG. FIG. 3A is a cross-sectional view taken along line CC in FIG. 2A, and FIG. 3B is a cross-sectional view taken along line DD in FIG. 2A.
この光電子回路基板1は、光回路と電子回路を有するものであり、各種の電子部品、電源回路部品等を含む電子回路を有する第1及び第2の基板10、11と、第1の基板10の第1の面側に実装された第1及び第2の光モジュール12A、12Bと、第1及び第2の基板10、11間に設けられ、第1及び第2の光モジュール12A、12B間を光学的に接続する光導波路層130とを備えて構成されている。
The
第1の光モジュール12Aは、発光素子120A及び受光素子121Aを有する。第2の光モジュール12Bは、発光素子120B及び受光素子121Bを有する。第1及び第2の光モジュール12A、12Bは、それぞれパッケージ化されており、それらの詳細な構成は後述する。
The first
光導波路層130は、第1及び第2の光モジュール12A、12B間の光伝送路となる第1及び第2の光導波路13A、13Bと、第1の光導波路13Aから分岐して設けられた検査用光導波路としての合流光導波路14と、第2の光導波路13Bから分岐して設けられた検査用光導波路としての分岐光導波路15とを有する。
The optical waveguide layer 130 is provided by branching from the first
(第1の基板)
第1の基板10は、厚みが0.5mmのガラスエポキシ樹脂等の絶縁性材料から形成された基板材と、この基板材の上面に形成された各種の電子部品や電源回路部品等が電気的に接続された導電性パターンとを有する。
(First substrate)
The
また、第1の基板10は、発光素子120A、120B及び受光素子121A、121Bにそれぞれ対向した位置に発光側開口100A、100B、及び受光側開口101Bが形成され、検査用光信号を通過させる導入用開口140及び取出用開口150が形成されている。更に、第2の光モジュール12Bの発光素子120Bに対向した位置には、図示しない発光側開口が形成されている。なお、各光モジュールに形成される発光側開口と受光側開口は、1つの開口であっても良く、これに限定されない。
The
(第2の基板)
第2の基板11は、第1の基板10と同様に厚みが1mmのガラスエポキシ樹脂等の絶縁性材料から形成された基板材と、この基板材の下面に形成された各種の電子部品や電源回路部品等が電気的に接続された導電性パターンとを有する。
(Second substrate)
Similar to the
(光導波路)
図1(b)に示すように、第1の光導波路13Aは、コア132と、コア132の周囲に形成されてコア132より屈折率が小さいクラッド131とを有する厚みが0.2mmの光導波路層130によって構成されており、第2の光導波路13B、合流光導波路14及び分岐光導波路15も同様に構成されている。
(Optical waveguide)
As shown in FIG. 1B, the first
第1の光導波路13Aには、検査用光導波路としての合流光導波路14が分岐して設けられており、合流光導波路14は、第1の基板10に設けられた検査用開口としての導入用開口140から検査用光信号としての第1の検査用光信号20の光路を光路変換面140Aによって変換し、第1の光導波路13Aに導入するように構成されている。
The first
第2の光導波路13Bは、検査用光導波路としての分岐光導波路15が分岐して設けられており、分岐光導波路15には、第2の光導波路13Bを伝播する光信号2の一部が伝播し、この光信号2の一部は、検査用光信号としての第2の検査用光信号21であり、この検査用光信号21は、光路変換面150Aによって光路が変換され、検査用開口としての取出用開口150から外部に取り出されるように構成されている。
The second optical waveguide 13B is provided with a branched
また、分岐光導波路15の分岐点における光信号2の進行方向に対する角度は、鋭角であることが望ましく、これは、損失を抑えながら効率よく光信号2の一部を分岐光導波路15に伝播させるためである。
Further, it is desirable that the angle with respect to the traveling direction of the
合流光導波路14のコア132の断面積は、第1の検査用光信号20を導入用開口140から合流光導波路14に導入することが目的なので、第1及び第2の光導波路13A、13Bのコア132の断面積と同等に構成されるが、これに限定されない。
The cross-sectional area of the
しかし、第2の検査用光信号21は、第2の光導波路13Bを伝播する光信号2の損失を抑えるため、分岐光導波路15のコア132の断面積は小さいことが望ましく、断面積は幅に比例するので、一例として、第2の光導波路13Bのコア132の幅は、幅80μmに比べ幅10μmと狭く作成される。
However, in the second inspection optical signal 21, it is desirable that the cross-sectional area of the
また、光導波路層130の端部は、エポキシ樹脂等の封入剤200によって基板の縁辺を封止している。封入剤200による封止は、一部でも良く、これに限定されない。
In addition, the edge of the optical waveguide layer 130 is sealed at the edge of the substrate with an
なお、1本の光導波路から合流又は分岐する検査用光導波路は、1本に限らず、複数でも良く、1本の光導波路が、合流及び分岐する検査用光導波路を1本ずつ有する場合については、後述することにする。 Note that the number of inspection optical waveguides that join or branch from one optical waveguide is not limited to one, and a plurality of inspection optical waveguides may be used, and one optical waveguide has one inspection optical waveguide that joins and branches. Will be described later.
(光導波路の製造法)
次に、第1及び第2の光導波路13A、13B、合流光導波路14、分岐光導波路15の製造方法について説明する。第1及び第2の光導波路13A、13B、合流光導波路14、分岐光導波路15は、例えば、一般によく用いられるフォトリソグラフィ法やRIE(反応性イオンエッチング)を利用した方法で作製可能である。特に、本出願人が既に提案した特開2004−29507号公報等に記載されている鋳型を用いた作製工程により効率的に製造することができる。以下に、その作製工程を説明する。
(Optical waveguide manufacturing method)
Next, a method for manufacturing the first and second
まず、コア132に対応する凸部が形成された原盤を、例えば、フォトリソグラフィ法を用いて作製する。次に、原盤の凸部が形成された面に、例えば、500〜7000mPa・s程度の粘度で、紫外領域や可視領域において光透過性を有する硬化性樹脂、例えば、分子中にメチルシロキサン基、エチルシロキサン基、フェニルシロキサン基を含む硬化性オルガノポリシロキサンの層を塗布等により設け、その後、硬化させて硬化層を構成する。次に、硬化層を原盤から剥離し、凸部に対応する凹部を有した鋳型を作製する。
First, a master on which a convex portion corresponding to the
次に、鋳型に、この鋳型との密着性に優れる樹脂、例えば、脂環式アクリル樹脂フィルム、脂環式オレフィン樹脂フィルム、三酢酸セルロースフィルム、フッ素樹脂フィルム等からなるクラッド用フィルム基材を密着させる。次に、鋳型の凹部に、例えば、紫外線硬化性又は熱硬化性のモノマー、オリゴマー若しくはモノマーとオリゴマーの混合物、エポキシ系、ポリイミド系、アクリル系の紫外線硬化性樹脂等からなる硬化性樹脂を充填する。次に、凹部内の硬化性樹脂を硬化させてコア132とした後、鋳型を剥離する。これにより、クラッド用フィルム基材上にコア132が残される。
Next, a clad film substrate made of a resin excellent in adhesion to the mold, for example, an alicyclic acrylic resin film, an alicyclic olefin resin film, a cellulose triacetate film, a fluororesin film, or the like is adhered to the mold. Let Next, the concave portion of the mold is filled with, for example, an ultraviolet curable or thermosetting monomer, an oligomer or a mixture of a monomer and an oligomer, an epoxy type, a polyimide type, an acrylic type ultraviolet curable resin, or the like. . Next, the curable resin in the recess is cured to form the
次に、クラッド用フィルム基材のコア132が形成された面側にコア132を覆うようにクラッド131を設ける。クラッド131として、例えば、フィルム、クラッド用硬化性樹脂を塗布して硬化させた層、高分子材料の溶剤溶液を塗布し乾燥してなる高分子膜等が挙げられる。
Next, the clad 131 is provided so as to cover the
最後に、光導波路のコア132が露出する面をダイサーによって所定の角度に切削して光路変換面133A、133B、134A、140A、150A及び端面を形成する。更にコア132に平行にダイサーで切り出すことにより、クラッド用フィルム基材及びクラッド層をクラッド131とした第1、第2、分岐及び合流光導波路13A、13B、14及び15が完成する。
Finally, the surface where the
(光モジュール)
以下において、第1の光モジュール12Aの構成について述べるが、第2の光モジュール12Bも同様の構成及び機能を有する。第1の光モジュール12Aは、基板129と、基板129の下面に実装された面型の上述の発光素子120A及び上述の受光素子121Aと、基板129の上面に実装された制御部127Aと、端子124、ワイヤ126及び制御部127Aを封止するエポキシ樹脂等の封止樹脂128とを備える。
(Optical module)
Hereinafter, although the configuration of the first
第1の光モジュール12Aの受光素子121A(発光素子120Aも同様)は、図3(a)に示すように、ワイヤ122、パッド123を介して基板129に設けられた制御部127Aに電気的に接続されている。
As shown in FIG. 3A, the light receiving element 121A of the first
制御部127Aは、発光素子120Aを駆動する駆動回路、及び受光素子121Aが出力する電気信号を増幅する増幅回路を有し、ワイヤ126、パッド124とハンダボール125を介して端子110に電気的に接続されており、封止樹脂128によって保護されている。
The control unit 127A includes a drive circuit that drives the
受光素子121Aは、例えば、面型のフォトダイオード等の面型光素子を用いることができる。本実施の形態では、受光素子121Aとして、高速応答性に優れたGaAs型のPINフォトダイオードを用いる。このPINフォトダイオードは、例えば、GaAs基板上に、PIN接合されたP層、I層及びN層と、P層に接続されたp型電極と、N層に形成されたn型電極とを備えている。 As the light receiving element 121A, for example, a planar optical element such as a planar photodiode can be used. In this embodiment, a GaAs PIN photodiode having excellent high-speed response is used as the light receiving element 121A. The PIN photodiode includes, for example, a P-layer, an I-layer, and an N-layer that are PIN-bonded on a GaAs substrate, a p-type electrode connected to the P-layer, and an n-type electrode formed on the N-layer. ing.
第1の光モジュール12Aの発光素子120Aは、図3(b)に示すように、面型発光ダイオードや面型レーザ等の複数の発光素子(面型光素子)を用いることができる。本実施の形態においては、発光素子120Aとして、VCSEL(面発光レーザ)を用いる。
As shown in FIG. 3B, the
この面発光レーザは、例えば、n型GaAs基板に、n型上部反射鏡層、活性層、電流狭窄層、p型下部反射鏡層、p型コンタクト層、p型電極を形成し、n型GaAs基板の表側にn型電極を形成したものである。 In this surface emitting laser, for example, an n-type upper reflector layer, an active layer, a current confinement layer, a p-type lower reflector layer, a p-type contact layer, and a p-type electrode are formed on an n-type GaAs substrate. An n-type electrode is formed on the front side of the substrate.
(第1の実施の形態の動作)
以下に、本発明の第1の実施の形態に係る光電子回路基板の動作について図1から図3を参照しつつ、図4及び図5のフローチャートに従って説明する。
(Operation of the first embodiment)
The operation of the optoelectronic circuit board according to the first embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. 4 and 5 while referring to FIGS.
(光信号の送受信)
ここでは、一例として、画像信号の送信を第1の光モジュール12Aから第2の光モジュール12Bに対して行う場合について説明する。第1の光モジュール12Aの制御部127Aは、画像信号に基づいた駆動信号を発光素子120Aに送信し、発光素子120Aは、駆動信号に基づいた光信号2を発光側開口100Aを介して光路変換面134Aに向けて送信する。
(Transmission and reception of optical signals)
Here, as an example, a case where image signals are transmitted from the first
このとき、発光素子120Aのp型電極とn型電極間に駆動信号の電圧が印加され、発光層の発光領域から例えば、波長850nmのレーザ光を光信号2として出力する。
At this time, a voltage of a drive signal is applied between the p-type electrode and the n-type electrode of the
光路変換面134Aは、発光素子120Aから送信された光信号2の光路を変換し、第2の光導波路13Bに光信号2を伝播させる。
The optical path conversion surface 134A converts the optical path of the
第2の光導波路13Bを伝播した光信号2は、光路変換面133Bによって光路を変換される。
The
光信号2は、受光側開口101Bを通過して第2の光モジュール12Bの受光素子121Bによって受信される。受光素子121Bは、受信した光信号2を電気信号に変換して制御部127Bに出力する。
The
制御部127Bは、変換された電気信号を処理して画像信号を生成し、画像信号を第1の基板10上の所定の電子部品に出力する。
The control unit 127 </ b> B processes the converted electric signal to generate an image signal, and outputs the image signal to a predetermined electronic component on the
(第1の光導波路と各モジュールの検査)
図1及び図3(a)に示すように、光信号2を外部の発光装置3から第1の光導波路13Aに導入することによって、第1の光導波路13Aと各モジュールを検査する場合について図4のフローチャートに従って説明する。
(Inspection of the first optical waveguide and each module)
As shown in FIG. 1 and FIG. 3A, the case where the first
発光装置3は、光路変換面140Aに向けて第1の検査用光信号20を送信する(S1)。
The light emitting device 3 transmits the first inspection
発光装置3から出力された第1の検査用光信号20は、導入用開口140を通過したのち、光路変換面140Aによって光路を変更され、合流光導波路14を伝播する。
The first inspection
合流光導波路14を伝播した第1の検査用光信号20は、第1の光導波路13Aに合流し、光路変換面133Aによって更に光路を変換され、受光側開口100Bを通過して、第1の光導波路13Aと第1の光モジュール12Aが正常に機能するとき、受光素子121Aによって受信され、電気信号に変換される。
The first inspection
第1の光モジュール12Aが、第1の検査用光信号20を受信し、受信した第1の検査用光信号20を正常に処理したとき(S2;Yes)、第1の光導波路13Aと第1の光モジュール12Aは、正常に機能していることが分かる。
When the first
次に第2の光モジュール12Bに異常があるか否かを検査するため、第2の光モジュール12Bから光信号2を送信する(S3)。
Next, the
第1の光モジュール12Aが、第2の光モジュール12Bからの光信号2を受信し、正常に処理したとき(S4;Yes)、第1の光モジュール12A、第1の光導波路13A及び第2の光モジュール12Bの機能は、正常であることが分かる(S5)。
When the first
ここでステップ2において、第1の光モジュール12Aが、第1の検査用光信号20を受信しなかったとき、または、受信した信号を正常に処理できなかったとき(S2;No)、第1の光モジュール12Aまたは第1の光導波路13Aには、異常がある可能性があることが分かる(S6)。
Here, in
また、ステップ4において、第1の光モジュール12Aが、第2の光モジュール12Bから送信された光信号2を受信しなかったとき、または、受信した信号を正常に処理できなかったとき(S4;No)、第2の光モジュール12Bまたは第2の光モジュール12Bから合流光導波路14に合流するまでの第1の光導波路13Aは、異常がある可能性があることが分かる(S7)。
In
(第2の光導波路と各モジュールの検査)
図1及び図3(b)に示すように、第2の光導波路13Bを伝播する光信号2を取出すことによって、第2の光導波路と各モジュールの検査をする場合について、図5のフローチャートに従って説明する。
(Inspection of the second optical waveguide and each module)
As shown in FIG. 1 and FIG. 3B, in the case of inspecting the second optical waveguide and each module by taking out the
第1の光モジュール12Aの発光素子120Aは、光路変換面134Aに向けて光信号2を送信する(S10)。
The
光信号2は、発光側開口100Aを通過して光路変換面134Aによって光路を変換され、第2の光導波路13Bを伝播し、更に、分岐光導波路15に一部伝播する。
The
分岐光導波路15に伝播した光信号2の一部である第2の検査用光信号21は、分岐光導波路15に設けられた光路変換面150Aによって光路を変換され、取出用開口150を通過したのち、受光装置4によって受信される。
The second optical signal 21 for inspection, which is a part of the
ここで、受光装置4によって第2の検査用光信号21が受信されたとき(S11;Yes)、第1の光モジュール12Aと分岐光導波路15までの第2の光導波路13Bは、正常に機能していることが分かる。
Here, when the second inspection optical signal 21 is received by the light receiving device 4 (S11; Yes), the first
続いて第2の光モジュール12Bが、第1の光モジュール12Aから送信された光信号2を受信したとき(S12;Yes)、第1の光モジュール12A、第2の光導波路13B及び第2の光モジュール12Bは、正常に機能していることが分かる(S13)。
Subsequently, when the second optical module 12B receives the
ここでステップ11において受光装置4によって第2の検査用光信号21が受信されなかったとき(S11;No)、第1の光モジュール12Aと第2の光導波路13Bは、どちらかに異常があることが分かる(S14)。
Here, when the second inspection optical signal 21 is not received by the
また、ステップ12において、第2の光モジュール12Bが、光信号2を受信しなかったまたは、受信した信号を正常に処理できなかったとき(S12;No)、第2の検査用光信号21が、受光装置4で受光されていることから、第2の光モジュール12Bから分岐光導波路15までの第2の光導波路13B、または第2の光モジュール12Bに、異常があることが分かる(S15)。
In
[第2の実施の形態]
以下の説明において、第1の実施の形態と同一の構成および機能を有する部分については共通の符号を付している。
[Second Embodiment]
In the following description, portions having the same configuration and function as those of the first embodiment are denoted by common reference numerals.
図6は、本発明の第2の実施の形態に係る光電子回路基板を示す平面図である。この光電子回路基板1は、第1の合流光導波路14aと、第2の合流光導波路14bと、第1の分岐光導波路15aと、第2の分岐光導波路15bとが第1及び第2の光導波路13A、13Bから分岐して設けられている。
FIG. 6 is a plan view showing an optoelectronic circuit board according to the second embodiment of the present invention. The
第1の合流光導波路14aは、第1の導入用開口140aから検査用光信号を導入し、第2の合流光導波路14bは、第2の導入用開口140bから検査用光信号を導入するよう構成されている。また、第1及び第2の合流光導波路14a、14bは、第1及び第2の導入用開口140a、140bに対応した位置に図示しない光路変換面を有する。 The first merging optical waveguide 14a introduces an inspection optical signal from the first introduction opening 140a, and the second merging optical waveguide 14b introduces an inspection optical signal from the second introduction opening 140b. It is configured. The first and second converging optical waveguides 14a and 14b have optical path conversion surfaces (not shown) at positions corresponding to the first and second introduction openings 140a and 140b.
第1及び第2の分岐光導波路15a、15bは、第1の取出用開口150a及び第2の取出用開口150bから検査用光信号を取出しするように構成されている。また、第1及び第2の分岐光導波路15a、15bは、第1及び第2の取出用開口150a、150bに対応した位置に図示しない光路変換面を有する。 The first and second branch optical waveguides 15a and 15b are configured to extract the inspection optical signal from the first extraction opening 150a and the second extraction opening 150b. The first and second branch optical waveguides 15a and 15b have optical path conversion surfaces (not shown) at positions corresponding to the first and second extraction openings 150a and 150b.
本実施の形態では、第1及び第2の導入用開口140a、140bから第1の検査用光信号20を導入し、第1及び第2の取出用開口150a、150bから第2の検査用光信号21を取出すことにより、第1及び第2の光モジュール12A、12Bと第1及び第2の光導波路13A、13Bを検査することができる。
In the present embodiment, the first inspection
[第3の実施の形態]
図7は、本発明の第3の実施の形態に係る光電子回路基板を示す平面図である。光電子回路基板1は、分岐点を起点とする曲線部を有する第1及び第2の光導波路13A、13Bを備えている。なお、分岐点を起点とする曲線部を有する光導波路は、合流光導波路14及び分岐光導波路15であっても良いし、第1及び第2の光導波路13A、13B、合流光導波路14及び分岐光導波路15が曲線部を有していても良く、これに限定されない。
[Third embodiment]
FIG. 7 is a plan view showing an optoelectronic circuit board according to a third embodiment of the present invention. The
第1の光導波路13Aは、合流光導波路14が分岐して設けられ、合流光導波路14は、効果的に導入用開口140から検査用光信号20を導入できるように、第1の光導波路13Aの直線部の延長上に延びており、導入用開口140に対応した位置に光路変換面を有する。
The first
一方第2の光導波路13Bは、分岐光導波路15が分岐して設けられ、分岐光導波路15は、第1の光モジュール12Aから延びる直線部分の延長上にあるため、光信号2の一部を効果的に伝播させて検査用光信号として取出用開口150から取り出される。分岐光導波路15は、取出用開口150に対応した位置に、光路変換面を有する。
On the other hand, the second optical waveguide 13B is provided by branching the branch
本実施の形態においては、導入用開口140から第1の検査用光信号20を導入し、取出用開口150から第2の検査用光信号21を取出すことにより、第1及び第2の光モジュール12A、12Bと第1及び第2の光導波路13A、13Bを検査することができる。
In the present embodiment, the first and second optical modules are introduced by introducing the first inspection
[第4の実施の形態]
図8(a)は、本発明の第4の実施の形態に係る光電子回路基板を示す断面図であり、図8(b)は、本発明の第4の実施の形態に係る光電子回路基板を示す断面図である。
[Fourth embodiment]
FIG. 8A is a cross-sectional view showing an optoelectronic circuit board according to the fourth embodiment of the present invention, and FIG. 8B shows an optoelectronic circuit board according to the fourth embodiment of the present invention. It is sectional drawing shown.
本実施の形態は、図8(a)に示すように、第2の基板11に導入用開口140を設け、図8(b)に示すように、第2の基板11に取出用開口150を設けている。
In the present embodiment, as shown in FIG. 8A, an introduction opening 140 is provided in the
本実施の形態においては、導入用開口140から第1の検査用光信号20を導入し、取出用開口150から第2の検査用光信号21を取出すことにより、第1及び第2の光モジュール12A、12Bと第1及び第2の光導波路13A、13Bを検査することができる。
In the present embodiment, the first and second optical modules are introduced by introducing the first inspection
なお、本発明は、上記した実施の形態に限定されず、本発明の技術思想を逸脱あるいは変更しない範囲内で種々の変形が可能である。 The present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications can be made without departing from or changing the technical idea of the present invention.
1・・・光電子回路基板、2・・・光信号、3・・・発光装置、4・・・受光装置、10・・・第1の基板、11・・・第2の基板、12A・・・第1の光モジュール、12B・・・第2の光モジュール、13A・・・第1の光導波路、13B・・・第2の光導波路、14・・・合流光導波路、14a・・・第1の合流光導波路、14b・・・第2の合流光導波路、15・・・分岐光導波路、15a・・・第1の分岐光導波路、15b・・・第2の分岐光導波路、20・・・第1の検査用光信号、21・・・第2の検査用光信号、100A・・・発光側開口、100B、101B・・・受光側開口、110、124・・・端子、120A、120B・・・発光素子、121A、121B・・・受光素子、122、126・・・ワイヤ、123・・・パッド、125・・・ハンダボール、127A・・・制御部、128・・・封止樹脂、131・・・クラッド、132・・・コア、133A、133B、134A、140A、150A・・・光路変換面、140、140a、140b・・・導入用開口、150、150a、150b・・・取出用開口、200・・・封入剤
DESCRIPTION OF
Claims (8)
前記基板の前記第1の面側に実装され、前記発光側開口に対向する位置に設けられた発光素子、及び前記受光側開口に対向する位置に設けられた受光素子と、
前記基板の前記第2の面側に設けられ、前記発光側開口を前記第1の面側から前記第2の面側に通過する前記光信号の光路を変換する第1の光路変換面、及び前記第1の光路変換面により変換された前記光信号が前記受光側開口を前記第2の面側から前記第1の面側に通過するように前記光信号の光路を変換する第2の光路変換面を有する光導波路と、
前記光導波路から分岐して設けられ、検査用光信号を前記光導波路に対して導入又は取出しする検査用光導波路とを備えたことを特徴とする光電子回路基板。 A light emitting side opening that has an electronic circuit and passes an optical signal from the first surface side to the second surface side, and a light receiving side that passes the optical signal from the second surface side to the first surface side A substrate with an opening formed thereon;
A light emitting element mounted on the first surface side of the substrate and provided at a position facing the light emitting side opening; and a light receiving element provided at a position facing the light receiving side opening;
A first optical path conversion surface that is provided on the second surface side of the substrate and converts an optical path of the optical signal passing through the light emission side opening from the first surface side to the second surface side; and A second optical path for converting the optical path of the optical signal so that the optical signal converted by the first optical path conversion surface passes through the light receiving side opening from the second surface side to the first surface side. An optical waveguide having a conversion surface;
An optoelectronic circuit board, comprising: an inspection optical waveguide that is branched from the optical waveguide and introduces or extracts an inspection optical signal from the optical waveguide.
前記検査用光導波路の前記第3の光路変換面は、前記検査用光信号が前記検査用開口を通過するように前記検査用光信号の光路を変換することを特徴とする請求項2に記載の光電子回路基板。 The substrate has an inspection opening through which the inspection optical signal passes,
The third optical path conversion surface of the inspection optical waveguide converts an optical path of the inspection optical signal so that the inspection optical signal passes through the inspection opening. Optoelectronic circuit board.
前記他の基板は、前記検査用光信号を通過させる検査用開口が形成され、
前記検査用光導波路の前記第3の光路変換面は、前記検査用光信号が前記検査用開口を通過するように前記検査用光信号の光路を変換することを特徴とする請求項2に記載の光電子回路基板。 Furthermore, another substrate is provided on the second surface side of the substrate via the optical waveguide and the inspection optical waveguide,
The other substrate has an inspection opening through which the inspection optical signal passes,
The third optical path conversion surface of the inspection optical waveguide converts an optical path of the inspection optical signal so that the inspection optical signal passes through the inspection opening. Optoelectronic circuit board.
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9257812B2 (en) | 2013-07-26 | 2016-02-09 | Citizen Holdings Co., Ltd. | Laser module, light source device, and method for fabricating laser module |
-
2007
- 2007-03-14 JP JP2007065016A patent/JP2008225185A/en not_active Withdrawn
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