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JP2008218758A5 - - Google Patents

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JP2008218758A5
JP2008218758A5 JP2007054957A JP2007054957A JP2008218758A5 JP 2008218758 A5 JP2008218758 A5 JP 2008218758A5 JP 2007054957 A JP2007054957 A JP 2007054957A JP 2007054957 A JP2007054957 A JP 2007054957A JP 2008218758 A5 JP2008218758 A5 JP 2008218758A5
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Claims (9)

  1. 主面の周縁部を構成する各辺部にそれぞれ1列以上の配列構成で形成されたバンプを有し、前記各辺部のうちの少なくとも1つの所定の辺部に形成された前記バンプが、前記各辺部のうちの他の辺部に形成された前記バンプの列数よりも多い列数で設けられた複数個の半導体素子と、
    前記各半導体素子の前記バンプに対応する位置に設けられた電極端子を有する基板と、
    前記半導体素子ごとに設けられ、前記各半導体素子の前記バンプと前記基板の前記電極端子とを電気的に接続した状態で前記各半導体素子を前記基板上に接着する各樹脂接着層と、を備え、
    前記各樹脂接着層は、前記各半導体素子の前記所定の辺部からのはみ出し量が、前記他の辺部からのはみ出し量よりも小さく、
    前記各半導体素子は、前記樹脂接着層のはみ出し量が小さい前記所定の辺部同士が隣接する配置で実装されている
    ことを特徴とする電子回路実装構造体。
  2. 主面の周縁部を構成する各辺部にそれぞれ1列以上の配列構成で形成されたバンプを有し、前記各辺部のうちの少なくとも1つの所定の辺部に形成された前記バンプが、前記各辺部のうちの他の辺部に形成された前記バンプの配列ピッチよりも短い配列ピッチで設けられた複数個の半導体素子と、
    前記各半導体素子の前記バンプに対応する位置に設けられた電極端子を有する基板と、
    前記半導体素子ごとに設けられ、前記各半導体素子の前記バンプと前記基板の前記電極端子とを電気的に接続した状態で前記各半導体素子を前記基板上に接着する各樹脂接着層と、を備え、
    前記各樹脂接着層は、前記各半導体素子の前記所定の辺部からのはみ出し量が、前記他の辺部からのはみ出し量よりも小さく、
    前記各半導体素子は、前記樹脂接着層のはみ出し量が小さい前記所定の辺部同士が隣接する配置で実装されている
    ことを特徴とする電子回路実装構造体。
  3. 前記半導体素子の少なくとも1個においては、前記樹脂接着層のはみ出し量が小さい前記所定の辺部に形成された前記バンプにダミーバンプが含まれ、且つ前記ダミーバンプを含む前記バンプが2列以上で、かつ千鳥状に配置されており、
    前記基板の前記電極端子は、前記ダミーバンプ以外の前記バンプに対応する位置に設けられている
    ことを特徴とする請求項1もしくは2のいずれかに記載の電子回路実装構造体。
  4. 前記樹脂接着層は、その材料が絶縁性の熱硬化型樹脂または異方導電性樹脂からなることを特徴とする請求項1ないし3のいずれかに記載の電子回路実装構造体。
  5. 主面の周縁部を構成する各辺部にそれぞれ1列以上の配列構成で形成されたバンプを有し、前記各辺部のうちの少なくとも1つの所定の辺部に形成された前記バンプが、前記各辺部のうちの他の辺部に形成された前記バンプの列数よりも多い列数で設けられた複数個の半導体素子と、
    前記各半導体素子の前記バンプに対応する位置に設けられた電極端子を有する基板と、
    前記半導体素子ごとに設けられ、前記各半導体素子の前記バンプと前記基板の前記電極端子とを電気的に接続した状態で前記各半導体素子を前記基板上に接着する各樹脂接着層と、を備え、
    前記各半導体素子は、前記バンプが他の辺部よりも多い列数で設けられた辺部同士が隣接する配置で実装されている
    ことを特徴とする電子回路実装構造体。
  6. 前記半導体素子の少なくとも1個においては、前記バンプが他の辺部よりも多い列数で設けられた辺部の前記バンプにダミーバンプが含まれ、且つ前記ダミーバンプを含む前記バンプが2列以上で、かつ千鳥状に配置されており、
    前記基板の前記電極端子は、前記ダミーバンプ以外の前記バンプに対応する位置に設けられている
    ことを特徴とする請求項5記載の電子回路実装構造体。
  7. 主面の周縁部を構成する各辺部にそれぞれ1列以上の配列構成で形成されたバンプを有し、前記各辺部のうちの少なくとも1つの所定の辺部に形成された前記バンプが、前記各辺部のうちの他の辺部に形成された前記バンプの配列ピッチよりも短い配列ピッチで設けられた複数個の半導体素子と、
    前記各半導体素子の前記バンプに対応する位置に設けられた電極端子を有する基板と、
    前記半導体素子ごとに設けられ、前記各半導体素子の前記バンプと前記基板の前記電極端子とを電気的に接続した状態で前記各半導体素子を前記基板上に接着する各樹脂接着層と、を備え、
    前記各半導体素子は、前記バンプが他の辺部よりも短い配列ピッチで設けられた辺部同士が隣接する配置で実装されている
    ことを特徴とする電子回路実装構造体。
  8. 前記半導体素子の少なくとも1個においては、前記バンプが他の辺部よりも短い配列ピッチで設けられた辺部の前記バンプにダミーバンプが含まれ、且つ前記ダミーバンプを含む前記バンプが2列以上で、かつ千鳥状に配置されており、
    前記基板の前記電極端子は、前記ダミーバンプ以外の前記バンプに対応する位置に設けられている
    ことを特徴とする請求項7記載の電子回路実装構造体。
  9. 前記樹脂接着層は、その材料が絶縁性の熱硬化型樹脂または異方導電性樹脂からなることを特徴とする請求項5ないし8のいずれかに記載の電子回路実装構造体。
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