JP2008293565A - 光記録方法及び光記録装置 - Google Patents

Abstract

【課題】ライトストラテジの位相パラメータを最適にかつ効率よく調整する、光記録方法及び、光記録再生装置を得る。
【解決手段】各々の記録マークの相対位置を制御する位相パラメータが含まれるライトストラテジを用いて光ディスクに記録する光記録方法及び、光記録再生装置であって、記録された信号のスペースに対応する信号のピークレベルを読み取り、読み取ったスペースに対応する信号のピークレベルを、スペースの直前と直後のマークに対応するパターンの長さ別に比較し、ライトストラテジの位相パラメータを修正する。
【選択図】図１

Description

本発明は、光ディスクに対して情報の記録を行うための光記録方法及び光記録装置に関わるもので、特に記録時に用いるライトストラテジの調整方法に関するものである。

光ディスクに対して情報の記録を行うためには、記録時に用いるライトストラテジを光ディスクの特性に合わせて最適に調整する必要があった。

この対応策として、試し書きにより形成されたピット部分を読み取り、読み取ったピット部分の信号のデビエーションを評価して、前記デビエーションが所定の範囲内になるようにライトストラテジの修正を繰り返して調整するものがある（例えば特許文献１〜５参照）。

特開２００６−００４６０１号公報（第１−１４頁、第１−１６図） 特開２００６−０３１９１５号公報（第１−１３頁、第１−１０図） 特開２００６−０４８９０７号公報（第１−１６頁、第１−１９図） 特開２００６−１６４４８６号公報（第１−１３頁、第１−１７図） 特開２００７−０１８５８２号公報（第１−１１頁、第１−１１図）

上記の従来の光記録装置では、試し書きにより形成されたピット部分を読み取った信号のデビエーションが所定の範囲内になるようにライトストラテジの修正をおこなっているが、記録に用いるライトストラテジのパラメータが記録マークの始端と終端のみを規定するようなライトストラテジではなく、パルス幅や位相を規定した複数のパラメータを組み合わせたライトストラテジを用いる場合には、デビエーションの変動が複数のパラメータによって引き起こされるため、デビエーションのみを用いた場合、全てのライトストラテジのパラメータを簡単には最適化できないという問題点があった。

この発明は、上記のような問題点を解決するためになされたもので、光ディスクに対して情報の記録を行うためのライトストラテジの特に位相パラメータを、前記光ディスクに対して最適にかつ効率よく調整できるようにした光記録方法及び光記録装置を得ることを目的としている。

本発明の光記録方法は、
記録データ長に応じたライトストラテジのパラメータに従って、光記録媒体上にレーザ光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録方法であって、
各々の記録マークの相対位置を制御する位相パラメータが含まれるライトストラテジでレーザ光を照射することにより、所与の長さのマークを形成し、マークとマーク相互間に位置する、所与の長さのスペースとで構成された記録部を形成する書き込み工程と、
前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルを読み取るスペースレベル読み込み工程と、
前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルを、前記スペースの直前と直後のマークの長さ別に比較し、比較結果に基づいて前記ライトストラテジの位相パラメータを修正する位相パラメータ修正工程と、
前記位相パラメータ修正工程で修正した前記ライトストラテジの位相パラメータを用いて、前記光記録媒体への書き込みを行う書き込み工程と
を有する。

本発明によれば、記録された信号のスペースに対応する信号のピークレベルを、スペースの直前と直後のマークの長さ別に比較し、比較結果に基づいてライトストラテジの位相パラメータを調整するようにし、ライトストラテジの位相パラメータの最適化を高速に行うことができる。

実施の形態１．
以下、この発明の実施の形態を、図面を参照して説明する。
以下に説明する実施の形態における光記録方法は、マークエッジ記録（ＰＷＭ記録）を行うものである。そして、光ディスク上に記録すべきデータに応じて、半導体レーザをライトストラテジ（記録に用いられるレーザ発光波形規則）に従いノンマルチパルス発光させて、記録マークを形成することにより情報の記録をおこなっている。即ち、以下の実施の形態で用いられるライトストラテジは、ノンマルチパルス型のものである。そして、このようなノンマルチパルス型のライトストラテジにおいて、以下に説明する実施の形態では、ライトストラテジのノンマルチパルスの位相（各記録マークを記録する為のパルスの位置）に関するパラメータを、試し書きした信号から読み取ったスペースに対応した信号のピークレベルを基に調整することとしている。

さらにまた、以下に説明する実施の形態では、マークの長さやマーク相互間のスペースの長さは、該マークやスペースに対応する信号部分の、記録や再生に用いられるチャンネルクロックの周期Ｔを単位として表され、光ディスクへの情報の記録が、ＥＦＭ＋（８−１６）変調の３Ｔ〜１１Ｔ及び１４Ｔのマーク、即ちクロック周期数ｎが３乃至１１、及び１４のマークに対応したパターンの光パルスを光ディスクに照射することにより行われるものとする。なお、最長マーク（長さ１４Ｔのマーク）は、シンクパターンである。

図１は本発明の実施の形態１に係る光記録再生装置１００の基本的な構成例を示す図である。図１において、レーザ光源としての半導体レーザ１１０はレーザ駆動部１２０により駆動制御されている。

データ再生時においては、半導体レーザ１１０から出射された、データ再生に必要な出力値（再生パワー）を有するレーザ光がコリメートレンズ１３０とビームスプリッタ１４０と対物レンズ１５０とを介して光ディスク１６０に集光照射される。光ディスク１６０からの反射光は、対物レンズ１５０を通った後にビームスプリッタ１４０により入射光と分離され、検出レンズ１７０を介して受光素子１８０で受光される。
上記のうち、半導体レーザ１１０と、コリメートレンズ１３０と、ビームスプリッタ１４０と、対物レンズ１５０、検出レンズ１７０とで光学系が構成され、この光学系と受光素子１８０と、レーザ駆動部１２０とで光ピックアップＰＵが構成されている。

受光素子１８０は光信号を電気信号に変換する。受光素子１８０において変換された電気信号は、ヘッドアンプ１９０を介してプリピット検出部２００とアシンメトリ検出部２１０とイコライザ２２０とに入力される。
プリピット検出部２００は、入力された電気信号から、光ディスク１６０のプリピット部に予め記録された、アシンメトリ値βの推奨値等の光ディスク固有の情報を検出する。

また、イコライザ２２０に入力されたヘッドアンプ１９０からの電気信号は整形され、データデコーダ２６０とスペースレベル検出部２７０とに入力される。

データデコーダ２６０は、入力された電気信号を２値化し、復調やエラー訂正などの処理を行うことにより、光ディスク１６０に記録されたデータを生成（再生）する。

スペースレベル検出部２７０は、再生された信号のうち、スペースに対応する部分のピークレベルを検出する。この場合、各クロック周期数のスペース部に対応するピークレベルを、当該スペースの直前と直後に位置するマークの長さ（クロック周期数で表されるマークの長さ）別に検出する。例えば、３Ｔのスペースに対応するピークレベルを、当該スペースの直前に位置するマークが３Ｔで、直後に位置するマークが６Ｔ以上である場合について検出し、また当該スペースの直前に位置するマークが４Ｔで、直後に位置するマークが６Ｔ以上である場合について検出し、また当該スペースの直前に位置するマークが５Ｔで、直後に位置するマークが６Ｔ以上である場合について検出し、また当該スペースの直前と直後に位置するマークが共に６Ｔ以上である場合について検出する。

アシンメトリ検出部２１０は、入力された電気信号をＡＣ（交流）カップリングし、ＡＣカップリングされた電気信号のピークレベルＡ１とボトムレベルＡ２を検出する。検出したピークレベルＡ１とボトムレベルＡ２から、以下の式（１）を用いて、アシンメトリ値βを算出する。
β＝（Ａ１＋Ａ２）／（Ａ１−Ａ２） …（１）
ここで、ピークレベルＡ１、ボトムレベルＡ２は、最長スペースと最長マークが交互に現れる部分で発生するものであり、それらの値は、最短スペースと最短マークが交互に現れる部分のピークレベルとボトムレベルの平均値をゼロレベルとして表したものである。

図２（ａ）〜（ｃ）は、アシンメトリ検出部２１０において、検出される再生信号（ヘッドアンプ１９０から出力される信号）のアシンメトリの検出例を示したものである。図２（ａ）にβ＜０の場合を示す。図２（ｂ）にβ＝０の場合を示す。図２（ｃ）にβ＞０の場合を示す。

データ記録時においては、データエンコーダ２３０は、中央制御部２５０から与えられる、記録すべき元データに対して、エラー訂正符号を付与し、データ変調を行って、半導体レーザ１１０への駆動信号の基本となる記録データを生成する。レーザ波形制御部２４０は、記録データに基きライトストラテジ信号を生成する。即ち、中央制御部２５０からライトストラテジが設定された後、データエンコーダ２３０から、周期数ｎを指定する記録データ、即ち、３Ｔ乃至１１Ｔ及び１４Ｔのいずれかを指定する記録データが与えられると、レーザ波形制御部２４０は、そのような記録データに対応するライトストラテジ信号（ライトストラテジに従って生成された、発光パルス列の波形と略同一の波形を有する信号）を出力する。

レーザ駆動部１２０は、生成されたライトストラテジ信号に応じた駆動電流により半導体レーザ１１０を駆動する。半導体レーザ１１０から出射されたデータ記録に必要な出力値（記録パワー）を有するレーザ光がコリメートレンズ１３０とビームスプリッタ１４０と対物レンズ１５０とを介して光ディスク１６０に集光照射される。これにより、マークが形成され、マークとマーク相互間に位置するスペースとから成る記録部が形成される。

図３（ａ）〜（ｅ）は、図１に示される光記録再生装置１００において、光ディスク１６０が色素系記録媒体である場合に、レーザ波形制御部２４０で生成されるライトストラテジ信号の例を示したものである。図３（ａ）に、記録のために用いられる周期Ｔを有するチャネルクロックを（記録用チャンネルクロック）示す。図３（ｂ）に、マーク部ＭＡとスペース部ＳＡとからなる記録データの例を示す。図３（ｃ）に、図３（ｂ）の記録データを記録するためのライトストラテジ信号、即ち発光パルスパターンの例を示す。発光パルスパターンは、記録データ長が最短の場合と２番目に短い場合、再生パワーレベルＲＰとハイパワーレベル（記録パワーレベル）ＨＰとの間でレベル変化し、ハイパワーレベルＨＰにある期間がパルス幅パラメータとして定義される。さらに、記録データ長が長い場合（最短の場合と２番目に短い場合以外）は、再生パワーレベルＲＰからハイパワーレベルＨＰにレベル変化し、次いでハイパワーレベルＨＰからミドルパワーレベルＭＰ（ハイパワーレベルＨＰよりも低く、再生パワーレベルＲＰよりも高い）へレベル変化し、さらにミドルパワーレベルＭＰからハイパワーレベルＨＰへレベル変化し、最後にハイパワーレベルＨＰから再生パワーレベルＲＰへレベル変化し、ハイパワーレベルＨＰにある期間と、再生パワーレベルＲＰ以外にある期間がパルス幅として定義される。また、各マークを記録する為のパルスと記録データの立ち下がり位置との位相関係が位相パラメータとして定義される。さらに、記録マーク直前のスペース長に応じて、記録マークを記録するためのライトストラテジのパルスの立ち上がりエッジ位置のシフト量が立ち上がりエッジ位置制御パラメータとして定義される。

図３（ｄ）に、図３（ｃ）のライトストラテジで記録を行うことにより形成された光ディスク上のマークＭＫと、マークＭＫ相互間に位置するスペースＳＰとを示す。図３（ｄ）の横軸は、光ディスクのトラックに沿う長さ（位置）であるが、便宜上図３（ｃ）の発光パルスパターンに対応させて示してある。

図３（ｅ）に、図３（ｄ）のマークＭＫ及びスペースＳＰを読み出すことにより得られた再生信号を示す。この再生信号はマークＭＫに対応する部分ＭＢとスペースＳＰに対応する部分ＳＢとを有する。

最短マークは、周期数ｎ＝３、即ち３Ｔに対応する長さを有し、最長マークは周期数ｎ＝１４、即ち１４Ｔに対応する長さを有する。
図３（ｂ）及び図３（ｃ）は、最短マーク、即ち３Ｔのマークを記録し、次に２番目に短いマーク、即ち４Ｔのマークを記録し、次に４番目に短いマーク、即ち６Ｔのマークを記録する場合を想定している。

図３（ｃ）の左側に示すように、記録データが最短マークの場合のライトストラテジは、当該記録データＭＡの後端（立ち下がりエッジ）からＤ３で示される時間だけずれた位置を基準に(後端として）、Ｆ３で示されるパルス幅を有する先頭パルスＦのみからなる。

図３（ｃ）の中央に示すように、記録データが２番目に短いマークの場合のライトストラテジは、当該記録データＭＡの後端（立ち下がりエッジ）からＤ４で示される時間だけずれた位置を基準に（後端として）、Ｆ４で示されるパルス幅を有する先頭パルスＦのみからなる。
なお、ずれＤ３は後方向へのずれであり、ずれＤ４は前方向へのずれとして示されているが、これは前方向のずれとなることもあり、後方向のずれとなることもあることを示すためであり、ずれＤ３が前方向へのずれとなることもあり、ずれＤ４が後方向へのずれとなることもある。前方向へのずれを、「＋方向のずれ」と言い、後方向へのずれを「−方向のずれ」とも言う。以下で言及するずれＤ５、Ｄｎについても同様である。

図３（ｃ）の右側に示すように、記録データが４番目に短いマークの場合のライトストラテジは、当該記録データＭＡの後端（立ち下がりエッジ）からＤｎで示される時間だけずれた位置を基準に（後端として）、Ｗｎで示されるパルス幅（記録データ長（すなわち６Ｔ）から１Ｔを引いた５Ｔを基準にｄＷｎの幅を加えた幅（（６−１）Ｔ＋ｄＷｎ））を有し、さらに先頭エッジを基準に（前端として）、Ｆｎで示されるパルス幅を有する先頭パルスＦと、最終エッジを基準に（後端として）、Ｌｎで示されるパルス幅を有する最終パルスＬからなる。ここで、ミドルパワー部分Ｍの幅は、全体の幅Ｗｎから先頭パルス幅Ｆｎと最終パスル幅Ｌｎを引いた幅となる。

記録データとしてｐ番目（４＜ｐ＜１０）に短いマーク（（ｐ＋２）Ｔ＝ｎＴに対応する長さを有するマーク）を記録する場合のライトストラテジは、
記録データが４番目に短いマークの場合のライトストラテジと同様に、
当該記録データＭＡの後端（立ち下がりエッジ）からＤｎで示される時間だけずれた位置を基準に（後端として）、Ｗｎで示されるパルス幅（記録データ長（（ｐ＋２）Ｔ＝ｎＴ）から１Ｔを引いた（ｐ＋１）Ｔを基準にｄＷｎの幅を加えた幅（（ｐ＋２−１）Ｔ＋ｄＷｎ））を有し、さらに先頭エッジを基準に（前端として）、Ｆｎで示されるパルス幅を有する先頭パルスＦと、最終エッジを基準に（後端として）、Ｌｎで示されるパルス幅を有する最終パルスＬからなる。
ここで、ミドルパワー部分Ｍの幅は、全体の幅Ｗｎから先頭パルス幅Ｆｎと最終パルス幅Ｌｎを引いた幅となる。

また、記録データとして最長マーク（１４Ｔの長さを有するマーク）を記録する場合のライトストラテジは、記録データが４番目に短いマークの場合のライトストラテジと同様に、当該記録データＭＡの後端（立ち下がりエッジ）からＤｎで示される時間だけにずれた位置を基準に（後端として）、Ｗｎで示されるパルス幅（記録データ長（１４Ｔ）から１Ｔを引いた１３Ｔを基準にｄＷｎの幅を加えた幅（（１４−１）Ｔ＋ｄＷｎ））を有し、さらに先頭エッジを基準に（前端として）、Ｆｎで示されるパルス幅を有する先頭パルスＦと、最終エッジを基準に（後端として）、Ｌｎで示されるパルス幅を有する最終パルスＬからなる。
ここで、ミドルパワー部分Ｍの幅は、全体の幅Ｗｎから先頭パルス幅Ｆｎと最終パスル幅Ｌｎを引いた幅となる。

また、図示していないが、記録データとして３番目に短いマークを記録する場合のライトストラテジは、当該記録データＭＡの後端（立ち下がりエッジ）からＤ５で示される時間だけずれた位置を基準に（後端として）、Ｗｎで示されるパルス幅（記録データ長（５Ｔ）から１Ｔを引いた４Ｔを基準にｄＷｎの幅を加えた幅（（５−１）Ｔ＋ｄＷｎ））を有し、さらに先頭エッジを基準に（前端として）、Ｆ５で示されるパルス幅を有する先頭パルスＦと、最終エッジを基準に（後端として）、Ｌ５で示されるパルス幅を有する最終パルスＬからなる。
ここで、ミドルパワー部分Ｍの幅は、全体の幅Ｗ５から先頭パルス幅Ｆ５と最終パルス幅Ｌ５を引いた幅となる。

このように、３番目に短いマークから最長マークまでは、パルス全体の幅を決定する値ｄＷｎが記録データ長に関わらず同じである。
また、４番目に短いマークから最長マークまでは、記録データとライトストラテジとの位相差Ｄｎ、先頭パルス幅Ｆｎ、最終パルス幅Ｌｎが記録データ長にかかわらず同じである。

また、記録データが３番目に短いマークを記録する場合のライトストラテジの位相差Ｄ５、先頭パルス幅Ｆ５、最終パルス幅Ｌ５は、記録データが４番目に短いマークから最長マークを記録する場合のライトストラテジの位相差Ｄｎ、先頭パルス幅Ｆ５、最終パルス幅Ｌ５を基準にした差分量として規定する場合もある。すなわち、
位相差Ｄ５＝Ｄｎ＋ｄＤ５、
先頭パルス幅Ｆ５＝Ｆｎ＋ｄＦ５、
最終パルス幅Ｌ５＝Ｌｎ＋ｄＬ５
と規定することもある。

なお、ライトストラテジの位相パラメータとして規定しているＤ３、Ｄ４、Ｄ５、Ｄｎは、値が＋の場合は記録データの立ち下がり位置から進む方向（前方向）にシフトし、値が−の場合は記録データの立ち下がり位置から遅れる方向（後方向）にシフトすることを意味する。

また、記録マークの直前のスペース長が最短の場合、つまり３Ｔの場合に、前に記録したマークからの熱の影響を緩和する為に、記録マークのライトストラテジの先頭パルスの立ち上がりエッジ位置制御を行う。この制御により、先頭パルスの立ち上がりエッジ位置をＬＤ３の量だけ−方向へシフトさせる。シフト後の立ち上がり位置が点線で示されている。この時に立ち下がりエッジ位置は変わらない為エッジ位置制御が働いた場合の先頭パルス幅はＬＤ３だけ小さくなる。

中央制御部２５０は、光記録再生装置１００の再生、書き込みの際に、装置の全体を制御するもので、プリピット検出部２００からのプリピット情報、及びアシンメトリ検出部２１０からのアシンメトリ値、データデコーダ２６０からの再生データ、スペースレベル検出部２７０からのスペースレベル値を受ける一方、データエンコーダ２３０、レーザ波形制御部２４０、レーザ駆動部１２０に制御信号を与える。

中央制御部２５０はまた、後に図４及び図５、図６又は図７を参照して説明するライトストラテジの調整、特にその位相パラメータ量の算出、アシンメトリ値の計算、修正されたライトストラテジとアシンメトリ値を用いて行われる試し書きの制御などを行う。

中央制御部２５０は例えばＣＰＵ２５０ａと該ＣＰＵ２５０ａの動作のためのプログラムを格納したＲＯＭ２５０ｂとデータを記憶するＲＡＭ２５０ｃとを備えている。ＲＯＭ２５０ｂに格納されたプログラムは、後に図５、図６又は図７並びに図８（ａ）〜（ｅ）、図９（ａ）〜（ｅ）、図１０（ａ）〜（ｅ）及び図１１（ａ）〜（ｅ）を参照して説明される位相パラメータの調整のための計算、及び位相パラメータの位相量の修正を定義する部分を含む。また、ＲＯＭ２５０ｂには、後述の位相パラメータを調整する際に、位相パラメータの変更量を設定するための係数や、調整精度を定める為の許容誤差量等の、種々の定数が記憶されている。

一般に、情報を記録する前に試し書きを行うことで記録パワーの最適化が行われる。以下にこの手順について説明する。

最初に、例えばランダムな記録データに対応した３Ｔ〜１１Ｔのマークとスペースとからなるテストパターンを用いて、記録パワーを変化させて光ディスク１６０への試し書きを行ない、次にこのテストパターンを記録した光ディスク１６０上の領域を再生し、アシンメトリ検出部２１０によりアシンメトリ値を検出し、検出されたアシンメトリ値を、中央制御部２５０において、目標とするアシンメトリ値と比較して最適の記録パワーを求める。
一般に、記録パワーを大きくすればアシンメトリ値は大きくなり、記録パワーを小さくすればアシンメトリ値は小さくなる。

中央制御部２５０では、互いに異なる複数の記録パワーに対応するアシンメトリ値の検出値を目標値と比較して、目標値に最も近い検出値を生じさせた記録パワーを最適の記録パワーとして設定する。

なお、このようにする代わりに、一つの記録パワーで光ディスク１６０への試し書きを行なった後再生し、再生結果からアシンメトリ値を検出し、検出されたアシンメトリ値を、目標とするアシンメトリ値と比較して比較結果に応じて記録パワーを増減して最適値を求めるようにしても良い。

このような光記録方法を基本として、本実施の形態においては、試し書きにより形成されたマークＭＫ及びスペースＳＰを読み取って信号を再生する際に、スペースレベル検出部２７０で検出された、スペースＳＰに対応する信号部分ＳＢのピークレベルを、当該スペースＳＰの直前と直後に位置するマークＭＫの長さ（マークＭＫに対応する再生信号部分ＭＢの、クロック周期数で表される長さ）別に検出し、比較し、比較結果に基づいて、位相パラメータの位相量を調整する。

以下、図４を参照して本実施の形態の光記録方法の手順を説明する。
最初に記録に用いられる光ディスク１６０が光記録再生装置１００に挿入されると、図示しないセンサによりそのことが検出されて（ステップＳ１０）、中央制御部２５０に伝えられ、中央制御部２５０は、光ピックアップＰＵを駆動して光ディスク１６０から、予めディスクメーカにより記録されたライトストラテジの推奨値や、アシンメトリ値βの推奨値等のディスクの固有情報を読み出す（ステップＳ１１）。

次にステップＳ１２において、読み取られたライトストラテジの推奨値を、位相パラメータの位相量の調整を行う際の初期ライトストラテジとして、中央制御部２５０内に（例えばＲＡＭ２５０ｂ内に）設定する。なお、初期ライトストラテジとしては、光ディスク１６０から読み取った値ではなく、光記録再生装置１００に予め設定された特定のライトストラテジを用いるようにしても良い。代わりに、初期ライトストラテジとして、光ディスク１６０から読み取った値と、光記録再生装置１００に予め設定された関係式により決まるライトストラテジを用いるようにしても良い。

次にステップＳ１３において、読み取られたアシンメトリ値βの推奨値を、記録パワーの最適化に使用する為の目標値として、中央制御部２５０内に（例えばＲＡＭ２５０ｂ内に）設定する。なお、アシンメトリ値βの目標値としては、光ディスク１６０から読み取った値ではなく、光記録再生装置１００に予め設定した特定の値を用いても良い。あるいは、アシンメトリ値βの目標値として、光ディスク１６０から読み取った値と、光記録再生装置１００に予め設定された関係式により決まる値を用いるようにしても良い。

然る後、図示しない手段により記録の指示が与えられると（Ｓ１４）、ステップＳ１５において、上記のようにして設定された初期ライトストラテジ及びアシンメトリ目標値を用いて光ディスク１６０への試し書きを行う。即ち、ステップＳ１２において中央制御部２５０内に設定されたライトストラテジ（各ｎＴに対するストラテジ）をレーザ波形制御部２４０に設定することにより、レーザ波形制御部２４０でテストパターンに基づいたライトストラテジを生成し、光ピックアップを用いて光ディスク１６０への試し書きを行う。そして、テストパターンを記録した光ディスク１６０上の領域を光ピックアップで再生し、アシンメトリ検出部２１０により検出されたアシンメトリ値とステップＳ１３において設定されたアシンメトリ目標値とを中央制御部２５０で比較して両者が一致するように制御を行うことで、最適な記録パワーを決定する。

そして、この試し書きを行ってパワー調整を行った後、ステップＳ１６で、位相パラメータの調整を行う。なお、ステップＳ１６では、位相パラメータの調整と共に、再度パワー調整を行っても良い。

最後にステップＳ１７において、ステップＳ１６で調整された位相パラメータをレーザ波形制御部２４０に設定することにより、レーザ波形制御部２４０で記録データに基づいたライトストラテジを生成し、ステップＳ１５で決定された記録パワーにより、光ディスク１６０への本来のデータの書き込み（本書き込み）を行う。なお、ステップＳ１６において、記録パワーの再調整が行われた場合は、前記記録パワーは、ステップＳ１５で決定された値ではなくステップＳ１６で決定された記録パワーを用いても良い。

上記のうち、ステップＳ１０の処理は、図示しない光ディスクの挿入を検出するセンサと、中央制御部２５０とにより行われ、ステップＳ１１の処理は、光ピックアップＰＵ、ヘッドアンプ１９０、イコライザ２２０、データデコーダ２６０、及び中央制御部２５０により行われ、ステップＳ１２及びＳ１３の処理は、中央制御部２５０により行われ、ステップＳ１４の処理は、図示しない記録の指示を受ける手段（インターフェース）と、中央制御部２５０とにより行われ、ステップＳ１５の処理は、ヘッドアンプ１９０、アシンメトリ検出部２１０、中央制御部２５０、レーザ波形制御部２４０、及び光ピックアップＰＵにより行われ、ステップＳ１６の処理は、ヘッドアンプ１９０、イコライザ２２０、スペースレベル検出部２７０、中央制御部２５０、レーザ波形制御部２４０、及び光ピックアップＰＵにより行われ、ステップＳ１７の処理は、中央制御部２５０、レーザ波形制御部２４０、及び光ピックアップＰＵにより行われる。

図５は図４のステップＳ１６の処理を詳細に示す。
位相パラメータ調整処理が開始される（Ｓ１６０）と、まず、ステップＳ１６１においては、光ディスク１６０に対し試し書きを行う。図５の処理の開始後最初にステップＳ１６１の処理を行う場合には、ステップＳ１２において設定された初期ライトストラテジとステップＳ１４において決定された記録パワーを用いて、試し書きを行う。
次に、ステップＳ１６２において、ステップＳ１６１で試し書きした信号を再生する。
ステップＳ１６１の処理は、中央制御部２５０、レーザ波形制御部２４０、及び光ピックアップＰＵにより行われ、ステップＳ１６２の処理は、光ピックアップＰＵ、ヘッドアンプ１９０、及びイコライザ２２０により行われる。

次に、ステップＳ１６３においては、スペースレベル検出部２７０で、ステップＳ１６２において再生された信号の、スペースの長さが３Ｔの場合に対応する信号レベル（ピークレベル）を、前記スペースの前後のマークの長さ別に検出する。

次に、ステップＳ１６４においては、ステップＳ１６３で検出したスペースの長さが３Ｔの場合に対応する信号レベルから、前記スペースの前マークと後マークの長さがどちらも６Ｔ以上の場合のスペース信号レベル（スペースＳＰに対応する信号ＳＢのピークレベル）を抽出して、その平均値Ｉ３ＨＬを抽出する。この平均値Ｉ３ＨＬは、基準スペースレベルとして用いられる。ステップＳ１６３及びＳ１６４の処理は、スペースレベル検出部２７０及び中央制御部２５０により行われる。

なお、前記スペースの前マークと後マークの長さが６Ｔ以上の場合のスペース信号レベルとしては、前マークと後マークの長さが６Ｔ以上の全ての場合のスペース信号レベルの平均値を用いたが、前マークと後マークの長さが６Ｔ以上の特定のｎＴの場合のみを用いたり、前マークと後マークの長さが６Ｔ以上の複数の場合（複数のｎＴの値の場合）の平均値を用いても良い。また、前マークと後マークの長さが６Ｔ以上であれば、前マークの長さと後マークの長さを等しくする必要は無く、異なる長さあるいは、組合せの場合の平均値を用いても良い。

次に、ステップＳ１６５においては、ステップＳ１６３で検出したスペースの長さが３Ｔの場合に対応する信号レベルから、前記スペースの前マークの長さがｍＴ（ｍ＝３、４、５）の場合で、前記スペースの後マークの長さが６Ｔ以上の場合のスペース信号レベルをｍ値別に抽出して、それぞれの平均値Ｉ３Ｈ（ｍ）を算出する。この平均値Ｉ３Ｈ（ｍ）は、修正スペースレベルとして用いられる。

なお、前記スペースの後マークの長さが６Ｔ以上の場合のスペース信号レベルとしては、後マークの長さが６Ｔ以上の全ての場合のスペース信号レベルの平均値を用いたが、後マークの長さが６Ｔ以上の特定のｎＴの場合のみを用いたり、後マークの長さが６Ｔ以上の複数の場合（複数のｎＴの値の場合）の平均値を用いても良い。

次に、ステップＳ１６６においては、ステップＳ１６４において抽出した前マークと後マークの長さが６Ｔ以上の場合のスペース信号レベルＩ３ＨＬと、ステップＳ１６５において抽出した前マークの長さがｍＴで、後マークの長さが６Ｔ以上の場合のスペース信号レベルＩ３Ｈ（ｍ）からその差分量ＤＨ（ｍ）を算出する。

次に、ステップＳ１６７においては、ステップＳ１６６において計算した差分量ＤＨ（ｍ）と、予め設定した許容範囲を比較する。
ステップＳ１６７における比較の結果、全てのｍに対して、ＤＨ（ｍ）が許容範囲内となっていれば、位相パラメータの調整を終了する（Ｓ１７９）。
また、前記差分量ＤＨ（ｍ）が許容範囲外の場合は、ステップＳ１６８の処理を行う。

ステップＳ１６８においては、前記差分量ＤＨ（ｍ）が予め設定したターゲットの差分量ＴＨ（ｍ）とを比較し、どちらが大きいかを判断する。

前記差分量ＤＨ（ｍ）が前記ターゲット差分量ＴＨ（ｍ）よりも大きい場合は、ステップＳ１６９において、位相パラメータＤ（ｍ）を増加させるように、つまり＋方向へシフトするように修正する。
また、前記差分量ＤＨ（ｍ）が前記ターゲット差分量ＴＨ（ｍ）よりも小さい場合は、ステップＳ１７０において、位相パラメータＤ（ｍ）を減少させるように、つまり−方向へシフトするように修正する。

ここで、ステップＳ１６８における差分量ＤＨ（ｍ）とターゲット差分量ＴＨ（ｍ）の比較、およびステップＳ１６９、ステップＳ１７０における位相パラメータの修正は、ｍの大きさ別に行い、ステップＳ１６７でＤＨ（ｍ）が許容範囲外と判定されたｍについてのみ行えばよい。例えば、ステップＳ１６７でｍ＝３の場合の差分量ＤＨ（３）が許容範囲外と判定され、ｍ＝４の場合の差分量ＤＨ（４）とｍ＝５の場合の差分量ＤＨ（５）が許容範囲内と判定された場合、ステップＳ１６８においては、ｍ＝３の場合の差分量ＤＨ（３）とｍ＝３の場合のターゲットの差分量ＴＨ（３）のみを比較し、ｍ＝３の場合の差分量ＤＨ（３）の方が、ｍ＝３の場合のターゲットの差分量ＤＨ（３）よりも大きい場合は、ステップＳ１６９において、記録データが３Ｔの位相パラメータＤ３を＋方向にシフトするように修正し、ｍ＝３の場合の差分量ＤＨ（３）の方が、ｍ＝３の場合のターゲットの差分量ＤＨ（３）よりも小さい場合は、ステップＳ１７０において、記録データが３Ｔの位相パラメータＤ３を−方向にシフトするように修正する。

ここで、位相パラメータＤｍの修正は、差分量ＤＨ（ｍ）に対する位相パラメータＤｍの変化量を予め求めておき、求められた差分量ＤＨ（ｍ）に応じて、位相パラメータのＤｍのシフト量を決定して修正する。または、予め設定した固定値あるいは、レーザ波形制御部２４０で変更できる最小値を用いるようにしても良い。
ステップＳ１６４〜Ｓ１７０の処理は、中央制御部２５０で行われる。

ステップＳ１６６における差分量ＤＨ（ｍ）の算出、ステップＳ１６７における差分量ＤＨ（ｍ）と予め設定した許容範囲との比較、及びステップＳ１６８における差分量ＤＨ（ｍ）とターゲット差分量ＴＨ（ｍ）との比較は、修正スペースレベルＩ３Ｈ（ｍ）と、基準スペースレベルＩ３ＨＬとの比較であるとも言え、ステップＳ１６９およびＳ１７０における、位相パラメータＤｍの修正は、修正スペースレベルＩ３Ｈ（ｍ）と、基準スペースレベルＩ３ＨＬとの比較の結果に基づく修正であるとも言える。

ステップＳ１６９又はステップＳ１７０において位相パラメータＤｍが修正された後は、修正された位相パラメータＤｍを用いて、ステップＳ１６１において試し書きをし、以降の動作をステップ１６７において、差分量ＤＨ（ｍ）が全てのｍで許容範囲内となるまで位相パラメータの調整を繰り返し行う。
なお、ステップＳ１６１において試し書きをする前に、再度最適パワー調整を行うようにしても良い。

また、位相パラメータ調整は差分量ＤＨ（ｍ）が許容範囲内になるまでとしていたが、差分量ＤＨ（ｍ）のターゲットの差分量ＴＨ（ｍ）からの差の最小値が、複数の位相パラメータのうちで最も小さくなる位相パラメータを求めるようにしても良い。各位相パラメータについての、上記差分量ＤＨ（ｍ）のターゲットの差分量ＴＨ（ｍ）からの差の最小値は、該位相パラメータを変化させて、差分量ＤＨ（ｍ）のターゲットの差分量ＴＨ（ｍ）からの差の変化を観測することで求めることができる。

ステップＳ１６８〜Ｓ１７０のように、差分量ＤＨ（ｍ）が目標値ＴＨ（ｍ）よりも大きいか否かに基づいて位相パラメータの修正をする代わりに、基準スペースレベルＩ３ＨＬに比べ、修正スペースレベルＩ３Ｈ（ｍ）が大きい場合は、対応するマークのライトストラテジが、遅れて出力されるように位相パラメータを修正し（Ｓ１７０）、基準スペースレベルＩ３ＨＬに比べ、修正スペースレベルＩ３Ｈ（ｍ）が小さい場合は、対応するマークのライトストラテジが、進んで出力されるように位相パラメータを修正する（Ｓ１６９）こととしても良い。

さらにまた、位相パラメータの調整の回数の制限値を予め設定しておき、位相パラメータを修正した回数がその制限値を超えた場合は、位相パラメータの調整を終了するようにしても良い。例えば図６に示すように、ステップＳ１６７でＮＯの場合に、ステップＳ１７１に進み、修正の回数が所定値を超えたか否かの判断を行い、超えていれば（Ｓ１７１でＹＥＳ）位相パラメータの調整を終了する（Ｓ１７９）。超えていなければ（Ｓ１７１でＮＯ）、ステップＳ１６８に進む。ステップＳ１７１の処理は、中央制御部２５０で行われる。

さらにまた、ジッター値等の信号品質が予め定めた基準よりも良い場合は位相パラメータの調整を終了するようにしても良い。例えば、ステップＳ１６６の次に、図７に示すように、ジッター値などの信号品質をチェックし（Ｓ１７２）、ジッター値等の信号品質が予め定めた基準よりも良い場合は位相パラメータの調整を終了し（Ｓ１７９）、品質が良好でない場合にステップＳ１６７に進むようにしても良い。ステップＳ１７２の処理は、中央制御部２５０で行われる。

上記の様にステップＳ１６では、試し書きされた信号の再生信号から、スペースの長さが３Ｔの場合のスペース信号レベルを、前マークと後マークの長さが６Ｔ以上の場合と、前マークの長さがｍＴ（ｍ＝３、４、５）で、かつ後マークの長さが６Ｔ以上の場合を比較することによって、記録に用いるライトストラテジの位相パラメータＤｍを修正するようにしている。その理由を図８（ａ）〜（ｅ）、図９（ａ）〜（ｅ）、図１０（ａ）〜（ｅ）及び図１１（ａ）〜（ｅ）を参照して説明する。

図８（ａ）〜（ｅ）、図９（ａ）〜（ｅ）、図１０（ａ）〜（ｅ）及び図１１（ａ）〜（ｅ）は、図１に示される光記録再生装置１００において、光ディスク１６０に記録された信号を再生した際に得られる信号を、長さが３Ｔのスペースと互いに異なる長さの前マークと、６Ｔ以上の後マークの組合せについて示したものである。

図８（ａ）〜（ｅ）は３Ｔスペースの前マークが３Ｔで、後マークが６Ｔ以上の場合を示し、図９（ａ）〜（ｅ）は３Ｔスペースの前マークが４Ｔで、後マークが６Ｔ以上の場合を示し、図１０（ａ）〜（ｅ）は３Ｔスペースの前マークが５Ｔで、後マークが６Ｔ以上の場合を示し、図１１（ａ）〜（ｅ）は３Ｔスペースの前マークと後マークがともに６Ｔ以上の場合を示している。

図８（ａ）、図９（ａ）、図１０（ａ）及び図１１（ａ）に、マーク部ＭＡとスペース部ＳＡとからなる記録データを示す。
図８（ｂ）〜（ｄ）、図９（ｂ）〜（ｄ）、図１０（ｂ）〜（ｄ）及び図１１（ｂ）〜（ｄ）に、図８（ａ）、図９（ａ）、図１０（ａ）及び図１１（ａ）の記録データを記録するためのライトストラテジを示す。

ここで、図８（ｂ）には、最適な３Ｔの位相パラメータＤ３（１）の場合を示し、図８（ｃ）には、最適な３Ｔの位相パラメータＤ３（１）よりも−方向にシフトした位相値Ｄ３（２）の場合を示し、図８（ｄ）には、最適な３Ｔの位相パラメータＤ３（１）よりも＋方向にシフトした位相値Ｄ３（３）の場合を示している。

また、図９（ｂ）には、最適な４Ｔの位相パラメータＤ４（１）の場合を示し、図９（ｃ）には、最適な４Ｔの位相パラメータＤ４（１）よりも−方向にシフトした位相値Ｄ４（２）の場合を示し、図９（ｄ）には、最適な４Ｔの位相パラメータＤ４（１）よりも＋方向にシフトした位相値Ｄ４（３）の場合を示している。

また、図１０（ｂ）には、最適な５Ｔの位相パラメータＤ５（１）の場合を示し、図１０（ｃ）には、最適な５Ｔの位相パラメータＤ５（１）よりも−方向にシフトした位相値Ｄ５（２）の場合を示し、図１０（ｄ）には、最適な５Ｔの位相パラメータＤ５（１）よりも＋方向にシフトした位相値Ｄ５（３）の場合を示している。

また、図１１（ｂ）には、最適なｎＴ（６Ｔ以上）の位相パラメータＤｎ（１）の場合を示し、図１１（ｃ）には、最適なｎＴの位相パラメータＤｎ（１）よりも−方向にシフトした位相値Ｄｎ（２）の場合を示し、図１１（ｄ）には、最適なｎＴの位相パラメータＤｎ（１）よりも＋方向にシフトした位相値Ｄｎ（３）の場合を示している。

図８（ｅ）、図９（ｅ）、図１０（ｅ）及び図１１（ｅ）に、図８（ｂ）〜（ｄ）、図９（ｂ）〜（ｄ）、図１０（ｂ）〜（ｄ）及び図１１（ｂ）〜（ｄ）のライトストラテジで記録を行うことにより形成された光ディスク上のマークと、マーク相互間に位置するスペースとを読み出すことにより得られた再生信号を示す。

図８（ｂ）に示すように、３Ｔの位相パラメータが最適な値（Ｄ３（１））の場合、再生信号のうちスペースに対応する部分（スペース信号）ＳＢは、図８（ｅ）に曲線ＲＤ３（１）に示すごとくとなる。
図８（ｃ）に示すように、最適な３Ｔの位相パラメータＤ３（１）よりも−方向にシフトした３Ｔの位相パラメータＤ３（２）で記録された場合、図８（ｅ）に曲線ＲＤ３（２）で示す様に再生信号の前マーク部分ＭＢは、最適な３Ｔの位相パラメータＤ３（１）で記録された場合よりも、後方にシフトし、符号間干渉の影響により、直後の３Ｔスペース信号ＳＢの振幅は小さくなる。

逆に、図８（ｄ）に示すように、最適な３Ｔの位相パラメータＤ３（１）よりも＋方向にシフトした３Ｔの位相パラメータＤ３（３）で記録された場合、図８（ｅ）に曲線ＲＤ３（３）で示す様に再生信号の前マーク部ＭＢは、最適な３Ｔの位相パラメータＤ３（１）で記録された場合よりも、前方にシフトし、符号間干渉の影響により、直後の３Ｔスペース信号ＳＢの振幅は大きくなる。

前マークが４Ｔの場合も、前マークが３Ｔの場合と同様で、図９（ｂ）に示すように、４Ｔの位相パラメータが最適な値（Ｄ４（１））の場合、再生信号のうちスペースに対応する部分（スペース信号）ＳＢは、図９（ｅ）に曲線ＲＤ４（１）に示すごとくとなる。
図９（ｃ）に示すように、最適な４Ｔの位相パラメータＤ４（１）よりも−方向にシフトした４Ｔの位相パラメータＤ４（２）で記録された場合、図９（ｅ）に曲線ＲＤ４（２）で示す様に再生信号の前マーク部分ＭＢは、最適な４Ｔの位相パラメータＤ４（１）で記録された場合よりも、後方にシフトし、符号間干渉の影響により、直後の３Ｔスペース信号ＳＢの振幅は小さくなる。

逆に、図９（ｄ）に示すように、最適な４Ｔの位相パラメータＤ４（１）よりも＋方向にシフトした４Ｔの位相パラメータＤ４（３）で記録された場合、図９（ｅ）に曲線ＲＤ４（３）で示す様に再生信号の前マーク部ＭＢは、最適な４Ｔの位相パラメータＤ４（１）で記録された場合よりも、前方にシフトし、符号間干渉の影響により、直後の３Ｔスペース信号ＳＢの振幅は大きくなる。

また、前マークが５Ｔの場合も、前マークが３Ｔの場合、前マークが４Ｔの場合と同様で、図１０（ｂ）に示すように、５Ｔの位相パラメータが最適な値（Ｄ５（１））の場合、再生信号のうちスペースに対応する部分（スペース信号）ＳＢは、図１０（ｅ）に曲線ＲＤ５（１）に示すごとくとなる。

図１０（ｃ）に示すように、最適な５Ｔの位相パラメータＤ５（１）よりも−方向にシフトした５Ｔの位相パラメータＤ５（２）で記録された場合、図１０（ｅ）に曲線ＲＤ５（２）で示す様に再生信号の前マーク部分ＭＢは、最適な５Ｔの位相パラメータＤ５（１）で記録された場合よりも、後方にシフトし、符号間干渉の影響により、直後の３Ｔスペース信号ＳＢの振幅は小さくなる。

逆に、図１０（ｄ）に示すように、最適な５Ｔの位相パラメータＤ５（１）よりも＋方向にシフトした５Ｔの位相パラメータＤ５（３）で記録された場合、図１０（ｅ）に曲線ＲＤ５（３）で示す様に再生信号の前マーク部ＭＢは、最適な５Ｔの位相パラメータＤ５（１）で記録された場合よりも、前方にシフトし、符号間干渉の影響により、直後の３Ｔスペース信号ＳＢの振幅は大きくなる。

これに対し、図１１（ａ）〜（ｅ）に示すように、前マークと後マークが共に６Ｔ以上の場合は、３Ｔスペース信号ＳＢの振幅に変化が生じない。図１１（ｂ）に示すように、ｎＴ（６Ｔ以上）の位相パラメータが最適な値（Ｄｎ（１））の場合、再生信号のうちスペースに対応する部分（スペース信号）ＳＢは、図１１（ｅ）に曲線ＲＤｎ（１）に示すごとくになる。

図１１（ｃ）に示すように、最適なｎＴの位相パラメータＤｎ（１）よりも−方向にシフトしたｎＴの位相パラメータＤｎ（２）で記録された場合、図１０（ｅ）に曲線ＲＤｎ（２）で示す様に再生信号の前マーク部分ＭＢと直後の３Ｔスペース信号ＳＢが共に後方にシフトする為、３Ｔスペース信号の振幅に変化が生じない。

図１１（ｄ）に示すように、最適なｎＴの位相パラメータＤｎ（１）よりも＋方向にシフトしたｎＴの位相パラメータＤｎ（３）で記録された場合も、図１０（ｅ）に曲線ＲＤｎ（３）で示す様に再生信号の前マーク部分ＭＢと直後の３Ｔスペース信号ＳＢが共に前方にシフトする為、３Ｔスペース信号の振幅に変化が生じない。

ここで、各記録マーク長に対応する位相パラメータＤ３、Ｄ４、Ｄ５、Ｄｎは、各々記録データの立ち下がりを基準としたパラメータであるが、全ての位相パラメータの相互位置が最適であれば、記録データとのズレ量として各々の位相パラメータがオフセットを持っても、ジッター等の記録品質には影響を及ぼさない。例えば、各記録マーク長に対応する最適な位相パラメータＤ３（１）、Ｄ４（１）、Ｄ５（１）、Ｄ６（１）に対して、全ての位相パラメータに同量のオフセットＤＯを加えて、Ｄ３（１）＋ＤＯ、Ｄ４（１）＋ＤＯ、Ｄ５（１）＋ＤＯ、Ｄｎ（１）＋ＤＯと設定しても、お互いの記録マークの相対位置は変化しないのでジッター等の記録品質には影響しない。

従って、例えば６Ｔ以上の位相パラメータＤｎを例えばゼロなどのある値に固定し、前マークと後マークが６Ｔ以上の場合の３Ｔスペース信号レベルと、前マークがｍＴ（ｍ＝３、４、５）で後マークが６Ｔ以上の場合の３Ｔスペース信号レベルのレベル差を用いることで、ｍＴマークの位相パラメータを最適に調整することができる。

ここで、本実施の形態１においては、後マークが６Ｔ以上の場合を基準としているが、後マークが６Ｔ未満（３Ｔ、４Ｔ、あるいは５Ｔ）の場合を基準としても良い。その場合、前マークと後マークの長さが同じ場合の３Ｔスペース信号レベルが基準となり、前マークの長さが後マークの長さとは異なる場合の３Ｔスペース信号レベルとの差により位相パラメータを最適に調整することができる。

本発明者等は、上記スペース信号レベルと信号品質との関係を調べる為に、ライトストラテジの位相パラメータを変更した場合のスペース信号レベルを求める実験を行った。そして、再生ジッターを最小にする位相パラメータと、前記スペース信号レベルとの関係を求めた。

図１２はあるライトストラテジ条件から、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔのマークを記録するための位相パラメータＤ３、Ｄ４、Ｄ５をそれぞれ＋方向と−方向に３ステップ変更した時の位相パラメータＤｍと再生ジッターＪとの関係を示している。ここで１ステップはレーザ波形制御部２４０で変更できる最小値で、この時の最小値はＴ／４０＝０．０２５Ｔである。ここで、図中には、ｍ＝３の場合（３Ｔの場合）を○印で示し、ｍ＝４の場合（４Ｔの場合）を□印で示し、ｍ＝５の場合（５Ｔの場合）を△印で示している。

図より、位相パラメータＤｍが再生ジッターＪに及ぼす影響が大きく、最適値Ｄ３（１），Ｄ４（１）、Ｄ５（１）から２ステップずれるだけでも、１〜数％再生ジッターが劣化し、位相パラメータを最適に調整する必要性が高い事がわかる。

図１３は、あるライトストラテジ条件から、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔのマークを記録するための位相パラメータＤ３、Ｄ４、Ｄ５をそれぞれ＋方向と−方向に３ステップ変更した時の位相パラメータと前マークがｍＴの場合の３Ｔスペース信号レベルの差分量ＤＨ（ｍ）との関係を示している。ここで、この時の３Ｔスペース信号レベルの値は、ランダム信号を記録して得られる再生信号の最大振幅で正規化した値で示している。また、図中には、ｍ＝３の場合（３Ｔの場合）を○印で示し、ｍ＝４の場合（４Ｔの場合）を□印で示し、ｍ＝５の場合（５Ｔの場合）を△印で示している。

図より、位相パラメータと前マークがｍＴの場合の３Ｔスペース信号レベルの差分量ＤＨ（ｍ）の関係はほぼ線形近似でき、ｍの値によらず傾きはほぼ一定となっていることがわかる。また、ｍ＝３の場合の位相パラメータＤ３が最適（Ｄ３（１））となる場合の前マークが３Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルの差分量ＤＨ（３）は約０．０２で、ｍ＝４の場合の位相パラメータＤ４が最適（Ｄ４（１））となる場合の前マークが４Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルの差分量ＤＨ（４）とｍ＝５の場合の位相パラメータＤ５が最適（Ｄ５（１））となる場合の前マークが５Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルの差分量ＤＨ（５）は共にほぼゼロ付近の値となっていることが分かる。

従って、３Ｔの位相パラメータＤ３を最適（Ｄ３（１））に調整する場合は、前マークが３Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルの差分量ＤＨ（３）が約０．０２となるように３Ｔの位相パラメータＤ３を調整すれば良いことがわかる。また、３Ｔの位相パラメータＤ３と前マークが３Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルの差分量ＤＨ（３）の関係がほぼ線形近似できることから、この近似直線の傾きと、前マークが３Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルの差分量ＤＨ（３）から３Ｔの位相パラメータＤ３の補正量を求める事ができる。即ち、測定されたスペース信号レベルから求められた差分量ＤＨ（３）と目標となる差分量（例えば０．０２）との差を、上記近似直線の傾きで割ることにより、位相パラメータＤ３を変化させるべき量が求まる。さらに、前マークが３Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルの差分量ＤＨ（３）が目標となる差分量（例えば、０．０２）より大きい場合には、３Ｔの位相パラメータＤ３を＋方向にシフトし、前マークが３Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルの差分量ＤＨ（３）が目標となる差分量（例えば、０．０２）より小さい場合には３Ｔの位相パラメータＤ３を−方向にシフトすれば良いことがわかる。

また、４Ｔの位相パラメータＤ４を最適（Ｄ４（１））に調整する場合は、前マークが４Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルの差分量ＤＨ（４）がほぼゼロとなるように４Ｔの位相パラメータＤ４を調整すれば良いことがわかる。また、４Ｔの位相パラメータＤ４と前マークが４Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルの差分量ＤＨ（４）の関係がほぼ線形近似できることから、この近似直線の傾きと、前マークが４Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルの差分量ＤＨ（４）から４Ｔの位相パラメータＤ４の補正量を求める事ができる。即ち、測定されたスペース信号レベルから求められた差分量ＤＨ（４）と目標となる差分量（例えばゼロ）との差を、上記近似直線の傾きで割ることにより、位相パラメータＤ４を変化させるべき量が求まる。さらに、前マークが４Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルの差分量ＤＨ（４）が目標となる差分量（例えば、ゼロ）より大きい場合には、４Ｔの位相パラメータＤ４を＋方向にシフトし、前マークが４Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルの差分量ＤＨ（４）が目標となる差分量（例えば、ゼロ）より小さい場合には４Ｔの位相パラメータＤ４を−方向にシフトすれば良いことがわかる。

また、５Ｔの位相パラメータＤ５を最適（Ｄ５（１））に調整する場合は、４Ｔの場合と同様で、前マークが５Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルの差分量ＤＨ（５）がほぼゼロとなるように５Ｔの位相パラメータＤ５を調整すれば良いことがわかる。また、５Ｔの位相パラメータＤ５と前マークが５Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルの差分量ＤＨ（５）の関係がほぼ線形近似できることから、この近似直線の傾きと、前マークが５Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルの差分量ＤＨ（５）から５Ｔの位相パラメータＤ５の補正量を求める事ができる。即ち、測定されたスペース信号レベルから求められた差分量ＤＨ（５）と目標となる差分量（例えばゼロ）との差を、上記近似直線の傾きで割ることにより、位相パラメータＤ５を変化させるべき量が求まる。さらに、前マークが５Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルの差分量ＤＨ（５）が目標となる差分量（例えば、ゼロ）より大きい場合には、５Ｔの位相パラメータＤ５を＋方向にシフトし、前マークが５Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルの差分量ＤＨ（５）が目標となる差分量（例えば、ゼロ）より小さい場合には５Ｔの位相パラメータＤ５を−方向にシフトすれば良いことがわかる。

ここで、３Ｔの位相パラメータＤ３が最適（Ｄ３（１））となる場合の前マークが３Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルの差分量ＤＨ（３）が約０．０２となっている。光ピックアップＰＵの光学的な特性によっては、再生信号に歪みが生じた状態で再生ジッター等の記録品質が最適になる場合があり、その影響は特に振幅の小さい３Ｔ信号に現れやすい。ここで、図１２、図１３の結果を得た実験においては、光ディスク１６０上に集光されるレーザ光のスポット形状が歪む仕様の光ピックアップＰＵを用いており、その影響が現れたものである。従って、通常は前マークがｍＴの場合の３Ｔスペース信号レベルの差分量ＤＨ（ｍ）はゼロ付近になるように位相パラメータＤｍを調整すれば良いが、光ピックアップＰＵの仕様によっては、前マークがｍＴの場合の３Ｔスペース信号レベルの差分量ＤＨ（ｍ）をゼロからずれた値に調整する必要がある。この値は、再生ジッターなどの記録品質が最良となる場合の前記差分量ＤＨ（ｍ）を調べる事で簡単に求めることができる。

以上のように、上記の例では、前マークが３Ｔの場合は、基準スペースレベルＩ３ＨＬと、修正スペースレベルＩ３Ｈ（３）の差ＤＨ（３）が、予め設定した目標値（ＴＨ（３）＝約０．０２）に一致するように位相パラメータの修正を行うこととし、前マークが４Ｔ、５Ｔの場合は、基準スペースレベルＩ３ＨＬと、修正スペースレベルＩ３Ｈ（４）、Ｉ３Ｈ（５）の差ＤＨ（４）、ＤＨ（５）がゼロとなるように、即ち基準スペースレベルＩ３ＨＬと修正スペースレベルＩ３Ｈ（４）、Ｉ３Ｈ（５）とが一致するように、位相パラメータの修正を行うこととしている。

次に、位相パラメータＤｍを調整する際の精度について検討を行った。
図１４は、前マークが３Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルの差分量ＤＨ（３）と再生ジッターＪの関係を示している。ここで、図中のＴＨ（３）は、再生ジッターＪが最良となる場合の前マークが３Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルの差分量ＤＨ（３）で、３Ｔの位相パラメータＤ３を調整する際のターゲットとなる差分量であり、図１３に示される例では、約０．０２であるが、図１３では０．０２より若干小さい値であるとして示されている。前マークが３Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルの差分量ＤＨ（３）の許容範囲は、少なくとも３Ｔの位相パラメータＤ３を１ステップ変更した場合の前記差分量ＤＨ（３）の変化量よりも大きい必要がある。ここで、１ステップはレーザ波形制御部２４０で変更できる最小値である。図中には、ターゲットの差分量ＴＨ（３）を中心に、３Ｔの位相パラメータＤ３を１ステップ変更した場合の前記差分量ＤＨ（３）の変化量が図１３に示されるように約０．０１であることを考慮して、許容範囲をＴＨ（３）±０．０１としている。この時、最大のジッター劣化量はわずか約０．６％に抑えられることになる。

図１５は、前マークが４Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルの差分量ＤＨ（４）と再生ジッターＪの関係を示している。ここで、図中のＴＨ（４）は、再生ジッターＪが最良となる場合の前マークが４Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルの差分量ＤＨ（４）で、４Ｔの位相パラメータＤ４を調整する際のターゲットとなる差分量であり、図１３に示される例では、略ゼロであるが、図１５ではゼロより若干小さい値であるとして示されている。前マークが４Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルの差分量ＤＨ（４）の許容範囲は、少なくとも４Ｔの位相パラメータＤ４を１ステップ変更した場合の前記差分量ＤＨ（４）の変化量よりも大きい必要がある。ここで、１ステップはレーザ波形制御部２４０で変更できる最小値である。図中には、ターゲットの差分量ＴＨ（４）を中心に、４Ｔの位相パラメータＤ４を１ステップ変更した場合の前記差分量ＤＨ（４）の変化量が図１３に示されるように約０．０１であることを考慮して、許容範囲をＴＨ（４）±０．０１としている。この時、最大のジッター劣化量はわずか約０．５％に抑えられることになる。

図１６は、前マークが５Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルの差分量ＤＨ（５）と再生ジッターＪの関係を示している。ここで、図中のＴＨ（５）は、再生ジッターＪが最良となる場合の前マークが５Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルの差分量ＤＨ（５）で、５Ｔの位相パラメータＤ５を調整する際のターゲットとなる差分量であり、図１３に示される例では、略ゼロであるが、図１５ではゼロより若干小さい値であるとして示されている。前マークが５Ｔの場合の３Ｔスペース信号レベルの差分量ＤＨ（５）の許容範囲は、少なくとも５Ｔの位相パラメータＤ５を１ステップ変更した場合の前記差分量ＤＨ（５）の変化量よりも大きい必要がある。ここで、１ステップはレーザ波形制御部２４０で変更できる最小値である。図中には、ターゲットの差分量ＴＨ（５）を中心に、５Ｔの位相パラメータＤ５を１ステップ変更した場合の前記差分量ＤＨ（４）の変化量が図１３に示されるように約０．０１であることを考慮して、許容範囲をＴＨ（５）±０．０１としている。この時、最大のジッター劣化量はわずか約０．６％に抑えられることになる。

また、図１４、図１５、図１６においては、各ｍＴの位相パラメータＤｍを設定するレーザ波形制御部２４０が制御できる位相パラメータＤｍの最小変更量と、図１３で示した前マークがｍＴの場合の３Ｔスペース信号レベルの差分量ＤＨ（ｍ）と位相パラメータＤｍの関係から、前記差分量ＤＨ（ｍ）の許容範囲を設定したが、光記録再生装置１００が許容できるジッターの劣化量から前マークがｍＴの場合の３Ｔスペース信号レベルの差分量ＤＨ（ｍ）の許容範囲を決定しても良い。ただし、その場合は少なくとも位相パラメータＤｍの最小変更量に対して変化する前記差分量ＤＨ（ｍ）の値が必要となる。

以上の様に本実施の形態においては、前マークがｍＴ（ｍ＝３、４、５）で後マークが６Ｔ以上の場合の３Ｔスペース信号レベルＩ３Ｈ（ｍ）と、前マークと後マークが６Ｔ以上の場合の３Ｔスペース信号レベルＩ３ＨＬとの差分量ＤＨ（ｍ）を利用することで、容易に位相パラメータＤｍを最適に調整することができる。
また、前記差分量ＤＨ（ｍ）の大きさをターゲットとなる差分量ＴＨ（ｍ）と比較することにより、位相パラメータをシフトさせる方向（＋方向か、−方向か）を知ることができる。

実施の形態２．
上記の実施の形態１では、図５に示したように、ステップＳ１６８〜Ｓ１７０においては、前マークと後マークの長さが６Ｔ以上の場合のスペース信号レベルＩ３ＨＬと、前マークの長さがｍＴで、後マークの長さが６Ｔ以上の場合のスペース信号レベルＩ３Ｈ（ｍ）の差分量ＤＨ（ｍ）の値をターゲットとなる差分量ＴＨ（ｍ）と比較し、前記差分量ＤＨ（ｍ）が大きい場合は、位相パラメータを＋方向にシフトするように修正し、前記差分量ＤＨ（ｍ）が小さい場合には位相パラメータを−方向にシフトするように修正しているが、このようにする代わりに、位相パラメータＤｍの変化量と、前記差分量ＤＨ（ｍ）の関係を予め調べておき、その差を基に、位相パラメータＤｍを変更することで、位相パラメータＤｍが最適値から大きくずれている場合にも、少ない調整回数で位相パラメータＤｍを最適に調整することができる。実施の形態２はそのような処理を行うものであり、実施の形態２の光記録再生装置は、実施の形態１と同様、図１で示される。実施の形態２の光記録再生装置の動作は、実施の形態１に関し、図４及び図５を参照して説明したのと同様であるが、図５のステップＳ１６８，Ｓ１６９，Ｓ１７０の代わりに、図１７のステップＳ１７３を行う点で異なる。ステップＳ１７３の処理は、中央制御部２５０により行われる。

実施の形態２においては、例えば、各光記録再生装置１００において、実験的に位相パラメータＤｍの変更量と前記差分量ＤＨ（ｍ）との関係を求め、これを光記録再生装置１００内に、例えば中央制御部２５０内のＲＯＭ２５０ｂ内に格納しておき、位相パラメータの調整を行う際に、前記差分量ＤＨ（ｍ）の大きさに応じて位相パラメータＤｍを調整する。
このような処理が図１７に示されている。
即ち、ステップＳ１６７における判定結果でＮＯの場合には、図１７に示すようにステップＳ１７３に進み、ここで、前記差分量ＤＨ（ｍ）に基づいて、上記ＲＯＭ２５０ｂから位相パラメータＤｍの変更量（＋方向にシフトさせるか−方向にシフトさせるかを含め）を読み出し、読み出した変更量だけ位相パラメータＤｍを変更し、ステップＳ１６１に戻り、変更した位相パラメータＤｍを用いて再度試し書きを行う。このようにすることで、位相パラメータＤｍを少ない調整回数で、最適に調整することができる。

尚、上記の関係は、各型式の光記録再生装置に対して一度行えば良く、同じ型式の多数の光記録再生装置に対して同じ関係を用いることができる。即ち、ある型式の光記録再生装置に関して、前記関係が求められたら、同じ型式の光記録再生装置には、その関係を同様に設定して出荷すればよい。

実施の形態２の場合にも、図６及び図７を参照して説明したような変形を加えることができる。

なお、上記の実施の形態１及び実施の形態２においては、スペースが３Ｔの場合の信号レベルを検出するようにしたが、スペースが４Ｔの場合（スペースの長さが２番目に短い場合）について信号レベルを検出して用いるようにしても良い。

実施の形態３．
上記の実施の形態１及び実施の形態２においては、図４に示すようにライトストラテジの位相パラメータをステップＳ１６で調整し、データの記録をステップＳ１７で行っていた。しかし、ライトストラテジのパラメータには、図３（ｃ）に示したように先頭パルス幅、最終パルス幅などのパルス幅パラメータと、先頭パルスのエッジ位置を直前スペース長が最短の場合のみ制御するエッジ位置制御パラメータが存在する。

図１８は、本実施の形態３における光記録方法の手順を示した図である。ステップＳ１０からステップＳ１６までは、実施の形態１の図４で示した手順と同じである。本実施の形態３においては、ステップＳ１６で位相パラメータ調整をした後、ステップＳ１８で立ち上がりエッジ位置の制御パラメータを調整する。

ここで、立ち上がりエッジ位置の制御パラメータＬＤ３の調整は、例えば、立ち上がりエッジ位置の制御パラメータＬＤ３の値を変更して、最適なジッター値が得られる立ち上がりエッジ位置の制御パラメータＬＤ３の値を求めれば良い。この立ち上がりエッジ位置の制御パラメータＬＤ３は、最適となる値の範囲が狭い為、少ない回数で調整が可能である。

次にステップＳ１９でパルス幅パラメータの調整を行う。
パルス幅パラメータの調整も、立ち上がりエッジ位置の制御パラメータの調整と同様に、パルス幅パラメータの値を変更して、最適なジッター値が得られるパルス幅を求めるようにすれば良い。または、記録マーク長別に再生信号のマーク幅およびスペース幅を測定し、その大小に応じて、パルス幅を増減させても良い。
ステップＳ１８及びＳ１９の処理は、ヘッドアンプ１９０、イコライザ２２０、スペースレベル検出部２７０、中央制御部２５０、レーザ波形制御部２４０、及び光ピックアップＰＵにより行われる。

最後にステップ１７において、ステップＳ１６、ステップＳ１８、ステップＳ１９で調整されたライトストラテジをレーザ波形制御部２４０に設定することにより、レーザ波形制御部２４０で記録データに基づいたライトストラテジを生成し、ステップＳ１５で決定された記録パワーにより、光ディスク１６０への本来のデータの書き込み（本書き込み）を行う。
なお、ステップＳ１６、ステップＳ１８、ステップＳ１９において、記録パワーの再調整が行われた場合は、前記記録パワーは、ステップＳ１５で決定された値ではなくステップＳ１６、ステップＳ１８、ステップＳ１９で決定された記録パワーを用いても良い。

上記の実施の形態３においては、ライトストラテジのパラメータを調整する順番として、まず位相パラメータを調整し、次に立ち上がりエッジ位置を制御するパラメータを調整し、最後にパルス幅のパラメータを調整するようにしているが、この順番に限らず、異なる順番でライトストラテジのパラメータを調整しても良い。

また、上記の実施の形態１〜実施の形態３においては、ライトストラテジとしてノンマルチパルス発光させて、記録マークを形成することにより光ディスクへ情報の記録を行う場合の位相パラメータを、前後のマーク長に応じて検出した最短スペースの信号レベルを利用して最適化した。しかし、この最適化方法は、上記のノンマルチパルス発光させる場合のみではなく、マルチパルス発光させる場合においても、規定されるライトストラテジのパラメータに各記録マークの位相を規定するパラメータが存在する場合、同様に適用できる。

また、上記の実施の形態１〜実施の形態３においては、光ディスクへの情報の記録が、ＥＦＭ＋（８−１６）変調の３Ｔ〜１１Ｔ及び１４Ｔのマークを記録する場合について説明したが、Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ等で利用されている１−７変調の２Ｔ〜９Ｔのマークを記録する様な他の場合においても、ライトストラテジのパラメータに位相パラメータが存在する場合、同様の方法が適用できる。

以上の様に本実施の形態においては、ライトストラテジの位相パラメータの他に、立ち上がりエッジ位置を制御するパラメータとパルス幅パラメータを調整するようにし、良好な記録性能を実現することができ、位相パラメータについては、前後のマーク長に応じて検出した最短スペースの信号レベルを利用した高速な最適化が実現出来る。

この発明の実施の形態における光記録再生装置を示すブロック図である。 （ａ）〜（ｃ）は、この発明の実施の形態におけるアシンメトリ検出部において、検出される再生信号のアシンメトリの例を示した図である。 （ａ）〜（ｅ）は、この発明の実施の形態における光記録再生装置において、光ディスクが色素系媒体である場合に生成するライトストラテジの例を示した図である。 この発明の実施の形態１における光記録再生装置における、記録の手順を示すフローチャートである。 この発明の実施の形態１における光記録再生装置における、位相パラメータの調整手順の一例を示すフローチャートである。 この発明の実施の形態１における光記録再生装置における、位相パラメータの調整手順の他の例を示すフローチャートである。 この発明の実施の形態１における光記録再生装置における、位相パラメータの調整手順のさらに他の例を示すフローチャートである。 （ａ）〜（ｅ）は、この発明の実施の形態１におけるスペースレベル検出部において、前マーク長が３Ｔの場合に検出される再生信号のスペースレベルの例を示した図である。 （ａ）〜（ｅ）は、この発明の実施の形態１におけるスペースレベル検出部において、前マーク長が４Ｔの場合に検出される再生信号のスペースレベルの例を示した図である。 （ａ）〜（ｅ）は、この発明の実施の形態１におけるスペースレベル検出部において、前マーク長が５Ｔの場合に検出される再生信号のスペースレベルの例を示した図である。 （ａ）〜（ｅ）は、この発明の実施の形態１におけるスペースレベル検出部において、前マーク長が６Ｔ以上の場合に検出される再生信号のスペースレベルの例を示した図である。 この発明の実施の形態１における光記録再生装置において、位相パラメータＤ（ｍ）を変更した時の位相パラメータＤ（ｍ）と再生ジッターとの関係を示した図である。 この発明の実施の形態１における光記録再生装置において、位相パラメータＤ（ｍ）を変更した時の３Ｔスペース信号レベルＩ３ＨＬ−Ｉ３Ｈ（ｍ）と位相パラメータＤ（ｍ）との関係を示した図である。 この発明の実施の形態１における光記録再生装置において、位相パラメータＤ（３）を変更した時の３Ｔスペース信号レベルＩ３ＨＬ−Ｉ３Ｈ（３）と再生ジッターとの関係を示した図である。 この発明の実施の形態１における光記録再生装置において、位相パラメータＤ（４）を変更した時の３Ｔスペース信号レベルＩ３ＨＬ−Ｉ３Ｈ（４）と再生ジッターとの関係を示した図である。 この発明の実施の形態１における光記録再生装置において、位相パラメータＤ（５）を変更した時の３Ｔスペース信号レベルＩ３ＨＬ−Ｉ３Ｈ（５）と再生ジッターとの関係を示した図である。 この発明の実施の形態２における光記録再生装置における、位相パラメータの調整手順の一例を示すフローチャートである。 この発明の実施の形態３における光記録再生装置における、記録の手順を示すフローチャートである。

符号の説明

１００ 光記録再生装置、 １１０ 半導体レーザ、 １２０ レーザ駆動部、 １３０ コリメートレンズ、 １４０ ビームスプリッタ、 １５０ 対物レンズ、 １６０ 光ディスク、 １７０ 検出レンズ、 １８０ 受光素子、 １９０ ヘッドアンプ、 ２００ プリピット検出部、 ２１０ アシンメトリ検出部、 ２２０ イコライザ、 ２３０ データエンコーダ、 ２４０ レーザ波形制御部、 ２５０ 中央制御装置、 ２６０ データデコーダ、 ２７０ スペースレベル検出部。

Claims (22)

1. 記録データ長に応じたライトストラテジのパラメータに従って、光記録媒体上にレーザ光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録方法であって、
   各々の記録マークの相対位置を制御する位相パラメータが含まれるライトストラテジでレーザ光を照射することにより、所与の長さのマークを形成し、マークとマーク相互間に位置する、所与の長さのスペースとで構成された記録部を形成する書き込み工程と、
   前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルを読み取るスペースレベル読み込み工程と、
   前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルを、前記スペースの直前と直後のマークの長さ別に比較し、比較結果に基づいて前記ライトストラテジの位相パラメータを修正する位相パラメータ修正工程と、
   前記位相パラメータ修正工程で修正した前記ライトストラテジの位相パラメータを用いて、前記光記録媒体への書き込みを行う書き込み工程と
   を有する光記録方法。
2. 前記スペースレベル読み込み工程は、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルとして、前記スペースの長さが最短の場合における、信号のピークレベルを読み取ることを特徴とする請求項１に記載の光記録方法。
3. 前記スペースレベル読み込み工程は、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルとして、前記スペースの長さが２番目に短い場合における、信号のピークレベルを読み取ることを特徴とする請求項１に記載の光記録方法。
4. 前記位相パラメータ修正工程は、
   前記スペースレベル読み取り工程で読み取られるスペースに対応する信号のピークレベルが、前記スペースの直前と直後のマークの長さが共に等しい場合を、前記位相パラメータを修正する為の基準スペースレベルとして求める、基準スペースレベル決定工程と、
   前記スペースレベル読み取り工程で読み取られるスペースに対応する信号のピークレベルを、前記スペースの直前のマークの長さが、調整する前記位相パラメータに対応するマークの長さと等しく、直後のマークの長さが、前記基準のスペースレベルを求める場合の前記スペースの直前と直後のマークの長さに等しい場合を、前記位相パラメータを修正する為の修正スペースレベルとして求める修正スペースレベル決定工程とを有し、
   前記基準スペースレベル決定工程で求めた基準スペースレベルと、前記修正スペースレベル決定工程で求めた修正スペースレベルを比較し、比較結果に基づいて前記ライトストラテジの位相パラメータを修正する
   ことを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の光記録方法。
5. 前記位相パラメータ修正工程は、比較された前記基準スペースレベルと、前記修正スペースレベルが互いに一致するように前記修正を行うことを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の光記録方法。
6. 前記位相パラメータ修正工程は、比較された前記基準スペースレベルと、前記修正スペースレベルの差が、予め設定した目標値に一致するように前記修正を行うことを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の光記録方法。
7. 前記位相パラメータ修正工程は、比較された前記基準スペースレベルと、前記修正スペースレベルの差が、予め設定した許容範囲に収まるように前記修正を行うことを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の光記録方法。
8. 前記位相パラメータ修正工程は、前記基準スペースレベルに比べ、前記修正スペースレベルが大きい場合は、対応するマークのライトストラテジが、遅れて出力されるように位相パラメータを修正し、
   前記基準スペースレベルに比べ、前記修正スペースレベルが小さい場合は、対応するマークのライトストラテジが、進んで出力されるように位相パラメータを修正する
   ことを特徴とする請求項１乃至７のいずれかに記載の光記録方法。
9. 前記位相パラメータ修正工程は、前記基準スペースレベルと前記修正スペースレベルの差と、位相パラメータの変化量の関係を予め求めておき、その関係に基づいて、位相パラメータを修正することを特徴とする請求項１乃至８のいずれかに記載の光記録方法。
10. 前記スペースの長さが、該スペースに対応する信号部分の、チャンネルクロックの周期を単位として表されるものであることを特徴とする請求項１乃至９のいずれかに記載の光記録方法。
11. 前記マークの長さが、該マークに対応する信号部分の、チャンネルクロックの周期を単位として表されるものであることを特徴とする請求項１乃至１０のいずれかに記載の光記録方法。
12. 記録データ長に応じたライトストラテジのパラメータに従って、光記録媒体上にレーザ光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録装置であって、
    各々の記録マークの相対位置を制御する位相パラメータが含まれるライトストラテジでレーザ光を照射することにより、所与の長さのマークを形成し、マークとマーク相互間に位置する、所与の長さのスペースとで構成された記録部を形成する書き込み手段と、
    前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルを読み取るスペースレベル読み込み手段と、
    前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルを、前記スペースの直前と直後のマークの長さ別に比較し、比較結果に基づいて前記ライトストラテジの位相パラメータを修正する位相パラメータ修正手段と、
    前記位相パラメータ修正手段で修正した前記ライトストラテジの位相パラメータを用いて、前記光記録媒体への書き込みを行う書き込み手段と
    を有する光記録装置。
13. 前記スペースレベル読み込み手段は、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルとして、前記スペースの長さが最短の場合における、信号のピークレベルを読み取ることを特徴とする請求項１２に記載の光記録装置。
14. 前記スペースレベル読み込み手段は、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号のピークレベルとして、前記スペースの長さが２番目に短い場合における、信号のピークレベルを読み取ることを特徴とする請求項１２に記載の光記録装置。
15. 前記位相パラメータ修正手段は、
    前記スペースレベル読み取り手段で読み取られるスペースに対応する信号のピークレベルが、前記スペースの直前と直後のマークの長さが共に等しい場合を、前記位相パラメータを修正する為の基準スペースレベルとして求める、基準スペースレベル決定手段と、
    前記スペースレベル読み取り手段で読み取られるスペースに対応する信号のピークレベルを、前記スペースの直前のマークの長さが、調整する前記位相パラメータに対応するマークの長さと等しく、直後のマークの長さが、前記基準のスペースレベルを求める場合の前記スペースの直前と直後のマークの長さに等しい場合を、前記位相パラメータを修正する為の修正スペースレベルとして求める修正スペースレベル決定手段とを有し、
    前記基準スペースレベル決定手段で求めた基準スペースレベルと、前記修正スペースレベル決定手段で求めた修正スペースレベルを比較し、
    比較結果に基づいて前記ライトストラテジの位相パラメータを修正する
    ことを特徴とする請求項１２乃至１４のいずれかに記載の光記録装置。
16. 前記位相パラメータ修正手段は、比較された前記基準スペースレベルと、前記修正スペースレベルが互いに一致するように前記修正を行うことを特徴とする請求項１２乃至１５のいずれかに記載の光記録装置。
17. 前記位相パラメータ修正手段は、比較された前記基準スペースレベルと、前記修正スペースレベルの差が、予め設定した目標値に一致するように前記修正を行うことを特徴とする請求項１２乃至１５のいずれかに記載の光記録装置。
18. 前記位相パラメータ修正手段は、比較された前記基準スペースレベルと、前記修正スペースレベルの差が、予め設定した許容範囲収まるように前記修正を行うことを特徴とする請求項１２乃至１５のいずれかに記載の光記録装置。
19. 前記位相パラメータ修正手段は、前記基準スペースレベルに比べ、前記修正スペースレベルが大きい場合は、対応するマークのライトストラテジが、遅れて出力されるように位相パラメータを修正し、
    前記基準スペースレベルに比べ、前記修正スペースレベルが小さい場合は、対応するマークのライトストラテジが、進んで出力されるように位相パラメータを修正する
    ことを特徴とする請求項１２乃至１８のいずれかに記載の光記録装置。
20. 前記位相パラメータ修正手段は、前記基準スペースレベルと前記修正スペースレベルの差と、位相パラメータの変化量の関係を予め求めておき、その関係に基づいて、位相パラメータを修正することを特徴とする請求項１２乃至１９のいずれかに記載の光記録装置。
21. 前記スペースの長さが、該スペースに対応する信号部分の、チャンネルクロックの周期を単位として表されるものであることを特徴とする請求項１２乃至２０のいずれかに記載の光記録装置。
22. 前記マークの長さが、該マークに対応する信号部分の、チャンネルクロックの周期を単位として表されるものであることを特徴とする請求項１２乃至２１のいずれかに記載の光記録装置。

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