[go: up one dir, main page]

JP2008285179A - Taping device and method for controlling the same - Google Patents

Taping device and method for controlling the same Download PDF

Info

Publication number
JP2008285179A
JP2008285179A JP2007129802A JP2007129802A JP2008285179A JP 2008285179 A JP2008285179 A JP 2008285179A JP 2007129802 A JP2007129802 A JP 2007129802A JP 2007129802 A JP2007129802 A JP 2007129802A JP 2008285179 A JP2008285179 A JP 2008285179A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
carrier tape
pocket
electronic component
discharge
appearance inspection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2007129802A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshiaki Hara
佳明 原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ueno Seiki Co Ltd
Original Assignee
Ueno Seiki Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ueno Seiki Co Ltd filed Critical Ueno Seiki Co Ltd
Priority to JP2007129802A priority Critical patent/JP2008285179A/en
Publication of JP2008285179A publication Critical patent/JP2008285179A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a taping device for inspecting the appearance of a semiconductor product inserted into a carrier tape pocket, efficiently replacing a defective product with a good product when the defective product is found, and exhibiting a high rate of operation, and a method for controlling the device. <P>SOLUTION: The taping device is equipped with a carrier tape driving mechanism 1 for carrying the carrier tape T and intermittently transferring this carrier tape T, and a holding mechanism 2 installed on a main table for carrying the semiconductor product onto the taping device. The taping device is also equipped with an appearance inspecting part 3 for taking the image of the appearance of the semiconductor product W stored in the pocket and detecting the product stored in the pocket and positioned in an unacceptable orientation or having an unacceptable appearance, and a discharging mechanism 4 for discharging the semiconductor product W having an unacceptable appearance from the pocket by sucking it. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は、小型半導体製品等の電子部品をキャリアテープのポケットに挿入し、シールで封止するためのテーピング装置及びその制御方法に関するものである。   The present invention relates to a taping device for inserting an electronic component such as a small semiconductor product into a pocket of a carrier tape and sealing it with a seal, and a control method therefor.

電子部品の製造工程においては、製品を検査しながら搬送するための装置が不可欠である。例えば、ダイオードなどのディスクリート半導体や、小ピンのICなどの小型半導体製品の製造工程においては、製品を検査しながら搬送するための装置として、テストハンドラーが用いられる。最も一般的なテストハンドラーは、製品の電気特性のテストを行うテスト装置、製品表面へのマーキングを行うマーキング装置、製品をキャリアテープなどへ収容してパッキングを行うテーピング装置を備え、ターンテーブル等の搬送部により、各装置に対して電子部品を搬送しながら、各工程の処理を実行するものである。   In the manufacturing process of electronic components, an apparatus for transporting products while inspecting them is indispensable. For example, in a manufacturing process of a discrete semiconductor such as a diode or a small semiconductor product such as a small pin IC, a test handler is used as an apparatus for transporting the product while inspecting it. The most common test handler includes a test device that tests the electrical characteristics of a product, a marking device that marks the surface of the product, a taping device that packs the product in a carrier tape, etc. The process of each process is performed while conveying an electronic component to each apparatus by the conveyance unit.

上述のようにテーピング装置の一部を構成するテーピング装置においては、キャリアテープに収容された半導体製品が、正しい方向で収容されているか、収容された半導体製品に形状欠陥や異物の混入がないか、などの外観検査を行い、この外観検査において不良と判定された半導体製品はキャリアテープから取り除かれる。キャリアテープには多数の半導体製品を収容するが、そのなかに一つでも不良品が混入している場合には、キャリアテープ全体を廃棄しなければならないため、この外観検査による不良品の排出は非常に重要な工程である。   In the taping device that constitutes a part of the taping device as described above, whether the semiconductor product accommodated in the carrier tape is accommodated in the correct direction, or is there no shape defect or foreign matter mixed in the accommodated semiconductor product? A semiconductor product determined to be defective in this appearance inspection is removed from the carrier tape. The carrier tape contains a large number of semiconductor products, but if any defective product is mixed, the entire carrier tape must be discarded. This is a very important process.

キャリアテープ内の不良品は、作業者による目視又はキャリアテープ近傍に設けたカメラによって判別し、不良品が発見された場合には、製造装置を一旦停止し、作業者が手作業で良品との入替えを行うか、又は、機械的に打ち抜くことにより自動的に切除することとしていた(特許文献1)。
特開2003−165506号公報
Defective products in the carrier tape are discriminated by visual inspection by an operator or by a camera provided near the carrier tape, and when a defective product is found, the manufacturing apparatus is temporarily stopped and the operator manually The excision was performed automatically by exchanging or mechanical punching (Patent Document 1).
JP 2003-165506 A

しかしながら、不良品が発見された場合に、製造装置を停止しての良品との交換作業は、上記のように各工程を備えたテストハンドラー全体を停止させることとなり、生産性の低下につながっていた。また、近年の半導体製品の微小化により、作業者が手作業で半導体製品の交換を行うのは非常に難しく、却って製品を傷つけてしまうなど、課題があった。   However, when a defective product is found, the replacement of the manufacturing equipment with a non-defective product stops the entire test handler with each process as described above, leading to a decrease in productivity. It was. In addition, due to the recent miniaturization of semiconductor products, it is very difficult for an operator to replace a semiconductor product manually, and there is a problem that the product is damaged.

また、特許文献1のように機械的に打ち抜く手法では、製造装置を止めることなく処理を続けることはできるが、キャリアテープの打ち抜きにより、テープのところどころ製品の収容されていない箇所が生じてしまっていた。   Further, in the method of mechanical punching as in Patent Document 1, the processing can be continued without stopping the manufacturing apparatus, but due to the punching of the carrier tape, a part where the product is not stored is generated in some places of the tape. It was.

本発明は、上記のような従来技術の問題点を解決するために提案されたものであり、その目的は、キャリアテープポケットに挿入された半導体製品の外観検査を行い、不良品が発見された場合に、効率よく良品と交換することが可能なテーピング装置及びその制御方法を提供することにある。   The present invention has been proposed in order to solve the above-described problems of the prior art. The purpose of the present invention is to inspect the appearance of a semiconductor product inserted into a carrier tape pocket and find a defective product. In such a case, it is an object of the present invention to provide a taping device that can be efficiently replaced with a non-defective product and a control method thereof.

上記の目的を達成するため、請求項1の発明は、キャリアテープを保持し電子部品をキャリアテープに設けられたポケットに収容して当該キャリアテープを間欠的に移送するキャリアテープ駆動部と、前記キャリアテープの電子部品収容位置に電子部品を保持して移送し当該収容位置にあるポケットに電子部品を挿入する保持部とを制御して電子部品を前記ポケットに順次収容して梱包するテーピング装置において、前記ポケットに収容された電子部品の不良を撮像して検知する外観検査部と、前記外観検査部により不良と判定された電子部品を、前記収容位置からポケット一つ分下流側の排出位置にて、前記ポケットから排出する不良品排出部とを備え、前記キャリアテープ駆動部は、前記不良品排出部が前記ポケットから電子部品を排出した後、前記排出位置にある空のポケットを前記収容位置まで戻すことを特徴とする。   In order to achieve the above object, a first aspect of the present invention provides a carrier tape driving unit that holds a carrier tape and accommodates an electronic component in a pocket provided on the carrier tape to intermittently transfer the carrier tape; In a taping device for holding and transferring an electronic component to an electronic component receiving position of a carrier tape and controlling the holding unit for inserting the electronic component into a pocket at the receiving position and sequentially storing and packing the electronic components in the pocket An appearance inspection unit that captures and detects a defect of the electronic component accommodated in the pocket, and an electronic component that is determined to be defective by the appearance inspection unit to a discharge position that is one pocket downstream from the accommodation position. A defective product discharge section that discharges from the pocket, and the carrier tape drive section discharges the electronic component from the pocket. After, and returning the empty pocket in said discharge position to the stowed position.

請求項4の発明は、請求項1の発明を方法という見方から捉えたもので、キャリアテープを保持し電子部品をキャリアテープに設けられたポケットに収容して当該キャリアテープを間欠的に移送するキャリアテープ駆動部と、前記キャリアテープの電子部品収容位置に電子部品を保持して移送し当該収容位置にあるポケットに電子部品を挿入する保持部とを制御して電子部品を前記ポケットに順次収容して梱包するテーピング装置の制御方法において、前記ポケットに収容された電子部品の不良を撮像して検知する外観検査部により電子部品の外観検査を行う外観検査ステップと、前記外観検査ステップにおいて不良と判定された電子部品を、不良品排出部により前記収容位置からポケット一つ分下流側の排出位置にて前記ポケットから吸着排出する不良品排出ステップと、前記キャリアテープ駆動部により、前記不良品排出部が前記ポケットから電子部品を排出した後、前記排出位置にある空のポケットを前記収容位置まで戻すステップとを含むことを特徴とする。   The invention of claim 4 captures the invention of claim 1 from the viewpoint of a method. The carrier tape is held, the electronic component is accommodated in a pocket provided in the carrier tape, and the carrier tape is intermittently transferred. The electronic component is sequentially accommodated in the pocket by controlling the carrier tape driving unit and the holding unit that holds and transfers the electronic component to the electronic component accommodation position of the carrier tape and inserts the electronic component into the pocket at the accommodation position. In the control method of the taping device to be packed, the appearance inspection step of performing the appearance inspection of the electronic component by the appearance inspection section that images and detects the defect of the electronic component accommodated in the pocket, and the defect in the appearance inspection step. The determined electronic component is sucked from the pocket by the defective product discharge section at a discharge position one pocket downstream from the storage position. A defective product discharging step, and a step of returning an empty pocket at the discharge position to the accommodation position after the defective product discharge unit discharges the electronic component from the pocket by the carrier tape driving unit. It is characterized by.

以上のような請求項1,4の発明では、キャリアテープ内の電子部品に外観不良等が発見された場合に、これを外観検査部により自動的に検出し、当該不良品を排出部により吸着保持して排出することができるので、従来のように製造装置を停止して良品と交換する必要がなく、生産性に優れる。また、微小な電子部品を作業者が手作業で電子部品の交換を行う必要がなく、高品質な製品の提供が可能である。   In the inventions of claims 1 and 4 as described above, when an appearance defect or the like is found in the electronic component in the carrier tape, this is automatically detected by the appearance inspection unit, and the defective product is adsorbed by the discharge unit. Since it can hold | maintain and discharge | emit, it is not necessary to stop a manufacturing apparatus and replace | exchange for a good product like the past, and it is excellent in productivity. In addition, it is not necessary for an operator to manually exchange electronic components for minute electronic components, and high-quality products can be provided.

また、排出部により、排出位置から不良の電子部品を排出した後、排出したポケット1つ分キャリアテープを戻すため、不良品と良品の入れ替えを自動で行うことができるので、従来のように不良品部分を打ち抜くことにより不良品を排出した場合と異なり、不良品の排出によりキャリアテープのポケットに空きが生じるようなことがない。   In addition, after the defective electronic component is discharged from the discharge position by the discharge unit, the carrier tape is returned for one discharged pocket, so the defective product and the non-defective product can be automatically replaced. Unlike the case where defective products are discharged by punching out non-defective products, there is no possibility that the pocket of the carrier tape is empty due to the discharge of defective products.

請求項2の発明は、キャリアテープを保持し電子部品をキャリアテープに設けられたポケットに収容して当該キャリアテープを間欠的に移送するキャリアテープ駆動部と、前記キャリアテープの電子部品収容位置に電子部品を保持して移送し当該収容位置にあるポケットに電子部品を挿入する保持部とを制御して電子部品を前記ポケットに順次収容して梱包するテーピング装置において、前記ポケットに収容された電子部品の不良を撮像して検知する外観検査部と、前記外観検査部により不良と判定された電子部品を、排出位置にて前記ポケットから排出する不良品排出部とを備え、前記収容位置と前記排出位置とは共通であり、前記保持部と前記不良品排出部とは共通に設けられ、前記キャリアテープ駆動部は、外観検査部において電子部品の不良が検知された場合に、前記キャリアテープを移送して、前記外観検査位置にあるポケットを前記収容排出位置まで戻すことを特徴とする。   According to the second aspect of the present invention, there is provided a carrier tape driving unit that holds a carrier tape and accommodates an electronic component in a pocket provided on the carrier tape and intermittently transfers the carrier tape, and an electronic component accommodation position of the carrier tape. In the taping device for holding and transferring the electronic component and controlling the holding unit for inserting the electronic component into the pocket at the receiving position and sequentially storing and packing the electronic component in the pocket, the electronic received in the pocket A visual inspection unit that captures and detects a defect of a component; and a defective product discharge unit that discharges an electronic component determined to be defective by the visual inspection unit from the pocket at a discharge position. The discharge position is common, the holding part and the defective product discharge part are provided in common, and the carrier tape drive part is an electronic part in the appearance inspection part. If the defective is detected, and transporting the carrier tape, and returning the pockets in the appearance inspection position to the housing discharge position.

請求項5の発明は、請求項2の発明を方法という見方から捉えたもので、キャリアテープを保持し電子部品をキャリアテープに設けられたポケットに収容して当該キャリアテープを間欠的に移送するキャリアテープ駆動部と、前記キャリアテープの電子部品収容位置に電子部品を保持して移送し当該収容位置にあるポケットに電子部品を挿入する保持部とを制御して電子部品を前記ポケットに順次収容して梱包するテーピング装置の制御方法において、前記ポケットに収容された電子部品の不良を撮像して検知する外観検査部により電子部品の外観検査を行う外観検査ステップと、前記外観検査ステップにおいて不良と判定された電子部品を、不良品排出部により排出位置にて前記ポケットから吸着排出する不良品排出ステップと、前記収容位置と前記排出位置とは共通であり、前記保持部と前記不良品排出部とは共通に設けられ、前記キャリアテープ駆動部により、外観検査部において電子部品の不良が検知された場合に、前記キャリアテープを移送して、前記外観検査位置にあるポケットを前記収容排出位置まで戻すステップとを含むことを特徴とする。   The invention of claim 5 captures the invention of claim 2 from the viewpoint of a method. The carrier tape is held, the electronic component is accommodated in a pocket provided in the carrier tape, and the carrier tape is intermittently transferred. The electronic component is sequentially accommodated in the pocket by controlling the carrier tape driving unit and the holding unit that holds and transfers the electronic component to the electronic component accommodation position of the carrier tape and inserts the electronic component into the pocket at the accommodation position. In the control method of the taping device to be packed, the appearance inspection step of performing the appearance inspection of the electronic component by the appearance inspection section that images and detects the defect of the electronic component accommodated in the pocket, and the defect in the appearance inspection step. A defective product discharging step of sucking and discharging the determined electronic component from the pocket at a discharge position by a defective product discharging section; And the discharge position are common, the holding unit and the defective product discharge unit are provided in common, and when the carrier tape drive unit detects a defect of the electronic component in the appearance inspection unit, Transferring the carrier tape and returning the pocket at the appearance inspection position to the accommodation discharge position.

以上のような請求項2,5の発明では、請求項1,4の発明の効果に加えて、排出部と保持部とを共通にすることができ、これにより装置構成の簡潔化を図ることが可能となる。   In the inventions of claims 2 and 5 as described above, in addition to the effects of the inventions of claims 1 and 4, the discharge part and the holding part can be made common, thereby simplifying the device configuration. Is possible.

請求項3の発明は、請求項1又は2記載の発明において、前記キャリアテープ上の前記外観検査部により撮像する位置は、ガラスカバーにより覆われ、このガラスカバーは前記キャリアテープ上をスライド移動可能に設けられ、前記不良品排出部は、前記ガラスカバーをスライド移動させるレバーを備え、このレバーにより開いた状態で前記ポケットから電子部品を排出することを特徴とする。   According to a third aspect of the present invention, in the first or second aspect of the present invention, the position taken by the appearance inspection unit on the carrier tape is covered with a glass cover, and the glass cover is slidable on the carrier tape. The defective product discharge section includes a lever that slides the glass cover, and the electronic component is discharged from the pocket while being opened by the lever.

以上のような請求項3の発明では、排出位置がガラスカバーで覆われていることにより、外観検査部の撮像を妨げるような光の反射を防ぐことができる。   In the invention of claim 3 as described above, since the discharge position is covered with the glass cover, it is possible to prevent reflection of light that hinders imaging of the appearance inspection unit.

本発明によれば、キャリアテープポケットに挿入された半導体製品の外観検査を行い、不良品が発見された場合に、効率よく良品と交換することが可能で、稼働率の高いテーピング装置及びその制御方法を提供することができる。   According to the present invention, the appearance inspection of the semiconductor product inserted into the carrier tape pocket is performed, and when a defective product is found, it can be efficiently replaced with a non-defective product, and the taping device with high operating rate and its control A method can be provided.

次に、本発明を実施するための最良の形態を、図1乃至図3を参照して説明する。   Next, the best mode for carrying out the present invention will be described with reference to FIGS.

(1)本発明の実施形態
[実施形態の構成]
本実施形態のテーピング装置は、図1に示すように、キャリアテープTを搭載し、このキャリアテープTを間欠的に移送するキャリアテープ駆動機構1と、メインテーブル(図示せず)に備え付けられ半導体製品をテーピング装置上に運ぶ保持機構2とを備える。
(1) Embodiment of the present invention [Configuration of embodiment]
As shown in FIG. 1, the taping apparatus according to the present embodiment is equipped with a carrier tape T and a carrier tape drive mechanism 1 for intermittently transferring the carrier tape T and a main table (not shown) and a semiconductor. And a holding mechanism 2 for transporting the product onto the taping device.

テーピング装置は、また、ポケット内に収容される半導体製品Wの外観を撮像し、キャリアテープに収容する方向の不良や外観不良を検知する外観検査部3と、外観不良の半導体製品Wを吸着することによってポケットから排出する排出機構4とを備える。   The taping device also picks up the appearance inspection unit 3 that picks up an appearance of the semiconductor product W accommodated in the pocket and detects a defect or an appearance defect in the direction of accommodation in the carrier tape, and the semiconductor product W having an appearance defect. And a discharge mechanism 4 for discharging from the pocket.

キャリアテープ駆動機構1は、キャリアテープTの図示しないエンボス穴に突起を引っ掛けて搬送させるスプロケット11と、スプロケット11を回転駆動させるモータ12とと、このキャリアテープTを水平上に搬送する搬送路13とを備える。この搬送路13の下流には、キャリアテープTの表面に貼着するシールSとそのシールSをキャリアテープT上にガイドするシール用コテ16とを備える。   The carrier tape drive mechanism 1 includes a sprocket 11 that carries a protrusion in an embossed hole (not shown) of the carrier tape T and conveys it, a motor 12 that drives the sprocket 11 to rotate, and a conveyance path 13 that conveys the carrier tape T horizontally. With. Downstream of the transport path 13, a seal S that is attached to the surface of the carrier tape T and a sealing iron 16 that guides the seal S onto the carrier tape T are provided.

また、キャリアテープ駆動機構1は、図2の平面図に示すように、外観検査部3によりポケット内から外観不良の製品が発見された場合に、その全体を排出機構4と同一軸線上に平行移動させる機構を備えている。   Further, as shown in the plan view of FIG. 2, the carrier tape drive mechanism 1 is parallel to the discharge mechanism 4 on the same axis when the appearance inspection unit 3 finds a defective product from the inside of the pocket. A moving mechanism is provided.

キャリアテープ駆動機構1のキャリアテープT上には、テープカバー14とガラスカバー15とが設けられている。このガラスカバー15は、テープカバー14に対してテープカバー14に対してスライド移動可能に設けられ、先端方向に向かって付勢されている。ガラスカバー15は、保持機構2が半導体製品Wを挿入する収容位置Pよりもポケット一つ分下流の位置Qを覆うように設けられており、テープカバー14は、位置Qよりさらに下流側を覆うようになっている。   On the carrier tape T of the carrier tape drive mechanism 1, a tape cover 14 and a glass cover 15 are provided. The glass cover 15 is provided so as to be slidable relative to the tape cover 14 with respect to the tape cover 14, and is urged toward the distal end direction. The glass cover 15 is provided so as to cover a position Q that is one pocket downstream from the accommodation position P in which the holding mechanism 2 inserts the semiconductor product W, and the tape cover 14 covers further downstream from the position Q. It is like that.

保持機構2は、上下方向すなわちZ軸方向に駆動して半導体製品Wを吸着する吸着ノズル21を備え、真空吸着により半導体製品Wを吸着又は吸着解除を行うものであって、メインテーブルMの回転に伴ってキャリアテープTの半導体製品収容位置Pに半導体製品Wを運び当該位置Pにあるポケットに半導体製品Wを挿入するものである。なお、このメインテーブルMは、図2の平面図に表されるように、その円周等配位置において、半導体製品Wに対して電気測定検査工程、方向判別工程、捺印工程等の各種処理工程を施すものである。   The holding mechanism 2 includes an adsorption nozzle 21 that is driven in the vertical direction, that is, the Z-axis direction to adsorb the semiconductor product W, and adsorbs or releases the semiconductor product W by vacuum adsorption, and rotates the main table M. Accordingly, the semiconductor product W is carried to the semiconductor product accommodation position P of the carrier tape T, and the semiconductor product W is inserted into the pocket at the position P. As shown in the plan view of FIG. 2, the main table M has various processing steps such as an electrical measurement inspection process, a direction determination process, and a stamping process on the semiconductor product W at the circumferentially equidistant positions. Is to be applied.

外観検査部3は、収容位置よりもキャリアテープのポケット1個分下流側の検査排出位置Qにおいてカメラ等の撮像手段により、ポケットに収容された半導体製品Wの外観を撮像し、ポケットに収容された半導体製品Wの方向が正しいかあるいは半導体製品Wの外観不良が発生していないかを判定する手段である。   The appearance inspection unit 3 images the appearance of the semiconductor product W accommodated in the pocket by an imaging means such as a camera at the inspection discharge position Q downstream of the carrier tape by one pocket of the carrier tape, and is accommodated in the pocket. It is a means for determining whether the direction of the semiconductor product W is correct or whether an appearance defect of the semiconductor product W has occurred.

排出機構4は、上下方向すなわちZ軸方向に駆動する排出用の吸着ノズル41を備え、これによりポケット内に収容された半導体製品Wを真空吸着によって保持して、ポケット内から排出するものである。排出機構4は、図2(a)に示すように、キャリアテープTを搭載したキャリアテープ駆動機構1の通常の位置とは、離間した位置に配置されている。具体的には、キャリアテープTの搬送方向X線上と平行な位置Y線上に設けられ、図2(b)に示すように、外観検査部3において不良品が発見された場合にキャリアテープ駆動機構1がこれを平行移動させる機構によりテープTの搬送方向X線上と平行な位置Y線上上に移動し、これに応じて、Y線上の離間した位置に設けられた排出機構4がY線上をキャリアテープ駆動機構1の検査排出位置Q上に移動するようになっている。   The discharge mechanism 4 includes a suction nozzle 41 for discharge that is driven in the vertical direction, that is, the Z-axis direction, thereby holding the semiconductor product W accommodated in the pocket by vacuum suction and discharging it from the pocket. . As shown in FIG. 2A, the discharge mechanism 4 is disposed at a position separated from the normal position of the carrier tape drive mechanism 1 on which the carrier tape T is mounted. Specifically, the carrier tape drive mechanism is provided on a position Y line parallel to the transport direction X-line of the carrier tape T, and when a defective product is found in the appearance inspection unit 3 as shown in FIG. 1 is moved onto a position Y line parallel to the transport direction X-line of the tape T by a mechanism that translates this, and in response to this, a discharge mechanism 4 provided at a separated position on the Y-line carries a carrier on the Y-line. It moves to the inspection discharge position Q of the tape drive mechanism 1.

ここで、排出機構4には、図3に示すように、ガラスカバー15をテープカバー14側に押し開くためのレバー42を備える。このレバー42は、排出用吸着ノズル41とは独立して取り付けられており、上述のように、排出機構4がY軸上をキャリアテープ駆動機構1側に移動する際に、検査排出位置を覆うガラスカバー15を押し開けるようになっている。   Here, as shown in FIG. 3, the discharge mechanism 4 includes a lever 42 for pushing the glass cover 15 to the tape cover 14 side. The lever 42 is attached independently of the discharge suction nozzle 41, and covers the inspection discharge position when the discharge mechanism 4 moves on the Y axis toward the carrier tape drive mechanism 1 as described above. The glass cover 15 is pushed open.

[実施形態の作用効果]
以上のような構成を有する本実施形態の作用について、図を参照して説明する。
[Effects of Embodiment]
The operation of the present embodiment having the above configuration will be described with reference to the drawings.

電気特性検査工程、マーキング工程等の各工程処理を終えた電子部品が、メインテーブルMに設けられた保持機構2によって搬送されながら、本テーピング装置へ搬送されてくる。   The electronic component that has been subjected to each process such as the electrical property inspection process and the marking process is conveyed to the taping device while being conveyed by the holding mechanism 2 provided on the main table M.

図4に本テーピング装置の動作を説明する。図4(a)に示すように、メインテーブルMに設けられた保持機構2の吸着ノズル21は、半導体製品W4を保持したまま、収容位置Pにて下降し、同図(b)に示すように、キャリアテープTのポケットに収容し、同図(c)に示すように上昇する。   FIG. 4 illustrates the operation of the taping device. As shown in FIG. 4A, the suction nozzle 21 of the holding mechanism 2 provided on the main table M descends at the storage position P while holding the semiconductor product W4, as shown in FIG. Then, it is accommodated in the pocket of the carrier tape T and ascends as shown in FIG.

この間、外観検査部3は、検査排出位置Qを通過する半導体製品Wの外観検査を行い、方向違い等の外観不良の有無を検知する。なお、この際、検査排出位置Qがガラスカバー15で覆われていることにより、外観検査部3の撮像を妨げるような光の反射を防ぐことができる。   During this time, the appearance inspection unit 3 performs an appearance inspection of the semiconductor product W that passes through the inspection discharge position Q, and detects the presence or absence of an appearance defect such as a direction difference. At this time, since the inspection discharge position Q is covered with the glass cover 15, it is possible to prevent reflection of light that hinders the imaging of the appearance inspection unit 3.

外観検査部3において、半導体製品Wの外観不良が検出されると、キャリアテープ駆動機構1はキャリアテープの送りを停止し、図2(b)に示すように、キャリアテープ駆動機構1全体を排出機構4と同一軸線上が設けられた位置に平行移動させる。   When an appearance defect of the semiconductor product W is detected in the appearance inspection unit 3, the carrier tape drive mechanism 1 stops feeding the carrier tape, and the entire carrier tape drive mechanism 1 is discharged as shown in FIG. The mechanism 4 is translated to a position on the same axis as the mechanism 4.

次に、図2(b)又は図4(d)に示すように、排出機構4がY軸上をキャリアテープ駆動機構1の方向に移動し、検査排出位置Q上で停止する。このとき、排出機構4に設けられたレバー42が、この排出機構4のY軸上における移動にともなって、キャリアテープT上のガラスカバー15をテープカバー14側に押し開く。   Next, as shown in FIG. 2B or FIG. 4D, the discharge mechanism 4 moves on the Y axis in the direction of the carrier tape drive mechanism 1 and stops on the inspection discharge position Q. At this time, the lever 42 provided in the discharge mechanism 4 pushes and opens the glass cover 15 on the carrier tape T toward the tape cover 14 as the discharge mechanism 4 moves on the Y axis.

この状態で、図4(e)に示すように、排出用の吸着ノズル41が下降し、同図(f)に示すように半導体製品W4を吸着保持して上昇し、ポケットから半導体製品W4を排出する。同時に、外観検査部3は、当該ポケットから半導体製品W4が排出されたか否かの確認を行う。   In this state, as shown in FIG. 4 (e), the suction nozzle 41 for discharge is lowered, and as shown in FIG. 4 (f), the semiconductor product W4 is suctioned and held up, and the semiconductor product W4 is lifted from the pocket. Discharge. At the same time, the appearance inspection unit 3 checks whether or not the semiconductor product W4 is discharged from the pocket.

排出機構4は、Y軸上を元の位置に向けて移動し、元の位置において保持した半導体製品W4の吸着を解除し、元の位置に設置された排出ボックス等に当該製品を排出する。排出機構4が元の位置に移動すると、排出機構4のガラスカバー15は、図4(g)に示すように、付勢されて検査排出位置Qを覆う位置に戻る。   The discharge mechanism 4 moves on the Y axis toward the original position, releases the suction of the semiconductor product W4 held at the original position, and discharges the product to a discharge box or the like installed at the original position. When the discharge mechanism 4 moves to the original position, the glass cover 15 of the discharge mechanism 4 is urged to return to the position covering the inspection discharge position Q as shown in FIG.

同時に、キャリアテープ駆動機構1は、図2(a)に示すように、Y軸上からX軸上に平行移動する。そして、図4(h)に示すように、モータ12がスプロケット11を回転駆動させ、キャリアテープTを搬送方向と逆方向にポケット1つ分戻す。   At the same time, the carrier tape drive mechanism 1 translates from the Y axis to the X axis as shown in FIG. Then, as shown in FIG. 4 (h), the motor 12 rotates the sprocket 11 to return the carrier tape T by one pocket in the direction opposite to the transport direction.

このように、本実施形態のテーピング装置は、通常は、図4(a)〜(c)に示した動作を繰り返しているが、外観検査部3において検査排出位置Qに搬送されてくるポケット内に収容された半導体製品Wの外観検査を行い外観不良等が検出された場合には、図4(d)〜(h)の処理を行い、外観不良の製品をキャリアテープTのポケット内から排出するようになっている。   As described above, the taping device of the present embodiment normally repeats the operations shown in FIGS. 4A to 4C, but in the pocket that is conveyed to the inspection discharge position Q in the appearance inspection unit 3. When the appearance inspection of the semiconductor product W accommodated in the container is detected and the appearance defect is detected, the processes shown in FIGS. 4D to 4H are performed, and the defective product is discharged from the pocket of the carrier tape T. It is supposed to be.

以上のような本実施形態のテーピング装置では、キャリアテープ内の半導体製品に外観不良等が発見された場合に、外観検査部により半導体製品の外観の不良を自動的に検出し、当該不良品を排出機構4により吸着保持して排出し、さらにキャリアテープをポケット1つ分戻すことにより、そのまま良品とすることが可能であるので、従来のように製造装置を停止して良品と交換する必要がなく、生産性に優れる。また、微小な半導体製品を作業者が手作業で半導体製品の交換を行う必要がなく、高品質な製品の提供が可能である。   In the taping device of the present embodiment as described above, when an appearance defect or the like is found in a semiconductor product in the carrier tape, the appearance inspection unit automatically detects the appearance defect of the semiconductor product, and detects the defective product. Since it is possible to make it a non-defective product by sucking and holding it by the discharge mechanism 4 and returning the carrier tape by one pocket, it is necessary to stop the manufacturing apparatus and replace it with a non-defective product as before. There is no productivity. In addition, it is not necessary for an operator to manually replace a semiconductor product with a minute semiconductor product, and a high-quality product can be provided.

また、排出機構4により、検査排出位置Qから不良の半導体製品を排出した後、排出したポケット1つ分キャリアテープを戻すため、従来のように不良品部分を打ち抜くことにより不良品を排出した場合と異なり、不良品の排出によりキャリアテープTのポケットに空きが生じるようなことがない。   In addition, when the defective semiconductor product is discharged from the inspection discharge position Q by the discharge mechanism 4 and then the carrier tape is returned by one discharged pocket, the defective product is discharged by punching out the defective portion as in the past. Unlike the case, the pocket of the carrier tape T does not become empty due to the discharge of defective products.

(2)他の実施形態
本発明は、上記の実施形態に例示した態様のみならず、以下の態様も含むものである。例えば、キャリアテープ上に設けられたガラスカバーは必須の構成要素ではなく、これを設けなくても本発明の作用効果を奏することは可能である。
(2) Other Embodiments The present invention includes not only the aspects exemplified in the above-described embodiments but also the following aspects. For example, the glass cover provided on the carrier tape is not an essential component, and the effects of the present invention can be achieved without providing the glass cover.

また、本発明は、排出機構4と保持機構2とを共通にすることも可能である。すなわち、メインテーブルMに設けられた吸着ノズル21によって、外観不良と判定された半導体製品Wを排出することも可能である。この場合は、上記実施形態において、排出機構4の構成として設けられていた排出用の吸着ノズル41やレバー42は設ける必要ない。また、不良品排出時にキャリアテープ駆動機構1を移動させる機構も不要となる。   In the present invention, the discharge mechanism 4 and the holding mechanism 2 can be made common. That is, it is possible to discharge the semiconductor product W determined to be defective in appearance by the suction nozzle 21 provided on the main table M. In this case, it is not necessary to provide the discharge suction nozzle 41 and the lever 42 provided as the configuration of the discharge mechanism 4 in the above embodiment. In addition, a mechanism for moving the carrier tape drive mechanism 1 when a defective product is discharged becomes unnecessary.

この場合、図5に示すように、半導体製品Wの収容位置と排出位置とはメインテーブルMに設けられた吸着ノズル21の直下において共通であり、外観検査位置はこの収容排出位置よりポケット一つ分下流に設けられている。   In this case, as shown in FIG. 5, the storage position and the discharge position of the semiconductor product W are common immediately below the suction nozzle 21 provided on the main table M, and the appearance inspection position is one pocket from the storage / discharge position. It is provided downstream.

次のこの態様の処理をフローチャートに示すと、図6(a)及び(b)に示すように次の2通りが可能である。まず、図6(a)において、収容位置Pにおいて吸着ノズル21からの半導体製品W4の収容が完了した状態において、外観検査部3において半導体製品W3の外観検査を行い(S601)、外観に不良があるか否かを検出する(S602)。外観不良がない場合には(NO)、キャリアテープ駆動機構1は、キャリアテープを進め次のポケットに吸着ノズル21からの新たな半導体製品W5の収容を許可して(S603)、S601へ戻る。   When the processing of this aspect is shown in the flowchart, the following two types are possible as shown in FIGS. 6 (a) and 6 (b). First, in FIG. 6A, in the state where the housing of the semiconductor product W4 from the suction nozzle 21 is completed at the housing position P, the appearance inspection unit 3 performs an appearance inspection of the semiconductor product W3 (S601), and the appearance is defective. It is detected whether or not there is (S602). If there is no appearance defect (NO), the carrier tape drive mechanism 1 advances the carrier tape and permits the next pocket to accommodate a new semiconductor product W5 from the suction nozzle 21 (S603), and returns to S601.

一方、外観不良が検出された場合には(S602のYES)、キャリアテープ駆動機構1はキャリアテープをポケット1つ分戻し(S604)、外観不良のある半導体製品W3が収容位置Pに位置する。このとき、吸着ノズル21が下降し当該不良のある半導体製品W3を排出する(S605)。より具体的には、メインテーブルMが回転することにより、メインテーブルM上の次のポジションにおいて、吸着解除することにより、不良品排出部に対して排出する。   On the other hand, when an appearance defect is detected (YES in S602), the carrier tape drive mechanism 1 returns the carrier tape by one pocket (S604), and the semiconductor product W3 having the appearance defect is positioned at the accommodation position P. At this time, the suction nozzle 21 is lowered and the defective semiconductor product W3 is discharged (S605). More specifically, when the main table M rotates, the suction is released at the next position on the main table M, and the defective product discharge unit is discharged.

次に、キャリアテープ駆動機構1は、キャリアテープを進め、この半導体製品W3の収容されていたポケットを検査排出位置Qに送り(S606)、このポケットに半導体製品が残存していないことを確認する(S607)。そして、キャリアテープ駆動機構1はキャリアテープをポケット1つ分戻し(S608)、収容位置Pにおいて吸着ノズル21が下降して半導体製品Wを収容し(S609)、S601へ戻る。   Next, the carrier tape drive mechanism 1 advances the carrier tape, sends the pocket in which the semiconductor product W3 is stored to the inspection discharge position Q (S606), and confirms that no semiconductor product remains in the pocket. (S607). Then, the carrier tape drive mechanism 1 returns the carrier tape by one pocket (S608), the suction nozzle 21 descends at the storage position P to store the semiconductor product W (S609), and the process returns to S601.

一方、図6(b)に示す処理は、上記図6(a)に示す処理の高速化を図ったものであり、メインテーブルMの回転をキャリアテープにおける外観検査を待たずに行うものである。すなわち、収容位置Pにおいて吸着ノズル21からの半導体製品W4の収容が完了した状態において、外観検査部3において半導体製品W3の外観検査を行い(S611)、外観に不良があるか否かを検出する(S612)。外観不良がない場合には(NO)、キャリアテープ駆動機構1は、キャリアテープを進め次のポケットに吸着ノズル21からの新たな半導体製品W5の収容を許可して(S613)、S611へ戻る。   On the other hand, the process shown in FIG. 6B is intended to speed up the process shown in FIG. 6A, and the main table M is rotated without waiting for the appearance inspection on the carrier tape. . That is, in the state where the housing of the semiconductor product W4 from the suction nozzle 21 is completed at the housing position P, the appearance inspection unit 3 performs an appearance inspection of the semiconductor product W3 (S611) and detects whether there is a defect in appearance. (S612). If there is no appearance defect (NO), the carrier tape drive mechanism 1 advances the carrier tape and permits the next pocket to accommodate a new semiconductor product W5 from the suction nozzle 21 (S613), and returns to S611.

一方、外観不良が検出された場合には(S612のYES)、メインテーブルMを逆回転させて、吸着ノズル一つ分戻させる(S614)。次に、キャリアテープ駆動機構1はキャリアテープTをポケット1つ分戻す(S615)。、外観不良のある半導体製品W3が収容位置Pに位置する。このとき、吸着ノズル21が下降し当該不良のある半導体製品W3をピックアップする(S616)。   On the other hand, when an appearance defect is detected (YES in S612), the main table M is reversely rotated and returned by one suction nozzle (S614). Next, the carrier tape drive mechanism 1 returns the carrier tape T by one pocket (S615). The semiconductor product W3 having an appearance defect is located at the housing position P. At this time, the suction nozzle 21 is lowered to pick up the defective semiconductor product W3 (S616).

次に、キャリアテープ駆動機構1は、キャリアテープを進め、この半導体製品W3の収容されていたポケットを検査排出位置Qに送り(S617)、このポケットに半導体製品が残存していないことを確認する(S618)。この間にメインテーブルMを吸着ノズル1つ分回転させ(S619)、吸着ノズル21に保持した不良の半導体製品W4を不良品排出部に排出する(S620)。そして、キャリアテープ駆動機構1はキャリアテープをポケット1つ分戻し(S618)、収容位置Pにおいて吸着ノズル21が下降して半導体製品Wを収容し(S619)、S611へ戻る。   Next, the carrier tape drive mechanism 1 advances the carrier tape, sends the pocket in which the semiconductor product W3 is stored to the inspection discharge position Q (S617), and confirms that no semiconductor product remains in the pocket. (S618). During this time, the main table M is rotated by one suction nozzle (S619), and the defective semiconductor product W4 held by the suction nozzle 21 is discharged to the defective product discharge section (S620). Then, the carrier tape drive mechanism 1 returns the carrier tape by one pocket (S618), the suction nozzle 21 descends at the storage position P to store the semiconductor product W (S619), and the process returns to S611.

このように、本発明は、排出機構4と保持機構2とを共通にすることができ、これにより装置構成の簡潔化を図ることが可能となる。   Thus, according to the present invention, the discharge mechanism 4 and the holding mechanism 2 can be made common, thereby simplifying the apparatus configuration.

また、上記実施形態においは、図2に示したように、排出機構4は、キャリアテープTの搬送方向X線上と平行な位置Y線上上に設け、図2(b)に示すように、外観検査部3において不良品が発見された場合にキャリアテープ駆動機構1がこれを平行移動させる機構によりテープTの搬送方向Xと平行な位置Y上に移動し、これに応じて、Y軸上の離間した位置に設けられた排出機構4がY軸上をキャリアテープ駆動機構1の検査排出位置Q上に移動するようにしたが、本発明はこのような態様に限らず、例えば、図7(a)及び(b)に示すように、キャリアテープ駆動機構1の検査排出位置Qまで排出機構4が移動するように構成することも可能である。   Moreover, in the said embodiment, as shown in FIG. 2, the discharge mechanism 4 is provided on the position Y line parallel to the conveyance direction X line of the carrier tape T, and as shown in FIG. When a defective product is found in the inspection unit 3, the carrier tape drive mechanism 1 is moved to a position Y parallel to the transport direction X of the tape T by a mechanism for moving the carrier tape drive mechanism 1. The discharge mechanism 4 provided at the separated position is moved on the Y axis to the inspection discharge position Q of the carrier tape drive mechanism 1. However, the present invention is not limited to this mode, and for example, FIG. As shown in a) and (b), the discharge mechanism 4 may be moved to the inspection discharge position Q of the carrier tape drive mechanism 1.

このように、排出機構4は、外観検査部3において不良品が発見された際に、キャリアテープ駆動機構1の検査排出位置Q上に位置するように構成すれば、その具体的な態様はいかなるものも採用可能であり、本発明の実施形態のようにキャリアテープ駆動機構1と排出機構4との双方を移動させるようにしてもよいし、一方のみを移動させることにより実現することも可能である。   Thus, if the discharge mechanism 4 is configured so as to be positioned on the inspection discharge position Q of the carrier tape drive mechanism 1 when a defective product is found in the appearance inspection unit 3, the specific aspect thereof is not limited. The carrier tape drive mechanism 1 and the discharge mechanism 4 may be moved as in the embodiment of the present invention, or may be realized by moving only one of them. is there.

ただし、上記実施形態で示した態様が最良であるといえるのは、キャリアテープ駆動機構において、構造的に前後方向、すなわちテープ送り方向と直角方向の方向への駆動軸が1軸追加されるため、この機構を利用することでテープポケットの前後位置を補正することが可能となることにある。この場合、前後方向の移動はサーボ駆動しており位置決め精度も高く、半導体製品をカメラで位置認識し、ポケット位置を補正し確実に収納するといったことができるようになる。   However, it can be said that the mode shown in the above embodiment is the best because, in the carrier tape drive mechanism, one drive shaft is added in the front-rear direction, that is, in the direction perpendicular to the tape feed direction. By using this mechanism, the front and back positions of the tape pocket can be corrected. In this case, the movement in the front-rear direction is servo-driven and the positioning accuracy is high, so that the position of the semiconductor product can be recognized by the camera, and the pocket position can be corrected and stored reliably.

本発明の実施形態におけるテーピング装置の全体構成を示す側面図。The side view which shows the whole taping apparatus structure in embodiment of this invention. 本発明の実施形態におけるテーピング装置の全体構成を示す平面図。The top view which shows the whole structure of the taping apparatus in embodiment of this invention. 本発明の実施形態における排出機構の構成を示す側面図。The side view which shows the structure of the discharge mechanism in embodiment of this invention. 本発明の実施形態におけるテーピング装置の作用を示す模式図。The schematic diagram which shows the effect | action of the taping apparatus in embodiment of this invention. 本発明の他の実施形態におけるテーピング装置の構成を示す側面図。The side view which shows the structure of the taping apparatus in other embodiment of this invention. 本発明の他の実施形態におけるテーピング装置の作用を示すフローチャート。The flowchart which shows the effect | action of the taping apparatus in other embodiment of this invention. 本発明の他の実施形態におけるテーピング装置の全体構成を示す平面図。The top view which shows the whole structure of the taping apparatus in other embodiment of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1…キャリアテープ駆動機構
2…保持機構
3…外観検査部
4…排出機構
11…スプロケット
12…モータ
13…搬送路
14…テープカバー
15…ガラスカバー
16…シール用コテ
21…吸着ノズル
41…排出用吸着ノズル
42…レバー
M…メインテーブル
P…収容位置
P…半導体製品収容位置
Q…検査排出位置
S…シール
T…キャリアテープ
W…半導体製品
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Carrier tape drive mechanism 2 ... Holding mechanism 3 ... Appearance inspection part 4 ... Discharge mechanism 11 ... Sprocket 12 ... Motor 13 ... Conveyance path 14 ... Tape cover 15 ... Glass cover 16 ... Sealing iron 21 ... Adsorption nozzle 41 ... For discharge Suction nozzle 42 ... Lever M ... Main table P ... Housing position P ... Semiconductor product housing position Q ... Inspection discharge position S ... Seal T ... Carrier tape W ... Semiconductor product

Claims (5)

キャリアテープを保持し電子部品をキャリアテープに設けられたポケットに収容して当該キャリアテープを間欠的に移送するキャリアテープ駆動部と、前記キャリアテープの電子部品収容位置に電子部品を保持して移送し当該収容位置にあるポケットに電子部品を挿入する保持部とを制御して電子部品を前記ポケットに順次収容して梱包するテーピング装置において、
前記ポケットに収容された電子部品の不良を撮像して検知する外観検査部と、
前記外観検査部により不良と判定された電子部品を、前記収容位置からポケット一つ分下流側の排出位置にて、前記ポケットから排出する不良品排出部とを備え、
前記キャリアテープ駆動部は、前記不良品排出部が前記ポケットから電子部品を排出した後、前記排出位置にある空のポケットを前記収容位置まで戻すことを特徴とするテーピング装置。
A carrier tape driving unit that holds the carrier tape and stores the electronic component in a pocket provided in the carrier tape and intermittently transfers the carrier tape, and holds and transfers the electronic component to the electronic component receiving position of the carrier tape. In the taping device for controlling and holding the electronic part to be inserted into the pocket at the storage position and sequentially storing and packing the electronic parts in the pocket,
An appearance inspection unit that detects and detects defects in the electronic components housed in the pockets;
An electronic component determined to be defective by the appearance inspection unit, including a defective product discharge unit that discharges from the pocket at a discharge position on the downstream side by one pocket from the storage position;
The taping device according to claim 1, wherein the carrier tape drive unit returns an empty pocket at the discharge position to the storage position after the defective product discharge unit discharges the electronic component from the pocket.
キャリアテープを保持し電子部品をキャリアテープに設けられたポケットに収容して当該キャリアテープを間欠的に移送するキャリアテープ駆動部と、前記キャリアテープの電子部品収容位置に電子部品を保持して移送し当該収容位置にあるポケットに電子部品を挿入する保持部とを制御して電子部品を前記ポケットに順次収容して梱包するテーピング装置において、
前記ポケットに収容された電子部品の不良を撮像して検知する外観検査部と、
前記外観検査部により不良と判定された電子部品を、排出位置にて前記ポケットから排出する不良品排出部とを備え、
前記収容位置と前記排出位置とは共通であり、
前記保持部と前記不良品排出部とは共通に設けられ、
前記キャリアテープ駆動部は、外観検査部において電子部品の不良が検知された場合に、前記キャリアテープを移送して、前記外観検査位置にあるポケットを前記収容排出位置まで戻すことを特徴とするテーピング装置。
A carrier tape driving unit that holds the carrier tape and stores the electronic component in a pocket provided in the carrier tape and intermittently transfers the carrier tape, and holds and transfers the electronic component to the electronic component receiving position of the carrier tape. In the taping device for controlling and holding the electronic part to be inserted into the pocket at the storage position and sequentially storing and packing the electronic parts in the pocket,
An appearance inspection unit that detects and detects defects in the electronic components housed in the pockets;
An electronic component determined to be defective by the appearance inspection unit, and a defective product discharge unit that discharges the electronic component from the pocket at a discharge position;
The accommodation position and the discharge position are common.
The holding part and the defective product discharge part are provided in common,
The carrier tape driving unit is configured to transfer the carrier tape and return the pocket at the appearance inspection position to the accommodation / discharge position when a defect of an electronic component is detected by the appearance inspection unit. apparatus.
前記キャリアテープ上の前記外観検査部により撮像する位置は、ガラスカバーにより覆われ、このガラスカバーは前記キャリアテープ上をスライド移動可能に設けられ、
前記不良品排出部は、前記ガラスカバーをスライド移動させるレバーを備え、このレバーにより開いた状態で前記ポケットから電子部品を排出することを特徴とする請求項1記載のテーピング装置。
The position to be imaged by the appearance inspection unit on the carrier tape is covered with a glass cover, and this glass cover is provided so as to be slidable on the carrier tape,
The taping apparatus according to claim 1, wherein the defective product discharge section includes a lever that slides the glass cover, and discharges the electronic component from the pocket in an open state by the lever.
キャリアテープを保持し電子部品をキャリアテープに設けられたポケットに収容して当該キャリアテープを間欠的に移送するキャリアテープ駆動部と、前記キャリアテープの電子部品収容位置に電子部品を保持して移送し当該収容位置にあるポケットに電子部品を挿入する保持部とを制御して電子部品を前記ポケットに順次収容して梱包するテーピング装置の制御方法において、
前記ポケットに収容された電子部品の不良を撮像して検知する外観検査部により電子部品の外観検査を行う外観検査ステップと、
前記外観検査ステップにおいて不良と判定された電子部品を、不良品排出部により前記収容位置からポケット一つ分下流側の排出位置にて前記ポケットから吸着排出する不良品排出ステップと、
前記キャリアテープ駆動部により、前記不良品排出部が前記ポケットから電子部品を排出した後、前記排出位置にある空のポケットを前記収容位置まで戻すステップとを含むことを特徴とするテーピング装置の制御方法。
A carrier tape driving unit that holds the carrier tape and stores the electronic component in a pocket provided in the carrier tape and intermittently transfers the carrier tape, and holds and transfers the electronic component to the electronic component receiving position of the carrier tape. Then, in the control method of the taping device for controlling the holding unit for inserting the electronic component into the pocket at the storage position and sequentially storing and packing the electronic component in the pocket,
An appearance inspection step of inspecting the appearance of the electronic component by an appearance inspection unit that images and detects defects in the electronic component accommodated in the pocket;
A defective product discharging step of sucking and discharging the electronic component determined to be defective in the appearance inspection step from the pocket at a discharge position on the downstream side by one pocket from the housing position by the defective product discharge unit;
And a step of returning the empty pocket at the discharge position to the storage position after the defective product discharge section discharges the electronic component from the pocket by the carrier tape driving section. Method.
キャリアテープを保持し電子部品をキャリアテープに設けられたポケットに収容して当該キャリアテープを間欠的に移送するキャリアテープ駆動部と、前記キャリアテープの電子部品収容位置に電子部品を保持して移送し当該収容位置にあるポケットに電子部品を挿入する保持部とを制御して電子部品を前記ポケットに順次収容して梱包するテーピング装置の制御方法において、
前記ポケットに収容された電子部品の不良を撮像して検知する外観検査部により電子部品の外観検査を行う外観検査ステップと、
前記外観検査ステップにおいて不良と判定された電子部品を、不良品排出部により排出位置にて前記ポケットから吸着排出する不良品排出ステップと、
前記収容位置と前記排出位置とは共通であり、
前記保持部と前記不良品排出部とは共通に設けられ、
前記キャリアテープ駆動部により、外観検査部において電子部品の不良が検知された場合に、前記キャリアテープを移送して、前記外観検査位置にあるポケットを前記収容排出位置まで戻すステップとを含むことを特徴とするテーピング装置の制御方法。
A carrier tape driving unit that holds the carrier tape and stores the electronic component in a pocket provided in the carrier tape and intermittently transfers the carrier tape, and holds and transfers the electronic component to the electronic component receiving position of the carrier tape. Then, in the control method of the taping device for controlling the holding unit for inserting the electronic component into the pocket at the storage position and sequentially storing and packing the electronic component in the pocket,
An appearance inspection step of inspecting the appearance of the electronic component by an appearance inspection unit that images and detects defects in the electronic component accommodated in the pocket;
A defective product discharging step of sucking and discharging the electronic component determined to be defective in the appearance inspection step from the pocket at a discharge position by a defective product discharging unit;
The accommodation position and the discharge position are common.
The holding part and the defective product discharge part are provided in common,
Including transferring the carrier tape to return the pocket at the appearance inspection position to the accommodation discharge position when the carrier tape driving unit detects a defect of the electronic component in the appearance inspection section. A control method for a taping device.
JP2007129802A 2007-05-15 2007-05-15 Taping device and method for controlling the same Pending JP2008285179A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007129802A JP2008285179A (en) 2007-05-15 2007-05-15 Taping device and method for controlling the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007129802A JP2008285179A (en) 2007-05-15 2007-05-15 Taping device and method for controlling the same

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2008285179A true JP2008285179A (en) 2008-11-27

Family

ID=40145305

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007129802A Pending JP2008285179A (en) 2007-05-15 2007-05-15 Taping device and method for controlling the same

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2008285179A (en)

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011020696A (en) * 2009-07-14 2011-02-03 Tesetsuku:Kk Method for storing electronic component and apparatus for storing electronic component
JP2012116528A (en) * 2010-11-30 2012-06-21 Ueno Seiki Kk Taping unit and electronic component inspection device
WO2013057843A1 (en) * 2011-10-21 2013-04-25 上野精機株式会社 Nozzle clog detector/measurer and electronic component inspection device provided with same
CN104627410A (en) * 2015-02-03 2015-05-20 宁波奥可智能科技发展有限公司 Tape packaging machine
JP5835825B1 (en) * 2014-11-19 2015-12-24 上野精機株式会社 Carrier tape traveling device and electronic component conveying device
CN106143993A (en) * 2016-08-01 2016-11-23 苏州市东苏发五金粘胶制品有限公司 A kind of full-automatic carrier tape packaging machine
JP2018162091A (en) * 2017-03-27 2018-10-18 Tdk株式会社 Component packaging apparatus
WO2019039552A1 (en) * 2017-08-25 2019-02-28 上野精機株式会社 Taping device
CN111717460A (en) * 2019-03-20 2020-09-29 东莞市凯立锐智能科技有限公司 A new type of automatic blanking and packaging device
CN112918759A (en) * 2021-02-05 2021-06-08 富之光电子科技(韶关)有限公司 Chip capacitor packaging device
CN115503998A (en) * 2021-06-23 2022-12-23 苏州优斯登物联网科技有限公司 A material automatic packaging equipment with adsorption track

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011020696A (en) * 2009-07-14 2011-02-03 Tesetsuku:Kk Method for storing electronic component and apparatus for storing electronic component
JP2012116528A (en) * 2010-11-30 2012-06-21 Ueno Seiki Kk Taping unit and electronic component inspection device
WO2013057843A1 (en) * 2011-10-21 2013-04-25 上野精機株式会社 Nozzle clog detector/measurer and electronic component inspection device provided with same
JP5835825B1 (en) * 2014-11-19 2015-12-24 上野精機株式会社 Carrier tape traveling device and electronic component conveying device
WO2016080162A1 (en) * 2014-11-19 2016-05-26 上野精機株式会社 Carrier tape-running device and electronic part-conveying apparatus
CN104627410A (en) * 2015-02-03 2015-05-20 宁波奥可智能科技发展有限公司 Tape packaging machine
CN106143993A (en) * 2016-08-01 2016-11-23 苏州市东苏发五金粘胶制品有限公司 A kind of full-automatic carrier tape packaging machine
JP2018162091A (en) * 2017-03-27 2018-10-18 Tdk株式会社 Component packaging apparatus
WO2019039552A1 (en) * 2017-08-25 2019-02-28 上野精機株式会社 Taping device
CN111717460A (en) * 2019-03-20 2020-09-29 东莞市凯立锐智能科技有限公司 A new type of automatic blanking and packaging device
CN112918759A (en) * 2021-02-05 2021-06-08 富之光电子科技(韶关)有限公司 Chip capacitor packaging device
CN115503998A (en) * 2021-06-23 2022-12-23 苏州优斯登物联网科技有限公司 A material automatic packaging equipment with adsorption track

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2008285179A (en) Taping device and method for controlling the same
TWI467631B (en) Method and device for filling carrier tapes with electronic components
JP5183220B2 (en) Component classification device and electronic component characteristic inspection and classification device using the device
CN105265036B (en) Suction nozzle manages system
JP5219056B1 (en) Taping unit and electronic component inspection device
JP6408005B2 (en) Nozzle storage
KR20150109305A (en) Handler for semiconductor package
JP2012116528A (en) Taping unit and electronic component inspection device
KR101611876B1 (en) Handler for semiconductor package
JP2004238009A (en) Taping method and taping device
JP2005138260A (en) Suction nozzle, machine for mounting component, and apparatus for inspecting component
JP4798757B2 (en) Semiconductor device taping apparatus and method
JP2008066472A (en) Composite processor for workpiece
JPS6322410A (en) Board storage rack
JP2017130595A (en) Nozzle storage
TWI819815B (en) Processing device and manufacturing method of processed product
TWI858554B (en) Cutting device and method for manufacturing cut product
JPS6322448A (en) Board transfer device
JP2513319B2 (en) Manufacturing equipment for semiconductor devices
CN120961455A (en) Gold thread automated inspection equipment
WO2025057652A1 (en) Storage device and storage system
TW201710168A (en) Supply device and supply method
JP2018207130A (en) Nozzle housing cabinet
JP2004315000A (en) Taping apparatus for electronic component and taping method
JPH11255324A (en) Device for mounting lens on tray