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JP2008277760A - Suction switching device - Google Patents

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JP2008277760A
JP2008277760A JP2008054505A JP2008054505A JP2008277760A JP 2008277760 A JP2008277760 A JP 2008277760A JP 2008054505 A JP2008054505 A JP 2008054505A JP 2008054505 A JP2008054505 A JP 2008054505A JP 2008277760 A JP2008277760 A JP 2008277760A
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JP
Japan
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suction
rotary table
cam
switching device
switch member
Prior art date
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Pending
Application number
JP2008054505A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yasuyuki Omasa
穏之 大政
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toray Engineering Co Ltd
Original Assignee
Toray Engineering Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
Application filed by Toray Engineering Co Ltd filed Critical Toray Engineering Co Ltd
Priority to JP2008054505A priority Critical patent/JP2008277760A/en
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a suction switching device capable of increasing the number of suction stages that can be set up on a rotary table without depending on the number of connection points of a rotating part in a rotary joint. <P>SOLUTION: The suction switching device 8 automatically switches the suction-holding of an object transferred 20 placed on the rotary table 1 and the release from the suction-holding. The suction switching device 8 includes: the rotary table that can rotate in a predetermined direction with a substantially vertical axis as a rotation axis J1, the rotary table including the suction stage 11 for sucking and holding the object to be transferred; a switching valve 90 provided so that it rotates together with the rotary table, and configured so that a suction force and release pressure are selectively fed to the suction stage by driving a built-in switch member 95; a first cam 81 for driving the switch member so that the suction force is fed to the suction stage based on a turning angle of the rotary table; and a second cam 82 for driving the switch member so that the release pressure is fed to the suction stage based on the turning angle of the rotary table. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

Description

本発明は吸引切替装置に関する。より詳しくは、回転テーブル上に搭載した被搬送品の吸引保持と、この吸引保持からの解放との切替えを自動的に行う装置に関する。   The present invention relates to a suction switching device. More specifically, the present invention relates to an apparatus that automatically switches between sucking and holding a conveyed product mounted on a rotary table and releasing from the sucking and holding.

半導体チップの製造工程では、パターンを形成した半導体ウエハをダイシングして個々の半導体チップに分割している。このダイシング処理工程においては、半導体チップに割れや欠けが生じたり、チップ表面に汚れや傷が生じたりする場合がある。   In a semiconductor chip manufacturing process, a semiconductor wafer on which a pattern is formed is diced and divided into individual semiconductor chips. In this dicing process, the semiconductor chip may be cracked or chipped, or the chip surface may be soiled or scratched.

このような欠陥半導体チップは良品半導体チップから分別し、排除する必要があり、例えば特許文献1に記載のような装置を用いて、半導体チップの外観検査及び分別を行っていた。図7は従来の外観検査装置100の概略を示す平面図、図8は従来の外観検査装置100に組み込まれた吸引切替装置の要部を示す平面図である。   Such a defective semiconductor chip needs to be separated from a non-defective semiconductor chip and eliminated. For example, an external inspection and separation of a semiconductor chip are performed using an apparatus as described in Patent Document 1. FIG. 7 is a plan view showing an outline of a conventional visual inspection apparatus 100, and FIG. 8 is a plan view showing a main part of a suction switching device incorporated in the conventional visual inspection apparatus 100.

図7に示すように、外観検査装置100では、まずロードステーションLSにおいてコレット3aは、トレイ2aに収納された半導体チップ20を上方から真空吸着して、回転テーブル1の上に設けられた吸引ステージ11に移載する。吸引ステージ11では、吸引孔12からの真空吸引により半導体チップ20を固定保持する。その後、回転テーブル1の間欠回転により、固定保持した半導体チップ20を補正ステーションHSに移す。   As shown in FIG. 7, in the appearance inspection apparatus 100, first, in the load station LS, the collet 3 a vacuum-sucks the semiconductor chip 20 stored in the tray 2 a from above, and a suction stage provided on the rotary table 1. 11 is transferred. In the suction stage 11, the semiconductor chip 20 is fixedly held by vacuum suction from the suction hole 12. Thereafter, the semiconductor chip 20 fixed and held is moved to the correction station HS by intermittent rotation of the turntable 1.

補正ステーションHSでは、上方に設けられた顕微鏡付きカメラ4により、到来した半導体チップ20の位置と角度を測定する。その測定データに基づき吸引ステージ11を移動回転して位置補正する。その後、回転テーブル1の間欠回転により、位置補正した半導体チップ20を検査ステーションKSに移す。検査ステーションKSでは、顕微鏡付きカメラ5が半導体チップ20を撮像する。撮像により得た画像を画像処理部(図示せず)に送り、所定の画像処理により半導体チップ20の良否判定を行なう。その後、良否判定された半導体チップ20は、回転テーブル1の間欠回転によりアンロードステーションUSに移る。アンロードステーションUSでは、吸引ステージ11での真空吸引から半導体チップ20を解放する。検査ステーションKSで判定された良否結果に応じて、半導体チップ20はコレット6aで真空吸着されて良品トレイまたは不良品トレイのいずれかに振り分けられる。   In the correction station HS, the position and angle of the incoming semiconductor chip 20 are measured by the camera 4 with a microscope provided above. Based on the measurement data, the suction stage 11 is moved and rotated to correct the position. Thereafter, the position-corrected semiconductor chip 20 is moved to the inspection station KS by intermittent rotation of the turntable 1. In the inspection station KS, the camera with a microscope 5 images the semiconductor chip 20. An image obtained by imaging is sent to an image processing unit (not shown), and the quality of the semiconductor chip 20 is determined by predetermined image processing. Thereafter, the semiconductor chip 20 determined to be good or bad moves to the unload station US due to the intermittent rotation of the turntable 1. At the unload station US, the semiconductor chip 20 is released from vacuum suction at the suction stage 11. In accordance with the pass / fail result determined at the inspection station KS, the semiconductor chip 20 is vacuum-sucked by the collet 6a and distributed to either a non-defective product tray or a defective product tray.

外観検査装置100では、ロードステーションLSで半導体チップ20を吸引ステージ11に吸引保持した後は、補正ステーションHS及び検査ステーションKSを経てアンロードステーションUSに至るまで、吸引保持を維持する。そして、アンロードステーションUSで吸引保持を解放する。この吸引保持と解放との切替えは、図8に示す吸引切替装置を組み込むことで行っていた。従来の吸引切替装置は、回転テーブル1、吸引ステージ11、吸引ポンプ83、ロータリージョイント84、電磁弁900、及び制御コンピュータ920などを構成要素としている。制御コンピュータ920は、各電磁弁900を次のように制御する。即ち、ロードステーションLSで半導体チップ20を吸引ステージ11に搭載する直前にその吸引ステージ11が吸引オンし、且つアンロードステーションUSで半導体チップ20を取り出す直前にその吸引ステージ11が吸引オフするように、その吸引ステージ11に対応する電磁弁900を制御する。
特開2004−45200号公報
In the appearance inspection apparatus 100, after the semiconductor chip 20 is sucked and held on the suction stage 11 by the load station LS, the suction hold is maintained until the unload station US is reached through the correction station HS and the inspection station KS. Then, the suction holding is released at the unload station US. The switching between the suction holding and the release is performed by incorporating a suction switching device shown in FIG. The conventional suction switching device includes the rotary table 1, the suction stage 11, the suction pump 83, the rotary joint 84, the electromagnetic valve 900, the control computer 920, and the like as constituent elements. The control computer 920 controls each electromagnetic valve 900 as follows. That is, the suction stage 11 is turned on immediately before the semiconductor chip 20 is mounted on the suction stage 11 at the load station LS, and the suction stage 11 is turned off immediately before the semiconductor chip 20 is taken out at the unload station US. The electromagnetic valve 900 corresponding to the suction stage 11 is controlled.
JP 2004-45200 A

従来の吸引切替装置では、各吸引ステージ11における吸引のオンオフは、ロータリージョイント84と吸引ポンプ83との配管9cに設けた電磁弁900を制御することで行っていた。ところで、回転テーブル1上に設置できる吸引ステージ11の数は、ロータリージョイント84における回転接続点841の数、即ち回転部の接続点数に依存する。ロータリージョイント84における回転接続点841には制限があるため、回転テーブル1上に設置できる吸引ステージ11の数を自由に増やすことができない。従って、隣り合う吸引ステージ11間の距離をあまり短くすることができず、一つの吸引ステージ11から次の吸引ステージ11への移動に要する時間が長くなる。これは検査のタクトタイムの短縮を図る上で大きな障害となった。   In the conventional suction switching device, the suction in each suction stage 11 is turned on and off by controlling the electromagnetic valve 900 provided in the pipe 9c between the rotary joint 84 and the suction pump 83. By the way, the number of suction stages 11 that can be set on the rotary table 1 depends on the number of rotary connection points 841 in the rotary joint 84, that is, the number of connection points of the rotary part. Since the rotational connection point 841 in the rotary joint 84 is limited, the number of suction stages 11 that can be installed on the rotary table 1 cannot be increased freely. Therefore, the distance between the adjacent suction stages 11 cannot be made very short, and the time required for movement from one suction stage 11 to the next suction stage 11 becomes long. This was a major obstacle to shortening the inspection tact time.

本発明は上述の問題に鑑みてなされたものであり、回転テーブル上に設置できる吸引ステージの数を、ロータリージョイントにおける回転部の接続点数に依存することなく増やすことができる吸引切替装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above-described problems, and provides a suction switching device that can increase the number of suction stages that can be installed on a rotary table without depending on the number of connection points of rotating parts in a rotary joint. For the purpose.

上記目的は、下記の本発明により達成される。なお「特許請求の範囲」及び「課題を解決するための手段」の欄において各構成要素に付した括弧書きの符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものである。   The above object is achieved by the present invention described below. In addition, the reference numerals in parentheses attached to each component in the “Claims” and “Means for Solving the Problems” indicate correspondence with the specific means described in the embodiments described later. is there.

本発明は、回転テーブル(1)上に搭載した被搬送品(20)の吸引保持と、この吸引保持からの解放との切替えを自動的に行う吸引切替装置(8)であって、被搬送品(20)を吸引保持するための吸引ステージ(11)を備え略鉛直軸を回転軸(J1)として所定方向に回転駆動可能とされた回転テーブル(1)と、内蔵したスイッチ部材(95)を駆動することにより吸引圧と解放圧とを選択的に吸引ステージ(11)に供給するように構成されると共に回転テーブル(1)と一体となって回転動作するように設けられた切替弁(90)と、回転テーブル(1)の回転角度に応じて吸引ステージ(11)に吸引圧が供給されるようにスイッチ部材(95)を駆動する第1カム(81)と、回転テーブル(1)の回転角度に応じて吸引ステージ(11)に解放圧が供給されるようにスイッチ部材(95)を駆動する第2カム(82)とを備えることを特徴とする。   The present invention is a suction switching device (8) for automatically switching between suction holding of a transported article (20) mounted on a rotary table (1) and release from the suction holding, A rotary table (1) having a suction stage (11) for sucking and holding the product (20) and capable of rotating in a predetermined direction about a substantially vertical axis as a rotation axis (J1), and a built-in switch member (95) Is configured to selectively supply the suction pressure and the release pressure to the suction stage (11) by driving and a switching valve (1) provided to rotate integrally with the rotary table (1). 90), a first cam (81) that drives the switch member (95) so that suction pressure is supplied to the suction stage (11) according to the rotation angle of the rotary table (1), and the rotary table (1) Depending on the rotation angle of Characterized in that it comprises a second cam (82) for driving the switch member (95) such that release pressure to over-di (11) is supplied.

本発明に係る吸引切替装置(8)によると、切替弁(90)は、スイッチ部材(95)を駆動することにより吸引圧と解放圧とを選択的に吸引ステージ(11)に供給するように構成される。切替弁(90)は、回転テーブル(1)と一体となって回転動作を行う。第1カム(81)は、回転テーブル(1)の回転角度に応じて、吸引ステージ(11)に吸引圧が供給されるようにスイッチ部材(95)を駆動する。第2カム(82)は、回転テーブル(1)の回転角度に応じて、吸引ステージ(11)に解放圧が供給されるようにスイッチ部材(95)を駆動する。このように吸引圧と解放圧との切替は、回転テーブル(1)の回転力を利用して第1カム(81)及び第2カム(82)がスイッチ部材(95)を駆動することで行う。従って、従来とは異なり、ロータリージョイント(84)における回転接続点(841)に接続する配管(9c)毎に電磁弁(900)を設けるという必要がなく、ロータリージョイント(84)おける回転接続点(841)による制限がない。つまり、回転テーブル(1)上に設置できる吸引ステージ(11)の数を、ロータリージョイント(84)における回転接続点(841)の数に依存することなく増やすことができる。   According to the suction switching device (8) of the present invention, the switching valve (90) selectively supplies the suction pressure and the release pressure to the suction stage (11) by driving the switch member (95). Composed. The switching valve (90) rotates together with the rotary table (1). The first cam (81) drives the switch member (95) so that the suction pressure is supplied to the suction stage (11) according to the rotation angle of the rotary table (1). The second cam (82) drives the switch member (95) so that the release pressure is supplied to the suction stage (11) according to the rotation angle of the rotary table (1). Thus, the switching between the suction pressure and the release pressure is performed by driving the switch member (95) by the first cam (81) and the second cam (82) using the rotational force of the rotary table (1). . Therefore, unlike the prior art, there is no need to provide a solenoid valve (900) for each pipe (9c) connected to the rotary connection point (841) of the rotary joint (84), and the rotary connection point ( 841). That is, the number of suction stages (11) that can be installed on the rotary table (1) can be increased without depending on the number of rotary connection points (841) in the rotary joint (84).

本発明によると、回転テーブル上に設置できる吸引ステージの数を、ロータリージョイントにおける回転部の接続点数に依存することなく増やすことができる。   According to the present invention, the number of suction stages that can be set on the rotary table can be increased without depending on the number of connection points of the rotating parts in the rotary joint.

以下、図面を参照して本発明の実施形態を説明する。図1は外観検査装置の概略を示す平面図、図2は本発明に係る吸引切替装置の要部を示す平面図、図3はローラ付三方弁を示す正面一部断面図、図4は本発明に係る吸引切替装置の空圧系統図である。図において直交座標系の3軸をX、Y、Zとし、XY平面は水平面、Z方向は鉛直方向である。なお本実施形態では、図面を見やすく表記する都合上、吸引ステージ11及びローラ付三方弁90の数をそれぞれ8個としてあるが、実際にはそれぞれ32個ずつ設けられる。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. 1 is a plan view showing an outline of an appearance inspection apparatus, FIG. 2 is a plan view showing a main part of a suction switching apparatus according to the present invention, FIG. 3 is a partial front sectional view showing a three-way valve with a roller, and FIG. It is a pneumatic system diagram of the suction switching device according to the invention. In the figure, the three axes of the orthogonal coordinate system are X, Y, and Z, the XY plane is the horizontal plane, and the Z direction is the vertical direction. In the present embodiment, the number of the suction stages 11 and the three-way valves 90 with rollers is set to eight for the sake of easy viewing of the drawing, but in actuality, 32 are provided.

図1,2に示すように、外観検査装置10は、回転テーブル1、被検査品供給機構2、被検査品移載機構3、顕微鏡付きカメラ4、顕微鏡付きカメラ5、検査品取込機構6、検査品収納機構7、吸引切替装置8及び制御コンピュータ9を備え、処理内容に応じた4つのステーションに区分けされている。即ち、回転テーブル1の回転駆動方向に沿って順次設けられたロードステーションLS、補正ステーションHS、検査ステーションKS及びアンロードステーションUSである。   As shown in FIGS. 1 and 2, the appearance inspection apparatus 10 includes a rotary table 1, an inspected product supply mechanism 2, an inspected product transfer mechanism 3, a camera 4 with a microscope, a camera 5 with a microscope, and an inspection product take-in mechanism 6. The inspection item storage mechanism 7, the suction switching device 8 and the control computer 9 are provided and are divided into four stations according to the processing contents. That is, a load station LS, a correction station HS, an inspection station KS, and an unload station US are sequentially provided along the rotation driving direction of the turntable 1.

回転テーブル1は、円盤形状とされ、円盤中心の鉛直線を回転軸J1として図1,2の反時計周り方向に所定の1ピッチずつ間欠的に回転駆動(順送り)可能な構成とされる。回転テーブル1の上面には、その周方向に沿う等間隔合計8箇所に吸引ステージ11が設けられる。   The turntable 1 has a disk shape, and is configured to be capable of being rotationally driven (forward feed) intermittently by a predetermined pitch in the counterclockwise direction of FIGS. 1 and 2 with a vertical line at the center of the disk as a rotation axis J1. On the upper surface of the turntable 1, suction stages 11 are provided at a total of eight positions along the circumferential direction.

各吸引ステージ11は、それぞれ半導体チップ20を吸引保持可能な吸引孔12を備えると共にXYθ機構を備える。ここで前述の1ピッチとは、互いに隣り合う吸引ステージ11における吸引孔12間の周方向距離に相当する距離である。また、前述のXYθ機構とは、吸引ステージ11を水平方向に駆動する機構、及び吸引ステージ11を回転軸J1まわりに回動駆動する機構である。   Each suction stage 11 includes a suction hole 12 capable of sucking and holding the semiconductor chip 20 and an XYθ mechanism. Here, the aforementioned 1 pitch is a distance corresponding to the circumferential distance between the suction holes 12 in the suction stages 11 adjacent to each other. The XYθ mechanism described above is a mechanism that drives the suction stage 11 in the horizontal direction and a mechanism that drives the suction stage 11 to rotate about the rotation axis J1.

被検査品供給機構2は、複数個の半導体チップ20を収納したトレイ2aを、ロードステーションLSにおける所定の位置に供給するように構成される。被検査品移載機構3は、真空吸着により半導体チップ20を吸着保持可能なコレット3aと、コレット3aをXYZ各方向に駆動する駆動部とを備え、トレイ2aに収納されている半導体チップ20をコレット3aにより1個ずつピックアップして、ロードステーションLSに到来した吸引ステージ11の上に移載するように構成される。   The inspected product supply mechanism 2 is configured to supply a tray 2a containing a plurality of semiconductor chips 20 to a predetermined position in the load station LS. The inspected product transfer mechanism 3 includes a collet 3a capable of sucking and holding the semiconductor chip 20 by vacuum suction, and a driving unit for driving the collet 3a in each of the XYZ directions, and the semiconductor chip 20 accommodated in the tray 2a. One by one is picked up by the collet 3a and transferred onto the suction stage 11 that has arrived at the load station LS.

顕微鏡付きカメラ4は、補正ステーションHSの上方に配設され、補正ステーションHSに到来した吸引ステージ11に吸引保持された半導体チップ20の角度及び位置を測定し、そのとき得られた角度及び位置データを制御コンピュータ9に送る構成とされる。   The microscope-equipped camera 4 is disposed above the correction station HS, measures the angle and position of the semiconductor chip 20 sucked and held by the suction stage 11 that has arrived at the correction station HS, and the obtained angle and position data. Is sent to the control computer 9.

顕微鏡付きカメラ5は、検査ステーションKSの上方に配設され、検査ステーションKSに到来した吸引ステージ11に吸引保持された半導体チップ20の外観を撮像し、そのとき得られた画像データを制御コンピュータ9に送る構成とされる。   The microscope-equipped camera 5 is disposed above the inspection station KS, images the appearance of the semiconductor chip 20 sucked and held by the suction stage 11 that has arrived at the inspection station KS, and the image data obtained at that time is used as a control computer 9. To be sent to.

検査品取込機構6は、真空吸着により半導体チップ20を吸着保持可能なコレット6aと、コレット6aをXYZ各方向に駆動する駆動部とを備え、アンロードステーションUSに到来した吸引ステージ11の上に搭載された半導体チップ20をコレット6aにより1個ずつピックアップして、検査品収納機構7に移載するように構成される。   The inspection product take-in mechanism 6 includes a collet 6a capable of sucking and holding the semiconductor chip 20 by vacuum suction, and a drive unit for driving the collet 6a in each of the XYZ directions, and on the suction stage 11 that has arrived at the unload station US. The semiconductor chips 20 mounted on the semiconductor chip 20 are picked up one by one by the collet 6 a and transferred to the inspection article storage mechanism 7.

検査品収納機構7は、良品チップトレイ収納機構71と再検査品チップトレイ収納機構72とを備え、検査結果に応じて良品と不良品を含む再検査品とに分別収納することができる。なお、検査結果が良品、要再検査品及び不良品の3つになる場合は、不良品チップトレイ収納機構を別個に設けてもよい。   The inspection product storage mechanism 7 includes a non-defective product chip tray storage mechanism 71 and a re-inspection product chip tray storage mechanism 72, and can separately store the non-defective product and the re-inspection product including defective products according to the inspection result. In addition, when there are three inspection results, a non-defective product, a re-inspected product, and a defective product, a defective chip tray storage mechanism may be provided separately.

吸引切替装置8は、図2に示すように、ローラ付三方弁90、上部カム81、下部カム82、吸引ポンプ83、ロータリージョイント84、上部カム駆動部811及び下部カム駆動部822などを備える。   As shown in FIG. 2, the suction switching device 8 includes a three-way valve 90 with a roller, an upper cam 81, a lower cam 82, a suction pump 83, a rotary joint 84, an upper cam drive unit 811, a lower cam drive unit 822, and the like.

ローラ付三方弁90は、図3に示すように、本体ブロック94、プランジャ95、上側ローラ951、下側ローラ952、上側アーム961及び下側アーム962からなり、第1ポート91、第2ポート92及び第3ポート93の3つの流出入口を備える。ローラ付三方弁90は、回転テーブル1の周方向に沿った等間隔8箇所における外周面位置にそれぞれブラケット80を介して固定される。   As shown in FIG. 3, the three-way valve 90 with a roller includes a main body block 94, a plunger 95, an upper roller 951, a lower roller 952, an upper arm 961 and a lower arm 962, and includes a first port 91 and a second port 92. And three outflow inlets of the third port 93. The three-way valve 90 with a roller is fixed to the outer peripheral surface positions at eight equidistant positions along the circumferential direction of the turntable 1 via brackets 80, respectively.

上側アーム961は、その一端は水平軸まわりに回転可能に本体ブロック94の上部に軸支され、他端は上側ローラ951を水平軸まわりに回転可能に軸支する。そして上側アーム961の腹部分が下降することによりプランジャ95の上端部を押圧可能となるように取り付けられる。また、下側アーム962は、その一端は水平軸まわりに回転可能に本体ブロック94の下部に軸支され、他端は下側ローラ952を水平軸まわりに回転可能に軸支する。そして下側アーム962の腹部分が上昇することによりプランジャ95の下端部を押圧可能となるように取り付けられる。   One end of the upper arm 961 is pivotally supported on the upper portion of the main body block 94 so as to be rotatable around a horizontal axis, and the other end is pivotally supported so that the upper roller 951 can be rotated around a horizontal axis. Then, the upper end portion of the plunger 95 is attached so that the upper end portion of the plunger 95 can be pressed by lowering the abdominal portion of the upper arm 961. Further, one end of the lower arm 962 is pivotally supported by the lower portion of the main body block 94 so as to be rotatable around the horizontal axis, and the other end is pivotally supported by the lower roller 952 so as to be rotatable around the horizontal axis. And it attaches so that the lower end part of the plunger 95 can be pressed by raising the belly part of the lower arm 962.

ローラ付三方弁90は、プランジャ95を下方に駆動することにより第1ポート91と第2ポート92とが連通し、プランジャ95を上方に駆動することにより第3ポート93と第2ポート92とが連通するように構成される。また、下方に駆動されたプランジャ95は最下方位置で保持(ホールド)され、上方に駆動されたプランジャ95は最上方位置で保持されるように構成される。   In the three-way valve 90 with a roller, the first port 91 and the second port 92 communicate with each other by driving the plunger 95 downward, and the third port 93 and the second port 92 are connected by driving the plunger 95 upward. Configured to communicate. The plunger 95 driven downward is held (held) at the lowermost position, and the plunger 95 driven upward is held at the uppermost position.

各ローラ付三方弁90において、第1ポート91は配管9aによりロータリージョイント84に連通している。ロータリージョイント84は、一つの回転接続点841aと、別の回転接続点841bとを備える。一つの回転接続点841aは吸引ポンプ83に配管接続される。別の回転接続点841bは各ローラ付三方弁90を介して吸引ステージ11に配管接続される。つまり、第2ポート92は配管9bにより吸引ステージ11の吸引孔12に接続される。第3ポート93は大気開放される。従って、プランジャ95が下方位置になったときは、そのローラ付三方弁90に接続した吸引ステージ11の吸引孔12に吸引圧が供給される。この状態を吸引オンとする。反対に、プランジャ95が上方位置になったときは、そのローラ付三方弁90に接続した吸引ステージ11の吸引孔12に生じていた吸引圧が解放される。この状態を吸引オフとする。   In each three-way valve 90 with a roller, the first port 91 communicates with the rotary joint 84 by a pipe 9a. The rotary joint 84 includes one rotational connection point 841a and another rotational connection point 841b. One rotational connection point 841a is connected to the suction pump 83 by piping. Another rotation connection point 841b is connected to the suction stage 11 via each three-way valve 90 with a roller. That is, the second port 92 is connected to the suction hole 12 of the suction stage 11 by the pipe 9b. The third port 93 is opened to the atmosphere. Therefore, when the plunger 95 is in the lower position, the suction pressure is supplied to the suction hole 12 of the suction stage 11 connected to the three-way valve 90 with a roller. This state is set to suction on. On the other hand, when the plunger 95 is in the upper position, the suction pressure generated in the suction hole 12 of the suction stage 11 connected to the three-way valve 90 with roller is released. This state is referred to as suction off.

上部カム81は、ロードステーションLSにおいて、吸引オフの状態にあるローラ付三方弁90の上側ローラ951に当接可能な位置に配置される。具体的には、回転テーブル1の回転角度がφ1のとき、上側ローラ951に当接する配置とされる。上部カム駆動部811は、上部カム81に機械的に連結したエアーシリンダまたはサーボモータ機構などで構成され、上部カム81の水平方向位置を調整可能とする。なお、上下方向位置を調整可能としてもよい。   The upper cam 81 is disposed at a position where it can come into contact with the upper roller 951 of the three-way valve 90 with a roller in the suction-off state at the load station LS. Specifically, when the rotation angle of the turntable 1 is φ1, it is arranged to contact the upper roller 951. The upper cam drive unit 811 is configured by an air cylinder or a servo motor mechanism that is mechanically coupled to the upper cam 81, and can adjust the horizontal position of the upper cam 81. The vertical position may be adjustable.

下部カム82は、アンロードステーションUSにおいて、吸引オンの状態にあるローラ付三方弁90の下側ローラ952に当接可能な位置に配置される。具体的には、回転テーブル1の回転角度がφ2のとき、下側ローラ952に当接する配置とされる。下部カム駆動部822は、下部カム82に機械的に連結したエアーシリンダまたはサーボモータ機構などで構成され、下部カム82の水平方向位置を調整可能とする。なお、上下方向位置を調整可能としてもよい。上部カム駆動部811及び下部カム駆動部822により、それぞれ上部カム81及び下部カム82を、目的に応じた適切な位置に配置することができる。   The lower cam 82 is disposed at a position in the unload station US that can contact the lower roller 952 of the three-way valve 90 with a roller that is in a suction-on state. Specifically, when the rotation angle of the turntable 1 is φ2, it is arranged to contact the lower roller 952. The lower cam drive unit 822 includes an air cylinder or a servo motor mechanism that is mechanically coupled to the lower cam 82 and can adjust the horizontal position of the lower cam 82. The vertical position may be adjustable. The upper cam drive unit 811 and the lower cam drive unit 822 can respectively arrange the upper cam 81 and the lower cam 82 at appropriate positions according to the purpose.

制御コンピュータ9は、タッチパネル等の入出力装置、メモリチップやマイクロプロセッサなどを主体とした適当なハードウエア、このハードウエアを動作させるためのコンピュータプログラムを組み込んだハードディスク装置、及び各構成部とデータ通信を行う適当なインターフェイス回路などから構成され、外観検査装置1が一連の検査動作を行うように、外観検査装置1の全体または一部を制御するためのコンピュータである。   The control computer 9 includes an input / output device such as a touch panel, appropriate hardware mainly including a memory chip and a microprocessor, a hard disk device incorporating a computer program for operating the hardware, and data communication with each component. A computer for controlling all or part of the appearance inspection apparatus 1 so that the appearance inspection apparatus 1 performs a series of inspection operations.

次に、以上のように構成された外観検査装置1の動作について説明する。図5は本発明に係る吸引切替装置8の吸引オン動作を説明するための図、図6は本発明に係る吸引切替装置8の吸引オフ動作を説明するための図である。なお説明上、ある半導体チップ20や吸引ステージ11を他の半導体チップや吸引ステージと特に区別する必要のある場合は、各符号の末尾に「A」「B」等の大文字のアルファベットを付記する。   Next, the operation of the appearance inspection apparatus 1 configured as described above will be described. FIG. 5 is a diagram for explaining the suction-on operation of the suction switching device 8 according to the present invention, and FIG. 6 is a diagram for explaining the suction-off operation of the suction switching device 8 according to the present invention. For the sake of explanation, when it is necessary to particularly distinguish a certain semiconductor chip 20 or suction stage 11 from other semiconductor chips or suction stages, capital letters such as “A” and “B” are appended to the end of each symbol.

回転テーブル1は間欠的な回転(以降、間欠回転と記す)を開始する。このとき回転テーブル1の上に設けられた吸引ステージ11Aは吸引オフである(図5(A)参照)。ローラ付三方弁90における上側ローラ951は、回転テーブル1の回転開始後にロードステーションLSにおいて、上部カム81に当接する(図5(B)参照)。これにより、上部カム81は上側ローラ951及び上側アーム961を介してプランジャ95を下方に押圧する。その結果、プランジャ95は下降し、ローラ付三方弁90は吸引オンとなり、吸引ステージ11Aの吸引孔12に負圧が生じる。回転テーブル1は1ピッチ回転したところで一旦停止する。トレイ2aに収納された半導体チップ20Aを上方から真空吸着したコレット3aは、吸引孔12に負圧が生じた直後、その半導体チップ20Aを吸引ステージ11Aに移載する。即ち、ローラ付三方弁90におけるプランジャ95は、ロードステーションLSにおいて半導体チップ20Aを吸引ステージ11Aに搭載する直前に下方に押圧駆動される。   The turntable 1 starts intermittent rotation (hereinafter referred to as intermittent rotation). At this time, the suction stage 11A provided on the turntable 1 is turned off (see FIG. 5A). The upper roller 951 in the three-way valve 90 with a roller contacts the upper cam 81 at the load station LS after the rotation table 1 starts rotating (see FIG. 5B). As a result, the upper cam 81 presses the plunger 95 downward via the upper roller 951 and the upper arm 961. As a result, the plunger 95 is lowered, the three-way valve 90 with a roller is turned on, and a negative pressure is generated in the suction hole 12 of the suction stage 11A. The turntable 1 stops once when it has rotated one pitch. The collet 3a that has vacuum-sucked the semiconductor chip 20A stored in the tray 2a from above transfers the semiconductor chip 20A to the suction stage 11A immediately after a negative pressure is generated in the suction hole 12. That is, the plunger 95 in the three-way valve 90 with a roller is driven to be pressed downward immediately before the semiconductor chip 20A is mounted on the suction stage 11A at the load station LS.

その後、回転テーブル1は間欠回転を再び開始する。下方に駆動されたプランジャ95は最下方位置で保持されるため、その後も半導体チップ20Aは吸引保持されている(図5(C)参照)。そして次の吸引ステージ11Bに対しても、上記と同様な要領で半導体チップ20Bの搭載を行う。このとき2つ目の半導体チップ20Bは吸引ステージ11Bに吸引保持されることになる。回転テーブル1が2ピッチ回転した時点で、1つ目の半導体チップ20Aは補正ステーションHSに到来する。   Thereafter, the rotary table 1 starts intermittent rotation again. Since the plunger 95 driven downward is held at the lowest position, the semiconductor chip 20A is held by suction thereafter (see FIG. 5C). The semiconductor chip 20B is mounted on the next suction stage 11B in the same manner as described above. At this time, the second semiconductor chip 20B is sucked and held by the suction stage 11B. When the turntable 1 rotates 2 pitches, the first semiconductor chip 20A arrives at the correction station HS.

補正ステーションHSでは、上方に設けられた顕微鏡付きカメラ4により、到来した半導体チップ20Aの位置と角度を測定する。その測定データに基づきXYθ機構は吸引ステージ11Aを移動回転させて位置補正する。その後、回転テーブル1の間欠回転により、位置補正した半導体チップ20Aは検査ステーションKSに移動する。検査ステーションKSでは、顕微鏡付きカメラ5が半導体チップ20Aを撮像する。撮像により得た画像を制御コンピュータ9に送り、所定の画像処理により半導体チップ20Aの良否判定を行なう。   In the correction station HS, the position and angle of the incoming semiconductor chip 20A are measured by the camera 4 with a microscope provided above. Based on the measurement data, the XYθ mechanism corrects the position by moving and rotating the suction stage 11A. Thereafter, the position-corrected semiconductor chip 20 </ b> A moves to the inspection station KS by intermittent rotation of the turntable 1. At the inspection station KS, the camera with microscope 5 images the semiconductor chip 20A. An image obtained by imaging is sent to the control computer 9, and the quality of the semiconductor chip 20A is determined by predetermined image processing.

半導体チップ20Aの良否判定が終わると、回転テーブル1は間欠回転を開始する。半導体チップ20Aを吸引保持した吸引ステージ11Aは、アンロードステーションUSに向けて移動する(図6(A)参照)。回転テーブル1が所定ピッチの間欠回転をして、アンロードステーションUSで吸引ステージ11Aが停止する直前に、ローラ付三方弁90における下側ローラ952が下部カム82に当接する(図6(B)参照)。   When the quality determination of the semiconductor chip 20A is finished, the turntable 1 starts intermittent rotation. The suction stage 11A that sucks and holds the semiconductor chip 20A moves toward the unload station US (see FIG. 6A). The lower roller 952 in the three-way valve 90 with a roller contacts the lower cam 82 immediately before the rotary table 1 rotates intermittently at a predetermined pitch and the suction stage 11A stops at the unload station US (FIG. 6B). reference).

これにより下部カム82は下側ローラ952及び下側アーム962を介してプランジャ95を上方に押圧する。プランジャ95は上昇し、ローラ付三方弁90は吸引オフとなる。その結果、アンロードステーションUSでは、吸引ステージ11Aの吸引孔12Aは大気圧に戻り、半導体チップ20Aは吸引保持から解放される(図6(C)参照)。その直後、回転テーブル1は間欠回転を終了したところで一旦停止する。   As a result, the lower cam 82 presses the plunger 95 upward via the lower roller 952 and the lower arm 962. The plunger 95 is raised and the three-way valve 90 with a roller is turned off. As a result, in the unload station US, the suction hole 12A of the suction stage 11A returns to the atmospheric pressure, and the semiconductor chip 20A is released from the suction holding (see FIG. 6C). Immediately after that, the rotary table 1 stops once when the intermittent rotation is finished.

検査ステーションKSで判定された良否結果に応じて、半導体チップ20Aはコレット6aで真空吸着されて、良品トレイ711または不良品トレイ722のいずれかに振り分けられる。このように、ローラ付三方弁90におけるプランジャ95は、アンロードステーションUSにおいて半導体チップ20Aを吸引ステージ11から取り出す直前に上方に押圧駆動される。   Depending on the pass / fail result determined by the inspection station KS, the semiconductor chip 20A is vacuum-sucked by the collet 6a and distributed to either the non-defective product tray 711 or the defective product tray 722. As described above, the plunger 95 in the three-way valve 90 with a roller is driven to be pressed upward immediately before the semiconductor chip 20A is taken out from the suction stage 11 at the unload station US.

上述したように外観検査装置1では、ロードステーションLSで半導体チップ20を吸引保持した後は、補正ステーションHS及び検査ステーションKSを経てアンロードステーションUSに至るまで、この吸引保持を維持する。そして、アンロードステーションUSで吸引保持を解放する。   As described above, in the appearance inspection apparatus 1, after the semiconductor chip 20 is sucked and held at the load station LS, this sucking and holding is maintained until the unload station US is reached via the correction station HS and the inspection station KS. Then, the suction holding is released at the unload station US.

そして、本発明に係る吸引切替装置8によると、ローラ付三方弁90は、プランジャ95を駆動することにより吸引圧と解放圧とを選択的に吸引ステージ11に供給するように構成される。ローラ付三方弁90は、回転テーブル1と一体となって回転動作を行う。上部カム81は、回転テーブル1の回転角度に応じて、吸引ステージ11に吸引圧が供給されるようにプランジャ95を駆動する。下部カム82は、回転テーブル1の回転角度に応じて、吸引ステージ11に解放圧が供給されるようにプランジャ95を駆動する。具体的には、上部カム81は、回転テーブル1の回転角度がφ1のとき、上側ローラ951に当接することで吸引のための駆動を行う。下部カム82は、回転テーブル1の回転角度がφ2のとき、下側ローラ952に当接することで解放のための駆動を行う。   According to the suction switching device 8 according to the present invention, the three-way valve 90 with roller is configured to selectively supply the suction pressure and the release pressure to the suction stage 11 by driving the plunger 95. The three-way valve 90 with a roller rotates together with the rotary table 1. The upper cam 81 drives the plunger 95 so that the suction pressure is supplied to the suction stage 11 according to the rotation angle of the turntable 1. The lower cam 82 drives the plunger 95 so that the release pressure is supplied to the suction stage 11 according to the rotation angle of the turntable 1. Specifically, the upper cam 81 performs driving for suction by contacting the upper roller 951 when the rotation angle of the turntable 1 is φ1. When the rotation angle of the rotary table 1 is φ2, the lower cam 82 contacts the lower roller 952 to drive for release.

このように吸引圧と解放圧との切替は、ロータリージョイント84と各吸引ステージ11との間に設けられたローラ付三方弁90の制御により行う。具体的には、回転テーブル1の回転力を利用して上部カム81及び下部カム82がプランジャ95を駆動することで行う。従って、従来とは異なり、ロータリージョイント84における回転接続点に接続する配管毎に電磁弁を設けるという必要がなく、ロータリージョイント84における回転接続点の数による制限がない。つまり、回転テーブル1上に設置できる吸引ステージ11の数を、ロータリージョイント84における回転接続点841の数に依存することなく増やすことができる。   In this way, the switching between the suction pressure and the release pressure is performed by controlling the three-way valve 90 with a roller provided between the rotary joint 84 and each suction stage 11. Specifically, the upper cam 81 and the lower cam 82 drive the plunger 95 using the rotational force of the rotary table 1. Therefore, unlike the prior art, there is no need to provide an electromagnetic valve for each pipe connected to the rotary connection point in the rotary joint 84, and there is no limit due to the number of rotary connection points in the rotary joint 84. That is, the number of suction stages 11 that can be installed on the rotary table 1 can be increased without depending on the number of rotational connection points 841 in the rotary joint 84.

以上、本発明の実施の形態について説明を行ったが、上に開示した実施の形態は、あくまで例示であって、本発明の範囲はこれら実施の形態に限定されるものではない。本発明の範囲は、特許請求の範囲の記載によって示され、更に特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内でのすべての変更を含むことが意図される。   As mentioned above, although embodiment of this invention was described, embodiment disclosed above is an illustration to the last, Comprising: The scope of the present invention is not limited to these embodiment. The scope of the present invention is defined by the terms of the claims, and is intended to include any modifications within the scope and meaning equivalent to the terms of the claims.

本発明に係る吸引切替装置を組み込んだ外観検査装置の概略を示す平面図である。It is a top view which shows the outline of the external appearance inspection apparatus incorporating the suction switching device which concerns on this invention. 本発明に係る吸引切替装置の要部を示す平面図である。It is a top view which shows the principal part of the suction switching device which concerns on this invention. ローラ付三方弁を示す正面一部断面図である。It is a front fragmentary sectional view which shows a three-way valve with a roller. 本発明に係る吸引切替装置の空圧系統図である。It is a pneumatic system diagram of the suction switching device according to the present invention. 本発明に係る吸引切替装置の吸引オン動作を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the suction-on operation | movement of the suction switching apparatus which concerns on this invention. 本発明に係る吸引切替装置の吸引オフ動作を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the suction-off operation | movement of the suction switching apparatus which concerns on this invention. 従来の外観検査装置の概略を示す平面図である。It is a top view which shows the outline of the conventional external appearance inspection apparatus. 従来の吸引切替装置の要部を示す平面図である。It is a top view which shows the principal part of the conventional suction switching device.

符号の説明Explanation of symbols

1 回転テーブル
8 吸引切替装置
11 吸引ステージ
20 半導体チップ(被搬送品)
J1 回転軸
95 プランジャ(スイッチ部材)
90 ローラ付三方弁(切替弁)
81 上部カム(第1カム)
82 下部カム(第2カム)
841a 回転接続点
841b 回転接続点
811 上部カム駆動部(第1カム駆動部)
822 下部カム駆動部(第2カム駆動部)
LS ロードステーション
US アンロードステーション
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Rotating table 8 Suction switching device 11 Suction stage 20 Semiconductor chip (conveyed product)
J1 Rotating shaft 95 Plunger (switch member)
90 Three-way valve with roller (switching valve)
81 Upper cam (first cam)
82 Lower cam (second cam)
841a Rotation connection point 841b Rotation connection point 811 Upper cam drive unit (first cam drive unit)
822 Lower cam drive (second cam drive)
LS Road Station US Unload Station

Claims (5)

回転テーブル(1)上に搭載した被搬送品(20)の吸引保持と、この吸引保持からの解放との切替えを自動的に行う吸引切替装置(8)であって、
被搬送品(20)を吸引保持するための吸引ステージ(11)を備え略鉛直軸を回転軸(J1)として所定方向に回転駆動可能とされた回転テーブル(1)と、
内蔵したスイッチ部材(95)を駆動することにより吸引圧と解放圧とを選択的に吸引ステージ(11)に供給するように構成されると共に回転テーブル(1)と一体となって回転動作するように設けられた切替弁(90)と、
回転テーブル(1)の回転角度に応じて吸引ステージ(11)に吸引圧が供給されるようにスイッチ部材(95)を駆動する第1カム(81)と、
回転テーブル(1)の回転角度に応じて吸引ステージ(11)に解放圧が供給されるようにスイッチ部材(95)を駆動する第2カム(82)と
を備えることを特徴とする吸引切替装置。
A suction switching device (8) that automatically performs switching between suction holding of the conveyed product (20) mounted on the rotary table (1) and release from the suction holding,
A rotary table (1) provided with a suction stage (11) for sucking and holding the article to be transported (20), and capable of rotating in a predetermined direction with a substantially vertical axis as a rotation axis (J1)
By driving the built-in switch member (95), the suction pressure and the release pressure are selectively supplied to the suction stage (11), and rotate together with the rotary table (1). A switching valve (90) provided in the
A first cam (81) for driving the switch member (95) so that suction pressure is supplied to the suction stage (11) according to the rotation angle of the rotary table (1);
And a second cam (82) for driving the switch member (95) so that the release pressure is supplied to the suction stage (11) according to the rotation angle of the rotary table (1). .
第1カム(81)を駆動してその配置位置を調整可能とする第1カム駆動部(811)と、第2カム(82)を駆動してその配置位置を調整可能とする第2カム駆動部(822)とを備える請求項1に記載の吸引切替装置。   A first cam drive unit (811) that can adjust the arrangement position by driving the first cam (81), and a second cam drive that can adjust the arrangement position by driving the second cam (82). The suction switching device according to claim 1, further comprising a portion (822). 吸引ステージ(11)は、回転テーブル(1)の回転方向に沿って複数設けられ、複数の吸引ステージ(11)にそれぞれ対応して複数の切替弁(90)が設けられた請求項1または請求項2に記載の吸引切替装置。   A plurality of suction stages (11) are provided along the rotation direction of the rotary table (1), and a plurality of switching valves (90) are provided corresponding to the plurality of suction stages (11), respectively. Item 3. The suction switching device according to Item 2. 回転テーブル(1)は、被搬送品(20)を取り込むロードステーション(LS)と、被搬送品(20)を取り出すアンロードステーション(US)とに配置可能とされ、
第1カム(81)は、ロードステーション(LS)において被搬送品(20)を吸引ステージ(11)に搭載する直前に、切替弁(90)におけるスイッチ部材(95)に当接して吸引ステージ(11)に吸引圧が供給されるようにスイッチ部材(95)を駆動するように設けられ、
第2カム(82)は、アンロードステーション(US)において被搬送品(20)を吸引ステージ(11)から取り出す直前に、切替弁(90)におけるスイッチ部材(95)に当接して吸引ステージ(11)に解放圧が供給されるようにスイッチ部材(95)を駆動するように設けられる請求項1から請求項3のいずれかに記載の吸引切替装置。
The rotary table (1) can be arranged at a load station (LS) that takes in the article to be conveyed (20) and an unload station (US) that takes out the article to be conveyed (20).
The first cam (81) is brought into contact with the switch member (95) of the switching valve (90) immediately before the article to be conveyed (20) is mounted on the suction stage (11) in the load station (LS). 11) provided to drive the switch member (95) so that the suction pressure is supplied to
The second cam (82) is brought into contact with the switch member (95) of the switching valve (90) immediately before taking out the conveyed product (20) from the suction stage (11) at the unload station (US). The suction switching device according to any one of claims 1 to 3, which is provided so as to drive the switch member (95) so that the release pressure is supplied to 11).
一つの回転接続点(841a)及び別の回転接続点(841b)を備えたロータリージョイント(84)を備え、一つの回転接続点(841a)は吸引ポンプ(83)に配管接続され、別の回転接続点(841b)は切替弁(90)を介して吸引ステージ(11)に配管接続された請求項1から請求項4のいずれかに記載の吸引切替装置。   A rotary joint (84) having one rotary connection point (841a) and another rotary connection point (841b) is provided, and one rotary connection point (841a) is piped to the suction pump (83) for another rotation. The suction switching device according to any one of claims 1 to 4, wherein the connection point (841b) is pipe-connected to the suction stage (11) via the switching valve (90).
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