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JP2008135685A - WIRING BOARD MANUFACTURING METHOD, WIRING BOARD, MULTILAYER WIRING BOARD MANUFACTURING METHOD, AND MULTILAYER WIRING BOARD - Google Patents

WIRING BOARD MANUFACTURING METHOD, WIRING BOARD, MULTILAYER WIRING BOARD MANUFACTURING METHOD, AND MULTILAYER WIRING BOARD Download PDF

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JP2008135685A
JP2008135685A JP2007142465A JP2007142465A JP2008135685A JP 2008135685 A JP2008135685 A JP 2008135685A JP 2007142465 A JP2007142465 A JP 2007142465A JP 2007142465 A JP2007142465 A JP 2007142465A JP 2008135685 A JP2008135685 A JP 2008135685A
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JP
Japan
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group
substrate
wiring board
layer
manufacturing
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Application number
JP2007142465A
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Japanese (ja)
Inventor
Shigeo Yago
栄郎 矢後
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Fujifilm Corp
Original Assignee
Fujifilm Corp
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Publication date
Application filed by Fujifilm Corp filed Critical Fujifilm Corp
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  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
  • Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)

Abstract

【課題】ダマシン法を適用して、基板との密着性が高い配線を有し、且つ高周波特性に優れた配線基板を製造しうる配線基板の製造方法、及び該製造方法により得られた配線基板を提供する。
【解決手段】(A)基板の一方の面又は両方の面に、配線形成領域となる凹部28又は貫通孔30を形成する工程と、(B)基板上に、無電解めっき触媒又はその前駆体と相互作用する官能基を有し且つ基板表面と直接結合するポリマーからなるポリマー層を形成する工程と、(C)ポリマー層上に、無電解めっき触媒又はその前駆体を付与する工程と、(D)無電解めっきを行い金属層26を形成する工程と、(E)凹部又は貫通孔内のみに金属層が残存するように、基板上に存在する不要な金属層を除去して配線を形成する工程と、を含む配線基板36の製造方法。
【選択図】図2
A method of manufacturing a wiring board capable of manufacturing a wiring board having a high adhesion to the board by applying the damascene method and having excellent high frequency characteristics, and a wiring board obtained by the manufacturing method I will provide a.
(A) a step of forming a recess or a through hole 30 serving as a wiring forming region on one or both surfaces of a substrate; and (B) an electroless plating catalyst or a precursor thereof on the substrate. Forming a polymer layer made of a polymer having a functional group that interacts with the substrate and directly bonding to the substrate surface; (C) applying an electroless plating catalyst or a precursor thereof on the polymer layer; D) Electroless plating to form the metal layer 26, and (E) Wiring is formed by removing unnecessary metal layers on the substrate so that the metal layer remains only in the recesses or through holes. A process for manufacturing the wiring board 36.
[Selection] Figure 2

Description

本発明は、配線基板の製造方法、多層配線基板の製造方法、これらの方法により得られた配線基板又は多層配線基板に関する。より詳細には、電子材料分野で使用される高密度配線を有するプリント配線基板、電気的絶縁層を介して配線層を積層してなる配線基板、等の製造に適用しうる、配線基板の製造方法、多層配線基板の製造方法、これらの製造方法により得られた配線基板又は多層配線基板に関する。   The present invention relates to a method for manufacturing a wiring substrate, a method for manufacturing a multilayer wiring substrate, and a wiring substrate or a multilayer wiring substrate obtained by these methods. More specifically, the production of a wiring board that can be applied to the production of a printed wiring board having a high-density wiring used in the field of electronic materials, a wiring board in which wiring layers are laminated via an electrical insulating layer, and the like. The present invention relates to a method, a method for manufacturing a multilayer wiring board, and a wiring board or a multilayer wiring board obtained by these manufacturing methods.

近年、電子機器の高機能化等の要求に伴い、電子部品の高密度集積化、更には高密度実装化等が進んでおり、これらに使用される高密度実装対応のプリント配線板等についても小型化かつ高密度化が進んでいる。このプリント配線板等の高密度化への対応としては、高精細で安定な配線の実現やビルドアップ多層配線板の採用などの方法が種々検討されている。更に、微細なビアにより電気的絶縁層間を接続されたビルドアップ法により配線層を積層してなる製品も出されている。   In recent years, along with demands for higher functionality of electronic devices, etc., the integration of electronic components has increased, and further, high-density mounting has progressed. Miniaturization and high density are progressing. Various methods such as realization of high-definition and stable wiring and adoption of a build-up multilayer wiring board have been studied as measures for increasing the density of printed wiring boards and the like. Furthermore, a product is also available in which wiring layers are laminated by a build-up method in which electrically insulating layers are connected by fine vias.

これら微細配線の形成に関しては、従来の導電性パターン、特にプリント配線基板の分野で有用な金属パターン形成方法として、「サブトラクティブ法」と「セミアディティブ法」が知られている。サブトラクティブ法とは、基板上に形成された金属層に、活性光線の照射により感光する感光層(レジスト膜)を設け、この感光層に像様露光し、現像してレジスト像を形成し、次いで、金属層をエッチングして金属パターンを形成し、最後にレジストを剥離する方法である。この方法で使用される基板は、基板と金属層との密着性を持たせるために基板界面を凹凸処理してアンカー効果により密着性を発現させていた。その結果、出来上がる金属パターンの基板界面部が凹凸になってしまい、電気配線として使用する際、高周波特性が悪くなるという問題点があった。更に、金属層を形成するに際して基板の凹凸処理を要するため、クロム酸などの強酸で基板を処理するという煩雑な工程が必要であるいという問題点があった。また、配線(金属層)上に形成されたレジスト膜をマスクにして、配線部分以外の金属層をエッチング除去するため、例えば、等方性エッチングを行った場合、レジスト膜のエッジ部分に近い金属層の部分の方が遠い方の部分よりもエッチングの進行が早く、その部分が余計にエッチングされ、金属層の断面形状がほぼ台形状となる状態(サイドエッチング)が発生するという問題があった。   Regarding the formation of these fine wirings, “subtractive method” and “semi-additive method” are known as conventional metal pattern forming methods useful in the field of conductive patterns, particularly printed wiring boards. In the subtractive method, a metal layer formed on a substrate is provided with a photosensitive layer (resist film) that is exposed to irradiation with actinic rays, and this photosensitive layer is imagewise exposed and developed to form a resist image. Next, the metal layer is etched to form a metal pattern, and finally the resist is peeled off. In the substrate used in this method, in order to provide adhesion between the substrate and the metal layer, the substrate interface has been subjected to uneven treatment to develop adhesion by the anchor effect. As a result, the substrate interface portion of the resulting metal pattern becomes uneven, and there is a problem in that the high frequency characteristics deteriorate when used as an electrical wiring. Further, since the substrate is required to be processed to form the metal layer, there is a problem that a complicated process of processing the substrate with a strong acid such as chromic acid is necessary. In addition, in order to etch away the metal layer other than the wiring portion using the resist film formed on the wiring (metal layer) as a mask, for example, when isotropic etching is performed, the metal close to the edge portion of the resist film There was a problem that the etching progressed faster in the layer part than in the far part, and the part was further etched, resulting in a state in which the cross-sectional shape of the metal layer was almost trapezoidal (side etching). .

一方、セミアディティブ法は、電気的絶縁層の表面に何らかの方法で給電層を設け、この給電層の上に活性光線の照射により感光する感光層を設け、この感光層に像様露光し、現像してレジスト像を形成し、給電層に電気を流して電解めっきを行い、非レジスト存在部に金属配線を形成したのち、非金属配線部の給電層をエッチング処理して金属パターンを形成する方法である。この方法における給電層の形成には、めっき法、スパッタリング法、蒸着法などが用いられている。
めっき法で給電層を形成する場合は、サブトラクティブ法と同様に、基板と給電層との密着性を持たせるために電気的絶縁層の表面を凹凸処理してアンカー効果により密着性を発現させていた。その結果、出来上がる金属パターンの基板界面部が凹凸になってしまい、電気配線として使用する際、高周波特性が悪くなるという問題点があった。更に、金属層を形成するに際して基板の凹凸処理を要するため、クロム酸などの強酸で基板を処理するという煩雑な工程が必要であるいという問題点があった。
スパッタリング法、蒸着法により給電層を設けるためには、大掛かりな真空設備が必要であるために多層基板の製造には不向きであった。
フルアディティブ法、セミアディティブ法を用いた場合は、配線(金属パターン)の形成に際して無電解めっき等により給電層を設けているため、絶縁膜の表面に残っためっきの種がエレクトロマイグレーションに対し悪影響を及ぼす可能性があった。
On the other hand, in the semi-additive method, a power supply layer is provided on the surface of the electrically insulating layer by some method, a photosensitive layer that is exposed by irradiation with actinic rays is provided on the power supply layer, imagewise exposed to this photosensitive layer, and developed. Forming a resist image, applying electricity to the power supply layer, performing electroplating, forming a metal wiring in the non-resist existence part, and then etching the power supply layer in the non-metal wiring part to form a metal pattern It is. For the formation of the power feeding layer in this method, a plating method, a sputtering method, a vapor deposition method, or the like is used.
When the power feeding layer is formed by plating, as in the subtractive method, the surface of the electrical insulating layer is processed to have an unevenness in order to provide adhesion between the substrate and the power feeding layer, thereby exhibiting the adhesion by the anchor effect. It was. As a result, the substrate interface portion of the resulting metal pattern becomes uneven, and there is a problem in that the high frequency characteristics deteriorate when used as an electrical wiring. Further, since the substrate is required to be processed to form the metal layer, there is a problem that a complicated process of processing the substrate with a strong acid such as chromic acid is necessary.
In order to provide a power supply layer by sputtering or vapor deposition, a large vacuum facility is required, which is not suitable for manufacturing a multilayer substrate.
When the full additive method or semi-additive method is used, the power supply layer is provided by electroless plating when forming the wiring (metal pattern), so the plating type remaining on the surface of the insulating film has an adverse effect on electromigration. There was a possibility of affecting.

配線基板の製造方法の一例としてダマシン法がある。ダマシン法は、基板に配線形成領域となる凹部又は貫通孔を形成し、この凹部又は貫通孔に配線材料となる導体金属をめっき等の方法で埋め込んだ後、配線以外の余剰の導体金属を除去することで配線を形成する方法である。
例えば、下記特許文献1に開示される配線基板の製造方法は、樹脂からなる基板に対して成形体を用いた押圧加工を行い配線を形成する領域に溝を形成した後、基板表面の全面に無電解銅めっき、蒸着、又はスパッタリングにより金属膜を形成し、その後、該金属膜をめっき給電層として電解めっきを施すことにより金属を析出させた後に、配線形成領域外部の基板表面に被着した金属を除去し、配線を形成する方法である。
しかしながら、上記のごとき方法において、基板表面に無電解めっき等によって形成された金属層(シード層)は基板との密着性に劣っていることから、微細配線を形成する際に配線が基板から脱落してしまうという問題があった。
特開2002−171048号公報
An example of a method for manufacturing a wiring board is a damascene method. In the damascene method, a concave portion or through hole that becomes a wiring formation region is formed in a substrate, and a conductive metal that becomes a wiring material is embedded in the concave portion or through hole by a method such as plating, and then excess conductive metal other than wiring is removed. In this way, the wiring is formed.
For example, in the method for manufacturing a wiring board disclosed in Patent Document 1 below, after forming a groove in a region where a wiring is to be formed by pressing a molded body against a resin substrate, the entire surface of the board is formed. A metal film was formed by electroless copper plating, vapor deposition, or sputtering, and then the metal film was deposited by electrolytic plating using the metal film as a plating power supply layer, and then deposited on the substrate surface outside the wiring formation region. In this method, the metal is removed to form a wiring.
However, in the method as described above, the metal layer (seed layer) formed on the substrate surface by electroless plating or the like is inferior in adhesion to the substrate, so that when the fine wiring is formed, the wiring is dropped from the substrate. There was a problem of doing.
JP 2002-171048 A

本発明は、前記従来における諸問題を考慮してなされたものであり、以下の目的を達成することを課題とする。
即ち、本発明は、ダマシン法を適用して、マイグレーションを抑止し、基板との密着性が高い配線を有し、且つ高周波特性に優れた配線基板を製造しうる配線基板の製造方法、及び該製造方法により得られた配線基板を提供することを目的とする。
また、本発明は、ダマシン法を適用して、マイグレーションを抑止し、基板との密着性が高い配線を有し、且つ高周波特性に優れた多層配線基板の製造方法、及び該製造方法により得られた多層配線基板を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above-described problems, and an object thereof is to achieve the following object.
That is, the present invention applies a damascene method, suppresses migration, has a wiring with high adhesion to the substrate, and can manufacture a wiring substrate having excellent high frequency characteristics, It aims at providing the wiring board obtained by the manufacturing method.
In addition, the present invention applies a damascene method, suppresses migration, has a wiring with high adhesion to the substrate, and has a high-frequency characteristic, and a method for manufacturing a multilayer wiring substrate, and the manufacturing method. An object of the present invention is to provide a multilayer wiring board.

本発明者等は、鋭意検討の結果、基板上に無電解めっき触媒又はその前駆体と相互作用する官能基を有するグラフトポリマーが直接化学結合したポリマー層を形成して、該ポリマー層に無電解めっきを行うことで、前記目的が達成されることを見出し、本発明を完成するに至った。即ち、前記課題を解決するための手段は以下の通りである。   As a result of intensive studies, the inventors have formed a polymer layer in which a graft polymer having a functional group that interacts with an electroless plating catalyst or a precursor thereof is directly chemically bonded to the substrate, and The inventors have found that the object can be achieved by plating, and have completed the present invention. That is, the means for solving the problems are as follows.

<1> (A)基板の一方の面又は両方の面に、配線形成領域となる凹部又は貫通孔を形成する工程と、
(B)前記基板上に、無電解めっき触媒又はその前駆体と相互作用する官能基を有し且つ基板表面と直接結合するポリマーからなるポリマー層を形成する工程と、
(C)前記ポリマー層上に、無電解めっき触媒又はその前駆体を付与する工程と、
(D)無電解めっきを行い金属層を形成する工程と、
(E)前記凹部又は貫通孔内のみに金属層が残存するように、基板上に存在する不要な金属層を除去して配線を形成する工程と、
を有することを特徴とする配線基板の製造方法。
<1> (A) a step of forming a recess or a through-hole serving as a wiring formation region on one surface or both surfaces of the substrate;
(B) forming a polymer layer made of a polymer having a functional group that interacts with an electroless plating catalyst or a precursor thereof and directly binding to the substrate surface on the substrate;
(C) providing the electroless plating catalyst or a precursor thereof on the polymer layer;
(D) forming a metal layer by performing electroless plating;
(E) forming a wiring by removing an unnecessary metal layer present on the substrate so that the metal layer remains only in the recess or the through hole;
A method of manufacturing a wiring board, comprising:

<2> 前記(D)工程の後に、(D’)前記金属層をシード層として電解めっきを行い電解めっき層を形成する工程を有することを特徴とする前記<1>に記載の配線基板の製造方法。   <2> After the step (D), (D ′) the step of forming an electrolytic plating layer by performing electrolytic plating using the metal layer as a seed layer. Production method.

<3> 前記(A)工程が、前記凹部又は貫通孔を形成するための凸部を備えた面を有する成形材を用い、前記成形材における凸部を備えた面と前記基板とを重ねて加圧することにより、前記基板に前記貫通孔又は凹部を転写形成する工程であることを特徴とする前記<1>又は<2>に記載の配線基板の製造方法。   <3> The step (A) uses a molding material having a surface having a convex portion for forming the concave portion or the through hole, and the surface having the convex portion in the molding material and the substrate are overlapped. The method for producing a wiring board according to <1> or <2>, wherein the process is a step of transferring and forming the through hole or the concave portion on the substrate by applying pressure.

<4> 前記(A)工程が、レーザー光照射により、前記基板に前記凹部又は貫通孔を形成する工程であることを特徴とする前記<1>又は<2>に記載の配線基板の製造方法。
<5> 前記(A)工程が、フォトレジストを用いたエッチングにより、前記基板に前記凹部又は貫通孔を形成する工程であることを特徴とする前記<1>又は<2>に記載の配線基板の製造方法。
<6> 前記(A)工程が、エンボス加工により、前記基板に前記凹部又は貫通孔を形成する工程であることを特徴とする前記<1>又は<2>に記載の配線基板の製造方法。
<7> 前記(A)工程が、金属マスクを用いたエッチングにより、前記基板に前記凹部又は貫通孔を形成する工程であることを特徴とする前記<1>又は<2>に記載の配線基板の製造方法。
<4> The method for manufacturing a wiring board according to <1> or <2>, wherein the step (A) is a step of forming the recess or the through hole in the substrate by laser light irradiation. .
<5> The wiring substrate according to <1> or <2>, wherein the step (A) is a step of forming the recess or the through hole in the substrate by etching using a photoresist. Manufacturing method.
<6> The method for manufacturing a wiring board according to <1> or <2>, wherein the step (A) is a step of forming the concave portion or the through hole in the substrate by embossing.
<7> The wiring substrate according to <1> or <2>, wherein the step (A) is a step of forming the concave portion or the through hole in the substrate by etching using a metal mask. Manufacturing method.

<8> 前記(E)工程における前記めっき金属の除去が、研磨処理により行われることを特徴とする前記<1>〜<7>のいずれか1項に記載の配線基板の製造方法。
<9> 前記(E)工程における前記めっき金属の除去が、エッチングにより行われることを特徴とする前記<1>〜<8>のいずれか1項に記載の配線基板の製造方法。
<8> The method for manufacturing a wiring board according to any one of <1> to <7>, wherein the removal of the plated metal in the step (E) is performed by a polishing process.
<9> The method for manufacturing a wiring board according to any one of <1> to <8>, wherein the removal of the plating metal in the step (E) is performed by etching.

<10> 前記(D)工程又は前記(D’)工程の後に、乾燥工程を行うことを特徴とする前記<1>乃至<9>のいずれか1項に記載の配線基板の製造方法。
<11> 前記(D)工程により形成される金属層が、ニッケル、パラジウム、モリブデン、又は、タングステンを含む金属層であることを特徴とす前記<1>〜<10>に記載の配線基板の製造方法。
<12> 前記(D’)工程により形成される電解めっき層が、ニッケル、コバルト、又は、クロムを含む電解めっき層であることを特徴とする前記<1>〜<11>のいずれか1項に記載の配線基板の製造方法。
<10> The method for manufacturing a wiring board according to any one of <1> to <9>, wherein a drying step is performed after the step (D) or the step (D ′).
<11> The wiring board according to <1> to <10>, wherein the metal layer formed by the step (D) is a metal layer containing nickel, palladium, molybdenum, or tungsten. Production method.
<12> The electroplating layer formed by the step (D ′) is an electroplating layer containing nickel, cobalt, or chromium. Any one of the above items <1> to <11> The manufacturing method of the wiring board as described in 2 ..

<13> 前記基板が、表面の凹凸が500nm以下の基板であることを特徴とする前記<1>〜<12>のいずれか1項に記載の配線基板の製造方法。
<14>
前記基板が、表面の凹凸が100nm以下の基板であることを特徴とする前記<1>〜<12>のいずれか1項に記載の配線基板の製造方法。
<13> The method for manufacturing a wiring board according to any one of <1> to <12>, wherein the substrate has a surface irregularity of 500 nm or less.
<14>
The method for manufacturing a wiring substrate according to any one of <1> to <12>, wherein the substrate is a substrate having a surface irregularity of 100 nm or less.

<15> 前記基板と前記金属層との密着性が0.2kN/m以上であることを特徴とする前記<1>〜<14>に記載の配線基板の製造方法。
<16> 前記基板が、1GHzにおける誘電正接が0.01以下である絶縁性樹脂からなる基板であることを特徴とする前記<1>〜<15>のいずれか1項に記載の配線基板の製造方法。
<17> 前記基板が、1GHzにおける誘電率が3.5以下である絶縁性樹脂からなる基板であることを特徴とする前記<1>〜<15>のいずれか1項に記載の配線基板の製造方法。
<15> The method for producing a wiring board according to <1> to <14>, wherein the adhesion between the substrate and the metal layer is 0.2 kN / m or more.
<16> The wiring board according to any one of <1> to <15>, wherein the board is a board made of an insulating resin having a dielectric loss tangent at 1 GHz of 0.01 or less. Production method.
<17> The wiring board according to any one of <1> to <15>, wherein the board is a board made of an insulating resin having a dielectric constant of 3.5 or less at 1 GHz. Production method.

<18> <1>〜<17>のいずれか1項に記載の配線基板の製造方法により得られたことを特徴とする配線基板。
<19> <18>に記載の配線基板を接着層を介して2以上積層してなることを特徴とする多層配線基板。
<18> A wiring board obtained by the method for manufacturing a wiring board according to any one of <1> to <17>.
<19> A multilayer wiring board, wherein two or more wiring boards according to <18> are laminated via an adhesive layer.

<20> (a)前記<18>に記載の配線基板の配線形成面に第1の絶縁体層を形成し、該第1の絶縁体層に配線形成領域となる凹部又は貫通孔を形成する工程と、
(b)前記絶縁体層上に、無電解めっき触媒又はその前駆体と相互作用する官能基を有し且つ基板表面と直接結合するポリマーからなるポリマー層を形成する工程と、
(c)前記ポリマー層上に、無電解めっき触媒又はその前駆体を付与する工程と、
(d)無電解めっきを行い金属層を形成する工程と、
(e)前記凹部又は貫通孔内のみに金属層が残存するように、絶縁体層上に存在する不要な金属層を除去して配線を形成する工程と、
を有することを特徴とする多層配線基板の製造方法。
<20> (a) A first insulator layer is formed on the wiring formation surface of the wiring board according to the above <18>, and a recess or a through-hole serving as a wiring formation region is formed in the first insulator layer. Process,
(B) forming on the insulator layer a polymer layer made of a polymer having a functional group that interacts with the electroless plating catalyst or a precursor thereof and directly bonding to the substrate surface;
(C) providing an electroless plating catalyst or a precursor thereof on the polymer layer;
(D) performing electroless plating to form a metal layer;
(E) forming a wiring by removing an unnecessary metal layer present on the insulator layer so that the metal layer remains only in the recess or the through hole;
A method for producing a multilayer wiring board, comprising:

<21> (a’)前記(e)工程の終了後における配線形成面に第2の絶縁体層を形成し、該第2の絶縁体層に配線形成領域となる凹部又は貫通孔を形成する工程を行った後、更に、前記(b)工程〜(e)工程を行うことを特徴とする前記<20>に記載の多層配線基板の製造方法。
<22> 前記<20>又は<21>のいずれか1項に記載の多層配線基板の製造方法により得られたことを特徴とする多層配線基板。
<21> (a ′) A second insulator layer is formed on the wiring formation surface after the end of the step (e), and a recess or a through hole serving as a wiring formation region is formed in the second insulator layer. The method for producing a multilayer wiring board according to <20>, wherein the steps (b) to (e) are further performed after performing the steps.
<22> A multilayer wiring board obtained by the method for manufacturing a multilayer wiring board according to any one of <20> or <21>.

本発明によれば、ダマシン法を適用して、マイグレーションを抑止し、基板との密着性が高い配線を有し、且つ高周波特性に優れた配線基板を製造しうる配線基板の製造方法、及び該製造方法により得られた配線基板を提供することができる。
また、本発明によれば、ダマシン法を適用して、マイグレーションを抑止し、基板との密着性が高い配線を有し、且つ高周波特性に優れた多層配線基板の製造方法、及び該製造方法により得られた多層配線基板を提供することができる。
According to the present invention, a damascene method is applied to suppress a migration, and a wiring board manufacturing method capable of manufacturing a wiring board having wiring with high adhesion to the board and excellent in high frequency characteristics, and A wiring board obtained by the manufacturing method can be provided.
In addition, according to the present invention, a damascene method is applied to suppress migration, have a wiring with high adhesion to the substrate, and have a high frequency characteristic. The obtained multilayer wiring board can be provided.

[配線基板の製造方法、及びそれにより得られた配線基板]
以下、本発明の配線基板の製造方法について詳細に説明する。
本発明の配線基板の製造方法は、(A)基板の一方の面又は両方の面に、配線形成領域となる凹部又は貫通孔を形成する工程と、(B)前記基板上に、基板表面と直接結合し且つ無電解めっき触媒又はその前駆体と相互作用する官能基を有するグラフトポリマーからなるポリマー層を形成する工程と、(C)前記ポリマー層上に、無電解めっき触媒又はその前駆体を付与する工程と、(D)無電解めっきを行い金属層を形成する工程と、(E)前記凹部又は貫通孔内のみに前記電解めっきにより析出しためっき金属が残存するように、基板上から当該めっき金属を除去して配線を形成する工程と、を有することを特徴とする。
[Wiring board manufacturing method and wiring board obtained thereby]
Hereafter, the manufacturing method of the wiring board of this invention is demonstrated in detail.
The method for manufacturing a wiring board according to the present invention includes (A) a step of forming a recess or a through hole serving as a wiring formation region on one or both surfaces of the substrate, and (B) a substrate surface on the substrate. Forming a polymer layer comprising a graft polymer having a functional group that directly binds and interacts with the electroless plating catalyst or a precursor thereof; and (C) an electroless plating catalyst or a precursor thereof on the polymer layer. A step of applying, (D) a step of forming a metal layer by performing electroless plating, and (E) the plating metal deposited by the electrolytic plating only in the recesses or through-holes from the substrate. And a step of forming a wiring by removing the plating metal.

本発明の配線基板の製造方法においては、前記(D)工程の後に、(D’)前記金属層をシード層として電解めっきを行う工程を有することが好ましい態様である。   In the method for manufacturing a wiring board according to the present invention, it is preferable that after the step (D), (D ′) a step of performing electrolytic plating using the metal layer as a seed layer.

また、本発明の配線基板の製造方法においては、マイグレーション抑止の観点から、前記(D)工程により形成される金属層が、ニッケル、パラジウム、モリブデン、又は、タングステンを含む金属層であることが好ましい態様である。
さらに、(D)工程後に実施しうる(D’)工程により形成される電解めっき層は、ニッケル、コバルト、又は、クロムを含む電解めっき層であることが好ましい態様である。
Moreover, in the manufacturing method of the wiring board of this invention, it is preferable from a viewpoint of migration suppression that the metal layer formed by the said (D) process is a metal layer containing nickel, palladium, molybdenum, or tungsten. It is an aspect.
Furthermore, it is a preferable aspect that the electrolytic plating layer formed by the step (D ′) that can be carried out after the step (D) is an electrolytic plating layer containing nickel, cobalt, or chromium.

本発明の配線基板は、本発明の配線基板の製造方法により得られた配線基板である。   The wiring board of this invention is a wiring board obtained by the manufacturing method of the wiring board of this invention.

本発明の製造方法は、先に述べたダマシン法を適用した配線基板の製造方法であり、前記(A)工程乃至(E)工程を実施することにより、基板との密着性が高い配線を有し、且つ高周波特性に優れた配線基板(本発明の配線基板)を製造することができる。また、ダマシン法を適用したことで、マイグレーションや漏れ電流の原因になる可能性のあるめっきシード層を削り落とすことができ、また、マイグレーション防止のバリア層を設けることもできることから、本発明の配線基板の製造方法により、マイグレーションが効果的に防止された配線間の絶縁信頼性の高い配線基板を得ることができる。
The manufacturing method of the present invention is a method of manufacturing a wiring board to which the damascene method described above is applied. By performing the steps (A) to (E), wiring having high adhesion to the board is provided. In addition, a wiring board (wiring board of the present invention) excellent in high-frequency characteristics can be manufactured. In addition, by applying the damascene method, it is possible to scrape off the plating seed layer that may cause migration and leakage current, and it is also possible to provide a migration-preventing barrier layer. By the substrate manufacturing method, it is possible to obtain a wiring substrate having high insulation reliability between wirings in which migration is effectively prevented.

また、本発明の配線基板の製造方法は、基板界面の凹凸が少ない場合であっても、基板との密着性に優れた配線をダマシン法を用いて形成することができる。
ここで用いられる基板の平滑性の目安としては、表面の凹凸が500nm以下の基板であることが挙げられる。即ち、本発明の配線基板の製造方法によれば、表面の凹凸が500nm以下である平滑な基板上に、基板との密着性が良好な配線、例えば、基板との密着性が0.2kN/m以上であるような配線を形成しうる。
In addition, according to the method for manufacturing a wiring board of the present invention, a wiring having excellent adhesion to the board can be formed using the damascene method even when the unevenness of the board interface is small.
An example of the smoothness of the substrate used here is a substrate having a surface irregularity of 500 nm or less. That is, according to the method for manufacturing a wiring board of the present invention, on a smooth substrate having a surface irregularity of 500 nm or less, wiring having good adhesion to the substrate, for example, adhesion to the substrate is 0.2 kN / A wiring having a length of m or more can be formed.

ここで、表面の凹凸が500nm以下の基板を用いて、その上にポリマー層を形成した場合、該ポリマー層の表面凹凸もまた500nm以下になる。このようなポリマー層に無電解めっき触媒又はその前駆体を付与し、無電解めっきを行うことにより、ポリマー層中にもめっき触媒、めっき金属が入り込んだ状態(コンポジット状態)が形成され、かつ、このポリマー層上にも金属層が形成された状態となる。   Here, when a polymer layer is formed on a substrate having surface irregularities of 500 nm or less, the surface irregularities of the polymer layer are also 500 nm or less. By applying an electroless plating catalyst or a precursor thereof to such a polymer layer and performing electroless plating, a state in which the plating catalyst and the plating metal enter the polymer layer (composite state) is formed, and The metal layer is also formed on the polymer layer.

かくして形成された金属層の基板界面部(金属と有機成分の界面)の粗さは、めっき触媒、めっき金属がポリマー層に入り込んだ分、ポリマー層表面の粗さに比較して若干は粗くなるが、その程度は低い。そのため、金属層におけるめっき及びめっき触媒層(無機成分)とポリマー層(有機成分)との界面における凹凸は、本発明により形成される配線の高周波特性が低下させない程度に押さえることができる。したがって、本発明により得られた配線基板における配線は、優れた高周波特性を示すものとなる。高周波特性とは、高周波送電時の伝送損失が低くなる特性であり、伝送損失の中でも特に導体損失が低くなる特性である。
ここで、基板表面の凹凸を小さくすると、金属パターンの基板界面部の粗さをより抑えることができ、得られる金属パターンの高周波特性が向上するため、本発明においては、表面の凹凸が100nm以下の基板を使用することが好ましい。
The roughness of the substrate interface portion (interface between metal and organic component) of the metal layer thus formed is slightly rough compared to the roughness of the polymer layer surface because the plating catalyst and the plating metal have entered the polymer layer. However, the degree is low. Therefore, plating on the metal layer and unevenness at the interface between the plating catalyst layer (inorganic component) and the polymer layer (organic component) can be suppressed to such an extent that the high-frequency characteristics of the wiring formed according to the present invention do not deteriorate. Therefore, the wiring in the wiring board obtained by the present invention exhibits excellent high frequency characteristics. The high-frequency characteristics are characteristics that reduce transmission loss during high-frequency power transmission, and are characteristics that particularly reduce conductor loss among transmission losses.
Here, if the unevenness of the substrate surface is reduced, the roughness of the substrate interface portion of the metal pattern can be further suppressed, and the high frequency characteristics of the resulting metal pattern are improved. Therefore, in the present invention, the unevenness of the surface is 100 nm or less. It is preferable to use the substrate.

本発明においては、この表面凹凸(表面粗さ)の目安として、JIS B0601におけるRz、即ち、「指定面における、最大から5番目までの山頂のZデータの平均値と、最小から5番目までの谷底の平均値の差」を用いている。   In the present invention, Rz in JIS B0601, as an indication of this surface irregularity (surface roughness), that is, “the average value of the Z data of the peak from the maximum to the fifth in the designated plane, and the minimum to the fifth “Difference in mean value of valley bottom” is used.

本発明の配線基板の製造方法において、配線形成領域となる凹部又は貫通孔を有する基板が表面グラフト処理(詳細は後述する。)されて、基板と直接結合したグラフトポリマーからなる表面グラフト層(ポリマー層)が形成されている。この表面グラフト層を構成するグラフトポリマーは、基板界面からの重合により形成されているため、その運動性が高く、無電解めっき触媒又はその前駆体と作用しやすい。また、その高い運動性により無電解めっき液が膜内部に浸透しやすく、無電解めっきが表面グラフト層内部や上部で進行する。その結果、形成された金属層の基板界面が、基板に直接結合しているグラフトポリマーとのハイブリッド状態になる。このため、金属層の基板界面の凹凸が最小限に留められ、且つ、前記ハイブリッド状態により、密着性に優れた金属層が形成できる。従って、このような金属層をシード層として、更に電解めっきを行って形成された配線は、配線形成領域となる凹部又は貫通孔における基板と強固に密着した状態を形成しうるものと考えられる。
以下、本発明の配線基板の製造方法における各工程について順次説明する。
In the method for producing a wiring board according to the present invention, a surface graft layer (polymer) comprising a graft polymer directly bonded to the substrate is subjected to surface graft treatment (details will be described later) on a substrate having a recess or a through-hole serving as a wiring formation region. Layer) is formed. Since the graft polymer constituting the surface graft layer is formed by polymerization from the substrate interface, its mobility is high and it is easy to act on the electroless plating catalyst or its precursor. In addition, due to its high mobility, the electroless plating solution easily penetrates into the film, and the electroless plating proceeds inside or on the surface graft layer. As a result, the substrate interface of the formed metal layer is in a hybrid state with the graft polymer directly bonded to the substrate. For this reason, the unevenness | corrugation of the board | substrate interface of a metal layer is restrained to the minimum, and the metal layer excellent in adhesiveness can be formed according to the said hybrid state. Therefore, it is considered that a wiring formed by further performing electroplating using such a metal layer as a seed layer can form a state in which the wiring layer is in close contact with the substrate in the recess or the through hole.
Hereafter, each process in the manufacturing method of the wiring board of this invention is demonstrated one by one.

<(A)基板の一方の面又は両方の面に、配線形成領域となる凹部又は貫通孔を形成する工程>
本工程では、基板の一方の面又は両方の面に、配線形成領域となる凹部又は貫通孔を形成する。本工程において形成する配線形成領域には、凹部及び貫通孔のいずれか一方が形成されていてもよいし、凹部及び貫通孔の双方が形成されていてもよい。
<(A) Step of forming a recess or a through-hole serving as a wiring formation region on one surface or both surfaces of the substrate>
In this step, a concave portion or a through hole serving as a wiring formation region is formed on one surface or both surfaces of the substrate. In the wiring formation region formed in this step, either one of the recess and the through hole may be formed, or both the recess and the through hole may be formed.

本工程において形成される凹部(溝)としては、幅は1μm〜100μm程度であることが好ましく、また、深さは5μm〜200μmであることが好ましい。凹部の深さは、形成される配線の厚みに応じて適宜設定することができ、後述する(E)工程における不要な金属層の除去態様を考慮して、凹部の深さを形成される配線の厚みと同一としてもよいし、凹部の深さを形成される配線の厚みよりも1μm〜2μm深くすることもできる。
本工程において形成される貫通孔としては、幅が5μm〜100μmの範囲であることが好ましい。
As a recessed part (groove) formed in this step, the width is preferably about 1 μm to 100 μm, and the depth is preferably 5 μm to 200 μm. The depth of the concave portion can be appropriately set according to the thickness of the wiring to be formed, and the wiring in which the depth of the concave portion is formed in consideration of the removal mode of the unnecessary metal layer in the step (E) described later. The depth of the recess may be 1 μm to 2 μm deeper than the thickness of the wiring to be formed.
The through holes formed in this step preferably have a width in the range of 5 μm to 100 μm.

本工程における凹部又は貫通孔の形成態様としては、ダマシン法に適用しうるものであれば特に限定されてないが、例えば、以下の(1)〜(5)の各形成態様が挙げられる。   Although the formation aspect of the recessed part or through-hole in this process is not specifically limited if it can apply to a damascene method, For example, each formation aspect of the following (1)-(5) is mentioned.

−形成態様(1)−
形成態様(1)は、凹部又は貫通孔を形成するための凸部を備えた面を有する成形材を用い、成形材における凸部を備えた面と基板とを重ねて加圧することにより、基板に通孔又は凹部を転写形成する態様である。
-Formation mode (1)-
Forming mode (1) uses a molding material having a surface provided with a convex part for forming a recess or a through hole, and presses the surface of the molding material provided with the convex part and the substrate, and pressurizes the substrate. In this embodiment, a through hole or a recess is transferred and formed.

形成態様(1)において用いられる成形材としては、硬度が高く、耐磨耗性のある材料を用いることが望ましく、例えば、ニッケル、銅等の金属板の材料の他、所定の硬度、耐久性を備えた樹脂材料、セラミック材料等を使用することができる。成形材は、基板に凹部又は貫通孔を形成するための凸部を備える。該凸部は、例えば、フォトリソグラフィー法等の公知の方法により、基板上に形成する凹部又は貫通孔の形状に合わせて形成することができる。   As the molding material used in the formation mode (1), it is desirable to use a material having high hardness and wear resistance. For example, in addition to a material of a metal plate such as nickel or copper, a predetermined hardness and durability are used. A resin material, a ceramic material, etc. provided with A molding material is provided with the convex part for forming a recessed part or a through-hole in a board | substrate. The convex portion can be formed according to the shape of the concave portion or the through hole formed on the substrate by a known method such as a photolithography method.

図1は、形成態様(1)に用いられる成形材の一例を示す図である。図1に示すように、成形材10は、基板に凹部を形成するための凸部12a及び貫通孔を形成するための凸部12bを備えた面を有して構成される。
成形材10は、凸部12a及び凸部12bの双方を備えるが、例えば、基板に凹部のみを形成するのであれば、凸部12aのみを備えればよい。
FIG. 1 is a diagram illustrating an example of a molding material used in the formation mode (1). As shown in FIG. 1, the molding material 10 is configured to have a surface provided with a convex portion 12a for forming a concave portion on the substrate and a convex portion 12b for forming a through hole.
Although the molding material 10 is provided with both the convex part 12a and the convex part 12b, if only a recessed part is formed in a board | substrate, for example, what is necessary is just to provide only the convex part 12a.

なお、(A)工程として、形成態様(1)を適用した本発明の製造方法の具体的な実施形態の例について、本発明の配線基板の製造方法に係る各工程を説明した後に詳述する。   As the step (A), an example of a specific embodiment of the manufacturing method of the present invention to which the formation mode (1) is applied will be described in detail after each step related to the manufacturing method of the wiring board of the present invention is described. .

−形成態様(2)−
形成態様(2)は、レーザー光照射により、基板に凹部又は貫通孔を形成する態様である。形成態様(2)に用いうるレーザーとしては、例えば、YAGレーザ−、エキシマレーザー、COレーザー、等を用いることができる。
-Formation mode (2)-
Formation mode (2) is a mode in which a recess or a through hole is formed in the substrate by laser light irradiation. As a laser that can be used in the formation mode (2), for example, a YAG laser, an excimer laser, a CO 2 laser, or the like can be used.

形成態様(2)による凹部又は貫通孔の形成については、例えば、国際公開第04/103039号パンフレット、特開2006−179822号、特開2006−165242 特開2004−146742号、特開平10−256705号、特開2004−31710号等の各公報に記載される内容を適用することができる。   Regarding the formation of the recess or the through-hole according to the formation mode (2), for example, WO 04/103039 pamphlet, JP-A 2006-179822, JP-A 2006-165242, JP-A 2004-146742, JP-A 10-256705. And the contents described in each publication such as JP 2004-31710 A can be applied.

−形成態様(3)−
形成態様(3)は、フォトレジストを用いたエッチングにより、基板に凹部又は貫通孔を形成する態様である。形成態様(3)による凹部又は貫通孔の形成については、例えば、特開平6−125160号、特開2005−72166号等の各公報に記載される内容を適用することができる。
-Formation mode (3)-
In the formation mode (3), a recess or a through hole is formed in the substrate by etching using a photoresist. For the formation of the recess or the through hole according to the formation mode (3), for example, the contents described in JP-A-6-125160, JP-A-2005-72166, and the like can be applied.

−形成態様(4)−
形成態様(4)はエンボス加工により、基板に前記凹部又は貫通孔を形成する態様である。本態様による凹部又は貫通孔の形成については、例えば、特開2006−147701号、特開2005−286295号等の各公報に記載される内容を適用することができる。
-Formation mode (4)-
Forming mode (4) is a mode in which the concave portion or the through hole is formed in the substrate by embossing. For the formation of the recess or the through-hole according to this aspect, for example, the contents described in JP-A-2006-147701, JP-A-2005-286295, and the like can be applied.

−形成態様(5)−
形成態様(5)は、金属マスクを用いたエッチングにより、基板に凹部又は貫通孔を形成する態様である。即ち、この形成態様は、凹部又は貫通孔を形成するためのネガティブマスクとなる金属パターンをアディティブ法又はセミアディティブ法により形成し、これを金属マスクとして用いて基板に対しエッチングを行うことで、基板に凹部又は貫通孔を形成する態様である。金属マスクは凹部又は貫通孔の形成後に、例えば、CMP法により除去する。また、金属マスクは、(A)工程により形成された凹部又は貫通孔内部に、後述の(B)工程〜(D)工程により金属層を形成した後、(E)工程において不要な金属層が除去される際に除去してもよい。
-Formation mode (5)-
Formation mode (5) is a mode in which a recess or a through hole is formed in the substrate by etching using a metal mask. That is, in this formation mode, a metal pattern serving as a negative mask for forming a recess or a through hole is formed by an additive method or a semi-additive method, and this is used as a metal mask to perform etching on the substrate. It is the aspect which forms a recessed part or a through-hole in this. The metal mask is removed by, for example, CMP after the formation of the recesses or through holes. Moreover, after forming a metal layer by the below-mentioned (B) process-(D) process in the recessed part or through-hole formed by the (A) process, a metal mask has an unnecessary metal layer in (E) process. It may be removed when removed.

形成態様(5)は、基板として、ポリイミド樹脂のような化学的安定性に優れた樹脂からなる樹脂基板を用いる場合に特に好適である。   Form (5) is particularly suitable when a resin substrate made of a resin having excellent chemical stability such as a polyimide resin is used as the substrate.

形成態様(5)に適用しうるエッチング方法としては、湿式エッチング方法及び乾式エッチング方法のいずれの方法を用いてもよい。湿式エッチング方法としては、例えば、特開平10−195214号、特開平10−97081号、特開2006−310401号、特開2003−234558号、特開平6−209030号、等の各公報に記載される湿式エッチングに関する事項を適用してもよい。乾式エッチング方法としては、例えば、ガスエッチング、プラズマエッチング、反応性イオンエッチング(RIE)、等が挙げられ、例えば、国際公開第WO01/036181号パンフレット、等に記載される乾式エッチングに関する事項を適用してもよい。   As an etching method applicable to the formation mode (5), either a wet etching method or a dry etching method may be used. Examples of the wet etching method are described in JP-A-10-195214, JP-A-10-97081, JP-A-2006-310401, JP-A-2003-234558, JP-A-6-209030, and the like. Matters relating to wet etching may be applied. Examples of the dry etching method include gas etching, plasma etching, reactive ion etching (RIE), and the like. For example, the items related to dry etching described in International Publication No. WO01 / 036181 pamphlet are applied. May be.

形成態様(5)における金属マスクは、後述する(B)工程〜(D)工程に詳述される金属膜の形成態様を適用して形成することもできる。   The metal mask in the formation mode (5) can also be formed by applying the metal film formation mode described in detail in steps (B) to (D) described later.

なお、(A)工程として、形成態様(5)を適用した本発明の製造方法の具体的な実施形態の例について、本発明の配線基板の製造方法に係る各工程を説明した後に詳述する。   Note that, as the step (A), an example of a specific embodiment of the manufacturing method of the present invention to which the formation mode (5) is applied will be described in detail after describing each step related to the manufacturing method of the wiring board of the present invention. .

なお、凹部又は貫通孔を形成した後の基板上に有機層を形成して、基板表面を平滑化してもよい。該有機層としては、例えば、基板によく用いられるポリイミド樹脂、エポキシ樹脂、アクリル樹脂などを用いることができ、ポリイミド樹脂がより好ましい。   The substrate surface may be smoothed by forming an organic layer on the substrate after forming the recesses or through holes. As the organic layer, for example, a polyimide resin, an epoxy resin, an acrylic resin, or the like often used for a substrate can be used, and a polyimide resin is more preferable.

〔基板〕
本工程において、凹部及び貫通孔の形成対象となる基板について詳述する。
基板としては、例えば、ガラス基板や樹脂基板などが例示される。また、基板として、樹脂材料に無機充填材等を配合した複合板や、ガラス等の無機質繊維、又はポリエステル、ポリアミド、木綿等の有機質繊維からなるクロス、ペーパー(紙)等の基材を樹脂で接着した、基板、シートあるいはフィルム(可撓性基板)等も好適に使用される。
〔substrate〕
In this step, the substrate on which the recesses and through holes are to be formed will be described in detail.
Examples of the substrate include a glass substrate and a resin substrate. In addition, as a substrate, a composite plate in which an inorganic filler or the like is mixed with a resin material, inorganic fibers such as glass, or cloth made of organic fibers such as polyester, polyamide, and cotton, or a base material such as paper (paper) is made of resin. Adhered substrates, sheets or films (flexible substrates) are also preferably used.

本発明において、基板として特に好適には樹脂基板が用いられる。樹脂基板の種類は特に限定されるものではなく、例えば、エポキシ樹脂系基板、フェノール樹脂系フィルム、ポリイミド樹脂系基板、不飽和ポリエステル樹脂系基板、ポリエステル樹脂系基板、ポリフェニレンエーテル樹脂系基板、ポリフェニレンサルファー樹脂系基板、ポリアミド樹脂系基板、シアナートエステル樹脂系基板、ベンゾシクロブテン系基板、液晶ポリマーフィルムなどが好適に用いられる。また、これらの中でも、寸法安定性、耐熱性、電気絶縁性等の観点から、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、又は液晶樹脂を含有する基板であることが好ましい。   In the present invention, a resin substrate is particularly preferably used as the substrate. The type of resin substrate is not particularly limited. For example, epoxy resin substrate, phenol resin film, polyimide resin substrate, unsaturated polyester resin substrate, polyester resin substrate, polyphenylene ether resin substrate, polyphenylene sulfide Resin substrates, polyamide resin substrates, cyanate ester resin substrates, benzocyclobutene substrates, liquid crystal polymer films, and the like are preferably used. Moreover, among these, it is preferable that it is a board | substrate containing an epoxy resin, a polyimide resin, or a liquid crystal resin from viewpoints, such as dimensional stability, heat resistance, and electrical insulation.

本発明において用いうる絶縁性樹脂からなる基板についてより詳細に説明する。
絶縁性樹脂からなる基板を形成するための絶縁樹脂としては、ポリフェニレンエーテル又は変性ポリフェニレンエーテル、シアネートエステル化合物、エポキシ化合物などの樹脂が挙げられ、これらの樹脂の1種以上を含む熱硬化性樹脂組成物により形成される基板が好ましく用いられる。これらの樹脂を2種以上組み合わせて樹脂組成物とする場合の好ましい組み合わせとしては、ポリフェニレンエーテル又は変性ポリフェニレンエーテルとシアネートエステル化合物、ポリフェニレンエーテル又は変性ポリフェニレンエーテルとエポキシ化合物、ポリフェニレンエーテル又は変性ポリフェニレンエーテルとシアネートエステル化合物とエポキシ化合物などの組み合わせが挙げられる。
The substrate made of an insulating resin that can be used in the present invention will be described in more detail.
Examples of the insulating resin for forming a substrate made of an insulating resin include resins such as polyphenylene ether or modified polyphenylene ether, cyanate ester compounds, and epoxy compounds, and a thermosetting resin composition containing at least one of these resins. A substrate formed of a material is preferably used. Preferred combinations when two or more of these resins are combined to form a resin composition include polyphenylene ether or modified polyphenylene ether and cyanate ester compound, polyphenylene ether or modified polyphenylene ether and epoxy compound, polyphenylene ether or modified polyphenylene ether and cyanate. Examples include combinations of ester compounds and epoxy compounds.

このような熱硬化性樹脂組成物により多層プリント配線板の基板を形成する場合には、シリカ、タルク、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウムからなる群より選ばれる無機充填剤を含まないことが好ましく、また、臭素化合物又はリン化合物を更に含む熱硬化性樹脂組成物であることが好ましい   When forming a substrate of a multilayer printed wiring board with such a thermosetting resin composition, it is preferable not to include an inorganic filler selected from the group consisting of silica, talc, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, Moreover, it is preferable that it is a thermosetting resin composition which further contains a bromine compound or a phosphorus compound.

また、その他の絶縁樹脂としては、1,2−ビス(ビニルフェニレン)エタン樹脂、若しくはこれとポリフェニレンエーテル樹脂との変性樹脂が挙げられ、このような樹脂については、例えば、天羽悟ら著、「Journal of Applied Polymer Science」第92巻、p1252−1258(2004年)に詳細に記載されている。
更に、クラレ製のベクスターなどの名称で市販品としても入手可能な液晶性ポリマーやポリ4フッ化エチレン(PTFE)に代表されるフッ素樹脂なども好ましく挙げられる。
Examples of other insulating resins include 1,2-bis (vinylphenylene) ethane resin or modified resins of this and polyphenylene ether resins. For example, Satoru Amaha et al., “Journal” of Applied Polymer Science, Vol. 92, p1252-1258 (2004).
Furthermore, a liquid crystalline polymer that can be obtained as a commercial product under the name of Kuraray Bexter or a fluororesin typified by polytetrafluoroethylene (PTFE) is also preferred.

これらの樹脂のうち、フッ素樹脂(PTFE)は高分子材料の中でもっとも高周波特性に優れる。ただし、Tgが低い熱可塑性樹脂であるために熱に対する寸法安定性に乏しく、機械的強度なども熱硬化性樹脂材料に比べて劣る。また、形成性や加工性にも劣るという問題がある。また、ポリフェニレンエーテル(PPE)などの熱可塑性樹脂は熱硬化性樹脂などとのアロイ化を行なって用いることもできる。例えば、PPEとエポキシ樹脂、トリアリルイソシアネートとのアロイ化樹脂、或いは重合性官能基を導入したPPE樹脂とそのほかの熱硬化性樹脂とのアロイ化樹脂としても使用することができる。
エポキシ樹脂はそのままでは誘電特性が不十分であるが、かさ高い骨格の導入などで改善が図られており、このようにそれぞれの樹脂の特性を生かし、その欠点を補うような構造の導入、変性などを行った樹脂が好ましく用いられる。
例えば、シアネートエステルは熱硬化性の中ではもっとも誘電特性の優れる樹脂であるが、それ単独で使用されることは少なく、エポキシ樹脂、マレイミド樹脂、熱可塑性樹脂などの変性樹脂として使用される。これらの詳細に関しては、「電子技術」、2002年第9号、p35に記載されており、これらの記載もまた、このような絶縁樹脂を選択する上で参照することができる。
Of these resins, fluororesin (PTFE) is most excellent in high frequency characteristics among polymer materials. However, since it is a thermoplastic resin having a low Tg, the dimensional stability against heat is poor, and the mechanical strength is inferior to that of the thermosetting resin material. There is also a problem that the formability and workability are poor. A thermoplastic resin such as polyphenylene ether (PPE) can also be used after being alloyed with a thermosetting resin. For example, it can be used as an alloyed resin of PPE and epoxy resin, triallyl isocyanate, or an alloyed resin of PPE resin introduced with a polymerizable functional group and other thermosetting resins.
Epoxy resins have insufficient dielectric properties as they are, but improvements have been made by the introduction of bulky skeletons. In this way, the introduction and modification of structures that make use of the properties of each resin to compensate for its drawbacks. The resin which performed etc. is used preferably.
For example, cyanate ester is a resin having the most excellent dielectric properties among thermosetting, but is rarely used alone, and is used as a modified resin such as an epoxy resin, a maleimide resin, and a thermoplastic resin. These details are described in “Electronic Technology”, No. 9, 2002, p35, and these descriptions can also be referred to in selecting such an insulating resin.

本発明で得られる配線基板においては、大容量データを高速に処理するという観点で、信号の遅延と減衰とを抑制するためには、基板の誘電率及び誘電正接をそれぞれ低くすることが有効である。低誘電正接材料の採用については、「エレクトロニクス実装学会誌」第7巻、第5号、P397(2004年)に詳細に記載されているとおりであり、特に低誘電正接特性を有する絶縁材料を採用することが高速化の観点から好ましい。具体的には、基板は、1GHzにおける誘電率(比誘電率)が3.5以下である絶縁性樹脂からなることが好ましく、且つ、1GHzにおける誘電正接が0.01以下である絶縁性樹脂からなることが更に好ましい。絶縁樹脂の誘電率、誘電正接は、常法、例えば、「第18回エレクトロニクス実装学会学術講演大会要旨集」、2004年、p189、に記載の方法に基づき、空洞共振器摂動法を利用した測定器(極薄シート用εr、tanδ測定器・システム、キーコム株式会社製)を用いて測定することができる。   In the wiring board obtained by the present invention, from the viewpoint of processing a large amount of data at high speed, it is effective to reduce the dielectric constant and dielectric loss tangent of the board in order to suppress signal delay and attenuation. is there. The use of low dielectric loss tangent material is as described in detail in "Journal of Electronics Packaging Society" Vol. 7, No. 5, P397 (2004), and in particular, an insulating material having low dielectric loss tangent characteristics is adopted. It is preferable to increase the speed. Specifically, the substrate is preferably made of an insulating resin whose dielectric constant (relative dielectric constant) at 1 GHz is 3.5 or less, and from an insulating resin whose dielectric loss tangent at 1 GHz is 0.01 or less. More preferably. The dielectric constant and dielectric loss tangent of the insulating resin are measured using a cavity resonator perturbation method based on a conventional method, for example, the method described in “18th Annual Meeting of the Electronics Packaging Society”, p189. It can be measured using a device (εr for ultra-thin sheet, tan δ measuring device / system, manufactured by Keycom Corporation).

このように、本発明においては誘電率や誘電正接の観点から絶縁樹脂材料を選択することも有用である。誘電率が3.5以下であり、誘電正接が0.01以下の絶縁樹脂としては、液晶ポリマー、ポリイミド樹脂、フッ素樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、シアネートエステル樹脂、ビス(ビスフェニレン)エタン樹脂などが挙げられ、更にそれらの変性樹脂も含まれる。   Thus, in the present invention, it is also useful to select an insulating resin material from the viewpoint of dielectric constant and dielectric loss tangent. Examples of the insulating resin having a dielectric constant of 3.5 or less and a dielectric loss tangent of 0.01 or less include a liquid crystal polymer, a polyimide resin, a fluororesin, a polyphenylene ether resin, a cyanate ester resin, and a bis (bisphenylene) ethane resin. In addition, these modified resins are also included.

[基板表面或いは中間層]
本発明における基板は、グラフトポリマーが化学的に直接結合できるような表面を有するものである。本発明においては、基板の表面自体がこのような特性を有していてもよく、このような特性を有する中間層を基板表面に設けてもよい。
[Substrate surface or intermediate layer]
The substrate in the present invention has a surface to which the graft polymer can be directly chemically bonded. In the present invention, the substrate surface itself may have such characteristics, and an intermediate layer having such characteristics may be provided on the substrate surface.

中間層としては、特に、光グラフト重合法、プラズマ照射グラフト重合法、放射線照射グラフト重合法によりグラフトポリマーを合成する場合には、有機表面を有する層であることが好ましく、特に有機ポリマーの層であることが好ましい。また、有機ポリマーとしてはエポキシ樹脂、アクリル樹脂、ウレタン樹脂、フェノール樹脂、スチレン系樹脂、ビニル系樹脂、ポリエステル樹脂、ポリアミド系樹脂、メラミン系樹脂、フォルマリン樹脂などの合成樹脂、ゼラチン、カゼイン、セルロース、デンプンなどの天然樹脂のいずれも使用することができる。光グラフト重合法、プラズマ照射グラフト重合法、放射線照射グラフト重合法などではグラフト重合の開始が有機ポリマーの水素の引き抜きから進行するため、水素が引き抜かれやすいポリマー、特に、アクリル樹脂、ウレタン樹脂、スチレン系樹脂、ビニル系樹脂、ポリエステル樹脂、ポリアミド系樹脂、エポキシ樹脂などを使用することが、特に製造適性の点で好ましい。   As the intermediate layer, in particular, when a graft polymer is synthesized by a photograft polymerization method, a plasma irradiation graft polymerization method, or a radiation irradiation graft polymerization method, a layer having an organic surface is preferable. Preferably there is. Organic polymers include epoxy resins, acrylic resins, urethane resins, phenol resins, styrene resins, vinyl resins, polyester resins, polyamide resins, melamine resins, formalin resins and other synthetic resins, gelatin, casein, and cellulose. Any natural resin such as starch can be used. In the photograft polymerization method, plasma irradiation graft polymerization method, radiation irradiation graft polymerization method, etc., since the start of graft polymerization proceeds from the extraction of hydrogen of the organic polymer, polymers that are easy to extract hydrogen, especially acrylic resin, urethane resin, styrene It is particularly preferable from the viewpoint of production suitability to use a resin, vinyl resin, polyester resin, polyamide resin, epoxy resin or the like.

[重合開始能を発現する層]
本発明においては、グラフト重合の際に活性点を効率よく発生させるという観点から、基板表面に設けられる中間層としては、エネルギーを付与することにより重合開始能を発現する化合物を含有する層(重合開始能を発現する層)であることが好ましい。
重合開始能を発現する層としては、重合性化合物及び重合開始剤を含有する重合性層と、側鎖に重合開始能を有する官能基及び架橋性基を有するポリマー(以下、適宜「特定重合開始ポリマー}と称する。)を架橋反応により固定化してなる重合開始層と、の2つの態様が挙げられる。この2つの態様の重合開始能を発現する層について順次説明する。
[Layer that exhibits polymerization initiation ability]
In the present invention, from the viewpoint of efficiently generating active sites during graft polymerization, the intermediate layer provided on the substrate surface is a layer containing a compound that exhibits polymerization initiation ability by applying energy (polymerization). It is preferable that it is a layer which expresses initiating ability).
The layer expressing the polymerization initiating ability includes a polymerizable layer containing a polymerizable compound and a polymerization initiator, and a polymer having a functional group having a polymerization initiating ability and a crosslinkable group in the side chain (hereinafter referred to as “specific polymerization initiation” as appropriate. The polymerization initiation layer is obtained by immobilizing the polymer by the crosslinking reaction, and the layers exhibiting the polymerization initiation ability of these two embodiments will be sequentially described.

(重合性化合物及び重合開始剤を含有する重合性層)
重合性化合物及び重合開始剤を含有する重合性層(以下、適宜「重合性層」と称する。)は、重合性化合物及び重合開始剤等の必要な成分を、それらを溶解可能な溶媒に溶解し、塗布などの方法で基板表面上に設け、加熱又は光照射により硬膜し、形成することができる。
(Polymerizable layer containing a polymerizable compound and a polymerization initiator)
A polymerizable layer containing a polymerizable compound and a polymerization initiator (hereinafter referred to as “polymerizable layer” as appropriate) dissolves necessary components such as a polymerizable compound and a polymerization initiator in a solvent capable of dissolving them. Then, it can be formed on the substrate surface by a method such as coating, and hardened by heating or light irradiation.

(a)重合性化合物
重合性層に用いられる重合性化合物は、基板との密着性が良好であり、且つ、活性光線照射などのエネルギー付与により、親水性基を有するモノマーやポリマーが付加し得るものであれば特に制限はないが、中でも、分子内に重合性基を有する疎水性ポリマーが好ましい。
(A) Polymerizable compound The polymerizable compound used in the polymerizable layer has good adhesion to the substrate, and a monomer or polymer having a hydrophilic group can be added by applying energy such as actinic ray irradiation. Although there will be no restriction | limiting in particular if it is a thing, Among these, the hydrophobic polymer which has a polymeric group in a molecule | numerator is preferable.

このような疎水性ポリマーとしては、具体的には、ポリブタジエン、ポリイソプレン、ポリぺンタジエンなどのジエン系単独重合体、アリル(メタ)アクリレー卜、2−アリルオキシエチルメタクリレー卜などのアリル基含有モノマーの単独重合体;
更には、前記のポリブタジエン、ポリイソプレン、ポリペンタジエンなどのジエン系単量体又はアリル基含有モノマーを構成単位として含む、スチレン、(メタ)アクリル酸エステル、(メタ)アクリロニトリルなどとの二元又は多元共重合体;
不飽和ポリエステル、不飽和ポリエポキシド、不飽和ポリアミド、不飽和ポリアクリル、高密度ポリエチレンなどの分子中に炭素−炭素二重結合を有する線状高分子又は3次元高分子類;などが挙げられる。
Specific examples of such hydrophobic polymers include diene homopolymers such as polybutadiene, polyisoprene, and polypentadiene, and allyl groups such as allyl (meth) acrylates and 2-allyloxyethyl methacrylates. Monomer homopolymer;
Furthermore, binary or multicomponent with styrene, (meth) acrylic acid ester, (meth) acrylonitrile, etc. containing diene monomer such as polybutadiene, polyisoprene, polypentadiene or allyl group-containing monomer as a constituent unit. Copolymer;
And linear polymers or three-dimensional polymers having a carbon-carbon double bond in the molecule such as unsaturated polyester, unsaturated polyepoxide, unsaturated polyamide, unsaturated polyacryl, and high-density polyethylene.

なお、本明細書では、「アクリル、メタクリル」の双方或いはいずれかを指す場合、「(メタ)アクリル」と表記することがある。   In this specification, when referring to both or one of “acrylic and methacrylic”, it may be expressed as “(meth) acrylic”.

重合性化合物の含有量は、重合性層中、固形分で0〜100質量%の範囲が好ましく、10〜80質量%の範囲が特に好ましい。   The content of the polymerizable compound is preferably in the range of 0 to 100% by mass and particularly preferably in the range of 10 to 80% by mass in terms of solid content in the polymerizable layer.

(b)重合開始剤
重合性層には、エネルギー付与により重合開始能を発現させるための重合開始剤を含有することが好ましい。ここで用いられる重合開始剤は、所定のエネルギー、例えば、活性光線の照射、加熱、電子線の照射などにより、重合開始能を発現し得る公知の熱重合開始剤、光重合開始剤などを目的に応じて、適宜選択して用いることができる。中でも、熱重合よりも反応速度(重合速度)が高い光重合を利用することが製造適性の観点から好適であり、このため、光重合開始剤を用いることが好ましい。
(B) Polymerization initiator The polymerizable layer preferably contains a polymerization initiator for expressing the polymerization initiating ability by applying energy. The polymerization initiator used here is a known thermal polymerization initiator, photopolymerization initiator, or the like that can exhibit polymerization initiating ability by predetermined energy, for example, irradiation with actinic rays, heating, irradiation with electron beam, etc. Can be selected and used as appropriate. Among these, use of photopolymerization having a higher reaction rate (polymerization rate) than thermal polymerization is preferable from the viewpoint of production suitability, and therefore, a photopolymerization initiator is preferably used.

光重合開始剤は、照射される活性光線に対して活性であり、重合性層に含まれる重合性化合物と、親水性基を有するモノマーやポリマーと、を重合させることが可能なものであれば、特に制限はなく、例えば、ラジカル重合開始剤、アニオン重合開始剤、カチオン重合開始剤などを用いることができる。   The photopolymerization initiator is active with respect to the actinic ray to be irradiated, and is capable of polymerizing a polymerizable compound contained in the polymerizable layer and a monomer or polymer having a hydrophilic group. There is no particular limitation, and for example, a radical polymerization initiator, an anionic polymerization initiator, a cationic polymerization initiator and the like can be used.

そのような光重合開始剤としては、具体的には、例えば、p−tert−ブチルトリクロロアセトフェノン、2,2’−ジエトキシアセトフェノン、2−ヒドロキシ−2−メチル−1−フェニルプロパン−1−オンの如きアセトフェノン類;ベンゾフェノン(4,4’−ビスジメチルアミノベンゾフェノン、2−クロロチオキサントン、2−メチルチオキサントン、2−エチルチオキサントン、2−イソプロピルチオキサントン、の如きケトン類;ベンゾイン、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインイソプロピルエーテル、ベンゾインイソブチルエーテルの如きベンゾインエーテル類;ベンジルジメチルケタール、ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトンの如きベンジルケタール類、などが挙げられる。   Specific examples of such a photopolymerization initiator include p-tert-butyltrichloroacetophenone, 2,2′-diethoxyacetophenone, 2-hydroxy-2-methyl-1-phenylpropan-1-one. Acetophenones such as: benzophenone (4,4′-bisdimethylaminobenzophenone, 2-chlorothioxanthone, 2-methylthioxanthone, 2-ethylthioxanthone, 2-isopropylthioxanthone, ketones; benzoin, benzoin methyl ether, benzoin isopropyl Examples thereof include benzoin ethers such as ether and benzoin isobutyl ether; benzyl ketals such as benzyl dimethyl ketal and hydroxycyclohexyl phenyl ketone, and the like.

重合開始剤の含有量は、重合性層中、固形分で0.1〜70質量%の範囲が好ましく、1〜40質量%の範囲が特に好ましい。   The content of the polymerization initiator in the polymerizable layer is preferably in the range of 0.1 to 70% by mass and particularly preferably in the range of 1 to 40% by mass in terms of solid content.

重合性層に好適に含有しうる重合開始剤としては、以下に示す光カチオン重合開始剤又は光ラジカル重合開始剤も挙げられる。   Examples of the polymerization initiator that can be suitably contained in the polymerizable layer include the following photocationic polymerization initiators and photoradical polymerization initiators.

−光カチオン重合開始剤−
光カチオン重合開始剤とは、活性光線又は放射線の照射により酸を発生してカチオン重合を開始する化合物をいい、公知の化合物及びそれらの混合物を適宜に選択して使用することができる。
-Photocationic polymerization initiator-
A photocationic polymerization initiator refers to a compound that generates an acid upon irradiation with actinic rays or radiation to initiate cationic polymerization, and publicly known compounds and mixtures thereof can be appropriately selected and used.

光カチオン重合開始剤としては、以下に挙げるものを1種単独で又は2種以上を組み合わせて使用することができる。この場合における光カチオン重合開始剤の含有量としては、酸の発生量、硬化性等の観点から、重合性層中、固形分で、0.1〜20質量%が好ましく、0.5〜10質量%の範囲であることがより好ましい。   As the cationic photopolymerization initiator, those listed below can be used singly or in combination of two or more. In this case, the content of the photocationic polymerization initiator is preferably 0.1 to 20% by mass in terms of solid content in the polymerizable layer from the viewpoint of the amount of acid generated, curability, and the like. More preferably, it is in the range of mass%.

光カチオン重合開始剤としては、例えば、ジアゾニウム塩、ホスホニウム塩、スルホニウム塩、ヨードニウム塩、イミドスルホネート、オキシムスルホネート、ジアゾジスルホン、ジスルホン、o−ニトロベンジルスルホネートを挙げることができる。   Examples of the photocationic polymerization initiator include diazonium salts, phosphonium salts, sulfonium salts, iodonium salts, imide sulfonates, oxime sulfonates, diazodisulfones, disulfones, and o-nitrobenzyl sulfonates.

また、これらの光カチオン重合開始剤、又は、それと同等の作用を有する基若しくは化合物をポリマーの主鎖又は側鎖に導入した化合物、例えば、米国特許第3,849,137号、独国特許第3914407号、特開昭63−26653号、特開昭55−164824号、特開昭62−69263号、特開昭63−146038号、特開昭63−163452号、特開昭62−153853号、特開昭63−146029号等に記載の化合物を用いることができる。更に米国特許第3779778号、欧州特許第126712号等に記載の光により酸を発生する化合物も使用することができる。   Further, these photocationic polymerization initiators, or compounds obtained by introducing a group or compound having the same action into the main chain or side chain of the polymer, such as US Pat. No. 3,849,137, German Patent No. 3914407, JP 63-26653, JP 55-164824, JP 62-69263, JP 63-1446038, JP 63-163452, JP 62-153853 And compounds described in JP-A No. 63-146029 can be used. Further, compounds capable of generating an acid by light as described in US Pat. No. 3,777,778 and European Patent 126712 can also be used.

光カチオン重合開始剤として好ましい化合物としては、下記一般式(b1)、(b2)、又は(b3)で表される化合物を挙げることができる。   As a compound preferable as a photocationic polymerization initiator, the compound represented by the following general formula (b1), (b2), or (b3) can be mentioned.

Figure 2008135685
Figure 2008135685

一般式(b1)において、R201、R202及びR203は、各々独立に有機基を表す。
は、非求核性アニオンを表し、好ましくはスルホン酸アニオン、カルボン酸アニオン、ビス(アルキルスルホニル)アミドアニオン、トリス(アルキルスルホニル)メチドアニオン、BF 、PF 、SbF や以下に示す基などが挙げられ、好ましくは炭素原子を有する有機アニオンである。
In general formula (b1), R 201 , R 202 and R 203 each independently represents an organic group.
X represents a non-nucleophilic anion, preferably a sulfonate anion, a carboxylate anion, a bis (alkylsulfonyl) amide anion, a tris (alkylsulfonyl) methide anion, BF 4 , PF 6 , SbF 6 or the following The organic anion which has a carbon atom is preferable.

Figure 2008135685
Figure 2008135685

好ましい有機アニオンとしては下式に示す有機アニオンが挙げられる。   Preferable organic anions include organic anions represented by the following formula.

Figure 2008135685
Figure 2008135685

Rcは、有機基を表す。
Rcにおける有機基としては炭素数1〜30のものが挙げられ、好ましくはアルキル基、シクロアルキル基、アリール基、又はこれらの複数が、単結合、−O−、−CO−、−S−、−SO−、−SON(Rd)−などの連結基で連結された基を挙げることができる。
Rc 1 represents an organic group.
Examples of the organic group in Rc 1 include those having 1 to 30 carbon atoms, and preferably an alkyl group, a cycloalkyl group, an aryl group, or a plurality of these are a single bond, —O—, —CO 2 —, —S. -, - SO 3 -, - SO 2 N (Rd 1) - can be exemplified linked group a linking group such as.

Rdは、水素原子、アルキル基を表す。Rc、Rc、Rcは、各々独立に、有機基を表す。Rc、Rc、Rcの有機基として、好ましくはRcにおける好ましい有機基と同じものを挙げることができ、最も好ましくは炭素数1〜4のパーフロロアルキル基である。RcとRcが結合して環を形成していてもよい。RcとRcが結合して形成される基としてはアルキレン基、アリーレン基が挙げられる。好ましくは炭素数2〜4のパーフロロアルキレン基である。 Rd 1 represents a hydrogen atom or an alkyl group. Rc 3 , Rc 4 and Rc 5 each independently represents an organic group. Preferred examples of the organic group for Rc 3 , Rc 4 , and Rc 5 include the same organic groups as those for Rc 1 , and most preferably a perfluoroalkyl group having 1 to 4 carbon atoms. Rc 3 and Rc 4 may be bonded to form a ring. Examples of the group formed by combining Rc 3 and Rc 4 include an alkylene group and an arylene group. Preferably, it is a C2-C4 perfluoroalkylene group.

Rc、Rc〜Rcの有機基として、最も好ましくは1位がフッ素原子又はフロロアルキル基で置換されたアルキル基、フッ素原子又はフロロアルキル基で置換されたフェニル基である。フッ素原子又はフロロアルキル基を有することにより、光照射によって発生した酸の酸性度が上がり、感度が向上する。 As the organic groups of Rc 1 and Rc 3 to Rc 5 , the most preferred is an alkyl group substituted at the 1-position with a fluorine atom or a fluoroalkyl group, or a phenyl group substituted with a fluorine atom or a fluoroalkyl group. By having a fluorine atom or a fluoroalkyl group, the acidity of the acid generated by light irradiation is increased and the sensitivity is improved.

201、R202及びR203としての有機基の炭素数は、好ましくは1〜30、より好ましくは1〜20である。
また、R201〜R203のうち2つが結合して環構造を形成してもよく、環内に酸素原子、硫黄原子、エステル結合、アミド結合、カルボニル基を含んでいてもよい。R201〜R203の内の2つが結合して形成する基としては、アルキレン基(例えば、ブチレン基、ペンチレン基)を挙げることができる。
The carbon number of the organic group as R 201 , R 202 and R 203 is preferably 1-30, more preferably 1-20.
Two of R 201 to R 203 may be bonded to form a ring structure, and the ring may contain an oxygen atom, a sulfur atom, an ester bond, an amide bond, or a carbonyl group. Examples of the group formed by combining two of R 201 to R 203 include an alkylene group (eg, butylene group, pentylene group).

201、R202及びR203としての有機基の具体例としては、後述する化合物(b1−1)、(b1−2)、(b1−3)における対応する基を挙げることができる。 Specific examples of the organic group as R 201 , R 202 and R 203 include corresponding groups in the compounds (b1-1), (b1-2) and (b1-3) described later.

なお、一般式(b1)で表される構造を複数有する化合物であってもよい。例えば、一般式(b1)で表される化合物のR201〜R203のうち少なくともひとつが、一般式(b1)で表される他の化合物のR201〜R203の少なくともひとつと直接、又は、連結基を介して結合した構造を有する化合物であってもよい。 In addition, the compound which has two or more structures represented by general formula (b1) may be sufficient. For example, at least one of R 201 to R 203 of the compound represented by the general formula (b1) is at least one directly with R 201 to R 203 of another compound represented by formula (b1), or, It may be a compound having a structure bonded through a linking group.

更に好ましい一般式(b1)で表される化合物としては、以下に説明する化合物(b1−1)、(b1−2)、及び(b1−3)を挙げることができる。   More preferable examples of the compound represented by the general formula (b1) include compounds (b1-1), (b1-2), and (b1-3) described below.

化合物(b1−1)について説明する。
化合物(b1−1)は、一般式(b1)のR201〜R203の少なくとも1つがアリール基である、アリールスルホニム化合物、即ち、アリールスルホニウムをカチオンとする化合物である。
The compound (b1-1) will be described.
Compound (b1-1) is at least one of R 201 to R 203 in formula (b1) is an aryl group, an arylsulfonium compound, i.e., a compound having arylsulfonium as a cation.

アリールスルホニウム化合物は、R201〜R203の全てがアリール基でもよいし、R201〜R203の一部がアリール基で、残りがアルキル基、シクロアルキル基でもよい。 In the arylsulfonium compound, all of R 201 to R 203 may be an aryl group, or a part of R 201 to R 203 may be an aryl group, and the rest may be an alkyl group or a cycloalkyl group.

アリールスルホニウム化合物としては、例えば、トリアリールスルホニウム化合物、ジアリールアルキルスルホニウム化合物、アリールジアルキルスルホニウム化合物、ジアリールシクロアルキルスルホニウム化合物、アリールジシクロアルキルスルホニウム化合物等を挙げることができる。   Examples of the arylsulfonium compound include triarylsulfonium compounds, diarylalkylsulfonium compounds, aryldialkylsulfonium compounds, diarylcycloalkylsulfonium compounds, aryldicycloalkylsulfonium compounds, and the like.

アリールスルホニウム化合物のアリール基としてはフェニル基、ナフチル基などのアリール基、インドール残基、ピロール残基、などのヘテロアリール基が好ましく、更に好ましくはフェニル基、インドール残基である。アリールスルホニウム化合物が2つ以上のアリール基を有する場合に、2つ以上あるアリール基は同一であっても異なっていてもよい。   The aryl group of the arylsulfonium compound is preferably an aryl group such as a phenyl group or a naphthyl group, or a heteroaryl group such as an indole residue or a pyrrole residue, more preferably a phenyl group or an indole residue. When the arylsulfonium compound has two or more aryl groups, the two or more aryl groups may be the same or different.

アリールスルホニウム化合物が必要に応じて有しているアルキル基としては、炭素数1〜15の直鎖又は分岐状アルキル基が好ましく、例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル基、t−ブチル基等を挙げることができる。
アリールスルホニウム化合物が必要に応じて有しているシクロアルキル基としては、炭素数3〜15のシクロアルキル基が好ましく、例えば、シクロプロピル基、シクロブチル基、シクロヘキシル基等を挙げることができる。
As the alkyl group that the arylsulfonium compound has as necessary, a linear or branched alkyl group having 1 to 15 carbon atoms is preferable. For example, a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an n-butyl group, sec -A butyl group, a t-butyl group, etc. can be mentioned.
The cycloalkyl group that the arylsulfonium compound has as necessary is preferably a cycloalkyl group having 3 to 15 carbon atoms, and examples thereof include a cyclopropyl group, a cyclobutyl group, and a cyclohexyl group.

201〜R203のアリール基、アルキル基、シクロアルキル基は、アルキル基(例えば炭素数1〜15)、シクロアルキル基(例えば炭素数3〜15)、アリール基(例えば炭素数6〜14)、アルコキシ基(例えば炭素数1〜15)、ハロゲン原子、水酸基、フェニルチオ基を置換基として有してもよい。好ましい置換基としては、炭素数1〜12の直鎖又は分岐状アルキル基、炭素数3〜12のシクロアルキル基、炭素数1〜12の直鎖、分岐又は環状のアルコキシ基であり、最も好ましくは炭素数1〜4のアルキル基、炭素数1〜4のアルコキシ基である。置換基は、3つのR201〜R203のうちのいずれか1つに置換していてもよいし、3つ全てに置換していてもよい。また、R201〜R203がアリール基の場合に、置換基はアリール基のp−位に置換していることが好ましい。 The aryl group, alkyl group and cycloalkyl group of R 201 to R 203 are an alkyl group (for example, 1 to 15 carbon atoms), a cycloalkyl group (for example, 3 to 15 carbon atoms), an aryl group (for example, 6 to 14 carbon atoms). , An alkoxy group (for example, having 1 to 15 carbon atoms), a halogen atom, a hydroxyl group, or a phenylthio group may be substituted. Preferred substituents are linear or branched alkyl groups having 1 to 12 carbon atoms, cycloalkyl groups having 3 to 12 carbon atoms, and linear, branched or cyclic alkoxy groups having 1 to 12 carbon atoms, and most preferred. Is an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms and an alkoxy group having 1 to 4 carbon atoms. The substituent may be substituted with any one of three R 201 to R 203 , or may be substituted with all three. When R 201 to R 203 are an aryl group, the substituent is preferably substituted at the p-position of the aryl group.

次に、化合物(b1−2)について説明する。
化合物(b1−2)は、一般式(b1)におけるR201〜R203が、各々独立に、芳香環を含有しない有機基を表す場合の化合物である。ここで芳香環とは、ヘテロ原子を含有する芳香族環も包含するものである。
201〜R203としての芳香環を含有しない有機基は、好ましくは炭素数1〜30、より好ましくは炭素数1〜20である。
201〜R203は、各々独立に、好ましくはアルキル基、シクロアルキル基、アリル基、ビニル基であり、より好ましくは直鎖、分岐又は環状の2−オキソアルキル基、アルコキシカルボニルメチル基、特に好ましくは直鎖又は分岐の2−オキソアルキル基である。
Next, the compound (b1-2) will be described.
The compound (b1-2) is a compound when R 201 to R 203 in the general formula (b1) each independently represents an organic group not containing an aromatic ring. Here, the aromatic ring includes an aromatic ring containing a hetero atom.
The organic group not containing an aromatic ring as R 201 to R 203 preferably has 1 to 30 carbon atoms, more preferably 1 to 20 carbon atoms.
R 201 to R 203 are each independently preferably an alkyl group, a cycloalkyl group, an allyl group or a vinyl group, more preferably a linear, branched or cyclic 2-oxoalkyl group, an alkoxycarbonylmethyl group, particularly A linear or branched 2-oxoalkyl group is preferred.

201〜R203としてのアルキル基は、直鎖状、分岐状のいずれであってもよく、好ましくは、炭素数1〜10の直鎖又は分岐のアルキル基(例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、ペンチル基)を挙げることができ、直鎖又は分岐の2−オキソアルキル基、アルコキシカルボニルメチル基がより好ましい。 The alkyl group as R 201 to R 203 may be either linear or branched, and is preferably a linear or branched alkyl group having 1 to 10 carbon atoms (for example, a methyl group, an ethyl group, Propyl group, butyl group, pentyl group), and a linear or branched 2-oxoalkyl group or alkoxycarbonylmethyl group is more preferable.

201〜R203としてのシクロアルキル基は、好ましくは、炭素数3〜10のシクロアルキル基(シクロペンチル基、シクロヘキシル基、ノルボニル基)を挙げることができ、環状2−オキソアルキル基がより好ましい。 The cycloalkyl group as R 201 to R 203 preferably includes a cycloalkyl group having 3 to 10 carbon atoms (cyclopentyl group, cyclohexyl group, norbornyl group), and a cyclic 2-oxoalkyl group is more preferable.

201〜R203の直鎖、分岐、環状2−オキソアルキル基としては、好ましくは、上記のアルキル基、シクロアルキル基の2位に>C=Oを有する基を挙げることができる。
201〜R203としてのアルコキシカルボニルメチル基におけるアルコキシ基としては、好ましくは炭素数1〜5のアルコキシ基(メトキシ基、エトキシ基、プロポキシ基、ブトキシ基、ペントキシ基)を挙げることができる。
201〜R203は、ハロゲン原子、アルコキシ基(例えば炭素数1〜5)、水酸基、シアノ基、ニトロ基によって更に置換されていてもよい。
Preferred examples of the linear, branched and cyclic 2-oxoalkyl group represented by R 201 to R 203 include a group having> C═O at the 2-position of the above alkyl group or cycloalkyl group.
The alkoxy group in the alkoxycarbonylmethyl group as R 201 to R 203 is preferably an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms (methoxy group, ethoxy group, propoxy group, butoxy group, pentoxy group).
R 201 to R 203 may be further substituted with a halogen atom, an alkoxy group (eg, having 1 to 5 carbon atoms), a hydroxyl group, a cyano group, or a nitro group.

次に、化合物(b1−3)について説明する。
化合物(b1−3)は、以下の一般式(b1−3)で表される化合物であり、フェナシルスルフォニウム塩構造を有する化合物である。
Next, the compound (b1-3) will be described.
The compound (b1-3) is a compound represented by the following general formula (b1-3), and is a compound having a phenacylsulfonium salt structure.

Figure 2008135685
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一般式(b1−3)において、R1c〜R5cは、各々独立に、水素原子、アルキル基、シクロアルキル基、アルコキシ基、又はハロゲン原子を表す。R6c及びR7cは、各々独立に、水素原子、アルキル基又はシクロアルキル基を表す。R及びRは、各々独立に、アルキル基、シクロアルキル基、アリル基、又はビニル基を表す。R1c〜R5c中のいずれか2つ以上、R6cとR7c、及びRとRは、それぞれ結合して環構造を形成してもよい。Zcは、非求核性アニオンを表し、一般式(b1)に於けるXの非求核性アニオンと同様のものを挙げることができる。 In General Formula (b1-3), R 1c to R 5c each independently represent a hydrogen atom, an alkyl group, a cycloalkyl group, an alkoxy group, or a halogen atom. R 6c and R 7c each independently represents a hydrogen atom, an alkyl group or a cycloalkyl group. R x and R y each independently represents an alkyl group, a cycloalkyl group, an allyl group, or a vinyl group. Any two or more of R 1c to R 5c , R 6c and R 7c , and R x and R y may be bonded to each other to form a ring structure. Zc - represents a non-nucleophilic anion, in the general formula (b1) X - can be the same as the non-nucleophilic anion.

1c〜R7cとしてのアルキル基は、直鎖状、分岐状のいずれであってもよく、例えば炭素数1〜20、好ましくは炭素数1〜12の直鎖又は分岐のアルキル基(例えば、メチル基、エチル基、直鎖又は分岐のプロピル基、直鎖又は分岐のブチル基、直鎖又は分岐のペンチル基)を挙げることができる。 The alkyl group as R 1c to R 7c may be either linear or branched, for example, a linear or branched alkyl group having 1 to 20 carbon atoms, preferably 1 to 12 carbon atoms (for example, Methyl group, ethyl group, linear or branched propyl group, linear or branched butyl group, linear or branched pentyl group).

1c〜R7cのシクロアルキル基として、好ましくは、炭素数3〜8個のシクロアルキル基(例えば、シクロペンチル基、シクロヘキシル基)を挙げることができる。 Preferred examples of the cycloalkyl group represented by R 1c to R 7c include cycloalkyl groups having 3 to 8 carbon atoms (for example, a cyclopentyl group and a cyclohexyl group).

1c〜R5cとしてのアルコキシ基は、直鎖、分岐、環状のいずれであってもよく、例えば炭素数1〜10のアルコキシ基、好ましくは、炭素数1〜5の直鎖及び分岐のアルコキシ基(例えば、メトキシ基、エトキシ基、直鎖又は分岐のプロポキシ基、直鎖又は分岐のブトキシ基、直鎖又は分岐のペントキシ基)、炭素数3〜8の環状アルコキシ基(例えば、シクロペンチルオキシ基、シクロヘキシルオキシ基)を挙げることができる。 The alkoxy group as R 1c to R 5c may be linear, branched or cyclic, for example, an alkoxy group having 1 to 10 carbon atoms, preferably a linear or branched alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms. Group (for example, methoxy group, ethoxy group, linear or branched propoxy group, linear or branched butoxy group, linear or branched pentoxy group), cyclic alkoxy group having 3 to 8 carbon atoms (for example, cyclopentyloxy group) Cyclohexyloxy group).

1c〜R5c中のいずれか2つ以上、R6cとR7c、及びRとRが結合して形成する基としては、ブチレン基、ペンチレン基等を挙げることができる。この環構造は、酸素原子、硫黄原子、エステル結合、アミド結合を含んでいてもよい。 Examples of the group formed by combining any two or more of R 1c to R 5c , R 6c and R 7c , and R x and R y include a butylene group and a pentylene group. This ring structure may contain an oxygen atom, a sulfur atom, an ester bond, or an amide bond.

好ましくはR1c〜R5cのうちいずれかが直鎖状若しくは分岐状アルキル基、シクロアルキル基又は直鎖、分岐、環状アルコキシ基であり、更に好ましくはR1c〜R5cの炭素数の和が2〜15である。これにより、より溶剤溶解性が向上し、保存時にパーティクルの発生が抑制される。 Preferably any one of R 1c to R 5c is a linear or branched alkyl group, a cycloalkyl group, or a linear, branched or cyclic alkoxy group, and more preferably the sum of the carbon number of R 1c to R 5c is 2-15. Thereby, solvent solubility improves more and generation | occurrence | production of a particle is suppressed at the time of a preservation | save.

及びRとしてのアルキル基、シクロアルキル基は、R1c〜R7cとしてのアルキル基、シクロアルキル基と同様のものを挙げることができる。
及びRは、2−オキソアルキル基、アルコキシカルボニルメチル基であることが好ましい。
2−オキソアルキル基は、R1c〜R5cとしてのアルキル基、シクロアルキル基の2位に>C=Oを有する基を挙げることができる。
アルコキシカルボニルメチル基におけるアルコキシ基については、R1c〜R5cとしてのアルコキシ基と同様のものを挙げることができる。
Examples of the alkyl group and cycloalkyl group as R x and R y include the same alkyl groups and cycloalkyl groups as R 1c to R 7c .
R x and R y are preferably a 2-oxoalkyl group or an alkoxycarbonylmethyl group.
Examples of the 2-oxoalkyl group include a group having> C═O at the 2-position of the alkyl group or cycloalkyl group as R 1c to R 5c .
The alkoxy group in the alkoxycarbonylmethyl group may be the same as the alkoxy group as R 1c to R 5c.

、Rは、好ましくは炭素数4個以上のアルキル基、シクロアルキル基であり、より好ましくは6個以上、更に好ましくは8個以上のアルキル基、シクロアルキル基である。 R x and R y are preferably an alkyl group or cycloalkyl group having 4 or more carbon atoms, more preferably 6 or more, and still more preferably 8 or more alkyl groups or cycloalkyl groups.

一般式(b2)、一般式(b3)中、R204〜R207は、各々独立に、アリール基、アルキル基又はシクロアルキル基を表す。Xは、非求核性アニオンを表し、一般式(b1)に於けるXの非求核性アニオンと同様のものを挙げることができる。 Formula (b2), in the formula (b3), R 204 ~R 207 each independently represents an aryl group, an alkyl group or a cycloalkyl group. X represents a non-nucleophilic anion, and examples thereof include the same as the non-nucleophilic anion of X − in formula (b1).

204〜R207のアリール基としてはフェニル基、ナフチル基が好ましく、更に好ましくはフェニル基である。
204〜R207としてのアルキル基は、直鎖状、分岐状のいずれであってもよく、好ましくは、炭素数1〜10の直鎖又は分岐のアルキル基(例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、ペンチル基)を挙げることができる。R204〜R207としてのシクロアルキル基は、好ましくは、炭素数3〜10のシクロアルキル基(シクロペンチル基、シクロヘキシル基、ノルボニル基)を挙げることができる。
204〜R207が有していてもよい置換基としては、例えば、アルキル基(例えば炭素数1〜15)、シクロアルキル基(例えば炭素数3〜15)、アリール基(例えば炭素数6〜15)、アルコキシ基(例えば炭素数1〜15)、ハロゲン原子、水酸基、フェニルチオ基等を挙げることができる。
The aryl group for R 204 to R 207 is preferably a phenyl group or a naphthyl group, and more preferably a phenyl group.
The alkyl group as R 204 to R 207 may be either linear or branched, and is preferably a linear or branched alkyl group having 1 to 10 carbon atoms (for example, a methyl group, an ethyl group, Propyl group, butyl group, pentyl group). The cycloalkyl group as R 204 to R 207 is preferably, and a cycloalkyl group having 3 to 10 carbon atoms (e.g., cyclopentyl, cyclohexyl, norbornyl).
The R 204 to R 207 are substituents which may have, for example, an alkyl group (for example, 1 to 15 carbon atoms), a cycloalkyl group (for example, 3 to 15 carbon atoms), an aryl group (e.g., 6 carbon atoms 15), alkoxy groups (for example, having 1 to 15 carbon atoms), halogen atoms, hydroxyl groups, phenylthio groups and the like.

使用してもよい光カチオン重合開始剤として、更に、下記一般式(b4)、一般式(b5)、又は一般式(b6)で表される化合物を挙げることができる。   Examples of the photocationic polymerization initiator that may be used further include compounds represented by the following general formula (b4), general formula (b5), or general formula (b6).

Figure 2008135685
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一般式(b4)〜(b6)中、Ar及びArは、各々独立に、アリール基を表す。R206、R207及びR208は、各々独立に、アルキル基、シクロアルキル基又はアリール基を表す。Aは、アルキレン基、アルケニレン基又はアリーレン基を表す。 In general formulas (b4) to (b6), Ar 3 and Ar 4 each independently represents an aryl group. R 206 , R 207 and R 208 each independently represents an alkyl group, a cycloalkyl group or an aryl group. A represents an alkylene group, an alkenylene group or an arylene group.

光カチオン重合開始剤の中でも好ましいものとしては、一般式(b1)〜(b3)で表される化合物を挙げることができる。   Preferred among the cationic photopolymerization initiators are compounds represented by general formulas (b1) to (b3).

光カチオン重合開始剤の特に好ましいものの具体例〔例示化合物(b−1)〜(b−61)〕を以下に挙げるが、本発明はこれらに限定されない。   Specific examples of the particularly preferable photocationic polymerization initiator [Exemplary compounds (b-1) to (b-61)] are listed below, but the present invention is not limited thereto.

Figure 2008135685
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Figure 2008135685
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Figure 2008135685
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また、特開2002−122994号公報の段落番号〔0029〕乃至〔0030〕に記載のオキサゾール誘導体、s−トリアジン誘導体なども好適に用いられる。特開2002−122994号公報の段落番号〔0037〕乃至〔0063〕に例示されるオニウム塩化合物、スルホネート系化合物も本発明に好適に使用しうる。   In addition, oxazole derivatives and s-triazine derivatives described in paragraphs [0029] to [0030] of JP-A-2002-122994 are also preferably used. Onium salt compounds and sulfonate compounds exemplified in paragraphs [0037] to [0063] of JP-A No. 2002-122994 can also be suitably used in the present invention.

−光ラジカル重合開始剤−
光ラジカル重合開始剤は、低分子であっても高分子であってもよい。
低分子の光ラジカル重合開始剤としては、具体的には、アセトフェノン類、ヒドロキシアルキルフェノン類、ベンゾフェノン類、ミヒラーのケトン、ベンゾイルベンゾエート、ベンゾイン類、α−アシロキシムエステル、テトラメチルチウラムモノサルファイド、トリクロロメチルトリアジン及びチオキサントン等の公知のラジカル発生剤を使用することができる。また、通常、光酸発生剤として用いられるスルホニウム塩やヨードニウム塩なども、光照射によりラジカル発生剤として作用するため、本発明ではこれらを用いてもよい。
-Photo radical polymerization initiator-
The radical photopolymerization initiator may be a low molecule or a polymer.
Specific examples of the low-molecular photoradical polymerization initiator include acetophenones, hydroxyalkylphenones, benzophenones, Michler's ketone, benzoylbenzoate, benzoins, α-acyloxime ester, tetramethylthiuram monosulfide, trichloro Known radical generators such as methyltriazine and thioxanthone can be used. In addition, since sulfonium salts and iodonium salts that are usually used as photoacid generators also act as radical generators upon irradiation with light, they may be used in the present invention.

高分子光ラジカル重合開始剤としては、特開平9−77891号、特開平10−45927号、特願2006−053430号、特願2006−264706号、Photochemistry&Photobiology,Vol.5,p46(1999)等に記載の、活性カルボニル基、トリクロロメチルトリアジン、チオキサントンを側鎖に有する高分子化合物を使用することができる。高分子の光ラジカル重合開始剤としては、例えば、下記化合物(1)〜(14)を挙げることもできる。   Examples of the polymer photoradical polymerization initiator include JP-A-9-77891, JP-A-10-45927, Japanese Patent Application No. 2006-053430, Japanese Patent Application No. 2006-264706, Photochemistry & Photobiology, Vol. 5, high molecular compounds having an active carbonyl group, trichloromethyltriazine, or thioxanthone in the side chain, as described in JP-A-5, p46 (1999). Examples of the polymer radical polymerization initiator include the following compounds (1) to (14).

Figure 2008135685
Figure 2008135685

Figure 2008135685
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なお、光ラジカル重合開始剤としては、グラフト重合性の観点から、高分子型の光ラジカル重合開始剤を用いることが好ましい。この高分子型の光ラジカル重合開始剤の重量平均分子量としては、10000以上が好ましく、30000以上がより好ましい。また、重量平均分子量の上限値としては、溶解性の点から100000が好ましい。   The radical photopolymerization initiator is preferably a polymer radical photopolymerization initiator from the viewpoint of graft polymerizability. The weight average molecular weight of the polymer type radical photopolymerization initiator is preferably 10,000 or more, more preferably 30000 or more. The upper limit of the weight average molecular weight is preferably 100,000 from the viewpoint of solubility.

また、重合性層に含有される重合性化合物がエポキシ樹脂である場合、高分子型の光ラジカル重合開始剤が該エポキシ樹脂を兼ねていてもよい。このような高分子型の光ラジカル重合開始剤としては、以下の(15)〜(30)で表される化合物を好適に用いることができる。ここで、(15)〜(30)中、x、yは、モル分率を表し、x+y=100(x≠0、y≠0)である。   Further, when the polymerizable compound contained in the polymerizable layer is an epoxy resin, a polymer type radical photopolymerization initiator may also serve as the epoxy resin. As such a polymer-type photoradical polymerization initiator, compounds represented by the following (15) to (30) can be suitably used. Here, in (15) to (30), x and y represent mole fractions, and x + y = 100 (x ≠ 0, y ≠ 0).

Figure 2008135685
Figure 2008135685

Figure 2008135685
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Figure 2008135685
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上記した光ラジカル重合開始剤を用いる場合、その含有量は、グラフト重合性、それに起因する密着強度の低下を抑制する点、硬化物のTg低下を抑制する点、硬化物の誘電率が高くなるといった熱特性、電気特性上の問題を防止する点から、全固形分に対して、0.1〜50質量%程度であることが好ましく、1.0〜30.0質量%程度であることがより好ましい。   When the above-mentioned radical photopolymerization initiator is used, the content thereof is such that the graft polymerizability, the point of suppressing the decrease in adhesion strength resulting therefrom, the point of suppressing the decrease in Tg of the cured product, and the dielectric constant of the cured product are increased. From the point of preventing the problems on the thermal characteristics and electrical characteristics, it is preferably about 0.1 to 50% by mass, and about 1.0 to 30.0% by mass with respect to the total solid content. More preferred.

重合性化合物及び重合開始剤を塗布する際に用いる溶媒は、それらの成分が溶解するものであれば特に制限されない。乾燥の容易性、作業性の観点からは、沸点が高すぎない溶媒が好ましく、具体的には、沸点40℃〜150℃程度のものを選択すればよい。
具体的には、アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサン、酢酸エチル、テトラヒドロフラン、トルエン、エチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、エチレングリコールジメチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノエチルエーテル、アセチルアセトン、シクロヘキサノン、メタノール、エタノール、1−メトキシ−2−プロパノール、3−メトキシプロパノール、ジエチレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールジエチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノエチルエーテルアセテート、3−メトキシプロピルアセテートなどが挙げられる。
これらの溶媒は、単独或いは混合して使用することができる。そして塗布溶液中の固形分の濃度は、2〜50質量%が適当である。
The solvent used when applying the polymerizable compound and the polymerization initiator is not particularly limited as long as these components can be dissolved. From the viewpoint of easy drying and workability, a solvent having a boiling point that is not too high is preferable. Specifically, a solvent having a boiling point of about 40 ° C to 150 ° C may be selected.
Specifically, acetone, methyl ethyl ketone, cyclohexane, ethyl acetate, tetrahydrofuran, toluene, ethylene glycol monomethyl ether, ethylene glycol monoethyl ether, ethylene glycol dimethyl ether, propylene glycol monomethyl ether, propylene glycol monoethyl ether, acetylacetone, cyclohexanone, methanol, Ethanol, 1-methoxy-2-propanol, 3-methoxypropanol, diethylene glycol monomethyl ether, diethylene glycol monoethyl ether, diethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol diethyl ether, propylene glycol monomethyl ether acetate, propylene glycol monoethyl ether acetate, - such as methoxypropyl acetate.
These solvents can be used alone or in combination. The concentration of the solid content in the coating solution is suitably 2 to 50% by mass.

重合性層を基板上に形成する場合の塗布量は、充分な重合開始能の発現、及び、膜性を維持して膜剥がれを防止するといった観点からは、乾燥後の質量で、0.1〜20g/m2が好ましく、更に、1〜15g/m2が好ましい。 The coating amount when the polymerizable layer is formed on the substrate is 0.1 in terms of the mass after drying from the viewpoint of sufficient polymerization initiation ability and prevention of film peeling while maintaining film properties. -20 g / m 2 is preferable, and 1-15 g / m 2 is more preferable.

上記のように、基板表面上に上記の重合性層形成用の組成物を塗布などにより配置し、溶剤を除去することにより成膜させて重合性層を形成するが、このとき、加熱及び/又は光照射を行って硬膜することが好ましい。特に、加熱により乾燥した後、光照射を行って予備硬膜しておくと、重合性化合物のある程度の硬化が予め行なわれるので、基板上にグラフトポリマーが生成した後に重合性層ごと脱落するといった事態を効果的に抑制し得るため好ましい。ここで、予備硬化に光照射を利用するのは、前記光重合開始剤の項で述べたのと同様の理由による。
加熱温度と時間は、塗布溶剤が充分乾燥し得る条件を選択すればよいが、製造適正の点からは、温度が100℃以下、乾燥時間は30分以内が好ましく、乾燥温度40〜80℃、乾燥時間10分以内の範囲の加熱条件を選択することがより好ましい。
As described above, the polymerizable layer forming composition is disposed on the substrate surface by coating or the like, and the solvent is removed to form a polymerizable layer to form a polymerizable layer. Or it is preferable to harden by light irradiation. In particular, if the film is dried by heating and then preliminarily cured by light irradiation, the polymerizable compound is cured to some extent in advance, so that the polymerizable layer drops off after the graft polymer is formed on the substrate. This is preferable because the situation can be effectively suppressed. Here, the reason why light irradiation is used for pre-curing is the same as described in the section of the photopolymerization initiator.
The heating temperature and time may be selected under conditions that allow the coating solvent to be sufficiently dried. However, from the viewpoint of production suitability, the temperature is 100 ° C. or less, the drying time is preferably within 30 minutes, and the drying temperature is 40 to 80 ° C. It is more preferable to select heating conditions within a drying time of 10 minutes.

加熱乾燥後に所望により行われる光照射は、光源として、例えば、水銀灯、メタルハライドランプ、キセノンランプ、ケミカルランプ、カーボンアーク灯等がある。放射線としては、電子線、X線、イオンビーム、遠赤外線などがある。また、g線、i線、Deep−UV光、高密度エネルギービーム(レーザービーム)も使用される。引き続き行われるグラフトパターンの形成と、エネルギー付与により実施される重合性層の活性点とグラフト鎖との結合の形成を阻害しないという観点から、重合性層中に存在する重合性化合物が部分的にラジカル重合しても、完全にはラジカル重合しない程度に光照射することが好ましく、光照射時間については光源の強度により異なるが、一般的には30分以内であることが好ましい。このような予備硬化の目安としては、溶剤洗浄後の膜残存率が10%以上となり、且つ、予備硬化後の開始剤残存率が1%以上であることが、挙げられる。   Light irradiation performed as desired after heat drying includes, for example, a mercury lamp, a metal halide lamp, a xenon lamp, a chemical lamp, and a carbon arc lamp as a light source. Examples of radiation include electron beams, X-rays, ion beams, and far infrared rays. Further, g-line, i-line, deep-UV light, and high-density energy beam (laser beam) are also used. From the viewpoint of not inhibiting the subsequent formation of the graft pattern and the formation of the bond between the active site of the polymerizable layer and the graft chain, which is performed by applying energy, the polymerizable compound present in the polymerizable layer is partially Even after radical polymerization, it is preferable to irradiate with light to such an extent that radical polymerization does not occur completely, and the light irradiation time varies depending on the intensity of the light source, but is generally preferably within 30 minutes. As a standard for such pre-curing, it can be mentioned that the film remaining rate after solvent washing is 10% or more and the initiator remaining rate after pre-curing is 1% or more.

(特定重合開始ポリマーを架橋反応により固定化してなる重合開始層)
本発明における重合開始層は、特定重合開始ポリマーを含んで構成されていてもよい。この特定重合開始ポリマーは、側鎖に重合開始能を有する官能基及び架橋性基を有するポリマーである。このため、その特定重合開始ポリマーにおいて、重合開始基がポリマー鎖に結合しており、且つ、そのポリマー鎖が架橋反応により固定化された形態の重合開始層を形成することができる。このような重合開始層の表面にグラフトポリマーを生成させる場合、例えば、親水性基を有するモノマーを含有する溶液を接触させても、その溶液中に重合開始層中の開始剤成分が溶出することを防止することができる。また、重合開始層の形成に際しては、通常のラジカルによる架橋反応のみならず、極性基間の縮合反応や付加反応を使用することも可能であるため、より強固な架橋構造を得ることができる。その結果、重合開始層中の開始剤成分が溶出することをより効率良く防止することができ、重合開始層表面と直接結合をしていないホモポリマーの副生が抑えられることにより、重合開始層表面には直接結合したグラフトポリマーのみが生成されることになる。
(Polymerization initiation layer formed by immobilizing a specific polymerization initiation polymer by a crosslinking reaction)
The polymerization initiating layer in the present invention may include a specific polymerization initiating polymer. This specific polymerization initiating polymer is a polymer having a functional group having a polymerization initiating ability and a crosslinkable group in the side chain. For this reason, in the specific polymerization initiating polymer, it is possible to form a polymerization initiating layer in a form in which the polymerization initiating group is bonded to the polymer chain and the polymer chain is fixed by a crosslinking reaction. When a graft polymer is generated on the surface of such a polymerization initiating layer, for example, even if a solution containing a monomer having a hydrophilic group is brought into contact, the initiator component in the polymerization initiating layer is eluted in the solution. Can be prevented. Further, when forming the polymerization initiating layer, not only a normal radical crosslinking reaction but also a condensation reaction or an addition reaction between polar groups can be used, so that a stronger crosslinking structure can be obtained. As a result, it is possible to more efficiently prevent the initiator component in the polymerization initiation layer from eluting, and by suppressing the by-production of a homopolymer not directly bonded to the surface of the polymerization initiation layer, the polymerization initiation layer Only the graft polymer directly bonded to the surface is produced.

ここで用いられる特定重合開始ポリマーは、特開2004−161995号公報の段落番号〔0011〕〜〔0158〕に記載にものが挙げられる。特定重合開始ポリマーの特に好ましいものの具体例としては、以下に示すものが挙げられる。   Specific polymerization initiating polymers used here include those described in paragraphs [0011] to [0158] of JP-A No. 2004-161995. Specific examples of particularly preferred specific polymerization initiating polymers include the following.

Figure 2008135685
Figure 2008135685

Figure 2008135685
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−重合開始層の成膜−
本発明における重合開始層は、上述の特定重合開始ポリマーを適当な溶剤に溶解し、塗布液を調製し、その塗布液を基板上に塗布などにより配置し、溶剤を除去し、架橋反応が進行することにより成膜する。つまり、この架橋反応が進行することにより、特定重合開始ポリマーが固定化される。この架橋反応による固定化には、特定重合開始ポリマーの自己縮合反応を使用する方法、及び架橋剤を併用する方法があり、架橋剤を用いることが好ましい。特定重合開始ポリマーの自己縮合反応を使用する方法としては、例えば、架橋性基が−NCOである場合、熱をかけることにより自己縮合反応が進行する性質を利用したものである。この自己縮合反応が進行することにより、架橋構造を形成することができる。
-Formation of polymerization initiation layer-
In the polymerization initiation layer of the present invention, the above-mentioned specific polymerization initiation polymer is dissolved in an appropriate solvent, a coating solution is prepared, the coating solution is disposed on the substrate by coating, the solvent is removed, and the crosslinking reaction proceeds. To form a film. That is, the specific polymerization initiating polymer is immobilized by the progress of the crosslinking reaction. The immobilization by the crosslinking reaction includes a method using a self-condensation reaction of a specific polymerization initiating polymer and a method using a crosslinking agent in combination, and a crosslinking agent is preferably used. As a method of using the self-condensation reaction of the specific polymerization initiating polymer, for example, when the crosslinkable group is —NCO, the method uses the property that the self-condensation reaction proceeds by applying heat. As this self-condensation reaction proceeds, a crosslinked structure can be formed.

また、架橋剤を併用する方法に用いられる架橋剤としては、山下信二編「架橋剤ハンドブック」に掲載されているような従来公知のものを用いることができる。
特定重合開始ポリマー中の架橋性基と架橋剤との好ましい組み合わせとしては、(架橋性基,架橋剤)=(−COOH,多価アミン)、(−COOH,多価アジリジン)、(−COOH,多価イソシアネート)、(−COOH,多価エポキシ)、(−NH2,多価イソシアネート)、(−NH2,アルデヒド類)、(−NCO,多価アミン)、(−NCO,多価イソシアネート)、(−NCO,多価アルコール)、(−NCO,多価エポキシ)、(−OH,多価アルコール)、(−OH,多価ハロゲン化化合物)、(−OH,多価アミン)、(−OH,酸無水物)が挙げられる。中でも、架橋の後にウレタン結合が生成し、高い強度の架橋が形成可能であるという点で、(官能基,架橋剤)=(−OH,多価イソシアネート)が、更に好ましい組み合わせである。
Moreover, as a crosslinking agent used for the method of using a crosslinking agent together, a conventionally well-known thing as described in Shinji Yamashita "crosslinking agent handbook" can be used.
Preferred combinations of the crosslinkable group and the crosslinker in the specific polymerization initiating polymer include (crosslinkable group, crosslinker) = (— COOH, polyvalent amine), (—COOH, polyvalent aziridine), (—COOH, Polyvalent isocyanate), (—COOH, polyvalent epoxy), (—NH 2 , polyvalent isocyanate), (—NH 2 , aldehydes), (—NCO, polyvalent amine), (—NCO, polyvalent isocyanate) , (—NCO, polyhydric alcohol), (—NCO, polyhydric epoxy), (—OH, polyhydric alcohol), (—OH, polyhalogenated compound), (—OH, polyhydric amine), (− OH, acid anhydride). Among these, (functional group, cross-linking agent) = (— OH, polyvalent isocyanate) is a more preferable combination in that a urethane bond is formed after the cross-linking and a high-strength cross-linking can be formed.

本発明における架橋剤の具体例としては、以下に示す構造のものが挙げられる。   Specific examples of the crosslinking agent in the present invention include the structures shown below.

Figure 2008135685
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このような架橋剤は、重合開始層の成膜の際、上述の特定重合開始ポリマーを含有する塗布液に添加される。その後、塗膜の加熱乾燥時の熱により、架橋反応が進行し、強固な架橋構造を形成することができる。より詳細には、下記のex1.で示される脱水反応やex2.で示される付加反応により架橋反応が進行し、架橋構造が形成される。これらの反応における温度条件としては、50℃以上300℃以下が好ましく、更に好ましくは80℃以上200℃以下である。   Such a crosslinking agent is added to the coating solution containing the above-mentioned specific polymerization initiating polymer when the polymerization initiating layer is formed. Thereafter, the crosslinking reaction proceeds by the heat during the drying of the coating film, and a strong crosslinked structure can be formed. More specifically, the following ex1. Or the dehydration reaction indicated by ex2. The cross-linking reaction proceeds by the addition reaction represented by the above, and a cross-linked structure is formed. The temperature conditions in these reactions are preferably 50 ° C. or higher and 300 ° C. or lower, more preferably 80 ° C. or higher and 200 ° C. or lower.

Figure 2008135685
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また、塗布液中の架橋剤の添加量としては、特定重合開始ポリマー中に導入されている架橋性基の量により変化するが、架橋度合や、未反応の架橋成分の残留による重合反応への影響の観点から、通常、架橋性基のモル数に対して0.01〜50当量であることが好ましく、0.01〜10当量であることがより好ましく、0.5〜3当量であることが更に好ましい。   The amount of the crosslinking agent added in the coating solution varies depending on the amount of the crosslinkable group introduced into the specific polymerization initiating polymer, but the degree of crosslinking and the polymerization reaction due to the remaining unreacted crosslinking component remain. From the viewpoint of influence, it is usually preferably 0.01 to 50 equivalents, more preferably 0.01 to 10 equivalents, and 0.5 to 3 equivalents relative to the number of moles of the crosslinkable group. Is more preferable.

また、重合開始層を塗布する際に用いる溶媒は、上述の特定重合開始ポリマーが溶解するものであれば特に制限されない。乾燥の容易性、作業性の観点からは、沸点が高すぎない溶媒が好ましく、具体的には、沸点40℃〜150℃程度のものを選択すればよい。
具体的には、アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサン、酢酸エチル、テトラヒドロフラン、トルエン、エチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、エチレングリコールジメチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノエチルエーテル、アセチルアセトン、シクロヘキサノン、メタノール、エタノール、1−メトキシ−2−プロパノール、3−メトキシプロパノール、ジエチレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールジエチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノエチルエーテルアセテート、3−メトキシプロピルアセテートなどが挙げられる。
これらの溶媒は、単独或いは混合して使用することができる。そして塗布溶液中の固形分の濃度は、2〜50重量%が適当である。
Moreover, the solvent used when apply | coating a polymerization start layer will not be restrict | limited especially if the above-mentioned specific polymerization start polymer melt | dissolves. From the viewpoint of easy drying and workability, a solvent having a boiling point that is not too high is preferable. Specifically, a solvent having a boiling point of about 40 ° C to 150 ° C may be selected.
Specifically, acetone, methyl ethyl ketone, cyclohexane, ethyl acetate, tetrahydrofuran, toluene, ethylene glycol monomethyl ether, ethylene glycol monoethyl ether, ethylene glycol dimethyl ether, propylene glycol monomethyl ether, propylene glycol monoethyl ether, acetylacetone, cyclohexanone, methanol, Ethanol, 1-methoxy-2-propanol, 3-methoxypropanol, diethylene glycol monomethyl ether, diethylene glycol monoethyl ether, diethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol diethyl ether, propylene glycol monomethyl ether acetate, propylene glycol monoethyl ether acetate, - such as methoxypropyl acetate.
These solvents can be used alone or in combination. The solid content in the coating solution is suitably 2 to 50% by weight.

重合開始層の塗布量は、表面グラフト重合の開始能や、膜性の観点から、乾燥後の重量で、0.1〜20g/m2が好ましく、更に、1〜15g/m2が好ましい。 The coating amount of the polymerization initiation layer is or initiating ability of surface graft polymerization, in view of film properties, the weight after drying is preferably 0.1 to 20 g / m 2, further preferably 1 to 15 g / m 2.

本発明において、特に上記のような重合開始層を用いずに、下記に示すような、骨格中に重合開始部位を有するポリイミド(以下、適宜、特定ポリイミドと称する。)を含んでなる基板を用いることもできる。
この特定ポリイミドを含んでなる基板は、ポリイミド前駆体化合物の作製し、このポリイミド前駆体化合物を所望の基板形状に成形した後、加熱処理を施し、ポリイミド前駆体のポリイミド構造(特定ポリイミド)へ変化させることで作製することができる。
In the present invention, a substrate comprising a polyimide having a polymerization initiation site in the skeleton as shown below (hereinafter, appropriately referred to as a specific polyimide) is used without using the polymerization initiation layer as described above. You can also
The substrate comprising this specific polyimide is prepared as a polyimide precursor compound, and after this polyimide precursor compound is molded into a desired substrate shape, heat treatment is performed to change the polyimide precursor into a polyimide structure (specific polyimide). It can produce.

上記のようにして作製される特定ポリイミドの具体例を示すが、これらに限定されるものではない。   Although the specific example of the specific polyimide produced as mentioned above is shown, it is not limited to these.

Figure 2008135685
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Figure 2008135685
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本発明に適用される基板表面の凹凸は500nm以下であることが好ましく、より好ましくは100nm以下、更に好ましくは50nm以下、最も好ましくは20nm以下である。この基板の表面の凹凸は、得られた金属膜を配線等として用いた場合に、表面凹凸が小さくなるほど高周波送電時の電気損失が少なくなり好ましい。   The unevenness of the substrate surface applied to the present invention is preferably 500 nm or less, more preferably 100 nm or less, still more preferably 50 nm or less, and most preferably 20 nm or less. The unevenness on the surface of the substrate is preferable when the obtained metal film is used as wiring or the like, as the surface unevenness becomes smaller, the electrical loss during high-frequency power transmission decreases.

−バリア層を形成する工程−
本発明の配線基板の製造方法は、(A)工程と同時に、或いは、(A)工程の終了後であって後述する(B)工程を行う前に、バリア層を形成する工程を有してもよい。バリア層を形成することにより、本発明において形成される配線において、金属原子のマイグレーションに起因する絶縁信頼性の低下を効果的に防止することができる。
-Step of forming a barrier layer-
The method for manufacturing a wiring board of the present invention includes a step of forming a barrier layer simultaneously with the step (A) or after the completion of the step (A) and before the step (B) described later. Also good. By forming the barrier layer, it is possible to effectively prevent a decrease in insulation reliability due to migration of metal atoms in the wiring formed in the present invention.

(A)工程と同時にバリア層を形成する工程を行う場合としては、例えば、前記した凹部又は貫通孔の形成態様(1)において、成形材における凸部を備えた面にバリア層を構成する成分を含有する組成物を付与し、これを用いて凹部又は貫通孔の形成と同時にバリア層の形成を行う態様が挙げられる。   (A) In the case of performing the step of forming the barrier layer simultaneously with the step, for example, in the above-described formation mode (1) of the concave portion or the through hole, the component constituting the barrier layer on the surface provided with the convex portion in the molding And a barrier layer is formed simultaneously with the formation of the recess or the through hole.

また、(A)工程の終了後であって後述する(B)工程を行う前にバリア層を形成する工程を行う場合としては、例えば、バリア層を構成する成分を含有する組成物を凹部又は貫通孔が形成された基板上に塗布する態様、バリア層を構成する成分を気相法等により凹部又は貫通孔が形成された基板に蒸着する態様、等が挙げられる。   In the case of performing the step of forming the barrier layer after the completion of the step (A) and before performing the step (B) described later, for example, a composition containing a component constituting the barrier layer is formed into a recess or Examples include an aspect in which coating is performed on a substrate in which through holes are formed, and a mode in which components constituting the barrier layer are vapor-deposited on a substrate in which recesses or through holes are formed by a vapor phase method or the like.

バリア層を構成する材料、その形成方法等については、例えば、特開平11−45887号、特開2000−223491号、特開2001−85438号、特開2001−110751号、等の各公報に記載される事項を本発明にも適用することができる。
バリア層は、複数の金属を含んでなる合金層であってもよい。
About the material which comprises a barrier layer, its formation method, etc., it describes in each gazette, such as Unexamined-Japanese-Patent No. 11-45887, Unexamined-Japanese-Patent No. 2000-223491, Unexamined-Japanese-Patent No. 2001-85438, Unexamined-Japanese-Patent No. 2001-110751, etc., for example. The matters to be applied can also be applied to the present invention.
The barrier layer may be an alloy layer including a plurality of metals.

<(B)前記基板上に、基板表面と直接結合し且つ無電解めっき触媒又はその前駆体と相互作用する官能基を有するグラフトポリマーからなるポリマー層を形成する工程>
本工程では、前記(A)工程によって、配線形成領域となる凹部及び/又は貫通孔が形成された基板上に、無電解めっき触媒又はその前駆体と相互作用する官能基を有し且つ基板表面と直接結合するポリマーからなるポリマー層を形成する。
<(B) Step of forming a polymer layer made of a graft polymer having a functional group that directly binds to the substrate surface and interacts with the electroless plating catalyst or its precursor> on the substrate>
In this step, the surface of the substrate having a functional group that interacts with the electroless plating catalyst or its precursor on the substrate on which the recesses and / or through-holes serving as the wiring formation regions are formed by the step (A). A polymer layer composed of a polymer directly bonded to is formed.

〔表面グラフト重合〕
本工程においては、一般的に表面グラフト重合と呼ばれる手段を用いてポリマー層を形成する。
グラフト重合とは、高分極性基子化合物鎖上に活性種を与え、これによって重合を開始する別の単量体を更に重合させ、グラフト(接ぎ木)重合体を合成する方法で、特に活性種を与える高分子化合物が固体表面を形成する時には表面グラフト重合と呼ばれる。
(Surface graft polymerization)
In this step, a polymer layer is formed using a means generally called surface graft polymerization.
Graft polymerization is a method of synthesizing a graft (grafting) polymer by giving an active species on a highly polarizable base compound chain, thereby further polymerizing another monomer for initiating the polymerization, When the provided polymer compound forms a solid surface, it is called surface graft polymerization.

本発明では、先に説明した配線形成領域となる凹部又は貫通孔が形成された基板の表面に、重合性基及び相互作用性基を有する化合物を接触させ、エネルギーを付与することで、該基板上に活性点を発生させ、この活性点と該化合物の重合性基と基板とが反応し、表面グラフト重合反応が引き起こされる。
この接触は、基板を、該重合性基及び相互作用性基を有する化合物を含有する液状の組成物中に浸漬することで行ってもよいが、取り扱い性や製造効率の観点からは、後述するように、該重合性基及び相互作用性基を有する化合物を含有する組成物を主成分とする層を基板表面に、塗布法により形成することが好ましい。
In the present invention, the substrate is formed by bringing a compound having a polymerizable group and an interactive group into contact with the surface of the substrate on which the concave portions or through-holes to be the wiring formation regions described above are formed, and applying energy. An active site is generated on the surface, the active site reacts with the polymerizable group of the compound and the substrate to cause a surface graft polymerization reaction.
This contact may be performed by immersing the substrate in a liquid composition containing the compound having a polymerizable group and an interactive group. However, from the viewpoint of handleability and production efficiency, it will be described later. Thus, it is preferable to form the layer which has as a main component the composition containing the compound which has this polymeric group and interactive group on a substrate surface by the apply | coating method.

なお、重合性基及び相互作用性基を有する化合物と基板表面との接触は、前記(A)工程において、凹部又は貫通孔を形成する際に形成態様(1)が適用される場合であれば、成形材の凸部を有する面に重合性基及び相互作用性基を有する化合物を含有する液状の組成物を予め塗布したものを用いて、凹部又は貫通孔の形成と同時に当該接触とを行うこともできる。   In addition, the contact between the compound having a polymerizable group and an interactive group and the substrate surface is a case where the formation mode (1) is applied when forming the recess or the through hole in the step (A). Using a liquid composition containing a compound having a polymerizable group and an interactive group on the surface having a convex portion of the molding material, the contact is performed simultaneously with the formation of the concave portion or the through hole. You can also.

(重合性基及び相互作用性基を有する化合物)
本発明に用いられる重合性基及び相互作用性基を有する化合物としては、後述の相互作用性基を有するモノマー、マクロモノマー、或いは、相互作用性基を有するモノマーから選ばれる少なくとも一種を用いて得られるホモポリマー又はコポリマーに、重合性基として、ビニル基、アリル基、(メタ)アクリル基などのエチレン付加重合性不飽和基(重合性基)を導入したポリマーが挙げられる。該ポリマーは、少なくとも末端又は側鎖に重合性基を有するものである。
(Compound having a polymerizable group and an interactive group)
The compound having a polymerizable group and an interactive group used in the present invention is obtained by using at least one selected from a monomer having an interactive group, a macromonomer, or a monomer having an interactive group, which will be described later. Polymers in which an ethylene addition polymerizable unsaturated group (polymerizable group) such as a vinyl group, an allyl group, or a (meth) acryl group is introduced as a polymerizable group in the homopolymer or copolymer to be obtained can be mentioned. The polymer has a polymerizable group at least at a terminal or a side chain.

−相互作用性基を有するモノマー、マクロモノマー−
使用できるモノマーとしては、(メタ)アクリル酸若しくはそのアルカリ金属塩及びアミン塩、イタコン酸若しくはそのアルカリ金属塩及びアミン塩、スチレンスルホン酸塩、等が使用できる。具体的には、2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、(メタ)アクリルアミド、N−モノメチロール(メタ)アクリルアミド、N−ジメチロール(メタ)アクリルアミド、アリルアミン若しくはそのハロゲン化水素酸塩、3−ビニルプロピオン酸若しくはそのアルカリ金属塩及びアミン塩、ビニルスルホン酸若しくはそのアルカリ金属塩及びアミン塩、2−スルホエチル(メタ)アクリレート、ポリオキシエチレングリコールモノ(メタ)アクリレート、2−アクリルアミド−2−メチルプロパンスルホン酸、アシッドホスホオキシポリオキシエチレングリコールモノ(メタ)アクリレート、N−ビニルピロリドン(下記構造)、スチレンスルホン酸ナトリウム、ビニル安息香酸、等のカルボキシル基、スルホン酸基、リン酸基、アミノ基若しくはそれらの塩、水酸基、アミド基、ホスフィン基、イミダゾール基、ピリジン基、若しくはそれらの塩、及びエーテル基などの官能基を有するモノマーが使用できる。
-Monomers and macromonomers having interactive groups-
As the monomer that can be used, (meth) acrylic acid or its alkali metal salt and amine salt, itaconic acid or its alkali metal salt and amine salt, styrene sulfonate, and the like can be used. Specifically, 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, (meth) acrylamide, N-monomethylol (meth) acrylamide, N-dimethylol (meth) acrylamide, allylamine or a hydrohalide thereof, 3-vinylpropionic acid Or alkali metal salts and amine salts thereof, vinylsulfonic acid or alkali metal salts and amine salts thereof, 2-sulfoethyl (meth) acrylate, polyoxyethylene glycol mono (meth) acrylate, 2-acrylamido-2-methylpropanesulfonic acid, Acid phosphooxypolyoxyethylene glycol mono (meth) acrylate, N-vinylpyrrolidone (the following structure), sodium styrenesulfonate, vinylbenzoic acid, etc. carboxyl group, sulfonic acid group, phosphoric acid group, amino Group or their salts, hydroxyl group, amido group, phosphine group, imidazole group, pyridine group, or their salts, and a monomer having a functional group such as ether group can be used.

Figure 2008135685
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重合性基及び相互作用性基を有する化合物の例としては、マクロモノマーも使用することができる。この場合に用いられるマクロモノマーの製造方法としては、例えば、平成1年9月20日にアイピーシー出版局発行の「マクロモノマーの化学と工業」(編集者 山下雄也)の第2章「マクロモノマーの合成」に各種の製法が提案されている。用い得るマクロモノマーで特に有用なものとしては、アクリル酸、メタクリル酸などのカルボキシル基含有のモノマーから誘導されるマクロモノマー、2−アクリルアミド−2−メチルプロパンスルホン酸、ビニルスチレンスルホン酸、及びその塩のモノマーから誘導されるスルホン酸系マクロモノマー、(メタ)アクリルアミド、N−ビニルアセトアミド、N−ビニルホルムアミド、N−ビニルカルボン酸アミドモノマーから誘導されるアミド系マクロモノマー、ヒドロキシエチルメタクリレー卜、ヒドロキシエチルアクリレート、グリセロールモノメタクリレートなどの水酸基含有モノマーから誘導されるマクロモノマー、メトキシエチルアクリレート、メトキシポリエチレングリコールアクリレート、ポリエチレングリコールアクリレートなどのアルコキシ基若しくはエチレンオキシド基含有モノマーから誘導されるマクロモノマーである。またポリエチレングリコール鎖若しくはポリプロピレングリコール鎖を有するモノマーも本態様に用いられるマクロモノマーとして有用に使用することができる。これらのマクロモノマーにおいて、有用な重量平均分子量は、250〜10万の範囲であり、特に好ましい範囲は400〜3万である。   As an example of a compound having a polymerizable group and an interactive group, a macromonomer can also be used. As a method for producing the macromonomer used in this case, for example, Chapter 2 “Macromonomer” of “Macromonomer Chemistry and Industry” (editor Yuya Yamashita) published on September 20, 1999, published by IPC Publishing Bureau. Various production methods have been proposed in "Synthesis of". Particularly useful macromonomers that can be used include macromonomers derived from carboxyl group-containing monomers such as acrylic acid and methacrylic acid, 2-acrylamido-2-methylpropanesulfonic acid, vinylstyrene sulfonic acid, and salts thereof Sulfonic acid macromonomer derived from the above monomers, (meth) acrylamide, N-vinylacetamide, N-vinylformamide, amide macromonomer derived from N-vinylcarboxylic acid amide monomer, hydroxyethyl methacrylate, hydroxy Macromonomers derived from hydroxyl group-containing monomers such as ethyl acrylate and glycerol monomethacrylate, methoxyethyl acrylate, methoxypolyethylene glycol acrylate, polyethylene glycol acrylate DOO macromonomers derived from alkoxy group or ethylene oxide group-containing monomers such as. A monomer having a polyethylene glycol chain or a polypropylene glycol chain can also be usefully used as the macromonomer used in this embodiment. In these macromonomers, useful weight average molecular weights are in the range of 250 to 100,000, with a particularly preferred range being 400 to 30,000.

−重合性基及び相互作用性基を有するポリマー−
重合性基及び相互作用性基を有するポリマーは以下のように合成できる。
合成方法としては、i)相互作用性基を有するモノマーと重合性基を有するモノマーとを共重合する方法、ii)相互作用性基を有するモノマーと二重結合前駆体を有するモノマーとを共重合させ、次に塩基などの処理により二重結合を導入する方法、iii)相互作用性基を有するポリマーと重合性基を有するモノマーとを反応させる方法が挙げられる。好ましいのは、合成適性の観点から、iii)相互作用性基を有するポリマーと重合性基を有するモノマーとを反応させ、重合性基を導入する方法、及び、ii)相互作用性基を有するモノマーと二重結合前駆体を有するモノマーとを共重合させ、次に塩基などの処理により二重結合を導入する方法である。
-Polymer having polymerizable group and interacting group-
A polymer having a polymerizable group and an interactive group can be synthesized as follows.
As synthesis methods, i) a method in which a monomer having an interactive group and a monomer having a polymerizable group are copolymerized, and ii) a monomer having an interactive group and a monomer having a double bond precursor are copolymerized. And a method of introducing a double bond by treatment with a base or the like, and iii) a method of reacting a polymer having an interactive group with a monomer having a polymerizable group. From the viewpoint of synthesis suitability, iii) a method of introducing a polymerizable group by reacting a polymer having an interactive group with a monomer having a polymerizable group, and ii) a monomer having an interactive group And a monomer having a double bond precursor are copolymerized and then a double bond is introduced by treatment with a base or the like.

上記iii)の方法において、重合性基及び相互作用性基を有するポリマーの合成に用いられる、相互作用性基を有するモノマーとしては、(メタ)アクリル酸若しくはそのアルカリ金属塩及びアミン塩、イタコン酸若しくはそのアルカリ金属塩及びアミン塩、2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、(メタ)アクリルアミド、N−モノメチロール(メタ)アクリルアミド、N−ジメチロール(メタ)アクリルアミド、アリルアミン若しくはそのハロゲン化水素酸塩、3−ビニルプロピオン酸若しくはそのアルカリ金属塩及びアミン塩、ビニルスルホン酸若しくはそのアルカリ金属塩及びアミン塩、2−スルホエチル(メタ)アクリレート、ポリオキシエチレングリコールモノ(メタ)アクリレート、2−アクリルアミド−2−メチルプロパンスルホン酸、アシッドホスホオキシポリオキシエチレングリコールモノ(メタ)アクリレート、N−ビニルピロリドン(下記構造)等の、カルボキシル基、スルホン酸基、リン酸基、アミノ基、若しくはそれらの塩、水酸基、アミド基、ホスフィン基、イミダゾール基、ピリジン基、若しくはそれらの塩、及びエーテル基などの官能基を有するモノマーが挙げられる。   In the above method iii), the monomer having an interactive group used for the synthesis of a polymer having a polymerizable group and an interactive group is (meth) acrylic acid or an alkali metal salt and amine salt thereof, itaconic acid. Or alkali metal salts and amine salts thereof, 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, (meth) acrylamide, N-monomethylol (meth) acrylamide, N-dimethylol (meth) acrylamide, allylamine or a hydrohalide thereof, 3 -Vinyl propionic acid or its alkali metal salt and amine salt, vinyl sulfonic acid or its alkali metal salt and amine salt, 2-sulfoethyl (meth) acrylate, polyoxyethylene glycol mono (meth) acrylate, 2-acrylamido-2-methylpro Sulfonic acid, acid phosphooxypolyoxyethylene glycol mono (meth) acrylate, N-vinylpyrrolidone (the following structure), carboxyl group, sulfonic acid group, phosphoric acid group, amino group, or salts thereof, hydroxyl group, amide group , A phosphine group, an imidazole group, a pyridine group, or a salt thereof, and a monomer having a functional group such as an ether group.

Figure 2008135685
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また、相互作用性基を有するモノマーと共重合する重合性基を有するモノマーとしては、アリル(メタ)アクリレート、2−アリルオキシエチルメタクリレートが挙げられる。
相互作用性基を有するポリマー中のカルボキシル基、アミノ基若しくはそれらの塩、水酸基及びエポキシ基などの官能基との反応を利用して不飽和基を導入するために用いられる重合性基を有するモノマーとしては、(メタ)アクリル酸、グリシジル(メタ)アクリレート、アリルグリシジルエーテル、2−イソシアナトエチル(メタ)アクリレートなどがある。
In addition, examples of the monomer having a polymerizable group that is copolymerized with a monomer having an interactive group include allyl (meth) acrylate and 2-allyloxyethyl methacrylate.
Monomer having a polymerizable group used for introducing an unsaturated group by reaction with a functional group such as a carboxyl group, an amino group or a salt thereof, a hydroxyl group and an epoxy group in a polymer having an interactive group As (meth) acrylic acid, glycidyl (meth) acrylate, allyl glycidyl ether, 2-isocyanatoethyl (meth) acrylate, and the like.

次に、ii)相互作用性基を有するモノマーと二重結合前駆体を有するモノマーとを共重合させ、次に塩基などの処理により二重結合を導入する方法について詳しく述べる。本合成手法に関しては、特開2003−335814号公報に記載の手法を用いることができる。二重結合前駆体を有するモノマーとしては、特開2003−335814記載の化合物(i−1〜i−60)が使用することができ、この中でも特に下記(i−1)が好ましい。   Next, ii) a method of copolymerizing a monomer having an interactive group and a monomer having a double bond precursor and then introducing a double bond by treatment with a base or the like will be described in detail. Regarding this synthesis method, the method described in JP-A No. 2003-335814 can be used. As the monomer having a double bond precursor, compounds (i-1 to i-60) described in JP-A-2003-335814 can be used, and among these, the following (i-1) is particularly preferable.

Figure 2008135685
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更に、相互作用性基を有するポリマー中の、カルボキシル基、アミノ基若しくはそれらの塩、水酸基、及びエポキシ基などの官能基との反応を利用して、不飽和基を導入するために用いられる重合性基を有するモノマーとしては、(メタ)アクリル酸、グリシジル(メタ)アクリレート、アリルグリシジルエーテル、2−イソシアナトエチル(メタ)アクリレートなどがある。
ii)相互作用性基を有するモノマーと二重結合前駆体を有するモノマーとを共重合させた後の、塩基などの処理により二重結合を導入する方法については、例えば、特開2003−335814号公報に記載の手法を用いることができる。
Furthermore, polymerization used to introduce unsaturated groups by utilizing a reaction with a functional group such as a carboxyl group, an amino group or a salt thereof, a hydroxyl group, and an epoxy group in a polymer having an interactive group Examples of the monomer having a functional group include (meth) acrylic acid, glycidyl (meth) acrylate, allyl glycidyl ether, and 2-isocyanatoethyl (meth) acrylate.
ii) Regarding a method of introducing a double bond by treatment with a base after copolymerizing a monomer having an interactive group and a monomer having a double bond precursor, for example, JP-A-2003-335814 The technique described in the publication can be used.

本発明において、重合性基と相互作用性基とを有する高分子化合物としては、配線間の絶縁信頼性の向上の観点から、相互作用性基としてシアノ基を有するポリマー(以下、「シアノ基含有重合性ポリマー」と称する。)を好適に用いることができる。   In the present invention, the polymer compound having a polymerizable group and an interactive group includes a polymer having a cyano group as an interactive group (hereinafter referred to as “cyano group-containing” from the viewpoint of improving the insulation reliability between wirings. Can be suitably used.

本発明におけるシアノ基含有重合性ポリマーとしては、例えば、下記式(1)で表されるユニット、及び、下記式(2)で表されるユニットを含む共重合体であることが好ましい。   The cyano group-containing polymerizable polymer in the present invention is preferably a copolymer including, for example, a unit represented by the following formula (1) and a unit represented by the following formula (2).

Figure 2008135685
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上記式(1)及び式(2)中、R〜Rは、各々独立して、水素原子、又は置換若しくは無置換のアルキル基を表し、X、Y及びZは、各々独立して、単結合、置換若しく無置換の二価の有機基、エステル基、アミド基、又はエーテル基を表し、L及びLは、各々独立して、置換若しくは無置換の二価の有機基を表す。 In the above formulas (1) and (2), R 1 to R 5 each independently represent a hydrogen atom or a substituted or unsubstituted alkyl group, and X, Y, and Z are each independently A single bond, a substituted or unsubstituted divalent organic group, an ester group, an amide group, or an ether group; L 1 and L 2 each independently represents a substituted or unsubstituted divalent organic group; To express.

〜Rが、置換若しくは無置換のアルキル基である場合、無置換のアルキル基としては、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基が挙げられ、また、置換アルキル基としては、メトキシ基、ヒドロキシ基、塩素原子、臭素原子、フッ素原子等で置換された、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基が挙げられる。
なお、Rとしては、水素原子、メチル基、或いはヒドロキシ基、又は臭素原子で置換されたメチル基が好ましい。
としては、水素原子、メチル基、或いはヒドロキシ基、又は臭素原子で置換されたメチル基が好ましい。
としては、水素原子が好ましい。
としては、水素原子が好ましい。
としては、水素原子、メチル基が好ましい。
When R 1 to R 5 are substituted or unsubstituted alkyl groups, examples of the unsubstituted alkyl group include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, and a butyl group, and examples of the substituted alkyl group include methoxy And a methyl group, an ethyl group, a propyl group, and a butyl group substituted with a group, a hydroxy group, a chlorine atom, a bromine atom, a fluorine atom, and the like.
R 1 is preferably a hydrogen atom, a methyl group, a hydroxy group, or a methyl group substituted with a bromine atom.
R 2 is preferably a hydrogen atom, a methyl group, a hydroxy group, or a methyl group substituted with a bromine atom.
R 3 is preferably a hydrogen atom.
R 4 is preferably a hydrogen atom.
R 5 is preferably a hydrogen atom or a methyl group.

X、Y及びZが、置換若しくは無置換の二価の有機基の場合、該二価の有機基としては、置換若しくは無置換の脂肪族炭化水素基、置換若しくは無置換の芳香族炭化水素基が挙げられる。
置換若しくは無置換の脂肪族炭化水素基としては、メチレン基、エチレン基、プロピレン基、ブチレン基、又はこれらの基が、メトキシ基、ヒドロキシ基、塩素原子、臭素原子、フッ素原子等で置換されたものが好ましい。
置換若しくは無置換の芳香族炭化水素基としては、無置換のフェニル基、若しくは、メトキシ基、ヒドロキシ基、塩素原子、臭素原子、フッ素原子等で置換されたフェニル基が好ましい。
中でも、−(CH−(nは1〜3の整数)が好ましく、更に好ましくは−CH−である。
When X, Y and Z are a substituted or unsubstituted divalent organic group, the divalent organic group includes a substituted or unsubstituted aliphatic hydrocarbon group, a substituted or unsubstituted aromatic hydrocarbon group. Is mentioned.
As the substituted or unsubstituted aliphatic hydrocarbon group, a methylene group, an ethylene group, a propylene group, a butylene group, or these groups are substituted with a methoxy group, a hydroxy group, a chlorine atom, a bromine atom, a fluorine atom, or the like. Those are preferred.
The substituted or unsubstituted aromatic hydrocarbon group is preferably an unsubstituted phenyl group or a phenyl group substituted with a methoxy group, a hydroxy group, a chlorine atom, a bromine atom, a fluorine atom or the like.
Among them, - (CH 2) n - (n is an integer of 1 to 3) are preferred, more preferably -CH 2 -.

は、ウレタン結合又はウレア結合を有する二価の有機基が好ましく、中でも、総炭素数1〜9であるものが好ましい。なお、ここで、Lの総炭素数とは、Lで表される置換若しくは無置換の二価の有機基に含まれる総炭素原子数を意味する。
の構造として、より具体的には、下記式(1−1)、又は、式(1−2)で表される構造であることが好ましい。
L 1 is preferably a divalent organic group having a urethane bond or a urea bond, and among them, those having a total carbon number of 1 to 9 are preferable. Incidentally, the total number of carbon atoms of L 1, means the total number of carbon atoms contained in the substituted or unsubstituted divalent organic group represented by L 1.
More specifically, the structure of L 1 is preferably a structure represented by the following formula (1-1) or formula (1-2).

Figure 2008135685
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上記式(1−1)及び式(1−2)中、R及びRは、各々独立して、置換若しくは無置換の、メチレン基、エチレン基、プロピレン基、又はブチレン基を表す。 In the above formula (1-1) and formula (1-2), R a and R b each independently represent a substituted or unsubstituted methylene group, ethylene group, propylene group, or butylene group.

また、Lは、直鎖、分岐、若しくは環状のアルキレン基、芳香族基、又はこれらを組み合わせた基であることが好ましい。該アルキレン基と芳香族基とを組み合わせた基は、更に、エーテル基、エステル基、アミド基、ウレタン基、ウレア基を介していてもよい。中でも、Lは総炭素数が1〜15であることが好ましく、特に無置換であることが好ましい。なお、ここで、Lの総炭素数とは、Lで表される置換若しくは無置換の二価の有機基に含まれる総炭素原子数を意味する。
具体的には、メチレン基、エチレン基、プロピレン基、ブチレン基、フェニレン基、及びこれらの基が、メトキシ基、ヒドロキシ基、塩素原子、臭素原子、フッ素原子等で置換されたもの、更には、これらを組み合わせた基が挙げられる。
L 2 is preferably a linear, branched, or cyclic alkylene group, an aromatic group, or a group obtained by combining these. The group obtained by combining the alkylene group and the aromatic group may further be via an ether group, an ester group, an amide group, a urethane group, or a urea group. Among them, L 2 preferably has 1 to 15 total carbon atoms, and particularly preferably unsubstituted. Incidentally, the total number of carbon atoms of L 2, means the total number of carbon atoms contained in the substituted or unsubstituted divalent organic group represented by L 2.
Specifically, methylene group, ethylene group, propylene group, butylene group, phenylene group, and those groups substituted with methoxy group, hydroxy group, chlorine atom, bromine atom, fluorine atom, etc., The group which combined these is mentioned.

本発明におけるシアノ基含有重合性ポリマーとしては、前記式(1)で表されるユニットが、下記式(3)で表されるユニットであることが好ましい。   As the cyano group-containing polymerizable polymer in the present invention, the unit represented by the formula (1) is preferably a unit represented by the following formula (3).

Figure 2008135685
Figure 2008135685

上記式(3)中、R及びRは、各々独立して、水素原子、又は置換若しく無置換のアルキル基を表し、Zは、単結合、置換若しくは無置換の二価の有機基、エステル基、アミド基、又はエーテル基を表し、Wは、窒素原子、又は酸素原子、Lは、置換若しくは無置換の二価の有機基を表す。 In the above formula (3), R 1 and R 2 each independently represent a hydrogen atom or a substituted or unsubstituted alkyl group, and Z is a single bond, a substituted or unsubstituted divalent organic group. Represents an ester group, an amide group, or an ether group, W represents a nitrogen atom or an oxygen atom, and L 1 represents a substituted or unsubstituted divalent organic group.

式(3)におけるR及びRは、前記式(1)におけるR及びRと同義であり、好ましい例も同様である。 R 1 and R 2 in Formula (3), the formula (1) has the same meaning as R 1 or R 2 in, are the preferable examples.

式(3)におけるZは、前記式(1)におけるZと同義であり、好ましい例も同様である。
また、式(3)におけるLも、前記式(1)におけるLと同義であり、好ましい例も同様である。
Z in formula (3) has the same meaning as Z in formula (1), and the preferred examples are also the same.
Further, L 1 in the formula (3) also has the same meaning as L 1 in Formula (1), and preferred examples are also the same.

本発明におけるシアノ基含有重合性ポリマーとしては、前記式(3)で表されるユニットが、下記式(4)で表されるユニットであることが好ましい。   As the cyano group-containing polymerizable polymer in the present invention, the unit represented by the formula (3) is preferably a unit represented by the following formula (4).

Figure 2008135685
Figure 2008135685

式(4)中、R及びRは、各々独立して、水素原子、又は置換若しく無置換のアルキル基を表し、V及びWは、各々独立して、窒素原子又は酸素原子を表し、Lは、置換若しくは無置換の二価の有機基を表す。 In formula (4), R 1 and R 2 each independently represent a hydrogen atom or a substituted or unsubstituted alkyl group, and V and W each independently represent a nitrogen atom or an oxygen atom. , L 1 represents a substituted or unsubstituted divalent organic group.

式(4)におけるR及びRは、前記式(1)におけるR及びRと同義であり、好ましい例も同様である。 R 1 and R 2 in the formula (4), the formula (1) have the same meanings as R 1 and R 2 in, and so are the preferable examples.

式(4)におけるLは、前記式(1)におけるLと同義であり、好ましい例も同様である。 L 1 in Formula (4) has the same meaning as L 1 in Formula (1), and the preferred examples are also the same.

前記式(3)及び式(4)において、Wは、酸素原子であることが好ましい。
また、前記式(3)及び式(4)において、Lは、無置換のアルキレン基、或いは、ウレタン結合又はウレア結合を有する二価の有機基が好ましく、これら中でも、総炭素数1〜9であるものが特に好ましい。
In the formulas (3) and (4), W is preferably an oxygen atom.
In Formulas (3) and (4), L 1 is preferably an unsubstituted alkylene group or a divalent organic group having a urethane bond or a urea bond, and among these, the total number of carbon atoms is 1 to 9. Are particularly preferred.

また、本発明におけるシアノ基含有重合性ポリマーとしては、前記式(2)で表されるユニットが、下記式(5)で表されるユニットであることが好ましい。   Moreover, as a cyano group containing polymeric polymer in this invention, it is preferable that the unit represented by said Formula (2) is a unit represented by following formula (5).

Figure 2008135685
Figure 2008135685

上記式(5)中、Rは、水素原子、又は置換若しく無置換のアルキル基を表し、Uは、窒素原子又は酸素原子を表し、Lは、置換若しくは無置換の二価の有機基を表す。 In the above formula (5), R 2 represents a hydrogen atom or a substituted or unsubstituted alkyl group, U represents a nitrogen atom or an oxygen atom, and L 2 represents a substituted or unsubstituted divalent organic group. Represents a group.

式(5)におけるRは、前記式(1)におけるR及びRと同義であり、水素原子であることが好ましい。 R 2 in Formula (5) has the same meaning as R 1 and R 2 in Formula (1), and is preferably a hydrogen atom.

また、式(5)におけるLは、前記式(1)におけるLと同義であり、直鎖、分岐、若しくは環状のアルキレン基、芳香族基、又はこれらを組み合わせた基であることが好ましい。
特に、式(5)においては、Lが、シアノ基との連結部位に、直鎖、分岐、若しくは環状のアルキレン基を有する二価の有機基であることが好ましく、中でも、この二価の有機基が総炭素数1〜10であることが好ましい。
また、別の好ましい態様としては、式(5)におけるLが、シアノ基との連結部位に、芳香族基を有する二価の有機基であることが好ましく、中でも、該二価の有機基が、総炭素数6〜15であることが好ましい。
L 2 in formula (5) has the same meaning as L 2 in formula (1), and is preferably a linear, branched, or cyclic alkylene group, an aromatic group, or a group obtained by combining these. .
In particular, in Formula (5), L 2 is preferably a divalent organic group having a linear, branched, or cyclic alkylene group at the site of connection with the cyano group. The organic group preferably has 1 to 10 carbon atoms.
In another preferred embodiment, L 2 in Formula (5) is preferably a divalent organic group having an aromatic group at the site of connection with the cyano group. Among these, the divalent organic group is preferred. However, it is preferable that it is C6-C15.

本発明におけるシアノ基含有重合性ポリマーは、前記式(1)〜式(5)で表されるユニットを含んで構成されるものであり、重合性基とシアノ基とを側鎖に有するポリマーである。
このシアノ基含有重合性ポリマーは、例えば、以下のように合成することができる。
The cyano group-containing polymerizable polymer in the present invention includes a unit represented by the above formulas (1) to (5), and is a polymer having a polymerizable group and a cyano group in the side chain. is there.
This cyano group-containing polymerizable polymer can be synthesized, for example, as follows.

重合反応の種類としては、ラジカル重合、カチオン重合、アニオン重合が挙げられる。反応制御の観点から、ラジカル重合、カチオン重合を用いることが好ましい。
本発明におけるシアノ基含有重合性ポリマーは、1)ポリマー主鎖を形成する重合形態と側鎖に導入される重合性基の重合形態とが異なる場合と、2)ポリマー主鎖を形成する重合形態と側鎖に導入される重合性基の重合形態とが同一の場合とで、その合成方法が異なる。
Examples of the polymerization reaction include radical polymerization, cationic polymerization, and anionic polymerization. From the viewpoint of reaction control, radical polymerization or cationic polymerization is preferably used.
The cyano group-containing polymerizable polymer in the present invention includes: 1) a case where a polymerization form forming a polymer main chain is different from a polymerization form of a polymerizable group introduced into a side chain; and 2) a polymerization form forming a polymer main chain. And the synthesis method of the polymerizable group introduced into the side chain is different in the synthesis method.

1)ポリマー主鎖を形成する重合形態と側鎖に導入される重合性基の重合形態が異なる場合
ポリマー主鎖を形成する重合形態と側鎖に導入される重合性基の重合形態が異なる場合は、1−1)ポリマー主鎖形成がカチオン重合で行われ、側鎖に導入される重合性基の重合形態がラジカル重合である態様と、1−2)ポリマー主鎖形成がラジカル重合で行われ、側鎖に導入される重合性基の重合形態がカチオン重合である態様と、がある。
1) When the polymerization form forming the polymer main chain is different from the polymerization form of the polymerizable group introduced into the side chain When the polymerization form forming the polymer main chain is different from the polymerization form of the polymerizable group introduced into the side chain 1-1) An embodiment in which the polymer main chain is formed by cationic polymerization and the polymerization form of the polymerizable group introduced into the side chain is radical polymerization, and 1-2) the polymer main chain is formed by radical polymerization. There is a mode in which the polymerization form of the polymerizable group introduced into the side chain is cationic polymerization.

1−1)ポリマー主鎖形成がカチオン重合で行われ、側鎖に導入される重合性基の重合形態がラジカル重合である態様
本発明において、ポリマー主鎖形成がカチオン重合で行われ、側鎖に導入される重合性基の重合形態がラジカル重合である態様で用いられるモノマーとしては、以下の化合物が挙げられる。
1-1) A mode in which polymer main chain formation is performed by cationic polymerization, and a polymerization form of a polymerizable group introduced into a side chain is radical polymerization. In the present invention, polymer main chain formation is performed by cationic polymerization, and a side chain is formed. Examples of the monomer used in an embodiment in which the polymerization form of the polymerizable group introduced into the radical polymerization is radical polymerization include the following compounds.

・重合性基含有ユニットを形成するために用いられるモノマー
本態様に用いられる重合性基含有ユニットを形成するために用いられるモノマーとしては、ビニル(メタ)アクリレート、アリル(メタ)アクリレート、4−(メタ)アクリロイルブタンビニルエーテル、2−(メタ)アクリロイルエタンビニルエーテル、3−(メタ)アクリロイルプロパンビニルエーテル、(メタ)アクリロイロキシジエチレングリコールビニルエーテル、(メタ)アクリロイロキシトリエチレングリコールビニルエーテル、(メタ)アクリロイル1stテルピオネール、1−(メタ)アクリロイロキシ−2−メチル−2−プロペン、1−(メタ)アクリロイロキシ−3−メチル−3−ブテン、3−メチレン−2−(メタ)アクリロイロキシ−ノルボルナン、4,4’−エチリデンジフェノールジ(メタ)アクリレート、メタクロレインジ(メタ)アクリロイルアセタール、p−((メタ)アクリロイルメチル)スチレン、アリル(メタ)アクリレート、2−(ブロモメチル)アクリル酸ビニル、2−(ヒドロキシメチル)アクリル酸アリル等が挙げられる。
-Monomers used to form polymerizable group-containing units As monomers used to form polymerizable group-containing units used in this embodiment, vinyl (meth) acrylate, allyl (meth) acrylate, 4- ( (Meth) acryloylbutane vinyl ether, 2- (meth) acryloylethane vinyl ether, 3- (meth) acryloylpropane vinyl ether, (meth) acryloyloxydiethylene glycol vinyl ether, (meth) acryloyloxytriethylene glycol vinyl ether, (meth) acryloyl 1st ter Pioneer, 1- (meth) acryloyloxy-2-methyl-2-propene, 1- (meth) acryloyloxy-3-methyl-3-butene, 3-methylene-2- (meth) acryloyloxy-norbornane, 4,4′-ethylidene diphenol di (meth) acrylate, methacrolein di (meth) acryloyl acetal, p-((meth) acryloylmethyl) styrene, allyl (meth) acrylate, 2- (bromomethyl) vinyl acrylate, 2- (Hydroxymethyl) allyl acrylate and the like.

・シアノ基含有ユニット形成するために用いられるモノマー
本態様に用いられるシアノ基含有ユニット形成するために用いられるモノマーとしては、2−シアノエチルビニルエーテル、シアノメチルビニルエーテル、3−シアノプロピルビニルエーテル、4−シアノブチルビニルエーテル、1−(p−シアノフェノキシ)−2−ビニロキシ−エタン、1−(o−シアノフェノキシ)−2−ビニロキシ−エタン、1−(m−シアノフェノキシ)−2−ビニロキシ−エタン、1−(p−シアノフェノキシ)−3−ビニロキシ−プロパン、1−(p−シアノフェノキシ)−4−ビニロキシ−ブタン、o−シアノベンジルビニルエーテル、m―シアノベンジルビニルエーテル、p―シアノベンジルビニルエーテル、アリルシアニド、アリルシアノ酢酸や、以下の化合物等が挙げられる。
Monomers used to form cyano group-containing units Monomers used to form cyano group-containing units used in this embodiment include 2-cyanoethyl vinyl ether, cyanomethyl vinyl ether, 3-cyanopropyl vinyl ether, 4-cyanobutyl Vinyl ether, 1- (p-cyanophenoxy) -2-vinyloxy-ethane, 1- (o-cyanophenoxy) -2-vinyloxy-ethane, 1- (m-cyanophenoxy) -2-vinyloxy-ethane, 1- ( p-cyanophenoxy) -3-vinyloxy-propane, 1- (p-cyanophenoxy) -4-vinyloxy-butane, o-cyanobenzyl vinyl ether, m-cyanobenzyl vinyl ether, p-cyanobenzyl vinyl ether, allyl cyanide, allyl cyanoacetic acid And the following compounds.

Figure 2008135685
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重合方法は、実験化学講座「高分子化学」2章−4(p74)に記載の方法や、「高分子合成の実験方法」大津隆行著 7章(p195)に記載の一般的なカチオン重合法が使用できる。なお、カチオン重合には、プロトン酸、ハロゲン化金属、有機金属化合物、有機塩、金属酸化物及び固体酸、ハロゲンが開始剤として用いることができるが、この中で、活性が大きく高分子量が合成可能な開始剤として、ハロゲン化金属と有機金属化合物の使用が好ましい。
具体的には、3フッ化ホウ素、3塩化ホウ素、塩化アルミ、臭化アルミ、四塩化チタン、四塩化スズ、臭化スズ、5フッ化リン、塩化アンチモン、塩化モリブデン、塩化タングステン、塩化鉄、ジクロロエチルアルミニウム、クロロジエチルアルミニウム、ジクロロメチルアルミニウム、クロロジメチルアルミニウム、トリメチルアルミニウム、トリメチル亜鉛、メチルグリニアが挙げられる。
Polymerization methods include general cation polymerization methods described in Experimental Chemistry Course “Polymer Chemistry”, Chapter 2-4 (p74) and “Experimental Methods for Polymer Synthesis” written by Takayuki Otsu, Chapter 7 (p195). Can be used. In the cationic polymerization, proton acids, metal halides, organometallic compounds, organic salts, metal oxides and solid acids, and halogens can be used as initiators. As possible initiators, the use of metal halides and organometallic compounds is preferred.
Specifically, boron trifluoride, boron trichloride, aluminum chloride, aluminum bromide, titanium tetrachloride, tin tetrachloride, tin bromide, phosphorus pentafluoride, antimony chloride, molybdenum chloride, tungsten chloride, iron chloride, Examples include dichloroethylaluminum, chlorodiethylaluminum, dichloromethylaluminum, chlorodimethylaluminum, trimethylaluminum, trimethylzinc, and methylgrineer.

1−2)ポリマー主鎖形成がラジカル重合で行われ、側鎖に導入される重合性基の重合形態がカチオン重合である態様
本発明において、ポリマー主鎖形成がラジカル重合で行われ、側鎖に導入される重合性基の重合形態がカチオン重合である態様用いられるモノマーとしては、以下の化合物が挙げられる。
1-2) A mode in which polymer main chain formation is performed by radical polymerization and the polymerization form of the polymerizable group introduced into the side chain is cationic polymerization In the present invention, polymer main chain formation is performed by radical polymerization, and the side chain Examples of the monomer used in an embodiment in which the polymerization form of the polymerizable group introduced into is cationic polymerization include the following compounds.

・重合性基含有ユニット形成するために用いられるモノマー
上記1−1)の態様で挙げた重合性基含有ユニット形成するために用いられるモノマーと同じものを用いることができる。
-Monomer used for forming polymerizable group-containing unit The same monomers as those used for forming the polymerizable group-containing unit mentioned in the embodiment 1-1) can be used.

・シアノ基含有ユニット形成するために用いられるモノマー
本態様に用いられるシアノ基含有ユニット形成するために用いられるモノマーとしては、シアノメチル(メタ)アクリレート、2−シアノエチル(メタ)アクリレート、3−シアノプロピル(メタ)アクリレート、2−シアノプロピル(メタ)アクリレート、1−シアノエチル(メタ)アクリレート、4−シアノブチル(メタ)アクリレート、5−シアノペンチル(メタ)アクリレート、6−シアノヘキシル(メタ)アクリレート、7−シアノヘキシル(メタ)アクリレート、8−シアノヘキシル(メタ)アクリレート、2−シアノエチル−(3−(ブロモメチル)アクリルレート)、2−シアノエチル−(3−(ヒドロキシメチル)アクリルレート)、p−シアノフェニル(メタ)アクリレート、o−シアノフェニル(メタ)アクリレート、m−シアノフェニル(メタ)アクリレート、5−(メタ)アクリロイル−2−カルボニトリロ−ノルボルネン、6−(メタ)アクリロイル−2−カルボニトリロ−ノルボルネン、1−シアノ−1−(メタ)アクリロイル−シクロヘキサン、1,1−ジメチル−1−シアノ−(メタ)アクリレート、1−ジメチル−1−エチル−1−シアノ−(メタ)アクリレート、o−シアノベンジル(メタ)アクリレート、m−シアノベンジル(メタ)アクリレート、p−シアノベンジル(メタ)アクリレート、1―シアノシクロヘプチルアクリレート、2―シアノフェニルアクリレート、3―シアノフェニルアクリレート、シアノ酢酸ビニル、1―シアノ−1―シクロプロパンカルボン酸ビニル、シアノ酢酸アリル、1―シアノ−1―シクロプロパンカルボン酸アリル、N,N―ジシアノメチル(メタ)アクリルアミド、N−シアノフェニル(メタ)アクリルアミド、アリルシアノメチルエーテル、アリル−o―シアノエチルエーテル、アリル−m―シアノベンジルエーテル、アリル−p―シアノベンジルエーテルなどが挙げられる。
また、上記モノマーの水素の一部を、ヒドロキシル基、アルコキシ基、ハロゲン、シアノ基などで置換した構造を持つモノマーも使用可能である。
Monomers used to form cyano group-containing units Monomers used to form cyano group-containing units used in this embodiment include cyanomethyl (meth) acrylate, 2-cyanoethyl (meth) acrylate, 3-cyanopropyl ( (Meth) acrylate, 2-cyanopropyl (meth) acrylate, 1-cyanoethyl (meth) acrylate, 4-cyanobutyl (meth) acrylate, 5-cyanopentyl (meth) acrylate, 6-cyanohexyl (meth) acrylate, 7-cyano Hexyl (meth) acrylate, 8-cyanohexyl (meth) acrylate, 2-cyanoethyl- (3- (bromomethyl) acrylate), 2-cyanoethyl- (3- (hydroxymethyl) acrylate), p-cyanophenyl (meth) ) Acrylate, o-cyanophenyl (meth) acrylate, m-cyanophenyl (meth) acrylate, 5- (meth) acryloyl-2-carbonitryl-norbornene, 6- (meth) acryloyl-2-carbonitryl-norbornene, 1 -Cyano-1- (meth) acryloyl-cyclohexane, 1,1-dimethyl-1-cyano- (meth) acrylate, 1-dimethyl-1-ethyl-1-cyano- (meth) acrylate, o-cyanobenzyl (meta ) Acrylate, m-cyanobenzyl (meth) acrylate, p-cyanobenzyl (meth) acrylate, 1-cyanocycloheptyl acrylate, 2-cyanophenyl acrylate, 3-cyanophenyl acrylate, vinyl cyanoacetate, 1-cyano-1- Cyclopropanecarboxylic acid vinyl , Allyl cyanoacetate, allyl 1-cyano-1-cyclopropanecarboxylate, N, N-dicyanomethyl (meth) acrylamide, N-cyanophenyl (meth) acrylamide, allyl cyanomethyl ether, allyl-o-cyanoethyl ether, allyl -M-cyanobenzyl ether, allyl-p-cyanobenzyl ether and the like.
A monomer having a structure in which a part of hydrogen of the monomer is substituted with a hydroxyl group, an alkoxy group, a halogen, a cyano group, or the like can also be used.

重合方法は、実験化学講座「高分子化学」2章−2(p34)に記載の方法や、「高分子合成の実験方法」大津隆行著 5章(p125)に記載の一般的なラジカル重合法が使用できる。なお、ラジカル重合の開始剤には、100℃以上の加熱が必要な高温開始剤、40〜100℃の加熱で開始する通常開始剤、極低温で開始するレドックス開始剤などが知られているが、開始剤の安定性、重合反応のハンドリングのし易さから、通常開始剤が好ましい。
通常開始剤としては、過酸化ベンゾイル、過酸化ラウロイル、ペルオキソ2硫酸塩、アゾビスイソブチロニトリル、アゾビル−2,4−ジメチルバレロニトリルが挙げられる。
Polymerization methods include general radical polymerization methods described in Experimental Chemistry Course “Polymer Chemistry” Chapter 2-2 (p34) and “Experimental Methods for Polymer Synthesis” written by Takayuki Otsu Chapter 5 (p125). Can be used. As the initiator for radical polymerization, a high-temperature initiator that requires heating at 100 ° C. or higher, a normal initiator that starts by heating at 40 to 100 ° C., a redox initiator that starts at a very low temperature, and the like are known. In general, an initiator is preferred from the viewpoint of stability of the initiator and ease of handling of the polymerization reaction.
Usual initiators include benzoyl peroxide, lauroyl peroxide, peroxodisulfate, azobisisobutyronitrile, azovir-2,4-dimethylvaleronitrile.

2)ポリマー主鎖を形成する重合形態と側鎖に導入される重合性基の重合形態とが同一の場合
ポリマー主鎖を形成する重合形態と側鎖に導入される重合性基の重合形態とが同一の場合は、2−1)両者がカチオン重合の態様と、2−2)両者がラジカル重合である態様と、がある。
2) When the polymerization form forming the polymer main chain is the same as the polymerization form of the polymerizable group introduced into the side chain Polymerization form forming the polymer main chain and the polymerization form of the polymerizable group introduced into the side chain Are the same, 2-1) both are cationic polymerization, and 2-2) both are radical polymerization.

2−1)両者がカチオン重合の態様
両者がカチオン重合の態様には、シアノ基を有するモノマーとして、前記1−1)の態様で挙げたシアノ基含有ユニット形成するために用いられるモノマーと同じものを用いることができる。
なお、重合中のゲル化を防止する観点から、シアノ基を有するポリマーを予め合成した後、該ポリマーと重合性基を有する化合物(以下、適宜、「反応性化合物」と称する。)とを反応させ、重合性基を導入する方法を用いることが好ましい。
2-1) Both are aspects of cationic polymerization In both aspects of cationic polymerization, as the monomer having a cyano group, the same monomers as those used for forming the cyano group-containing unit mentioned in the aspect of 1-1) are used. Can be used.
From the viewpoint of preventing gelation during polymerization, a polymer having a cyano group is synthesized in advance, and then the polymer and a compound having a polymerizable group (hereinafter, referred to as “reactive compound” as appropriate) are reacted. And a method of introducing a polymerizable group is preferably used.

なお、シアノ基を有するポリマーは、反応性化合物との反応のために、下記に示すような反応性基を有することが好ましい。
また、シアノ基を有するポリマーと反応性化合物とは、以下のような官能基の組み合わせとなるように、適宜、選択されることが好ましい。
具体的な組み合わせとしては、(ポリマーの反応性基、反応性化合物の官能基)=(カルボキシル基、カルボキシル基)、(カルボキシル基、エポキシ基)、(カルボキシル基、イソシアネート基)、(カルボキシル基、ハロゲン化ベンジル)、(水酸基、カルボキシル基)、(水酸基、エポキシ基)、(水酸基、イソシアネート基)、(水酸基、ハロゲン化ベンジル)(イソシアネート基、水酸基)、(イソシアネート基、カルキシル基)等を挙げることができる。
In addition, it is preferable that the polymer which has a cyano group has a reactive group as shown below for reaction with a reactive compound.
Moreover, it is preferable that the polymer having a cyano group and the reactive compound are appropriately selected so as to be a combination of the following functional groups.
Specific combinations include (polymer reactive group, functional group of reactive compound) = (carboxyl group, carboxyl group), (carboxyl group, epoxy group), (carboxyl group, isocyanate group), (carboxyl group, Benzyl halide), (hydroxyl group, carboxyl group), (hydroxyl group, epoxy group), (hydroxyl group, isocyanate group), (hydroxyl group, halogenated benzyl) (isocyanate group, hydroxyl group), (isocyanate group, carboxyl group), etc. be able to.

ここで、反応性化合物として、具体的には、以下に示す化合物を用いることができる。
即ち、アリルアルコール、4−ヒドロキシブタンビニルエーテル、2−ヒドロキシエタンビニルエーテル、3−ヒドロキシプロパンビニルエーテル、ヒドロキシトリエチレングリコールビニルエーテル、1stテルピオネール、2−メチル−2−プロペノール、3−メチル−3−ブテノール、3−メチレン−2−ヒドロキシ−ノルボルナン、p−(クロロメチル)スチレンである。
Here, specifically, the following compounds can be used as the reactive compound.
That is, allyl alcohol, 4-hydroxybutane vinyl ether, 2-hydroxyethane vinyl ether, 3-hydroxypropane vinyl ether, hydroxytriethylene glycol vinyl ether, 1st terpionol, 2-methyl-2-propenol, 3-methyl-3-butenol, 3 -Methylene-2-hydroxy-norbornane, p- (chloromethyl) styrene.

2−2)両者がラジカル重合である態様
両者がラジカル重合である態様では、合成方法としては、i)シアノ基を有するモノマーと重合性基を有するモノマーとを共重合する方法、ii)シアノ基を有するモノマーと二重結合前駆体を有するモノマーとを共重合させ、次に塩基などの処理により二重結合を導入する方法、iii)シアノ基を有するポリマーと重合性基を有するモノマーとを反応させ、二重結合を導入(重合性基を導入する)方法が挙げられる。好ましいのは、合成適性の観点から、ii)シアノ基を有するモノマーと二重結合前駆体を有するモノマーとを共重合させ、次に塩基などの処理により二重結合を導入する方法、iii)シアノ基を有するポリマーと重合性基を有するモノマーとを反応させ、重合性基を導入する方法である。
2-2) Aspect in which both are radical polymerizations In a mode in which both are radical polymerizations, the synthesis method includes i) a method of copolymerizing a monomer having a cyano group and a monomer having a polymerizable group, ii) a cyano group A method of copolymerizing a monomer having a monomer and a monomer having a double bond precursor and then introducing a double bond by treatment with a base or the like; iii) reacting a polymer having a cyano group with a monomer having a polymerizable group And introducing a double bond (introducing a polymerizable group). From the viewpoint of synthesis suitability, ii) a method in which a monomer having a cyano group and a monomer having a double bond precursor are copolymerized and then a double bond is introduced by treatment with a base or the like, iii) cyano In this method, a polymer having a group and a monomer having a polymerizable group are reacted to introduce a polymerizable group.

前記i)の合成方法で用いられる重合性基を有するモノマーとしては、アリル(メタ)アクリレートや、以下の化合物などが挙げられる。   Examples of the monomer having a polymerizable group used in the synthesis method i) include allyl (meth) acrylate and the following compounds.

Figure 2008135685
Figure 2008135685

前記ii)の合成方法で用いられる二重結合前駆体を有するモノマーとしては、下記式(a)で表される化合物などが挙げられる。   Examples of the monomer having a double bond precursor used in the synthesis method ii) include compounds represented by the following formula (a).

Figure 2008135685
Figure 2008135685

上記式(a)中、Aは重合性基を有する有機団、R〜Rは、各々独立して、水素原子又は1価の有機基、B及びCは脱離反応により除去される脱離基であり、ここでいう脱離反応とは、塩基の作用によりCが引き抜かれ、Bが脱離するものである。Bはアニオンとして、Cはカチオンとして脱離するものが好ましい。
式(a)で表される化合物としては、具体的には以下の化合物を挙げることができる。
In the above formula (a), A is an organic group having a polymerizable group, R 1 to R 3 are each independently a hydrogen atom or a monovalent organic group, and B and C are removed by elimination reaction. This is a leaving group, and the elimination reaction referred to here is one in which C is extracted by the action of a base and B is eliminated. B is preferably eliminated as an anion and C as a cation.
Specific examples of the compound represented by the formula (a) include the following compounds.

Figure 2008135685
Figure 2008135685

Figure 2008135685
Figure 2008135685

また、前記ii)の合成方法において、二重結合前駆体を二重結合に変換するには、下記に示すように、B、Cで表される脱離基を脱離反応により除去する方法、つまり、塩基の作用によりCを引き抜き、Bが脱離する反応を使用する。   Further, in the synthesis method of ii), in order to convert the double bond precursor into a double bond, as shown below, a method for removing the leaving groups represented by B and C by elimination reaction, That is, a reaction in which C is extracted by the action of a base and B is eliminated is used.

Figure 2008135685
Figure 2008135685

上記の脱離反応において用いられる塩基としては、アルカリ金属類の水素化物、水酸化物又は炭酸塩、有機アミ化合物、金属アルコキシド化合物が好ましい例として挙げられる。アルカリ金属類の水素化物、水酸化物、又は炭酸塩の好ましい例としては、水素化ナトリウム、水素化カルシウム、水素化カリウム、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、水酸化カルシウム、炭酸カリウム、炭酸ナトリウム、炭酸水素カリウム、炭酸水素ナトリウムなどが挙げられる。有機アミン化合物の好ましい例としては、トリメチルアミン、トリエチルアミン、ジエチルメチルアミン、トリブチルアミン、トリイソブチルアミン、トリヘキシルアミン、トリオクチルアミン、N,N−ジメチルシクロヘキシルアミン、N,N−ジエチルシクロヘキシルアミン、N−メチルジシクロヘキシルアミン、N−エチルジシクロヘキシルアミン、ピロリジン、1−メチルピロリジン、2,5−ジメチルピロリジン、ピペリジン、1−メチルピペリジン、2,2,6,6−テトラメチルピペリジン、ピペラジン、1,4−ジメチルピペラジン、キヌクリジン、1,4−ジアザビシクロ[2,2,2]−オクタン、ヘキサメチレンテトラミン、モルホリン、4−メチルモルホリン、ピリジン、ピコリン、4−ジメチルアミノピリジン、ルチジン、1,8−ジアザビシクロ〔5,4,0〕−7−ウンデセン(DBU)、N,N’−ジシクロヘキシルカルボジイミド(DCC)、ジイソプロピルエチルアミン、Schiff塩基などが挙げられる。金属アルコキシド化合物の好ましい例としては、ナトリウムメトキシド、ナトリウムエトキシド、カリウムt−ブトキシドなどが挙げられる。これらの塩基は、1種或いは2種以上の混合であってもよい。   Preferred examples of the base used in the elimination reaction include alkali metal hydrides, hydroxides or carbonates, organic amino compounds, and metal alkoxide compounds. Preferred examples of alkali metal hydrides, hydroxides or carbonates include sodium hydride, calcium hydride, potassium hydride, sodium hydroxide, potassium hydroxide, calcium hydroxide, potassium carbonate, sodium carbonate, Examples include potassium hydrogen carbonate and sodium hydrogen carbonate. Preferable examples of the organic amine compound include trimethylamine, triethylamine, diethylmethylamine, tributylamine, triisobutylamine, trihexylamine, trioctylamine, N, N-dimethylcyclohexylamine, N, N-diethylcyclohexylamine, N- Methyldicyclohexylamine, N-ethyldicyclohexylamine, pyrrolidine, 1-methylpyrrolidine, 2,5-dimethylpyrrolidine, piperidine, 1-methylpiperidine, 2,2,6,6-tetramethylpiperidine, piperazine, 1,4-dimethyl Piperazine, quinuclidine, 1,4-diazabicyclo [2,2,2] -octane, hexamethylenetetramine, morpholine, 4-methylmorpholine, pyridine, picoline, 4-dimethylaminopyridine, Cytidine, 1,8-diazabicyclo [5,4,0] -7-undecene (DBU), N, N'-dicyclohexylcarbodiimide (DCC), diisopropylethylamine, Schiff base, and the like. Preferable examples of the metal alkoxide compound include sodium methoxide, sodium ethoxide, potassium t-butoxide and the like. These bases may be used alone or in combination of two or more.

また、前記脱離反応において、塩基を付与(添加)する際に用いられる溶媒としては、例えば、エチレンジクロリド、シクロヘキサノン、メチルエチルケトン、アセトン、メタノール、エタノール、プロパノール、ブタノール、エチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、2−メトキシエチルアセテート、1−メトキシ−2−プロパノール、1−メトキシ−2−プロピルアセテート、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、ジメチルスルホキシド、トルエン、酢酸エチル、乳酸メチル、乳酸エチル、水などが挙げられる。これらの溶媒は単独或いは2種以上混合してもよい。   Examples of the solvent used for adding (adding) the base in the elimination reaction include ethylene dichloride, cyclohexanone, methyl ethyl ketone, acetone, methanol, ethanol, propanol, butanol, ethylene glycol monomethyl ether, ethylene glycol mono Ethyl ether, 2-methoxyethyl acetate, 1-methoxy-2-propanol, 1-methoxy-2-propyl acetate, N, N-dimethylformamide, N, N-dimethylacetamide, dimethyl sulfoxide, toluene, ethyl acetate, methyl lactate , Ethyl lactate, water and the like. These solvents may be used alone or in combination of two or more.

使用される塩基の量は、化合物中の特定官能基(B、Cで表される脱離基)の量に対して、当量以下であってもよく、また、当量以上であってもよい。また、過剰の塩基を使用した場合、脱離反応後、余剰の塩基を除去する目的で酸などを添加することも好ましい形態である。   The amount of the base used may be equal to or less than the equivalent to the amount of the specific functional group (the leaving group represented by B or C) in the compound, or may be equal to or more than the equivalent. Moreover, when an excess base is used, it is also a preferred form to add an acid or the like for the purpose of removing the excess base after the elimination reaction.

前記iii)の合成方法において、シアノ基を有するポリマーと反応させる重合性基を有するモノマーとしては、シアノ基を有するポリマー中の反応性基の種類によって異なるが、以下の組合せの官能基を有するモノマーを使用することができる。
即ち、(ポリマーの反応性基、モノマーの官能基)=(カルボキシル基、カルボキシル基)、(カルボキシル基、エポキシ基)、(カルボキシル基、イソシアネート基)、(カルボキシル基、ハロゲン化ベンジル)、(水酸基、カルボキシル基)、(水酸基、エポキシ基)、(水酸基、イソシアネート基)、(水酸基、ハロゲン化ベンジル)(イソシアネート基、水酸基)、(イソシアネート基、カルキシル基)等を挙げることができる。
具体的には以下のモノマーを使用することができる。
In the synthesis method of iii), the monomer having a polymerizable group to be reacted with a polymer having a cyano group varies depending on the type of the reactive group in the polymer having a cyano group, but has the following combinations of functional groups: Can be used.
That is, (reactive group of polymer, functional group of monomer) = (carboxyl group, carboxyl group), (carboxyl group, epoxy group), (carboxyl group, isocyanate group), (carboxyl group, benzyl halide), (hydroxyl group) , Carboxyl group), (hydroxyl group, epoxy group), (hydroxyl group, isocyanate group), (hydroxyl group, halogenated benzyl) (isocyanate group, hydroxyl group), (isocyanate group, carboxyl group) and the like.
Specifically, the following monomers can be used.

Figure 2008135685
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以上のようにして合成された本発明におけるシアノ基含有重合性ポリマーは、共重合成分全体に対し、重合性基含有ユニット、シアノ基含有ユニットの割合が以下の範囲であることが好ましい。
即ち、重合性基含有ユニットが、共重合成分全体に対し5〜50mol%で含まれることが好ましく、更に好ましくは5〜40mol%である。5mol%以下では反応性(硬化性、重合性)が落ち、50mol%以上では合成の際にゲル化しやすく合成しにくい。
また、シアノ基含有ユニットは、共重合成分全体に対し1〜95mol%で含まれることが好ましく、更に好ましくは10〜95mol%である。
The ratio of the polymerizable group-containing unit and the cyano group-containing unit of the cyano group-containing polymerizable polymer synthesized in the present invention as described above is preferably in the following range with respect to the entire copolymerization component.
That is, it is preferable that a polymeric group containing unit is contained with 5-50 mol% with respect to the whole copolymerization component, More preferably, it is 5-40 mol%. If it is 5 mol% or less, the reactivity (curability and polymerizability) is lowered, and if it is 50 mol% or more, it is easily gelled during synthesis and is difficult to synthesize.
Moreover, it is preferable that a cyano group containing unit is contained by 1-95 mol% with respect to the whole copolymerization component, More preferably, it is 10-95 mol%.

なお、本発明におけるシアノ基含有重合性ポリマーは、シアノ基含有ユニット、重合性基含有ユニット以外に、他のユニットを含んでいてもよい。この他のユニットを形成するために用いられるモノマーとしては、本発明の効果を損なわないものであれば、いかなるモノマーも使用することができる。
ただし、前述のように重合性基をポリマーに反応させて導入する場合は、100%導入することが困難な際には少量の反応性部分が残ってしまうことから、これが第3のユニットとなる可能性もある。
具体的には、ラジカル重合でポリマー主鎖を形成する場合は、エチル(メタ)アクリレート、ブチル(メタ)アクリレート、ヘキシル(メタ)アクリレート、2−エチルヘキシル(メタ)アクリレート、シクロヘキシル(メタ)アクリレート、ベンジル(メタ)アクリレート、ステアリル(メタ)アクリレートなどの無置換(メタ)アクリル酸エステル類、2,2,2−トリフルオロエチル(メタ)アクリレート、3,3,3−トリフルオロプロピル(メタ)アクリレート、2−クロロエチル(メタ)アクリレートなどのハロゲン置換(メタ)アクリル酸エステル類、2−(メタ)アクリルロイロキシエチルトリメチルアンモニウムクロライドなどのアンモニウム基置換(メタ)アクリル酸エステル類、ブチル(メタ)アクリルアミド、イソプロピル(メタ)アクリルアミド、オクチル(メタ)アクリルアミド、ジメチル(メタ)アクリルアミドなどの(メタ)アクリルアミド類、スチレン、ビニル安息香酸、p−ビニルベンジルアンモニウムクロライドなどのスチレン類、N−ビニルカルバゾール、酢酸ビニル、N−ビニルアセトアミド、N−ビニルカプロラクタムなどのビニル化合物類や、その他にジメチルアミノエチル(メタ)アクリレート、ジエチルアミノエチル(メタ)アクリレート、2−エチルチオ−エチル(メタ)アクリレート、(メタ)アクリル酸、2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレートなどが使用できる。
また、上記記載のモノマーを用いて得られたマクロモノマーも使用できる。
In addition, the cyano group-containing polymerizable polymer in the present invention may contain other units in addition to the cyano group-containing unit and the polymerizable group-containing unit. As the monomer used for forming the other unit, any monomer can be used as long as it does not impair the effects of the present invention.
However, when the polymerizable group is introduced by reacting with the polymer as described above, a small amount of reactive portion remains when it is difficult to introduce 100%, so this becomes the third unit. There is a possibility.
Specifically, when the polymer main chain is formed by radical polymerization, ethyl (meth) acrylate, butyl (meth) acrylate, hexyl (meth) acrylate, 2-ethylhexyl (meth) acrylate, cyclohexyl (meth) acrylate, benzyl Unsubstituted (meth) acrylates such as (meth) acrylate and stearyl (meth) acrylate, 2,2,2-trifluoroethyl (meth) acrylate, 3,3,3-trifluoropropyl (meth) acrylate, Halogen-substituted (meth) acrylic esters such as 2-chloroethyl (meth) acrylate, ammonium group-substituted (meth) acrylic esters such as 2- (meth) acryloyloxyethyltrimethylammonium chloride, butyl (meth) acrylamide, Iso (Meth) acrylamides such as propyl (meth) acrylamide, octyl (meth) acrylamide, dimethyl (meth) acrylamide, styrenes such as styrene, vinylbenzoic acid, p-vinylbenzylammonium chloride, N-vinylcarbazole, vinyl acetate, Vinyl compounds such as N-vinylacetamide and N-vinylcaprolactam, and dimethylaminoethyl (meth) acrylate, diethylaminoethyl (meth) acrylate, 2-ethylthio-ethyl (meth) acrylate, (meth) acrylic acid, 2 -Hydroxyethyl (meth) acrylate etc. can be used.
Moreover, the macromonomer obtained using the monomer of the said description can also be used.

カチオン重合でポリマー主鎖を形成する場合は、エチルビニルエーテル、ブチルビニルエーテル、イソブチルビニルエーテル、シクロヘキシルビニルエーテル、エチレングリコールビニルエーテル、ジ(エチレングリコール)ビニルエーテル、1,4−ブタンジオールビニルエーテル、2−クロロエチルビニルエーテル、2−エチルヘキシルビニルエーテル、酢酸ビニル、2−ビニルオキシテトラヒドロピラン、ビニルベンゾエート、ビニルブチレートなどのビニルエーテル類、スチレン、p−クロロスチレン、p−メトキシスチレンなどのスチレン類、アリルアルコール、4−ヒドロキシ−1−ブテンなどの末端エチレン類を使用することができる。   When the polymer main chain is formed by cationic polymerization, ethyl vinyl ether, butyl vinyl ether, isobutyl vinyl ether, cyclohexyl vinyl ether, ethylene glycol vinyl ether, di (ethylene glycol) vinyl ether, 1,4-butanediol vinyl ether, 2-chloroethyl vinyl ether, 2 -Vinyl ethers such as ethylhexyl vinyl ether, vinyl acetate, 2-vinyloxytetrahydropyran, vinyl benzoate, vinyl butyrate, styrenes such as styrene, p-chlorostyrene, p-methoxystyrene, allyl alcohol, 4-hydroxy-1- Terminal ethylenes such as butene can be used.

本発明におけるシアノ基含有重合性ポリマーの分子量(Mw)は、3000〜20万が好ましく、更に好ましくは4000〜10万である。   The molecular weight (Mw) of the cyano group-containing polymerizable polymer in the present invention is preferably 3000 to 200,000, more preferably 4000 to 100,000.

本発明におけるシアノ基含有重合性ポリマーの具体例を以下に示すが、これらに限定されるものではない。
なお、これらの具体例の重量平均分子量は、いずれも、3000〜100000の範囲である。
Specific examples of the cyano group-containing polymerizable polymer in the invention are shown below, but are not limited thereto.
In addition, as for the weight average molecular weight of these specific examples, all are the range of 3000-100000.

Figure 2008135685
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ここで、例えば、前記具体例の化合物2−2−11は、アクリル酸と2−シアノエチルアクリレートを、例えば、N−メチルピロリドンに溶解させ、重合開始剤として、例えば、アゾイソブチロニトリル(AIBN)を用いてラジカル重合を行い、その後、グリシジルメタクリレートをベンジルトリエチルアンモニウムクロライドのような触媒を用い、ターシャリーブチルハイドロキノンのような重合禁止剤を添加した状態で付加反応することで合成することができる。
また、例えば、前記具体例の化合物2−2−19は、以下のモノマーと、p−シアノベンジルアクリレートを、N、N−ジメチルアクリルアミドのような溶媒に溶解させ、アゾイソ酪酸ジメチルのような重合開始剤を用いてラジカル重合を行い、その後、トリエチルアミンのような塩基を用いて脱塩酸を行うことで合成することができる。
Here, for example, in the compound 2-2-11 in the specific example, acrylic acid and 2-cyanoethyl acrylate are dissolved in, for example, N-methylpyrrolidone, and the polymerization initiator is, for example, azoisobutyronitrile (AIBN). ) And then glycidyl methacrylate can be synthesized by addition reaction using a catalyst such as benzyltriethylammonium chloride and a polymerization inhibitor such as tertiary butylhydroquinone. .
Further, for example, in the compound 2-2-19 in the above specific example, the following monomers and p-cyanobenzyl acrylate are dissolved in a solvent such as N, N-dimethylacrylamide, and polymerization is initiated such as dimethyl azoisobutyrate. It can be synthesized by performing radical polymerization using an agent and then dehydrochlorinating using a base such as triethylamine.

Figure 2008135685
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本発明においては、重合性基及び相互作用性基を有する化合物として、末端のみならず、側鎖に複数の重合性基を有するマクロマー、ポリマーを用いることで、グラフトポリマーの生成密度が向上し、均一で高密度のグラフトポリマー層が形成されるため好ましい。この場合には、無電解めっき触媒或いはその前駆体を付与する際にも、付着密度が向上し、優れためっき受容性領域を得ることができる。マクロマーやポリマーを重合性化合物として用いる場合には、重合性基が高密度に存在することから、重合開始剤を共存させたり、高エネルギーの電子線を用いる公知の方法を用いてグラフト生成すると、ホモポリマーの生成が著しく、また、形成されたホモポリマーの除去性もより低下することから、このような重合性化合物を用いた場合に、本発明の効果が著しいことがわかる。   In the present invention, as a compound having a polymerizable group and an interactive group, the formation density of the graft polymer is improved by using a macromer or a polymer having a plurality of polymerizable groups in the side chain as well as the terminal, A uniform and high density graft polymer layer is formed, which is preferable. In this case, even when the electroless plating catalyst or its precursor is applied, the adhesion density is improved and an excellent plating receptive region can be obtained. When a macromer or a polymer is used as the polymerizable compound, since a polymerizable group exists at a high density, if a polymerization initiator is allowed to coexist or is grafted using a known method using a high energy electron beam, The generation of homopolymer is remarkable, and the removability of the formed homopolymer is further lowered. Therefore, it can be understood that the effect of the present invention is remarkable when such a polymerizable compound is used.

また、製造方法の観点からは、ポリマーを用いて塗布法により重合性化合物を基板表面に接触させる場合には、均一な厚みの高分子塗布膜が容易に形成され、モノマー塗布の場合に必要とする塗布液保護用カバーが不要となり、重合性化合物を任意の厚みで均一に接触させることが可能となるため、形成されるグラフトポリマーの均一性が向上し、製造適性に優れるという利点をも有するものである。このような理由から、大面積、或いは大量の製造においては、相互作用性基及び重合性基を有するポリマーを用いることが製造適性上特に有用である。   From the viewpoint of the production method, when a polymerizable compound is brought into contact with the substrate surface by a coating method using a polymer, a polymer coating film having a uniform thickness is easily formed, which is necessary for monomer coating. This eliminates the need for a cover for protecting the coating liquid and makes it possible to uniformly contact the polymerizable compound at an arbitrary thickness, so that the uniformity of the formed graft polymer is improved and the production suitability is also improved. Is. For these reasons, in the production of a large area or a large amount, it is particularly useful in terms of production suitability to use a polymer having an interactive group and a polymerizable group.

このような重合性基及び相互作用性基を有する化合物を含有する組成物に使用する溶剤は、主成分である重合性基及び相互作用性基を有する化合物や親水性モノマーなどが溶解可能ならば特に制限はないが、水、水溶性溶剤などの水性溶剤が好ましく、これらの混合物や、溶剤に更に界面活性剤を添加してもよい。
使用できる溶剤としては、例えば、メタノール、エタノール、プロパノール、エチレングリコール、グリセリン、プロピレングリコールモノメチルエーテルの如きアルコール系溶剤、酢酸の如き酸、アセトン、シクロヘキサノンの如きケトン系溶剤、ホルムアミド、ジメチルアセトアミドの如きアミド系溶剤、などが挙げられる。
この中でも、シアノ基含有重合性ポリマーを用いた組成物とする場合には、アミド系、ケトン系、ニトリル系溶剤が好ましく、具体的には、アセトン、ジメチルアセトアミド、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン、アセトニトリル、プロピオニトリル、N−メチルピロリドンが好ましい。
また、シアノ基含有重合性ポリマーを含有する組成物を塗布する場合は、取り扱い安さから沸点が50〜150℃の溶剤が好ましい。なお、これらの溶剤は単一で使用しても良いし、混合して使用してもよい。
If the solvent used in the composition containing a compound having such a polymerizable group and an interactive group is soluble in a compound having a polymerizable group and an interactive group, which are main components, a hydrophilic monomer, etc. Although there is no restriction | limiting in particular, Aqueous solvents, such as water and a water-soluble solvent, are preferable, and you may add surfactant further to these mixtures and a solvent.
Examples of the solvent that can be used include alcohol solvents such as methanol, ethanol, propanol, ethylene glycol, glycerin and propylene glycol monomethyl ether, acids such as acetic acid, ketone solvents such as acetone and cyclohexanone, amides such as formamide and dimethylacetamide. System solvents, and the like.
Among these, when a composition using a cyano group-containing polymerizable polymer is used, amide, ketone, and nitrile solvents are preferable. Specifically, acetone, dimethylacetamide, methyl ethyl ketone, cyclohexanone, acetonitrile, propio Nitrile and N-methylpyrrolidone are preferred.
Moreover, when apply | coating the composition containing a cyano group containing polymeric polymer, the solvent whose boiling point is 50-150 degreeC is preferable from handling ease. In addition, these solvents may be used alone or in combination.

必要に応じて溶剤に添加することのできる界面活性剤は、溶剤に溶解するものであればよく、そのような界面活性剤としては、例えば、n−ドデシルベンゼンスルホン酸ナトリウムの如きアニオン性界面活性剤や、n−ドデシルトリメチルアンモニウムクロライドの如きカチオン性界面活性剤、ポリオキシエチレンノニルフェノールエーテル(市販品としては、例えば、エマルゲン910、花王(株)製など)、ポリオキシエチレンソルビタンモノラウレート(市販品としては、例えば、商品名「ツイーン20」など)、ポリオキシエチレンラウリルエーテルの如き非イオン性界面活性剤等が挙げられる。   The surfactant that can be added to the solvent as needed may be any that dissolves in the solvent. Examples of such surfactants include an anionic surfactant such as sodium n-dodecylbenzenesulfonate. Agents, cationic surfactants such as n-dodecyltrimethylammonium chloride, polyoxyethylene nonylphenol ether (commercially available products include, for example, Emulgen 910, manufactured by Kao Corporation), polyoxyethylene sorbitan monolaurate (commercially available) Examples of the product include a trade name “Tween 20” and the like, and nonionic surfactants such as polyoxyethylene lauryl ether.

また、必要に応じて可塑剤を添加することもできる。使用できる可塑剤としては、一般的な可塑剤が使用でき、フタル酸エステル類(ジメチルエステル、ジエチルエステル、ジブチルエステル、ジ−2−エチルヘキシルエステル、ジノルマルオクチルエステル、ジイソノニルエステル、ジノニルエステル、ジイソデシルエステル、ブチルベンジルエステル)、アジピン酸エステル類(ジオクチルエステル、ジイソノニルエステル)、アゼラインサンジオクチル、セバシンサンエステル類(ジブチルエステル、ジオクチルエステル)リン酸トリクレシル、アセチルクエン酸トリブチル、エポキシ化大豆油、トリメリット酸トリオクチル、塩素化パラフィンやジメチルアセトアミド、N−メチルピロリドンのような高沸点溶媒も使用することができる。   Moreover, a plasticizer can also be added as needed. Usable plasticizers include general plasticizers such as phthalates (dimethyl ester, diethyl ester, dibutyl ester, di-2-ethylhexyl ester, dinormal octyl ester, diisononyl ester, dinonyl ester, diisodecyl ester). Ester, butyl benzyl ester), adipic acid ester (dioctyl ester, diisononyl ester), azelain san dioctyl, sebacin sun ester (dibutyl ester, dioctyl ester) tricresyl phosphate, acetyl citrate tributyl, epoxidized soybean oil, trimellit High boiling solvents such as trioctyl acid, chlorinated paraffin, dimethylacetamide, and N-methylpyrrolidone can also be used.

基材表面に組成物を液状のまま接触させてグラフトポリマー生成を行う場合には、任意に行うことができるが、塗布法に基材表面に組成物を適用する場合の塗布量としては、充分な塗布膜を得る観点からは、固形分換算で0.1〜10g/m2が好ましく、特に0.5〜5g/m2が好ましい。 When the graft polymer is produced by bringing the composition into contact with the substrate surface in a liquid state, it can be arbitrarily performed, but the coating amount when applying the composition to the substrate surface in the coating method is sufficient. from the viewpoint of obtaining a Do coating film is preferably 0.1 to 10 g / m 2 in terms of solid content, especially 0.5 to 5 g / m 2 preferably.

−エネルギー付与−
基板表面に存在する重合開始部位に活性点を発生させるためのエネルギー付与方法としては、例えば、加熱や露光等の輻射線照射を用いることができる。例えば、UVランプ、可視光線などによる光照射、ホットプレートなどでの加熱等が可能である。
光源としては、例えば、水銀灯、メタルハライドランプ、キセノンランプ、ケミカルランプ、カーボンアーク灯、等がある。また、g線、i線、Deep−UV光も使用できる。
-Energy provision-
As an energy application method for generating an active site at a polymerization initiation site present on the substrate surface, for example, radiation irradiation such as heating or exposure can be used. For example, light irradiation with a UV lamp, visible light, or the like, heating with a hot plate, or the like is possible.
Examples of the light source include a mercury lamp, a metal halide lamp, a xenon lamp, a chemical lamp, and a carbon arc lamp. Moreover, g line | wire, i line | wire, Deep-UV light can also be used.

露光によりエネルギー付与を行う場合には、基板に形成された凹部又は貫通孔の全体にグラフトポリマーを結合させる観点から、照射光として散乱光を用いることが好ましい。散乱光による露光に用いるうる露光機としては、例えば、有限会社マリオネットワーク製の光表面処理実験装置:OPL−16(紫外線波長:254nm)、株式会社エム・ビー・ケイマイクロテック製の254nmUV光洗浄装置、等が挙げられる。   In the case of applying energy by exposure, it is preferable to use scattered light as irradiation light from the viewpoint of bonding the graft polymer to the entire recess or through-hole formed in the substrate. As an exposure apparatus that can be used for exposure by scattered light, for example, an optical surface treatment experimental apparatus manufactured by Mario Network, Inc .: OPL-16 (ultraviolet wavelength: 254 nm), 254 nm UV light cleaning manufactured by MBK Microtech Co., Ltd. Apparatus, etc.

エネルギー付与に要する時間としては、目的とするグラフトポリマーの生成量及び光源により異なるが、通常、10秒〜5時間の間である。   The time required for applying energy is usually between 10 seconds and 5 hours, although it varies depending on the amount of the graft polymer produced and the light source.

以上のようにして、本発明におけるポリマー層が形成される。
なお、ポリマー層の形成は、例えば、ポリマー層形成後の基板上に、0.1%メチレンブルー水溶液を塗布し、ポリマー層形成部分が青色に着色するのを観測することで確認することができる。
As described above, the polymer layer in the present invention is formed.
The formation of the polymer layer can be confirmed, for example, by applying a 0.1% methylene blue aqueous solution on the substrate after forming the polymer layer and observing that the polymer layer forming portion is colored blue.

<(C)ポリマー層上に、無電解めっき触媒又はその前駆体を付与する工程>
本工程においては、前記(B)工程にて形成したポリマー層上に、無電解めっき触媒又はその前駆体を付与する。
<(C) The process of providing an electroless plating catalyst or its precursor on a polymer layer>
In this step, an electroless plating catalyst or a precursor thereof is applied on the polymer layer formed in the step (B).

−無電解めっき触媒−
本工程において用いられる無電解めっき触媒とは、主に0価金属であり、Pd、Ag、Cu、Ni、Al、Fe、Coなどが挙げられる。本発明においては、特に、Pd、Agがその取り扱い性の良さ、触媒能の高さから好ましい。0価金属を相互作用性領域に固定する手法としては、例えば、相互作用性領域中の上の相互作用性基と相互作用するように荷電を調節した金属コロイドを、相互作用性領域に適用する手法が用いられる。一般に、金属コロイドは、荷電を持った界面活性剤又は荷電を持った保護剤が存在する溶液中において、金属イオンを還元することにより作製することができる。金属コロイドの荷電は、ここで使用される界面活性剤又は保護剤により調節することができ、このように荷電を調節した金属コロイドを、グラフトパターンが有する相互作用性基と相互作用させることで、グラフトポリマーに選択的に金属コロイド(無電解めっき触媒)を吸着させることができる。
-Electroless plating catalyst-
The electroless plating catalyst used in this step is mainly a zero-valent metal, and examples thereof include Pd, Ag, Cu, Ni, Al, Fe, and Co. In the present invention, Pd and Ag are particularly preferable because of their good handleability and high catalytic ability. As a method for fixing the zero-valent metal to the interactive region, for example, a metal colloid whose charge is adjusted so as to interact with an interactive group on the interactive region is applied to the interactive region. A technique is used. In general, a metal colloid can be prepared by reducing metal ions in a solution containing a charged surfactant or a charged protective agent. The charge of the metal colloid can be adjusted by the surfactant or the protective agent used here, and by interacting the metal colloid whose charge is adjusted in this way with the interactive group of the graft pattern, A metal colloid (electroless plating catalyst) can be selectively adsorbed to the graft polymer.

−無電解めっき触媒前駆体−
本工程において用いられる無電解めっき触媒前駆体とは、化学反応により無電解めっき触媒となりうるものであれば、特に制限なく使用することができる。主には上記無電解めっき触媒で用いた0価金属の金属イオンが用いられる。無電解めっき触媒前駆体である金属イオンは、還元反応により無電解めっき触媒である0価金属になる。無電解めっき触媒前駆体である金属イオンは、ポリマー層へ付与した後、無電解めっき浴への浸漬前に、別途還元反応により0価金属に変化させて無電解めっき触媒としてもよいし、無電解めっき触媒前駆体のまま無電解めっき浴に浸漬し、無電解めっき浴中の還元剤により金属(無電解めっき触媒)に変化させてもよい。
-Electroless plating catalyst precursor-
The electroless plating catalyst precursor used in this step can be used without particular limitation as long as it can become an electroless plating catalyst by a chemical reaction. Mainly, metal ions of zero-valent metal used in the electroless plating catalyst are used. The metal ion that is an electroless plating catalyst precursor becomes a zero-valent metal that is an electroless plating catalyst by a reduction reaction. The metal ion, which is an electroless plating catalyst precursor, may be used as an electroless plating catalyst after being applied to the polymer layer and before being immersed in the electroless plating bath by changing it to a zero-valent metal by a reduction reaction. The electroplating catalyst precursor may be immersed in an electroless plating bath and changed to a metal (electroless plating catalyst) by a reducing agent in the electroless plating bath.

実際には、無電解めっき前駆体である金属イオンは、金属塩の状態でグラフトパターン上に付与する。使用される金属塩としては、適切な溶媒に溶解して金属イオンと塩基(陰イオン)とに解離されるものであれば特に制限はなく、M(NO3)n、MCln、M2/n(SO4)、M3/n(PO4)(Mは、n価の金属原子を表す)などが挙げられる。金属イオンとしては、上記の金属塩が解離したものを好適に用いることができる。具体例としては、例えば、Agイオン、Cuイオン、Alイオン、Niイオン、Coイオン、Feイオン、Pdイオンが挙げられ、Agイオン、Pdイオンが触媒能の点で好ましい。 Actually, the metal ion which is an electroless plating precursor is applied on the graft pattern in the form of a metal salt. The metal salt used is not particularly limited as long as it is dissolved in a suitable solvent and dissociated into a metal ion and a base (anion), and M (NO 3 ) n, MCn, M 2 / n (SO 4 ), M 3 / n (PO 4 ) (M represents an n-valent metal atom), and the like. As a metal ion, the thing which said metal salt dissociated can be used suitably. Specific examples include, for example, Ag ions, Cu ions, Al ions, Ni ions, Co ions, Fe ions, and Pd ions, and Ag ions and Pd ions are preferable in terms of catalytic ability.

無電解めっき触媒である金属コロイド、或いは、無電解めっき前駆体である金属塩をグラフトパターン上に付与する方法としては、金属コロイドを適当な分散媒に分散、或いは、金属塩を適切な溶媒で溶解し、解離した金属イオンを含む溶液を調製し、その溶液をグラフトパターンが存在する基板表面に塗布するか、或いは、その溶液中にグラフトパターンを有する基板を浸漬すればよい。金属イオンを含有する溶液を接触させることで、相互作用性領域上の相互作用性基に、イオン−イオン相互作用、又は、双極子−イオン相互作用を利用して金属イオンを吸着させること、或いは、相互作用性領域に金属イオンを含浸させることができる。このような吸着又は含浸を充分に行なわせるという観点からは、接触させる溶液中の金属イオン濃度、或いは金属塩濃度は0.01〜50質量%の範囲であることが好ましく、0.1〜30質量%の範囲であることが更に好ましい。また、接触時間としては、1分〜24時間程度であることが好ましく、5分〜1時間程度であることがより好ましい。   As a method for applying a metal colloid as an electroless plating catalyst or a metal salt as an electroless plating precursor onto a graft pattern, the metal colloid is dispersed in an appropriate dispersion medium, or the metal salt is added with an appropriate solvent. A solution containing dissolved and dissociated metal ions is prepared, and the solution is applied to the surface of the substrate on which the graft pattern exists, or the substrate having the graft pattern is immersed in the solution. Contacting a solution containing a metal ion to adsorb a metal ion to an interactive group on the interactive region by using an ion-ion interaction or a dipole-ion interaction; or The interaction region can be impregnated with metal ions. From the viewpoint of sufficiently performing such adsorption or impregnation, the metal ion concentration or the metal salt concentration in the solution to be contacted is preferably in the range of 0.01 to 50% by mass, preferably 0.1 to 30%. More preferably, it is in the range of mass%. Further, the contact time is preferably about 1 minute to 24 hours, more preferably about 5 minutes to 1 hour.

<(D)無電解めっきを行い金属層を形成する工程>
本工程では、無電解めっきを行うことで金属層を形成する。即ち、本工程における無電解めっきを行うことで、前記(B)工程において形成されたポリマー層の内部やその上に高密度の金属層が形成される。本工程にて形成された金属層は、優れた導電性、密着性を有する。
<(D) Process of forming a metal layer by electroless plating>
In this step, the metal layer is formed by performing electroless plating. That is, by performing electroless plating in this step, a high-density metal layer is formed inside or on the polymer layer formed in the step (B). The metal layer formed in this step has excellent conductivity and adhesion.

また、後述する(D’)工程が行われる場合には、本工程で形成される金属層(無電解めっき層)は、電解めっきにおけるシード層として機能する。さらに、本工程で形成される金属層は、析出させる金属の種類を選択することにより、(D’)工程にて形成される金属層(電解めっき層)におけるマイグレーションを防止するためのバリア層として機能させることもできる。   Further, when the step (D ′) described later is performed, the metal layer (electroless plating layer) formed in this step functions as a seed layer in electrolytic plating. Furthermore, the metal layer formed in this step is used as a barrier layer for preventing migration in the metal layer (electrolytic plating layer) formed in the step (D ′) by selecting the type of metal to be deposited. It can also function.

−無電解めっき−
無電解めっきとは、めっきとして析出させたい金属イオンを溶かした溶液を用いて、化学反応によって金属を析出させる操作のことをいい、金属を析出させることで導電性を高めることができる。
本工程における無電解めっきは、例えば、前記(C)工程で得られた、無電解めっき触媒が付与された基板を、水洗して余分な無電解めっき触媒(金属)を除去した後、無電解めっき浴に浸漬して行なう。使用される無電解めっき浴としては一般的に知られている無電解めっき浴を使用することができる。
また、無電解めっき触媒前駆体がパターン状に付与された基板を、無電解めっき触媒前駆体がクラフトパターンに吸着又は含浸した状態で無電解めっき浴に浸漬する場合には、基板を水洗して余分な前駆体(金属塩など)を除去した後、無電解めっき浴中へ浸漬される。この場合には、無電解めっき浴中において、前駆体の還元とこれに引き続き無電解めっきが行われる。ここ使用される無電解めっき浴としても、上記同様、一般的に知られている無電解めっき浴を使用することができる。
-Electroless plating-
Electroless plating refers to an operation of depositing a metal by a chemical reaction using a solution in which metal ions to be deposited as a plating are dissolved. The conductivity can be increased by depositing a metal.
The electroless plating in this step is performed, for example, by washing the substrate provided with the electroless plating catalyst obtained in the step (C) with water to remove excess electroless plating catalyst (metal), and then electrolessly plating. Immerse in a plating bath. As the electroless plating bath to be used, a generally known electroless plating bath can be used.
In addition, when the substrate to which the electroless plating catalyst precursor is applied in a pattern is immersed in the electroless plating bath with the electroless plating catalyst precursor adsorbed or impregnated in the craft pattern, the substrate is washed with water. After removing an excess precursor (metal salt etc.), it is immersed in an electroless plating bath. In this case, reduction of the precursor and subsequent electroless plating are performed in the electroless plating bath. As the electroless plating bath used here, a generally known electroless plating bath can be used as described above.

一般的な無電解めっき浴の組成としては、1.めっき用の金属イオン、2.還元剤、3.金属イオンの安定性を向上させる添加剤(安定剤)が主に含まれている。このめっき浴には、これらに加えて、めっき浴の安定剤など公知の添加物が含まれていてもよい。
無電解めっき浴に用いられる金属の種類としては、銅、すず、鉛、ニッケル、金、パラジウム、ロジウム、等が知られており、中でも、導電性の観点からは、銅、金が特に好ましい。
The composition of a general electroless plating bath is as follows: 1. metal ions for plating; 2. reducing agent; Additives (stabilizers) that improve the stability of metal ions are mainly included. In addition to these, the plating bath may contain known additives such as a plating bath stabilizer.
Copper, tin, lead, nickel, gold, palladium, rhodium, etc. are known as the types of metals used in the electroless plating bath, and copper and gold are particularly preferable from the viewpoint of conductivity.

無電解めっき浴に用いられる金属としては、めっき付与効率の観点から、自己触媒性のある金属を用いてもよい。自己触媒性のある金属としては、例えば、ニッケル、コバルト、鉄、銅、銀、金、ロジウム、パラジウム、白金、イリジウム、モリブデン、ルテニウム、すず、タングステン、亜鉛等が挙げられる。これらの中でも、自己触媒性のある金属としてはニッケル、パラジウム、モリブデン、タングステン、がより好ましい。   As the metal used in the electroless plating bath, a metal having autocatalytic properties may be used from the viewpoint of plating application efficiency. Examples of the self-catalytic metal include nickel, cobalt, iron, copper, silver, gold, rhodium, palladium, platinum, iridium, molybdenum, ruthenium, tin, tungsten, and zinc. Among these, nickel, palladium, molybdenum, and tungsten are more preferable as the self-catalytic metal.

また、上記金属に合わせて最適な還元剤、添加物がある。例えば、銅の無電解めっきの浴は、銅塩としてCu(SO42、還元剤としてHCOH、添加剤として銅イオンの安定剤であるEDTAやロッシェル塩などのキレート剤が含まれている。また、CoNiPの無電解めっきに使用されるめっき浴には、その金属塩として硫酸コバルト、硫酸ニッケル、還元剤として次亜リン酸ナトリウム、錯化剤としてマロン酸ナトリウム、りんご酸ナトリウム、こはく酸ナトリウムが含まれている。また、パラジウムの無電解めっき浴は、金属イオンとして(Pd(NH34)Cl2、還元剤としてNH3、H2NNH2、安定化剤としてEDTAが含まれている。これらのめっき浴には、上記成分以外の成分が入っていてもよい。 In addition, there are optimum reducing agents and additives according to the above metals. For example, a copper electroless plating bath contains Cu (SO 4 ) 2 as a copper salt, HCOH as a reducing agent, and a chelating agent such as EDTA or Rochelle salt as a copper ion stabilizer as an additive. The plating bath used for electroless plating of CoNiP includes cobalt sulfate and nickel sulfate as metal salts, sodium hypophosphite as a reducing agent, sodium malonate, sodium malate and sodium succinate as complexing agents. It is included. In addition, the palladium electroless plating bath contains (Pd (NH 3 ) 4 ) Cl 2 as metal ions, NH 3 and H 2 NNH 2 as reducing agents, and EDTA as a stabilizer. These plating baths may contain components other than the above components.

このようにして形成される金属層の膜厚は、めっき浴の金属塩又は金属イオン濃度、めっき浴への浸漬時間、或いは、めっき浴の温度などにより制御することができるが、導電性の観点からは、0.5μm以上であることが好ましく、3μm以上であることがより好ましい。また、めっき浴への浸漬時間としては、1分〜3時間程度であることが好ましく、1分〜1時間程度であることがより好ましい。   The film thickness of the metal layer thus formed can be controlled by the concentration of the metal salt or metal ion in the plating bath, the immersion time in the plating bath, the temperature of the plating bath, etc. Is preferably 0.5 μm or more, more preferably 3 μm or more. Further, the immersion time in the plating bath is preferably about 1 minute to 3 hours, and more preferably about 1 minute to 1 hour.

また、本工程において形成される金属膜を、(D’)工程で形成される金属膜(例えば、Cu膜など)のバリア層として機能させる場合には、無電解めっき浴に用いられる金属の種類としては、ニッケル、コバルト、又はクロムが好ましい。この場合に適用しうる、無電解めっき浴の組成及びめっき条件としては、例えば、特開2003−328184号の段落番号[0022]〜[0024]の条件を適用することができる。無電解メッキ浴の金属を、ニッケル、コバルト、又はクロムにすることで、マイグレーションの抑制能を更に得ることができる。   When the metal film formed in this step functions as a barrier layer for the metal film (eg, Cu film) formed in the step (D ′), the type of metal used in the electroless plating bath As nickel, cobalt, or chromium is preferable. As the composition and plating conditions of the electroless plating bath that can be applied in this case, for example, the conditions of paragraph numbers [0022] to [0024] of JP-A No. 2003-328184 can be applied. By making the metal of the electroless plating bath nickel, cobalt, or chromium, the ability to suppress migration can be further obtained.

以上のようにして得られる金属層は、SEMによる断面観察により、表面グラフト膜中に無電解めっき触媒やめっき金属の微粒子がぎっしりと分散しており、更にその上に比較的大きな粒子が析出していることが確認される。界面はグラフトポリマーと微粒子とのハイブリッド状態であるため、基板(有機成分)と無機物(無電解めっき触媒又はめっき金属)との界面の凹凸差が500nm以下であっても密着性が良好である。   In the metal layer obtained as described above, fine particles of the electroless plating catalyst and the plating metal are firmly dispersed in the surface graft film by cross-sectional observation by SEM, and further relatively large particles are deposited thereon. It is confirmed that Since the interface is in a hybrid state of the graft polymer and the fine particles, the adhesion is good even if the unevenness of the interface between the substrate (organic component) and the inorganic substance (electroless plating catalyst or plating metal) is 500 nm or less.

<(D’)金属層をシード層として電解めっきを行う工程>
本発明の配線基板の製造方法においては、前記(D)工程における無電解めっきの後、形成された金属層をシード層とし、さらに電解めっきを行うことが好ましい。これにより基板との密着性に優れた金属層をベースとして、そこに新たに任意の厚みをもつ金属層(電解めっき層)を容易に形成することができる。なお、(D’)工程により形成される電解めっき層は、複数の金属を含む合金層であってもよい。
<(D ′) Step of Electroplating Using Metal Layer as Seed Layer>
In the method for manufacturing a wiring board according to the present invention, it is preferable that after the electroless plating in the step (D), the formed metal layer is used as a seed layer and further electrolytic plating is performed. As a result, a metal layer (electrolytic plating layer) having an arbitrary thickness can be easily formed on the metal layer having excellent adhesion to the substrate. The electrolytic plating layer formed by the step (D ′) may be an alloy layer containing a plurality of metals.

電解めっきの方法としては、従来公知の方法を用いることができる。なお、本工程の電解めっきに用いられる金属としては、銅、クロム、鉛、ニッケル、金、銀、すず、亜鉛などが挙げられ、導電性の観点から、銅、金、銀が好ましく、銅がより好ましい。   As a method of electrolytic plating, a conventionally known method can be used. In addition, as a metal used for the electroplating of this process, copper, chromium, lead, nickel, gold, silver, tin, zinc, etc. are mentioned, and copper, gold, and silver are preferable from the viewpoint of conductivity, and copper is used. More preferred.

電解めっきにより形成される金属層の膜厚については、用途に応じて異なるものであり、めっき浴中に含まれる金属濃度、浸漬時間、或いは、電流密度などを調整することでコントロールすることができる。なお、一般的な電気配線などに用いる場合の膜厚は、導電性の観点から、0.5μm以上であることが好ましく、3μm以上であることがより好ましい。   The film thickness of the metal layer formed by electrolytic plating varies depending on the application, and can be controlled by adjusting the metal concentration, immersion time, or current density contained in the plating bath. . In addition, the film thickness in the case of using it for general electric wiring etc. is preferably 0.5 μm or more, and more preferably 3 μm or more from the viewpoint of conductivity.

また、前記(D)工程により無電解めっき層の形成と、前記(D’)工程による電解めっき層の形成との間に、さらに、(D’)工程で形成される電解めっき層とは異なる他の金属層を設ける工程を有することもできる。具体的には、例えば、前記(D)工程の後、前記(D’)工程の前に、前記(D’)工程で使用する金属とは異なる種類の金属による金属層(以下、適宜「中間金属層」と称する。)を設けた後、前記(D’)工程による電解めっき層を設けることができる。例えば、前記(D’)工程による電解めっき層が銅からなるものである場合、中間金属層は、銅以外の、クロム、鉛、ニッケル、金、銀、すず、亜鉛などで形成することができる。   Further, between the formation of the electroless plating layer by the step (D) and the formation of the electroplating layer by the step (D ′), the electrolytic plating layer formed by the step (D ′) is different. It can also have the process of providing another metal layer. Specifically, for example, after the step (D) and before the step (D ′), a metal layer made of a metal different from the metal used in the step (D ′) (hereinafter referred to as “intermediate” as appropriate). (Hereinafter referred to as “metal layer”), an electrolytic plating layer formed by the step (D ′) can be provided. For example, when the electrolytic plating layer formed by the step (D ′) is made of copper, the intermediate metal layer can be formed of chromium, lead, nickel, gold, silver, tin, zinc, or the like other than copper. .

また、中間金属層は、共析可能な合金めっき浴により形成してもよい。その場合に適用しうる合金めっき浴としては、めっき銀−すず、銀−パラジウム、銀−ビスマス、銀−アンチモン、銀−タリウム、銀−ロジウム、コバルト−ニッケル、コバルト−タングステン、コバルト−クロム、コバルト−モリブデン、コバルト−パラジウム、コバルト−すず、コバルト−リン、コバルト−亜鉛、コバルト−タリウム、コバルト−ホウ素、タングステン−ニッケル、タングステン−モリブデン、すず−銀、すず−コバルト、すず−ニッケル、すず−ビスマス、すず−マンガン、すず−インジウム、ニッケル−亜鉛、ニッケル−リン、ニッケル−白金、ニッケル−ロジウム、ニッケル−すず、ニッケル−タリウムなどを挙げることができる。合金めっき浴の組成は、特開2003−328184号公報の[0035]〜[0038]に記載される電解めっき浴の組成を適用することができる。このような中間金属層を設けることで、さらにマイグレーション抑制能を高めることができる。   Further, the intermediate metal layer may be formed by an eutectoid alloy plating bath. Alloy plating baths that can be applied in this case include plated silver-tin, silver-palladium, silver-bismuth, silver-antimony, silver-thallium, silver-rhodium, cobalt-nickel, cobalt-tungsten, cobalt-chromium, cobalt -Molybdenum, cobalt-palladium, cobalt-tin, cobalt-phosphorus, cobalt-zinc, cobalt-thallium, cobalt-boron, tungsten-nickel, tungsten-molybdenum, tin-silver, tin-cobalt, tin-nickel, tin-bismuth , Tin-manganese, tin-indium, nickel-zinc, nickel-phosphorus, nickel-platinum, nickel-rhodium, nickel-tin, nickel-thallium and the like. As the composition of the alloy plating bath, the composition of the electrolytic plating bath described in [0035] to [0038] of JP-A No. 2003-328184 can be applied. By providing such an intermediate metal layer, the ability to suppress migration can be further enhanced.

−乾燥工程−
本発明の製造方法においては、前記(D)工程又は(D’)工程の後に、さらに、乾燥工程を行うことが、基板と配線との密着性向上の観点から好ましい。
乾燥工程における乾燥処理は如何なる手段であってもよく、具体的には、自然乾燥、加熱乾燥、減圧乾燥、減圧加熱乾燥、送風乾燥などの手段により行うことができる。これらの中でも、乾燥に起因するポリマー層の変質を抑制するという観点からは、常温又はその近傍の温度条件で乾燥処理を行うことが好ましい。具体的には、常温下における自然乾燥、常温条件下での減圧乾燥、及び常温送風乾燥の各乾燥処理が好ましい。
-Drying process-
In the manufacturing method of this invention, it is preferable from a viewpoint of the adhesive improvement of a board | substrate and wiring to perform a drying process further after the said (D) process or (D ') process.
The drying process in the drying step may be any means, and specifically can be performed by means such as natural drying, heat drying, reduced pressure drying, reduced pressure heat drying, and air blowing. Among these, from the viewpoint of suppressing the deterioration of the polymer layer due to drying, it is preferable to perform the drying treatment at room temperature or a temperature condition in the vicinity thereof. Specifically, each drying process of natural drying at normal temperature, reduced-pressure drying under normal temperature conditions, and normal temperature ventilation drying is preferable.

加温を行うことなく水分を可能な限り除去するという観点からは、これらの乾燥処理を、1時間以上、更には24時間以上実施することが好ましい。乾燥処理条件は、必要とされる密着性などを考慮して適宜選択すればよいが、具体的には、前記(D)工程又は(D’)工程後の基板を、例えば、25℃前後の温度雰囲気下で1〜3日程度、1〜3週間程度、或いは、1〜2ヶ月程度保存して乾燥する方法、通常の真空乾燥機による減圧下に1〜3日程度、或いは、1〜3週間程度、保存して乾燥する方法等が挙げられる。   From the viewpoint of removing moisture as much as possible without heating, it is preferable to carry out these drying treatments for 1 hour or more, more preferably 24 hours or more. The drying treatment conditions may be appropriately selected in consideration of required adhesion and the like. Specifically, the substrate after the step (D) or (D ′) is, for example, about 25 ° C. A method of storing and drying in a temperature atmosphere for about 1 to 3 days, about 1 to 3 weeks, or about 1 to 2 months, about 1 to 3 days under reduced pressure by a normal vacuum dryer, or 1 to 3 Examples include a method of storing and drying for about a week.

このような乾燥処理を行うことにより、基板と配線との密着性が向上する作用は明確ではないが、充分な乾燥を行うことにより、密着性を低下させる要因である水分が金属部分とポリマー層との界面に保持されるのを防ぐことで、水分に起因する密着性の低下を抑制しうるものと推定している。また、乾燥中における銅等からなる金属膜表面の酸化防止のために、乾燥工程の前に、酸化防止剤を金属膜表面に塗布することが好ましい。酸化防止剤としては、一般的に使用されるものが適用でき、例えば、アジミドベンゼン等が使用できる。   Although the effect of improving the adhesion between the substrate and the wiring by performing such a drying process is not clear, the moisture that reduces the adhesion by performing the sufficient drying causes the water content in the metal part and the polymer layer. It is presumed that it is possible to suppress a decrease in adhesion due to moisture by preventing it from being held at the interface. In order to prevent oxidation of the surface of the metal film made of copper or the like during drying, it is preferable to apply an antioxidant to the surface of the metal film before the drying step. As the antioxidant, those commonly used can be applied, and for example, amidimide benzene and the like can be used.

<(E)凹部又は貫通孔内のみに金属層が残存するように、基板上に存在する不要な金属層を除去して配線する工程>
本工程では、前記(D)工程又は(D’)工程後の基板に対し、凹部又は貫通孔内のみに金属層が残存するように、基板上に存在する不要な金属層を除去して配線を形成する。
<(E) Step of removing unnecessary metal layer on the substrate and wiring so that the metal layer remains only in the recess or the through hole>
In this step, wiring is performed by removing an unnecessary metal layer on the substrate so that the metal layer remains only in the recess or the through hole with respect to the substrate after the step (D) or (D ′). Form.

本工程における不要な金属層の除去方法としては、CMP等の研磨処理、エッチング処理等の方法を用いることができる。例えば、特開2002−348697号、特開2006−147701号、特開2004−363283号、特開2003−283127号、特開2003−60350号等の各公報に記載される研磨処理、特開2006−147701号、特開2004−95983号等の各公報に記載されるエッチング処理を、本工程に適用することができる。   As a method for removing an unnecessary metal layer in this step, a polishing process such as CMP or an etching process can be used. For example, the polishing treatment described in JP-A-2002-348697, JP-A-2006-147701, JP-A-2004-363283, JP-A-2003-283127, JP-A-2003-60350, etc., JP-A-2006 The etching treatment described in each publication such as JP-A-147701 and JP-A No. 2004-95983 can be applied to this step.

なお、本発明により得られた配線基板を複数積層して多層配線基板とする場合には、形成された配線の表面を、過マンガン酸カリウムによる粗面化処理などの処理により粗面化してもよい。配線の表面を粗面化することで、配線基板間の接着性を向上させることができる。   When a multilayer wiring board is formed by laminating a plurality of wiring boards obtained by the present invention, the surface of the formed wiring may be roughened by a process such as a roughening process using potassium permanganate. Good. By roughening the surface of the wiring, the adhesion between the wiring boards can be improved.

以下、本発明の配線基板の製造方法の実施の形態について更に具体的に説明する。   Hereinafter, the embodiment of the method for manufacturing a wiring board according to the present invention will be described more specifically.

<実施形態1>
本発明の配線基板の製造方法の実施形態の一例を説明する。
実施形態1では、(A)工程における凹部又は貫通孔の形成を前記「形成態様(1)」により行い、次いで、(B)工程〜(E)工程の各工程を行うものである。
<Embodiment 1>
An example of an embodiment of a method for manufacturing a wiring board according to the present invention will be described.
In the first embodiment, the formation of the concave portion or the through hole in the step (A) is performed according to the “formation mode (1)”, and then the steps (B) to (E) are performed.

図2は、本発明の製造方法における配線基板の製造工程例の概略をフロー図である。
図2(a)は、本発明における(A)工程において、基板に凹部及び貫通孔を形成するための凸部22a及び22bを備えた面を有する成形材20を用い、成形材20における凸部22a及び12bを備えた面と樹脂基板24とを重ねて加圧している状態を示す。
FIG. 2 is a flowchart showing an outline of a manufacturing process example of a wiring board in the manufacturing method of the present invention.
FIG. 2A shows a convex portion in the molding material 20 using a molding material 20 having a surface provided with convex portions 22a and 22b for forming concave portions and through holes in the substrate in the step (A) in the present invention. A state in which the surface provided with 22a and 12b and the resin substrate 24 are overlapped and pressurized is shown.

樹脂基板24は、熱可塑性樹脂からなるものである。樹脂基板24に成形材20を加圧する前に、樹脂基板24を加熱して軟化させておくことにより、成形材20の凸部22aによって凹部を、凸部22bによって貫通孔を、樹脂基板24にそれぞれ容易に形成することができる((A)工程)。。   The resin substrate 24 is made of a thermoplastic resin. Before pressurizing the molding material 20 to the resin substrate 24, the resin substrate 24 is heated and softened, whereby the concave portions are formed by the convex portions 22 a of the molding material 20, the through holes are formed by the convex portions 22 b, and the resin substrate 24. Each can be easily formed (step (A)). .

(A)工程が終了後の樹脂基板24には、ポリマー層が形成され((B)工程)、次いで、該ポリマー層に無電解めっき又はその前駆体を付与し((C)工程)、更に、無電解めっきを行うことで((D)工程)、金属層26を形成する。   (A) A polymer layer is formed on the resin substrate 24 after completion of the step (step (B)), and then electroless plating or a precursor thereof is applied to the polymer layer (step (C)). By performing electroless plating (step (D)), the metal layer 26 is formed.

図2(b)は、金属層26が形成された状態の樹脂基板24を示す。図2(b)に示されるように、樹脂基板24における配線形成領域となる表面は、凹部28及び貫通孔30の内部を含めて金属層26が形成されている。   FIG. 2B shows the resin substrate 24 on which the metal layer 26 is formed. As shown in FIG. 2B, the metal layer 26 including the recesses 28 and the insides of the through holes 30 is formed on the surface serving as the wiring formation region in the resin substrate 24.

金属膜26が形成された樹脂基板24は、(これをめっきシード層として、電解めっきが施される(D’)工程)。これにより、図2(c)に示すように、樹脂基板24の表面に配線となるめっき金属32が析出する。   The resin substrate 24 on which the metal film 26 is formed is subjected to electrolytic plating using this as a plating seed layer (step D ′). As a result, as shown in FIG. 2C, the plating metal 32 that becomes the wiring is deposited on the surface of the resin substrate 24.

なお、金属層26は、バリア層として機能するように構成してもよい。この場合の例としては、薄膜のニッケルめっき層を金属層26として形成する態様が挙げられる。   The metal layer 26 may be configured to function as a barrier layer. As an example in this case, the aspect which forms the thin nickel plating layer as the metal layer 26 is mentioned.

電解めっきは、図2(c)に示すように、樹脂基板24に形成された凹部28及び貫通孔30が、めっき金属32によって充填されるまで行われる。本実施形態においては、電解めっきとして、電解銅めっきを施している。   As shown in FIG. 2C, the electrolytic plating is performed until the recesses 28 and the through holes 30 formed in the resin substrate 24 are filled with the plating metal 32. In this embodiment, electrolytic copper plating is applied as electrolytic plating.

ここで、本実施形態において形成されるポリマー層、無電解めっき、電解めっき等については、例えば、特開2006−19675号公報の実施例1に記載される内容を、本実施形態においても同様に適用することができる。   Here, for the polymer layer, electroless plating, electrolytic plating, and the like formed in this embodiment, for example, the contents described in Example 1 of JP-A-2006-19675 are similarly applied to this embodiment. Can be applied.

凹部28及び貫通孔30がめっき金属30により充填されるように電解めっきを施した後、めっき金属30が析出した側の樹脂基板20の表面をCMP法等により研磨する((E)工程)。
図2(d)に示すように、この研磨操作は、樹脂基板24に形成された凹部28及び貫通孔30以外の表面に析出している不要なめっき金属32を除去して、凹部28及び貫通孔30にのみめっき金属32を残すようにする。
成形材20に設けられた凸部22a及び22bは、予め配線パターン形状に合わせて形成されているから、凹部28及び貫通孔30は、凸部22a及び22bと同一のパターンに樹脂基板24に形成されることにより、樹脂基板24にパターン状の配線34が形成されることになる。
以上のようにして、本発明の配線基板36が得られる。
After the electrolytic plating is performed so that the concave portion 28 and the through hole 30 are filled with the plating metal 30, the surface of the resin substrate 20 on the side where the plating metal 30 is deposited is polished by a CMP method or the like (step (E)).
As shown in FIG. 2D, this polishing operation removes unnecessary plating metal 32 deposited on the surface other than the recesses 28 and the through holes 30 formed in the resin substrate 24, thereby removing the recesses 28 and the through holes. The plated metal 32 is left only in the holes 30.
Since the convex portions 22a and 22b provided on the molding material 20 are formed in advance according to the wiring pattern shape, the concave portion 28 and the through hole 30 are formed on the resin substrate 24 in the same pattern as the convex portions 22a and 22b. As a result, a patterned wiring 34 is formed on the resin substrate 24.
As described above, the wiring board 36 of the present invention is obtained.

以上、実施形態1により、本発明による配線基板36の製造方法について説明してきたが、本発明は、この実施の形態に限定されるものではない。   As mentioned above, although the manufacturing method of the wiring board 36 by this invention was demonstrated by Embodiment 1, this invention is not limited to this embodiment.

例えば、上記の実施形態1においては、成形材20に形成した凸部22a及び22bを樹脂基板24に押付けて凹部28及び貫通孔30を形成しているが、凹部及び貫通孔の形成には、従来のリソグラフィーとエッチングの技術を用いることができる。また、凹部形成にはレーザーを用いることができる。また、電解メッキした後の表面処理はCMP法に代えて、従来のエッチングを適用することができる。エッチングを適用する場合には、塩化第二鉄水溶液によるエッチングを行うことが好ましい。   For example, in Embodiment 1 described above, the concave portions 28 and the through holes 30 are formed by pressing the convex portions 22a and 22b formed on the molding material 20 against the resin substrate 24. Conventional lithography and etching techniques can be used. Further, a laser can be used for forming the recess. Further, conventional etching can be applied to the surface treatment after electrolytic plating instead of the CMP method. When applying etching, it is preferable to perform etching with a ferric chloride aqueous solution.

[実施形態2]
本発明の配線基板の製造方法の実施形態の他の例を説明する。
実施形態2では、(A)工程における凹部又は貫通孔の形成を前記「形成態様(5)」により行い、次いで、(B)工程〜(E)工程の各工程を行うものである。
[Embodiment 2]
Another example of the embodiment of the method for manufacturing a wiring board of the present invention will be described.
In the second embodiment, the formation of the recess or the through hole in the step (A) is performed by the “formation mode (5)”, and then each step of the steps (B) to (E) is performed.

<(A)工程>
ポリイミド樹脂基板(Kapton 200H、東レ・デュポン(株)製)の全面を30体積%のヒドラジン一水和物水溶液に25℃で3分間浸漬し水洗した後、奥野製薬工業(株)製の「OPC−80 キャタリスト M」を用い20℃で7分間触媒付与を行う。触媒付与後のポリイミド樹脂基板を水洗し、奥野製薬工業(株)製の「OPC−555 アクセレーター」を用い20℃で10分間促進化処理を行い水洗する。
その後、ポリイミド樹脂基板全面に、以下に示す条件で無電解銅めっきを施す。
<(A) Process>
After immersing the entire surface of a polyimide resin substrate (Kapton 200H, manufactured by Toray DuPont Co., Ltd.) in a 30% by volume hydrazine monohydrate aqueous solution at 25 ° C. for 3 minutes, “OPC” manufactured by Okuno Pharmaceutical Co., Ltd. The catalyst is applied for 7 minutes at 20 ° C. using “−80 Catalyst M”. The polyimide resin substrate after the application of the catalyst is washed with water and subjected to an accelerating treatment at 20 ° C. for 10 minutes using “OPC-555 accelerator” manufactured by Okuno Pharmaceutical Co., Ltd.
Thereafter, electroless copper plating is performed on the entire surface of the polyimide resin substrate under the following conditions.

−無電解銅めっき液の組成−
CuSO・5HO 10g/L
EDTA・2Na 25g/L
37%HCHO 5mL/L
-Composition of electroless copper plating solution-
CuSO 4 · 5H 2 O 10g / L
EDTA · 2Na 25g / L
37% HCHO 5mL / L

−無電解銅めっき条件−
温度: 65℃
時間: 10分
攪拌: 空気で攪拌
pH: 12.5(NaOHで調節)
-Electroless copper plating conditions-
Temperature: 65 ° C
Time: 10 minutes Stirring: Stirring with air pH: 12.5 (adjusted with NaOH)

その後、得られた基板の銅表面に、以下に示す条件で電気銅めっきを行い、ポリイミド樹脂基板の全面に、厚さ1μmの銅被膜(銅層A)を形成する。   Thereafter, electrolytic copper plating is performed on the copper surface of the obtained substrate under the following conditions to form a 1 μm thick copper coating (copper layer A) on the entire surface of the polyimide resin substrate.

−電気銅めっき液の組成−
CuSO・5HO 80g/L
SO 180g/L
-Composition of electrolytic copper plating solution-
CuSO 4 · 5H 2 O 80g / L
H 2 SO 4 180 g / L

−電気銅めっきめっき条件−
陰極電流密度: 3A/dm
温度: 25℃
攪拌: 空気及びカソードロッカー
時間: 2分
-Electrolytic copper plating conditions-
Cathode current density: 3 A / dm 2
Temperature: 25 ° C
Stirring: Air and cathode rocker Time: 2 minutes

その後、東京応化工業社製ネガ型フォトレジスト「PMER HC−600」を、銅層Aの金属マスク形成面に厚さ45μmになるように、また銅層Aのポリイミド樹脂開孔面に厚さ2μmになるように均一に塗布した後、60℃で30分間乾燥する。   Thereafter, a negative photoresist “PMER HC-600” manufactured by Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. was applied to the surface of the copper layer A where the metal mask was formed to a thickness of 45 μm. After uniformly coating, it is dried at 60 ° C. for 30 minutes.

その後、金属マスク形成面の「PMER HC−600」層表面には幅40μm、間隔40μmの金属マスクが形成されるようなネガマスクを、またポリイミド樹脂開孔面の「PMER HC−600」層表面には、外径120μmのビアホールが100個形成されるようなネガマスクをセットし、各々のレジスト層に700mJ/cm及び30mJ/cmの紫外線を照射する。 Thereafter, a negative mask on which the metal mask having a width of 40 μm and an interval of 40 μm is formed on the surface of the “PMER HC-600” layer on the metal mask forming surface, and also on the surface of the “PMER HC-600” layer on the polyimide resin aperture surface. Set a negative mask on which 100 via holes having an outer diameter of 120 μm are formed, and irradiate each resist layer with ultraviolet rays of 700 mJ / cm 2 and 30 mJ / cm 2 .

次いで、金属マスク形成面の「PMER HC−600」層の現像を行い、露出した銅層A表面に以下に示す条件で電気銅めっきを行い金属マスクを形成した。   Next, the “PMER HC-600” layer on the metal mask forming surface was developed, and the exposed copper layer A surface was subjected to electrolytic copper plating under the following conditions to form a metal mask.

−電気銅めっき液の組成−
CuSO・5HO:80g/l
SO:180g/l
-Composition of electrolytic copper plating solution-
CuSO 4 · 5H 2 O: 80g / l
H 2 SO 4 : 180 g / l

−めっき条件−
陰極電流密度:3A/dm
温度:25℃
攪拌:空気及びカソードロッカー
時間:1時間
-Plating conditions-
Cathode current density: 3 A / dm 2
Temperature: 25 ° C
Stirring: Air and cathode rocker Time: 1 hour

その後、ポリイミド開孔面の「PMER HC−600」層を現像し、金属マスク形成面の「PMER HC−600」層を剥離した後、露出した銅層Aを過硫酸アンモニウム45g/Lと硫酸50mL/Lを含有する水溶液を用いて溶解除去し、その後ポリイミド開孔面の「PMER HC−600」を剥離した。   Then, after developing the “PMER HC-600” layer on the polyimide aperture surface and peeling off the “PMER HC-600” layer on the metal mask forming surface, the exposed copper layer A was converted to 45 g / L ammonium persulfate and 50 mL / L sulfuric acid. The aqueous solution containing L was dissolved and removed, and then “PMER HC-600” on the polyimide pore surface was peeled off.

以上の処理によって、ポリイミド開孔面には厚さ1μmの銅層Aがポリイミド樹脂基板に対するエッチングレジスト(金属マスク)としてパターニングされる。
その後、ポリイミド樹脂基板における露出したポリイミド樹脂部をヒドラジン一水和物を用い50℃で4分間エッチングし、配線用溝(本発明における凹部)及びビアホール部(本発明における貫通孔)を形成する。
By the above processing, a 1 μm thick copper layer A is patterned on the polyimide aperture surface as an etching resist (metal mask) for the polyimide resin substrate.
Thereafter, the exposed polyimide resin portion of the polyimide resin substrate is etched with hydrazine monohydrate at 50 ° C. for 4 minutes to form wiring grooves (recesses in the present invention) and via hole portions (through holes in the present invention).

エッチングレジストとしてパターニングされた金属マスクは、溝内に鍍金を施し、溝を充填したあとで、CMPによって、該金属マスクを、不要な配線上部と共に取り除く。   The metal mask patterned as an etching resist is plated in the groove, and after filling the groove, the metal mask is removed together with an unnecessary upper portion of the wiring by CMP.

<(B)程〜(E)工程>
(A)工程終了後のポリイミド基板に対して、実施形態1と同様にして(B)工程〜(E)工程を行う。
以上のようにして、実施形態2により本発明の配線基板が得られる。
<Process (B) to (E)>
(A) Steps (B) to (E) are performed on the polyimide substrate after the end of the steps in the same manner as in the first embodiment.
As described above, the wiring board of the present invention is obtained according to the second embodiment.

[多層配線基板の製造方法、及びそれにより得られた多層配線基板]
本発明の多層配線基板の製造方法の一つの態様は、本発明の配線基板の製造方法により得られた配線基板(本発明の配線基板)を接着層を介して2以上積層してなることを特徴とする。以下、この態様を、適宜「多層配線基板の製造方法(1)」と称する。
[Manufacturing method of multilayer wiring board and multilayer wiring board obtained thereby]
One aspect of the method for manufacturing a multilayer wiring board of the present invention is that two or more wiring boards (wiring boards of the present invention) obtained by the method for manufacturing a wiring board of the present invention are laminated via an adhesive layer. Features. Hereinafter, this aspect is appropriately referred to as “multilayer wiring board manufacturing method (1)”.

多層配線基板の製造方法(1)において、配線基板同士の接着に適用される接着層としては、エポキシ系接着剤、ABF−GX13(味の素(株)社製)、日立化成工業(株)の「MCLシリーズ」、松下電工(株)の「R−05A0、R−5610」等、アーロン社性の「38N、49N」等、(株)有沢製作所の「SAY、EP−188」等、住友ベークライト(株)の「EI−6788」等、のプリプレグを用いることができる。   In the manufacturing method (1) of the multilayer wiring board, as an adhesive layer applied to the bonding between the wiring boards, an epoxy adhesive, ABF-GX13 (manufactured by Ajinomoto Co., Inc.), Hitachi Chemical Co., Ltd. “MCL series”, “R-05A0, R-5610” of Matsushita Electric Works, Ltd., “38N, 49N” of Aaron, etc., “SAY, EP-188” of Arisawa Manufacturing Co., Ltd., Sumitomo Bakelite ( A prepreg such as “EI-6788”, etc., can be used.

本発明の多層配線基板の製造方法の他の態様は、(a)本発明の配線基板の配線形成面に第1の絶縁体層を形成し、該第1の絶縁体層に配線形成領域となる凹部又は貫通孔を形成する工程と、(b)前記絶縁体層上に、無電解めっき触媒又はその前駆体と相互作用する官能基を有し且つ基板表面と直接結合するポリマーからなるポリマー層を形成する工程と、(c)前記ポリマー層上に、無電解めっき触媒又はその前駆体を付与する工程と、(d)無電解めっきを行い金属層を形成する工程と、(e)前記凹部又は貫通孔内のみに金属層が残存するように、絶縁体層上に存在する不要な金属層を除去して配線を形成する工程と、を有することを特徴とする。以下、この態様を、適宜「多層配線基板の製造方法(2)」と称する。   In another aspect of the method for manufacturing a multilayer wiring board of the present invention, (a) a first insulator layer is formed on a wiring formation surface of the wiring board of the present invention, and a wiring formation region is formed on the first insulator layer. And (b) a polymer layer comprising a polymer having a functional group that interacts with the electroless plating catalyst or a precursor thereof and directly binding to the substrate surface. (C) a step of providing an electroless plating catalyst or a precursor thereof on the polymer layer, (d) a step of forming a metal layer by performing electroless plating, and (e) the recess. Or a step of forming a wiring by removing an unnecessary metal layer existing on the insulator layer so that the metal layer remains only in the through hole. Hereinafter, this aspect is appropriately referred to as “multilayer wiring board manufacturing method (2)”.

<(a)工程>
(a)工程では、本発明の配線基板の配線形成面に第1の絶縁体層を形成し、該第1の絶縁体層に配線形成領域となる凹部又は貫通孔を形成する。
<(A) Process>
In the step (a), a first insulator layer is formed on the wiring formation surface of the wiring board of the present invention, and a recess or a through-hole serving as a wiring formation region is formed in the first insulator layer.

(a)工程にて形成される第1の絶縁体層としては、ポリイミド樹脂、エポキシ樹脂、などの樹脂を使用することができる。   (A) As a 1st insulator layer formed at a process, resin, such as a polyimide resin and an epoxy resin, can be used.

(a)工程における凹部又は貫通孔の形成は、既述した本発明の配線基板の製造方法における(A)工程にて詳述した凹部又は貫通孔の形成と同様にして行うことができる。   The formation of the recess or the through hole in the step (a) can be performed in the same manner as the formation of the recess or the through hole described in detail in the step (A) in the method for manufacturing a wiring board of the present invention described above.

<(b)工程〜(e)工程>
(b)工程〜(e)工程は、既述した本発明の配線基板製造方法における(B)工程〜(E)工程と同様の工程であり、(B)工程〜(E)工程に関して詳述した事項が、(b)工程〜(e)工程についても同様に適用される。
<(B) Process to (e) Process>
Steps (b) to (e) are steps similar to steps (B) to (E) in the above-described method for manufacturing a wiring board of the present invention, and are described in detail with respect to steps (B) to (E). The same applies to the steps (b) to (e).

多層配線基板の製造方法(2)においては、(a’)前記(e)工程の終了後における配線形成面に第2の絶縁体層を形成し、該第2の絶縁体層に配線形成領域となる凹部又は貫通孔を形成する工程を行った後、更に、前記(b)工程〜(e)工程を行ってもよい。
(a’)工程における第2の絶縁体層の形成は、(a)工程における第1の絶縁体層の形成と同様に行うことができる。
また、(a’)工程及び(b)工程〜(e)工程は、複数回繰り返して行ってもよく、これにより、ビルドアップ層を多段に積層してなる多層配線基板を得ることができる。
In the multilayer wiring board manufacturing method (2), (a ′) a second insulating layer is formed on the wiring forming surface after the end of the step (e), and a wiring forming region is formed on the second insulating layer. After performing the process of forming the recessed part or through-hole which becomes, you may perform the said (b) process-(e) process further.
The formation of the second insulator layer in the step (a ′) can be performed in the same manner as the formation of the first insulator layer in the step (a).
Further, the steps (a ′) and (b) to (e) may be repeated a plurality of times, whereby a multilayer wiring board in which build-up layers are laminated in multiple stages can be obtained.

また、前記(D’)工程、乾燥工程、バリア層を形成する工程等についても、多層配線基板の製造方法(2)において同様に行うことができる。   Further, the step (D ′), the drying step, the step of forming a barrier layer, and the like can be performed in the same manner in the multilayer wiring board manufacturing method (2).

本発明の多層配線基板は、本発明の多層配線基板の製造方法(1)及び(2)により得られたものであり、基板との密着性が高い配線を有し、且つ高周波特性に優れた多層配線基板である   The multilayer wiring board of the present invention is obtained by the manufacturing method (1) and (2) of the multilayer wiring board of the present invention, has wiring having high adhesion to the substrate, and has excellent high frequency characteristics. It is a multilayer wiring board

本発明に用いられる成形材の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the molding material used for this invention. 本発明における配線基板の製造工程例の概略を示すフロー図である。It is a flowchart which shows the outline of the manufacturing process example of the wiring board in this invention.

符号の説明Explanation of symbols

10、20 成形材
12、22 凸部
24 樹脂基板
26 金属層
28 凹部
30 貫通孔
32 めっき金属
34 配線
36 配線基板
10, 20 Molding material 12, 22 Convex part 24 Resin substrate 26 Metal layer 28 Concave part 30 Through-hole 32 Plating metal 34 Wiring 36 Wiring board

Claims (22)

(A)基板の一方の面又は両方の面に、配線形成領域となる凹部又は貫通孔を形成する工程と、
(B)前記基板上に、無電解めっき触媒又はその前駆体と相互作用する官能基を有し且つ基板表面と直接結合するポリマーからなるポリマー層を形成する工程と、
(C)前記ポリマー層上に、無電解めっき触媒又はその前駆体を付与する工程と、
(D)無電解めっきを行い金属層を形成する工程と、
(E)前記凹部又は貫通孔内のみに金属層が残存するように、基板上に存在する不要な金属層を除去して配線を形成する工程と、
を有することを特徴とする配線基板の製造方法。
(A) a step of forming a recess or a through-hole to be a wiring formation region on one surface or both surfaces of the substrate;
(B) forming a polymer layer made of a polymer having a functional group that interacts with an electroless plating catalyst or a precursor thereof and directly binding to the substrate surface on the substrate;
(C) providing the electroless plating catalyst or a precursor thereof on the polymer layer;
(D) forming a metal layer by performing electroless plating;
(E) forming a wiring by removing an unnecessary metal layer present on the substrate so that the metal layer remains only in the recess or the through hole;
A method of manufacturing a wiring board, comprising:
前記(D)工程の後に、(D’)前記金属層をシード層として電解めっきを行い電解めっき層を形成する工程を有することを特徴とする請求項1に記載の配線基板の製造方法。   2. The method of manufacturing a wiring board according to claim 1, further comprising: (D ′) a step of performing electrolytic plating using the metal layer as a seed layer to form an electrolytic plating layer after the step (D). 3. 前記(A)工程が、前記凹部又は貫通孔を形成するための凸部を備えた面を有する成形材を用い、前記成形材における凸部を備えた面と前記基板とを重ねて加圧することにより、前記基板に前記貫通孔又は凹部を転写形成する工程であることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の配線基板の製造方法。   The step (A) uses a molding material having a surface provided with a convex portion for forming the concave portion or the through hole, and pressurizes the surface of the molding material provided with the convex portion and the substrate. The method for manufacturing a wiring board according to claim 1, wherein the through hole or the recess is transferred and formed on the substrate. 前記(A)工程が、レーザー光照射により、前記基板に前記凹部又は貫通孔を形成する工程であることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の配線基板の製造方法。   The method for manufacturing a wiring board according to claim 1, wherein the step (A) is a step of forming the concave portion or the through hole in the substrate by laser light irradiation. 前記(A)工程が、フォトレジストを用いたエッチングにより、前記基板に前記凹部又は貫通孔を形成する工程であることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の配線基板の製造方法。   The method for manufacturing a wiring board according to claim 1, wherein the step (A) is a step of forming the concave portion or the through hole in the substrate by etching using a photoresist. 前記(A)工程が、エンボス加工により、前記基板に前記凹部又は貫通孔を形成する工程であることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の配線基板の製造方法。   The method for manufacturing a wiring board according to claim 1, wherein the step (A) is a step of forming the concave portion or the through hole in the substrate by embossing. 前記(A)工程が、金属マスクを用いたエッチングにより、前記基板に前記凹部又は貫通孔を形成する工程であることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の配線基板の製造方法。   The method for manufacturing a wiring board according to claim 1, wherein the step (A) is a step of forming the concave portion or the through hole in the substrate by etching using a metal mask. 前記(E)工程における前記めっき金属の除去が、研磨処理により行われることを特徴とする請求項1〜請求項7のいずれか1項に記載の配線基板の製造方法。   The method for manufacturing a wiring board according to claim 1, wherein the removal of the plated metal in the step (E) is performed by a polishing process. 前記(E)工程における前記めっき金属の除去が、エッチングにより行われることを特徴とする請求項1〜請求項8のいずれか1項に記載の配線基板の製造方法。   The method for manufacturing a wiring board according to claim 1, wherein the removal of the plating metal in the step (E) is performed by etching. 前記(D)工程又は前記(D’)工程の後に、乾燥工程を行うことを特徴とする請求項1〜請求項9のいずれか1項に記載の配線基板の製造方法。   The method for manufacturing a wiring board according to claim 1, wherein a drying step is performed after the step (D) or the step (D ′). 前記(D)工程により形成される金属層が、ニッケル、パラジウム、モリブデン、又は、タングステンを含む金属層であることを特徴とす請求項1〜請求項10に記載の配線基板の製造方法。   The method for manufacturing a wiring board according to claim 1, wherein the metal layer formed by the step (D) is a metal layer containing nickel, palladium, molybdenum, or tungsten. 前記(D’)工程により形成される電解めっき層が、ニッケル、コバルト、又は、クロムを含む電解めっき層であることを特徴とする請求項1〜請求項11のいずれか1項に記載の配線基板の製造方法。   12. The wiring according to claim 1, wherein the electroplating layer formed by the step (D ′) is an electroplating layer containing nickel, cobalt, or chromium. A method for manufacturing a substrate. 前記基板が、表面の凹凸が500nm以下の基板であることを特徴とする請求項1〜請求項12のいずれか1項に記載の配線基板の製造方法。   The method for manufacturing a wiring board according to any one of claims 1 to 12, wherein the substrate has a surface irregularity of 500 nm or less. 前記基板が、表面の凹凸が100nm以下の基板であることを特徴とする請求項1〜請求項12のいずれか1項に記載の配線基板の製造方法。   The method for manufacturing a wiring board according to any one of claims 1 to 12, wherein the substrate has a surface irregularity of 100 nm or less. 前記基板と前記金属層との密着性が0.2kN/m以上であることを特徴とする請求項1〜請求項14に記載の配線基板の製造方法。   The method for manufacturing a wiring board according to claim 1, wherein adhesion between the substrate and the metal layer is 0.2 kN / m or more. 前記基板が、1GHzにおける誘電正接が0.01以下である絶縁性樹脂からなる基板であることを特徴とする請求項1〜請求項15のいずれか1項に記載の配線基板の製造方法。   The method for manufacturing a wiring board according to any one of claims 1 to 15, wherein the substrate is a substrate made of an insulating resin having a dielectric loss tangent at 1 GHz of 0.01 or less. 前記基板が、1GHzにおける誘電率が3.5以下である絶縁性樹脂からなる基板であることを特徴とする請求項1〜請求項15のいずれか1項に記載の配線基板の製造方法。   The method for manufacturing a wiring board according to any one of claims 1 to 15, wherein the substrate is a substrate made of an insulating resin having a dielectric constant of 3.5 or less at 1 GHz. 請求項1〜請求項17のいずれか1項に記載の配線基板の製造方法により得られたことを特徴とする配線基板。   A wiring board obtained by the method for manufacturing a wiring board according to any one of claims 1 to 17. 請求項18に記載の配線基板を接着層を介して2以上積層してなることを特徴とする多層配線基板。   A multilayer wiring board comprising two or more of the wiring boards according to claim 18 laminated through an adhesive layer. (a)請求項18に記載の配線基板の配線形成面に第1の絶縁体層を形成し、該第1の絶縁体層に配線形成領域となる凹部又は貫通孔を形成する工程と、
(b)前記絶縁体層上に、無電解めっき触媒又はその前駆体と相互作用する官能基を有し且つ基板表面と直接結合するポリマーからなるポリマー層を形成する工程と、
(c)前記ポリマー層上に、無電解めっき触媒又はその前駆体を付与する工程と、
(d)無電解めっきを行い金属層を形成する工程と、
(e)前記凹部又は貫通孔内のみに金属層が残存するように、絶縁体層上に存在する不要な金属層を除去して配線を形成する工程と、
を有することを特徴とする多層配線基板の製造方法。
(A) forming a first insulator layer on the wiring formation surface of the wiring board according to claim 18 and forming a recess or a through-hole serving as a wiring formation region in the first insulator layer;
(B) forming on the insulator layer a polymer layer made of a polymer having a functional group that interacts with the electroless plating catalyst or a precursor thereof and directly bonding to the substrate surface;
(C) providing an electroless plating catalyst or a precursor thereof on the polymer layer;
(D) performing electroless plating to form a metal layer;
(E) forming a wiring by removing an unnecessary metal layer present on the insulator layer so that the metal layer remains only in the recess or the through hole;
A method for producing a multilayer wiring board, comprising:
(a’)前記(e)工程の終了後における配線形成面に第2の絶縁体層を形成し、該第2の絶縁体層に配線形成領域となる凹部又は貫通孔を形成する工程を行った後、更に、前記(b)工程〜(e)工程を行うことを特徴とする請求項20に記載の多層配線基板の製造方法。   (A ′) A step of forming a second insulator layer on the wiring formation surface after the completion of the step (e) and forming a recess or a through hole serving as a wiring formation region in the second insulator layer. 21. The method of manufacturing a multilayer wiring board according to claim 20, further comprising performing the steps (b) to (e). 請求項20又は請求項21のいずれか1項に記載の多層配線基板の製造方法により得られたことを特徴とする多層配線基板。   A multilayer wiring board obtained by the method for manufacturing a multilayer wiring board according to any one of claims 20 and 21.
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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010045231A (en) * 2008-08-14 2010-02-25 Nippon Steel Chem Co Ltd Method of manufacturing circuit board
JP2010045232A (en) * 2008-08-14 2010-02-25 Nippon Steel Chem Co Ltd Method of manufacturing circuit board
JP2010073713A (en) * 2008-09-16 2010-04-02 Ngk Spark Plug Co Ltd Method of manufacturing ceramic component
JP2010109320A (en) * 2008-09-30 2010-05-13 Toppan Printing Co Ltd Method of manufacturing multilayer printed wiring board and multilayer printed wiring board
WO2010092932A1 (en) * 2009-02-12 2010-08-19 住友ベークライト株式会社 Resin composition for wiring board, resin sheet for wiring board, composite body, method for producing composite body, and semiconductor device
JP2010258415A (en) * 2009-02-12 2010-11-11 Sumitomo Bakelite Co Ltd Composite body, method of manufacturing the same, and semiconductor device
WO2012133032A1 (en) * 2011-03-29 2012-10-04 富士フイルム株式会社 Production method for laminate having patterned metal films, and plating layer-forming composition
WO2012133093A1 (en) * 2011-03-29 2012-10-04 富士フイルム株式会社 Method for manufacturing laminate having patterned metal films
WO2012133684A1 (en) * 2011-03-29 2012-10-04 富士フイルム株式会社 Production method for laminate having patterned metal films, and plating layer-forming composition
US10147612B2 (en) 2017-03-22 2018-12-04 Kabushiki Kaisha Toshiba Metal pattern forming method

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010045231A (en) * 2008-08-14 2010-02-25 Nippon Steel Chem Co Ltd Method of manufacturing circuit board
JP2010045232A (en) * 2008-08-14 2010-02-25 Nippon Steel Chem Co Ltd Method of manufacturing circuit board
JP2010073713A (en) * 2008-09-16 2010-04-02 Ngk Spark Plug Co Ltd Method of manufacturing ceramic component
JP2010109320A (en) * 2008-09-30 2010-05-13 Toppan Printing Co Ltd Method of manufacturing multilayer printed wiring board and multilayer printed wiring board
WO2010092932A1 (en) * 2009-02-12 2010-08-19 住友ベークライト株式会社 Resin composition for wiring board, resin sheet for wiring board, composite body, method for producing composite body, and semiconductor device
JP2010258415A (en) * 2009-02-12 2010-11-11 Sumitomo Bakelite Co Ltd Composite body, method of manufacturing the same, and semiconductor device
TWI473712B (en) * 2009-02-12 2015-02-21 Sumitomo Bakelite Co Resin composition for wiring board, resin sheet for wiring board, composite, method for manufacturing composite, and semiconductor device
WO2012133032A1 (en) * 2011-03-29 2012-10-04 富士フイルム株式会社 Production method for laminate having patterned metal films, and plating layer-forming composition
WO2012133093A1 (en) * 2011-03-29 2012-10-04 富士フイルム株式会社 Method for manufacturing laminate having patterned metal films
WO2012133684A1 (en) * 2011-03-29 2012-10-04 富士フイルム株式会社 Production method for laminate having patterned metal films, and plating layer-forming composition
US10147612B2 (en) 2017-03-22 2018-12-04 Kabushiki Kaisha Toshiba Metal pattern forming method

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