[go: up one dir, main page]

JP2008126306A - レーザ加工装置、及び、レーザ加工方法 - Google Patents

レーザ加工装置、及び、レーザ加工方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2008126306A
JP2008126306A JP2006317454A JP2006317454A JP2008126306A JP 2008126306 A JP2008126306 A JP 2008126306A JP 2006317454 A JP2006317454 A JP 2006317454A JP 2006317454 A JP2006317454 A JP 2006317454A JP 2008126306 A JP2008126306 A JP 2008126306A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
laser beam
laser
optical
incident
optical axis
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2006317454A
Other languages
English (en)
Inventor
Keiji Iso
圭二 礒
Katsuyuki Kobayashi
克行 小林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Heavy Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Heavy Industries Ltd filed Critical Sumitomo Heavy Industries Ltd
Priority to JP2006317454A priority Critical patent/JP2008126306A/ja
Publication of JP2008126306A publication Critical patent/JP2008126306A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Laser Beam Processing (AREA)

Abstract

【課題】 良好な加工品質で加工を行う。
【解決手段】 レーザビームを出射するレーザ光源と、レーザ光源から出射したレーザビームが入射し、外部からの制御信号によって、所定方向から入射したレーザビームを第1の光軸、及び第1の光軸と第1の角度をなす第2の光軸から選択された一方の光軸に沿って出射することのできる振り分け装置であって、音響光学偏向器を用いた光偏向器を含み、第1の光軸に沿って進行するレーザビームと第2の光軸に沿って進行するレーザビームとを、1つの光偏向器から出射させる振り分け装置と、振り分け装置から第1の光軸、及び第2の光軸に沿って出射されたレーザビームが入射し、それぞれを第3の光軸、及び第3の光軸と第1の角度より大きい第2の角度をなす第4の光軸に沿って出射する出射角拡大器と、振り分け装置に制御信号を送信する制御装置とを有するレーザ加工装置を提供する。
【選択図】 図1

Description

本発明は、レーザビームを照射して加工を行うレーザ加工装置、及び、レーザ加工方法、殊に、出射されたレーザビームを分岐させて加工対象物に入射させ加工を行うレーザ加工装置、及び、レーザ加工方法に関する。
ビルドアップ基板にビアホールを形成するにあたっては、加工する材料によって必要とされるパルスエネルギが異なる。銅など加工性の悪い材料の加工には、エポキシ系樹脂材料など加工性のよい材料を加工する場合に比べて、大きなパルスエネルギのビームが必要となる。
たとえば、銅層間がエポキシ樹脂層で絶縁されているビルドアップ基板に炭酸ガスレーザを用いて、100μmの穴径の穴開け加工を行う場合、黒化処理を施した銅層には、パルスエネルギ10mJ、パルス幅15μsecのパルスレーザビームを入射させる。また、エポキシ樹脂層を加工するためには、パルスエネルギ3mJ、パルス幅5μsecのパルスレーザビームを照射する。
このように、加工対象物を形成する材料によって、加工に必要なパルスエネルギが異なるため、加工性のよい材料と悪い材料の混在する加工対象物の加工においては、良好な加工品質を保つことが困難な場合がある。
またビルドアップ基板のビア数は、電子機器の高機能化、及び高密度化に伴い、増加の一途を辿っている。このため、レーザドリル機には高生産性が望まれている。
加工の高速化を実現する、2パネル4軸のレーザドリル装置が知られている(たとえば、特許文献1参照)。特許文献1記載の多軸レーザ加工装置においては、偏光板及びハーフミラーを用いてレーザビームを分岐している。
入射するレーザビームを異なる方向に出射する偏向器として、音響光学偏向器(Acoust-OpticDeflector: AOD)が知られている。
音響光学偏向器(AOD)に高周波の電気信号を印加すると、音響光学偏向器(AOD)の音響光学媒体内に電気信号に同期した超音波が発生する。この超音波が回折格子として作用し、入射するレーザビームの一部がブラッグ反射され(音響光学効果)、偏向されて出射する。
レーザビームの回折角は超音波の周波数に比例する。超音波の周波数を連続的に変えることで、回折角を連続的に変化させることができる。超音波の周波数は、電気信号の周波数を変えることで制御できる。なお、音響光学偏向器に電気信号が印加されない場合は、レーザビームの回折は起こらない。
図7(A)及び(B)は、音響光学偏向器(AOD)10を出射したレーザビームを示す概略図である。
図7(A)を参照する。
たとえば炭酸ガスレーザから出射し、断面形状を円形に整形されたパルスレーザビームが音響光学偏向器(AOD)10に入射する。入射ビームは、音響光学偏向器(AOD)10に印加される電気信号の周波数によって異なる偏向角を与えられ、たとえば音響光学偏向器(AOD)10から1m離れた照射面に照射される。図7(A)には、4ショットのパルスレーザビームがそれぞれ異なる4方向に出射される場合を示した。また、照射面を点線で示した。なお、図中、O〜Oは、次図で詳しく表すように、音響光学偏向器(AOD)10で偏向され、照射面に照射されるレーザビームの断面を示す。
音響光学偏向器(AOD)10の偏向角度は小さく、全角θは約2°である。このため、4方向に均分的にレーザビームを偏向させる場合、隣り合う偏向レーザビーム間の角度θは、約0.66°(約1.15mrad)となる。
一方、炭酸ガスレーザビームの広がり角は、たとえば約2.1mradである。
図7(B)は、照射面に照射された偏向レーザビームの断面を示す断面図である。
炭酸ガスレーザビームの広がり角(たとえば約2.1mrad)は、隣り合う偏向レーザビーム間の角度θ(約1.15mrad)よりも大きい。このため、音響光学偏向器(AOD)10で偏向されたレーザビームは空間内の同じ位置を重複して進行し、ビームが入射する領域は重なり部分をもつ。
特開2002−11584号公報
本発明の目的は、良好な加工品質で加工を行うことのできるレーザ加工装置、及びレーザ加工方法を提供することである。
また、高効率で加工を行うことのできるレーザ加工装置、及びレーザ加工方法を提供することである。
本発明の一観点によれば、レーザビームを出射するレーザ光源と、前記レーザ光源から出射したレーザビームが入射し、外部からの制御信号によって、所定方向から入射したレーザビームを第1の光軸、及び前記第1の光軸と第1の角度をなす第2の光軸から選択された一方の光軸に沿って出射することのできる振り分け装置であって、音響光学偏向器を用いた光偏向器を含み、前記第1の光軸に沿って進行するレーザビームと前記第2の光軸に沿って進行するレーザビームとを、1つの該光偏向器から出射させる振り分け装置と、前記振り分け装置から前記第1の光軸、及び前記第2の光軸に沿って出射されたレーザビームが入射し、それぞれを第3の光軸、及び前記第3の光軸と前記第1の角度より大きい第2の角度をなす第4の光軸に沿って出射する出射角拡大器と、前記振り分け装置に制御信号を送信する制御装置とを有するレーザ加工装置が提供される。
また、本発明の他の観点によれば、レーザビームを出射するレーザ光源と、前記レーザ光源から出射したレーザビームの光路上に配置され、外部からの制御信号によって、所定方向から入射したレーザビームを第1の光軸、及び前記第1の光軸とは異なる第2の光軸から選択された一方の光軸に沿って出射することのできる振り分け装置であって、音響光学偏向器を用いた光偏向器を含み、前記第1の光軸に沿って進行するレーザビームと前記第2の光軸に沿って進行するレーザビームとを、1つの該光偏向器から出射させる振り分け装置と、前記レーザ光源と前記振り分け装置との間のレーザビームの光路上、または、前記第1及び第2の光軸に沿って出射されたレーザビームが入射する位置に配置され、入射したレーザビームを前記第1及び第2の光軸の張る平面内で収束して出射するシリンドリカルレンズと、前記振り分け装置に制御信号を送信する制御装置とを有するレーザ加工装置が提供される。
更に、本発明の他の観点によれば、レーザビームを出射するレーザ光源と、前記レーザ光源を出射したレーザビームが入射し、入射したレーザビームを収束させる第1の光学部材と、前記第1の光学部材で収束されたレーザビームが入射し、外部からの制御信号によって、所定方向から入射したレーザビームを第1の光軸、及び前記第1の光軸とは異なる第2の光軸から選択された一方の光軸に沿って出射することのできる振り分け装置であって、音響光学偏向器を用いた光偏向器を含み、前記第1の光軸に沿って進行するレーザビームと前記第2の光軸に沿って進行するレーザビームとを、1つの該光偏向器から出射させる振り分け装置と、前記振り分け装置を出射したレーザビームが入射し、前記第1の光軸に沿って伝搬するレーザビームの中心光線と、前記第2の光軸に沿って伝搬するレーザビームの中心光線とのなす角を拡大する第2の光学部材と、前記振り分け装置に制御信号を送信する制御装置とを有するレーザ加工装置が提供される。
また、本発明の他の観点によれば、(a)第1のレーザパルスの、時間軸上における少なくとも一部分を、時間軸に沿って第1の分割数に分割して相互に異なる方向に出射し、隣りあって出射されたレーザパルスの中心光線間の角度を広げた後、それぞれのレーザパルスを、下地部材上に絶縁層が形成され、該絶縁層上に金属層が形成された構造を有する加工対象物の相互に異なる位置に、該金属層表面から入射させ、それぞれの入射位置に、該金属層を貫通し、該絶縁層を露出させる穴を形成する工程と、(b)前記第1のレーザパルスと同一のレーザ光源から出射された第2のレーザパルスの、時間軸上における少なくとも一部分を、時間軸に沿って前記第1の分割数に分割して相互に異なる方向に出射し、隣りあって出射されたレーザパルスの中心光線間の角度を広げた後、それぞれのレーザパルスを、下地部材上に絶縁層が形成され、該絶縁層上に金属層が形成された構造を有する加工対象物の相互に異なる位置であって、前記工程(a)で穴が形成されていない位置に、該金属層表面から入射させ、それぞれの入射位置に、該金属層を貫通し、該絶縁層を露出させる穴を形成する工程と、(c)前記第1のレーザパルスと同一のレーザ光源から出射された第3のレーザパルスの、時間軸上における少なくとも一部分を、時間軸に沿って前記第1の分割数より多い第2の分割数に分割して相互に異なる方向に出射し、隣りあって出射されたレーザパルスの中心光線間の角度を広げた後、それぞれのレーザパルスを、前記工程(a)及び(b)で形成された穴を通して、該絶縁層表面に入射させる工程とを有するレーザ加工方法が提供される。
本発明によれば、良好な加工品質で加工を行うことのできるレーザ加工装置、及びレーザ加工方法を提供することができる。
また、高効率で加工を行うことのできるレーザ加工装置、及びレーザ加工方法を提供することができる。
図1は、第1の実施例によるレーザ加工装置を示す概略図である。
第1の実施例によるレーザ加工装置は、レーザ光源20、音響光学偏向器(AOD)22、偏向角拡大器23、ビームダンパ24、反射鏡25a〜h、ガルバノスキャナ26a〜d、fθレンズ27a〜d、軸移動機構28、29、及び、制御装置30を含んで構成される。
制御装置30から送信されるトリガー信号を契機として、レーザ光源20、たとえば炭酸ガスレーザからパルスレーザビームLbが出射する。パルスレーザビームLbは、音響光学偏向器(AOD)22に入射する。
図に示すように、音響光学偏向器(AOD)22を用いて、入射したレーザビームLbを、例えば5つの光軸に振り分けることができる。レーザビームLbは、音響光学偏向器(AOD)22に電気信号(高周波電圧)RFが印加されない場合は、そのまま光軸Iに沿って出射する。音響光学偏向器(AOD)22にある周波数(周波数faとする)の電気信号RFが印加された場合は、一部がある回折角で回折して光軸Iaに沿って伝搬するレーザビームLbaが出射される。同様に、音響光学偏向器(AOD)22に、faと異なる周波数fb、fc、fdの電気信号RFが印加された場合は、それぞれ光軸Ib、Ic、Idに沿って伝搬するレーザビームLbb、Lbc、Lbdが出射される。
光軸IaとIbとのなす角、光軸IbとIcとのなす角、及び光軸IcとIdとのなす角は、たとえばすべて0.66°である。
電気信号RFは、制御装置30からの制御信号に基づいて印加される。
音響光学偏向器(AOD)22を出射したパルスレーザビームは、偏向角拡大器23に入射する。偏向角拡大器23は、光軸Ia〜Idに沿い、隣り合って入射するビームのなす角度(隣り合う入射ビーム間の角度)よりも、それらのビームが出射するときに、隣り合って出射されるビームのなす角度(隣り合う出射ビーム間の角度)が大きくなるようにして、レーザビームを出射する。偏向角拡大器23については、次図を参照して詳述する。
音響光学偏向器(AOD)22に電気信号RFが印加されない場合に、光軸Iに沿って偏向角拡大器23に入射したレーザビームは、ビームダンパ24に入射する。本図には、偏向角拡大器23を経由してビームダンパ24に入射させる例を示したが、偏向角拡大器23を介さないで入射させてもよい。
偏向角拡大器23を出射したレーザビームは、光軸Iaa〜Iddのいずれか1つに沿って進行し、それぞれ反射鏡25a〜d、ガルバノスキャナ26a〜d、及びfθレンズ27a〜dを経て、加工対象物であるプリント基板33または34に入射する。
プリント基板33及び34は、XYステージ31上に、チャックプレート32によって固定されている。プリント基板33には、光軸Iaa及びIbbに沿って進行するレーザビームが入射し、プリント基板34には、光軸Icc及びIddに沿って進行するレーザビームが入射する。XYステージ31は、プリント基板33及び34を、基板に平行な面内に移動させることができる。
ガルバノスキャナ26a及びXYステージ31の動作により、光軸Iaaに沿って進行するレーザビームが、プリント基板33のすべての加工位置に入射可能であるように、ガルバノスキャナ26a、fθレンズ27a、XYステージ31、及びプリント基板33が配置されている。
同様に、ガルバノスキャナ26c及びXYステージ31の動作により、光軸Iccに沿って進行するレーザビームが、プリント基板34のすべての加工位置に入射可能であるように、ガルバノスキャナ26c、fθレンズ27c、XYステージ31、及びプリント基板34が配置されている。
光路Ibbに沿って進行するレーザビームは、3枚の反射鏡25b、25e、25fで反射された後、ガルバノスキャナ26bで走査され、fθレンズ27bで集光されて、プリント基板33に入射する。軸移動機構28は、制御装置30からの制御信号に基づき、反射鏡25f、ガルバノスキャナ26b及びfθレンズ27bを、たとえばプリント基板33(XYステージの基板載置面)の面内方向に移動させることができる。
また、光路Iddに沿って進行するレーザビームは、3枚の反射鏡25d、25g、25hで反射された後、ガルバノスキャナ26dで走査され、fθレンズ27dで集光されて、プリント基板34に入射する。軸移動機構29は、制御装置30からの制御信号に基づき、反射鏡25h、ガルバノスキャナ26d及びfθレンズ27dを、たとえばプリント基板34(XYステージの基板載置面)の面内方向に移動させることができる。
本図に示したレーザ加工装置は、1パネルにつき加工軸を2軸有する2パネル4軸のレーザ加工装置である。軸移動機構28、29により1パネルにつき1軸をプリント基板33、34の面内方向に移動することが可能であるため、パネルサイズや配線パタンに応じて、加工に最適となるように、2軸間の距離を調整することができる。
図2は、偏向角拡大器23の一例を示す概略図である。
偏向角拡大器23は、たとえば光取り出し窓41a〜dを備えた2枚の反射鏡で構成される平行ミラー40を含む。2枚の反射鏡は、鏡面が対向するように配置される。本図を用いて、音響光学偏向器(AOD)22でそれぞれ異なる角度に偏向され偏向角拡大器23に入射するレーザビームLba〜Lbdの光路について説明する。なお、音響光学偏向器(AOD)22によって与えられた偏向角はLbaが最も小さく、Lbb、Lbc、Lbdの順に大きくなるものとする。
音響光学偏向器(AOD)22で偏向されたレーザビームLba〜Lbdは、光導入窓42を通して2枚の反射鏡間に導かれ、それらの間で繰り返し反射されて、光取り出し窓41a〜d近傍まで進行する。
光取り出し窓41a及び41bは、一方の反射鏡に形成され、光取り出し窓41c及び41dは、他方の反射鏡に形成される。
レーザビームLba、Lbb、Lbc、Lbdは、それぞれ光取り出し窓41a、41c、41b、41dから出射する。光取り出し窓41a〜dは、光透過領域を制限するマスクを兼ねており、レーザビームLba〜Lbdの広がりに起因する重なり部分がある場合、重なり部分をカットする。なお、光取り出し窓41a〜dの周囲は、カットされた重なり部分が反射されないように、無反射コーティングが施されている。
レーザビームLba、Lbb、Lbc、Lbdは、たとえば平行ミラー40外部の反射鏡を用いて、それぞれ図1に示した光路Iaa、Icc、Ibb、Iddに導かれる。平行ミラー40外部の反射鏡は、たとえば本図の上側に配置され、レーザビームLbb及びLbdとを図の下側に反射する。
音響光学偏向器(AOD)22からたとえば偏向角差1.32°で出射されるレーザビームLbaとLbcとが、偏向角拡大器23から隣り合って出射されるため、偏向角拡大器23から出射する、隣り合うビーム間の角度を、たとえば1.32°とすることができる。なお、図の上側に配置される外部反射鏡の配置角度により、レーザビームLbcと、レーザビームLbb、Lbdとの出射方向間の角度は任意に、たとえばそれぞれ1.32°、2.64°に調整することができる。
図3は、偏向角拡大器23の他の例を示す概略図である。
焦点距離の異なる2枚の凸レンズを用いて偏向角拡大器23を構成することもできる。
焦点距離fの第1凸レンズ61は、ビームの入射側に配置され、焦点距離fの第2凸レンズ62は、ビームの出射側に配置される。2枚の凸レンズ61、62の焦点距離は、f>fの関係を満たす。第1及び第2凸レンズ61、62は、光軸合わせが行われている。
音響光学偏向器(AOD)を偏向角差θ、たとえば0.66°で出射したレーザビームLba及びLbbが第1凸レンズ61、第2凸レンズ62をこの順に透過する。入射時のレーザビームLbaのビーム径、出射時のレーザビームLbaのビーム径を、それぞれD、Dとし、第2凸レンズ62を出射するときのレーザビームLbaとLbbの出射方向のなす角をθとすると、以下の式(1)が成立する。
θ/θ=f/f=D/D ・・・(1)
>fより、θ>θとなる。偏向角拡大器23に入射するレーザビームLba及びLbbは、入射時に進行方向のなす角θよりも大きい角度差θで出射されることがわかる。
図4(A)〜(E)を参照して、実施例によるレーザ加工方法を説明する。
図4(A)は、加工対象物であるプリント基板33、34の一部を示す概略的な断面図である。
プリント基板33、34は、銅層52上にエポキシ樹脂層(絶縁層)51が形成され、エポキシ樹脂層51上に銅層(金属層)50が形成された構造を有する。実施例によるレーザ加工方法においては、まず、黒化処理を施した銅層50表面上からプリント基板33、34に1ショットのパルスレーザビームを入射させて、銅層50を貫通しエポキシ樹脂層51を底面に露出させる穴を形成する。続いて、銅層50を貫通する穴を通してエポキシ樹脂層51に、1ショットまたは複数ショットのパルスレーザビームを入射させて、エポキシ樹脂層51を貫通し、底面に銅層50を露出させる穴を形成する。
図4(B)を参照して、エポキシ樹脂層51の穴開け加工について説明する。
エポキシ樹脂層51の穴開け加工は、図1に示したIaa〜Iddの4つの光路に沿って入射したパルスレーザビームによって銅層52を貫通する穴が形成された後、露出したエポキシ樹脂層51にパルスレーザビームを照射することにより行う。
エポキシ樹脂層51に入射させるパルスレーザビームは、たとえばレーザ光源から出射した1ショットのパルスレーザビームを時間軸に沿って4分割することによって得る。たとえば図4(B)に示すように、エネルギの安定性の悪い立ち上がり及び立ち下がり時間を除いて、音響光学偏向器(AOD)に高周波電圧を印加して周波数を変化させ、1ショットを4分割し、分割された4つのレーザパルスをそれぞれ光路Iaa〜Iddに導入する。
レーザ光源から出射された4ショットのパルスレーザビームを用いるのではなく、1ショットのビームを4分割してエポキシ樹脂層51に入射させ穴開け加工を行うため、エポキシ樹脂層51の加工時間を短くすることができる。
図4(C)〜(E)を参照して、銅層50の穴開け加工について説明する。
図4(C)を参照する。
エポキシ樹脂層51の加工と同様に、銅層50の加工においても、レーザ光源から出射された1ショットのパルスレーザビームを、音響光学偏向器(AOD)により時間軸に沿って4分割し、光路Iaa〜Iddに振り分ければよいとも考えられる。しかし、銅はエポキシ樹脂と比較して加工性が悪いため、銅層50に穴を開ける際には、エポキシ樹脂層51に穴を開ける際よりも多くのエネルギを必要とする。
そこで図4(C)に示すように、繰り返し周波数を一定とする条件のもとで、パルス幅を長くし、銅層50の穴開け加工に必要なエネルギを確保する方法が考えられる。
図4(D)は、繰り返し周波数を一定とする条件のもとで、デューティとパルスエネルギとの関係を概略的に示したグラフである。
このグラフからわかるように、ある一定のデューティの範囲を超えると、デューティが大きくなるにつれパルスエネルギが小さくなる。したがって、前述のように、銅層50の穴開け加工に必要なエネルギを確保するためにパルス幅を長くしたとしても、十分な加工エネルギを得られない場合が生じる。
図4(E)を参照する。
このため、実施例によるレーザ加工方法においては、1ショットのパルスレーザビームを時間軸に沿って2分割し、銅層50の加工を行う。たとえば1ショットめについては、音響光学偏向器(AOD)を用いて、2分割したレーザパルスを所定の方向に偏向させ、光路Iaa及びIccに沿って、銅層50表面からプリント基板33、34に入射させ、入射位置の銅層50を貫通する穴を開ける。また、2ショットめについては、音響光学偏向器(AOD)を用いて、2分割したレーザパルスを、光路Ibb及びIddに沿って、銅層50表面からプリント基板33、34に入射させ、入射位置の銅層50を貫通する穴を開ける。
3ショットめは4分割する。音響光学偏向器(AOD)に異なる周波数の高周波電圧を印加することにより、分割されたレーザパルスは、光路Iaa〜Iddを進行する。レーザパルスは、プリント基板33,34の、銅層50に形成された穴を通してエポキシ樹脂層51に入射し、エポキシ樹脂層51を貫通し、銅層52を底面に露出する穴を形成する。
銅層50加工時とエポキシ樹脂層51加工時とで、パルスレーザビームの分割数を異ならせ、適切なエネルギのビームを照射するため、良好な加工品質で加工を行うことができる。
図5は、第2の実施例によるレーザ加工装置を示す概略図である。
第2の実施例によるレーザ加工装置は、レーザ光源20、音響光学偏向器(AOD)22、シリンドリカルレンズ65、66a〜66d、透光領域(スリット)を有するマスク69、反射鏡25a〜25d、ガルバノスキャナ26a〜26d、fθレンズ27a〜27d、及び、制御装置30、を含んで構成される。
レーザ光源20からパルスレーザビームLbが出射する。パルスレーザビームLbは、音響光学偏向器(AOD)22に入射する。音響光学偏向器(AOD)22は、制御装置30によって印加される高周波電圧RFの周波数にしたがい、入射したレーザビームLbに異なる偏向角を与えて、たとえば時間軸に沿って4分割し、それぞれ図面面内方向において、異なる4方向に出射する。
音響光学偏向器(AOD)22を出射した4本のレーザビームLba〜Lbdは、たとえば長さ方向が図面垂直方向と平行に配置されたシリンドリカルレンズ65に入射し、図面面内で幅狭となるように集光されて、集光位置に配置されたマスク69の異なるスリットに入射する。マスク69の異なるスリットを透過することで、4本のレーザビームLba〜Lbdは互いに分離される。
反射鏡25a〜25dはマスク69の直後に配置され、それぞれレーザビームLba〜Lbdを相互に異なる方向に反射する。シリンドリカルレンズ66a〜66dは、それぞれ反射鏡25a〜25dで反射されたレーザビームLba〜Lbdの光路上に配置される。シリンドリカルレンズ66a〜66dに入射したレーザビームLba〜Lbdは、たとえば断面形状が円形の平行光として出射される。
シリンドリカルレンズ66a〜66dを出射したレーザビームLba〜Lbdは、折り返しミラーで反射され、それぞれガルバノスキャナ26a〜26d、fθレンズ27a〜27dを経て、プリント基板33、34に照射される。プリント基板33、34は、チャックプレート32で、XYステージ31上に固定されている。
第2の実施例によるレーザ加工装置も、第1の実施例によるレーザ加工装置と同様に、音響光学偏向器(AOD)に入射したレーザビームを時間軸に沿って分割し、異なる偏向角で出射させることによって、加工対象物の異なる位置を、ほぼ同時に加工することができる。
音響光学偏向器(AOD)によってたとえば異なる4方向にレーザビームを出射した場合であっても、各ビームを分離して加工対象物に照射することができる。
第2の実施例によるレーザ加工装置においては、音響光学偏向器(AOD)22で偏向されたレーザビームがシリンドリカルレンズ65に入射するように、音響光学偏向器(AOD)22及びシリンドリカルレンズ65を配置したが、シリンドリカルレンズ65を透過したレーザビームが音響光学偏向器(AOD)22に入射するように両者を配置してもよい。
図5に示した第2の実施例によるレーザ加工装置において、シリンドリカルレンズ65に替えて凸レンズを用いるのは好ましくない。レーザビームが小さなスポットに集光されるため、たとえば凸レンズと加工対象物との中間に反射ミラーやガルバノスキャナを配置した場合、中間に配置されたそれらのミラーに損傷を生じさせる場合がある。
図6は、第3の実施例によるレーザ加工装置を示す概略図である。
第3の実施例によるレーザ加工装置は、レーザ光源20、凸レンズ67、音響光学偏向器(AOD)22、凹レンズ68、及び、制御装置30を含んで構成される。
レーザ光源20からパルスレーザビームLbが出射する。パルスレーザビームLbは、ある広がり角で広がりながら進行し、凸レンズ67に入射する。凸レンズ67は、パルスレーザビームLbを収束させて出射する。パルスレーザビームLbは、収束しながら進行し、音響光学偏向器(AOD)22に入射する。音響光学偏向器(AOD)22は、制御装置30によって印加される高周波電圧RFの周波数にしたがい、入射したレーザビームLbに異なる偏向角を与えて、たとえば時間軸に沿って4分割し、それぞれ異なる4方向に出射する。隣り合って出射されるレーザビームの出射方向のなす角は一定である。当該角度をθとする。
音響光学偏向器(AOD)22を出射したレーザビームは、凹レンズ68に入射する。凹レンズ68は、隣り合って出射されるレーザビーム(中心光線)の出射方向のなす角度(θとする。)を、隣り合って入射するレーザビーム(中心光線)の入射方向のなす角度(θ)よりも大きくして(θ>θ)、レーザビームLba〜Lbdを出射する。レーザビームLba〜Lbdは、たとえばすべて平行ビームである。
図6における凹レンズ68以降の光学系には、たとえば図1における反射鏡25a〜d、ガルバノスキャナ26a〜d、及びfθレンズ27〜dを含む光学系を採用することができる。
第3の実施例によるレーザ加工装置も、第1及び第2の実施例によるレーザ加工装置と同様に、音響光学偏向器(AOD)に入射したレーザビームを、時間軸に沿って分割し、異なる偏向角で出射させることによって、加工対象物の異なる位置を、ほぼ同時に加工することができる。音響光学偏向器(AOD)によってたとえば異なる4方向にレーザビームを出射した場合であっても、各ビームを分離して加工対象物に照射することが可能である。
なお、凸レンズ67は、比較的長い焦点距離、たとえば数十cm以上の焦点距離を備え、音響光学偏向器(AOD)に入射するレーザビームをたとえば平行光に近い状態とすることが望ましい。焦点距離が短い場合には、レーザビームが音響光学偏向器(AOD)を透過する際に、ビームサイズが小さくなり、光密度が大きくなって、音響光学偏向器(AOD)に損傷が生じることがある。また、焦点距離が短いと、収束の度合いの大きいビームが音響光学偏向器(AOD)に入射するため、回折効率が低下する場合もある。
更に、凹レンズ68透過後のビームは、必ずしも平行ビームとしなくてもよい。たとえば、緩やかに収束するビームとなるように、光学系を形成することもできる。
また、第3の実施例によるレーザ加工装置においては、ビームを収束させる光学部材とビームを発散させる(分離角度を大きくする)光学部材の組み合わせとして、凸レンズと凹レンズの組み合わせを用いたが、たとえば凸シリンドリカルレンズと凹シリンドリカルレンズの組み合わせや、凹面鏡と凸面鏡の組み合わせを用いることも可能である。凸レンズと凸面鏡、凹面鏡と凹レンズを組み合わせてもよい。
凸シリンドリカルレンズと凹シリンドリカルレンズの組み合わせを用いる場合には、たとえば両シリンドリカルレンズの長さ方向が、ともに図6の紙面に垂直な方向と平行になるように、2つのシリンドリカルレンズを配置する。このように配置した場合、凸シリンドリカルレンズに入射したレーザビームは、図6の紙面面内において収束しながら出射され、凹シリンドリカルレンズに入射したレーザビームは、図6の紙面面内において隣り合って出射する中心光線間の角度が、隣り合って入射する中心光線間の角度よりも大きくなるように出射される。
以上、実施例に沿って本発明を説明したが、本発明はこれらに限定されるものではない。種々の変更、改良、組み合わせ等が可能なことは当業者には自明であろう。
レーザ加工一般、たとえばレーザ穴開け加工に利用することができる。
第1の実施例によるレーザ加工装置を示す概略図である。 偏向角拡大器23の一例を示す概略図である。 偏向角拡大器23の他の例を示す概略図である。 (A)〜(E)は、実施例によるレーザ加工方法を説明するための図である。 第2の実施例によるレーザ加工装置を示す概略図である。 第3の実施例によるレーザ加工装置を示す概略図である。 (A)及び(B)は、音響光学偏向器(AOD)10を出射したレーザビームを示す概略図である。
符号の説明
10 音響光学偏向器(AOD)
20 レーザ光源
21 凸レンズ
22 音響光学偏向器(AOD)
23 偏向角拡大器
24 ビームダンパ
25a〜h 反射鏡
26a〜d ガルバノスキャナ
27a〜d fθレンズ
28、29 軸移動機構
30 制御装置
31 XYステージ
32 チャックプレート
33、34 プリント基板
40 平行ミラー
41a〜d 光取り出し窓
42 光導入窓
50、52 銅層
51 エポキシ樹脂層
61 第1凸レンズ
62 第2凸レンズ
65 シリンドリカルレンズ
66a〜66d シリンドリカルレンズ
67 凸レンズ
68 凹レンズ
69 マスク

Claims (12)

  1. レーザビームを出射するレーザ光源と、
    前記レーザ光源から出射したレーザビームが入射し、外部からの制御信号によって、所定方向から入射したレーザビームを第1の光軸、及び前記第1の光軸と第1の角度をなす第2の光軸から選択された一方の光軸に沿って出射することのできる振り分け装置であって、音響光学偏向器を用いた光偏向器を含み、前記第1の光軸に沿って進行するレーザビームと前記第2の光軸に沿って進行するレーザビームとを、1つの該光偏向器から出射させる振り分け装置と、
    前記振り分け装置から前記第1の光軸、及び前記第2の光軸に沿って出射されたレーザビームが入射し、それぞれを第3の光軸、及び前記第3の光軸と前記第1の角度より大きい第2の角度をなす第4の光軸に沿って出射する出射角拡大器と、
    前記振り分け装置に制御信号を送信する制御装置と
    を有するレーザ加工装置。
  2. 前記出射角拡大器は、鏡面が対向配置され、前記振り分け装置から前記第1及び第2の光軸に沿って出射されたレーザビームが前記対向配置された鏡面間に入射する2枚の反射鏡を含み、
    前記2枚の反射鏡の一方の側から、レーザビームが前記第3の光軸に沿って出射され、他方の反射鏡の側から、レーザビームが前記第4の光軸に沿って出射される請求項1に記載のレーザ加工装置。
  3. 前記出射角拡大器は、第1の長さの焦点距離を有し、前記振り分け装置から出射したレーザビームが入射する第1の凸レンズと、前記第1の凸レンズを出射したレーザビームが入射する位置に配置され、前記第1の長さより短い第2の長さの焦点距離を有する第2の凸レンズとを含む請求項1に記載のレーザ加工装置。
  4. 更に、
    加工対象物を載置する載置面を備えるステージと、
    前記第3の光軸に沿って出射されたレーザビームの光路上に配置され、入射するレーザビームを前記ステージ上に載置された加工対象物上に集光する第1の光学系と、
    前記第4の光軸に沿って出射されたレーザビームの光路上に配置され、入射するレーザビームを前記ステージ上に載置された加工対象物上に集光する第2の光学系と、
    前記ステージの前記載置面の面内方向に、前記第1の光学系または前記第2の光学系の少なくとも一方を移動させることのできる移動装置と
    を含む請求項1〜3のいずれか1項に記載のレーザ加工装置。
  5. レーザビームを出射するレーザ光源と、
    前記レーザ光源から出射したレーザビームが入射し、外部からの制御信号によって、所定方向から入射したレーザビームを、同一平面内に画定され、隣り合う光軸間の角度が第1の角度である第1乃至第4の光軸から選択された一つの光軸に沿って出射することのできる振り分け装置であって、音響光学偏向器を用いた光偏向器を含み、前記第1乃至第4の光軸に沿って進行するレーザビームを、1つの該光偏向器から出射させる振り分け装置と、
    前記振り分け装置から前記第1乃至第4の光軸に沿って出射されたレーザビームが入射し、それぞれを同一平面内に画定され、隣り合う光軸間の角度が前記第1の角度より大きい第2の角度である第5乃至第8の光軸に沿って出射する出射角拡大器と、
    前記振り分け装置に制御信号を送信する制御装置と
    を有するレーザ加工装置。
  6. レーザビームを出射するレーザ光源と、
    前記レーザ光源から出射したレーザビームの光路上に配置され、外部からの制御信号によって、所定方向から入射したレーザビームを第1の光軸、及び前記第1の光軸とは異なる第2の光軸から選択された一方の光軸に沿って出射することのできる振り分け装置であって、音響光学偏向器を用いた光偏向器を含み、前記第1の光軸に沿って進行するレーザビームと前記第2の光軸に沿って進行するレーザビームとを、1つの該光偏向器から出射させる振り分け装置と、
    前記レーザ光源と前記振り分け装置との間のレーザビームの光路上、または、前記第1及び第2の光軸に沿って出射されたレーザビームが入射する位置に配置され、入射したレーザビームを前記第1及び第2の光軸の張る平面内で収束して出射するシリンドリカルレンズと、
    前記振り分け装置に制御信号を送信する制御装置と
    を有するレーザ加工装置。
  7. レーザビームを出射するレーザ光源と、
    前記レーザ光源から出射したレーザビームの光路上に配置され、外部からの制御信号によって、所定方向から入射したレーザビームを、同一平面内に画定された相互に異なる第1乃至第4の光軸から選択された一つの光軸に沿って出射することのできる振り分け装置であって、音響光学偏向器を用いた光偏向器を含み、前記第1乃至第4の光軸に沿って進行するレーザビームを、1つの該光偏向器から出射させる振り分け装置と、
    前記レーザ光源と前記振り分け装置との間のレーザビームの光路上、または、前記第1乃至第4の光軸に沿って出射されたレーザビームが入射する位置に配置され、入射したレーザビームを前記第1乃至第4の光軸の張る平面内で収束して出射するシリンドリカルレンズと、
    前記振り分け装置に制御信号を送信する制御装置と
    を有するレーザ加工装置。
  8. レーザビームを出射するレーザ光源と、
    前記レーザ光源を出射したレーザビームが入射し、入射したレーザビームを収束させる第1の光学部材と、
    前記第1の光学部材でビーム径を小さくされたレーザビームが入射し、外部からの制御信号によって、所定方向から入射したレーザビームを第1の光軸、及び前記第1の光軸とは異なる第2の光軸から選択された一方の光軸に沿って出射することのできる振り分け装置であって、音響光学偏向器を用いた光偏向器を含み、前記第1の光軸に沿って進行するレーザビームと前記第2の光軸に沿って進行するレーザビームとを、1つの該光偏向器から出射させる振り分け装置と、
    前記振り分け装置を出射したレーザビームが入射し、前記第1の光軸に沿って伝搬するレーザビームの中心光線と、前記第2の光軸に沿って伝搬するレーザビームの中心光線とのなす角を拡大する第2の光学部材と、
    前記振り分け装置に制御信号を送信する制御装置と
    を有するレーザ加工装置。
  9. 前記第1の光学部材が、入射したレーザビームを、前記第1及び第2の光軸の張る平面内において収束させる凸シリンドリカルレンズであり、前記第2の光学部材が、前記第1の光軸に沿って伝搬するレーザビームの中心光線と、前記第1の光軸に沿って伝搬するレーザビームの中心光線とのなす角を広げる凹シリンドリカルレンズである請求項8に記載のレーザ加工装置。
  10. レーザビームを出射するレーザ光源と、
    前記レーザ光源を出射したレーザビームが入射し、入射したレーザビームを収束させる第1の光学部材と、
    前記第1の光学部材でビーム径を小さくされたレーザビームが入射し、外部からの制御信号によって、所定方向から入射したレーザビームを、同一平面内に画定された相互に異なる第1乃至第4の光軸から選択された一つの光軸に沿って出射することのできる振り分け装置であって、音響光学偏向器を用いた光偏向器を含み、前記第1乃至第4の光軸に沿って進行するレーザビームを、1つの該光偏向器から出射させる振り分け装置と、
    前記振り分け装置を出射したレーザビームが入射し、前記第1乃至第4の光軸のうち、隣り合う光軸に沿って伝搬するレーザビームの中心光線間の角を拡大する第2の光学部材と、
    前記振り分け装置に制御信号を送信する制御装置と
    を有するレーザ加工装置。
  11. (a)第1のレーザパルスの、時間軸上における少なくとも一部分を、時間軸に沿って第1の分割数に分割して相互に異なる方向に出射し、隣りあって出射されたレーザパルスの中心光線間の角度を広げた後、それぞれのレーザパルスを、下地部材上に絶縁層が形成され、該絶縁層上に金属層が形成された構造を有する加工対象物の相互に異なる位置に、該金属層表面から入射させ、それぞれの入射位置に、該金属層を貫通し、該絶縁層を露出させる穴を形成する工程と、
    (b)前記第1のレーザパルスと同一のレーザ光源から出射された第2のレーザパルスの、時間軸上における少なくとも一部分を、時間軸に沿って前記第1の分割数に分割して相互に異なる方向に出射し、隣りあって出射されたレーザパルスの中心光線間の角度を広げた後、それぞれのレーザパルスを、下地部材上に絶縁層が形成され、該絶縁層上に金属層が形成された構造を有する加工対象物の相互に異なる位置であって、前記工程(a)で穴が形成されていない位置に、該金属層表面から入射させ、それぞれの入射位置に、該金属層を貫通し、該絶縁層を露出させる穴を形成する工程と、
    (c)前記第1のレーザパルスと同一のレーザ光源から出射された第3のレーザパルスの、時間軸上における少なくとも一部分を、時間軸に沿って前記第1の分割数より多い第2の分割数に分割して相互に異なる方向に出射し、隣りあって出射されたレーザパルスの中心光線間の角度を広げた後、それぞれのレーザパルスを、前記工程(a)及び(b)で形成された穴を通して、該絶縁層表面に入射させる工程と
    を有するレーザ加工方法。
  12. 前記第2の分割数が、前記第1の分割数の2倍である請求項11に記載のレーザ加工方法。
JP2006317454A 2006-11-24 2006-11-24 レーザ加工装置、及び、レーザ加工方法 Withdrawn JP2008126306A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006317454A JP2008126306A (ja) 2006-11-24 2006-11-24 レーザ加工装置、及び、レーザ加工方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006317454A JP2008126306A (ja) 2006-11-24 2006-11-24 レーザ加工装置、及び、レーザ加工方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2008126306A true JP2008126306A (ja) 2008-06-05

Family

ID=39552668

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006317454A Withdrawn JP2008126306A (ja) 2006-11-24 2006-11-24 レーザ加工装置、及び、レーザ加工方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2008126306A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20090057282A1 (en) * 2007-08-15 2009-03-05 Chunfu Huang Laser machining method utilizing variable inclination angle
JP2012502805A (ja) * 2008-09-22 2012-02-02 エレクトロ サイエンティフィック インダストリーズ インコーポレーテッド 動的ビームアレイを用いるフォトニックミリング
WO2013084413A1 (en) * 2011-12-08 2013-06-13 Canon Kabushiki Kaisha Laser processing apparatus, laser processing method, substrate for ink jet head, and manufacturing method of ink jet head
CN105598581A (zh) * 2014-11-14 2016-05-25 株式会社迪思科 激光振荡机构
CN116197558A (zh) * 2022-12-20 2023-06-02 深圳镁伽科技有限公司 用于激光切割的光学系统、激光加工装置及方法
WO2025181942A1 (ja) * 2024-02-28 2025-09-04 株式会社ニコン ビーム走査装置、加工装置および加工方法

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20090057282A1 (en) * 2007-08-15 2009-03-05 Chunfu Huang Laser machining method utilizing variable inclination angle
JP2012502805A (ja) * 2008-09-22 2012-02-02 エレクトロ サイエンティフィック インダストリーズ インコーポレーテッド 動的ビームアレイを用いるフォトニックミリング
WO2013084413A1 (en) * 2011-12-08 2013-06-13 Canon Kabushiki Kaisha Laser processing apparatus, laser processing method, substrate for ink jet head, and manufacturing method of ink jet head
JP2013119106A (ja) * 2011-12-08 2013-06-17 Canon Inc レーザ加工装置、レーザ加工方法及びインクジェットヘッド基板
CN105598581A (zh) * 2014-11-14 2016-05-25 株式会社迪思科 激光振荡机构
CN116197558A (zh) * 2022-12-20 2023-06-02 深圳镁伽科技有限公司 用于激光切割的光学系统、激光加工装置及方法
CN116197558B (zh) * 2022-12-20 2025-11-28 深圳镁伽科技有限公司 用于激光切割的光学系统、激光加工装置及方法
WO2025181942A1 (ja) * 2024-02-28 2025-09-04 株式会社ニコン ビーム走査装置、加工装置および加工方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7633036B2 (en) Micro-machining system employing a two stage beam steering mechanism
KR100691924B1 (ko) 재료 가공 장치 및 방법
US8729426B2 (en) Method and apparatus for laser machining relatively narrow and relatively wide structures
JP3929084B2 (ja) 未処理製品の表面を照射する方法
KR100841426B1 (ko) 다중빔 레이저 구멍뚫기 가공장치
US5676866A (en) Apparatus for laser machining with a plurality of beams
JP4459530B2 (ja) レーザ加工装置
CN104105994B (zh) 用于激光束扫描的声光偏转器的配置
JP3479878B2 (ja) レーザ加工方法及び加工装置
JP5133033B2 (ja) レーザ加工装置
JP3872462B2 (ja) レーザ加工装置、及びレーザ加工方法
CN112605542B (zh) 一种激光系统及其加工柔性线路板的方法
JP2007237242A (ja) レーザ加工装置
JP2008126306A (ja) レーザ加工装置、及び、レーザ加工方法
JP2020062658A (ja) レーザ加工装置およびレーザ加工方法
JPH11347766A (ja) レーザドリル装置及びレーザ穴あけ加工方法
CN111515526A (zh) 一种多光束加工装置及加工方法
JP2008129535A (ja) ビーム振り分け装置、及び、多軸レーザ照射装置
JP7085951B2 (ja) レーザ加工装置およびレーザ加工方法
JP2008168297A (ja) レーザ加工装置及びレーザ加工方法
JP2019155392A (ja) レーザ加工装置およびレーザ加工方法
JP3385504B2 (ja) レーザ加工装置、及びレーザ加工装置による照射方法
JP3312294B2 (ja) 複数軸ガルバノスキャナを用いたレーザ加工装置及びレーザ加工方法
JPS62168688A (ja) レ−ザ加工装置
JP2020037130A (ja) レーザ加工装置およびレーザ加工方法

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20100202