JP2008122349A - Measuring instrument - Google Patents
Measuring instrument Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008122349A JP2008122349A JP2006309718A JP2006309718A JP2008122349A JP 2008122349 A JP2008122349 A JP 2008122349A JP 2006309718 A JP2006309718 A JP 2006309718A JP 2006309718 A JP2006309718 A JP 2006309718A JP 2008122349 A JP2008122349 A JP 2008122349A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mounting plate
- outer peripheral
- disk body
- measuring
- disc body
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Description
本発明は、円板体についての測定を行う測定装置に関する。 The present invention relates to a measuring apparatus for measuring a disk body.
ハードディスク装置に使用される磁気ディスクは、アルミニウムやガラス製の基板上に、磁性層が形成されたものであって、円板状の形状を有し、その中央部分に円形の孔(円孔)が設けられている。このような構造を有する磁気ディスクは、中央の円孔を介してハードディスク装置のスピンドルモータに装着されて、前記円孔を中心に、高速で回転運動を行う。そのため、前記円孔の中心が、磁気ディスクの中心からずれて(すなわち、偏心して)いると、高速回転時に振動が発生することになる。そこで、磁気ディスクを構成する基板(以下、ディスク基板という)の製造段階においては、検査工程等で、ディスク基板の偏心量の測定が行われ、例えば、偏心量が基準値を超えるのものについては不良品としている。 A magnetic disk used in a hard disk device has a disk-like shape on a substrate made of aluminum or glass and has a disk shape, and a circular hole (circular hole) at the center thereof. Is provided. The magnetic disk having such a structure is mounted on a spindle motor of a hard disk device through a central circular hole, and rotates at a high speed around the circular hole. For this reason, if the center of the circular hole is deviated from the center of the magnetic disk (that is, decentered), vibration occurs during high-speed rotation. Therefore, in the manufacturing stage of a substrate constituting a magnetic disk (hereinafter referred to as a disk substrate), the amount of eccentricity of the disk substrate is measured in an inspection process or the like. For example, for those whose eccentricity exceeds a reference value Defective product.
従来、このような偏心量の測定は、ディスク基板を、中央の円孔を介して、測定装置(検査装置)のスピンドルに装着し、当該ディスク基板の外周面の所定箇所に、接触式変位計の測定子を当接させた状態で、当該ディスク基板を一周回転させ、前記変位計で計測したディスク基板の外周面の変位量に基づいて、当該ディスク基板の偏心量を測定していた。 Conventionally, such an eccentricity measurement is performed by attaching a disk substrate to a spindle of a measuring device (inspection device) through a central circular hole, and placing a contact displacement meter at a predetermined position on the outer peripheral surface of the disk substrate. The disk substrate was rotated once in a state in which the measuring element was in contact, and the eccentric amount of the disk substrate was measured based on the displacement amount of the outer peripheral surface of the disk substrate measured by the displacement meter.
しかしながら、上記の方法でディスク基板の偏心量を高精度に測定するには、ディスク基板を精度よく回転させる必要がある。すなわち、高精度な回転機構が必要となり、その分、測定装置(検査装置)が高価になっていた。 However, in order to measure the eccentricity of the disk substrate with high accuracy by the above method, it is necessary to rotate the disk substrate with high accuracy. That is, a highly accurate rotation mechanism is required, and the measurement device (inspection device) is expensive accordingly.
なお、特開昭57−128807号公報には、円形試料をその中心軸周りに回転させながら、その外周縁の位置をイメージセンサで直接検出して電気的に外周形状を測定する真円度測定方法が開示されている。
本発明の目的は、より安価で、ディスク基板その他の円板体についての測定を精度よく行える測定装置を提供することにある。 An object of the present invention is to provide a measurement apparatus that is more inexpensive and can accurately measure a disk substrate and other disk bodies.
本発明に係る第一の測定装置は、円板体の中央に設けられた円孔の偏心量を測定する測定装置であって、前記円板体の外周部を支持して、前記円板体を回転させる支持回転機構と、前記円板体の内周縁と外周縁との間の半径方向の距離を測定する寸法測定部と、前記支持回転機構による前記円板体の回転に伴い、前記寸法測定部で測定される複数箇所の前記距離に基づいて、前記偏心量を算出する制御部とを備えたことを特徴とする。 A first measuring device according to the present invention is a measuring device for measuring an eccentric amount of a circular hole provided in the center of a disk body, and supports the outer peripheral portion of the disk body, and the disk body A support rotation mechanism that rotates the disk body, a dimension measuring unit that measures a radial distance between the inner peripheral edge and the outer peripheral edge of the disk body, and the dimensions along with the rotation of the disk body by the support rotation mechanism. And a controller that calculates the amount of eccentricity based on the distances measured at a plurality of locations by the measuring unit.
この場合において、前記制御部は、前記距離の最大値及び最小値に基づいて、前記偏心量を算出するようにしてもよい。 In this case, the control unit may calculate the eccentricity based on the maximum value and the minimum value of the distance.
本発明に係る第二の測定装置は、中央に円孔が設けられた円板体についての測定を行う測定装置であって、前記円板体を載置するための載置板と、前記載置板の外周部を支持して、前記載置板を回転させる支持回転機構と、前記載置板上に載置された前記円板体についての距離を測定する寸法測定部と、前記支持回転機構による前記載置板を介した前記円板体の回転に伴い、前記寸法測定部で測定される複数箇所の前記距離に基づいて、前記円板体の偏心量、内径寸法、外径寸法及び真円度のうちの少なくともひとつを算出する制御部とを備え、前記載置板には、真円をなす基準ラインが形成されており、前記寸法測定部は、前記基準ラインと前記円板体の外周縁との間の半径方向の距離、及び、前記基準ラインと前記円板体の内周縁との間の半径方向の距離を測定することを特徴とする。 A second measuring apparatus according to the present invention is a measuring apparatus that performs measurement on a disk body having a circular hole in the center, and a mounting plate for mounting the disk body, A support rotation mechanism for supporting the outer peripheral portion of the mounting plate and rotating the mounting plate, a dimension measuring unit for measuring a distance about the disc body mounted on the mounting plate, and the supporting rotation Along with the rotation of the disk body through the mounting plate described above by the mechanism, the eccentric amount, the inner diameter dimension, the outer diameter dimension, and the outer diameter dimension of the disk body based on the distances of a plurality of locations measured by the dimension measuring unit. A control unit that calculates at least one of the roundness, the reference plate forming a perfect circle is formed on the mounting plate, and the dimension measuring unit includes the reference line and the disc body. The radial distance between the outer peripheral edge and the reference line and the inner peripheral edge of the disc body And measuring the distance in the radial direction.
本発明に係る第三の測定装置は、中央に円孔が設けられた円板体についての測定を行う測定装置であって、前記円板体を載置するための載置板と、前記載置板の外周部を支持して、前記載置板を回転させる支持回転機構と、前記載置板上に載置された前記円板体についての距離を測定する寸法測定部と、前記支持回転機構による前記載置板を介した前記円板体の回転に伴い、前記寸法測定部で測定される複数箇所の前記距離に基づいて、前記円板体の偏心量、内径寸法、外径寸法及び真円度のうちの少なくともひとつを算出する制御部とを備え、前記載置板の外周縁は、真円をなすように形成されており、前記寸法測定部は、前記載置板の外周縁と前記円板体の外周縁との間の半径方向の距離、及び、前記載置板の外周縁と前記円板体の内周縁との間の半径方向の距離を測定することを特徴とする。 A third measuring device according to the present invention is a measuring device for measuring a disk body having a circular hole in the center, and a mounting plate for mounting the disk body, A support rotation mechanism for supporting the outer peripheral portion of the mounting plate and rotating the mounting plate, a dimension measuring unit for measuring a distance about the disc body mounted on the mounting plate, and the supporting rotation Along with the rotation of the disk body through the mounting plate described above by the mechanism, the eccentric amount, the inner diameter dimension, the outer diameter dimension, and the outer diameter dimension of the disk body based on the distances of a plurality of locations measured by the dimension measuring unit. A control unit that calculates at least one of the roundness, the outer peripheral edge of the mounting plate is formed to form a perfect circle, and the dimension measuring unit is an outer peripheral edge of the mounting plate And the radial distance between the outer peripheral edge of the disk body and the outer peripheral edge of the mounting plate and the inner periphery of the disk body And measuring the radial distance between the.
本発明に係る第四の測定装置は、円板体についての測定を行う測定装置であって、前記円板体を載置するための載置板と、前記載置板の外周部を支持して、前記載置板を回転させる支持回転機構と、前記載置板上に載置された前記円板体についての距離を測定する寸法測定部と、前記支持回転機構による前記載置板を介した前記円板体の回転に伴い、前記寸法測定部で測定される複数箇所の前記距離に基づいて、前記円板体の外径寸法及び真円度の少なくとも一方を算出する制御部とを備え、前記載置板には、真円をなす基準ラインが形成されており、前記寸法測定部は、前記基準ラインと前記円板体の外周縁との間の半径方向の距離を測定することを特徴とする。 A fourth measuring device according to the present invention is a measuring device for measuring a disk body, and supports a mounting plate for mounting the disk body and an outer peripheral portion of the mounting plate. A support rotating mechanism for rotating the mounting plate, a dimension measuring unit for measuring a distance about the disc body placed on the mounting plate, and a mounting plate by the supporting rotating mechanism. And a controller that calculates at least one of the outer diameter and roundness of the disc body based on the distances of the plurality of locations measured by the dimension measuring unit along with the rotation of the disc body. The mounting plate is provided with a reference line forming a perfect circle, and the dimension measuring unit measures a radial distance between the reference line and the outer peripheral edge of the disc body. Features.
本発明に係る第五の測定装置は、円板体についての測定を行う測定装置であって、前記円板体を載置するための載置板と、前記載置板の外周部を支持して、前記載置板を回転させる支持回転機構と、前記載置板上に載置された前記円板体についての距離を測定する寸法測定部と、前記支持回転機構による前記載置板を介した前記円板体の回転に伴い、前記寸法測定部で測定される複数箇所の前記距離に基づいて、前記円板体の外径寸法及び真円度の少なくとも一方を算出する制御部とを備え、前記載置板の外周縁は、真円をなすように形成されており、前記寸法測定部は、前記載置板の外周縁と前記円板体の外周縁との間の半径方向の距離を測定することを特徴とする。 A fifth measuring device according to the present invention is a measuring device for measuring a disk body, and supports a mounting plate for mounting the disk body and an outer peripheral portion of the mounting plate. A support rotating mechanism for rotating the mounting plate, a dimension measuring unit for measuring a distance about the disc body placed on the mounting plate, and a mounting plate by the supporting rotating mechanism. And a controller that calculates at least one of the outer diameter and roundness of the disc body based on the distances of the plurality of locations measured by the dimension measuring unit along with the rotation of the disc body. The outer peripheral edge of the mounting plate is formed so as to form a perfect circle, and the dimension measuring unit is a radial distance between the outer peripheral edge of the mounting plate and the outer peripheral edge of the disk body. Is measured.
以上の場合において、前記載置板は、前記円板体の動きを規制する手段(例えば、ゴムパッド等の摩擦によって前記円板体の動きを規制する部材)を備えるようにしてもよい。 In the above case, the placing plate may include means for restricting the movement of the disk body (for example, a member for restricting the movement of the disk body by friction of a rubber pad or the like).
また、前記第一の測定装置においては、前記寸法測定部は、前記円板体を間に挟むように配置される投光部と受光部とを備え、前記投光部によって発せられた光は、前記円板体の内周縁及び外周縁を半径方向に横切るようにしてもよい。 Further, in the first measuring apparatus, the dimension measuring unit includes a light projecting unit and a light receiving unit disposed so as to sandwich the disc body therebetween, and the light emitted by the light projecting unit is The inner peripheral edge and the outer peripheral edge of the disc body may be traversed in the radial direction.
また、前記第二の測定装置においては、前記寸法測定部は、前記円板体及び前記載置板を間に挟むように配置される投光部と受光部とを備え、前記投光部によって発せられた光は、前記円板体の内周縁及び外周縁並びに前記基準ラインを半径方向に横切るようにしてもよい。 Further, in the second measuring apparatus, the dimension measuring unit includes a light projecting unit and a light receiving unit disposed so as to sandwich the disk body and the mounting plate, and the light projecting unit The emitted light may traverse the inner and outer edges of the disc body and the reference line in the radial direction.
また、前記第三の測定装置においては、前記寸法測定部は、前記円板体及び前記載置板を間に挟むように配置される投光部と受光部とを備え、前記投光部によって発せられた光は、前記円板体の内周縁及び外周縁並びに前記載置板の外周縁を半径方向に横切るようにしてもよい。 Further, in the third measuring apparatus, the dimension measuring unit includes a light projecting unit and a light receiving unit disposed so as to sandwich the disc body and the mounting plate, and the light projecting unit The emitted light may traverse the inner and outer peripheral edges of the disc body and the outer peripheral edge of the mounting plate in the radial direction.
また、前記第四の測定装置においては、前記寸法測定部は、前記円板体及び前記載置板を間に挟むように配置される投光部と受光部とを備え、前記投光部によって発せられた光は、前記円板体の外周縁及び前記基準ラインを半径方向に横切るようにしてもよい。 Further, in the fourth measuring apparatus, the dimension measuring unit includes a light projecting unit and a light receiving unit arranged so as to sandwich the disk body and the mounting plate, and the light projecting unit The emitted light may cross the outer peripheral edge of the disc body and the reference line in the radial direction.
また、前記第五の測定装置においては、前記寸法測定部は、前記円板体及び前記載置板を間に挟むように配置される投光部と受光部とを備え、前記投光部によって発せられた光は、前記円板体の外周縁及び前記載置板の外周縁を半径方向に横切るようにしてもよい。 Further, in the fifth measuring apparatus, the dimension measuring unit includes a light projecting unit and a light receiving unit disposed so as to sandwich the disc body and the mounting plate, and the light projecting unit The emitted light may cross the outer peripheral edge of the disc body and the outer peripheral edge of the mounting plate in the radial direction.
また、前記第一の測定装置においては、前記寸法測定部は、前記円板体の内周面の変位を測定する接触式変位計と、前記円板体の外周面の変位を測定する接触式変位計とを備え、前記接触式変位計の各測定子は、前記円板体の半径方向に並ぶ位置で前記円板体の内周面及び外周面と接触するように配置されるようにしてもよい。 In the first measuring apparatus, the dimension measuring unit includes a contact displacement meter that measures the displacement of the inner peripheral surface of the disc body, and a contact type that measures the displacement of the outer peripheral surface of the disc body. A displacement meter, and each contact point of the contact displacement meter is arranged so as to be in contact with an inner peripheral surface and an outer peripheral surface of the disk body at a position aligned in a radial direction of the disk body. Also good.
また、前記第三の測定装置においては、前記寸法測定部は、前記円板体の内周面の変位を測定する接触式変位計と、前記円板体の外周面の変位を測定する接触式変位計と、前記載置板の外周面の変位を測定する接触式変位計とを備え、前記接触式変位計の各測定子は、前記載置板の半径方向に並ぶ位置で前記円板体の内周面及び外周面並びに前記載置板の外周面と接触するように配置されるようにしてもよい。 In the third measuring apparatus, the dimension measuring unit includes a contact displacement meter that measures the displacement of the inner peripheral surface of the disc body, and a contact type that measures the displacement of the outer peripheral surface of the disc body. A displacement meter and a contact displacement meter that measures the displacement of the outer peripheral surface of the mounting plate, and each contact point of the contact displacement meter is located at a position aligned in the radial direction of the mounting plate. You may make it arrange | position so that it may contact with the outer peripheral surface of this inner peripheral surface and outer peripheral surface, and the said mounting plate.
また、前記第五の測定装置においては、前記寸法測定部は、前記円板体の外周面の変位を測定する接触式変位計と、前記載置板の外周面の変位を測定する接触式変位計とを備え、前記接触式変位計の各測定子は、前記載置板の半径方向に並ぶ位置で前記円板体の外周面及び前記載置板の外周面と接触するように配置されるようにしてもよい。 In the fifth measuring apparatus, the dimension measuring unit includes a contact displacement meter that measures the displacement of the outer peripheral surface of the disc body, and a contact displacement that measures the displacement of the outer peripheral surface of the mounting plate. And each contact point of the contact displacement meter is arranged so as to contact the outer peripheral surface of the disc body and the outer peripheral surface of the mounting plate at a position aligned in the radial direction of the mounting plate. You may do it.
また、以上の場合において、前記支持回転機構は、側面に溝が形成された複数のローラによって構成されるようにしてもよい。更に、前記複数のローラは、前記円板体又は前記載置板を回転駆動するための駆動ローラと、前記円板体又は前記載置板の動きを案内する従動ローラとによって構成されるようにしてもよい。 In the above case, the support rotation mechanism may be configured by a plurality of rollers having grooves formed on the side surfaces. Further, the plurality of rollers are constituted by a driving roller for rotationally driving the disk body or the mounting plate, and a driven roller for guiding the movement of the disk body or the mounting plate. May be.
本発明によれば、より安価で、ディスク基板その他の円板体についての測定を精度よく行える測定装置を提供することができる。 According to the present invention, it is possible to provide a measurement apparatus that is more inexpensive and can accurately measure a disk substrate and other disk bodies.
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しつつ詳細に説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
《第一実施形態》
図1は、本発明による測定装置の概要を示す図である。同図(a)は平面図を示し、同図(b)は側面断面図を示す。
<< first embodiment >>
FIG. 1 is a diagram showing an outline of a measuring apparatus according to the present invention. The figure (a) shows a top view and the figure (b) shows a side sectional view.
同図に示すように、本発明による測定装置100は、支持回転機構110と、寸法測定器120と、制御部130とを備える。測定装置100は、中央に円孔141が設けられた円板体(例えば、ディスク基板)140の偏心量を測定するものである。
As shown in the figure, a
支持回転機構110は、測定対象となる円板体(以下、被測定円板体という)140を水平に支持して回転させるものであって、複数(同図の例では3つ)のローラ111,112,113と、駆動モータ部114とによって構成されている。
The
支持回転機構110を構成する各ローラ111,112,113は、概ね背の低い円柱状の形状を有しており、その側面には、被測定円板体140の外周部を支持するための溝115が形成されている。なお、当該溝115の側面は、被測定円板体140の上面及び底面に触れないように、外側に向かって幅広になるよう、テーパー状に形成されている。また、支持回転機構110を構成する複数のローラのうちのひとつのローラ111は、駆動モータ部114の回転軸(出力シャフト)116に固着されており、駆動モータ部114の回転軸116とともに回転することで、被測定円板体140を回転駆動する駆動ローラである。一方、他のローラ112,113は、駆動ローラ111によって回転駆動される被測定円板体140が水平面内において回転するように案内する従動ローラ(ガイドローラ)であり、測定装置100のベース部101に垂直方向に伸びるように立設されたロッド117,118に、ベアリング(不図示)を介して装着されている。
Each of the
支持回転機構110を構成する駆動モータ部114は、その回転軸(出力シャフト)116に固定された駆動ローラ111を介して、被測定円板体140を回転駆動するものであり、モータ及びその制御回路等によって構成される。また、駆動モータ部114は、不図示の進退機構を介して、測定装置100のベース部101上に取り付けられている。駆動モータ部114(及び駆動ローラ111)は、前記進退機構によって、寸法測定器120に対して進退(前後動)可能に構成されており、測定装置100に対する被測定円板体140の着脱は、駆動モータ部114(及び駆動ローラ111)を前後動させることで行われる。
The
寸法測定器120は、支持回転機構110によって支持された被測定円板体140の内周縁から外周縁までの(被測定円板体140の)半径方向の距離(長さ)を、被測定円板体140上の所定箇所において測定するものである。寸法測定器120は、被測定円板体140の一方の表面側(同図の例では、上面側)に配置され、被測定円板体140(の所定領域)に対して測定用の光(例えば、レーザ光)を照射する投光部121と、被測定円板体140の他方の表面側(同図の例では、底面側)に配置され、投光部121から照射された光を受光して電気信号に変換する受光部122と、受光部122からの出力信号に基づいて、被測定円板体140の内周縁から外周縁までの半径方向の距離を算出するコントローラ(不図示)とを備える。
The
図2は、寸法測定器120の測定原理を説明するための図である。
FIG. 2 is a diagram for explaining the measurement principle of the
同図に示すように、投光部121から発せられた細い直線状の平行光線123は、被測定円板体140の表面に対して垂直に、被測定円板体140の内周縁及び外周縁を(被測定円板体140の)半径方向に横切るように照射され、被測定円板体140によって遮られなかった光124のみが受光部122に達する。寸法測定器120のコントローラは、受光部122から出力される信号に基づいて、投光部121によって照射された平行光線123が被測定円板体140によって遮られることで生じた影のエッジを検出し、当該影の長さを適宜算出することで、平行光線123が照射されている箇所での、被測定円板体140の内周縁から外周縁までの距離を測定する。
As shown in the figure, the thin linear
投光部121は、例えば、発光光源としての半導体レーザ(レーザ・ダイオード)と、半導体レーザから放射されたレーザ光を平行光線(走査光)とするためのポリゴンミラーやfθレンズ等の光学系等によって構成される。受光部122は、例えば、投光部121から照射されたレーザ光の集光を行う受光レンズと、受光レンズによって集光されたレーザ光を電気信号に変換する受光素子(例えば、フォトダイオード)等によって構成される。
The
この場合、寸法測定器120では、まず、投光部121から被測定円板体140に対して照射されるレーザ光によって、被測定円板体140の内周縁付近(内周縁よりやや内側)から外周縁付近(外周縁よりやや外側)までの走査を行う。そして、被測定円板体140に照射したレーザ光を、受光部122で受光して、電気信号に変換する。そして、コントローラにおいて、レーザ光(走査線)が被測定円板体140に遮られることによって生じた影のエッジを検出して、影を生じている時間の長さを適宜算出することにより、被測定円板体140上の所定箇所における内周縁から外周縁までの半径方向の距離を測定する。
In this case, in the
なお、ここでは、寸法測定器120が、レーザスキャン方式によって、被測定円板体140の内周縁から外周縁までの半径方向の距離を測定する場合について説明したが、必要とされる測定精度その他の実装条件に応じて、他の方式(例えば、投光部121にLEDを利用し、受光部122にCCDイメージセンサを利用するCCD方式)によって、前記距離を測定するようにしてもよい。
Here, the case where the
制御部130は、支持回転機構110及び寸法測定器120の制御を行うものであって、例えば、通常のパーソナルコンピュータその他のコンピュータによって構成され、適当なインタフェース(例えば、RS−232シリアルインタフェース)を介して、支持回転機構110(駆動モータ部141)及び寸法測定器120にそれぞれ接続されている。また、制御部130は、寸法測定器120によって測定された測定値に基づいて、被測定円板体140の偏心量を算出する。更に、制御部130は、必要に応じて、算出された偏心量に基づいて、被測定円板体140が不良品であるか否かの判別を行う。例えば、算出された偏心量が所定の閾値以上であれば、不良品と判別し、所定の閾値未満であれば、良品と判別する。
The
次に、以上のような構成を有する測定装置100の動作について説明する。
Next, the operation of the measuring
まず、測定装置100に、被測定円板体140をセットするため、駆動ローラ111及び駆動モータ部114を適宜後退させた後に、搬送ロボット等によって被測定円板体140を、駆動ローラ111及び従動ローラ112,113の間に搬送する。そして、適宜位置あわせをした後に、駆動ローラ111及び駆動モータ部114を前進させ、駆動ローラ111及び従動ローラ112,113(の側面に形成された溝)によって被測定円板体140を支持(保持)する。
First, in order to set the disk to be measured 140 in the measuring
以上のようにして、被測定円板体140のセットが終了すると、制御部130は、駆動モータ部114に対して回転開始を指示するとともに、寸法測定器120に対して、被測定円板体140の内周縁と外周縁との間の半径方向の距離(以下、半径方向距離という)を測定するよう指示する。制御部130からの指示を受けると、駆動モータ部114は、駆動ローラ111を介して、被測定円板体140を回転させ、被測定円板体140を一周(すなわち、360°回転)させる。寸法測定器120は、被測定円板体140の回転とともに、被測定円板体140の周方向の複数箇所において、半径方向距離を順次測定して、測定結果を、制御部130に対して出力する。より具体的には、被測定円板体140が所定角度(例えば、1°)回転する毎に、半径方向距離が測定される。なお、被測定円板体140の回転については、寸法測定器120での測定時間その他の実装条件に応じて、連続的に回転させるようにしてもよいし、間欠的に回転(測定時には回転を停止)させるようにしてもよい。
As described above, when the set of the disk to be measured 140 is completed, the
制御部130は、被測定円板体140の全周にわたる測定が完了すると、測定結果を解析して、偏心量を求める。すなわち、全周分(所定角度毎)の測定結果を解析して、半径方向距離の最大値(Lmax)と最小値(Lmin)とを求め、これらの値から、偏心量d=(Lmax−Lmin)/2を算出する。図3に示すように、被測定円板体140及び被測定円板体140に設けられた円孔141がともに真円であると仮定すると、被測定円板体140の中心O1と円孔141の中心O2とを結ぶ直線上において、半径方向距離が、最大値(Lmax)及び最小値(Lmin)をとることになるので、上記式によって偏心量dが算出できることになる。なお、同図では、わかりやすくするため、円孔141の偏心量を極端に大きくしてある。
When the measurement over the entire circumference of the
以上のようにして、被測定円板体140の偏心量の測定が行われる。なお、制御部130は、必要に応じて、更に、算出された偏心量に基づいて、被測定円板体140が不良品であるか否かの判別を行う。
As described above, the amount of eccentricity of the
以上説明したように、上記実施形態によれば、半径方向距離に基づいて偏心量の算出を行っているので、従来の方法のような高精度な回転機構は必ずしも必要とされず、より安価に測定装置を構成することが可能となる。 As described above, according to the above-described embodiment, since the amount of eccentricity is calculated based on the radial distance, a highly accurate rotation mechanism as in the conventional method is not necessarily required, and the cost can be reduced. A measuring apparatus can be configured.
《第二実施形態》
次に、本発明の別の実施形態について説明する。
<< Second Embodiment >>
Next, another embodiment of the present invention will be described.
図4は、本発明による別の測定装置の概要を示す図である。なお、同図では、図1に示したものと同様の構成要素については、同一の参照符号を付してある。 FIG. 4 is a diagram showing an outline of another measuring apparatus according to the present invention. In the figure, the same components as those shown in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals.
図4に示すように、本発明による別の測定装置200は、支持回転機構210と、寸法測定器120と、制御部130とを備える。測定装置200は、中央に円孔141が設けられた円板体140の偏心量、外径寸法、内径寸法、真円度等を測定するものである。
As shown in FIG. 4, another measuring
支持回転機構210は、測定対象となる被測定円板体140を水平に支持して回転させるものであって、複数(同図の例では3つ)のローラ111,112,113と、載置板211と、駆動モータ部114とによって構成されている。
The
前述した測定装置100の支持回転機構110では、被測定円板体140を直接、複数のローラ111,112,113によって支持していたが、測定装置200の支持回転機構210では、載置板211(の外周部)を、複数のローラ111,112,113によって支持し、当該載置板211の上に、被測定円板体140を載置する。
In the
支持回転機構210を構成する各ローラ111,112,113及び駆動モータ部114は、前述した測定装置100のものと同様のものであるので、詳細な説明は省略する。なお、測定装置200においては、駆動モータ部114(及び駆動ローラ111)を、寸法測定器120に対して進退(前後動)可能に構成する必要はない。
The
載置板211は、被測定円板体140が載置される円板状の部材であって、ローラ111,112,113によって水平に支持されて、回転されるものである。また、載置板211の上面には、被測定円板体140を載置するための複数(同図の例では3個)のゴムパッド212が適宜接着されている。当該ゴムパッド212は、円板状の形状を有しており、載置板211の回転時に、載置板211上に載置された被測定円板体140が滑って動くのを、摩擦によって防止する部材である。
The mounting
載置板211は、寸法測定器120の投光部121によって照射される測定用の光を透過可能な材料(例えば、ガラス)で構成される。更に、載置板211には、測定用の光を透過しない材料で基準ライン213が形成される。基準ライン213は、例えば、クロムメッキによって載置板211の表面に形成される。基準ライン213は、載置板211上に真円を描くように形成され、更に、平面視において被測定円板体140が完全に基準ライン213内に収まるように、被測定円板体140の外径より、やや大きい直径を有するように形成される。基準ライン213は、被測定円板体140についての距離を測定する際に基準となるものである。
The mounting
寸法測定器120は、前述した測定装置100のものと同様のものであるが、その測定対象が異なる。すなわち、測定装置200においては、寸法測定器120は、図5に示すように、載置板211上の基準ライン213(の内周縁又は外周縁)と被測定円板体140の外周縁501との間の(載置板211の)半径方向の距離L1、及び、基準ライン213(の内周縁又は外周縁)と被測定円板体140の内周縁502との間の(載置板211の)半径方向の距離L2を、被測定円板体140上の所定箇所において測定する。この場合、投光部121から発せられる直線状の光は、被測定円板体140の表面に対して垂直に、被測定円板体140の内周縁502及び外周縁501並びに載置板211上の基準ライン213を、載置板211の半径方向に横切るように照射される。
The
制御部130も、前述した測定装置100のものと同様のものであるが、寸法測定器120によって測定された測定値に基づいて、被測定円板体140の偏心量のみならず、外径寸法や内径寸法、真円度等を算出する。本実施形態では、寸法測定器120が、予め真円であることやその直径がわかっている基準ライン213との間の距離を測定しているので、当該測定結果を解析することで、被測定円板体140の偏心量のみならず、外径寸法や内径寸法、真円度等についても算出することが可能となる。
The
次に、以上のような構成を有する測定装置200の動作について説明する。
Next, the operation of the measuring
まず、搬送ロボット等によって被測定円板体140を、支持回転機構210の載置板211上に載置する。より具体的には、被測定円板体140を、平面視において、載置板211上に形成された基準ライン213内に収まるように、載置板211の表面に固定されたゴムパッド212上に載置する。
First, the
被測定円板体140のセットが終了すると、制御部130は、駆動モータ部114に対して回転を指示するとともに、寸法測定器120に対して、載置板211上の基準ライン213と被測定円板体140の外周縁との間の半径方向の距離(以下、第一半径方向距離という)L1、及び、基準ライン213と被測定円板体140の内周縁との間の半径方向の距離(以下、第二半径方向距離という)L2を測定するよう指示する。制御部130からの指示を受けると、駆動モータ部114は、駆動ローラ111を介して、載置板211を回転させ、載置板211上に載置された被測定円板体140を回転させる。寸法測定器120は、被測定円板体140の回転とともに、被測定円板体140の周方向の複数箇所において、第一半径方向距離L1及び第二半径方向距離L2を順次測定して、測定結果を、制御部130に対して出力する。より具体的には、被測定円板体140が所定角度(例えば、1°)回転する毎に、前記第一半径方向距離L1及び第二半径方向距離L2が測定される。
When the set of the disk member to be measured 140 is completed, the
制御部130は、被測定円板体140の全周にわたる測定が完了すると、測定結果を解析して、偏心量、外径寸法、内径寸法、真円度等を求める。測定装置200においては、真円であることやその直径がわかっている基準ライン213からの距離を測定しているので、被測定円板体140の偏心量のみならず、外径寸法、内径寸法、真円度等についても測定することが可能となる。
When the measurement over the entire circumference of the
以上のようにして、被測定円板体140の偏心量等の測定が行われる。更に、制御部130は、必要に応じて、算出された偏心量等に基づいて、被測定円板体140が不良品であるか否かの判別を行う。
As described above, the amount of eccentricity of the disk to be measured 140 is measured. Furthermore, the
なお、測定装置200は、シリコンウェハ等の孔のあいていない円板体の外径寸法(すなわち、直径)や真円度の測定に利用することもできる。この場合、寸法測定器120は、載置板211上の基準ライン213(の内周縁又は外周縁)と、孔のあいていない被測定円板体の外周縁との間の(載置板211の)半径方向の距離を、当該被測定円板体の所定箇所において測定し、制御部130は、寸法測定器120によって測定された測定値に基づいて、当該被測定円板体の外径寸法(直径)や真円度を算出することになる。
The measuring
以上説明したように、上記実施形態によれば、被測定円板体140とともに回転する載置板211上に形成された基準ライン213からの半径方向の距離に基づいて偏心量等の算出を行っているので、従来の方法のような高精度な回転機構は必ずしも必要とされず、より安価に測定装置を構成することが可能となる。また、基準ライン213は、予め真円であることやその直径がわかっているので、被測定円板体140の偏心量のみならず、外径寸法、内径寸法、真円度等についても測定することが可能となる。
As described above, according to the above embodiment, the amount of eccentricity is calculated based on the distance in the radial direction from the
以上、本発明の実施形態について説明したが、当然のことながら、本発明の実施形態は上記のものに限られない。例えば、上述した実施形態においては、被測定円板体140の内周縁のやや内側から、被測定円板体140の外周縁(第二実施形態の場合は、載置板211の基準ライン213)のやや外側までのすべての領域を測定用の光で照射(走査)するようにしていたが、被測定円板体140の内周縁付近(内周縁のやや内側からやや外側まで)と、被測定円板体140の外周縁付近(外周縁のやや内側からやや外側まで(第二実施形態の場合は、基準ライン213のやや外側まで))とをそれぞれ、個別の測定用の光で照射(走査)するようにしてもよい。すなわち、被測定円板体140の内周縁の位置(変位)を検出するための投光部及び受光部と、被測定円板体140の外周縁の位置(変位)を検出するための投光部及び受光部とを別々に設けるようにしてもよい。
As mentioned above, although embodiment of this invention was described, naturally, embodiment of this invention is not restricted to said thing. For example, in the above-described embodiment, the outer peripheral edge of the measured
また、上述した第二実施形態においては、載置板211に形成された基準ライン213を基準に半径方向の距離を測定していたが、特に基準ライン213を形成することなく、載置板211の外周縁に、当該基準ライン213の役割を果たさせることも考えられる。すなわち、載置板211の外周縁では、光が直進できないため、載置板211の外周を真円になるように形成すれば、載置板211の外周縁を、基準ラインとして利用することが可能となる。この場合、寸法測定器120は、例えば、載置板211の外周縁から被測定円板体140の外周縁までの(載置板211の)半径方向の距離や、載置板211の外周縁から被測定円板体140の内周縁までの(載置板211の)半径方向の距離を測定することになる。
In the second embodiment described above, the radial distance is measured with reference to the
また、上述した実施形態においては、半径方向の距離を光学的に測定していたが、機械的に測定することも考えられる。例えば、第一実施形態の場合は、被測定円板体140の内周面の変位を測定する接触式変位計と、被測定円板体140の外周面の変位を測定する接触式変位計とをそれぞれ用意し、両変位計の測定子を、被測定円板体140の半径方向に並ぶ位置において被測定円板体140の内周面及び外周面にそれぞれ接触するように配置し、これら2つの変位計によって、前記半径方向距離を測定するようにすることが考えられる。また、第二実施形態の場合は、まず、前述したように、載置板211の外周を基準ラインとして利用できるように形成し、そして、前記2つの変位計に加えて、載置板211の外周面の変位を測定する接触式変位計を用意し、これら3つの変位計の測定子を、平面視において、載置板211の半径方向に並ぶ位置で、被測定円板体140の内周面及び外周面並びに載置板211の外周面にそれぞれ接触するように配置し、これら3つの変位計によって、前記第一半径方向距離及び第二半径方向距離を測定するようにすることが考えられる。
In the above-described embodiment, the distance in the radial direction is optically measured. However, it is also possible to measure mechanically. For example, in the case of the first embodiment, a contact-type displacement meter that measures the displacement of the inner peripheral surface of the measured
100 測定装置
101 ベース部
110 支持回転機構
111 駆動ローラ
112,113 従動ローラ(ガイドローラ)
114 駆動モータ部
115 溝
116 回転軸
117,118 ロッド
120 寸法測定器
121 投光部
122 受光部
130 制御部
140 被測定円板体
141 円孔
200 測定装置
210 支持回転機構
211 載置板
212 ゴムパッド
213 基準ライン
DESCRIPTION OF
114
Claims (16)
前記円板体の外周部を支持して、前記円板体を回転させる支持回転機構と、
前記円板体の内周縁と外周縁との間の半径方向の距離を測定する寸法測定部と、
前記支持回転機構による前記円板体の回転に伴い、前記寸法測定部で測定される複数箇所の前記距離に基づいて、前記偏心量を算出する制御部と
を備えたことを特徴とする測定装置。 A measuring device for measuring the amount of eccentricity of a circular hole provided in the center of a disk body,
A support rotation mechanism for supporting the outer periphery of the disk body and rotating the disk body;
A dimension measuring unit for measuring a radial distance between an inner peripheral edge and an outer peripheral edge of the disc body;
A measuring apparatus comprising: a control unit that calculates the amount of eccentricity based on the distances of a plurality of locations measured by the dimension measuring unit as the disk body is rotated by the support rotating mechanism. .
ことを特徴とする請求項1に記載の測定装置。 The measurement apparatus according to claim 1, wherein the control unit calculates the amount of eccentricity based on a maximum value and a minimum value of the distance.
前記円板体を載置するための載置板と、
前記載置板の外周部を支持して、前記載置板を回転させる支持回転機構と、
前記載置板上に載置された前記円板体についての距離を測定する寸法測定部と、
前記支持回転機構による前記載置板を介した前記円板体の回転に伴い、前記寸法測定部で測定される複数箇所の前記距離に基づいて、前記円板体の偏心量、内径寸法、外径寸法及び真円度のうちの少なくともひとつを算出する制御部と
を備え、
前記載置板には、真円をなす基準ラインが形成されており、
前記寸法測定部は、前記基準ラインと前記円板体の外周縁との間の半径方向の距離、及び、前記基準ラインと前記円板体の内周縁との間の半径方向の距離を測定する
ことを特徴とする測定装置。 A measuring device for measuring a disc body provided with a circular hole in the center,
A mounting plate for mounting the disc body;
A support rotation mechanism for supporting the outer periphery of the mounting plate and rotating the mounting plate;
A dimension measuring unit for measuring a distance about the disc body placed on the placing plate;
Along with the rotation of the disk body through the mounting plate by the support rotation mechanism, the eccentric amount, the inner diameter dimension, the outer diameter of the disk body based on the distances of the plurality of locations measured by the dimension measurement unit A control unit that calculates at least one of the diameter and roundness,
A reference line forming a perfect circle is formed on the mounting plate described above,
The dimension measuring unit measures a radial distance between the reference line and the outer peripheral edge of the disc body, and a radial distance between the reference line and the inner peripheral edge of the disc body. A measuring device.
前記円板体を載置するための載置板と、
前記載置板の外周部を支持して、前記載置板を回転させる支持回転機構と、
前記載置板上に載置された前記円板体についての距離を測定する寸法測定部と、
前記支持回転機構による前記載置板を介した前記円板体の回転に伴い、前記寸法測定部で測定される複数箇所の前記距離に基づいて、前記円板体の偏心量、内径寸法、外径寸法及び真円度のうちの少なくともひとつを算出する制御部と
を備え、
前記載置板の外周縁は、真円をなすように形成されており、
前記寸法測定部は、前記載置板の外周縁と前記円板体の外周縁との間の半径方向の距離、及び、前記載置板の外周縁と前記円板体の内周縁との間の半径方向の距離を測定する
ことを特徴とする測定装置。 A measuring device for measuring a disc body provided with a circular hole in the center,
A mounting plate for mounting the disc body;
A support rotation mechanism for supporting the outer periphery of the mounting plate and rotating the mounting plate;
A dimension measuring unit for measuring a distance about the disc body placed on the placing plate;
Along with the rotation of the disk body through the mounting plate by the support rotation mechanism, the eccentric amount, the inner diameter dimension, the outer diameter of the disk body based on the distances of the plurality of locations measured by the dimension measurement unit A control unit that calculates at least one of the diameter and roundness,
The outer peripheral edge of the mounting plate is formed to form a perfect circle,
The dimension measurement unit includes a radial distance between the outer peripheral edge of the mounting plate and the outer peripheral edge of the disk body, and a distance between the outer peripheral edge of the mounting plate and the inner peripheral edge of the disk body. Measuring device characterized by measuring distance in radial direction of.
前記円板体を載置するための載置板と、
前記載置板の外周部を支持して、前記載置板を回転させる支持回転機構と、
前記載置板上に載置された前記円板体についての距離を測定する寸法測定部と、
前記支持回転機構による前記載置板を介した前記円板体の回転に伴い、前記寸法測定部で測定される複数箇所の前記距離に基づいて、前記円板体の外径寸法及び真円度の少なくとも一方を算出する制御部と
を備え、
前記載置板には、真円をなす基準ラインが形成されており、
前記寸法測定部は、前記基準ラインと前記円板体の外周縁との間の半径方向の距離を測定する
ことを特徴とする測定装置。 A measuring device for measuring a disk body,
A mounting plate for mounting the disc body;
A support rotation mechanism for supporting the outer periphery of the mounting plate and rotating the mounting plate;
A dimension measuring unit for measuring a distance about the disc body placed on the placing plate;
With the rotation of the disk body through the mounting plate by the support rotation mechanism, the outer diameter dimension and roundness of the disk body based on the distances measured at the dimension measuring unit. A control unit that calculates at least one of
A reference line forming a perfect circle is formed on the mounting plate described above,
The dimension measuring unit measures a radial distance between the reference line and an outer peripheral edge of the disc body.
前記円板体を載置するための載置板と、
前記載置板の外周部を支持して、前記載置板を回転させる支持回転機構と、
前記載置板上に載置された前記円板体についての距離を測定する寸法測定部と、
前記支持回転機構による前記載置板を介した前記円板体の回転に伴い、前記寸法測定部で測定される複数箇所の前記距離に基づいて、前記円板体の外径寸法及び真円度の少なくとも一方を算出する制御部と
を備え、
前記載置板の外周縁は、真円をなすように形成されており、
前記寸法測定部は、前記載置板の外周縁と前記円板体の外周縁との間の半径方向の距離を測定する
ことを特徴とする測定装置。 A measuring device for measuring a disk body,
A mounting plate for mounting the disc body;
A support rotation mechanism for supporting the outer periphery of the mounting plate and rotating the mounting plate;
A dimension measuring unit for measuring a distance about the disc body placed on the placing plate;
With the rotation of the disk body through the mounting plate by the support rotation mechanism, the outer diameter dimension and roundness of the disk body based on the distances measured at the dimension measuring unit. A control unit that calculates at least one of
The outer peripheral edge of the mounting plate is formed to form a perfect circle,
The said dimension measurement part measures the distance of the radial direction between the outer periphery of the said mounting plate, and the outer periphery of the said disc body, The measuring apparatus characterized by the above-mentioned.
ことを特徴とする請求項3〜6のいずれか一項に記載の測定装置。 The measuring apparatus according to any one of claims 3 to 6, wherein the placing plate includes means for regulating movement of the disc body.
前記投光部によって発せられた光は、前記円板体の内周縁及び外周縁を半径方向に横切る
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の測定装置。 The dimension measuring unit includes a light projecting unit and a light receiving unit arranged so as to sandwich the disk body therebetween,
The measuring apparatus according to claim 1, wherein the light emitted by the light projecting unit traverses the inner and outer peripheral edges of the disc body in a radial direction.
前記投光部によって発せられた光は、前記円板体の内周縁及び外周縁並びに前記基準ラインを半径方向に横切る
ことを特徴とする請求項3に記載の測定装置。 The dimension measuring unit includes a light projecting unit and a light receiving unit disposed so as to sandwich the disk body and the mounting plate.
The measuring apparatus according to claim 3, wherein the light emitted by the light projecting unit traverses the inner and outer peripheral edges of the disc body and the reference line in the radial direction.
前記投光部によって発せられた光は、前記円板体の内周縁及び外周縁並びに前記載置板の外周縁を半径方向に横切る
ことを特徴とする請求項4に記載の測定装置。 The dimension measuring unit includes a light projecting unit and a light receiving unit disposed so as to sandwich the disk body and the mounting plate.
The measuring device according to claim 4, wherein the light emitted by the light projecting unit traverses the inner and outer peripheral edges of the disc body and the outer peripheral edge of the mounting plate in the radial direction.
前記投光部によって発せられた光は、前記円板体の外周縁及び前記基準ラインを半径方向に横切る
ことを特徴とする請求項5に記載の測定装置。 The dimension measuring unit includes a light projecting unit and a light receiving unit disposed so as to sandwich the disk body and the mounting plate.
The measuring apparatus according to claim 5, wherein the light emitted by the light projecting unit crosses the outer peripheral edge of the disc body and the reference line in the radial direction.
前記投光部によって発せられた光は、前記円板体の外周縁及び前記載置板の外周縁を半径方向に横切る
ことを特徴とする請求項6に記載の測定装置。 The dimension measuring unit includes a light projecting unit and a light receiving unit disposed so as to sandwich the disk body and the mounting plate.
The measuring apparatus according to claim 6, wherein the light emitted by the light projecting unit crosses the outer peripheral edge of the disc body and the outer peripheral edge of the mounting plate in the radial direction.
前記接触式変位計の各測定子は、前記円板体の半径方向に並ぶ位置で前記円板体の内周面及び外周面と接触するように配置される
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の測定装置。 The dimension measuring unit includes a contact displacement meter that measures the displacement of the inner peripheral surface of the disc body, and a contact displacement meter that measures the displacement of the outer peripheral surface of the disc body,
The contact elements of the contact displacement meter are arranged so as to be in contact with the inner peripheral surface and the outer peripheral surface of the disk body at positions aligned in the radial direction of the disk body. 2. The measuring apparatus according to 2.
前記接触式変位計の各測定子は、前記載置板の半径方向に並ぶ位置で前記円板体の内周面及び外周面並びに前記載置板の外周面と接触するように配置される
ことを特徴とする請求項4に記載の測定装置。 The dimension measuring unit includes a contact displacement meter that measures the displacement of the inner peripheral surface of the disc body, a contact displacement meter that measures the displacement of the outer peripheral surface of the disc body, and the outer peripheral surface of the mounting plate. A contact displacement meter that measures the displacement of
Each contact point of the contact displacement meter is arranged so as to contact the inner and outer peripheral surfaces of the disc body and the outer peripheral surface of the mounting plate at positions aligned in the radial direction of the mounting plate. The measuring apparatus according to claim 4.
前記接触式変位計の各測定子は、前記載置板の半径方向に並ぶ位置で前記円板体の外周面及び前記載置板の外周面と接触するように配置される
ことを特徴とする請求項6に記載の測定装置。 The dimension measuring unit includes a contact displacement meter that measures the displacement of the outer peripheral surface of the disc body, and a contact displacement meter that measures the displacement of the outer peripheral surface of the mounting plate.
Each contact point of the contact displacement meter is disposed so as to be in contact with the outer peripheral surface of the disk body and the outer peripheral surface of the mounting plate at a position aligned in the radial direction of the mounting plate. The measuring apparatus according to claim 6.
ことを特徴とする請求項1〜15のいずれか一項に記載の測定装置。 The measuring apparatus according to claim 1, wherein the support rotation mechanism includes a plurality of rollers having grooves formed on a side surface.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2006309718A JP2008122349A (en) | 2006-11-15 | 2006-11-15 | Measuring instrument |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2006309718A JP2008122349A (en) | 2006-11-15 | 2006-11-15 | Measuring instrument |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2008122349A true JP2008122349A (en) | 2008-05-29 |
Family
ID=39507243
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2006309718A Pending JP2008122349A (en) | 2006-11-15 | 2006-11-15 | Measuring instrument |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2008122349A (en) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008171532A (en) * | 2007-01-15 | 2008-07-24 | Hoya Corp | Disk-shaped substrate inner diameter measuring device, inner diameter measuring method, disk-shaped substrate manufacturing method, and magnetic disk manufacturing method |
| JP2011252772A (en) * | 2010-06-01 | 2011-12-15 | Asahi Glass Co Ltd | Device and method for shape measurement of glass substrate and manufacturing method of glass substrate |
| JP2012154740A (en) * | 2011-01-25 | 2012-08-16 | Asahi Glass Co Ltd | Center deviation measuring device and method therefor |
| JP2013087929A (en) * | 2011-10-21 | 2013-05-13 | Jfe Steel Corp | Method and apparatus for monitoring piston of dry gas-holder |
| KR101622982B1 (en) | 2014-12-19 | 2016-05-20 | 한국항공우주연구원 | Hole eccentric measurememt device and measurememt methods for coupons test |
| CN116878363A (en) * | 2023-09-08 | 2023-10-13 | 弘润半导体(苏州)有限公司 | Surface roundness detection device for columnar monocrystalline silicon raw material |
| CN119687834A (en) * | 2024-12-10 | 2025-03-25 | 西安奕斯伟材料科技股份有限公司 | Rounding processing eccentricity detection device and method, rounding processing equipment |
-
2006
- 2006-11-15 JP JP2006309718A patent/JP2008122349A/en active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008171532A (en) * | 2007-01-15 | 2008-07-24 | Hoya Corp | Disk-shaped substrate inner diameter measuring device, inner diameter measuring method, disk-shaped substrate manufacturing method, and magnetic disk manufacturing method |
| JP2011252772A (en) * | 2010-06-01 | 2011-12-15 | Asahi Glass Co Ltd | Device and method for shape measurement of glass substrate and manufacturing method of glass substrate |
| JP2012154740A (en) * | 2011-01-25 | 2012-08-16 | Asahi Glass Co Ltd | Center deviation measuring device and method therefor |
| JP2013087929A (en) * | 2011-10-21 | 2013-05-13 | Jfe Steel Corp | Method and apparatus for monitoring piston of dry gas-holder |
| KR101622982B1 (en) | 2014-12-19 | 2016-05-20 | 한국항공우주연구원 | Hole eccentric measurememt device and measurememt methods for coupons test |
| CN116878363A (en) * | 2023-09-08 | 2023-10-13 | 弘润半导体(苏州)有限公司 | Surface roundness detection device for columnar monocrystalline silicon raw material |
| CN116878363B (en) * | 2023-09-08 | 2023-12-29 | 弘润半导体(苏州)有限公司 | Surface roundness detection device for columnar monocrystalline silicon raw material |
| CN119687834A (en) * | 2024-12-10 | 2025-03-25 | 西安奕斯伟材料科技股份有限公司 | Rounding processing eccentricity detection device and method, rounding processing equipment |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN108731595B (en) | Optical axis multi-degree-of-freedom error detection device and method | |
| KR101136315B1 (en) | Light beam scanning apparatus, laser machining apparatus, test method and laser machining method | |
| US8803516B2 (en) | Eddy current testing method and apparatus for inspecting an object for flaws | |
| CN108010875B (en) | Substrate calibration device and detection system | |
| JP2000258153A (en) | Flatness measurement equipment | |
| WO2004066378A1 (en) | Probe device with optical length-measuring device and method of inspecting probe | |
| JP3786697B2 (en) | Optoelectronic measuring device for inspecting linear dimensions | |
| WO2012073401A1 (en) | Roll displacement measurement method and roll displacement measurement device using same, and film thickness measurement method and film thickness measurement device using same | |
| CN108010855B (en) | Apparatus, apparatus and method for detecting marks on substrates | |
| JP2008122349A (en) | Measuring instrument | |
| JP2015087295A (en) | Shape inspection device and shape inspection method | |
| US10161743B2 (en) | Measuring probe and measuring probe system | |
| JP2012117811A (en) | Wafer flatness measuring method | |
| JP5305795B2 (en) | Surface inspection device | |
| JP2006010466A (en) | Method and apparatus for measuring flatness of plate material | |
| JP2000230816A (en) | Angle measuring instrument | |
| JP2001124542A (en) | Method and apparatus for measuring flatness of thin sheet material | |
| JP2011169796A (en) | Curvature measuring device | |
| TWM545243U (en) | Optical rotation axis multi-freedom degree error inspection device | |
| JP4210789B2 (en) | Bobbin inspection apparatus and inspection method using the same | |
| JP2010085341A (en) | Spherical shape measuring device and spherical shape measuring method | |
| JPH0352888B2 (en) | ||
| CN117570854B (en) | Gear machining precision detection device | |
| US8098382B2 (en) | Beam scanner and surface measurement apparatus | |
| JP4877938B2 (en) | Diameter measuring device |