JP2008120615A - 炭化珪素単結晶の製造方法 - Google Patents
炭化珪素単結晶の製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008120615A JP2008120615A JP2006304056A JP2006304056A JP2008120615A JP 2008120615 A JP2008120615 A JP 2008120615A JP 2006304056 A JP2006304056 A JP 2006304056A JP 2006304056 A JP2006304056 A JP 2006304056A JP 2008120615 A JP2008120615 A JP 2008120615A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- silicon carbide
- single crystal
- carbide single
- crucible
- argon gas
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 40
- 239000013078 crystal Substances 0.000 title claims abstract description 39
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 39
- 238000000034 method Methods 0.000 title abstract description 4
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims abstract description 12
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 11
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 14
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 claims description 7
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 30
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 20
- 239000007789 gas Substances 0.000 abstract description 18
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 abstract description 15
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 abstract description 10
- 238000000746 purification Methods 0.000 description 6
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 5
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 1
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 239000012808 vapor phase Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B29/00—Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
- C30B29/10—Inorganic compounds or compositions
- C30B29/36—Carbides
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B23/00—Single-crystal growth by condensing evaporated or sublimed materials
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
【課題】内部に含まれる窒素濃度が低く抵抗率が高い炭化珪素単結晶を製造する。
【解決手段】Arガス純化装置9により純化されたアルゴンガスを加熱炉7内に供給し、アルゴンガス雰囲気下で坩堝3を加熱することにより、炭化珪素原料2を昇華させて種結晶4の表面上に炭化珪素単結晶を結晶成長させる。
【選択図】図1
【解決手段】Arガス純化装置9により純化されたアルゴンガスを加熱炉7内に供給し、アルゴンガス雰囲気下で坩堝3を加熱することにより、炭化珪素原料2を昇華させて種結晶4の表面上に炭化珪素単結晶を結晶成長させる。
【選択図】図1
Description
本発明は、高周波半導体デバイスの基板として利用して好適な炭化珪素(SiC)単結晶の製造方法に関する。
一般に、高周波半導体デバイスの基板には105〜1012[Ω・cm]程度の抵抗率の半絶縁(高抵抗)特性が要求される。このような背景から近年、高周波半導体デバイスの基板としての利用が期待される炭化珪素単結晶については、結晶内に含まれる窒素等の不純物の濃度を低減させる工夫がなされている(特許文献1参照)。
特開2002−274994号公報
しかしながら、窒素は大気中に多く含まれるために、炭化珪素単結晶の内部に大気由来の窒素が取り込まれないようにして窒素の濃度を低減させることは困難であった。
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、その目的は、内部に含まれる不純物の濃度を低減させることにより高抵抗化を実現可能な炭化珪素単結晶の製造方法を提供することにある。
本発明に係る炭化珪素単結晶の製造方法は、純化装置により純化された不活性ガスを加熱炉内に供給し、不活性ガス雰囲気下で坩堝を加熱することにより、炭化珪素原料を昇華させて種結晶の表面上に炭化珪素単結晶を成長させることを特徴とする。
本発明に係る炭化珪素単結晶の製造方法によれば、純化装置により不活性ガス中に存在する窒素等の不純物を除去し、高純度化された不活性ガス雰囲気下で炭化珪素単結晶を気相成長させるので、内部に含まれる不純物の濃度が低く抵抗率が高い炭化珪素単結晶を製造することができる。
以下、本発明の実施形態となる炭化珪素単結晶の製造装置及びその製造方法について説明する。
本発明の実施形態となる炭化珪素単結晶の製造装置1は、図1に示すように、内部に炭化珪素原料2が収容される黒鉛製の坩堝3と、裏面に種結晶4が取り付けられ、坩堝3の開口部を覆う蓋体5と、蓋体5を含む坩堝3全体を覆う多孔性の断熱材6と、坩堝3を含む断熱材6全体を収容する加熱炉7と、アルゴンガスボンベ8内部のアルゴンガス(不活性ガス)を純化した後に加熱炉7内に供給するアルゴン(Ar)ガス純化装置9とを備える。
この製造装置1を用いて炭化珪素単結晶を製造する際は、始めに、坩堝3の内部に炭化珪素原料2を供給した後、種結晶4と炭化珪素原料2とが対向するように蓋体5により坩堝3の開口部を覆う。そして、Arガス純化装置9により純化されたアルゴンガスボンベ8内部のアルゴンガスを加熱炉7内に供給し、アルゴンガス雰囲気下で炭化珪素原料が昇華する温度(2500℃程度)に坩堝3を加熱することにより、炭化珪素原料粉2を昇華させて種結晶4の表面上に炭化珪素単結晶を結晶成長させる。
このように、本発明の実施形態となる炭化珪素単結晶の製造方法では、Arガス純化装置9により純化されたアルゴンガスを加熱炉7内に供給し、アルゴンガス雰囲気下で坩堝3を加熱することにより、炭化珪素原料2を昇華させて種結晶4の表面上に炭化珪素単結晶を結晶成長させる。
このような製造方法によれば、Arガス純化装置9によりアルゴンガス中に存在する窒素等の不純物を除去し、高純度化されたアルゴンガス雰囲気下で炭化珪素単結晶を気相成長させるので、図2及び図3に示すように、従来技術により製造された炭化珪素単結晶と比較して、内部に含まれる窒素濃度が低く抵抗率が高い炭化珪素単結晶を製造することができる。
なお、図2に示す窒素濃度はSIMS分析により測定された結果を示す。また、図3に示す抵抗値は非接触式渦電流検出型測定器(抵抗値<1×103[Ω・cm])と非接触式CVカーブ測定式測定器(抵抗値>1×105[Ω・cm])により測定された結果を示す。
以上、本発明者らによってなされた発明を適用した実施の形態について説明したが、この実施の形態による本発明の開示の一部をなす論述及び図面により本発明は限定されることはない。すなわち、上記実施の形態に基づいて当業者等によりなされる他の実施の形態、実施例及び運用技術等は全て本発明の範疇に含まれることは勿論であることを付け加えておく。
1:炭化珪素単結晶製造装置
2:炭化珪素原料
3:坩堝
4:種結晶
5:蓋体
6:断熱材
7:加熱炉
8:アルゴンガスボンベ
9:アルゴンガス純化装置
2:炭化珪素原料
3:坩堝
4:種結晶
5:蓋体
6:断熱材
7:加熱炉
8:アルゴンガスボンベ
9:アルゴンガス純化装置
Claims (1)
- 開口部を有する坩堝の内部に炭化珪素原料を供給する工程と、
種結晶と炭化珪素原料とが対向するように裏面に種結晶が取り付けられた蓋体により坩堝の開口部を覆う工程と、
坩堝を加熱炉内に配置する工程と、
純化装置により純化された不活性ガスを加熱炉内に供給する工程と、
不活性ガス雰囲気下で坩堝を加熱することにより、炭化珪素原料を昇華させて種結晶の表面上に炭化珪素単結晶を結晶成長させる工程と
を有することを特徴とする炭化珪素単結晶の製造方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2006304056A JP2008120615A (ja) | 2006-11-09 | 2006-11-09 | 炭化珪素単結晶の製造方法 |
| PCT/JP2007/071767 WO2008056758A1 (fr) | 2006-11-09 | 2007-11-09 | Procédé destiné à la production d'un monocristal de carbure de silicium |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2006304056A JP2008120615A (ja) | 2006-11-09 | 2006-11-09 | 炭化珪素単結晶の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2008120615A true JP2008120615A (ja) | 2008-05-29 |
Family
ID=39364568
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2006304056A Pending JP2008120615A (ja) | 2006-11-09 | 2006-11-09 | 炭化珪素単結晶の製造方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2008120615A (ja) |
| WO (1) | WO2008056758A1 (ja) |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4230035B2 (ja) * | 1998-12-25 | 2009-02-25 | 昭和電工株式会社 | 炭化珪素単結晶およびその製造方法 |
| AU2225601A (en) * | 1999-12-27 | 2001-07-09 | Showa Denko Kabushiki Kaisha | Method and apparatus for producing single crystal of silicon carbide |
| JP2002274994A (ja) * | 2001-03-23 | 2002-09-25 | Nippon Steel Corp | 炭化珪素単結晶の製造方法及びその装置並びに炭化珪素単結晶インゴット |
| JP4505202B2 (ja) * | 2002-09-19 | 2010-07-21 | 昭和電工株式会社 | 炭化珪素単結晶の製造方法および製造装置 |
| JP4733485B2 (ja) * | 2004-09-24 | 2011-07-27 | 昭和電工株式会社 | 炭化珪素単結晶成長用種結晶の製造方法、炭化珪素単結晶成長用種結晶、炭化珪素単結晶の製造方法、および炭化珪素単結晶 |
-
2006
- 2006-11-09 JP JP2006304056A patent/JP2008120615A/ja active Pending
-
2007
- 2007-11-09 WO PCT/JP2007/071767 patent/WO2008056758A1/ja not_active Ceased
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO2008056758A1 (fr) | 2008-05-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP5657109B2 (ja) | 半絶縁炭化珪素単結晶及びその成長方法 | |
| US8361227B2 (en) | Silicon carbide single crystals with low boron content | |
| JP5921498B2 (ja) | シリコン単結晶の製造方法 | |
| JP5102697B2 (ja) | 炭化珪素単結晶の製造方法 | |
| CN105734671B (zh) | 一种高质量碳化硅晶体生长的方法 | |
| CN107208311A (zh) | 碳化硅单晶块的制造方法和碳化硅单晶块 | |
| JP2016056088A (ja) | バナジウムでドープしたSiC塊状単結晶の製造方法及びバナジウムでドープしたSiC基板 | |
| CN108018605A (zh) | 籽晶处理方法及碳化硅晶体生长方法 | |
| JP4387159B2 (ja) | 黒鉛材料、炭素繊維強化炭素複合材料、及び、膨張黒鉛シート | |
| CN103643295A (zh) | 一种气相法生长氮化铝晶体用原料的制备方法 | |
| CN104704150A (zh) | 碳化硅单晶基板及其制法 | |
| TW201829860A (zh) | 坩堝、坩堝的製備方法及碳化矽晶體(4H-SiC)的生長方法 | |
| JP7235318B2 (ja) | 少量のバナジウムをドーピングした半絶縁炭化ケイ素単結晶、基板、製造方法 | |
| JP2009184897A (ja) | 炭化ケイ素単結晶の製造方法 | |
| JP2002249376A (ja) | 低窒素濃度炭素系材料及びその製造方法 | |
| JP5117902B2 (ja) | 炭化珪素単結晶の製造方法 | |
| EP4276227A3 (en) | Method for producing sic single crystal and method for suppressing dislocations in sic single crystal | |
| WO2008056761A1 (fr) | Procédé de fabrication d'un monocristal de carbure de silicium | |
| JP2007314358A (ja) | 炭化ケイ素単結晶の製造装置及びその製造方法 | |
| KR101154416B1 (ko) | 단결정 성장 방법 | |
| JP3657036B2 (ja) | 炭化ケイ素薄膜および炭化ケイ素薄膜積層基板の製造方法 | |
| JP2008120615A (ja) | 炭化珪素単結晶の製造方法 | |
| JP2008120616A (ja) | 炭化珪素単結晶の製造方法 | |
| JP2008120618A (ja) | 炭化珪素単結晶の製造方法 | |
| JP2006096578A (ja) | 炭化珪素単結晶の製造方法及び炭化珪素単結晶インゴット |