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JP2008198709A - 洗浄装置及び保持テーブル - Google Patents

洗浄装置及び保持テーブル Download PDF

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JP2008198709A
JP2008198709A JP2007030364A JP2007030364A JP2008198709A JP 2008198709 A JP2008198709 A JP 2008198709A JP 2007030364 A JP2007030364 A JP 2007030364A JP 2007030364 A JP2007030364 A JP 2007030364A JP 2008198709 A JP2008198709 A JP 2008198709A
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suction
holding table
zirconia
frame
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Masami Sato
正視 佐藤
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Disco Corp
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Disco Abrasive Systems Ltd
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Abstract

【課題】各種加工装置において、被加工物に静電気を帯電させないようにすることにより被加工物の損傷を防止する。
【解決手段】ウェーハWを吸引する吸引部43bと吸引部43bを囲繞する枠体43aとから構成される保持テーブル43において、吸引部43bをジルコニアを主成分とするポーラスセラミックスで形成し、枠体43aを導電性部材で形成することにより、保持テーブル43の導電性を高めて静電気がウェーハWに帯電するのを抑制する。
【選択図】図2

Description

本発明は、ウェーハを保持する保持テーブル及びその保持テーブルを備えた洗浄装置に関するものである。
IC、LSI等のデバイスが分割予定ラインによって複数形成されたウェーハは、ダイシング装置等の分割装置によって個々のデバイスに分割される。
そしてその後、ウェーハは回転可能な保持テーブルを備えた洗浄装置に搬送され、ウェーハを保持した保持テーブルが1000〜3000RPMほどの回転速度で回転すると共に、回転するウェーハに対して純水等の洗浄水が噴射されて切削屑が除去される。また、洗浄後は回転するウェーハに対して高圧エアーが噴射されて洗浄水が除去される(例えば特許文献1参照)。
特開2004−327613号公報
しかし、保持テーブルは、アルミナセラミックス等の導電性が高くない材料によって形成されているため、ウェーハに対して高圧の洗浄水や高圧エアーを噴射すると、静電気が発生してウェーハに帯電し、絶縁破壊によってウェーハを構成するデバイスが損傷するおそれがあるという問題がある。
また、洗浄装置のみならず、加工時に加工水やエアーが用いられる装置においては同様の問題が生じうる。
そこで、本発明が解決しようとする課題は、各種加工装置において、ウェーハに静電気を帯電させないようにすることによりウェーハの損傷を防止することにある。
第一の発明は、ウェーハを保持して回転可能なスピンナーテーブルと、スピンナーテーブルに保持されたウェーハに洗浄水を供給する洗浄水供給手段とを少なくとも備えた洗浄装置に関するもので、スピンナーテーブルは、ウェーハを吸引する吸引部と吸引部を囲繞する枠体とから構成される保持テーブルと、保持テーブルを回転駆動する駆動源と、吸引部に吸引力を作用させる吸引源とから構成され、吸引部がジルコニアを主成分とするポーラスセラミックスで形成され、枠体が導電性部材で形成されることを特徴とする。枠体は、ステンレスまたはジルコニアで形成される。
第二の発明は、各種装置においてウェーハを保持する保持テーブルに関するもので、ウェーハを吸引する吸引部と吸引部を囲繞する枠体とから構成され、吸引部がジルコニアを主成分とするポーラスセラミックスで形成され、枠体が導電性部材で形成されることを特徴とする。枠体は、ステンレスまたはジルコニアで形成される。
本発明では、保持テーブルを構成する吸引部をジルコニアを主成分とするポーラスセラミックスで形成して導電性を高めたため、静電気がウェーハに帯電しにくくなり、ウェーハに絶縁破壊を生じさせることがない。
また、ジルコニアを主成分とするポーラスセラミックスは、靱性が高くビッカース硬度が低いため、保持面を平坦化加工すると保持面が滑らかな面となり、ウェーハに与えるダメージが軽減される。
更に、吸引部がジルコニアを主成分とするポーラスセラミックスで形成され、枠体がステンレスまたはジルコニアで形成されると、吸引部と枠体の線膨張係数の値が近くなるため、両者のなじみが良好となる。
図1に示すダイシング装置1は、ウェーハを切削して個々のチップに分割する装置であり、ウェーハを保持するチャックテーブル2と、チャックテーブル2に保持されたウェーハに切削加工を施す切削手段3と、切削後のウェーハを洗浄する洗浄装置4とを備えている。
切削対象のウェーハWは、テープTを介してフレームFと一体となって支持された状態でウェーハカセット5aに収容される。このウェーハWの表面には、分割予定ラインに区画されて複数のデバイスが形成されている。なお、以降では、テープTを介してフレームFに支持されたウェーハWのことを、単にウェーハWと記すこととする。
ウェーハカセット5aは、カセット載置領域5に載置されている。ウェーハカセット5aの近傍には、ウェーハカセット5aからのウェーハWの搬出及び加工済みのウェーハWのウェーハカセット5aへの搬入を行う搬出入手段6が配設されている。搬出入手段6は、フレームFを挟持してY軸方向に移動可能となっている。搬出入手段6とウェーハカセット5aとの間には、搬出入されるウェーハWを仮置きする領域である仮置き領域7が設けられている。
ダイシング装置1の前部側には、ウェーハWを保持してX軸方向に移動可能であると共に回転可能であるチャックテーブル2が配設されている。そして、仮置き領域7とチャックテーブル2との間には、ウェーハWを仮置き領域7とチャックテーブル2との間で搬送する第一の搬送手段8が配設されている。
チャックテーブル2のX軸方向の移動経路の上方には、ウェーハに形成された分割予定ラインを検出するアライメント手段9が配設されている。アライメント手段9には、ウェーハWを撮像する撮像部90を有しており、撮像部90が取得した画像と、予め記憶させておいた画像とのパターンマッチングによって、分割予定ラインを検出する。撮像部90によって取得された画像は、表示手段12に表示させることができる。
チャックテーブル2のX軸方向の移動経路の上方には、ウェーハを切削するための切削ブレード30を有する切削手段3が配設されている。切削手段3は、Y軸方向及びZ軸方向に移動可能であり、Y軸方向に配設されたスピンドル31の先端部に切削ブレード30が装着され、スピンドル31の回転と共に切削ブレード30も回転する構成となっている。
チャックテーブル2の近傍には、切削後のウェーハWを洗浄する洗浄装置4が配設されている。洗浄装置4の上方には、ウェーハWをチャックテーブル2と洗浄装置4との間で搬送する第二の搬送手段11が配設されている。
図2に示すように、洗浄装置4は、ウェーハWを保持して回転するスピンナーテーブル40と、スピンナーテーブル40に保持されたウェーハWに洗浄水を供給する洗浄水供給手段である洗浄水ノズル41とを備えている。また、洗浄後にウェーハWを乾燥させるための高圧エアーを噴出するエアーノズル42も備えている。
スピンナーテーブル40は、ウェーハWを吸引保持する保持テーブル43と、保持テーブル43に吸引力を作用させる吸引源44と、保持テーブル43を回転駆動する駆動源45とを備えている。保持テーブル43は駆動源45に連結されており、駆動源45の内部のモータに駆動されて回転するように構成されている。また、駆動源45はエアピストン46によって昇降可能となっており、駆動源45の昇降に伴い保持テーブル43も昇降する構成となっている。
保持テーブル43は、吸引源44からの吸引力によってウェーハWを吸引する吸引部43bと、吸引部43bを囲繞する枠体43aとから構成される。吸引部43bは、多孔質のジルコニアポーラスで形成されている。一方、枠体43aは、吸引部43bと同様にジルコニアで形成してもよいし、他の導電性部材、例えばステンレス等で形成してもよい。
この吸引部43bは、ジルコニア(二酸化ジルコニウム)を主成分するポーラスセラミックスで形成されており、例えばジルコニアに酸化イットリウム(Y)を添加して安定化させた安定化ジルコニアの粒子(例えば粒径が50μm)を93%、二酸化珪素と酸化チタンとを混合させたものを7%として焼結することによりジルコニアポーラスが形成される。このようにして形成されたジルコニアポーラスは、体積抵抗率が10〜1010[Ω・cm]となり、従来から用いられていた体積抵抗率が1014[Ω・cm]以上のアルミナポーラスよりも導電性が高く、静電気が帯電しにくい。
また、従来使用されていたアルミナポーラスは、曲げ強度が350[MPa]、ビッカース硬度が15[GPa]であるのに対し、上記のようにして形成されたジルコニアポーラスは、アルミナポーラスと比較して、曲げ強度が1000[MPa]と靭性が高く、ビッカース強度が13[GPa]と低い。したがって、吸引部43bの製造時にその表面の吸着面をポリッシング加工等により平坦化すると、微小平面が集合したような滑らかな面となり、アルミナポーラスの吸着面のように針の先端が集合したような面にはならないため、保持されたウェーハのダメージが軽減され、吸着面においてウェーハの裏面側を保持した場合における裏面チッピングや裏面クラックの発生を抑制することができる。
更に、枠体43aがステンレスで形成される場合でも、ステンレスの線膨張係数が10.4×10−6/℃である一方、ジルコニアポーラスの線膨張係数は9.0×10−6/℃、アルミナポーラスの線膨張係数は6.0×10−6/℃であり、アルミナポーラスよりジルコニアポーラスの方が線膨張係数の値がステンレスに近いため、ジルコニアポーラスにより吸引部43bを形成すると、ステンレスで形成された枠体43aとなじみがよい。もちろん、枠体43aがジルコニアで形成されている場合は、更に吸引部43bとのなじみがよくなる。
保持テーブル43の外周側下方には、使用済みの洗浄水を受け止める受け部47と、受け部47に滞留した洗浄水を排出する排出部48とが配設されている。
図1に示したウェーハカセット5aに収容されたウェーハWは、搬出入手段6によって仮置き領域7に搬出され、第一の搬送手段8によってチャックテーブル2に搬送され載置される。
次に、チャックテーブル2が+X方向に移動してウェーハWがアライメント手段9の直下に移動し、撮像部90によってウェーハWの表面が撮像されて加工すべき分割予定ラインが検出され、切削ブレード30とのY軸方向の位置合わせが行われる。そして更にチャックテーブル2をX軸方向に移動させると共に、切削ブレード30を高速回転させながら切削手段3を下降させ、切削ブレード30を検出された分割予定ラインに切り込ませて切削する。切削中は、ウェーハWと切削ブレード30との接触部に対して切削水が噴出される。
また、チャックテーブル2をX軸方向に移動させるとともに、隣り合う分割予定ラインの間隔分だけ切削手段3をY軸方向に割り出し送りしながら切削を行うと、同方向の分割予定ラインがすべて切削される。
更に、チャックテーブル2を90度回転させてから、上記と同様の切削を行うと、すべての分割予定ラインが縦横に切削され、個々のデバイスに分割される。
このようにしてデバイスに分割された後も、個々のデバイスはテープTに貼着されたままであるため、全体としてウェーハWの形状を維持している。そして、デバイスに分割されたウェーハWは、第二の搬送手段11によってテープTを介してフレームFに支持された状態で洗浄装置4に搬送される。ウェーハWは、図3に示すように、保持テーブル43が上昇した状態で載置され、吸引源44から供給される吸引力によって吸引部43bにおいて吸引保持される。
次に、図4に示すように、保持テーブル43を下降させ、洗浄水ノズル41の先端部をウェーハWの上方に移動させる。そして、図5に示すように、保持テーブル43を例えば1000〜3000RPMの回転速度で回転させると共に洗浄水ノズル41を揺動させながら、洗浄水ノズル41からウェーハWの全面に洗浄水を噴出する。そうすると、切削によりウェーハWの表面に付着した切削屑が除去される。このとき、洗浄水は高圧で噴出されるため、洗浄水とウェーハWとの間に静電気が生じやすいが、保持テーブル43を構成する吸引部43bは導電性の高いジルコニアポーラスにより形成されているため、静電気が帯電しにくく、ウェーハWを構成するデバイスに絶縁破壊を生じさせることがない。
ウェーハWの洗浄後は、洗浄水ノズル41を図3に示した元の位置に退避させると共に、エアーノズル42の先端部をウェーハWの上方に位置させ、保持テーブル43を回転させると共にエアーノズル42から高圧エアーを噴出し、ウェーハに付着した洗浄水を除去する。このようにして高圧エアーを噴出する際にも、吸引部43bの導電性の高さにより静電気が生じにくく、ウェーハへの帯電を防止することができる。
洗浄及び乾燥されたウェーハWは、図1に示した第一の搬送手段8によって仮置き領域7に搬送される。そして、搬出入手段6によってウェーハカセット5aに収容される。
以上の例では、洗浄装置4のスピンナーテーブル40に本発明の保持テーブルを適用した例について説明したが、例えば、ダイシング装置1のチャックテーブル2に本発明を適用することもできる。チャックテーブル2に保持されたウェーハには、切削時に切削水が噴出されるために静電気が発生する可能性があるが、チャックテーブル2の吸引部をジルコニアを主成分としたポーラスセラミックスで形成すれば、切削中にウェーハに静電気が帯電するのを防止することができる。また、他の加工装置においても、静電気が発生しやすい保持部に本発明を適用することができる。
ダイシング装置の一例を示す斜視図である。 洗浄装置の一例を示す斜視図である。 洗浄装置の保持テーブルにウェーハを載置する状態を略示的に示す断面図である。 保持テーブルに保持されたウェーハに洗浄水を噴出する前の状態を略示的に示す断面図である。 保持テーブルに保持されたウェーハに洗浄水を噴出する状態を示す斜視図である。
符号の説明
1:ダイシング装置
2:チャックテーブル
3:切削手段 30:切削ブレード 31:スピンドル
4:洗浄装置
40:スピンナーテーブル 41:洗浄水ノズル 42:エアーノズル
43:保持テーブル 43a:枠体 43b:吸引部
44:吸引源 45:駆動源 46:エアピストン 47:受け部 48:排出部
5:カセット載置領域 5a:ウェーハカセット
6:搬出入手段 7:仮置き領域 8:第一の搬送手段
9:アライメント手段 90:撮像部
11:第二の搬送手段 12:表示手段

Claims (4)

  1. ウェーハを保持して回転可能なスピンナーテーブルと、該スピンナーテーブルに保持されたウェーハに洗浄水を供給する洗浄水供給手段とを少なくとも備えた洗浄装置であって、
    該スピンナーテーブルは、ウェーハを吸引する吸引部と該吸引部を囲繞する枠体とから構成される保持テーブルと、該保持テーブルを回転駆動する駆動源と、該吸引部に吸引力を作用させる吸引源とから構成され、
    該吸引部は、ジルコニアを主成分とするポーラスセラミックスで形成され、該枠体は導電性部材で形成される洗浄装置。
  2. 前記枠体は、ステンレスまたはジルコニアで形成される請求項1に記載の洗浄装置。
  3. ウェーハを保持する保持テーブルであって、
    ウェーハを吸引する吸引部と該吸引部を囲繞する枠体とから構成され、該吸引部は、ジルコニアを主成分とするポーラスセラミックスで形成され、該枠体は導電性部材で形成される保持テーブル。
  4. 前記枠体は、ステンレスまたはジルコニアで形成される請求項3に記載の保持テーブル。
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