JP2008192712A - トンネル磁気抵抗素子 - Google Patents
トンネル磁気抵抗素子 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008192712A JP2008192712A JP2007023585A JP2007023585A JP2008192712A JP 2008192712 A JP2008192712 A JP 2008192712A JP 2007023585 A JP2007023585 A JP 2007023585A JP 2007023585 A JP2007023585 A JP 2007023585A JP 2008192712 A JP2008192712 A JP 2008192712A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- ferromagnetic metal
- magnetoresistive element
- metal nanoparticles
- nanoparticles
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D30/00—Field-effect transistors [FET]
- H10D30/40—FETs having zero-dimensional [0D], one-dimensional [1D] or two-dimensional [2D] charge carrier gas channels
- H10D30/402—Single electron transistors; Coulomb blockade transistors
Landscapes
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Mram Or Spin Memory Techniques (AREA)
- Thin Magnetic Films (AREA)
- Hall/Mr Elements (AREA)
Abstract
【解決手段】強磁性体からなる第1の電極12と強磁性体からなる第2の電極13と第1の電極12及び第2の電極13の間に配置されるナノ粒子14とを備え、ナノ粒子14が強磁性金属ナノ粒子14aの外周に絶縁性を有する保護基14bを有する。強磁性金属ナノ粒子14aと第1の電極12との間に第1のトンネル接合15aが形成され、強磁性金属ナノ粒子14aと第2の電極13との間に第2のトンネル接合15bが形成される。
【選択図】図1
Description
本発明のトンネル磁気抵抗素子は、強磁性体からなる第1の電極と、強磁性体からなる第2の電極と、第1の電極及び第2の電極の間に配置されるナノ粒子と、を備え、ナノ粒子は強磁性金属ナノ粒子の外周に絶縁性を有する保護基を有してなり、強磁性金属ナノ粒子と第1の電極との間に第1のトンネル接合が形成され、強磁性金属ナノ粒子と第2の電極との間に第2のトンネル接合が形成されることを特徴とする。
強磁性金属ナノ粒子は、トンネル接合で接続される電極と比べ外部磁場に対する保磁力が小さく、外部磁場で前記強磁性金属ナノ粒子のスピンの向きが変化することで、第1の電極と第2の電極との間に流れる電流の大小に基づいて磁場を検出することが好ましい。
強磁性金属ナノ粒子は、トンネル接合で接続される電極と比べ外部磁場に対する保磁力が大きく、外部磁場で第1の電極又は第2の電極のスピンの向きが変化することで、第1の電極と第2の電極との間に流れる電流の大小に基づいて磁場を検出するようにしてもよい。
さらに、第1の電極と第2の電極との配置方向に対し交わる方向に、ゲート電極を備えることが好ましい。
図1は、本発明のトンネル磁気抵抗素子10の構造を模式的に示す図である。本発明のトンネル磁気抵抗素子10は、図1に示すように、基板11上に所定の隙間を有するよう対向配置される第1の電極12及び第2の電極13と、第1の電極12と第2の電極13との隙間に配置されるナノ粒子14とを備えて構成される。基板11は、例えば導体基板又は半導体基板11b上に絶縁層11aが形成されてなる。
単磁区構造を有するナノ粒子では、粒径20nm程度までは粒径の増大に従い熱擾乱による磁化反転が抑制されるので、保磁力も増大する。
特に、クーロンブロッケード異方性磁気抵抗素子とする場合には、強磁性金属ナノ粒子14aと第1の電極12及び第2の電極13との間の静電容量が小さいほうが温度特性に優れるため、強磁性金属ナノ粒子の粒径が小さい方が好ましく、その結果としてギャップ間は狭い方が好ましい。
先ず、強磁性金属ナノ粒子14aが第1の電極12及び第2の電極13より、外部磁場に対する保磁力が小さい場合を説明する。ここで、強磁性金属ナノ粒子14aが第1の電極12及び第2の電極13より外部磁場に対する保磁力を小さくするためには、前述したように、強磁性金属ナノ粒子14aの粒径や組成を調節し、かつ第1の電極12及び第2の電極13の電極材料又は電極形状を調節することで実現することができる。この形態では、強磁性金属ナノ粒子14aのスピンの向きを外部磁場で制御することができる。
外部磁場を強磁性金属ナノ粒子14aに印加して、強磁性金属ナノ粒子14aのスピンの向きを第1の電極12及び第2の電極13のスピンの向きと揃えると(図5(A)に示す状態)、第1のトンネル接合15a,強磁性金属ナノ粒子14a及び第2のトンネル接合15bを介して第1の電極12と第2の電極13との間に流れる電流を大きくすることができる。
逆に、外部磁場を強磁性金属ナノ粒子14aに印加して、強磁性金属ナノ粒子14aのスピンの向きを第1の電極12及び第2の電極13のスピンの向きと逆向きにすると(図5(B)に示す状態)、第1のトンネル接合15a,強磁性金属ナノ粒子14a及び第2のトンネル接合15bを介して第1の電極12と第2の電極13との間に流れる電流を小さくすることができる。
よって、トンネル磁気抵抗素子10は、外部磁場で電流の大小を制御するスイッチング機能を有したり、流れる電流の測定により外部磁場を検出する検出機能を有する。
即ち、強磁性金属ナノ微粒子14をクーロン島とする二重トンネル接合構造においては、電子が第1の電極12又は第2の電極13から強磁性金属ナノ粒子14にトンネルする際に、中間電極の役目を果たす強磁性金属ナノ粒子14上を単一電子が輸送され、電流値が電子一つ一つに対応した不連続値をとる、いわゆるクーロンブロッケード現象が観察される。このような単一電子素子は、単一電子の振る舞いを検知することが可能であり、非常に高感度なセンサとして動作することができる。さらに今回は電極材料として磁性体を用いることで、電子がトンネルする際にスピン相互作用の影響を受けることになる。
よって、図1に示すトンネル接合磁気抵抗素子10の構造では、中間電極は理想的には強磁性ナノ粒子が1つであるので、クーロンブロッケード現象により電子が一つ一つトンネルし、ノイズが少なくなり、より高い磁気抵抗比を実現することができる。
変形例として、図1に示すトンネル接合磁気抵抗素子10のように二重トンネル接合を形成しておらず、第1の電極11か第2の電極12の何れかのみが強磁性体でなり一重のトンネル接合を形成していてもよい。即ち、第1の電極12、第2の電極13の何れか一方を強磁性体、もう一方を非磁性体とする。この場合には、非磁性体の電極は、Au、Ag、Cu、Al、Pt、Ir、Pd、Mo、W、Ta、Cr、Ru、Rh、Mnなどで形成される。
先ず、ナノギャップを有するよう第1の電極12と第2の電極13とを形成する。その際、電子ビームリソグラフィー(EBL)や光リソグラフィーで数十nmのギャップを形成し、次にギャップ間をめっきで狭めて既定の距離とすることが好ましい。これは、再現性やプロセスの適合性がよく、多数の素子を一度に構築することができるからである。また、電子ビームリソグラフィーで、10nm程度のギャップを直接形成しても良い。
ここで、ギャップ間隔は狭い方が好ましい。これは、クーロン島としての強磁性金属ナノ粒子14aと第1及び第2の電極12,13との静電容量が小さくなり、クーロンブロッケード異方性磁気抵抗素子の温度特性が優れるためである。
ナノギャップを有するよう第1の電極12と第2の電極13とを形成する点は同じであるが、予め作製した強磁性金属ナノ粒子14を第1の電極12及び第2の電極13の間に埋め込む点で異なる。強磁性FePtナノ粒子の場合には、例えばオートクレーブ中400℃程度で保護基14bを有する金属ナノ粒子14aを作製することで、部分的に規則化した強磁性体でなるFePtナノ粒子を得ることができる。また、シリカシェル中又はNaCl微結晶中に超常磁性fcc−FePtナノ粒子を閉じ込め、600℃程度で強磁性に変態させた後、シリカシェル又はNaCl微結晶を溶解することにより、保護基14bが付いた強磁性FePtナノ粒子14を得ることができる。このようにして作製した強磁性金属ナノ粒子14を第1の電極12及び第2の電極13の間に配置して埋め込む。このとき、ナノギャップが形成された基板をナノ粒子14が含まれた溶液中に浸漬したり、ナノギャップが形成された基板上にナノ粒子14を含む溶液を滴下することで、埋め込みがなされる。
先ず、リソグラフィー法を用いてナノギャップを有するよう第1の電極12と第2の電極とを形成した。
11:基板
11a:絶縁層
11b:導体基板又は半導体基板
12:第1の電極
13:第2の電極
14:ナノ粒子
14a:強磁性金属ナノ粒子
14b:保護基
15a:第1のトンネル接合
15b:第2のトンネル接合
21:可変直流電源
22:電流計
31,41,42:ゲート電極
Claims (7)
- 強磁性体からなる第1の電極と、第2の電極と、上記第1の電極及び上記第2の電極間に配置されるナノ粒子とを備え、
上記ナノ粒子は強磁性金属ナノ粒子の外周に絶縁性を有する保護基を有してなり、
上記強磁性金属ナノ粒子と上記第1の電極との間にトンネル接合が形成されることを特徴とする、トンネル磁気抵抗素子。 - 強磁性体からなる第1の電極と、強磁性体からなる第2の電極と、上記第1の電極及び上記第2の電極の間に配置されるナノ粒子と、を備え、
上記ナノ粒子は強磁性金属ナノ粒子の外周に絶縁性を有する保護基を有してなり、
上記強磁性金属ナノ粒子と上記第1の電極との間に第1のトンネル接合が形成され、
上記強磁性金属ナノ粒子と上記第2の電極との間に第2のトンネル接合が形成されることを特徴とする、トンネル磁気抵抗素子。 - 前記強磁性金属ナノ粒子は、前記トンネル接合で接続される電極と比べ外部磁場に対する保磁力が小さく、該強磁性金属ナノ粒子のスピンの向きが外部磁場により制御され、前記第1の電極と前記第2の電極との間に流れる電流の大小でスイッチング機能を有することを特徴とする、請求項1又は2に記載のトンネル磁気抵抗素子。
- 前記強磁性金属ナノ粒子をクーロン島とし、クーロンブロッケード現象により高い磁気抵抗比を有するスイッチング機能を備えることを特徴とする、請求項3に記載のトンネル磁気抵抗素子。
- 前記強磁性金属ナノ粒子は、前記トンネル接合で接続される電極と比べ外部磁場に対する保磁力が小さく、外部磁場で前記強磁性金属ナノ粒子のスピンの向きが変化することで、前記第1の電極と前記第2の電極との間に流れる電流の大小に基づいて磁場を検出することを特徴とする、請求項1又は2に記載のトンネル磁気抵抗素子。
- 前記強磁性金属ナノ粒子は、前記トンネル接合で接続される電極と比べ外部磁場に対する保磁力が大きく、外部磁場で前記第1の電極又は前記第2の電極のスピンの向きが変化することで、前記第1の電極と前記第2の電極との間に流れる電流の大小に基づいて磁場を検出することを特徴とする、請求項1又は2に記載のトンネル磁気抵抗素子。
- 前記第1の電極と前記第2の電極との配置方向に対し交わる方向に、ゲート電極を備えることを特徴とする、請求項2に記載のトンネル磁気抵抗素子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2007023585A JP2008192712A (ja) | 2007-02-01 | 2007-02-01 | トンネル磁気抵抗素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2007023585A JP2008192712A (ja) | 2007-02-01 | 2007-02-01 | トンネル磁気抵抗素子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2008192712A true JP2008192712A (ja) | 2008-08-21 |
Family
ID=39752552
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2007023585A Pending JP2008192712A (ja) | 2007-02-01 | 2007-02-01 | トンネル磁気抵抗素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2008192712A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008219007A (ja) * | 2007-02-23 | 2008-09-18 | Samsung Electronics Co Ltd | 強誘電体ナノドットを有する強誘電体情報記録媒体及びその製造方法 |
| JP2011210191A (ja) * | 2010-03-30 | 2011-10-20 | Brother Industries Ltd | Htmlファイルの印刷方法 |
| WO2012121067A1 (ja) * | 2011-03-08 | 2012-09-13 | 独立行政法人科学技術振興機構 | ナノギャップ長を有する電極構造の作製方法並びにそれにより得られるナノギャップ長を有する電極構造及びナノデバイス |
| WO2013074037A1 (en) * | 2011-11-18 | 2013-05-23 | Klaus Leifer | Molecular junction platform and method of fabricating such a platform |
| JP5674220B2 (ja) * | 2012-02-28 | 2015-02-25 | 独立行政法人科学技術振興機構 | ナノデバイス及びその製造方法 |
| WO2015033600A1 (ja) * | 2013-09-06 | 2015-03-12 | 独立行政法人科学技術振興機構 | 電極対、その作製方法、デバイス用基板及びデバイス |
| CN110261640A (zh) * | 2019-06-27 | 2019-09-20 | 东南大学 | 一种基于隧道磁阻效应的mems微流速传感器 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11238924A (ja) * | 1998-02-20 | 1999-08-31 | Toshiba Corp | スピン依存伝導素子とそれを用いた電子部品および磁気部品 |
| JP2003507889A (ja) * | 1999-08-18 | 2003-02-25 | ノース・キャロライナ・ステイト・ユニヴァーシティ | 化学的にゲート動作する単一電子トランジスタを使用したセンシングデバイス |
| JP2003168788A (ja) * | 2001-11-30 | 2003-06-13 | Nec Corp | 量子ドットをベースにした磁気ランダムアクセスメモリセルとそのアレイ、および、これらの製造方法 |
| JP2004281548A (ja) * | 2003-03-13 | 2004-10-07 | Japan Science & Technology Agency | 強磁性単電子素子とこれを用いた記憶素子 |
-
2007
- 2007-02-01 JP JP2007023585A patent/JP2008192712A/ja active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11238924A (ja) * | 1998-02-20 | 1999-08-31 | Toshiba Corp | スピン依存伝導素子とそれを用いた電子部品および磁気部品 |
| JP2003507889A (ja) * | 1999-08-18 | 2003-02-25 | ノース・キャロライナ・ステイト・ユニヴァーシティ | 化学的にゲート動作する単一電子トランジスタを使用したセンシングデバイス |
| JP2003168788A (ja) * | 2001-11-30 | 2003-06-13 | Nec Corp | 量子ドットをベースにした磁気ランダムアクセスメモリセルとそのアレイ、および、これらの製造方法 |
| JP2004281548A (ja) * | 2003-03-13 | 2004-10-07 | Japan Science & Technology Agency | 強磁性単電子素子とこれを用いた記憶素子 |
Cited By (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008219007A (ja) * | 2007-02-23 | 2008-09-18 | Samsung Electronics Co Ltd | 強誘電体ナノドットを有する強誘電体情報記録媒体及びその製造方法 |
| JP2011210191A (ja) * | 2010-03-30 | 2011-10-20 | Brother Industries Ltd | Htmlファイルの印刷方法 |
| WO2012121067A1 (ja) * | 2011-03-08 | 2012-09-13 | 独立行政法人科学技術振興機構 | ナノギャップ長を有する電極構造の作製方法並びにそれにより得られるナノギャップ長を有する電極構造及びナノデバイス |
| JPWO2012121067A1 (ja) * | 2011-03-08 | 2014-07-17 | 独立行政法人科学技術振興機構 | ナノギャップ長を有する電極構造の作製方法並びにそれにより得られるナノギャップ長を有する電極構造及びナノデバイス |
| WO2013074037A1 (en) * | 2011-11-18 | 2013-05-23 | Klaus Leifer | Molecular junction platform and method of fabricating such a platform |
| JP5674220B2 (ja) * | 2012-02-28 | 2015-02-25 | 独立行政法人科学技術振興機構 | ナノデバイス及びその製造方法 |
| KR20160050019A (ko) * | 2013-09-06 | 2016-05-10 | 고쿠리츠켄큐카이하츠호진 카가쿠기쥬츠신코키코 | 전극쌍, 그 제작 방법, 디바이스용 기판 및 디바이스 |
| CN105474398A (zh) * | 2013-09-06 | 2016-04-06 | 国立研究开发法人科学技术振兴机构 | 电极对、其制作方法、器件用基板以及器件 |
| WO2015033600A1 (ja) * | 2013-09-06 | 2015-03-12 | 独立行政法人科学技術振興機構 | 電極対、その作製方法、デバイス用基板及びデバイス |
| JPWO2015033600A1 (ja) * | 2013-09-06 | 2017-03-02 | 国立研究開発法人科学技術振興機構 | 電極対、その作製方法、デバイス用基板及びデバイス |
| EP3043386A4 (en) * | 2013-09-06 | 2017-06-07 | Japan Science and Technology Agency | Electrode pair, method for producing same, substrate for device, and device |
| TWI629789B (zh) * | 2013-09-06 | 2018-07-11 | Japan Science And Technology Agency | 電極組、電極組之製作方法及裝置 |
| CN105474398B (zh) * | 2013-09-06 | 2018-11-13 | 国立研究开发法人科学技术振兴机构 | 电极对、其制作方法、器件用基板以及器件 |
| US10164080B2 (en) | 2013-09-06 | 2018-12-25 | Japan Science And Technology Agency | Electrode pair, method for fabricating the same, substrate for device, and device |
| KR102150053B1 (ko) * | 2013-09-06 | 2020-08-31 | 고쿠리츠켄큐카이하츠호진 카가쿠기쥬츠신코키코 | 전극쌍, 그 제작 방법, 디바이스용 기판 및 디바이스 |
| CN110261640A (zh) * | 2019-06-27 | 2019-09-20 | 东南大学 | 一种基于隧道磁阻效应的mems微流速传感器 |
| CN110261640B (zh) * | 2019-06-27 | 2024-04-09 | 东南大学 | 一种基于隧道磁阻效应的mems微流速传感器 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN107923956B (zh) | 磁阻传感器 | |
| CN107305923B (zh) | 具热稳定性的自旋轨道扭力式磁性随存储存器 | |
| Maqableh et al. | Low-resistivity 10 nm diameter magnetic sensors | |
| JP4682998B2 (ja) | 記憶素子及びメモリ | |
| CN101183704B (zh) | 隧道磁阻器件、其制造方法、磁头及磁存储器 | |
| US8189302B2 (en) | Magnetic field sensor with graphene sense layer and ferromagnetic biasing layer below the sense layer | |
| CN100440564C (zh) | 电流垂直于平面磁阻传感器及其制造方法 | |
| CN105745760B (zh) | 磁阻效应元件、Spin-MOSFET、磁传感器以及磁头 | |
| JP6866694B2 (ja) | 磁気抵抗効果素子 | |
| US6730395B2 (en) | Magnetic tunnel junction using nanoparticle monolayers and applications therefor | |
| JP2008192712A (ja) | トンネル磁気抵抗素子 | |
| US7939870B2 (en) | Magnetoresistive device | |
| JP4880669B2 (ja) | 磁気/非磁気/磁気多層フィルムに用いられるコア複合膜及びその用途 | |
| Schneider et al. | Towards molecular spintronics: magnetotransport and magnetism in carbon nanotube-based systems | |
| US11163023B2 (en) | Magnetic device | |
| JP2005217422A (ja) | 磁気抵抗素子 | |
| CN100550455C (zh) | 纳米磁性存储器件及其制造方法 | |
| JP5034317B2 (ja) | 記憶素子及びメモリ | |
| Sarveena et al. | Multifunctional magnetic nanostructures: exchange bias model and applications | |
| JP5057338B2 (ja) | 反平行結合膜構造体、トンネル磁気抵抗素子および磁気デバイス | |
| Morgan | Magnetoresistance and transport in carbon nanotube-based devices | |
| CN115207208B (zh) | 人工反铁磁多层膜结构及包括其的磁随机存储器 | |
| Fábián | Engineered Magnetoconductance in InAs Nanowire Quantum Dots | |
| JP6788189B2 (ja) | グラフェンナノリボン及びデバイス | |
| CN110581214B (zh) | 复合多层磁性纳米环阵列存储器件及其制备方法和应用 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100125 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110926 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20111004 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120529 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20121002 |