JP2008191413A - 感光性組成物 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】重合体ではない多価フェノールに下記式(1)で表される有機基が導入された感光性多価フェノール誘導体を有機溶媒に溶解させた溶液とする。
【化1】
(式(1)において、R1は直鎖もしくは分岐の炭素数2〜9の2価の有機基であり、R2〜R5はそれぞれ独立に水素原子又は直鎖もしくは分岐の炭素数1〜3の有機基であり、R6及びR7はそれぞれ独立に有機基であり、R6とR7とは一緒になって2価の有機基を形成していてもよい。X-は陰イオンを表す。)
【選択図】 なし
Description
本発明の感光性組成物は、特定の感光性多価フェノール誘導体を有機溶媒に溶解した溶液である。この感光性組成物が含有する感光性多価フェノール誘導体は、重合体ではない多価フェノールに上記式(1)で表される有機基が導入された化合物である。そしてこの上記式(1)で表される有機基は、スルホニウム塩由来の光酸発生剤としての機能を有する構造と、酸解離基としての機能を併せ持つ有機基である。したがって、上記式(1)で表される有機基が多価フェノールに導入された感光性多価フェノール誘導体は、光酸発生剤としての機能を有する構造と酸解離基とを有するため、有機溶媒に溶解させることにより酸発生剤を含有させずに単独で化学増幅型の感光性組成物とすることができる。よって、本発明の感光性組成物は、酸発生剤と酸解離基を有するポリマーとの相溶性が悪いという問題点を伴うことがなく、良好な形状のパターンを形成することができる。この感光性多価フェノール誘導体は、それ自体ではアルカリ現像液に対して不溶又は極めて難溶であるが、活性放射線で露光すると、上記式(1)で表される有機基から酸が発生し、その酸の作用により、上記式(1)で表される有機基が解離(分解)して、アルカリ現像液に対する溶解性が増大する。
(合成例1)
下記式で表される化合物(4−ビニロキシエトキシフェニルジフェニルスルホニウム パーフルオロブタンスルホン酸塩)の合成
1H−NMR (400 MHz,CDCl3)δ4.05−4.08(m,3H),4.24(d,J=7.4,2.4 Hz,1H),4.31−4.33(m,2H),6.49(dd,J=14.4,7.4 Hz,1H),7.24(d,J=6.8 Hz,2H),7.64−7.74(m,12H)
下記式で表される化合物(4−ビニロキシエトキシ3,5−ジメチルフェニルジ(4−t−ブチルフェニル)スルホニウム パーフルオロブタンスルホン酸塩)の合成
1H−NMR (400 MHz,CDCl3)δ1.35(s,18H),2.36(s,6H),4.02−4.08(m,3H),4.12−4.14(m,2H),4.25(d,J=14.3,6.1Hz,1H),6.50(dd,J=14.3,6.6 Hz,1H),7.35(s,2H),7.59−7.75(m,8H)
下記式で表される化合物(4−ビニロキシオクトキシフェニルジフェニルスルホニウム パーフルオロブタンスルホン酸塩)の合成
1H−NMR (400MHz,CDCl3)δ1.36−1.47(m,8H),1.64−1.67(m,2H),1.78−1.83(m,2H),3.67(t,J=6.6Hz,2H),3.96(dd,J=6.8,2.0Hz,1H),4.04(t,J=6.6Hz,2H).4.16(dd,J=14.4,2.0Hz,1H),6.46(dd,J=14.4,6.8Hz,1H),7.16−7.19(m,2H),7.65−7.76(m,12H)
下記式で表される化合物(4−ビニロキシエトキシフェニルジフェニルスルホニウム シクロ(1,3−パーフルオロプロパンジスルホン)イミド塩)の合成
1H−NMR (400 MHz,CDCl3)δ4.05−4.08(m,3H),4.24(d,J=7.4,2.4Hz,1H),4.31−4.33(m,2H),6.49(dd,J=14.4,7.4Hz,1H),7.24(d,J=6.8Hz,2H),7.64−7.74(m,12H)
下記式で表される化合物(4−ビニロキシエトキシフェニルジフェニルスルホニウム ビス(パーフルオロメタンスルホン)イミド塩)の合成
1H−NMR (400 MHz,CDCl3)δ4.05−4.08(m,3H),4.24(d,J=7.4,2.4Hz,1H),4.31−4.33(m,2H),6.49(dd,J=14.4,7.4Hz,1H),7.24(d,J=6.8 Hz,2H),7.64−7.74(m,12H)
下記式(14)で表される感光性多価フェノール誘導体1の合成
(フォトレジストの調製とブレークスルータイム測定)
実施例1で得た感光性多価フェノール誘導体1を100重量部と、トリエタノールアミン30重量部とを、プロピレングリコールモノメチルアセテート1000重量部に溶解し、フィルター(PTFEフィルター)でろ過してポジ型フォトレジスト溶液を調製した。このレジスト溶液を、シリコンウエハ(直径:4インチ)上にスピンコートし、120℃で90秒間プレベークし、膜厚300nmのレジスト膜を得た。このレジスト膜をキセノンランプ(波長:248nm)により露光し、次いで110℃で90秒間ポストベーク(露光後加熱)を行った。その後、23℃で現像液(2.38重量%のテトラメチルアンモニウムハイドロキサイド(TMAH)の水溶液)を用いて、ブレークスルータイムを測定した。なお、ブレークスルータイムとは、一定のエネルギーを照射した後、現像により残膜が皆無になる秒数(s)である。
(フォトレジストの調製と塗布)
実施例1で得た感光性多価フェノール誘導体1を100重量部とトリフェニルシリルアミン40重量部とを、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート2000重量部に溶解し、0.1μmのメンブレンフィルターでろ過してポジ型フォトレジスト溶液を調製した。このレジスト溶液を、ヘキサメチルジシラザン処理を施したシリコンウエハ(4インチ)上にスピンコートし、ホットプレートを用いて120℃で90秒間加熱して膜厚100nmの均一な薄膜を作製した。同様に、実施例2〜6で得た感光性多価フェノール誘導体2〜6を用いてポジ型フォトレジスト溶液を調製し製膜した。
加速電圧50keVの電子線描画装置を用いて、上記で形成したフォトレジスト薄膜に照射した。照射後に90℃で加熱し、テトラメチルアンモニウムヒドロキサイド(TMAH)2.38重量%水溶液中に23℃にて30秒間浸漬し、純水でリンスして乾燥した。得られたパターンを下記の方法で評価した。
得られたパターンの断面を側長走査型電子顕微鏡(CD−SEM)で観察した。50nmライン(ラインアンドスペースの比は1:1)を解像することができる最小照射エネルギーを感度とした。
上記感度の下で作成したラインパターンの1.5μm長における任意の30点のライン幅を、CD−SEMにより測定し、そのバラツキの標準偏差を3倍したものをもってラインエッジラフネス(LER)とした。このラフネスの値が小さいほど平滑であることを意味する。
上記実施例1のフォトレジストを、加速電圧50keVの電子線描画装置で露光し50nmのラインアンドスペースのパターンを作成した。その際の感度は14.4μC/cm2、LERは3.1nmであり、良好なパターンが形成された。実施例2〜6のフォトレジストでは、感度は13〜18μC/cm2でLERは3.5〜6.2nmであり、良好なパターンが形成された。
(フォトレジストの調製と塗布)
実施例1で得た感光性多価フェノール誘導体1を100重量部と、トリフェニルシリルアミン50重量部とをプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート2000重量部に溶解し、0.1μmのメンブレンフィルターでろ過してポジ型フォトレジスト溶液を調製した。このレジスト溶液をヘキサメチルジシラザン処理の施されたシリコンウエハ(直径:4インチ)上にスピンコートし、ホットプレートを用いて120℃で90秒間加熱して膜厚80nmの均一なフォトレジスト薄膜を作製した。
大型放射光施設SPring−8の直線加速器から入射した1GeVの加速電子を用いてニュースバル蓄積リングの偏向電磁石で発生させたシンクロトロン放射光を、Mo/Si多層膜反射で波長13.5nmに単色した極端紫外線(EUV)を、露光光に用いた。このEUVを、上記で形成したフォトレジスト薄膜に照射し、90℃で15秒間熱処理後、テトラメチルアンモニウムヒドロキサイド(TMAH)2.38重量%水溶液中に23℃にて30秒間浸漬させた。次に、純水でリンス後、乾燥後の膜厚を、Nanometrics社製の非接触型膜厚測定で測定した。この操作を、露光量の設定水準を多水準として種々行い、レジスト残膜厚が0になるときの露光量をEth感度として求めた。この結果、Eth感度は1.9mJ/cm2であり、本発明の感光性組成物で形成したフォトレジストの感度が極めて良好であることが分かった。
Claims (8)
- 重合体ではない多価フェノールに下記式(1)で表される有機基が導入された感光性多価フェノール誘導体を有機溶媒に溶解させた溶液であることを特徴とする感光性組成物。
(式(1)において、R1は直鎖もしくは分岐の炭素数2〜9の2価の有機基であり、R2〜R5はそれぞれ独立に水素原子又は直鎖もしくは分岐の炭素数1〜3の有機基であり、R6及びR7はそれぞれ独立に有機基であり、R6とR7とは一緒になって2価の有機基を形成していてもよい。X-は陰イオンを表す。) - 下記式(2)で表される基及び下記式(3)で表される基のうち少なくとも一方が前記感光性多価フェノール誘導体に導入されていることを特徴とする請求項1に記載の感光性組成物。
(式(2)において、R8は直鎖、環状もしくは分岐の炭素数1〜20のアルキル基、又は、置換基を有してもよい炭素数6〜30の芳香族基を表す。)
- 前記重合体ではない多価フェノールの分子量が1000未満であることを特徴とする請求項1又は2に記載の感光性組成物。
- 前記重合体ではない多価フェノールが、下記式(A)〜(F)の何れかであることを特徴とする請求項1〜3の何れかに記載の感光性組成物。
(式(A)において、R11〜R13はそれぞれ独立に、水素原子、又は、直鎖、分岐、脂環式もしくは芳香族の炭素数1〜12の有機基又はアルコキシ基を表す。a1〜f1は、a1+b1≦5、c1+d1≦5、e1+f1≦5、a1+c1+e1≧1を満たす0以上の整数である。)
(式(B)において、R21〜R24はそれぞれ独立に、水素原子、又は、直鎖、分岐、脂環式もしくは芳香族の炭素数1〜12の有機基又はアルコキシ基を表す。a2〜h2は、a2+b2≦5、c2+d2≦5、e2+f2≦5、g2+h2≦5、a2+c2+e2+g2≧1を満たす0以上の整数である。Zは、単結合、又は、直鎖、分岐、脂環式もしくは芳香族の炭素数1〜20の2価の有機基を表す。)
(式(C)において、R31は水素原子又は直鎖もしくは分岐の炭素数1〜3の有機基で、R32〜R34はそれぞれ独立に、水素原子、又は、直鎖、分岐、脂環式もしくは芳香族の炭素数1〜12の有機基又はアルコキシ基を表す。a3〜f3は、a3+b3≦5、c3+d3≦5、e3+f3≦5、a3+c3+e3≧1を満たす0以上の整数である。)
(式(D)において、R41、R42はそれぞれ独立に、水素原子、又は、直鎖、分岐もしくは脂環式の炭素数1〜12の有機基又はアルコキシ基を表す。a4〜d4は、a4+b4≦5、c4+d4≦5、a4+c4≧1を満たす0以上の整数である。Wは、CO、SO2又はエーテル結合を表す。)
(式(E)において、R51〜R58はそれぞれ独立に、水素原子又は直鎖もしくは分岐の炭素数1〜12の有機基であり、R51とR52、R53とR54、R55とR56、R57とR58が脂環式の環を形成してもよい。R59〜R63はそれぞれ独立に、水素原子、又は、直鎖、分岐、脂環式もしくは芳香族の炭素数1〜12の有機基又はアルコキシ基を表す。p、q、rは0又は1であり、a5〜j5は、a5+b5≦5、c5+d5≦5、e5+f5≦4、g5+h5≦4、i5+j5≦4、a5+c5+e5+g5+i5≧2を満たす0以上の整数である。)
(式(F)において、R71〜R74は炭素数2〜9のアルキル基を表す。) - 前記X-で表される陰イオンが、下記式(4)で表される陰イオンであることを特徴とする請求項1〜4の何れかに記載の感光性組成物。
(式(4)において、k、m及びnはそれぞれ独立に0以上の整数を表す。mが0の場合、kは1〜8の整数、nは2k+1であり、式(4)はパーフルオロアルキルスルホネートイオンである。nが0の場合、kは1〜15の整数、mは1以上の整数であり、式(4)はアルキルスルホネートイオン、ベンゼンスルホネートイオン又はアルキルベンゼンスルホネートイオンである。m及びnがそれぞれ独立に1以上の整数の場合、kは1〜10の整数であり、式(4)はフッ素置換ベンゼンスルホネートイオン、フッ素置換アルキルベンゼンスルホネートイオン又はフッ素置換アルキルスルホネートイオンである。) - 前記X-で表される陰イオンが、下記式(5)で表されるビス(パーフルオロアルキルスルホン)イミドイオンであることを特徴とする請求項1〜4の何れかに記載の感光性組成物。
(式中、pは1〜8の整数を表す。) - 前記X-で表される陰イオンが、下記式(6)で表される陰イオンであることを特徴とする請求項1〜4の何れかに記載の感光性組成物。
- 前記X-で表される陰イオンが、Cl-、Br-、I-、BF4 -、AsF6 -、SbF6 -又はPF6 -であることを特徴とする請求項1〜4の何れかに記載の感光性組成物。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (2)
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| JP2008191413A true JP2008191413A (ja) | 2008-08-21 |
| JP4854023B2 JP4854023B2 (ja) | 2012-01-11 |
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| JP2007025990A Active JP4854023B2 (ja) | 2007-02-05 | 2007-02-05 | 感光性組成物 |
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| Country | Link |
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| JP (1) | JP4854023B2 (ja) |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4854023B2 (ja) | 2012-01-11 |
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