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JP2008191165A - Detector module and radiation imaging apparatus - Google Patents

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JP2008191165A
JP2008191165A JP2008068591A JP2008068591A JP2008191165A JP 2008191165 A JP2008191165 A JP 2008191165A JP 2008068591 A JP2008068591 A JP 2008068591A JP 2008068591 A JP2008068591 A JP 2008068591A JP 2008191165 A JP2008191165 A JP 2008191165A
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JP
Japan
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semiconductor
wiring board
cathode
anode
pin
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Pending
Application number
JP2008068591A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Norifumi Yanagida
憲史 柳田
Hiroshi Kitaguchi
博司 北口
Takaaki Ishizu
崇章 石津
Kensuke Amamiya
健介 雨宮
Yuichiro Ueno
雄一郎 上野
Kazutoshi Tsuchiya
一俊 土屋
Shinichi Kojima
進一 小嶋
Kazuma Yokoi
一磨 横井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Abstract

【課題】半導体放射線検出器を配線基板上に並べてガンマ線入射方向に対して位置を分離して検出でき、いては空間分解能の高い放射線撮像装置を提供する。
【解決手段】半導体放射線検出器12は、例えばCdTeからなる長方形の平板からなる5枚の半導体素子2と、半導体素子2の一方の面のカソード電極3と、半導体素子2の他方の面のアノード電極4と、5枚の半導体検出素子1を外側から被覆する絶縁体5とを含んで構成されている。アノードピン29及びカソードピン30を用いて配線基板21に設置される
【選択図】図5
A side-by-side semiconductor radiation detectors on the wiring board can be detected separately located relative to the gamma-ray incident direction, is not shed provides a high spatial resolution radiation imaging apparatus.
A semiconductor radiation detector includes five semiconductor elements made of a rectangular flat plate made of, for example, CdTe, a cathode electrode on one surface of the semiconductor element, and an anode on the other surface of the semiconductor element. The electrode 4 includes an insulator 5 that covers the five semiconductor detection elements 1 from the outside. The wiring board 21 is installed using the anode pin 29 and the cathode pin 30 .
[Selection] Figure 5

Description

本発明は、半導体放射線検出器を3次元方向に配置できるようにした検出器モジュール及びそれを用いた放射線撮像装置に関するものである。 The present invention relates to a radiation imaging apparatus using such can be arranged three-dimensionally the test can module and it semiconductor radiation detector.

半導体放射線検出器は、CdTe、CdZnTe等からなる半導体素子と、この半導体素子の両面に形成された電極とを備えており、これら各電極間にバイアス電圧を印することにより、X線、γ線等の放射線が半導体素子内に入射したときに生成される電荷を、前記電極から信号として取り出すようにしている。
半導体放射線検出器を医療用放射線撮像装置等に用いる場合、配線基板上に半導体放射線検出器を接続して放射線検出部を形成している(例えば特許文献1参照)。
Semiconductor radiation detector, CdTe, a semiconductor element made of CdZnTe or the like, and a formed on both surfaces electrodes of the semiconductor element, by indicia pressurizing the bias voltage between these respective electrodes, X-rays, gamma A charge generated when radiation such as a line enters the semiconductor element is taken out from the electrode as a signal.
When a semiconductor radiation detector is used for a medical radiation imaging apparatus or the like, a radiation detector is formed by connecting the semiconductor radiation detector on a wiring board (see, for example, Patent Document 1).

特開2003−84068号公報(段落0024、図3)JP 2003-84068 A (paragraph 0024, FIG. 3)

ところで、医療用放射線撮像装置の一種であるPET(Positron Emission Tomography)においては空間分解能を高めようとしている。しかし、特許文献1ではγ線が主に入射する面(例えばX−Y平面とする)に対しては位置を分離して検出できるが、γ線が入射する方向(例えばZ方向とする)に対しては位置を分離してγ線を検出できない。即ち3次元方向に位置を分離して検出できない。従って空間分解能を十分に高めることはできない。   By the way, in PET (Positron Emission Tomography) which is a kind of medical radiation imaging apparatus, the spatial resolution is being improved. However, in Patent Document 1, although the position can be detected separately with respect to a surface on which γ rays are mainly incident (for example, an XY plane), the γ rays are incident in a direction (for example, a Z direction). On the other hand, the position cannot be separated and γ rays cannot be detected. That is, the position cannot be detected separately in the three-dimensional direction. Therefore, the spatial resolution cannot be sufficiently increased.

本発明の目的は、空間分解能を向上できるようにした検出器モジュール及び放射線撮像装置を提供することにある。 An object of the present invention is to provide a test can module and the radiation imaging apparatus to be able to improve spatial resolution.

上記課題を解決する第1の手段として半導体素子の一方の面にアノード電極及び、もう一方の面にカソード電極を有する半導体検出素子を複数に並列配置し、これら複数の前記半導体検出素子の少なくとも一部を外側から被覆する絶縁体を備えた複数の半導体放射線検出器と、前記カソード電極に前記カソードピンを介して接続され、前記アノード電極にアノードピンを介して接続される配線基板とを有し、前記配線基板の一面に設置された前記半導体放射線検出器は、前記配線基板の他面に設置された他の前記半導体放射線検出器と、前記配線基板を挟んで対向して設置される。そして器モジュールは例えば絶縁体の内部もしくは表面にカソード電極及びアノード電極からの電気信号を伝達するための内部配線を各々備えた構造とする。出器モジュールは配線基板上に設けたピンを介して配線基板に施した配線を介して外部に検出信号を伝えるものとする。以上により、半導体放射線検出器を配線基板の両面に配置でき、空間分解能を向上できる。 As a first means for solving the above problem, a plurality of semiconductor detection elements having an anode electrode on one surface and a cathode electrode on the other surface are arranged in parallel, and at least one of the plurality of semiconductor detection elements is arranged. A plurality of semiconductor radiation detectors having an insulator covering the portion from the outside, and a wiring board connected to the cathode electrode via the cathode pin and connected to the anode electrode via the anode pin the semiconductor radiation detector installed on one surface of the wiring board, and the other of said semiconductor radiation detector installed on the other surface of the wiring substrate, Ru placed on opposite sides of the wiring board. The detector module to each comprise a structure the internal wiring for transmitting an electric signal from the cathode electrode and an anode electrode on the inside or on the surface of, for example, insulation. Test can module shall communicate external to the detection signal through the wire subjected to the wiring board via a pin provided on the wiring board. As described above, the semiconductor radiation detectors can be arranged on both surfaces of the wiring board, and the spatial resolution can be improved.

また、上記課題を解決する第2の手段として半導体素子の一方の面にアノード電極及び、もう一方の面にカソード電極を有する半導体検出素子を複数に並列配置し、これら複数の前記半導体検出素子の少なくとも一部を外側から被覆する絶縁体を備え、前記絶縁体の内部または表面に位置して前記各アノード電極にそれぞれ接続される第2の内部配線とを備えた半導体放射線検出器と、前記カソード電極に前記カソードピンを介して接続され、前記アノード電極にアノードピンを介して接続される配線基板とを有し、前記配線基板の一面に設置された前記半導体放射線検出器は、前記配線基板の他面に設置された他の前記半導体放射線検出器と、前記配線基板を挟んで対向して設置される。そして検出器モジュールは例えば絶縁体の内部もしくは表面にカソード電極及びアノード電極からの電気信号を伝達するための内部配線を各々備えた構造とする。検出器モジュールは配線基板上に設けたピンを介して配線基板に施した配線を介して外部に検出信号を伝えるものとする。以上により、半導体放射線検出器を配線基板の両面に配置でき、空間分解能を向上できる。 Further, as a second means for solving the above-described problem, a plurality of semiconductor detection elements each having an anode electrode on one surface and a cathode electrode on the other surface are arranged in parallel. A semiconductor radiation detector comprising an insulator that covers at least a portion from the outside, and a second internal wiring located inside or on the surface of the insulator and connected to each anode electrode; and the cathode A wiring board connected to the electrode via the cathode pin and connected to the anode electrode via the anode pin, and the semiconductor radiation detector installed on one surface of the wiring board is connected to the wiring board. The other semiconductor radiation detector installed on the other surface is installed opposite to the wiring board. For example, the detector module has a structure in which an internal wiring for transmitting an electrical signal from the cathode electrode and the anode electrode is provided inside or on the surface of the insulator. The detector module transmits a detection signal to the outside through wiring provided on the wiring board via pins provided on the wiring board. As described above, the semiconductor radiation detectors can be arranged on both surfaces of the wiring board, and the spatial resolution can be improved.

本発明により、ガンマ線入射方向に対しても位置を分離して検出できることが可能であり、いては3次元方向に分離して位置を検出できる。この結果空間分解能を向上することができる。更に半導体放射線検出器を個別に着脱できるなど、半導体放射線検出器の交換も可能となる別の効果も得られる。また、半導体検出素子をきわめて稠密に配置することができ、この結果感度を向上できる効果もある。 The present invention, it is possible to be detected by separating the position with respect to the gamma-ray incident direction, it is possible to detect the position by separating the shed Itewa three-dimensional directions. As a result, the spatial resolution can be improved. Etc. Further to be detachable semi conductor radiation detector separately, also obtained another advantage that it is possible exchanges of semiconductor radiation detectors. Further, it is possible to very densely arranged semi conductor detection element, there is an effect that can result improved sensitivity.

以下、本発明の第1の実施の形態を、図1ないし図5の添付図面を参照して説明する。   Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings of FIGS.

(第の実施の形態)
図1中の符号1は、放射線検出素子を示し、この放射線検出素子1は、例えばCdTeからなる長方形の平板からなる5枚の半導体素子2(図2参照)と、半導体素子2の一方の面に例えば蒸着処理により薄膜状に形成されたカソード電極3(Pt等)と、半導体素子2の他方の面にも薄膜状に形成されたアノード電極4(In等)と、5枚の半導体素子2を外側から被覆する直方体状の弾性を有する絶縁体5(図2参照)とを含んで構成されている。
(First Embodiment)
Reference numeral 1 in FIG. 1 indicates a radiation detection element. The radiation detection element 1 includes, for example, five semiconductor elements 2 (see FIG. 2) made of a rectangular flat plate made of CdTe and one surface of the semiconductor element 2. Further, for example, a cathode electrode 3 (such as Pt) formed into a thin film by vapor deposition, an anode electrode 4 (such as In) formed into a thin film on the other surface of the semiconductor element 2, and five semiconductor elements 2 And a rectangular parallelepiped insulator 5 (see FIG. 2).

そして、図2に示すように、この半導体放射線素子1は、半導体素子2が5枚積み重ねて形成されている。また、カソード電極3には、それぞれ導電用のカソード側の薄板6が貼り付けられると共に、アノード電極4についても、導電用のアノード側の薄板7が貼り付けられている。そして、これら薄板6,7のうち、薄板6同士および薄板7同士は、それぞれ第1,第2の内部配線8,9を通じて接続されている。また、絶縁体5には、その幅方向両側に直方体状のブラケット5A,5Aが一体化され、このブラケット5Aには、その長さ方向に向けて、後記するカソードピン28及びアノードピン29が挿入されるピン挿入穴5Bが形成されている。さらに、一方のブラケット5Aの端面には第1の内部配線8と接続されるカソード端子10が外部に露出していると共に、他方のブラケット5Aの端面には第2の内部配線9が接続されるアノード端子11が外部に露出している。そして、半導体素子2、カソード電極3、アノード電極4、絶縁体5、薄板6,7、内部配線8,9、カソード端子10及びアノード端子11は、半導体放射線検出器12を構成している。なお、第一の内部配線8とカソード端子10、及び第二の内部配線9とアノード端子11の各々については、各々のピン挿入穴5Bの内壁を導電材料で形成し、薄板6及び7をその導電性内壁と接続させることで構造を簡略化することもできる。   As shown in FIG. 2, the semiconductor radiation element 1 is formed by stacking five semiconductor elements 2. In addition, a thin plate 6 on the cathode side for conduction is attached to the cathode electrode 3, and a thin plate 7 on the anode side for conduction is also attached to the anode electrode 4. Of these thin plates 6 and 7, the thin plates 6 and the thin plates 7 are connected to each other through first and second internal wirings 8 and 9, respectively. In addition, rectangular parallelepiped brackets 5A and 5A are integrated on both sides of the insulator 5 in the width direction, and cathode pins 28 and anode pins 29 described later are inserted into the bracket 5A in the length direction thereof. A pin insertion hole 5B is formed. Furthermore, the cathode terminal 10 connected to the first internal wiring 8 is exposed to the outside on the end face of one bracket 5A, and the second internal wiring 9 is connected to the end face of the other bracket 5A. The anode terminal 11 is exposed to the outside. The semiconductor element 2, the cathode electrode 3, the anode electrode 4, the insulator 5, the thin plates 6 and 7, the internal wirings 8 and 9, the cathode terminal 10, and the anode terminal 11 constitute a semiconductor radiation detector 12. For each of the first internal wiring 8 and the cathode terminal 10, and the second internal wiring 9 and the anode terminal 11, the inner wall of each pin insertion hole 5B is formed of a conductive material, and the thin plates 6 and 7 are The structure can be simplified by connecting with the conductive inner wall.

図4において、符号21は、本実施の形態に用いる配線基板で、この配線基板21内には、互いに平行に配置された第1のカソード配線22と、これら各カソード配線22に対して直交して延び、各カソード配線22を互いに連結した第2のカソード配線23と、図4中の上端側に位置するカソード配線22から右方に向けて延設された第3のカソード配線24とが埋設されている。これらカソード配線22、23、24は導通されており配線基板21外部から給電することにより全ての検出器のカソード電極3に同一の電位が与えられている。複数の半導体放射線検出器12、及びこれらの半導体放射線検出器12を設置した配線基板21は、検出器モジュール42を構成する。検出器モジュール42は複数のカソード配線及び複数のアノード配線も含んでいる。   In FIG. 4, reference numeral 21 denotes a wiring board used in the present embodiment. In the wiring board 21, first cathode wirings 22 arranged in parallel to each other and orthogonal to the respective cathode wirings 22. Embedded in the second cathode wiring 23 that connects the cathode wirings 22 to each other, and a third cathode wiring 24 that extends from the cathode wiring 22 located on the upper end side in FIG. Has been. These cathode wirings 22, 23, and 24 are conductive, and the same potential is applied to the cathode electrodes 3 of all detectors by supplying power from the outside of the wiring board 21. The plurality of semiconductor radiation detectors 12 and the wiring board 21 on which these semiconductor radiation detectors 12 are installed constitute a detector module 42. The detector module 42 also includes a plurality of cathode wires and a plurality of anode wires.

また、配線基板21内には、互いに平行に配置された第1のアノード配線25と、互いに平行に配置された第2のアノード配線26と、互いに平行に配置された第3のアノード配線27と、同じく互いに平行に配置された第4のアノード配線28とが埋設されている。   Further, in the wiring substrate 21, a first anode wiring 25 arranged in parallel with each other, a second anode wiring 26 arranged in parallel with each other, and a third anode wiring 27 arranged in parallel with each other, Similarly, a fourth anode wiring 28 arranged in parallel with each other is buried.

そして、図4及び図5に示すように、カソード配線22には配線基板21の一方の面と他方の面にそれぞれカソードピン29がほぼ等しい間隔をおいて立設されている。また、第1,第2,第3のアノード配線25,26,27の端部にも、配線基板21の一方の面と他方の面にそれぞれほぼ等しい間隔をおいてアノードピン30が立設されている。   As shown in FIGS. 4 and 5, cathode pins 29 are erected on the cathode wiring 22 on the one surface and the other surface of the wiring substrate 21 at substantially equal intervals. In addition, anode pins 30 are also provided upright at the ends of the first, second, and third anode wirings 25, 26, and 27 at substantially equal intervals on one surface and the other surface of the wiring board 21, respectively. ing.

そして、半導体放射線検出器12は、弾性を有する絶縁体5のピン挿入穴5B,5B内にカソードピン28及びアノードピン29が締代をもって図5中の矢示A方向に着脱可能に挿入されている。なお、カソードピン28及びアノードピン29を用いず、導電ペースト等を用いて配線基板21に半導体放射線検出器12を直接固着させても良い。この場合ピン挿入穴5Bの代わりに絶縁体5に例えばメッキ配線を施し、このメッキ配線終端をカソード端子10及びアノード端子11とする。このカソード端子10及びアノード端子11に導電ペースト等を塗布して配線基板21に固着すればよい。   In the semiconductor radiation detector 12, the cathode pin 28 and the anode pin 29 are detachably inserted into the pin insertion holes 5B and 5B of the elastic insulator 5 in the direction of arrow A in FIG. Yes. The semiconductor radiation detector 12 may be directly fixed to the wiring board 21 using a conductive paste or the like without using the cathode pin 28 and the anode pin 29. In this case, for example, plating wiring is applied to the insulator 5 instead of the pin insertion hole 5B, and the termination of the plating wiring is used as the cathode terminal 10 and the anode terminal 11. A conductive paste or the like may be applied to the cathode terminal 10 and the anode terminal 11 and fixed to the wiring substrate 21.

次に、このように構成される半導体放射線検出器12の動作について説明する。
まず、配線基板21外部より、カソード配線22、23、24を経て半導体素子2のカソード電極3に負の電圧を印加し、半導体素子2のカソード電極3とアノード電極4の間に逆バイアス電圧を形成させ、ガンマ線の計測が可能な状態とする。半導体素子2にガンマ線が入射すると、その半導体素子2に設置されたカソード電極3とアノード電極4との間に電荷が誘導され、誘導電荷量に対応する信号が薄板7、内部配線9、アノード端子11、アノードピン30を通じてアノード配線25,26,27、28から外部に出力される。
Next, the operation of the semiconductor radiation detector 12 configured as described above will be described.
First, a negative voltage is applied to the cathode electrode 3 of the semiconductor element 2 from the outside of the wiring board 21 through the cathode wirings 22, 23, and 24, and a reverse bias voltage is applied between the cathode electrode 3 and the anode electrode 4 of the semiconductor element 2. It is formed so that gamma rays can be measured. When gamma rays are incident on the semiconductor element 2, charges are induced between the cathode electrode 3 and the anode electrode 4 installed on the semiconductor element 2, and signals corresponding to the induced charge amount are the thin plate 7, the internal wiring 9, and the anode terminal. 11. Output from the anode wiring 25, 26, 27, 28 through the anode pin 30 to the outside.

本実施形態により、ガンマ線入射方向に対しても位置を分離して検出できることが可能であり、いては3次元方向に分離して位置を検出できる。また、絶縁体で被覆することにより製造時等において半導体放射線検出器の取扱が容易になり、放射線検出素子を物理的に保護可能である。 The present embodiment, it is possible to be detected by separating the position with respect to the gamma-ray incident direction, it is possible to detect the position by separating the shed Itewa three-dimensional directions. Further, by covering with an insulator, handling of the semiconductor radiation detector is facilitated during production and the like, and the radiation detection element can be physically protected.

さらに、半導体放射線検出器12をカソードピン29及びアノードピン30を用いる方法では、配線基板21に着脱可能に取り付ける構成としたので、任意の半導体放射線検出器12を交換でき、交換時の作業性等を高めることができる。   Further, in the method using the cathode pin 29 and the anode pin 30 in the method using the cathode pin 29 and the anode pin 30, the semiconductor radiation detector 12 can be exchanged, so that any semiconductor radiation detector 12 can be exchanged, workability at the time of exchange, etc. Can be increased.

さらに、半導体素子2全体を絶縁体5で被覆する構成としたので、半導体放射線検出器12に対する防湿効果と、遮光の効果を得ることができる。   Further, since the entire semiconductor element 2 is covered with the insulator 5, it is possible to obtain a moisture-proof effect and a light-shielding effect on the semiconductor radiation detector 12.

(第2の実施の形態)
次に、本発明の第2の実施の形態を図6及び図7の添付図面を参照して説明する。図6において、複数の半導体放射線検出器31は、FPC(Flexible printed circuit)と呼ばれる可撓性を有する薄型配線基板32と、薄型配線基板32の両面に設置された半導体素子33と、半導体素子33の片方の面に例えば蒸着処理により薄膜状に形成されたカソード電極34と、半導体素子33のもう片方の面に形成されたアノード電極35とを含んで構成される。
(Second Embodiment)
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to the attached drawings of FIGS. 6, a plurality of semiconductor radiation detectors 31 includes a thin wiring board 32 having flexibility called FPC (Flexible printed c i rcuit) , a semiconductor element 33 disposed on both sides of the thin wiring substrate 32, a semiconductor The cathode 33 is formed on one surface of the element 33 by, for example, vapor deposition, and the anode electrode 35 is formed on the other surface of the semiconductor element 33.

この半導体素子33は、ガンマ線の進行方向に対して小さな間隙を介して4個並んで配置されると共に、ガンマ線の進行方向と直交する方向に対しても小さな間隙を介して4個並んで配置されている。そして、半導体放射線検出器31は、厚肉配線基板(FR−4等)36の両面に固着して取り付けられている。厚肉配線基板36の両面に複数の半導体放射線検出器31が設置されて構成が、検出器モジュール43である。なお、半導体素子33は同一平面上に一枚の結晶を用い、電極のみを分割して形成して構成しても良い。   Four semiconductor elements 33 are arranged side by side with a small gap with respect to the traveling direction of the gamma rays, and are arranged side by side with a small gap with respect to the direction orthogonal to the traveling direction of the gamma rays. ing. The semiconductor radiation detector 31 is fixedly attached to both surfaces of a thick wiring board (FR-4, etc.) 36. The detector module 43 is configured by installing a plurality of semiconductor radiation detectors 31 on both surfaces of the thick wiring board 36. The semiconductor element 33 may be formed by using a single crystal on the same plane and dividing only the electrode.

また、対向するアノード電極35,35の間に配置される薄型配線基板32には、図7に示すように各半導体素子33のアノード電極35と対応した位置まで延びて各アノード電極35とそれぞれ接続される4本の信号線38,39,40,41が埋設されている。一方、対向するカソード電極34,34の間に配置される薄型配線基板32には、カソード電極34に、全てのカソードに共通の電圧を印加する給電線(図示せず)が埋設され、この信号線は、ガンマ線の入射方向に沿って配置された複数の半導体素子33のカソード電極34に接続されている。   Further, the thin wiring substrate 32 disposed between the opposing anode electrodes 35 and 35 extends to a position corresponding to the anode electrode 35 of each semiconductor element 33 and is connected to each anode electrode 35 as shown in FIG. Four signal lines 38, 39, 40, and 41 are embedded. On the other hand, in the thin wiring board 32 disposed between the facing cathode electrodes 34, 34, a power supply line (not shown) for applying a common voltage to all the cathodes is embedded in the cathode electrode 34. The line is connected to cathode electrodes 34 of a plurality of semiconductor elements 33 arranged along the incident direction of gamma rays.

そして、カソード電極34に接続される上記給電線は厚肉配線基板36のカソード配線に接続される(図示せず)と共に、各信号線38,39,40,41は厚肉配線基板36の各アノード配線(図示せず)にそれぞれ接続されている。
なお、上記厚肉配線基板36を薄型配線基板32に置き換えても良い。
The power supply line connected to the cathode electrode 34 is connected to the cathode wiring of the thick wiring board 36 (not shown), and the signal lines 38, 39, 40, and 41 are connected to the thick wiring board 36, respectively. Each is connected to an anode wiring (not shown).
The thick wiring board 36 may be replaced with a thin wiring board 32.

このように構成される本実施の形態でも、第1の実施例同様3次元方向に位置を分離してガンマ線を検出することができる。さらに、複数の半導体素子31の間の間隔を縮小でき、感度を高めることができる。   Also in the present embodiment configured as described above, gamma rays can be detected by separating the positions in the three-dimensional direction as in the first embodiment. Further, the interval between the plurality of semiconductor elements 31 can be reduced, and the sensitivity can be increased.

(第3の実施の形態)
次に、本発明の第3の実施の形態を図8の添付図面を参照して説明する。
なお、本実施の形態では、前記第1の実施の形態と同一の構成要素に同一の符号を付し、その説明を省略するものとする。
(Third embodiment)
Next, a third embodiment of the present invention will be described with reference to the attached drawing of FIG.
In the present embodiment, the same components as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted.

図8に示すように、放射線撮像装置であるPET−X線CT検査装置100は、X線CT検査装置101と、PET検査装置102とが並んで配設されている。また、PET−X線CT検査装置100は、ベッド支持部103と、ベッド支持部103上に設けられた可動ベッド104とを有している。そして、X線CT検査装置101は、開口部分105Aを有するX線CT用ガントリ105と、X線CT用ガントリ105内に回転可能に取り付けられた回転部分106と、回転部分106に設けられたX線発生器107と、回転部分106に設けられたシンチレータ検出器である放射線検出器108とを備えている。そして、このX線CT検査装置101は、X線発生器107からX線が放出され、被検体Pを透過したX線を信号処理部(図示せず)で計測することにより、被検体P内の形態画像を得る。   As shown in FIG. 8, a PET-X-ray CT inspection apparatus 100 that is a radiation imaging apparatus includes an X-ray CT inspection apparatus 101 and a PET inspection apparatus 102 arranged side by side. In addition, the PET-X-ray CT inspection apparatus 100 includes a bed support unit 103 and a movable bed 104 provided on the bed support unit 103. The X-ray CT inspection apparatus 101 includes an X-ray CT gantry 105 having an opening portion 105 </ b> A, a rotating portion 106 that is rotatably mounted in the X-ray CT gantry 105, and an X provided in the rotating portion 106. A line generator 107 and a radiation detector 108 which is a scintillator detector provided in the rotating portion 106 are provided. The X-ray CT examination apparatus 101 emits X-rays from the X-ray generator 107 and measures the X-rays that have passed through the subject P by a signal processing unit (not shown). A morphological image is obtained.

また、PET検査装置102は、開口部110Aを有するPET用ガントリ110を有し、PET用ガントリ110は周方向及び軸方向に複数の検出器モジュール42を配置している。このため、放射線検出器12もPET用ガントリ110の周方向及び軸方向に複数個並んで配置される。そして、PET検査装置102は、陽電子を核崩壊で放出する放射性核種を薬剤に標識して被検体P内に投与し、被検体P内で陽電子と電子が対消滅した際に放出される511keVのエネルギーを有した一対のガンマ線を捕らえて映像化し、機能画像を得る放射線撮像装置である。 The PET inspection apparatus 102 includes a PET gantry 110 having an opening 110A, and the PET gantry 110 has a plurality of detector modules 42 arranged in the circumferential direction and the axial direction. For this reason, a plurality of radiation detectors 12 are also arranged side by side in the circumferential direction and the axial direction of the PET gantry 110. Then, the PET inspection apparatus 102 labels a radionuclide that releases positrons by nuclear decay, administers the drug into the subject P, and releases 511 keV which is released when the pair of positrons and electrons annihilate in the subject P. It is a radiation imaging apparatus that captures a pair of gamma rays having energy and visualizes them to obtain a functional image.

このように構成される本実施の形態では、半導体放射線検出器12を従来技術で述べたように配線基板21の両面に稠密に設置できるため、検出器モジュール42において配線基板21の単位長さあたりの半導体放射線検出器12の密度を増大でき、検出感度を高めることができ、PET−X線CT検査装置100の性能、信頼性を高めることができる。
PET検査装置102は、検出器モジュール42の替りに図6に示す検出器モジュール43を検出器モジュール42と同様にPET用ガントリ110に設置してもよい。
In the present embodiment configured as described above, the semiconductor radiation detectors 12 can be densely installed on both surfaces of the wiring board 21 as described in the prior art, so that the detector module 42 has a unit length per unit length of the wiring board 21. The density of the semiconductor radiation detector 12 can be increased, the detection sensitivity can be increased, and the performance and reliability of the PET-X-ray CT inspection apparatus 100 can be improved.
The PET inspection apparatus 102 may install the detector module 43 shown in FIG. 6 in the PET gantry 110 in the same manner as the detector module 42 instead of the detector module 42.

なお、前記第1の実施の形態では、図5に示すように、カソード端子10とアノード端子11の両方の端子を直方体からなる絶縁体5の一方の面に露出させると共に、カソードピン29及びアノードピン30を用いて半導体放射線検出器12を配線基板21の両面に固定する構成とした場合を例に挙げて説明した。   In the first embodiment, as shown in FIG. 5, both the cathode terminal 10 and the anode terminal 11 are exposed on one surface of the insulator 5 made of a rectangular parallelepiped, and the cathode pin 29 and the anode are exposed. The case where the semiconductor radiation detector 12 is fixed to both surfaces of the wiring substrate 21 using the pins 30 has been described as an example.

しかし、本発明はこれに限ることなく、例えば図9に示す第1の変形例のように、カソードピン51を半導体放射線検出器50の絶縁体54の一方の面から挿入し、アノードピン55を半導体放射線検出器50の絶縁体54の他方の面から挿入する構成としてもよい。なお、カソードピン51は配線基板21Aに埋設されたカソード配線22に接続され、アノードピン55は配線基板21Bに埋設されたアノード配線25に接続される。   However, the present invention is not limited to this. For example, as in the first modification shown in FIG. 9, the cathode pin 51 is inserted from one surface of the insulator 54 of the semiconductor radiation detector 50, and the anode pin 55 is inserted. It is good also as a structure inserted from the other surface of the insulator 54 of the semiconductor radiation detector 50. FIG. The cathode pin 51 is connected to the cathode wiring 22 embedded in the wiring substrate 21A, and the anode pin 55 is connected to the anode wiring 25 embedded in the wiring substrate 21B.

また、例えば図10に示す第2の変形例のように、半導体放射線検出器50Aを配線基板21に対して垂直に配置すると共に、配線基板21に立設したカソードピン51とアノードピン55をそれぞれ半導体放射線検出器50Aの内部に挿入する構成としてもよい。   Further, for example, as in the second modification shown in FIG. 10, the semiconductor radiation detector 50 </ b> A is arranged perpendicular to the wiring board 21, and the cathode pin 51 and the anode pin 55 erected on the wiring board 21 are respectively provided. It is good also as a structure inserted in the semiconductor radiation detector 50A inside.

また、例えば図11に示す第3の変形例の半導体放射線検出器50Bは、複数の放射線検出素子1を互い違いに配置し、これら放射線検出素子1のうち、一方の方向に突出した放射線検出素子1のアノード電極に内部配線62を接続する。また、それらの放射線検出素子1のうち、他方の方向に突出した放射線検出素子1のカソード電極に内部配線61を接続する。これら内部配線61,62にカソードピン51及びアノードピン55を接続する。   Further, for example, a semiconductor radiation detector 50B of the third modification shown in FIG. 11 has a plurality of radiation detection elements 1 arranged alternately, and the radiation detection elements 1 projecting in one direction among these radiation detection elements 1. The internal wiring 62 is connected to the anode electrode. Moreover, the internal wiring 61 is connected to the cathode electrode of the radiation detection element 1 which protruded in the other direction among those radiation detection elements 1. A cathode pin 51 and an anode pin 55 are connected to these internal wirings 61 and 62.

さらに、前記第1の実施の形態では、複数の半導体放射線検出器12を間隙を介して別個独立に配線基板21に装着する構成とした場合を例に挙げて説明したが、本発明はこれに限ることなく、例えば、図12に示す第4の変形例のように、隣り合う半導体放射線検出器70の絶縁体71同士を一体化する構成としてもよい。   Furthermore, in the first embodiment, the case where a plurality of semiconductor radiation detectors 12 are separately mounted on the wiring board 21 via a gap has been described as an example. However, the present invention is not limited to this. Without limitation, for example, as in the fourth modification shown in FIG. 12, the insulators 71 of the adjacent semiconductor radiation detectors 70 may be integrated.

さらに、前記第1の実施の形態では、半導体放射線検出器1全体を絶縁体5で被覆する構成とした場合を例に挙げて説明したが、本発明はこれに限ることなく、例えば図13及び図14に示す第5の変形例のように、半導体放射線検出器80に部分的にピン挿入穴81A,82Aを有する絶縁体81,82を設け、この絶縁体81のピン挿入穴81A,82A内にそれぞれカソードソケット(例えば中空の金属パイプ)83及びアノードソケット84を設け、カソードソケット83にカソードピン85をアノードソケット84にアノードピン86を挿入する。   Furthermore, in the first embodiment, the case where the entire semiconductor radiation detector 1 is configured to be covered with the insulator 5 has been described as an example. However, the present invention is not limited to this, for example, FIG. As in the fifth modification shown in FIG. 14, the semiconductor radiation detector 80 is provided with insulators 81 and 82 partially having pin insertion holes 81A and 82A, and inside the pin insertion holes 81A and 82A of the insulator 81. Are provided with a cathode socket (for example, a hollow metal pipe) 83 and an anode socket 84, and a cathode pin 85 is inserted into the cathode socket 83 and an anode pin 86 is inserted into the anode socket 84.

この場合、例えば図15に示す第6の変形例のように、隣接する2個の半導体放射線検出器90,90にそれぞれ部分的に絶縁体91,92を設けると共に、共通の絶縁板93を介して、2個の半導体放射線検出器90,90同士を絶縁状態に保つ構成としてもよい。   In this case, for example, as in the sixth modified example shown in FIG. 15, two adjacent semiconductor radiation detectors 90 and 90 are partially provided with insulators 91 and 92, respectively, and a common insulating plate 93 is interposed therebetween. The two semiconductor radiation detectors 90, 90 may be kept in an insulated state.

また、例えば図16に示す第7の変形例のように、隣接する2個の半導体放射線検出器90に取り付けられる共通の絶縁体94の一端側にカソード側のピン挿入穴94Aを設け、絶縁体94の他端側にはアノード側のピン挿入穴94B,94Bを設ける構成としてもよい。   For example, as in the seventh modification shown in FIG. 16, a cathode-side pin insertion hole 94A is provided on one end side of a common insulator 94 attached to two adjacent semiconductor radiation detectors 90, and the insulator The other end side of 94 may be provided with anode side pin insertion holes 94B, 94B.

さらに、第1の実施の形態では、カソードピン28及びアノードピン29をピン挿入穴5Bの穴径よりも僅かに大きく弾性力を利用してこのピン挿入穴5B内に挿入する場合を例に挙げて説明したが、本発明はこれに限ることなく、例えば図17に示す第8の変形例のように、ピン挿入穴5B′内に半球状の弾性体95,95を取り付け、カソードピン28又はアノードピン29を弾性体95,95により両側から挟み込んだ状態でピン挿入穴5B′内に挿入してもよい。
なお、以上の変形例についても、着脱性が必須でなければ、先述のようにカソードピン及びアノードピンを用いず、導電ペースト等を用いて配線基板に半導体放射線検出器を直接固着させても良い。この場合ピン挿入穴の代わりに絶縁体5に例えばメッキ配線を施し、このメッキ配線終端をカソード端子10及びアノード端子11とする。このカソード端子10及びアノード端子11に導電ペースト等を塗布して配線基板21に固着すればよい。
また、第1の実施例では半導体放射線検出器のアノード及びカソードの出力端を半導体素子の対角線位置に配置して表記しているが、これに限らず半導体検出素子の同一の辺上に配置しても良く、この場合配線基板については、その出力端位置に対応した配線パターンとすればよい。
Furthermore, in the first embodiment, a case where the cathode pin 28 and the anode pin 29 are inserted into the pin insertion hole 5B using an elastic force slightly larger than the hole diameter of the pin insertion hole 5B is taken as an example. However, the present invention is not limited to this. For example, as in the eighth modification shown in FIG. 17, hemispherical elastic bodies 95 and 95 are attached in the pin insertion hole 5B ′, and the cathode pin 28 or The anode pin 29 may be inserted into the pin insertion hole 5B ′ while being sandwiched between the elastic bodies 95 and 95 from both sides.
In addition, also in the above modification, if the detachability is not essential, the semiconductor radiation detector may be directly fixed to the wiring board using a conductive paste or the like without using the cathode pin and the anode pin as described above. . In this case, for example, plated wiring is applied to the insulator 5 instead of the pin insertion hole, and the terminal ends of the plated wiring are defined as a cathode terminal 10 and an anode terminal 11. A conductive paste or the like may be applied to the cathode terminal 10 and the anode terminal 11 and fixed to the wiring substrate 21.
In the first embodiment, the anode and cathode output ends of the semiconductor radiation detector are arranged at diagonal positions of the semiconductor element. However, the present invention is not limited to this and is arranged on the same side of the semiconductor detector element. In this case, the wiring board may have a wiring pattern corresponding to the output end position.

本発明の第1の実施の形態に係る半導体放射線検出器に用いられる半導体放射線検出素子の斜視図である。It is a perspective view of the semiconductor radiation detection element used for the semiconductor radiation detector which concerns on the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施の形態に係る半導体放射線検出器を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the semiconductor radiation detector which concerns on the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施の形態に係る半導体放射線検出器の平面図である。1 is a plan view of a semiconductor radiation detector according to a first embodiment of the present invention. 本発明の第1の実施の形態に係る半導体放射線検出器を用いた検出器モジュールの平面図である。It is a top view of the detector module using the semiconductor radiation detector which concerns on the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施の形態に係る半導体検出器を用いた検出器モジュールの組立図である。It is an assembly drawing of the detector module using the semiconductor detector which concerns on the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施の形態に係る半導体検出器を用いた検出器モジュールの斜視図である。It is a perspective view of the detector module using the semiconductor detector which concerns on the 2nd Embodiment of this invention. 図6中の半導体放射線検出器を示す分解斜視図である。It is a disassembled perspective view which shows the semiconductor radiation detector in FIG. 本発明の第3の実施の形態に係る図4の検出器モジュールを適用したPET検査装置を有するPET−X線CT検査装置の縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view of a PET-X-ray CT inspection apparatus having a PET inspection apparatus to which the detector module of FIG. 4 according to a third embodiment of the present invention is applied. 本発明の第1の変形例に係る半導体放射線検出器を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the semiconductor radiation detector which concerns on the 1st modification of this invention. 本発明の第2の変形例に係る半導体放射線検出器を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the semiconductor radiation detector which concerns on the 2nd modification of this invention. 本発明の第3の変形例に係る半導体放射線検出器を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the semiconductor radiation detector which concerns on the 3rd modification of this invention. 本発明の第4の変形例に係る半導体放射線検出器を示す平面図である。It is a top view which shows the semiconductor radiation detector which concerns on the 4th modification of this invention. 本発明の第5の変形例に係る半導体放射線検出器を示す平面図である。It is a top view which shows the semiconductor radiation detector which concerns on the 5th modification of this invention. 本発明の第5の変形例に係る半導体放射線検出器を示す組立図である。It is an assembly drawing which shows the semiconductor radiation detector which concerns on the 5th modification of this invention. 本発明の第6の変形例に係る半導体放射線検出器を示す平面図である。It is a top view which shows the semiconductor radiation detector which concerns on the 6th modification of this invention. 本発明の第7の変形例に係る半導体放射線検出器を示す平面図であるIt is a top view which shows the semiconductor radiation detector which concerns on the 7th modification of this invention. 本発明の第8の変形例に係るピン挿入穴、弾性体等を示す分解図である。It is an exploded view which shows the pin insertion hole, elastic body, etc. which concern on the 8th modification of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1 半導体検出素子
12,31,50,50′,70,80,90 半導体放射線検出器
2,33,60 半導体素子
3,34 カソード電極
4,35 アノード電極
5,54,71,81,82,91,92,93,94 絶縁体
8,61 第1の内部配線
9,62 第2の内部配線
12 半導体検出器ユニット
21,56 配線基板
28,51、83 カソードピン
29,55、84 アノードピン
32 薄型配線基板
38,39,40,41 信号線
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Semiconductor detection element 12, 31, 50, 50 ', 70, 80, 90 Semiconductor radiation detector 2, 33, 60 Semiconductor element 3,34 Cathode electrode 4,35 Anode electrode 5,54,71,81,82,91 , 92, 93, 94 Insulator 8, 61 First internal wiring 9, 62 Second internal wiring 12 Semiconductor detector unit 21, 56 Wiring board 28, 51, 83 Cathode pin 29, 55, 84 Anode pin 32 Thin Wiring board 38, 39, 40, 41 Signal line

Claims (13)

半導体素子の一方の面にカソード電極及び、もう一方の面にアノード電極を有する半導体検出素子を複数に並列配置し、これら複数の前記半導体検出素子の少なくとも一部を外側から被覆する絶縁体を備えた複数の半導体放射線検出器と、
前記カソード電極に前記カソードピンを介して接続され、前記アノード電極にアノードピンを介して接続される配線基板とを有し、
前記配線基板の一面に設置された前記半導体放射線検出器は、前記配線基板の他面に設置された他の前記半導体放射線検出器と、前記配線基板を挟んで対向して設置されることを特徴とする検出器モジュール
A semiconductor element having a cathode electrode on one side of the semiconductor element and a plurality of semiconductor detection elements having an anode electrode on the other side is provided in parallel, and an insulator is provided that covers at least a part of the plurality of semiconductor detection elements from the outside. A plurality of semiconductor radiation detectors ,
A wiring board connected to the cathode electrode via the cathode pin and connected to the anode electrode via an anode pin;
The semiconductor radiation detector installed on one side of the wiring board is placed opposite to the other semiconductor radiation detectors installed on the other side of the wiring board with the wiring board in between. Detector module .
互いに隣接する前記半導体検出素子の前記カソード電極同士が向かい合うように、前記半導体検出素子を複数に並列配置したことを特徴とする請求項1に記載の検出器モジュールWherein as cathode electrodes each other face, inspection can module according to claim 1, characterized in that arranged in parallel to said semiconductor detecting element in each of a plurality of the semiconductor detector elements adjacent to each other. 互いに隣接する前記半導体検出素子の前記アノード電極同士が向かい合うように、前記半導体検出素子を複数に並列配置したことを特徴とする請求項1に記載の検出器モジュール Wherein as anode electrode with each other face, inspection can module according to claim 1, characterized in that arranged in parallel to said semiconductor detecting element in each of a plurality of the semiconductor detector elements adjacent to each other. 前記半導体放射線検出器は、前記カソードピン及び前記アノードピンにより前記配線基板を挟んで対向した状態で一体化することを特徴とする請求項に記載の検出器モジュールThe semiconductor radiation detector, detection can module according to claim 1, characterized in that integrated with the cathode pins and the front Symbol anode pin so as to face each other across the wiring board. 前記各電極は互いに平行方向にずらして配置することにより突出部分を形成し、この突出部分の電極に該当する内部配線を接続したことを特徴とする請求項1ないし請求項5のいずれか1項に記載の検出器モジュール6. The method according to claim 1, wherein each of the electrodes is arranged so as to be shifted in a parallel direction to form a protruding portion, and an internal wiring corresponding to the electrode of the protruding portion is connected. biopsy can module according to. 半導体素子の一方の面にカソード電極及び、もう一方の面にアノード電極を有する半導体検出素子を複数に並列配置し、これら複数の前記半導体検出素子の少なくとも一部を外側から被覆する絶縁体を備え、前記絶縁体の内部または表面に位置して前記各カソード電極にそれぞれ接続される第1の内部配線と、前記絶縁体の内部または表面に位置して前記各アノード電極にそれぞれ接続される第2の内部配線とを備えた半導体放射線検出器
第1の内部配線とカソードピンを介して接続され、前記第2の内部配線とアノードピンを介して接続される配線基板とを有し、
前記配線基板の一面に設置された前記半導体放射線検出器は、前記配線基板の他面に設置された他の前記半導体放射線検出器と、前記配線基板を挟んで対向して設置されることを特徴とする検出器モジュール
A semiconductor element having a cathode electrode on one side of the semiconductor element and a plurality of semiconductor detection elements having an anode electrode on the other side is provided in parallel, and an insulator is provided that covers at least a part of the plurality of semiconductor detection elements from the outside. A first internal wiring located inside or on the surface of the insulator and connected to each cathode electrode; and a second internal wiring located inside or on the surface of the insulator and connected to each anode electrode. a semi-conductor radiation detector and an internal wiring,
A wiring board connected to the first internal wiring via the cathode pin and connected to the second internal wiring via the anode pin;
The semiconductor radiation detector installed on one side of the wiring board is placed opposite to the other semiconductor radiation detectors installed on the other side of the wiring board with the wiring board in between. Detector module .
前記半導体放射線検出器は、前記ピンにより前記配線基板を挟んで対向した状態で一体化することを特徴とする請求項に記載の検出器モジュールThe semiconductor radiation detector, detection can module according to claim 6, characterized in that integrated so as to face each other across the wiring board by the pin. 前記半導体放射線検出器は、導電性を有する接着剤を用いて配線基板に固着させて設置したことを特徴とする請求項7に記載の検出器モジュール The semiconductor radiation detector, detection can module according to claim 7 with an adhesive was affixed to the wiring board characterized by being installed having conductivity. 前記半導体放射線検出器は、前記導電性を有する接着剤により前記配線板を挟んで対向した状態で一体化することを特徴とする請求項に記載の検出器モジュール。 The semiconductor radiation detector, detection can module according to claim 8, characterized in that integrated so as to face each other across the circuit board by an adhesive having the conductive. 請求項1ないし請求項のいずれか一項に記載の検出器モジュールを含むことを特徴とする放射線撮像装置。 Radiation imaging apparatus which comprises a detection can module according to any one of claims 1 to 9. 請求項1ないし請求項のいずれか一項に記載の検出器モジュールを含むポジトロンエミッショントモグラフィ装置。 Positron emission tomography apparatus comprising detection can module according to any one of claims 1 to 9. 請求項11に記載のポジトロンエミッショントモグラフィ装置と、X線CT装置と、前記ポジトロンエミッショントモグラフィ装置及び前記X線CT装置で共用するベッドとを備え、前記ポジトロンエミッショントモグラフィ装置及び前記X線CT装置は前記ベッドの移動方向に配置されたことを特徴とする放射線撮像装置。 12. A positron emission tomography apparatus according to claim 11 , an X-ray CT apparatus, a bed shared by the positron emission tomography apparatus and the X-ray CT apparatus, and the positron emission tomography apparatus and the X-ray CT. A radiation imaging apparatus, wherein the apparatus is arranged in a moving direction of the bed. 前記カソードピンと前記アノードピンとは、前記半導体放射線検出器の対角線上の位置に配置されることを特徴とする請求項1に記載の検出器モジュール。  The detector module according to claim 1, wherein the cathode pin and the anode pin are disposed at diagonal positions of the semiconductor radiation detector.
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