JP2008171139A - Storage system test apparatus and test method - Google Patents
Storage system test apparatus and test method Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008171139A JP2008171139A JP2007002684A JP2007002684A JP2008171139A JP 2008171139 A JP2008171139 A JP 2008171139A JP 2007002684 A JP2007002684 A JP 2007002684A JP 2007002684 A JP2007002684 A JP 2007002684A JP 2008171139 A JP2008171139 A JP 2008171139A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- disk array
- storage system
- magnetic disk
- connection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 62
- 238000010998 test method Methods 0.000 title claims abstract description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 5
- 239000000835 fiber Substances 0.000 abstract description 14
- 238000003491 array Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 2
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 2
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
Images
Abstract
【課題】所定の磁気ディスク装置を接続したストレージシステムに対する試験装置及び同試験方法の提供。
【解決手段】複数の磁気ディスク装置HDD001他をファイバチャルネル接続したディスクアレイの試験を行う試験プログラム1と、該試験プログラム1と接続され、ディスクアレイと所定時間以上交信が不能のときに接続状態を初期化して再接続を行うLIPコマンドを発行するホストバスアダプタ7〜10と、該アダプタ7〜10とストレージシステム201のディスクアレイとの接続をオンオフするスイッチ手段とを備え、試験プログラム1が、接続された磁気ディスク装置の台数を認識する認識機能と、該認識機能により認識した台数が所定の台数でないときにスイッチ手段によりディスクアレイとの接続を切断後に再接続を行う再接続機能と、該再接続の後に任意の時間経過後に試験を行う試験機能を実行するもの。
【選択図】図1A test apparatus and a test method for a storage system to which a predetermined magnetic disk device is connected are provided.
A test program for testing a disk array in which a plurality of magnetic disk devices HDD001 and others are fiber channel connected, and a connection state when the test program is connected to the disk array and communication with the disk array is impossible for a predetermined time or more. The host bus adapters 7 to 10 for issuing LIP commands for initializing and reconnecting, and switch means for turning on and off the connection between the adapters 7 to 10 and the disk array of the storage system 201. A recognition function for recognizing the number of connected magnetic disk devices, a reconnection function for reconnecting after disconnecting the disk array by the switch means when the number recognized by the recognition function is not a predetermined number, A test function that performs a test after an arbitrary time has elapsed after reconnection.
[Selection] Figure 1
Description
本発明は、複数の磁気ディスク装置を搭載したストレージシステムの試験装置及び同試験方法に係り、特に複数の磁気ディスク装置をファイバチャネルを介して接続するストレージシステムの試験装置及び同試験方法に関する。 The present invention relates to a storage system test apparatus and a test method for mounting a plurality of magnetic disk devices, and more particularly to a storage system test apparatus and a test method for connecting a plurality of magnetic disk devices via a fiber channel.
近年の業務用コンピュータシステムは、処理速度の向上及び記憶容量の増大化の傾向にあり、外部記憶装置として複数の磁気ディスク装置から成るディスクアレイを含むストレージシステムを接続する構成が採用されている。 2. Description of the Related Art Business computer systems in recent years tend to improve processing speed and storage capacity, and employ a configuration in which a storage system including a disk array composed of a plurality of magnetic disk devices is connected as an external storage device.
前記ストレージシステムは、例えば32台の磁気ディスク装置(HDD)をRAID接続して1つのディスクアレイを構成し、このディスクアレイを複数搭載することによって、例えばテラバイト又はピコバイトレベルの外部記憶装置を構成している。またデータ転送の高速化のために内部及び外部のインターフェースとして光ファイバを使用したファイバチャネルを採用している。尚、ディスクアレイとは、複数の磁気ディスク装置を論理的に1つに束ねて上位装置から見て1台の装置に見えるようにしたものを言う。 In the storage system, for example, 32 magnetic disk devices (HDDs) are RAID-connected to form one disk array, and by mounting a plurality of these disk arrays, for example, a terabyte or picobyte level external storage device is configured. is doing. In addition, a fiber channel using an optical fiber is adopted as an internal and external interface for speeding up data transfer. The disk array is a disk array in which a plurality of magnetic disk devices are logically bundled so as to be seen as one device when viewed from a host device.
このように多数の磁気ディスク装置を接続したストレージシステムは、製造時において試験プログラムがインストールされた試験用コンピュータに接続され、この試験用コンピュータの試験プログラムによって接続した複数の磁気ディスク装置に対する試験が行われる。 A storage system in which a large number of magnetic disk devices are connected in this manner is connected to a test computer installed with a test program at the time of manufacture, and tests are performed on a plurality of magnetic disk devices connected by the test program of the test computer. Is called.
尚、前記多数の磁気ディスク装置を搭載したストレージシステムの試験装置に関する技術が記載された文献としては、下記特許文献が挙げられる。
前述した多数の磁気ディスク装置を接続したストレージシステムをファイバチャネル接続する試験用コンピュータは、LINUX(登録商標)又はWindows(登録商標)等のOS(オペレーティングシステム)上で動作する試験プログラムにより、複数の磁気ディスク装置に対する信号の入出力や起動から終了までの各種試験項目をダイレクトに制御し、前記複数の磁気ディスク装置はFC−AL(Fibre Channel Arbitrated Loop)と呼ばれるファイバチャネル接続仕様を拡張したシリアルインターフェース規格により接続されている。 A test computer for fiber channel connection of a storage system to which a large number of magnetic disk devices are connected as described above has a plurality of test programs running on an OS (operating system) such as LINUX (registered trademark) or Windows (registered trademark). A serial interface that directly controls various test items from input / output of signals to the magnetic disk device and from start to finish, and the plurality of magnetic disk devices expands a fiber channel connection specification called FC-AL (Fibre Channel Arbitrated Loop) Connected according to the standard.
この試験装置は、試験用コンピュータがストレージシステムの起動停止等を繰り返すものであるが、ストレージシステムが多数の磁気ディスク装置を接続するために、再起動のタイミングによっては全ての磁気ディスク装置との接続が確立できずにシステムが立ち上がり、ストレージシステムの正確な試験を行うことができないと言う不具合があった。 In this test device, the test computer repeatedly starts and stops the storage system, etc., but since the storage system connects many magnetic disk devices, depending on the restart timing, it can be connected to all magnetic disk devices. The system started up without being able to be established, and there was a problem that the storage system could not be accurately tested.
本発明の目的は、前述の不具合を招くことなく、多数の磁気ディスク装置の接続を容易に確立して試験を行うことができるストレージシステムの試験装置及び同試験方法を提供することである。 An object of the present invention is to provide a storage system test apparatus and a test method capable of easily establishing and testing a connection of a large number of magnetic disk devices without causing the above-mentioned problems.
前記目的を達成するために本発明は、複数の磁気ディスク装置を接続したディスクアレイの試験を行う試験手段と、該試験手段と前記ディスクアレイとを接続する接続手段と、該接続手段と前記ディスクアレイとの接続をオンオフするスイッチ手段とを備えるストレージシステムの試験装置であって、前記接続手段及びスイッチ手段を介して接続したディスクアレイに含まれる磁気ディスク装置の台数を認識し、該認識した台数が所定の台数でないときに前記スイッチ手段を用いて接続手段とディスクアレイとの接続を切断した後に再接続し、前記スイッチ手段によるディスクアレイとの切断によって前記接続手段がディスクアレイとの接続状態を初期化してディスクアレイと再接続したとき、該再接続してから任意の時間経過後に試験手段を用いて試験を行うことを第1の特徴とする。 To achieve the above object, the present invention provides a test means for testing a disk array to which a plurality of magnetic disk devices are connected, a connection means for connecting the test means and the disk array, and the connection means and the disk. A storage system test apparatus comprising switch means for turning on / off connection with an array, the number of magnetic disk devices included in the disk array connected via the connection means and the switch means being recognized, When the connection means is disconnected from the disk array by using the switch means, the connection means is connected to the disk array by disconnecting the disk array by the switch means. When initializing and reconnecting to the disk array, the test means after an arbitrary time has elapsed since the reconnection The first feature to be tested using.
更に本発明は、複数の磁気ディスク装置を接続したディスクアレイの試験を行う試験手段と、該試験手段と前記ディスクアレイとを接続する接続手段と、該接続手段と前記ディスクアレイとの接続をオンオフするスイッチ手段と、前記手段を制御する制御手段とを備えるストレージシステムの試験方法であって、前記制御手段が、前記接続手段及びスイッチ手段を介して接続したディスクアレイに含まれる磁気ディスク装置の台数を認識する工程と、該認識した台数が所定の台数でないときに前記スイッチ手段を用いて接続手段とディスクアレイとの接続を切断した後に再接続する工程と、前記スイッチ手段によるディスクアレイとの切断によって前記接続手段がディスクアレイとの接続状態を初期化してディスクアレイと再接続したとき、該再接続してから任意の時間経過後に試験手段を用いて試験を行う工程とを実行することを第2の特徴とする。 Furthermore, the present invention provides a test means for testing a disk array connected to a plurality of magnetic disk devices, a connection means for connecting the test means and the disk array, and an on / off connection between the connection means and the disk array. A storage system test method comprising: switching means for performing control; and control means for controlling the means, wherein the number of magnetic disk devices included in the disk array connected by the control means via the connection means and the switching means The step of recognizing the disk array, the step of reconnecting after disconnecting the connection means and the disk array using the switch means when the recognized number is not a predetermined number, and disconnecting the disk array by the switch means When the connection means initializes the connection state with the disk array and reconnects with the disk array, To perform and performing tests using the test means after arbitrary time Reconnect the second feature.
本発明によるストレージシステムの試験装置及び同試験方法は、接続された磁気ディスク装置の台数が所定の台数か否かを判定し、所定の台数でない場合、スイッチ手段によりデイスクアレイと接続手段との接続を一時的に切断後に再接続した後に試験を行うように動作することにより、全ての磁気ディスク装置を接続した状態のストレージシステムの試験を行うことができる。 The storage system test apparatus and the test method according to the present invention determine whether or not the number of connected magnetic disk devices is a predetermined number. If the number is not the predetermined number, the switch means connects the disk array and the connection means. The storage system in a state where all the magnetic disk devices are connected can be tested by operating so that the test is performed after the disk is temporarily disconnected and then reconnected.
以下、本発明の一実施形態によるストレージシステムの試験装置及び同試験方法を図面を参照して説明する。図1は本実施形態が適用されるストレージシステムの試験装置の構成を示す図、図2は本実施形態による試験プログラムの動作を示すフローである。
<構成>
Hereinafter, a storage system test apparatus and a test method according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a diagram showing the configuration of a test apparatus of a storage system to which this embodiment is applied, and FIG. 2 is a flow showing the operation of a test program according to this embodiment.
<Configuration>
本実施形態によるストレージシステムの試験装置は、図1に示す如く、試験対象となる複数の磁気ディスク装置HDD001〜HDD128を搭載したストレージシステム201に接続される試験用コンピュータであるPC100と、該PC100とストレージシステム201を接続するアダプターボックス200とから構成される。
As shown in FIG. 1, the storage system test apparatus according to the present embodiment includes a PC 100 that is a test computer connected to a
該アダプターボックス200は、32台の磁気ディスク装置から成るディスクアレイ毎にファイバチャネル20を介して接続される複数のオン/オフスイッチを含むリタイミング回路102と、該リタイミング回路102と接続され、本ボックス200の電源を制御するためのHBC制御パッケージ101とから構成される。
The
前記PC100は、CPU/メモリ/磁気ディスク装置/ディスプレイ等の一般のハード構成から成り、ソフト構成としては、磁気ディスク装置等に記憶されるHDD試験プログラム1を含むアプリケーション4と、該アプリケーション4等のソフトウェアやハードウェアを制御するためのLINUXカーネル3とから構成され、このOSを含むLINUXカーネル3は、前記アダプターボックス200のリタイミング回路102と個々に接続するホストバスアダプタ(Host Bus Adapter)7〜10と、該ホストバスアダプタ(Host Bus Adapter)7〜10を制御するためのホストバスアダプタドライバ6と、該ドライバ6を制御するためのSCSIドライバ5と、前記リタイミング回路102を制御する制御信号を出力するPIOポート12と、該PIOポート12を制御するPIOドライバ11とから構成される。またPC100は、試験対象であるストレージシステム201のディスクアレイに接続される磁気ディスク装置の台数を予め記憶している。
The PC 100 includes a general hardware configuration such as a CPU / memory / magnetic disk device / display, and the software configuration includes an application 4 including an
前記ホストバスアダプタ7〜10は、前記ファイバチャネル20を介して接続したディスクアレイと送受信する信号を監視し、所定時間(タイムアウト時間)以上ディスクアレイと信号の送受信が不能の場合、ファイバチャネル20を介するループ接続を初期化して再接続を試みるLIP(Loop Initialization Primitive)コマンドを発行する機能を有している。
The host bus adapters 7 to 10 monitor signals transmitted / received to / from the disk array connected via the
尚、前記ストレージシステム201は、磁気ディスク装置HDD001〜HDD032/磁気ディスク装置HDD033〜HDD064/磁気ディスク装置HDD065〜HDD096/磁気ディスク装置HDD097〜HDD128の単位で1つディスクアレイを構成し、各ディスクアレイを構成する磁気ディスク装置は光ファイバを含むファイバチャネル20によって接続されている。
<動作>
The
<Operation>
このように構成されたストレージシステムの試験装置は、通常、PC100をアダプターボックス200を介してストレージシステム201にファイバチャネル20により接続し、PC100の試験プログラム1が、ホストバスアダプタ7〜10及びリタイミング回路102を介した試験信号をストレージシステム201の各ディスクアレイに供給し、各ディスクアレイからの応答信号を試験プログラム1が解析することによって、ストレージシステムの試験を行うように動作する。
In the storage system test apparatus configured as described above, the PC 100 is normally connected to the
ここで本試験装置は、前述した様にストレージシステム201が多数(32台)の磁気ディスク装置をファイバチャネルを介して接続した1つのディスクアレイを構成しており、PC100の試験プログラム1が各種試験を行うためにストレージシステム201の起動停止を頻繁に繰り返した場合、磁気ディスク装置の駆動タイミングによっては全ての磁気ディスク装置の接続が確立していない状態でストレージシステム201が立ち上がることがあり、この状態では当然ながらストレージシステム201の正確な試験を行うことができない状態となる。
In this test apparatus, as described above, the
そこで本実施形態においては、PC100の試験プログラム1が複数の試験項目に対応してストレージシステム201を立ち上げた後、図2に示す如く、ストレージシステム201の各ディスクアレイに接続された磁気ディスク装置の数量を認識するステップS01と、該ステップS01により認識した磁気ディスク装置のディスクアレイ毎の接続台数が予め設定された台数か否かを判定し、該設定された台数と判定したときに後述するステップS05に移行するステップ02と、該ステップS02により所定台数の磁気ディスク装置を検出できなかったき、PIOドライバ11がPIOポート12を介してリタイミング回路102の該当のオンオフスイッチを一旦切断(オフ)後に再接続(再オン)する信号を発するステップS03と、該ステップS03による再接続後に、ホストバスアダプタ7〜10からのLIPコマンド発行によるファイバチャネルのループ接続再接続時間を確保するため、所定のタイムアウト時間プラス時間(磁気ディスク装置との接続を確立するのに必要且つ十分な所定時間)経過を監視するステップS04と、該ステップS04時間経過後に次の項目の試験プログラムを開始するステップS05と、該ステップS05による試験プログラムの終了後に全試験項目が終了したか否かを判定し、終了したと判定したときに処理を終了し、終了していないと判定したときに前記ステップ01に戻るステップS06とを順次実行する。
Therefore, in the present embodiment, after the
これによって本システムは、ストレージシステム201の再起動毎にストレージシステム201の磁気ディスク装置が全て上位から認識されているか否かを判定し、認識されていない場合、リタイミング回路102の該当のオンオフスイッチをオフオンし、更に所定のタイムアウト時間プラス時間経過を監視してホストバスアダプタによるループ接続を初期化して再接続後に試験を行うことによって、ストレージシステム201の全ての磁気ディスク装置を上位の試験プログラムに認識させ、試験を実施することができる。尚、前記実施形態においては、ステップS04によるタイムアウト時間経過後にステップS05による次の試験項目の試験を開始する例を説明したが、前記ステップ04の後に再度磁気ディスク装置の接続を再認識させる様に構成しても良い。
As a result, the system determines whether or not all the magnetic disk devices of the
この様に本実施形態によるストレージシステムの試験装置は、試験手段が、接続された磁気ディスク装置の台数が所定の台数か否かを判定し、所定の台数でない場合、前記スイッチ手段によりディスクアレイと接続手段との接続を一時的に切断後に再接続することによって、接続手段が再接続コマンドにより磁気ディスク装置の再接続を行ってから磁気ディスク装置との接続を確立するのに必要且つ十分な所定時間が経過後に試験を行うように動作することにより、全ての磁気ディスク装置を接続した状態のストレージシステムの試験を行うことができる。 As described above, in the storage system test apparatus according to the present embodiment, the test means determines whether or not the number of connected magnetic disk devices is a predetermined number. The connection with the connection means is temporarily disconnected and then reconnected, so that the connection means re-connects the magnetic disk device with a reconnection command and is necessary and sufficient to establish a connection with the magnetic disk device. By operating so that the test is performed after a lapse of time, it is possible to test the storage system in a state where all the magnetic disk devices are connected.
また本実施形態によるストレージシステムの試験装置は、HDD試験プログラム1が、ストレージシステム201の複数のディスクアレイ全ての磁気ディスク装置の接続台数を検出し、検出した台数が所定の台数に満たないときにリタイミング回路102の全てのオンオフスイッチのオフ乃至オンを行っても良いし、台数が満たないディスクアレイに接続されたオンオフスイッチのみのオフ乃至オンを行っても良い。
In the storage system test apparatus according to the present embodiment, when the
1:試験プログラム、4:アプリケーション、5:SCSIドライバ、6:ホストバスアダプタドライバ、7〜10:ホストバスアダプタ、11:PIOドライバ、12:PIOポート、20:ファイバチャネル、101:HBC制御パッケージ、102:リタイミング回路、200:アダプターボックス、201:ストレージシステム、HDD001〜HDD128:磁気ディスク装置。 1: Test program, 4: Application, 5: SCSI driver, 6: Host bus adapter driver, 7-10: Host bus adapter, 11: PIO driver, 12: PIO port, 20: Fiber channel, 101: HBC control package, 102: retiming circuit, 200: adapter box, 201: storage system, HDD001 to HDD128: magnetic disk device.
Claims (2)
前記接続手段及びスイッチ手段を介して接続したディスクアレイに含まれる磁気ディスク装置の台数を認識し、
該認識した台数が所定の台数でないときに前記スイッチ手段を用いて接続手段とディスクアレイとの接続を切断した後に再接続し、
前記スイッチ手段によるディスクアレイとの切断によって前記接続手段がディスクアレイとの接続状態を初期化してディスクアレイと再接続したとき、該再接続してから任意の時間経過後に試験手段を用いて試験を行うストレージシステムの試験装置。 Test means for testing a disk array to which a plurality of magnetic disk devices are connected, connection means for connecting the test means and the disk array, and switch means for turning on / off the connection between the connection means and the disk array A storage system testing device comprising:
Recognizing the number of magnetic disk devices included in the disk array connected via the connection means and the switch means;
Reconnect after disconnecting the connection means and the disk array using the switch means when the recognized number is not a predetermined number,
When the connection means initializes the connection state with the disk array by disconnecting from the disk array by the switch means and reconnects to the disk array, a test is performed using a test means after an arbitrary time has elapsed since the reconnection. Storage system testing equipment to perform.
前記制御手段が、
前記接続手段及びスイッチ手段を介して接続したディスクアレイに含まれる磁気ディスク装置の台数を認識する工程と、
該認識した台数が所定の台数でないときに前記スイッチ手段を用いて接続手段とディスクアレイとの接続を切断した後に再接続する工程と、
前記スイッチ手段によるディスクアレイとの切断によって前記接続手段がディスクアレイとの接続状態を初期化してディスクアレイと再接続したとき、該再接続してから任意の時間経過後に試験手段を用いて試験を行う工程とを実行するストレージシステムの試験方法。 Test means for testing a disk array to which a plurality of magnetic disk devices are connected, connection means for connecting the test means and the disk array, switch means for turning on and off the connection between the connection means and the disk array, A storage system testing method comprising: control means for controlling the means;
The control means is
Recognizing the number of magnetic disk devices included in the disk array connected via the connection means and the switch means;
Reconnecting after disconnecting the connection means and the disk array using the switch means when the recognized number is not a predetermined number;
When the connection means initializes the connection state with the disk array by disconnecting from the disk array by the switch means and reconnects to the disk array, a test is performed using a test means after an arbitrary time has elapsed since the reconnection. And a storage system test method for performing the process.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2007002684A JP2008171139A (en) | 2007-01-10 | 2007-01-10 | Storage system test apparatus and test method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2007002684A JP2008171139A (en) | 2007-01-10 | 2007-01-10 | Storage system test apparatus and test method |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2008171139A true JP2008171139A (en) | 2008-07-24 |
Family
ID=39699183
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2007002684A Withdrawn JP2008171139A (en) | 2007-01-10 | 2007-01-10 | Storage system test apparatus and test method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2008171139A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010182080A (en) * | 2009-02-05 | 2010-08-19 | Nec Corp | I/o command fault recovery circuit, i/o command fault recovery method, and i/o command fault recovery program |
| JP2011113315A (en) * | 2009-11-26 | 2011-06-09 | Fujitsu Ltd | Program, apparatus and method for extracting verification object |
-
2007
- 2007-01-10 JP JP2007002684A patent/JP2008171139A/en not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010182080A (en) * | 2009-02-05 | 2010-08-19 | Nec Corp | I/o command fault recovery circuit, i/o command fault recovery method, and i/o command fault recovery program |
| JP2011113315A (en) * | 2009-11-26 | 2011-06-09 | Fujitsu Ltd | Program, apparatus and method for extracting verification object |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US8275599B2 (en) | Embedded bus emulation | |
| US8527981B2 (en) | Storage device and method of instructing to update firmware | |
| US8832347B2 (en) | Automatic detection device, system and method for inter-integrated circuit and serial general purpose input/output | |
| US20170083470A1 (en) | System and Method for Providing Personality Switching in a Solid State Drive Device | |
| US20140163716A1 (en) | Bridge device, automated production system and method thereof for storage device | |
| KR20110098974A (en) | System, Apparatus, and Method for Quick Start of a USB Device | |
| KR20050030623A (en) | One button external backup | |
| CN105940384B (en) | Universal Serial Bus Emulation for Peripherals | |
| US20130339552A1 (en) | Active cable management | |
| JP2020053017A (en) | Hybrid power supply system and method | |
| CN101727368A (en) | Startup and shutdown test method and startup and shutdown test system | |
| US8819779B2 (en) | Methods and systems for managing multiple information handling systems with a virtual keyboard-video-mouse interface | |
| US10915481B2 (en) | PCIe link reset to minimize workload impact | |
| CN117251333A (en) | A hard disk information acquisition method, device, equipment and storage medium | |
| WO2013167077A2 (en) | Usb device, communication system, and working mode switching method thereof | |
| JP2018116648A (en) | Information processing apparatus, control method thereof, and program | |
| CN107111568A (en) | Systems and methods for presenting driver installation files when a USB device is enabled | |
| US20090019211A1 (en) | Establishing A Redundant Array Of Inexpensive Drives | |
| JP2008171139A (en) | Storage system test apparatus and test method | |
| US9882800B2 (en) | Computer room environment servicing | |
| US20070255869A1 (en) | Device evaluation using automatic connection path reconfiguration | |
| CN115729629A (en) | Identification method of USB device, terminal device and system | |
| US20050204243A1 (en) | Method and testing system for storage devices under test | |
| WO2021190327A1 (en) | Memory test system and method | |
| EP3433702B1 (en) | Computing devices with hot swapping prediction circuits |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20091211 |
|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20100406 |