JP2008159088A

JP2008159088A - 光ディスク装置及び光ディスク記録方法

Info

Publication number: JP2008159088A
Application number: JP2006343140A
Authority: JP
Inventors: Seigo Ito; 精悟伊藤
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 2006-12-20
Filing date: 2006-12-20
Publication date: 2008-07-10

Abstract

【課題】欠陥管理情報を記録品位が所定値以上の高品位な候補領域にのみ書き込むことで信頼性の高い代替処理を可能とする光ディスク装置を提供する。
【解決手段】光ディスクにレーザを照射して情報を記録する記録部１１と、光ディスクの記憶領域の記録品位を測定する測定部２０と、光ディスクの記憶領域の内、測定部の測定した記録品位が所定値以上の領域に欠陥管理情報を記録するべく記録部を制御する制御部１１，１４をもつ光ディスク装置。
【選択図】図１

Description

この発明は、欠陥管理情報により代替処理を行う光ディスク装置及び光ディスク記録方法に関する。

近年、光ディスクは、様々なタイプのものが開発され製造され普及してきている。このような光ディスクにおいては、欠陥のある記憶領域を事前に検出し、代替領域を準備して、情報を代替領域に記録することで、確実な情報の記録処理を行なう欠陥管理情報の技術が知られている。

特許文献１は、これに関連した技術として、ＤＭＡ（欠陥管理領域）マネージャから現在使用中の交替領域の先頭位置を示す前記情報を検出し、検出された情報に基づいて、複数の交替領域の中でまだ未使用の交替領域の容量の割合を算出し、算出された未使用の交替領域の容量の割合を表示する技術が開示されている。
特開２００６−２０９９２０号公報。

しかし、特許文献１の従来技術では、初期化前にディスクの記録品位（欠陥状態：ＰＩエラー状態）を把握して、記録品位が悪い場所に欠陥管理情報を記録しない処理については何ら記載されておらず、欠陥管理情報が記録品位が悪い場所に記録されてしまうと、欠陥管理情報が破損してしまうことがあるという問題がある。

本発明は、欠陥管理情報を記録品位が所定値以上となる高品位な候補領域にのみ書き込むことで信頼性の高い代替処理を可能とする光ディスク装置及び光ディスク記録方法を提供することを目的とする。

この発明の課題を解決するための一実施形態は、
光ディスクにレーザを照射して情報を記録する記録部（１３，１８）と、
前記光ディスクの記憶領域の記録品位を、再生信号に基づいて測定する測定部（２０）と、
前記光ディスクの記憶領域の内、前記測定部の測定した前記記録品位が所定値以上となる領域に欠陥管理情報を記録するべく前記記録部を制御する制御部（１１，１４）と、
を具備することを特徴とする光ディスク装置である。

ディスクをフォーマットする際に記録品位が所定値以上となる高品位な候補領域に欠陥管理情報を記録するので、信頼性の高い欠陥管理情報を用いた代替処理を可能とする。

以下、この発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。
図１は、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置の構成の一例を示すブロック図である。

＜本発明の一実施形態に係る光ディスク装置＞
（構成）
本発明の一実施形態に係る光ディスク装置１０は、図１に示すように、全体の制御を統括するＣＰＵ１１と、これにケーブルでそれぞれ接続され映像データを装置に入力する映像データ入力部１２と、映像データを装置から外部に出力する映像データ入力部１２−２と、映像データや管理データをファイルとして書き込み／読み込みするためのファイルシステム部１３と、ファイルシステム部１３の制御下において記録メディアの欠陥管理をホスト側で行なう欠陥管理部１４を有している。

更に、光ディスク装置１０は、図１に示すようにドライブ部１７をもっており、ドライブ部１７は、光ディスクＤにデータを記録するための書き込み機能及び記録メディアからデータを読み出す読み込み機能を有するヘッダドライバ部１８とこれに制御されるヘッダ部１９と、光ディスクＤの記録品位を測定する方法としてＰＩエラーを測定して必要に応じてテーブルに保持しておき、指定された場所のＰＩエラー数の問い合わせに対してその値を返すＰＩエラー測定部２０を有している。

（欠陥管理情報記録処理）
次に、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置１０の一実施形態である欠陥管理情報記録処理を図面を用いて詳細に説明する。図２は、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置の初期化時の欠陥管理情報記録処理の一例を示すフローチャートである。なお、以下の図２のフローチャートの各ステップは、回路ブロックに置き換えることができ、従って、図２のフローチャートの各ステップは、全てブロックに定義しなおすことが可能である。

初めに、本発明に係る光ディスク装置１０は、図２のフローチャートに示すように、ＣＰＵ１１及び初期化部１５の働きにより、記録領域をフォーマットすると供に、欠陥管理情報以外のボリューム管理情報やパーティション管理情報などを記録領域１０１に記録する（ステップＳ１１）。ここで、光ディスクＤの領域１０３は、一般のコンテンツ情報等が記録される領域である。次に、欠陥管理部１４は、欠陥管理情報を記録する領域候補があるかどうかを判断して領域候補が存在すれば（ステップＳ１２）、ＰＩエラー測定部２０により測定してあるその領域候補に該当するＰＩエラー数を取得し、これが所定値（ユーザが設定してもよく設計者が設定してもよい）以下であるかどうかを判断する（ステップＳ１４）。

領域候補のＰＩエラー数が所定値以下であれば、欠陥管理部１４はその領域候補を欠陥管理領域と決定して（ステップＳ１７）、欠陥管理情報をこの領域候補に記録する（ステップＳ１８）。

しかし、ステップＳ１４において、領域候補のＰＩエラー数が所定値以下でなければ、対象を次の領域候補に移動して（ステップＳ１５）、再び欠陥管理領域の候補であることを確認の上（ステップＳ１２）、先のステップＳ１３の処理及びステップＳ１４の判断を、該当のＰＩエラー数が閾値（所定数）以下となるまで反復して、欠陥管理領域を決定する。

しかし、最後の領域候補までＰＩエラー数が閾値（所定数）以下とならずに、領域候補がなくなれば（ステップＳ１２）、初期化を中止することも好適である。

また、いままで欠陥管理領域として採用されなかった領域候補の中から最もＰＩエラー数が少ない領域を、欠陥管理情報を記録すべき領域として選択することも好適である（ステップＳ１６）。それ以降は、選択された欠陥管理領域を欠陥管理情報を記録すべき領域として決定して（ステップＳ１７）、欠陥管理情報を記録するものでる（ステップＳ１８）。

・欠陥管理情報の一例
ここで、欠陥管理情報の一例を図３を用いて説明する。図３は初期化時の欠陥管理情報とその記録場所の候補について説明した図である。図３において、光ディスクＤの管理領域のボリューム領域１０１に、ボリューム情報の一つとして、欠陥管理領域候補１０２として４箇所が用意されている。

図３では、先の図２のフローチャートに示される手順等に従って、２番目の候補場所に欠陥管理情報Ｋの初期状態が記録される。欠陥管理情報Ｋは代替場所Ｂと、記録場所と代替場所とを関連付けを行なう欠陥管理テーブルＴから構成されている。この例では欠陥管理テーブルＴと代替場所Ｂが隣接して書かれているが、欠陥管理テーブルの候補と代替場所Ｂの候補は連続した場所に無い場合も好適である。

（欠陥管理情報を用いた代替処理）
次に、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置１０の一実施形態である欠陥管理情報記録処理を図面を用いて詳細に説明する。図４は、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置における欠陥管理情報を用いた代替処理の一例を示す説明図である。

ここで、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置１０では、図４に示すように、ファイルシステム部１３の管理において、領域Ａに情報を記録する場合、欠陥管理部１４により欠陥管理情報の欠陥管理テーブルＴに領域Ａが登録されているかどうかを確認する。登録されていない場合は、直接領域Ａに対して記録が行なわれる。

しかし、もし欠陥管理情報の欠陥管理テーブルに領域Ａが登録されていれば、その代替先、ここでは代替先Ｃ２に対して記録が試みられる。しかし、もし代替先Ｃ２に欠陥が多いとＮＧとなり、次に、代替先Ｃ３が選ばれ、この代替先Ｃ３にも欠陥が多いと再びＮＧとなり、代替先Ｃ４に記録することとなる。このように、欠陥管理情報自体にＰＩエラーが多いと、代替が何度も発生して記録に時間がかかる場合がある。

このような代替処理の反復は、上記したＰＩエラーの少ない欠陥管理領域を選択することにより回避することが可能となる。

以上、詳細に説明したように、本発明に係る一実施形態においては、フォーマット処理の際の欠陥管理情報の記録において、事前にディスクの欠陥（ＰＩエラー）状態を調査しておき、ＰＩエラーの高い場所に欠陥管理領域を作成しないようにする。これにより、欠陥管理領域にＰＩエラーが多い場合の欠陥登録に失敗したり欠陥管理情報が読めないといった不具合を解消し、動作信頼性を確保することが可能となる。

以上記載した様々な実施形態により、当業者は本発明を実現することができるが、更にこれらの実施形態の様々な変形例を思いつくことが当業者によって容易であり、発明的な能力をもたなくとも様々な実施形態へと適用することが可能である。従って、本発明は、開示された原理と新規な特徴に矛盾しない広範な範囲に及ぶものであり、上述した実施形態に限定されるものではない。

本発明の一実施形態に係る光ディスク装置の構成の一例を示すブロック図。本発明の一実施形態に係る光ディスク装置の欠陥管理情報記録処理の一例を示すフローチャート。本発明の一実施形態に係る光ディスク装置が扱う欠陥管理情報の一例を示す説明図。本発明の一実施形態に係る光ディスク装置における欠陥管理情報を用いた代替処理の一例を示す説明図。

符号の説明

Ｄ…光ディスク、１１…ＣＰＵ、１２…映像データ入力部、１２−２…映像データ出力部、１３…ファイルシステム部、１４…欠陥管理部、１５…初期化部、１７…ドライブ部、１８…ヘッダドライバ部、１９…ヘッダ部、２０…ＰＩエラー測定部。

Claims

光ディスクにレーザを照射して情報を記録する記録部と、
前記光ディスクの記憶領域の記録品位を、再生信号に基づいて測定する測定部と、
前記光ディスクの記憶領域の内、前記測定部の測定した前記記録品位が所定値以上となる領域に欠陥管理情報を記録するべく前記記録部を制御する制御部と、
を具備することを特徴とする光ディスク装置。
前記制御部は、前記光ディスクを初期化する際に、前記欠陥管理情報を記録することを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
前記光ディスクの記憶領域の内、前記欠陥管理情報の全ての領域候補のそれぞれの前記記録品位が所定値以下であるとき、前記全ての領域候補から最も記録品位が高い領域に欠陥管理情報を記録することを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
前記制御部は、前記光ディスクの記憶領域の所定領域に情報を記録する際、前記欠陥管理情報を参照して、前記所定領域の代替先が示されていれば、前記所定領域の代替先の記憶領域に前記情報を記録することを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
光ディスクの記憶領域の記録品位を、再生信号に基づいて測定し、
前記光ディスクの記憶領域の内、前記記録品位が所定値以上の領域に、記録領域の代替情報である欠陥管理情報を記録することを特徴とする光ディスク記録方法。
前記光ディスクを初期化する際に、前記欠陥管理情報を記録することを特徴とする請求項５記載の光ディスク記録方法。
前記光ディスクの記憶領域の内、前記欠陥管理情報の全ての領域候補のそれぞれの前記記録品位が所定値以下であったとき、前記全ての領域候補から最も前記記録品位が高い領域に欠陥管理情報を記録することを特徴とする請求項５記載の光ディスク記録方法。
前記光ディスクの記憶領域の所定領域に情報を記録する際、前記欠陥管理情報を参照して、前記所定領域の代替先が示されていれば、前記所定領域の代替先の記憶領域に前記情報を記録することを特徴とする請求項５記載の光ディスク記録方法。