JP2008157668A - Mounting substrate inspection device, and inspection method therein - Google Patents
Mounting substrate inspection device, and inspection method therein Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008157668A JP2008157668A JP2006344313A JP2006344313A JP2008157668A JP 2008157668 A JP2008157668 A JP 2008157668A JP 2006344313 A JP2006344313 A JP 2006344313A JP 2006344313 A JP2006344313 A JP 2006344313A JP 2008157668 A JP2008157668 A JP 2008157668A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspection
- temperature
- mounting substrate
- box
- mounting board
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 254
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 81
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 44
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 18
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 19
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 12
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims description 7
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 4
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 abstract 2
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 7
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000013508 migration Methods 0.000 description 4
- 230000005012 migration Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000005494 condensation Effects 0.000 description 2
- 238000009833 condensation Methods 0.000 description 2
- 239000006260 foam Substances 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N Ethyl urethane Chemical compound CCOC(N)=O JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000002066 L-histidyl group Chemical group [H]N1C([H])=NC(C([H])([H])[C@](C(=O)[*])([H])N([H])[H])=C1[H] 0.000 description 1
- ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N Phenol Chemical compound OC1=CC=CC=C1 ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 239000011491 glass wool Substances 0.000 description 1
- 239000012784 inorganic fiber Substances 0.000 description 1
- 238000013021 overheating Methods 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229920006327 polystyrene foam Polymers 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
Description
本発明は、実装基板検査システムおよびそのシステムにおける検査方法に関するものである。 The present invention relates to a mounting board inspection system and an inspection method in the system.
従来から、実装基板検査システムおよびそのシステムにおける検査方法としては、特許文献1に示されているものが知られている。特許文献1の図1および図2に示されているように、実装基板検査システムは、周囲が断熱部材により構成され、検査対象である制御基板14を収納する検査室3と、制御基板14の温度を当該制御基板14が実際の使用状態において晒される可能性がある温度範囲において変化させる温度調整装置2,4と、制御基板14の実際の使用状態において当該制御基板14に接続される装置に相当する周辺装置(例えば、ソレノイドコイルやヨーレートセンサ)と、制御基板14の温度を前記温度範囲内で変化させながら、当該制御基板14に前記周辺装置を接続した状態で当該制御基板14の動作が正常であるか否かを検査する検査装置1と、を備えたものである。 2. Description of the Related Art Conventionally, a mounting substrate inspection system and an inspection method in the system are disclosed in Patent Document 1. As shown in FIG. 1 and FIG. 2 of Patent Document 1, the mounting board inspection system includes an inspection chamber 3 that is constituted by a heat insulating member and houses a control board 14 to be inspected, and a control board 14. The temperature adjustment devices 2 and 4 that change the temperature in a temperature range in which the control board 14 may be exposed in an actual use state, and devices connected to the control board 14 in the actual use state of the control board 14 The operation of the control board 14 is performed with the peripheral device connected to the control board 14 while changing the temperature of the corresponding peripheral equipment (for example, a solenoid coil or a yaw rate sensor) and the control board 14 within the temperature range. And an inspection device 1 for inspecting whether or not it is normal.
このシステムにおける検査処理は、まずステップS1では、実装基板14の基板温度を常温としてON電圧、OFF電圧等のレベル判定であるテストプログラムによる検査が行われる。次に、ステップS2では、実装基板14の基板温度を所定時間で常温から低温に変化させながら実装基板14の実使用状態での検査を行う。その後、ステップS4及びステップS7では、低温及び高温でのテストプログラムによる検査を行う。そして、ステップS5では、基板温度を所定時間で低温から高温に変化させながら実使用状態での検査を行い、ステップS8では、基板温度を所定時間で高温から常温に変化させながら実使用状態での検査を行う。
ところで、上述した実装基板検査システムおよびそのシステムにおける検査方法においては、制御基板14が検査室3内にセットされた後、検査が終了するまでは、実装基板の加熱・冷却を実施する工程(加熱・冷却工程)と検査装置を使用して実装基板の検査を実施する工程(検査工程)とを連続に(シリーズに)実施しているので、検査時間が長くなるという問題があった。 By the way, in the mounting board inspection system and the inspection method in the system described above, the process of heating / cooling the mounting board (heating) until the inspection is completed after the control board 14 is set in the inspection chamber 3. -Since the cooling process) and the process (inspection process) for inspecting the mounting substrate using the inspection device are carried out continuously (in series), there is a problem that the inspection time becomes long.
これに対して、加熱・冷却工程に恒温槽を使用するとともに検査工程に検査装置を使用してそれらの工程を別々に並行に実施することにより検査時間を短くすることが考えられる。しかし、恒温槽で冷却された実装基板を恒温槽から検査装置に搬送して装着して検査するにあたって、搬送中に外気に曝された実装基板が結露し、その結果電気的特性の測定精度の維持が困難となったり、結露がマイグレーションの発生要因になったりするというおそれがある。 On the other hand, it is conceivable to shorten the inspection time by using a constant temperature bath for the heating / cooling process and using the inspection apparatus for the inspection process separately and in parallel. However, when the mounting board cooled in the thermostat is transported from the thermostat to the inspection device and mounted and inspected, the mounting board exposed to the outside air during the transport is condensed, and as a result, the measurement accuracy of the electrical characteristics is reduced. There is a risk that it may be difficult to maintain, and condensation may cause migration.
本発明は、上述した問題を解消するためになされたもので、実装基板検査システムおよびそのシステムにおける検査方法において、検査の開始から終了まで実装基板が結露するのを防止しつつ、検査時間を短時間化することを目的とする。 The present invention has been made to solve the above-described problems, and in the mounting board inspection system and the inspection method in the system, the inspection time is shortened while preventing the mounting board from condensing from the start to the end of the inspection. The purpose is to time.
請求項1に係る実装基板検査システムの特徴は、実装基板を内部に入出可能に支持する断熱筐体と、断熱筐体内に支持された状態の実装基板の電気的特性を測定するための検査プローブと、検査プローブが電気的に接続されるとともに外部の機器と電気的に接続可能なコネクタと、断熱筐体に設けられ同断熱筐体内の温度を調整するための熱媒体を導入するとともに閉塞手段によって閉塞可能な導入口と、を備えた搬送可能な複数の検査箱と、実装基板が収納されている検査箱と脱着可能に接続され、実装基板の温度の調整を実施するために使用されるものである少なくとも1つの温度調整装置と、実装基板が収納されている検査箱と脱着可能に電気的に接続され、実装基板の電気的特性の検査を実施するために使用されるものである少なくとも1つの検査装置と、を備えたことである。 A feature of the mounting board inspection system according to claim 1 is that a heat insulating housing that supports the mounting board so as to be able to enter and exit, and an inspection probe for measuring electrical characteristics of the mounting board that is supported in the heat insulating housing. And a closing means that introduces a connector to which the inspection probe is electrically connected and can be electrically connected to an external device, and a heat medium provided in the heat insulating casing for adjusting the temperature in the heat insulating casing. And a plurality of transportable inspection boxes provided with an inlet that can be closed by means of, and an inspection box in which the mounting board is housed, which is detachably connected and used for adjusting the temperature of the mounting board. At least one temperature control device and a test box in which the mounting board is housed are detachably electrically connected, and are used to perform an inspection of the electrical characteristics of the mounting board. Also is that with a single test device.
請求項2に係る実装基板検査システムの特徴は、請求項1において、閉塞手段は、熱媒体が導入されている時に導入口を開き、熱媒体が導入されていない時に導入口を閉じる開閉装置であることである。 The mounting board inspection system according to claim 2 is characterized in that, in claim 1, the closing means is an opening / closing device that opens the inlet when the heat medium is introduced and closes the inlet when the heat medium is not introduced. That is.
請求項3に係る実装基板検査システムの特徴は、請求項1または請求項2において、実装基板に物理量を検出するセンサが実装され、検査装置は、検査箱が設置され、かつ物理量に対応した運動を発生可能な検査台を備えたことである。 The mounting board inspection system according to claim 3 is characterized in that, in claim 1 or claim 2, a sensor for detecting a physical quantity is mounted on the mounting board, and the inspection apparatus is provided with an inspection box and a motion corresponding to the physical quantity. Is equipped with an inspection table that can generate
請求項4に係る実装基板検査システムにおける検査方法の特徴は、実装基板を内部に入出可能に支持する断熱筐体と、断熱筐体内に支持された状態の実装基板の電気的特性を測定するための検査プローブと、検査プローブが電気的に接続されるとともに外部の機器と電気的に接続可能なコネクタと、断熱筐体に設けられ同断熱筐体内の温度を調整するための熱媒体を導入するとともに閉塞手段によって閉塞可能な導入口と、を備えた搬送可能な複数の検査箱と、実装基板が収納されている検査箱と脱着可能に接続され、実装基板の温度の調整を実施するために使用されるものである少なくとも1つの温度調整装置と、実装基板が収納されている検査箱と脱着可能に電気的に接続され、実装基板の電気的特性の検査を実施するために使用されるものである少なくとも1つの検査装置と、を備えた実装基板検査システムにおける検査方法であって、検査箱を温度調整装置に接続し、温度調整装置により実装基板の加熱および冷却の一方を行い、その後、検査箱を温度調整装置から検査装置に搬送して接続し、検査装置により実装基板の電気的特性の検査を実施し、その後、検査箱を検査装置から温度調整装置に搬送して接続し、温度調整装置により実装基板の加熱および冷却の他方を行い、その後、検査箱を温度調整装置から検査装置に搬送して接続し、検査装置により実装基板の電気的特性の検査を実施することである。 The feature of the inspection method in the mounting substrate inspection system according to claim 4 is to measure the electrical characteristics of the heat insulating housing that supports the mounting substrate so as to be able to enter and exit, and the mounting substrate that is supported in the heat insulating housing. The inspection probe, a connector to which the inspection probe is electrically connected and electrically connectable to an external device, and a heat medium provided in the heat insulation case for adjusting the temperature in the heat insulation case In addition, in order to adjust the temperature of the mounting board, it is detachably connected to a plurality of transportable inspection boxes having an introduction port that can be closed by closing means, and an inspection box in which the mounting board is stored. At least one temperature control device to be used and an inspection box in which the mounting board is stored are electrically connected in a detachable manner, and are used to inspect the electrical characteristics of the mounting board. An inspection method in a mounting board inspection system comprising at least one inspection apparatus, wherein an inspection box is connected to a temperature adjustment device, and one of heating and cooling of the mounting substrate is performed by the temperature adjustment device, and then The inspection box is transported from the temperature adjustment device to the inspection device and connected, and the inspection device inspects the electrical characteristics of the mounting board, and then the inspection box is transported from the inspection device to the temperature adjustment device and connected to the temperature. The other of heating and cooling of the mounting substrate is performed by the adjusting device, and then the inspection box is transported from the temperature adjusting device to the inspection device and connected, and the electrical characteristics of the mounting substrate are inspected by the inspection device.
上記のように構成した請求項1に係る発明においては、実装基板の電気的特性の検査を温度別(常温(例えば25℃)、低温(例えば−40℃)、高温(例えば100℃))に実施するに際して、温度調整装置を使用して実装基板の加熱・冷却を実施する工程(加熱・冷却工程)、および検査装置を使用して実装基板の検査を実施する工程(検査工程)を検査箱単位で行うことができ、これによりそれら工程を別々に並行に実施することが可能となる。したがって、検査時間を短縮化することができる。 In the invention according to claim 1 configured as described above, the electrical characteristics of the mounting substrate are inspected according to temperature (normal temperature (for example, 25 ° C.), low temperature (for example, −40 ° C.), high temperature (for example, 100 ° C.)). In carrying out the inspection box, a process for heating / cooling the mounting board using a temperature adjusting device (heating / cooling process) and a process for inspecting the mounting board using an inspection device (inspection process) are performed. It can be done in units, which makes it possible to carry out these steps separately and in parallel. Therefore, the inspection time can be shortened.
また、温度調整装置から検査装置への搬送中において、検査箱の導入口を閉塞することにより同検査箱内に外気が流入するのを少なく抑制することができる。これにより、特に冷却した実装基板の搬送中において、その実装基板が結露するのを少なく抑制することができる。したがって、マイグレーションの発生を防止でき、また、電気的特性の測定精度を高く維持することができる。 In addition, it is possible to suppress the outside air from flowing into the inspection box by closing the inlet of the inspection box during conveyance from the temperature adjusting device to the inspection device. Thereby, it is possible to suppress the mounting substrate from being condensed particularly during the transport of the cooled mounting substrate. Therefore, the occurrence of migration can be prevented, and the measurement accuracy of electrical characteristics can be maintained high.
また、温度調整装置により加熱または冷却した検査箱を検査装置に接続して検査する場合、検査箱は断熱されているので、検査中において実装基板が検査開始の温度から急激に降温または昇温するのを抑制することができる。したがって、実装基板の低温検査および高温検査を安定的に実施することができる。 In addition, when an inspection box heated or cooled by a temperature adjusting device is connected to the inspection apparatus for inspection, the inspection box is insulated, so that the mounting substrate rapidly lowers or rises from the temperature at which the inspection starts during inspection. Can be suppressed. Therefore, the low temperature inspection and the high temperature inspection of the mounting substrate can be stably performed.
上記のように構成した請求項2に係る発明においては、請求項1に係る発明において、閉塞手段は、熱媒体が導入されている時に導入口を開き、熱媒体が導入されていない時に導入口を閉じる開閉装置であるので、簡単な構成で検査箱内に外気が流入するのを確実に抑制することができる。 In the invention according to claim 2 configured as described above, in the invention according to claim 1, the closing means opens the inlet when the heat medium is introduced, and introduces the inlet when the heat medium is not introduced. Therefore, it is possible to reliably suppress the outside air from flowing into the examination box with a simple configuration.
上記のように構成した請求項3に係る発明においては、請求項1または請求項2に係る発明において、実装基板に物理量を検出するセンサが実装されている場合、検査箱単位で物理量に対応した運動を発生させることにより温度ごとの電気的特性の検査を容易かつ簡単な構成で実施することができる。 In the invention according to claim 3 configured as described above, in the invention according to claim 1 or claim 2, when a sensor for detecting a physical quantity is mounted on the mounting board, the physical quantity corresponds to the inspection box unit. By generating the movement, the inspection of the electrical characteristics for each temperature can be performed with an easy and simple configuration.
上記のように構成した請求項4に係る発明においては、検査箱を温度調整装置に接続し、温度調整装置により実装基板の加熱および冷却の一方を行い、その後、検査箱を温度調整装置から検査装置に搬送して接続し、検査装置により実装基板の電気的特性の検査を実施し、その後、検査箱を検査装置から温度調整装置に搬送して接続し、温度調整装置により実装基板の加熱および冷却の他方を行い、その後、検査箱を温度調整装置から検査装置に搬送して接続し、検査装置により実装基板の電気的特性の検査を実施する。したがって、実装基板の電気的特性の検査を温度別(常温(例えば25℃)、低温(例えば−40℃)、高温(例えば100℃))に実施するに際して、温度調整装置を使用して実装基板の加熱・冷却を実施する工程(加熱・冷却工程)、および検査装置を使用して実装基板の検査を実施する工程(検査工程)を検査箱単位で行うことができ、これによりそれら工程を別々に並行に実施することが可能となる。したがって、検査時間を短縮化することができる。 In the invention according to claim 4 configured as described above, the inspection box is connected to the temperature adjustment device, and the mounting substrate is heated and cooled by the temperature adjustment device, and then the inspection box is inspected from the temperature adjustment device. Carrying and connecting to the device, inspecting the electrical characteristics of the mounting board with the inspection device, then transporting and connecting the inspection box from the inspection device to the temperature adjustment device, and heating and mounting of the mounting substrate with the temperature adjustment device The other cooling is performed, and then the inspection box is transported from the temperature adjustment device to the inspection device and connected, and the inspection device inspects the electrical characteristics of the mounting substrate. Therefore, when the inspection of the electrical characteristics of the mounting board is performed for each temperature (normal temperature (for example, 25 ° C.), low temperature (for example, −40 ° C.), high temperature (for example, 100 ° C.)), The process of heating / cooling (heating / cooling process) and the process of inspecting the mounting board using the inspection device (inspection process) can be performed in units of inspection boxes. It is possible to implement in parallel. Therefore, the inspection time can be shortened.
また、温度調整装置から検査装置への搬送中において、検査箱の導入口を閉塞することにより同検査箱内に外気が流入するのを少なく抑制することができる。これにより、特に冷却した実装基板の搬送中において、その実装基板が結露するのを少なく抑制することができる。したがって、マイグレーションの発生を防止でき、また、電気的特性の測定精度を高く維持することができる。 In addition, it is possible to suppress the outside air from flowing into the inspection box by closing the inlet of the inspection box during conveyance from the temperature adjusting device to the inspection device. Thereby, it is possible to suppress the mounting substrate from being condensed particularly during the transport of the cooled mounting substrate. Therefore, the occurrence of migration can be prevented, and the measurement accuracy of electrical characteristics can be maintained high.
以下、本発明に係る実装基板検査システムおよびそのシステムにおける検査方法の一実施形態について図面を参照して説明する。図1は実装基板検査システムを示す概要図であり、図2は検査箱を示す外観斜視図であり、図3はエアー導入口付近を示す拡大断面図であり、図4は検査装置を示す概要図であり、図5は温度調整装置を示す概要図である。 DESCRIPTION OF EXEMPLARY EMBODIMENTS An embodiment of a mounting board inspection system and an inspection method in the system according to the invention will be described below with reference to the drawings. 1 is a schematic view showing a mounting board inspection system, FIG. 2 is an external perspective view showing an inspection box, FIG. 3 is an enlarged sectional view showing the vicinity of an air inlet, and FIG. 4 is an outline showing an inspection apparatus. FIG. 5 is a schematic view showing a temperature adjusting device.
実装基板検査システム10は、図1に示すように、実装基板20を内部に入出可能に支持する複数の検査箱30、少なくとも1つ以上の検査装置40、および少なくとも1つ以上の温度調整装置50を備えている。
As shown in FIG. 1, the mounting
実装基板20は、プリント基板に多数の電子部品、電気部品が実装されたものであり、物理量を検出するセンサ21,22も実装されている。物理量は、車両の前後加速度、左右加速度、ヨーレートなどであり、センサは、加速度センサ21、ヨーレートセンサ22などである。
The
検査箱30は、図2に示すように、断熱筐体31、実装基板入出口32、蓋33、検査プローブ34、コネクタ35、エアー導入口36、エアー排出口37、および開閉装置38を備えている。
As shown in FIG. 2, the
断熱筐体31は、断熱材で箱状に形成されたものである。断熱材としては、発砲プラスチック系断熱材(例えば、ポリスチレンフォーム、ウレタンフォーム、フェノールフォーム)、無機繊維系断熱材(例えば、グラスウール)などがある。断熱筐体31の上壁面には、実装基板20を内部に入れたり出したりする実装基板入出口32が形成されている。実装基板入出口32は、開閉自在な蓋33で気密的に閉塞されている。蓋33も断熱筐体31と同様に断熱材で形成されている。実装基板入出口32は、実装基板20の入出時には開かれ、後述する検査箱30内の温度調整時、搬送時、検査時には閉じられている。
The
断熱筐体31内には、図示しない実装基板支持機構が設けられており、実装基板20はこの実装基板支持機構によって断熱筐体31内に支持される。断熱筐体31内には、実装基板支持機構によって支持された状態の実装基板20の電気的特性を測定するための検査プローブ34が複数設けられている。また、断熱筐体31には、それら検査プローブ34が電気的に接続されるとともに外部の機器と電気的に接続可能なコネクタ35が設けられている。コネクタ35は外部の機器に接続されているケーブルのコネクタが脱着可能なものである。
A mounting board support mechanism (not shown) is provided in the
断熱筐体31の互いに対向する一対の側壁面には、エアー導入口36およびエアー排出口37が設けられている。本実施形態においてはエアー導入口36およびエアー排出口37をそれぞれ1つおよび2つ設けたが、両方1つずつでもよいし、2つずつでもよいし、またはそれ以上でもよい。
An
エアー導入口36は、後述する供給管52が脱着可能に接続され、検査箱30内に温度調整装置50からの低温エアーまたは高温エアーが供給されるようになっている。低温エアーまたは高温エアーが、断熱筐体30内の温度を調整するための熱媒体である。エアー排出口37は、検査箱30内の気体を外部に排出するためのものである。これにより、エアー導入口36から検査箱30内に導入された低温エアーまたは高温エアーが検査箱30内を通過し同検査箱30内ひいては実装基板20を低温にしたりまたは高温にしたりしてエアー排出口37から排出される。
A supply pipe 52 (described later) is detachably connected to the
エアー導入口36およびエアー導出口37には、図3に示すように、それらエアー導入口36およびエアー導出口37を閉塞可能な閉塞手段である開閉装置38が設けられている。開閉装置38は、蓋38a、ヒンジ38bおよび付勢部材38cから構成されている。蓋38aは、エアー導入口36(またはエアー導出口37)の出口側を開閉自在に閉塞するものである。蓋38aは、ヒンジ38bを介してエアー導入口36に組み付けられている。付勢部材38cは、例えばねじりコイルばねであり、蓋38aを閉塞状態に付勢するものである。
As shown in FIG. 3, the
これにより、エアー導入口36の入口側から低温エアーまたは高温エアーが供給される場合(導入されている時)、付勢部材38cの付勢力に抗して蓋38aが開かれてエアー導入口36が開かれる。このとき、エアー導出口37も同様に開かれる。一方、エアー導入口36の入口側から低温エアーまたは高温エアーが供給されていない場合(導入されていない時)、付勢部材38cの付勢力によって蓋38aが閉じられてエアー導入口36が閉じられる。このとき、エアー導出口37も同様に閉じられる。すなわち、エアー導入口36およびエアー導出口37は、後述する検査箱30内の温度調整時には開かれ、後述する検査箱30の搬送時、検査時には閉じられている。
Thereby, when low-temperature air or high-temperature air is supplied from the inlet side of the air introduction port 36 (when introduced), the
このように構成された検査箱30は、搬送可能なものである。搬送可能とは、作業員が自分の手で搬送可能である場合、ロボットなどによって自動的に搬送可能である場合を含む。
The
検査装置40は、実装基板20が収納されている検査箱30と脱着可能に電気的に接続されるものであり、実装基板20の電気的特性の検査を実施するために使用されるものである。検査装置40は、制御装置41、検査台42および駆動装置43を備えている。
The
制御装置41は、実装基板20の電気的特性の検査を実施したり、駆動装置43を駆動させたりするものである。検査台42は、検査箱30が電気的に接続可能に設置されるものである。検査台42には制御装置41と電気的に接続されているケーブルのコネクタが配設されており、このコネクタはコネクタ35に脱着可能に接続されるようになっている。検査台42は、駆動装置43によって駆動されるものである。
The
駆動装置43は、制御装置41からの指令を受けて、検査台42を回転運動させたり、直進往復運動させたり、傾斜させたりするものである。検査台42を回転運動させることにより、ヨーレートセンサ22が検出する車両のヨーレートに対応した運動を発生することができる。検査台42を直進往復運動させることにより、加速度センサ21が検出する車両の前後加速度または左右加速度に対応した運動を発生することができる。
The driving
温度調整装置50は、実装基板20が収納されている検査箱30と脱着可能に接続され、実装基板20の温度の調整を実施するために使用されるものである。温度調整装置50は、熱媒体供給源51および供給管52を備えている。
The
熱媒体供給源51は、検査箱30内に供給される熱媒体である低温エアーまたは高温エアーを生成して導出するものである。この熱媒体供給源51は、低温エアーおよび高温エアーの両方を生成可能でかつ何れを生成するか選択切替できるタイプでもよいし、低温エアーおよび高温エアーのいずれか一方を生成できるタイプでもよい。低温エアーは所定の温度(例えば−40℃)に調整されて導出される。また、高温エアーは所定の温度(例えば+100℃)に調整されて導出される。さらに、低温エアーおよび高温エアーは除湿されて乾燥状態で導出される。
The heat
供給管52は、熱媒体供給源51の導出口51aに接続される第1接続端52aと、複数の検査箱30のエアー導入口36に脱着可能に接続される複数の第2接続端52bとを備えている。
The
次に、このように構成された実装基板検査システム10における検査方法について図6のフローチャートに沿って説明する。この検査は、常温(例えば20℃)、所定の低温(例えば−40℃)および所定の高温(例えば100℃)での実装基板20の電気的特性を測定するものである。具体的には、まず常温での検査(常温検査)を実施し、冷却工程を実施し、低温での検査(低温検査)を実施し、過熱工程を実施し、最後に高温での検査(高温検査)を実施する。
Next, an inspection method in the mounting
常温検査においては、まず、実装基板20を検査箱30内に検査可能な状態にセットし、その検査箱30を検査装置40に接続する(ステップ102)。そして、検査装置40で常温にて実装基板20の電気的特性を測定する(ステップ104)。
In the room temperature inspection, first, the mounting
常温検査が終了すると、検査箱30を検査装置40から外して低温エアーを供給するよう設定されている温度調整装置50に搬送して接続する(ステップ106)。そして、温度調整装置50からの低温エアーの供給により実装基板20の冷却を行う(冷却工程;ステップ108)。
When the normal temperature inspection is completed, the
実装基板20が常温から所定の低温となると、検査箱30を温度調整装置50から外して検査装置40に搬送して接続する(ステップ110)。そして、検査装置40で低温にて実装基板20の電気的特性を測定する(ステップ112)。この搬送中において、エアー導入口36およびエアー導出口37は、開閉装置38により閉塞されているので、検査箱30内に外気が流入するのを抑制することができるので、実装基板20が結露するのを抑制することができる。
When the mounting
低温検査が終了すると、検査箱30を検査装置40から外して高温エアーを供給するよう設定されている温度調整装置50に搬送して接続する(ステップ114)。そして、温度調整装置50からの高温エアーの供給により実装基板20の加熱を行う(加熱工程;ステップ116)。
When the low temperature inspection is completed, the
実装基板20が所定の低温から所定の高温となると、検査箱30を温度調整装置50から外して検査装置40に搬送して接続する(ステップ118)。そして、検査装置40で高温にて実装基板20の電気的特性を測定する(ステップ120)。
When the mounting
なお、上記検査においては、常温検査、低温検査および高温検査の順番で実装基板20の検査を実施するようにしたが、低温検査と高温検査の順番を入れ替えてもよい。
In the above inspection, the mounting
上述した説明から明らかなように、本実施形態においては、実装基板20の電気的特性の検査を温度別(常温(例えば25℃)、低温(例えば−40℃)、高温(例えば100℃))に実施するに際して、温度調整装置50を使用して実装基板20の加熱・冷却を実施する工程(加熱・冷却工程)、および検査装置40を使用して実装基板20の検査を実施する工程(検査工程)を検査箱30単位で行うことができ、これによりそれら工程を別々に並行に実施することが可能となる。すなわち、検査装置40による検査工程と温度調整装置50による温度調整工程(冷却工程と加熱工程)を同時に並行して実施することができる。したがって、検査工程全体の時間を短縮化することができる。
As is clear from the above description, in the present embodiment, the electrical characteristics of the mounting
また、温度調整装置50から検査装置40への搬送中において、検査箱30の導入口であるエアー導入口36を閉塞することにより同検査箱30内に外気が流入するのを少なく抑制することができる。これにより、検査箱30内の温度の急激な変動を抑制することができる。また、冷却した実装基板20の搬送中において、その実装基板20が結露するのを少なく抑制することができる。したがって、マイグレーションの発生を防止でき、また、電気的特性の測定精度を高く維持することができる。
In addition, during the transfer from the
また、温度調整装置50により加熱または冷却した検査箱30を検査装置40に接続して検査する場合、検査箱30は断熱されているので、検査中において実装基板20が検査開始の温度から急激に降温または昇温するのを抑制することができる。したがって、実装基板20の低温検査および高温検査を安定的に実施することができる。
Further, when the
また、閉塞手段は、熱媒体が導入されている時に導入口(エアー導入口36)を開き、熱媒体が導入されていない時に導入口(エアー導入口36)を閉じる開閉装置38であるので、簡単な構成で検査箱30内に外気が流入するのを確実に抑制することができる。
The closing means is an opening / closing device 38 that opens the inlet (air inlet 36) when the heat medium is introduced and closes the inlet (air inlet 36) when the heat medium is not introduced. It is possible to reliably suppress the outside air from flowing into the
また、実装基板20に物理量を検出するセンサ21,22が実装されている場合、検査箱30単位で物理量に対応した運動を発生させることにより温度ごとの電気的特性の検査を容易かつ簡単な構成で実施することができる。
In addition, when the
また、検査箱30を温度調整装置50に接続し、温度調整装置50により実装基板20の加熱および冷却の一方を行い、その後、検査箱30を温度調整装置50から検査装置40に搬送して接続し、検査装置40により実装基板20の電気的特性の検査を実施し、その後、検査箱30を検査装置40から温度調整装置50に搬送して接続し、温度調整装置50により実装基板20の加熱および冷却の他方を行い、その後、検査箱30を温度調整装置50から検査装置40に搬送して接続し、検査装置40により実装基板20の電気的特性の検査を実施する。したがって、実装基板20の電気的特性の検査を温度別(常温(例えば25℃)、低温(例えば−40℃)、高温(例えば100℃))に実施するに際して、温度調整装置50を使用して実装基板20の加熱・冷却を実施する工程(加熱・冷却工程)、および検査装置40を使用して実装基板20の検査を実施する工程(検査工程)を検査箱30単位で行うことができ、これによりそれら工程を別々に並行に実施することが可能となる。したがって、検査時間を短縮化することができる。
Further, the
なお、上述した実施形態において、温度調整装置50は検査箱30に低温エアーまたは高温エアーを積極的に吹き込む形式のものであるが、これに代えて、装置としては大型化するが検査箱30を複数収容可能な恒温槽を使用するようにしてもよい。この場合、恒温槽は上記所定の低温および高温に調整可能なものである。また、実装基板20を収容した状態で検査箱30の蓋33を開けたまま恒温槽内に置くことにより、恒温槽と検査箱が脱着可能に接続されることになる。実装基板20が所定の温度になると、蓋33を閉じて恒温槽から搬出する。また、この場合、エアー導入口36およびエアー導出口37を削除してもよい。導入口は検査箱30の実装基板入出口32である。
In the above-described embodiment, the
また、上述した実施形態においては、閉塞手段として開閉装置を採用したが、作業者の手によって脱着できる単なる蓋でもよい。 In the above-described embodiment, the opening / closing device is employed as the closing means. However, a simple lid that can be attached and detached by the operator's hand may be used.
上記実施形態では、実装基板20として、物理量を検出するセンサ21,22が実装されたものが採用されたが、これに限らず、例えば、こうしたセンサが実装されない基板が採用されてもよい。
In the above embodiment, the mounting
上記実施形態では、検査台42として、駆動装置43によって駆動されるものが採用されたが、これに限らず、例えば、こうした駆動がなされない検査台が採用されてもよい。
In the above embodiment, the inspection table 42 that is driven by the
上記実施形態では、検査装置40と温度調整装置50とが別体とされたが、これに限らず、例えば、これら装置40,50が一体化されていてもよい。
In the said embodiment, although the test |
10…実装基板検査システム、20…実装基板、21…加速度センサ(センサ)、22…ヨーレートセンサ(センサ)、30…検査箱、31…筐体、32…実装基板入出口、33…蓋、34…検査プローブ、35…コネクタ、36…エアー導入口(導入口)、37…エアー導出口、38…開閉装置(閉塞手段)、40…検査装置、41…制御装置、42…検査台、43…駆動装置、50…温度調整装置、51…熱媒体供給源、52…供給管。
DESCRIPTION OF
Claims (4)
前記実装基板が収納されている前記検査箱と脱着可能に接続され、前記実装基板の温度の調整を実施するために使用されるものである少なくとも1つの温度調整装置(50)と、
前記実装基板が収納されている前記検査箱と脱着可能に電気的に接続され、前記実装基板の電気的特性の検査を実施するために使用されるものである少なくとも1つの検査装置(40)と、
を備えたことを特徴とする実装基板検査システム。 A heat insulating housing (31) that supports the mounting substrate (20) so as to be able to enter and exit, and an inspection probe (34) for measuring electrical characteristics of the mounting substrate supported in the heat insulating housing; A connector (35) to which the inspection probe is electrically connected and can be electrically connected to an external device (40), and a heat medium provided in the heat insulation case for adjusting the temperature in the heat insulation case And a plurality of transportable inspection boxes (30) provided with an inlet (36) that can be closed by the closing means (38),
At least one temperature adjustment device (50) that is detachably connected to the inspection box in which the mounting substrate is housed, and is used to adjust the temperature of the mounting substrate;
At least one inspection device (40) that is detachably electrically connected to the inspection box in which the mounting substrate is housed, and is used to inspect the electrical characteristics of the mounting substrate; ,
A mounting board inspection system comprising:
前記検査箱を前記温度調整装置に接続し(ステップ106)、前記温度調整装置により前記実装基板の加熱および冷却の一方を行い(ステップ108)、
その後、前記検査箱を前記温度調整装置から前記検査装置に搬送して接続し(ステップ110)、前記検査装置により前記実装基板の前記電気的特性の検査を実施し(ステップ112)、
その後、前記検査箱を前記検査装置から前記温度調整装置に搬送して接続し(ステップ114)、前記温度調整装置により前記実装基板の加熱および冷却の他方を行い(ステップ116)、
その後、前記検査箱を前記温度調整装置から前記検査装置に搬送して接続し(ステップ118)、前記検査装置により前記実装基板の前記電気的特性の検査を実施する(ステップ120)ことを特徴とする実装基板検査システムにおける検査方法。 A heat insulating housing (31) that supports the mounting substrate (20) so as to be able to enter and exit, and an inspection probe (34) for measuring electrical characteristics of the mounting substrate supported in the heat insulating housing; A connector (35) to which the inspection probe is electrically connected and can be electrically connected to an external device (40), and a heat medium provided in the heat insulation case for adjusting the temperature in the heat insulation case And a plurality of transportable inspection boxes (30) including an introduction port (36) that can be closed by the closing means (38), and the inspection box in which the mounting board is housed can be attached to and detached from the inspection box. At least one temperature adjustment device (50) that is connected and used to adjust the temperature of the mounting board, and the inspection box in which the mounting board is housed are detachably and electrically Connected, said At least one inspection device and is used to implement the inspection of the electrical characteristics of the instrumentation substrate (40), a testing method for mounting board inspection systems with,
The inspection box is connected to the temperature adjustment device (step 106), and one of heating and cooling of the mounting board is performed by the temperature adjustment device (step 108),
Thereafter, the inspection box is transported and connected from the temperature adjustment device to the inspection device (step 110), and the electrical characteristics of the mounting substrate are inspected by the inspection device (step 112),
Thereafter, the inspection box is transported and connected from the inspection device to the temperature adjusting device (step 114), and the mounting substrate is heated and cooled by the temperature adjusting device (step 116).
Thereafter, the inspection box is transported and connected from the temperature adjusting device to the inspection device (step 118), and the electrical characteristics of the mounting substrate are inspected by the inspection device (step 120). Inspection method for mounting board inspection system.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2006344313A JP2008157668A (en) | 2006-12-21 | 2006-12-21 | Mounting substrate inspection device, and inspection method therein |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2006344313A JP2008157668A (en) | 2006-12-21 | 2006-12-21 | Mounting substrate inspection device, and inspection method therein |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2008157668A true JP2008157668A (en) | 2008-07-10 |
Family
ID=39658746
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2006344313A Pending JP2008157668A (en) | 2006-12-21 | 2006-12-21 | Mounting substrate inspection device, and inspection method therein |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2008157668A (en) |
-
2006
- 2006-12-21 JP JP2006344313A patent/JP2008157668A/en active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7851712B2 (en) | Gravimetric moisture measurement instrument | |
| US7271604B2 (en) | Method and apparatus for testing semiconductor wafers by means of a temperature-regulated chuck device | |
| CN1920585B (en) | Substrate detector | |
| US7909504B2 (en) | Open-loop vertical drywell gradient correction system and method | |
| TWI405970B (en) | Interface elements, test unit and electronic components test device | |
| JP2023178335A (en) | Method and system for equipment thermal control in electronic test equipment | |
| JP6125781B2 (en) | Measuring equipment for moisture content weight measurement | |
| US20060027670A1 (en) | Humidity-controlled chamber for a thermogravimetric instrument | |
| US20060208098A1 (en) | Humidity-controlled chamber for a thermogravimetric instrument | |
| EP2771668B1 (en) | Environmental test system and method with in-situ temperature sensing of device under test (dut) | |
| JP2008157668A (en) | Mounting substrate inspection device, and inspection method therein | |
| JPH11142469A (en) | Method and device for measuring low and high temperature electric characteristics | |
| KR101013520B1 (en) | Test Handler Chamber Rapid Temperature Control | |
| JP2016148610A (en) | Electronic component conveyance device and electronic component inspection device | |
| TW202514914A (en) | Methods and apparatus for processing an electrostatic chuck | |
| JPH1114697A (en) | Temperature controlled type product inspecting apparatus | |
| JP4161870B2 (en) | Screening apparatus and screening method | |
| US20160349199A1 (en) | Device for Thermal Analysis of the Objects | |
| SU928291A2 (en) | Salt type humid air generator | |
| JP2001208637A (en) | Inspection apparatus | |
| JP6210490B2 (en) | Inspection device for acceleration sensor | |
| JP2006138752A (en) | Apparatus and method for maintaining uniform and stable temperature in spectroscopy using high performance cavities | |
| RU2515333C1 (en) | Thermogravimetric plant | |
| US11307248B2 (en) | Contacting unit for a test handler for performing functional tests on semiconductor elements | |
| JP2006017738A (en) | Socket for semiconductor device inspection equipment |