JP2008011284A - 画像処理回路、撮像回路および電子機器 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】画像処理回路3は、撮像素子2のリセット時の画素信号と露光後の画素信号との電位差を取り出すCDS回路3aと、撮像素子2のリセット時と露光後との電位差をAD変換するために設けられたインクリメントカウンタ31bおよびAD変換クロック32bと、AD変換を複数回繰り返して得られた複数のデジタルコード値に対して加算平均化処理を施す平均化ADC制御回路33bとを有するAD変換回路3bとを備える。
【選択図】図3
Description
図16は、固体撮像素子を用いた撮像回路の一部を示す図である。
画像処理回路90は、固体撮像素子80との接続、非接続を切り替えるスイッチsw91と差動アンプ(比較器)91とランプ信号を供給するランプ信号供給源91aと差動アンプ91の非反転入力端子に接続されたコンデンサC91と反転入力端子に接続されたコンデンサC92と差動アンプ91の出力端子と反転入力端子との接続、非接続を切り替えるスイッチsw92と差動アンプ91の出力値に応じてカウントアップするインクリメントカウンタ92とインクリメントカウンタ92に動作用クロックを与えるAD変換クロック93と、インクリメントカウンタ92にリセット信号を与える等、AD変換動作を司るADC制御回路94を有している。
図17は、撮像回路の従来の動作を示すタイミングチャートを示す図である。
なお、図17中差動アンプ91の非反転入力端子およびコンデンサC91の接続点をn91、反転入力端子およびコンデンサC92の接続点をn92、差動アンプ91の出力端子とインクリメントカウンタ92との接続点をn93とする。
そしてAD変換クロック93を動作させ(図中斜線部分)、コンデンサ結合された非反転入力端子の電位をランプ信号で駆動することで(信号+雑音)電圧を雑音電圧方向にランプ駆動する。そうして差動アンプの出力が反転するまでの時間、カウンタをカウントUpし、反転してからはストップすることでAD変換を行う(時区間T92〜T93)。
ところで、撮像回路においては、撮像信号に発生する雑音の低減への要求が高まっている。このノイズの影響を低減する方法として、例えば撮像素子を構成する画素部で発生するノイズをキャンセルする機能を備えた撮像回路が知られている(例えば、特許文献1参照)。
AD変換時において符号化する電圧値に熱雑音等による白色雑音が重畳するが、この白色雑音がAD変換時の1bit当りの電位差(以下、1LSBという)より多いと、符号化値にノイズ成分として残る。この雑音は時間によって変わるので、経時変化の無い同一輝度においても各ピクセルがフレーム毎にちらつき、暗時の画像が砂嵐の様にざらつく原因となっている。近年、高解像度化と高画質化の要求により、1ピクセル当りの信号は減少するが分解能は高まる傾向にあるためS/N比は悪化する傾向にある。特にS/N比の低い暗時の画像でこの問題は顕著になっている。
図1は、本発明の実施の形態に係る撮像回路の要部構成を示すブロック図である。
図1に示す撮像回路10は、光学ブロック1、撮像素子2、画像処理回路3、AGC(Automatic Gain Control)回路4、カメラ信号処理回路5、マイクロコントローラ6、入力部7を具備する。また、この撮像回路には、光学ブロック1内の絞り11等の機構を駆動するためのドライバ12、撮像素子2を駆動するためのタイミングジェネレータ(TG)13等が設けられている。
図2に示すように、撮像素子2の一部を構成する画素部20には、フォトダイオード(光電変換素子)PD11、転送トランジスタM11、増幅用トランジスタM12、選択トランジスタM13、およびリセットトランジスタM14が設けられている。なおここでは、各トランジスタはnチャネルMOSFETである。
この回路では、ローリングシャッタおよびグローバルシャッタの2種類の電子シャッタ動作を行うことが可能となっている。
選択トランジスタM13および転送トランジスタM11をOFFした後、リセットトランジスタM14および転送トランジスタM11をONし、これらをOFFした後に次の露光期間が開始される。以上の動作が、水平同期信号に同期して先頭行から1行ずつ遅延して行われ、各行の画素信号が順次出力される。従って、各行の露光期間が1行ずつずれていくことになる。
前述したように、画像処理回路3は、CDS回路3aと、AD変換回路3bとを有している。
CDS回路3aには画素部20から出力された画像信号の入力を制御するサンプルホールド用スイッチsw1が設けられている。サンプルホールド用スイッチsw1の出力側には、画像信号を保持するためのコンデンサ(サンプルホールド用コンデンサ)C31が接続されている。コンデンサC31の、サンプルホールド用スイッチsw1の反対側にはコンデンサC31に保持された画像信号の電位を変化させるランプ信号を供給するランプ信号供給源31aが接続されている。
また、反転入力端子とGNDの間にはコンデンサC32が設けられている。差動アンプ33aの出力端子と、反転入力端子とコンデンサC32との接続点n2との間には、クランプスイッチsw2が設けられている。差動アンプ33aの出力端子は、AD変換回路3bに接続されている。
また、平均化ADC制御回路33bは、ランプ信号供給源31aにランプ信号のスタート、ストップおよびリセットのタイミングを送る。また、インクリメントカウンタ31bに、カウンタのリセット信号を送る。また、AD変換クロック32bにクロックスタート、ストップ、リセットのタイミングを送る。
図4は、第1の実施の形態の信号処理を示すタイミングチャートである。
最初に初期読み出しを行う。初期読み出しとしてまず雑音読み出し(N Read)を行う(時区間T0〜T1)。具体的には、行選択信号線(SLCT)21を高電位にすることでピクセルを選択し、リセット信号線(RST)23を低電位にする。それとともにサンプルホールド用スイッチsw1をONし、クランプスイッチsw2をONする。サンプルホールド用スイッチsw1をONすることで、ピクセルの雑音電圧が差動アンプ33aの非反転入力端子に入力され、クランプスイッチsw2をONすることで反転入力端子のコンデンサC32に雑音電圧相当の電圧が保持される(蓄えられる)。この際、差動アンプ33aの非反転入力端子−反転入力端子間のオフセット電位が各入力端子間に含まれて反転入力端子のコンデンサC32に保持されるため、このオフセット電位は以後の動作でキャンセルされる。
図5にはカウンタ値、データ名、式(加算)および符号化値の欄が設けられている。各欄の横方向に並べられた情報同士が互いに関連づけられている。
AD変換1回目およびAD変換2回目の各欄には、それぞれAD変換によって得られたカウント値(量子化値)が記入されている。
式の欄には、カウント値から符号化値を得る計算式が記入されている。
符号化値の欄には、得られた符号化値が記入されている。
次に、第2の実施の形態の信号処理について説明する。
図6は、第2の実施の形態の信号処理を示すタイミングチャートである。
次に、第3の実施の形態の信号処理について説明する。
第3の実施の形態の信号処理では、1回あたりのAD変換の時間を第1の実施の形態および第2の実施の形態の信号処理の倍にしてAD変換を2回行っている。すなわち、第3の実施の形態の1回あたりのAD変換に必要な時間(時区間T2〜T3bおよび時区間T4b〜T5b)は、それぞれ第2の実施の形態の時区間T2〜T4aに相当する。
第1の実施の形態および第2の実施の形態の信号処理に比べて第3の実施の形態の信号処理では1回あたりのAD変換における分解能が倍となるため(従来の信号処理の分解能と等しくなるため)、得られたカウンタ値の結果の平均をとることで符号化値を得ることができる。
さらに、第3の実施の形態の信号処理によれば、従来のAD変換に比べて実質的に分解能が等しいため、雑音成分の経時変化を削減することができ、かつ、精度の高い変換を行うことができるため、高精度の画像を得ることができる。
以下、第4の実施の形態の信号処理について、前述した第1の実施の形態の信号処理との相違点を中心に説明し、同様の事項については、その説明を省略する。
図9に示すように、2回目のランプ信号の初期電位をAD変換回路3bの1/2LSBに相当する電位だけずらしてAD変換を開始する。この2回目のAD変換時の初期電位の情報は、予めマイクロコントローラ6に格納されている。
本実施の形態では、2回目のAD変換時に初期電位を1/2LSBに相当する電位だけずらしてAD変換を行っているため、各ビットにおけるカウンタ値は1回目のカウンタ値に比べて1/2LSB分ずつずれることになる。そして、AD変換1回目の各カウンタ値とAD変換2回目の各カウンタ値とを加算することにより本実施の形態の符号化値が得られる。
そして、第4の実施の形態の信号処理によれば、図10にて明らかなように、本実施の形態の分解能は従来のAD変換時の分解能に等しい。これにより、分解能を落とすことなく雑音成分の経時変化を削減することができる。なお、単位時間内に3回(n回)AD変換を行う場合は、2回目((n−1)回目)のAD変換は、1回目((n−2)回目)のAD変換の初期電位を1/3LSB(1/nLSB)に相当する電位ずらして行い、3回目(n回目)のAD変換は、2回目((n−1))のAD変換の初期電位を1/3LSB((1/n)LSB)に相当する電位ずらして行う。
以下、第5の実施の形態の信号処理について、前述した第1の実施の形態の信号処理との相違点を中心に説明し、同様の事項については、その説明を省略する。
第5の実施の形態の信号処理では、時区間T2〜T4においてAD変換を4回行う。各AD変換には、異なる電位帯を用いる。具体的には1、2回目のAD変換時には、ランプ信号の最大印加電圧の1/4の大きさの電圧を印加する。3回目のAD変換時には、ランプ信号の最大印加電圧の1/2の大きさの電圧を印加する。4回目のAD変換時には、ランプ信号の最大印加電圧を印加する。ここで、明るさ(輝度)のレベルを1152分割し、最も小さい値を0とし、最も大きい値を1152とすると、ランプ信号の最大印加電圧の1/4の大きさの電圧を印加した場合、明るさ0〜288の部分のカウント値が得られる。ランプ信号の最大印加電圧の1/2の大きさの電圧を印加した場合、明るさ0〜288および288〜576の部分のカウント値が得られる。ランプ信号の最大印加電圧の大きさの電圧を印加した場合、明るさ0〜288および288〜576および576〜1152の部分のカウント値が得られる。
図12は、第5の実施の形態の信号処理の明るさ(輝度)と符号化値との関係を示す図(表)である。
以下、第6の実施の形態の撮像回路について、前述した第1の実施の形態の撮像回路10との相違点を中心に説明し、同様の事項については、その説明を省略する。
図13は、第6の実施の形態の撮像回路の画素部を示す回路図である。
なお、画素部20と同機能を有する部分については同じ符号を付している。
画素部20aは、フォトダイオードPD11と、フォトダイオードPD11のカソード電極を初期電圧にリセットするリセットトランジスタM11aと、フォトダイオードPD11に蓄積された電荷を電圧に変換する増幅用トランジスタM12aと、行方向に並列された画素領域からの信号出力を選択するための行選択信号に基づいて、増幅用トランジスタM12aの出力電圧を1画素分の画像信号として出力する選択トランジスタM13aとを有している。
第6の実施の形態の撮像回路の信号処理では、(信号+雑音)電圧をコンデンサC32に保持し、雑音電圧をコンデンサC31に保持して、AD変換を行う。
図15は、実施の形態の電子機器の機能を示すブロック図である。
図15は、電子機器の一例として携帯端末装置を示している。
撮像回路10と通信部70とは、バスを介して接続されている。
入力部50は、例えばテンキーやファンクションキー等を含むキー群を備えており、電話番号や各種コマンド等の入力を受け付ける。
通信部70は、転送用メモリ71と、送信先登録用メモリ72と、PCMCODEC・トーンリンガ部73と、マイク73aと、スピーカ73bと、ADPCM変換部74と、時分割多元接続制御部75と、モデム76と、無線部77と、アンテナ78とを有している。
送信先登録用メモリ72は送り先の情報を記憶している記憶手段を構成している。
マイク73aおよびスピーカ73bは、PCMCODEC・トーンリンガ部73に接続されている。
時分割多元接続制御部75は、音声データ、制御データおよび画像データ等から時分割多元化フレームに組み立てまたは分解する。この時分割多元接続制御部75は、無線基地局との認識番号(ID)のやりとりを連続的または断続的に行う。また、時分割多元接続制御部75は、通信部70の通信情報により現在位置を検出する。
無線部77は、モデム76に接続され、情報を無線通信する。
アンテナ78は無線伝送用のアンテナである。
2 撮像素子
3 画像処理回路
3a CDS回路
3b AD変換回路
4 AGC回路
5 カメラ信号処理回路
6 マイクロコントローラ
7 入力部
10 撮像回路
11 絞り
12 ドライバ
13 タイミングジェネレータ(TG)
20、20a 画素部
21 行選択信号線
22 転送信号線
23 リセット信号線
24 垂直信号線
25 定電流源
26 FD
27 電源電圧供給線
31b インクリメントカウンタ
32b AD変換クロック
33a 差動アンプ
33b 平均化ADC制御回路
100 携帯端末装置
C31 サンプルホールド用コンデンサ
C32 コンデンサ
M11 転送トランジスタ
M11a、M14 リセットトランジスタ
M12、M12a 増幅用トランジスタ
M13、M13a 選択トランジスタ
sw1 サンプルホールド用スイッチ
sw2 クランプスイッチ
Claims (10)
- 画素信号を読み出す固体撮像素子を用いて画像を撮像する撮像回路に用いる画像処理回路において、
前記固体撮像素子のリセット時の前記画素信号と露光後の前記画素信号との電位差を取り出すCDS回路と、
前記電位差をAD変換する回路と、前記AD変換を複数回繰り返して得られた複数のデジタルコード値に対して加算平均化処理を施す処理手段とを有するAD変換回路と、
を備えることを特徴とする画像処理回路。 - 前記CDS回路は、前記電位差を保持する容量素子を有し、前記AD変換回路は、前記電位差が前記容量素子に保持された状態で、前記AD変換を繰り返し行うことを特徴とする請求項1記載の画像処理回路。
- 前記CDS回路は、前記リセット時の前記画素信号の電位と前記露光後の前記画素信号の電位とをそれぞれ保持する複数の容量素子を有し、前記AD変換回路は、前記リセット時の前記画素信号の電位と前記露光後の前記画素信号の電位とが前記各容量素子に保持された状態で、前記AD変換を繰り返し行うことを特徴とする請求項1記載の画像処理回路。
- 前記CDS回路が予め定められた単位時間内に前記AD変換を繰り返し行った場合、前記処理手段は、前記AD変換により得られた各カウント値をそれぞれ加算する処理を施すことを特徴とする請求項1記載の画像処理回路。
- 前記AD変換回路は、前記電位差のAD変換する対象電位を各回毎に変化させることを特徴とする請求項4記載の画像処理回路。
- 前記AD変換回路は、前記電位差のAD変換する対象電位幅を、幅が狭い方より広い方を多くすることを特徴とする請求項5記載の画像処理回路。
- 前記AD変換回路は、分解能の1ビットあたりの電位差を前記単位時間あたりの前記AD変換の回数で割った値だけAD変換する対象電位のオフセット電位をずらした電位を、新たな前記オフセット電位とすることを特徴とする請求項4記載の画像処理回路。
- 前記CDS回路が予め定められた単位時間内に前記AD変換を1回行う動作を繰り返し行った場合、前記処理手段は、前記各AD変換により得られた各カウント値の平均値をとる処理を施すことを特徴とする請求項1記載の画像処理回路。
- 画像を撮像する撮像回路において、
入射光を電気信号に変換する固体撮像素子と、
前記固体撮像素子のリセット時の画素信号と露光後の前記画素信号との電位差を取り出すCDS回路と、前記電位差をAD変換する回路と前記AD変換を複数回繰り返して得られた複数のデジタルコード値に対して加算平均化処理を施す処理手段とを有するAD変換回路と、を備える画像処理回路と、
を有することを特徴とする撮像回路。 - 画像を撮像する機能を備える電子機器において、
入射光を電気信号に変換する固体撮像素子と、前記固体撮像素子のリセット時の画素信号と露光後の前記画素信号との電位差を取り出すCDS回路と前記電位差をAD変換する回路と前記AD変換を複数回繰り返して得られた複数のデジタルコード値に対して加算平均化処理を施す処理手段とを有するAD変換回路とを備える画像処理回路と、を有する撮像回路、
を備えることを特徴とする電子機器。
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